JP7331498B2 - 慣性センサー、電子機器および移動体 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 90
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 55
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 31
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 18
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 12
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 12
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001413 alkali metal ion Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000008719 thickening Effects 0.000 description 2
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000251468 Actinopterygii Species 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009623 Bosch process Methods 0.000 description 1
- 235000015842 Hesperis Nutrition 0.000 description 1
- 235000012633 Iberis amara Nutrition 0.000 description 1
- -1 Na + Chemical class 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 239000005297 pyrex Substances 0.000 description 1
- 239000004984 smart glass Substances 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
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- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
- G01P15/125—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by capacitive pick-up
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/18—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration in two or more dimensions
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B81—MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B3/00—Devices comprising flexible or deformable elements, e.g. comprising elastic tongues or membranes
- B81B3/0035—Constitution or structural means for controlling the movement of the flexible or deformable elements
- B81B3/004—Angular deflection
- B81B3/0045—Improve properties related to angular swinging, e.g. control resonance frequency
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
- G01P15/0802—Details
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- B81B2201/00—Specific applications of microelectromechanical systems
- B81B2201/02—Sensors
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- B81B2201/0235—Accelerometers
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- B81B2203/00—Basic microelectromechanical structures
- B81B2203/01—Suspended structures, i.e. structures allowing a movement
- B81B2203/0181—See-saws
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
- G01P2015/0805—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
- G01P2015/0822—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass
- G01P2015/0825—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass
- G01P2015/0831—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass the mass being of the paddle type having the pivot axis between the longitudinal ends of the mass, e.g. see-saw configuration
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- G—PHYSICS
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- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
- G01P2015/0862—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with particular means being integrated into a MEMS accelerometer structure for providing particular additional functionalities to those of a spring mass system
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Description
基板と、
前記Y軸に沿う揺動軸まわりに揺動する可動体と、
前記基板に配置され、前記Z軸方向からの平面視で、前記可動体と重なっている電極と、を有し、
前記可動体は、前記Z軸方向からの平面視で、前記揺動軸を挟んで設けられている第1可動部および第2可動部を有し、
前記第1可動部は、前記Z軸方向からの平面視で、前記揺動軸に対して前記第2可動部と対称的に設けられている対称部と、前記対称部よりも前記揺動軸から遠い側に位置し、前記第2可動部と非対称な非対称部と、を有し、前記揺動軸まわりの回転モーメントが前記第2可動部よりも大きく、
前記電極は、前記Z軸方向からの平面視で、前記第1可動部の前記対称部と重なって設けられている第1検出電極と、前記第1検出電極よりも前記揺動軸から遠い側で前記第1可動部の前記対称部および前記非対称部と重なって設けられ、前記可動体と同電位である第1ダミー電極と、を有し、
前記対称部と前記第1ダミー電極との離間距離は、前記対称部と前記第1検出電極との離間距離よりも大きい。
図1は、第1実施形態に係る慣性センサーを示す平面図である。図2は、図1中のA-A線断面図である。
図3は、第2実施形態に係る慣性センサーを示す平面図である。図4は、図3中のB-B線断面図である。
図5は、第3実施形態に係る慣性センサーを示す平面図である。図6は、図5中のC-C線断面図である。
図7は、第4実施形態に係る電子機器としてのスマートフォンを示す平面図である。
図8は、第5実施形態に係る電子機器としての慣性計測装置を示す分解斜視図である。図9は、図8に示す慣性計測装置が有する基板の斜視図である。
図10は、第6実施形態に係る電子機器としての移動体測位装置の全体システムを示すブロック図である。図11は、図10に示す移動体測位装置の作用を示す図である。
図12は、第7実施形態に係る移動体を示す斜視図である。
Claims (6)
- 互いに直交する3軸をX軸、Y軸およびZ軸としたとき、
基板と、
前記Y軸に沿う揺動軸まわりに揺動する可動体と、
前記基板に配置され、前記Z軸方向からの平面視で、前記可動体と重なっている電極と、を有し、
前記可動体は、前記Z軸方向からの平面視で、前記揺動軸を挟んで設けられている第1可動部および第2可動部を有し、
前記第1可動部は、前記Z軸方向からの平面視で、前記揺動軸に対して前記第2可動部と対称的に設けられている対称部と、前記対称部よりも前記揺動軸から遠い側に位置し、前記第2可動部と非対称な非対称部と、を有し、前記揺動軸まわりの回転モーメントが前記第2可動部よりも大きく、
前記電極は、前記Z軸方向からの平面視で、前記第1可動部の前記対称部と重なって設けられている第1検出電極と、前記第1検出電極よりも前記揺動軸から遠い側で前記第1可動部の前記対称部および前記非対称部と重なって設けられ、前記可動体と同電位である第1ダミー電極と、前記第2可動部と重なって設けられている第2検出電極と、前記第1検出電極と前記第2検出電極との間に位置し、前記可動体と重なって設けられている第3ダミー電極と、を有し、
前記対称部と前記第1ダミー電極との離間距離は、前記対称部と前記第1検出電極との離間距離よりも大きく、
前記可動体と前記第3ダミー電極との離間距離は、前記第1可動部と前記第1検出電極との離間距離および前記第2可動部と前記第2検出電極との離間距離よりも大きいことを特徴とする慣性センサー。 - 前記非対称部と前記第1ダミー電極との離間距離は、前記対称部と前記第1検出電極との離間距離よりも大きい請求項1に記載の慣性センサー。
- 前記電極は、前記Z軸方向からの平面視で、前記第2検出電極よりも前記揺動軸から遠い側で前記第2可動部と重なって設けられ、前記可動体と同電位である第2ダミー電極を有し、
前記第2可動部と前記第2ダミー電極との離間距離は、前記第2可動部と前記第2検出電極との離間距離よりも大きい請求項1または2に記載の慣性センサー。 - 前記第1可動部および前記第2可動部にはそれぞれ前記可動体を前記Z軸方向に貫通する貫通孔が設けられている請求項1ないし3のいずれか1項に記載の慣性センサー。
- 請求項1ないし4のいずれか1項に記載の慣性センサーと、
前記慣性センサーから出力された検出信号に基づいて制御を行う制御回路と、を有することを特徴とする電子機器。 - 請求項1ないし4のいずれか1項に記載の慣性センサーと、
前記慣性センサーから出力された検出信号に基づいて制御を行う制御回路と、を有することを特徴とする移動体。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019120160A JP7331498B2 (ja) | 2019-06-27 | 2019-06-27 | 慣性センサー、電子機器および移動体 |
| CN202010579928.5A CN112147370B (zh) | 2019-06-27 | 2020-06-23 | 惯性传感器、电子设备以及移动体 |
| US16/912,929 US11391753B2 (en) | 2019-06-27 | 2020-06-26 | Inertial sensor, electronic instrument, and vehicle |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019120160A JP7331498B2 (ja) | 2019-06-27 | 2019-06-27 | 慣性センサー、電子機器および移動体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2021004858A JP2021004858A (ja) | 2021-01-14 |
| JP7331498B2 true JP7331498B2 (ja) | 2023-08-23 |
Family
ID=73887873
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019120160A Active JP7331498B2 (ja) | 2019-06-27 | 2019-06-27 | 慣性センサー、電子機器および移動体 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US11391753B2 (ja) |
| JP (1) | JP7331498B2 (ja) |
| CN (1) | CN112147370B (ja) |
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- 2019-06-27 JP JP2019120160A patent/JP7331498B2/ja active Active
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US11391753B2 (en) | 2022-07-19 |
| CN112147370B (zh) | 2022-10-25 |
| JP2021004858A (ja) | 2021-01-14 |
| US20200408804A1 (en) | 2020-12-31 |
| CN112147370A (zh) | 2020-12-29 |
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