[go: up one dir, main page]

SU510167A3 - Рентгеновский спектрометр - Google Patents

Рентгеновский спектрометр

Info

Publication number
SU510167A3
SU510167A3 SU1932382A SU1932382A SU510167A3 SU 510167 A3 SU510167 A3 SU 510167A3 SU 1932382 A SU1932382 A SU 1932382A SU 1932382 A SU1932382 A SU 1932382A SU 510167 A3 SU510167 A3 SU 510167A3
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
ray spectrometer
spectrometer
electron beam
sample
spectrometer according
Prior art date
Application number
SU1932382A
Other languages
English (en)
Inventor
Саорес Жан
Ларибо Этьен
Original Assignee
Сосьете Насьональ Де Петрольд"Акитэн (Фирма)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Сосьете Насьональ Де Петрольд"Акитэн (Фирма) filed Critical Сосьете Насьональ Де Петрольд"Акитэн (Фирма)
Application granted granted Critical
Publication of SU510167A3 publication Critical patent/SU510167A3/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/14Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • H01J35/153Spot position control
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/076X-ray fluorescence

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

нм
4.Спектрометр по п. 1, отличающийс  тем, что катод выполпен линейным, а анод содержит линейную щель.
5.Спектрометр по любому из пп. 1-4, отличающийс  тем, что средства дл  обеспечени  перпендикул рного падени  электронного пучка на образец выполнены в виде электростатического устройства.
6.Спектрометр по любому из пп. 1-4, отличающийс  тем, -что средства дл  обеспечени  перпендикул рного падени  пучка электронов на образец выполнены в виде электромагнитного устройства.
7.Спектрометр по пп. 1-6, отличающийс  тем, что держатель образца выполней в виде вращающегос  кольцевого желоба.
8.Спектрометр по п. 7, отличающийс  тем, что на неподвижной части держател  установлены изогнута  пластина, погруженна  в желоб держател , и наклонна  пластина с горизонтальной кромкой, разравнивающей поверхность образца перед облучаемым участком.
9.Спектрометр по п. 1, отличающийс  тем, что он содержит фокусирующее устройство , установленное на пути электронного пучка и состо щее из набора перекрывающих друг друга и установленных с промежутками металлических пластин со щел ми убывающей щирины, причем размер первой щели равен размерам падающего на нее пучка электронов .
WV
АЛ
Фиг.
Фaг.t
Фиг. 5
п
.7
SU1932382A 1972-06-08 1973-06-07 Рентгеновский спектрометр SU510167A3 (ru)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR7220594A FR2188839A5 (ru) 1972-06-08 1972-06-08

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU510167A3 true SU510167A3 (ru) 1976-04-05

Family

ID=9099870

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1932382A SU510167A3 (ru) 1972-06-08 1973-06-07 Рентгеновский спектрометр

Country Status (16)

Country Link
JP (1) JPS4964489A (ru)
AU (1) AU468338B2 (ru)
BE (1) BE800585A (ru)
BR (1) BR7304269D0 (ru)
CA (1) CA994479A (ru)
CH (1) CH581326A5 (ru)
DE (1) DE2329190A1 (ru)
ES (1) ES415635A1 (ru)
FR (1) FR2188839A5 (ru)
GB (1) GB1413611A (ru)
IT (1) IT998130B (ru)
LU (1) LU67756A1 (ru)
NL (1) NL7307982A (ru)
SE (1) SE386979B (ru)
SU (1) SU510167A3 (ru)
ZA (1) ZA733890B (ru)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2821597A1 (de) * 1978-05-17 1979-11-22 Siemens Ag Verwendung eines systems zur erzeugung eines elektronenflachstrahls mit rein elektrostatischer fokussierung in einer roentgenroehre
DE2925593A1 (de) * 1979-06-25 1981-01-15 Siemens Ag Einrichtung fuer die roentgenfluoreszenzanalyse
GB2227360A (en) * 1988-12-05 1990-07-25 Nina Pavlovna Andreeva Cathode and heater assembly for electron beam devices
DE102018215376B4 (de) * 2018-09-11 2021-11-04 Siemens Healthcare Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Kollimatorelements, Kollimatorelement, Verfahren zur Herstellung eines Streustrahlkollimators, Streustrahlkollimator, Strahlungsdetektor und CT-Gerät

Also Published As

Publication number Publication date
ES415635A1 (es) 1976-02-01
NL7307982A (ru) 1973-12-11
CH581326A5 (ru) 1976-10-29
SE386979B (sv) 1976-08-23
GB1413611A (en) 1975-11-12
ZA733890B (en) 1974-10-30
BR7304269D0 (pt) 1974-07-11
AU468338B2 (en) 1976-01-08
BE800585A (fr) 1973-10-01
AU5679273A (en) 1974-12-12
JPS4964489A (ru) 1974-06-21
DE2329190A1 (de) 1973-12-20
LU67756A1 (ru) 1973-08-16
CA994479A (fr) 1976-08-03
FR2188839A5 (ru) 1974-01-18
IT998130B (it) 1976-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
GB1488184A (en) X-ray mask structures and methods for making the same
EP1185887A1 (en) Radiation detector, an apparatus for use in planar beam radiography and a method for detecting ionizing radiation
SU510167A3 (ru) Рентгеновский спектрометр
GB1514059A (en) Electron beam apparatus
GB1276076A (en) Etching film materials
US3302205A (en) Antenna range for providing a plane x wave for antenna measurements
JPS5252360A (en) Plate electron beam addressing device
ES445664A1 (es) Detector de rayos x.
GB1247112A (en) An x-ray tube
NL7607507A (nl) Deeltjesstraalmicroscoop met een raster voor doorstraling.
NL7604553A (nl) Met corpusculaire stralen werkende doorstraal- rastermicroscoop met energie-analysator.
JPS55103729A (en) Electron beam ringraphic device
US4916315A (en) Scanning electron microscope for observing and measuring minute pattern of sample
FR2275022A2 (fr) Dispositif pour le controle de la position, de l'intensite, de l'homogeneite et de la directivite d'un faisceau de rayonnement ionisant
NL7711979A (nl) Kathode voor elektronenbuizen.
FR2346754A1 (fr) Installation d'irradiation pour un rayonnement ionisant
CH466437A (de) Elektronenstrahl-Fokussiervorrichtung
GB1557800A (en) Corpuscular beam scanning microscopes
JPS5260686A (en) X-ray photoelectronic analysis
GB1422330A (ru)
JPS5833643Y2 (ja) 質量分析装置におけるイオンビ−ム電流検出装置
Becker Soft X-rays and Secondary Electrons
NL7604112A (nl) Elektronenbundelinrichting.
SU711922A1 (ru) Устройство дл селекции пучка электронов по энерги м
JPS63168946A (ja) 集束イオンビーム走査方法