[go: up one dir, main page]

RU2308000C1 - Рентгеновский измеритель - Google Patents

Рентгеновский измеритель Download PDF

Info

Publication number
RU2308000C1
RU2308000C1 RU2006120737/28A RU2006120737A RU2308000C1 RU 2308000 C1 RU2308000 C1 RU 2308000C1 RU 2006120737/28 A RU2006120737/28 A RU 2006120737/28A RU 2006120737 A RU2006120737 A RU 2006120737A RU 2308000 C1 RU2308000 C1 RU 2308000C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
detector
ray
detectors
processor
product
Prior art date
Application number
RU2006120737/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Иванович Маслов (RU)
Александр Иванович Маслов
Валерий Григорьевич Запускалов (RU)
Валерий Григорьевич Запускалов
Борис Викторович Артемьев (RU)
Борис Викторович Артемьев
Владимир Андреевич Ролик (RU)
Владимир Андреевич Ролик
Александр Александрович Созонтов (RU)
Александр Александрович Созонтов
Original Assignee
Закрытое акционерное общество Научно-исследовательский институт интроскопии Московского научно-производственного объединения "Спектр"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Закрытое акционерное общество Научно-исследовательский институт интроскопии Московского научно-производственного объединения "Спектр" filed Critical Закрытое акционерное общество Научно-исследовательский институт интроскопии Московского научно-производственного объединения "Спектр"
Priority to RU2006120737/28A priority Critical patent/RU2308000C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2308000C1 publication Critical patent/RU2308000C1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Предложенное изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, в частности к рентгеновскому методу измерения параметров металлических изделий. Техническим результатом изобретения является расширение динамического диапазона измерения, а также увеличение чувствительности и точности измерений при определении параметров контролируемого изделия. Рентгеновский измеритель параметров излучения содержит источник рентгеновского излучения, первый, второй и третий детекторы рентгеновского излучения, процессор и регистратор, при этом первый и второй детекторы выполнены двухслойными, созданы из материалов с разными значениями атомных номеров Z≈15 и Z≈85 и обращены к контролируемому изделию слоями из материала с разными значениями атомных номеров, выходы слоев первого детектора и второго детектора соединены с первыми автономными аналоговыми входами процессора, первый выход которого связан с входом регистратора, третий детектор выполнен в виде многоэлементной матрицы, каждый элемент которой изолирован друг от друга и создан из материала с фиксированным значением атомного номера, например арсенида галлия, причем элементы матрицы третьего детектора соединены электрически со вторыми автономными аналоговыми входами процессора, второй и третий выходы которого связаны с входами источника излучения, а все три детектора расположены последовательно вдоль оси прямого потока рентгеновского излучения. 1 ил.

Description

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, в частности к рентгеновскому методу измерения параметров (толщины, геометрии, химического состава, структуры материала) металлического контролируемого изделия, и может быть использовано при контроле листового проката, трубопроводов, агрегатов сложной геометрии и других изделий при их производстве и эксплуатации.
Известны рентгеновские измерители параметров проката из металлического сплава, содержащие источник рентгеновского излучения, последовательно расположенные в потоке излучения первый и второй детекторы рентгеновского излучения, контролируемое изделие, размещенное между первым и вторым детекторами, контроллер и регистратор [патент РФ №2179706 С1 от 20.02.2002 г., GB 1079999 А (UNITED STATES STEEL CORP), 16.08.1967 г.].
Недостатком известных рентгеновских измерителей являются ограниченные динамический диапазон измерения и функциональные возможности, заключающиеся в контроле только толщины проката в точке с фиксированным значением химического состава и необходимость набора образцовых мер эталонных толщин каждого прокатываемого материала для обеспечения заданной точности измерителей.
Наиболее близким техническим решением к заявляемому представляется рентгеновский измеритель толщины листового проката и химического состава его материала, содержащий источник рентгеновского излучения, первый, второй и третий детекторы рентгеновского излучения, контролируемое изделие, размещенное между первым и вторым детекторами, процессор и регистратор, причем первый и третий детекторы выполнены двухсекционными [патент РФ №2221220, класс G01В 15/02 - прототип].
К недостатку этого технического решение относится невозможность исследования динамических свойств и структуры материала контролируемого изделия, что резко снижает функциональные характеристики измерителя.
Суть заявляемого технического решения состоит в том, что в рентгеновском измерителе, содержащем источник рентгеновского излучения, первый, второй и третий детекторы рентгеновского излучения, контролируемое изделие, расположенное между первым и вторым детекторами, процессор и регистратор, первый и второй детекторы выполнены двухслойными, каждый из которых создан из материалов с разными значениями атомных номеров Zmin≈15 и Zmax≈85, при этом первый детектор обращен к изделию слоем из материала с большим значением атомного номера, второй детектор обращен к изделию слоем из материала с меньшим значением атомного номера, выходы слоев первого и третьего детекторов соединены с автономными аналоговыми входами процессора, один выход которого связан с входом регистратора, два других выхода - с входами источника излучения, третий детектор выполнен в виде многоэлементной матрицы, каждый элемент которой изолирован друг от друга и создан из одного материала с фиксированным значением атомного номера, например арсенида галлия, а элементы матрицы третьего детектора соединены электрически с другими автономными аналоговыми входами процессора, причем все три детектора ориентированы последовательно и параллельно вдоль оси прямого потока рентгеновского излучения.
Техническим результатом изобретения является расширение динамического диапазона измерения за счет многофункциональной экспозиции измерителя и функциональных возможностей получения графического изображения структуры, а также повышение энергетического разрешения, в совокупности позволяющих существенно увеличить чувствительность и точность при определении параметров контролируемого изделия.
На чертеже приведена структурная блок-схема рентгеновского измерителя. Она содержит источник 1 рентгеновского излучения, последовательно размещенные в потоке прямого рентгеновского излучения (на чертеже показано стрелками) первый, второй и третий детекторы 2, 3, 4, контролируемое изделие 5, расположенное между первым и вторым детекторами 2 и 3, процессор 6 и регистратор 7. Первый и второй детекторы 2 и 3 выполнены двухслойными гетерогенными. Материалы преобразующих слоев детекторов 2, 3 имеют разные по значению атомные номера Z в пределах Zmin=10...15 (Al - алюминий), Zmax=82...86 (Tl - тантал, Bi - висмут). Источник 1 излучения имеет два входа управления по току и напряжению.
Детекторы 2 и 3 обращены к изделию 5 слоями из материалов с атомными номерами Zmax≈85 и Zmin≈15 соответственно, следовательно, эти же детекторы 2 и 3 обращены к источнику 1 и третьему детектору 4 слоями, выполненными из материалов с атомными номерами Zmin≈15 и Zmax≈85 соответственно. Преобразующие слои детекторов 2 и 3 соединены с входами процессора 6.
Первый детектор 2 выдает информацию о параметрах первичного потока рентгеновского излучения (ток и эффективная энергия), второй детектор 3 измеряет интегральную дозу излучения за изделием 5, при этом двухслойная конструкция детекторов 2, 3 обеспечивает контроль эффективной энергии.
Третий детектор 4 выполнен в виде многоэлементной матрицы и размещен за вторым детектором 3 относительно изделия 5, т.е. со стороны слоя детектора 3 с атомным номером его материала значением Zmax≈85. Преобразующие элементы матрицы детектора 4 изолированы друг от друга и созданы из одного материала с фиксированным значением атомного номера, например, арсенида галлия, и работают они параллельно и одновременно. Элементы матрицы третьего детектора 4 индивидуально соединены с другими независимыми аналоговыми входами процессора 6.
Поскольку электрической связью от процессора 6 с источником 1 возможно изменять электрические параметры (ток и эффективную энергию) источника 1 в соответствии с изменением положения или параметров изделия 5, то можно создать несколько экспозиций с различными значениями мощности доз рентгеновского излучения на втором детекторе 3 и запомнить их в процессоре 6. Однако третий детектор 4 имеет узкий динамический диапазон измерения за счет аппаратных шумов детектора 4. Поэтому, отсекая нелинейные участки передаточной функции детектора 4 и ограничивая амплитуду его шумов, мы вынуждены еще больше искусственно сузить динамический диапазон детектора 4. А рентгенограмма изделия со сложной геометрией или структурой (например, корпус двигателя внутреннего сгорания), имеет существенно больший динамический диапазон. Чтобы преодолеть ограничение нелинейности, узости динамического диапазона детектора 4, мы для получения рентгенограммы контроля изделия 5 используем несколько рентгенограмм, полученных при различных экспозициях, информацию о каждом из которых получаем со второго детектора 3.
Используя в качестве репера дозу излучения по детектору 3, возможно существенно расширить динамический диапазон измерения. Каждый из элементов матрицы детектора 4 подключен к другим автономным независимым входам процессора 6, в котором обрабатываются информационные сигналы элементов матрицы детектора 4. Конструктивная форма детектора 4 может быть любой - плоской, объемной и т.д.
Слои детекторов 2, 3 и элементы матрицы детектора 4 изготовлены из рентгенопрозрачного материала и предназначены для преобразования рентгеновского излучения в электрический сигнал аналоговой формы.
В качестве буферного каскада процессора 6 является аналогово-цифровой преобразователь (АЦП), преобразующий все входящие аналоговые сигналы в процессор 6 в цифровую форму, удобную при обработке информационных сигналов. Процессор 6 выполняет функции обработки электрических сигналов детекторов 2, 3, 4, их преобразования (оцифровку, сложение, вычитание, деление, интегрирование и др.), представления в форму, удобную для воспроизведения на регистраторе 7 и запоминания информации. Второй и третий выходы процессора 6 связаны с входами управления источником 1 рентгеновского излучения и предназначен для стабилизации (управления) тока и напряжения источника 1 в зависимости от величин измеряемых параметров.
Алгоритм вычисления измеряемых параметров вложен в процессор 6 и обеспечивает расширенный динамический диапазон измерения и функциональные возможности, а также высокие метрологические характеристики измерителя. Для этого весь диапазон матричного детектора 4 преобразуется в отсчеты поэлементно интегрированной линейной квазизависимости детектора 4, но рабочий участок этой зависимости определен еще уже, чем весь диапазон детектора 4. Для повышения достоверности измеряемых параметров нормируется значение интегральной дозы детектора 3, что позволяет получить линейное преобразование рентгеновского потока за контролируемым изделием 5 в расширенном динамическом диапазоне.
Работа измерителя.
В процессе исследования контролируемого изделия 5 в соответствии с алгоритмом вычисления программы контроля, заложенной в процессор 6, управляют эффективной энергией рентгеновского потока (мощность дозы зондирующего рентгеновского излучения и ток) и поддерживают его интенсивность. Прямой поток рентгеновского излучения направляют в сторону первого детектора 2, который затем просвечивает изделие 5 и попадает во второй детектор 3, затем в многоэлементную матрицу третьего детектора 4.
Имея поэлементные значения, получаемые с детектора 4 для каждой экспозиции, и зная физические параметры экспозиции через второй детектор 3 мы можем восстановить линейную зависимость рентгенограммы структуры изделия 5 в полном динамическом диапазоне. Изменив эффективную энергию потока через обратную связь: процессор 6 - источник 1 и повторив процедуру с новой энергией потока, которую мы определили ранее, мы можем получить не только рентгенограмму структуры материала контролируемого изделия, но и оценить значение эффективного атомного номера контролируемого изделия 5. Измеритель позволяет восстановить линейную зависимость рентгенограммы структуры материала исследуемого изделия 5 в полном динамическом диапазоне благодаря алгоритму вычислений. Изменив эффективную энергию рентгеновского потока через обратную связь между процессором 6 и источником 1 и повторив процедуру с новым энергетическим потоком, мы можем получить информацию о любом интересующем нас участке изделия с оптимальной точностью.
Техническим результатом изобретения является расширение динамического диапазона измерения за счет многофункциональной экспозиции измерителя и функциональных возможностей получения графического изображения структуры, а также повышение энергетического разрешения, в совокупности позволяющих существенно увеличить чувствительность и точность при определении параметров контролируемого изделия.

Claims (1)

  1. Рентгеновский измеритель параметров излучения, содержащий источник рентгеновского излучения, первый, второй и третий детекторы рентгеновского излучения, расположенные так, что между первым и вторым детекторами размещено контролируемое изделие, процессор и регистратор, при этом первый детектор выполнен двухслойным, создан из материалов с разными значениями атомных номеров Z≈15 и Z≈85 и обращен к контролируемому изделию слоем из материала с большим значением атомного номера, выходы слоев первого детектора и второго детектора соединены с первыми автономными аналоговыми входами процессора, первый выход которого связан с входом регистратора, отличающийся тем, что второй детектор также как и первый детектор выполнен двухслойным и создан из материалов с разными значениями атомных номеров Z≈15 и Z≈85, при этом второй детектор обращен к контролируемому изделию слоем из материала с меньшим значением атомного номера, третий детектор выполнен в виде многоэлементной матрицы, каждый элемент которой изолирован друг от друга и создан из материала с фиксированным значением атомного номера, например, арсенида галлия, причем элементы матрицы третьего детектора соединены электрически со вторыми автономными аналоговыми входами процессора, второй и третий выходы которого связаны с входами источника излучения, а все три детектора расположены последовательно вдоль оси прямого потока рентгеновского излучения.
RU2006120737/28A 2006-06-15 2006-06-15 Рентгеновский измеритель RU2308000C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2006120737/28A RU2308000C1 (ru) 2006-06-15 2006-06-15 Рентгеновский измеритель

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2006120737/28A RU2308000C1 (ru) 2006-06-15 2006-06-15 Рентгеновский измеритель

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2308000C1 true RU2308000C1 (ru) 2007-10-10

Family

ID=38952981

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2006120737/28A RU2308000C1 (ru) 2006-06-15 2006-06-15 Рентгеновский измеритель

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2308000C1 (ru)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4633420A (en) * 1981-11-26 1986-12-30 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Profile measurement apparatus using radiation
US5400380A (en) * 1991-03-18 1995-03-21 Data Measurement Corporation Dynamic alloy correction gauge
RU2159408C1 (ru) * 2000-04-10 2000-11-20 Закрытое акционерное общество Московское научно-производственное объединение "СПЕКТР" Рентгеновский измеритель толщины
RU2172930C1 (ru) * 2000-04-10 2001-08-27 Закрытое акционерное общество Московское научно-производственное объединение "СПЕКТР" Рентгеновский толщиномер
RU2221220C1 (ru) * 2002-11-15 2004-01-10 Закрытое акционерное общество Научно-исследовательский институт интроскопии Московского научно-производственного объединения "Спектр" Рентгеновский измеритель параметров проката
RU2257543C1 (ru) * 2004-02-19 2005-07-27 Закрытое акционерное общество Научно-исследовательский институт интроскопии Московского научно-производственного объединения "Спектр" Рентгеновский измеритель параметров проката из металлического сплава
EP1559993A2 (en) * 2004-01-28 2005-08-03 Rigaku Corporation Method and apparatus for film thickness measurement

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4633420A (en) * 1981-11-26 1986-12-30 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Profile measurement apparatus using radiation
US5400380A (en) * 1991-03-18 1995-03-21 Data Measurement Corporation Dynamic alloy correction gauge
RU2159408C1 (ru) * 2000-04-10 2000-11-20 Закрытое акционерное общество Московское научно-производственное объединение "СПЕКТР" Рентгеновский измеритель толщины
RU2172930C1 (ru) * 2000-04-10 2001-08-27 Закрытое акционерное общество Московское научно-производственное объединение "СПЕКТР" Рентгеновский толщиномер
RU2221220C1 (ru) * 2002-11-15 2004-01-10 Закрытое акционерное общество Научно-исследовательский институт интроскопии Московского научно-производственного объединения "Спектр" Рентгеновский измеритель параметров проката
EP1559993A2 (en) * 2004-01-28 2005-08-03 Rigaku Corporation Method and apparatus for film thickness measurement
RU2257543C1 (ru) * 2004-02-19 2005-07-27 Закрытое акционерное общество Научно-исследовательский институт интроскопии Московского научно-производственного объединения "Спектр" Рентгеновский измеритель параметров проката из металлического сплава

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3889851B2 (ja) 膜厚測定方法
US9182354B2 (en) Electromagnetic wave measurement device, measurement method, and recording medium
RU2009126096A (ru) Способ теплового контроля сопротивления теплопередачи многослойной конструкции в нестационарных условиях теплопередачи
JP5403940B2 (ja) 磁場測定装置,非破壊検査装置
JPS5949524B2 (ja) 測定システム
RU2221220C1 (ru) Рентгеновский измеритель параметров проката
RU2308000C1 (ru) Рентгеновский измеритель
Vestergaard Black-Hole Mass Measurements
RU2312306C1 (ru) Рентгеновский способ определения параметров изделия
JP2017522571A5 (ru)
RU2257543C1 (ru) Рентгеновский измеритель параметров проката из металлического сплава
JPH0288952A (ja) 組織を分析する方法および装置
CN104634795A (zh) 一种可有效检测深部土体重金属元素的环境孔压探头
TWI641803B (zh) Thickness measuring device
RU2312333C1 (ru) Вихретоковое устройство для обнаружения поверхностных и подповерхностных трещин в деталях из токопроводящих материалов
RU2234677C2 (ru) Рентгеновский способ измерения толщины листовых изделий
RU2640124C2 (ru) Способ теплового контроля сопротивления теплопередачи многослойной конструкции в нестационарных условиях теплопередачи
JP7594282B2 (ja) 結晶性材料の評価方法
CN120847152B (zh) 一种用于钢丝绳内部锈蚀无损检测系统及方法
RU2280239C1 (ru) Рентгеновский способ определения параметров листового проката из монетного сплава
RU2259538C1 (ru) Устройство для рентгеновского контроля толщины листовых изделий
Bayer et al. Spectroscopic dark-field imaging using a grating-based Talbot-Lau interferometer
RU2072516C1 (ru) Способ измерения коэффициента температуропроводности материала и устройство для его осуществления
Ryzhikov et al. Development of receiving-detecting circuit for digital radiographic systems with improved spatial resolution
RU2281459C1 (ru) Способ рентгеновского контроля толщины слоев биметаллической ленты

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20080616