JP5666251B2 - 光及び熱エネルギー架橋性有機薄膜トランジスタ絶縁層材料 - Google Patents
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Description
で表される繰り返し単位及び光エネルギー又は電子線のエネルギーを吸収して二量化反応を起こす官能基を含有する繰り返し単位を含有し、かつ、分子内に第1の官能基を2つ以上含有し、該第1の官能基が、電磁波もしくは熱の作用により、活性水素と反応する第2の官能基を生成する官能基である高分子化合物(A)と、
分子内に活性水素を2つ以上含有する低分子化合物及び分子内に活性水素を2つ以上含有する高分子化合物からなる群から選ばれる少なくとも1種の活性水素化合物(B)とを、含有する有機薄膜トランジスタ絶縁層材料であって、
該第1の官能基が、ブロック化剤でブロックされたイソシアナト基及びブロック化剤でブロックされたイソチオシアナト基からなる群から選ばれる少なくとも1種の基である有機薄膜トランジスタ絶縁層材料を提供するものである。
で表される繰り返し単位である。
で表される繰り返し単位である。
で表される基である。
で表される基である。
該塗布層に対して光又は電子線を照射することにより高分子化合物(A)の光エネルギー又は電子線のエネルギーを吸収して二量化反応を起こす官能基を二量化反応させる工程;及び
該塗布層に対して電磁波又は熱を印加することにより高分子化合物(A)の第1の官能基から第2の官能基を生成させて、該第2の官能基を活性水素化合物(B)の活性水素含有基と反応させる工程;
を包含する有機薄膜トランジスタ絶縁層の形成方法を提供する。
該第1の官能基が、ブロック化剤でブロックされたイソシアナト基及びブロック化剤でブロックされたイソチオシアナト基からなる群から選ばれる少なくとも1種の基である高分子化合物を提供する。
高分子化合物(A)は、フッ素原子を有し、光エネルギー又は電子線のエネルギーを吸収して二量化反応を起こす官能基を複数個有し、電磁波もしくは熱が作用した場合に、活性水素と反応する第2の官能基を生成する第1の官能基を複数個有する。光エネルギー又は電子線のエネルギーを吸収して二量化反応を起こす前記官能基を、本明細書では「光二量化反応基」という。
bは、1〜5の整数を表す。ある一形態では、bは5である。
dは、1〜5の整数を表す。ある一形態では、bは5である。
炭素数1〜20の一価の有機基としては、例えば、炭素数1〜20の直鎖状炭化水素基、炭素数3〜20の分岐状炭化水素基、炭素数3〜20の環状炭化水素基、炭素数6〜20の芳香族炭化水素基が挙げられ、好ましくは、炭素数1〜6の直鎖状炭化水素基、炭素数3〜6の分岐状炭化水素基、炭素数3〜6の環状炭化水素基、炭素数6〜20の芳香族炭化水素基が挙げられる。
炭素数1〜20の直鎖状炭化水素基、炭素数3〜20の分岐状炭化水素基、炭素数3〜20の環状炭化水素基は、これらの基に含まれる水素原子がフッ素原子で置換されていてもよい。
炭素数6〜20の芳香族炭化水素基は、基中の水素原子がアルキル基、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子などで置換されていてもよい。
炭素数1〜20の一価の有機基としては、アルキル基が好ましい。
第1の官能基としては、ブロック化剤でブロックされたイソシアナト基が好ましい。
前記分子内にブロック化剤でブロックされたイソチオシアナト基と不飽和二重結合とを有するモノマーの例としては、2−〔O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]チオカルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート、2−〔N−[1’,3’−ジメチルピラゾリル] チオカルボニルアミノ〕エチル−メタクリレートが挙げられる。
活性水素化合物(B)は、分子内に活性水素を2つ以上含有する低分子化合物、又は分子内に活性水素を2つ以上含有する高分子化合物である。活性水素としては、典型的にはアミノ基、ヒドロキシ基又はメルカプト基に含まれる水素原子が挙げられる。活性水素としては、上述した反応性官能基、中でもイソシアナト基、イソチオシアナト基との反応を良好に生じることができるフェノール性ヒドロキシ基に含まれる水素、アルコール性ヒドロキシ基に含まれる水素、芳香族アミノ基に含まれる水素が好適である。
かかる高分子化合物は活性水素を含有する基及び二重結合等の不飽和結合を分子内に有するモノマーを単独で重合させるか、このようなモノマーを上記式(2)、上記式(5)又は上記式(6)で表される繰り返し単位の原料となる重合性モノマーと共重合させるか、前記のようなモノマーを他の共重合性化合物と共重合させて重合体を形成することによって得られる。これらの重合の際には、光重合開始剤や熱重合開始剤を適用してもよい。なお、重合性モノマー、光重合開始剤、熱重合開始剤としては、上述したものと同様のものを適用できる。
活性水素を含有する基及び不飽和結合を分子内に有するモノマーとしては、分子内に水酸基を有するものが好ましい。
高分子化合物(A)と活性水素化合物(B)とを混合することにより有機薄膜トランジスタ絶縁層材料が得られる。両者の混合割合は、高分子化合物(A)に電磁波を放射する若しくは高分子化合物(A)を加熱することにより生成する第2の官能基と、活性水素化合物(B)の活性水素を含有する基とがモル比で、好ましくは60/100〜150/100、より好ましくは70/100〜120/100、さらに好ましくは90/100〜110/100となるように調節される。この割合が60/100未満であると活性水素が過剰になりヒステリシスの低下効果が小さくなることがあり、150/100を超えると活性水素と反応する官能基が過剰になり閾値電圧の絶対値が大きくなることがある。
図1は、本発明の一実施形態であるボトムゲートトップコンタクト型有機薄膜トランジスタの構造を示す模式断面図である。この有機薄膜トランジスタには、基板1と、基板1上に形成されたゲート電極2と、ゲート電極2上に形成されたゲート絶縁層3と、ゲート絶縁層3上に形成された有機半導体層4と、有機半導体層4上にチャネル部を挟んで形成されたソース電極5及びドレイン電極6と、素子全体を覆うオーバーコート7とが、備えられている。
塗布層に対する電磁波又は熱の印加と、塗布層に対する光の照射の両方行う方法としては、例えば、塗布層に対して光又は電子線を照射することにより高分子化合物(A)の光エネルギー又は電子線のエネルギーを吸収して二量化反応を起こす官能基を二量化反応させる工程を行い、次いで、塗布層に対して電磁波又は熱を印加することにより高分子化合物(A)の第1の官能基から第2の官能基を生成させて、該第2の官能基を活性水素化合物(B)の活性水素含有基と反応させる工程を行う方法がある。
スチレン(和光純薬製)3.47g、2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ製)4.85g、ビニルベンジルクロライド(アルドリッチ製)2.54g、2−(O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工製、商品名「カレンズMOI−BM」)2.00g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.06g、2−ヘプタノン(和光純薬製)3.23gを、50ml耐圧容器(エース製)に入れ、アルゴンガスをバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で20時間重合させた。重合終了後、2−ヘプタノン15.99gを加えて、高分子化合物1が溶解している粘稠な2−ヘプタノン溶液を得た。高分子化合物1は、下記繰り返し単位を有している。括弧の添え数字は繰り返し単位のモル分率を示している。
2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ製)11.32g、ビニルベンジルクロライド(アルドリッチ製)2.54g、2−(O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工製、商品名「カレンズMOI−BM」)2.00g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.08g、2−ヘプタノン(和光純薬製)10.63gを、50ml耐圧容器(エース製)に入れ、アルゴンガスをバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で20時間重合させた。重合終了後、2−ヘプタノン13.29gを加えて、高分子化合物2が溶解している粘稠な2−ヘプタノン溶液を得た。高分子化合物2は、下記繰り返し単位を有している。括弧の添え数字は繰り返し単位のモル分率を示している。
9,9−ジ−n−オクチルフルオレン−2,7−ジ(エチレンボロネート)6.40g、及び5,5’−ジブロモ−2,2’−バイチオフェン4.00gを含むトルエン(80mL)中に、窒素下において、テトラキス(トリフェニルホスフィン)パラジウム0.18g、メチルトリオクチルアンモニウムクロライド(アルドリッチ製、商品名「Aliquat 336」(登録商標))1.0g、及び2Mの炭酸ナトリウム水溶液24mLを加えた。この混合物を激しく攪拌し、加熱して24時間還流した。粘稠な反応混合物をアセトン500mLに注ぎ、繊維状の黄色のポリマーを沈澱させた。このポリマーを濾過によって集め、アセトンで洗浄し、真空オーブンにおいて60℃で一晩乾燥させた。得られたポリマーを高分子化合物3とよぶ。高分子化合物3は、下記繰り返し単位を有している。nは繰り返し単位の数を示している。高分子化合物3の標準ポリスチレンから求めた重量平均分子量は、61000であった(島津製GPC、Tskgel super HM−H 1本+Tskgel super H2000 1本、移動相=THF)。
スチレン(和光純薬製)7.14g、2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ製)10.00g、ビニルシンナメート(アルドリッチ製)5.98g、2−(O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工製、商品名「カレンズMOI−BM」)4.12g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.10g、2−ヘプタノン(和光純薬製)18.23gを、125ml耐圧容器(エース製)に入れ、アルゴンガスをバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で20時間重合させた。重合終了後、2−ヘプタノン45.58gを加えて、高分子化合物4が溶解している粘稠な2−ヘプタノン溶液を得た。高分子化合物4は、下記繰り返し単位を有している。括弧の添え数字は繰り返し単位のモル分率を示している。
2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ製)15.00g、ビニルシンナメート(アルドリッチ製)8.97g、2−(O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工製、商品名「カレンズMOI−BM」)6.18g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.15g、2−ヘプタノン(和光純薬製)20.21gを、125ml耐圧容器(エース製)に入れ、アルゴンガスをバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で20時間重合させた。重合終了後、2−ヘプタノン50.51gを加えて、高分子化合物5が溶解している粘稠な2−ヘプタノン溶液を得た。高分子化合物5は、下記繰り返し単位を有している。括弧の添え数字は繰り返し単位のモル分率を示している。
2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ製)10.00g、4−ヒドロキシブチルアクリレート(株式会社 興人製)3.71g、ビニルシンナメート(アルドリッチ製)1.50g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.08g、2−ヘプタノン(和光純薬製)22.92gを、125ml耐圧容器(エース製)に入れ、アルゴンガスをバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で20時間重合させた。重合終了後、2−ヘプタノン38.20gを加えて、高分子化合物6が溶解している粘稠な2−ヘプタノン溶液を得た。高分子化合物6は、下記繰り返し単位を有している。括弧の添え数字は繰り返し単位のモル分率を示している。高分子化合物6は、分子内に活性水素を少なくとも2つ以上含有する化合物である
2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ製)20.00g、4−アミノスチレン(アルドリッチ製)6.13g、ビニルシンナメート(アルドリッチ製)2.99g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.15g、2−ヘプタノン(和光純薬製)43.90gを、125ml耐圧容器(エース製)に入れ、アルゴンガスをバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で20時間重合させ、高分子化合物7が溶解している粘稠な2−ヘプタノン溶液を得た。高分子化合物7は、下記繰り返し単位を有している。括弧の添え数字は繰り返し単位のモル分率を示している。高分子化合物7は、分子内に活性水素を少なくとも2つ以上含有する化合物である
三方コックを付けた100mlの三口フラスコに3−ビニルベンズアルデヒド(アルドリッチ製)20.07g、アセトフェノン(アルドリッチ製)23.00g、攪拌子を入れ、マグネチックスターラーで攪拌して均一な反応混合液を調整した。フラスコを氷浴に浸け、攪拌子しながら反応混合液に触媒量の濃硫酸を加え、氷冷下、1時間反応させた。氷浴をはずし、NMR分析により原料であるビニルベンズアルデヒドのピークの消失を確認するまで、室温にて更に反応混合液の攪拌を続け、反応させた。反応終了後、反応混合物を分液ロートに移し、ジエチルエーテル100mlを加え、水層が中性になるまで水洗を繰り返した。水洗終了後、有機層を分液し、硫酸マグネシウムで乾燥した後、ろ液をロータリーエバポレーターで濃縮して3−ビニルスチリルフェニルケトン粗製物を得た。該粗製物に含まれている3−ビニルスチリルフェニルケトンはシス体とトランス体の混合物であった。NMRから求めた3−ビニルスチリルフェニルケトンの純度は、74%であった。
三方コックを付けた500mlの三口フラスコに、シアノ酢酸(和光純薬製)25.00g、水酸化ナトリウム(和光純薬製)12.34g、イオン交換水250ml、攪拌子を入れ、マグネチックスターラーで攪拌して均一な反応混合液を調整した。フラスコを氷浴に浸け、反応混合液に攪拌子しながら、けい皮アルデヒド38.84gを滴下した。氷冷下、1時間反応させた後、氷浴をはずし、室温で更に4時間反応させた。反応終了後、反応混合物中の液体成分が酸性になるまで反応混合物に濃塩酸を滴下した。析出した固体をガラスフィルターでろ過し、ろ物をイオン交換水でろ液が中性になるまで水洗し、真空オーブン中で乾燥し、シアノシンナミリデン酢酸を得た。得量は、39.68gであった。
(有機薄膜トランジスタ絶縁層材料及び電界効果型有機薄膜トランジスタの製造)
合成例1で得た高分子化合物1の2−ヘプタノン溶液2.00g、分子内に活性水素を少なくとも2つ以上含有する化合物であるヒドロキノン0.029g、2−ヘプタノン4.00gを10mlのサンプル瓶に入れ、攪拌しながら溶解して、有機薄膜トランジスタ絶縁層材料を含む均一な塗布溶液を調製した。
(有機薄膜トランジスタ絶縁層材料及び電界効果型有機薄膜トランジスタの製造)
合成例2で得た高分子化合物2の2−ヘプタノン溶液2.00g、ヒドロキノン0.023g、2−ヘプタノン4.00gを10mlのサンプル瓶に入れ、攪拌溶解して、有機薄膜トランジスタ絶縁層材料を含む均一な塗布溶液を調製した。
(有機薄膜トランジスタ絶縁層材料及び電界効果型有機薄膜トランジスタの製造)
合成例4で得た高分子化合物4の2−ヘプタノン溶液45.00g、合成例6で得た高分子化合物6の2−ヘプタノン溶液25.11g、2−ヘプタノン35.10gを150mlのサンプル瓶に入れ、攪拌溶解して、有機薄膜トランジスタ絶縁層材料を含む均一な塗布溶液を調製した。
(有機薄膜トランジスタ絶縁層材料及び電界効果型有機薄膜トランジスタの製造)
合成例4で得た高分子化合物4の2−ヘプタノン溶液41.21g、合成例7で得た高分子化合物7の2−ヘプタノン溶液11.01g、2−ヘプタノン50.00gを150mlのサンプル瓶に入れ、攪拌溶解して、有機薄膜トランジスタ絶縁層材料を含む均一な塗布溶液を調製した。
(有機薄膜トランジスタ絶縁層材料及び電界効果型有機薄膜トランジスタの製造)
合成例5で得た高分子化合物5の2−ヘプタノン溶液45.00g、合成例7で得た高分子化合物7の2−ヘプタノン溶液16.62g、2−ヘプタノン57.00gを150mlのサンプル瓶に入れ、攪拌溶解して、有機薄膜トランジスタ絶縁層材料を含む均一な塗布溶液を調製した。
(有機薄膜トランジスタ絶縁層材料及び電界効果型有機薄膜トランジスタの製造)
合成例8で得た高分子化合物8を0.5g、1,3−ビス(3’−アミノフェノキシ)ベンゼンを0.068g、2−ヘプタノンを2.5g、30mlのサンプル瓶に入れ、攪拌溶解して、有機薄膜トランジスタ絶縁層材料を含む均一な塗布溶液を調製した。
(有機薄膜トランジスタ絶縁層材料及び電界効果型有機薄膜トランジスタの製造)
合成例9で得た高分子化合物9を0.63g、1,3−ビス(3’−アミノフェノキシ)ベンゼンを0.079g、シクロペンタノンを5.38g、30mlのサンプル瓶に入れ、攪拌溶解して、有機薄膜トランジスタ絶縁層材料を含む均一な塗布溶液を調製した。
こうして作製した電界効果型有機薄膜トランジスタについて、ゲート電圧Vgを0〜−40V、ソース・ドレイン間電圧Vsdを0〜−40Vに変化させた条件で、そのトランジスタ特性を真空プロ−バ(BCT22MDC−5−HT−SCU;Nagase Electronic Equipments Service Co., LTD製)を用いて測定した。結果を表1に示す。
(電界効果型有機薄膜トランジスタの製造)
高分子化合物1に代えてポリビニルフェノール(アルドリッチ製、Mn=8000)を用い、ゲート絶縁層の形成時にUV照射を行わない以外は実施例1と同様にして電界効果型有機薄膜トランジスタを作製し、トランジスタ特性を測定し、評価した。
2…ゲート電極、
3…ゲート絶縁層、
4…有機半導体層、
5…ソース電極、
6…ドレイン電極、
7…オーバーコート。
Claims (13)
- 式
[式中、R1は、水素原子又はメチル基を表す。Rは、水素原子又は炭素数1〜20の一価の有機基を表す。Rfは、フッ素原子又はフッ素原子を有する炭素数1〜20の一価の有機基を表す。Raaは、主鎖と側鎖とを連結する連結部分を表す。該連結部分中の水素原子は、フッ素原子で置換されていてもよい。aは、0又は1の整数を表し、bは、1〜5の整数を表す。Rが複数個ある場合、それらは同一でも相異なっていてもよい。Rfが複数個ある場合、それらは同一でも相異なっていてもよい。]
で表される繰り返し単位及び光エネルギー又は電子線のエネルギーを吸収して二量化反応を起こす官能基を含有する繰り返し単位を含有し、かつ、分子内に第1の官能基を2つ以上含有し、該第1の官能基が、電磁波もしくは熱の作用により、活性水素と反応する第2の官能基を生成する官能基である高分子化合物(A)と、
分子内に活性水素を2つ以上含有する低分子化合物及び分子内に活性水素を2つ以上含有する高分子化合物からなる群から選ばれる少なくとも1種の活性水素化合物(B)とを、含有する有機薄膜トランジスタ絶縁層材料であって、
該第1の官能基が、ブロック化剤でブロックされたイソシアナト基及びブロック化剤でブロックされたイソチオシアナト基からなる群から選ばれる少なくとも1種の基である有機薄膜トランジスタ絶縁層材料。 - 請求項1〜6のいずれか一項に記載の有機薄膜トランジスタ絶縁層材料を含む液体を基材に塗布して該基材上に塗布層を形成する工程;及び
該塗布層に対して光又は電子線を照射することにより高分子化合物(A)の光エネルギー又は電子線のエネルギーを吸収して二量化反応を起こす官能基を二量化反応させる工程;及び
該塗布層に対して電磁波又は熱を印加することにより高分子化合物(A)の第1の官能基から第2の官能基を生成させて、該第2の官能基を活性水素化合物(B)の活性水素含有基と反応させる工程;
を包含する有機薄膜トランジスタ絶縁層の形成方法。 - 前記光が紫外線である請求項7に記載の有機薄膜トランジスタ絶縁層の形成方法。
- 請求項1〜6のいずれか一項に記載の有機薄膜トランジスタ絶縁層材料を用いて形成した有機薄膜トランジスタ絶縁層を有する有機薄膜トランジスタ。
- 前記有機薄膜トランジスタ絶縁層がゲート絶縁層である請求項9に記載の有機薄膜トランジスタ。
- 請求項9又は10に記載の有機薄膜トランジスタを含むディスプレイ用部材。
- 請求項11に記載のディスプレイ用部材を含むディスプレイ。
- 式
[式中、R1は、水素原子又はメチル基を表す。Rは、水素原子又は炭素数1〜20の一価の有機基を表す。Rfは、フッ素原子又はフッ素原子を有する炭素数1〜20の一価の有機基を表す。Raaは、主鎖と側鎖とを連結する連結部分を表す。該連結部分中の水素原子は、フッ素原子で置換されていてもよい。aは、0又は1の整数を表し、bは、1〜5の整数を表す。Rが複数個ある場合、それらは同一でも相異なっていてもよい。Rfが複数個ある場合、それらは同一でも相異なっていてもよい。]
で表される繰り返し単位及び式
[式中、R16は、水素原子又はメチル基を表す。R17〜R23は、同一又は相異なり、水素原子又は炭素数1〜20の一価の有機基を表す。Rddは、主鎖と側鎖とを連結する連結部分を表す。該連結部分中の水素原子は、フッ素原子で置換されていてもよい。]
で表される繰り返し単位を含有し、かつ、分子内に第1の官能基を2つ以上含有し、該第1の官能基が、電磁波もしくは熱の作用により、活性水素と反応する第2の官能基を生成する官能基である高分子化合物であって、
該第1の官能基が、ブロック化剤でブロックされたイソシアナト基及びブロック化剤でブロックされたイソチオシアナト基からなる群から選ばれる少なくとも1種の基である高分子化合物。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010251372A JP5666251B2 (ja) | 2009-11-17 | 2010-11-10 | 光及び熱エネルギー架橋性有機薄膜トランジスタ絶縁層材料 |
Applications Claiming Priority (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009261966 | 2009-11-17 | ||
| JP2009261966 | 2009-11-17 | ||
| JP2010110998 | 2010-05-13 | ||
| JP2010110998 | 2010-05-13 | ||
| JP2010209543 | 2010-09-17 | ||
| JP2010209543 | 2010-09-17 | ||
| JP2010251372A JP5666251B2 (ja) | 2009-11-17 | 2010-11-10 | 光及び熱エネルギー架橋性有機薄膜トランジスタ絶縁層材料 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2012084823A JP2012084823A (ja) | 2012-04-26 |
| JP5666251B2 true JP5666251B2 (ja) | 2015-02-12 |
Family
ID=44059572
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010251372A Expired - Fee Related JP5666251B2 (ja) | 2009-11-17 | 2010-11-10 | 光及び熱エネルギー架橋性有機薄膜トランジスタ絶縁層材料 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20120292626A1 (ja) |
| JP (1) | JP5666251B2 (ja) |
| KR (1) | KR20120105471A (ja) |
| CN (1) | CN102612752A (ja) |
| DE (1) | DE112010004463T5 (ja) |
| TW (1) | TW201129599A (ja) |
| WO (1) | WO2011062093A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW201126606A (en) * | 2009-09-15 | 2011-08-01 | Sumitomo Chemical Co | Photocrosslinkable organic thin-film transistor insulation layer material |
| JP5740836B2 (ja) * | 2009-10-29 | 2015-07-01 | 住友化学株式会社 | 光電変換素子 |
| JP5938192B2 (ja) * | 2010-11-10 | 2016-06-22 | 住友化学株式会社 | 有機素子材料 |
| JP6025326B2 (ja) * | 2011-12-21 | 2016-11-16 | 住友化学株式会社 | 電子デバイス絶縁層材料、及び電子デバイス |
| US8878169B2 (en) | 2012-02-07 | 2014-11-04 | Polyera Corporation | Photocurable polymeric materials and related electronic devices |
| EP2812931B1 (en) * | 2012-02-07 | 2018-06-13 | Flexterra, Inc. | Electronic devices comprising photocurable polymeric materials |
| JP6087898B2 (ja) * | 2012-03-01 | 2017-03-01 | 住友化学株式会社 | 電子デバイス絶縁層及び電子デバイス絶縁層の製造方法 |
| US8692238B2 (en) | 2012-04-25 | 2014-04-08 | Eastman Kodak Company | Semiconductor devices and methods of preparation |
| KR102279015B1 (ko) * | 2014-06-30 | 2021-07-19 | 엘지디스플레이 주식회사 | 자기치유 중합체 및 이를 포함하는 플렉서블 표시장치 |
| WO2017141932A1 (ja) * | 2016-02-18 | 2017-08-24 | 住友化学株式会社 | 高分子化合物、組成物、絶縁層および有機薄膜トランジスタ |
| KR20190022459A (ko) * | 2016-06-27 | 2019-03-06 | 에이지씨 가부시키가이샤 | 수지 조성물, 코팅액, 이형막이 형성된 금형 및 그 제조 방법 |
| KR102497680B1 (ko) * | 2020-09-22 | 2023-02-09 | 한국교통대학교 산학협력단 | 유기 절연층용 중합체 및 이를 포함하는 유기 박막 트랜지스터 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3828064A1 (de) * | 1988-08-18 | 1990-03-01 | Hoechst Ag | Polymerisate aus substituierten (2-haloalkoxy-1,1,2-trifluoraethoxy)-styrolen, verfahren zu ihrer herstellung und ihre verwendung |
| JP3254479B2 (ja) * | 1991-06-18 | 2002-02-04 | 関西ペイント株式会社 | 自己架橋性樹脂 |
| JP3594711B2 (ja) * | 1994-09-22 | 2004-12-02 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 電子ディバイス及び太陽電池 |
| US6613855B1 (en) * | 1997-04-09 | 2003-09-02 | Sanyo Chemical Industries, Ltd. | Polymerizable resin, and cured resins, insulators, components of electrical appliances, and electrical appliances made by using the same |
| JP5108210B2 (ja) * | 2004-06-21 | 2012-12-26 | 三星電子株式会社 | 有機絶縁膜組成物およびこれを用いた有機絶縁膜のパターン形成方法および有機薄膜トランジスタおよびこれを含む表示素子 |
| JP5037841B2 (ja) * | 2005-03-25 | 2012-10-03 | キヤノン株式会社 | 有機半導体素子、電界効果型トランジスタおよびそれらの製造方法 |
| JP2007042852A (ja) * | 2005-08-03 | 2007-02-15 | Kansai Paint Co Ltd | トランジスタ及びその製造方法 |
| JP4807159B2 (ja) | 2006-04-12 | 2011-11-02 | 凸版印刷株式会社 | 絶縁塗料、これから形成された有機絶縁膜、その形成方法および有機トランジスタ |
| JP5470686B2 (ja) * | 2006-08-04 | 2014-04-16 | 三菱化学株式会社 | 絶縁層、電子デバイス、電界効果トランジスタ及びポリビニルチオフェノール |
| US8207524B2 (en) * | 2006-08-04 | 2012-06-26 | Mitsubishi Chemical Corporation | Insulating layer, electronic device, field effect transistor, and polyvinylthiophenol |
| GB2458940B (en) * | 2008-04-03 | 2010-10-06 | Cambridge Display Tech Ltd | Organic thin film transistors |
| CN102138218B (zh) * | 2008-08-28 | 2013-07-31 | 住友化学株式会社 | 树脂组合物、栅极绝缘层和有机薄膜晶体管 |
-
2010
- 2010-11-10 WO PCT/JP2010/069968 patent/WO2011062093A1/ja not_active Ceased
- 2010-11-10 JP JP2010251372A patent/JP5666251B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2010-11-10 KR KR1020127015456A patent/KR20120105471A/ko not_active Withdrawn
- 2010-11-10 CN CN2010800520294A patent/CN102612752A/zh active Pending
- 2010-11-10 US US13/509,954 patent/US20120292626A1/en not_active Abandoned
- 2010-11-10 DE DE112010004463T patent/DE112010004463T5/de not_active Withdrawn
- 2010-11-15 TW TW099139161A patent/TW201129599A/zh unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2012084823A (ja) | 2012-04-26 |
| DE112010004463T5 (de) | 2012-10-31 |
| US20120292626A1 (en) | 2012-11-22 |
| WO2011062093A1 (ja) | 2011-05-26 |
| TW201129599A (en) | 2011-09-01 |
| KR20120105471A (ko) | 2012-09-25 |
| WO2011062093A9 (ja) | 2011-11-17 |
| CN102612752A (zh) | 2012-07-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130606 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140616 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140701 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140827 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141210 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |