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JPH06323819A - Elongation/contraction measuring apparatus for film material - Google Patents

Elongation/contraction measuring apparatus for film material

Info

Publication number
JPH06323819A
JPH06323819A JP13530093A JP13530093A JPH06323819A JP H06323819 A JPH06323819 A JP H06323819A JP 13530093 A JP13530093 A JP 13530093A JP 13530093 A JP13530093 A JP 13530093A JP H06323819 A JPH06323819 A JP H06323819A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
link lever
film
film material
elongation
sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13530093A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Haruhisa Takatani
晴久 高谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinko Kagaku KK
Original Assignee
Shinko Kagaku KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinko Kagaku KK filed Critical Shinko Kagaku KK
Priority to JP13530093A priority Critical patent/JPH06323819A/en
Publication of JPH06323819A publication Critical patent/JPH06323819A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

PURPOSE:To allow noncontact measurement of the elongation/contraction of a film material susceptible to the fluctuation in tension, temperature, humidity, etc., even for microvariation of load. CONSTITUTION:A sample film 3 is held between a film upper end holder of a link lever 1 and a film lower end holder 5 disposed below a thermostatic bath 2. A micrometer head 7 is then rotated to shift a counter weight 6 and the moment of a rotatable link lever 1 is increased thus exerting microtension of 1g, for example, to the sample film 3. Elongation of the sample film 3 is detected based on the displacement of an optical analog displacement sensor 8 caused by the rotation of the reflective surface 13 of a sensor protrusion 12 projecting from the link lever 1.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、張力の印加や温度、湿
度等の環境変化により伸縮しやすいフィルム材の伸縮長
を測定するための装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for measuring the expansion / contraction length of a film material which easily expands / contracts due to the application of tension and environmental changes such as temperature and humidity.

【0002】[0002]

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】フィル
ム材、例えばグラビア印刷の表面にラミネートする膜厚
30μm以下の透明フィルム材等にあっては、ごくわず
かな張力を掛けるだけで伸びるものや、一度伸びてから
縮むものがあり、またわずかな温度や湿度等の環境条件
の変化によっても伸縮するものがある。このようなフィ
ルム材については、一定の環境条件下で所定の張力を掛
けたときにどれ位伸縮するのかを測定しておく必要があ
る。
2. Description of the Related Art A film material, for example, a transparent film material having a film thickness of 30 μm or less to be laminated on the surface of gravure printing, can be stretched by applying a slight tension, Some stretch and then shrink, and some stretch even with slight changes in environmental conditions such as temperature and humidity. For such a film material, it is necessary to measure in advance how much it expands and contracts when a predetermined tension is applied under constant environmental conditions.

【0003】このため従来より種々の方法、装置、治具
等が提案されてきているが、例えば1グラムの負荷変動
による伸縮を測定したい等という非常に精度の高い要求
があり、このような要求には対応できていなかった。
For this reason, various methods, devices, jigs, etc. have been proposed in the past, but there is a very high demand for measuring expansion and contraction due to load fluctuation of 1 gram, for example. I couldn't handle it.

【0004】本発明はこのような点に鑑みてなしたもの
で、上述のような微小な負荷変動を非接触で測定できる
フィルム材の伸縮長測定装置を提供することを目的とす
る。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide an apparatus for measuring the expansion / contraction length of a film material, which can measure the minute load fluctuations as described above in a non-contact manner.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明に係るフィルム材
の伸縮長測定装置は上記目的を達成するために、長手方
向の途中位置を回動自在に支持したリンクレバーと、一
端を固定した測定対象となるフィルム材の他端を上記リ
ンクレバーの一端に取り付け保持するフィルム端保持手
段と、上記リンクレバーの他端に該リンクレバーの長手
方向で位置可変に保持した重りと、該重りの位置を可変
する手段と、略平坦な反射面を有するとともに上記リン
クレバーとともに回動するセンサー用突起と、該センサ
ー用突起の反射面に向けて光を射出し、その反射光を受
光して上記リンクレバーの一端の変位を検出する光学的
測定手段とから構成したものである。
In order to achieve the above-mentioned object, a device for measuring the expansion and contraction length of a film material according to the present invention has a link lever rotatably supported at an intermediate position in the longitudinal direction and a measurement with one end fixed. Film end holding means for attaching and holding the other end of the target film material to one end of the link lever, a weight for holding the other end of the link lever at a position variable in the longitudinal direction of the link lever, and a position of the weight. , A sensor projection having a substantially flat reflecting surface and rotating together with the link lever, and emitting light toward the reflecting surface of the sensor projection and receiving the reflected light to receive the link. And an optical measuring means for detecting the displacement of one end of the lever.

【0006】本発明に係るフィルム材の伸縮長測定装置
は、上記重り位置可変手段がマイクロメータヘッドであ
り、上記リンクレバーが同軸方向で上記他端側へ伸びる
シャフトを有し、上記マイクロメータヘッドを、上記カ
ウンターウェイトとともに該シャフトに装架した構成と
することができる。
In the expansion / contraction length measuring device for a film material according to the present invention, the weight position changing means is a micrometer head, and the link lever has a shaft extending coaxially to the other end side. Can be mounted on the shaft together with the counter weight.

【0007】本発明に係るフィルム材の伸縮長測定装置
は、上記光学的測定手段が光学アナログ変位センサーで
ある構成とすることもできる。
In the expansion / contraction length measuring device for a film material according to the present invention, the optical measuring means may be an optical analog displacement sensor.

【0008】[0008]

【実施例】以下本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0009】まず本実施例装置の主な構成要素を示す
と、図中1はリンクレバー、2は恒温槽、3は測定対象
となる試料フィルム、4はフィルム上端保持装置、5は
フィルム下端保持装置、6はカウンターウェイト、7は
マイクロメータヘッド、8は光学アナログ変位センサー
である。
First, the main constituent elements of the apparatus of this embodiment are shown. In the figure, 1 is a link lever, 2 is a thermostatic chamber, 3 is a sample film to be measured, 4 is a film upper end holding device, and 5 is a film lower end holding device. A device, 6 is a counter weight, 7 is a micrometer head, and 8 is an optical analog displacement sensor.

【0010】リンクレバー1は、恒温槽2の上部に固定
した基台9上に一対の支持プレート10、10を立設し
てそれらの間に長手方向の略中央部をピン11で軸支
し、図中矢印で示すように垂直方向で回動自在に支持し
てある。またリンクレバー1のピン11で支持した位置
からはセンサー用突起12が略垂下方向で突出させてあ
り、リンクレバー1と一体に回動するようにしてある。
このセンサー用突起12は下端部に平坦な反射面13が
設けてある。さらにリンクレバー1の後端側には同軸方
向に伸びるシャフト14が設けてある。
In the link lever 1, a pair of support plates 10 and 10 are erected on a base 9 fixed to the upper part of the constant temperature bath 2, and a pin 11 is axially supported between the support plates 10 and 10 in the longitudinal direction. As shown by the arrow in the figure, it is rotatably supported in the vertical direction. Further, a sensor projection 12 is made to project from the position supported by the pin 11 of the link lever 1 in a substantially downward direction so as to rotate integrally with the link lever 1.
This sensor projection 12 has a flat reflecting surface 13 at the lower end. Further, a shaft 14 extending coaxially is provided on the rear end side of the link lever 1.

【0011】フィルム上端保持装置4はリンクレバー1
の先端に取り付けてあり、恒温槽2の下部に取り付けた
フィルム下端保持装置5との間で試料フィルム3の上下
端を保持する。フィルム上端保持装置4は、リンクレバ
ー1の先端に装着するベース15、一対の連結ロッド1
6、16、連結ベース17及びフィルム保持板18から
構成してある。連結ベース17とフィルム保持板18は
恒温槽2内部に配するものであり、恒温槽2の保温材1
9を貫通する連結ロッド16が、恒温槽2外側のベース
15と同内側の連結ベース17との間を連結している。
フィルム保持板18は連結ベース17に軸支してあり、
下縁に試料フィルム3の上縁を挟めるようになってい
る。
The film upper end holding device 4 is a link lever 1.
The upper and lower ends of the sample film 3 are held between the sample lower end holding device 5 and the lower end holding device 5 attached to the lower end of the constant temperature bath 2. The film upper end holding device 4 includes a base 15 mounted on the tip of the link lever 1 and a pair of connecting rods 1.
6, 16, a connecting base 17 and a film holding plate 18. The connection base 17 and the film holding plate 18 are arranged inside the constant temperature bath 2, and the heat insulating material 1 of the constant temperature bath 2 is used.
A connecting rod 16 penetrating 9 connects between the base 15 outside the constant temperature bath 2 and the connecting base 17 inside the constant temperature bath 2.
The film holding plate 18 is pivotally supported on the connection base 17,
The upper edge of the sample film 3 can be sandwiched between the lower edges.

【0012】フィルム下端保持装置5は、恒温槽2の下
側に固定するベース20、このベース20と恒温槽2の
保温材19を貫通する一対の連結ロッド21、21、フ
ィルム保持板22から構成してある。フィルム保持板2
2は恒温槽2内でフィルム上端保持装置4のフィルム保
持板18と対向させて配してあり、連結ロッド21が、
恒温槽2外側のベース20と同内側のフィルム保持板2
2との間を連結している。フィルム保持板22は連結ロ
ッド21の上端に固定してあり、上縁に試料フィルム3
の下縁を挟めるようになっている。なおベース20には
詳細な図示は省略するがクランプ機構が設けてあり、一
対のクランプレバー23を操作することにより恒温槽2
内へ突出する連結ロッド21の長さ、換言すればフィル
ム保持板22による試料フィルム3の保持位置を可変で
きる。
The film lower end holding device 5 comprises a base 20 fixed to the lower side of the thermostat 2, a pair of connecting rods 21 and 21 penetrating the base 20 and the heat insulating material 19 of the thermostat 2, and a film holding plate 22. I am doing it. Film holding plate 2
2 is arranged in the constant temperature bath 2 so as to face the film holding plate 18 of the film upper end holding device 4, and the connecting rod 21 is
Film holding plate 2 inside base 20 outside constant temperature chamber 2 inside
It is connected between the two. The film holding plate 22 is fixed to the upper end of the connecting rod 21, and the sample film 3 is attached to the upper edge.
It is designed so that the lower edge of can be pinched. Although a detailed illustration is omitted, the base 20 is provided with a clamp mechanism, and by operating a pair of clamp levers 23, the constant temperature bath 2
The length of the connecting rod 21 protruding inward, in other words, the holding position of the sample film 3 by the film holding plate 22 can be changed.

【0013】カウンターウェイト6とマイクロメータヘ
ッド7は、リンクレバー1のシャフト14に装架してあ
り、マイクロメータヘッド7の操作でカウンターウェイ
ト6をシャフト14に沿って移動させ、カウンターウェ
イト6がリンクレバー1の後端側に生じさせるモーメン
トを各位置において変えることにより、リンクレバー1
先端側に生じるモーメントを変化させ、適宜のテンショ
ンを試料フィルム3に掛けることができるようになって
いる。例えば、マイクロメータヘッド7の目盛0.00
mmから0.50mm、即ち半回転ごとに1グラムのテ
ンションを試料フィルム3に掛けることができるように
カウンターウェイト6の重量と移動距離を調節するよう
に設定する。なお、カウンターウェイト6とマイクロメ
ータヘッド7との連結機構、及びカウンターウェイト6
の位置により試料フィルム3に係るテンションの調節手
法については適宜公知の機構、方法等を採用すればよい
ので図示及び説明は省略する。
The counterweight 6 and the micrometer head 7 are mounted on the shaft 14 of the link lever 1. By operating the micrometer head 7, the counterweight 6 is moved along the shaft 14, and the counterweight 6 is linked. By changing the moment generated on the rear end side of the lever 1 at each position, the link lever 1
The moment generated on the tip side can be changed to apply an appropriate tension to the sample film 3. For example, the scale of the micrometer head 7 is 0.00
The weight and the moving distance of the counterweight 6 are set so that a tension of 1 gram can be applied to the sample film 3 every half rotation, that is, from 0.5 mm to 0.50 mm. In addition, the connection mechanism between the counter weight 6 and the micrometer head 7, and the counter weight 6
As for the method of adjusting the tension of the sample film 3 depending on the position, a well-known mechanism, method, etc. may be adopted as appropriate, and therefore illustration and description thereof will be omitted.

【0014】光学アナログ変位センサー8は、受光量変
化に応じた出力電圧の変化により測定対象物の微小変位
を検出する光学的アナログセンサーと称される種類のレ
ーザーを使用したもので、リンクレバー1の支持プレー
ト10と同じく基台9上に搭載してある。その搭載位置
は、センサー用突起12の反射面13と向かい合い、セ
ンサー用突起12が所定の角度範囲内で回転しても射出
するレーザー光Lが確実に反射面13へ入射でき、反射
光L’が生じる位置としてある。
The optical analog displacement sensor 8 uses a laser of a type called an optical analog sensor which detects a minute displacement of a measuring object by a change in an output voltage according to a change in the amount of received light. It is mounted on the base 9 like the support plate 10 of FIG. The mounting position faces the reflecting surface 13 of the sensor protrusion 12, and even if the sensor protrusion 12 rotates within a predetermined angle range, the emitted laser light L can surely enter the reflecting surface 13 and the reflected light L ′. Is the position where

【0015】なお図中24はリンクレバー1の固定支持
台で、試料3のセット時等のようにリンクレバー1が回
動しては困るような場合や、本装置を使用しないときな
どにリンクレバー1の先端を載せて回動しないようにす
るものである。
Reference numeral 24 in the drawing denotes a fixed support base for the link lever 1, which is used when the link lever 1 does not rotate when the sample 3 is set or when the apparatus is not used. The tip of the lever 1 is placed so as not to rotate.

【0016】次に本実施例装置による試料フィルムの伸
縮測定の具体例について説明する。まずリンクレバー1
の先端を固定支持台24に支持させて、ふらつかないよ
うに安定させる。それから所定の温度、湿度条件にセッ
トした恒温槽2内で、フィルム上端保持装置4のフィル
ム保持板18とフィルム下端保持装置5のフィルム保持
板22との間に試料フィルム3を保持させ、かつ試料フ
ィルム3に伸縮が生じない状態でリンクレバー1をバラ
ンスさせるようにマイクロメータヘッド7でカウンター
ウェイト6の位置を調節しておく。
Next, a specific example of the expansion / contraction measurement of the sample film by the apparatus of this embodiment will be described. Link lever 1
The tip of the is supported by the fixed support base 24 to stabilize it so as not to wobble. Then, the sample film 3 is held between the film holding plate 18 of the film upper end holding device 4 and the film holding plate 22 of the film lower end holding device 5 in the constant temperature bath 2 set to a predetermined temperature and humidity condition, and the sample The position of the counterweight 6 is adjusted by the micrometer head 7 so that the link lever 1 is balanced in a state where the film 3 does not expand or contract.

【0017】次にマイクロメータヘッド7を例えばテン
ション1グラム分だけ回転させ、カウンターウェイト6
の位置をその回転対応分だけリンクレバー1の後端側へ
移動させ、リンクレバー1の先端におけるモーメントを
増加させて試料フィルム3に対して上方へ1グラムのテ
ンションが掛かるように設定する。
Next, the micrometer head 7 is rotated by, for example, a tension of 1 gram, and the counterweight 6 is rotated.
Is moved to the rear end side of the link lever 1 by an amount corresponding to the rotation, the moment at the tip of the link lever 1 is increased, and a tension of 1 gram is applied upward to the sample film 3.

【0018】次いでリンクレバー1の先端を固定支持台
24から外して試料フィルム3に上記の設定したテンシ
ョンを掛ける。すると試料フィルム3は伸びが0の状態
から印加されたテンションによる伸びを示し、その分リ
ンクレバー1の先端は上方へ、後端は下方へ回動する。
またリンクレバー1から突出するセンサー用突起12も
図1中の鎖線で示すように図中左方へ回動する。このた
め、光学アナログ変位センサー8から反射面13が遠ざ
かり、その分反射光L’の光量が変化し、光学アナログ
変位センサー8の出力電圧が変化する。この出力電圧を
基準距離における出力電圧値と比較することによって反
射面13の位置が検出される。さらに、恒温槽2を所望
の条件で運転すれば連続的に測定が行なえる。また、試
料フィルム3があるテンションに対して伸び切った後、
その状態を測定原点としてテンションを可変させれば、
相対的伸び量が計測される。
Next, the tip of the link lever 1 is removed from the fixed support 24, and the tension set above is applied to the sample film 3. Then, the sample film 3 exhibits elongation due to the applied tension from the state where the elongation is 0, and the front end of the link lever 1 rotates upward and the rear end thereof rotates downward accordingly.
Further, the sensor projection 12 protruding from the link lever 1 also rotates to the left in the figure as shown by the chain line in FIG. Therefore, the reflection surface 13 moves away from the optical analog displacement sensor 8, the amount of the reflected light L ′ changes correspondingly, and the output voltage of the optical analog displacement sensor 8 changes. The position of the reflecting surface 13 is detected by comparing this output voltage with the output voltage value at the reference distance. Further, if the constant temperature bath 2 is operated under desired conditions, continuous measurement can be performed. In addition, after the sample film 3 is fully stretched for a certain tension,
If you change the tension with that state as the measurement origin,
The relative amount of elongation is measured.

【0019】もちろんセンサー用突起12の移動はピン
11による支持点を中心とする回転動であるから、試料
フィルム3の伸びと反射面13の変位とが正比例するも
のではなく、若干の誤差が存在する。例えば、試料の伸
びt=10mmが長さl=200.0mmとしたリンク
レバー1の先端軌跡aの回転による変位としてどのよう
に現われるかを見ると、図3に示すような誤差xが生じ
る。この誤差xは、
Of course, since the movement of the sensor projection 12 is a rotational movement about the support point of the pin 11, the elongation of the sample film 3 and the displacement of the reflecting surface 13 are not in direct proportion, and there are some errors. To do. For example, looking at how the elongation t = 10 mm of the sample appears as the displacement due to the rotation of the tip locus a of the link lever 1 having the length l = 200.0 mm, an error x as shown in FIG. 3 occurs. This error x is

【数1】 10−200sin(arctan(10/200))=0.0124(mm) であり、現実的には無視し得る数値となる。これと同様
にして測定誤差が反射面13の位置による測定において
も生じるが、センサー用突起12がリンクレバー1より
も短いか、もしくはリンクレバー1よりも長くてもその
差があまり大きくなければ上記と同様に無視し得るもの
である。なお上記説明では試料フィルム3の伸びについ
てのみ言及しているが、縮みについても全く同様に測定
できることは明らかであるので、説明は省略する。
## EQU1 ## 10-200sin (arctan (10/200)) = 0.124 (mm), which is a numerical value that can be practically ignored. Similar to this, a measurement error also occurs in the measurement depending on the position of the reflection surface 13, but if the sensor projection 12 is shorter than the link lever 1 or longer than the link lever 1, the difference is not so large as described above. Can be ignored as well. Although only the elongation of the sample film 3 is referred to in the above description, it is clear that the shrinkage can be measured in the same manner, and the description thereof will be omitted.

【0020】[0020]

【発明の効果】本発明に係るフィルム材の伸縮長測定装
置は以上説明してきたようなものなので、従来難しかっ
た微小な負荷変動に対するフィルム材の伸縮測定が容易
に行なえるようになり、しかもフィルム材の装置への取
り付け以外は非接触で測定できるので測定精度に優れた
ものとなるという効果がある。
Since the apparatus for measuring the expansion and contraction length of the film material according to the present invention is as described above, it becomes possible to easily measure the expansion and contraction of the film material with respect to a minute load change which has been difficult in the past. Since the measurement can be performed in a non-contact manner except when the material is attached to the device, there is an effect that the measurement accuracy is excellent.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るフィルム材の伸縮長測定装置の実
施例を示す側面図である。
FIG. 1 is a side view showing an embodiment of an expansion / contraction length measuring device for a film material according to the present invention.

【図2】図1の装置の正面図である。2 is a front view of the device of FIG. 1. FIG.

【図3】図1の装置による測定誤差を示すための説明図
である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a measurement error by the apparatus of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 リンクレバー 2 恒温槽 3 試料フィルム 4 フィルム上端保持装置 5 フィルム下端保持装置 6 カウンターウェイト 7 マイクロメータヘッド 8 光学アナログ変位センサー 9 基台 10 支持プレート 11 ピン 12 センサー用突起 13 反射面 14 シャフト 15 ベース 16 連結ロッド 17 連結ベース 18 フィルム保持板 19 保温材 20 ベース 21 連結ロッド 22 フィルム保持板 23 クランプレバー 24 固定支持台 L レーザー光 L’ 反射光 1 Link Lever 2 Constant Temperature Chamber 3 Sample Film 4 Film Top End Holding Device 5 Film Bottom End Holding Device 6 Counter Weight 7 Micrometer Head 8 Optical Analog Displacement Sensor 9 Base 10 Support Plate 11 Pin 12 Sensor Protrusion 13 Reflective Surface 14 Shaft 15 Base 16 connecting rod 17 connecting base 18 film holding plate 19 heat insulating material 20 base 21 connecting rod 22 film holding plate 23 clamp lever 24 fixed support stand L laser light L'reflected light

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 長手方向の途中位置を回動自在に支持し
たリンクレバーと、一端を固定した測定対象となるフィ
ルム材の他端を上記リンクレバーの一端に取り付け保持
するフィルム端保持手段と、上記リンクレバーの他端に
該リンクレバーの長手方向で位置可変に保持した重り
と、該重りの位置を可変する手段と、略平坦な反射面を
有するとともに上記リンクレバーとともに回動するセン
サー用突起と、該センサー用突起の反射面に向けて光を
射出し、その反射光を受光して上記リンクレバーの一端
の変位を検出する光学的測定手段とからなることを特徴
とするフィルム材の伸縮長測定装置。
1. A link lever rotatably supported at an intermediate position in the longitudinal direction, and a film end holding means for attaching and holding the other end of a film material to be measured having one end fixed to one end of the link lever. A weight for holding the link lever at the other end of the link lever so that its position is variable in the longitudinal direction, a means for changing the position of the weight, and a sensor projection having a substantially flat reflecting surface and rotating together with the link lever. And an optical measuring unit that emits light toward the reflecting surface of the sensor projection and receives the reflected light to detect the displacement of one end of the link lever. Long measuring device.
【請求項2】 請求項1のフィルム材の伸縮長測定装置
において、上記重り位置可変手段がマイクロメータヘッ
ドであり、上記リンクレバーが同軸方向で上記他端側へ
伸びるシャフトを有し、上記マイクロメータヘッドを、
上記カウンターウェイトとともに該シャフトに装架した
ことを特徴とするフィルム材の伸縮長測定装置。
2. The expansion / contraction length measuring device for a film material according to claim 1, wherein the weight position changing means is a micrometer head, and the link lever has a shaft extending coaxially to the other end side. The meter head,
A stretchable length measuring device for a film material, which is mounted on the shaft together with the counterweight.
【請求項3】 請求項1または2のフィルム材の伸縮長
測定装置において、上記光学的測定手段が光学アナログ
変位センサーであることを特徴とするフィルム材の伸縮
長測定装置。
3. The expansion / contraction length measuring device for a film material according to claim 1 or 2, wherein the optical measuring means is an optical analog displacement sensor.
JP13530093A 1993-05-12 1993-05-12 Elongation/contraction measuring apparatus for film material Pending JPH06323819A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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