RU2308000C1 - Roentgen meter - Google Patents
Roentgen meter Download PDFInfo
- Publication number
- RU2308000C1 RU2308000C1 RU2006120737/28A RU2006120737A RU2308000C1 RU 2308000 C1 RU2308000 C1 RU 2308000C1 RU 2006120737/28 A RU2006120737/28 A RU 2006120737/28A RU 2006120737 A RU2006120737 A RU 2006120737A RU 2308000 C1 RU2308000 C1 RU 2308000C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- detector
- ray
- detectors
- processor
- product
- Prior art date
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 21
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 13
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 12
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 7
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, в частности к рентгеновскому методу измерения параметров (толщины, геометрии, химического состава, структуры материала) металлического контролируемого изделия, и может быть использовано при контроле листового проката, трубопроводов, агрегатов сложной геометрии и других изделий при их производстве и эксплуатации.The invention relates to the field of instrumentation, in particular to an X-ray method for measuring parameters (thickness, geometry, chemical composition, material structure) of a metal product to be controlled, and can be used to control sheet metal, pipelines, assemblies of complex geometry and other products when production and operation.
Известны рентгеновские измерители параметров проката из металлического сплава, содержащие источник рентгеновского излучения, последовательно расположенные в потоке излучения первый и второй детекторы рентгеновского излучения, контролируемое изделие, размещенное между первым и вторым детекторами, контроллер и регистратор [патент РФ №2179706 С1 от 20.02.2002 г., GB 1079999 А (UNITED STATES STEEL CORP), 16.08.1967 г.].Known x-ray meters of rolled metal alloy parameters, containing an x-ray source, sequentially located in the radiation stream of the first and second x-ray detectors, a controlled product placed between the first and second detectors, a controller and a registrar [RF patent No. 2179706 C1 of 02.20.2002 g ., GB 1079999 A (UNITED STATES STEEL CORP), 08.16.1967].
Недостатком известных рентгеновских измерителей являются ограниченные динамический диапазон измерения и функциональные возможности, заключающиеся в контроле только толщины проката в точке с фиксированным значением химического состава и необходимость набора образцовых мер эталонных толщин каждого прокатываемого материала для обеспечения заданной точности измерителей.A disadvantage of the known X-ray meters is the limited dynamic range of measurement and functionality, which consists in monitoring only the thickness of the rolled products at a point with a fixed chemical composition and the need for a set of standard measures of the reference thicknesses of each rolled material to ensure the specified accuracy of the meters.
Наиболее близким техническим решением к заявляемому представляется рентгеновский измеритель толщины листового проката и химического состава его материала, содержащий источник рентгеновского излучения, первый, второй и третий детекторы рентгеновского излучения, контролируемое изделие, размещенное между первым и вторым детекторами, процессор и регистратор, причем первый и третий детекторы выполнены двухсекционными [патент РФ №2221220, класс G01В 15/02 - прототип].The closest technical solution to the claimed is an x-ray meter for the thickness of the rolled metal and the chemical composition of its material, containing an x-ray source, first, second and third x-ray detectors, a controlled product placed between the first and second detectors, a processor and a recorder, the first and third the detectors are made two-section [RF patent No. 2221220, class G01B 15/02 - prototype].
К недостатку этого технического решение относится невозможность исследования динамических свойств и структуры материала контролируемого изделия, что резко снижает функциональные характеристики измерителя.The disadvantage of this technical solution is the impossibility of studying the dynamic properties and structure of the material of the controlled product, which sharply reduces the functional characteristics of the meter.
Суть заявляемого технического решения состоит в том, что в рентгеновском измерителе, содержащем источник рентгеновского излучения, первый, второй и третий детекторы рентгеновского излучения, контролируемое изделие, расположенное между первым и вторым детекторами, процессор и регистратор, первый и второй детекторы выполнены двухслойными, каждый из которых создан из материалов с разными значениями атомных номеров Zmin≈15 и Zmax≈85, при этом первый детектор обращен к изделию слоем из материала с большим значением атомного номера, второй детектор обращен к изделию слоем из материала с меньшим значением атомного номера, выходы слоев первого и третьего детекторов соединены с автономными аналоговыми входами процессора, один выход которого связан с входом регистратора, два других выхода - с входами источника излучения, третий детектор выполнен в виде многоэлементной матрицы, каждый элемент которой изолирован друг от друга и создан из одного материала с фиксированным значением атомного номера, например арсенида галлия, а элементы матрицы третьего детектора соединены электрически с другими автономными аналоговыми входами процессора, причем все три детектора ориентированы последовательно и параллельно вдоль оси прямого потока рентгеновского излучения.The essence of the claimed technical solution is that in an x-ray meter containing an x-ray source, the first, second and third x-ray detectors, a monitored product located between the first and second detectors, the processor and the recorder, the first and second detectors are made two-layer, each of which are created from materials with different values of atomic numbers Z min ≈15 and Z max ≈85, with the first detector facing the product with a layer of material with a large atomic number, the second det the projector faces the product with a layer of material with a lower atomic number, the outputs of the layers of the first and third detectors are connected to the autonomous analog inputs of the processor, one output of which is connected to the input of the recorder, two other outputs are connected to the inputs of the radiation source, the third detector is made in the form of a multi-element matrix , each element of which is isolated from each other and created from the same material with a fixed atomic number value, for example, gallium arsenide, and the elements of the matrix of the third detector are electrically connected ski with other autonomous analog inputs of the processor, and all three detectors are oriented sequentially and parallel to the axis of the direct x-ray flux.
Техническим результатом изобретения является расширение динамического диапазона измерения за счет многофункциональной экспозиции измерителя и функциональных возможностей получения графического изображения структуры, а также повышение энергетического разрешения, в совокупности позволяющих существенно увеличить чувствительность и точность при определении параметров контролируемого изделия.The technical result of the invention is the expansion of the dynamic range of measurement due to the multifunctional exposure of the meter and the functionality of obtaining a graphical image of the structure, as well as an increase in energy resolution, which together can significantly increase the sensitivity and accuracy when determining the parameters of the controlled product.
На чертеже приведена структурная блок-схема рентгеновского измерителя. Она содержит источник 1 рентгеновского излучения, последовательно размещенные в потоке прямого рентгеновского излучения (на чертеже показано стрелками) первый, второй и третий детекторы 2, 3, 4, контролируемое изделие 5, расположенное между первым и вторым детекторами 2 и 3, процессор 6 и регистратор 7. Первый и второй детекторы 2 и 3 выполнены двухслойными гетерогенными. Материалы преобразующих слоев детекторов 2, 3 имеют разные по значению атомные номера Z в пределах Zmin=10...15 (Al - алюминий), Zmax=82...86 (Tl - тантал, Bi - висмут). Источник 1 излучения имеет два входа управления по току и напряжению.The drawing shows a structural block diagram of an x-ray meter. It contains an x-ray source 1, sequentially placed in a direct x-ray flux (arrows are shown in the drawing), first, second and third detectors 2, 3, 4, a controlled product 5 located between the first and second detectors 2 and 3, processor 6 and a recorder 7. The first and second detectors 2 and 3 are made of two-layer heterogeneous. The materials of the transforming layers of detectors 2, 3 have atomic numbers Z of different values within Z min = 10 ... 15 (Al - aluminum), Z max = 82 ... 86 (Tl - tantalum, Bi - bismuth). The radiation source 1 has two current and voltage control inputs.
Детекторы 2 и 3 обращены к изделию 5 слоями из материалов с атомными номерами Zmax≈85 и Zmin≈15 соответственно, следовательно, эти же детекторы 2 и 3 обращены к источнику 1 и третьему детектору 4 слоями, выполненными из материалов с атомными номерами Zmin≈15 и Zmax≈85 соответственно. Преобразующие слои детекторов 2 и 3 соединены с входами процессора 6.Detectors 2 and 3 face the product with 5 layers of materials with atomic numbers Z max ≈85 and Z min ≈15, respectively, therefore, these same detectors 2 and 3 face the source 1 and the third detector with 4 layers made of materials with atomic numbers Z min ≈15 and Z max ≈85, respectively. The conversion layers of the detectors 2 and 3 are connected to the inputs of the processor 6.
Первый детектор 2 выдает информацию о параметрах первичного потока рентгеновского излучения (ток и эффективная энергия), второй детектор 3 измеряет интегральную дозу излучения за изделием 5, при этом двухслойная конструкция детекторов 2, 3 обеспечивает контроль эффективной энергии.The first detector 2 provides information on the parameters of the primary x-ray flux (current and effective energy), the second detector 3 measures the integral radiation dose behind the product 5, while the two-layer design of the detectors 2, 3 provides effective energy control.
Третий детектор 4 выполнен в виде многоэлементной матрицы и размещен за вторым детектором 3 относительно изделия 5, т.е. со стороны слоя детектора 3 с атомным номером его материала значением Zmax≈85. Преобразующие элементы матрицы детектора 4 изолированы друг от друга и созданы из одного материала с фиксированным значением атомного номера, например, арсенида галлия, и работают они параллельно и одновременно. Элементы матрицы третьего детектора 4 индивидуально соединены с другими независимыми аналоговыми входами процессора 6.The third detector 4 is made in the form of a multi-element matrix and is placed behind the second detector 3 relative to the product 5, i.e. from the side of the detector layer 3 with the atomic number of its material, the value Z max ≈85. The transforming elements of the detector matrix 4 are isolated from each other and are made of the same material with a fixed atomic number value, for example, gallium arsenide, and they work in parallel and simultaneously. The matrix elements of the third detector 4 are individually connected to other independent analog inputs of the processor 6.
Поскольку электрической связью от процессора 6 с источником 1 возможно изменять электрические параметры (ток и эффективную энергию) источника 1 в соответствии с изменением положения или параметров изделия 5, то можно создать несколько экспозиций с различными значениями мощности доз рентгеновского излучения на втором детекторе 3 и запомнить их в процессоре 6. Однако третий детектор 4 имеет узкий динамический диапазон измерения за счет аппаратных шумов детектора 4. Поэтому, отсекая нелинейные участки передаточной функции детектора 4 и ограничивая амплитуду его шумов, мы вынуждены еще больше искусственно сузить динамический диапазон детектора 4. А рентгенограмма изделия со сложной геометрией или структурой (например, корпус двигателя внутреннего сгорания), имеет существенно больший динамический диапазон. Чтобы преодолеть ограничение нелинейности, узости динамического диапазона детектора 4, мы для получения рентгенограммы контроля изделия 5 используем несколько рентгенограмм, полученных при различных экспозициях, информацию о каждом из которых получаем со второго детектора 3.Since it is possible to change the electrical parameters (current and effective energy) of the source 1 in accordance with the change in the position or parameters of the product 5 by electrical communication from the processor 6 with the source 1, it is possible to create several exposures with different values of the dose rate of x-ray radiation on the second detector 3 and remember them in the processor 6. However, the third detector 4 has a narrow dynamic measurement range due to the hardware noise of the detector 4. Therefore, cutting off non-linear sections of the transfer function of the detector 4 and faceting chivaya its amplitude noise, we have further artificially narrow the dynamic range of the detector 4. A radiograph of articles with complex geometries or structures (e.g., internal combustion engine body), it has a substantially larger dynamic range. To overcome the limitation of non-linearity and narrowness of the dynamic range of detector 4, we use several radiographs obtained at various exposures to obtain x-ray patterns of product control 5, information on each of which is obtained from the second detector 3.
Используя в качестве репера дозу излучения по детектору 3, возможно существенно расширить динамический диапазон измерения. Каждый из элементов матрицы детектора 4 подключен к другим автономным независимым входам процессора 6, в котором обрабатываются информационные сигналы элементов матрицы детектора 4. Конструктивная форма детектора 4 может быть любой - плоской, объемной и т.д.Using the radiation dose from detector 3 as a reference, it is possible to significantly expand the dynamic range of measurement. Each of the elements of the matrix of the detector 4 is connected to other independent independent inputs of the processor 6, in which information signals of the elements of the matrix of the detector 4 are processed. The design form of the detector 4 can be any - flat, three-dimensional, etc.
Слои детекторов 2, 3 и элементы матрицы детектора 4 изготовлены из рентгенопрозрачного материала и предназначены для преобразования рентгеновского излучения в электрический сигнал аналоговой формы.The layers of the detectors 2, 3 and the elements of the matrix of the detector 4 are made of X-ray transparent material and are designed to convert X-ray radiation into an analog electrical signal.
В качестве буферного каскада процессора 6 является аналогово-цифровой преобразователь (АЦП), преобразующий все входящие аналоговые сигналы в процессор 6 в цифровую форму, удобную при обработке информационных сигналов. Процессор 6 выполняет функции обработки электрических сигналов детекторов 2, 3, 4, их преобразования (оцифровку, сложение, вычитание, деление, интегрирование и др.), представления в форму, удобную для воспроизведения на регистраторе 7 и запоминания информации. Второй и третий выходы процессора 6 связаны с входами управления источником 1 рентгеновского излучения и предназначен для стабилизации (управления) тока и напряжения источника 1 в зависимости от величин измеряемых параметров.As a buffer stage of processor 6 is an analog-to-digital converter (ADC), which converts all incoming analog signals into processor 6 into a digital form, convenient for processing information signals. The processor 6 performs the functions of processing the electrical signals of the detectors 2, 3, 4, their conversion (digitization, addition, subtraction, division, integration, etc.), presentation in a form convenient for playback on the recorder 7 and storing information. The second and third outputs of the processor 6 are connected to the control inputs of the x-ray source 1 and is intended to stabilize (control) the current and voltage of the source 1 depending on the values of the measured parameters.
Алгоритм вычисления измеряемых параметров вложен в процессор 6 и обеспечивает расширенный динамический диапазон измерения и функциональные возможности, а также высокие метрологические характеристики измерителя. Для этого весь диапазон матричного детектора 4 преобразуется в отсчеты поэлементно интегрированной линейной квазизависимости детектора 4, но рабочий участок этой зависимости определен еще уже, чем весь диапазон детектора 4. Для повышения достоверности измеряемых параметров нормируется значение интегральной дозы детектора 3, что позволяет получить линейное преобразование рентгеновского потока за контролируемым изделием 5 в расширенном динамическом диапазоне.An algorithm for calculating the measured parameters is embedded in the processor 6 and provides an extended dynamic range of measurement and functionality, as well as high metrological characteristics of the meter. To do this, the entire range of the matrix detector 4 is converted into samples of the element-wise integrated linear quasi-dependence of detector 4, but the working section of this dependence is already narrower than the entire range of detector 4. To increase the reliability of the measured parameters, the integral dose of detector 3 is normalized, which allows linear x-ray conversion flow behind controlled product 5 in an extended dynamic range.
Работа измерителя.The work of the meter.
В процессе исследования контролируемого изделия 5 в соответствии с алгоритмом вычисления программы контроля, заложенной в процессор 6, управляют эффективной энергией рентгеновского потока (мощность дозы зондирующего рентгеновского излучения и ток) и поддерживают его интенсивность. Прямой поток рентгеновского излучения направляют в сторону первого детектора 2, который затем просвечивает изделие 5 и попадает во второй детектор 3, затем в многоэлементную матрицу третьего детектора 4.In the process of researching the controlled product 5 in accordance with the calculation algorithm of the control program embedded in the processor 6, the effective energy of the x-ray flux (dose rate of the probe x-ray radiation and current) is controlled and its intensity is maintained. A direct flow of x-ray radiation is directed towards the first detector 2, which then shines through the product 5 and enters the second detector 3, then into the multi-element matrix of the third detector 4.
Имея поэлементные значения, получаемые с детектора 4 для каждой экспозиции, и зная физические параметры экспозиции через второй детектор 3 мы можем восстановить линейную зависимость рентгенограммы структуры изделия 5 в полном динамическом диапазоне. Изменив эффективную энергию потока через обратную связь: процессор 6 - источник 1 и повторив процедуру с новой энергией потока, которую мы определили ранее, мы можем получить не только рентгенограмму структуры материала контролируемого изделия, но и оценить значение эффективного атомного номера контролируемого изделия 5. Измеритель позволяет восстановить линейную зависимость рентгенограммы структуры материала исследуемого изделия 5 в полном динамическом диапазоне благодаря алгоритму вычислений. Изменив эффективную энергию рентгеновского потока через обратную связь между процессором 6 и источником 1 и повторив процедуру с новым энергетическим потоком, мы можем получить информацию о любом интересующем нас участке изделия с оптимальной точностью.Having the element-wise values obtained from the detector 4 for each exposure, and knowing the physical parameters of the exposure through the second detector 3, we can restore the linear dependence of the X-ray diffraction pattern of the product 5 in the full dynamic range. By changing the effective energy of the flow through the feedback: processor 6 is the source 1 and repeating the procedure with the new energy of the flow, which we determined earlier, we can get not only the x-ray structure of the material of the controlled product, but also evaluate the value of the effective atomic number of the controlled product 5. The meter allows restore the linear dependence of the x-ray structure of the material of the investigated product 5 in the full dynamic range due to the calculation algorithm. By changing the effective energy of the x-ray flux through the feedback between the processor 6 and source 1 and repeating the procedure with a new energy flux, we can obtain information about any part of the product that interests us with optimal accuracy.
Техническим результатом изобретения является расширение динамического диапазона измерения за счет многофункциональной экспозиции измерителя и функциональных возможностей получения графического изображения структуры, а также повышение энергетического разрешения, в совокупности позволяющих существенно увеличить чувствительность и точность при определении параметров контролируемого изделия.The technical result of the invention is the expansion of the dynamic range of measurement due to the multifunctional exposure of the meter and the functionality of obtaining a graphical image of the structure, as well as an increase in energy resolution, which together can significantly increase the sensitivity and accuracy when determining the parameters of the controlled product.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2006120737/28A RU2308000C1 (en) | 2006-06-15 | 2006-06-15 | Roentgen meter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2006120737/28A RU2308000C1 (en) | 2006-06-15 | 2006-06-15 | Roentgen meter |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2308000C1 true RU2308000C1 (en) | 2007-10-10 |
Family
ID=38952981
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2006120737/28A RU2308000C1 (en) | 2006-06-15 | 2006-06-15 | Roentgen meter |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2308000C1 (en) |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4633420A (en) * | 1981-11-26 | 1986-12-30 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Profile measurement apparatus using radiation |
| US5400380A (en) * | 1991-03-18 | 1995-03-21 | Data Measurement Corporation | Dynamic alloy correction gauge |
| RU2159408C1 (en) * | 2000-04-10 | 2000-11-20 | Закрытое акционерное общество Московское научно-производственное объединение "СПЕКТР" | X-ray thickness gauge |
| RU2172930C1 (en) * | 2000-04-10 | 2001-08-27 | Закрытое акционерное общество Московское научно-производственное объединение "СПЕКТР" | x-RAY THICKNESS GAUGE |
| RU2221220C1 (en) * | 2002-11-15 | 2004-01-10 | Закрытое акционерное общество Научно-исследовательский институт интроскопии Московского научно-производственного объединения "Спектр" | X-ray meter of parameters of rolled product |
| RU2257543C1 (en) * | 2004-02-19 | 2005-07-27 | Закрытое акционерное общество Научно-исследовательский институт интроскопии Московского научно-производственного объединения "Спектр" | X-ray meter of parameters of rolled stock out of metallic alloy |
| EP1559993A2 (en) * | 2004-01-28 | 2005-08-03 | Rigaku Corporation | Method and apparatus for film thickness measurement |
-
2006
- 2006-06-15 RU RU2006120737/28A patent/RU2308000C1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4633420A (en) * | 1981-11-26 | 1986-12-30 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Profile measurement apparatus using radiation |
| US5400380A (en) * | 1991-03-18 | 1995-03-21 | Data Measurement Corporation | Dynamic alloy correction gauge |
| RU2159408C1 (en) * | 2000-04-10 | 2000-11-20 | Закрытое акционерное общество Московское научно-производственное объединение "СПЕКТР" | X-ray thickness gauge |
| RU2172930C1 (en) * | 2000-04-10 | 2001-08-27 | Закрытое акционерное общество Московское научно-производственное объединение "СПЕКТР" | x-RAY THICKNESS GAUGE |
| RU2221220C1 (en) * | 2002-11-15 | 2004-01-10 | Закрытое акционерное общество Научно-исследовательский институт интроскопии Московского научно-производственного объединения "Спектр" | X-ray meter of parameters of rolled product |
| EP1559993A2 (en) * | 2004-01-28 | 2005-08-03 | Rigaku Corporation | Method and apparatus for film thickness measurement |
| RU2257543C1 (en) * | 2004-02-19 | 2005-07-27 | Закрытое акционерное общество Научно-исследовательский институт интроскопии Московского научно-производственного объединения "Спектр" | X-ray meter of parameters of rolled stock out of metallic alloy |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3889851B2 (en) | Film thickness measurement method | |
| US9182354B2 (en) | Electromagnetic wave measurement device, measurement method, and recording medium | |
| RU2009126096A (en) | METHOD OF THERMAL CONTROL OF RESISTANCE OF HEAT TRANSFER OF MULTILAYERED DESIGN IN UNSTEADY STATUS CONDITIONS OF HEAT TRANSFER | |
| JP5403940B2 (en) | Magnetic field measuring device, nondestructive inspection device | |
| JPS5949524B2 (en) | measurement system | |
| RU2221220C1 (en) | X-ray meter of parameters of rolled product | |
| RU2308000C1 (en) | Roentgen meter | |
| Vestergaard | Black-Hole Mass Measurements | |
| RU2312306C1 (en) | X-ray method for determination of product parameters | |
| JP2017522571A5 (en) | ||
| RU2257543C1 (en) | X-ray meter of parameters of rolled stock out of metallic alloy | |
| JPH0288952A (en) | Method and device for analyzing tissue | |
| CN104634795A (en) | Environmental pore pressure probe capable of effectively detecting heavy metal elements in deep soil body | |
| TWI641803B (en) | Thickness measuring device | |
| RU2312333C1 (en) | Device for detecting surface and under-surface cracks in conducting materials | |
| RU2234677C2 (en) | Sheet articles thickness x-ray measurement method | |
| RU2640124C2 (en) | Method of thermal control of hermal transmission resistance of multilayered structure in unsteady conditions of heat transmission | |
| JP7594282B2 (en) | Evaluation method for crystalline materials | |
| CN120847152B (en) | Nondestructive testing system and method for corrosion inside steel wire rope | |
| RU2280239C1 (en) | X-ray method of estimation of parameters of coinage alloy sheets | |
| RU2259538C1 (en) | Device for x-ray inspection of thickness of sheet items | |
| Bayer et al. | Spectroscopic dark-field imaging using a grating-based Talbot-Lau interferometer | |
| RU2072516C1 (en) | Method and device for measuring material temperature-conductivity coefficient | |
| Ryzhikov et al. | Development of receiving-detecting circuit for digital radiographic systems with improved spatial resolution | |
| RU2281459C1 (en) | Method of nenodestructive inspection of thickness of layers of bimetal band |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20080616 |