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JPH09166488A - X線分光器 - Google Patents

X線分光器

Info

Publication number
JPH09166488A
JPH09166488A JP7324490A JP32449095A JPH09166488A JP H09166488 A JPH09166488 A JP H09166488A JP 7324490 A JP7324490 A JP 7324490A JP 32449095 A JP32449095 A JP 32449095A JP H09166488 A JPH09166488 A JP H09166488A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
crystal
curved
wavelength
detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP7324490A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidenobu Ishida
秀信 石田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP7324490A priority Critical patent/JPH09166488A/ja
Priority to US08/761,207 priority patent/US5790628A/en
Priority to KR1019960064827A priority patent/KR970048414A/ko
Priority to EP96309146A priority patent/EP0779509A3/en
Priority to CN96121550A priority patent/CN1160203A/zh
Publication of JPH09166488A publication Critical patent/JPH09166488A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/36Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/225Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion
    • G01N23/2251Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion using incident electron beams, e.g. scanning electron microscopy [SEM]
    • G01N23/2252Measuring emitted X-rays, e.g. electron probe microanalysis [EPMA]

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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 点状のX線光源に対して、一つのX線分光器
で一回の波長走査によって複数の波長範囲の分光を同時
に行うことができるX線分光器を提供する。 【解決手段】 点状のX線光源から放出されたX線は分
光結晶において回折され、回折角度に応じた波長の回折
X線をX線検出器に照射する。X線光源2を固定した状
態で分光結晶1および検出器3をローランド円4に沿っ
て移動すると、X線分光器が分光する波長は順に変化す
る。分光結晶1は分光波長範囲の異なる複数個の湾曲結
晶11,12を含み、湾曲結晶の少なくとも一つは基準
面に対して離れた位置に配置する。X線は複数個の湾曲
結晶11,12に同時に入射し、回折角度に応じた波長
のX線を回折する。これによって、一回の分光走査にお
いて、ある湾曲結晶が分光可能な分光波長範囲を越えた
後の波長については他の湾曲結晶によって分光し、一つ
のX線分光器で一回の波長走査によって複数の波長範囲
の分光を同時に行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子線マイクロア
ナライザ等のX線分析装置に使用するX線分光器に関す
る。
【0002】
【従来の技術】X線分析装置は、電子ビーム等の照射に
よって試料面から放出される特性X線を検出して成分元
素の分布等の測定を行う。このX線分光において、X線
分光器は特性X線の波長の走査を行い、波長走査によっ
て得られた回折X線のピークから成分元素の検出を行
う。図7はX線分析装置における従来のX線分光器の構
成を説明するための概略図である。図7において、従来
のX線分光器は試料上のX線光源2と分光結晶1と検出
器3を基準面7上のローランド円4上に配置し、試料位
置のX線光源2を固定点とし、分光結晶1および検出器
3をリンク機構等の手段によってローランド円4上を移
動させる。この分光結晶1および検出器3の移動によっ
て、特性X線の分光波長を走査し、元素の種類の特定を
行う。このX線光源,分光結晶,および検出器の位置関
係は、分析対象元素の種類に応じて変化させている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来、分析対象の元素
の種類が変わったり元素の種類を広範囲に分析する場合
には、X線分光器によって広い波長範囲で分光を行う必
要がある。一般に、一つの分光結晶によって分光できる
X線の波長範囲は限定されているため、広い波長範囲を
カバーするためには異なる波長範囲を持つ複数の分光結
晶が必要であり、異なる種類の分光結晶を備えた分光系
を用意したり、結晶交換装置などによって分光結晶を交
換したりする必要がある。
【0004】しかしながら、いずれの場合においても、
一回の波長走査では一種類の分光結晶を用いた分光しか
行うことができず、広い波長範囲を分析するためには複
数回の波長走査を行う必要があるという問題点がある。
この問題点を解決するものとして、分光結晶として異種
結晶を結合した複合結晶を用い、該分光結晶に線状のX
線光源からX線を照射し、検出器の出力を各分光結晶に
対応したウインドウ型レベル選別器で弁別するX線分光
装置も提案されているが、この場合には、X線を異種結
晶全体に均等の回折条件で同時に入射させるために線状
のX線光源を用いることを前提としており、点状のX線
光源に対して適用することができない。また、分光結晶
に対応したウインドウ型レベル選別器を必要とし、選別
レベルを分析対象の元素の種類に応じて調整する必要が
ある。
【0005】そこで、本発明は前記した従来の問題点を
解決し、点状のX線光源に対して、一つのX線分光器で
一回の波長走査によって複数の波長範囲の分光を同時に
行うことができるX線分光器を提供することを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のX線分光器は、
点状のX線光源と分光結晶と検出器をローランド円に沿
って互いに等間隔に配置し、該配置間隔の距離を変える
ことによって分光波長を選択するX線分光器において、
分光結晶を分光波長範囲の異なる複数個の湾曲結晶を含
むものとし、検出器を湾曲結晶からの回折X線を検出す
るX線検出器とし、ローランド円を含む基準面に対し
て、湾曲結晶およびX線検出器の少なくとも一つの組を
この基準面から離れた位置に配置するものである。
【0007】点状のX線光源から放出されたX線は分光
結晶において回折され、回折角度に応じた波長の回折X
線をX線検出器に照射する。X線光源を固定した状態で
分光結晶および検出器をローランド円に沿って移動する
と、X線分光器が分光する波長は順に変化する。本発明
のX線分光器における分光結晶は分光波長範囲の異なる
複数個の湾曲結晶を含み、湾曲結晶の少なくとも一つは
基準面に対して離れた位置に配置している。本発明の配
置により生じる回折条件からのずれ量は分光可能な範囲
内であり、点状のX線光源から放出されたX線は複数個
の湾曲結晶に同時に入射し、湾曲結晶からは回折角度に
応じた波長のX線が回折される。したがって、一回の分
光走査において、ある湾曲結晶が分光可能な分光波長範
囲を越えた後の波長については他の湾曲結晶によって分
光を行うことができ、これによって、一つのX線分光器
で一回の波長走査によって複数の波長範囲の分光を同時
に行うことができる。
【0008】本発明の第1の実施態様は、点状のX線光
源と分光結晶と検出器をローランド円に沿って互いに等
間隔に配置し、該配置間隔の距離を変えることによって
分光波長を選択するX線分光器において、前記分光結晶
は分光波長範囲の異なる複数個の湾曲結晶を含み、前記
検出器は湾曲結晶からの回折X線を検出するX線検出器
を備え、ローランド円を含む基準面に対して、短い波長
を分光する湾曲結晶と該湾曲結晶からの回折X線を検出
するX線検出器とを基準面内のローランド円上に配置
し、長い波長を分光する湾曲結晶と該湾曲結晶からの回
折X線を検出するX線検出器をローランド円からずら
し、基準面から離れた位置に配置することを特徴とする
X線分光器である。
【0009】第1の実施態様のX線分光器において、X
線光源を固定した状態で分光結晶および検出器をローラ
ンド円に沿って移動させると、長い波長を分光する湾曲
結晶はその配置からX線照射に回折条件からの角度ずれ
が生じる。このずれの量は分光可能な範囲内であるた
め、複数個の湾曲結晶に同時にX線を照射することがで
きる。ローランド円上に配置した短い波長を分光する湾
曲結晶は、照射されたX線の内で波長が短いX線につい
て回折を行い、一方、基準面から離れた位置に配置した
長い波長を分光する湾曲結晶は、照射されたX線の内で
波長が長いX線について回折を行う。この複数の波長に
よる回折は、一回の波長走査の中の回折角度の変化に応
じて行われ、これによって、一つのX線分光器で一回の
波長走査によって複数の波長範囲の分光を同時に行うこ
とができる。
【0010】本発明の第2の実施態様は、点状のX線光
源と湾曲結晶と検出器をローランド円に沿って互いに等
間隔に配置し、該配置間隔の距離を変えることによって
分光波長を選択するX線分光器において、前記分光結晶
は分光波長範囲の異なる複数個の湾曲結晶を含み、前記
検出器は湾曲結晶からの回折X線を検出するX線検出器
を備え、分光する湾曲結晶と該湾曲結晶からの回折X線
を検出するX線検出器をローランド円からずらし基準面
から離れた位置に配置し、なおかつ湾曲結晶を基準面に
対して傾斜させたことを特徴とするX線分光器である。
【0011】第2の実施態様のX線分光器では、さら
に、湾曲結晶とX線検出器を基準面から離れた位置に配
置し、湾曲結晶を基準面に対して傾斜させた配置構成の
第1の湾曲結晶と第1のX線検出器に対し、第2の湾曲
結晶と該第2の湾曲結晶の回折X線を検出する第2のX
線検出器を基準面に関して反対方向の位置に配置するこ
とによって、一つのX線分光器に複数個の湾曲結晶を配
置することができ、これによって、分光波長範囲を広め
ることができる。X線光源を固定した状態で分光結晶お
よび検出器をローランド円に沿って移動しても、配置に
よるX線回折条件からの角度ずれは小さく分光可能な範
囲内であるため、複数個の湾曲結晶に同時にX線を照射
することができる。
【0012】各湾曲結晶は照射されたX線の内で対応す
る波長のX線について回折を行う。この複数の波長によ
る回折は、一回の波長走査の中の回折角度の変化に応じ
て行われ、これによって、一つのX線分光器で一回の波
長走査によって複数の波長範囲の分光を同時に行うこと
ができる。
【0013】また、第2の実施態様において、分光結晶
のX線回折条件からの角度ずれである収差は、湾曲結晶
が持つ湾曲半径と湾曲結晶を基準面から離れて配置する
ことにより生じる光学上の半径との差により発生する。
つまり、湾曲結晶を基準面から離して配置したとき、X
線光源と湾曲結晶とX線検出器は、X線光源を通り湾曲
結晶と同じ傾斜角度で基準面に対して傾斜し、かつ湾曲
結晶の中心線に一点で湾曲結晶に接する円に沿ってい
る。一般にこの円の半径はローランド円の半径と異な
る。収差が生じないためには湾曲結晶の格子面の湾曲半
径はこの円の半径の2倍である必要があるが、ローラン
ド円の半径の2倍として形成される湾曲結晶の格子面の
湾曲半径に対して差が生じることになる。第2の実施態
様では、湾曲結晶の配置位置を、X線光源から離れる方
向に移動することによって、この収差を減少させること
ができる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図を
参照しながら詳細に説明する。(本発明の実施の第1の
形態)はじめに、本発明の実施の第1の形態について図
1を用いて説明する。図1は本発明のX線分光器の第1
の実施形態の構成を説明するための概略図である。図1
(a)は平面図であり、図1(b)は図1(a)中の矢
印Aの方向から見た図であり、図1(c)は斜視図であ
る。図1(a)において、電子ビーム照射装置(図示し
ていない)から試料に対して電子ビーム5を照射する
と、試料からは特性X線が放出される。図1中では特性
X線の放出点を点状のX線光源2として示している。点
状のX線光源2と分光結晶1と検出器3はローランド円
4に沿って配置され、X線分光器を構成している。ここ
で、ローランド円4を含む面を基準面7とする。
【0015】分光結晶1はヨハン型あるいはヨハンソン
型の湾曲結晶によって形成される第1湾曲結晶11と第
2湾曲結晶12を備え、その一部はローランド円に接
し、基準面7に対して垂直方向に重ねた構成とすること
ができ、第1湾曲結晶11は分光波長の短い湾曲結晶と
し、第2湾曲結晶12は分光波長の長い湾曲結晶とす
る。第1湾曲結晶11および第1X線検出器31はロー
ランド円4上に互いに等間隔に一列に配置し、第2湾曲
結晶12および第2X線検出器32は基準面7から離れ
た位置に配置する。
【0016】第1湾曲結晶11および第1X線検出器3
1はローランド円4上の配置によって従来のX線分光器
と同程度のブラッグの回折条件を満足するのに対して、
第2湾曲結晶12および第2X線検出器32は基準面7
から離れた位置に配置されるため、ブラッグの回折条件
を満足しにくくなる。しかしながら、一般に湾曲結晶に
よる回折ピークの検出出力には幅があり、通常この出力
幅は湾曲結晶に対する入射角で表される半値幅によって
評価することができる。このことは、湾曲結晶に対する
X線の入射角がこの半値幅内であれば、充分な回折出力
を得ることができることを示している。この湾曲結晶の
半値幅は一般に分光波長が長いもの程大きくなり、分光
波長が長い程入射角に対する許容範囲が大きくなる。そ
こで、本発明のX線分光器では、第2湾曲結晶12とし
て第1湾曲結晶11よりも分光波長が長い湾曲結晶を選
択し、これによって、ローランド円4からのずれによる
回折出力の減少を低減し、第1湾曲結晶11と第2湾曲
結晶12との同時走査による分光を可能とする。
【0017】分光波長の短い湾曲結晶としては、例えば
RAP(Rubidium Acid PhthalateC8 5 4 Rb )
を用いて、Al Kα(8.34Å)からOKα(23.
6Å)の範囲を分光波長範囲とすることができる。ま
た、分光波長の長い湾曲結晶としては、例えばLSA
(Layered Structure Analyer :人工多層膜)を用い
て、OKα(23.6Å),NKα(31.6Å),C
Kα(44.4Å)の範囲を分光波長範囲とすることが
でき、通常ヨハン型の湾曲結晶によって実現される。
【0018】また、検出器3は第1X線検出器31と第
2X線検出器32を備え、ローランド円に接し、基準面
に対して垂直方向に重ねて構成し、それぞれ第1湾曲結
晶11および第2湾曲結晶12からの回折X線を検出す
る。
【0019】次に、本発明の実施の形態において、第2
湾曲結晶12に生じる収差が分光に支障がない程度であ
ることを説明する。なお、以下ではヨハン型の湾曲結晶
について説明するが、ヨハンソン型の湾曲結晶について
はヨハン型の湾曲結晶より収差が小さいため説明を省略
する。
【0020】第2湾曲結晶12に生じる収差は、湾曲結
晶がヨハン型であることによる幾何学的収差(以下、δ
1とする)と基準面から離れた位置に配置することによ
る幾何学的収差(以下、δ2とする)を含んでいる。
【0021】はじめに、ヨハン型であることによる幾何
学的収差δ1について説明する。図1(a)において、
収差δ1はヨハン型分光結晶1の端点と該端点に対応す
るローランド円4上の点がX線光源2を頂点として形成
される三角形の内角として表される。
【0022】分光結晶1の端点と該端点に対応するロー
ランド円4上の点のずれ量をy1とすると、y1はy1
=R(1−cos2β)−2R(1−cosβ)≒R・
2β2 −2R・(β2 /2)=R・β2 で表すことがで
きる。なお、Rはローランド円4の半径とする。収差δ
1は、このずれ量y1を用いて、収差δ1≒(y1・c
osθ)/(2・R・sinθ)=(β2 /2)・(1
/tanθ)で表され、さらに、分光結晶の長さをLと
したときL/2=2・R・βの関係から、収差δ1=L
2 /(32・R2 ・tanθ)の式で表される。
【0023】また、図1(c)に示すように、第1湾曲
結晶11に対する入射角をθ、第2湾曲結晶12に対す
る入射角をθ’、X線光源2からみて第1湾曲結晶11
の中心と第2湾曲結晶12の上辺の成す角をφとする
と、収差δ2は(θ’−θ)で表される。ここで、si
nθ・cosφ=sinθ’の関係を用いると、近似式
sinθ’≒sinθ+cosθ・(θ’−θ)、およ
びcosφ≒1−φ2 /2を適用して、収差δ2は収差
δ2=θ’−θ≒−tanθ・(φ2 )/2となる。さ
らに、φ≒sinφ=(3H/2)/(2・R・sin
θ)の関係から、収差δ2は収差δ2≒−tanθ・
{(3H/2)/(2・R・sinθ)}2/2で表さ
れる。
【0024】したがって、収差δ1と収差δ2を含んだ
全体の収差δは、δ=(δ12 +δ22 1/2 で表され
る。
【0025】この収差δの具体的数値例を、湾曲結晶と
して面間隔2d=73.4Å,長さL=38mm,高さ
H=12mmのLSAを用い、ローランド円の半径Rを
101.6mmとした場合について示すと、以下の表の
ようになる。
【0026】
【表1】 表に示すように、収差δは0.5°から1.1°程度の
範囲であり、このときの回折の半値幅は0.8°から2
°程度である。このことは、発明の第1の実施の形態に
おいてローランド円からはずれた位置に配置した第2湾
曲結晶は、ヨハン湾曲結晶による収差分を含めても収差
は大きくなく、X線検出器によって充分な回折出力を検
出することができることを示している。
【0027】これによって、発明の第1の実施の形態の
X線分光器によって、広い波長範囲の分光を一回の波長
走査で行うことができる。
【0028】なお、前記説明では、第1湾曲結晶として
RAPを用い、第2湾曲結晶としてLSAを用いた例を
示しているが、その他の湾曲結晶を用いて構成すること
もできる。また、1つの第2湾曲結晶を基準面から離れ
た位置に配置する例を示しているが、別の第2湾曲結晶
を基準面に対して反対側に離して配置することもでき
る。さらに、分光結晶として第1湾曲結晶および第2湾
曲結晶の2つの湾曲結晶を重ねた構成を例として示して
いるが、収差が許容範囲内であれば重ねる湾曲結晶の種
類を増加する構成とすることもできる。
【0029】(本発明の実施の第2の形態)次に、本発
明の実施の第2の形態について、図2を用いて説明す
る。図2は本発明のX線分光器の第2の実施形態の構成
を説明するための概略図である。図2(a)は平面図で
あり、図2(b)は図2(a)中の矢印Aの方向から見
た図であり、図2(c)は斜視図である。図2(a)に
おいて、電子ビーム照射装置(図示していない)から試
料に対して電子ビーム5を照射すると、試料(図2中の
点状のX線光源2)から特性X線が放出される。図中の
二点鎖線は従来周知のX線分光器の配置を示し、X線光
源2と分光結晶1と検出器はローランド円4上に互いに
等間隔に一列に配置され、検出器窓の中心位置は図2
(a)の点Fに位置する。
【0030】このローランド円4を含む面を基準面7と
して、湾曲結晶の結晶面を結晶中心Cから基準円の中心
Oに向かう軸C−Oの回りで回転させ角度φだけ傾斜さ
せ、さらに、結晶の中心位置CをC’に平行移動して、
結晶全体を基準面から離れる位置に配置する。また、こ
の湾曲結晶から回折されるX線を検出するX線検出器に
ついても、該回折X線を入射するように、直線CFを含
み基準面に垂直な面(以下、面CFという)内で傾斜し
て基準面に垂直に移動する。この配置によって、湾曲結
晶およびX線検出器は基準面からはずれた位置に配置さ
れることになる。
【0031】この配置により、X線光源、第1湾曲結晶
13、第1X線検出器33、あるいはX線光源、第2湾
曲結晶14、第2X線検出器34は、X線光源2を通
り、湾曲結晶の中心線P上の一点で該湾曲結晶に接し、
基準面7と角度φで傾斜した円(図2(a),(c)中
の円43あるいは円44)に沿って配置される形とな
る。ただし、湾曲結晶の中心C’は必ずしも円43,4
4上にはない。
【0032】なお、検出器の窓中心は回折条件から円4
3あるいは円44上でSC’=C’F’となる点F’と
なるが、検出器の窓は巾を有しており、その巾は点F’
の面FGまでの距離F’Gと比較すると十分大きくとれ
るため、検出器の窓中心を面FG内としてもX線の検出
には差し支えない。
【0033】図2において、分光結晶1は異なる分光波
長の2つの湾曲結晶により構成され、ヨハン型あるいは
ヨハンソン型の湾曲結晶によって形成することができ
る。例えば、第1湾曲結晶13は分光波長の短い湾曲結
晶とし、第2湾曲結晶14は分光波長の長い湾曲結晶と
する。なお、いずれの湾曲結晶の分光波長を短くし、い
ずれの湾曲結晶の分光波長を長くするかは任意に設定す
ることができる。
【0034】湾曲結晶およびX線検出器は基準面に対し
て両側に配置し、各湾曲結晶は点状のX線光源から放出
される特性X線を同時に入射して回折し、それぞれ対応
するX線検出器に回折X線を入射させる。X線光源と分
光結晶と検出器とローランド円に沿って互いに等間隔に
距離を変えることにより各湾曲結晶の分光波長を異なら
せ、異なる分光波長による回折を一回の波長走査で同時
に行う。図2(b),(c)は、基準面に対して両側に
配置した例を示している。
【0035】ローランド円4のローランド半径をRとす
ると、円40(43,44)の半径R’は湾曲結晶の傾
斜と平行移動により一般にRとわずかに異なる。なお、
CからC’への結晶の平行移動は、図2(b)において
例えば円40を含む面に垂直な移動(C→T)と円40
に沿った移動、すなわちX線光源から離れる方向への移
動(T→C’)により実現される。ここで、eはT→
C’の移動距離を表している。
【0036】分光波長を拡大するために、第1湾曲結晶
13と第2湾曲結晶14を構成する湾曲結晶の種類を異
ならせて分光波長範囲を広げる。使用する湾曲結晶とし
ては、分光波長の短い湾曲結晶としては、例えばLiF
を用いることができ、また、分光波長の長い湾曲結晶と
しては、例えばADPを用いることができる。
【0037】これによって、複数個の湾曲結晶およびX
線検出器の組は、一回の波長走査において同時に移動
し、複数の波長分光を同時に行う。
【0038】次に、本発明の第2の実施の形態におい
て、第2,3湾曲結晶13,14に生じる収差が分光に
支障がない程度であることを説明する。
【0039】基準のローランド円4において分光結晶1
の中心Cに入射するX線の入射角をθ、傾斜した後にe
だけ移動をした分光結晶10の中心C’に入射するX線
の入射角をθ’とすると、図2(a),(b)における
幾何学的関係から以下の式(1),(2),(3)が得
られる。
【0040】 BC=B’C’=2R・(sinθ)2 =2R’・(sinθ’)2 …(1) L’=SB・cosφ=2R・sinθ・cosθ・cosφ …(2) L’’=L’+e=2R’・sinθ’・cosθ’ …(3) ここで、Rはローランド円の半径であり、R’は基準面
に対して角度φだけ傾斜した円40(43,44)の半
径である。この半径R’をR’=R+ΔRとし、式
(1)を変形して、ΔR≪Rを仮定して第1次近似によ
り得られる関係式sinθ’/sinθ=1−ΔR/R
に、δθ=θ’−θは小さいと仮定して得られる近似式
sinθ’=sinθ+cosθ・δθを代入すると、
以下の式(4)が得られる。
【0041】 ΔR/2R=−cotθ・δθ …(4) また、式(2),(3)にφは小さいと仮定して得られ
る近似式cosφ=1−φ2 /2,および近似式sin
θ’=sinθ+cosθ・δθ,cosθ’=cos
θ−sinθ・δθを用い、さらに式(4)を利用し
て、回折角度のずれ量δθ(=θ’−θ)を解くと次式
(5)を得る。
【0042】 δθ=sinθ・cosθ・φ2 /2−e/2R =φ2 /2・(sinθ・cosθ−K) …(5) ここで、K=e/Rφ2 …(6) とする。
【0043】ここで、円40の半径がR’であるのに対
して、湾曲結晶の湾曲はローランド円の半径Rに対応し
ていることにより結晶方位の収差δが生じる。すなわ
ち、湾曲結晶の結晶格子面の湾曲は、図2(a)で点N
を中心とした半径2Rの円に沿っており、一方、収差が
生じないためには前記格子面の湾曲は点N’を中心とし
た半径2Rの円に沿っていなければならない。それゆ
え、この最大の収差δは以下の式(7)で表される。な
お、ここで湾曲結晶の長さは2Lとする。
【0044】 δ=L/2R' −L/2R …(7) 上式(7)において、1/2R' =(1−ΔR/R)/
2Rと近似し、前記式(4),(5)を代入すると、収
差δは以下の式(8)で表される。
【0045】 δ=(L/R)・(φ2 /2)・{(cosθ)2 −Kcotθ}…(8) 式(8)は、係数Kの値を調節することによって収差δ
を小さく選択できることを示している。
【0046】また、X線検出の位置ずれδdは、図2
(a)中のF’G=(SC’+C’F’)・δθで表さ
れ、SC’≒C’F’≒SC=2R・sinθを用いる
と以下の式(9)で表される。
【0047】 δd=4R・sinθ・δθ …(9) 以下、第2の実施の形態において、収差δ、回折角度の
ずれ量δθ、X線検出器の位置ずれ量δdについて説明
する。ここで、一例としてローランド円の半径Rを10
1.6mm、湾曲結晶の長さ2Lを38mm、湾曲結晶
の傾斜角度をφ=5°、湾曲結晶の平行移動距離をe=
0.23mmの場合を示す。図3は、収差δを表す式
(8)中の{(cosθ)2 −Kcotθ}の回折角度
θに対する値の変化をKをパラメータとして示してい
る。上記条件の場合には、式(6)で表される係数K=
e/Rφ2 の値は0.3となる。図4の収差δの図は、
図3中のK=0.3の場合の{(cosθ)2 −Kco
tθ}の値を用いて、θ=15°からθ=70°の波長
走査の範囲で式(8)の収差δを求めたものであり、最
大で1/100°程度の収差となる。通常利用される湾
曲結晶のX線反射の角度巾は少なくとも0.1°前後で
あり、この予想される収差は無視できる程度に小さな角
度となる。また、図5は、回折角度θに対する回折角度
のずれ量δθを示し、θ=15°からθ=70°の波長
走査の範囲で高々0.04°程度の微小角度となる。目
的の元素の特性X線を分光する場合には、この回折角度
のずれ量δθを考慮して角度位置を設定することによ
り、分光を行うことができる。
【0048】さらに、図6は、回折角度θに対するX線
検出の位置ずれδdを示しており、前記式(9)を用い
て求めることができる。図6から、X線検出の位置ずれ
δdは高々0.2mm程度であり、通常使用されるX線
検出器の窓幅と比較して充分に小さく、それゆえX線検
出の位置ずれδdに対してX線検出器の中心位置を移動
させる必要はない。
【0049】これによって、発明の第2の実施の形態の
X線分光器によって、広い波長範囲の分光を一回の波長
走査で行うことができる。
【0050】なお、前記説明では、第1湾曲結晶として
LiFを用い、第2湾曲結晶としてADPを用いた例を
示しているが、その他の湾曲結晶を用いて構成すること
もできる。また、検出器は、各湾曲結晶に対応して個々
に設置する構成や、内部に独立したX線検出器の機能を
備えた一体化した構成や、使用する湾曲結晶の分析対象
元素の特性X線波長が重ならない場合には、一つのX線
検出器とすることもできる。
【0051】したがって、従来、分析対象元素の種類が
変わった場合には、分光結晶交換機構等によって別の種
類の分光結晶に交換する必要があり、同時には一つの分
光結晶による分光しかできず、使用する結晶の個数に応
じた測定時間が必要であったが、本発明の実施の形態に
よれば、複数個の分光結晶を用いて同時に複数種の分光
測定を行うことができ、測定時間を短縮することができ
るという効果を奏することができる。
【0052】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
点状のX線光源に対して、一つのX線分光器で一回の波
長走査によって複数の波長範囲の分光を同時に行うこと
ができるX線分光器を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のX線分光器の第1の実施形態の構成を
説明するための概略図である。
【図2】本発明のX線分光器の第2の実施形態の構成を
説明するための概略図である。
【図3】{(cosθ)2 −Kcotθ}の回折角度θ
に対する値を示す図である。
【図4】回折角度θに対する収差δの値を示す図であ
る。
【図5】回折角度θに対する回折角度のずれ量δθを示
す図である。
【図6】回折角度θに対するX線検出器の位置ずれδd
を示す図である。
【図7】従来のX線分光器の構成を説明するための概略
図である。
【符号の説明】
1…分光結晶、2…X線光源、3…検出器、4…ローラ
ンド円、5…電子ビーム、6…X線、7…基準面、8…
検出器窓の中心位置、11,12,13,14…湾曲結
晶、31,32,33,34…X線検出器、40,4
3,44…円。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 点状のX線光源と分光結晶と検出器をロ
    ーランド円に沿って互いに等間隔に配置し、該配置間隔
    の距離を変えることによって分光波長を選択するX線分
    光器において、前記分光結晶は分光波長範囲の異なる複
    数個の湾曲結晶を含み、前記検出器は湾曲結晶からの回
    折X線を検出するX線検出器を備え、湾曲結晶およびX
    線検出器の少なくとも一つの組は、ローランド円を含む
    基準面から離れた位置に配置することを特徴とするX線
    分光器。
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