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JPH06129826A - Conversion factor determining method in three dimensional shape measurement - Google Patents

Conversion factor determining method in three dimensional shape measurement

Info

Publication number
JPH06129826A
JPH06129826A JP15526493A JP15526493A JPH06129826A JP H06129826 A JPH06129826 A JP H06129826A JP 15526493 A JP15526493 A JP 15526493A JP 15526493 A JP15526493 A JP 15526493A JP H06129826 A JPH06129826 A JP H06129826A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slit light
coordinate system
measured
dimensional
straight lines
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP15526493A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsutoshi Nishizaki
勝利 西崎
Yoshinobu Hiyamizu
由信 冷水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koyo Seiko Co Ltd
Original Assignee
Koyo Seiko Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koyo Seiko Co Ltd filed Critical Koyo Seiko Co Ltd
Priority to JP15526493A priority Critical patent/JPH06129826A/en
Publication of JPH06129826A publication Critical patent/JPH06129826A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a conversion factor determining method by which a cost can be lowered in three dimensional measurement requiring no special shape exclusive object. CONSTITUTION:As moving an object 6 in a Y-axis direction of three dimensional measuring coordinates, the picture of a light cutting line 8 formed on two slit light-irradiated planes S1, S2 of the object 6 is taken at five or more moving step positions by a television camera 9 so as to regression compute the formulae of two straight lines constituting the light cutting lines on screen coordinate. The crossing points of these plural straight lines are computed so as to regression compute arbitrary four straight lines from these crossing points coordinates. The conversion factors of coordinate conversion formulae are computed by using these four straight lines. By rotating the object 6 around the rotation center axis of an object to be measured intersecting with a slit light plane 7a at right angles, the crossing point of two straight lines constituting light cutting line images on the screen coordinates at plural rotating step positions. Thereby the position of the rotation center axis of the object to be measured is computed from the crossing point coordinates at plural rotating step positions.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、光切断法を用いた3
次元形状測定における変換係数決定方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION This invention uses a light-section method.
The present invention relates to a conversion coefficient determination method in three-dimensional shape measurement.

【0002】[0002]

【従来の技術】光切断法を用いた3次元形状測定は、通
常、次のように行われている。
2. Description of the Related Art Three-dimensional shape measurement using a light section method is usually performed as follows.

【0003】被測定物ステージに固定した被測定物にス
リット光源装置からスリット光を照射し、このスリット
光が被測定物の表面に当たって形成される光切断線をス
リット光面に対して傾斜した方向から2次元撮像装置で
撮像し、2次元撮像装置の画面座標系における光切断線
像の2次元画像データを、座標変換式を用いて、スリッ
ト光面内の2つの直交座標軸による2次元測定座標系に
おける光切断線の2次元形状データに変換する。スリッ
ト光面と直交する一定の被測定物回転中心軸を中心に被
測定物ステージを一定のステップ角度ずつ複数ステップ
回転させて、各回転ステップ位置において、上記の2次
元画像データから2次元形状データへの変換を行い、こ
のようにして得られた複数の2次元形状データから、ス
リット光面における被測定物の断面形状データを合成す
る。被測定物回転中心軸方向に被測定物ステージを一定
のステップ長さで複数ステップ移動させて、各移動ステ
ップ位置において、上記の断面形状データの合成を行
い、このようにして得られた複数の断面形状データか
ら、スリット光面と平行な2つの直交座標軸と被測定物
回転中心軸と平行な1つの座標軸による3次元測定座標
系における被測定物の3次元形状データを合成する。
A slit light source device irradiates slit light to a workpiece to be measured fixed to a workpiece stage, and the slit light strikes the surface of the workpiece to form a light cutting line which is inclined with respect to the slit light surface. 2D image data of a light-section line image in the screen coordinate system of the 2D image pickup device by using a coordinate conversion formula, and 2D measurement coordinates by two orthogonal coordinate axes in the slit light plane. It is converted into two-dimensional shape data of the light cutting line in the system. Two-dimensional shape data is obtained from the above two-dimensional image data at each rotation step position by rotating the DUT stage a plurality of steps by a fixed step angle around a fixed rotation axis of the DUT orthogonal to the slit light surface. Is performed, and the cross-sectional shape data of the measured object on the slit light surface is synthesized from the plurality of two-dimensional shape data thus obtained. By moving the DUT stage in the direction of the central axis of rotation of the DUT by a plurality of steps with a constant step length, at each movement step position, the above-mentioned cross-sectional shape data is synthesized, and a plurality of thus obtained cross-sectional shape data are obtained. From the cross-sectional shape data, the three-dimensional shape data of the measured object in the three-dimensional measurement coordinate system having two orthogonal coordinate axes parallel to the slit light surface and one coordinate axis parallel to the rotation axis of the measured object is synthesized.

【0004】上記のように光切断線の2次元形状データ
を求める際の画面座標系から2次元測定座標系への変換
は一般に射影変換と呼ばれ、広く用いられている。この
変換における座標変換式の変換係数は、2次元撮像装置
の設置状況やスリット光面の状態により変化するため、
測定装置ごとにこれを決定する必要がある。
The conversion from the screen coordinate system to the two-dimensional measurement coordinate system when obtaining the two-dimensional shape data of the light section line as described above is generally called projective transformation and is widely used. Since the conversion coefficient of the coordinate conversion formula in this conversion changes depending on the installation condition of the two-dimensional imaging device and the state of the slit light surface,
This needs to be determined for each measuring device.

【0005】射影変換における座標変換式の変換係数の
決定方法として、従来、特開昭61−205927号公
報に記載されているように特定のパターンを撮像して決
定する方法、特開昭62−503121号公報に記載さ
れているように精度良く加工された特定形状の被検物を
用いて決定する方法などが提案されている。
As a method for determining the conversion coefficient of the coordinate conversion formula in the projective conversion, a method for imaging and determining a specific pattern as described in Japanese Patent Laid-Open No. 61-205927, has been known. As disclosed in Japanese Patent No. 503121, there is proposed a method of making a determination using a test object of a specific shape processed with high accuracy.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
な従来の方法では、いずれも特殊形状の専用の被検物を
必要とし、汎用性に欠ける上、装置としてのコストアッ
プにつながる可能性がある。
However, each of the conventional methods as described above requires a special test object having a special shape, which lacks general versatility and may increase the cost of the apparatus. is there.

【0007】この発明の目的は、上記の問題を解決し、
特殊形状の専用の被検物を必要とせず、コストダウンが
可能な3次元形状測定における変換係数決定方法を提供
することにある。
The object of the present invention is to solve the above problems,
It is an object of the present invention to provide a conversion coefficient determination method in three-dimensional shape measurement that can reduce costs without requiring a special test object having a special shape.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】第1の発明による3次元
形状測定における変換係数決定方法は、被測定物にスリ
ット光源装置からスリット光を照射し、このスリット光
が被測定物の表面に当たって形成される光切断線をスリ
ット光面に対して傾斜した方向から2次元撮像装置で撮
像し、2次元撮像装置の画面座標系における光切断線像
の2次元画像データを、座標変換式を用いて、スリット
光面内の2つの直交座標軸による2次元測定座標系にお
ける光切断線の2次元形状データに変換し、スリット光
面と直交する一定の被測定物回転中心軸を中心に被測定
物を一定のステップ角度ずつ複数ステップ回転させて、
各回転ステップ位置において、上記の2次元画像データ
から2次元形状データへの変換を行い、このようにして
得られた複数の2次元形状データから、スリット光面に
おける被測定物の断面形状データを合成し、上記被測定
物回転中心軸方向に被測定物を一定のステップ長さずつ
複数ステップ移動させて、各移動ステップ位置におい
て、上記の断面形状データの合成を行い、このようにし
て得られた複数の断面形状データから、スリット光面と
平行な2つの直交座標軸と被測定物回転中心軸と平行な
1つの座標軸による3次元測定座標系における被測定物
の3次元形状データを合成する3次元形状測定を行うに
際し、上記座標変換式の変換係数を決定する方法であっ
て、互いに直交する2つのスリット光照射平面を有する
被検物を用い、被検物の2つのスリット光照射平面がス
リット光面と直交し、2つのスリット光照射平面にスリ
ット光が照射され、かつ2つのスリット光照射平面のな
す角度を2等分する面が2次元測定座標系の一方の座標
軸と平行になるように被測定物を位置させた状態で、被
測定物を3次元測定座標系の所定の座標軸方向に移動さ
せることにより、スリット光が照射される被検物の2つ
のスリット光照射平面の位置を2次元測定座標系の上記
一方の座標軸方向に一定のステップ長さで複数ステップ
移動させて、5つ以上の移動ステップ位置において、2
つのスリット光照射平面に形成される光切断線を2次元
撮像装置で撮像して、画面座標系において光切断線像を
構成する2つの直線の式を回帰演算し、このようにして
求めた複数の直線の交点を演算し、これらの交点座標を
サンプリングデータとして用いてこれらから任意の4つ
の直線を回帰演算し、これら4つの直線を用いて変換係
数を演算し、被測定物回転中心軸を中心に被測定物を一
定のステップ角度で回転させて、複数の回転ステップ位
置において、画面座標系において光切断線像を構成する
2つの直線の交点を演算し、複数の回転ステップ位置に
おける上記交点の座標から被測定物回転中心軸の位置を
演算することを特徴とするものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a conversion coefficient determining method for three-dimensional shape measurement, wherein a slit light source device irradiates slit light to a measured object, and the slit light strikes the surface of the measured object to form the slit light. The two-dimensional image data of the light-section line image in the screen coordinate system of the two-dimensional image pickup device is imaged by the two-dimensional image pickup device from the direction inclined with respect to the slit light surface using the coordinate conversion formula. , Is converted into two-dimensional shape data of the light cutting line in the two-dimensional measurement coordinate system with two orthogonal coordinate axes in the slit light plane, and the measured object is centered around a constant rotation center axis of the measured object orthogonal to the slit light plane. Rotate multiple steps by a fixed step angle,
At each rotation step position, the above two-dimensional image data is converted into two-dimensional shape data, and from the plurality of two-dimensional shape data thus obtained, the cross-sectional shape data of the object to be measured on the slit light surface is obtained. By synthesizing and moving the object to be measured in the direction of the rotation axis of the object to be measured by a plurality of steps by a constant step length, at each moving step position, the above-mentioned cross-sectional shape data is combined, and thus obtained. The three-dimensional shape data of the measured object in the three-dimensional measurement coordinate system with two orthogonal coordinate axes parallel to the slit light surface and one coordinate axis parallel to the rotational axis of the measured object is synthesized from the plurality of sectional shape data 3 A method for determining a conversion coefficient of the above coordinate conversion formula when measuring a three-dimensional shape, which comprises using an object to be inspected having two slit light irradiation planes orthogonal to each other. The two slit light irradiation planes are orthogonal to the slit light surface, and the slit light is irradiated onto the two slit light irradiation planes, and the surface that divides the angle formed by the two slit light irradiation planes into two equal parts is a two-dimensional measurement coordinate system. The object to be measured which is to be irradiated with the slit light is moved by moving the object to be measured in a predetermined coordinate axis direction of the three-dimensional measurement coordinate system in a state where the object to be measured is parallel to one of the coordinate axes. The positions of the two slit light irradiation planes are moved in the above-mentioned one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system by a plurality of steps with a constant step length, and at two or more moving step positions, 2
A plurality of light-cutting lines formed in this way are obtained by imaging the light-cutting lines formed on one slit light irradiation plane with a two-dimensional image pickup device and performing a regression operation on two straight line formulas that constitute the light-cutting line image in the screen coordinate system. The intersection points of the straight lines are calculated, and using these intersection coordinates as sampling data, four arbitrary straight lines are regression calculated, and the conversion coefficient is calculated using these four straight lines to determine the rotation axis of the DUT. The object to be measured is rotated around the center at a constant step angle, and at a plurality of rotation step positions, the intersections of two straight lines forming the optical cutting line image in the screen coordinate system are calculated, and the intersections at the plurality of rotation step positions are calculated. The position of the rotation axis of the DUT is calculated from the coordinates of.

【0009】第2の発明による3次元形状測定における
変換係数決定方法は、互いに直交する2つのスリット光
照射平面を有する被検物を用い、被検物の2つのスリッ
ト光照射平面がスリット光面と直交し、2つのスリット
光照射平面にスリット光が照射され、かつ2つのスリッ
ト光照射平面のなす角度を2等分する面が2次元測定座
標系の一方の座標軸とほぼ平行になるように被測定物を
位置させた状態で、被測定物を3次元測定座標系の所定
の座標軸方向に移動させることにより、スリット光が照
射される被検物の2つのスリット光照射平面の位置を2
次元測定座標系の上記一方の座標軸方向に一定のステッ
プ長さで複数ステップ移動させて、5つ以上の移動ステ
ップ位置において、2つのスリット光照射平面に形成さ
れる光切断線を2次元撮像装置で撮像して、画面座標系
において光切断線像を構成する2つの直線の式を回帰演
算し、このようにして求めた複数の直線の交点を演算
し、これらの交点座標をサンプリングデータとして用い
てこれらから任意の4つの直線を回帰演算し、これら4
つの直線を表わす式の係数および被検物の設置角度ずれ
量を用いて変換係数を演算する式を求め、被検物の設置
角度ずれ量を一定のステップ量で変化させて、各設置角
度ずれ量について、上記の式を用いて変換係数を演算
し、被測定物回転中心軸を中心に被測定物を一定のステ
ップ角度で複数ステップ回転させて、複数の回転ステッ
プ位置において、画面座標系において光切断線像を構成
する2つの直線の交点を演算し、各設置角度ずれ量につ
いて複数の回転ステップ位置における上記交点の座標か
ら上記のように演算した変換係数を用いて被測定物回転
中心軸の位置の演算値を複数求め、このように求めた被
測定物回転中心軸の複数の演算値の偏差が最も小さくな
るときの設置角度ずれ量を被測定物の設置角度ずれ量と
するとともに、そのときの変換係数を変換係数とするこ
とを特徴とするものである。
The conversion coefficient determining method in the three-dimensional shape measurement according to the second invention uses an object having two slit light irradiation planes orthogonal to each other, and the two slit light irradiation planes of the object are slit light surfaces. So that the slit light is radiated onto the two slit light irradiation planes, and the plane that bisects the angle formed by the two slit light irradiation planes is substantially parallel to one coordinate axis of the two-dimensional measurement coordinate system. By moving the measured object in the predetermined coordinate axis direction of the three-dimensional measurement coordinate system with the measured object positioned, the positions of the two slit light irradiation planes of the measured object to which slit light is irradiated are set to two positions.
A two-dimensional image pickup device is configured to move a plurality of steps in a predetermined step length in one of the coordinate axis directions of the dimensional measurement coordinate system to form light cutting lines formed on two slit light irradiation planes at five or more moving step positions. Image is taken, and the equations of two straight lines forming the light section line image in the screen coordinate system are regressively calculated, the intersections of the plurality of straight lines thus obtained are calculated, and the coordinates of these intersections are used as sampling data. Then, regression calculation of any 4 straight lines from these
Calculate the conversion coefficient using the coefficient of the equation that expresses the two straight lines and the installation angle deviation of the test object, and change the installation angle deviation of the test object in fixed steps to obtain each installation angle deviation. For the amount, calculate the conversion coefficient using the above formula, rotate the DUT around the rotation axis of the DUT at multiple fixed steps, and at multiple rotation step positions, in the screen coordinate system. The intersection point of two straight lines forming the light-section line image is calculated, and the rotation axis of the DUT is calculated using the conversion coefficient calculated as described above from the coordinates of the intersection point at a plurality of rotation step positions for each installation angle deviation amount. A plurality of calculated values of the position of, the installation angle deviation amount when the deviation of the plurality of calculated values of the measured object rotation center axis obtained in this way is the installation angle deviation amount of the measured object, and That It is characterized in making the Kino transform coefficient transform coefficients.

【0010】たとえば、互いに直交する2つのスリット
光照射平面を1組有する被検物を用い、2次元測定座標
系の上記一方の座標軸方向に被検物を移動させることに
より、スリット光が照射される被検物の2つのスリット
光照射平面の位置を2次元測定座標系の上記一方の座標
軸方向に移動させる。
For example, by using a test object having a pair of two slit light irradiation planes orthogonal to each other, the slit light is irradiated by moving the test object in the one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system. The positions of the two slit light irradiation planes of the object to be inspected are moved in the one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system.

【0011】また、たとえば、2次元測定座標系の上記
一方の座標軸方向の位置が互いに異なる互いに直交する
2つのスリット光照射平面を被測定物回転中心軸方向に
複数組有する被検物を用い、被測定物回転中心軸方向に
被検物を移動させることにより、スリット光が照射され
る被検物の2つのスリット光照射平面の位置を2次元測
定座標系の上記一方の座標軸方向に移動させる。
Further, for example, a test object having a plurality of sets of two slit light irradiation planes which are orthogonal to each other and whose positions in the above-mentioned one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system are orthogonal to each other is used, By moving the test object in the direction of the center axis of rotation of the test object, the positions of the two slit light irradiation planes of the test object irradiated with the slit light are moved in the one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system. .

【0012】[0012]

【作用】互いに直交する2つのスリット光照射平面を有
する被検物を用い、被検物の2つのスリット光照射平面
がスリット光面と直交し、2つのスリット光照射平面に
スリット光が照射され、かつ2つのスリット光照射平面
のなす角度を2等分する面が2次元測定座標系の一方の
座標軸と平行になるように被測定物を位置させた状態
で、被測定物を3次元測定座標系の所定の座標軸方向に
移動させることにより、スリット光が照射される被検物
の2つのスリット光照射平面の位置を2次元測定座標系
の上記一方の座標軸方向に一定のステップ長さで複数ス
テップ移動させて、5つ以上の移動ステップ位置におい
て、2つのスリット光照射平面に形成される光切断線を
2次元撮像装置で撮像して、画面座標系において光切断
線像を構成する2つの直線の式を回帰演算し、このよう
にして求めた複数の直線の交点を演算し、これらの交点
座標をサンプリングデータとして用いてこれらから任意
の4つの直線を回帰演算し、これら4つの直線を用いて
変換係数を演算し、被測定物回転中心軸を中心に被測定
物を一定のステップ角度で回転させて、複数の回転ステ
ップ位置において、画面座標系において光切断線像を構
成する2つの直線の交点を演算し、複数の回転ステップ
位置における上記交点の座標から被測定物回転中心軸の
位置を演算するので、被検物を準備して上記のような操
作を行うだけで、比較的短い時間で従来と同程度の変換
係数の決定が行える。
By using a test object having two slit light irradiation planes that are orthogonal to each other, the two slit light irradiation planes are orthogonal to the slit light surface and the two slit light irradiation planes are irradiated with the slit light. Also, the object to be measured is three-dimensionally measured while the object to be measured is positioned so that the plane that bisects the angle formed by the two slit light irradiation planes is parallel to one coordinate axis of the two-dimensional measurement coordinate system. By moving in the predetermined coordinate axis direction of the coordinate system, the positions of the two slit light irradiation planes of the test object irradiated with the slit light are moved in the one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system by a constant step length. By moving a plurality of steps, the light cutting lines formed on the two slit light irradiation planes are imaged by a two-dimensional imaging device at five or more moving step positions, and a light cutting line image is formed in the screen coordinate system. One Regression is performed on the equation of the straight line, intersections of the plurality of straight lines thus obtained are calculated, and arbitrary four straight lines are regressed from these using the coordinates of these intersections as sampling data. The conversion coefficient is calculated by using the two, and the object to be measured is rotated about the rotation axis of the object to be measured at a constant step angle to form two optical cutting line images in the screen coordinate system at a plurality of rotation step positions. The intersection of straight lines is calculated, and the position of the rotation axis of the DUT is calculated from the coordinates of the intersection at a plurality of rotation step positions. The conversion coefficient can be determined to the same degree as the conventional one in a short time.

【0013】とくに、第2の発明の場合、被検物の設置
角度にずれがあっても、変換係数を正確に決定すること
ができる。
Particularly, in the case of the second invention, the conversion coefficient can be accurately determined even if the installation angle of the object to be inspected is deviated.

【0014】被検物は互いに直交する2つのスリット光
照射平面を有するものであればよく、特殊形状の専用の
被検物を準備する必要がない。また、被測定物の送り機
構および回転機構は3次元形状測定に必要なものであ
り、直接コストアップにつながるものではない。さら
に、回帰による4つの直線を用いているため、被測定物
の送り精度が変換係数決定に及ぼす影響を回避できる。
The object to be inspected may be one having two slit light irradiation planes orthogonal to each other, and it is not necessary to prepare an exclusive object to be inspected having a special shape. Further, the feeding mechanism and the rotating mechanism of the object to be measured are necessary for the three-dimensional shape measurement and do not directly increase the cost. Furthermore, since four straight lines obtained by regression are used, it is possible to avoid the influence of the feed accuracy of the DUT on the determination of the conversion coefficient.

【0015】互いに直交する2つのスリット光照射平面
を1組有する被検物を用い、2次元測定座標系の上記一
方の座標軸方向に被検物を移動させることにより、スリ
ット光が照射される被検物の2つのスリット光照射平面
の位置を2次元測定座標系の上記一方の座標軸方向に移
動させる場合、被検物の形状がきわめて簡単である。
By using a test object having two sets of slit light irradiation planes orthogonal to each other, by moving the test object in the one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system, the test object irradiated with the slit light is illuminated. When the positions of the two slit light irradiation planes of the test object are moved in the one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system, the shape of the test object is extremely simple.

【0016】また、2次元測定座標系の上記一方の座標
軸方向の位置が互いに異なる互いに直交する2つのスリ
ット光照射平面を被測定物回転中心軸方向に複数組有す
る被検物を用い、被測定物回転中心軸方向に被検物を移
動させることにより、スリット光が照射される被検物の
2つのスリット光照射平面の位置を2次元測定座標系の
上記一方の座標軸方向に移動させる場合、被検物を2次
元測定座標系の上記座標軸方向に移動させる送り機構が
必ずしも必要でない。
Further, using a test object having a plurality of sets of two slit light irradiation planes which are orthogonal to each other and whose positions in the one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system are different from each other, the test object is measured. When the positions of the two slit light irradiation planes of the test object irradiated with the slit light are moved in the one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system by moving the test object in the object rotation center axis direction, It is not always necessary to provide a feeding mechanism that moves the object to be tested in the coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system.

【0017】[0017]

【実施例】以下、図面を参照して、この発明の実施例に
ついて説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0018】図1および図2は3次元形状測定装置の全
体概略構成を示しており、この装置は、被測定物ステー
ジ(1) 、スリット光源装置(2) 、2次元撮像装置(3) 、
データ記憶装置(4) およびデータ処理装置(5) を備えて
いる。
FIGS. 1 and 2 show the overall schematic structure of a three-dimensional shape measuring apparatus. This apparatus comprises an object stage (1) to be measured, a slit light source device (2), a two-dimensional image pickup device (3),
A data storage device (4) and a data processing device (5) are provided.

【0019】スリット光源装置(2) は、図示しないLD
(レーザダイオード)、シリンドリカルレンズなどを用
いて、ステージ(1) の上に固定された被測定物または被
検物(6) にスリット光(7) を照射するためのものであ
る。この場合、スリット光面(7a)は水平であり、この面
(7a)内に、互いに直交するX軸とY軸とからなる2次元
測定座標系が設定されている。X軸とY軸が交差する2
次元測定座標系の原点(O) を通ってこれらと直交する垂
直軸をZ軸とし、X軸、Y軸およびZ軸による座標系を
3次元測定座標系と呼ぶことにする。
The slit light source device (2) is an LD (not shown).
This is for irradiating the object to be measured or the object to be measured (6) fixed on the stage (1) with the slit light (7) using a (laser diode), a cylindrical lens or the like. In this case, the slit light surface (7a) is horizontal and
In (7a), a two-dimensional measurement coordinate system having an X axis and a Y axis orthogonal to each other is set. X-axis and Y-axis intersect 2
The vertical axis that passes through the origin (O) of the dimensional measurement coordinate system and is orthogonal to these is the Z axis, and the coordinate system based on the X, Y, and Z axes is called the three-dimensional measurement coordinate system.

【0020】ステージ(1) の上面には、被測定物または
被検物(6) が固定される。ステージ(1) は、図示しない
適当な駆動手段により、Z軸の近傍の垂直な一定の被測
定物回転中心軸を中心に回転させられるとともに、Z軸
方向(垂直方向)に移動させられるようになっている。
ステージ(1) はX軸方向およびY軸方向にも移動させら
れるようになっている場合があるが、このような場合で
も、測定座標系における被測定物回転中心軸の位置は一
定になるようになされている。
An object to be measured or an object to be inspected (6) is fixed on the upper surface of the stage (1). The stage (1) is rotated by a suitable driving means (not shown) around a constant vertical axis of rotation of the DUT in the vicinity of the Z-axis and is moved in the Z-axis direction (vertical direction). Has become.
The stage (1) may be moved in the X-axis direction and the Y-axis direction, but even in such a case, the position of the rotation axis of the DUT in the measurement coordinate system should be constant. Has been done.

【0021】2次元撮像装置(3) は、スリット光(7) が
被測定物または被検物(6) の表面に当たって形成される
光切断線(8) を撮像してその2次元画像データをデータ
処理装置(5) に出力するためのものであり、2次元撮像
素子を有するテレビカメラ(9) などを備えている。図3
に、テレビカメラ(9) で撮像された光切断線(8) のテレ
ビ画像(光切断線像)(10)が示されている。光切断線像
(10)の2次元画像データは、テレビ画面(2次元撮像素
子)上の互いに直交するx軸とy軸とからなる画面座標
系を用いて表わされる。
The two-dimensional image pickup device (3) picks up an image of a light cutting line (8) formed by the slit light (7) striking the surface of the object to be measured or the object (6) to obtain the two-dimensional image data. It is for outputting to the data processing device (5) and is equipped with a television camera (9) having a two-dimensional image pickup device. Figure 3
Fig. 8 shows a television image (optical cutting line image) (10) of the optical cutting line (8) taken by the television camera (9). Light section line image
The two-dimensional image data of (10) is expressed using a screen coordinate system composed of an x-axis and a y-axis which are orthogonal to each other on the television screen (two-dimensional image sensor).

【0022】データ記憶装置(4) は、画面座標系におけ
る2次元画像データを2次元測定座標系における2次元
形状データに変換する座標変換式およびその変換係数を
記憶しておくためのものであり、たとえばマイコン(マ
イクロコンピュータ)のメモリによって構成されてい
る。変換係数は、被測定物の3次元形状測定に先立ち、
キャリブレーションによって得られる。
The data storage device (4) is for storing a coordinate conversion formula for converting the two-dimensional image data in the screen coordinate system into the two-dimensional shape data in the two-dimensional measurement coordinate system and its conversion coefficient. , For example, is composed of a memory of a microcomputer. The conversion coefficient is calculated before the three-dimensional shape measurement of the measured object.
Obtained by calibration.

【0023】データ処理装置(5) は、ステージ(1) の回
転および移動の制御、2次元画像データの処理などを行
うことにより、変換係数および被測定物回転中心軸の位
置の決定ならびに3次元測定座標系における被測定物の
3次元形状データの合成などを行うためのものであり、
たとえばマイコンによって構成されている。
The data processor (5) controls the rotation and movement of the stage (1), processes the two-dimensional image data, etc. to determine the conversion coefficient and the position of the center axis of rotation of the object to be measured, and also three-dimensionally. For synthesizing three-dimensional shape data of the object to be measured in the measurement coordinate system,
For example, it is composed of a microcomputer.

【0024】上記の3次元形状測定装置において、測定
に先立ち、次のように、キャリブレーションが行われ、
変換係数および回転中心軸の位置が決定されて、これら
がデータ記憶装置(4) に記憶される。
In the above-mentioned three-dimensional shape measuring apparatus, prior to measurement, calibration is performed as follows,
The conversion coefficient and the position of the rotation center axis are determined, and these are stored in the data storage device (4).

【0025】2次元測定座標系における座標を(X,
Y)、画面座標系における座標を(x,y)とすると、
座標変換式は次のように表わされる。
The coordinates in the two-dimensional measurement coordinate system are (X,
Y) and the coordinates in the screen coordinate system are (x, y),
The coordinate conversion formula is expressed as follows.

【0026】X={cx ・(x−xo )+dx ・(y−
o )}/{m1 ・(x−xo )+m2 ・(y−yo
+m3 }…(1) Y={cy ・(x−xo )+dy ・(y−yo )}/
{m1 ・(x−xo )+m2 ・(y−yo )+m3 }…
(2) (xo ,yo )は、画面座標系における原点(o) の座標
である。
X = {c x · (x−x o ) + d x · (y−
y o )} / {m 1 · (x−x o ) + m 2 · (y−y o )
+ M 3 } (1) Y = { cy · (x− xo ) + dy · (y− yo )} /
{M 1 · (x-x o) + m 2 · (y-y o) + m 3} ...
(2) (x o , y o ) is the coordinate of the origin (o) in the screen coordinate system.

【0027】式(1) および(2) を書き直すと、次のよう
になる。
Rewriting equations (1) and (2) gives the following:

【0028】X=(ax ・y−x+bx )/(n1 ・x
+n2 ・y+n3 )…(3) Y=r・(ay ・x−y+by )/(n1 ・x+n2
y+n3 )…(4) (r≠0) 上記の3次元形状測定装置では、座標変換式として、上
記の式(3) および(4)が用いられ、その変換係数r、a
x 、bx 、ay 、by 、n1 、n2 、n3 がキャリブレ
ーションによって求められる。
X = (a x · y−x + b x ) / (n 1 · x)
+ N 2 · y + n 3 ) ... (3) Y = r · (a y · x-y + b y) / (n 1 · x + n 2 ·
y + n 3 ) (4) (r ≠ 0) In the above three-dimensional shape measuring apparatus, the above equations (3) and (4) are used as coordinate transformation equations, and the transformation coefficients r, a
x, b x, a y, b y, n 1, n 2, n 3 are determined by the calibration.

【0029】キャリブレーションを行う場合、まず、図
1および図2に示すように、被検物(6) がステージ(1)
の上に固定される。被検物(6) は互いに直交する2つの
スリット光照射平面(S1)(S2)を1組有するものであり、
平面(S1)(S2)とそれらの間の稜線(E) がスリット光面(7
a)と直交するようにステージ(1) に固定される。そし
て、被検物(6) の2つの平面(S1)(S2)にスリット光(7)
が照射されるとともに、2つの平面(S1)(S2)のなす角度
を2等分する面がY軸とほぼ平行になるように、ステー
ジ(1) が位置決めされる。
When performing the calibration, first, as shown in FIGS. 1 and 2, the object (6) is placed on the stage (1).
Fixed on. The object to be inspected (6) has one set of two slit light irradiation planes (S1) (S2) orthogonal to each other,
The planes (S1) (S2) and the ridgeline (E) between them are the slit light plane (7
It is fixed to the stage (1) so that it is orthogonal to a). Then, slit light (7) is applied to the two planes (S1) (S2) of the object (6).
Is irradiated, and the stage (1) is positioned so that the plane that divides the angle formed by the two planes (S1) and (S2) into two equal parts is substantially parallel to the Y axis.

【0030】被検物(6) がステージ(1) に固定されて、
ステージ(1) の位置決めがなされたならば、ステージ
(1) の回転を停止させた状態で、Y軸方向にステージ
(1) を一定のステップ長さstp で複数ステップ移動させ
て、5つ以上の移動ステップ位置において、2つの平面
(S1)(S2)に形成された光切断線(8) がテレビカメラ(9)
により撮像される。1つのステップ位置において撮像さ
れた光切断線像(10)が図3に示されており、これは左右
2つの直線部分(10a)(10b)が交点(10c) で交わったV状
をなす。左側の直線部分(10a) は左側の平面(S1)に形成
された光切断線(8)の部分に、右側の直線部分(10b) は
右側の平面(S2)に形成された光切断線(8) の部分に、交
点(10c) は稜線(E) に形成された光切断線(8) の部分に
それぞれ対応している。そして、各移動ステップ位置に
おいて、2つの直線部分(10a)(10b)を含む2つの直線の
式が回帰演算により求められる。このようにして求めら
れた複数の移動ステップ位置における画面座標系上の直
線が図4に示されている。このときの直線の数は、移動
ステップ位置の数の2倍である。また、画面座標系上に
おける直線にそれぞれ対応する2次元測定座標系上の直
線が図5に示されている。
The test object (6) is fixed to the stage (1),
Once the stage (1) has been positioned, the stage
With the rotation of (1) stopped, move the stage in the Y-axis direction.
(1) is moved in multiple steps with a constant step length stp, and two planes are set in five or more movement step positions.
The optical section line (8) formed on (S1) and (S2) is the TV camera (9).
Is imaged by. A light-section line image (10) taken at one step position is shown in FIG. 3, which has a V-shape in which two right and left straight line portions (10a) and (10b) intersect at an intersection point (10c). The left straight part (10a) is the part of the light section line (8) formed on the left side plane (S1), and the right straight part (10b) is the light section line (S2) formed on the right side surface (S2). The intersection (10c) corresponds to the portion of the optical cutting line (8) formed on the ridge (E) in the portion of 8). Then, at each movement step position, an equation of two straight lines including the two straight line portions (10a) and (10b) is obtained by regression calculation. The straight lines on the screen coordinate system at the plurality of movement step positions thus obtained are shown in FIG. The number of straight lines at this time is twice the number of movement step positions. Further, straight lines on the two-dimensional measurement coordinate system corresponding to the straight lines on the screen coordinate system are shown in FIG.

【0031】次に、画面座標系上において、上記のよう
にして求められた複数の直線の交点が演算され、これら
の交点座標をサンプリングデータとして、これらから任
意の4つの直線lo 、l1 、l2 、l3 が回帰演算によ
って求められる。これらの直線lo 、l1 、l2 、l3
は、2次元測定座標系上の4つの直線Lo 、L1
2 、L3 にそれぞれ対応している。
Next, on the screen coordinate system, the intersections of a plurality of straight lines obtained as described above are calculated, and the coordinates of these intersections are used as sampling data, and from these, arbitrary four straight lines l o and l 1 are calculated. , L 2 and l 3 are obtained by regression calculation. These straight lines l o , l 1 , l 2 , l 3
Are four straight lines L o , L 1 , on the two-dimensional measurement coordinate system,
It corresponds to L 2 and L 3 , respectively.

【0032】2次元測定座標系上の直線Lo は次の式
(5) で、直線L1 は式(6) で、直線L2 は式(7) で、直
線L3 は式(8) でそれぞれ表わされる。
A straight line L o on the two-dimensional measurement coordinate system is expressed by the following equation.
In the formula (5), the straight line L 1 is expressed by the formula (6), the straight line L 2 is expressed by the formula (7), and the straight line L 3 is expressed by the formula (8).

【0033】X=0…(5) Y=X・tan 2θ…(6) X=k・cos 2θ…(7) Y=X・tan 2θ+k…(8) θは、被検物(6) の設置角度のずれ角度である。X = 0 ... (5) Y = X · tan 2θ ... (6) X = k · cos 2θ ... (7) Y = X · tan 2θ + k ... (8) θ is the value of the object to be inspected (6). This is the deviation angle of the installation angle.

【0034】画面座標系上の直線lo は次の式(9) で、
直線l1 は式(10)で、直線l2 は式(11)で、直線l3
式(12)でそれぞれ表わされる。
A straight line l o on the screen coordinate system is expressed by the following equation (9):
The straight line l 1 is expressed by the formula (10), the straight line l 2 is expressed by the formula (11), and the straight line l 3 is expressed by the formula (12).

【0035】x=axo・y+bxo…(9) y=ayo・x+byo…(10) x=axk・y+bxk…(11) y=ayk・y+byk…(12) そして、これらの係数axo、bxo、ayo、byo、axk
xk、ayk、bykが上記の回帰演算によって求められ
る。次に、これらの係数axo、bxo、ayo、byo
xk、bxk、ayk、bykと被検物(6) のずれ角度θを用
いて前記の式(3) 、(4) の係数、すなわち、変換係数
r、ax 、bx 、ay 、by 、n1 、n2 、n3を演算
する式を求める。これらの式は、次のように表わされ
る。
[0035] x = a xo · y + b xo ... (9) y = a yo · x + b yo ... (10) x = a xk · y + b xk ... (11) y = a yk · y + b yk ... (12) and, these Coefficients of a xo , b xo , a yo , b yo , a xk ,
b xk , a yk , and b yk are obtained by the above regression calculation. Next, these coefficients a xo , b xo , a yo , b yo ,
a xk, b xk, a yk , b yk and the expressions using the offset angle θ of the object (6) (3), the coefficient of (4), i.e., transform coefficients r, a x, b x, a y, seek b y, n 1, n 2 , n 3 calculates the equation. These equations are expressed as:

【0036】ax =axo…(13) bx =bxo…(14) ay =ayo+(axo・ayo−1)・tan 2θ/r…(15) by =byo+(axo・byo+bxo)・tan 2θ/r…(1
6) r=R/cos 2θ−axo・tan 2θ…(17) R={−byk・(axo−axk)−(axo・bxk−bxo
xk)・ayk−(bxo−bxk)}/{(ayo・byk−b
yo・ayk)・axk+(ayo−ayk)・byk+(byo−b
yk)}…(17-1) n1 =N1 /k・cos 2θ…(18) N1 ={(ayo−ayk)・(bxo−bxk)+(ayo・b
yk−byo・ayk)・(axo−axk)}/{(ayo・byk
−byo・ayk)・axk+(ayo−ayk)・bxk+(byo
−byk)}…(18-1) n2 =N2 /k・cos 2θ…(19) N2 ={(axo−axk)・(byo−byk)+(axo・b
xk−bxo・axk)・(ayo−ayk)}/{(ayo・byk
−byo・ayk)・axk+(ayo−ayk)・bxk+(byo
−byk)}…(19-1) n3 =N3 /k・cos 2θ…(20) N3 ={(bxo−bxk)・(byo−byk)−(axo・b
xk−bxo・axk)・(ayo・byk−byo・ayk)}/
{(ayo・byk−byo・ayk)・axk+(ayo−ayk
・bxk+(byo−byk)}…(20-1) 上記の式(17)〜(20)において、係数axo、bxo、ayo
yo、axk、bxk、ayk、bykは既に求められているの
で、ずれ角度θが求まれば、変換係数r、ax、bx
y 、by 、n1 、n2 、n3 が求められる。そこで、
次に、ずれ角度θを求めるために、ずれ角度θを所定の
範囲内において一定量ずつ変化させて、ずれ角度θの各
値について、式(17)〜(20)を用いて、仮の変換係数r、
x 、bx 、ay 、by 、n1 、n2 、n3 を演算し、
これらを記憶しておく。たとえば、ずれ角度θを−5°
〜5°の範囲内において0.01°ずつ変化させる。
[0036] a x = a xo ... (13 ) b x = b xo ... (14) a y = a yo + (a xo · a yo -1) · tan 2θ / r ... (15) b y = b yo + (a xo・ b yo + b xo ) ・ tan 2θ / r… (1
6) r = R / cos 2θ−a xo · tan 2θ (17) R = {− b yk · (a xo −a xk ) − (a xo · b xk −b xo ·
a xk ) ・ay k − (b xo −b xk )} / {(a yo · by k −b
yo・ a yk ) ・ a xk + (a yo −a yk ) ・ by k + (b yo −b
yk )} (17-1) n 1 = N 1 / k · cos 2θ (18) N 1 = {(a yo −a yk ) · (b xo −b xk ) + (a yo · b
yk −b yo · a yk ) · (a xo −a xk )} / {(a yo · by k
−b yo・ a yk ) ・ a xk + (a yo −a yk ) ・ b xk + (b yo
−b yk )} (18-1) n 2 = N 2 / k · cos 2θ (19) N 2 = {(a xo −a xk ) · (b yo −b yk ) + (a xo · b
xk −b xo · a xk ) · (a yo −a yk )} / {(a yo · by k
−b yo・ a yk ) ・ a xk + (a yo −a yk ) ・ b xk + (b yo
−b yk )} (19-1) n 3 = N 3 / k · cos 2θ (20) N 3 = {(b xo −b xk ) · (b yo −b yk ) − (a xo · b
xk- b xo・ a xk ) ・ (a yobyk −b yo・ a yk )} /
{(A yo · b yk -b yo · a yk) · a xk + (a yo -a yk)
· B xk + In (b yo -b yk)} ... (20-1) above equation (17) to (20), the coefficient a xo, b xo, a yo ,
Since b yo , a xk , b xk , a yk , and b yk have already been obtained, if the shift angle θ is obtained, the conversion coefficients r, a x , b x ,
a y, b y, n 1 , n 2, n 3 is obtained. Therefore,
Next, in order to obtain the deviation angle θ, the deviation angle θ is changed by a fixed amount within a predetermined range, and for each value of the deviation angle θ, using the equations (17) to (20), a tentative conversion is performed. Coefficient r,
a x, b x, a y , b y, the n 1, n 2, n 3 is calculated,
Remember these. For example, the deviation angle θ is -5 °
The value is changed by 0.01 ° in the range of ˜5 °.

【0037】次に、被測定物回転中心軸を中心にステー
ジ(1) を一定のステップ角度φ(たとえば10°)で2
ステップ回転させて、3つの回転ステップ位置におい
て、2つの平面(S1)(S2)に形成された光切断線(8) がテ
レビカメラ(9) により撮像され、画面座標系における光
切断線像(10)の交点(10c) の座標が求められる。そし
て、前記のように変化させたずれ角度の各値において、
その値のときの変換係数を用いて、画面座標系における
光切断線像(10)の交点(10c) の座標を2次元測定座標系
における座標に変換する。この2次元測定座標系におけ
る座標は、2次元測定座標系における光切断線(8) の交
点の座標を表わしている。このようにして求められた3
つの回転ステップ位置における2次元測定座標系上の光
切断線(8) の交点の座標を(X1 ,Y1 )、(X2 ,Y
2 )、(X3 ,Y3 )とする。次に、これらの座標(X
1 ,Y1 )、(X2 ,Y2 )、(X3 ,Y3 )を用い
て、2次元測定座標系における被測定物回転中心軸の座
標(Xc ,Yc )を求める。3つの座標(X1
1 )、(X2 ,Y2 )、(X3 ,Y3 )からは、次の
ような被測定物回転中心軸の座標の3つの演算値
(Xc1,Yc1)、(Xc2,Yc2)、(Xc3,Yc3)が求
められる。
Next, the stage (1) is rotated at a constant step angle φ (for example, 10 °) about the center axis of rotation of the object under test.
By step rotation, at three rotation step positions, the light section line (8) formed on the two planes (S1) and (S2) is imaged by the television camera (9), and the light section line image (in the screen coordinate system ( The coordinates of the intersection (10c) of 10) are obtained. Then, at each value of the displacement angle changed as described above,
The conversion coefficient at that value is used to convert the coordinates of the intersection (10c) of the light cutting line image (10) in the screen coordinate system into the coordinates in the two-dimensional measurement coordinate system. The coordinates in this two-dimensional measurement coordinate system represent the coordinates of the intersection of the light cutting line (8) in the two-dimensional measurement coordinate system. 3 obtained in this way
The coordinates of the intersections of the light section lines (8) on the two-dimensional measurement coordinate system at one rotation step position are (X 1 , Y 1 ), (X 2 , Y
2 ) and (X 3 , Y 3 ). Next, these coordinates (X
1, Y 1), determine the (X 2, Y 2), (X 3, Y 3) with the coordinates of the object to be measured rotation center axis in the two-dimensional coordinate system for measurement (X c, Y c). Three coordinates (X 1 ,
From Y 1 ), (X 2 , Y 2 ), and (X 3 , Y 3 ), the following three calculated values (X c1 , Y c1 ), (X c2 , Y c2 ) and (X c3 , Y c3 ) are obtained.

【0038】Xc1={X1 +X2 +(Y1 −Y2 )・si
n φ/(1−cos φ)}/2…(21) Yc1={Y1 +Y2 −(X1 −X2 )・sin φ/(1−
cos φ)}/2…(22) Xc2={X2 +X3 +(Y2 −Y3 )・sin φ/(1−
cos φ)}/2…(23) Yc2={Y2 +Y3 −(X2 −X3 )・sin φ/(1−
cos φ)}/2…(24) Xc3={X1 +X3 +(Y1 −Y3 )・sin 2φ/(1
−cos 2φ)}/2…(25) Yc3={Y1 +Y3 −(X1 −X3 )・sin 2φ/(1
−cos 2φ)}/2…(26) ずれ角度θの全ての値について被測定物回転中心軸の3
つの座標演算値が求められたならば、ずれ角度の各値に
ついて、3つの座標演算値(Xc1,Yc1)、(Xc2,Y
c2)、(Xc3,Yc3)の間の偏差が求められる。そし
て、この偏差が最も小さくなるときのずれ角度θの値を
被検物(6) のずれ角度θとするとともに、そのずれ角度
θのときの変換係数r、ax 、bx 、ay 、by
1 、n2 、n3 を求める変換係数とする。
X c1 = {X 1 + X 2 + (Y 1 -Y 2 ) .si
nφ / (1-cosφ)} / 2 (21) Y c1 = {Y 1 + Y 2 − (X 1 −X 2 ) · sin φ / (1−
cos φ)} / 2 (22) X c2 = {X 2 + X 3 + (Y 2 −Y 3 ) · sin φ / (1-
cos φ)} / 2 ... (23) Y c2 = {Y 2 + Y 3 − (X 2 −X 3 ) · sin φ / (1−
cos φ)} / 2 (24) X c3 = {X 1 + X 3 + (Y 1 −Y 3 ) ・ sin 2 φ / (1
−cos 2φ)} / 2 (25) Y c3 = {Y 1 + Y 3 − (X 1 −X 3 ) · sin 2φ / (1
−cos 2φ)} / 2 (26) For all values of the deviation angle θ, 3 of the measured object rotation center axis
If one coordinate calculation value is obtained, three coordinate calculation values (X c1 , Y c1 ), (X c2 , Y
The deviation between c2 ) and ( Xc3 , Yc3 ) is determined. Then, the value of the deviation angle θ when this deviation becomes the smallest is set as the deviation angle θ of the object (6), and the conversion coefficients r, a x , b x , a y at the deviation angle θ are b y ,
Let n 1 , n 2 , and n 3 be conversion coefficients.

【0039】上記実施例の場合、互いに直交する2つの
スリット光照射平面(S1)(S2)を1組だけ有するきわめて
簡単な形状の被検物(6) を用いて、変換係数を決定する
ことができる。
In the case of the above embodiment, the conversion coefficient is determined by using a test object (6) having an extremely simple shape having only one pair of two slit light irradiation planes (S1) (S2) orthogonal to each other. You can

【0040】上記実施例には、被検物(6) の設置角度に
ずれがある場合を示したが、このようなずれがない場合
には、もう少し簡単に変換係数を求めることができる。
この場合、基本的には、前記の各式からずれ角度θを除
いた式を用いて、演算が行われる。
In the above-mentioned embodiment, the case where the installation angle of the test object (6) is deviated is shown. However, when there is no such deviation, the conversion coefficient can be obtained a little more easily.
In this case, basically, the calculation is performed using the equations obtained by removing the deviation angle θ from the above equations.

【0041】図6は、上記と異なる被検物を使用した変
換係数決定方法の1例を示している。
FIG. 6 shows an example of a conversion coefficient determination method using a test object different from the above.

【0042】この場合、被検物(16)は、次のように構成
されている。なお、被検物(16)の構成は、ステージ(1)
に固定された状態について説明する。被検物(16)は、互
いに直交する2つのスリット光照射平面(S1)(S2)をZ軸
方向に5組以上有するものである。被検物(16)は立方体
または直方体の隣接する2つの側面が階段状に形成され
たものであり、この階段状の部分にたとえば5組の照射
平面(S1)(S2)が形成されている。照射平面は符号(S1)(S
2)で総称し、区別する必要があるときは、下の組から順
に、第1照射平面(S1a)(S2a)、第2照射平面(S1b)(S2
b)、第3照射平面(S1c)(S2c)、第4照射平面(S1d)(S2
d)、第5照射平面(S1e)(S2e)と呼ぶことにする。また、
2つの第1照射平面(S1a)(S2a)の間の稜線を(Ea)、2つ
の第2照射平面(S1b)(S2b)の間の稜線を(Eb)、2つの第
3照射平面(S1c)(S2c)の間の稜線を(Ec)、2つの第4照
射平面(S1d)(S2d)の間の稜線を(Ed)、2つの第5照射平
面(S1e)(S2e)の間の稜線を(Ee)とし、これらの稜線は符
号(E) で総称する。各組の対応する一方の5つの照射平
面(S1a)(S1b)(S1c)(S1d)(S1e) は互いに平行であり、こ
れらの垂直方向および水平方向のピッチ(距離)はそれ
ぞれ一定である。各組の他方の5つの照射平面(S2a)(S2
b)(S2c)(S2d)(S2e) も互いに平行であり、これらの垂直
方向および水平方向のピッチは上記ピッチとそれぞれ等
しい。すなわち、第2〜5照射平面(S1b)(S2b)〜(S1e)
(S2e)は、第1照射平面(S1a)(S2a)を、2つの照射平面
(S1)(S2)のなす角度を2等分する面内の水平方向に、一
定量ずつ順に平行移動したものである。
In this case, the test object (16) is constructed as follows. The structure of the object (16) is the stage (1).
The state of being fixed to will be described. The test object (16) has two or more sets of two slit light irradiation planes (S1) (S2) orthogonal to each other in the Z-axis direction. The object to be inspected (16) is a cube or a rectangular parallelepiped in which two adjacent side surfaces are formed in steps, and for example, five sets of irradiation planes (S1) (S2) are formed in the steps. . Irradiation plane is code (S1) (S
When it is necessary to collectively refer to each other in 2) and to distinguish them, the first irradiation plane (S1a) (S2a), the second irradiation plane (S1b) (S2
b), third irradiation plane (S1c) (S2c), fourth irradiation plane (S1d) (S2
d) and the fifth irradiation plane (S1e) (S2e). Also,
The ridgeline between the two first irradiation planes (S1a) and (S2a) is (Ea), the ridgeline between the two second irradiation planes (S1b) and (S2b) is (Eb), and the two third irradiation planes (S1c) ) (S2c) is the ridgeline between (Ec), 2nd irradiation planes (S1d) (S2d) is the ridgeline between (Ed), 2nd irradiation planes (S1e) (S2e) is the ridgeline between Is defined as (Ee), and these ridges are collectively referred to by the symbol (E). The corresponding five irradiation planes (S1a) (S1b) (S1c) (S1d) (S1e) of each set are parallel to each other, and their vertical and horizontal pitches (distances) are constant. The other 5 irradiation planes (S2a) (S2
b) (S2c) (S2d) (S2e) are also parallel to each other, and their vertical and horizontal pitches are equal to the above pitches, respectively. That is, the second to fifth irradiation planes (S1b) (S2b) to (S1e)
(S2e) is a combination of the first irradiation plane (S1a) and (S2a) with two irradiation planes.
It is a parallel translation of a fixed amount in sequence in the horizontal direction in the plane that divides the angle formed by (S1) and (S2) into two equal parts.

【0043】この場合も、被検物(16)は、照射平面(S1)
(S2)と稜線(E) がスリット光面(7a)と直交するようにス
テージ(1) に固定され、いずれかの組の照射平面(S1)(S
2)にスリット光(7) が照射されるとともに、2つの照射
平面(S1)(S2)を2等分する面がY軸とほぼ平行になるよ
うに、ステージ(1) が位置決めされる。そして、変換係
数の決定を行う際には、前記実施例においてステージ
(1) をY軸方向に移動させるかわりに、ステージ(1) を
Z軸方向に移動される。さらに詳しく説明すれば、最初
に第1照射平面(S1a)(S2a)にスリット光(7) が照射され
るようにステージ(1) を位置決めし、照射平面(S1)(S2)
のZ軸方向の1ピッチ分ずつステージ(1)を下方に移動
させる。これにより、第1照射平面(S1a)(S2a)から、第
2、第3、第4、第5照射平面(S1b)(S2b)、(S1c)(S2
c)、(S1d)(S2d)、(S1e)(S2e)に順にスリット光(7) が照
射され、第2〜5照射平面(S1b)(S2b)〜(S1e)(S2e)は第
1照射平面(S1a)(S2a)をY軸とほぼ平行な方向に一定量
ずつ順に平行移動したものであるから、前記実施例にお
いてステージ(1) をY軸方向に一定量ずつ移動させたと
きと同じ結果が得られる。
Also in this case, the object to be inspected (16) is the irradiation plane (S1).
(S2) and ridge (E) are fixed to the stage (1) so that they are orthogonal to the slit light surface (7a), and either set of irradiation planes (S1) (S
The stage (1) is positioned such that the slit light (7) is irradiated on the surface (2) and the plane that bisects the two irradiation planes (S1) (S2) is substantially parallel to the Y axis. When determining the conversion coefficient, the stage in the above embodiment is used.
Instead of moving (1) in the Y-axis direction, the stage (1) is moved in the Z-axis direction. More specifically, first, the stage (1) is positioned so that the slit light (7) is irradiated to the first irradiation plane (S1a) (S2a), and then the irradiation plane (S1) (S2)
The stage (1) is moved downward by one pitch in the Z-axis direction. Thereby, from the first irradiation plane (S1a) (S2a) to the second, third, fourth and fifth irradiation planes (S1b) (S2b), (S1c) (S2
c), (S1d) (S2d), (S1e) (S2e) are sequentially irradiated with slit light (7), and the second to fifth irradiation planes (S1b) (S2b) to (S1e) (S2e) are irradiated with the first irradiation. Since the planes (S1a) and (S2a) are sequentially translated in a direction substantially parallel to the Y axis by a fixed amount, the same as when moving the stage (1) in the Y axis direction by a fixed amount in the above embodiment. The result is obtained.

【0044】他は前記実施例の場合と同様であり、同じ
部分には同一の符号を付している。
Others are the same as those in the above-mentioned embodiment, and the same portions are denoted by the same reference numerals.

【0045】図6のような被検物(16)を使用する場合、
変換係数の決定を行う際に、ステージ(1) をZ軸方向に
移動するだけでよく、Y軸方向に移動する必要がない。
したがって、ステージ(1) をX軸方向およびY軸方向に
移動するための送り機構が必ずしも必要でない。
When an object (16) as shown in FIG. 6 is used,
When determining the conversion coefficient, the stage (1) need only be moved in the Z-axis direction, and need not be moved in the Y-axis direction.
Therefore, a feed mechanism for moving the stage (1) in the X-axis direction and the Y-axis direction is not always necessary.

【0046】[0046]

【発明の効果】この発明の方法によれば、上述のよう
に、特殊形状の専用の被検物を準備しなくても簡単に変
換係数を決定することができ、コストダウンが可能であ
る。
According to the method of the present invention, as described above, the conversion coefficient can be easily determined without preparing a special test object having a special shape, and the cost can be reduced.

【0047】とくに、第2の発明の方法によれば、被検
物の設置角度にずれがあっても、変換係数を正確に決定
することができる。
In particular, according to the method of the second invention, the conversion coefficient can be accurately determined even if the installation angle of the object to be inspected is deviated.

【0048】互いに直交する2つのスリット光照射平面
を1組有する被検物を用い、2次元測定座標系の上記一
方の座標軸方向に被検物を移動させることにより、スリ
ット光が照射される被検物の2つのスリット光照射平面
の位置を2次元測定座標系の上記一方の座標軸方向に移
動させるようにすれば、被検物の形状をきわめて簡単に
することができ、より一層のコストダウンが可能にな
る。
By using an object having one set of two slit light irradiation planes orthogonal to each other, by moving the object in the direction of the one coordinate axis of the two-dimensional measurement coordinate system, the object irradiated with the slit light is irradiated. By moving the positions of the two slit light irradiation planes of the inspection object in the direction of one of the coordinate axes of the two-dimensional measurement coordinate system, the shape of the inspection object can be made extremely simple, further reducing the cost. Will be possible.

【0049】また、2次元測定座標系の上記一方の座標
軸方向の位置が互いに異なる互いに直交する2つのスリ
ット光照射平面を被測定物回転中心軸方向に複数組有す
る被検物を用い、被測定物回転中心軸方向に被検物を移
動させることにより、スリット光が照射される被検物の
2つのスリット光照射平面の位置を2次元測定座標系の
上記一方の座標軸方向に移動させるようにすれば、被検
物を2次元測定座標系の上記座標軸方向に移動させる送
り機構が必ずしも必要でなく、より一層のコストダウン
が可能になる。
Further, using a test object having a plurality of sets of two slit light irradiation planes which are orthogonal to each other and whose positions in the one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system are different from each other, the test object is measured. By moving the test object in the central axis direction of the object rotation, the positions of the two slit light irradiation planes of the test object irradiated with the slit light are moved in the one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system. Then, the feeding mechanism for moving the object to be examined in the coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system is not necessarily required, and the cost can be further reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の実施例を示す3次元形状測定装置の
概略構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a three-dimensional shape measuring apparatus showing an embodiment of the present invention.

【図2】図1の3次元形状測定装置の平面図である。FIG. 2 is a plan view of the three-dimensional shape measuring apparatus of FIG.

【図3】被検物の光切断線のテレビ画像の1例を示す説
明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing an example of a television image of an optical cutting line of a test object.

【図4】画面座標系上の複数の移動ステップ位置におけ
る光切断線像の複数の直線を示す説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a plurality of straight lines of a light cutting line image at a plurality of movement step positions on a screen coordinate system.

【図5】測定座標系上の複数のステップ位置における光
切断線の複数の直線を示す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a plurality of straight lines of light cutting lines at a plurality of step positions on a measurement coordinate system.

【図6】この発明の他の実施例を示す3次元形状測定装
置の要部概略構成図である。
FIG. 6 is a schematic configuration diagram of a main part of a three-dimensional shape measuring apparatus showing another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

(2) スリット光源装置 (3) 2次元撮像装置 (4) データ記憶装置 (5) データ処理装置 (6) 被検物 (7) スリット光 (7a) スリット光面 (8) 光切断線 (9) テレビカメラ (10) 光切断線像 (16) 被検物 (S1)(S2) スリット光照射平面 (2) Slit light source device (3) Two-dimensional imaging device (4) Data storage device (5) Data processing device (6) Test object (7) Slit light (7a) Slit light surface (8) Light cutting line (9 ) TV camera (10) Light section line image (16) Test object (S1) (S2) Slit light irradiation plane

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】被測定物にスリット光源装置からスリット
光を照射し、このスリット光が被測定物の表面に当たっ
て形成される光切断線をスリット光面に対して傾斜した
方向から2次元撮像装置で撮像し、2次元撮像装置の画
面座標系における光切断線像の2次元画像データを、座
標変換式を用いて、スリット光面内の2つの直交座標軸
による2次元測定座標系における光切断線の2次元形状
データに変換し、スリット光面と直交する一定の被測定
物回転中心軸を中心に被測定物を一定のステップ角度ず
つ複数ステップ回転させて、各回転ステップ位置におい
て、上記の2次元画像データから2次元形状データへの
変換を行い、このようにして得られた複数の2次元形状
データから、スリット光面における被測定物の断面形状
データを合成し、上記被測定物回転中心軸方向に被測定
物を一定のステップ長さずつ複数ステップ移動させて、
各移動ステップ位置において、上記の断面形状データの
合成を行い、このようにして得られた複数の断面形状デ
ータから、スリット光面と平行な2つの直交座標軸と被
測定物回転中心軸と平行な1つの座標軸による3次元測
定座標系における被測定物の3次元形状データを合成す
る3次元形状測定を行うに際し、上記座標変換式の変換
係数を決定する方法であって、 互いに直交する2つのスリット光照射平面を有する被検
物を用い、被検物の2つのスリット光照射平面がスリッ
ト光面と直交し、2つのスリット光照射平面にスリット
光が照射され、かつ2つのスリット光照射平面のなす角
度を2等分する面が2次元測定座標系の一方の座標軸と
平行になるように被測定物を位置させた状態で、被測定
物を3次元測定座標系の所定の座標軸方向に移動させる
ことにより、スリット光が照射される被検物の2つのス
リット光照射平面の位置を2次元測定座標系の上記一方
の座標軸方向に一定のステップ長さで複数ステップ移動
させて、5つ以上の移動ステップ位置において、2つの
スリット光照射平面に形成される光切断線を2次元撮像
装置で撮像して、画面座標系において光切断線像を構成
する2つの直線の式を回帰演算し、このようにして求め
た複数の直線の交点を演算し、これらの交点座標をサン
プリングデータとして用いてこれらから任意の4つの直
線を回帰演算し、これら4つの直線を用いて変換係数を
演算し、被測定物回転中心軸を中心に被測定物を一定の
ステップ角度で回転させて、複数の回転ステップ位置に
おいて、画面座標系において光切断線像を構成する2つ
の直線の交点を演算し、複数の回転ステップ位置におけ
る上記交点の座標から被測定物回転中心軸の位置を演算
することを特徴とする3次元形状測定における変換係数
決定方法。
1. A two-dimensional image pickup device from a direction in which a slit light source device irradiates slit light to a measured object, and the slit light strikes the surface of the measured object to form a light cutting line inclined with respect to the slit light surface. The two-dimensional image data of the light-section line image in the screen coordinate system of the two-dimensional image pickup device is captured by the coordinate conversion formula and the light-section line in the two-dimensional measurement coordinate system by the two orthogonal coordinate axes in the slit light plane. 2D shape data, and the object to be measured is rotated a plurality of steps by a constant step angle around a constant axis of rotation of the object to be measured orthogonal to the slit light surface, and at each rotation step position, the above-mentioned 2 The three-dimensional image data is converted into two-dimensional shape data, and the plurality of two-dimensional shape data thus obtained is combined with the cross-sectional shape data of the object to be measured on the slit light surface, Serial to the object to be measured by multi-step movement by a predetermined step length to the measurement object rotation center axis,
At each movement step position, the above-mentioned cross-sectional shape data is combined, and from the plurality of cross-sectional shape data obtained in this way, two orthogonal coordinate axes parallel to the slit light surface and the rotation center axis of the DUT are parallel. A method for determining a conversion coefficient of the above coordinate conversion formula when performing three-dimensional shape measurement for synthesizing three-dimensional shape data of an object to be measured in a three-dimensional measurement coordinate system with one coordinate axis, and two slits orthogonal to each other. Using a test object having a light irradiation plane, the two slit light irradiation planes of the test object are orthogonal to the slit light surface, the slit light is irradiated to the two slit light irradiation planes, and the two slit light irradiation planes are The object to be measured is placed in such a manner that the plane that divides the angle formed into two is parallel to one coordinate axis of the two-dimensional measurement coordinate system, and the object to be measured is in the predetermined coordinate axis direction of the three-dimensional measurement coordinate system. By moving the two slit light irradiation planes of the test object irradiated with the slit light in the above-mentioned one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system by a plurality of steps with a constant step length. At two or more movement step positions, the two-dimensional image pickup device images the light cutting lines formed on the two slit light irradiation planes, and a regression calculation is performed on the equations of the two straight lines forming the light cutting line images in the screen coordinate system. Then, the intersections of the plurality of straight lines thus obtained are calculated, the intersection coordinates of these are used as sampling data, and arbitrary four straight lines are regression calculated from these, and the conversion coefficient is calculated using these four straight lines. Then, the object to be measured is rotated around the rotation axis of the object to be measured at a constant step angle, and at two or more rotation step positions, two linear images forming an optical cutting line image in the screen coordinate system are formed. Conversion factor determination method in the three-dimensional shape measurement, characterized in that the intersection is calculated, and calculates the position of the object to be measured rotation axis from the intersection of the coordinates in a plurality of rotational step position.
【請求項2】互いに直交する2つのスリット光照射平面
を有する被検物を用い、被検物の2つのスリット光照射
平面がスリット光面と直交し、2つのスリット光照射平
面にスリット光が照射され、かつ2つのスリット光照射
平面のなす角度を2等分する面が2次元測定座標系の一
方の座標軸とほぼ平行になるように被測定物を位置させ
た状態で、被測定物を3次元測定座標系の所定の座標軸
方向に移動させることにより、スリット光が照射される
被検物の2つのスリット光照射平面の位置を2次元測定
座標系の上記一方の座標軸方向に一定のステップ長さで
複数ステップ移動させて、5つ以上の移動ステップ位置
において、2つのスリット光照射平面に形成される光切
断線を2次元撮像装置で撮像して、画面座標系において
光切断線像を構成する2つの直線の式を回帰演算し、こ
のようにして求めた複数の直線の交点を演算し、これら
の交点座標をサンプリングデータとして用いてこれらか
ら任意の4つの直線を回帰演算し、これら4つの直線を
表わす式の係数および被検物の設置角度ずれ量を用いて
変換係数を演算する式を求め、被検物の設置角度ずれ量
を一定のステップ量で変化させて、各設置角度ずれ量に
ついて、上記の式を用いて変換係数を演算し、被測定物
回転中心軸を中心に被測定物を一定のステップ角度で複
数ステップ回転させて、複数の回転ステップ位置におい
て、画面座標系において光切断線像を構成する2つの直
線の交点を演算し、各設置角度ずれ量について複数の回
転ステップ位置における上記交点の座標から上記のよう
に演算した変換係数を用いて被測定物回転中心軸の位置
の演算値を複数求め、このように求めた被測定物回転中
心軸の複数の演算値の偏差が最も小さくなるときの設置
角度ずれ量を被測定物の設置角度ずれ量とするととも
に、そのときの変換係数を変換係数とすることを特徴と
する請求項1の3次元形状測定における変換係数決定方
法。
2. A test object having two slit light irradiation planes that are orthogonal to each other is used, and two slit light irradiation planes of the test object are orthogonal to the slit light plane, and slit light is projected onto the two slit light irradiation planes. The object to be measured is positioned with the object to be measured positioned such that the plane that illuminates and that divides the angle formed by the two slit light irradiation planes into two equal parts is substantially parallel to one coordinate axis of the two-dimensional measurement coordinate system. By moving in the predetermined coordinate axis direction of the three-dimensional measurement coordinate system, the positions of the two slit light irradiation planes of the test object irradiated with the slit light are moved in a predetermined step in the one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system. A plurality of steps are moved by the length, and at two or more moving step positions, the two-dimensional image pickup device images the light cutting lines formed on the two slit light irradiation planes, and the light cutting line image is displayed in the screen coordinate system. Constitution The regression equation of the two straight lines is calculated, the intersections of the plurality of straight lines thus obtained are calculated, and the arbitrary four straight lines are regression calculated from these by using the coordinates of these intersections as sampling data. Calculate the conversion coefficient using the coefficient of the equation that expresses the two straight lines and the installation angle deviation of the test object, and change the installation angle deviation of the test object in fixed steps to obtain each installation angle deviation. For the amount, calculate the conversion coefficient using the above formula, rotate the DUT around the rotation axis of the DUT at multiple fixed steps, and at multiple rotation step positions, in the screen coordinate system. The intersection point of two straight lines forming the optical cutting line image is calculated, and the measurement is performed using the conversion coefficient calculated as described above from the coordinates of the intersection point at a plurality of rotation step positions for each installation angle deviation amount. Obtain a plurality of calculated values of the position of the rotation center axis, and determine the installation angle deviation amount when the deviation of the calculated values of the rotation center axis of the DUT obtained in this way is the smallest as the installation angle deviation amount of the DUT. The conversion coefficient determining method in the three-dimensional shape measurement according to claim 1, wherein the conversion coefficient at that time is used as the conversion coefficient.
【請求項3】互いに直交する2つのスリット光照射平面
を1組有する被検物を用い、2次元測定座標系の上記一
方の座標軸方向に被検物を移動させることにより、スリ
ット光が照射される被検物の2つのスリット光照射平面
の位置を2次元測定座標系の上記一方の座標軸方向に移
動させることを特徴とする請求項1または2の3次元形
状測定における変換係数決定方法。
3. A slit light is irradiated by using a test object having one set of two slit light irradiation planes orthogonal to each other and moving the test object in the one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system. The method for determining the conversion coefficient in the three-dimensional shape measurement according to claim 1 or 2, wherein the positions of the two slit light irradiation planes of the test object are moved in the one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system.
【請求項4】2次元測定座標系の上記一方の座標軸方向
の位置が互いに異なる互いに直交する2つのスリット光
照射平面を被測定物回転中心軸方向に複数組有する被検
物を用い、被測定物回転中心軸方向に被検物を移動させ
ることにより、スリット光が照射される被検物の2つの
スリット光照射平面の位置を2次元測定座標系の上記一
方の座標軸方向に移動させることを特徴とする請求項1
または2の3次元形状測定における変換係数決定方法。
4. An object to be measured having a plurality of sets of two slit light irradiation planes which are orthogonal to each other and have different positions in the direction of one of the coordinate axes of the two-dimensional measurement coordinate system in the direction of the axis of rotation of the object to be measured. By moving the test object in the central axis direction of the object rotation, the positions of the two slit light irradiation planes of the test object irradiated with the slit light are moved in the one coordinate axis direction of the two-dimensional measurement coordinate system. Claim 1 characterized by
Alternatively, the conversion coefficient determination method in the three-dimensional shape measurement of 2.
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