KR102876236B1 - 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 - Google Patents
다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치Info
- Publication number
- KR102876236B1 KR102876236B1 KR1020200136982A KR20200136982A KR102876236B1 KR 102876236 B1 KR102876236 B1 KR 102876236B1 KR 1020200136982 A KR1020200136982 A KR 1020200136982A KR 20200136982 A KR20200136982 A KR 20200136982A KR 102876236 B1 KR102876236 B1 KR 102876236B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- holes
- die
- vacuum
- air
- dicing tape
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67132—Apparatus for placing on an insulating substrate, e.g. tape
-
- H10P72/0442—
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67144—Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67703—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H01L21/67721—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrates to be conveyed not being semiconductor wafers or large planar substrates, e.g. chips, lead frames
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6835—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L21/6836—Wafer tapes, e.g. grinding or dicing support tapes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6838—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
-
- H10P72/0446—
-
- H10P72/3212—
-
- H10P72/7402—
-
- H10P72/78—
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2221/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
- H01L2221/67—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L2221/683—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L2221/68304—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L2221/68327—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used during dicing or grinding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2221/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
- H01L2221/67—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L2221/683—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L2221/68304—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L2221/68381—Details of chemical or physical process used for separating the auxiliary support from a device or wafer
- H01L2221/68386—Separation by peeling
- H01L2221/6839—Separation by peeling using peeling wedge or knife or bar
-
- H10P72/7416—
-
- H10P72/7444—
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
도 2는 도 1에 도시된 다이 이젝터를 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.
도 3은 도 2에 도시된 다이 이젝터의 동작을 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.
도 4 내지 도 도 7은 도 2 및 도 3에 도시된 다이 이젝터에 의한 다이 픽업 방법을 설명하기 위한 개략적인 단면도들이다.
도 8 내지 도 13은 도 2 및 도 3에 도시된 다이 이젝터에 의한 다이 픽업 방법의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 단면도들이다.
도 14 내지 도 17은 도 2 및 도 3에 도시된 다이 이젝터에 의한 다이 픽업 방법의 또 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 단면도들이다.
도 18 내지 도 20은 도 2 및 도 3에 도시된 다이 이젝터에 의한 다이 픽업 방법의 또 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 단면도들이다.
14 : 다이싱 테이프 16 : 마운트 프레임
100 : 다이 픽업 장치 110 : 스테이지 유닛
112 : 웨이퍼 스테이지 120 : 진공 피커
200 : 다이 이젝터 210 : 상부 패널
212 : 관통홀 214 : 에어홀
216 : 진공홀 218 : 제2 진공홀
220 : 이젝터 바디 226 : 조명 유닛
230 : 압축 공기 제공부 240 : 진공 제공부
250 : 밸브 252 : 밸브 조립체
260 : 밸브 제어부 270 : 하부 커버
272 : 제2 관통홀 280 : 스페이서 블록
282 : 연결홀 290 : 연결 패널
292 : 제2 연결홀 294 : 연결 부재
Claims (19)
- 다이싱 테이프의 하부면에 밀착되며 복수의 관통홀들을 갖는 상부 패널;
상기 상부 패널과 결합되며 튜브 형태를 갖는 이젝터 바디;
상기 이젝터 바디의 하부에 결합되며 상기 관통홀들과 각각 연결되는 제2 관통홀들을 갖는 하부 커버;
상기 이젝터 바디 내에 배치되며 상기 관통홀들과 상기 제2 관통홀들 사이를 각각 연결하기 위한 복수의 연결홀들을 갖는 스페이서 블록;
상기 제2 관통홀들과 연결되며 상기 다이싱 테이프 상에 부착된 다이를 상기 다이싱 테이프로부터 분리시키기 위하여 상기 관통홀들 중 일부에 압축 공기를 제공하기 위한 압축 공기 제공부; 및
상기 제2 관통홀들과 연결되며 상기 다이싱 테이프를 상기 상부 패널 상에 진공 흡착하기 위하여 상기 관통홀들 중 나머지에 진공을 제공하기 위한 진공 제공부를 포함하되,
상기 관통홀들 및 상기 제2 관통홀들은 복수의 행과 열의 형태로 배열되고, 상기 제2 관통홀들의 하부 피치는 상기 제2 관통홀들의 상부 피치보다 크고,
상기 관통홀들은 상기 압축 공기 또는 상기 진공이 제공되는 에어홀들 또는 진공홀들로서 기능하며,
상기 상부 패널은 상기 다이싱 테이프를 진공 흡착하기 위하여 상기 관통홀들의 외측에 배치된 제2 진공홀들을 더 구비하고,
상기 스페이서 블록의 외측면과 상기 이젝터 바디의 내측벽 사이에 상기 제2 진공홀들과 연통하는 내부 공간이 형성되고,
상기 상부 패널 및 상기 스페이서 블록은 광 투과성 물질로 이루어지며, 상기 내부 공간에서 상기 이젝터 바디의 내측벽에 상기 스페이서 블록을 향하여 조명광을 제공하는 조명 유닛이 배치되는 것을 특징으로 하는 다이 이젝터. - 삭제
- 제1항에 있어서, 상기 하부 커버의 하부에 결합되며 상기 제2 관통홀들과 각각 연결되는 복수의 제2 연결홀들을 갖는 연결 패널과,
상기 압축 공기 제공부와 상기 진공 제공부를 상기 제2 연결홀들에 연결하기 위한 복수의 배관들과,
상기 제2 연결홀들과 상기 배관들 사이를 각각 연결하기 위한 복수의 연결 부재들을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다이 이젝터. - 삭제
- 제1항에 있어서, 상기 에어홀들과 상기 진공홀들은 행방향 또는 열방향으로 번갈아 배치되는 것을 특징으로 하는 다이 이젝터.
- 제5항에 있어서, 상기 제2 관통홀들과 연결되며 상기 관통홀들에 상기 압축 공기 및 상기 진공 중 어느 하나를 선택적으로 제공하기 위한 밸브들과,
상기 밸브들의 동작을 제어하기 위한 밸브 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다이 이젝터. - 제5항에 있어서, 상기 압축 공기는 상기 다이의 가장자리 부위들에 대응하는 에어홀들로부터 상기 다이의 중심 부위에 대응하는 에어홀들을 향하여 순차적으로 제공되는 것을 특징으로 하는 다이 이젝터.
- 제5항에 있어서, 상기 압축 공기는 상기 다이의 일측 가장자리 부위에 대응하는 에어홀들로부터 상기 다이의 타측 가장자리 부위에 대응하는 에어홀들을 향하여 순차적으로 제공되는 것을 특징으로 하는 다이 이젝터.
- 제5항에 있어서, 상기 다이의 하부에 위치되는 에어홀들 모두에 상기 압축 공기가 제공된 후 상기 다이의 가장자리 부위들에 대응하는 에어홀들로부터 상기 다이의 중심 부위에 대응하는 에어홀들을 향하여 순차적으로 진공이 제공되는 것을 특징으로 하는 다이 이젝터.
- 제5항에 있어서, 상기 다이의 하부에 위치되는 에어홀들 모두에 상기 압축 공기가 제공된 후 상기 다이의 일측 가장자리 부위에 대응하는 에어홀들로부터 상기 다이의 타측 가장자리 부위에 대응하는 에어홀들을 향하여 순차적으로 진공이 제공되는 것을 특징으로 하는 다이 이젝터.
- 삭제
- 삭제
- 다이싱 테이프의 하부면에 밀착되며 상기 다이싱 테이프 상에 부착된 다이를 상기 다이싱 테이프로부터 분리시키기 위한 다이 이젝터; 및
상기 다이를 상기 다이싱 테이프로부터 픽업하기 위한 진공 피커를 포함하되,
상기 다이 이젝터는, 상기 다이싱 테이프의 하부면에 밀착되며 복수의 관통홀들을 갖는 상부 패널과, 상기 상부 패널과 결합되며 튜브 형태를 갖는 이젝터 바디와, 상기 이젝터 바디의 하부에 결합되며 상기 관통홀들과 각각 연결되는 제2 관통홀들을 갖는 하부 커버와, 상기 이젝터 바디 내에 배치되며 상기 관통홀들과 상기 제2 관통홀들 사이를 각각 연결하기 위한 복수의 연결홀들을 갖는 스페이서 블록과, 상기 제2 관통홀들과 연결되며 상기 다이를 상기 다이싱 테이프로부터 분리시키기 위하여 상기 관통홀들 중 일부에 압축 공기를 제공하기 위한 압축 공기 제공부와, 상기 제2 관통홀들과 연결되며 상기 다이싱 테이프를 상기 상부 패널 상에 진공 흡착하기 위하여 상기 관통홀들 중 나머지에 진공을 제공하기 위한 진공 제공부를 포함하고,
상기 관통홀들 및 상기 제2 관통홀들은 복수의 행과 열의 형태로 배열되며,
상기 제2 관통홀들의 하부 피치는 상기 제2 관통홀들의 상부 피치보다 크고,
상기 관통홀들은 상기 압축 공기 또는 상기 진공이 제공되는 에어홀들 또는 진공홀들로서 기능하며,
상기 상부 패널은 상기 다이싱 테이프를 진공 흡착하기 위하여 상기 관통홀들의 외측에 배치된 제2 진공홀들을 더 구비하고,
상기 스페이서 블록의 외측면과 상기 이젝터 바디의 내측벽 사이에 상기 제2 진공홀들과 연통하는 내부 공간이 형성되고,
상기 상부 패널 및 상기 스페이서 블록은 광 투과성 물질로 이루어지며, 상기 내부 공간에서 상기 이젝터 바디의 내측벽에 상기 스페이서 블록을 향하여 조명광을 제공하는 조명 유닛이 배치되는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치. - 제13항에 있어서, 상기 에어홀들과 상기 진공홀들은 행방향 또는 열방향으로 번갈아 배치되는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치.
- 제14항에 있어서, 상기 진공 피커는 상기 다이의 상부면으로부터 소정 거리 이격되도록 배치되며,
상기 다이의 상부면 가장자리 부위들로부터 상기 다이의 상부면 중심 부위를 향하여 순차적으로 상기 다이의 상부면이 상기 진공 피커의 하부면에 진공 흡착되도록 상기 압축 공기는 상기 다이의 하부면 가장자리 부위들에 대응하는 에어홀들로부터 상기 다이의 하부면 중심 부위에 대응하는 에어홀들을 향하여 순차적으로 제공되는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치. - 제14항에 있어서, 상기 진공 피커는 상기 다이의 상부면으로부터 소정 거리 이격되도록 배치되며,
상기 다이의 상부면 일측 가장자리 부위로부터 상기 다이의 상부면 타측 가장자리 부위를 향하여 순차적으로 상기 다이의 상부면이 상기 진공 피커의 하부면에 진공 흡착되도록 상기 압축 공기는 상기 다이의 하부면 일측 가장자리 부위에 대응하는 에어홀들로부터 상기 다이의 하부면 타측 가장자리 부위에 대응하는 에어홀들을 향하여 순차적으로 제공되는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치. - 제14항에 있어서, 상기 진공 피커는 상기 다이의 상부면이 상기 진공 피커의 하부면에 진공 흡착되도록 상기 다이의 상부면에 밀착되고, 이어서 상기 에어홀들을 통해 상기 다이싱 테이프의 하부면에 상기 압축 공기가 제공되며, 상기 진공 피커는 상기 압축 공기의 제공과 연동하여 소정 거리만큼 상승되는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치.
- 제17항에 있어서, 상기 다이의 하부에 위치되는 에어홀들 모두에 상기 압축 공기가 제공된 후 상기 다이의 가장자리 부위들에 대응하는 에어홀들로부터 상기 다이의 중심 부위에 대응하는 에어홀들을 향하여 순차적으로 진공이 제공되는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치.
- 제17항에 있어서, 상기 다이의 하부에 위치되는 에어홀들 모두에 상기 압축 공기가 제공된 후 상기 다이의 일측 가장자리 부위들에 대응하는 에어홀들로부터 상기 다이의 타측 가장자리 부위들에 대응하는 에어홀들을 향하여 순차적으로 진공이 제공되는 것을 특징으로 하는 다이 픽업 장치.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020200136982A KR102876236B1 (ko) | 2020-10-21 | 2020-10-21 | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020200136982A KR102876236B1 (ko) | 2020-10-21 | 2020-10-21 | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20220052718A KR20220052718A (ko) | 2022-04-28 |
| KR102876236B1 true KR102876236B1 (ko) | 2025-10-23 |
Family
ID=81446950
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020200136982A Active KR102876236B1 (ko) | 2020-10-21 | 2020-10-21 | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102876236B1 (ko) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011066114A (ja) * | 2009-09-16 | 2011-03-31 | Toshiba Corp | チップ加工装置およびチップ加工方法 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101471715B1 (ko) | 2012-10-30 | 2014-12-10 | 세메스 주식회사 | 다이 이젝팅 장치 |
| KR101496053B1 (ko) | 2013-12-04 | 2015-02-25 | 세메스 주식회사 | 다이 이젝팅 장치 |
| KR102284149B1 (ko) * | 2014-12-05 | 2021-07-30 | 세메스 주식회사 | 다이 이젝팅 장치 |
| KR102594542B1 (ko) * | 2018-10-31 | 2023-10-26 | 세메스 주식회사 | 다이 이젝팅 장치 |
| KR102656718B1 (ko) * | 2018-11-05 | 2024-04-12 | 세메스 주식회사 | 다이 이젝팅 장치 |
-
2020
- 2020-10-21 KR KR1020200136982A patent/KR102876236B1/ko active Active
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011066114A (ja) * | 2009-09-16 | 2011-03-31 | Toshiba Corp | チップ加工装置およびチップ加工方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20220052718A (ko) | 2022-04-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102594542B1 (ko) | 다이 이젝팅 장치 | |
| KR102459402B1 (ko) | 다이 이젝팅 장치 | |
| KR101585316B1 (ko) | 다이 이젝팅 장치 | |
| CN111834276B (zh) | 裸芯顶出器及包含其的裸芯拾取装置 | |
| KR102371543B1 (ko) | 다이 픽업을 위한 정렬 좌표 설정 방법 및 이를 이용하는 다이 픽업 방법 | |
| KR102386339B1 (ko) | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 이송 장치 | |
| KR20160068201A (ko) | 다이 이젝팅 장치 | |
| US12424466B2 (en) | Apparatus for transferring die in bonding equipment and method thereof | |
| KR102245805B1 (ko) | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 | |
| KR102512045B1 (ko) | 다이 이젝팅 장치 | |
| KR102876236B1 (ko) | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 | |
| KR102141201B1 (ko) | 다이 이젝팅 장치 | |
| KR102220340B1 (ko) | 다이 이젝팅 장치 | |
| KR102336914B1 (ko) | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 이송 장치 | |
| KR102189274B1 (ko) | 다이 픽업 방법 및 다이 픽업 장치 | |
| KR102654600B1 (ko) | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치 | |
| KR102594541B1 (ko) | 다이 이젝팅 장치 | |
| KR102220339B1 (ko) | 다이 이젝팅 장치 | |
| KR102288927B1 (ko) | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 픽업 장치 | |
| KR102330648B1 (ko) | 다이 이젝팅 장치 | |
| KR101496024B1 (ko) | 다이 이젝팅 장치 | |
| KR102650876B1 (ko) | 다이 이젝터의 높이 설정 방법 | |
| KR102178047B1 (ko) | 다이 이젝팅 장치 | |
| WO2025099995A1 (ja) | チップピックアップ装置 | |
| KR20220075903A (ko) | 다이 이젝터 및 이를 포함하는 다이 본딩 장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R18-oth-X000 |
|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| R17-X000 | Change to representative recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| E13-X000 | Pre-grant limitation requested |
St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| D22 | Grant of ip right intended |
Free format text: ST27 STATUS EVENT CODE: A-1-2-D10-D22-EXM-PE0701 (AS PROVIDED BY THE NATIONAL OFFICE) |
|
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| F11 | Ip right granted following substantive examination |
Free format text: ST27 STATUS EVENT CODE: A-2-4-F10-F11-EXM-PR0701 (AS PROVIDED BY THE NATIONAL OFFICE) |
|
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| U11 | Full renewal or maintenance fee paid |
Free format text: ST27 STATUS EVENT CODE: A-2-2-U10-U11-OTH-PR1002 (AS PROVIDED BY THE NATIONAL OFFICE) Year of fee payment: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| Q13 | Ip right document published |
Free format text: ST27 STATUS EVENT CODE: A-4-4-Q10-Q13-NAP-PG1601 (AS PROVIDED BY THE NATIONAL OFFICE) |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |