KR20160004583A - Apparatus for transferring a wafer - Google Patents
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Abstract
웨이퍼 이송 장치는 FOSB를 다수 저장하는 스토커와, 상기 스토커와 인접하도록 구비되며, 상기 FOSB가 놓여지는 제1 로드 포트 및 FOUP이 놓여지는 제2 로드 포트를 갖는 EFEM과, 상기 스토커에 구비되며, 웨이퍼들이 적재된 FOSB를 상기 제1 로드 포트에 로딩하거나, 상기 제1 로드 포트로부터 빈 FOSB를 언로딩하는 제1 로봇 및 상기 EFEM의 내부에 구비되며, 상기 제1 로드 포트에 안착된 FOSB로부터 상기 웨이퍼를 인출하여 상기 제2 로드 포트에 안착된 FOUP에 적재하는 제2 로봇을 포함한다. 따라서, 상기 웨이퍼의 이송을 자동화할 수 있다. The wafer transfer apparatus includes a stocker for storing a plurality of FOSBs, an EFEM provided adjacent to the stocker, the EFEM having a first load port on which the FOSB is placed and a second load port on which the FOUP is placed, A first robot for loading the loaded FOSB to the first load port or for unloading the empty FOSB from the first load port and a second robot for receiving the FOSB from the FOSB mounted inside the EFEM, And loading the FOUP on the FOUP that is seated on the second load port. Therefore, the transfer of the wafer can be automated.
Description
본 발명은 웨이퍼 이송 장치에 관한 것으로, 반도체 소자를 제조하기 위해 웨이퍼를 이송하는 웨이퍼 이송 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a wafer transfer apparatus, and more particularly, to a wafer transfer apparatus for transferring wafers for manufacturing semiconductor devices.
일반적으로, 반도체 소자 제조 공정은 웨이퍼를 대상으로 사진, 식각, 확산, 증착 및 금속 공정 등의 다양하게 이루어지는 단위 공정을 반복적으로 수행하여 이루어진다. 각 단위 공정에서는 웨이퍼를 다수 적재된 웨이퍼 캐리어를 이용하여 웨이퍼를 이동하거나 상기 웨이퍼 캐리어 상태로 각 공정에 투입한다.2. Description of the Related Art In general, a semiconductor device manufacturing process is performed by repeatedly performing a variety of unit processes such as photolithography, etching, diffusion, deposition, and metal processing on a wafer. In each unit process, the wafer is moved using the wafer carrier loaded with a plurality of wafers, or the wafers are put into each process in the wafer carrier state.
상기 웨이퍼 캐리어는 전면 개방 운반 용기(FOSB, Front Opening Shipping Box)와 전면 개방 일체식 포드(FOUP, Front Open Unified Pod)가 제조되어 사용되고 있다.The wafer carrier is manufactured using a front opening shipping box (FOSB) and a front open unified pod (FOUP).
상기 FOUP은 공정 용도로서, 주로 직접 생산 프로세스에 투입되는 데에 사용된다. 상기 FOUP에는 다수의 웨이퍼가 수평하게 적재되며, 상기 웨이퍼는 상기 FOUP의 도어를 통하여 출입한다. The FOUP is used for processing purposes, mainly for direct injection into production processes. In the FOUP, a plurality of wafers are loaded horizontally, and the wafers are transferred through the door of the FOUP.
상기 FOSB는 주로 웨이퍼를 보관하거나 이동시키는 쉬핑(Shipping) 용도로 이용된다. 상기 FOSB는 상기 FOUP과 유사한 구조를 가지며, 도어를 통해 상기 웨이퍼가 출입한다. The FOSB is mainly used for shipping to store or move wafers. The FOSB has a structure similar to that of the FOUP, and the wafer enters and exits through a door.
상기 FOSB를 이용하여 이송된 웨이퍼는 상기 FOUP으로 옮겨진 후 각 생산 프로세스에 투입된다. 상기 FOSB 및 상기 FOUP은 특정 위치에 위치한 상태에서 로봇이 상기 웨이퍼를 상기 FOSB에서 상기 FOUP으로 이송한다. The wafer transferred using the FOSB is transferred to the FOUP and then put into each production process. The FOSB and the FOUP transfer the wafer from the FOSB to the FOUP while the robot is in a specific position.
이때, 작업자가 수작업으로 상기 FOSB 및 상기 FOUP을 상기 특정 위치에 로딩한다. 작업자가 상기 FOSB 및 상기 FOUP를 반복적으로 로딩해야 하므로, 작업자의 신체에 무리가 발생할 수 있다. 또한, 상기 FOSB 및 상기 FOUP가 수작업에 의해 로딩되므로, 상기 웨이퍼를 상기 FOSB에서 상기 FOUP으로 이송하는 공정의 자동화가 어렵다.At this time, the operator manually loads the FOSB and the FOUP at the specific position. The worker must repeatedly load the FOSB and the FOUP, so that the worker's body may be burdened. Further, since the FOSB and the FOUP are manually loaded, it is difficult to automate the process of transferring the wafer from the FOSB to the FOUP.
본 발명은 FOSB 및 FOUP를 자동으로 공급하는 웨이퍼 이송 장치를 제공한다. The present invention provides a wafer transfer apparatus that automatically supplies FOSB and FOUP.
본 발명에 따른 웨이퍼 이송 장치는 FOSB를 다수 저장하는 스토커와, 상기 스토커와 인접하도록 구비되며, 상기 FOSB가 놓여지는 제1 로드 포트 및 FOUP이 놓여지는 제2 로드 포트를 갖는 EFEM과, 상기 스토커에 구비되며, 웨이퍼들이 적재된 FOSB를 상기 제1 로드 포트에 로딩하거나, 상기 제1 로드 포트로부터 빈 FOSB를 언로딩하는 제1 로봇 및 상기 EFEM의 내부에 구비되며, 상기 제1 로드 포트에 안착된 FOSB로부터 상기 웨이퍼를 인출하여 상기 제2 로드 포트에 안착된 FOUP에 적재하는 제2 로봇을 포함할 수 있다. The wafer transfer apparatus according to the present invention comprises a stocker for storing a plurality of FOSBs, an EFEM provided adjacent to the stocker, having a first load port on which the FOSB is placed and a second load port on which the FOUP is placed, Comprising a first robot for loading FOSBs loaded with wafers into the first load port or unloading empty FOSB from the first load port, and a second robot for loading and unloading the FOSB loaded in the first load port, And a second robot that draws the wafer from the FOSB and loads the FOUP on the FOUP that is seated on the second load port.
본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 스토커는 상기 웨이퍼들이 적재된 FOSB가 투입되는 제1 포트, 상기 빈 FOSB가 배출되는 제2 포트 및, 상기 FOSB들이 놓여지는 선반을 포함하고, 상기 제1 로봇은 상기 제1 포트 및 제2 포트와 상기 선반 사이 및 상기 선반과 상기 제1 로드 포트 사이에서 상기 FOSB를 이송할 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the stocker includes a first port into which the FOSBs loaded with the wafers are charged, a second port through which the empty FOSB is discharged, and a shelf in which the FOSBs are placed, The robot can transfer the FOSB between the first and second ports and the shelf and between the shelf and the first load port.
본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 웨이퍼 이송 장치는 상기 제2 로드 포트로 빈 FOUP을 로딩하거나, 상기 제2 로드 포트로부터 상기 웨이퍼가 적재된 FOUP을 언로딩하는 OHT를 더 포함할 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the wafer transfer apparatus may further include an OHT for loading an empty FOUP to the second load port, or for unloading the wafer loaded FOUP from the second load port .
본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 웨이퍼 이송 장치는 상기 EFEM의 내부에는 상기 FOSB로부터 인출된 웨이퍼를 정렬하기 위한 얼라이너를 더 포함할 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the wafer transfer device may further include an aligner for aligning the wafer drawn from the FOSB inside the EFEM.
본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 웨이퍼 이송 장치는 상기 스토커에 구비되며, 상기 FOSB에 대한 정보를 획득하기 위해 상기 FOSB에 부착된 코드를 인식하는 제1 리더와, 상기 EFEM에 구비되며, 상기 FOUP에 대한 정보를 획득하기 위해 FOUP에 부착된 코드를 인식하는 제2 리더 및 상기 얼라이너의 상방에 구비되며, 상기 얼라이너에서 정렬되는 웨이퍼의 식별 마크를 인식하는 제3 리더를 더 포함할 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the wafer transfer device is provided in the stocker, and includes a first reader for recognizing a code attached to the FOSB to acquire information about the FOSB, A second reader for recognizing a code attached to the FOUP in order to obtain information on the FOUP and a third reader provided above the aligner and recognizing an identification mark of the wafer aligned in the aligner have.
본 발명의 일 실시예들에 따르면, 상기 웨이퍼 이송 장치는 상기 EFEM 및 상기 스토커가 다수 구비되는 경우, 상기 스토커들 사이에 구비되며, 상기 FOSB를 하나의 스토커에서 다른 스토커로 이송하기 위한 컨베이어를 더 포함할 수 있다. According to one embodiment of the present invention, the wafer transfer apparatus is provided between the stockers when a plurality of EFEMs and the stocker are provided, and further includes a conveyor for transferring the FOSB from one stocker to another stocker .
본 발명에 따른 웨이퍼 이송 장치는 스토커에 다수의 FOSB들을 저장하고, 상기 FOSB들을 제1 로봇을 이용하여 EFEM의 제1 로드 포트로 공급할 수 있다. 또한, FOUP을 OHT를 이용하여 제2 로드 포트로 공급할 수 있다. 그리고, 상기 FOSB의 웨이퍼들을 제2 로봇을 이용하여 상기 FOUP으로 이동할 수 있다. 상기 FOSB 및 상기 FOUP의 로딩과 상기 웨이퍼의 이송을 자동화할 수 있다. The wafer transfer apparatus according to the present invention can store a plurality of FOSBs in a stocker and supply the FOSBs to a first load port of the EFEM using a first robot. Further, the FOUP can be supplied to the second load port by using the OHT. The wafers of the FOSB can be moved to the FOUP by using the second robot. The loading of the FOSB and the FOUP and the transfer of the wafer can be automated.
또한, 작업자가 상기 FOSB 및 상기 FOUP를 반복적으로 로딩할 필요가 없으므로, 작업자의 신체에 이상이 발생할 가능성을 제거할 수 있다.In addition, since it is not necessary for the operator to repeatedly load the FOSB and the FOUP, it is possible to eliminate the possibility that an abnormality occurs in the body of the operator.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 웨이퍼 이송 장치를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 EFEM, 제2 로봇 및 얼라이너를 설명하기 위한 확대도이다. 1 is a schematic plan view for explaining a wafer transfer apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is an enlarged view for explaining the EFEM, the second robot and the aligner shown in Fig.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 웨이퍼 이송 장치에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. Hereinafter, a wafer transfer apparatus according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The present invention is capable of various modifications and various forms, and specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the text. It should be understood, however, that the invention is not intended to be limited to the particular forms disclosed, but on the contrary, is intended to cover all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention. Like reference numerals are used for like elements in describing each drawing. In the accompanying drawings, the dimensions of the structures are enlarged to illustrate the present invention in order to clarify the present invention.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. The terms first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as a second component, and similarly, the second component may also be referred to as a first component.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used in this application is used only to describe a specific embodiment and is not intended to limit the invention. The singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In this application, the terms "comprises", "having", and the like are used to specify that a feature, a number, a step, an operation, an element, a part or a combination thereof is described in the specification, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. Terms such as those defined in commonly used dictionaries are to be interpreted as having a meaning consistent with the contextual meaning of the related art and are to be interpreted as either ideal or overly formal in the sense of the present application Do not.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 웨이퍼 이송 장치를 설명하기 위한 개략적인 평면도이고, 도 2는 도 1에 도시된 EFEM, 제2 로봇 및 얼라이너를 설명하기 위한 확대도이다. FIG. 1 is a schematic plan view for explaining a wafer transfer apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an enlarged view for explaining the EFEM, the second robot and the aligner shown in FIG.
도 1 및 도 2를 참조하면, 웨이퍼 이송 장치(100)는 스토커(110), EFEM(120), 제1 로봇(130), 제2 로봇(140), 얼라이너(150), OHT(160) 및 컨베이어(170)를 포함한다. 1 and 2, the
스토커(110)는 다수의 FOSB(10)들을 저장한다. 즉, 스토커(110)는 각 공정 장치의 처리 능력과 처리 시간의 차이 등에 의해 발생하는 버퍼링(buffering) 문제를 해소하기 위해, 웨이퍼(30)들이 적재된 FOSB(10)를 다른 반도체 제조 공정 장치로 이송하기 전에 임시로 보관한다. 스토커(110)는 대략 직육면체 형상을 가질 수 있다. The
스토커(110)는 선반(112), 제1 포트(114) 및 제2 포트를 포함한다. The
선반(112)은 FOSB(10)들을 실제적으로 보관하는 장소이다. 선반(112)은 복수개의 셀(cell)로 구획될 수 있으며, 각 셀은 1개의 FOSB(10)를 보관할 수 있다. 여기서, 선반(112)은 다층 형태로 설치될 수 있다.The
제1 포트(114)는 스토커(110)의 일측에 구비되며, 웨이퍼(30)들이 적재된 FOSB(10)들이 스토커(110)로 투입되는 통로이다. 제2 포트(116)는 스토커(110)의 일측에 구비되며, 빈 FOSB(10)들이 스토커(110)로부터 배출되는 통로이다. 예를 들면, 제1 포트(114) 및 제2 포트(116)는 스토커(110)로부터 돌출되도록 배치되거나, 스토커(110)의 선반(112)들 사이에 배치될 수 있다. The
FOSB(10)들은 무인 반송 대차 라인을 따라 주행하는 무인 반송 대차(미도시)에 의해 제1 포트(114)로 투입되거나, 제2 포트(116)로부터 배출될 수 있다.The FOSBs 10 may be charged into the
제1 포트(114) 및 제2 포트(116)는 서로 인접하도록 배치되어 하나의 무인 반송 대차에 의해 FOSB(10)들이 투입 및 배출될 수 있다. 제1 포트(114) 및 제2 포트(116)는 서로 이격되거나 스토커(110)의 다른 측면에 배치되어 서로 다른 무인 반송 대차들에 의해 FOSB(10)들이 투입 및 배출될 수 있다. The
한편, 제1 포트(114) 및 제2 포트(116)가 통합되어 하나의 포트에서 FOSB(10)들의 투입 및 배출이 이루어질 수도 있다. Meanwhile, the
스토커(110)는 제1 리더(118)를 더 포함할 수 있다. 제1 리더(118)는 스토커(110), 구체적으로, 제1 포트(114)에 구비될 수 있다. 제1 리더(118)는 제1 포트(114)를 통해 투입되는 FOSB(10)에 부착된 코드를 인식하여 FOSB(10)에 대한 정보를 획득한다. 상기 정보는 FOSB(10)에 적재된 웨이퍼(30)에 대한 정보일 수 있다. The
상기 코드는 바코드 또는 RF 태그일 수 있으며, 제1 리더(118)는 바코드 리더 또는 RF 리더일 수 있다. The code may be a bar code or an RF tag, and the
EFEM(120)은 스토커(110)와 인접하도록 배치된다. EFEM(120)은 팬 필터 유닛을 이용하여 하강 기류를 형성함으로써 내부를 청정 상태로 유지한다. The EFEM 120 is disposed adjacent to the
또한, EFEM(120)은 제1 로드 포트(122) 및 제2 로드 포트(124)를 포함한다. In addition, the
제1 로드 포트(122)는 EFEM(120)의 일측면에 구비될 수 있다. 이때, 제1 로드 포트(122)는 스토커(110)의 내부에 위치할 수도 있다. The
제1 로드 포트(112)는 웨이퍼(30)들이 적재된 FOSB(10)을 지지한다. 또한, 제1 로드 포트(112)는 제1 도어 오픈 유닛(미도시) 및 매핑 센서(미도시)를 포함한다. The
상기 제1 도어 오픈 유닛은 제1 로드 포트(112)에 안착된 FOSB(10)의 도어를 개폐시킨다. 상기 매핑 센서는 상기 도어가 개방된 FOSB(10)에서 웨이퍼(30)의 유무 및 위치를 확인한다.The first door open unit opens and closes the door of the
제2 로드 포트(124)는 제1 로드 포트(122)가 구비된 일측면과 다른 측면에 구비될 수 있다. 제2 로드 포트(114)는 빈 FOUP(20)을 지지한다. The
또한, 제2 로드 포트(114)는 FOUP(20)의 도어를 개폐시키기 위한 제2 도어 오픈 유닛(미도시)을 포함한다. In addition, the
EFEM(120)은 제2 리더(126)를 더 포함할 수 있다. 제2 리더(126)는 EFEM(120), 구체적으로, 제2 로드 포트(124)에 구비될 수 있다. 제2 리더(126)는 제2 로드 포트(124)에 안착된 FOUP(20)에 부착된 코드를 인식하여 FOUP(20)에 정보를 획득한다. The
상기 코드는 바코드 또는 RF 태그일 수 있으며, 제2 리더(126)는 바코드 리더 또는 RF 리더일 수 있다. The code may be a bar code or an RF tag, and the
제1 로봇(130)은 스토커(110) 내부에서 FOSB(10)들을 이송한다. 예를 들면, 제1 로봇(130)은 스토커(110)의 장방향을 따라 이동할 수 있다. The
제1 로봇(130)은 선반(112)과 제1 포트(114) 및 제2 포트(116) 사이에서 FOSB(10)를 이송한다. 구체적으로, 제1 로봇(130)은 제1 포트(114)로부터 웨이퍼(30)가 적재된 FOSB(10)를 선반(112)으로 이송하고, 선반(112)으로부터 빈 FOSB(10)를 제2 포트(116)로 이송한다. The
제1 로봇(130)은 선반(112)과 제1 로드 포트(122) 사이에서 FOSB(10)를 이송한다. 구체적으로, 제1 로봇(130)은 선반(112)으로부터 웨이퍼(30)가 적재된 FOSB(10)를 제1 로드 포트(122)로 이송하고, 제1 로드 포트(122)로부터 빈 FOSB(10)를 선반(112)으로 이송한다. The
제2 로봇(140)은 EFEM(120)의 내부에 구비되며, 웨이퍼(30)를 이송한다. 구체적으로, 제2 로봇(140)은 제1 로드 포트(122)의 FOSB(10)에 적재된 웨이퍼(30)들을 인출하여 제2 로드 포트(124)의 FOUP(20)의 내부에 적재한다. The
제2 로봇(140)은 FOSB(10)에 적재된 웨이퍼(30)들을 FOUP(20)으로 바로 이송할 수 있지만, FOSB(10)에 적재된 웨이퍼(30)들을 EFEM(120)의 내부에 구비된 얼라이너(150)에서 정렬한 후 FOUP(20)으로 이송할 수도 있다.The
얼라이너(150)는 EFEM(120)의 내부에 구비되며, FOSB(10)로부터 인출된 웨이퍼(30)를 정렬한다. 구체적으로, 얼라이너(150)는 웨이퍼(30)를 지지한 상태로 회전시키면서 센서로 웨이퍼(30)의 플랫존 또는 노치를 감지함으로써 웨이퍼(30)를 정렬한다. The
웨이퍼(30)는 얼라이너(150)에 의해 정렬된 후 제2 로봇(140)에 의해 FOUP(20)으로 이송되므로, FOUP(20)에는 웨이퍼(30)들이 정렬된 상태로 적재될 수 있다. 그러므로, 웨이퍼(30)들에 대한 후속 공정시 별도로 웨이퍼(30)들을 정렬할 필요가 없다. The
한편, 얼라이너(150)는 제3 리더(152)를 더 포함할 수 있다. 제3 리더(152)는 얼라이너(150)의 상방에 배치될 수 있다. 제3 리더(152)는 얼라이너(150)에서 정렬된 웨이퍼(30)의 식별 마크를 인식한다. 따라서, 각 웨이퍼(30)에 대한 정보를 획득할 수 있다. The
상기 식별 마크는 숫자 및 문자로 이루어질 수 있으며, 제3 리더(152)는 OCR RF 리더일 수 있다. The identification mark may be a number and a character, and the
OHT(160)는 제2 로드 포트(124)의 상방을 지나도록 구비되며, FOUP(20)을 이송한다. 구체적으로, OHT(160)는 빈 FOUP(20)을 제2 로드 포트(124)로 로딩하고, 웨이퍼(30)가 적재된 FOUP(20)을 제2 로드 포트(124)로부터 언로딩한다. 또한, OHT(160)는 웨이퍼(30)가 적재된 FOUP(20)을 다른 공정 장치로 이송한다. The
스토커(110) 및 EFEM(120)이 다수 구비되는 경우, 컨베이어(170)는 스토커(110)들 사이에 배치되어 FOSB(10)를 하나의 스토커(110)에서 다른 스토커(110)로 이송한다. When a plurality of
어느 하나의 스토커(110)와 인접한 EFEM(120) 내부에 구비된 제2 로봇(140)이나 얼라이너(150)가 고장나는 경우, 스토커(110)에 저장된 FOSB(10)의 웨이퍼(30)를 정렬된 상태로 FOUP(20)으로 이송하기 어렵다. 이 경우, 스토커(110)에 저장된 FOSB(10)를 컨베이어(170)를 이용하여 다른 스토커(110)로 이송할 수 있다. 따라서, 정상 상태의 제2 로봇(140)이나 얼라이너(150)를 이용하여 FOSB(10)에 적재된 웨이퍼(30)를 정렬된 상태로 FOUP(20)으로 이송할 수 있다.
When the
이하에서는 웨이퍼 이송 장치(100)를 이용한 웨이퍼 이송 방법에 대해 간단하게 설명한다.Hereinafter, the wafer transfer method using the
먼저, 무인 반송 대차를 이용하여 웨이퍼(30)가 적재된 FOSB(10)를 스토커(110)의 제1 포트(114)로 투입한다. 제1 리더(118)는 제1 포트(114)로 투입된 FOSB(10)에 부착된 코드를 인식하여 FOSB(10)에 대한 정보를 획득한다.First, the
다음으로, 제1 로봇(130)은 제1 포트(114)로부터 웨이퍼(30)가 적재된 FOSB(10)를 선반(112)으로 이송한다. 또한, 제1 로봇(130)은 선반(112)으로부터 웨이퍼(30)가 적재된 FOSB(10)를 제1 로드 포트(122)로 이송한다. Next, the
한편, OHT(160)가 빈 FOUP(20)을 제2 로드 포트(124)로 로딩한다. Meanwhile, the
웨이퍼(30)가 적재된 FOSB(10)가 제1 로드 포트(122)에 로딩되면, 제1 도어 오픈 유닛이 제1 로드 포트(122)에 안착된 FOSB(10)의 도어를 개방시키면서 매핑 센서로 FOSB(10)에서 웨이퍼(30)의 유무 및 위치를 확인한다. When the
또한, 빈 FOUP(20)이 제2 로드 포트(124)에 안착되면, 제2 리더(126)가 FOUP(20)에 부착된 코드를 인식하여 FOUP(20)에 정보를 획득하고, 제2 도어 오픈 유닛이 제2 로드 포트(124)에 안착된 FOUP(20)의 도어를 개방시킨다. When the
이후, 제2 로봇(140)이 FOSB(10)에 적재된 웨이퍼(30)들을 얼라이너(150)로 이송하여 정렬한 후 FOUP(20)으로 이송한다. 얼라이너(150)는 웨이퍼(30)를 지지한 상태로 회전시키면서 센서로 웨이퍼(30)의 플랫존 또는 노치를 감지함으로써 웨이퍼(30)를 정렬한다. 이때, 제3 리더(152)는 얼라이너(150)에서 정렬된 웨이퍼(30)의 식별 마크를 인식하여 각 웨이퍼(30)에 대한 정보를 획득할 수 있다. Thereafter, the
웨이퍼(30)들의 이송이 완료되면, 상기 제1 도어 오프 유닛은 FOSB(10)의 도어를 차단하고, 상기 제2 도어 오픈 유닛은 FOUP(20)의 도어를 차단한다. When the transfer of the
FOUP(20)의 도어가 차단되면, OHT(160)가 웨이퍼(30)가 적재된 FOUP(20)을 후속 공정 장치로 이송한다. When the door of the
한편, FOSB(10)의 도어가 차단되면, 제1 로봇(130)은 제1 로드 포트(122)로부터 빈 FOSB(10)를 선반(112)으로 이송한다. 또한, 선반(112)으로부터 빈 FOSB(10)를 제2 포트(116)로 이송한다. 이후, 무인 반송 대차를 이용하여 빈 FOSB(10)를 스토커(110)의 제2 포트(116)를 통해 배출한다. On the other hand, when the door of the
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 웨이퍼 이송 장치는 FOSB의 로딩 및 언로딩, FOUP의 로딩 및 언로딩, 웨이퍼 이송 및 정렬을 작업자 없이 자동으로 수행할 수 있다. 따라서, 상기 웨이퍼의 이송 공정을 자동화하여 노동력을 절감할 수 있다. As described above, the wafer transfer apparatus according to the present invention can automatically perform loading and unloading of the FOSB, loading and unloading of the FOUP, and wafer transfer and alignment without an operator. Therefore, the labor of transferring the wafers can be automated to reduce labor.
또한, 상기 스토커가 다수의 FOSB들을 저장할 수 있으므로, 반도체 제조 공정 장치의 처리 능력과 처리 시간의 차이 등에 의해 발생하는 버퍼링(buffering) 문제를 해소할 수 있다. In addition, since the stocker can store a plurality of FOSBs, it is possible to solve the buffering problem caused by the difference in processing capacity and processing time of the semiconductor manufacturing process apparatus.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the present invention as defined by the following claims. It can be understood that it is possible.
100 : 웨이퍼 이송 장치
110 : 스토커
120 : EFEM
130 : 제1 로봇
140 : 제2 로봇
150 : 얼라이너
160 ; OHT
170 : 컨베이어
10 : FOSB
20 : FOUP
30 : 웨이퍼100: wafer transfer device 110: stocker
120: EFEM 130: 1st robot
140: Second robot 150: Earliner
160; OHT 170: Conveyor
10: FOSB 20: FOUP
30: wafer
Claims (6)
상기 스토커와 인접하도록 구비되며, 상기 FOSB가 놓여지는 제1 로드 포트 및 FOUP(Front Open Unified Pod)이 놓여지는 제2 로드 포트를 갖는 EFEM(Equipment Front End Module);
상기 스토커에 구비되며, 웨이퍼들이 적재된 FOSB를 상기 제1 로드 포트에 로딩하거나, 상기 제1 로드 포트로부터 빈 FOSB를 언로딩하는 제1 로봇; 및
상기 EFEM의 내부에 구비되며, 상기 제1 로드 포트에 안착된 FOSB로부터 상기 웨이퍼를 인출하여 상기 제2 로드 포트에 안착된 FOUP에 적재하는 제2 로봇을 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 이송 장치. A Stocker storing a plurality of FOSB (Front Opening Shipping Box);
An Equipment Front End Module (EFEM) provided adjacent to the stocker and having a first load port on which the FOSB is placed and a second load port on which a Front Open Unified Pod (FOUP) is placed;
A first robot provided in the stocker, for loading wafers loaded FOSB into the first load port or unloading empty FOSB from the first load port; And
And a second robot that is provided inside the EFEM and draws the wafer from the FOSB mounted on the first load port and loads the FOUP on the FOUP seated on the second load port.
상기 제1 로봇은 상기 제1 포트 및 제2 포트와 상기 선반 사이 및 상기 선반과 상기 제1 로드 포트 사이에서 상기 FOSB를 이송하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 이송 장치. The apparatus of claim 1, wherein the stocker comprises a first port into which the FOSBs loaded with the wafers are charged, a second port through which the empty FOSB is discharged, and a shelf on which the FOSBs are placed,
Wherein the first robot transfers the FOSB between the first port and the second port and the shelf and between the shelf and the first load port.
상기 EFEM에 구비되며, 상기 FOUP에 대한 정보를 획득하기 위해 FOUP에 부착된 코드를 인식하는 제2 리더; 및
상기 얼라이너의 상방에 구비되며, 상기 얼라이너에서 정렬되는 웨이퍼의 식별 마크를 인식하는 제3 리더를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 이송 장치.5. The system of claim 4, further comprising: a first reader on the stocker for recognizing a code attached to the FOSB to obtain information about the FOSB;
A second reader provided in the EFEM, the second reader recognizing a code attached to the FOUP to obtain information on the FOUP; And
Further comprising a third reader provided above the aligner for recognizing an identification mark of a wafer aligned in the aligner.
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