KR102221703B1 - 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 - Google Patents
다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102221703B1 KR102221703B1 KR1020190046192A KR20190046192A KR102221703B1 KR 102221703 B1 KR102221703 B1 KR 102221703B1 KR 1020190046192 A KR1020190046192 A KR 1020190046192A KR 20190046192 A KR20190046192 A KR 20190046192A KR 102221703 B1 KR102221703 B1 KR 102221703B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- vacuum
- hood
- die
- dicing tape
- dies
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67132—Apparatus for placing on an insulating substrate, e.g. tape
-
- H10P72/0442—
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67144—Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67703—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H01L21/67712—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrate being handled substantially vertically
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6838—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
-
- H10P72/0402—
-
- H10P72/0446—
-
- H10P72/06—
-
- H10P72/3206—
-
- H10P72/7612—
-
- H10P72/78—
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
Abstract
Description
도 2는 도 1에 도시된 다이 이젝터를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.
도 3 및 도 4는 도 1에 도시된 픽업 유닛을 이용하여 다이들의 두께를 측정하는 방법을 설명하기 위한 개략도들이다.
도 5는 도 2에 도시된 진공 제어부의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.
14 : 마운트 프레임 20 : 다이
100 : 다이 픽업 장치 110 : 웨이퍼 스테이지
112 : 확장 링 114 : 클램프
120 : 픽업 유닛 122 : 피커
124 : 피커 구동부 126 : 피커 제어부
200 : 다이 이젝터 210 : 후드
212 : 진공홀 220 : 이젝팅 부재
222 : 챔버 230 : 본체
240 : 수직 구동부 260 : 진공 제어부
262 : 진공 소스 264 : 진공 조절 유닛
266 : 진공 제어 유닛 268 : 진공 센서
270 : 진공 배관 272 : 제2 진공 배관
274 : 제1 밸브 276 : 제2 밸브
280 : 에어 소스 282 : 에어 배관
284 : 제3 밸브
Claims (10)
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 복수의 다이들을 포함하며 다이싱 테이프 상에 부착된 웨이퍼를 지지하는 웨이퍼 스테이지;
상기 웨이퍼 스테이지 상에 지지된 상기 다이싱 테이프의 아래에 배치되며 상기 다이싱 테이프로부터 상기 다이들을 분리하기 위한 다이 이젝터; 및
상기 다이 이젝터에 의해 분리된 다이를 픽업하기 위한 픽업 유닛을 포함하되,
상기 다이 이젝터는, 상기 다이싱 테이프의 하부면을 진공 흡착하기 위한 진공홀들을 갖는 후드와, 상기 후드 내에 배치되며 상기 후드를 통해 수직 방향으로 이동 가능하게 구성되고 상기 다이싱 테이프 상의 다이를 상기 다이싱 테이프로부터 분리시키기 위한 이젝팅 부재와, 상기 후드의 하부에 결합되는 튜브 형태의 본체와, 상기 다이의 두께에 따라 상기 진공홀들과 연결된 상기 후드 내부의 진공도를 조절하기 위한 진공 제어부를 포함하고,
상기 픽업 유닛은, 상기 다이 이젝터에 의해 분리된 다이를 픽업하기 위해 수직 방향으로 이동 가능하게 구성된 피커와, 상기 다이싱 테이프의 상부면 및 상기 다이들 중 어느 하나에 상기 피커가 각각 밀착되도록 상기 피커의 동작을 제어하고 상기 다이싱 테이프의 상부면에 밀착된 상기 피커의 제1 높이 및 상기 다이들 중 어느 하나에 밀착된 상기 피커의 제2 높이로부터 상기 다이의 두께를 산출하는 피커 제어부를 포함하며,
상기 피커가 상기 다이싱 테이프의 상부면 및 상기 다이들 중 어느 하나에 각각 밀착되는 경우 상기 다이싱 테이프 및 상기 다이들 중 어느 하나는 상기 다이 이젝터에 의해 지지되고, 상기 다이싱 테이프 및 상기 다이들 중 어느 하나가 상기 다이 이젝터에 의해 지지되는 동안 상기 후드 내부는 대기압 상태로 유지되는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치. - 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 제4항에 있어서, 상기 진공 제어부는,
상기 후드와 연결되며 상기 후드 내부에 진공압을 제공하기 위한 진공 소스;
상기 후드와 상기 진공 소스 사이에 연결되며 상기 후드 내부의 진공압을 조절하기 위한 진공 조절 유닛;
상기 다이의 두께에 따라 상기 진공 조절 유닛의 동작을 제어하기 위한 진공 제어 유닛; 및
상기 후드 내부의 진공압을 측정하기 위한 진공 센서를 포함하는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치. - 제4항에 있어서, 상기 진공 제어부는,
상기 후드와 연결되며 서로 다른 진공압을 각각 제공하기 위한 복수의 진공 소스들;
상기 후드와 상기 진공 소스들 사이에 연결되며 상기 다이의 두께에 따라 상기 진공 소스들 중에서 하나를 선택적으로 상기 후드와 연결하는 밸브 유닛;
상기 다이의 두께에 따라 상기 밸브 유닛의 동작을 제어하기 위한 진공 제어 유닛; 및
상기 후드 내부의 진공압을 측정하기 위한 진공 센서를 포함하는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치.
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020190046192A KR102221703B1 (ko) | 2019-04-19 | 2019-04-19 | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 |
| TW109112571A TWI768321B (zh) | 2019-04-19 | 2020-04-15 | 晶片頂出器及包含晶片頂出器之用於拾取晶片的裝置 |
| CN202010305697.9A CN111834276B (zh) | 2019-04-19 | 2020-04-17 | 裸芯顶出器及包含其的裸芯拾取装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020190046192A KR102221703B1 (ko) | 2019-04-19 | 2019-04-19 | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20200122856A KR20200122856A (ko) | 2020-10-28 |
| KR102221703B1 true KR102221703B1 (ko) | 2021-03-02 |
Family
ID=72913639
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020190046192A Active KR102221703B1 (ko) | 2019-04-19 | 2019-04-19 | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102221703B1 (ko) |
| CN (1) | CN111834276B (ko) |
| TW (1) | TWI768321B (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20250082044A (ko) | 2023-11-28 | 2025-06-09 | 한국생산기술연구원 | 반도체 제조 공정에서의 다이 이젝팅 방법 및 장치 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102869694B1 (ko) | 2020-11-23 | 2025-10-10 | 세메스 주식회사 | 다이 이송 모듈 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치 |
| TW202222667A (zh) * | 2020-12-01 | 2022-06-16 | 美商美光科技公司 | 用於脆弱微電子組件之實體傳送之設備及方法 |
| US11862482B2 (en) * | 2021-03-11 | 2024-01-02 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Semiconductor substrate bonding tool and methods of operation |
| KR102768343B1 (ko) * | 2021-12-02 | 2025-02-18 | 세메스 주식회사 | 반도체 소자 픽업 장치 및 이의 동작 제어 방법 |
| KR102824517B1 (ko) * | 2021-12-21 | 2025-06-25 | 세메스 주식회사 | 다이 픽업 장치 및 다이 픽업 장치의 다이 픽업 방법 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005085928A (ja) | 2003-09-08 | 2005-03-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体チップの剥離装置、剥離方法、及び半導体チップの供給装置 |
| JP2009114984A (ja) * | 2007-11-07 | 2009-05-28 | Toyota Motor Corp | 真空ポンプ装置 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06177182A (ja) * | 1992-12-01 | 1994-06-24 | Toshiba Corp | ダイボンディング装置及びこの装置を用いたダイボンディング方法 |
| KR20030026540A (ko) * | 2001-09-26 | 2003-04-03 | 삼성전자주식회사 | 진공식 웨이퍼 파지 장치 |
| JP4143623B2 (ja) * | 2005-04-26 | 2008-09-03 | Necエンジニアリング株式会社 | テープ貼付装置 |
| CN100565831C (zh) * | 2005-08-31 | 2009-12-02 | 芝浦机械电子株式会社 | 半导体芯片的拾取装置及拾取方法 |
| KR101383282B1 (ko) * | 2011-12-28 | 2014-04-08 | 엘아이지에이디피 주식회사 | 기판 합착장치 |
| JP6055239B2 (ja) * | 2012-08-29 | 2016-12-27 | ファスフォードテクノロジ株式会社 | ダイボンディング装置並びにダイピックアップ装置及びダイピックアップ方法 |
| KR20140107982A (ko) * | 2013-02-28 | 2014-09-05 | 삼성전자주식회사 | 다이 이젝터 및 다이 분리 방법 |
| CN107452641B (zh) * | 2016-05-31 | 2020-10-23 | 细美事有限公司 | 从晶圆上拾取裸芯的方法 |
| KR101935097B1 (ko) * | 2016-08-10 | 2019-01-03 | 세메스 주식회사 | 다이 이젝팅 장치 |
| KR20190009510A (ko) * | 2017-07-19 | 2019-01-29 | 세메스 주식회사 | 다이 픽업 방법 및 장치 |
| JP2019029650A (ja) * | 2017-07-26 | 2019-02-21 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | 半導体チップのピックアップ装置、半導体チップの実装装置および実装方法 |
| KR102120185B1 (ko) * | 2017-07-26 | 2020-06-08 | 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 | 반도체 칩의 픽업 장치, 반도체 칩의 실장 장치 및 실장 방법 |
-
2019
- 2019-04-19 KR KR1020190046192A patent/KR102221703B1/ko active Active
-
2020
- 2020-04-15 TW TW109112571A patent/TWI768321B/zh active
- 2020-04-17 CN CN202010305697.9A patent/CN111834276B/zh active Active
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005085928A (ja) | 2003-09-08 | 2005-03-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体チップの剥離装置、剥離方法、及び半導体チップの供給装置 |
| JP2009114984A (ja) * | 2007-11-07 | 2009-05-28 | Toyota Motor Corp | 真空ポンプ装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20250082044A (ko) | 2023-11-28 | 2025-06-09 | 한국생산기술연구원 | 반도체 제조 공정에서의 다이 이젝팅 방법 및 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW202105563A (zh) | 2021-02-01 |
| KR20200122856A (ko) | 2020-10-28 |
| CN111834276A (zh) | 2020-10-27 |
| TWI768321B (zh) | 2022-06-21 |
| CN111834276B (zh) | 2024-10-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102221703B1 (ko) | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 | |
| KR101901028B1 (ko) | 본딩 헤드 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치 | |
| JP6407803B2 (ja) | 接合装置、接合システム、接合方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体 | |
| KR101970884B1 (ko) | 반도체 제조 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 | |
| KR102009922B1 (ko) | 다이 이젝팅 장치 | |
| JP2018120983A (ja) | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 | |
| US12424466B2 (en) | Apparatus for transferring die in bonding equipment and method thereof | |
| KR20210078946A (ko) | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 이송 장치 | |
| KR102245805B1 (ko) | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 | |
| KR20230075706A (ko) | 칩 본딩 장치 및 칩 본딩 방법 | |
| KR102185034B1 (ko) | 본딩 툴 정렬 모듈 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치 | |
| KR102189274B1 (ko) | 다이 픽업 방법 및 다이 픽업 장치 | |
| KR20220070985A (ko) | 다이 이송 모듈 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치 | |
| KR102386338B1 (ko) | 다이 이송 모듈 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치 | |
| KR102430481B1 (ko) | 다이 본딩 장치 | |
| KR102161527B1 (ko) | 스테이지 유닛 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치 | |
| KR101496024B1 (ko) | 다이 이젝팅 장치 | |
| KR102330648B1 (ko) | 다이 이젝팅 장치 | |
| KR102288927B1 (ko) | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 | |
| KR20210003422A (ko) | 스테이지 유닛 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치 | |
| KR102221704B1 (ko) | 진공 피커 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치 | |
| KR102288925B1 (ko) | 본딩 툴 정렬 모듈 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치 | |
| KR102350557B1 (ko) | 다이 본딩 방법 및 다이 본딩 장치 | |
| KR102876236B1 (ko) | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 | |
| KR102386337B1 (ko) | 다이 이송 모듈 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| AMND | Amendment | ||
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| E601 | Decision to refuse application | ||
| PE0601 | Decision on rejection of patent |
St.27 status event code: N-2-6-B10-B15-exm-PE0601 |
|
| X091 | Application refused [patent] | ||
| AMND | Amendment | ||
| E13-X000 | Pre-grant limitation requested |
St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| PX0901 | Re-examination |
St.27 status event code: A-2-3-E10-E12-rex-PX0901 |
|
| PX0701 | Decision of registration after re-examination |
St.27 status event code: A-3-4-F10-F13-rex-PX0701 |
|
| X701 | Decision to grant (after re-examination) | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 5 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |