JPH0384737A - フォーカス制御方法 - Google Patents
フォーカス制御方法Info
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- JPH0384737A JPH0384737A JP22037689A JP22037689A JPH0384737A JP H0384737 A JPH0384737 A JP H0384737A JP 22037689 A JP22037689 A JP 22037689A JP 22037689 A JP22037689 A JP 22037689A JP H0384737 A JPH0384737 A JP H0384737A
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Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は情報の記録・再生が光学的に行なわれる光デイ
スク装置におけるフォーカス制御方法に関するものであ
る。
スク装置におけるフォーカス制御方法に関するものであ
る。
近年になり大容量の情報が記録・再生できる光デイスク
装置が実用化されてきた。光デイスク装置においては、
微小なスポット径に集光したレーザ光を、情報の記録ト
ラック上に最小のスポット径の状態で照射することが必
要で、このために光学ヘッドをディスク変動に追随させ
るためのフォーカス制御が重要な技術となっている。フ
ォーカス制御は従来から多くの方法が提案され、実用化
されている。代表的な方法はナイフェツジ法、非点収差
法、臨界角法である。
装置が実用化されてきた。光デイスク装置においては、
微小なスポット径に集光したレーザ光を、情報の記録ト
ラック上に最小のスポット径の状態で照射することが必
要で、このために光学ヘッドをディスク変動に追随させ
るためのフォーカス制御が重要な技術となっている。フ
ォーカス制御は従来から多くの方法が提案され、実用化
されている。代表的な方法はナイフェツジ法、非点収差
法、臨界角法である。
第2図にフォーカス制御にナイフェツジ法を用いたとき
の光デイスク装置の光学ヘッド構成例を示す。半導体レ
ーザ1かも放射された直線偏光を有するレーザ光は偏光
ビームスプリッタ・−(PBS )2で反射され、17
4波長板3で円偏光に変換された後に、コリメータレン
ズ4で平行光に変換され、対物レンズ5で微小なスポッ
ト径に集光して、ディスク乙の情報記録媒体に照射する
。ディスク6の情報記録媒体で反射したレーザ光は、対
物レンズ5、コリメータレンズ4.1/4波長板6を透
過して再び直線偏光に変換さし、偏光ビームスプリンタ
ー2を透過し、ノ・−フプリズム7に入射する。ハーフ
プリズム7を透過したレーザ光は、ナイフェツジ21.
2分割光検出器22、差動増幅器23かも成るフォーカ
ス制御部20に入射され、ハーフプリズム7で反射され
たレーザ光はトラッキング制御部8に入射する。
の光デイスク装置の光学ヘッド構成例を示す。半導体レ
ーザ1かも放射された直線偏光を有するレーザ光は偏光
ビームスプリッタ・−(PBS )2で反射され、17
4波長板3で円偏光に変換された後に、コリメータレン
ズ4で平行光に変換され、対物レンズ5で微小なスポッ
ト径に集光して、ディスク乙の情報記録媒体に照射する
。ディスク6の情報記録媒体で反射したレーザ光は、対
物レンズ5、コリメータレンズ4.1/4波長板6を透
過して再び直線偏光に変換さし、偏光ビームスプリンタ
ー2を透過し、ノ・−フプリズム7に入射する。ハーフ
プリズム7を透過したレーザ光は、ナイフェツジ21.
2分割光検出器22、差動増幅器23かも成るフォーカ
ス制御部20に入射され、ハーフプリズム7で反射され
たレーザ光はトラッキング制御部8に入射する。
ここでトラッキング制御は従来からプッシュプル法が多
く用いられ、公知の技術であるから本願明細書において
は説明を省略する。
く用いられ、公知の技術であるから本願明細書において
は説明を省略する。
フォーカス制御部20で検出されたフォーカスエラー情
報に基づきフィードバンク回路系(図示せず)を通して
、対物レンズアクチ1.エータを構成するフォーカスコ
イル9を励起して対物レンズ5を光軸方向に移動させて
フォーカス制御を行な第3図でナイフェツジ法によるフ
ォーカスエラー検出の動作を説明する。第3図では動作
原理を説明するために直接に関与する光学部材のみを示
している。ディスク6の情報記録媒体により反射された
レーザ光はコリメータレンズ4を通過すると収束光とな
るが、ディスク6の情報記録媒体が合焦点位置になると
きの収束光のビームウェスト位置、即ちコリメータレン
ズ4の焦点位置300にナイフェツジ21を設けておく
。この場合はナイフェツジの後方に設置した2分割光検
出器22の受光面22a及び22bには等量の反射光が
入射されるために、差動増幅器23の出力はOとなる。
報に基づきフィードバンク回路系(図示せず)を通して
、対物レンズアクチ1.エータを構成するフォーカスコ
イル9を励起して対物レンズ5を光軸方向に移動させて
フォーカス制御を行な第3図でナイフェツジ法によるフ
ォーカスエラー検出の動作を説明する。第3図では動作
原理を説明するために直接に関与する光学部材のみを示
している。ディスク6の情報記録媒体により反射された
レーザ光はコリメータレンズ4を通過すると収束光とな
るが、ディスク6の情報記録媒体が合焦点位置になると
きの収束光のビームウェスト位置、即ちコリメータレン
ズ4の焦点位置300にナイフェツジ21を設けておく
。この場合はナイフェツジの後方に設置した2分割光検
出器22の受光面22a及び22bには等量の反射光が
入射されるために、差動増幅器23の出力はOとなる。
ところがディスク6が対物レンズ5に近づいてくると、
収束光のビームウェスト位置は点300の位置から遠ざ
かり、ナイフェツジ21により光がけられるようになり
、受光器22bの方により多くの光が入射するために差
動増幅器26の出力は負となる。逆にディスク6が対物
1ノンズ5から遠ざかると、受光器22aの方により多
くの光が入射するために差動増幅器26の出力は正とな
る。このように1〜て、2分割光検出器の差動検出を行
なうことによりフォ・−カス制御を行なっている。
収束光のビームウェスト位置は点300の位置から遠ざ
かり、ナイフェツジ21により光がけられるようになり
、受光器22bの方により多くの光が入射するために差
動増幅器26の出力は負となる。逆にディスク6が対物
1ノンズ5から遠ざかると、受光器22aの方により多
くの光が入射するために差動増幅器26の出力は正とな
る。このように1〜て、2分割光検出器の差動検出を行
なうことによりフォ・−カス制御を行なっている。
〔発明が解決1−ようとする課題3
以上述べた従来のナイフェツジ法によるフォーカス制御
の方法は、光ビームの一部を遮断するために光量損失が
大きいこと、また合焦点時に2分割光検出器22へ等量
の光ビームを入射させるためのナイフェツジ位置の設定
のための調整が複雑であること、更には2分割光検出器
22へ入射する光ビームの光量の差に応じた差動増幅を
行なうために、差動増幅器26のゲイン調整が複雑とな
ること等の各種の課題がある。
の方法は、光ビームの一部を遮断するために光量損失が
大きいこと、また合焦点時に2分割光検出器22へ等量
の光ビームを入射させるためのナイフェツジ位置の設定
のための調整が複雑であること、更には2分割光検出器
22へ入射する光ビームの光量の差に応じた差動増幅を
行なうために、差動増幅器26のゲイン調整が複雑とな
ること等の各種の課題がある。
本発明は上記の課題を解決12、簡素な構成で、高い精
度での調整が不要で、かつ安定に動作するフォーカス制
御方法を提供することを目的とする。
度での調整が不要で、かつ安定に動作するフォーカス制
御方法を提供することを目的とする。
情報記録媒体からの反射光の収束光路中に第1の光検出
器を設けて、反射光の光軸方向と直交する面で見た光強
度分布の強度最大部を含み、前記反射光の一部分の強度
を検出L、該検出出力を光強度記憶部に記憶せしめ、前
記第1の光検出器とは異なる位置に第2の光検出器を設
け、前記第1の光検出器で検出する領域よりも低い強度
領域の光ビームの強度を検出せしめ、前記第1の光検I
B器と前記第2の光検出器の出力信号に基づいて前記対
物レンズを制御するとと4)に前記対物レンズの移動前
後における前記光強度記憶部で記憶された光強度の差強
度がOとみなせる状態に制御l−てフォーカス制御を行
なう。
器を設けて、反射光の光軸方向と直交する面で見た光強
度分布の強度最大部を含み、前記反射光の一部分の強度
を検出L、該検出出力を光強度記憶部に記憶せしめ、前
記第1の光検出器とは異なる位置に第2の光検出器を設
け、前記第1の光検出器で検出する領域よりも低い強度
領域の光ビームの強度を検出せしめ、前記第1の光検I
B器と前記第2の光検出器の出力信号に基づいて前記対
物レンズを制御するとと4)に前記対物レンズの移動前
後における前記光強度記憶部で記憶された光強度の差強
度がOとみなせる状態に制御l−てフォーカス制御を行
なう。
一般にレーザ光の光強度分布はガウス型分布をしていて
、光ビームの中央部が強度が強く、周辺部は強度が低く
なっている。情報記録媒体からO反射光の収束光路中に
設けた2つの光検出器の中で、第1の光検出器は光ビー
ムの強度の大きい領域の光強度を検出してフォーカス位
置のズレ量を判定する。第2の光検出器は比較的低い強
度領域の光強度を検出してフォーカス位置のズレの方向
を判定する。第1の光検出器と第2の光検出器の両方の
出力信号に基づいて、フォーカスはずれを補正する方向
へフォーカス制御を行なうとき、対物レンズの移動の前
後における反射光強度の変化を検出する。フォーカス位
置に近づいてくると第1の光検出器で検出される光強度
は増加してくると共に、対物レンズの移動の前後におけ
る差強度は減少してくる。従って前述の差強度がOある
いはOとみなせる大きさになれば、その位置がペストフ
ォーカス位置と判定する。
、光ビームの中央部が強度が強く、周辺部は強度が低く
なっている。情報記録媒体からO反射光の収束光路中に
設けた2つの光検出器の中で、第1の光検出器は光ビー
ムの強度の大きい領域の光強度を検出してフォーカス位
置のズレ量を判定する。第2の光検出器は比較的低い強
度領域の光強度を検出してフォーカス位置のズレの方向
を判定する。第1の光検出器と第2の光検出器の両方の
出力信号に基づいて、フォーカスはずれを補正する方向
へフォーカス制御を行なうとき、対物レンズの移動の前
後における反射光強度の変化を検出する。フォーカス位
置に近づいてくると第1の光検出器で検出される光強度
は増加してくると共に、対物レンズの移動の前後におけ
る差強度は減少してくる。従って前述の差強度がOある
いはOとみなせる大きさになれば、その位置がペストフ
ォーカス位置と判定する。
以下に本発明の実施例を図面を用いて説明する。
第1図に本発明のフォーカス制御装置を用いた光デイス
ク装置の構成例を示す。
ク装置の構成例を示す。
番号1〜9は第2図で説明したのと同じ構成である。デ
ィスク6の情報記録媒体で反射されたレーザ光はコリメ
ータレンズ4で集光されて収束光となり、1/4波長板
6、偏光ビームスプリッタ−2を透過し、更にハーフプ
リズム7に入射する。
ィスク6の情報記録媒体で反射されたレーザ光はコリメ
ータレンズ4で集光されて収束光となり、1/4波長板
6、偏光ビームスプリッタ−2を透過し、更にハーフプ
リズム7に入射する。
ハーフプリズム7で反射されたレーザ光はトラッキング
制御部8に入射せられてトラッキング制御を行なう。ト
ラッキング制御はプッシュプル法が多く用いられていて
、公知の技術であるため本願明細書においては説明を省
略する。ハーフプリズム7を透過したレーザ光は本発明
によるフォーカス制御装置10に入射する。
制御部8に入射せられてトラッキング制御を行なう。ト
ラッキング制御はプッシュプル法が多く用いられていて
、公知の技術であるため本願明細書においては説明を省
略する。ハーフプリズム7を透過したレーザ光は本発明
によるフォーカス制御装置10に入射する。
以上の構成による光デイスク装置におけるフォーカス制
御装置10は以下に述べる構成部材から成る。
御装置10は以下に述べる構成部材から成る。
11は第1の光検出器、12は第2の光検出器で、いず
れもコリメータレンズ4による収束光路中に設置する。
れもコリメータレンズ4による収束光路中に設置する。
なお本例ではコリメータレンズ4による収束光の例を示
したが、他の構成の光ヘッドで、コリメータレンズ4に
よらないで他の集光用のレンズを用いて反射光を収束さ
せてもよい。
したが、他の構成の光ヘッドで、コリメータレンズ4に
よらないで他の集光用のレンズを用いて反射光を収束さ
せてもよい。
レーザ光の光強度分布はガウス型の強度分布を有するが
、第1の光検出器11はガウス型強度分布のピーク強度
を含み、ピーク強度付近の一部分の光強度を検出する。
、第1の光検出器11はガウス型強度分布のピーク強度
を含み、ピーク強度付近の一部分の光強度を検出する。
従って第1の光検出器11は対物レンズ5が合焦点位置
にあるとき、収束する反射光のビームウェスト位置ある
いはビームウェストに近い位置に設定する。第1の光検
出器11は反射光の強度の強い領域の光強度を検出して
フォーカスはずれの大きさを判定するために用いる。
にあるとき、収束する反射光のビームウェスト位置ある
いはビームウェストに近い位置に設定する。第1の光検
出器11は反射光の強度の強い領域の光強度を検出して
フォーカスはずれの大きさを判定するために用いる。
第2の光検出器12は第1の光検出器11とは異なる位
置に設定し、前述のピーク強度付近を除いた比較的光強
度の低い領域の光強度を検出する。
置に設定し、前述のピーク強度付近を除いた比較的光強
度の低い領域の光強度を検出する。
第2の光検出器12は第1の光検出器11の補助的動作
を行なうもので、フォーカス位置のズレの方向・・・・
・・対物レンズ5がディスク6に近い方にズしているか
、遠い方にズしているか・・・・・・を判定するもので
ある。
を行なうもので、フォーカス位置のズレの方向・・・・
・・対物レンズ5がディスク6に近い方にズしているか
、遠い方にズしているか・・・・・・を判定するもので
ある。
16は第1の光検出器11で検出された光強度を記憶す
る′光強度記憶部である。反射光強度をディジタル的に
記憶する場合は、第1の光検出器11で検出されたアナ
ログ量である光強度信号をA/D変換してメモリー回路
に記憶すればよい。
る′光強度記憶部である。反射光強度をディジタル的に
記憶する場合は、第1の光検出器11で検出されたアナ
ログ量である光強度信号をA/D変換してメモリー回路
に記憶すればよい。
この場合はA/D変換を行なうサンプリング周期JTs
に同期した記憶を行なう。反射光強度をアナログ的に記
憶する場合は、第1の光検出器11で検出されたアナロ
グ量である光強度信号をチャージポンプ回路に印加して
コンデンサーに貯えられる電荷量として記憶すればよい
。対物レンズ5がディスク6の合焦点位置から離れてい
る場合は、第1の光検出器11で検出される光強度は低
く、焦点位置に近づいてくるに従って光強度が増加して
くる。14は対物レンズ駆動制御部で、第1の光検出器
11と第2の光検出器12の両方の検出情報に基づいて
、対物レンズ5を駆動するための制御信号105を作成
して、対物レンズアクチュエータを構成するフォーカス
コイル9に励起電流を印加して対物レンズ5を駆動する
。ここで、第1の光検出器11の光強度に応じた大きさ
の制御信号を設定し、第2の光検出器12の光強度に応
じた制御方向への制御信号を設定する。
に同期した記憶を行なう。反射光強度をアナログ的に記
憶する場合は、第1の光検出器11で検出されたアナロ
グ量である光強度信号をチャージポンプ回路に印加して
コンデンサーに貯えられる電荷量として記憶すればよい
。対物レンズ5がディスク6の合焦点位置から離れてい
る場合は、第1の光検出器11で検出される光強度は低
く、焦点位置に近づいてくるに従って光強度が増加して
くる。14は対物レンズ駆動制御部で、第1の光検出器
11と第2の光検出器12の両方の検出情報に基づいて
、対物レンズ5を駆動するための制御信号105を作成
して、対物レンズアクチュエータを構成するフォーカス
コイル9に励起電流を印加して対物レンズ5を駆動する
。ここで、第1の光検出器11の光強度に応じた大きさ
の制御信号を設定し、第2の光検出器12の光強度に応
じた制御方向への制御信号を設定する。
15は差速度検出部で、対物レンズ5の移動の前後にお
いて第】の光検出器11で検出、記憶された光強度の差
の強度を検出する。例えば時刻tにおいて検出された光
強度It+ (信号110)に基づいて対物レンズ5
を移動させ、At、後の状態で検出された光強度1tx
(信号115)についてItz Ilt+を検出す
る。この差強度を対物レンズ5の駆動期間全体について
検出する。16はフォーカス状態判定部で、差速度検出
部15の出力信号に基づいて差強度の大きさの変化から
フォーカス状態の判定を行なう。
いて第】の光検出器11で検出、記憶された光強度の差
の強度を検出する。例えば時刻tにおいて検出された光
強度It+ (信号110)に基づいて対物レンズ5
を移動させ、At、後の状態で検出された光強度1tx
(信号115)についてItz Ilt+を検出す
る。この差強度を対物レンズ5の駆動期間全体について
検出する。16はフォーカス状態判定部で、差速度検出
部15の出力信号に基づいて差強度の大きさの変化から
フォーカス状態の判定を行なう。
対物レンズ5が合焦点位置から離れている場合は、第1
の光検出器11で検出される光強度は小さいが、合焦点
方向へ制御されているときの、前述の対物レンズ5の移
動前後の差強度は大きい。この場合は信号120により
フォーカス制御を続行する。
の光検出器11で検出される光強度は小さいが、合焦点
方向へ制御されているときの、前述の対物レンズ5の移
動前後の差強度は大きい。この場合は信号120により
フォーカス制御を続行する。
合焦点位置に近づいてくると、第1の光検出器11で検
出される光強度は大きくなり、前述の対物レンズ5の移
動前後の差強度は小さくなってくる。合焦点位置では第
1の光検出器11で検出される光強度は最大となり、前
述の差強度は0あるいはほぼOとみなせる状態と1よる
。合焦点位置と判定し、たら信号125を対物レンズ駆
動制御部14に印加して、フォーカスコイル9への駆動
信号を一定の制御状態に保持して対物レンズ5の移動を
停止さセる。なおフォーカス状態判定部160判足動作
を更に確実に行なわせるために、差速度検出部15の出
力信号の他に、第1の光検出器11及び第2の光検出器
12の出力信号を入力し。
出される光強度は大きくなり、前述の対物レンズ5の移
動前後の差強度は小さくなってくる。合焦点位置では第
1の光検出器11で検出される光強度は最大となり、前
述の差強度は0あるいはほぼOとみなせる状態と1よる
。合焦点位置と判定し、たら信号125を対物レンズ駆
動制御部14に印加して、フォーカスコイル9への駆動
信号を一定の制御状態に保持して対物レンズ5の移動を
停止さセる。なおフォーカス状態判定部160判足動作
を更に確実に行なわせるために、差速度検出部15の出
力信号の他に、第1の光検出器11及び第2の光検出器
12の出力信号を入力し。
て、3つの情報に基づいてフォーカス状態の判定を行な
わせてもよい。
わせてもよい。
第4図で反射光の収束光路中に設置する光検出器の検出
動作を説明する。第4図(イ)はディスク6からの収束
する反射光と光検出器の配置の関係を示すものである。
動作を説明する。第4図(イ)はディスク6からの収束
する反射光と光検出器の配置の関係を示すものである。
収束光40は合焦点状態、収束光41は対物レンズ5に
対してディスク6が近づいた状態(以下N状態と略す)
、収束光42は対物レンズ5に対してディスク6が遠ざ
かった状態(以下F状態ε略す)である。咎々の収束光
のビームウェスト位置は、収束光40.41.42に対
応1. f点400.410.420の位置になる。
対してディスク6が近づいた状態(以下N状態と略す)
、収束光42は対物レンズ5に対してディスク6が遠ざ
かった状態(以下F状態ε略す)である。咎々の収束光
のビームウェスト位置は、収束光40.41.42に対
応1. f点400.410.420の位置になる。
第1の光検出器11は、収束光40のビームウェスト位
置400に設定し、第2の光検出器12は収束光42の
ビームウェスト位置420の付近に設定する。第4図(
ロ)、(ハ)の曲線45はレーザ光の光強度分布のガウ
ス強度分布を示すもので、グラフの横軸は光ビームの光
軸方向に直交するビーム直径方向の位置d、縦軸は光強
度である。d二〇の中心位置においてピーク強度450
を有する。
置400に設定し、第2の光検出器12は収束光42の
ビームウェスト位置420の付近に設定する。第4図(
ロ)、(ハ)の曲線45はレーザ光の光強度分布のガウ
ス強度分布を示すもので、グラフの横軸は光ビームの光
軸方向に直交するビーム直径方向の位置d、縦軸は光強
度である。d二〇の中心位置においてピーク強度450
を有する。
第4図(ロ)の斜線部46は第1の光検出器11で検出
する光強度領域で、ピーク強度を含み、光強度分布にお
ける一部分の光強度を検出する。
する光強度領域で、ピーク強度を含み、光強度分布にお
ける一部分の光強度を検出する。
第4図←号の斜線部47は第2の光検出器12で検出す
る光強度領域で、ピーク強度領域を除いた低い強度領域
の光強度を検出する。ここで第2の光検出器12を収束
光42のe−ムウエスト位置420の付近に設置すれば
、収束光42の状態では第2の光検出器12に入射する
光ビームは0で、収束光40及び収束光41の状態で第
2の光検出器12に光ビームが入射されてくる。従って
第2の光検出器12で検出される光強度によりノオーカ
スはずれの方向の検出が可能である。本例は第2の光検
出器12をビームウェスト位置420の付近に設置し、
収束光40及び収束光41を検出する構成を示したが、
この場合に光ビーム検出受光面を小さくして収束光41
だげの光強度を検出してもよく、更にはビームウェスト
位置400と410の中間に第2の光検出器12を設置
する構成にしてもよい。
る光強度領域で、ピーク強度領域を除いた低い強度領域
の光強度を検出する。ここで第2の光検出器12を収束
光42のe−ムウエスト位置420の付近に設置すれば
、収束光42の状態では第2の光検出器12に入射する
光ビームは0で、収束光40及び収束光41の状態で第
2の光検出器12に光ビームが入射されてくる。従って
第2の光検出器12で検出される光強度によりノオーカ
スはずれの方向の検出が可能である。本例は第2の光検
出器12をビームウェスト位置420の付近に設置し、
収束光40及び収束光41を検出する構成を示したが、
この場合に光ビーム検出受光面を小さくして収束光41
だげの光強度を検出してもよく、更にはビームウェスト
位置400と410の中間に第2の光検出器12を設置
する構成にしてもよい。
第5図に本発明のフォーカス制御装置で用いる光検出器
の構成例を示す。第5図(イ)、(ロ)は第1の光検出
器11の構成例である。
の構成例を示す。第5図(イ)、(ロ)は第1の光検出
器11の構成例である。
ディスク乙の情報記録媒体の情報の再生をトラフキング
制御部8で受光する光強度から得る場合は、フォーカス
制御部10で受光する光強度は小さくてよい。
制御部8で受光する光強度から得る場合は、フォーカス
制御部10で受光する光強度は小さくてよい。
第5図(イ)は上記の場合の第1の光検出器11の構成
を示したもので、例えば正方形の形状を持つ光ビーム受
光面50に対して、中央部520部分のみを受光面とし
、その周辺部51には斜線で示したマスキングを施す構
成としたもので、中央部52の領域で光ビームのピーク
強度部分を受光すルヨウにし、マスキングを施した部分
で光ビームをカットすればよい。
を示したもので、例えば正方形の形状を持つ光ビーム受
光面50に対して、中央部520部分のみを受光面とし
、その周辺部51には斜線で示したマスキングを施す構
成としたもので、中央部52の領域で光ビームのピーク
強度部分を受光すルヨウにし、マスキングを施した部分
で光ビームをカットすればよい。
第5図(ロ)は第1の光検出器11の第2の構成例を示
すもので、フォーカス制御部10に入射する光ビームの
光量損失を少なくして光量を有効に利用するためのもの
で、フォーカス制御信号から各種の情報処理を行なうた
めに有利である。光ビーム受光面50に対して中央部5
2を設げるのは前述の(イ)の場合と同様であるが、中
央部52の両側に幅の狭い遮光帯56及び54を設け、
遮光帯の外側の領域55及び56で光ビームを受光する
。
すもので、フォーカス制御部10に入射する光ビームの
光量損失を少なくして光量を有効に利用するためのもの
で、フォーカス制御信号から各種の情報処理を行なうた
めに有利である。光ビーム受光面50に対して中央部5
2を設げるのは前述の(イ)の場合と同様であるが、中
央部52の両側に幅の狭い遮光帯56及び54を設け、
遮光帯の外側の領域55及び56で光ビームを受光する
。
光ビームの全強度は受光面52.55.56で受光され
た総和強度で得られる。この場合においても、フォーカ
ス状態の判定は中央部52で検出される光強度の大きさ
で行なう。第5図(口lは中央部の受光面5□は単一の
受光面から構成される例を示したが、中央部の受光面5
2を更に多分割化した構成にすることもできる。中央部
の受光面52をn分割した場合に各々の受光セル内にお
いて最も光強度の強い受光セルを決定して、そのときの
強度情報からフォーカス状態の判定を行なってもよい。
た総和強度で得られる。この場合においても、フォーカ
ス状態の判定は中央部52で検出される光強度の大きさ
で行なう。第5図(口lは中央部の受光面5□は単一の
受光面から構成される例を示したが、中央部の受光面5
2を更に多分割化した構成にすることもできる。中央部
の受光面52をn分割した場合に各々の受光セル内にお
いて最も光強度の強い受光セルを決定して、そのときの
強度情報からフォーカス状態の判定を行なってもよい。
この場合は反射光のピーク強度位置が光軸に直交する方
向にズした場合でもズレに影響されないで安定にピーク
強度を含んだ領域の反射光強度の検出が可能である。こ
の場合、多分割化セルの単一の受光セルiで検出された
光強度が小さくなるため、例えば受光セルi、i−1及
びi+1で検出された光強度の和を検出して光強度が大
きい状態でフォーカス状態の判定を行なえばよい。
向にズした場合でもズレに影響されないで安定にピーク
強度を含んだ領域の反射光強度の検出が可能である。こ
の場合、多分割化セルの単一の受光セルiで検出された
光強度が小さくなるため、例えば受光セルi、i−1及
びi+1で検出された光強度の和を検出して光強度が大
きい状態でフォーカス状態の判定を行なえばよい。
第5図(/1は第2の光検出器12の構成例を示すもの
である。光ビーム受光面5oの中央部に幅の狭い遮光帯
57を設けて左右の受光面58及び59で反射光の検出
を行なう。第4図(イ)に示した位置に第2の光検出器
12を設置した場合、例えば、受光面59には光ビーム
が入射され、受光面58には光ビームが入射されない場
合は、収束光40の状態であると判定し、受光面58.
59共に光ビームが入射されている場合は収束光41の
状態であると判定することができるため、フォーカスは
ズレの方向の検出が更に容易となる。
である。光ビーム受光面5oの中央部に幅の狭い遮光帯
57を設けて左右の受光面58及び59で反射光の検出
を行なう。第4図(イ)に示した位置に第2の光検出器
12を設置した場合、例えば、受光面59には光ビーム
が入射され、受光面58には光ビームが入射されない場
合は、収束光40の状態であると判定し、受光面58.
59共に光ビームが入射されている場合は収束光41の
状態であると判定することができるため、フォーカスは
ズレの方向の検出が更に容易となる。
第6図で本発明のフォーカス制御装置10によるフォー
カス状態と光検出器11及び12で検出される光強度の
関係を説明する。第6図(イ)は第1の光検出器11で
検出される光強度とフォーカス状態の関係を示すグラフ
で、横軸は対物レンズ5とディスク6の情報記録媒体と
の間の光軸方向の距離りで、2=0は合焦点位置、Z〉
0はディスク6が近づいたときのN状態、z<oはディ
スク6が遠ざかったときのF状態に対応する。グラフの
縦軸は光強度で、Z=Oにおいて最大強度を有し、Z=
Oからはズしてくるに従って強度は低下する。このとき
Z〉0、Zく0に対してほぼ同じ形状で変化する。この
ときの光強度の変化を曲線60で示す。第6図(ロ)の
グラフは第2の光検出器12で検出される光強度とフォ
ーカス状態の関係を示すもので、第4図(−()で示し
た位置に第2の光検出器12を設置した場合、ZくOの
F状態においては第2の光検出器12に入射される光ビ
ームは殆んど存在しないため光強度はほぼ0となり、Z
=0に近づくに従って光強度は増加し、Z>。
カス状態と光検出器11及び12で検出される光強度の
関係を説明する。第6図(イ)は第1の光検出器11で
検出される光強度とフォーカス状態の関係を示すグラフ
で、横軸は対物レンズ5とディスク6の情報記録媒体と
の間の光軸方向の距離りで、2=0は合焦点位置、Z〉
0はディスク6が近づいたときのN状態、z<oはディ
スク6が遠ざかったときのF状態に対応する。グラフの
縦軸は光強度で、Z=Oにおいて最大強度を有し、Z=
Oからはズしてくるに従って強度は低下する。このとき
Z〉0、Zく0に対してほぼ同じ形状で変化する。この
ときの光強度の変化を曲線60で示す。第6図(ロ)の
グラフは第2の光検出器12で検出される光強度とフォ
ーカス状態の関係を示すもので、第4図(−()で示し
た位置に第2の光検出器12を設置した場合、ZくOの
F状態においては第2の光検出器12に入射される光ビ
ームは殆んど存在しないため光強度はほぼ0となり、Z
=0に近づくに従って光強度は増加し、Z>。
のN状態では、はぼ一定の強度となる。このときの光強
度の変化を曲線61で示す。時刻【において第1の光検
出器11で検出された光強度が曲線60の点620強度
、第2の光検出器12で検出された光強度が曲線610
点64の強度であれば、F状態であると判定してZ>o
の方向への制御を行ない、時刻t +Jt、で曲線60
の点66に示す強度が検出される。時刻tにおいて第1
の光検出器11で検出された光強度が曲線6oの点65
0強度、第2の光検出器12で検出された光強度が曲線
61の点67の強度であれば、N状態であると判定して
Zく0の方向へ制御を行ない、時刻t −1−Jt、で
曲線60の点66に示す強度が検出される。第6図(/
→は(イ)に示した曲線6oが微分されたことに等しい
差分強度のグラフである。この差分強度は焦点距離方向
の変化に関する強度変化を示すもので、ZくOのF状態
では差分強度は正、Z〈0のN状態では差分強度は負と
すれば、S字型の曲線68で示される。曲線60におい
て、対物レンズ5の移動前後の強度が点62と点66の
場合は、差分強度は曲騨68の点620となり、同じく
強度が点65と点66の場合には、差分強度は曲線68
0点650となる。合焦点位置においては、曲線60の
最大強度600が得られ、この場合の差分強度は曲線6
8におい1点610に示すようにOである。従って合焦
点方向ドフォーカス制御を行なうとき、差分強度がOと
みなせる状態を検出すればフォーカス位置Z?0に制御
ができる。なお差分強度の他に、曲線60及び曲線61
で示される各々の光強度の情報も同時に判定に用いれば
、フォーカス制御がより確実に行なわれる。
度の変化を曲線61で示す。時刻【において第1の光検
出器11で検出された光強度が曲線60の点620強度
、第2の光検出器12で検出された光強度が曲線610
点64の強度であれば、F状態であると判定してZ>o
の方向への制御を行ない、時刻t +Jt、で曲線60
の点66に示す強度が検出される。時刻tにおいて第1
の光検出器11で検出された光強度が曲線6oの点65
0強度、第2の光検出器12で検出された光強度が曲線
61の点67の強度であれば、N状態であると判定して
Zく0の方向へ制御を行ない、時刻t −1−Jt、で
曲線60の点66に示す強度が検出される。第6図(/
→は(イ)に示した曲線6oが微分されたことに等しい
差分強度のグラフである。この差分強度は焦点距離方向
の変化に関する強度変化を示すもので、ZくOのF状態
では差分強度は正、Z〈0のN状態では差分強度は負と
すれば、S字型の曲線68で示される。曲線60におい
て、対物レンズ5の移動前後の強度が点62と点66の
場合は、差分強度は曲騨68の点620となり、同じく
強度が点65と点66の場合には、差分強度は曲線68
0点650となる。合焦点位置においては、曲線60の
最大強度600が得られ、この場合の差分強度は曲線6
8におい1点610に示すようにOである。従って合焦
点方向ドフォーカス制御を行なうとき、差分強度がOと
みなせる状態を検出すればフォーカス位置Z?0に制御
ができる。なお差分強度の他に、曲線60及び曲線61
で示される各々の光強度の情報も同時に判定に用いれば
、フォーカス制御がより確実に行なわれる。
本発明のフォーカス制御装R10のフォーカス制御の感
度は第1の光検出器11で検出するピーク強度付近の光
強度に依存する。第4図(ロ)に示!。
度は第1の光検出器11で検出するピーク強度付近の光
強度に依存する。第4図(ロ)に示!。
た検出する領域46が広いほどフォーカス制御感度は低
下するため、検出領域46は狭いのが望ましい。実験結
果によれば、反射光のビーム直後(ピーク強度の136
5%の強度域となる範囲)V対l−でピーク位置を中心
L1.て〜20%以下の領域の光強度を検出すれば、フ
ォーカス制御の感度が高まる。更に、合焦点位置の検出
精度を高めるには、制御方向に対して得られる差分強度
の正・負の符号が反転する状態を検出1〜、その状態か
ら一定量反転させた状態に制御すればよい。
下するため、検出領域46は狭いのが望ましい。実験結
果によれば、反射光のビーム直後(ピーク強度の136
5%の強度域となる範囲)V対l−でピーク位置を中心
L1.て〜20%以下の領域の光強度を検出すれば、フ
ォーカス制御の感度が高まる。更に、合焦点位置の検出
精度を高めるには、制御方向に対して得られる差分強度
の正・負の符号が反転する状態を検出1〜、その状態か
ら一定量反転させた状態に制御すればよい。
以上述べたフォーカス制御装置10におち・て、フォー
カス状態の判定はマイクロプロ47ザーのソフトウェア
演算で行なう。第7図に前述1〜たフォーカス判定動作
を説明するフローチャート図を示す。フォーカス制御を
開始してフォーカス位置に設定されるまでの動作につい
てのフローである。
カス状態の判定はマイクロプロ47ザーのソフトウェア
演算で行なう。第7図に前述1〜たフォーカス判定動作
を説明するフローチャート図を示す。フォーカス制御を
開始してフォーカス位置に設定されるまでの動作につい
てのフローである。
ステップ700は第1の光強度検出で、第1の光検出器
11による光強度の検出を行ない、ステップ702で検
出された第1の光強度をメモリ・−する。ステップ70
4は第2の光強度検出で、第2の光検出器12による光
強度の検出を行なう。
11による光強度の検出を行ない、ステップ702で検
出された第1の光強度をメモリ・−する。ステップ70
4は第2の光強度検出で、第2の光検出器12による光
強度の検出を行なう。
ステップ706はフォーカスはずれ方向の検出を行なう
もので、ステップ704で検出された第2の光強度の大
きさからフォーカスはずれがN状態、F状態のいずれで
あるかを判定する。ステップ708でフォーカスはずれ
を補正する方向へ対物レンズ5を移動させる。このとき
の移動量はステップ700で検出された光強度の大きさ
に依存して決定する。ステップ710け第1の光強度検
出、ステップ712は第1の光強度メモリーで、前述の
ステップ700及び702と同様の動作である。
もので、ステップ704で検出された第2の光強度の大
きさからフォーカスはずれがN状態、F状態のいずれで
あるかを判定する。ステップ708でフォーカスはずれ
を補正する方向へ対物レンズ5を移動させる。このとき
の移動量はステップ700で検出された光強度の大きさ
に依存して決定する。ステップ710け第1の光強度検
出、ステップ712は第1の光強度メモリーで、前述の
ステップ700及び702と同様の動作である。
ステップ714は差速度検出で、対物レンズの移動前後
の第1の光強度の差の強度を検出する。対物レンズの移
動前の第1の光強度をVn 、移動後の第1の光強度を
VA とするとき、■^−Va’&検出する。このと
き、フォーカス位置がF状態のときはVA V@の符
号は正、フォーカス位置がN状態のときはVA−■8の
符号は負ε約束l−ておく。
の第1の光強度の差の強度を検出する。対物レンズの移
動前の第1の光強度をVn 、移動後の第1の光強度を
VA とするとき、■^−Va’&検出する。このと
き、フォーカス位置がF状態のときはVA V@の符
号は正、フォーカス位置がN状態のときはVA−■8の
符号は負ε約束l−ておく。
ステップ716は差強度の符号の反転を判定する。
符号反転が起きていないときは、差強度が0となる状態
に達l−てt・ないでまだ前の状態と同じF状態あるい
はN状態にあり、フォーカス制御を続行する必要がある
ため、ステップ718でメモリーの入れ替えを行なう。
に達l−てt・ないでまだ前の状態と同じF状態あるい
はN状態にあり、フォーカス制御を続行する必要がある
ため、ステップ718でメモリーの入れ替えを行なう。
即ち、対物レンズ移動後IgI検出されていた第1の光
強度のメモリー場所を移動前のメモリー場所に入れ替え
る。このようにし。
強度のメモリー場所を移動前のメモリー場所に入れ替え
る。このようにし。
てVaV人の符号が反転するまで対物レンズ5の移動を
行なわせる。符号が反転したら、差強度が0となる状態
に達しで、その状態を飛び越したことになるから、ステ
ップ720で一定量だけ対物レンズを今までの制御方向
とは逆の方向に移動させ℃補正する。この状態がベスト
フォーカス位置であり、フォーカス制御を終了する。
行なわせる。符号が反転したら、差強度が0となる状態
に達しで、その状態を飛び越したことになるから、ステ
ップ720で一定量だけ対物レンズを今までの制御方向
とは逆の方向に移動させ℃補正する。この状態がベスト
フォーカス位置であり、フォーカス制御を終了する。
以−Lの説明で明らかな如く、本発明によれば反射光の
収束光路中にフォーカス制御をするために設ける検出器
を高い位置調整精度を要するこに−なく設置することが
可能で、光ヘッドの小型化、低コスト化が実現できる。
収束光路中にフォーカス制御をするために設ける検出器
を高い位置調整精度を要するこに−なく設置することが
可能で、光ヘッドの小型化、低コスト化が実現できる。
又、本発明では反射光の光ビームのパターン変化と共に
光強度の短期間内での時間的な差動検出を行なうため、
レーザ光の強度変化等に伴う外乱の影響を受げにくい安
定1゜た高精度のフォーカス制御が実現できる。更に、
2つの光検出器により広い範囲をカバーしているので、
フォーカス制御のダイナミックレンジも広くとれる。な
お本発明のフォーカス制御装置は光デイスク装置の他に
、光計測分野でも適用可能である。
光強度の短期間内での時間的な差動検出を行なうため、
レーザ光の強度変化等に伴う外乱の影響を受げにくい安
定1゜た高精度のフォーカス制御が実現できる。更に、
2つの光検出器により広い範囲をカバーしているので、
フォーカス制御のダイナミックレンジも広くとれる。な
お本発明のフォーカス制御装置は光デイスク装置の他に
、光計測分野でも適用可能である。
第1図は本発明のフォーカス制御方法を用いた光デイス
ク装置の構成例を示す説明図、第2図はフォーカス制御
に従来のナイフェツジ法を用いた場合の光デイスク装置
の構成例を示す光路図、第3図は従来例のナイフェツジ
法の動作を説明する光路図、第4図(イ)〜(/1は本
発明によるフォーカス制御装置における光検出器の配置
と光ビームの検出動作を示す説明図、第5図(イ)〜←
号は本発明によるフォーカス制御装置の光検出器の構成
例を示す説明図、第6図(イ)〜(/1は本発明による
フォーカス制御装置のフォーカス状態と、光検出器で検
出された光強度の関係を示す説明図、第7図は本発明の
フォーカス制御を行なうときの動作を説明するフローチ
ャート図である。 1・・・・・・半導体レーザ、 4・・・・・・コリメータレンズ、 5・・・・・・対物レンズ、 6・・・・・・ディスク、 7・・・・・・ハーフプリズム、 11・・・・・・第1の光検出器、 12・・・・・・第2の光検出器、 16・・・・・・光強度記憶部、 14・・・・・・対物レンズ駆動制御部、15・・・・
・・差速度検出部、 16・・・・・・フォーカス状態判定部。 第5図 第6図 F状態 N法息 笛7図
ク装置の構成例を示す説明図、第2図はフォーカス制御
に従来のナイフェツジ法を用いた場合の光デイスク装置
の構成例を示す光路図、第3図は従来例のナイフェツジ
法の動作を説明する光路図、第4図(イ)〜(/1は本
発明によるフォーカス制御装置における光検出器の配置
と光ビームの検出動作を示す説明図、第5図(イ)〜←
号は本発明によるフォーカス制御装置の光検出器の構成
例を示す説明図、第6図(イ)〜(/1は本発明による
フォーカス制御装置のフォーカス状態と、光検出器で検
出された光強度の関係を示す説明図、第7図は本発明の
フォーカス制御を行なうときの動作を説明するフローチ
ャート図である。 1・・・・・・半導体レーザ、 4・・・・・・コリメータレンズ、 5・・・・・・対物レンズ、 6・・・・・・ディスク、 7・・・・・・ハーフプリズム、 11・・・・・・第1の光検出器、 12・・・・・・第2の光検出器、 16・・・・・・光強度記憶部、 14・・・・・・対物レンズ駆動制御部、15・・・・
・・差速度検出部、 16・・・・・・フォーカス状態判定部。 第5図 第6図 F状態 N法息 笛7図
Claims (1)
- レーザ光源から放射されるレーザ光を対物レンズで集光
して情報記録媒体に照射せしめ、該情報記録媒体からの
反射光を集光して光検出器で受光し、該光検出器による
出力信号に基づいて前記対物レンズの焦点位置が常に前
記情報記録媒体上になるようにするフォーカス制御装置
において、前記情報記録媒体からの反射光の収束光路中
に第1の光検出器を設けて、前記反射光の光軸方向と直
交する面で見た光強度分布の強度最大部を含む一部分の
反射光を検出し、該検出出力を光強度記憶部に記憶せし
め、前記第1の光検出器とは異なる位置に第2の光検出
器を設け、前記第1の光検出器で検出する領域よりも低
い強度領域の反射光の強度を検出せしめ、前記第1の光
検出器と前記第2の光検出器の出力信号に基づいて前記
対物レンズを制御するとともに前記対物レンズの移動前
後における前記光強度記憶部で記憶された光強度の差強
度が0とみなせる状態に制御してフォーカス制御を行な
うことを特徴とするフォーカス制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22037689A JPH0384737A (ja) | 1989-08-29 | 1989-08-29 | フォーカス制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22037689A JPH0384737A (ja) | 1989-08-29 | 1989-08-29 | フォーカス制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0384737A true JPH0384737A (ja) | 1991-04-10 |
Family
ID=16750156
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22037689A Pending JPH0384737A (ja) | 1989-08-29 | 1989-08-29 | フォーカス制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0384737A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996018337A1 (en) * | 1994-12-13 | 1996-06-20 | Alcon Laboratories, Inc. | Focusing method for a corneal topographer |
| US6215741B1 (en) | 1997-04-14 | 2001-04-10 | Nec Corporation | Optical recording device having a defect detection system |
| JP2008310107A (ja) * | 2007-06-15 | 2008-12-25 | Sunx Ltd | 合焦装置及びこれを備えた加工装置 |
| JP2010142846A (ja) * | 2008-12-19 | 2010-07-01 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 3次元走査型レーザ加工機 |
-
1989
- 1989-08-29 JP JP22037689A patent/JPH0384737A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996018337A1 (en) * | 1994-12-13 | 1996-06-20 | Alcon Laboratories, Inc. | Focusing method for a corneal topographer |
| US6215741B1 (en) | 1997-04-14 | 2001-04-10 | Nec Corporation | Optical recording device having a defect detection system |
| JP2008310107A (ja) * | 2007-06-15 | 2008-12-25 | Sunx Ltd | 合焦装置及びこれを備えた加工装置 |
| JP2010142846A (ja) * | 2008-12-19 | 2010-07-01 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 3次元走査型レーザ加工機 |
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