JPH0793803A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】光ディスク装置、光ディスク装置の半導体レー
ザ性能検査方法、及び半導体レーザ検査用光ディスクに
関し、光学ヘッドの半導体レーザの劣化を光ディスクに
情報を記録する以前に検出して、不安定な記録、再生、
消去をさせないことを目的とする。 【構成】光ディスク装置において、光学ヘッド３の移動
手段による移動可能範囲内に光学ヘッド３からの照射光
を一定の割合で反射する検査用反射面１ｃを設け、光学
ヘッド３を移動手段で上記検査用反射面１ｃに光を照射
する検査範囲に移動し、光学ヘッド３から光を照射し
て、検査用反射面１ｃからの反射光の強度を読取り、予
め定めた基準値と比較して、反射光の強度が基準値以下
であるときは、半導体レーザの性能が劣化していると判
定して、通知するように構成した。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクに対して情
報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置の光源、例
えば半導体レーザの性能検査方法、光ディスク装置及び
光ディスクに関する。

【０００２】

【従来の技術】周知のように光学ヘッド内の半導体レー
ザにより出力されるレーザ光によって光ディスクに情報
を記録したり光ディスクに記録されている情報を読み出
す光ディスク装置が種々開発されている。

【０００３】ここで、上記半導体レーザは温湿度変化、
経時変化（寿命）などにより劣化してその出力光量が減
少してしまうことがある。

【０００４】従来、これを検知する特別な手段はなく、
光ディスクに記録されてあるはずのデータが読み取れな
い、即ち、記録時に半導体レーザが劣化していて、所定
の値以下のパワーでデータを記録しようとしていたため
に、データが記録されていないことをデータ読取り時に
気付いて初めてレーザが劣化したと判断していた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、光学ヘ
ッドの半導体レーザが劣化しても検出手段がなかったた
め、半導体レーザが劣化して出力が少ない状態でデータ
を記録してしまうこととなり、読み出し時に情報検出値
が不安定で読めなかったり、記録されている（光ディス
クにピットが形成されている）はずのデータが記録され
ていない（光ディスクにピットが形成されていない）こ
とが後で判るという問題があった。

【０００６】そこで、本発明は、光学ヘッドの光源例え
ば半導体レーザの劣化を光ディスクに対して情報を記録
再生する以前に検出して、不安定な記録あるいは再生を
未然に防止できる装置および方法を提供することを目的
とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明の第１の態様によ
れば、光源を備え、回転する光ディスクに光を照射する
ことによってデータの書込み、読取りを行う光学ヘッド
と、この光学ヘッドを上記光ディスクの半径方向へ移動
する移動手段とを有する光ディスク装置において、上記
光学ヘッドの前記移動手段による移動可能範囲内に光学
ヘッドからの照射光を一定の割合で反射する検査用反射
面を設けて前記光源の性能を検査する方法であって、前
記光学ヘッドを移動手段で上記検査用反射面に光を照射
する検査範囲に移動し、光学ヘッドから光を照射して、
検査用反射面からの反射光の強度を読取り、予め定めた
基準値と比較して、反射光の強度が基準値以下であると
きは、半導体レーザの性能が劣化していると判定して、
通知することを特徴とする光ディスク装置の光源性能検
査方法が提供される。

【０００８】また、本発明の他の態様によれば、半導体
レーザを備え、回転する光ディスクに光を照射すること
によってデータの書込み、読取りを行う光学ヘッドと、
この光学ヘッドを上記光ディスクの半径方向へ移動する
移動手段とを有する光ディスク装置において、上記光学
ヘッドの上記移動手段による移動可能範囲内に設けら
れ、光学ヘッドからの照射光を一定の割合で反射する検
査用反射面と、照射された光が、検査用反射面から反射
してきた光の強度と、予め定められた値とを比較して半
導体レーザの性能を判定する判定手段を具備したことを
特徴とする光ディスク装置が提供される。

【０００９】前記検査用反射面は光ディスク、光ディス
クのケースの一部、または、光ディスク装置の本体部に
設けることができる。

【００１０】また、上記の本発明の装置および方法は、
光学ヘッドから光が照射される面の少なくとも一部に光
ディスク装置の半導体レーザの検査用反射面を有するこ
とを特徴とする光ディスクを使用することができ、この
検査用反射面は望ましくは鏡面として形成される。

【００１１】

【作用】本発明では、光学ヘッドの上記移動手段による
移動可能範囲内、即ち、光ディスクの少なくとも一部、
光ディスクのケースの一部、または、光ディスク装置本
体、光学ヘッドからの照射光を一定の割合で反射する例
えば鏡面である検査用反射面を設けており、光学ヘッド
は移動手段で上記検査用反射面に光を照射する検査範囲
に移動され、光学ヘッドから光を照射して、検査用反射
面からの反射光の強度を読取り、予め定めた基準値と比
較され、反射光の強度が基準値以下であるときは、光
源、例えば半導体レーザの性能が劣化していると判定さ
れて通知される。

【００１２】従って、光学ヘッドの光源、例えば半導体
レーザの劣化を光ディスクについて情報を記録再生する
以前に検出して、不安定な記録再生を未然に防止するこ
とができる。

【００１３】

【実施例】以下、図面を参照してこの発明の一実施例に
ついて説明する。

【００１４】図２は、光ディスク装置を示すものであ
る。すなわち、光ディスク等で構成される光ディスク
（記録媒体）１の表面には、スパイラル状に溝（記録ト
ラック）が形勢されており、この光ディスク１は、モー
タ２によって例えば一定の速度で回転される。このモー
タ２は、モータ制御回路１８によって制御されている。

【００１５】上記光ディスク１は、例えばガラスあるい
はプラスチックなどで円形に形成された基板の表面など
の金属被膜層がドーナツ型にコーティングされており、
その金属被膜層の中心部近傍には切欠部つまり基準位置
マークが設けられている。

【００１６】また、光ディスク１は、図４に示すよう
に、検査用反射面である鏡面のミラーエリア１ａと、こ
のミラーエリア１ａよりも内周側に設けられた案内溝の
ない特性データ記録エリア１ｂとから構成されている。

【００１７】上記特性データ記録エリア１ｂには、図３
に示すように円周方向にバーコード状に特性データが製
造時にあらかじめ記録されている。この特性データとし
ては、光ディスク１の膜の特性（反射率）、半導体レー
ザ記録、再生時のパワー、等が記録されるようになって
いる。上記特性データ記録エリア１ｂは、図３に示すよ
うに、ピット列の連続、不連続で情報を示し、光ディス
ク１の半径方向に放射状に記録されており、その記録位
置は光ディスク１の中心からの距離（半径位置）によっ
て規定されている。

【００１８】上記光ディスク１に対するレーザ光の照射
は、図２に示すように上記光ディスク１の下部に設けら
れている光学ヘッド３によって行われる。

【００１９】上記光学ヘッド３には、対物レンズ６が図
示しないワイヤあるいは板ばねによって保持されてお
り、この対物レンズ６は、駆動コイル５によってフォー
カシング方向（レンズの光軸方向）に移動され、駆動コ
イル４によってトラッキング方向（レンズの光軸と直交
方向）に移動可能とされている。

【００２０】上記光学ヘッド３の下部には、図４に示す
ように、遮蔽板３ａが設けられており、この遮蔽板３ａ
により検知器３６が遮光されるようになっている。

【００２１】この検知器３６は、遮蔽板３ａにより遮光
された際に、光学ヘッド３の移動位置が光ディスク１の
最内周（内周端）に位置したことを検知すると共に、光
学ヘッド３によるレーザ光が特性データ記録エリア１ｂ
に照射されていることを検知する位置に設けられてい
る。

【００２２】また、レーザ制御回路１４によって駆動さ
れる半導体レーザ発信器９より発生されたレーザ光は、
コリメートレンズ１１ａ、ハーフプリズム１１ｂ、対物
レンズ６を介して光ディスク１上に照射され、この光デ
ィスク１からの反射光は、対物レンズ６、ハーフプリズ
ム１１ｂ、集光レンズ１０ａ、及びシリンドリカルレン
ズ１０ｂを介して光検出器８に導かれる。

【００２３】上記光検出器８は、４分割の光検出セル８
ａ，８ｂ，８ｃ，８ｄによって構成されている。

【００２４】上記光検出器８の光検出セル８ａの出力信
号は、増幅器１２ａを介して加算器３０ａ，３０ｃの一
端に供給され、光検出セル８ｂの出力信号は、増幅器１
２ｂを介して加算器３０ｂ，３０ｄの一端に供給され、
光検出セル８ｃの出力信号は、増幅器１２ｃを介して加
算器３０ｂ，３０ｃの他端に供給され、光検出セル８ｄ
の出力信号は、増幅器１２ｄを介して加算器３０ａ，３
０ｄの他端に供給されるようになっている。

【００２５】上記加算器３０ａの出力信号は差動増幅器
ＯＰ１の反転入力端に供給され、この差動増幅器ＯＰ１
の非反転入力端には上記加算器３０ｂの出力信号が供給
される。これにより、差動増幅器ＯＰ１は、上記加算器
３０ａ，３０ｂの差に応じてトラック差信号をトラッキ
ング制御回路１６に供給するようになっている。このト
ラッキング制御回路１６は、差動増幅器ＯＰ１から供給
されるトラック差信号に応じてトラック駆動信号を作成
するものである。

【００２６】上記トラッキング制御回路１６から出力さ
れるトラック駆動信号は、前記トラッキング方向の駆動
コイル４に供給される。また、上記トラッキング制御回
路１６で用いられたトラック差信号は、リニアモータ制
御回路１７に供給されるようになっている。

【００２７】リニアモータ制御回路１７は、トラッキン
グ制御回路１６からのトラック差信号やＣＰＵ２３から
の移動制御信号に応じて後述するリニアモータ３１内の
駆動コイル（導線体）１３に移動速度に対応した電圧を
印可するものである。

【００２８】リニアモータ制御回路１７には、後述する
リニアモータ３１内の駆動コイル１３が磁気部材（図示
しない）より発生する磁束を横切る瞬間に生じる駆動コ
イル１３の内部の電気的変化を利用して、駆動コイル１
３と磁気部材との相対速度つまりリニアモータ３１の移
動速度を検知する速度検知回路（図示しない）が設けら
れている。

【００２９】また、上記加算器３０ｃの出力信号は差動
増幅器ＯＰ２の反転入力端に供給され、この差動増幅器
ＯＰ２の非反転入力端には上記加算器３０ｄの出力信号
が供給される。これにより、差動増幅器ＯＰ２は、上記
加算器３０ｃ，３０ｄの差に応じてフォーカス点に関す
る信号をフォーカシング制御回路１５に供給するように
なっている。このフォーカシング制御回路１５の出力信
号は、フォーカシング駆動コイル５に供給され、レーザ
光が光ディスク１に常時ジャストフォーカスとなるよう
に制御される。

【００３０】上記のようにフォーカシング、トラッキン
グを行った状態での光検出器８の各光検出器８ａ，〜８
ｄの出力の和信号、つまり加算器３０ａ，３０ｂからの
出力信号は、トラック上に形成されたピット（記録情
報）からの反射率の変化が反映されている。この信号
は、信号処理回路１９に供給され、この信号処理回路１
９において記録情報、アドレス情報（トラック番号、セ
クタ番号等）が再生される。また、レーザ制御回路１４
の前段には記録信号を変調する変調回路としての記録信
号作成回路３４が設けられている。

【００３１】上記信号処理回路１９で再生された再生信
号（再生情報）はインターフェイス回路３２を介して外
部装置としての記録媒体制御装置３３に出力されるよう
になっている。

【００３２】また、信号処理回路１９のビデオ信号は読
取り回路３５に供給される。この読取り回路３５は、上
記信号処理回路１９からのビデオ信号により、上記特性
データ記録エリア１ｂの記録データに対応する包絡線２
値化信号を出力するものであり、図示しない包絡線検知
回路と包絡線２値化回路とから構成されている。

【００３３】また、この光ディスク装置にはそれぞれフ
ォーカシング制御回路１５、トラッキング制御回路１
６、リニアモータ制御回路１７とＣＰＵ２３との間で情
報の授受を行うために用いられるＤ／Ａ変換器２２が設
けられている。

【００３４】また、上記トラッキング制御回路１６は、
上記ＣＰＵ２３からＤ／Ａ変換器２２を介して供給され
るトラックジャンプ信号に応じて対物レンズ６を移動さ
せ、１トラック分、ビーム光を移動させるようになって
いる。

【００３５】上記レーザ制御回路１４、フォーカシング
制御回路１５、トラッキング制御回路１６、リニアモー
タ制御回路１７、モータ制御回路１８、信号制御回路１
９、読取り回路３５等は、バスライン２０を介してＣＰ
Ｕ２３によって制御されるようになっており、このＣＰ
Ｕ２３はメモリ２４に記憶されたプログラムによって所
定の動作を行うようになされている。

【００３６】上記ＣＰＵ２３は、特性データ記録エリア
１ｂへのアクセス時、光学ヘッド３の移動可能な最内側
から外側に光学ヘッド３を移動させ、この後、検知器３
５から検知信号が供給された際に、光学ヘッド３の移動
位置が光ディスク１の最内周（内側端部）に位置したこ
とを判断する。さらに、ＣＰＵ２３は、その光ディスク
１の最内周から光学ヘッド３によるレーザ光を移動さ
せ、検知器３５から検知信号が中間の値になった際に、
光学ヘッド３によるレーザ光が特性データ記録エリア１
ｂの半径位置の中心部近傍に照射されていることを判断
し、光学ヘッド３の移動を停止するようになっている。

【００３７】この時、読取り回路３５から供給される包
絡線２値化信号のハイレベルとローレベルの時間間隔を
調べることにより特性データ記録エリア１ｂの特性デー
タの読取りを行い、この読取った特性データに対応する
制御を行うようになっている。

【００３８】次にこの光ディスク装置の媒体制御装置３
３の構成を説明すると、図１１はこの光ディスク装置の
媒体制御装置３３である画像ファイリング装置の構成を
示したものである。この画像ファイリング装置は、制御
モジュール４０、メモリモジュール４２、画像処理モジ
ュール４４、通信制御モジュール４６、スキャナ装置４
８、キーボード５３、ＣＲＴディスプレイ装置５４、プ
リンタ装置５５、磁気ディスク５６並びに磁気ディスク
装置５７、マウス５９、システムバス９０、画像バス６
２、文字認識部５９、及び本願発明に係る光ディスク４
９並びに光ディスク装置５０によって構成されている。

【００３９】制御モジュール４０は、光ディスク４９に
対する画像の記憶、検索および編集処理等のための各種
制御を行うＣＰＵ６４、および光ディスク装置５０、磁
気ディスク装置５７とＣＰＵ６４を接続すると共にＣＰ
Ｕ６４の機能を用いて磁気ディスク装置５７に対する光
ディスクデータの読出し指示等を行うインターフェース
制御部６６から構成されている。また、ＣＰＵ６４に
は、キーボード５３およびマウス５９が接続されてい
る。

【００４０】メモリモジュール４２は、画像の記憶、検
索、編集等の各種制御プログラムおよび管理情報等を記
憶するメインメモリ６８、Ａ４サイズの原稿数頁分の画
像に対応する記憶容量を有する画像メモリとしてのペー
ジメモリ７０、表示用インターフェースとしての表示メ
モリ７２、および表示制御部７４などから構成されてい
る。ページメモリ７０の一部には、バッファメモリ７０
ａの領域が設けられている。ページメモリ７０は、例え
ば光ディスク４９に記憶する画像データや光ディスク４
９から読出された画像データを一時記憶するメモリであ
り、またバッファメモリ７０ａは光ディスク４９から読
出したデータを一時格納するメモリである。

【００４１】表示メモリ７２は、ＣＲＴディスプレイ装
置５４によって表示される画像を一時記憶するためのも
のである。表示制御部７４は、ＣＲＴディスプレイ装置
５４の表示処理の制御等を行うものである。

【００４２】画像処理モジュール４４は、画像の拡大、
縮小処理を施す拡大縮小回路７６、画像の回転処理を行
う縦横変換回路７８、画像の圧縮伸長を行う圧縮伸長回
路（ＣＯＤＥＣ）８０、スキャナ装置４８用のスキャナ
インターフェース８２、プリンタ装置５５用のプリンタ
インターフェース８４、および上記拡大縮小回路７６並
びに縦横変換回路７８と、圧縮伸長回路８０、スキャナ
インターフェース８２、プリンタインターフェース８４
とを接続する内部バス８６によって構成されている。

【００４３】圧縮伸長回路８０は、ＭＨ(Modified Huff
man)方式、あるいはＭＲ(ModifiedRead）方式などを用
いて、帯域圧縮、あるいは帯域伸長が行われるものであ
る。通信制御モジュール（インターフェース）４６は、
たとえばローカルエリアネットワーク(Local Area Netw
ork)等の通信回線に接続されるBCP(Bus Communication
Processor)等の通信インターフェース８８によって構成
され、この通信回線を介してホストコンピュータ（図示
せず）が接続されている。また、通信制御モジュール４
６には、ＦＣＰ（ファクシミリ接続機構）、パソコン等
の外部機器とインターフェースを介して接続されるUCP
(Universal Communication Processor) が設けられたも
のであってもよい。

【００４４】システムバス９０は、各種装置の制御信号
用のバスであり、制御モジュール４０とメモリモジュー
ル４２、画像処理モジュール４４、通信制御モジュール
４６とを接続するものである。また、画像バス６２は画
像用のバスであり、メモリモジュール４２と画像処理モ
ジュール４４、通信制御モジュール４６とを接続するも
のである。

【００４５】スキャナ装置４８はたとえば２次元走査装
置で、原稿（文書）上をレーザビーム光で２次元走査す
ることにより、原稿上の画像に応じた電気信号を得るも
のである。

【００４６】また、光ディスク装置５０は、スキャナ装
置４８で読取られた画像を上述したように光ディスク４
９に順次記憶させるものであり、また、キーボード５３
等によって指定される検索コードに対応した画像を光デ
ィスク４９から検索するものである。

【００４７】キーボード５３は、光ディスク４９に記憶
する画像に対応する固有の検索コードおよび記憶、検
索、編集処理等の各種動作指令などを入力するものであ
る。またマウス５９は、たとえばＣＲＴディスプレイ装
置５４の表示ウインドウ上に表示されるカーソル（図示
せず）を上下、左右方向に任意に移動させ、所望の位置
で指示を与えることにより、カーソルが位置している表
示内容を選択または指示するものである。

【００４８】ＣＲＴディスプレイ装置５４は、スキャナ
装置４８で読取られた画像並びに光ディスク４９から検
索された画像を表示するものである。このＣＲＴディス
プレイ装置５４の表示ウインドウ上の上端、下端、右端
にアイコン等が表示される。プリンタ装置５５は、スキ
ャナ装置４８で読取られた画像、光ディスク４９から検
索された画像またはＣＲＴディスプレイ装置５４で表示
している画像を印字出力（ハードコピー）するものであ
る。

【００４９】磁気ディスク装置５７は、この磁気ディス
ク装置５７に装着された磁気ディスク５６に各種制御プ
ログラムを記憶するとともに、キーボード５３から入力
された検索コードとこの検索コードに対応する画像が記
憶される光ディスク４９上の記憶アドレス、画像サイ
ズ、検索頻度等からなる検索データ（検索情報）を記憶
するものである。

【００５０】上記検索データは文書管理テーブルによっ
て管理されるようになっており、この文書管理テーブル
は、複数の検索キーからなる検索コード（画像名）ごと
に対応して１つの書類番号が記憶されているタイトル管
理テーブル５６ａ、１つの書類の頁単位にレコード番号
が記憶される頁管理テーブル５６ｂ、およびレコード番
号ごとに画像の光ディスク４９における記憶アドレス
（記憶開始位置）、文書サイズ（画像サイズ）、圧縮方
式や解像度などの画像属性、および検索頻度（アクセス
頻度）が記憶されるレコード管理テーブル５６ｃによっ
て構成されている。

【００５１】上記記憶アドレスは、論理アドレスであ
り、アクセス時にはここから物理トラックアドレスおよ
び物理セクタアドレスが算出されるようになっている。

【００５２】上記文字認識部６９は、画像のドットイメ
ージデータに対する文字認識を行うことにより、文字コ
ードに変換して出力するものである。たとえば、ページ
メモリ７０に記憶されているイメージデータの１行単位
を取り出して１文字ごとに区切って認識するようになっ
ている。これにより、文字サーチを行う際のサーチ用の
文字コードを出力している。

【００５３】次に、このような構成において、光ディス
ク１における特性データ記録エリア１ｂのアクセス動作
を説明する。

【００５４】例えばいま、記録媒体制御装置３３から図
４の特性データ記録エリア１ｂのアクセの指示がＣＰＵ
２３に供給される。すると、ＣＰＵ２３はリニアモータ
制御回路１７を制御することにより、光学ヘッド３を内
側から外側に向けて移動する。そして、光学ヘッド３の
遮蔽板３ａにより検知器３６が遮光された際、その検知
器３６からの検知信号がＣＰＵ２３に供給される。する
と、ＣＰＵ２３は光学ヘッド３の移動位置がディスク１
の最内周（内側端部）に位置したことを判断する。

【００５５】さらに、ＣＰＵ２３は、その光ディスク１
の最内周から光学ヘッド３によるレーザ光を移動させ、
検知器３６の検知信号が図４の（ｂ）に示すａとｂとの
中間の値（（ａ＋ｂ）／２）となった際、光学ヘッド３
の移動位置が光ディスク１の最内周に位置したことを判
断するとともに、光学ヘッド３によるレーザ光が特性デ
ータ記録エリア１ｂの半径位置の中心近傍に照射された
ことを判断し、光学ヘッド３の移動を停止させる。

【００５６】ついで、ＣＰＵ２３は、このときその読取
り回路３５からの包絡線２値化信号のハイレベルとロー
レベルとの時間間隔を調べることにより特性データ記録
エリア１ｂの特性データの読取りを行い、この読み取っ
た特性データに対応する制御を行う。即ち、種々の仕様
のことなる光ディスク１に対応する制御を行う。

【００５７】例えば、光ディスク１の膜の特性（反射
率）、半導体レーザの記録、再生時のパワー等が対応し
た仕様で制御される。

【００５８】上記のように、特性データ記録エリア１ｂ
へのアクセス時、内側から光学ヘッド３を移動させ、そ
の後、検知器３６から供給される検知信号により、光学
ヘッド３の移動位置が光ディスク１の最内周に位置した
ことを判断すると共に、光学ヘッド３のレーザ光が特性
データ記録エリア１ｂの半径位置の中心部に照射された
と判断して光学ヘッド３の移動を停止するようにしたも
のである。

【００５９】これにより、光学ヘッド３の可動範囲とし
ての最内周を検知する検知器３６を用いて光学ヘッド３
によるレーザ光の照射位置が特性データ記録エリア１ｂ
の半径位置の中心と合うようにしてある。

【００６０】なお、この実施例では、特性データ記録エ
リアへのアクセス時、内側から移動する場合に付いて説
明したが、これに限らず、外側或いは任意の位置から移
動を開始するようにしても良い。

【００６１】次に、図１において、半導体レーザの劣化
を検知する制御手段について説明する。光学ヘッド３を
光ディスク１の半径方向に移動するためのリニアモータ
３１で光ディスク１の外周方向へ光学ヘッド３をミラー
エリア１ａに移動させる。（図１（ｂ）参照。光学ヘッ
ド３がミラーエリア１ａの位置に移動したことを検知す
るための検知器４２を任意の位置に設置する。

【００６２】ここでミラーエリア１ａへのアクセス動作
を説明する。

【００６３】例えば記録媒体制御装置３３からミラーエ
リア１ａへのアクセスの指示がＣＰＵ２３に供給され
る。すると、ＣＰＵ２３はリニアモータ制御回路１７を
制御することにより、光学ヘッド３を内側から外側に向
けて移動する。

【００６４】そして、光学ヘッド３の遮蔽板３ａにより
検知器４２が遮光された際、その検知器４２からの検知
信号がＣＰＵ２３に供給される。すると、ＣＰＵ２３は
光学ヘッド３の移動位置が光ディスク１の外側のミラー
エリア１ａ（図３）がある所に位置したことを判断す
る。

【００６５】さらに、ＣＰＵ２３は、その光ディスク１
の光学ヘッド３によるレーザ光を移動させ、検知器３５
の検知信号が図４の（ｂ）に示すｂの値となった際、光
学ヘッド３の移動位置が光ディスク１のミラーエリア１
ａに位置したことを判断するとともに、光学ヘッド３に
よるレーザ光がミラーエリア１ａに照射されたことを判
断し、光学ヘッド３の移動を停止させる。

【００６６】ついで、ＣＰＵ２３は、このときその読取
り回路３５からの包絡線２値化信号のハイレベルを調べ
ることによりミラーエリア１ａの特性データの読取りを
行い、この読み取った特性データに対応する制御を行
う。

【００６７】例えば、ミラーの反射率、半導体レーザの
記録時のパワーが対応した仕様で制御される。

【００６８】上記のように、ミラーエリア１ａへのアク
セス時、内側から光学ヘッド３を移動させ、その後、検
知器４２から供給される検知信号により、光学ヘッド３
の移動位置が光ディスク１の外周に位置したことを判断
すると共に、光学ヘッド３のレーザ光がミラーエリア１
ａに照射されたと判断して光学ヘッド３の移動を停止す
るようにしたものである。

【００６９】ここで、ミラーエリア１ａの特性データの
読取りを行った際、出力信号が正常な波形として読み取
れない場合や、指定した記録パワーを出力した時、信号
処理回路１９によりこのパワーが検出できているか（規
定値以外の値だった場合）あらかじめメモリ２４に格納
してある特性データと比較して大きな差がないか等から
判断し、半導体レーザ９が劣化していることが判断でき
る。

【００７０】そして半導体レーザ９が劣化していると判
断したときにはＣＰＵ３２は、その旨をインタフェース
回路３２を介して図１１の記録媒体制御装置３３に送信
し、記録媒体制御装置３３は、その旨のメッセージを表
示制御部７４からＣＲＴディスプレイ装置５４に表示す
る。

【００７１】この表示によりオペレータは半導体レーザ
９が劣化したことを認識して、半導体レーザ９の交換等
を依頼することができる。

【００７２】従って、本実施例によれば、半導体レーザ
９が劣化している判断できることにより、光ディスク１
へ不安定な状態で記録することもなくなり、すなわち、
常に正常な記録、読取りあるいは消去パワーによりレー
ザを発光することが可能になり、光ディスク１の記録デ
ータも正確に読み取る事が可能となる。

【００７３】尚、この光ディスク１は従来の記録再生に
使用するのではなく、検査、保守用の専用の光ディスク
として上記に示したことを実行し、光学ヘッド機構の異
常や半導体レーザの異常を検知するためのものであると
している。

【００７４】次に、本発明の第２の実施例を説明する。

【００７５】図５及び図６は本発明の第２の実施例を示
すものである。本実施例では、通常の記録用の光ディス
ク１の上面であって、データ記録領域１ａの内側の特性
データ記録エリア１ｂの更に内側に、ミラーエリア１ｃ
を設けるものとしている他は上記第１の実施例と同一で
ある。そして、図５に示すように、検知器４２をミラー
エリア１ｃに相当する位置に設け、光学ヘッド３を光デ
ィスク１の半径方向にリニアモータ３１で光ディスク１
の外周方向へ光学ヘッド３をミラーエリア１ｃに移動さ
せる。（図５（ｂ）参照）。光学ヘッド３がミラーエリ
ア１ｃの位置に移動したことを検知器４２で検知して上
記第１の実施例と同様の処理を行い、半導体レーザの劣
化を検知し表示するものである。

【００７６】また、図９は本発明の第３の実施例を示す
ものである。

【００７７】本実施例では、第２の実施例と同様に記録
の光ディスクの上面の記録エリア１ａと特性データ記録
エリア１ｂとの間にミラーエリア１ｃを設けている他は
第１及び第２の実施例と同様であるのでその詳細な説明
は省略する。

【００７８】さらに、図９及び図１０は、本発明の第４
の実施例を示すものである。

【００７９】本実施例では、検査用反射面であるミラー
部１ｃを図１０（ｂ）に示すように、光ディスク１のケ
ース９１のシャッタ９２の開口部分であって、光ヘッド
３のトラッキング方向に位置する個所に設け、図９に示
すように、リニアモータ３１をこの部分まで延長し、検
知器４２をこのミラーエリア１ｃに相当する個所に設
け、光ヘッド３をこの部分に位置するように制御し、第
１の実施例と同様に半導体レーザの劣化を検知する。

【００８０】また、図８は本発明の第５の実施例を示す
ものである。

【００８１】本実施例では、検査用反射面であるミラー
部１ｃを、光ディスク装置本体９５内側の光ヘッド３の
トラッキング方向の延長個所に設け、第４の実施例と同
様に、リニアモータ３１をこの部分まで延長し、検知器
４２をこのミラーエリア１ｃに相当する個所に設け、光
ヘッド３をこの部分に位置するように制御し、第１の実
施例と同様に半導体レーザの劣化を検知する。

【００８２】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、半
導体レーザから光を検査用反射面に照射して、その反射
光の状態によって光学ディスクへ記録する以前に光ディ
スク装置の半導体レーザ劣化を早期に発見することがで
き、劣化しはじめた段階で半導体レーザを交換してしま
えば光ディスク装置のエラー発生率を大きく低下させる
ことができるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の光ディスク装置の光学ヘッドの部分
を示す図。

【図２】光ディスク装置のドライブ機構の回路ブロック
図。

【図３】この発明の光ディスク装置に用いる光ディスク
の一例の平面図。

【図４】一実施例の光ディスクと光学ヘッドの関係を示
す図。

【図５】他の実施例の光ディスクと光学ヘッドの関係を
示す図。

【図６】更に他の実施例の光ディスクの一例の平面図。

【図７】更に他の実施例の光ディスクの一例の平面図。

【図８】更に他の実施例の光ディスクの一例の平面図。

【図９】更に他の実施例の光ディスクの一例の平面図。

【図１０】更に他の実施例の光ディスクの一例の平面
図。

【図１１】この発明の光ディスク装置に用いる光媒体制
御装置の回路ブロック図。

【図１２】この発明の原理動作を説明する為のフローチ
ャート。

【符号の説明】

１…光ディスク、１ａ…データエリア、１ｂ…特性デー
タエリア、１ｃ…ミラーエリア、３…光学ヘッド、９…
半導体レーザ、２３…ＣＰＵ、３３…記録媒体制御装
置、３５…読取り回路、４２…ミラーエリア検知器。

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光源を備え、回転する光ディスクに光を
   照射することによってデータの書込み、読取りを行う光
   学ヘッドと、この光学ヘッドを上記ディスクの半径方向
   へ移動する移動手段とを有する光ディスク装置におい
   て、上記光学ヘッドの前記移動手段による移動可能範囲
   内に光学ヘッドからの照射光を一定の割合で反射する検
   査用反射面を設けて前記光源の性能を検査する方法であ
   って、 光学ヘッドを前記移動手段で上記検査用反射面に光を照
   射する検査範囲に移動し、 光学ヘッドから光を照射して、検査用反射面からの反射
   光の強度を読取り、 読み取った反射光強度を予め定めた基準値と比較して、 反射光の強度が基準値以下であるときは、前記光源の性
   能が劣化していると判定して通知することを特徴とする
   光ディスク装置の光源性能検査方法。
2. 【請求項２】 光源を備え、回転する光ディスクに光を
   照射することによってデータの書込み、読取りを行う光
   学ヘッドと、この光学ヘッドを上記ディスクの半径方向
   へ移動する移動手段とを有する光ディスク装置におい
   て、上記光学ヘッドの前記移動手段による移動可能範囲
   内に光学ヘッドからの照射光を反射する検査用反射鏡面
   を設けて前記光源の性能を検査する方法であって、 光学ヘッドを上記検査用反射鏡面に光を照射する検査範
   囲に移動し、 光学ヘッドから光を照射して、前記検査用反射鏡面から
   の反射光の強度を読取り、 読み取った反射光強度を予め定めた基準値と比較して、 反射光の強度が基準値以下であるときは、前記光源の性
   能が劣化していると判定して通知することを特徴とする
   光ディスク装置の光源性能検査方法。
3. 【請求項３】 半導体レーザを備え、回転する光ディス
   クに光を照射することによってデータの書込み、読取り
   を行う光学ヘッドと、この光学ヘッドを上記ディスクの
   半径方向へ移動する移動手段とを有する光ディスク装置
   において、 上記光学ヘッドの上記移動手段による移動可能範囲内に
   設けられ、光学ヘッドからの照射光を一定の割合で反射
   する検査用反射面と、 照射された光が検査用反射面から反射してきた光の強度
   と、予め定められた値とを比較して半導体レーザの性能
   を判定する判定手段とを具備したことを特徴とする光デ
   ィスク装置。
4. 【請求項４】 半導体レーザを備え、回転する光ディス
   クに光を照射することによってデータの書込み、読取り
   を行う光学ヘッドと、この光学ヘッドを上記ディスクの
   半径方向へ移動する移動手段とを有する光ディスク装置
   において、 上記光学ヘッドの上記移動手段による移動可能範囲内に
   設けられ、光学ヘッドからの照射光を反射する検査用反
   射鏡面と、 照射された光が検査用反射鏡面から反射してきた光の強
   度と、予め定められた値とを比較して半導体レーザの性
   能を判定する判定手段とを具備したことを特徴とする光
   ディスク装置。
5. 【請求項５】 半導体レーザを備え、回転する光ディス
   クに光を照射することによってデータの書込み、読取り
   を行う光学ヘッドと、この光学ヘッドを上記ディスクの
   半径方向へ移動する移動手段とを有する光ディスク装置
   において、 上記光学ヘッドの上記移動手段による移動可能範囲内に
   設けられ、光学ヘッドからの照射光を一定の割合で反射
   する検査用反射面と、 照射された光が検査用反射面から反射してきた光の強度
   と、予め定められた値とを比較して半導体レーザの性能
   を判定する判定手段とを具備し、上記検査用反射面は光
   ディスクに設けたことを特徴とする光ディスク装置。
6. 【請求項６】 半導体レーザを備え、回転する光ディス
   クに光を照射することによってデータの書込み、読取り
   を行う光学ヘッドと、この光学ヘッドを上記ディスクの
   半径方向へ移動する移動手段とを有する光ディスク装置
   において、 上記光学ヘッドの上記移動手段による移動可能範囲内に
   設けられ、光学ヘッドからの照射光を反射する検査用反
   射鏡面と、 照射された光が検査用反射鏡面から反射してきた光の強
   度と、予め定められた値とを比較して半導体レーザの性
   能を判定する判定手段とを具備し、上記検査用反射鏡面
   は光ディスクに設けたことを特徴とする光ディスク装
   置。
7. 【請求項７】 半導体レーザを備え、回転する光ディス
   クに光を照射することによってデータの書込み、読取り
   を行う光学ヘッドと、この光学ヘッドを上記ディスクの
   半径方向へ移動する移動手段とを有する光ディスク装置
   において、 上記光学ヘッドの上記移動手段による移動可能範囲内に
   設けられ、光学ヘッドからの照射光を一定の割合で反射
   する検査用反射面と、 照射された光が検査用反射面から反射してきた光の強度
   と、予め定められた値とを比較して半導体レーザの性能
   を判定する判定手段とを具備し、上記検査用反射面は光
   ディスクのケースの一部に設けたことを特徴とする光デ
   ィスク装置。
8. 【請求項８】 半導体レーザを備え、回転する光ディス
   クに光を照射することによってデータの書込み、読取り
   を行う光学ヘッドと、この光学ヘッドを上記ディスクの
   半径方向へ移動する移動手段とを有する光ディスク装置
   において、 上記光学ヘッドの上記移動手段による移動可能範囲内に
   設けられ、光学ヘッドからの照射光を反射する検査用反
   射鏡面と、 照射された光が検査用反射鏡面から反射してきた光の強
   度と、予め定められた値とを比較して半導体レーザの性
   能を判定する判定手段とを具備し、上記検査用反射鏡面
   は光ディスクのケースの一部に設けたことを特徴とする
   光ディスク装置。
9. 【請求項９】 半導体レーザを備え、回転する光ディス
   クに光を照射することによってデータの書込み、読取り
   を行う光学ヘッドと、この光学ヘッドを上記ディスクの
   半径方向へ移動する移動手段とを有する光ディスク装置
   において、 上記光学ヘッドの上記移動手段による移動可能範囲内に
   設けられ、光学ヘッドからの照射光を一定の割合で反射
   する検査用反射面と、 照射された光が検査用反射面から反射してきた光の強度
   と、予め定められた値とを比較して半導体レーザの性能
   を判定する判定手段とを具備し、上記検査用反射面は光
   ディスク装置の本体部に設けることを特徴とする光ディ
   スク装置。
10. 【請求項１０】 半導体レーザを備え、回転する光ディ
    スクに光を照射することによってデータの書込み、読取
    りを行う光学ヘッドと、この光学ヘッドを上記ディスク
    の半径方向へ移動する移動手段とを有する光ディスク装
    置において、 上記光学ヘッドの上記移動手段による移動可能範囲内に
    設けられ、光学ヘッドからの照射光を反射する検査用反
    射鏡面と、 照射された光が検査用反射鏡面から反射してきた光の強
    度と、予め定められた値とを比較して半導体レーザの性
    能を判定する判定手段とを具備し、上記検査用反射鏡面
    は光ディスク装置の本体部に設けたことを特徴とする光
    ディスク装置。
11. 【請求項１１】 光学ヘッドから光が照射される面の少
    なくとも一部に光ディスク装置の光源性能の検査用反射
    面を有することを特徴とする光ディスク。
12. 【請求項１２】 光学ヘッドから光が照射される面の少
    なくとも一部に光ディスク装置の光源性能の検査用反射
    面を有し、この検査用反射面は鏡面であることを特徴と
    する光ディスク。