JP5914341B2 - 単一発光粒子検出を用いた光分析方法 - Google Patents
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Description
[(注)発光粒子は、試料溶液中で三次元的に均等に分散していると考えられるので、移動中の光検出領域内に二つ以上の発光粒子が包含される際に、発光粒子の信号のピーク点(信号強度の極大点)が重なることは非常に稀であり、殆どの場合、各々の信号のピーク点は互いにずれているため、重複した信号の最大値は、一つの発光粒子の信号のピーク強度に比して然程に大きくはならない。また、みかけの光検出領域の外を通る発光粒子は、みかけの光検出領域から離れるほど、その数は多くなるが、光の強度はみかけの光検出領域内を通る発光粒子よりも低い。従って、或る閾値に対するみかけの光検出領域の外を通過する二つ以上の発光粒子の光が重複しても、その光の信号の強度の最大値は、殆どの場合、閾値を下回り、発光粒子の信号として検出されず、発光粒子の信号として検出される信号は、殆どの場合、みかけの光検出領域の中を通過した発光粒子の信号であると考えられる。]
2…光源
3…シングルモードオプティカルファイバー
4…コリメータレンズ
5、14a…ダイクロイックミラー
6、7、11…反射ミラー
8…対物レンズ
9…マイクロプレート
10…ウェル(試料溶液容器)
12…コンデンサーレンズ
13…ピンホール
14…バリアフィルター
15…マルチモードオプティカルファイバー
16…光検出器
17…ミラー偏向器
17a…ステージ位置変更装置
18…コンピュータ
本発明による方法は、基本的な構成に於いて、図1(A)に模式的に例示されている如き、FCS、FIDA等が実行可能な共焦点顕微鏡の光学系と光検出器とを組み合わせてなる光分析装置により実現可能である。図1(A)を参照して、光分析装置1は、光学系2〜17と、光学系の各部の作動を制御すると共にデータを取得し解析するためのコンピュータ18とから構成される。光分析装置1の光学系は、通常の共焦点顕微鏡の光学系と同様であってよく、そこに於いて、光源2から放射されシングルモードファイバー3内を伝播したレーザー光(Ex)が、ファイバーの出射端に於いて固有のNAにて決まった角度にて発散する光となって放射され、コリメーター4によって平行光となり、ダイクロイックミラー5、反射ミラー6、7にて反射され、対物レンズ8へ入射される。対物レンズ8の上方には、典型的には、1〜数十μLの試料溶液が分注される試料容器又はウェル10が配列されたマイクロプレート9が配置されており、対物レンズ8から出射したレーザー光は、試料容器又はウェル10内の試料溶液中で焦点を結び、光強度の強い領域(励起領域)が形成される。試料溶液中には、観測対象物である発光粒子、典型的には、蛍光色素等の発光標識が付加された分子が分散又は溶解されており、発光粒子が励起領域に進入すると、その間、発光粒子が励起され光が放出される。放出された光(Em)は、対物レンズ8、ダイクロイックミラー5を通過し、ミラー11にて反射してコンデンサーレンズ12にて集光され、ピンホール13を通過する。なお、当業者に於いて知られている如く、ピンホール13は、対物レンズ8の焦点位置と共役の位置に配置されており、これにより、図1(B)に模式的に示されている如きレーザー光の焦点領域、即ち、励起領域内から発せられた光のみがピンホール13を通過し、焦点面以外からの光は遮断される。図1(B)に例示されたレーザー光の焦点領域は、通常、1〜10fL程度の実効体積を有する本光分析装置に於ける光検出領域であり、コンフォーカル・ボリュームと称される。コンフォーカル・ボリュームに於いては、典型的には、光強度が領域の中心を頂点とするガウス型分布又はローレンツ型分布となり、その実効体積は、光強度が1/e2となる面を境界とする略楕円球体の体積である。かくして、ピンホール13を通過した光は、ダイクロイックミラー14aを経て、バリアフィルター14を透過して(ここで、特定の波長帯域の光成分のみが選択される。)、マルチモードファイバー15に導入されて、対応する光検出器16に到達し、時系列の電気信号に変換された後、コンピュータ18へ入力され、後に説明される態様にて光分析のための処理が為される。光検出器16としては、好適には、フォトンカウンティングに使用可能な超高感度の光検出器が用いられ、これにより、1つの発光粒子からの光、例えば、一個又は数個の蛍光色素分子からの微弱光が検出可能となる。
「発明の概要」の欄に記載されている如く、本発明の方法は、端的に述べれば、上記の如き共焦点顕微鏡(又は多光子顕微鏡)による光検出に於いて、発光粒子の信号の強度がその発光粒子の光検出領域内での位置によって異なり、発光粒子の信号の判別のための閾値の設定によって、「みかけの光検出領域」の大きさが変化するという原理に基づき、走査分子計数法に於いて、閾値を適宜設定することにより、「みかけの光検出領域」の大きさを調整するというものである。そして、好適には、「みかけの光検出領域」内に一時包含される発光粒子の数が一つ以下となるように、即ち、発光粒子の信号として検出される信号の各々が単一の発光粒子に対応するように、或いは、単一発光粒子が確実に個別に検出されるように、発光粒子の信号の判別のための閾値を設定し、その状態で、試料溶液内を光検出領域により走査する間の発光粒子の数を計数し、より高精度にて、発光粒子の濃度又は数密度等の情報を取得することが試みられる。以下、走査分子計数法及び本発明の方法の原理について説明する。
FCS、FIDA等の分光分析技術は、従前の生化学的な分析技術に比して、必要な試料量が極めて少なく、且つ、迅速に検査が実行できる点で優れている。しかしながら、FCS、FIDA等の分光分析技術では、原理的に、発光粒子の濃度や特性は、蛍光強度のゆらぎに基づいて算定されるので、精度のよい測定結果を得るためには、試料溶液中の発光粒子の濃度又は数密度が、図10(A)に模式的に描かれているように、蛍光強度の計測中に常に一個程度の発光粒子が光検出領域CV内に存在するレベルであり、同図の右側に示されている如く、計測時間中に常に有意な光強度(フォトンカウント)が検出されることが要求される。もし発光粒子の濃度又は数密度がそれよりも低い場合、例えば、図10(B)に描かれているように、発光粒子がたまにしか光検出領域CV内へ進入しないレベルである場合には、同図の右側に例示されている如く、有意な光強度の信号(フォトンカウント)が、計測時間の一部にしか現れないこととなり、精度のよい光強度のゆらぎの算定が困難となる。また、計測中に常に一個程度の発光粒子が光検出領域内に存在するレベルよりも発光粒子の濃度が大幅に低い場合には、光強度のゆらぎの演算に於いて、バックグラウンドの影響を受けやすく、演算に十分な量の有意な光強度データを得るために計測時間が長くなる。
上記の走査分子計数法に於いて、試料溶液中の発光粒子の数密度が高い場合には、光検出領域内に一時に二つ以上の発光粒子が包含される可能性が高くなる。例えば、図3(A)に模式的に描かれている如く、光検出領域CVの移動中に発光粒子αが光検出領域から抜け出す前に、発光粒子βが光検出領域内へ進入するとき、図3(B)の右方に示されている如く、時系列光強度データ上に於いて、発光粒子αの信号と発光粒子βの信号との一部が互いに重複することとなる。その場合、発光粒子α、βの信号のプロファイルは、図中、点線にて示されている如く、それら二つの発光粒子の信号を別々に検出することが困難となる形状となり、かかる互いに重複した二つ以上の発光粒子の信号が一つの発光粒子の信号として検出される場合がある。実際、試料溶液中の発光粒子の数密度が高い場合、典型的には、約1nM程度まで高くなると、走査分子計数法により発光粒子の光として検出される信号数は、実際の濃度から期待される数より大幅に少なくなることが分かっており、かかる信号数の低減は、互いに重複した二つ以上の発光粒子の信号を一つの発光粒子の信号としてカウントしているためであると考えられる。上記の如き互いに重複した二つ以上の発光粒子の信号を排除して単一の発光粒子の各々が個別に検出される時系列光強度データを生成する一つの手法としては、図3(A)中にて点線に描かれている如く、光検出領域を縮小し、光検出領域内に一時に包含される発光粒子数が実質的に常に一つ以下となる状態を達成することが考えられる。しかしながら、光検出領域の縮小には原理的な限界があり(領域の大きさを光の波長以下に縮小することはできない。)、また、装置の構成が複雑となるので、実際に光検出領域を縮小することは、極めて困難である。
Pmax=Sut/V …(5)
にて与えられる。即ち、測定時間tの光測定に於いて、発光粒子数がPmaxを超えると、体積Vを有するみかけの光検出領域内に一時に包含される発光粒子数が2つ以上と成り得ることになる。換言すれば、本発明に於いて、みかけの光検出領域内に一時に包含される発光粒子数が実質的に常に一つ以下となるようにする閾値の設定は、検出される発光粒子数Pthが、
Pth ≦ Pmax …(6)
の条件を満たすように為される。従って、光検出領域内に於ける発光粒子から放出され検出される光の強度の分布がガウス関数で近似できる場合、式(5)及び式(2)により、閾値を、
図1(A)に例示の光分析装置1を用いた本発明の方法に従った走査分子計数法の実施形態に於いては、具体的には、(1)発光粒子を含む試料溶液の調製過程、(2)試料溶液の光強度の測定処理過程、及び(3)測定された光強度の分析処理過程が実行される。図4は、フローチャートの形式にて表した本実施形態に於ける処理過程を示している。
本発明の方法に於いて観測対象となる粒子は、溶解された分子等の、試料溶液中にて分散し溶液中にてランダムに運動する粒子であれば、任意のものであってよく、例えば、タンパク質、ペプチド、核酸、脂質、糖鎖、アミノ酸若しくはこれらの凝集体などの生体分子、ウイルス、細胞、或いは、金属コロイド、その他の非生物学的粒子などであってよい(試料溶液は、典型的には水溶液であるが、これに限定されず、有機溶媒その他の任意の液体であってよい。)。また、観測対象となる粒子は、それ自体が発光する粒子であってもよく、或いは、発光標識(蛍光分子、りん光分子、化学・生物発光分子)が任意の態様にて付加された粒子であってよい。
本実施形態の走査分子計数法による光分析に於ける光強度の測定処理過程では、ミラー偏向器17を駆動して、試料溶液内での光検出領域の位置の移動(試料溶液内の走査)を行いながら、光強度の測定が為される(図4−ステップ100)。操作処理に於いて、典型的には、マイクロプレート9のウェル10に試料溶液を注入して顕微鏡のステージ上に載置した後、使用者がコンピュータ18に対して、測定の開始の指示を入力すると、コンピュータ18は、記憶装置(図示せず)に記憶されたプログラム(試料溶液内に於いて光検出領域の位置を移動するべく光路を変更する手順と、光検出領域の位置の移動中に光検出領域からの光を検出する手順)に従って、試料溶液内の光検出領域に於ける励起光の照射及び光強度の計測が開始される。計測が開始されると、まず、コンピュータ18のプログラムに従った処理動作の制御下、光源2から、試料溶液中の発光粒子の励起波長の光が出射されると共に、ミラー偏向器17がミラー7(ガルバノミラー)を駆動して、ウェル10内に於いて光検出領域の位置の移動を実行し、これと同時に光検出器16は、逐次的に検出された光を電気信号に変換してコンピュータ18へ送信し、コンピュータ18は、任意の態様にて、送信された信号から時系列の光強度データを生成して保存する。典型的には、光検出器16は、一光子の到来を検出できる超高感度光検出器であるので、光の検出は、所定時間に亘って、逐次的に、所定の単位時間毎(BIN TIME)に、例えば、10μ秒毎に光検出器に到来するフォトンの数を計測する態様にて実行されるフォトンカウンティングであり、時系列の光強度のデータは、時系列のフォトンカウントデータであってよい。
(2Wo)2=6D・Δt …(9)
から、
Δt=(2Wo)2/6D …(10)
となるので、発光粒子がブラウン運動により移動する速度(拡散移動速度)Vdifは、概ね、
Vdif=2Wo/Δt=3D/Wo …(11)
となる。そこで、光検出領域の位置の移動速度は、かかるVdifを参照して、それよりも十分に早い値に設定されてよい。例えば、発光粒子の拡散係数が、D=2.0×10−10m2/s程度であると予想される場合には、Woが、0.62μm程度だとすると、Vdifは、1.0×10−3m/sとなるので、光検出領域の位置の移動速度は、その10倍以上の15mm/sと設定されてよい。なお、発光粒子の拡散係数が未知の場合には、光検出領域の位置の移動速度を種々設定して光強度の変化のプロファイルが、予想されるプロファイル(典型的には、励起光強度分布と略同様)となる条件を見つけるための予備実験を繰り返し実行して、好適な光検出領域の位置の移動速度が決定されてよい。
上記の処理により試料溶液中の発光粒子の時系列の光強度データが得られると、コンピュータ18に於いて、記憶装置に記憶されたプログラムに従った処理により、光強度データ上に於ける発光粒子からの光に対応する信号の検出、発光粒子のカウンティング、濃度算出等の各種分析が実行される。
時系列の光強度データに於いて、一つの発光粒子の光検出領域を通過する際の軌跡が、図5(B)に示されている如く略直線状である場合、その粒子に対応する信号に於ける光強度の変化は、(光学系により決定される)光検出領域内の光強度分布を反映した略釣鐘状のプロファイルを有する。従って、走査分子計数法では、基本的には、適宜設定される閾値Ioを超える光強度が継続する時間幅Δτが所定の範囲にあるとき、その光強度のプロファイルを有する信号が一つの粒子が光検出領域を通過したことに対応すると判定され、一つの発光粒子の検出が為されるようになっていてよい。そして、閾値Ioを超える光強度が継続する時間幅Δτが所定の範囲にない信号は、ノイズ又は異物の信号として判定される。また、光検出領域の光強度分布が、ガウス分布:
I=A・exp(−2t2/a2) …(12)
であると仮定できるときには、有意な光強度のプロファイル(バックグラウンドでないと明らかに判断できるプロファイル)に対して式(12)をフィッティングして算出された強度A及び幅aが所定の範囲内にあるとき、その光強度のプロファイルが一つの粒子が光検出領域を通過したことに対応すると判定され、一つの発光粒子の検出が為されてよい。(強度A及び幅aが所定の範囲外にある信号は、ノイズ又は異物の信号として判定され、その後の分析等に於いて無視されてよい。)
Vt=N/C …(13)
により与えられる。また、参照溶液として、複数の異なる濃度の溶液が準備され、それぞれについて測定が実行されて、算出されたVtの平均値が光検出領域の通過した領域の総体積Vtとして採用されるようになっていてよい。そして、Vtが与えられると、粒子のカウンティング結果がnの試料溶液の発光粒子の濃度(数密度)cは、
c=n/Vt …(14)
により与えられる。なお、光検出領域の体積、光検出領域の通過した領域の総体積は、上記の方法によらず、任意の方法にて、例えば、FCS、FIDAを利用するなどして与えられるようになっていてよい。また、本実施形態の光分析装置に於いては、想定される光検出領域の移動パターンについて、種々の標準的な粒子についての濃度Cと粒子の数Nとの関係(式(13))の情報をコンピュータ18の記憶装置に予め記憶しておき、装置の使用者が光分析を実施する際に適宜記憶された関係の情報を利用できるようになっていてよい。
上記のステップ150では、時系列光強度データ上に於ける有意なパルス信号が発光粒子の信号であるか否かを判定する際、時系列光強度データ上のパルス信号に対して釣鐘型関数をフィッティングして得られたピーク強度が閾値を超えているか否かが判定される。かかる閾値判定に於いて、本発明の方法では、閾値は、単に発光粒子の信号とノイズとを見分けるためだけでなく、「みかけの光検出領域」を画定するために設定され、かかる「みかけの光検出領域」を通過した発光粒子の信号が、発光粒子の信号として検出される。この閾値の設定は、好適には、みかけの光検出領域内に包含される発光粒子数が常に実質的に1つ以下となるように、即ち、上記の式(7)又は(8)の条件が成立するよう為される。
上記の如く、発光粒子の濃度に応じて異なる閾値を選択して発光粒子数(パルス数)を計数する場合、互いに異なる閾値を用いて得られた発光粒子数の結果を比較することは困難となる。既に述べた如く、発光粒子の濃度が高くなると、上記の式(7)又は(8)の条件を満たす閾値が高くなる一方、発光粒子の濃度が低いほど、検出される発光粒子数が低減するので、良好な精度にて発光粒子数を計測するためには、試料溶液中の発光粒子の濃度に応じて適切な閾値が選択されるのが好ましいところ、或る発光粒子濃度の試料溶液について検出される発光粒子数は、閾値によって変化するので、異なる閾値を用いて検出された発光粒子数をそのまま互いに比較することはできない。例えば、上記の如く、典型的な測定条件に於いて、発光粒子の濃度が100pM未満の試料溶液と発光粒子の濃度が1nM前後の試料溶液に対して適切な閾値は、互いに異なるので、発光粒子数は、それぞれ別々の閾値を用いて計数することが好ましい。しかしながら、発光粒子の濃度が100pM未満の試料溶液についての発光粒子数と、発光粒子の濃度が1nM前後の試料溶液についての発光粒子数とを比較する際に、発光粒子数の差をそのまま検出することはできない。そこで、本発明の方法の一つの態様に於いては、或る閾値を用いて得られた発光粒子数から別の閾値を設定した場合に検出されるべき発光粒子数を算出することが試みられる。
Pth1=(Sth1/Sth2)・Pth2 …(15)
により与えられる。Sth1、Sth2は、それぞれ、式(2)[ガウス関数の場合]又は式(4)[ローレンツ関数の場合]により与えられるので、光検出領域内の光強度分布の最大値Imax、分布の半値半幅w、閾値Ith、バックグラウンドIbgが分かれば、式(15)を用いて、閾値Ith2を用いて得られたパルス数Pth2から別の閾値Ith1を用いて得られるべきパルス数Pth1への換算が為されることとなる。
P(Ith)=cNASut …(16)
により与えられる。ここで、NAは、アボガドロ数である。みかけの光検出領域の走査方向に垂直な方向の断面積Sが、S=πr2[rは、みかけの光検出領域の断面半径]により与えられるとすると、式(16)から
上記の式(16)から、発光粒子濃度cは、
c=P(Ith)/(NASut) …(18)
により与えられ、みかけの光検出領域の断面積Sは、式(2)又は(4)により与えられる閾値Ithの関数である。従って、発光粒子濃度cは、P(Ith)、Ith及び光検出領域内の光強度分布のパラメータImax、w、Ibgを用いて算出することができる。この点に関し、或る閾値Ith、その閾値を用いて得られた発光粒子P(Ith)及び濃度cの関係は、
(光強度分布がガウス関数により近似できる場合)
走査分子計数法による光測定により得られた時系列光強度データからの発光粒子の信号の検出に於いて、発光粒子の信号を判別するための閾値を変更することにより「みかけの光検出領域」が調整されることを検証した。
20μ秒<パルス幅<400μ秒
ピーク強度>閾値Ith[pc/10μs] …(A)
相関係数>0.95
を満たすパルス信号のみを発光粒子に対応する信号であると判定する一方、上記の条件を満たさないパルス信号はノイズとして無視した。なお、閾値Ithは、0.5〜3.0(フォトン/10μ秒)の範囲にて下記に説明される如く設定した。(なお、フォトン数に小数点以下の表示が現れるのは、フォトンカウントデータをスムージングするためである。即ち、フォトンカウント値は、スムージング処理によって連続的な値として扱われる。)
光検出領域内の発光粒子から放出され検出される光の強度分布のパラメータ(ピーク強度Imax、半値半幅w、バックグラウンドIbg)を、みかけの光検出領域の(移動方向に垂直な方向の)断面半径rと、閾値Ithとから決定した。みかけの光検出領域の(移動方向に垂直な方向の)断面半径rは、式(17)を用いて、発光粒子濃度が既知の試料溶液について得られた光強度データであって光検出領域内の発光粒子数が実質的に常に1つ以下であるデータ上に於いて閾値Ithを変更しながら得られる発光粒子数P(Ith)から算出した。具体的には、実施例1の10pM ATTO633の試料溶液について得られた光強度データに於いて、閾値Ithを変更しながら発光粒子数P(Ith)を検出し、各発光粒子数P(Ith)から式(17)によりみかけの光検出領域の断面半径rを算出した。図8(A)は、みかけの光検出領域の断面半径rに対して閾値Ithをプロットした図である(なお、同図に於いて、実際に得られるデータ点は、右半分の□点であり、左半分のデータ点は、0点軸を対称軸として右半分のデータを反転した点である。)。理解されるべきことは、図8(A)のプロット点は、(光検出領域の移動方向に垂直な方向の断面に於ける)光検出領域内の発光粒子から放出され検出される光の強度分布のプロファイルを表しているということである。即ち、式(1)又は(3)から理解される如く、みかけの光検出領域の断面半径rは、閾値Ithに等しい強度の発光粒子の存在する線領域を画定するので、みかけの光検出領域の断面半径rに対する閾値Ithの関係は、発光粒子の存在位置の光検出領域の中心(最大強度点)からの距離とその位置にて発光粒子から放出され検出される光強度の関係に相当する。
実施例1に於いて得られた光強度データから異なる閾値を用いて検出された発光粒子数を、「(3)(iii)パルス数の換算」に記載した手法により、別の閾値を用いた場合に検出されるべき発光粒子数に換算した。具体的には、100pM ATTO633の試料溶液について、閾値=2.0[pc/10μs]として検出された発光粒子数と、1nM ATTO633の試料溶液について、閾値=3.0[pc/10μs]として検出された発光粒子数を、それぞれ、式(15)及び式(4)を用いて、閾値=1.0[pc/10μs]として発光粒子の信号検出を行った場合に検出されるべき発光粒子数に換算した。なお、その際、式(4)に於ける各パラメータは、実施例2で得られた値、即ち、Imax=5.81、w=0.57、Ibg=0.0を用いた。
実施例1に於いて得られた各試料溶液についての時系列光強度データを用いて、或る一定の発光粒子数を与える閾値に基づいて、発光粒子の濃度が推定できることを確かめた。具体的には、まず、各試料溶液についての時系列光強度データに於いて、発光粒子数が20個となる閾値を決定した。図9は、発光粒子濃度に対する発光粒子数が20個となる閾値(黒丸)と、かかる閾値の点に対して、非線形最小二乗法を用いて式(20)[ローレンツ関数]をフィッティングして得られた曲線(実線)とを示している。図から理解される如く、発光粒子数が20個となる閾値は、発光粒子濃度の増大と共に単調に増大し、式(20)によるフィッティング曲線に良好に一致した。式(20)中のパラメータは、それぞれ、Imax=8.7[pc/10μs]、w=2.9μmであった。かくして、濃度が未知の試料溶液の光強度データに於いて、一定の発光粒子数を与える閾値を検出することにより、その試料溶液中の発光粒子濃度が検出できることが確かめられた。
Claims (9)
- 共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いて試料溶液中にて分散しランダムに運動する発光粒子からの光を検出する光分析方法であって、
前記光学系の光路を変更することにより前記試料溶液内に於いて前記光学系の光検出領域の位置を移動する過程と、
前記試料溶液内に於いて前記光検出領域の位置を移動させながら前記光検出領域からの光の強度を測定して光強度データを生成する過程と、
前記光強度データ上に於いて発光粒子の光を表す信号を個別に検出する過程とを含み、
前記発光粒子の光を表す信号を個別に検出する過程に於いて、閾値を超える強度を有する信号を前記発光粒子の光を表す信号として選択的に検出し、前記閾値が前記光検出領域内の該光検出領域よりも狭い領域に一時に包含される発光粒子の数が実質的に一つ以下となり、前記光検出領域よりも狭い前記領域に包含された発光粒子からの光を表す信号が選択的に検出されるよう設定されることを特徴とする方法。 - 請求項1の方法であって、前記光検出領域内に於ける発光粒子から放出され検出される光の強度分布が、前記光検出領域内の最大強度点から前記光検出領域の周縁に向かって前記発光粒子から放出され検出される光の強度が低減する分布であることを特徴とする方法。
- 請求項1の方法であって、前記選択的に検出された信号の数を計数して前記光検出領域よりも狭い前記領域に包含された発光粒子の数を決定する過程を含むことを特徴とする方法。
- 請求項3の方法であって、更に、前記決定された発光粒子の数に基づいて、該発光粒子の数密度又は濃度を決定する過程を含むことを特徴とする方法。
- 請求項3の方法であって、前記光検出領域に於ける発光粒子から放出され検出される光の強度分布に基づいて前記決定された発光粒子の数から前記閾値とは異なる別の閾値を設定した場合に検出されるべき前記発光粒子の数を算出することを特徴とする方法。
- 請求項5の方法であって、前記算出された前記発光粒子の数に基づいて、該発光粒子の数密度又は濃度を決定する過程を含むことを特徴とする方法。
- 請求項1の方法であって、前記選択的に検出される前記発光粒子からの光を表す信号の数が所定の数となる閾値を決定し、前記閾値の大きさに基づいて前記発光粒子の数密度又は濃度を決定することを特徴とする方法。
- 請求項1の方法であって、前記発光粒子が励起光を照射されることにより光を放出する粒子であり、前記光検出領域に於ける発光粒子から放出され検出される光の強度分布が前記光検出領域内の前記励起光の強度分布と一致していることを特徴とする方法。
- 請求項1乃至8のいずれかの方法であって、前記光検出領域の位置が前記試料溶液中の発光粒子の拡散移動速度よりも速い速度にて移動されることを特徴とする方法。
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