JPH0961372A

JPH0961372A - 印判の印面自動検査方法

Info

Publication number: JPH0961372A
Application number: JP24244995A
Authority: JP
Inventors: Mitsuyoshi Koizumi; 光義小泉; Takahito Tabata; 高仁田畑
Original assignee: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1995-08-28
Filing date: 1995-08-28
Publication date: 1997-03-07

Abstract

(57)【要約】【課題】印判の印面の記号や文字の印面データの良否
を確実、迅速に自動検査する。【解決手段】印面12に対して、斜め方向に照明光Ｌ_T
を照射してその印面データを、垂直方向に設けたＴＶカ
メラ322 により撮像し、撮像した画像データをメモリＡ
331 に記憶し、正しい印面データを基準データとしてメ
モリＢ332 に記憶し、比較判定部333 により画像データ
を基準データに比較して、記号や文字の良否を判定す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、捺印用の印判
の、記号や文字などが彫刻された印面の良否を自動検査
する方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】各種の物品や書類などには、識別や整理
などのために、印判により記号，文字などが捺印されて
いる。図２により捺印用の印判を説明する。(a) はその
構造の一例を示し、印判１は、適当な硬度の合成ゴムま
たはプラスチックを印材11とし、その表面に所定の記号
や文字など（印面データとよぶこととする）を彫刻して
印面12が作られ、印材11の裏面はクッション材13を介し
て、木やプラスチック製のハンドル14に接着されてい
る。図２(b) は、半導体製品に捺印される印面データの
一例を示し、□印で示す社名の記号（ロゴマーク）や、
規格や型式番号などを示す英数字が配列されており、記
号や英数字の大きさはかなり小さくて、例えば０．５〜
１ｍｍ角の細字が多い。多種多様の半導体製品はそれぞ
れ規格や型式番号が異なり、またこれらには次々と変更
されるものがあるので、多数の印判が必要に応じて準備
されて使用されている。

【０００３】上記の印面データは、一般的には英数字の
ほか漢字やかな文字もあり、これらを手作業で彫刻する
こともあるが、印面データが細字、または多種多様な場
合は、手作業は困難または非能率であるので、これを自
動彫刻する自動彫刻システムが使用されている。図３は
自動彫刻システム２の概略構成を示し、キーボード（Ｋ
Ｂ）21により、彫刻すべき彫刻データをメモリ（ＭＥ
Ｍ）22に設定し、これをマイクロプロセッサ（ＭＰＵ）
23により読出し、制御回路24の制御により彫刻機構25を
駆動して印材11に自動彫刻するもので、印面データは字
形が複雑、簡単にかかわらず正確迅速に彫刻され、また
彫刻データを任意に変更できるなど効率的なものであ
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】さて、彫刻された印面
データは、その記号や文字に誤字や脱字または欠けなど
の不良部分があると、印判１は用をなさないので、その
良否が検査されている。通常の検査方法としては、印面
12にインクを染ませて用紙に捺印し、これを目視により
読み取って良否が判定されているが、この用紙の読み取
りと良否の判定を、文字認識装置により行う方法もあ
る。ただし、このような捺印検査方法は、印判使用者が
検査する場合は、それなりの効果があるが、印判メーカ
の場合は、印面12に一旦インクを染ませると印判１の商
品価値が下るので、検査方法としては不適当である。そ
こで捺印方法によらず、印判自体における印面データを
迅速に検査する方法が望ましい。この発明は上記に鑑み
てなされたもので、印判自体の印面データを確実、迅速
に検査する自動検査方法を提供することを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】この発明は、印判の印面
自動検査方法であって、所定の記号，文字などの印面デ
ータが彫刻された印面に対して斜め方向に照明光を照射
して、彫刻された印面データを印面に対して垂直方向に
設けたＴＶカメラにより撮像する。撮像された画像デー
タを第１メモリに記憶し、また、正しい印面データを基
準データとして第２メモリに記憶し、比較判定部によ
り、画像データを基準データに比較して、印面データの
記号，文字の良否を判定する。上記において、印材に正
しく彫刻された印面データを、予めＴＶカメラにより撮
像し、撮像された画像データを基準データとする。また
は、印材に彫刻する彫刻データを自動彫刻システムのメ
モリに設定し、彫刻機構により自動彫刻する場合は、メ
モリに設定された彫刻データを基準データとする。

【０００６】

【発明の実施の形態】上記の自動検査方法においては、
所定の記号，文字などの印面データが彫刻された印面に
対して、斜め方向に照明光が照射されて印面データがＴ
Ｖカメラにより撮像される。ここで、彫刻された記号や
文字の立体形状をみると、それぞれの側面は印面に対し
てほぼ垂直をなしており、この側面に対して斜め方向に
照射された照明光は、主として横方向に反射されるの
で、垂直方向に設けたＴＶカメラに入射しない。一方、
記号や文字の表面は、主として垂直方向に反射するの
で、これらは垂直方向のＴＶカメラにより明瞭に撮像さ
れる。なお、このような照明光の反射特性と、記号や文
字が明瞭に撮像できることは実験により確認されてい
る。以上により明瞭に撮像された画像データは第１メモ
リ（後述する実施例ではメモリＡ331 ）に記憶され、ま
た、第２メモリ（実施例ではメモリＢ332 ) には基準デ
ータが記憶され、両データは比較判定部により比較され
て、印面データの記号，文字の良否が、確実迅速に判定
される。上記において、印材に正しく彫刻された印面デ
ータを、予めＴＶカメラにより撮像し、その画像データ
を基準データとするか、または、自動彫刻システムによ
り自動彫刻する場合は、このシステムのメモリに設定さ
れた彫刻データが基準データとされる。これらの基準デ
ータのいずれかが、上記により第２メモリに記憶され
て、第１メモリの画像データが比較され、印面データの
良否が判定される次第である。

【０００７】

【実施例】図１は、この発明の一実施例における印面自
動検査装置３の基本構成を示す。印面自動検査装置３
は、被検査の印判１をチャックするチャック機構31と、
検査光学系32、および検査部33よりなる。印判１はチャ
ック機構31の２個のチャック31a,31b にチャックされ、
その印面12に対して、検査光学系32のランプ光源321 よ
りの照明光Ｌ_T を、斜め方向、例えば４５°の投射角θ
で照射する。彫刻された記号や文字の断面は、詳細図に
示すように、それぞれの側面がほぼ垂直をなしており、
この垂直な側面に照射された照明光Ｌ_T は、主として横
方向に反射する。これに対して、文字などの表面に照射
された照明光Ｌ_T は、主として垂直上方に散乱する。Ｔ
Ｖカメラ322 は印面12に対して垂直上方に設けられ、こ
れが垂直上方に散乱した反射光Ｌ_R を受光して印面デー
タが明瞭に撮像され、その画像データは、検査部33のメ
モリＡ331 に記憶される。またメモリＢ332 には正しい
印面データが基準データとして記憶され、これとメモリ
Ａに記憶した画像データとを、比較判定部333 により比
較して、撮像された記号や文字のすべてが基準データの
それと同一のときは、印面データすなわち印判１は良好
とされ、異なるものがあるときは、不良と判定されて、
ＯＫ信号またはＮＧ信号がそれぞれ出力される。比較判
定部333 の詳細構成は示さないが、比較判定は電子回路
の処理により確実かつ迅速になされ、必要によって不良
な文字などを特定することも可能である。

【０００８】上記の基準データについて述べると、予
め、正しい印面データを有する印判１を選択してＴＶカ
メラ322 により撮像し、その画像データを基準データと
して、メモリＢ332 に記憶する。または、図３の自動彫
刻システム２により自動彫刻する場合は、そのメモリ
（ＭＥＭ）22に設定されている彫刻データを基準データ
とし、これをメモリＢ332 に転送して記憶する。

【０００９】

【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明による印
面自動検査方法においては、印面に対して照明光を斜め
方向に照射することにより、印面データが垂直方向に設
けたＴＶカメラにより明瞭に撮像され、その画像データ
を正しい基準データに比較して、印面データの記号や文
字の良否を確実、迅速に判定するもので、多数の印判の
多種多様の印面データの効率的な検査に寄与する効果に
は、大きいものがある。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は、この発明の一実施例における印面自
動検査装置の構成図である。

【図２】図２は、捺印用の印判の説明図で、(a) はそ
の一例の構造図、(b) は半導体製品に捺印される印面デ
ータの例示図である。

【図３】図３は、自動彫刻システムの概略構成図であ
る。

【符号の説明】

１…捺印用印判、11…印材、12…印面、13…クッショ
ン、14…ハンドル、２…自動彫刻システム、21…キーボ
ード、22…メモリ（ＭＥＭ）、23…マイクロプロセッサ
（ＭＰＵ）、24…制御回路、25…彫刻機構、３…この発
明の印面自動検査装置、31…チャック機構、31a,31b …
チャック、32…検査光学系、321 …ランプ光源、322 …
ＴＶカメラ、33…検査部、331 …メモリＡ，332 …メモ
リＢ、333 …比較判定部、Ｌ_T …照明光、Ｌ_R …反射
光、θ…投射角。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】印判を構成する合成ゴムまたはプラスチッ
ク印材の表面に、所定の記号，文字などの印面データが
彫刻された印面を検査対象とし、該印面に対して斜め方
向に照明光を照射して、該彫刻された印面データを該印
面に対して垂直方向に設けたＴＶカメラにより撮像し、
該撮像された画像データを第１メモリに記憶し、かつ、
正しい印面データを基準データとして第２メモリに記憶
し、比較判定部により、該画像データを該基準データに
比較して、該印面データの記号，文字などの良否を判定
することを特徴とする、印判の印面自動検査方法。
【請求項２】前記印材に正しく彫刻された前記印面デー
タを、予め前記ＴＶカメラにより撮像し、該撮像された
画像データを前記基準データとすることを特徴とする、
請求項１記載の印判の印面自動検査方法。
【請求項３】前記印材に彫刻する彫刻データを、自動彫
刻システムのメモリに設定し、彫刻機構により自動彫刻
する場合は、該メモリに設定された彫刻データを前記基
準データとすることを特徴とする、請求項１記載の印判
の印面自動検査方法。