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JPH1130672A - 金属検出装置 - Google Patents

金属検出装置

Info

Publication number
JPH1130672A
JPH1130672A JP18551597A JP18551597A JPH1130672A JP H1130672 A JPH1130672 A JP H1130672A JP 18551597 A JP18551597 A JP 18551597A JP 18551597 A JP18551597 A JP 18551597A JP H1130672 A JPH1130672 A JP H1130672A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal
inspection object
magnetic field
detecting
detection device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP18551597A
Other languages
English (en)
Inventor
Masazumi Suzuki
正純 鈴木
Nobuyuki Kurosaki
信之 黒崎
Masaaki Toyama
正明 外山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Taiheiyo Cement Corp
Original Assignee
Chichibu Onoda Cement Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chichibu Onoda Cement Corp filed Critical Chichibu Onoda Cement Corp
Priority to JP18551597A priority Critical patent/JPH1130672A/ja
Publication of JPH1130672A publication Critical patent/JPH1130672A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 被検査物中の金属異物の有無を高感度で検出
可能な金属検出装置であって、特に、長い形状の被検査
物に対して安定した金属異物の検出が可能な金属検出装
置の提供。 【解決手段】 金属検出装置200は、搬送コンベア2
とそのコンベアによって搬送されてくる被検査物の向き
を調整するガイド3を備えている。ガイド3は、金属検
出部1に向かって両端の距離が狭くなり、金属検出部1
に近い部分ではガイドの両端の距離が被検査物の幅と略
一致する形状を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、金属を検出する金
属検出装置に関し、例えば、被検査物内に含まれる金属
製の異物を検出する金属検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば、食品等の製造プロセスに
おいては、被検査物としての食品内に含まれる金属製の
異物(以下、金属異物)を検出する金属検出装置が広く
利用されている。
【0003】ここで、金属検出装置による金属異物の検
出方法について簡単に述べる。金属検出装置は、一般
に、1つの送信コイルと2つの受信コイルとを備えてお
り、その送信コイルに正弦波電流を流すことによって交
番磁界を発生させる。また、2つの受信コイルは、送信
コイルが発生させた交番磁界がそれぞれの受信コイルに
同様に鎖交するよう配置されている。このような状況に
おいて、金属異物が混入した被検査物が、当該交番磁界
中を通過すると、その磁界の状態が変化するため、2つ
の受信コイルに誘起されている電圧の平衡が崩れて出力
信号が発生する。そこで、この出力信号の変化に基づい
て、金属異物の有無を検出する。
【0004】しかしながら、被検査物の包装材として金
属が用いられている場合には、上記のような金属検出装
置に包装材を通しただけで出力信号に変化が生じる。ま
た、金属を含まない包装材であっても、被検査物の内容
物に水分や塩分等が含有されていることにより、導電性
を有する場合には出力信号に変化が生じる。本来、この
ような金属検出装置は、安全性が要求される食品等の内
容物に混入した金属異物を検出するための装置であるた
め、実際には被検査物(内容物)中に金属異物が混入さ
れていなくても、内容物の状態によって生じる出力信号
の僅かな変化によっても、被検査物の中に金属異物が混
入していると判断してしまう。従って、被検査物を金属
検出装置に通す場合には、その被検査物の内容物の状態
によって生じる磁界の変化をできるだけ小さくする必要
がある。
【0005】図1は、磁界中に置かれた被検査物の影響
を示す図である。これらの図に示されるように、磁界の
状態は、その磁界を遮る被検査物の面積に応じて変化す
る。即ち、被検査物が磁界を遮る面積が大きければ大き
い程、その被検査物によって生じる磁界の変化の影響は
大きくなる。
【0006】図2及び図3は、一般的な金属検出装置に
おける金属検出部の送信及び受信コイルの配置と磁界の
向きを示す図である。図2では、送信コイル51と2つ
の受信コイル52とが、それらのコイルの同軸上で、送
信コイル51を2つの受信コイル52で挟むように配置
されており、図2の右から左方向に磁界が発生してい
る。また、図3では、送信コイル53の下方に2つの受
信コイル54が対向して配置されている場合には、図3
の上から下方向に磁界が発生している。このような場
合、例えば、被検査物50のように長い形状の被検査物
に対しては、その被検査物の長手方向(図2及び図3の
搬送方向を示す矢印の方向)に移動させれば、検出時の
被検査物(内容物)による悪影響は最も小さくなる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実際の
製造(検査)プロセスにおいては、図2及び図3に示し
たような長い形状の被検査物50が、その長手方向に安
定して搬送され、金属検出装置100の金属検出部11
0の所定の領域を通過するとは限らず、図4に示すよう
な状態(姿勢)で搬送される場合もある。このような場
合には、被検査物50の配置の状態により、金属検査部
110に生じている不図示の磁界を遮る面積が大きくな
り、出力信号に変化が生じることによる検出精度の低下
が問題となる。
【0008】また、図5に示すように、被検査物50
が、その長手方向に搬送コンベア200によって搬送さ
れている場合であっても、金属検出装置100の金属検
出部110における通過位置が安定しない場合もある。
このような場合にも、コイルと被検査物との位置が変化
し、出力信号に変化が生じることによる検出精度の低下
が問題となる。
【0009】そこで、本発明は、被検査物中の金属異物
の有無を高感度で検出可能な金属検出装置の提供を目的
とし、特に、長い形状の被検査物に対して安定した金属
異物の検出が可能な金属検出装置の提供を目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明に係る金属検出装置は以下の構成を特徴とす
る。
【0011】即ち、被検査物に混入している金属異物
を、その被検査物の搬送手段による搬送中に検出する検
出手段を備える金属検出装置であって、前記被検査物の
向きを前記搬送手段の搬送方向に調整する調整手段によ
り、前記被検査物を、下流に設けた前記検出手段に対し
て、前記搬送手段の搬送方向と前記被検査物の長手方向
とが略平行な姿勢で通過させることを特徴とする
【0012】好ましくは、前記調整手段は、前記検出手
段の前方に備えられたガイドであって、そのガイドが、
前記検出手段に近づくに従って、前記被検査物の短手方
向の長さと略等しい幅となる形状であるとよい。
【0013】また、例えば前記検出手段は、磁界を発生
する送信コイルと、その送信コイルが発生する磁界を検
出する受信コイルとを備え、該磁界中に被検査物を配置
したときの磁界の変化に基づいて、該被検査物に含まれ
る金属異物を検出するとよい。
【0014】これらの構成により。被検査物中の金属異
物の有無を高感度で検出する。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る金属検出装置
の実施形態を図面を参照して説明する。
【0016】<第1の実施形態>本発明の第1の実施形
態を図6から図9を参照して説明する。
【0017】図6、本発明の第1の実施形態としての金
属検出装置の斜視図である。また、図7は、本発明の第
1の実施形態としての金属検出装置の上面図である。金
属検出装置200は、被検査物中に混入した金属異物を
検出する装置である。図6及び図7に示すように、金属
検出装置200は、被検査物の搬送手段としての搬送コ
ンベア2とそのコンベアによって搬送されてくる被検査
物4の向きを調整するガイド3を備えている。また、矢
印は、搬送コンベア2の搬送方向を示す。ガイド3は、
搬送コンベア2の両端に保持されており、且つ金属検出
部1の前方に具備されている。また、ガイド3は、金属
検出部1に向かって両端の距離が狭くなり、金属検出部
1に近い部分ではガイドの両端の距離が被検査物4の幅
と略一致する形状を有する。被検査物4は、金属異物が
混入しているか否かを検査すべき検査の対象である。
【0018】図8は、本発明の第1の実施形態としての
金属検出装置の金属検出部の構成を示すブロック図であ
る。
【0019】図中、金属検出部1は、検出ヘッド5と検
出回路6とにより構成されている。検出ヘッド5は、1
つの送信コイル7及び2つの受信コイル8、並びに発振
回路9で構成されている。送信コイル7は、所定の正弦
波電流が流されるコイルであり、受信コイル8は、送信
コイル7から発振された信号を受信するコイルである。
また、発振回路9は、前記の所定の正弦波電流を作り出
し、送信コイル7に供給する。本実施形態において、被
検査物4は、搬送コンベア2により、金属検出部1内部
の送信コイル7及び受信コイル8の中心を通過する。
【0020】尚、送信コイル7及び受信コイル8の位置
関係については、受信コイル8が送信コイル7を挟み、
同軸上に配置されている構成の検出ヘッドを採用してい
るが、例えば、受信コイル8が、送信コイル7の下方に
配置されている構成の検出ヘッドを用いても良いことは
言うまでもない。
【0021】検出回路6は、増幅回路10、同期検波回
路11、フィルタ回路12、そしてアナログ/デジタル
(A/D)変換回路13とを備えている。増幅回路10
は、受信コイル8からの信号を増幅させる回路である。
同期検波回路11は、増幅回路10からの信号に基づい
て、金属異物が混入している際の信号を抽出する回路で
ある。フィルタ回路12は、同期検波回路11の出力信
号に含まれるノイズを除去する回路である。A/D変換
回路13は、フィルタ回路12からの信号をデジタル信
号に変換する回路である。このデジタル信号は、不図示
のアラーム出力回路や、金属検出装置200が備える不
図示の演算モジュールに出力される。
【0022】上記のような構成を備える金属検出装置に
おいて、搬送コンベア2の搬送方向と被検査物4の長手
方向とが平行ではない状態で、被検査物4を搬送コンベ
ア2により搬送し、A/D変換回路13から出力される
出力値を、ガイド3を具備した場合と具備しない場合と
で測定した。
【0023】図9は、本発明の第1の実施形態としての
測定結果を示す図である。同図において、横軸には被検
査物4を検査した回数を、縦軸には出力値をプロットし
た。結果からも明らかなように、ガイド3を具備した場
合、出力値が、ガイド3を具備しない場合と比較して低
くなった。これは、ガイド3を具備した場合、被検査物
4は、搬送コンベア2による搬送によって金属検出部1
に近づくにつれ、ガイド3により向きが調節され、金属
検出部1を図2に示した搬送方向と被検査物の長手方向
とが略平行な姿勢で通過させることができたためであ
る。即ち、被検査物4が磁界に与える影響が、最も小さ
い姿勢で金属検出部1を通過していることを示してい
る。また、ガイド3を具備した場合には、出力値のバラ
ツキがガイド3を具備しない場合と比較して低減され
る。これは、ガイド3を具備したことにより、図7に示
すごとく、被検査物4に金属検出部1の所定の検査領域
を通過させることができるため、安定した検出精度を実
現できることを示している。
【0024】<第2の実施形態>図10は、本発明の第
2の実施形態としての金属検出装置の斜視図である。本
実施形態の金属検出装置300は、基本的に第1の実施
形態と同様であるため、異なる部分だけを説明する。本
実施形態の金属検出装置300は、前述のガイド3の代
わりに、複数のローラを備えるローラガイド20を備え
ている。ローラガイド20は、同図に示すように、その
設置状態や全体としての形状がガイド3と同様であるた
め、第1の実施形態において説明したガイド3による効
果を得られることに加え、以下の特有の効果を有する。
【0025】即ち、ローラガイド20の複数のローラ
は、不図示の駆動機構により、図10の手前側の各ロー
ラは時計方向に、そして図10の奥側の各ローラは反時
計方向に回転している。これにより、被検査物4が、搬
送コンベア2の搬送方向と被検査物4の長手方向とがあ
る程度大きな角度を成した姿勢でローラガイド20の領
域に搬送されきた場合でも、ローラガイド20により位
置が調整されるため、金属検出部1において良好な検出
が可能となる。
【0026】尚、ローラガイド20の駆動制御について
は、外部の装置により行っても、金属検出部1の検出回
路6で併せて行っても(この場合は、モータ制御回路が
追加される。)良いことは言うまでもない。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被検査物中の金属異物の有無を高感度で検出可能な金属
検出装置であって、特に、長い形状の被検査物に対して
安定した金属異物の検出が可能な金属検出装置の提供が
実現する。
【0028】
【図面の簡単な説明】
【図1】磁界中に置かれた被検査物の影響を示す図であ
る。
【図2】一般的な金属検出装置における金属検出部の送
信及び受信コイルの配置と磁界の向きを示す図である。
【図3】一般的な金属検出装置における金属検出部の送
信及び受信コイルの配置と磁界の向きを示す図である。
【図4】被検査物と金属検出装置との位置関係の例を示
す図である。
【図5】被検査物と金属検出装置との位置関係の例を示
す図である。
【図6】本発明の第1の実施形態としての金属検出装置
の斜視図である。
【図7】本発明の第1の実施形態としての金属検出装置
の上面図である。
【図8】本発明の第1の実施形態としての金属検出装置
の金属検出部の構成を示すブロック図である。
【図9】本発明の第1の実施形態としての測定結果を示
す図である。
【図10】本発明の第2の実施形態としての金属検出装
置の斜視図である。
【符号の説明】
1,110 金属検出部 2,200 搬送コンベア 3 ガイド 4,50 被検査物 5 検出ヘッド 6 検出回路 7,51,53 送信コイル 8,52,54 受信コイル 9 発振回路 10 増幅回路 11 同期検波回路 12 フィルタ回路 13 A/D変換回路 20 ローラガイド 100,200,300 金属検出装置

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検査物に混入している金属異物を、そ
    の被検査物の搬送手段による搬送中に検出する検出手段
    を備える金属検出装置であって、 前記被検査物の向きを前記搬送手段の搬送方向に調整す
    る調整手段により、前記被検査物を、下流に設けた前記
    検出手段に対して、前記搬送手段の搬送方向と前記被検
    査物の長手方向とが略平行な姿勢で通過させることを特
    徴とする金属検出装置。
  2. 【請求項2】 前記調整手段は、前記検出手段の前方に
    備えられたガイドであって、そのガイドが、前記検出手
    段に近づくに従って、前記被検査物の短手方向の長さと
    略等しい幅となる形状であることを特徴とする請求項1
    記載の金属検出装置。
  3. 【請求項3】 前記ガイドは、その形状に沿って複数の
    ローラを備えることを特徴とする請求項2記載の金属検
    出装置。
  4. 【請求項4】 前記検出手段は、磁界を発生する送信コ
    イルと、その送信コイルが発生する磁界を検出する受信
    コイルとを備え、該磁界中に被検査物を配置したときの
    磁界の変化に基づいて、該被検査物に含まれる金属異物
    を検出することを特徴とする請求項1乃至3の何れかに
    記載の金属検出装置。
  5. 【請求項5】 前記調整手段は、前記被検査物の長手方
    向を、前記送信コイルが発生する磁界と略平行な状態に
    調整することを特徴とする請求項4記載の金属検出装
    置。
  6. 【請求項6】 前記検出手段は、前記送信コイルを1
    つ、及び前記受信コイルを2つ備え、その2つのコイル
    により該送信コイルを挟むように、且つ、それぞれのコ
    イルの中心が同一軸上に配置されていることを特徴とす
    る請求項5記載の金属検出装置。
JP18551597A 1997-07-10 1997-07-10 金属検出装置 Withdrawn JPH1130672A (ja)

Priority Applications (1)

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JP18551597A JPH1130672A (ja) 1997-07-10 1997-07-10 金属検出装置

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JP18551597A JPH1130672A (ja) 1997-07-10 1997-07-10 金属検出装置

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JPH1130672A true JPH1130672A (ja) 1999-02-02

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ID=16172145

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JP18551597A Withdrawn JPH1130672A (ja) 1997-07-10 1997-07-10 金属検出装置

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JP (1) JPH1130672A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005292095A (ja) * 2004-04-06 2005-10-20 Yamato Scale Co Ltd 金属検出装置の自動感度チェック装置
JP2012519287A (ja) * 2009-03-02 2012-08-23 マイクロ−エプシロン・メステヒニク・ゲーエムベーハー・ウント・コンパニー・カー・ゲー 位置センサ

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Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20041005