JP5649431B2 - プラズマcvd装置 - Google Patents
プラズマcvd装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5649431B2 JP5649431B2 JP2010280489A JP2010280489A JP5649431B2 JP 5649431 B2 JP5649431 B2 JP 5649431B2 JP 2010280489 A JP2010280489 A JP 2010280489A JP 2010280489 A JP2010280489 A JP 2010280489A JP 5649431 B2 JP5649431 B2 JP 5649431B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film forming
- magnetic field
- film
- generating means
- field generating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 title claims description 50
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 57
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 19
- 239000010408 film Substances 0.000 description 240
- 238000005755 formation reaction Methods 0.000 description 53
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 53
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 description 19
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 10
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 8
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 8
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 7
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 6
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 6
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 5
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 5
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 3
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 3
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- UQEAIHBTYFGYIE-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisiloxane Chemical compound C[Si](C)(C)O[Si](C)(C)C UQEAIHBTYFGYIE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 239000012811 non-conductive material Substances 0.000 description 1
- 239000012785 packaging film Substances 0.000 description 1
- 229920006280 packaging film Polymers 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229920003208 poly(ethylene sulfide) Polymers 0.000 description 1
- 229920003207 poly(ethylene-2,6-naphthalate) Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 1
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/50—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/458—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
- C23C16/4582—Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
- C23C16/4587—Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially vertically
- C23C16/4588—Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially vertically the substrate being rotated
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/50—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
- C23C16/503—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using DC or AC discharges
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/54—Apparatus specially adapted for continuous coating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32018—Glow discharge
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32532—Electrodes
- H01J37/32568—Relative arrangement or disposition of electrodes; moving means
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/3266—Magnetic control means
- H01J37/32669—Particular magnets or magnet arrangements for controlling the discharge
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32733—Means for moving the material to be treated
- H01J37/32752—Means for moving the material to be treated for moving the material across the discharge
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32733—Means for moving the material to be treated
- H01J37/32752—Means for moving the material to be treated for moving the material across the discharge
- H01J37/32761—Continuous moving
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32733—Means for moving the material to be treated
- H01J37/32752—Means for moving the material to be treated for moving the material across the discharge
- H01J37/32761—Continuous moving
- H01J37/3277—Continuous moving of continuous material
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H1/00—Generating plasma; Handling plasma
- H05H1/24—Generating plasma
- H05H1/46—Generating plasma using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/32—Processing objects by plasma generation
- H01J2237/33—Processing objects by plasma generation characterised by the type of processing
- H01J2237/332—Coating
- H01J2237/3321—CVD [Chemical Vapor Deposition]
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H2245/00—Applications of plasma devices
- H05H2245/40—Surface treatments
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
Description
特許文献1に開示されたCVD装置は、真空に排気された真空チャンバ内にフィルムを巻き出す巻出ロールと巻き取る巻取ロールとを備えており、巻出ロールから巻き出されたフィルムに連続的に成膜を行った後、成膜済みのフィルムを巻取ロールで巻き取る機構となっている。この真空チャンバ内には、フィルムが巻きかけられた成膜ロールが一対配置されており、成膜ロール間には交流電源の両極が接続されている。また、特許文献1のCVD装置は、成膜ロール内に複数の磁石からなる磁場発生手段を備えており、この磁場発生手段は成膜ロールの表面に対する接線方向に沿って磁場を発生可能となっている。一方、交流電源を用いると、成膜ロールの外周面に対して法線方向に沿って電場が形成される。
即ち、本発明のプラズマCVD装置は、真空チャンバと、この真空チャンバ内に一対配備されると共にそれぞれが交流電源のいずれかの極に接続された成膜ロールとを備え、前記一対の成膜ロールに巻き掛けられた基材の表面にプラズマを発生させて成膜を行うプラズマCVD装置であって、前記一対の成膜ロールの間に在する対向空間に形成される第1成膜エリアと、当該対向空間以外の成膜ロールの表面に形成される第2成膜エリアと、の双方で成膜が行われることを特徴とするものである。
また、このような配置を採用する場合、前記成膜に用いられる原料ガスを対向空間の上方から真空チャンバ内に供給するガス供給部と、前記第1成膜エリアから第2成膜エリアを通って導かれた原料ガスをそれぞれの成膜ロールの下側から真空チャンバ外に排気するガス排気部とを設けると良い。
なお、前記第1成膜エリアにプラズマを生起させる第1磁場発生手段と、前記第2成膜エリアにプラズマを生起させる第2磁場発生手段とは、いずれも成膜ロールの内部に設けることもできる。成膜ロールの内部に第1磁場発生手段と第2磁場発生手段を設けることによって、装置全体をコンパクトに構成することができる。また、成膜エリアを成膜ロール表面近傍に発生させることができる。
また、前記第1磁場発生手段を成膜ロールの内部に設け、前記第2磁場発生手段を成膜ロールの外部であって成膜ロールの下方に設けることもできる。このようにすることによって、前記第2磁場発生手段として通常使用されている平板状の磁場発生手段を使用することができる。
また、前記第1磁場発生手段及び第2磁場発生手段は、成膜ロールの周方向に連続した1つの部材として配備されているのが好ましい。このようにすることで省スペース的を図ることができ、装置をコンパクトに構成することができる。
さらに、当該1つの部材は、中央磁極とレーストラック状の周囲磁極で構成したマグネトロン磁場発生機構を複数並置すると共に、隣り合うマグネトロン磁場発生機構間でレーストラック状の周囲磁極を共通化したものを備えていても良い。このように隣り合うマグネトロン磁場発生機構で磁極を共有化することで、磁場発生機構を小型化可能で狭い成膜ロール内に配置が可能となる。
また、本発明に係るプラズマCVD装置の最も好ましい形態は、真空チャンバと、この真空チャンバ内に一対配備されると共にそれぞれが交流電源のいずれかの極に接続された成膜ロールとを備え、前記一対の成膜ロールに巻き掛けられた基材の表面にプラズマを発生させて成膜を行うプラズマCVD装置であって、前記一対の成膜ロールに第1のプラズマを発生させるための第1磁場発生手段と、第2のプラズマを発生させるための第2磁場発生手段とをそれぞれ備え、前記第1磁場発生手段を前記一対の成膜ロールの内部にそれぞれ配備して前記一対の成膜ロールの間に在する対向空間に形成される第1成膜エリアと、前記第2磁場発生手段を、前記第1磁場発生手段と前記成膜ロール表面に沿って異なる位置に配備して前記一対の成膜ロールのそれぞれの表面に形成される第2成膜エリアと、の双方で成膜が行われることを特徴とする。
なお、好ましくは、前記第1磁場発生手段は、前記一対の成膜ロールのそれぞれに第1のレーストラック状のマグネトロンプラズマを発生させ、第2磁場発生手段は、前記一対の成膜ロールのそれぞれに第2のレーストラック状のマグネトロンプラズマを発生させるものであるとよい。
以下、本発明に係るプラズマCVD装置1の実施形態を、図面に基づき詳しく説明する。
図1は、本発明の第1実施形態に係るプラズマCVD装置1の全体構成を示している。
本実施形態のプラズマCVD装置1は、減圧下において、互いに対向して配置した一対の成膜ロール2、2に交流あるいは極性反転を伴うパルス電圧を印加し、成膜ロール2、2の間の対向空間3にグロー放電を発生させ、グロー放電で電離した原料ガス(成膜ガス)のプラズマを用いて基材WにプラズマCVDによる成膜を行うものである。
まず、真空チャンバ4は、上下左右前後が隔壁で囲まれており、外部に対して内部を気密的に保持できるようになっている。真空チャンバ4の下側の隔壁に形成された排気口9には、真空チャンバ4の内部を真空状態または真空に準じた低圧状態まで排気する真空ポンプ5が設けられている。真空ポンプ5により真空(低圧)とされた真空チャンバ4内部に対してはガス供給部7から成膜ガスが供給され、真空ポンプ5からの排気とガス供給部7からの給気とのバランスを取ることで真空チャンバ4の内部を適切な圧力に制御できるようになっている。
このプラズマ電源6の両極は、いずれも真空チャンバ4から絶縁されたフローティング電位とされていて、一対の成膜ロール2、2のそれぞれに接続されて成膜ロール2、2間に放電を生起可能な電位を付与する構成とされている。なお、プラズマ電源6から供給されるパルス状の電圧としては、図3(c)に示すような短い同じ極性のパルスが一定回数だけ連続して発信された後、極性を変えて短いパルスが同じ回数だけ発信され、以降はその繰り返しが行われるようなものを採用することもできる。
ガス供給部7は、左側の成膜ロール2から見て右上方、右側の成膜ロール2から見て左上方の真空チャンバ4内に配備された管状の部材であり、成膜ロール2と平行な方向を向くように取り付けられている。ガス供給部7は、空洞とされた管の内部を通じて、後述する成膜ガスを真空チャンバ4の外部から内部に案内可能となっている。ガス供給部7の下側には、成膜ガスを下方に向かって噴出させる細孔13が多数設けられており、細孔13から噴出された成膜ガスは成膜ロール2、2間の対向空間3に供給される。
磁場発生手段として、真空チャンバ4内での設置場所を変えて、第1磁場発生手段8と第2磁場発生手段15との2つ(複数)が設けられている。
図2に示すように、第1磁場発生手段8は、成膜ロール2の内部であって且つもう一方の成膜ロール2との間に形成される対向空間3に近い側に配備されている。すなわち、第1磁場発生手段8は、成膜ロール2間の対向空間3に磁場を形成可能なように、成膜ロール2の周壁内面の中でも対向空間3に面する部分に沿って配備されている。図例では、第1磁場発生手段8は、左側の成膜ロール2の場合であれば、内周面に沿って時計盤の2時から4時の位置、右側の成膜ロール2の場合であれば、内周面に沿って時計盤の8時から10時の位置に配備されている。第1の磁場発生手段8は、例えば、図4に開示されたようなプレーナーマグネトロンスパッタカソードに用いられる磁場発生手段と同様な構造を備えたものが採用されている。
しかし、このような第1成膜エリア19だけでは成膜エリアは十分に広いとは言えず、成膜速度を高くすることはできない。そこで、本発明のプラズマCVD装置1では、別の成膜領域(第2成膜エリア20)を設けて、この第2成膜エリア20でも成膜を行うことにより成膜速度を大きくしているのである。
図2に示すように、本実施形態の第2磁場発生手段15は、成膜ロール2の内部であって且つロール内周壁の中でも下側の部分に沿って配備されている。このロール内周壁の中でも下側の部分と第2磁場発生手段15とは互いに近接した位置関係とされている。図例では、第2磁場発生手段15は、例えば時計盤の5時から7時の周方向位置に配備されている。
以上述べた第1実施形態のプラズマCVD装置1を用いて、基材Wに成膜を行う際の手順について述べる。
そうすると、ガス供給部7の下面に形成された細孔13から成膜ガスが対向空間3に噴出し、対向空間3が成膜ガスで充満される。この状態で、プラズマ電源6から第1磁場発生手段8及び第2磁場発生手段15が配備された、成膜ロール2、2間に交流電圧を印加すると、第1磁場発生手段8により成膜ロール2、2間の対向空間3の第1成膜エリア19、成膜ロール2の下方が第2成膜エリア20となってこれらの成膜エリアにマグネトロン放電が起こる。
[第2実施形態]
次に、本発明に係るプラズマCVD装置1の第2実施形態を説明する。
つまり、第2実施形態の第2磁場発生手段15は、左側の成膜ロール2の場合であれば、例えば時計盤における短針の4時から5時の周方向位置と、5時から7時の周方向位置との2箇所に配備されている。また、右側の成膜ロール2の場合であれば、例えば時計盤における短針の7時から8時の周方向位置と、8時から10時の周方向位置との2箇所に配備されている。
[第3実施形態]
次に、本発明に係るプラズマCVD装置1の第3実施形態を説明する。
[第4実施形態]
次に、本発明に係るプラズマCVD装置1の第4実施形態のプラズマCVD装置1を説明する。
なお、成膜ロール2は、同径、同長である方が好ましいが、必ずしも同径、同長でなくても良い。また、成膜ロール2同士の軸心は互いに水平に配備されているのが好ましいが、必ずしも水平でなくても良い。
2 成膜ロール
3 対向空間
4 真空チャンバ
5 真空ポンプ
6 プラズマ電源
7 ガス供給部
8 磁場発生手段
9 排気口
10 巻出ロール
11 巻取ロール
12 ガイドロール
13 細孔
14 ガス分流板
15 第1磁場発生手段
16 中央の磁石
17 レーストラック状の周囲磁石
18 固定部材
19 第1成膜エリア
20 第2成膜エリア
21 ケース
W 基材
Claims (7)
- 真空チャンバと、この真空チャンバ内に一対配備されると共にそれぞれが交流電源のいずれかの極に接続された成膜ロールとを備え、前記一対の成膜ロールに巻き掛けられた基材の表面にプラズマを発生させて成膜を行うプラズマCVD装置であって、
前記一対の成膜ロールに第1のプラズマを発生させるための第1磁場発生手段と、第2のプラズマを発生させるための第2磁場発生手段とをそれぞれ備え、
前記第1磁場発生手段を前記一対の成膜ロールの内部にそれぞれ配備して前記一対の成膜ロールの間に在する対向空間に形成される第1成膜エリアと、
前記第2磁場発生手段を、前記第1磁場発生手段と前記成膜ロール表面に沿って異なる位置に配備して前記一対の成膜ロールのそれぞれの表面に形成される第2成膜エリアと、の双方で成膜が行われることを特徴とするプラズマCVD装置。 - 前記一対の成膜ロールは、互いの軸芯が水平方向に距離をあけて平行となるように配備されており、
前記第2成膜エリアは、前記成膜ロールの下側の空間に、成膜ロールの表面に沿うようにして形成されていることを特徴とする請求項1に記載のプラズマCVD装置。 - 前記成膜に用いられる原料ガスを対向空間の上方から真空チャンバ内に供給するガス供給部と、前記第1成膜エリアから第2成膜エリアを通って導かれた原料ガスをそれぞれの成膜ロールの下側から真空チャンバ外に排気するガス排気部とが設けられていることを特徴とする請求項2に記載のプラズマCVD装置。
- 前記第1成膜エリアにプラズマを生起させる第1磁場発生手段が成膜ロールの内部に設けられていて、前記第2成膜エリアにプラズマを生起させる第2磁場発生手段が成膜ロールの外部であって成膜ロールの下方に設けられていることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のプラズマCVD装置。
- 前記第1磁場発生手段及び第2磁場発生手段は、成膜ロールの周方向に互いに別の部材として配備されると共に、それぞれの磁場発生手段の互いに隣り合う磁石の磁極が同極になるように取り付けられていることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のプラズ
マCVD装置。 - 前記第1磁場発生手段及び第2磁場発生手段は、成膜ロールの周方向に連続した1つの部材として配備されており、第1の磁場発生手段と第2の磁場発生手段で一部の磁極を共有していることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のプラズマCVD装置。
- 前記第1磁場発生手段は、前記一対の成膜ロールのそれぞれに第1のレーストラック状のマグネトロンプラズマを発生させ、第2磁場発生手段は、前記一対の成膜ロールのそれぞれに第2のレーストラック状のマグネトロンプラズマを発生させることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載のプラズマCVD装置。
Priority Applications (9)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010280489A JP5649431B2 (ja) | 2010-12-16 | 2010-12-16 | プラズマcvd装置 |
| KR1020137015444A KR101533902B1 (ko) | 2010-12-16 | 2011-11-25 | 플라즈마 cvd 장치 |
| EP11848774.3A EP2653586B1 (en) | 2010-12-16 | 2011-11-25 | Plasma cvd apparatus |
| US13/994,799 US20130269610A1 (en) | 2010-12-16 | 2011-11-25 | Plasma cvd apparatus |
| BR112013015214A BR112013015214A2 (pt) | 2010-12-16 | 2011-11-25 | aparelho cvd de plasma |
| CN201180060443.4A CN103249865B (zh) | 2010-12-16 | 2011-11-25 | 等离子体cvd装置 |
| PCT/JP2011/006570 WO2012081171A1 (ja) | 2010-12-16 | 2011-11-25 | プラズマcvd装置 |
| RU2013132764/02A RU2545977C2 (ru) | 2010-12-16 | 2011-11-25 | Плазменное устройство для cvd |
| TW100145750A TWI475127B (zh) | 2010-12-16 | 2011-12-12 | Plasma CVD device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010280489A JP5649431B2 (ja) | 2010-12-16 | 2010-12-16 | プラズマcvd装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2012126969A JP2012126969A (ja) | 2012-07-05 |
| JP5649431B2 true JP5649431B2 (ja) | 2015-01-07 |
Family
ID=46244291
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010280489A Active JP5649431B2 (ja) | 2010-12-16 | 2010-12-16 | プラズマcvd装置 |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20130269610A1 (ja) |
| EP (1) | EP2653586B1 (ja) |
| JP (1) | JP5649431B2 (ja) |
| KR (1) | KR101533902B1 (ja) |
| CN (1) | CN103249865B (ja) |
| BR (1) | BR112013015214A2 (ja) |
| RU (1) | RU2545977C2 (ja) |
| TW (1) | TWI475127B (ja) |
| WO (1) | WO2012081171A1 (ja) |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5270505B2 (ja) * | 2009-10-05 | 2013-08-21 | 株式会社神戸製鋼所 | プラズマcvd装置 |
| JP5641877B2 (ja) * | 2010-10-29 | 2014-12-17 | 株式会社神戸製鋼所 | プラズマcvd装置 |
| JP5828770B2 (ja) * | 2012-01-24 | 2015-12-09 | 株式会社神戸製鋼所 | 真空成膜装置 |
| US20150247241A1 (en) * | 2012-10-19 | 2015-09-03 | Konica Minolta, Inc. | Method for producing gas barrier film, gas barrier film, and electronic device |
| KR101619152B1 (ko) * | 2012-12-05 | 2016-05-12 | (주)에스엔텍 | 플라즈마 화학기상 장치 |
| KR101521606B1 (ko) * | 2012-12-17 | 2015-05-19 | (주)에스엔텍 | 플라즈마 화학기상 장치 |
| GB2534430B (en) * | 2013-02-01 | 2017-09-27 | Camvac Ltd | Apparatus and methods for defining a plasma |
| JP6021677B2 (ja) * | 2013-02-15 | 2016-11-09 | 株式会社神戸製鋼所 | プラズマcvd装置 |
| KR101538410B1 (ko) * | 2013-06-28 | 2015-07-29 | (주)에스엔텍 | 플라즈마 화학기상 장치 및 플라즈마 화학기상 장치용 전극유닛 |
| KR101538408B1 (ko) * | 2013-06-28 | 2015-07-22 | (주)에스엔텍 | 플라즈마 화학기상 장치 |
| KR101538409B1 (ko) * | 2013-08-20 | 2015-07-22 | (주)에스엔텍 | 플라즈마 화학기상 장치 및 플라즈마 화학기상 장치용 전극유닛 |
| WO2015029732A1 (ja) * | 2013-08-27 | 2015-03-05 | コニカミノルタ株式会社 | ガスバリアフィルムおよびガスバリアフィルムの製造方法 |
| WO2015060234A1 (ja) * | 2013-10-25 | 2015-04-30 | コニカミノルタ株式会社 | 成膜方法及び成膜装置 |
| WO2015098672A1 (ja) * | 2013-12-26 | 2015-07-02 | 住友化学株式会社 | 積層フィルムおよびフレキシブル電子デバイス |
| JP6569685B2 (ja) * | 2014-11-21 | 2019-09-04 | コニカミノルタ株式会社 | 成膜装置及びガスバリアーフィルムの製造方法 |
| KR102109832B1 (ko) * | 2017-02-23 | 2020-05-12 | 주식회사 엘지화학 | 이차전지용 플라즈마 발생장치 및 그를 포함하는 라미네이션 시스템 |
| GB2562128B (en) | 2017-09-29 | 2020-08-05 | Camvac Ltd | Apparatus and Method for Processing, Coating or Curing a Substrate |
| JP6973718B2 (ja) * | 2018-03-19 | 2021-12-01 | 株式会社神戸製鋼所 | プラズマcvd装置、及びフィルムの製造方法 |
| CN118715339A (zh) * | 2022-02-16 | 2024-09-27 | 日东电工株式会社 | 等离子体cvd装置及膜的制造方法 |
| WO2024136206A1 (ko) * | 2022-12-20 | 2024-06-27 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 전극 표면 처리 장치 및 이를 포함하는 전극 코팅 시스템 |
| JP2025540131A (ja) * | 2022-12-22 | 2025-12-11 | エルジー エナジー ソリューション リミテッド | 電極製造装置および電極製造方法 |
Family Cites Families (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2587507B2 (ja) * | 1989-12-13 | 1997-03-05 | 松下電器産業株式会社 | 薄膜製造装置 |
| JPH0963792A (ja) * | 1995-08-25 | 1997-03-07 | Ulvac Japan Ltd | 磁気中性線放電プラズマ源 |
| JP3555797B2 (ja) * | 1996-03-11 | 2004-08-18 | 富士写真フイルム株式会社 | 成膜装置および成膜方法 |
| RU2208658C2 (ru) * | 2000-04-10 | 2003-07-20 | Розанов Леонид Николаевич | Способ и устройство для нанесения вакуумных покрытий на рулонные материалы |
| EP1390964B1 (en) * | 2001-04-20 | 2011-12-07 | General Plasma, Inc. | Dipole ion source |
| US7294283B2 (en) * | 2001-04-20 | 2007-11-13 | Applied Process Technologies, Inc. | Penning discharge plasma source |
| JP2003049273A (ja) * | 2001-08-08 | 2003-02-21 | Kobe Steel Ltd | プラズマcvd装置及びプラズマcvdによる成膜方法 |
| PT1347077E (pt) * | 2002-03-15 | 2006-09-29 | Vhf Technologies Sa | Aparelho e metodo para a producao de dispositivos semicondutores flexiveis |
| US20040009574A1 (en) * | 2002-07-09 | 2004-01-15 | Nanibhushan Dattagupta | Compositions and methods for detecting streptococcus agalactiae capsular polysaccharide synthesis genes |
| DE10255822B4 (de) * | 2002-11-29 | 2004-10-28 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren zum Bedampfen bandförmiger Substrate mit einer transparenten Barriereschicht aus Aluminiumoxid |
| JP4747658B2 (ja) * | 2005-04-22 | 2011-08-17 | 大日本印刷株式会社 | 成膜装置及び成膜方法 |
| JP4268195B2 (ja) * | 2007-02-13 | 2009-05-27 | 株式会社神戸製鋼所 | プラズマcvd装置 |
| JP2010522828A (ja) * | 2007-03-28 | 2010-07-08 | ダウ コ−ニング コ−ポレ−ション | ケイ素及び炭素を含むバリヤー層のロールツーロールプラズマ強化化学蒸着法 |
| JP5230185B2 (ja) * | 2007-12-13 | 2013-07-10 | 富士フイルム株式会社 | 反応性スパッタリング装置および反応性スパッタリングの方法 |
| JP2009174001A (ja) * | 2008-01-24 | 2009-08-06 | Fujifilm Corp | 成膜装置および成膜方法 |
| JP5270505B2 (ja) * | 2009-10-05 | 2013-08-21 | 株式会社神戸製鋼所 | プラズマcvd装置 |
| JP5641877B2 (ja) * | 2010-10-29 | 2014-12-17 | 株式会社神戸製鋼所 | プラズマcvd装置 |
| JP5828770B2 (ja) * | 2012-01-24 | 2015-12-09 | 株式会社神戸製鋼所 | 真空成膜装置 |
-
2010
- 2010-12-16 JP JP2010280489A patent/JP5649431B2/ja active Active
-
2011
- 2011-11-25 KR KR1020137015444A patent/KR101533902B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2011-11-25 CN CN201180060443.4A patent/CN103249865B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2011-11-25 EP EP11848774.3A patent/EP2653586B1/en not_active Not-in-force
- 2011-11-25 BR BR112013015214A patent/BR112013015214A2/pt not_active Application Discontinuation
- 2011-11-25 RU RU2013132764/02A patent/RU2545977C2/ru active
- 2011-11-25 US US13/994,799 patent/US20130269610A1/en not_active Abandoned
- 2011-11-25 WO PCT/JP2011/006570 patent/WO2012081171A1/ja not_active Ceased
- 2011-12-12 TW TW100145750A patent/TWI475127B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN103249865A (zh) | 2013-08-14 |
| RU2545977C2 (ru) | 2015-04-10 |
| EP2653586B1 (en) | 2016-03-02 |
| TW201237213A (en) | 2012-09-16 |
| KR101533902B1 (ko) | 2015-07-03 |
| RU2013132764A (ru) | 2015-01-27 |
| CN103249865B (zh) | 2015-10-14 |
| TWI475127B (zh) | 2015-03-01 |
| JP2012126969A (ja) | 2012-07-05 |
| EP2653586A4 (en) | 2015-05-27 |
| US20130269610A1 (en) | 2013-10-17 |
| EP2653586A1 (en) | 2013-10-23 |
| BR112013015214A2 (pt) | 2017-09-26 |
| KR20130088871A (ko) | 2013-08-08 |
| WO2012081171A1 (ja) | 2012-06-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5649431B2 (ja) | プラズマcvd装置 | |
| KR101148760B1 (ko) | 플라즈마 cvd 장치 | |
| CN102575349B (zh) | 等离子体cvd装置 | |
| JP6123796B2 (ja) | プラズマcvd装置およびプラズマcvd方法 | |
| US9562290B2 (en) | Plasma CVD apparatus | |
| KR20120091121A (ko) | 적층 필름의 제조 방법 | |
| JP2014189890A (ja) | 成膜装置及び成膜方法 | |
| JP5003270B2 (ja) | 真空成膜装置、および高分子フィルム積層体の製造方法 | |
| TWI713937B (zh) | 用以塗佈撓性基板的沉積設備、塗佈撓性基板之方法及具有塗佈之撓性基板 | |
| JP2014122419A (ja) | プラズマcvd装置 | |
| WO2009090987A1 (ja) | 大気圧プラズマ放電処理装置および大気圧プラズマ放電処理方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20121001 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140430 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140630 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20141111 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141111 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5649431 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |