KR200430815Y1 - 검사용 탐침 장치 - Google Patents

Abstract

본 고안은 검사용 탐침 장치에 관한 것으로서, 검사의 신뢰성과 내구성을 향상시키기 위하여, 검사 대상물의 접촉단자에 접촉되는 탐침부와; 상기 탐침부 하부에 일체로 연장형성되고 내부에는 수용홈이 함몰형성되는 원통형의 수용부와; 상기 수용홈에 일부가 삽입고정되어 탄성력을 제공하는 원통형의 전도성 고무;로 이루어져 검사 대상물로부터 상기 전도성 고무 하부로 전류가 통하도록 구성되어 탄성력을 제공하는 전도성 고무을 이용하여 탄성부를 구성하여 그 구조가 간단하고 시그널 패스를 줄이고 과전류로 인한 탄성부의 파손을 방지할 수 있는 검사용 탐침 장치를 제공한다.

탐침, 프로브, 외통, 전도성, 검사

Description

검사용 탐침 장치{contact probe}

도 1은 종래의 검사용 탐침 장치를 사용하여 검사대상물을 검사하는 상태를 도시하는 상태도.

도 2는 종래의 검사용 탐침 장치를 도시하는 단면도.

도 3은 본 고안의 바람직한 일 실시예에 따른 검사용 탐침 장치를 도시하는 사시도.

도 4는 본 고안의 바람직한 일 실시예에 따른 검사용 탐침 장치를 도시하는 분해사시도.

도 5는 본 고안의 바람직한 일 실시예에 따른 검사용 탐침 장치가 검사용 소켓에 장착되는 것을 도시하는 단면도.

〈도면의 주요부분에 대한 부호의 설명〉

100: 탐침부 102: 돌기

104: 걸림턱 200: 수용부

202: 수용홈 204: 고정부

300: 전도성 고무

본 고안은 검사용 탐침 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 검사 대상물의 접촉단자에 접촉되는 탐침부의 하부에 연장형성되고 내부에는 수용홈이 함몰형성되는 원통형의 수용부와 상기 수용홈에 일부가 삽입고정되어 탄성력을 제공하는 원통형의 전도성 고무로 이루어지는 것을 특징으로 하는 검사용 탐침 장치이다.

일반적으로, 다양한 종류의 전자제품 내에는 다수의 칩이 장착되어 있으며, 이들 칩은 전자제품의 성능을 결정하는 중요한 역할을 한다.

칩은 얇고 작은 조각판 표면에 구성된 논리 소자로 인해 각각 다양한 기능을 수행하게 되는 집적회로로, 회로기관으로부터 전해진 전기적 신호 등이 버스를 통해 전송되어 이러한 작용이 이루어지게 된다.

회로기관(PCB:printed circuit board)은 절연체인 에폭시 또는 베이클라이트 수지 등으로 만든 얇은 기판에 전도체인 구리가 회로배선을 형성하며 도포된 형태로 구성되어 있으며, 집적회로, 저항기 또는 스위치 등의 전기적 부품들이 회로배선 상에 납땜됨으로서 인쇄 회로 기판에 설치된다.

마이크로 칩(Micro-chip)은 이러한 회로 기판의 전자회로가 고밀도로 집적되어 만들어진 칩으로, 전자제품에 칩이 장착되어 조립완성되기 전에 정상적인 상태인지를 확인하기 위하여 검사장치에 의하여 검사되는 과정을 필수적으로 거치게 된다.

이러한 검사 방법으로 칩을 검사용 소켓장치에 장착함으로써 검사를 수행하는 방법이 있으며, 이러한 소켓장치 내에서 칩의 파손됨이 없이 검사가 이루어지도 록 하기 위해 검사용 탐침장치가 장착되어 사용된다.

도 1은 종래의 검사용 탐침 장치를 사용하여 검사대상물을 검사하는 상태를 도시하는 상태도이다.

도시된 바와 같이 검사용 회로기판(4)상에는 검사용 소켓(3)이 장착되어 있고, 상기 소켓(3)의 상부에는 검사대상물인 마이크로 칩(1)이 놓여져 검사를 받을 수 있도록 되어 있다.

상기 검사용 소켓(3)에는 다수 개의 검사용 탐침 장치(5)가 장착되어 있고, 탐침장치의 하단부에는 접촉핀(6)이 연결되어 있다.

상기 탐침 장치(5) 상부의 단부가 검사대상용 마이크로 칩의 여러 지점에 접촉된 상태에서 마이크로 칩으로부터의 전류가 탐침장치 몸체부 및 탐침장치 하단부의 접촉핀을 통해 회로기판 측으로 흐름으로써, 검사대사용 칩의 검사가 수행될 수 있도록 되어 있다.

도 2는 종래의 검사용 탐침 장치를 도시하는 단면도이다.

도시된 바와 같이 외통(8)과 상기 외통(8) 내부에 슬라이딩 이동가능하게 설치되는 검사용 탐침(7)이 형성되고 상기 외통(8)의 하단부에는 접촉핀(7)이 형성되며 상기 외통(8) 내부에는 압축코일스프링(9)이 수용되어 상기 탐침(7)을 탄성적으로 지지한다.

이러한 구성을 통하여 마이크로 칩을 검사할 때에는, 소켓의 상부에 마이크로 칩을 검사를 위해 안착시키게 되고, 소켓에 설치된 가압부가 마이크로 칩을 하방으로 가압함으로써 마이크로 칩은 탐침장치의 탐침과 접촉하게 된다.

그러나 이러한 종래 기술은 탐침에 인가된 전류가 외통 및 스프링을 통한 접촉에 의해 전달됨에 의해 접촉저항이 크고 과전류에 의한 스프링의 탄성력이 저하되거나, 인가된 전류의 시그널 패스(Signal pass)가 증가되어 검사의 신뢰성이 낮아지는 문제점이 존재한다.

이러한 탐침 장치를 개선한 대한민국특허청 등록실용신안공보 등록번호 실03127404호, 등록번호 0281253호 등은 도전성을 가지는 스프링을 이용하거나, 도전성을 가지는 실리콘부를 이용하는 방안이 제안된 바 있다.

그러나 종래의 기술들은 근본적으로 탐침부와 외통과 스프링 및 접속핀으로 구성되어 그 구조가 복잡하여 제작에 어려움이 존재하며, 시그널 패스가 길어 검사의 신뢰성이 낮아지는 문제점이 여전히 존재한다.

또한, 전도성 소재를 이용하는 경우에는 전도성 소재의 낮은 내구성으로 인하여 잦은 교체를 요구하게 되며 이로 인한 검사 효율이 저하되는 문제점이 존재한다.

본 고안은 상기의 문제점들을 해결하기 위해서 안출된 것으로서, 본 고안은 간단한 구조를 채택하여 시그널 패스를 줄이고 과전류로 인한 탄성부의 파손을 최소화하여 검사의 신뢰성을 향상시킨 검사용 탐침장치를 제공하는데 그 목적이 있다.

본 고안의 또 다른 목적은 내구성을 향상시킨 검사용 탐침 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.

상기의 목적을 달성하기 위해서, 본 고안은 검사 대상물의 접촉단자에 접촉되는 탐침부와; 상기 탐침부 하부에 일체로 연장형성되고 내부에는 수용홈이 함몰형성되는 원통형의 수용부와; 상기 수용홈에 일부가 삽입고정되어 탄성력을 제공하는 원통형의 전도성 고무;로 이루어져 검사 대상물로부터 상기 전도성 고무 하부로 전류가 통하도록 구성되는 것을 특징으로 한다.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 고안에 대해 상세히 살펴보기로 한다.

도 3과 도 4는 은 본 고안의 바람직한 일 실시예에 따른 검사용 탐침 장치를 도시하는 사시도 및 분해사시도이다.

도시된 바와 같이 본 고안은 탐침부(100)와 상기 탐침부(100) 하부에 일체로 형성되는 수용부(200)와 상기 수용부에 삽입되는 전도성 고무(300)로 구성된다.

상기 탐침부(100)는 상부에 검사 대상물의 접촉단자에 직접접촉되는 상단면이 뾰족한 돌기(102)가 하나 이상 형성된다.

상기 탐침부(100)는 마이크로 칩과 접속되는 것으로, 이러한 상기 탐침부(100)의 돌기(102)에 대한 형상과 그 제조 방법은 종래의 많은 선행 자료와 선행 기술들이 제안되어 왔으므로 자세한 내용은 생략하기로 한다.

다음으로 수용부(200)에 대해 살펴보기로 한다.

상기 수용부(200)는 종래의 방식과 달리 상기 탐침부(100) 하부에 연장형성되고 내부에는 수용홈(202)이 함몰형성되어 일측이 개구된 형상으로 구성되며, 상기 전도성 고무(300)는 상기 탐침부에 탄성력을 제공하기 위하여, 원통형으로 구성 되며 상기 수용부(200)에 형성되는 수용홈(202)에 일부가 결합된다.

그리고 상기 수용부(200)에 형성되는 수용홈(202)는 상기 전도성 고무(300)를 고정시키기 위하여 형성되는 것으로, 상기 전도성 고무(300)의 상부를 일정 구간 수용하게 되며 전도성 고무와는 억지 끼움 맞춤으로 결합되는 것이 바람직하다.

또한, 상기 전도성 고무(300)는 다양한 방법이 제안되어 왔으며, 특히 고분자 탄성체 수지에 도전성을 부여하기 위하여 도전성 충진제로서 카본블랙(carbon black), 그라파이트(graphite) 등과 같은 미세한 금속성 분말을 균일하게 분산시키거나, 실리콘 시트에 과량의 충진제를 첨가함로써, 상기 실리콘 시트가 도전성을 가지도록 하는 방법이 사용되며, 이러한 종래의 기술에 의하여 제작되는 전도성 고무는 탄성이 뛰어남과 동시에 검사용 전류가 통과될 수 있는 특징을 가지며 본 고안은 이러한 성질을 이용하게 된다.

따라서, 압축 코일 스프링으로 구성되는 종래의 스프링부와 달리 원기둥 형상의 전도성 고무로 제작되므로 검사 장치에 탄성력을 제공하면서도 탐침 장치의 내구성을 향상시키게 된다.

상기 수용부(200)는 상기 전도성 고무(300)를 고정하기 위하여, 상기 수용부(200)의 단부를 압착시켜 형성되는 고정부(204)를 포함하여 구성되며, 탐침 장치의 소켓에 구속되기 위하여 상기 탐침부(100)의 외주면을 따라 걸림턱(104)이 형성되는 것이 바람직하다.

고정부(204)를 형성시키는 것을 가압접속구를 이용하여 상기 수용부(200)의 단부를 압착시키는 방법 등 종래의 기술을 이용하는 것이므로 자세한 설명은 생략 하기로 한다.

또한, 상기 수용부(200)의 단부에 형성되는 고정부(204)는 상기 전도성 고무를 수용홈(202)에 삽입시키고 수용부의 단부를 내주면으로 압착시켜 성형하는 것이 바람직하다.

다음으로 본 고안의 구체적인 사용 태양에 대해 살펴보기로 한다.

도 5는 본 고안의 바람직한 일 실시예에 따른 검사용 탐침 장치가 검사용 소켓에 장착되는 것을 도시하는 단면도이다.

도시된 바와 같이 검사용 탐침 장치는 검사용 소켓(3)에 결합되어 탐침부의 외주면에 형성되는 걸림턱(104)에 의해 소켓에 구속되며, 상기 소켓(3)에 설치되는 가압부 등이 마이크로 칩을 하방으로 가압함으로써 마이크로 칩은 탐침 장치의 탐침부에 접촉하게 된다.

상기 탐침부가 마이크로 칩의 접속 부분(2)에 접촉하게 되면 탐침 장치의 전도성 고무가 하방으로 탄성 이동하게 되며, 검사가 완료된 경우 탄성력에 의하여 탐침 장치는 다시 상방으로 이동된다. 이때 상기 탐침부의 외주면에 형성되는 걸림턱에 의해 상기 탐침 장치는 소켓에 구속되도록 구성된다.

이상과 같이 본 고안은 전도성 고무로 탄성부가 구성되는 검사용 탐침 장치를 제공하는 것을 기본적인 기술적인 사상으로 하고 있음을 알 수 있으며, 이와 같은 본 고안의 기본적인 사상의 범주내에서, 당업계의 통상의 지식을 가진자에게 있어서는 다른 많은 변형이 가능함은 물론이다.

이상에서 상술한 바와 같이 본 고안은 수용부가 탐침부의 하부에 일체로 형성되고 전도성 고무를 탄성부로 이용하여, 인가된 전류의 시그널 패스를 줄이고 과전류로 인한 탄성부의 파손을 방지하여 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

또한, 본 고안은 탄성력을 제공하는 전도성 고무의 단부에 탐침부를 연결시켜 내구성을 향상시킨 검사용 탐침 장치를 제공할 수 있는 장점이 있다.

Claims (4)

1. 검사 대상물의 접촉단자에 접촉되는 탐침부와;

   상기 탐침부 하부에 일체로 연장형성되고 내부에는 수용홈이 함몰형성되는 원통형의 수용부와;

   상기 수용홈에 일부가 삽입고정되어 탄성력을 제공하는 원통형의 전도성 고무;로 이루어져 검사 대상물로부터 상기 전도성 고무 하부로 전류가 통하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 검사용 탐침 장치.
2. 제 1 항에 있어서,

   상기 탐침부는,

   상부에 검사 대상물의 접촉단자에 직접접촉되는 상단면이 뾰족한 돌기가 하나 이상 형성되는 것을 특징으로 하는 검사용 탐침 장치.
3. 제 1 항에 있어서,

   상기 수용부는,

   상기 전도성 고무를 고정시키기 위하여, 상기 수용부의 단부를 압착시켜 형성되는 고정부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 검사용 탐침 장치.
4. 제 1 항에 있어서,

   상기 탐침부는,

   탐침 장치의 소켓에 구속되기 위하여 상기 탐침부의 외주면을 따라 걸림턱이 형성되는 것을 특징으로 하는 검사용 탐침 장치.

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