KR102185209B1 - 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치 - Google Patents
배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102185209B1 KR102185209B1 KR1020200032430A KR20200032430A KR102185209B1 KR 102185209 B1 KR102185209 B1 KR 102185209B1 KR 1020200032430 A KR1020200032430 A KR 1020200032430A KR 20200032430 A KR20200032430 A KR 20200032430A KR 102185209 B1 KR102185209 B1 KR 102185209B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- cable
- battery controller
- relay
- scan
- inrush current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/3277—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2813—Checking the presence, location, orientation or value, e.g. resistance, of components or conductors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2815—Functional tests, e.g. boundary scans, using the normal I/O contacts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/3277—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches
- G01R31/3278—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches of relays, solenoids or reed switches
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Secondary Cells (AREA)
Abstract
Description
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치를 도시한 사진이다.
도 3a 및 도 3b는 본 발명의 실시예에 따른 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치중 배터리 컨트롤러를 도시한 개략도 및 실물 사진이고, 도 3c는 전지 제어용 릴레이의 일례를 도시한 사진이며, 도 3d는 전지 제어용 릴레이의 다른 예를 도시한 사진이며, 도 3e는 인러쉬 커런트 리미터의 일례를 도시한 사진이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치에 의한 검사 기준을 도시한 표이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치의 연결 구조를 도시한 사진이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치중 케이블 스캔 제어 컴퓨터에서 실행되는 프로그램에 의한 표시 화면이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치중 케이블 스캔 제어 컴퓨터에서 실행되는 검사 결과 출력 화면이다.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치중 케이블 스캔을 도시한 사진 및 사양이다.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치중 점검 상자 조립체 및 단자부를 도시한 사진이다.
110; 직류 전원 공급기 111; 전원 공급 케이블
120; 배터리 컨트롤러 121; 릴레이
122; 인러쉬 커런트 리미터 123; 하우징
124; 배선 장치 130; 케이블 스캔 시스템
140; 케이블 스캔 141; 내부 스캔 케이블
150; 케이블 스캔 제어 컴퓨터
151 데이터 케이블 160; 점검 상자 조립체
161; 전원 공급 단자 162; 내부 전원 케이블
163; 제품 연결부 164; 내부 테스트 케이블
165; 테스트 포인트 단자부 166; 배선 케이블
167; 외부 스캔 케이블 168; 스위치
169; 램프
Claims (7)
- 직류 전원을 공급하는 직류 전원 공급기;
상기 직류 전원 공급기로부터 상기 직류 전원을 공급받으면 릴레이 및 인러쉬 커런트 리미터가 동작되는 배터리 컨트롤러;
상기 배터리 컨트롤러의 상기 릴레이 및 상기 인러쉬 커런트 리미터로부터 출력되는 저항값을 스캔하는 케이블 스캔;
상기 케이블 스캔을 제어하고 상기 저항값을 화면에 표시하는 케이블 스캔 제어 컴퓨터; 및
상기 직류 전원 공급기, 상기 배터리 컨트롤러 및 상기 케이블 스캔에 전기적으로 연결되어 상기 배터리 컨트롤러에 상기 직류 전원이 공급되도록 하고 상기 배터리 컨트롤러의 상기 릴레이 및 상기 인러쉬 커런트 리미터로부터 출력되는 저항값을 상기 케이블 스캔에 전송하는 점검 상자 조립체를 포함하는, 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 점검 상자 조립체는 상기 직류 전원 공급기에 내부 전원 케이블을 통하여 연결된 제품 연결부를 더 포함하고,
상기 배터리 컨트롤러는 상기 릴레이 및 상기 인러쉬 커런트 리미터에 연결된 배선 장치를 더 포함하며,
상기 제품 연결부와 상기 배선 장치가 배선 케이블로 연결된, 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치. - 제 2 항에 있어서,
상기 점검 상자 조립체는 상기 제품 연결부에 내부 테스트 케이블을 통하여 연결된 테스트 포인트 단자부를 더 포함하고,
상기 점검 상자 조립체의 테스트 포인트 단자부와 상기 케이블 스캔이 외부 스캔 케이블로 연결된, 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치. - 제 3 항에 있어서,
상기 제품 연결부는 상기 직류 전원 공급기의 직류 전원을 상기 배선 케이블 및 상기 배선 장치를 통하여 상기 릴레이 및 상기 인러쉬 커런트 리미터에 공급되도록 하고,
상기 릴레이 및 상기 인러쉬 커런트 리미터로부터 출력되는 저항값을 상기 배선 장치 및 상기 배선 케이블을 통해 입력받는, 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치. - 제 4 항에 있어서,
상기 제품 연결부는 상기 릴레이 및 상기 인러쉬 커런트 리미터의 저항값을 상기 테스트 포인트 단자부 및 상기 외부 스캔 케이블을 통해 상기 케이블 스캔에 전송하는, 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 케이블 스캔 제어 컴퓨터는 상기 케이블 스캔을 제어하여 상기 릴레이의 각 단자와 상기 인러쉬 커런트 리미터의 각 단자가 갖는 저항값을 스캔하여 상기 케이블 스캔 제어 컴퓨터에 전송하도록 하는, 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치. - 제 6 항에 있어서,
상기 케이블 스캔 제어 컴퓨터는 상기 릴레이의 각 단자가 갖는 저항값 및 상기 인러쉬 커런트 리미터의 각 단자가 갖는 저항값을 화면에 표시하고 메모리에 저장하는, 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020200032430A KR102185209B1 (ko) | 2020-03-17 | 2020-03-17 | 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020200032430A KR102185209B1 (ko) | 2020-03-17 | 2020-03-17 | 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR102185209B1 true KR102185209B1 (ko) | 2020-12-01 |
Family
ID=73790769
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020200032430A Active KR102185209B1 (ko) | 2020-03-17 | 2020-03-17 | 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102185209B1 (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102622788B1 (ko) * | 2023-03-20 | 2024-01-10 | 한전케이피에스 주식회사 | Hjtc 프로브 및 mi 케이블 점검 장치 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011067033A (ja) * | 2009-09-18 | 2011-03-31 | Origin Electric Co Ltd | 突入電流防止装置及び突入電流防止装置の短絡診断方法 |
| KR101295182B1 (ko) * | 2012-05-16 | 2013-08-09 | (주)미섬시스텍 | 배터리 보호 회로의 테스트 장치 및 그의 수동 소자 측정 방법 |
| KR101507297B1 (ko) * | 2014-11-04 | 2015-04-08 | 정인 | 릴레이 검사 장치 |
| JP2016005385A (ja) * | 2014-06-18 | 2016-01-12 | 住友電気工業株式会社 | 電源装置及び電力変換装置 |
| KR20180084523A (ko) * | 2017-01-17 | 2018-07-25 | 주식회사 엘지화학 | 배터리 모듈을 위한 외부 진단기 및 모듈 상태 변경 장치 |
-
2020
- 2020-03-17 KR KR1020200032430A patent/KR102185209B1/ko active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011067033A (ja) * | 2009-09-18 | 2011-03-31 | Origin Electric Co Ltd | 突入電流防止装置及び突入電流防止装置の短絡診断方法 |
| KR101295182B1 (ko) * | 2012-05-16 | 2013-08-09 | (주)미섬시스텍 | 배터리 보호 회로의 테스트 장치 및 그의 수동 소자 측정 방법 |
| JP2016005385A (ja) * | 2014-06-18 | 2016-01-12 | 住友電気工業株式会社 | 電源装置及び電力変換装置 |
| KR101507297B1 (ko) * | 2014-11-04 | 2015-04-08 | 정인 | 릴레이 검사 장치 |
| KR20180084523A (ko) * | 2017-01-17 | 2018-07-25 | 주식회사 엘지화학 | 배터리 모듈을 위한 외부 진단기 및 모듈 상태 변경 장치 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102622788B1 (ko) * | 2023-03-20 | 2024-01-10 | 한전케이피에스 주식회사 | Hjtc 프로브 및 mi 케이블 점검 장치 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP7105977B2 (ja) | 検査システム、ならびに検査システムの故障解析・予知方法 | |
| JP2009204329A (ja) | 回路ボード検査システム及び検査方法 | |
| US8275568B2 (en) | Semiconductor test system with self-inspection of electrical channel | |
| CN108445379A (zh) | 一种控制板测试装置及其测试系统 | |
| JP4532570B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
| US8217674B2 (en) | Systems and methods to test integrated circuits | |
| JP2006343209A (ja) | 半導体デバイスの検査装置 | |
| KR101499851B1 (ko) | 번인 보드의 테스트 시스템 | |
| JP6339834B2 (ja) | 基板検査装置 | |
| US6087839A (en) | Apparatus for testing printed circuit board | |
| KR102185209B1 (ko) | 배터리 컨트롤러의 작동 상태 검사 장치 | |
| US7847571B2 (en) | Semiconductor test system with self-inspection of electrical channel for Pogo tower | |
| CN208270727U (zh) | 一种控制板测试装置及其测试系统 | |
| JP2007198750A (ja) | 半導体装置の検査装置 | |
| JP5425709B2 (ja) | 絶縁検査装置および絶縁検査方法 | |
| KR20120004641A (ko) | N5000 고압인버터 셀 유닛의 pcb자동화 시험 장치 | |
| JP3071768B2 (ja) | リレー診断装置および診断方法 | |
| TWI871783B (zh) | 自動化測試輔助設備及自動化測試輔助系統 | |
| KR20150131007A (ko) | 절연 검사 방법 및 절연 검사 장치 | |
| CN102565603B (zh) | 电性连接缺陷仿真测试方法及其系统 | |
| KR100591757B1 (ko) | 이디에스 검사 시스템 | |
| JP2007315789A (ja) | 半導体集積回路およびその実装検査方法 | |
| JPH05312877A (ja) | エージング基板の検査装置及びそれを用いた検査方法 | |
| JP5160331B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
| JP2014106179A (ja) | 基板検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| PA0302 | Request for accelerated examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D17-exm-PA0302 St.27 status event code: A-1-2-D10-D16-exm-PA0302 |
|
| D13-X000 | Search requested |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000 |
|
| D14-X000 | Search report completed |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000 |
|
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 5 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 6 |