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JP6590331B2 - 制御回路 - Google Patents

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Description

本発明はDC駆動される半導体LD(Laser Diode)と、半導体LDの発するレーザ光を変調するEA(Electro Absorption)変調器が集積化されたEA−LDの制御に関する。
特許文献1は半導体レーザモジュールを備えた光通信機器に係る技術を開示する。入力信号発生部は伝達信号に応じた入力信号をトランジスタのベースに入力する。トランジスタのエミッタとグランドとの間にはリミッタ回路を接続し、リミッタ回路と並列に半導体レーザを接続している。LDに並列にリミッタ回路が設けられ、リミッタ回路で設定された以上の電圧がLDに印加されないようにする。
特許文献2は半導体レーザ駆動装置に係る技術を開示する。半導体レーザ駆動装置は、参照電圧の値から入力電圧の値を差し引いた差分電圧の値が正の値である場合は、半導体レーザの駆動電流を増大させ、差分電圧の値が負の値である場合は、半導体レーザの駆動電流を減少させる。この半導体レーザ駆動装置は、駆動電流制御部と、供給された電流を電圧に変換する抵抗と、該変換電圧を入力電圧として駆動電流制御部に供給する電流源と、半導体レーザからの光の一部を受光し、該受光量に応じた大きさの電流を抵抗に供給するフォトダイオードと、半導体レーザが光出力断の状態において、所定の大きさの電流を抵抗に供給するための電流パスを形成し、光出力断の解除時に、該電流パスを遮断する瞬時発光回避回路と、を有する。
特許文献3は半導体発光素子の制御回路に係る技術を開示する。半導体レーザに並列にスイッチが配置され、半導体レーザとスイッチとの並列回路に流れる電流が電流制御部によって一定値となるように制御される。スイッチをオフにすると半導体レーザが発光し、オンにすると発光が停止する。
特開2003−198048号公報 特開2009−194138号公報 特開2011−2109号公報
DC駆動される半導体LDと、半導体LDの発するレーザ光を変調するEA変調器とが集積化されたEA−LD(一般にLDは分布帰還形LD(Distributed FeedBack LD:DFB−LD)が採用される場合が多く、その際にはEA−DFBと呼称される)は光モジュールに搭載され、一般的に、図5に示すように例えば定電流回路によって定電流駆動される。図5に示す全ての構成は図1に示す構成に含まれており、後に詳述される。図5において図1〜4に示す構成と同一の構成については図1〜4の符号と同一の符号が付されている。
図5を参照すると、EA−LDにおいて、LD3aのカソードとEA変調器3bのカソードとは互いに接続されている。差動増幅器4aの出力は電流バッファとしてのnpn型のトランジスタ4b(Tr)のベースに接続される。Tr4bのエミッタには電流検知用の抵抗4dが接続され、コレクタにはLD3aのカソードが接続される。LD3aの駆動には光モジュールの電源VDが供給される。電源VDはLD3aにバイアスを印加する。かかるEA−LD3の駆動回路の課題は、各回路素子、特に差動増幅器4a、Tr4b、あるいは、差動増幅器4aの非反転入力に与える基準電位を生成する電源回路4c(CPU、D/A−C等)のそれぞれについて過渡特性が保証されていない点である。
例えば、差動増幅器4aには、正電源として光モジュールの電源VCCが、負電源としてGND(接地)がそれぞれ与えられているが、電源VCCが切断(オフ)された後、最終的に0[V]に至るまで、差動増幅器4aの出力の挙動(電位)は保証されていない。電源VCCがオフされた後0[V]へ近づくのにともない、差動増幅器4aの出力電位も0[V]に単調に集束するのであれば問題ないが、差動増幅器4aの出力電位が電源VCCのオフ時の電位から一旦増加しその後0[V]に集束することも想定される。また、Tr4bについては、バイパスキャパシタ5によってコレクタ電位が有意値として残っている状態で、ベース電位が一旦上昇しTr4bが導通する場合もある。この場合、LD3aには過渡的に過大電流が流れることになる。
また、EA変調器3bについては、EA変調器3bに変調信号を供給する信号源11による逆バイアスが深くなると光吸収も増加しLD3aからのレーザ光は出力されない。が、上記の様に差動増幅器4aおよびTr4bの過渡特性によりLD3aに電流が流れている状態(LD3aが発光している状態)でEA変調器3bへの逆バイアスが過渡的に減少すると、EA変調器3bでの光吸収がなくなり、LD3aの出射光がそのままEA変調器3bから出力されることも想定される。
そこで、本発明の目的は、上記の事項を鑑みてなされたものであり、電源のオン・オフ時などに生じる過渡的な状態において光モジュールに搭載されるLDからのレーザ光の出力を防止する回路を提供することである。
本発明の一態様に係る制御回路は、光モジュールに搭載されるLDの過発光制御回路であって、該LDに並列に接続されたトランジスタ(TR)と、該TRを駆動する反転ゲート回路とを含み、該反転ゲート回路の電源はダイオードとキャパシタとで構成される電源維持回路を介して該光モジュールの電源から供給され、該反転ゲート回路の入力は該光モジュールの電源に接続され、該反転ゲート回路は該電源の切断を検出し該反転ゲート回路の出力をHレベルに設定して該TRを導通させる。
上記によれば、電源のオン・オフ時などに生じる過渡的な状態において光モジュールに搭載されるLDからのレーザ光の出力を防止する回路を提供することができる。
図1は、実施形態に係る制御回路の構成を示す図である。 図2は、実施形態に係る制御回路の変形例の構成を示す図である。 図3は、実施形態に係る制御回路の変形例の構成を示す図である。 図4は、実施形態に係る制御回路の変形例の構成を示す図である。 図5は、従来の制御回路を示す図である。
[本発明の実施形態の説明]
最初に本発明の実施形態を列記して説明する。本発明の一態様に係る制御回路は、光モジュールに搭載されるLDの過発光制御回路であって、該LDに並列に接続されたTRと、該TRを駆動する反転ゲート回路とを含み、該反転ゲート回路の電源はダイオードとキャパシタとで構成される電源維持回路を介して該光モジュールの電源から供給され、該反転ゲート回路の入力は該光モジュールの電源に接続され、該反転ゲート回路は該電源の切断を検出し該反転ゲート回路の出力をHレベル(High level)に設定して該TRを導通させる。このように、反転ゲート回路は光モジュールの電源の切断を検出するとTRを導通させるので、LDに流れる電流がLDに並列に接続されるTRに流れ、光モジュールの電源の切断に応じてLDの発光を直ちに停止させることができる。従って、光モジュールの各回路素子の過渡特性によらず光モジュールの電源の切断に応じて直ちにLDの過発光を防止できる。
本発明の一態様に係る制御回路は、この反転ゲート回路の出力を該光モジュールの電源の切断後の所定の期間内、該Hレベルを維持する。電源の切断の後の所定の期間TRの導通が維持されLDが発光が抑制されるので、例えば、電源の切断後に生じる過渡的な状態が解消され光モジュールの動作が十分に停止するまでの間、LDを発光させないようにできる。
本発明の一態様に係る制御回路は、該光モジュールが互いに異なる電圧を出力する複数の電源を備え、該反転ゲート回路は該複数の電源それぞれに接続されており、該複数の電源のいずれか一つの切断を検知し、該Hレベルを該切断後の所定の期間内維持し該TRを導通させる。このように、光モジュールが複数の電源を備える場合であっても、複数の電源のいずれか一つが切断されればLDを発光させないようにできる。
本発明の一態様に係る制御回路は、該LDが定電流回路と該光モジュールの電源との間に接続されており、該TRの一方の電流端子は該光モジュールの電源に接続され、該TRの他方の電流端子は接地されている。このようにLDが光モジュールの電源と定電流回路との間に接続されている場合、TRが電源に接続されているので、電源の切断に応じて電源に残留する電荷を、LDを介さずTRを介して直ちに放電できる。よって、光モジュールの電源の切断に応じて直ちにLDを発光させないようにできる。
本発明の一態様に係る制御回路は、該LDが定電流回路の出力と接地との間に接続されており、該TRの一方の電流端子は該定電流回路の出力と該LDとの間に接続され、該TRの他方の電流端子は接地している。このようにLDが定電流回路と接地との間に接続されている場合、TRが電流回路の出力とLDとの間に接続されているので、光モジュールの電源の切断に応じて電源および電流回路に残留する電荷を、LDを介さずTRを介して直ちに放電できる。よって、光モジュールの電源の切断に応じて直ちにLDを発光させないようにできる。
本発明の一態様に係る制御回路は、該LDをEA−LD素子(EA−LD:Electro Absorption Laser Diode)のLD部とすることができる。このように、本発明の一態様に係る制御回路は、EA−LD素子のLDに対しても適用できる。
[本発明の実施形態の詳細]
本発明の実施形態に係る制御回路の具体例を、以下に図面を参照しつつ説明する。なお、本発明はこれらの例示に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
図1に、実施形態に係る制御回路2の回路図を示す。この制御回路2はEA−LD3を備える光モジュール1に搭載され、LD3a(半導体レーザ)の過渡的な過発光を抑制する制御回路である。制御回路2は、定電流回路4、バイパスキャパシタ5、TR6(スイッチングトランジスタ)、反転ゲート回路7、電源維持回路8を備える。制御回路2は複数の電源すなわち、電源VDD、電源VCCから電源の供給を受ける。以下では、電源VDD、電源VCCを統括して、光モジュール1の電源と言う場合がある。
EA−LD3はLD3a、EA変調器3bを備え、変調信号光を出力する。LD3aはEA−LD3のLD部であり、EA変調器3bはEA−LD3の変調部である。LD3aは定電流回路4と電源VDとの間に接続されている。LD3aのカソードは、EA変調器3bのカソードとTr4bのコレクタに接続され、アノードは電源VDに接続される。アノードはさらにバイパスキャパシタ5の一方の電極に接続され、バイパスキャパシタ5の他方の電極は接地されている。EA変調器3bのアノードは信号源11に接続され、信号源11から変調信号が提供される。
LD3aとEA変調器3bとは共通の半導体基板(n型の半導体が多い)上に集積されるのが一般的である。半導体基板がLD3a及びEA変調器3bの共通のカソードとなる。それぞれのアノードは電気的に互いに分離される。LD3aのアノードから半導体基板に向けて直流電流が供給される。LD3aはこの直流電流によってレーザ光を生成し、このレーザ光はEA変調器3bに入射する。EA変調器3bは入射したレーザ光をそのアノードに供給される変調信号に応じて変調する。EA変調器3bはこの変調後の光を出力する。EA変調器3bは、半導体材料の電気−光効果(Franz-Keldish効果)を利用する。
定電流回路4は、差動増幅器4a、Tr4b、電源回路4c、抵抗4dを備えており、LD3aに対する定電流回路を構成する。差動増幅器4aの非反転入力は電源回路4cに接続され、電源回路4cから基準電位を受ける。差動増幅器4aの反転入力はTr4bのエミッタに接続され、さらに、抵抗4dを介して接地される。差動増幅器4aの出力はTr4bのベースに接続される。差動増幅器4aは非反転入力に与える電位と反転入力の電位が等しくなる様にその出力を電位を調整する。すなわち、非反転入力の電位と抵抗4dに生ずる電位降下を等しくする電流がLD3aに流れるようにその出力電位を調整する。
バイパスキャパシタ5はLD3a、電源VDを安定化するためその高周波雑音を除去する回路である。雑音除去率を高めるためには、容量値を比較的大きな値に設定しなければならない。従って、電源VDがオフとなった直後にはこのバイパスキャパシタ5には電荷が残っており、この電荷はLD3aあるいはTR6を介して放電される。
本実施の形態に係るTR6はMOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)である。TR6は電源VDおよびバイパスキャパシタ5に対して、LD3aに並列に接続されている。TR6のドレインは、電源VDおよびバイパスキャパシタ5と、LD3aのアノードとに接続される。TR6のソースは接地され、ゲートは反転ゲート回路7の出力に接続される。
反転ゲート回路7はORゲート7a、インバータ7b1,7b2を備え、TR6を駆動する。反転ゲート回路7の入力は電源VCCおよび電源VDDを受ける。ORゲート7aの入力はインバータ7b1を介して電源VCCに接続され、インバータ7b2を介して他の電源VDDに接続される。反転ゲート回路7の出力はTR6のゲートに接続されている。そして、反転ゲート回路7の電源は電源維持回路8を介して電源VCC/VDDから供給される。反転ゲート回路7は電源VCC、電源VDDの少なくとも何れか一方が断とされたことを検出し、この断の後、所定の時間、反転ゲート回路7の出力をHレベル(ハイレベル)に維持しTR6を導通させる。
電源維持回路8は反転ゲート回路7の電源を維持するための回路である。電源維持回路8はダイオード8aとバイパスキャパシタ8b含み、ダイオード8aのカソードとバイパスキャパシタ8bの一方の端子は、ORゲート7a、インバータ7b1,7b2のそれぞれの電源端子に接続され、他方の端子は接地されている。ダイオード8aのアノードはいずれかの電源VCC/VDDによりバイアスされる。ORゲート7aおよびインバータ7b1,7b2は、ダイオード8aおよびバイパスキャパシタ8bによって平滑化された電源VDD/VCCを受ける。
反転ゲート回路7を詳細に説明する。電源VCC、電源VDDは通常の場合、すなわち光モジュール1の全ての電源がオンとされかつ正規の電圧範囲にあって光モジュール1が定常動作状態にあるとき、その値は一例としてそれぞれ5.0[V]、3.3[V]の程度に設定されることが多い。電源VCCはインバータ7b1を介してORゲート7aの一方の入力に導かれ、電源VDDはインバータ7b2を介してORゲート7aの他方の入力に導かれる。通常の場合、すなわち二つの電源VCC、VDDが正規の電圧範囲にある場合には、ORゲート7aの二つの入力は全てLレベル(Low level)となるので、ORゲート7aの出力はLレベルが維持されTR6はオフ状態(導通していない状態)が維持される。この場合、LD3aの駆動は何らの影響も受けない。いずれか一方の電源がオフされその値が0[V]に向けて減少すると、ORゲート7aの一方の入力がHレベルとなり、その出力もHレベルとなる。この場合、TR6のゲートがHレベルに設定されるのでTR6は導通しバイパスキャパシタ5に蓄えられていた電荷が、TR6を介して急速に放電される。すなわち、LD3aにバイパスキャパシタ5の残留電荷が流れ込むことが抑制され、その結果LD3aの過渡的な発光も抑制される。ORゲート7aの出力は電源維持回路8に接続されているいずれかの電源VCC、VDDがオフされた後の所定の期間内、例えば、バイパスキャパシタ5の残留電荷がTR6を介して放電されるまでの間Hレベルを維持する。
ここで、ORゲート7aの動作について説明する。ORゲート7aの電源はダイオード8aを介していずれかの電源VCC,VDDから供給され、かつ、比較的大容量のバイパスキャパシタ8bによりバイパスされている。バイパスキャパシタ8bの放電経路は、反転ゲート回路7を介する経路と、ダイオード8aを介して0[V]に漸減する電源VDD/VCCに向かう経路の二つである。一般に電源VCC/VDDには他の回路、たとえば定電流回路4等も接続されている。それら回路には反転ゲート回路7に対するバイアス電流よりも大きな電流が供給されており、電源をオフとする過渡時には逸早く0[V]に向けて減少する。従って、ダイオード8aのアノード電位がカソード電位に比較して低くなり、ダイオード8aが逆バイアスされる状況が生ずる。反転ゲート回路7を介する放電によりバイパスキャパシタ8bのバイアスもいずれは0[V]に至るが、その減少の時定数τ1はダイオード8aの逆バイアス時の(非常に大きい)抵抗値R11と反転ゲート回路7のダイオード8aから見込んだインピーダンスZ7の並列値とバイパスキャパシタ8bの容量C1とで決定される(R11//Z7)×C1となるので、電源VCC/VDDの減少の時定数よりも大きく反転ゲート回路7の電源電圧は長時間にわたって十分に有意な値で、ORゲート7a、二つのインバータ7b1、7b2を正常動作させるに十分な値として残る。すなわち反転ゲート回路7の論理動作は、電源VCC/VDDが0[V]に向けて漸減している場合であっても維持される。以上のように、反転ゲート回路7は、電源VCC/VDDからその電源が電源維持回路8を介して供給されているので、光モジュール1の電源がオフされ0[V]に向かう過渡時には、電源維持回路8が用いられていなければORゲート7aの論理動作は保証されなくなってしまうが、電源維持回路8を介在させることにより、この過渡時であっても反転ゲート回路7の論理動作が保障される。
反転ゲート回路7は電源VCC/VDDの減少に合わせてインバータ7b1,7b2の出力をLレベルからHレベルに反転させるための閾値が必要である。すなわち、反転ゲート回路7は光モジュール1の電源がオフされた後に光モジュール1が十分には停止しておらず光モジュール1内の他の回路機能が未だ動作している状態であっても、いち早くORゲート7aの出力をLレベルからHレベルに反転させ、TR6を導通させる必要がある。これはインバータ7b1,7b2の反転閾値を調整することによって達成される。反転ゲート回路7のこの閾値を、電源VCC、電源VDDの仕様電圧から僅かに低下した値(例えば、電源VCC、電源VDDの仕様範囲内の最低値から10%低下した値)に設定することで、バイパスキャパシタ5に蓄えられている電荷を逸早く放電することが可能となる。
以上説明した構成によれば、LD3aに電源を供給する電源VDおよびバイパスキャパシタ5にTR6が接続され、制御回路2は反転ゲート回路7を用いることによって光モジュール1の電源がオフとなり0[V]に向け減少する過渡状態で、TR6を直ちに導通させるので、電源VDおよびバイパスキャパシタ5に残った電荷がTR6を介して急速に放電され、電源VDおよびバイパスキャパシタ5が他の電源VCC,電源VDD等よりも最初に0[V]に減少する。このように、反転ゲート回路7は光モジュール1の電源がオフされたことを検出するとTR6を導通させるので、LD3aに流れる電流がLD3aに並列に接続されるTR6に流れ、よって光モジュール1の電源の断に応じてLD3aの発光を直ちに停止させることができる。従って、光モジュール1の各回路素子の過渡特性にかかわらずレーザ光がEA変調器3bから過渡的に出力されることを防止できる。更に、光モジュール1は複数の電源(図1に示す実施の形態では電源VDDおよび電源VCCを有するが、この複数の電源のうちいずれかの電源がオフされればLD3aを発光させないようにできる。
(変形例1)
反転ゲート回路として、ORゲート7aを用いないより単純な構成を用いることも可能である。変形例1に係る制御回路2aは、ORゲート7aを用いず、二つのトランジスタTr71a,71bを用いて、制御回路2と同様の機能を実現する。
図2に示すように、制御回路2と制御回路2aとの相違点は、反転ゲート回路7が反転ゲート回路71に替えられていることである。この相違点を除き、制御回路2aの構成は、制御回路2の構成と同様である。特に、制御回路2aにおいて、TR6のドレインに接続される構成は制御回路2と同様なので、図示を省略している。反転ゲート回路71はディスクリート半導体素子で構成したNANDゲートに相当し、その論理動作は反転ゲート回路7と全く同様である。
反転ゲート回路71は、図2に示すように、Tr71a,71b、を縦積みした回路である。反転ゲート回路71は、Tr71a,71b、抵抗71c〜71gを備える。Tr71aのコレクタはTR6のゲートに接続され、さらに抵抗71gを介して電源維持回路8に接続される。エミッタはTr71bのコレクタに接続される。Tr71bのエミッタは接地されている。Tr71aのベースは抵抗71cを介して電源VCCに接続され、抵抗71dを介して接地されている。Tr71bのベースは抵抗71eを介して電源VDDに接続され、抵抗71fを介して接地されている。すなわち、Tr71aは電源VCCを二つの抵抗71c、71dで抵抗分圧した電位を受け、Tr71bは電源VDDを二つの抵抗71e、71fで抵抗分圧した電位を受ける。
Tr71a,71bのうちいずれか一方がオフになり導通しなくなると、電源維持回路8のバイパスキャパシタ8bの放電経路が実質的に消失するので(逆バイアスされたダイオード8aおよびオフされたTr71b以外にバイパスキャパシタ8bの実質的な放電経路はない)、反転ゲート回路71は、電源VCCまたは電源VDDが断となって0[V]に減少した後においても、比較的長い時間その動作状態(反転ゲート回路71の出力がHレベルの状態)を継続する。
反転ゲート回路71の出力をLレベルからHレベルに反転するための閾値は、Tr71aのベース、Tr71bのベースのそれぞれに供給されている電源VCC、電源VDDについての抵抗分割回路の分割比を調整することで得られる。この抵抗分割回路は、抵抗71c,71d,71e,71fから成り、抵抗分割回路の分割比は、電源VCCに対しては抵抗71cおよび抵抗71dの抵抗値の比であり、電源VDDに対しては抵抗71eおよび抵抗71fの抵抗値の比である。電源維持回路8のダイオード8aとバイパスキャパシタ8bとで平滑化された電源VCC/VDDが抵抗71gを介して縦積みされた二つのTr71a、71bに供給される。
抵抗71gは、電源VCC、電源VDDがともにオンされている時の反転ゲート回路71の消費電力を決定する。抵抗71gが存在しない場合、二つのTr71a、71bがともに導通している定常時には、電源VCC/VDDと接地との間には実質ダイオード8aのみが接続されている状態になり、ダイオード8aには大きな電流が流れてしまう。抵抗71gをダイオード8aに直列に接続すると、この抵抗71gに電位降下が生じ、電源VCC/VDDから適正な電流が流れ出す。
(変形例2)
制御回路2あるいは制御回路2aの構成の場合、光モジュール1の電源がオンされ、その後に電源VDD、電源VCCが正規の電圧範囲に至るまでにTR6が導通する可能性がある。この場合、電源VDに大きなラッシュカレント(TR6を経由してGNDに吸収される電流)が流れる可能性がある。電源VCC、電源VDDがある程度立ち上がっている状態(電源VCC、電源VDDそれぞれが正規の電圧範囲には至らないまでも、ダイオード8aを経由して供給される反転ゲート回路7、71の電源が反転ゲート回路7,71を正常に機能させる程度に確立している状態)でこの様な状況が生ずる可能性がある。
変形例2に係る制御回路2bは、このように光モジュール1の電源がオンされた時に生じる過渡的な状態でも、好適な動作を保証する構成を備える。制御回路2bは、制御回路2と同様に、EA−LD3のLD3aの過発光を抑制する制御回路であり、少なくとも制御回路2と同様の効果を奏する。
図3に示すように、制御回路2および制御回路2aと制御回路2bとの相違点は、制御回路2bでは、電源維持回路8が電源維持回路81に替えられており、さらに、TR6のゲートが抵抗9を介して接地されていることである。上記相違点を除き、制御回路2bの構成は、制御回路2または制御回路2aの構成と同様である。特に、制御回路2bにおいて、TR6のドレインに接続される構成は、制御回路2および制御回路2aと同様なので、図示を省略している。
電源維持回路81は、ダイオード8a、バイパスキャパシタ8b、抵抗8cを備える。制御回路2bでは、(1)反転ゲート回路7(または反転ゲート回路71)の出力(TR6のゲートの入力)が抵抗9(プルダウン抵抗)によって接地され、且つ、(2)反転ゲート回路7(または反転ゲート回路71)の電源がダイオード8aと抵抗8cとの直列回路を経由して供給される。
プルダウン抵抗9は、反転ゲート回路7(または反転ゲート回路71)の出力が確定しない場合にTR6のゲートをLレベルに設定することでTR6をオンさせない。また、ダイオード8aと抵抗8cとの直列回路を経由して反転ゲート回路7,71に電源VCC/VDDを供給するということは、ダイオード8aの順バイアス時の抵抗値をR、バイパスキャパシタ8bの容量をC1、抵抗9の抵抗値をR2とすると、反転ゲート回路7,71の電源の立ち上り時定数τ2を(R12+R2)×C1に設定することと等価である。ダイオード8aは、ゼロバイアス時に比較的大きな動作抵抗値を有するものの、一旦電流が流れ始めるとその動作抵抗値が急激に低下し、通常の動作状態下では数Ω〜数十Ωに減少するが、抵抗8cの抵抗値を数百[Ω]程度とすることで立ち上がり時定数τ2を大きくし、反転ゲート回路7,71を電源VCC、電源VDDのそれぞれの立ち上がりに対して遅れて立ち上がらせる。この間、TR6のゲートはプルダウンされているので、光モジュール1の電源がオンされ定常値に至るまでの過渡時におけるTR6の導通を防ぐことができる。なお、抵抗値R12が数百[Ω]の程度であれば、抵抗8cは反転ゲート回路7,71の定常動作を妨げるものとはならない。また、反転ゲート回路7,71は、光モジュール1の電源がオフされた時に生じる過渡的な状態で論理動作を行えばよく、その場合の反転ゲート回路7,71の動作に必要な電源は、電源VCC/VDDに並列に接続されたバイパスキャパシタ8bで賄える。シリーズ抵抗8cにこのような比較的大きな抵抗値を採用しても、反転ゲート回路7,71の過渡応答は抵抗8cによって影響を受けない。
(変形例3)
変形例3に係る制御回路2cは、変形例2の場合と同様に、光モジュール1の電源がオンされた時に生じる過渡的な状態でも、好適な動作が可能となる構成を備える。制御回路2cは、制御回路2と同様に、EA−LD3のLD3aの過発光を抑制する制御回路であり、少なくとも制御回路2と同様の効果を奏する。
図4に示すように、制御回路2、2aと制御回路2cとの相違点は、(1)制御回路2cでは定電流回路4が定電流回路41に替えられており、さらに、この定電流回路41が電源VDおよびバイパスキャパシタ5とLD3aのアノードとの間に設けられており、(2)LD3aのカソードが直接接地されており、(3)TR6のドレインがLD3aのアノードに接続され、また、定電流回路41を介してバイパスキャパシタ5に接続されていることである。上記相違点を除き、制御回路2cの構成は、制御回路2または制御回路2aの構成と同様である。
定電流回路41は、差動増幅器4a、電源回路4c、抵抗4d、Tr4eを備えており、定電流回路4と同様に、LD3aに対する定電流源を構成する。Tr4eは、pnp型のTrである。Tr4eのベースは、差動増幅器4aの出力に、エミッタは、抵抗4dを介して電源VDおよびバイパスキャパシタ5に接続される。Tr4eのコレクタはLD3aのアノードとTR6のドレインとに接続される。LD3aは定電流回路41の出力(Tr4eのコレクタ)とGNDとの間に接続される。電源VDは、バイパスキャパシタ5から、定電流回路41の抵抗4dおよびTr4eを介して、LD3aのアノードに供給される。電源回路4cは、差動増幅器4aの非反転入力と、電源VDの間に設けられている。差動増幅器4aの反転入力は、Tr4eのエミッタに接続される。TR6のドレインは、定電流回路41の出力とLD3aとの間に接続されている。LD3aに供給される定電流の値は、電源回路4cから差動増幅器4aの非反転入力に与えられる入力電位と電源VDとの電位差で決定される。電源回路4cの電位を増加させると定電流の値は減少し、その電位を減少すると電流値は増加する。
制御回路2cによれば、LD3aがバイパスキャパシタ5の出力とGNDとの間に接続されており、TR6が定電流回路4の出力とLD3aとの間に接続されているので、電源VDのオフに応じて電源VD(更には、バイパスキャパシタ5)および定電流回路41に残留する電荷を、LD3aを介さずTR6を介して直ちに放電することができる。
制御回路2cにおいても、TR6はLD3aと並列に接続される。しかし、制御回路2、2a,2bの場合とは異なり、制御回路2cの場合には、TR6は、抵抗4dをバイパスしない。制御回路2、2aの場合、TR6が抵抗4dをバイパスすることで生じるラッシュカレント(TR6を介して直接にGNDに流れ込む電流)が問題とされたが、制御回路2cでは、TR6がオンされ導通してTR6に電流が流れたとしても、当該電流は抵抗4dも経由して流れるため、ラッシュカレントは、抵抗4dによって効果的に制限される。
以上、好適な実施の形態において本発明の原理を図示し説明してきたが、本発明は、そのような原理から逸脱することなく配置および詳細において変更され得ることは、当業者によって認識される。本発明は、本実施の形態に開示された特定の構成に限定されるものではない。したがって、特許請求の範囲およびその精神の範囲から来る全ての修正および変更に権利を請求する。
本実施形態では、一例として、光モジュール1の電源が複数の電源(電源VDD、電源VCC,等)から成るものとして説明したが、これに限らず、光モジュール1の電源が単一の電源から成る場合でもよい。このような構成の制御回路の場合、反転ゲート回路7のORゲート7aは不要となり、TR6は、電源に接続された反転ゲート回路7のインバータ(インバータ7b1,7b2の何れか一方)の出力によって駆動され、このインバータの電源は電源維持回路8を介して供給される。
また、ORゲート7aとインバータ7b1,7b2とを組み合わせた反転ゲート回路7を、NANDゲートに替えて用いることもでき、このNANDゲートは、反転ゲート回路7と同様に電源維持回路8を介して電源の供給を受け、反転ゲート回路7と同様の機能を発揮する。
1…光モジュール、11…信号源、2,2a,2b,2c…制御回路、3…EA−LD、3a…LD、3b…EA変調器、4,41…定電流回路、4a…差動増幅器、4b,4e,71a,71b…Tr、4c…電源回路、4d,71c,71d,71e,71f,71g,8c,9…抵抗、8,81…電源維持回路、5,8b…バイパスキャパシタ、6…TR、7,71…反転ゲート回路、7a…ORゲート、7b1,7b2…インバータ、8a…ダイオード。

Claims (5)

  1. 光モジュールに搭載される半導体レーザの制御回路であって、
    該半導体レーザに並列に接続されたスイッチングトランジスタと、
    該スイッチングトランジスタを駆動する反転ゲート回路と、
    該半導体レーザに接続された定電流回路と、
    を含み、
    該定電流回路の電源は該光モジュールの電源から供給され、
    該反転ゲート回路の電源はダイオードとキャパシタとで構成される電源維持回路を介して該光モジュールの電源から供給され、
    該反転ゲート回路の入力は該光モジュールの電源に接続され、
    該反転ゲート回路は該入力に接続された該光モジュールの電源の切断を検出し、該反転ゲート回路の出力をハイレベルに設定して該スイッチングトランジスタを導通させ、該半導体レーザに流れる電流を該スイッチングトランジスタに流すことで、前記半導体レーザの過発光を抑制する、制御回路。
  2. 該反転ゲート回路の出力は、該光モジュールの電源の切断後の所定の期間内、該ハイレベルを維持する、請求項1に記載の制御回路。
  3. 該光モジュールの電源は互いに異なる電圧を出力する複数の電源を備え、
    該反転ゲート回路は、該複数の電源それぞれに接続されており、該複数の電源のいずれか一つの切断を検知し、該切断後の所定の期間内、該ハイレベルを維持し該スイッチングトランジスタを導通させる、請求項1に記載の制御回路。
  4. 該半導体レーザは定電流回路と該光モジュールの電源及びバイパスキャパシタとの間に接続されており、
    該スイッチングトランジスタの一方の電流端子は該光モジュールの電源に接続され、該スイッチングトランジスタの他方の電流端子は接地している、請求項1〜3の何れか一項の制御回路。
  5. 該半導体レーザは定電流回路の出力と接地との間に接続されており、
    該定電流回路は該半導体レーザと該光モジュールの電源及びバイパスキャパシタとの間に接続されており、
    該スイッチングトランジスタの一方の電流端子は該定電流回路の出力と該半導体レーザとの間に接続され、該スイッチングトランジスタの他方の電流端子は接地している、請求項1〜3の何れか一項に記載の制御回路。
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