JP5691501B2 - タッチパネル、それを有する液晶表示素子、及びタッチパネルの位置検出方法 - Google Patents

Description

本発明は、タッチパネル、それを有する液晶表示素子、及びタッチパネルの位置検出方法に関する。

一般に、ユーザがその表面を押圧（タッチ）したときに、タッチされた基板の撓みを検出して、タッチ位置を特定するタッチパネルが知られている。例えば特許文献１には、液晶表示素子内に、センシング機構を配置したタッチパネルに係る技術が開示されている。この液晶表示素子においては、当該液晶表示素子の観察者側の基板が、タッチされて撓むと、その基板に形成された電極と、その基板と対向する基板上に形成された電極と、が接触する。この２つの電極の接触を検出することで、当該タッチパネル機能を有する液晶表示素子は、タッチされた点を特定することができる。

特開２００７−９５０４４号公報

前記のようなタッチされた基板の撓みを検出してタッチ位置を特定するタッチパネルにおいては、例えばユーザが基板を押圧しながらその押圧位置を移動させると、その移動の前方側と後方側とでは、基板の形状が非対称になることがある。このような基板の撓み形状の非対称性は、タッチ位置の検出において、誤差の原因となることがある。

そこで本発明は、タッチされた基板の撓みを検出してタッチ位置を特定するタッチパネルにおいて、正確なタッチ位置の検出を行うことができるタッチパネル、それを有する液晶表示素子、及びタッチパネルの位置検出方法を提供することを目的とする。

前記課題を解決するため、本発明のタッチパネルの一態様は、検知側の基板と、前記検知側の基板がタッチされた際に、前記検知側の基板への当該タッチを検出する検出部と、前記検出部が出力する、前記検知側の基板への前記タッチに係わる複数の座標値を表す検出信号に基づいて、タッチされた位置を特定する演算部と、を具備し、前記検出信号は、前記基板への前記タッチに係わる、第１の軸に沿った前記複数の座標値を表す複数の第１軸方向信号と、前記基板への前記タッチに係わる、前記第１の軸に交差する第２の軸に沿った前記複数の座標値を表す複数の第２軸方向信号と、を含み、 前記複数の座標値の前記第１の軸に沿った最大値をＸｍａｘ１、前記第１の軸に沿った最小値をＸｍｉｎ１、前記第２の軸に沿った最大値をＹｍａｘ１、前記第２の軸に沿った最小値をＹｍｉｎ１とすると、前記演算部は、前記第１軸方向信号に基づいて、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値が大きくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、次式（１）に基づいて算出し、
Ｘｔｏｕｃｈ＝（Ｘｍａｘ１−Ｘｍｉｎ１）／ＸｇａｉｎＰ＋Ｘｍｉｎ１ ・・（１）
ここで、１≦ＸｇａｉｎＰ＜２、ＸｇａｉｎＰは、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第１の軸に沿って大きくなる方向に偏らせるかを表す値であり、前記第１軸方向信号に基づいて、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値が小さくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、次式（２）に基づいて算出し、
Ｘｔｏｕｃｈ＝（Ｘｍａｘ１−Ｘｍｉｎ１）／ＸｇａｉｎＭ＋Ｘｍｉｎ１ ・・（２）
ここで、２＜ＸｇａｉｎＭ、ＸｇａｉｎＭは、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第１の軸に沿って小さくなる方向に偏らせるかを表す値であり、前記第２軸方向信号に基づいて、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値が大きくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、次式（３）に基づいて算出し、
Ｙｔｏｕｃｈ＝（Ｙｍａｘ１−Ｙｍｉｎ１）／ＹｇａｉｎＰ＋Ｙｍｉｎ１ ・・（３）
ここで、１≦ＹｇａｉｎＰ＜２、ＹｇａｉｎＰは、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第２の軸に沿って大きくなる方向に偏らせるかを表す値であり、前記第２軸方向信号に基づいて、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値が小さくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、次式（４）に基づいて算出し、
Ｙｔｏｕｃｈ＝（Ｙｍａｘ１−Ｙｍｉｎ１）／ＹｇａｉｎＭ＋Ｙｍｉｎ１ ・・（４）
ここで、２＜ＹｇａｉｎＭ、ＹｇａｉｎＭは、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第２の軸に沿って小さくなる方向に偏らせるかを表す値である、ことを特徴とする。

また、前記課題を解決するため、本発明のタッチパネルを有する液晶表示素子の一態様は、液晶層を挟んで互いに対向する第１の基板上に形成された画素電極と第２の基板上に形成された対向電極とを有するアクティブマトリクス型の液晶表示素子であって、前記第１の基板上に形成された複数の検出ラインと、前記対向電極と間隙を有して対向し、前記第２の基板がタッチされたときに前記対向電極と導通する、前記複数の検出ラインの何れかに接続されている複数の接点電極と、前記検出ラインの各電位が表す、前記第２の基板への前記タッチに係わる複数の座標値に基づいて、タッチされた位置を特定する演算部と、を具備し、前記検出ラインは、第１の軸に沿った前記複数の座標値を表す信号を伝達する、複数の第１の検出ラインと、第２の軸に沿った前記複数の座標値を表す信号を伝達する、前記各第１の検出ラインと互いにねじれの位置に配置されている複数の第２の検出ラインと、を含み、前記接点電極は、前記複数の第１の検出ラインの何れかに接続されている複数の第１の接点電極と、前記複数の第２の検出ラインの何れかに接続されている複数の第２の接点電極と、を含み、前記複数の座標値の前記第１の軸に沿った最大値をＸｍａｘ１、前記第１の軸に沿った最小値をＸｍｉｎ１、前記第２の軸に沿った最大値をＹｍａｘ１、前記第２の軸に沿った最小値をＹｍｉｎ１とすると、前記演算部は、前記第１の検出ラインの電位に基づいて、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値が大きくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、次式（１）に基づいて算出し、
Ｘｔｏｕｃｈ＝（Ｘｍａｘ１−Ｘｍｉｎ１）／ＸｇａｉｎＰ＋Ｘｍｉｎ１ ・・（１）
ここで、１≦ＸｇａｉｎＰ＜２、ＸｇａｉｎＰは、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第１の軸に沿って大きくなる方向に偏らせるかを表す値であり、前記第１の検出ラインの電位に基づいて、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値が小さくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、次式（２）に基づいて算出し、
Ｘｔｏｕｃｈ＝（Ｘｍａｘ１−Ｘｍｉｎ１）／ＸｇａｉｎＭ＋Ｘｍｉｎ１ ・・（２）
ここで、２＜ＸｇａｉｎＭ、ＸｇａｉｎＭは、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第１の軸に沿って小さくなる方向に偏らせるかを表す値であり、前記第２の検出ラインの電位に基づいて、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値が大きくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、次式（３）に基づいて算出し、
Ｙｔｏｕｃｈ＝（Ｙｍａｘ１−Ｙｍｉｎ１）／ＹｇａｉｎＰ＋Ｙｍｉｎ１ ・・（３）
ここで、１≦ＹｇａｉｎＰ＜２、ＹｇａｉｎＰは、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第２の軸に沿って大きくなる方向に偏らせるかを表す値であり、前記第２の検出ラインの電位に基づいて、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値が小さくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、次式（４）に基づいて算出し、
Ｙｔｏｕｃｈ＝（Ｙｍａｘ１−Ｙｍｉｎ１）／ＹｇａｉｎＭ＋Ｙｍｉｎ１ ・・（４）
ここで、２＜ＹｇａｉｎＭ、ＹｇａｉｎＭは、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第２の軸に沿って小さくなる方向に偏らせるかを表す値である、ことを特徴とする。

また、前記課題を解決するため、本発明のタッチパネルの位置検出方法の一態様は、タッチされた際の検知側の基板の当該タッチを検出し、検出された当該検知側の基板への当該タッチに係わる複数の座標値に基づいて、タッチされた位置を特定するタッチパネルの位置検出方法において、前記複数の座標値の第１の軸に沿った最大値をＸｍａｘ１、当該第１の軸に沿った最小値をＸｍｉｎ１、当該第１の軸と交差する第２の軸に沿った最大値をＹｍａｘ１、当該第２の軸に沿った最小値をＹｍｉｎ１とすると、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値が時間的に大きくなる方向に変化しているとき、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、次式（１）に基づいて算出し、
Ｘｔｏｕｃｈ＝（Ｘｍａｘ１−Ｘｍｉｎ１）／ＸｇａｉｎＰ＋Ｘｍｉｎ１ ・・（１）
ここで、１≦ＸｇａｉｎＰ＜２、ＸｇａｉｎＰは、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第１の軸に沿って大きくなる方向に偏らせるかを表す値であり、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値が時間的に小さくなる方向に変化しているとき、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、次式（２）に基づいて算出し、
Ｘｔｏｕｃｈ＝（Ｘｍａｘ１−Ｘｍｉｎ１）／ＸｇａｉｎＭ＋Ｘｍｉｎ１ ・・（２）
ここで、２＜ＸｇａｉｎＭ、ＸｇａｉｎＭは、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第１の軸に沿って小さくなる方向に偏らせるかを表す値であり、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値が時間的に大きくなる方向に変化しているとき、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、次式（３）に基づいて算出し、
Ｙｔｏｕｃｈ＝（Ｙｍａｘ１−Ｙｍｉｎ１）／ＹｇａｉｎＰ＋Ｙｍｉｎ１ ・・（３）
ここで、１≦ＹｇａｉｎＰ＜２、ＹｇａｉｎＰは、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第２の軸に沿って大きくなる方向に偏らせるかを表す値であり、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値が時間的に小さくなる方向に変化しているとき、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、次式（４）に基づいて算出し、
Ｙｔｏｕｃｈ＝（Ｙｍａｘ１−Ｙｍｉｎ１）／ＹｇａｉｎＭ＋Ｙｍｉｎ１ ・・（４）
ここで、２＜ＹｇａｉｎＭ、ＹｇａｉｎＭは、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第２の軸に沿って小さくなる方向に偏らせるかを表す値である、ことを特徴とする。

本発明によれば、タッチされた基板の撓みを検出してタッチ位置を特定するタッチパネルにおいて、正確なタッチ位置の検出を行うことができるタッチパネル、それを有する液晶表示素子、及びタッチパネルの位置検出方法を提供できる。

本発明の第１の実施形態に係るタッチパネルの概略を示す図。 第１の実施形態に係るタッチパネルにおいて、タッチされた位置とそのときに共通電極に接触する接点の位置とを説明するための図。 第１の実施形態に係るタッチパネルにおいて、タッチされた位置と検知される座標とを説明するための図。 第１の実施形態に係るタッチパネルにおいて、タッチ位置を移動させたときに前側基板が非対称に撓むことを説明するための概略図。 第１の実施形態に係るタッチパネルにおいて、タッチ位置が移動したときに、タッチされた位置とそのときに共通電極に接触する接点の位置とを説明するための図。 第１の実施形態に係るタッチパネルにおいて、タッチ位置が移動したときに、タッチされた位置と検知される座標とを説明するための図。 本発明に係るタッチパネルの処理例を示すフローチャート。 本発明に係るタッチパネルの処理例を示すフローチャート。 本発明に係るタッチパネルの処理例を示すフローチャート。 本発明に係るタッチパネルの処理例を説明するための、タッチされた位置とそのときに共通電極に接触する接点の位置との例を示す図。 本発明の第１の実施形態に係るタッチパネルの別の例の一部の概略を示す切断斜視図。 本発明の第２の実施形態に係るタッチパネルを有する液晶表示装置の構成例の概略を示す図。 本発明の第２の実施形態に係るタッチパネルを有する液晶表示装置の後側基板の回路構成例の概略を示す図。 本発明の第２の実施形態に係るタッチパネルを有する液晶表示装置のタッチパネルに係る回路構成例の概略を示す図。

［第１の実施形態］
まず、本発明の第１の実施形態について図面を参照して説明する。図１に本実施形態に係るタッチパネルの概略の一部を模式的に示す。当該タッチパネルは、この切断斜視図に示すように、間隙を有して対向する一対の基板を有する。この一対の基板のうちの、使用者によって押圧（タッチ）されて撓む側の基板を、前側基板１と称する。また、前側基板１と対向する基板を後側基板２と称する。

後側基板２の前側基板１と対向する面には、複数のＹ座標検出ライン４が互いに平行に配設されている。更に、各Ｙ座標検出ライン４と成す角を９０°とするねじれの位置に、複数のＸ座標検出ライン３が互いに平行に配設されている。本説明では、図１の左上に示す様に、Ｙ座標検出ライン４が延伸する方向をＸ軸方向と定義し、Ｘ軸方向の座標をＸ座標と定義する。また、Ｘ座標検出ライン３が延伸する方向をＹ軸方向と定義し、Ｙ軸方向の座標をＹ座標と定義する。

Ｘ座標検出ライン３とＹ座標検出ライン４とが交差する位置（以下、交差点と称する）に対応して、交差点の近傍には、Ｘ座標検出用接点電極５が配置されている。Ｘ座標検出用接点電極５は、前記対応する交差点を構成するＸ座標検出ライン３に接続されている。また、Ｘ座標検出用接点電極５が配置された交差点の近傍には、交差点に対応して、Ｙ座標検出用接点電極６が配置されている。Ｙ座標検出用接点電極６は、前記対応する交差点を構成するＹ座標検出ライン４に接続されている。ここで、各Ｘ座標検出ライン３は、複数のＸ座標検出用接点電極５と接続されており、各Ｙ座標検出ライン４は、複数のＹ座標検出用接点電極６と接続されている。
前側基板１の後側基板２と対向する面には、対向電極７が形成されている。ここで、Ｘ座標検出用接点電極５と対向電極７との間、及びＹ座標検出用接点電極６と対向電極７との間には、間隙が設けられている。

前側基板１が使用者によりタッチされて撓むと、そのタッチされた部分で、Ｘ座標検出用接点電極５と対向電極７とが電気的に導通する。その結果、対向電極７と導通したＸ座標検出用接点電極５、及びその接点電極と接続しているＸ座標検出ライン３の電位は、対向電極７の電位と等しくなる。同様に、前側基板１が使用者によりタッチされて撓むと、そのタッチされた部分で、Ｙ座標検出用接点電極６と対向電極７とが電気的に導通する。その結果、対向電極７と導通したＹ座標検出用接点電極６、及びその接点電極と接続しているＹ座標検出ライン４の電位は、対向電極７の電位と等しくなる。したがって、座標検出用コントローラ１０は、Ｘ座標検出ライン３の電位を計測し、その電位が対向電極７と等電位になっているＸ座標検出ライン３を同定することで、タッチされている位置のＸ座標を取得できる。同様に、座標検出用コントローラ１０は、Ｙ座標検出ライン４の電位を計測し、その電位が対向電極７と等電位になっているＹ座標検出ライン４を同定することで、タッチされている位置のＹ座標を取得できる。

以降、図２に示すように、Ｘ座標検出ライン３がＸ軸方向に２０本並び、Ｙ座標検出ライン４がＹ軸方向に２０本並び、Ｘ座標検出ライン３とＹ座標検出ライン４との各交点に、Ｘ座標検出用接点電極５及びＹ座標検出用接点電極６が配置されている場合を例に挙げて説明を行う。ここで、Ｘ座標は、図２における右から左へ順に１から２０とし、これらを各Ｘ座標検出ライン３に対応付けて図２における上部に表記した。同様に、Ｙ座標は、図２における上から下へ順に１から２０とし、これらを各Ｙ座標検出ライン４に対応付けて図２における右部に表記した。ここで、２０点×２０点の検出点というのは、勿論一例であり、この数は通常もっと多い。

図２に示すように、ユーザによって黒丸印で示した座標（Ｘ，Ｙ）＝（４，３）がタッチされたとする。なお、ここでは、タッチされている点は静止しているものとする。このとき、図２中で、黒丸印で示した座標（Ｘ，Ｙ）＝（４，３）に位置するＸ座標検出用接点電極５及びＹ座標検出用接点電極６が、対向電極７と接触する。このとき、当該タッチに用いられるユーザの指やスタイラスペンの先端の大きさは、Ｘ座標検出ライン３同士の間隔やＹ座標検出ライン４同士の間隔に比べて大きいため、また、前側基板１が撓む領域は、ユーザの指やスタイラスペンの先端の大きさに比べて広いため、ユーザがタッチしていると意図する部分よりも広範囲で、Ｘ座標検出用接点電極５及びＹ座標検出用接点電極６が対向電極７と接触する。即ち、例えば、白丸印で示した座標（Ｘ，Ｙ）＝（２，２），（２，３），（２，４），（３，１），（３，２），（３，３），（３，４），（３，５），（４，２），（４，４），（４，５），（５，１），（５，２），（５，３），（５，４），（６，２），（６，３），（６，４），（６，５）に位置するＸ座標検出用接点電極５及びＹ座標検出用接点電極６も、対向電極７と接触する。

その結果、Ｘ軸座標が、Ｘ＝２，３，４，５，６であるＸ座標検出ライン３の電位が対向電極７の電位と等しくなる。同様に、Ｙ軸座標が、Ｙ＝１，２，３，４，５であるＹ座標検出ライン４の電位が対向電極７の電位と等しくなる。即ち、座標検出用コントローラ１０は、図３に示す斜線を付した丸印で示した各点について接触を検知する。

タッチされる位置が静止している場合、上述の様になるが、タッチされる位置が移動している場合、次のようになる。即ち、図４（ａ）に模式図を示すように、例えばユーザが用いるスタイラスペン９０が、前側基板１を押圧しながら移動すると、前側基板１は、非対称に撓む。これは、図４（ｂ）に模式図を示すように、タッチされる位置が静止している場合とは異なる。例えば前記した座標（Ｘ，Ｙ）＝（４，３）がタッチされた状態から、前側基板１上をスタイラスペン９０が移動し、タッチ位置が、図５に黒丸印で示す座標（Ｘ，Ｙ）＝（１２，１１）となったとする。このとき、図５中で、黒丸印で示した座標（Ｘ，Ｙ）＝（１２，１１）に位置するＸ座標検出用接点電極５及びＹ座標検出用接点電極６と対向電極７とが接触すると共に、前側基板１が図４（ａ）に示すように撓むので、タッチされる位置の移動方向の後方側、即ち、例えば図５に白丸印で示した座標（Ｘ，Ｙ）＝（８，８），（８，９），（９，８），（９，９），（９，１０），（１０，７），（１０，８），（１０，９），（１０，１０），（１１，７），（１１，８），（１１，９），（１１，１０），（１１，１１），（１２，９），（１２，１０）に位置するＸ座標検出用接点電極５及びＹ座標検出用接点電極６も、対向電極７と接触する。

その結果、Ｘ軸座標が、Ｘ＝８，９，１０，１１，１２であるＸ座標検出ライン３の電位が対向電極７の電位と等しくなる。同様に、Ｙ軸座標が、Ｙ＝７，８，９，１０，１１であるＹ座標検出ライン４の電位が対向電極７の電位と等しくなる。即ち、座標検出用コントローラ１０は、図６に示す斜線を付した丸印で示した各点について接触を検知する。

タッチされている点が静止しているときは、座標検出用コントローラ１０は、接触が検知された複数の座標の中心点を、ユーザがタッチした座標として特定すればよい。例えば、図２に示した座標（４，３）がタッチされたとき、座標検出用コントローラ１０は、図３において斜線を付した丸印で示す接触を検知した複数の点の中心、即ち、この場合は、座標（４，３）をタッチされた点として特定すればよい。

これに対して、タッチされている点が移動しているときは、タッチされている点が静止しているときと同様に、接触が検知された複数の座標の中心点を、ユーザがタッチした座標として特定すると次のようになる。例えば、図５に示した座標（１２，１１）がタッチされたとき、座標検出用コントローラ１０が、図６において斜線を付した丸印で示す接触を検知した複数の点の中心、即ち、この場合は、座標（１０，９）をタッチされた点として特定すると、実際にタッチされている点とずれが生じる。即ち、タッチされていると特定する点に誤差が発生する。本実施形態では、この誤差を補正するような処理を行う。

本実施形態に係るタッチパネルの、座標検出用コントローラ１０の処理を、図７Ａ、図７Ｂ、図７Ｃに示すフローチャートを参照して説明する。なお、この処理は、例えば１０ｍｓ毎等、所定時間毎に繰り返し実行されるループ処理である。この周期は、通常はタッチ位置を検知する周期と同期する。

ステップＳ１において、座標検出用コントローラ１０は、当該タッチパネルがタッチされているか否か、即ち、Ｘ座標検出ライン３及びＹ座標検出ライン４のうちの、その電位が対向電極７の電位と等しいものがあるか否かを判定する。
ステップＳ１の判定で、当該タッチパネルがタッチされていない（Ｎｏ）と判定された場合、ステップＳ２において、座標検出用コントローラ１０は、検出フラグＦＬＧ１を０に設定する。この検出フラグＦＬＧ１は、前回のサイクルにおいて、当該タッチパネルがタッチされていたか否かを示すフラグである。

ステップＳ３において、座標検出用コントローラ１０は、Ｘ座標の動き検出カウンターであるＸＣＮＴ１及びＸＣＮＴ２を、共に０に設定する。ここで、ＸＣＮＴ１は、タッチ位置のＸ座標が増加する方向（左側）に動いた回数をカウントする変数であり、ＸＣＮＴ２は、タッチ位置のＸ座標が減少する方向（右側）に動いた回数をカウントする変数である。
ステップＳ４において、座標検出用コントローラ１０は、Ｙ座標の動き検出カウンターであるＹＣＮＴ１及びＹＣＮＴ２を、共に０に設定する。ここで、ＹＣＮＴ１は、タッチ位置のＹ座標が増加する方向（下側）に動いた回数をカウントする変数であり、ＹＣＮＴ２は、タッチ位置のＹ座標が減少する方向（上側）に動いた回数をカウントする変数である。座標検出用コントローラ１０は、その後、処理をステップＳ４２に移す。

一方、ステップＳ１の判定で、当該タッチパネルがタッチされている（Ｙｅｓ）と判定された場合、ステップＳ５において、座標検出用コントローラ１０は、Ｘ座標検出ライン３及びＹ座標検出ライン４のうちの、その電位が対向電極７の電位と等しいものを特定する解析を行う。即ち、例えば、図３や図６における斜線を付した丸印に相当する、検知されたＸ座標及びＹ座標を特定する。

ステップＳ６において、座標検出用コントローラ１０は、検出フラグＦＬＧ１の値が１であるか否かを判定する。
ステップＳ６の判定で、検出フラグＦＬＧ１の値が１である（Ｙｅｓ）と判定された場合、ステップＳ７において、座標検出用コントローラ１０は、前回のＸ座標の最大値を示すＸｍａｘ２に、この時点で前回の処理サイクルにおけるＸ座標の最大値が設定されているＸｍａｘ１の値を設定する。同様に、座標検出用コントローラ１０は、前回のＹ座標の最大値を示すＹｍａｘ２に、この時点で前回の処理サイクルにおけるＹ座標の最大値が設定されているＹｍａｘ１の値を設定する。同様に、座標検出用コントローラ１０は、前回のＸ座標の最小値を示すＸｍｉｎ２に、この時点で前回の処理サイクルにおけるＸ座標の最小値が設定されているＸｍｉｎ１の値を設定する。同様に、座標検出用コントローラ１０は、前回のＹ座標の最小値を示すＹｍｉｎ２に、この時点で前回の処理サイクルにおけるＹ座標の最小値が設定されているＹｍｉｎ１の値を設定する。

ステップＳ８において、座標検出用コントローラ１０は、ステップＳ５において検出されたＸ座標の最大値をＸｍａｘ１に設定し、Ｘ座標の最小値をＸｍｉｎ１に設定する。
同様に、ステップＳ９において、座標検出用コントローラ１０は、ステップＳ５において検出されたＹ座標の最大値をＹｍａｘ１に設定し、Ｙ座標の最小値をＹｍｉｎ１に設定する。次に座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ１４に移す。

一方、ステップＳ６の判定で、検出フラグＦＬＧ１の値が１でない（Ｎｏ）と判定された場合、ステップＳ１０において、座標検出用コントローラ１０は、検出フラグＦＬＧ１を１に設定する。
続いてステップＳ１１において、座標検出用コントローラ１０は、ステップＳ５において検出されたＸ座標の最大値をＸｍａｘ１に設定し、Ｘ座標の最小値をＸｍｉｎ１に設定する。
同様に、ステップＳ１２において、座標検出用コントローラ１０は、ステップＳ５において検出されたＹ座標の最大値をＹｍａｘ１に設定し、Ｙ座標の最小値をＹｍｉｎ１に設定する。

ステップＳ１３において、座標検出用コントローラ１０は、Ｘｍａｘ２にＸｍａｘ１の値を設定し、Ｙｍａｘ２にＹｍａｘ１の値を設定し、Ｘｍｉｎ２にＸｍｉｎ１の値を設定し、Ｙｍｉｎ２にＹｍｉｎ１の値を設定する。このように、タッチされて１回目のサイクルにおいては、Ｘｍａｘ２とＸｍａｘ１との値、Ｙｍａｘ２とＹｍａｘ１との値、Ｘｍｉｎ２とＸｍｉｎ１との値、Ｙｍｉｎ２とＹｍｉｎ１との値をそれぞれ同じ値とする。次に座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ１４に移す。

ステップＳ１４において、座標検出用コントローラ１０は、Ｘｍａｘ１−Ｘｍａｘ２＞Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ１であるか否かを判定する。ステップＳ１４の判定の結果、Ｘｍａｘ１−Ｘｍａｘ２＞Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ１である（Ｙｅｓ）とき、即ち、前回の処理サイクルから今回の処理サイクルまでの間に、タッチ位置のＸ座標の値が増加する方向（左側）に動いていると判定されるとき、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ１５に移す。

ステップＳ１５において、座標検出用コントローラ１０は、ＸＣＮＴ１＜Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ１であるか否かを判定する。この判定の結果、ＸＣＮＴ１＜Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ１である（Ｙｅｓ）とき、即ち、タッチ位置のＸ座標の値が増加する方向（左側）に移動した回数（サイクル数）が所定回数（Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ１）よりも少ないとき、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ１６に移す。

ステップＳ１６において、座標検出用コントローラ１０は、Ｘ座標動き検出カウンターＸＣＮＴ１の値を１増加させる。
ステップＳ１７において、座標検出用コントローラ１０は、Ｘ座標動き検出カウンターＸＣＮＴ２の値を０に設定する。
ステップＳ１８において、座標検出用コントローラ１０は、ステップＳ５で検知されたＸ座標の平均を、即ち、Ｘｍａｘ１とＸｍｉｎ１との平均値を算出すること（平均化処理）により、タッチ位置のＸ座標Ｘｔｏｕｃｈを決定する。その後、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ２８に移す。

一方、ステップＳ１５における判定の結果、ＸＣＮＴ１＜Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ１でない（Ｎｏ）とき、即ち、タッチ位置のＸ座標の値が増加する方向（左側）に所定回数（Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ１）以上連続して移動しているとき、座標検出用コントローラ１０は、ステップＳ１９において、タッチ位置のＸ座標Ｘｔｏｕｃｈを、次式（１）に基づいて算出する。

Ｘｔｏｕｃｈ＝（Ｘｍａｘ１−Ｘｍｉｎ１）／ＸｇａｉｎＰ＋Ｘｍｉｎ１ ・・（１）
ここで、ＸｇａｉｎＰは、所定の値であり、タッチされたと特定する位置のＸ座標Ｘｔｏｕｃｈを、検知されたＸ座標の平均からどれだけ左に偏らせるかを表す値である。例えば、ＸｇａｉｎＰ＝１とすると、タッチ位置のＸ座標Ｘｔｏｕｃｈは、Ｘｍａｘ１、即ち、検出された座標のうち左端の座標となる。座標検出用コントローラ１０は、その後、処理をステップＳ２８に移す。

ステップＳ１４の判定の結果、Ｘｍａｘ１−Ｘｍａｘ２＞Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ１でない（Ｎｏ）とき、即ち、前回の処理サイクルから今回の処理サイクルまでの間にタッチ位置が左に動いていないと判定されるとき、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ２０に移す。

ステップＳ２０において、座標検出用コントローラ１０は、Ｘ座標動き検出カウンターＸＣＮＴ１の値を０に設定する。
ステップＳ２１において、座標検出用コントローラ１０は、Ｘｍｉｎ２−Ｘｍｉｎ１＞Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ３であるか否かを判定する。ステップＳ２１の判定の結果、Ｘｍｉｎ２−Ｘｍｉｎ１＞Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ３である（Ｙｅｓ）とき、即ち、前回の処理サイクルから今回の処理サイクルまでの間に、タッチ位置のＸ座標の値が減少する方向（右側）に動いていると判定されるとき、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ２２に移す。

ステップＳ２２において、座標検出用コントローラ１０は、ＸＣＮＴ２＜Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ３であるか否かを判定する。この判定の結果、ＸＣＮＴ２＜Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ３である（Ｙｅｓ）とき、即ち、タッチ位置のＸ座標の値が減少する方向（右側）に所定回数（Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ３）以上連続して移動していないとき、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ２３に移す。

ステップＳ２３において、座標検出用コントローラ１０は、Ｘ座標動き検出カウンターＸＣＮＴ２の値を１増加させる。
ステップＳ２４において、座標検出用コントローラ１０は、ステップＳ５で検知されたＸ座標の平均を、即ち、Ｘｍａｘ１とＸｍｉｎ１との平均値を算出すること（平均化処理）により、タッチ位置のＸ座標Ｘｔｏｕｃｈを決定する。その後、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ２８に移す。

一方、ステップＳ２２における判定の結果、ＸＣＮＴ２＜Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ３でない（Ｎｏ）とき、即ち、タッチ位置のＸ座標の値が減少する方向（右側）に所定回数（Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ３）以上連続して移動しているとき、座標検出用コントローラ１０は、ステップＳ２５において、タッチ位置のＸ座標Ｘｔｏｕｃｈを、次式（２）に基づいて算出する。

Ｘｔｏｕｃｈ＝（Ｘｍａｘ１−Ｘｍｉｎ１）／ＸｇａｉｎＭ＋Ｘｍｉｎ１ ・・（２）
ここで、ＸｇａｉｎＭは、所定の値であるものとし、ＸｇａｉｎＭは、タッチされたと特定する位置のＸ座標Ｘｔｏｕｃｈを、検出されたＸ座標の平均からどれほど右に偏らせるかを表す値である。例えば、ＸｇａｉｎＭ＝∞とすると、タッチされたと特定する位置は、Ｘｍｉｎ１、即ち、検出された座標のうちの右端の座標となる。その後、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ２８に移す。

ステップＳ２１の判定の結果、Ｘｍｉｎ２−Ｘｍｉｎ１＞Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ３でない（Ｎｏ）とき、即ち、前回の処理サイクルから今回の処理サイクルまでの間に、タッチ位置が右側に動いていないと判定されるとき、つまり、右にも左にも動いていないと判定されるとき、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ２６に移す。

ステップＳ２６において、座標検出用コントローラ１０は、Ｘ座標動き検出カウンターＸＣＮＴ２の値を０に設定する。
ステップＳ２７において、座標検出用コントローラ１０は、ステップＳ５で検知されたＸ座標の平均を、即ち、Ｘｍａｘ１とＸｍｉｎ１との平均値を算出すること（平均化処理）により、タッチ位置のＸ座標Ｘｔｏｕｃｈを決定する。その後、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ２８に移す。

ステップＳ２８において、座標検出用コントローラ１０は、Ｙｍａｘ１−Ｙｍａｘ２＞Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ２であるか否かを判定する。ステップＳ２８の判定の結果、Ｙｍａｘ１−Ｙｍａｘ２＞Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ２である（Ｙｅｓ）とき、即ち、前回の処理サイクルから今回の処理サイクルまでの間に、タッチ位置がＹ座標の値が増加する方向（下側）に動いていると判定されるとき、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ２９に移す。

ステップＳ２９において、座標検出用コントローラ１０は、ＹＣＮＴ１＜Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ２であるか否かを判定する。この判定の結果、ＹＣＮＴ１＜Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ２である（Ｙｅｓ）とき、即ち、タッチ位置のＹ座標の値が増加する方向（下側）に所定回数（Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ２）以上連続して移動していないとき、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ３０に移す。
ステップＳ３０において、座標検出用コントローラ１０は、Ｙ座標動き検出カウンターＹＣＮＴ１の値を１増加させる。
ステップＳ３１において、座標検出用コントローラ１０は、Ｙ座標動き検出カウンターＹＣＮＴ２の値を０に設定する。
ステップＳ３２において、座標検出用コントローラ１０は、ステップＳ５で検知されたＹ座標の平均を、即ち、Ｙｍａｘ１とＹｍｉｎ１との平均値を算出すること（平均化処理）により、タッチ位置のＹ座標Ｙｔｏｕｃｈを決定する。その後、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ４２に移す。

一方、ステップＳ２９における判定の結果、ＹＣＮＴ１＜Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ２でない（Ｎｏ）とき、即ち、タッチ位置のＹ座標の値が増加する方向（下側）に所定回数（Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ２）以上連続して移動しているとき、座標検出用コントローラ１０は、ステップＳ３３において、タッチ位置のＹ座標Ｙｔｏｕｃｈを、次式（３）に基づいて算出する。

Ｙｔｏｕｃｈ＝（Ｙｍａｘ１−Ｙｍｉｎ１）／ＹｇａｉｎＰ＋Ｙｍｉｎ１ ・・（３）
ここで、ＹｇａｉｎＰは、所定の値であるものとし、ＹｇａｉｎＰは、タッチされたと特定する位置のＹ座標Ｙｔｏｕｃｈを、検知されたＹ座標の平均からどれだけ下側に偏らせるかを表す値である。例えば、ＹｇａｉｎＰ＝１とすると、タッチ位置のＹ座標Ｙｔｏｕｃｈは、Ｙｍａｘ、即ち、検出された座標のうちの下端の座標となる。座標検出用コントローラ１０は、その後、処理をステップＳ４２に移す。

ステップＳ２８の判定の結果、Ｙｍａｘ１−Ｙｍａｘ２＞Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ２でない（Ｎｏ）とき、即ち、前回の処理サイクルから今回の処理サイクルまでの間に、タッチ位置が下側に動いていないと判定されるとき、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ３４に移す。

ステップＳ３４において、座標検出用コントローラ１０は、Ｙ座標動き検出カウンターＹＣＮＴ１の値を０に設定する。
ステップＳ３５において、座標検出用コントローラ１０は、Ｙｍｉｎ２−Ｙｍｉｎ１＞Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ４であるか否かを判定する。ステップＳ３５の判定の結果、Ｙｍｉｎ２−Ｙｍｉｎ１＞Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ４である（Ｙｅｓ）とき、即ち、前回のルーチンから今回のルーチンまでの間に、タッチ位置がＹ座標の値が減少する方向（上側）に動いていると判定されるとき、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ３６に移す。

ステップＳ３６において、座標検出用コントローラ１０は、ＹＣＮＴ２＜Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ４であるか否かを判定する。この判定の結果、ＹＣＮＴ２＜Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ４である（Ｙｅｓ）とき、即ち、タッチ位置のＹ座標の値が減少する方向（上側）に所定回数（Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ４）以上連続して移動していないとき、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ３７に移す。
ステップＳ３７において、座標検出用コントローラ１０は、Ｙ座標動き検出カウンターＹＣＮＴ２の値を１増加させる。
ステップＳ３８において、座標検出用コントローラ１０は、ステップＳ５で検知されたＹ座標の平均を、即ち、Ｙｍａｘ１とＹｍｉｎ１との平均値を算出すること（平均化処理）により、タッチ位置のＹ座標Ｙｔｏｕｃｈを決定する。その後、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ４２に移す。

一方、ステップＳ３６における判定の結果、ＹＣＮＴ２＜Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ４でない（Ｎｏ）とき、即ち、タッチ位置のＹ座標の値が減少する方向（上側）に所定回数（Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ４）以上連続して移動しているとき、座標検出用コントローラ１０は、ステップＳ３９において、タッチ位置のＹ座標Ｙｔｏｕｃｈを、次式（４）に基づいて算出する。

Ｙｔｏｕｃｈ＝（Ｙｍａｘ１−Ｙｍｉｎ１）／ＹｇａｉｎＭ＋Ｙｍｉｎ１ ・・（４）
ここで、ＹｇａｉｎＭは、所定の値であるものとし、ＹｇａｉｎＭは、タッチされたと特定する位置のＹ座標Ｙｔｏｕｃｈを、検出されたＹ座標の平均からどれほど上に偏らせるかを表す値である。例えば、ＹｇａｉｎＭ＝∞とすると、タッチされたと特定する位置は、Ｙｍｉｎ１、即ち、検出された座標のうちの上端の座標となる。その後、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ４２に移す。

ステップＳ３５の判定の結果、Ｙｍｉｎ２−Ｙｍｉｎ１＞Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ４でない（Ｎｏ）とき、即ち、前回のルーチンから今回のルーチンまでの間に、タッチ位置が上側に動いていないと判定されるとき、つまり、上にも下にも動いていないと判定されるとき、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ４０に移す。

ステップＳ４０において、座標検出用コントローラ１０は、Ｙ座標動き検出カウンターＹＣＮＴ２の値を０に設定する。
ステップＳ４１において、座標検出用コントローラ１０は、ステップＳ５で検知されたＹ座標の平均を、即ち、Ｙｍａｘ１とＹｍｉｎ１との平均値を算出すること（平均化処理）により、タッチ位置のＹ座標Ｙｔｏｕｃｈを決定する。その後、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ４２に移す。

ステップＳ４２において、座標検出用コントローラ１０は、タッチ位置を特定する本処理の終了が要求されているか否かを判定する。この判定の結果、終了の要求がない（Ｎｏ）とき、座標検出用コントローラ１０は、処理をステップＳ１に戻す。一方、終了の要求がある（Ｙｅｓ）とき、座標検出用コントローラ１０は、処理を終了する。

このように、例えば前側基板１は、検知側の基板として機能し、例えばＸ座標検出用接点電極５及びＹ座標検出用接点電極６は、検知側の基板の撓みを検出する検出部として機能し、例えば座標検出用コントローラ１０は、タッチされた位置を特定する演算部として機能する。ここでは、前側基板１が撓んでいる位置の複数の座標の中心に係る座標として、例えばＸｍａｘ１とＸｍｉｎ１との平均値を算出する平均化処理によって求まる座標を用いた。しかしながら、ここでの座標の算出は、単純な平均に限らず、例えばタッチパネル上の位置に応じて重み付けを用いた計算など、他の方法により求めたものでもよい。

上述の本実施形態に係るタッチパネルの動作例の概要を、図８を参照して説明する。図８のように、ユーザが、まず座標（Ｘ，Ｙ）＝（４，３）をタッチしたとする。このとき、図８において、破線で囲ったＡの領域内の黒丸印の座標をユーザはタッチしているが、白丸印で示した各点に由来する信号も検出される。次に、ユーザは、タッチ位置を移動させていく。このとき、座標検出用コントローラ１０の処理の間隔に応じた検出時に、ユーザがタッチしている位置の座標は、順に座標（Ｘ，Ｙ）＝（１２，１１）、（１８，１７）、（８，１７）、（１，１７）であるとする。このとき、図８において、破線で囲ったＢの領域、Ｃの領域、Ｄの領域、Ｅの領域内の、それぞれの黒丸印の座標をユーザはタッチしているが、白丸印で示した各点に由来する信号も検出される。このような状況を考えて、以下説明する。

なお、本説明においては、Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ１、Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ２、Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ３、Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ４は、全て３に設定したものとする。また、Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ１、Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ２、Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ３、Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ４は、全て１に設定したものとする。また、ＸｇａｉｎＰ及びＹｇａｉｎＰは１に、ＸｇａｉｎＭ及びＹｇａｉｎＭは∞に、それぞれ設定したものとする。

まず、１サイクル目において、ステップＳ１において、タッチされている（Ｙｅｓ）と判定され、ステップＳ５において、Ｘ座標検出ラインの出力が、Ｘ＝２，３，４，５，６であり、Ｙ座標検出ラインの出力が、Ｙ＝１，２，３，４，５であることが検出される。次にステップＳ６において、検出フラグＦＬＧ１は１でない（Ｎｏ）と判断される。ステップＳ１０において、検出ＦＬＧ１が１に設定される。ステップＳ１１において、Ｘｍａｘ１に６が、Ｘｍｉｎ１に２がそれぞれ設定される。ステップＳ１２において、Ｙｍａｘ１に５が、Ｙｍｉｎ１に１がそれぞれ設定される。ステップＳ１３において、Ｘｍａｘ２に６が、Ｙｍａｘ２に５が、Ｘｍｉｎ２に２が、Ｙｍｉｎ２に１がそれぞれ設定される。

次にステップＳ１４において、Ｘｍａｘ１−Ｘｍａｘ２＝０がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ１＝３よりも大きくない（Ｎｏ）と判断され、ステップＳ２０において、Ｘ座標動き検出カウンターＸＣＮＴ１が０に設定される。ステップＳ２１において、Ｘｍｉｎ２−Ｘｍｉｎ１＝０がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ３＝３よりも大きくない（Ｎｏ）と判断され、ステップＳ２６において、Ｘ座標動き検出カウンターＸＣＮＴ２が０に設定される。ステップＳ２７において、平均化処理により、タッチ位置のＸ座標Ｘｔｏｕｃｈは、４であると決定される。

次にステップＳ２８において、Ｙｍａｘ１−Ｙｍａｘ２＝０がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ２＝３よりも大きくない（Ｎｏ）と判断され、ステップＳ３４において、Ｙ座標動き検出カウンターＹＣＮＴ１が０に設定される。ステップＳ３５において、Ｙｍｉｎ２−Ｙｍｉｎ１＝０がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ４＝３よりも大きくない（Ｎｏ）と判断され、ステップＳ４０において、Ｙ座標動き検出カウンターＹＣＮＴ２が０に設定される。ステップＳ４１において、平均化処理により、タッチ位置のＹ座標Ｙｔｏｕｃｈは、３であると決定される。
以上の様にして、１サイクル目において、タッチ位置の座標は、（Ｘ，Ｙ）＝（４，３）であると特定される。その後、処理がステップＳ１に戻され、２サイクル目の処理が行われる。

２サイクル目の、ステップＳ１において、タッチされている（Ｙｅｓ）と判定され、ステップＳ５において、Ｘ座標検出ラインの出力が、Ｘ＝８，９，１０，１１，１２であり、Ｙ座標検出ラインの出力が、Ｙ＝７，８，９，１０，１１であることが検出される。次にステップＳ６において、検出フラグＦＬＧ１は１である（Ｙｅｓ）と判断される。ステップＳ７において、Ｘｍａｘ２が６に、Ｘｍｉｎ２が２に、Ｙｍａｘ２が５に、Ｙｍｉｎ２が１にそれぞれ設定される。ステップＳ８において、Ｘｍａｘ１が１２に、Ｘｍｉｎ１が８に、それぞれ設定される。ステップＳ９において、Ｙｍａｘ１が１１に、Ｙｍｉｎ１が７に、それぞれ設定される。

次にステップＳ１４において、Ｘｍａｘ１−Ｘｍａｘ２＝６がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ１＝３よりも大きい（Ｙｅｓ）と判断される。ステップＳ１５において、ＸＣＮＴ１＝０がＣＮＴ＿Ｌｅｖｅｌ１＝１よりも小さい（Ｙｅｓ）と判断され、ステップＳ１６において、ＸＣＮＴ１が１に設定され、ステップＳ１７において、ＸＣＮＴ２が０に設定される。ステップＳ１８において、平均化処理により、タッチ位置のＸ座標Ｘｔｏｕｃｈは、１０であると決定される。

次にステップＳ２８において、Ｙｍａｘ１−Ｙｍａｘ２＝６がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ２＝３よりも大きい（Ｙｅｓ）と判断される。ステップＳ２９において、Ｙ座標動き検出カウンターＹＣＮＴ１＝０が、ＣＮＴ＿Ｌｅｖｅｌ２＝１よりも小さい（Ｙｅｓ）と判断され、ステップＳ３０において、ＹＣＮＴ１が１に設定され、ステップＳ３１において、ＹＣＮＴ２が０に設定される。ステップＳ３２において、平均化処理により、タッチ位置のＹ座標Ｙｔｏｕｃｈは、９であると決定される。
以上の様にして、２サイクル目において、タッチ位置の座標は、（Ｘ，Ｙ）＝（１０，９）であると特定される。その後、処理がステップＳ１に戻され、３サイクル目の処理が行われる。

３サイクル目の、ステップＳ１において、タッチされている（Ｙｅｓ）と判定され、ステップＳ５において、Ｘ座標検出ラインの出力が、Ｘ＝１４，１５，１６，１７，１８であり、Ｙ座標検出ラインの出力が、Ｙ＝１３，１４，１５，１６，１７であることが検出される。次にステップＳ６において、検出フラグＦＬＧ１は１である（Ｙｅｓ）と判断される。ステップＳ７において、Ｘｍａｘ２が１２に、Ｘｍｉｎ２が８に、Ｙｍａｘ２が１１に、Ｙｍｉｎ２が７にそれぞれ設定される。ステップＳ８において、Ｘｍａｘ１が１８に、Ｘｍｉｎ１が１４に、それぞれ設定される。ステップＳ９において、Ｙｍａｘ１が１７に、Ｙｍｉｎ１が１３に、それぞれ設定される。

次にステップＳ１４において、Ｘｍａｘ１−Ｘｍａｘ２＝６がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ１＝３よりも大きい（Ｙｅｓ）と判断される。ステップＳ１５において、ＸＣＮＴ１＝１がＣＮＴ＿Ｌｅｖｅｌ１＝１よりも小さくない（Ｎｏ）と判断され、ステップＳ１９において、動きがあるときの処理、即ち、前記式（１）に基づいて、タッチ位置のＸ座標Ｘｔｏｕｃｈは、１８であると決定される。

次にステップＳ２８において、Ｙｍａｘ１−Ｙｍａｘ２＝６がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ２＝３よりも大きい（Ｙｅｓ）と判断される。ステップＳ２９において、Ｙ座標動き検出カウンターＹＣＮＴ１＝１が、ＣＮＴ＿Ｌｅｖｅｌ２＝１よりも小さくない（Ｎｏ）と判断され、ステップＳ３３において、動きがあるときの処理、即ち、前記式（３）に基づいて、タッチ位置のＹ座標Ｙｔｏｕｃｈは、１７であると決定される。
以上の様にして、３サイクル目において、タッチ位置の座標は、（Ｘ，Ｙ）＝（１８，１７）であると特定される。その後、処理がステップＳ１に戻され、４サイクル目の処理が行われる。

４サイクル目の、ステップＳ１において、タッチされている（Ｙｅｓ）と判定され、ステップＳ５において、Ｘ座標検出ラインの出力が、Ｘ＝８，９，１０，１１，１２であり、Ｙ座標検出ラインの出力が、Ｙ＝１５，１６，１７，１８，１９であることが検出される。次にステップＳ６において、検出フラグＦＬＧ１は１である（Ｙｅｓ）と判断される。ステップＳ７において、Ｘｍａｘ２が１８に、Ｘｍｉｎ２が１４に、Ｙｍａｘ２が１７に、Ｙｍｉｎ２が１３にそれぞれ設定される。ステップＳ８において、Ｘｍａｘ１が１２に、Ｘｍｉｎ１が８に、それぞれ設定される。ステップＳ９において、Ｙｍａｘ１が１９に、Ｙｍｉｎ１が１５に、それぞれ設定される。

次にステップＳ１４において、Ｘｍａｘ１−Ｘｍａｘ２＝−６がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ１＝３よりも大きくない（Ｎｏ）と判断される。ステップＳ２０において、Ｘ座標動き検出カウンターＸＣＮＴ１が０に設定される。ステップＳ２１において、Ｘｍｉｎ２−Ｘｍｉｎ１＝６がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ１＝３より大きい（Ｙｅｓ）と判断される。ステップＳ２２において、ＸＣＮＴ２＝０がＣＮＴ＿Ｌｅｖｅｌ３＝１よりも小さい（Ｙｅｓ）と判断される。ステップＳ２３において、Ｘ座標動き検出カウンターＸＣＮＴ２が１に設定される。ステップＳ２４において、平均化処理により、タッチ位置のＸ座標Ｘｔｏｕｃｈは、１０であると決定される。

次にステップＳ２８において、Ｙｍａｘ１−Ｙｍａｘ２＝２がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ２＝３よりも大きくない（Ｎｏ）と判断される。ステップＳ３４において、Ｙ座標動き検出カウンターＹＣＮＴ１が０に設定される。ステップＳ３５において、Ｙｍｉｎ２−Ｙｍｉｎ１＝−２がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ４＝３よりも大きくない（Ｎｏ）と判断される。ステップＳ４０において、Ｙ座標動き検出カウンターＹＣＮＴ２が０に設定される。ステップＳ４１において、平均化処理により、タッチ位置のＹ座標Ｙｔｏｕｃｈは、１７であると決定される。
以上の様にして、４サイクル目において、タッチ位置の座標は、（Ｘ，Ｙ）＝（１０，１７）であると特定される。その後、処理がステップＳ１に戻され、５サイクル目の処理が行われる。

５サイクル目の、ステップＳ１において、タッチされている（Ｙｅｓ）と判定され、ステップＳ５において、Ｘ座標検出ラインの出力が、Ｘ＝１，２，３，４，５であり、Ｙ座標検出ラインの出力が、Ｙ＝１５，１６，１７，１８，１９であることが検出される。次にステップＳ６において、検出フラグＦＬＧ１は１である（Ｙｅｓ）と判断される。ステップＳ７において、Ｘｍａｘ２が１２に、Ｘｍｉｎ２が８に、Ｙｍａｘ２が１９に、Ｙｍｉｎ２が１５にそれぞれ設定される。ステップＳ８において、Ｘｍａｘ１が５に、Ｘｍｉｎ１が１に、それぞれ設定される。ステップＳ９において、Ｙｍａｘ１が１９に、Ｙｍｉｎ１が１５に、それぞれ設定される。

次にステップＳ１４において、Ｘｍａｘ１−Ｘｍａｘ２＝−７がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ１＝３より大きくない（Ｎｏ）と判断される。ステップＳ２０において、Ｘ座標動き検出カウンターＸＣＮＴ１が０に設定される。ステップＳ２１において、Ｘｍｉｎ２−Ｘｍｉｎ１＝７がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ１＝３よりも大きい（Ｙｅｓ）と判断される。ステップＳ２２において、ＸＣＮＴ２＝１がＣＮＴ＿Ｌｅｖｅｌ３＝１よりも小さくない（Ｎｏ）と判断される。ステップＳ２５において、動きがあるときの処理、即ち、前記式（２）に基づいて、タッチ位置のＸ座標Ｘｔｏｕｃｈは、１であると決定される。

次にステップＳ２８において、Ｙｍａｘ１−Ｙｍａｘ２＝０がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ２＝３より大きくない（Ｎｏ）と判断される。ステップＳ３４において、Ｙ座標動き検出カウンターＹＣＮＴ１が０に設定される。ステップＳ３５において、Ｙｍｉｎ２−Ｙｍｉｎ１＝０がＤｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ４＝３よりも大きくない（Ｎｏ）と判断される。ステップＳ４０において、Ｙ座標動き検出カウンターＹＣＮＴ２が０に設定される。ステップＳ４１において、平均化処理により、タッチ位置のＹ座標Ｙｔｏｕｃｈは、１７であると特定される。
以上の様にして、５サイクル目において、タッチ位置の座標は、（Ｘ，Ｙ）＝（１，１７）であると決定される。その後、処理は終了する。

この例では上記のように、１サイクル目、２サイクル目、３サイクル目、４サイクル目、５サイクル目に、ユーザがタッチしている点は、順に座標（Ｘ，Ｙ）＝（４，３）、（１２，１１）、（１８，１７）、（８，１７）、（１，１７）である。仮に、これら全てについて、前記の平均化処理により、タッチされている座標を特定すると、順に座標（Ｘ，Ｙ）＝（４，３）、（１０，９）、（１６，１５）、（１０，１７）、（３，１７）がタッチされている点として決定される。これに対して本実施形態によれば、順に座標（Ｘ，Ｙ）＝（４，３）、（１０，９）、（１８，１７）、（１０，１７）、（１，１７）がタッチされている点として決定される。このように、本実施形態によれば、タッチ位置の静止又は移動に応じて、タッチされている点として決定する座標の算出方法を異ならせるので、より実際に即した正確な検出が可能になっている。

上述の例では、Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ１、Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ２、Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ３、Ｃｎｔ＿Ｌｅｖｅｌ４は、全て１に設定しているので、同じ方向に２回以上連続で移動しているときに補正を行う設定である。この値は、装置の特性、使用状況等に応じて、任意に設定することができる。また、Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ１、Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ２、Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ３、Ｄｅｔｅｃｔ＿Ｌｅｖｅｌ４は、全て３に設定しているので、座標３つ分よりも大きく移動したときに、タッチ位置が移動していると判断され処理が行われるが、この値も任意に設定することができる。

また、本実施形態のように、ＸｇａｉｎＰ、ＹｇａｉｎＰ、ＸｇａｉｎＭ、ＹｇａｉｎＭを固定された所定の値とせずに、タッチ位置の移動量、即ち所定時間内での動いた距離に応じて変化する値とすることで、更に正確なタッチ位置の検出が可能になる。

以上のように、本実施形態によれば、ユーザ側の基板の撓みを検出してタッチ位置を特定するタッチパネルにおいて、タッチされている位置が静止しているか移動しているかを検知して、それに応じてタッチ位置の決定の方法を異ならせるので、タッチ位置が静止している状況においても、移動している状況においても、正確なタッチ位置の特定が可能になる。

なお、本実施形態の説明では、Ｘ座標検出用接点電極５及びＹ座標検出用接点電極６と対向電極７とが接触することにより、座標を検出するタッチパネルを例に挙げて説明したが、ユーザ側の基板のタッチによる撓みを検出する方式であれば、その他の方式のタッチパネルにおいても適用することができる。例えば、図９に示すような、対向する基板上に形成された帯状の抵抗膜の接触によって位置を特定するタッチパネルにおいて適用してもよい。図９に示すタッチパネルは、簡単には、後側基板２の前側基板１と対向する面上に、帯状のＹ座標検出用抵抗膜２４が形成されている。また、前側基板１の後側基板２と対向する面上に、帯状のＸ座標検出用抵抗膜２３が形成されている。例えば、Ｘ座標検出用抵抗膜２３に順次電圧を印加し、電位がＸ座標検出用抵抗膜２３の電位と等しいＹ座標検出用抵抗膜２４と、その電位が等しくなるタイミングを取得し、それらに基づいて、タッチされている位置を決定することができる。このようなタッチパネルにも本実施形態の適用が可能であり、同様の効果を得ることができる。

［第２の実施形態］
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。ここでは、第１の実施形態との相違点について説明し、同一の部分については説明を省略する。本実施形態は、第１の実施形態に係るタッチパネルを、液晶表示装置内に構築した実施形態である。
本実施形態に係る液晶表示装置の概略を図１０に示す。本液晶表示装置は、タッチパネル機能を有する液晶表示パネル１００と、ドライバ素子１３０と、コモン信号発生回路１３３と、表示用コントローラ１３４と、座標検出用コントローラ１０と、メインコントローラ１３５と、を有する。

液晶表示パネル１００は、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）をアクティブ素子としたアクティブマトリックス型の液晶表示パネルである。ここでは、本実施形態に係る液晶表示装置は、水平方向に２４０画素、垂直方向に３２０画素を有する縦置きのＱＶＧＡ（以下、ＱＶＧＡポートレートと称する）の表示パネルである。液晶表示パネル１００は、液晶層を挟んで互いに対向する後側基板１０２と前側基板１０１とを有する。図示しないバックライトから出射した光は、液晶表示パネル１００を後側基板１０２から前側基板１０１に向けて透過し、ユーザに到達する。本実施形態の説明では、前側基板１０１側を観察側、後側基板１０２側をバックライト側と定義する。

後側基板１０２の観察側の面の画面エリア１２０内の領域には、複数の透明な画素電極１２５が形成されている。例えば画素電極１２５は、図１１に示す様に、Ｘ軸方向及びＹ軸方向に配列されている。各画素電極１２５の形状は、Ｘ軸方向の電極幅がＹ軸方向の電極長さよりも小さい、長方形である。各画素電極１２５は、スイッチング素子として働く表示用薄膜トランジスタ（表示用ＴＦＴ）１２６のドレイン端子にそれぞれ接続されている。各表示用ＴＦＴ１２６は、長方形である各画素電極１２５の、一隅角（例えば図１１における左下隅）に配置されている。

また、後側基板１０２の観察側の面には、Ｘ軸方向に並ぶ画素電極１２５に沿って、Ｘ軸方向に走査線１２３が形成されている。各走査線１２３は、Ｘ軸方向に並ぶ画素電極１２５の表示用ＴＦＴ１２６が配置された側の端（図１１において各画素電極１２５の下端側）に沿わせて設けられており、当該走査線１２３に沿って配置された表示用ＴＦＴ１２６の各ゲート端子に接続されている。

更に、後側基板１０２の観察側の面には、Ｙ軸方向に並ぶ画素電極１２５に沿って、Ｙ軸方向に信号線１２４が形成されている。各信号線１２４は、Ｙ軸方向に並ぶ画素電極１２５の表示用ＴＦＴ１２６が配置された側の端（図１１において各画素電極１２５の左端側）に沿わせて設けられており、当該信号線１２４に沿って配置された表示用ＴＦＴ１２６の各ソース端子に接続されている。

また、後側基板１０２の一端部を前側基板１０１の外方に張り出して形成されたドライバ搭載部１０２ａには、ドライバ素子１３０が、図１０に示す様に搭載されている。このドライバ素子１３０は、図１１に示す様に、走査ドライバ１３１とデータドライバ１３２とが形成された、ＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ Ｓｃａｌｅ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ；大規模集積回路）からなる。各走査線１２３は、ドライバ搭載部１０２ａに導出されて（図示せず）、走査ドライバ１３１の各出力端子に接続されており、各信号線１２４は、同様にドライバ搭載部１０２ａに導出されて（図示せず）、データドライバ１３２の各出力端子に接続されている。

前側基板１０１のバックライト側には、複数の画素電極１２５と対向する一枚膜状の透明な対向電極１０７が形成されている。対向電極１０７は、コモン信号発生回路１３３に接続されており、対向電極１０７の電位は、コモン信号発生回路１３３により制御される。

本液晶表示パネル１００は、第１の実施形態に係るタッチパネルが組み込まれている。ここで、後側基板１０２は、後側基板２に相当し、前側基板１０１は、前側基板１に相当し、対向電極１０７は、対向電極７に相当する。後側基板１０２の観察側には、例えば図１１に示す様に、Ｘ軸方向に並ぶ３つの画素電極１２５毎に、Ｙ軸方向にＸ座標検出ライン３が配設されている。即ち、赤、緑及び青の３色からなる１画素毎に、１本のＸ座標検出ライン３が配設されている。また、Ｙ軸方向に並ぶ１つの画素電極１２５毎に、Ｘ軸方向にＹ座標検出ライン４が配設されている。

この各Ｘ座標検出ライン３は、図１１に示す様に、Ｙ軸方向に配列した各画素電極１２５と、当該画素電極１２５と隣り合う列の各画素電極１２５に接続された表示用ＴＦＴ１２６にデータ信号を供給する信号線１２４と、の間に、信号線１２４と平行に形成されている。また、各Ｙ座標検出ライン４は、Ｘ軸方向に配列された各画素電極１２５と、当該画素電極１２５と隣り合う行の各画素電極１２５に接続された表示用ＴＦＴ１２６にゲート信号を供給する走査線１２３と、の間に、走査線１２３と平行に形成されている。Ｘ座標検出ライン３には、Ｘ座標検出用接点電極５が接続されており、Ｙ座標検出ライン４には、Ｙ座標検出用接点電極６が接続されている。

また、Ｘ座標検出用接点電極５と対向電極１０７との間、及びＹ座標検出用接点電極６と対向電極１０７との間には間隙が設けられている。本表示装置のユーザにより、前側基板１０１が観察側から押圧されて撓むと、対向電極１０７とその部分に存在するＸ座標検出用接点電極５とが導通する。その結果、対向電極１０７と導通したＸ座標検出用接点電極５、及びその接点電極に接続するＸ座標検出ライン３は、対向電極１０７と等電位になる。また、対向電極１０７とその部分に存在するＹ座標検出用接点電極６とが導通する。その結果、対向電極１０７と導通したＹ座標検出用接点電極６、及びその接点電極に接続するＹ座標検出ライン４は、対向電極１０７と等電位になる。

更に、後側基板１０２の観察側の面上であり、画面エリア１２０の領域外（図１１において画面エリア１２０の右側の領域）である領域には、複数のＸ座標検出用薄膜トランジスタ（Ｘ座標検出用ＴＦＴ）１０８、及び複数のＹ座標検出用薄膜トランジスタ（Ｙ座標検出用ＴＦＴ）１０９が形成されている。各Ｙ座標検出用ＴＦＴ１０９は、画面エリア１２０の領域外のうちの、画面エリア１２０と隣接する部分に、Ｙ軸方向に１列に並べて配置されている。各Ｙ座標検出用ＴＦＴ１０９が配置される間隔は、各Ｙ座標検出ライン４の間隔と同程度である。
一方、前記各Ｘ座標検出用ＴＦＴ１０８は、前記各Ｙ座標検出用ＴＦＴ１０９の画面エリア１２０からみて更に外側となる位置に、前記各Ｙ座標検出用ＴＦＴ１０９とそれぞれ隣り合わせに、１列に並べて配置されている。

Ｘ座標検出用ＴＦＴ１０８は、Ｘ座標検出ライン３と同じ数存在する。各Ｘ座標検出用ＴＦＴ１０８のソース端子は、それぞれ別々のＸ座標検出ライン３に接続されている。ここで、Ｘ座標検出ライン３とＸ座標検出用ＴＦＴ１０８とは、前記画面エリア１２０の外側で引き回された延長ライン１１５により接続している。また、各Ｘ座標検出用ＴＦＴ１０８のゲート端子は、それぞれ別々の走査線１２３に、延長ライン１１０を介して接続している。各Ｘ座標検出用ＴＦＴ１０８のドレイン端子は、Ｘ座標検出用出力ライン１１１に接続されている。このＸ座標検出用出力ライン１１１は、外部回路接続端子１１３に接続されている。この外部回路接続端子１１３は、ドライバ搭載部１０２ａ（図１０参照）に設けられている。

一方、Ｙ座標検出用ＴＦＴ１０９は、Ｙ座標検出ライン４と同じ数存在する。各Ｙ座標検出用ＴＦＴ１０９のソース端子は、それぞれ別々のＹ座標検出ライン４に接続されている。また、各Ｙ座標検出用ＴＦＴ１０９のゲート端子は、それぞれ別々の走査線１２３に、延長ライン１１０を介して接続されている。各Ｙ座標検出用ＴＦＴ１０９のドレイン端子は、Ｙ座標検出用出力ライン１１２に接続されている。このＹ座標検出用出力ライン１１２は、Ｘ座標検出用出力ライン１１１と同様に、ドライバ搭載部１０２ａに設けられた外部回路接続端子１１４に接続されている。

尚、本液晶表示パネル１００は、前記液晶層の液晶分子を、後側基板１０２及び前側基板１０１の間において液晶分子をツイスト配向させたツイステッドネマティック（ＴＮ）型若しくはスーパーツイステッドネマティック（ＳＴＮ）型、液晶分子を後側基板１０２及び前側基板１０１の面に対して垂直に配向させた垂直配向型（Ｖｅｒｔｉｃａｌ Ａｌｉｇｎｍｅｎｔ方式；ＶＡ方式）、横電界型のＩｎ−Ｐｌａｎｅ Ｓｗｉｔｃｈｉｎｇ方式（ＩＰＳ方式）の液晶パネルを含む液晶分子の分子長軸を一方向に揃えて後側基板１０２に平行に配向させた水平配向型、液晶分子をベンド配向させるベンド配向型（Ｏｐｔｉｃａｌｌｙ Ｃｏｍｐｅｎｓａｔｅｄ Ｂｉｒｅｆｒｉｎｇｅｎｅｃｅ方式；ＯＣＢ方式）、又は強誘電性若しくは反強誘電性液晶表示パネル等、種々の液晶表示パネルのうちの何れでも良い。また、ポリマーネットワーク型液晶表示パネルでも良い。

図１０に示す様に、ドライバ素子１３０の走査ドライバ１３１とデータドライバ１３２とは、前記した液晶表示パネル１００に接続される外部回路の表示用コントローラ１３４に接続されている。また、対向電極１０７に電圧を印加するコモン信号発生回路１３３は、表示用コントローラ１３４に接続されている。また、Ｘ座標検出用出力ライン１１１の外部回路接続端子１１３は、前記した座標検出用コントローラ１０に接続し、同様にＹ座標検出用出力ライン１１２の外部回路接続端子１１４は、座標検出用コントローラ１０に接続されている。座標検出用コントローラ１０は、前記第１の実施形態に係る座標検出用コントローラ１０と同様のものである。これら表示用コントローラ１３４と座標検出用コントローラ１０とは、それぞれ、それらを制御するメインコントローラ１３５と接続している。

このように、例えば後側基板１０２は、第１の基板として機能し、例えば前側基板１０１は、第２の基板として機能し、例えば画素電極１２５は、画素電極として機能し、例えば対向電極１０７は、対向電極として機能し、例えばＸ座標検出用接点電極５は、第１の接点電極として機能し、例えばＹ座標検出用接点電極６は、第２の接点電極として機能し、例えばＸ座標検出ライン３は、第１の検出ラインとして機能し、例えばＹ座標検出ライン４は、第２の検出ラインとして機能し、例えば座標検出用コントローラ１０は、演算部として機能する。

次に、本実施形態に係る液晶表示装置の動作を説明する。液晶表示パネル１００において、コモン信号発生回路１３３から出力されたコモン信号（Ｖｃｏｍ信号）は、対向電極１０７に印加される。表示用コントローラ１３４の走査ドライバ１３１は、各走査線１２３を順次選択し、選択した走査線１２３に、表示用ＴＦＴ１２６をＯＮさせるゲート信号を、選択期間印加する。また、表示用コントローラ１３４のデータドライバ１３２は、各信号線１２４に、前記Ｖｃｏｍ信号に対して画像データに対応した電位差をもつデータ信号を、走査線１２３の選択期間印加する。液晶表示パネル１００は、上記の通り表示駆動される。尚、本実施形態では、液晶表示パネル１００の表示駆動方式に、各走査線１２３の選択期間毎に、対向電極１０７に印加するＶｃｏｍ信号の電圧を、ハイレベル（以下、Ｈレベルという）とローレベル（以下、Ｌレベルという）とに反転させるライン反転方式を用いている。

次に、液晶表示パネル１００のタッチパネルとしての動作を説明する。ここで、図１１からタッチパネル機能に関する構成を抜粋した回路構成の概略を、図１２に示す。各走査線１２３、各Ｘ座標検出用ＴＦＴ１０８、各Ｙ座標検出用ＴＦＴ１０９、各Ｘ座標検出ライン３、及び各Ｙ座標検出ライン４に以下の名称をつける。即ち、図１２における上端側から、１行目の画素電極１２５に接続する表示用ＴＦＴ１２６のゲート端子に接続する走査線１２３をゲートＧ１とし、２行目のそれをゲートＧ２とし、以下同様にして、下端である３２０行目のそれをゲートＧ３２０とする。そして、ゲートＧ１にそのゲート端子を接続しているＸ座標検出用ＴＦＴ１０８をＸ−ＴＦＴ１とし、ゲートＧ２にそのゲート端子を接続しているＸ座標検出用ＴＦＴ１０８をＸ−ＴＦＴ２とし、以下同様にして、ゲートＧ２４０にそのゲート端子を接続しているＸ座標検出用ＴＦＴ１０８をＸ−ＴＦＴ２４０とする。また同様に、ゲートＧ１にそのゲート端子を接続しているＹ座標検出用ＴＦＴ１０９をＹ−ＴＦＴ１とし、ゲートＧ２にそのゲート端子を接続しているＹ座標検出用ＴＦＴ１０９をＹ−ＴＦＴ２とし、以下同様にして、ゲートＧ３２０にそのゲート端子を接続しているＹ座標検出用ＴＦＴ１０９をＹ−ＴＦＴ３２０とする。

また、Ｘ−ＴＦＴ１で表されるＸ座標検出用ＴＦＴ１０８のソース端子に接続しているＸ座標検出ライン３をＸ１とし、Ｘ−ＴＦＴ２で表されるＸ座標検出用ＴＦＴ１０８のソース端子に接続しているＸ座標検出ライン３をＸ２とし、以下同様にして、Ｘ−ＴＦＴ２４０で表されるＸ座標検出用ＴＦＴ１０８のソース端子に接続しているＸ座標検出ライン３をＸ２４０とする。また同様に、Ｙ−ＴＦＴ１で表されるＹ座標検出用ＴＦＴ１０９のソース端子に接続しているＹ座標検出ライン４をＹ１とし、Ｙ−ＴＦＴ２で表されるＹ座標検出用ＴＦＴ１０９のソース端子に接続しているＹ座標検出ライン４をＹ２とし、以下同様にして、Ｙ−ＴＦＴ３２０で表されるＹ座標検出用ＴＦＴ１０９のソース端子に接続しているＹ座標検出ライン４をＹ３２０とする。

前記タッチ入力が行われると、前側基板１０１のタッチされた部分（以下、タッチ部と称する）が後側基板１０２側に撓み変形する。その結果、後側基板１０２に形成されたＸ座標検出用接点電極５のうちの、前記タッチ部に形成されたＸ座標検出用接点電極５が、前側基板１０１に形成された対向電極１０７と導通する。同様に、前記タッチ部の後側基板１０２に形成されたＹ座標検出用接点電極６のうちの、前記タッチ部に形成されたＹ座標検出用接点電極６が、対向電極１０７と導通する。

したがって、タッチ部で対向電極１０７と導通したＸ座標検出用接点電極５と、この接点電極と接続しているＸ座標検出ライン３と、の電位は対向電極１０７に印加されたＶｃｏｍ信号の電位と同レベルになる。同様に、タッチ部で対向電極１０７と導通したＹ座標検出用接点電極６と、この接点電極と接続しているＹ座標検出ライン４と、の電位は対向電極１０７に印加されたＶｃｏｍ信号の電位と同レベルになる。

前記の通り、各Ｘ座標検出ライン３は、Ｘ座標検出用ＴＦＴ１０８のソース端子に接続しており、各Ｙ座標検出ライン４は、Ｙ座標検出用ＴＦＴ１０９のソース端子に接続している。また、各Ｘ座標検出用ＴＦＴ１０８のゲート端子は、それぞれ別々の走査線１２３に接続しており、各Ｙ座標検出用ＴＦＴ１０９のゲート端子は、それぞれ別々の走査線１２３に接続している。

したがって、画像表示のため、ゲートＧ１からゲートＧ３２０までの各走査線１２３に順次ゲート信号が印加されると、Ｘ−ＴＦＴ１からＸ−ＴＦＴ２４０までの各Ｘ座標検出用ＴＦＴ１０８は、順次ＯＮ状態になる。このとき、各Ｘ座標検出用ＴＦＴ１０８のドレイン端子に接続しているＸ座標検出用出力ライン１１１の電位は、前記ＯＮ状態になっているＸ座標検出用ＴＦＴ１０８のソース端子に接続されているＸ座標検出ライン３の電位になる。ここで、タッチ部に対応するＸ座標検出用接点電極５が接続しているＸ座標検出ライン３の電位は、対向電極１０７の電位になっている。

これらと同様に、ゲートＧ１からゲートＧ３２０までの各走査線１２３に順次ゲート信号が印加されると、Ｙ−ＴＦＴ１からＹ−ＴＦＴ３２０までの各Ｙ座標検出用ＴＦＴ１０９は、順次ＯＮ状態になる。そして、各Ｙ座標検出用ＴＦＴ１０９のドレイン端子に接続しているＹ座標検出用出力ライン１１２の電位は、前記ＯＮ状態になっているＹ座標検出用ＴＦＴ１０９のソース端子に接続されているＹ座標検出ライン４の電位になる。ここで、タッチ部に対応するＹ座標検出用接点電極６が接続しているＹ座標検出ライン４の電位は、対向電極１０７の電位になっている。

即ち、ゲートＧ１、ゲートＧ２、・・・、ゲートＧ２４０と順にゲート電圧が印加されると、Ｘ−ＴＦＴ１、Ｘ−ＴＦＴ２、・・・、Ｘ−ＴＦＴ２４０と順にＸ座標検出用ＴＦＴ１０８がＯＮ状態になる。その結果、Ｘ座標検出用出力ライン１１１の電位は、順次Ｘ座標検出ラインＸ１の電位、Ｘ座標検出ラインＸ２の電位、・・・、Ｘ座標検出ラインＸ２４０の電位になる。同様に、ゲートＧ１、ゲートＧ２、・・・、ゲートＧ３２０と順にゲート電圧が印加されると、Ｙ−ＴＦＴ１、Ｙ−ＴＦＴ１、・・・、Ｙ−ＴＦＴ３２０と順にＹ座標検出用ＴＦＴ１０９がＯＮ状態となる。その結果、Ｙ座標検出用出力ライン１１２の電位は、順次Ｙ座標検出ラインＹ１の電位、Ｙ座標検出ラインＹ２の電位、・・・、Ｙ座標検出ラインＹ３２０の電位になる。したがって、この液晶表示パネル１００は、各Ｘ座標検出ライン３の電位に対応したＸ座標のパラレルデータを、Ｘ座標のシリアルデータに変換して、Ｘ座標検出用出力ライン１１１から出力する。また同様に、各Ｙ座標検出ライン４の電位に対応したＹ座標のパラレルデータを、Ｙ座標のシリアルデータに変換して、Ｙ座標検出用出力ライン１１２から出力する。

本実施形態において座標検出用コントローラ１０は、Ｘ座標検出用出力ライン１１１の信号を外部回路接続端子１１３から取得し、Ｙ座標検出用出力ライン１１２の信号を外部回路接続端子１１４から取得し、これら信号に基づいて、図７Ａを参照して説明したステップＳ５における座標の特定の処理を行う。その他、座標検出用コントローラ１０における処理は、第１の実施形態の場合と同様である。

本実施形態によっても、第１の実施形態の場合と同様に、タッチされている位置が静止しているか移動しているかを検知して、それに応じてタッチ位置の決定の方法を異ならせるので、タッチ位置が静止している状況においても、移動している状況においても、正確なタッチ位置の特定が可能になる。

ここに説明した例は、Ｖｃｏｍ信号が反転するライン反転方式の駆動によるものであるが、Ｖｃｏｍが反転しないドット反転駆動方式その他の駆動方式を用いても勿論良い。
また、以上の説明では、ＱＶＧＡポートレートを例に挙げて説明したが、ＱＶＧＡポートレートに限らず、横置きの通常のＱＶＧＡや、例えば、ＶＧＡ（６４０画素×４８０画素）、ＳＶＧＡ（８００画素×６００画素）、ＸＧＡ（１０２４画素×７６８画素）、ＳＸＧＡ（１２８０画素×１０２４画素）や、それらの縦置き型等、種々の画素数を有する表示パネルを用いても良い。他の画素数を有する表示パネルを用いた場合、画素数に合わせて、上記説明の構成要素の数が多くなったり少なくなったりすることは勿論である。

なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除しても、発明が解決しようとする課題の欄で述べられた課題が解決でき、かつ、発明の効果が得られる場合には、この構成要素が削除された構成も発明として抽出され得る。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。

１…前側基板、２…後側基板、３…Ｘ座標検出ライン、４…Ｙ座標検出ライン、５…Ｘ座標検出用接点電極、６…Ｙ座標検出用接点電極、７…対向電極、１０…座標検出用コントローラ、２３…Ｘ座標検出用抵抗膜、２４…Ｙ座標検出用抵抗膜、１００…液晶表示パネル、１０１…前側基板、１０２…後側基板、１０２ａ…ドライバ搭載部、１０７…対向電極、１０８…Ｘ座標検出用薄膜トランジスタ、１０９…Ｙ座標検出用薄膜トランジスタ、１１０…延長ライン、１１１…Ｘ座標検出用出力ライン、１１２…Ｙ座標検出用出力ライン、１１３…外部回路接続端子、１１４…外部回路接続端子、１１５…延長ライン、１２０…画面エリア、１２３…走査線、１２４…信号線、１２５…画素電極、１２６…表示用薄膜トランジスタ、１２６…表示用ＴＦＴ、１３０…ドライバ素子、１３１…走査ドライバ、１３２…データドライバ、１３３…コモン信号発生回路、１３４…表示用コントローラ、１３５…メインコントローラ。

Claims (3)

1. 検知側の基板と、
   前記検知側の基板がタッチされた際に、前記検知側の基板への当該タッチを検出する検出部と、
   前記検出部が出力する、前記検知側の基板への前記タッチに係わる複数の座標値を表す検出信号に基づいて、タッチされた位置を特定する演算部と、
   を具備し、
   前記検出信号は、
   前記基板への前記タッチに係わる、第１の軸に沿った前記複数の座標値を表す複数の第１軸方向信号と、
   前記基板への前記タッチに係わる、前記第１の軸に交差する第２の軸に沿った前記複数の座標値を表す複数の第２軸方向信号と、
   を含み、
   前記複数の座標値の前記第１の軸に沿った最大値をＸｍａｘ１、前記第１の軸に沿った最小値をＸｍｉｎ１、前記第２の軸に沿った最大値をＹｍａｘ１、前記第２の軸に沿った最小値をＹｍｉｎ１とすると、
   前記演算部は、
   前記第１軸方向信号に基づいて、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値が大きくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、次式（１）に基づいて算出し、
   Ｘｔｏｕｃｈ＝（Ｘｍａｘ１−Ｘｍｉｎ１）／ＸｇａｉｎＰ＋Ｘｍｉｎ１ ・・（１）
   ここで、１≦ＸｇａｉｎＰ＜２、ＸｇａｉｎＰは、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第１の軸に沿って大きくなる方向に偏らせるかを表す値であり、
   前記第１軸方向信号に基づいて、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値が小さくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、次式（２）に基づいて算出し、
   Ｘｔｏｕｃｈ＝（Ｘｍａｘ１−Ｘｍｉｎ１）／ＸｇａｉｎＭ＋Ｘｍｉｎ１ ・・（２）
   ここで、２＜ＸｇａｉｎＭ、ＸｇａｉｎＭは、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第１の軸に沿って小さくなる方向に偏らせるかを表す値であり、
   前記第２軸方向信号に基づいて、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値が大きくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、次式（３）に基づいて算出し、
   Ｙｔｏｕｃｈ＝（Ｙｍａｘ１−Ｙｍｉｎ１）／ＹｇａｉｎＰ＋Ｙｍｉｎ１ ・・（３）
   ここで、１≦ＹｇａｉｎＰ＜２、ＹｇａｉｎＰは、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第２の軸に沿って大きくなる方向に偏らせるかを表す値であり、
   前記第２軸方向信号に基づいて、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値が小さくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、次式（４）に基づいて算出し、
   Ｙｔｏｕｃｈ＝（Ｙｍａｘ１−Ｙｍｉｎ１）／ＹｇａｉｎＭ＋Ｙｍｉｎ１ ・・（４）
   ここで、２＜ＹｇａｉｎＭ、ＹｇａｉｎＭは、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第２の軸に沿って小さくなる方向に偏らせるかを表す値である、
   ことを特徴とするタッチパネル。
2. 液晶層を挟んで互いに対向する第１の基板上に形成された画素電極と第２の基板上に形成された対向電極とを有するアクティブマトリクス型の液晶表示素子であって、
   前記第１の基板上に形成された複数の検出ラインと、
   前記対向電極と間隙を有して対向し、前記第２の基板がタッチされたときに前記対向電極と導通する、前記複数の検出ラインの何れかに接続されている複数の接点電極と、
   前記検出ラインの各電位が表す、前記第２の基板への前記タッチに係わる複数の座標値に基づいて、タッチされた位置を特定する演算部と、
   を具備し、
   前記検出ラインは、
   第１の軸に沿った前記複数の座標値を表す信号を伝達する、複数の第１の検出ラインと、
   第２の軸に沿った前記複数の座標値を表す信号を伝達する、前記各第１の検出ラインと互いにねじれの位置に配置されている複数の第２の検出ラインと、
   を含み、
   前記接点電極は、
   前記複数の第１の検出ラインの何れかに接続されている複数の第１の接点電極と、
   前記複数の第２の検出ラインの何れかに接続されている複数の第２の接点電極と、
   を含み、
   前記複数の座標値の前記第１の軸に沿った最大値をＸｍａｘ１、前記第１の軸に沿った最小値をＸｍｉｎ１、前記第２の軸に沿った最大値をＹｍａｘ１、前記第２の軸に沿った最小値をＹｍｉｎ１とすると、
   前記演算部は、
   前記第１の検出ラインの電位に基づいて、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値が大きくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、次式（１）に基づいて算出し、
   Ｘｔｏｕｃｈ＝（Ｘｍａｘ１−Ｘｍｉｎ１）／ＸｇａｉｎＰ＋Ｘｍｉｎ１ ・・（１）
   ここで、１≦ＸｇａｉｎＰ＜２、ＸｇａｉｎＰは、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第１の軸に沿って大きくなる方向に偏らせるかを表す値であり、
   前記第１の検出ラインの電位に基づいて、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値が小さくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、次式（２）に基づいて算出し、
   Ｘｔｏｕｃｈ＝（Ｘｍａｘ１−Ｘｍｉｎ１）／ＸｇａｉｎＭ＋Ｘｍｉｎ１ ・・（２）
   ここで、２＜ＸｇａｉｎＭ、ＸｇａｉｎＭは、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第１の軸に沿って小さくなる方向に偏らせるかを表す値であり、
   前記第２の検出ラインの電位に基づいて、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値が大きくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、次式（３）に基づいて算出し、
   Ｙｔｏｕｃｈ＝（Ｙｍａｘ１−Ｙｍｉｎ１）／ＹｇａｉｎＰ＋Ｙｍｉｎ１ ・・（３）
   ここで、１≦ＹｇａｉｎＰ＜２、ＹｇａｉｎＰは、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第２の軸に沿って大きくなる方向に偏らせるかを表す値であり、
   前記第２の検出ラインの電位に基づいて、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値が小さくなる方向に時間的に変化していると判定したときには、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、次式（４）に基づいて算出し、
   Ｙｔｏｕｃｈ＝（Ｙｍａｘ１−Ｙｍｉｎ１）／ＹｇａｉｎＭ＋Ｙｍｉｎ１ ・・（４）
   ここで、２＜ＹｇａｉｎＭ、ＹｇａｉｎＭは、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第２の軸に沿って小さくなる方向に偏らせるかを表す値である、
   ことを特徴とするタッチパネルを有する液晶表示素子。
3. タッチされた際の検知側の基板の当該タッチを検出し、検出された当該検知側の基板への当該タッチに係わる複数の座標値に基づいて、タッチされた位置を特定するタッチパネルの位置検出方法において、
   前記複数の座標値の第１の軸に沿った最大値をＸｍａｘ１、当該第１の軸に沿った最小値をＸｍｉｎ１、当該第１の軸と交差する第２の軸に沿った最大値をＹｍａｘ１、当該第２の軸に沿った最小値をＹｍｉｎ１とすると、
   前記第１の軸に沿った前記複数の座標値が時間的に大きくなる方向に変化しているとき、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、次式（１）に基づいて算出し、
   Ｘｔｏｕｃｈ＝（Ｘｍａｘ１−Ｘｍｉｎ１）／ＸｇａｉｎＰ＋Ｘｍｉｎ１ ・・（１）
   ここで、１≦ＸｇａｉｎＰ＜２、ＸｇａｉｎＰは、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第１の軸に沿って大きくなる方向に偏らせるかを表す値であり、
   前記第１の軸に沿った前記複数の座標値が時間的に小さくなる方向に変化しているとき、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、次式（２）に基づいて算出し、
   Ｘｔｏｕｃｈ＝（Ｘｍａｘ１−Ｘｍｉｎ１）／ＸｇａｉｎＭ＋Ｘｍｉｎ１ ・・（２）
   ここで、２＜ＸｇａｉｎＭ、ＸｇａｉｎＭは、前記タッチされた位置の前記第１の軸に沿った座標値Ｘｔｏｕｃｈを、前記第１の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第１の軸に沿って小さくなる方向に偏らせるかを表す値であり、
   前記第２の軸に沿った前記複数の座標値が時間的に大きくなる方向に変化しているとき、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、次式（３）に基づいて算出し、
   Ｙｔｏｕｃｈ＝（Ｙｍａｘ１−Ｙｍｉｎ１）／ＹｇａｉｎＰ＋Ｙｍｉｎ１ ・・（３）
   ここで、１≦ＹｇａｉｎＰ＜２、ＹｇａｉｎＰは、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第２の軸に沿って大きくなる方向に偏らせるかを表す値であり、
   前記第２の軸に沿った前記複数の座標値が時間的に小さくなる方向に変化しているとき、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、次式（４）に基づいて算出し、
   Ｙｔｏｕｃｈ＝（Ｙｍａｘ１−Ｙｍｉｎ１）／ＹｇａｉｎＭ＋Ｙｍｉｎ１ ・・（４）
   ここで、２＜ＹｇａｉｎＭ、ＹｇａｉｎＭは、前記タッチされた位置の前記第２の軸に沿った座標値Ｙｔｏｕｃｈを、前記第２の軸に沿った前記複数の座標値の中央値からどれだけ前記第２の軸に沿って小さくなる方向に偏らせるかを表す値である、
   ことを特徴とするタッチパネルの位置検出方法。

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