[go: up one dir, main page]

RU2018120892A - Компоновочная схема и способ ионно-плазменного распыления для оптимизированного распределения потока энергии - Google Patents

Компоновочная схема и способ ионно-плазменного распыления для оптимизированного распределения потока энергии Download PDF

Info

Publication number
RU2018120892A
RU2018120892A RU2018120892A RU2018120892A RU2018120892A RU 2018120892 A RU2018120892 A RU 2018120892A RU 2018120892 A RU2018120892 A RU 2018120892A RU 2018120892 A RU2018120892 A RU 2018120892A RU 2018120892 A RU2018120892 A RU 2018120892A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
ion
power
layout
plasma
sputtering
Prior art date
Application number
RU2018120892A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2018120892A3 (ru
RU2741614C2 (ru
Inventor
Зигфрид КРАССНИТЦЕР
Даниэль ЛЕНДИ
Денис КУРАПОВ
Original Assignee
Эрликон Серфис Сольюшнс Аг, Пфеффикон
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Эрликон Серфис Сольюшнс Аг, Пфеффикон filed Critical Эрликон Серфис Сольюшнс Аг, Пфеффикон
Publication of RU2018120892A publication Critical patent/RU2018120892A/ru
Publication of RU2018120892A3 publication Critical patent/RU2018120892A3/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2741614C2 publication Critical patent/RU2741614C2/ru

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3464Operating strategies
    • H01J37/3467Pulsed operation, e.g. HIPIMS
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3485Sputtering using pulsed power to the target
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3411Constructional aspects of the reactor
    • H01J37/3444Associated circuits

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Nozzles (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)

Claims (14)

1. Компоновочная схема ионно-плазменного распыления, причем компоновочная схема ионно-плазменного распыления включает в себя N количество распыляемых катодов или частичных катодов Ti с i = от 1 до N и n количество генераторов Gj мощности ионно-плазменного распыления с j = от 1 до n, отличающаяся тем, что N является целым числом и N≥2, а n также является целым числом и n≥2, причем компоновочная схема ионно-плазменного распыления включает в себя переключатели Sbj на мостовой схеме для коммутации отбора мощности Pj соответствующего генератора Gj мощности ионно-плазменного распыления и импульсные переключатели Spi для распределения соответствующих отборов мощности Pj на соответствующие распыляемые катоды Ti, причем компоновочная схема ионно-плазменного распыления выполнена таким образом, что она может эксплуатироваться по меньшей мере в двух различных вариантах коммутации, причем
в первом варианте коммутации соответствующие отборы мощности Pj n-ных генераторов Gj мощности ионно-плазменного распыления соответственно посредством переключателей на мостовой схеме могут коммутироваться таким образом, что обеспечивается суммарная мощность Р ионно-плазменного распыления, которая соответствует сумме отборов мощности Pj, то есть
Figure 00000001
и причем посредством генерирования последовательности импульсов, с помощью соответствующих импульсных переключателей генерируется последовательность импульсов мощности с импульсной мощностью Р и периодом последовательности Т, причем отдельные импульсы мощности распределяются во времени на соответствующие распыляемые катоды Ti, причем распыляемые катоды соответственно запитываются во время длительности ti импульса, а период Т соответствует сумме длительностей импульсов, то есть
Figure 00000002
и
во втором варианте коммутации распыляемые катоды эксплуатируются по меньшей мере в двух отдельных компоновочных подсхемах А и В ионно-плазменного распыления, причем для эксплуатации компоновочных подсхем ионно-плазменного распыления отборы мощности соответственно с nA количества генераторов мощности ионно-плазменного распыления и с nB количества генераторов мощности ионно-плазменного распыления соответственно посредством переключателей на мостовой схеме могут коммутироваться таким образом, что обеспечивается первая импульсная мощность
Figure 00000003
и вторая импульсная мощность
Figure 00000004
причем nA+nB=n, и причем посредством соответствующего генерирования последовательности импульсов, с помощью соответствующих импульсных переключателей генерируется соответственно первая последовательность импульсов мощности с импульсной мощностью PA и периодом последовательности TA и вторая последовательность импульсов мощности с импульсной мощностью PB и периодом последовательности TB, причем отдельные импульсы мощности распределяются во времени на распыляемые катоды соответствующих компоновочных подсхем ионно-плазменного распыления, причем NA соответствует количеству распыляемых катодов в первой компоновочной подсхеме ионно-плазменного распыления A, a NB соответствует количеству распыляемых катодов во второй компоновочной подсхеме ионно-плазменного распыления В, и NA+NB=N, и причем период последовательности TA соответствует сумме длительностей импульсов для распыляемых катодов в первой компоновочной подсхеме ионно-плазменного распыления А, а период последовательности TB соответствует сумме длительностей импульсов для распыляемых катодов во второй компоновочной подсхеме ионно-плазменного распыления В, то есть
Figure 00000005
и
Figure 00000006
2. Компоновочная схема по п. 1, отличающаяся тем, что N=n.
3. Компоновочная схема по п. 1 или 2, отличающаяся тем, что PA=PB.
4. Компоновочная схема по одному из пп. 1-3, отличающаяся тем, что Р=PA+PB.
5. Компоновочная схема по одному из пп. 1-4, отличающаяся тем, что NA=NB и/или nA=nB.
6. Вакуумная установка для нанесения покрытий, имеющая компоновочную схему ионно-плазменного распыления по одному из пп. 1-5, отличающаяся тем, что компоновочная схема ионно-плазменного распыления выполнена таким образом, что во время осуществления способа ионно-плазменного распыления могут быть использованы импульсы большой мощности, которые обеспечивают использование больших плотностей мощности ионно-плазменного распыления со значениями 100 Вт/см2 или более, предпочтительно - 300 Вт/см2 или более.
7. Вакуумная установка по п. 6, отличающаяся тем, что N=n.
8. Вакуумная установка по п. 6 или 7, отличающаяся тем, что PA=PB.
9. Вакуумная установка по одному из пп. 6-8, отличающаяся тем, что Р=PA+PB.
10. Вакуумная установка по одному из пп. 6-9, отличающаяся тем, что NA=NB и/или nA=nB.
11. Способ нанесения покрытий на подложки посредством магнетронного распыления импульсами большой мощности, причем способ магнетронного распыления импульсами большой мощности осуществляют с помощью вакуумной установки для нанесения покрытий по одному из пп. 6-10.
12. Способ по п. 11, отличающийся тем, что, по меньшей мере, для осаждения слоя покрытия посредством способа магнетронного распыления импульсами большой мощности компоновочную схему ионно-плазменного распыления переключают на вариант коммутации по меньшей мере с двумя компоновочными подсхемами ионно-плазменного распыления, и причем обеспечивают коэффициент увеличения скорости нанесения покрытий по сравнению со способом магнетронного распыления импульсами большой мощности, который осуществлялся бы с помощью компоновочной схемы ионно-плазменного распыления при первом варианте коммутации.
RU2018120892A 2015-11-12 2016-11-14 Компоновочная схема и способ ионно-плазменного распыления для оптимизированного распределения потока энергии RU2741614C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201562254451P 2015-11-12 2015-11-12
US62/254,451 2015-11-12
PCT/EP2016/001891 WO2017080672A1 (de) 2015-11-12 2016-11-14 Sputter-anordnung und - verfahren zur optimierten verteilung des energieflusses

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2018120892A true RU2018120892A (ru) 2019-12-13
RU2018120892A3 RU2018120892A3 (ru) 2020-01-30
RU2741614C2 RU2741614C2 (ru) 2021-01-27

Family

ID=57354318

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2018120892A RU2741614C2 (ru) 2015-11-12 2016-11-14 Компоновочная схема и способ ионно-плазменного распыления для оптимизированного распределения потока энергии

Country Status (17)

Country Link
US (1) US10943774B2 (ru)
EP (1) EP3375006B1 (ru)
JP (1) JP6895432B2 (ru)
KR (1) KR102738210B1 (ru)
CN (1) CN108352286B (ru)
BR (1) BR112018009585B1 (ru)
CA (1) CA3004920C (ru)
ES (1) ES2883198T3 (ru)
HU (1) HUE055816T2 (ru)
IL (1) IL259263B (ru)
MX (1) MX389814B (ru)
MY (1) MY193962A (ru)
PH (1) PH12018501018A1 (ru)
PL (1) PL3375006T3 (ru)
RU (1) RU2741614C2 (ru)
SG (1) SG11201803970RA (ru)
WO (1) WO2017080672A1 (ru)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7509790B2 (ja) 2019-02-11 2024-07-02 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド パルスpvdにおけるプラズマ改質によるウエハからの粒子除去方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19651615C1 (de) * 1996-12-12 1997-07-10 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren zum Aufbringen von Kohlenstoffschichten durch reaktives Magnetron-Sputtern
US9771648B2 (en) * 2004-08-13 2017-09-26 Zond, Inc. Method of ionized physical vapor deposition sputter coating high aspect-ratio structures
EP2272080B1 (de) 2008-04-28 2012-08-01 CemeCon AG Vorrichtung und verfahren zum vorbehandeln und beschichten von körpern
RU2371514C1 (ru) * 2008-08-20 2009-10-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Томский политехнический университет" Дуальная магнетронная распылительная система
DE102008050499B4 (de) * 2008-10-07 2014-02-06 Systec System- Und Anlagentechnik Gmbh & Co. Kg PVD-Beschichtungsverfahren, Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens und nach dem Verfahren beschichtete Substrate
DE102011018363A1 (de) * 2011-04-20 2012-10-25 Oerlikon Trading Ag, Trübbach Hochleistungszerstäubungsquelle
WO2012143091A1 (de) 2011-04-20 2012-10-26 Oerlikon Trading Ag, Trübbach Verfahren zur bereistellung sequenzieller leistungspulse
DE102011116576A1 (de) 2011-10-21 2013-04-25 Oerlikon Trading Ag, Trübbach Bohrer mit Beschichtung

Also Published As

Publication number Publication date
CA3004920A1 (en) 2017-05-18
ES2883198T3 (es) 2021-12-07
KR102738210B1 (ko) 2024-12-05
IL259263A (en) 2018-07-31
MY193962A (en) 2022-11-03
HUE055816T2 (hu) 2021-12-28
JP6895432B2 (ja) 2021-06-30
US10943774B2 (en) 2021-03-09
MX2018005902A (es) 2019-04-04
IL259263B (en) 2022-04-01
EP3375006B1 (de) 2021-05-12
EP3375006A1 (de) 2018-09-19
CA3004920C (en) 2024-01-23
KR20180081776A (ko) 2018-07-17
RU2018120892A3 (ru) 2020-01-30
SG11201803970RA (en) 2018-06-28
CN108352286A (zh) 2018-07-31
BR112018009585B1 (pt) 2022-12-27
PL3375006T3 (pl) 2021-11-22
CN108352286B (zh) 2020-12-22
US20180330931A1 (en) 2018-11-15
RU2741614C2 (ru) 2021-01-27
JP2018535323A (ja) 2018-11-29
BR112018009585A2 (pt) 2018-12-04
MX389814B (es) 2025-03-20
PH12018501018A1 (en) 2018-12-17
WO2017080672A1 (de) 2017-05-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2596818C2 (ru) Способ обеспечения последовательных импульсов мощности
RU2013151606A (ru) Высокопроизводительный источник для процесса распыления
RU2631670C2 (ru) Способ предоставления последовательных импульсов мощности
RU2633672C2 (ru) Слои hipims
JP7440528B2 (ja) バイアスされた抽出プレートを備えたイオン源
US11282678B2 (en) Method of controlling uniformity of plasma and plasma processing system
JP2010065240A (ja) スパッタ装置
JP2015507688A (ja) ワークピースの処理中の電荷中和装置及び方法
Sang et al. Plasma density enhancement in atmospheric-pressure dielectric-barrier discharges by high-voltage nanosecond pulse in the pulse-on period: a PIC simulation
RU2018120892A (ru) Компоновочная схема и способ ионно-плазменного распыления для оптимизированного распределения потока энергии
TWI748401B (zh) 從靶材泵出離子的新型脈動等離子體的電源及使用該電源之磁控濺射系統和空間推進器
US20160215386A1 (en) Modulation of reverse voltage limited waveforms in sputtering deposition chambers
US20130300288A1 (en) Method and device for forming a plasma beam
RU2633516C2 (ru) Способ гомогенного нанесения покрытий hipims
US10811235B2 (en) Method to filter macro particles in a cathodic arc physical vapor deposition (PVD), in vacuum
JPWO2018173227A1 (ja) 中性粒子ビーム処理装置
US20160118233A1 (en) Waveform for improved energy control of sputtered species
Dolgachev et al. Plasma opening switch conduction phase adjustment
RU2583378C1 (ru) Устройство для синтеза наноструктурных покрытий
WO2014202648A1 (de) Verfahren zur vorbehandlung einer zu beschichtenden oberfläche
Ernyleva et al. Remedying HPM pulse shortening in plasma relativistic microwave oscillators
Wang et al. Electron cloud in the wigglers of the position dampling ring of the international linear collider
LOZA et al. Overcoming highYpower microwave pulse shortening in plasma relativistic microwave oscillator