TR201617331T1 - Bir numunenin birden fazla derinliğinde görüntü verilerinin eşzamanlı yakalanması için usul. - Google Patents
Bir numunenin birden fazla derinliğinde görüntü verilerinin eşzamanlı yakalanması için usul. Download PDFInfo
- Publication number
- TR201617331T1 TR201617331T1 TR2016/17331T TR201617331T TR201617331T1 TR 201617331 T1 TR201617331 T1 TR 201617331T1 TR 2016/17331 T TR2016/17331 T TR 2016/17331T TR 201617331 T TR201617331 T TR 201617331T TR 201617331 T1 TR201617331 T1 TR 201617331T1
- Authority
- TR
- Turkey
- Prior art keywords
- pixel
- sample
- pixel line
- image
- line
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 90
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 106
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 33
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 25
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 2
- 206010034960 Photophobia Diseases 0.000 abstract description 5
- 208000013469 light sensitivity Diseases 0.000 abstract description 5
- 230000009471 action Effects 0.000 description 7
- 230000007170 pathology Effects 0.000 description 5
- 210000001519 tissue Anatomy 0.000 description 5
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 210000003127 knee Anatomy 0.000 description 3
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- 102000006835 Lamins Human genes 0.000 description 2
- 108010047294 Lamins Proteins 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 210000005053 lamin Anatomy 0.000 description 2
- 238000011897 real-time detection Methods 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 210000002414 leg Anatomy 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
- G02B21/367—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/18—Arrangements with more than one light path, e.g. for comparing two specimens
- G02B21/20—Binocular arrangements
- G02B21/22—Stereoscopic arrangements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N13/00—Stereoscopic video systems; Multi-view video systems; Details thereof
- H04N13/20—Image signal generators
- H04N13/204—Image signal generators using stereoscopic image cameras
- H04N13/207—Image signal generators using stereoscopic image cameras using a single 2D image sensor
- H04N13/218—Image signal generators using stereoscopic image cameras using a single 2D image sensor using spatial multiplexing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Image Input (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
- Studio Devices (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Bir hacimsel numunenin birden fazla derinliğinden görüntü verilerinin eşzamanlı yakalanmasına olanak vermek için bir yeni usul açıklanmıştır. Usul, numunede edinim derinliği anında değiştirilirken, bir 2D veya 3D görüntünün kesintisiz edinilmesine olanak sağlar. Bu usul, otomatik odaklama için de kullanılabilir. Ek olarak, numuneden görüntü verilerinin yakalanması için bu usul, Şekil 2'de betimlendiği gibi bir eğik konfigürasyon kullanıldığında, özellikle numunelerin 2D veya 3D görüntülenmesiyle ilgili belirtilen amaç için hız ve ışık duyarlılığı açısından optimal etkinlik sağlar. Usul, özellikle bir dikgen XY koordinat sisteminde piksellerin bir 2D dizisini içeren bir görüntüleme sensörü ile kullanılabilir; burada elektronik devreler için boşluklar mevcuttur. Başka görüntüleme sensörü de kullanılabilir. Ayrıca usulü otomatik olarak yürüten bir görüntüleme cihazı sunulmuştur.
Description
TARIFNAME
BIR NUMUNENIN BIRDEN FAZLA DERINLIGINDE GÖRÜNTÜ VERILERININ
ESZAMANLI YAKALANMASI IÇIN USUL
Bulusun Alani
Bu bulus, bir numunenin görüntülenmesi alanina iliskindir ve avantajli sekilde dijital
patoloji alanina uygulanir.
Özel olarak bu bulus, bir numunenin birden fazla derinliginde görüntü verilerinin
eszamanli yakalanmasi için bir usule ve bir örnegin görüntü verilerinin birden fazla
derinlikte eszamanli yakalanmasi için bir görüntüleme sistemine iliskindir.
Bulusla Ilgili Bilinen Hususlar
Bir dijital taraina mikroskobu, genellikle bir mikroskop lamina yerlestirilmis bir doku
numunesi gibi bir numunenin bir dijital görüntüsünü olusturur. Bu, tipik olarak tüin
mikroskop laminin üzerindeki numunenin taranmasi ve farkli görüntü alanlarinin
birlestirilmesi ve/veya farkli dalga boylarinda ölçülmüs görüntülerin üst üste bindirilmesi
vasitasiyla yapilir. Sekil 1, böyle bir mikroskop laminin bir enine kesitini (100) sematik
olarak göstermektedir. Bir cam lam (101), bir lamel (102) ve örnegin bir biyolojik doku
katmani gibi bir numunenin (104) tespit edilmesi ve yapistirilmasi için bir tutturma
mikroskoplarinin, bir hat tarama kamerasi veya bir dogrusal dizili sensör olarak da bilinen
bir 2D hat sensörünü içerebilecegi bilinmektedir. Bu sensörler, tipik olarak algilayici
piksellerin yalnizca bir hattini, baska türlü ifade edilirse bir sirasini içerir. Örnegin 2D
dizili sensörler gibi baska tipte sensörlere kiyasla 1D hat sensörleri, daha iyi kesintisiz
mekanik tarama islemi, daha az birlestirme sorunlari saglama yetenegine sahiptir ve zaman
gecikmesi entegrasyonlu (TDI) hat sensörlerinin kullanimina olanak saglayabilir.
Bundan baska mevcut görüntüleme sensörü dizaynlari, isiga duyarli kisimlardan, yani
fotodiyotlardan olusan ve ayni zamanda daha düsük bir doluluk oranina yol açan, pikselin
kendisinin içine gömülmüs çok sayida yükten gerilime dönüstürücüler (CVC) gibi isiga
duyarli olmayan parçalari içeren fotoaktifpikseller saglar. Bunun anlami, pikselin tipik
olarak CVC için dört transistörden (genel obtüratör) üç transistöre (kayar obtüratör) sahip
olmasi ve adresleme ve okuma için hem düsey hem yatay metal çizgilerin gerekli
olmasidir. Ancak pikselin bu isiga duyarli olmayan parçalari, piksel doluluk oranini
düsürmekte olup, bu, düsük isik kosullarinda özellikle zararlidir. Bir geleneksel sensörde
piksellerde olusan düsük isik duyarliligi, tipik olarak mikro merceklerin uygulanmasi
vasitasiyla asilir. Bu mikro mercekler, daha az miktarda isigi, görüntüleme sensörünün
piksellerinin üzerinde etkin biçimde odaklamaya çalisir, böylece ikincil kayiplar minimize
olur. Ek olarak halen mevcut görüntüleme sensörleri, ilgi konusu bölgeyi (ROI) okurken
nispeten düsük bir hiz saglar, çünkü belirli bir piksel boyutunun sinirli alani içinde yalnizca
sinirli bir sayida okuma elektronigi saglanabilir. A.B.D. Patent Basvurusu
açiklamaktadir.
Bulusun özeti
Bu bulusun sahipleri, digerlerine ilaveten dijital patolojide sikça uygulanan, görüntüleme
sensörünün optik yola göre egik oldugu durumlarda mikro merceklerin kullaniminin
özellikle uygun olmadigini anlamistir. Öte yandan bu bulusun sahipleri, nuinunenin bir
egik sensör ile taranmasinin ve görüntülenmesinin, Z dogrultusunda bir asiri örneklemeye
yol açtigini bulmustur, söyle ki görüntü yakalama için görüntüleme sensörünün yalnizca
özel alanlarinin kullanilmasi gereklidir. Dolayisiyla bu bulusun sahipleri, görüntüleme
sirasinda 2D görüntüleme cihazinin veya görüntüleme sensörünün, yalnizca tarama
dogrultusu boyunca birbirlerine göre bir aralik kadar kaydirilmis olan piksel hatlarinin
kullanilabilecegini bulmustur. Bu aralik, örnegin ya Sekil 3 ila 5'te betimlendigi gibi bir
isiga duyarli olmayan bosluk olabilir ya da halihazirda görüntü üretimi için kullanilmayan
bir veya birden fazla devre disi birakilmis piksel hatti olabilir. Böyle bir görüntüleme
cihazi için burada yeni bir görüntüleme usulü sunulmustur ve buna iliskin detaylar, birkaç
farkli örnek düzenleme baglaminda açiklanacaktir.
Bu bulusun amaci, görüntü yakalama için gelis bir usulün ve sistemin saglanmasi olarak
görülebilir.
Bu bulusun amaci, bagimsiz istemlerin ana fikri vasitasiyla halledilmistir. Bulusun ek
düzenlemeleri ve avantajlari, bagimli istemlerde dahil edilmistir.
Açiklanan düzenlemeler, benzer sekilde görüntü yakalama usulüne ve görüntüleme
sistemine iliskindir.
Bu bulusun örnek bir düzenlemesinde, bir numunenin birden fazla derinliginde görüntü
verilerinin eszamanli yakalanmasi için usul sunulmustur. Usul, bir optik eksene sahip bir
görüntüleme cihazini kullanir ve görüntüleme cihazi, optik eksene göre egik bir
görüntüleme sensörünü içerir. Sunulan usulde kullanilan görüntüleme sensörü, çok sayida
pikseli içeren bir birinci piksel hattina ve çok sayida pikseli içeren bir ikinci piksel hattina
sahiptir. Birinci ve ikinci piksel hatti, görüntüleme cihazinin Optik ekseni boyunca
numuneye dogru farkli bir optik yol uzunluguna sahiptir ve birinci piksel hatti ve ikinci
piksel hatti, tarama dogrultusu boyunca birbirlerine göre bir aralik kadar kaydirilmistir.
Usul, optik eksene büyük ölçüde dik ve birinci ve ikinci piksel hatlarinin bir ana uzantisi
dogrultusuna (Y) dik tarama dogrultusu (X') boyunca numunenin taranmasi, birinci piksel
hattindan numunenin bir birinci görüntüsünün yakalanmasi ve eszamanli olarak birinci
piksel hattindan numunenin bir ikinci görüntüsünün yakalanmasi ve ikinci piksel hattindan
numunenin bir üçüncü görüntüsünün yakalanmasi asamalarini içerir. Öte yandan ikinci
piksel hattindan numunenin görüntülerinin yakalanmasina devam edilmesi, bunun yani sira
birinci piksel hattindan numunenin görüntülerinin yakalanmasinin durdurulmasi usulün ek
bir asamasidir.
Dolayisiyla tarama sirasinda yakalama derinligi degistirilirken, kesintisiz 2D veya 3D
görüntülerin üretilmesi için bir okuma usulü sunulmustur. Bu, kusursuz sekilde düz
ve/veya hacimsel olmayan numunelerin, hizli görüntü edinimine olanak verir ve dijital
lamli tarayicilarda örnegin dijital patoloji için özellikle uygulanabilir. Bu usul ile bir
kesintisiz görüntünün yakalanmasi mümkündür; bu, geçici ikili, yani eszamanli okuma
yapilmadan mümkün olmayacaktir, çünkü hat sensöründe bir degisiklik, yalnizca edinim
derinliginde bir degisiklik ile sonuçlanmaz, ama tarama dogrultusu boyunca bir
ötelenmeyle de sonuçlanir. Bu sonuncu ötelenme, ya görüntüde bir bosluga ya da görüntü
verilerinin bir tekrarina neden olur. Yukarida açiklandigi gibi usul, boslugu önlemek için
gereklidir. Tekrar için, görüntü verilerinin bir kismi atilabilir, ama ikili edinime gerek
yoktur. Bu usulün, bir 2D otomatik odaklama sistemi için kullanildiginda bir geleneksel
2D CMOS sensöründe ROI degistirilirken de gerekli olacaginin vurgulanmasi önemlidir.
Bunun nedeni, ROl'de edinim derinliginde etkili bir degisiklige yol açan herhangi bir
degisikligin, eger 2D CMOS sensörü, optik eksene göre egikse tarama dogrultusu boyunca
bir ötelenmeye de yol açacak olmasidir. Distorsiyonsuz bir nihai görüntü elde edilecekse
tarama dogrultusu boyunca bu ötelenmenin dengelenmesi gerekecektir. Bu bulus, burada
açiklandigi gibi bu distorsiyonlari önler. Sunulan usul, burada açiklandigi gibi bir
görüntüleme cihaz tarafindan otomatik olarak yürütülebilir.
Elbette görüntü verilerinin yakalanmasi için bu usul tarafindan birinci ve ikinci hattan daha
fazla piksel hatti kullanilabilir. Sekil 3 ila 5'te gösterilen düzenleme örneklerinden kolayca
derlenebilecegi gibi sirasiyla tümü birbirlerine göre kaydirilmis çok sayida piksel hatti/hat
sensörü kullanilabilir.
Bu tarifnamenin teknikte uzman okuyucusu için belirgin oldugu üzere bir piksel hattinin
her pikseli bir görüntü yakalar ve sonraki islemler, piksel hatti tarafindan yakalanmis bir
görüntüyü üretir.
Genel olarak numuneden farkli mesafelerde, numunede farkli bir derinlige odaklanacaklari
sekilde iki kamera. yani en az iki piksel hatti saglanir. Bu iki kamera arasina asagida
tanimlanan gibi "aralik" tespit edilir. Asagida daha detayli açiklanacagi ve örnegin Sekil
3'te gösterildigi gibi büyük bir 2D sensör de kullanilabilir.
Bu bulusun baglaminda kullanildigi sekliyle "aralik" veya "bosluk" terimi, iki komsu
piksel hatti arasindaki bir alan veya mesafe olarak anlasilacaktir; bu alan, fotoaktif degildir.
Bu alan, örnegin sensörün bu alanlarina okuma elektroniginin yerlestirilmesinde
kullanilabilir veya halihazirda aktive edilmemis olan ve dolayisiyla bosluktaki pikseller
sadece kullanilmadigindan, fotoaktif olmayan bir veya birden fazla piksel hatti vasitasiyla
düzenlenebilir. Aralik, halihazirda bir görüntü yakalamamaktadir.
Dolayisiyla bir hacimsel numunenin birden fazla derinliginden görüntü verilerinin
eszamanli yakalanmasina olanak vermek için bir yeni usul açiklanmistir. Usul, numunede
edinim derinligi aninda degistirilirken, bir 2D veya 3D görüntünün kesintisiz edinilmesine
olanak saglar. Bu usul, otomatik odaklama için de kullanilabilir. Ek olarak, nuinuneden
görüntü verilerinin yakalanmasi için bu usul, Sekil 2'de betimlendigi gibi bir egik
konfigürasyon kullanildiginda, özellikle numunelerin 2D veya 3D görüntülenmesiyle ilgili
belirtilen amaç için hiz ve isik duyarliligi açisindan optimal etkinlik saglar.
Örnegin bu usul, bir görüntüleme cihazinin birden fazla TDI hat sensörünü tek bir kalipta
kombine eden bir görüntüleme sensörü tarafindan uygulanabilir; bunlar, Sekil 3 ila 5'te
gösterilen düzenlemeler baglaminda detayli olarak açiklanacaktir. Burada TDl hat
sensörleri, bir boslukla ayrilmistir. Böyle bir sensör, en az iki hat sensörünün, maksimum
hiz ve duyarlilikta etkin okuma yapmasina olanak saglayan bir ikili (TDI) okuma motoruna
sahip olabilir. Ayni boyutta ve çözünürlükte bir geleneksel 2D sensöre göre bu yeni dizayn
ve okuma usulü vasitasiyla elde edilen gelisme iki kattir. Ilk olarak isiga duyarli
parçalar/piksel hatlari (TDI hat sensörleri) arasindaki bosluk, sensörün mantik ve baglanti
devrelerini koymak için kullanilabilir. Bu, sensörün isiga duyarli alaninda piksellerin foto
aktif parçalarinin maksimize edilmesine olanak saglar, yani doluluk oranini maksimize
eder. Bu, 2D CMOS sensörlerinde yaygin olan mikro merceksiz bir duyarli sensöre olanak
saglar. Mikro merceklerden kaçinilmasi, sensörün optik yola egik yerlestirilmesi için
önemlidir. Ikincisi, bosluk hizli okumaya olanak saglar, çünkü sensörde boslugun içinde
daha fazla devre mevcut olabilir; bu, hizli bir okuma usulüne ve daha hizli bir sensöre
olanak verir.
Teknikte uzman kisi tarafindan kolayca anlasilacagi gibi bulus, sensörün optik yola göre
egik olmasinin gerektigi bir sistem konfigürasyonu ile sinirli olmayabilir. Bulus, sensörün
egik olmadigi ve görüntüleme sisteminin, bu sensörün numunenin bir egik enine kesitini
görüntüleyebilecegi sekilde yerlestirildigi baska konfigürasyonlari kapsamaktadir.
Dolayisiyla numuneden sensöre farkli optik yol uzunluklarinin üretimi, isik yoluna bir
optik elemanin, örnegin bir prizmanin sokulmasi gibi bu alanda iyi bilinen baska teknikler
kullanilarak gerçeklestirilebilir.
Görüntü verilerinin bir numunenin birden fazla derinliginde eszamanli yakalanmasi usulü,
otomatik odaklama ve 3D görüntüleme için bir normal 2D CMOS sensörünü kullanan
normal görüntüleme usullerinden kaynaklanan iki sorunun üstesinden gelir. Bir yandan bir
normal 2D CMOS sensöründe, piksellerin düsük doluluk oranindan kaynaklanan düsük
isik duyarliligi gelistirilebilir. Normalde mikro mercekler ile bunun üstesinden gelinir, ama
mikro mercekler, sensör Sekil 2'de gösterildigi gibi optik yola göre egik oldugunda
kullanima uygun degildir. Öte yandan normal 2D CMOS sensörlerinin ROl okumasinda
düsük hiz, bu bulus tarafindan arttirilabilir, çünkü örnegin Sekil 4 ve 5 baglaminda daha
detayli açiklandigi gibi birinci piksel hatti ve ikinci piksel hatti arasindaki alanlara daha
fazla okuma elektronigi yerlestirilebilir.
Bu bulusun baska bir örnek düzenlemesine göre aralik, ya birinci ve ikinci piksel hatlari
arasinda bir birinci isiga duyarli olmayan bosluktur ya da birinci ve ikinci piksel hatlari
arasindaki bir veya birden fazla yakalama yapmayan piksel hattidir; bu yakalama
yapmayan piksel hatlari, devre disi birakilmistir.
Bu bulusun baska bir örnek düzenlemesine göre isiga duyarli olmayan bosluk, birinci ve
ikinci piksel hattina paralel uzanir. Sekil 3'ün baglaminda açiklanacagi gibi, bu dogrultu, Y
dogrultusu olarak adlandirilacaktir. Bu bulusun usulü, bir dikgen XY koordinat sisteminde
piksellerin bir 2D dizisini içeren bir görüntüleme sensörü ile birlikte kullanilabilir;
sensörün piksellerinin 2D dizisi, çok sayida pikseli içerir ve piksel hatlarinin her biri, Y
dogrultusu boyunca uzanir.
Sekil 3 ila 5'in baglaminda betimlenen ve açiklanan örnek düzenlemeler ile belirgin hale
gelecegi ve açikliga kavusacagi gibi görüntü verilerinin numunenin birden fazla
derinliginde eszamanli yakalanmasi için usulün asamalari, numunenin bir tarayici
görüntüleme sistemi vasitasiyla taranmasi sirasinda yürütülür. Böyle bir tarayici
görüntüleme sistemi, bu bulusun baska bir örnek düzenlemesidir.
Bu bulusun baska bir örnek düzenlemesine göre ikinci görüntünün ve üçüncü görüntünün
eszamanli yakalanmasi, tarama sirasinda birinci piksel hatti ve ikinci piksel hatti arasindaki
araligin kapatilmasi devam ettigi sürece yürütülür. Dolayisiyla okuma usulü, tarama
sirasinda yakalama derinligi degistirilirken kesintisiz 2D veya 3D görüntüler üretir. Açik
biçimde bu, kusursuz sekilde düz ve/veya hacimsel olmayan numunelerde hizli bir görüntü
edinimine olanak saglar. Ilgili araligin kapatilmasinin ne kadar sürecegini belirlemeye
yönelik hesaplama, teknikte uzman kisi tarafindan sorunsuz gerçeklestirilebilir.
Yansitmada iki kamera, yani iki piksel hatti arasindaki mesafeden hareketle, mesafenin kaç
pikselle ilgili oldugu bilinmektedir. Pozlama frekansiyla, yani hat hiziyla, aralikta/boslukta
kaç piksel oldugu bilinmektedir. Baska bir örnek düzenlemede, eger örnegin numune
pozisyonu tarama sirasinda dalgalanabiliyorsa, gerçek zamanli belirleme yapmak da
mümkündür. Gerçek zamanli belirleme gerektirebilen bir örnek, tarama olmayan, ama bir
akiskan içinde akis olan durum olacaktir. Bu akis, az düzenli olabilir; bunun anlami, bosluk
kapatilmadan önce sabit miktarda pozlaina olmadigidir. Bu durumda gerçek zamanli
belirleme, obje akarken objenin yana] pozisyonunun izlenmesi olacaktir.
Bu bulusun baska bir örnek düzenlemesine göre usul, ayrica edinim derinliginde bir
degisikligin gerekli olup olmadiginin belirlenmesi ve edinim derinliginde bir degisikligin
gerekli oldugunun belirlenmesi bazinda ikinci piksel hattinin etkinlestirilmesi asamalarini
içerir. Edinim derinliginde bir degisikligin gerekli olup olmadiginin belirlenmesi için
birçok farkli teknik araç kullanilabilir. Örnegin görüntüleme tekniginde bilindigi gibi odak
sinyali belirleme, ek optik yolda belirleme, örnegin bir es odakli mikroskop, numunenin
sekline ve/veya yönelimine dair önceki bilgiler veya optimal odak pozisyonu tahmin
usulleri, görüntü yakalama için yeni hat veya hatlarin ve hangi hat veya hatlarin aktive
edilmesi gerektiginin belirlenmesinde kullanilabilir. Bu usuller teknikte uzman kisi
tarafindan zaten bilindiginden, burada daha detayli açiklanmamistir.
Bu bulusun baska bir örnek düzenlemesine göre burada sunulan usul için kullanilan
görüntüleme sensörü, ayrica çok sayida pikseli içeren bir üçüncü piksel hattini içerir;
burada birinci, ikinci ve üçüncü piksel hatlarinin her biri, görüntüleme cihazinin optik
ekseni boyunca numuneye dogru farkli bir optik yol uzunluguna sahiptir. Ayrica birinci
piksel hatti ve üçüncü piksel hatti, tarama dogrultusu (X') boyunca birbirlerine göre bir
aralik kadar kaydirilinistir ve birinci piksel hatti, ikinci ve üçüncü piksel hattinin arasina
konumlandirilmistir. Bu görüntüleme sensörüyle ve usule göre edinim derinliginde bir
artisin gerekli oldugunun belirlenmesi durumunda ikinci piksel hatti aktive edilir, oysa
ediniin derinliginde bir azaltmanin gerekli oldugunun belirlenmesi durumunda üçüncü
piksel hatti aktive edilir.
Baska bir deyisle ilk olarak birinci hat sensöründen bir görüntü yakalanir, ikinci olarak
edinim derinliginde bir degisikligin, yani mevcut hat sensöründen üstte veya altta bir
sensöre ediriim degisikliginin gerekli oldugu belirlenir ve üçüncü olarak mevcut tarama
hizinda iki kat sensörü arasindaki boslugun kapatilmasi devam ettigi sürece, mevcut
sensörden ve ya üstte ya da altta bulunan yeni hat sensöründen es zamanli olarak iki
görüntü yakalanir. Ardindan yeni hat sensöründen görüntüler veya görüntü verileri
yakalanmasina devam edilir ve ilk hat sensöründen yakalama durdurulur. Bu akis ile bir
kesintisiz görüntünün yakalanmasi mümkündür.
Bu bulusun baska bir örnek düzenlemesine göre birinci piksel hatti ve/veya ikinci piksel
hatti vasitasiyla edinilmis tekrar verilerinin atilmasi, usulün bir parçasidir. Görüntü
verilerinin eszamanli yakalanmasi asamasi sirasinda görüntü verilerinin bir çakismasinin
yakalanmasi durumunda, bir parça atilabilir veya silinebilir. lki piksel hatti arasindaki
araligin veya boslugun kapatilmasinin ne kadar süreceginin belirlenmesine iliskin olarak
daha önce verilenle ayni hesaplama sekli burada uygulanabilir. Ya daha önce yakalanmis
veriler atilabilir, aktive edilmis hat, tarama sirasinda görüntülenmemis bir bölgede olana
kadar bekleyebilir ya da bu iki alternatifi kombine edebilir.
Bu bulusun baska bir örnek düzenlemesine göre numunenin bir nihai görüntüsünün, tekrar
verileri atildiktan sonra yakalanmis görüntüler bazinda üretilmesi, bu usulün bir parçasidir.
Bu bulusun baska bir örnek düzenlemesine göre numunenin bir üç boyutlu (3D)
göiüntüsünün üretilmesi için bir usul olan daha önce açiklanan gibi bir usul sunulmustur.
Bu 3D görüntüleme usulü, numunenin birinci görüntüsünün, birinci piksel hattini içeren
piksel hatlarinin bir birinci setinden yakalanmasi ve eszamanli olarak numunenin ikinci
görüntüsünün, piksel hatlarinin birinci kümesinden yakalanmasi ve ikinci piksel hattini
içeren piksel hatlarinin bir ikinci küinesinden, numunenin bir üçüncü görüntüsünün
yakalanmasini içerir. Öte yandan numunenin görüntülerinin piksel hatlarinin ikinci
kümesinden yakalanmasina devam edilmesi ve piksel hatlarinin birinci kümesinden
numunenin görüntülerinin yakalanmasinin durdurulmasi asamalari mevcuttur.
Bu bulusun baska bir örnek düzenlemesine göre her biri çok sayida pikseli içeren bir
birinci ve ikinci piksel hattina sahip bir görüntüleme sistemi sunulmustur. Cihaz, nuinuneyi
bir tarama dogrultusu (X') boyunca tarainak üzere konfigüre edilmistir ve birinci piksel
hatti ve ikinci piksel hatti, tarama do grultusu boyunca birbirlerine göre bir aralik kadar
kaydirilmistir. Ayrica görüntüleme sistemi, birinci piksel hattindan numunenin bir birinci
görüntüsünü yakalamak üzere konfigüre edilmistir ve eszamanli olarak birinci piksel
hattindan numunenin bir ikinci görüntüsünü yakalamak ve ikinci piksel hattindan
numunenin bir üçüncü görüntüsünü yakalamak üzere konfigüre edilmistir. Öte yandan
göiüntüleme sistemi, ikinci piksel hattindan numunenin görüntülerini yakalamaya devam
etmek üzere konfigüre edilmistir ve piksellerin birinci hatlarindan numunenin görüntülerini
yakalamayi durdurmak üzere konfigüre edilmistir. Bunlarin düzenlemeleri, asagidaki
Sekiller baglaminda daha detayli açiklanacaktir.
Görüntüleme sistemi, belirtilen piksel hatlarini içeren bir görüntüleme sensörüne sahiptir;
burada görüntüleme sensörü, görüntüleme sisteminin optik eksenine göre egiktir.
Bu bulusun baska bir örnek düzenlemesine göre görüntüleme sisteminin birinci piksel
hatti, Y dogrultusu boyunca uzanan birkaç bitisik piksel hattindan olusan bir birinci blokun
bir parçasidir ve ikinci piksel hatti, Y dogrultusu boyunca uzanan birkaç bitisik piksel
hattindan olusan bir ikinci blokun bir parçasidir. Ayrica birinci ve ikinci bloklar,
birbirlerinden Y dogrultusu boyunca uzanan bir isiga duyarli olmayan bosluk ile
ayrilmistir. Böyle bir TDI düzenlemesi, Sekil 4 ve 5'ten derlenebilir.
Bu bulusun baska bir örnek düzenlemesine göre görüntüleme sistemi, mikro mercekler
içermez.
Bu bulusun baska bir örnek düzenlemesine göre her aralik veya isiga duyarli olmayan
bosluk, kullanilan görüntüleme sensörünün bir pikselinin en az bir genisligi kadar bir
genislige sahiptir.
Bu bulusun baska bir örnek düzenlemesine göre bir tarayici görüntüleme sistemi
sunulmustur; burada sistem, bir numunenin görüntülenmesi için bir dijital tarama
mikro skobudur.
Bu bulusun baska bir örnek düzenlemesine göre tarayici görüntüleme sisteminde
görüntüleme sensörü, Y ekseninin etrafinda bir dönme ekseni olarak egiktir.
Baska bir örnek düzenlemeye göre burada sunuldugu sekliyle usul, bir patoloji
numunesinin bir görüntüsünü üretmek için bir dijital tarama mikroskobudur.
Bulusun bu ve diger özellikleri, asagida açiklanan düzenlemelere referansla açiga çikacak
ve aydinlatilacaktir.
Sekillere Yönelik Özet Açiklama
Bulusun örnek düzenlemeleri, asagidaki çizimlerde açiklanacaktir.
Sekil 1, bir mikroskop laminin bir enine kesitini sematik olarak göstermektedir.
Sekil 2, bu bulusun örnek bir düzenlemesine uygun bir tarama mikroskobunu
Sekil 3, bu bulusun örnek bir düzenlemesine uygun olarak bir obje uzayinda bir
görüntüleme sensörünün bir yansitmasini göstermektedir.
Sekil 4, TDI prensiplerini ve bu bulusun örnek bir düzenlemesine uygun usulü
kullanan bir görüntüleme sensörünü sematik olarak göstermektedir.
Sekil 5, bu bulusun örnek bir düzenlemesine uygun usulü kullanan bir görüntüleme
sensörünün bir yapisini sematik olarak göstermektedir.
Sekil 6, bu bulusun örnek bir düzenlemesine uygun bir usulün bir akis diyagrainini
Düzenlemelerin Detayli Açiklamasi
Bu bulusun bir görüntüleme sisteminin bir örnek düzenlemesine uygun bir tarama
mikroskobu (200), Sekil 2'de gösterilmistir. Görüntüleme sistemi (200), burada açiklandigi
gibi görüntü verilerinin numunenin birden fazla derinliginde eszamanli yakalanmasi için
usulü yürütebilir. Özellikle görüntüleme sistemi (200), Sekil 6'nin baglaininda açiklandigi
gibi asama Sl ila SS`in yürütülmesi için konfigüre edilmistir. Ancak görüntüleme
sisteminin (200), tarama sirasinda yakalama derinligi degistirilirken, kesintisiz
2D veya 3D görüntülerin üretilmesi için bir okuma usulüne olanak sagladiginin belirtilmesi
önemlidir. Bu, kusursuz sekilde düz ve/veya hacimsel olmayan numunelerde hizli bir
görüntü edinimine olanak saglar. Bu usul ve görüntüleme sistemi (200) ile bir kesintisiz
görüntünün yakalanmasi mümkündür; bu, geçici ikili, yani eszamanli okuma yapilmadan
mümkün olmayacaktir, çünkü hat sensöründe bir degisiklik, yalnizca edinim derinliginde
bir degisiklik ile sonuçlanmaz, ama tarama do grultusu boyunca bir ötelenmeyle de
sonuçlanir. Bu sonuncu ötelenine, ya göiüntüde bir bosluga ya da görüntü verilerinin bir
tekrarina neden olur. Bu bulusun usulü boslugu önler. Tekrar için, görüntü verilerinin bir
kismi atilabilir, ama ikili edinime gerek yoktur.
Elbette tarayici görüntüleme sistemi (200), Sekil 2'de gösterilmeyen, cam lam (201) ve
lamel (202) arasina yerlestirilebilen bir numunenin, örnegin bir doku katmaninin
görüntülenmesi için düzenlenmistir. Görüntüleme yolu (P), bir mikroskop objektifini (206)
içerebilir; objektif, bir veya birden fazla mercegi (203, 204 ve 205), doku numunesinden
yansiyan saçilmamis isigin engellenmesi için bir açikligi (207), bir borulu mercegi (208)
ve bu bulusa uygun bir görüntüleme sensörünü (209) içerebilir. Görüntüleme
sensörü (209), burada piksellerin bir matrisi olarak da adlandirilabilen piksellerin bir
2D dizisini içerir. Örnegin sensör, bir CMOS görüntüleme sensörüdür ama bu bulusla
baska türlerde sensörler de kullanilabilir. Sekil Z'den görülebilecegi gibi görüntüleme
sensörü (209), mikroskop objektif merceginin optik eksenine (O) göre egiktir.
Görüntüleme sensörü (209), burada açiklandigi gibi kendi kendine odaklanan bir
görüntüleme sensörü olabilir. Sistem (200), ayrica tarayicinin çalisma isleminin ve
özellikle numunenin görüntülenmesi için tarama isleminin yönetilmesi için bir yönetim
modülünü içerir. Yönetim modülü, tipik olarak örnegin bir FPGA (Alanda
Programlanabilir Kapi Dizisi) veya bir DCP (Dijital Sinyal islemcisi) gibi bir islemciyi
içerir. Optik eksenin (O), asagidaki Sekil 3'te tanimlanan eksene (Z) (309) paralel
olabilecegi belirtilmelidir.
Bu bulusun usulü, örnegin Sekil 3'te gösterilen gibi ve asagida daha detayli açiklanacak bir
görüntüleme sensörü (300) ile yürütülebilir. Örnek bir düzenlemede usul, bir hat
sensöründen/piksel hattindan (304) bir göiüntünün yakalanmasi, edinim derinliginde bir
degisikligin, yani mevcut hat sensöründen/piksel hattindan (304) edinimin, üstte veya altta
olan birinden (310) edinime degisikligin hangi yolla olursa olsun belirlenmesi ve mevcut
tarama hizinda, iki hat sensörü arasindaki isiga duyarli olmayan boslugun (3050)
kapatilmasi devain ettigi sürece mevcut sensörden (304) ve yeni hat sensöründen (310)
eszamanli olarak iki görüntünün yakalanmasi asamalarini içerir. Ek bir asama olarak yeni
hat sensöründen (310) görüntü yakalamanin devam ettirilmesi ve ilk hat sensöründen (304)
yakalamanin durdurulmasi asamasi mevcuttur. Bu usul ile bir kesintisiz görüntünün
yakalanmasi mümkündür; bu, geçici ikili okuma yapilmadan mümkün olmayacaktir, çünkü
hat sensöründe bir degisiklik, yalnizca edinim derinliginde bir degisiklik ile sonuçlanmaz,
ama tarama dogrultusu boyunca bir ötelenmeyle de sonuçlanir. Bu sonuncu ötelenme, ya
görüntüde bir bosluga ya da bir tekrara neden olur. Avantajli sekilde bu usul, nihai
görüntüde boslugu önler. Tekrar için, görüntü verilerinin bir kismi atilabilir, ama ikili
edinime gerek yoktur. Görüntü verilerinin atilmasina iliskin detayli özellikler, daha önce
tarif edilmistir.
Bu usul için kullanilan sensöre gelince Sekil 3, bir görüntüleme sensörünün (31 1) bir
yansitmasini (300) göstermektedir. Öte yandan görüntüleme sensörü (311), kendi kendine
odaklanan bir görüntüleme sensörü olabilir. Sekil 3, görüntüleme sensörünün (31 l),
eksene (308) sahip Y dogmltusu boyunca uzanan sirasiyla çok sayida paralel piksel hattini
içeren birkaç TDI blokunu (,
bir isiga duyarli olmayan bosluk (305C) ile ayrilmistir; bu bosluga söz konusu bloklardan
en az birinin piksellerinin okuma elektronigi konumlandirilmistir. istenirse her iki
TDI blokunun (304 ve 310) okuma elektronigi, bosluga (305c) konumlandirilabilir. Ancak
blokun (310) piksellerinin okuma elektroniginin isiga duyarli olmayan bosluga (3 050)
konumlandirilinasi ve blokun (304) piksellerinin okuma elektroniginin isiga duyarli
olmayan bosluga (305a) konumlandirilmasi da mümkündür. Görünen o ki TDI
bloklarinin (3 04 ve 310), yükten gerilime dönüstürücüleri veya mantigi ve/veya baglanti
devrelerini içermeyen bir piksel hatti olarak saglanmasi mümkündür. Sonuncu bilesenler,
bütünüyle görüntüleme sensörünün (311) söz konusu isiga duyarli olmayan bosluklarindan
olusur, böylece uygun bir düsük isik duyarliligiyla birlikte doluluk oraninin bir
maksimizasyonu elde edilir. TDI bloklarinin (304 ve 310), yalnizca sematik olarak
gösterildigi, çok sayida bitisik piksel hattinin burada detayli olarak betimlendigi
belirtilmelidir. TDI blokunu olusturan bu ayri piksel hatlari, asagidaki Sekil 4'ten
olarak çizilmistir; (301) bir cam lami belirtir ve (302) bir lameli belirtir ve doku
numunesi (303) ile gösterilmistir. Öte yandan tarama dogrultusu (X'), ok (306) ile
gösterilmistir ve tarama dogrultusunun (X'), sensörün (311) piksellerinin 2D dizisini10
tanimlayan Y dogrultusuna (308) büyük ölçüde dik oldugu kolayca derlenebilir. Sekil 3'te
X dogrultusu (307) da gösterilmistir.
Sekil 3'ün görüntüleme sensörü, ayni boyutta ve çözünürlükte bir geleneksel 2D sensöre
göre iki kat gelismistir. Sensörün isiga duyarli alaninda piksellerin fotoaktifkisminin
maksimizasyonu, doluluk orani maksimize olacak sekilde saglanmistir. Bu, mikro
merceksiz bir duyarli sensöre olanak saglar. Mikro inerceklerden kaçinilmasi, sensörün
örnegin bir tarayici görüntüleme mikroskobunun optik yoluna egik yerlestirilmesi için
saglar, çünkü sensörlerde bosluklarin içinde daha hizli bir sensöre olanak veren daha fazla
devre mevcut olabilir.
Sekil 4, bu bulusun örnek bir düzenlemesine uygun bir görüntüleme sensörünü (400)
sematik olarak göstermektedir. Görüntüleme sensörü, piksellerin bir 2D dizisini (421)
bir birinci piksel hattini (410) içerir. Sekil 4'ten derlenebilecegi gibi birinci piksel
hatti (410), dizinin sol ucundan dizinin sag ucuna Y dogrultusu (422) boyunca
uzanmaktadir, dolayisiyla dizinin tüm genisligi boyunca uzanmaktadir. Y dogrultusu,
X dogrultusuna (423) diktir. Piksellerin 2D dizisi, ayrica çok sayida pikseli içeren bir
ikinci piksel hattini (411) içerir; piksel (418 ve 419), referans isaretleriyle birlikte örnek
mahiyetinde gösterilmistir. Ayni zamanda ikinci hat (411) da Y do grultusu (422) boyunca
uzaninaktadir. Bundan baska birinci ve ikinci piksel hattinin arasinda bir birinci isiga
duyarli olmayan bosluk (402) saglanmistir. Sekil 4'ten derlenebilecegi gibi bu bosluk da
Y dogrultusu boyunca uzaninaktadir. Öte yandan birinci piksel hattinin piksellerinin
ve/veya ikinci piksel hattinin piksellerinin okuma elektronigi (412 ve 413), birinci isiga
duyarli olmayan boslugun (402) içine konumlandirilmistir. Elbette sensör, örnegin bir
FPGA gibi bilesenleri içerebilir.
Birinci isiga duyarli olmayan bosluk (402), sensörün bir pikselinin en az bir genisligi (420)
kadar bir genislige sahiptir. Bu düzenlemede bosluk genisligi, sensörün bir pikselinin
genisliginin (420) yaklasik bes katidir. Ayni zamanda ikinci isiga duyarli olmayan
bosluk (403), böyle bir genislige sahiptir. Öte yandan Sekil 4'ten derlenebilecegi gibi
görüntüleme sensörü (400), birkaç bitisik piksel hattinin (407 ila 410) bir birinci
blokunu (405) içerebilir. Bu birinci blok (405), bir TDI bloku olarak yönetilebilir. Birinci
isiga duyarli olmayan bosluk (402), piksel hattinin (410) veya piksel hattinin (411) akim
gerilim dönüstürücüleri gibi okuma elektronigini (412, 413) içerir ve görüntüleme
sensörünün (400) bir mantigini ve görüntüleme sensörünün (400) bir baglanti devresini de
içerebilir. Ayni zamanda ikinci isiga duyarli olmayan bosluk (403), ikinci
TDI blokunun ( piksellerinin bu okuma
elektronigini (414) içerir. Daha önce açiklandigi gibi görüntüleme sensörü (400), bir
TDI blokunun okuma elektroniginin, bütünüyle söz konusu TDl blokunun gösterilen
X dogrultusu (423) boyunca altindaki veya üstündeki bitisik boslugun içinde saglanacagi
sekilde de saglanabilir. Dolayisiyla bütünüyle fotodiyotlardan olusan, ama komsu
bosluklara tasindiklarindan kendisi okuma elektronigi içermeyen bir TDI blokunun
saglanmasi mümkündür. Örnek baska bir düzenlemede sensör, piksel hatlarinin bu
Bir TDI bloku, hatlari/siralari Y do grultusu boyunca uzanan ve sütunlari X dogrultusu
boyunca uzanan piksellerin 2D dizisi olarak görülebilir. TDI eylemi, sütunlar boyunca
gerçeklesir. Bu TDI eylemi bir geleneksel CCD tarzi TDI olabilir; burada yük, objenin
sensöre göre hareketi ile senkronize edilerek sütunlar boyunca transfer edilir. Alternatif
olarak dijital alanda TDI yürütülebilir; burada piksel yükleri, önce bir dijital sayiya
dönüstürülür ve ardindan objenin sensöre göre hareketi ile senkronize edilerek dijital alana
transfer edilir. Bu dijital TDI, görüntü sensörünün kendisinde veya bir FPGA veya
bilgisayar gibi bir bilgi islem biriminde "çip disinda" gerçeklesebilir. Bu bulusun sistemi,
istenen TDI prosedürünün gerçeklesecegi sekilde görüntüleme sensörünün okuma islemini
yöneten bir yönetim modülünü de içerebilir.
Bu düzenlemelere göre TDI kullanilmasinin daha detayli bir örnegi Sekil 4'ün baglaminda
bloku (404, 405 ve 406), piksel matrisinde belirtilmistir. Bir TDI blokunun, bir fonksiyonel
TDI birimi islevi gören toplam piksel matrisinin bir alt dizisi olmasinin amaçlandigi
dikkate alinmalidir. Teknikte uzman bir kisi, bu düzenlemelere uygun bir TDI sensörünün
nasil çalisabilecegini asikar biçimde çikarabilecektir. Bazi düzenlemeler, burada sinirlayici
olmayan örnekler vasitasiyla açiklanacaktir. Bu ömeklerin hepsi, iki baskin görüntüleme
sensörü tipinin her ikisine, yani CCD ve CMIS görüntü sensörlerine uygulanabilir.
CCD görüntü sensörleri için TDI eylemi, tipik olarak analog alanda, yükün piksellerin bir
kümesinden piksellerin baska bir kümesine kopyalanmasi vasitasiyla yürütülür.
CMOS görüntü sensörleri için TDI eylemi, tipik olarak dijital alanda, piksellerin bir
kümesinin dijital degerinin, piksellerin baska bir kümesinin dijital degerine ilave edilmesi
vasitasiyla yürütülür. Ancak dijital ve analog TDI'nin her ikisi, CCD ve CMOS'un her
ikisine uygulanabilir.
Asagida TDI eylemi, bir piksel degeri transferi olarak tarit` edilmistir; bu, eger analog TDI
kullaniliyorsa bir analog yük transferi ve dijital TDI kullaniliyorsa bir piksel degeri
transferi olarak anlasilacaktir.
Sekil 4'ün örnegine geri dönersek, bir piksel degeri transfer edilirken sensör, mikroskop
lamina göre daha ileride bir tarama pozisyonuna hareket ettirilir. Sekil 4'ün örneginde
TDI eyleminin yukariya dogru çalistigi ve numunenin sensöre göre ötelenmesinin de
yukariya dogru yapildigi varsayilacaktir. Piksel hatti veya kademesi (410) (bir kademe,
tercihen tam bir piksel hattini içerir), her pozlama için 0 piksel degerleri ile baslar ve
kademe 407'nin piksel degerleri, her pozlamadan sonra blokta (405) nihai görüntüyü
olusturur. Tam bir TDI çevrimi boyunca numunenin görüntüsünün tek bir hatti takip
edildiginde, teknikte bilindigi gibi islem, söyledir: t:0 zamaninda bir pozlama sirasinda,
görüntüleme sensörü vasitasiyla numunenin bir görüntüsü yakalanir. t=l'deki sonraki
pozlamada, numune, t:0'da kademe 410'da yansitilmis numune görüntüsünün bir kisminin,
simdi kademe 409'da yansitilacagi sekilde ötelenir. tZO ve tzl'deki pozlamalar arasinda
kademe 410'daki piksellerin degerleri, kademe 409'a kopyalanir. t=l'deki pozlama
sirasinda kademe 409 üzerindeki pozlamadan kaynaklanan piksel degerleri, t=0'da
kademe 410'daki pozlamadan kaynaklanan önceden mevcut degerlere ilave edilir.
Kademe 409'daki degerler, simdi t=0'da kademe 410'un pozlanmasindan ve t=l'de
kademe 409'un pozlanmasindan kaynaklanan piksel degerlerinin toplamidir. t:l ve
t:2'deki pozlamalar arasinda kademe 409'daki piksellerin degerleri, kademe 408'e
kopyalanir. t=2'deki pozlama sirasinda kademe 408 üzerindeki pozlamadan kaynaklanan
piksel degerleri, t=0'da kademe 410'daki pozlamadan, arti t=1'de kademe 409'daki
pozlamadan kaynaklanan önceden mevcut degerlere ilave edilir. Kademe 408'deki
degerler, Simdi t:0'da kademe 410'un pozlanmasindan ve t:l'de kademe 409'un
pozlanmasindan ve t:2*de kademe 408'in pozlanmasindan kaynaklanan piksel degerlerinin
toplamidir. t:2 ve t:3*teki pozlamalar arasinda kademe 408'deki piksellerin degerleri,
kademe 407'ye kopyalanir. t=3 'teki pozlama sirasinda kademe 407 üzerindeki pozlamadan
kaynaklanan piksel degerleri, t=0'da kademe 410'daki pozlamadan arti, t=l'de
kademe 409'daki ve t=2'de kademe 408'deki pozlamadan kaynaklanan önceden mevcut
degerlere ilave edilir. Kademe 407'deki degerler, simdi t:0'da kademe 410'un
pozlanmasindan ve t:l'de kademe 409'un pozlanmasindan ve t:2'de kademe 408'in
pozlanmasindan ve t:3'te kademe 407'nin pozlanmasindan kaynaklanan piksel degerlerinin
toplamidir, Numunenin görüntüsü, sensör boyunca ayni dogrultuda ve TDI eylemiyle ayni
hizda ötelendiginden, bu örnekte numunenin üzerindeki ayni alana dört esit pozlama
yapilmistir. Bu, numunenin ötelenmesini yavaslatmadan ve ek hareket bulanikligi
katmadan, dört kat daha uzun pozlama periyoduna esdegerdir.
Yukaridaki açiklama, bloklar (404 ve 406) gibi baska her blok veya bu bulusun
görüntüleme sensörünün baska herhangi bir bloku için geçerlidir.
Bu düzenlemelerde TDI bloklarinin dört kademesinin, ayni alanin ayni odakta bir
görüntüsünü yakalayabilecegi dikkate alinmalidir.
Buna bagli olarak her TDI blokunun kademeleri, numuneden yaklasik ayni mesafeyle
ayrilacaklari sekilde olabilir.
Örnegin yukarida açiklanan birinci detayli düzenlemeye tekrar basvurularak, dört kademe
her blok için kullanilabilir. Dolayisiyla TDI bloklarinin her biri, piksel boyutu ile ayni
boyutta bir adim ile birbirlerinin yanina konumlandirilmis dört piksel hattindan olusabilir.
Burada bir adimin, iki komsu pikselin merkezleri arasindaki mesafeyi belirtebilecegi
dikkate alinmalidir. Bu bulusun her düzenlemesinde her TDI bloku, adimdan daha büyük
bir isiga duyarli olmayan aralik mesafesi kadar aralikli olabilir. Aralik mesafesi, sensörün
derinlik konumunun Z çözünürlügünü belirler. Her TDI blokunun tekil pikselleri
birbirlerine daha yakin olurken nispeten daha büyük bir bosluga sahip olunmasi avantajli
olabilir.. Bu sekilde çok fazla piksek kullanilmadan nispeten büyük bir Z erimi elde
edilebilir, çünkü her TDI kademesinin tekil kademeleri, birbirlerine daha yakindir. Sonuç
olarak benzer derinlikte edinim yaparlar ve dolayisiyla bir veya birden fazla kademenin
odaksizligindan kaynaklanan görüntü yumusamasini azaltirlar.
Bu bulusun baska bir örnek düzenlemesine göre Sekil 5, isiga duyarli olmayan
bosluk (506) ile ayrilmis bir birinci piksel hattini (508) ve bir ikinci piksel hattini (509)
içeren bir görüntüleme sensörlü (501) bir yapiyi (500) göstermektedir. Birinci TDI
sirasiyla dört piksel hattini içerir. Piksel hatlari burada Sekil 5'te gösterilenden çok daha
uzun olduklarindan, piksel hatlari için kesinti (516) gösterilmistir. Daha önce açiklandigi
gibi piksel hatlari, birkaç bin pikselden, örnegin 4000 veya daha fazla pikselden olusabilir.10
Sekil 5, görüntüleme sensörünün üzerine konumlandirilinis ve dolayisiyla görüntüleme
sensörünün bir parçasi olan iki TDI motorunu (510, 513) de göstermektedir. Böyle bir
TDI motoru, bilinen ve burada belirtilmis herhangi bir TDI prosedürünü yürütmek üzere
konfigüre edilmistir. Bu sekilde TDI, çipte gerçeklestirilir. Bu bulus, TDI prosedürünün,
çip disinda, örnegin bir dis bilgisayar tarafindan yürütüldügü baska düzenlemeleri de
içermektedir. Sekiz giris ve çikis ucu (51 1 ve 514), sensörün bir veri yoluna baglanmasi
için standart bacaklardir. Istege bagli olarak kullanicinin daha yüksek bir bant genisligi
istemesi durumunda 24 giris ve çikis ucu (512, 515) kullanilabilir.
Sekil 6, bu bulusun örnek bir düzenlemesine uygun bir usulün bir akis diyagramini seinatik
olarak göstermektedir. Ayrintida Sekil 6'da, tarama sirasinda yakalama derinligi
degistirilirken, kesintisiz 2D veya 3D görüntülerin üretilmesi için bir okuma usulü
sunulmustur. Usul, görüntü verilerini numunenin birden fazla derinliginde eszamanli
yakalama yetenegine sahiptir. Usul, örnegin Sekil 2'nin baglaminda açiklanan cihaz gibi
bir görüntüleme cihazini kullanir. Kullanilan görüntüleme cihazi, bir optik eksene sahiptir
ve optik eksene göre egik bir görüntüleme sensörünü (300, 400) içerir. Görüntüleme
cihazinin böyle bir görüntüleme sensörü, çok sayida pikseli (415, 416) içeren bir birinci
piksel hattini (410) ve çok sayida pikseli (418, 419) içeren en az bir ikinci piksel
hattini (41 1) içerir. Birinci ve ikinci piksel hatti, görüntüleme cihazinin optik ekseni
boyunca numuneye dogru farkli bir optik yol uzunluguna sahiptir ve tarama dogrultusu
boyunca birbirlerine göre bir aralik (402) kadar kaydirilmistir.
Sekil 6'da gösterilen usul, görüntüleme sensörünün birinci ve ikinci piksel hatlarinin bir
ana uzantisi dogrultusuna (Y) büyük ölçüde dik bir tarama dogrultusu (X') boyunca
numunenin taranmasini, yani asama Sl'i ögretir. Ikinci asama SZ, birinci piksel hattindan
numunenin bir birinci görüntüsünün yakalanmasini tanimlar; bu asama, eszamanli olarak
birinci piksel hattindan numunenin bir ikinci görüntüsünün yakalanmasini ve ikinci piksel
hattindan numunenin bir üçüncü görüntüsünün yakalanmasini gerektiren asama S3'ten
önce gerçeklestirilir. Öte yandan asama S4'te ikinci piksel hattindan numunenin
görüntülerinin yakalaninasina devam edilir. Piksellerin birinci hattindan numunenin
görüntülerinin yakalanmasinin durdurulmasi, asama SS'te gerçeklestirilir.
Dolayisiyla Sekil 6`da asama Sl ila SS ile betimlenen usul, tarama sirasinda yakalama
derinligi degistirilirken kesintisiz, 2D veya 3D görüntüler üretebilen bir okuma usulü
olarak görülebilir. Bu, kusursuz sekilde düz ve/veya hacimsel olmayan numunelerde hizli
bir görüntü edinimine olanak saglar. Tarama sirasinda ilgili araligin, yani bitisik piksel
hatlari arasindaki boslugun kapatilmasinin ne kadar sürecegini belirlemeye yönelik
hesaplama, teknikte uzman kisi tarafindan sorunsuz gerçeklestirilebilir ve burada açiklanan
görüntüleme cihazinda uygulanabilir. Yansitmada iki kamera, yani iki piksel hatti
arasindaki mesafeden hareketle, mesafenin kaç pikselle ilgili oldugu bilinmektedir.
Pozlama frekansiyla, yani hat hiziyla, aralikta/boslukta kaç piksel oldugu bilinmektedir.
Bu usulü yürüten görüntüleme cihazi, eszamanli görüntü yakalamanin ne zaman
baslatilacagi belirleme yetenegine sahiptir. Özellikle bu bulusun örnek bir düzenleinesinde
edinim derinliginde bir degisikligin gerekli olup olmadigi belirlenir ve edinim derinliginde
bir degisikligin gerekli oldugunun belirlenmesi bazinda ikinci piksel hattinin karsilik gelen
etkinlestirilmesi, görüntüleme cihazi tarafindan otomatik olarak yürütülür. Burada daha
önce açiklandigi gibi edinim derinliginde bir degisikligin gerekli olup olmadiginin
belirlenmesi için birçok farkli teknik araç kullanilabilir.
Sekil 6'da açiklanan usul, Sekil 1'de gösterildigi gibi kusursuz sekilde düz ve/veya
hacimsel olmayan numunelerin, hizli görüntü edinimine olanak verir ve özellikle dijital
lamli tarayicilarda, örnegin dijital patoloji için uygulanabilir, ama baska teknik alanlarda
da uygulanabilir. Sekil 6'nin bu usulü ile bir kesintisiz görüntünün yakalanmasi
mümkündür; bu, geçici ikili, yani eszamanli okuma yapilmadan mümkün olmayacaktir,
çünkü hat sensöründe bir degisiklik, yalnizca edinim derinliginde bir degisiklik ile
sonuçlanmaz, ama tarama dogrultusu (X') boyunca bir ötelenmeyle de sonuçlanir. Bu
sonuncu ötelenme, ya görüntüde bir bosluga ya da görüntü verilerinin bir tekrarina neden
olur. Yukarida açiklandigi gibi usul, boslugu önlemek için gereklidir. Tekrar için, görüntü
verilerinin bir kismi atilabilir, ama ikili edinime gerek yoktur.
Haklari talep edilen bulusu uygularken teknikte uzman kisiler, sekillerin, açiklamalarin ve
ilisikteki istemlerin incelemesiyle açiklanan düzenlemelere iliskin diger degisiklikleri
anlayabilir ve gerçeklestirebilir. Örnegin daha önce açiklandigi gibi bu basvuruda tarif
edilen bulus, sensörün optik eksene göre egik olmadigi ve görüntüleme sisteminin, bu
sensörün numunenin bir egik enine kesitini görüntüleyebilecegi sekilde yerlestirildigi
baska kontigürasyonlari kapsamaktadir. Dolayisiyla numuneden sensöre farkli optik yol
uzunluklarinm üretimi, isik yoluna bir optik elemanin, örnegin bir prizmanm sokulmasi
gibi bu alanda iyi bilinen baska teknikler kullanilarak gerçeklestirilebilir.
lstemlerde "içerinek" kelimesi, baska unsurlari veya asamalari dislamaz ve belirsiz artikel
parçanin veya asamanin fonksiyonunu yerine getirebilir. Farkli karsilikli bagimli
istemlerde yalnizca bazi ölçülerin belirtilmesi olgusu, bu ölçülerin bir kombinasyonunun
avantajli biçimde kullanilamayacagina isaret etmez. Istemlercleki herhangi bir referans
isaretinin, istemlerin kapsamini sinirladigi anlami çikarilmamalidir.
Referans Listesi
mikroskop lami enine kesiti
tutturma ortami (görüntüleme sistemi)
tarama mikroskobu (görüntüleme sistemi)
alt mercek
orta mercek
üst mercek
mikroskop objektifi
borulu mercek
görüntüleme sensörü
görüntüleme sensörü/yansitma
doku numunesi
hat sensörüfpiksel hatti/TDI bloku
isiga duyarli olmayan üçüncü bosluk
isiga duyarli olmayan birinci bosluk
isiga duyarli olmayan dördüncü bosluk
ok (X dogrultusu)
eksen (Y dogrultusu)
üst veya alt hat sensörü/piksel hatti/TDI bloku
birinci görüntüleme sensörü
ikinci görüntüleme sensörü
isiga duyarli olmayan üst bosluk
isiga duyarli olmayan alt bosluk
piksel hatlarinin birinci bloku
birinci blokta ilk sira piksel hatti
birinci blokta ikinci sira piksel hatti
birinci blokta üçüncü sira piksel hatti
birinci blokta dördüncü sira piksel hatti
üst okuma elektronigi
alt okuma elektronigi
birinci blokta 4.sirada l.piksel
birinci blokta 4.sirada 2. piksel
birinci blokta 4.sirada 3. piksel
ikinci blokta 1.sirada 1.piksel
ikinci blokta 1.sirada 2. piksel
piksel dizisi10
Y dogrultusu
X dogrultusu
görüntüleme sensörlü yapi
görüntüleme sensörü
birinci TDI bloku
ikinci TDI bloku
üçüncü TDI bloku
128inci TDI bloku
isiga duyarli olmayan bosluk
birinci piksel hatti
ikinci piksel hatti
üst okuma elektronigi
alt okuma elektronigi
8 giris ucu
8 çikis ucu
24 giris ucu
24 çikis ucu
1:” SEKIL 1
~ r 9,7. /::î::î;
1 ./L A,
3.1," »115 -
3) I.] i;`.i
Claims (3)
- ISTEMLER 1. Bir optik eksene sahip bir görüntüleme cihazi kullanilarak, bir numunenin birden fazla derinliginde görüntü verilerinin eszamanli yakalanmasi için usul olup, cihaz, optik eksene göre adlandirilmis bir görüntüleme sensörünü içerir; sensör, asagidakilere sahiptir: çok sayida pikseli (415, 416) içeren bir birinci piksel hatti (410), çok sayida pikseli (418, 419) içeren bir ikinci piksel hatti (41 1), birinci ve ikinci piksel hatti, görüntüleme cihazinin optik ekseni boyunca numuneye dogru farkli bir optik yol uzunluguna sahiptir, birinci piksel hatti ve ikinci piksel hatti, tarama do grultusu boyunca usul asagidaki asamalari içerir optik eksene ve birinci ve ikinci piksel hatlarinin bir ana uzantisi dogrultusuna (Y) büyük ölçüde dik bir tarama dogrultusu (X') boyunca numunenin taranmasi (S 1 ), birinci piksel hattindan, numunenin bir birinci görüntüsünün yakalaninasi (SZ), eszamanli olarak, birinci piksel hattindan, numunenin bir ikinci görüntüsünün yakalanmasi ve ikinci piksel hattindan, numunenin bir üçüncü görüntüsünün yakalanmasi (S3), ikinci piksel hattindan, numunenin görüntülerinin yakalanmasina devain edilmesi (S4), birinci piksel hattindan, numunenin görüntülerinin yakalanmasinin durdurulmasi (SS).
- 2. Istem l'e göre usul olup, burada aralik, ya birinci ve ikinci piksel hatlari arasindaki bir birinci isiga duyarli olmayan bosluktur (402) ya da birinci ve ikinci piksel hatlari arasindaki bir veya birden fazla yakalama yapmayan piksel hattidir; bu yakalama yapmayan piksel hatti, devre disi birakilmistir.
- 3. Istem 2'ye göre usul olup, burada isiga duyarli olmayan bosluk, birinci ve ikinci Önceki istemlerden herhangi birine göre usul olup, burada asama Sl ila SS, numunenin taranmasi sirasinda yürütülür. Önceki istemlerden herhangi birine göre usul olup, burada ikinci görüntünün ve üçüncü görüntünün eszamanli yakalanmasi, tarama sirasinda birinci piksel hatti ve ikinci piksel hatti arasindaki araligin kapatilmasi devam ettigi sürece yürütülür. Önceki istemlerden herhangi birine göre usul olup, ayrica asagidaki asamalari edinim derinliginde bir degisikligin gerekli olup olmadiginin belirlenmesi ve edinim derinliginde bir degisikligin gerekli oldugunun belirlenmesi bazinda ikinci piksel hattinin etkinlestirilmesi. Istem 6'ya göre usul olup, burada bir optimal odak pozisyonunun tahmin edilmesi için bir usul, edinim derinliginde bir degisikligin gerekli olup olmadiginin belirlenmesinde kullanilir. istem 6 veya 7'den birine göre usul olup. görüntüleme sensörü, ayrica çok sayida pikseli içeren bir üçüncü piksel hattini içerir, burada birinci, ikinci ve üçüncü piksel hatlarinin her biri, görüntüleme cihazinin optik ekseni boyunca numuneye dogru farkli bir optik yol uzunluguna sahiptir, burada birinci piksel hatti ve üçüncü piksel hatti, tarama dogrultusu (X') boyunca birbirlerine göre bir aralik kadar kaydirilmistir, burada birinci piksel hatti, ikinci ve üçüncü piksel hatti arasinda bulunmaktadir, usul, ayrica asagidaki asamayi içerir: edinim derinliginde bir artisin gerekli oldugunun belirlenmesi durumunda, ikinci piksel hattinin aktive edilmesi veya edinim derinliginde bir azaltmanin gerekli oldugunun belirlenmesi durumunda, üçüncü piksel hattinin aktive edilmesi. 9. Önceki istemlerden herhangi birine göre usul olup, ayrica asagidaki asamayi içerir: birinci piksel hatti ve/veya ikinci piksel hatti vasitasiyla edinilmis tekrar verilerinin atilmasi. 10. istem 9'a göre usul olup ayrica asagidaki asamayi içerir: tekrar verileri atildiktan sonra yakalanmis görüntüler bazinda numunenin bir 11. Önceki istemlerden herhangi birine göre usul olup, burada görüntüleme sistemi, bir oitogonal XY koordinat sisteminde piksellerin bir 2D dizisini içeren bir görüntüleme sensörüdür (400); sensörün piksellerinin 2D dizisi, piksellerin birinci, ikinci ve üçüncü hattini içerir ve burada birinci, ikinci ve üçüncü piksel hatlarinin her biri, Y dogrultusu boyunca uzanir. 12. Numunenin bir üç boyutlu (3D) görüntüsünün üretilmesi için önceki istemlerden herhangi birine göre usul olup, usul, ayrica asagidaki asamalari içerir: birinci piksel hattini içeren piksel hatlarinin bir birinci kümesinden, numunenin bir birinci görüntüsünün yakalanmasi, eszamanli olarak piksel hatlarinin birinci kümesinden, numunenin ikinci görüntüsünün yakalanmasi ve ikinci piksel hattini içeren piksel hatlarinin bir ikinci kümesinden, numunenin bir üçüncü görüntüsünün yakalanmasi, piksel hatlarinin ikinci kümesinden, numunenin görüntülerinin yakalanmasina devam edilmesi ve piksel hatlarinin birinci kümesinden, numunenin görüntülerinin yakalanmasinin durdurulmasi. 13. Bir numunenin görüntü verilerinin birden fazla derinlikte eszamanli yakalanmasi için bir görüntüleme sistemi olup, sistem asagidakileri içerir: çok sayida pikseli (415, 416) içeren bir birinci piksel hatti (410), çok sayida pikseli (418, 419) içeren bir ikinci piksel hatti (41 1), burada cihaz, numuneyi bir tarama dogrultusu (X') boyunca taramak üzere kontigüre edilmistir, burada birinci piksel hatti ve ikinci piksel hatti, tarama dogrultusu boyunca burada görüntüleme sistemi, birinci piksel hattindan numunenin bir birinci görüntüsünü yakalamak üzere kontigüre edilmistir, burada görüntüleme sistemi, eszamanli olarak birinci piksel hattindan, numunenin bir ikinci görüntüsünü yakalamak ve ikinci piksel hattindan, numunenin bir üçüncü görüntüsünü yakalamak üzere konfigüre edilmistir ve burada görüntüleme sistemi, ikinci piksel hattindan numunenin görüntülerini yakalamaya devam etmek üzere konfigüre edilmistir ve piksellerin birinci hatlarindan nuinunenin görüntülerini yakalamayi durdurmak üzere konfigüre edilmistir. 14. Istem 13'e göre bir görüntüleme sistemi olup, burada birinci ve ikinci piksel hatlari, bir dikgen XY koordinat sisteminde piksellerin bir 2D dizisini içeren bir görüntüleme sensörünün (400) parçasidir, burada birinci ve ikinci piksel hatlari, Y dogrultusu boyunca uzanir, görüntüleme sensörü, ayrica birinci ve ikinci piksel hattinin arasinda bir birinci isiga duyarli olmayan boslugu (402) içerir, burada birinci isiga duyarli olmayan bosluk, Y dogrultusu boyunca uzanir ve burada birinci piksel hattinin piksellerinin ve/veya ikinci piksel hattinin piksellerinin okuma elektronigi (412, 413), birinci isiga duyarli olmayan boslugun (402) içine konumlandirilmistir. 15. Istem 14'e göre bir görüntüleme sistemi olup, burada birinci isiga duyarli olmayan boslugun içine veya sensörün baska bir isiga duyarli olmayan boslugunun içine asagidaki bilesenlerden en az biri konumlandirilir: birinci ve ikinci piksel hattindan en az birinin piksellerinin akim-gerilim dönüstürücüleri, görüntüleme sensörünün bir mantigi ve görüntüleme sensörünün bir baglanti devresi.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP14199531 | 2014-12-22 | ||
| PCT/EP2015/079331 WO2016102200A1 (en) | 2014-12-22 | 2015-12-11 | Method for simultaneous capture of image data at multiple depths of a sample |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TR201617331T1 true TR201617331T1 (tr) | 2017-02-21 |
Family
ID=52358547
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TR2016/17331T TR201617331T1 (tr) | 2014-12-22 | 2015-12-11 | Bir numunenin birden fazla derinliğinde görüntü verilerinin eşzamanlı yakalanması için usul. |
| TR2018/08247T TR201808247T4 (tr) | 2014-12-22 | 2015-12-11 | Bir numunenin çoklu derinliklerinde görüntü verisinin eşzamanlı yakalanması için yöntem ve cihaz. |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TR2018/08247T TR201808247T4 (tr) | 2014-12-22 | 2015-12-11 | Bir numunenin çoklu derinliklerinde görüntü verisinin eşzamanlı yakalanması için yöntem ve cihaz. |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US9910258B2 (tr) |
| EP (1) | EP3108284B1 (tr) |
| JP (1) | JP6295343B2 (tr) |
| CN (1) | CN106104355B (tr) |
| MX (1) | MX2016011404A (tr) |
| RU (1) | RU2678505C2 (tr) |
| TR (2) | TR201617331T1 (tr) |
| WO (1) | WO2016102200A1 (tr) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6423841B2 (ja) * | 2016-10-11 | 2018-11-14 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
| CN108521825B (zh) * | 2017-04-26 | 2022-03-29 | 深圳市柔宇科技股份有限公司 | 控制方法、控制装置和光学检测设备 |
| EP3625605B1 (en) * | 2017-09-29 | 2022-08-17 | Leica Biosystems Imaging, Inc. | Two-dimensional and three-dimensional fixed z scanning |
| JP7007227B2 (ja) * | 2018-04-09 | 2022-01-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
| EP3627205A1 (en) | 2018-09-20 | 2020-03-25 | Koninklijke Philips N.V. | Confocal laser scanning microscope configured for generating line foci |
| WO2020091965A2 (en) | 2018-11-02 | 2020-05-07 | Hologic, Inc. | Digital imaging system and method |
| CN109856015B (zh) * | 2018-11-26 | 2021-08-17 | 深圳辉煌耀强科技有限公司 | 一种癌细胞自动诊断的快速处理方法及其系统 |
| CN116017120B (zh) * | 2022-12-27 | 2025-09-09 | 上海精积微半导体技术有限公司 | Tdi相机、超分辨率图像的获取方法 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1068888A (ja) * | 1996-08-29 | 1998-03-10 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡装置 |
| US6711283B1 (en) | 2000-05-03 | 2004-03-23 | Aperio Technologies, Inc. | Fully automatic rapid microscope slide scanner |
| US6724489B2 (en) * | 2000-09-22 | 2004-04-20 | Daniel Freifeld | Three dimensional scanning camera |
| DE10112947A1 (de) * | 2001-03-17 | 2002-09-26 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Verfahren zur Auswertung von Schichtbildern |
| GB2385481B (en) * | 2002-02-13 | 2004-01-07 | Fairfield Imaging Ltd | Microscopy imaging system and method |
| US7417213B2 (en) | 2005-06-22 | 2008-08-26 | Tripath Imaging, Inc. | Apparatus and method for rapid microscopic image focusing having a movable objective |
| EP2406599B1 (en) * | 2009-03-10 | 2021-05-12 | Koninklijke Philips N.V. | Time domain multiplexing for imaging using time delay and integration sensors |
| BR112012015931A2 (pt) | 2009-12-30 | 2021-03-02 | Koninklijke Philips Eletronics N.V. | método para formar imagem microscopicamente de uma amostra com um escaner, microscópio de escaneamento para formação de imagem de uma amostra, uso de um sensor de disposição bidimensional e disposição para formação de imagem de um corte trasnversal oblíquio de uma amostra |
| WO2012159205A1 (en) * | 2011-05-25 | 2012-11-29 | Huron Technologies International Inc. | 3d pathology slide scanner |
-
2015
- 2015-12-11 MX MX2016011404A patent/MX2016011404A/es unknown
- 2015-12-11 WO PCT/EP2015/079331 patent/WO2016102200A1/en not_active Ceased
- 2015-12-11 US US15/124,610 patent/US9910258B2/en active Active
- 2015-12-11 TR TR2016/17331T patent/TR201617331T1/tr unknown
- 2015-12-11 JP JP2016567085A patent/JP6295343B2/ja active Active
- 2015-12-11 TR TR2018/08247T patent/TR201808247T4/tr unknown
- 2015-12-11 CN CN201580013493.5A patent/CN106104355B/zh active Active
- 2015-12-11 RU RU2016134043A patent/RU2678505C2/ru active
- 2015-12-11 EP EP15808566.2A patent/EP3108284B1/en active Active
-
2018
- 2018-03-05 US US15/911,578 patent/US10082663B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2017516401A (ja) | 2017-06-15 |
| EP3108284B1 (en) | 2018-03-14 |
| RU2678505C2 (ru) | 2019-01-29 |
| CN106104355B (zh) | 2018-10-23 |
| CN106104355A (zh) | 2016-11-09 |
| RU2016134043A (ru) | 2018-02-28 |
| US20170336618A1 (en) | 2017-11-23 |
| US9910258B2 (en) | 2018-03-06 |
| EP3108284A1 (en) | 2016-12-28 |
| WO2016102200A1 (en) | 2016-06-30 |
| TR201808247T4 (tr) | 2018-07-23 |
| JP6295343B2 (ja) | 2018-03-14 |
| RU2016134043A3 (tr) | 2018-11-28 |
| US10082663B2 (en) | 2018-09-25 |
| US20180196249A1 (en) | 2018-07-12 |
| MX2016011404A (es) | 2016-11-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TR201617331T1 (tr) | Bir numunenin birden fazla derinliğinde görüntü verilerinin eşzamanlı yakalanması için usul. | |
| JP5552214B2 (ja) | 焦点検出装置 | |
| US9088729B2 (en) | Imaging apparatus and method of controlling same | |
| JP5028154B2 (ja) | 撮像装置及びその制御方法 | |
| EP3098638A1 (en) | Adaptive autofocusing system | |
| CN105283791B (zh) | 图像取得装置及图像取得装置的聚焦方法 | |
| US10429317B2 (en) | Optical device for detecting an internal flaw of a transparent substrate and method for the same | |
| CN103238098A (zh) | 成像设备和对焦位置检测方法 | |
| US20170003230A1 (en) | Wafer image inspection apparatus | |
| JP6315419B2 (ja) | 半導体検査方法、半導体検査装置及び半導体製造方法 | |
| JP6091318B2 (ja) | 測距装置およびその制御方法 | |
| JP2008020498A (ja) | 自動焦点検出装置 | |
| JP2009133797A (ja) | 基板表面検査装置及び基板表面検査方法 | |
| JP6541275B2 (ja) | 電子回路用ギャップを伴う新規イメージングセンサを持つスキャンイメージングシステム | |
| JP2010256530A (ja) | 顕微鏡装置 | |
| JP6152772B2 (ja) | 撮像装置、半導体集積回路および撮像方法 | |
| JP2011220932A (ja) | 撮像装置 | |
| JP3152203B2 (ja) | 外観検査装置 | |
| JP2003295065A (ja) | 顕微鏡装置 | |
| KR101507950B1 (ko) | 웨이퍼 영상 검사 장치 | |
| JP2003247817A (ja) | リニアスキャン型共焦点表面形状計測装置 | |
| KR20250112803A (ko) | 화상 처리장치, 화상 처리방법 및 프로그램 | |
| JP2013130686A (ja) | 撮像装置 | |
| Wang | Angle Sensitive Pixels For Integrated Light Field Sensing | |
| JP2008002932A (ja) | 試料撮像装置及び試料の照明方法 |