JP6010035B2 - 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム - Google Patents
単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム Download PDFInfo
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Description
2…光源
3…シングルモードオプティカルファイバー
4…コリメータレンズ
5…ダイクロイックミラー
6、7、11…反射ミラー
8…対物レンズ
9…マイクロプレート
10…ウェル(試料溶液容器)
12…コンデンサーレンズ
13…ピンホール
14…バリアフィルター
14a…ダイクロイックミラー又は偏光ビームスプリッタ
15…マルチモードオプティカルファイバー
16…光検出器
17…ミラー偏向器
17a…ステージ位置変更装置
18…コンピュータ
本発明による光分析技術を実現する光分析装置は、基本的な構成に於いて、図1(A)に模式的に例示されている如き、FCS、FIDA等が実行可能な共焦点顕微鏡の光学系と光検出器とを組み合わせてなる装置であってよい。同図を参照して、光分析装置1は、光学系2〜17と、光学系の各部の作動を制御すると共にデータを取得し解析するためのコンピュータ18とから構成される。光分析装置1の光学系は、通常の共焦点顕微鏡の光学系と同様であってよく、そこに於いて、光源2から放射されシングルモードファイバー3内を伝播したレーザー光(Ex)が、ファイバーの出射端に於いて固有のNAにて決まった角度にて発散する光となって放射され、コリメーター4によって平行光となり、ダイクロイックミラー5、反射ミラー6、7にて反射され、対物レンズ8へ入射される。対物レンズ8の上方には、典型的には、1〜数十μLの試料溶液が分注される試料容器又はウェル10が配列されたマイクロプレート9が配置されており、対物レンズ8から出射したレーザー光は、試料容器又はウェル10内の試料溶液中で焦点を結び、光強度の強い領域(励起領域)が形成される。試料溶液中には、観測対象物である発光粒子、典型的には、蛍光性粒子又は蛍光色素等の発光標識が付加された粒子が分散又は溶解されており、かかる発光粒子が励起領域に進入すると、その間、発光粒子が励起され光が放出される。放出された光(Em)は、対物レンズ8、ダイクロイックミラー5を通過し、ミラー11にて反射してコンデンサーレンズ12にて集光され、ピンホール13を通過し、バリアフィルター14を透過して(ここで、特定の波長帯域の光成分のみが選択される。)、マルチモードファイバー15に導入されて、光検出器16に到達し、時系列の電気信号に変換された後、コンピュータ18へ入力され、後に説明される態様にて光分析のための処理が為される。なお、当業者に於いて知られている如く、上記の構成に於いて、ピンホール13は、対物レンズ8の焦点位置と共役の位置に配置されており、これにより、図1(B)に模式的に示されている如きレーザー光の焦点領域、即ち、励起領域内から発せられた光のみがピンホール13を通過し、励起領域以外からの光は遮断される。図1(B)に例示されたレーザー光の焦点領域は、通常、1〜10fL程度の実効体積を有する本光分析装置に於ける光検出領域であり(典型的には、光強度が領域の中心を頂点とするガウス様分布となる。実効体積は、光強度が中心光強度の1/e2となる面を境界とする略楕円球体の体積である。)、コンフォーカル・ボリュームと称される。また、本発明では、1つの発光粒子からの光、例えば、一つの蛍光色素分子からの微弱光が検出されるので、光検出器16としては、好適には、フォトンカウンティングに使用可能な超高感度の光検出器が用いられる。光の検出がフォトンカウンティングによる場合、光強度の測定は、所定時間に亘って、逐次的に、計測単位時間(BIN TIME)毎に、光検出器に到来するフォトンの数を計測する態様にて実行される。従って、この場合、時系列の光強度のデータは、時系列のフォトンカウントデータである。また、顕微鏡のステージ(図示せず)には、観察するべきウェル10を変更するべく、マイクロプレート9の水平方向位置を移動するためのステージ位置変更装置17aが設けられていてよい。ステージ位置変更装置17aの作動は、コンピュータ18により制御されてよい。かかる構成により、検体が複数在る場合にも、迅速な計測が達成可能となる。
「発明の概要」の欄に記載されている如く、本発明の光分析技術に於いては、端的に述べれば、走査分子計数法に於いて、時系列光強度データ上にて発光粒子の信号の略釣鐘状のプロファイルの特徴が消失せず、発光粒子の信号を精度よく検出でき、且つ、データ量を過大にしないようにすべく、光検出処理の計測単位時間(フォトンカウンティングのビンタイム)が設定される。以下、本発明の走査分子計数法及びの計測単位時間の設定の原理について説明する。
FCS、FIDA等の分光分析技術は、従前の生化学的な分析技術に比して、必要な試料量が極めて少なく、且つ、迅速に検査が実行できる点で優れている。しかしながら、FCS、FIDA等の分光分析技術では、原理的に、発光粒子の濃度や特性は、蛍光強度のゆらぎに基づいて算定されるので、精度のよい測定結果を得るためには、試料溶液中の発光粒子の濃度又は数密度が、図11(A)に模式的に描かれているように、蛍光強度の計測中に常に一個程度の発光粒子が光検出領域CV内に存在するレベルであり、同図の右側に示されている如く、計測時間中に常に有意な光強度(フォトンカウント)が検出されることが要求される。もし発光粒子の濃度又は数密度がそれよりも低い場合、例えば、図11(B)に描かれているように、発光粒子がたまにしか光検出領域CV内へ進入しないレベルである場合には、同図の右側に例示されている如く、有意な光強度の信号(フォトンカウント)が、計測時間の一部にしか現れないこととなり、精度のよい光強度のゆらぎの算定が困難となる。また、計測中に常に一個程度の発光粒子が光検出領域内に存在するレベルよりも発光粒子の濃度が大幅に低い場合には、光強度のゆらぎの演算に於いて、バックグラウンドの影響を受けやすく、演算に十分な量の有意な光強度データを得るために計測時間が長くなる。
上記の走査分子計数法により光検出器16により経時的に取得された光強度のデータ(時系列光強度データ)に於いては、発光粒子からの光によるパルス状の信号の他に、光検出器の熱ノイズや背景光等に起因にするノイズが混入する。そこで、時系列光強度データから発光粒子の信号を検出する際には、典型的には、時系列光強度データに於いて見出されるパルス状の信号の形状的特徴、例えば、ピーク強度、幅、ガウス関数等の釣鐘型関数の形状に対する近似の程度(ガウス関数フィッティングに於ける相関係数)が参照される。そして、発光粒子によるパルス信号に於いて想定される範囲の形状的特徴を有するパルス信号を発光粒子の信号として判別し、それ以外のパルス信号は、ノイズ信号として判別する。
[i]Tp<Δτ1
の場合、発光粒子のパルス信号のプロファイルIRに対して、データ点Dpは、一点のみとなる。この場合、発光粒子のパルス信号のプロファイルの略釣鐘状の特徴が消失し、情報が強度値の大きさのみとなるので、発光粒子のパルス信号の形状的特徴に基づいて、発光粒子のパルス信号を検出することは極めて困難である。また、計測単位時間が、
[ii]Tp>Δτ2≧1/2Tp
であるとき、発光粒子のパルス信号のプロファイルIRに対して、データ点Dpは、2点となるが、この場合も、データ点Dpの値には、略釣鐘状の特徴、即ち、時間方向に沿って、小、大、小の順に値が変化する特徴が消失しているので、発光粒子のパルス信号の形状的特徴に基づいて、発光粒子のパルス信号を検出することは困難である。一方、計測単位時間が、発光粒子のパルス信号の長さTpの1/2よりも短い場合、即ち、
[iii]1/2Tp>Δτ3≧1/3Tp、
[iv]1/3Tp>Δτ4≧1/4Tp、
[v]1/4Tp>Δτ5≧1/5Tp、
…以下、同様。
であるときには、データ点Dpが少なくとも3点となり、時間方向に沿って、小、大、小の順に値が変化する略釣鐘状の特徴が保存され、発光粒子のパルス信号の形状的特徴に基づいて、発光粒子のパルス信号を検出することが可能となる。
[光検出領域の大きさ]/[光検出領域の移動速度] …(1)
により与えられるので、計測単位時間又はビンタイムは、かかる理論値を参照して適宜決定されてよい。上記の式(1)から理解される如く、発光粒子の通過時間は、光検出領域の大きさが大きいほど、長くなり、光検出領域の移動速度が高いほど短くなるので、これに追従して、計測単位時間又はビンタイムが増減されてよい。
2Wo=1.22・λ/(D/2f) …(2)
により与えられる(ここで、λは、励起波長、Dは、入射光ビーム径、fは、対物レンズの焦点距離である。)。従って、式(2)により算出される値を光検出領域の大きさの概算値として用いて式(1)から算出される値が、光検出領域を一つの発光粒子が通過する際の通過時間(即ち、発光粒子のパルス信号の長さTp)の概算値(概算通過時間)として参照され、計測単位時間又はビンタイムが決定されてよい。概算通過時間から計測単位時間又はビンタイムを決定する際には、既に述べた如く、光検出領域を一つの発光粒子が通過する際の通過時間が少なくとも3つのデータ点を包含すべきであるで、計測単位時間又はビンタイムは、例えば、概算通過時間の半分未満、好適には、1/3程度に設定されてよい。或いは、概算通過時間内に少なくとも3つのデータ点を包含するよう計測単位時間又はビンタイムが決定されてもよい。また、発光粒子の通過位置が光検出領域の周縁に近づくほど、通過時間が短くなることを考慮して、計測単位時間又はビンタイムは、光検出領域の周縁を通過する発光粒子の信号をより確実に検出すべく、少なくとも3つのデータ点が光検出領域の周縁を通過する発光粒子の通過時間内に包含されるように、概算通過時間を参考にして、その1/3よりも十分に短い時間、例えば、その1/6程度の時間などに設定されてよい。もちろん、光検出領域を一つの発光粒子が通過する際の通過時間は、予め実験によっても決定可能であるので、実験的に得られた発光粒子の通過時間内に少なくとも3つのデータ点が包含されるように、計測単位時間又はビンタイムが決定されてもよい。
図1(A)に例示の光分析装置1を用いた本発明に従った走査分子計数法の実施形態に於いては、具体的には、(1)発光粒子を含む試料溶液の調製、(2)試料溶液の光強度の測定処理、及び(3)測定された光強度の分析処理が実行される。図3は、フローチャートの形式にて表した本実施形態に於ける処理を示している。
本発明の光分析技術の観測対象物となる粒子は、溶解された分子等の、試料溶液中にて分散し溶液中にてランダムに運動する粒子であれば、任意のものであってよく、例えば、タンパク質、ペプチド、核酸、脂質、糖鎖、アミノ酸若しくはこれらの凝集体などの生体分子、ウイルス、細胞、或いは、金属コロイド、その他の非生物学的分子などであってよい。観測対象物となる粒子が光を発する粒子でない場合には、発光標識(蛍光分子、りん光分子、化学・生物発光分子)が観測対象物となる粒子に任意の態様にて付加されたものが用いられる。試料溶液は、典型的には水溶液であるが、これに限定されず、有機溶媒その他の任意の液体であってよい。
本実施形態の走査分子計数法による光分析に於ける光強度の測定は、測定中にミラー偏向器17又はステージ位置変更装置17aを駆動して、試料溶液内での光検出領域の位置の移動(試料溶液内の走査)を行う他は、FCS又はFIDAに於ける光強度の測定過程と同様の態様にて実行されてよい。操作処理に於いて、典型的には、マイクロプレート9のウェル10に試料溶液を注入して顕微鏡のステージ上に載置した後、使用者がコンピュータ18に対して、測定の開始の指示を入力すると、コンピュータ18は、記憶装置(図示せず)に記憶されたプログラム(試料溶液内に於いて光検出領域の位置を移動する手順と、光検出領域の位置の移動中に光検出領域からの光を検出して時系列の光強度データを生成する手順)に従って、試料溶液内の光検出領域に於ける励起光の照射及び光強度の計測が開始される。かかる計測中、コンピュータ18のプログラムに従った処理動作の制御下、ミラー偏向器17又はステージ位置変更装置17aは、ミラー7(ガルバノミラー)又は顕微鏡のステージ上のマイクロプレート9を駆動して、ウェル10内に於いて光検出領域の位置の移動を実行し、これと同時に光検出器16は、逐次的に検出された光を電気信号に変換してコンピュータ18へ送信し、コンピュータ18では、任意の態様にて、送信された信号から時系列の光強度データを生成して保存する。なお、典型的には、光検出器16は、一光子の到来を検出できる超高感度光検出器であるので、光の検出が、フォトンカウンティングによる場合、時系列光強度データは、時系列のフォトンカウントデータであってよい。フォトンカウンティングに於けるビンタイムは、上記の如く、概算通過時間又は実験的に得られた粒子の通過時間内に少なくとも3つのデータ点が包含されるよう適宜設定される。
(2Wo)2=6D・Δt …(3)
から、
Δt=(2Wo)2/6D …(4)
となるので、発光粒子がブラウン運動により移動する速度(拡散移動速度)Vdifは、概ね、
Vdif=2Wo/Δt=3D/Wo …(5)
となる。そこで、光検出領域の位置の移動速度は、かかるVdifを参照して、それよりも十分に早い値に設定されてよい。例えば、観測対象粒子の拡散係数が、D=2.0×10−10m2/s程度であると予想される場合には、Woが、0.62μm程度だとすると、Vdifは、1.0×10−3m/sとなるので、光検出領域の位置の移動速度は、その10倍以上の15mm/sなどと設定されてよい。なお、観測対象粒子の拡散係数が未知の場合には、光検出領域の位置の移動速度を種々設定して光強度の変化のプロファイルが、予想されるプロファイル(典型的には、励起光強度分布と略同様)となる条件を見つけるための予備実験を繰り返し実行して、好適な光検出領域の位置の移動速度が決定されてよい。
上記の処理により時系列光強度データが得られると、コンピュータ18に於いて、記憶装置に記憶されたプログラムに従った処理により、発光粒子の信号の検出、発光粒子のカウンティング、濃度算出等の各種分析が実行される。
時系列光強度データが生成されると、かかる光強度データ上にて、発光粒子の信号を個別に検出する処理が実行される。既に触れた如く、一つの発光粒子の光検出領域を通過する際の軌跡が、図4(B)に示されている如く略直線状である場合、その粒子に対応する信号に於ける光強度データ上での光強度の変化は、光学系により決定される光検出領域内の光強度分布を反映した略釣鐘状のプロファイルを有する。従って、走査分子計数法では、基本的には、光強度データ上で、適宜設定される閾値Ithを超える光強度値が継続する時間幅Δτが所定の範囲にあるとき、その光強度のプロファイルを有する信号が一つの粒子が光検出領域を通過したことに対応すると判定され、一つの発光粒子の検出が為されるようになっていてよい。そして、光強度が閾値Ithを超えないか、時間幅Δτが所定の範囲にない信号は、ノイズ又は異物の信号として判定される。また、光検出領域の光強度分布が、ガウス分布:
I=A・exp(−2t2/a2) …(6)
であると仮定できるときには、有意な光強度のプロファイル(バックグラウンドでないと明らかに判断できるプロファイル)に対して式(6)をフィッティングして算出された強度A及び幅aが所定の範囲内にあるとき、その光強度のプロファイルが一つの粒子が光検出領域を通過したことに対応すると判定され、一つの発光粒子の検出が為されてよい。(強度A及び幅aが所定の範囲外にある信号は、ノイズ又は異物の信号として判定され、その後の分析等に於いて無視されてよい。)
検出された発光粒子の信号の数を計数して、発光粒子の数の決定が為されている場合、任意の手法にて、光検出領域の通過した領域の総体積が算定されれば、その体積値と発光粒子の数とから試料溶液中の発光粒子の数密度又は濃度が決定される(ステップ170)。
Vt=N/C …(7)
により与えられる。また、対照溶液として、発光粒子の複数の異なる濃度の溶液が準備され、それぞれについて測定が実行されて、算出されたVtの平均値が光検出領域の通過した領域の総体積Vtとして採用されるようになっていてよい。そして、Vtが与えられると、発光粒子のカウンティング結果がnの試料溶液の発光粒子の濃度cは、
c=n/Vt …(8)
により与えられる。なお、光検出領域の体積、光検出領域の通過した領域の総体積は、上記の方法によらず、任意の方法にて、例えば、FCS、FIDAを利用するなどして与えられるようになっていてよい。また、本実施形態の光分析装置に於いては、想定される光検出領域の移動パターンについて、種々の標準的な発光粒子についての濃度Cと発光粒子の数Nとの関係(式(7))の情報をコンピュータ18の記憶装置に予め記憶しておき、装置の使用者が光分析を実施する際に適宜記憶された関係の情報を利用できるようになっていてよい。
20μ秒<パルス幅<400μ秒
ピーク強度>1[pc/10μs] …(A)
相関係数>0.90
を満たすパルス信号のみを発光粒子の信号として抽出し、その信号数を計数した。
Claims (27)
- 共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いて試料溶液中にて分散しランダムに運動する発光粒子からの光を検出する光分析装置であって、
前記試料溶液内に於ける前記光学系の光検出領域の位置を移動する光検出領域移動部と、
計測単位時間毎に前記光検出領域から到来する光量を検出する光検出部と、
前記試料溶液内に於いて前記光検出領域の位置を移動させながら前記光検出部にて前記計測単位時間毎に検出された前記光検出領域からの光の時系列の光強度データを生成し、前記時系列の光強度データに於いて、前記光検出領域内を相対的に移動する一つの発光粒子からの光に於いて想定されるプロファイルを有する光強度の時間変化を一つの発光粒子の信号として個別に検出することにより、前記発光粒子からの光を表す信号を個別に検出する信号処理部とを含み、
前記計測単位時間が、前記光検出領域の大きさ及び位置の移動速度に基づいて、前記光検出領域を一つの発光粒子が通過する際の概算通過時間の半分未満となるように決定されていることを特徴とする装置。 - 請求項1の装置であって、前記計測単位時間が前記光検出領域の大きさが大きいほど長く設定され、前記移動速度が高いほど短く設定されることを特徴とする装置。
- 請求項1又は2の装置であって、前記光検出領域を一つの発光粒子が通過する際の通過時間が少なくとも三つの前記計測単位時間と重複するよう前記計測単位時間が設定されることを特徴とする装置。
- 請求項1乃至3のいずれかの装置であって、前記信号処理部が、前記個別に検出された発光粒子からの光を表す信号の数を計数して前記光検出領域の位置の移動中に検出された前記発光粒子の数を計数することを特徴とする装置。
- 請求項1乃至4のいずれかの装置であって、前記光検出領域移動部が前記発光粒子の拡散移動速度よりも速い速度にて前記光検出領域の位置を移動することを特徴とする装置。
- 請求項1乃至5のいずれかの装置であって、前記光検出領域移動部が前記光学系の光路を変更することにより前記試料溶液内に於いて前記光学系の光検出領域の位置を移動することを特徴とする装置。
- 請求項1乃至6のいずれかの装置であって、前記信号処理部が、所定の閾値より大きい強度を有する光を表す信号が検出されたときに1つの発光粒子が前記光検出領域に入ったことを検出することを特徴とする装置。
- 請求項1乃至7のいずれかの装置であって、前記信号処理部が前記時系列光強度データを平滑化し、前記平滑化された時系列光強度データに於いて前記所定閾値を超える強度を有する釣鐘型のパルス状信号を単一の前記発光粒子からの光を表す信号として検出することを特徴とする装置。
- 請求項1乃至8のいずれかの装置であって、前記信号処理部が前記検出された発光粒子の数に基づいて、前記試料溶液中の発光粒子の数密度又は濃度を決定することを特徴とする装置。
- 共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いて試料溶液中にて分散しランダムに運動する発光粒子からの光を検出する光分析方法であって、
前記試料溶液内に於ける前記光学系の光検出領域の位置を移動する過程と、
前記試料溶液内に於ける前記光検出領域の位置を移動させながら計測単位時間毎に前記光検出領域から到来する光量を検出して時系列の光強度データを生成する過程と、
前記時系列光強度データに於いて前記光検出領域内を相対的に移動する一つの発光粒子からの光に於いて想定されるプロファイルを有する光強度の時間変化を一つの発光粒子の信号として個別に検出することにより、前記発光粒子からの光を表す信号を個別に検出する過程と
を含み、
前記計測単位時間が、前記光検出領域の大きさ及び位置の移動速度に基づいて、前記光検出領域を一つの発光粒子が通過する際の概算通過時間の半分未満となるように決定されることを特徴とする方法。 - 請求項10の方法であって、前記計測単位時間が前記光検出領域の大きさが大きいほど長く設定され、前記移動速度が高いほど短く設定されることを特徴とする方法。
- 請求項10乃至11のいずれかの方法であって、前記光検出領域を一つの発光粒子が通過する際の通過時間が少なくとも三つの前記計測単位時間と重複するよう前記計測単位時間が設定されることを特徴とする方法。
- 請求項10乃至12のいずれかの方法であって、更に、前記個別に検出された発光粒子からの光を表す信号の数を計数して前記光検出領域の位置の移動中に検出された前記発光粒子の数を計数する過程を含むことを特徴とする方法。
- 請求項10乃至13のいずれかの方法であって、前記光検出領域の位置を移動する過程に於いて、前記光検出領域の位置が前記発光粒子の拡散移動速度よりも速い速度にて移動されることを特徴とする方法。
- 請求項10乃至14のいずれかの方法であって、前記光検出領域の位置を移動する過程に於いて、前記光学系の光路を変更することにより前記試料溶液内に於いて前記光学系の光検出領域の位置を移動することを特徴とする方法。
- 請求項10乃至15のいずれかの方法であって、前記個々の発光粒子からの光を表す信号を個別に検出する過程に於いて、所定の閾値より大きい強度を有する光を表す信号が検出されたときに1つの発光粒子が前記光検出領域に入ったことを検出することを特徴とする方法。
- 請求項10乃至16のいずれかの方法であって、前記個々の発光粒子からの光を表す信号を個別に検出する過程に於いて、前記時系列光強度データが平滑化され、前記平滑化された時系列光強度データに於いて前記所定閾値を超える強度を有する釣鐘型のパルス状信号が単一の前記発光粒子からの光を表す信号として検出されることを特徴とする方法。
- 請求項10乃至17のいずれかの方法であって、更に、前記検出された発光粒子の数に基づいて、前記試料溶液中の発光粒子の数密度又は濃度を決定する過程を含むことを特徴とする方法。
- 共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いて試料溶液中にて分散しランダムに運動する発光粒子からの光を検出するための光分析用コンピュータプログラムであって、
前記試料溶液内に於ける前記光学系の光検出領域の位置を移動する手順と、
前記試料溶液内に於ける前記光検出領域の位置の移動中に前記光検出領域の大きさ及び位置の移動速度に基づいて前記光検出領域を一つの発光粒子が通過する際の概算通過時間の半分未満となるように決定された計測単位時間毎に前記光検出領域から到来する光量を検出して時系列の光強度データを生成する手順と、
前記時系列光強度データに於いて前記光検出領域内を相対的に移動する一つの発光粒子からの光に於いて想定されるプロファイルを有する光強度の時間変化を一つの発光粒子の信号として個別に検出することにより、前記発光粒子からの光を表す信号を個別に検出する手順と
をコンピュータに実行させることを特徴とするコンピュータプログラム。 - 請求項19のコンピュータプログラムであって、前記計測単位時間が前記光検出領域の大きさが大きいほど長く設定され、前記移動速度が高いほど短く設定されることを特徴とするコンピュータプログラム。
- 請求項19乃至20のコンピュータプログラムであって、前記光検出領域を一つの発光粒子が通過する際の通過時間が少なくとも三つの前記計測単位時間と重複するよう前記計測単位時間が設定されることを特徴とするコンピュータプログラム。
- 請求項19乃至21のいずれかのコンピュータプログラムであって、更に、前記個別に検出された発光粒子からの光を表す信号の数を計数して前記光検出領域の位置の移動中に検出された前記発光粒子の数を計数する手順をコンピュータに実行させることを特徴とするコンピュータプログラム。
- 請求項19乃至22のいずれかのコンピュータプログラムであって、前記光検出領域の位置を移動する手順に於いて、前記光検出領域の位置が前記発光粒子の拡散移動速度よりも速い速度にて移動されることを特徴とするコンピュータプログラム。
- 請求項19乃至23のいずれかのコンピュータプログラムであって、前記光検出領域の位置を移動する手順に於いて、前記光学系の光路を変更することにより前記試料溶液内に於いて前記光学系の光検出領域の位置を移動することを特徴とするコンピュータプログラム。
- 請求項19乃至24のいずれかのコンピュータプログラムであって、前記個々の発光粒子からの光を表す信号を個別に検出する前記手順に於いて、所定の閾値より大きい強度を有する光を表す信号が検出されたときに1つの発光粒子が前記光検出領域に入ったことを検出することを特徴とするコンピュータプログラム。
- 請求項19乃至25のいずれかのコンピュータプログラムであって、前記個々の発光粒子からの光を表す信号を個別に検出する前記手順に於いて、前記時系列光強度データが平滑化され、前記平滑化された時系列光強度データに於いて前記所定閾値を超える強度を有する釣鐘型のパルス状信号が単一の前記発光粒子からの光を表す信号として検出されることを特徴とするコンピュータプログラム。
- 請求項19乃至26のいずれかのコンピュータプログラムであって、更に、前記検出された発光粒子の数に基づいて、前記試料溶液中の発光粒子の数密度又は濃度を決定する手順をコンピュータに実行させることを特徴とするコンピュータプログラム。
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|---|---|---|---|---|
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| US5866336A (en) | 1996-07-16 | 1999-02-02 | Oncor, Inc. | Nucleic acid amplification oligonucleotides with molecular energy transfer labels and methods based thereon |
| EP0836090A1 (en) | 1996-10-12 | 1998-04-15 | Evotec BioSystems GmbH | Method of analysis of samples by determination of the distribution of specific brightnesses of particles |
| US6235471B1 (en) | 1997-04-04 | 2001-05-22 | Caliper Technologies Corp. | Closed-loop biochemical analyzers |
| US6710871B1 (en) | 1997-06-09 | 2004-03-23 | Guava Technologies, Inc. | Method and apparatus for detecting microparticles in fluid samples |
| GB2326229A (en) | 1997-06-13 | 1998-12-16 | Robert Jeffrey Geddes Carr | Detecting and analysing submicron particles |
| SE9800360D0 (sv) | 1998-02-06 | 1998-02-06 | Goeteborg University Science I | Method, apparatus and flow cell for high sensitivity detection of fluorescent molecules |
| KR100618502B1 (ko) | 1998-03-16 | 2006-09-01 | 지이 헬스케어 바이오-사이언시즈 코프. | 공초점 마이크로스코피 영상 시스템에서 사용하기 위한 전자기 방출의 집속 시스템 및 방법 |
| US6388788B1 (en) | 1998-03-16 | 2002-05-14 | Praelux, Inc. | Method and apparatus for screening chemical compounds |
| US20030036855A1 (en) | 1998-03-16 | 2003-02-20 | Praelux Incorporated, A Corporation Of New Jersey | Method and apparatus for screening chemical compounds |
| AU4559600A (en) | 1999-04-29 | 2000-11-17 | Evotec Biosystems Ag | A method of characterizing fluorescent molecules or other particles using generating functions |
| US6376843B1 (en) * | 1999-06-23 | 2002-04-23 | Evotec Oai Ag | Method of characterizing fluorescent molecules or other particles using generating functions |
| US8264680B2 (en) | 1999-05-28 | 2012-09-11 | Yokogawa Electric Corporation | Biochip reader and electrophoresis system |
| US6965113B2 (en) | 2000-02-10 | 2005-11-15 | Evotec Ag | Fluorescence intensity multiple distributions analysis: concurrent determination of diffusion times and molecular brightness |
| US20010035954A1 (en) | 2000-03-10 | 2001-11-01 | Rahn John Richard | Method and apparatus for measuring particle size distributions using light scattering |
| DE10035190C5 (de) | 2000-07-20 | 2009-07-16 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Fluoreszenzmessung |
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| DE10038528A1 (de) | 2000-08-08 | 2002-02-21 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Erhöhung der spektralen und räumlichen Detektorauflösung |
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| WO2003025546A2 (en) * | 2001-09-19 | 2003-03-27 | Joule Microsystems Canada Inc. | A spectrometer incorporating signal matched filtering |
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| WO2007118209A2 (en) | 2006-04-07 | 2007-10-18 | Kim Laboratories | Apparatus and method for rapid detection of analytes |
| US8445655B2 (en) | 2006-06-16 | 2013-05-21 | Cornell Research Foundation, Inc. | Functional nucleic acid ligands to fluorescent proteins |
| WO2008007580A1 (fr) | 2006-07-13 | 2008-01-17 | Olympus Corporation | Procédé d'analyse de particules fines |
| US20080052009A1 (en) | 2006-08-23 | 2008-02-28 | Washington, University Of | Method for deconvolving single-molecule intensity distributions for quantitative biological measurements |
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