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JP5185171B2 - 薄膜太陽電池の光吸収層の形成方法 - Google Patents

薄膜太陽電池の光吸収層の形成方法 Download PDF

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Description

本発明は、カルコパイライト型薄膜太陽電池の光吸収層の形成方法に係るものである。
カルコパイライト型薄膜太陽電池は、製造方法や材料のバリエーションが豊富であり、低コスト化、高性能化にも対応できることから、近年多くの研究機関や企業で開発が進められている。また、カルコパイライト型薄膜太陽電池は、多結晶型シリコンの太陽電池と比較して、大面積化し易く、製造時のエネルギー消費も少ないこと、大面積での量産化も可能であることから、商品開発も進展している。商品開発が最も行われているカルコパイライト(黄銅鉱)系材料は、Cu(In,Ga)Se、Cu(In,Ga)(SeS)である。
カルコパイライト型薄膜太陽電池の代表的な構造は積層構造となっており、下層から基板、裏面電極層、光吸収層、バッファ層、透明電極層によって構成されている。光吸収層は光を電力に変換するために光のエネルギーを吸収する機能を有しており、この光吸収層でのキャリアの生成と、その捕集能力を高めることが、太陽電池の高性能化にとって重要である。近年、光吸収層の半導体のバンドギャップをバッファ層側から裏面電極層側に向かって増大させた構造が提案されている(特許文献1参照)。また、その形成方法として、裏面電極層上へスパッタリング法や蒸着法によって予めGa層を形成し、形成したGa層上にさらにCu(In,Ga)Se層を形成した後に、熱処理してGa原子を拡散させる方法が記載されている。なお、バンドギャップは、主に、InとGaとの比率を変更することによって変化する。
国際公開第2004/090995号パンフレット
膜厚方向に構成元素比を変化させバンドギャップを変化させる構造(以下、バンドギャップ傾斜構造)を備えた光吸収層を形成する方法の1つは、特許文献1に記載の方法である。この手法では後工程の熱処理によるGaの拡散でバンドギャップ傾斜構造を制御するため、Gaの拡散定数に依存した分布しか得られず、膜厚方向の組成を任意に調整することができない。他方、蒸着法の1つである分子線エピタキシー成膜(MBE)法では段階的な組成変化の制御、つまり膜厚方向へのバンドギャップ傾斜構造の制御を厳密に行えることが知られている。しかし、MBE法は超高真空プロセスであり、設備コストやタクトタイムの面で不利である上に、大面積化が困難であるために太陽電池の量産手段としては不向きとされている。また、他の蒸着法やスパッタ法は量産に適した手法とされているが、スパッタターゲットに組成の制約があることから厳密な組成制御は行えず、所望のバンドギャップ傾斜構造を得ることができていない。
このような問題点を踏まえ、本願発明は、低コストで、太陽電池の大面積化を可能にし、任意のバンドギャップを有する薄い複数の光吸収層を多段階に積層させてバンドギャップ傾斜構造を形成し、効率を向上させる光吸収層の形成方法を提供することを目的とする。
本発明に係る薄膜太陽電池の光吸収層の形成方法は、光吸収層の構成元素を含む粒子と有機溶媒とを混合して、InとGaとの一方または双方、CuおよびSeを含む溶液を調製する溶液調製工程と、前記溶液を裏面電極が表面に備えられた基板の表面側に、塗布し、乾燥し、焼成する光吸収層形成工程とを有し、前記溶液は、InとGaとの組成比率が段階的に変化するように調製された複数の溶液から構成され、前記光吸収層形成工程は、積層を形成するべく、前記溶液がGaの組成比率が大きい溶液からInの組成比率が大きい溶液へと順に、塗布、乾燥、焼成されるように、所定の回数行われ、前記光吸収層形成工程の前記焼成の各々は、下層への前記粒子の拡散を抑えるべく、該焼成をする時点における最表層のみを短時間で加熱させる急速焼成であることを特徴とする。
前記構成において、前記光吸収層形成工程の急速焼成は、赤外線ランプ加熱炉またはレーザー光によって加熱されると好適である。
さらに前記構成の前記溶液調製工程は、光吸収層の構成元素を含む粒子と有機溶媒とを混合して、Cu,InおよびSeを含むCIS混合液を調製する第1混合工程と、光吸収層の構成元素を含む粒子と有機溶媒とを混合して、Cu,GaおよびSeを含むCGS混合液を調製する第2混合工程と、前記CIS混合液と前記CGS混合液とを混合して調製液とする調製工程とを有するように構成することもできる。
本発明に係る光吸収層の形成方法は、低コストで、太陽電池の大面積化を可能にし、異なるバンドギャップを有する薄い複数の光吸収層を多段階に積層させてバンドギャップ傾斜構造を形成し、エネルギー変換効率を向上させることができる。
実施形態に係る光吸収層が適用された太陽電池の一例を示す模式断面図である。 実施例に係るCIGS光吸収層を示す模式断面図である。 実施例に係るCIGS光吸収層の形成工程を示す工程フローである。 実施例に係るCIGS光吸収層のSIMS分析結果を示すグラフである。 実施例に係る太陽電池の電流−電圧特性を示すグラフである。
≪太陽電池の構成≫
以下、本発明に係る一実施形態について、具体的実施例を交えながら、図面を参照して説明する。図1は、実施形態に係る光吸収層が適用されたカルコパイライト型太陽電池の模式断面図である。太陽電池1は、基板2と、太陽電池1の正極を構成する裏面電極層3と、CIGS光吸収層4と、バッファ層5と、透明電極層6とが順に積層された多層積層構造と、透明電極層6に電気的に接続されて太陽電池1の負極を構成する電極7とを備える。
基板2には、ガラス素材が適用されるが、金属箔やプラスチック製にして軽量でフレキシブルにすることもできる。裏面電極層3はMo薄膜が適用されるが、その他にもW,Ti等の耐食性が高く、高融点の金属層を適用することができる。Cu,In,Ga,Seを組成とするCIGS光吸収層4はp型半導体であり、詳細は後述する。バッファ層5は、n型半導体のCdS,ZnS,InSを適用することができる。透明電極層6はn−ZnO半導体膜を適用できる。
CIGS光吸収層4以外の層は、太陽電池の製造に一般的に用いられる方法によって形成できる。基板2および裏面電極層3については、裏面電極3を表面に備えた基板2の半製品を利用してもよい。この裏面電極3は基板2上にスパッタリングにより形成することができる。CIGS光吸収層4上にバッファ層5を形成するためには浸漬浴堆積法を適用することができる。バッファ層5上に透明電極層6を形成するためにはスパッタリング法を適用することができる。透明電極層6上に電極7を形成するには、透明電極6と電極7とが電気的に接続できる一般的な方法を適用することができる。
実施例では、Mo裏面電極3を表面に備えたソーダライム硝子基板2の上に、後述のようにCIGS光吸収層4を形成した。その後、CIGS光吸収層4の上にInSバッファ層5とAZO(Al添加ZnO)透明導電膜(透明電極6)とを形成し、セル化を行った。InSバッファ層5(厚さ70nm)は浸漬浴堆積法を用い、AZO透明電膜(厚さ1.0μm)はRFスパッタ法を用いて形成した。
≪CIGS光吸収層≫
図2は、実施形態に係る、基板2、裏面電極3およびCIGS光吸収層4を模式的に示した断面図である。裏面電極層3上に形成されるCIGS光吸収層4(図2右図)は、組成の異なるインク(溶液)10が順次塗布、乾燥、急速焼成されて結晶化した層(図2左図)の積層である。ここで、インク10の組成の違いは、主としてInとGaとの比率の相違であり、インク10は、異なる組成を有する複数のインク10の中から、下層から上層に行くほど、Ga含有量が減少してIn含有量が増加するように選択されて塗布、乾燥、急速焼成が繰り返される。そのため、CIGS光吸収層4は、裏面電極層3側からバッファ層5側に向けてGa含有量が減少し、In含有量が増加する傾斜構造をとる。各インク10の原料は、Cu,In,Ga,Seを成分とする粒子を有機溶媒に溶かしたものである(ただし、InまたはGaの組成が0の場合を含む)。例えば、図2に示す、一実施例では、InとGaの比が、6:4,5.5:4.5,5:5,4.5:5.5,4:6,3.5:6.5,3:7,2.5:7.5,2:8の9種類のインク10を使用した。このような傾斜構造をとることにより、光エネルギーの電力への変換効率を上げることができる。
図3は、CIGS光吸収層をGaとInとの組成が段階的に変化する積層とするための、光吸収層の形成を示す工程フローである。
まず、組成(Cu,In,Ga,Se)、特にInとGaとの比率が異なる複数のインク10を調製する(溶液調製工程、ステップST1)。詳しくは、組成の異なる2つのCu(In,Ga)Se粒子を化学合成してそれぞれを有機溶媒と混合した(第1混合工程、第2混合工程)後にその2つの混合液を任意の混合比率で混合して調製する(調製工程)。例えば、2つの溶液は、CuInSeを溶質とするCIS溶液およびCuGaSeを溶質とするCGS溶液としても良い。このようにすると、インク10の調製が容易になり、組成比率の変更にも容易に対応できる。
実施例では、2つのカルコパイライト混合液として、CISナノ粒子インクおよびCGSナノ粒子インクを調製した。CISナノ粒子インクは、組成モル比がCu:In:Se=21:24:55、サイズが4nmのCISナノ粒子とトルエンとを重量比1:3で混合して調製した。また、CGSナノ粒子インクは、組成モル比がCu:Ga:Se=18:22:60、サイズが4nmのCGSナノ粒子とトルエンとを重量比1:5で混合して調製した。ここで、CISナノ粒子と比較してCGSナノ粒子のSeの割合が大きいのは、Seと裏面電極層3中のMoの反応性が高く、化合物を形成しやすいため、CGS粒子の割合が大きい光吸収層4の下部でSeが欠乏した膜にならないようにするためである。なお、インクの粘度は共に5mPa・sであった。さらに、CISナノ粒子インクとCGSナノ粒子インクとを混合し、異なる混合比の9つのインクを調製した。混合比は、CIS:CGS=6:4,5.5:4.5,5:5,4.5:5.5,4:6,3.5:6.5,3:7,2.5:7.5,2:8、とした。
次に、裏面電極を表面に備えた基板上に、ST11の番号の小さいものからインク10が塗布される(ステップST2)。実施例では、Mo裏面電極を表面に備えたソーダライム硝子基板上に、スピンコート法によってインク10を塗布した(3000rpm×30sec)。なお、塗布方法は、スピンコータではなく、バーコータ、ディップコータ、またはインクジェット印刷等を用いてもよい。
次に、塗布されたインク10が乾燥される(ステップST3)。実施例では、ホットプレートを用い、10分間100℃で、塗布されたインク10を乾燥させた。
次に、乾燥させたインクが加熱アニール処理によって急速焼成され(ステップST4)、インク10中の粒子は緻密な膜へと成長する。加熱後の膜厚は、0.05〜0.3μm程度である。急速焼成は、短時間で昇温が可能なラピッドサーマルアニーリング(RTA)を適用することができるが、それに限定されない。実施例では、赤外ランプ加熱炉を使用して500℃で急速焼成(RTA)が行われた。アニール条件は、昇温および降温時間は3分、保持時間は1分とした。この結果、スピンコート直後に約0.3μmであった塗布膜の膜厚は約0.2μmに変化した。
そして、ステップST2からステップST4の光吸収層形成工程が所定の回数繰り返される。この工程の繰り返しにおいて塗布されるインク10は、Gaの組成比率が大きい(Inの組成比率が小さい)インク10から、順次、Gaの組成比率が小さい(Inの組成比率が大きい)インク10へと変更される。実施例では、ST11のインクの番号の小さい順にこの工程を9回繰り返した。すなわち、インク10は、CISとCGSとの比が2:8,2.5:7.5,3:7,3.5:6.5,4:6,4.5:5.5,5:5,5.5:4.5,6:4という順序で使用された。
≪実施形態の機能・効果≫
従来技術の熱処理(焼成工程)では、順次積層されたインクの層が長時間昇温保持される結果、構成原子は相互に拡散するため、成膜したCIGS光吸収層の膜の組成は平均化されて、所望の傾斜構造とならないおそれがあった。一方、本実施形態におけるラピッドサーマルアニーリング(RTA)による急速焼成は、乾燥した各インク10の層のみを短時間で昇温させることができる。このため、下層への原子の拡散が抑えられ、原料粒子を焼結粒成長させることができる。
かかる生産方法は、MBE法と比べ、傾斜構造を有するCIGS光吸収層4を量産することを可能とする。また、これらに使用される装置は、真空蒸着法等に用いられる装置に比べて安価なので、製造コストを低減することを可能とする。本実施形態によって形成されたCIGS光吸収層4が適用された太陽電池1は、CIGS光吸収層4が目的とする傾斜構造を備えているため、高い変換効率を実現できる。
次に、実施例に係るCIGS光吸収層について実施した膜厚方向への組成分析(SIMS分析)を図4を参照して説明する。図4中の「RTA」が実施例であり、「抵抗加熱炉」は従来のように抵抗加熱炉で焼成したCIGS光吸収層の比較例である。比較例の焼成は、所定の温度までの昇温に約30分、100℃以下までの降温に約30分かけて行われた。その他の条件については、実施例と同条件で行われた。
図4を参照すると、抵抗加熱炉によって焼成された光吸収層は、層間のGa/(Ga+In)の差が小さく組成傾斜が小さくなっていることがわかる。そのため、光エネルギーによって励起されたキャリアを効率よく捕集することができない。組成の均質化の原因は、熱処理を繰り返している間に成分原子が拡散することによるものである。
また、実施例の太陽電池と、比較例の太陽電池との電流(I)−電圧(V)特性を図5に示す。図5を参照すると、実施例の太陽電池の短絡電流は34.1mAであったのに対して、比較例の太陽電池の短絡電流は26.9mAであった。実施例の太陽電池は、比較例の太陽電池と比べて、出力が高く、変換効率が良くなっている。
さらに、1回の焼成工程(昇温、保持、降温)にかかる時間は、実施例のようにRTAを用いると約7分であるのに対して、比較例のように抵抗加熱炉を用いると、1回の焼成工程で60分以上要するため、RTAを用いた方が量産化に好適である。
また、光吸収層4を積層構造にしたことにより、組成の傾斜、すなわちバンドギャップ傾斜構造を任意に調製することができる。
本実施形態では、急速焼成にレーザーアニールを使用することもできる。急速焼成以外の条件はRTAを使用した場合と同様にして行うことができる。レーザーアニールとは、レーザー光を試料に照射し、瞬間的、局所的にエネルギーを送り加熱する手法である。カルコパイライト化合物は半導体の中でも大きな光吸収係数を有しているため、照射されたレーザー光は、膜の内部まで侵入することなく表面部で全てカルコパイライト化合物に吸収される。波長が適宜調製されたレーザー光がインク10に吸収されると、インク10に含まれたカルコパイライト化合物の温度が上昇する。そのため、本実施形態のようなカルコパイライト化合物のインクは、最表層のみが局所的に有効に加熱されることになる。
具体的には、Nd−YAGレーザー(λ=532nm(2倍波))をラインレーザー化し、塗布乾燥したインク10上を走査することにより、インク10の層をアニール化することによって急速焼成を行った。かかる波長は、カルコパイライト系原料を加熱するのに適したものである。ここで、照射エネルギーは1J/cm、照射速度は10m/secとした。その結果、RTAを使用した実施例とほぼ同様の結果が得られた。
以上で、本発明に関する具体的実施形態の説明を終えるが、本発明は、上記実施形態に限定されることなく、幅広く変形実施が可能である。例えば、インクは、組成の異なる複数のCu(In,Ga)Se粒子を化学合成して、それぞれをトルエンのような有機溶媒と混合して調製しても良い。また、GaとInとの混合比率や、溶液(インク)の数を変更しても良い。また、CIS混合液、CGS混合液または溶液(インク)を調製する際に使用する粒子は、Cu,In,GaおよびSeの各単体粒子の組み合わせ、これらの元素を構成元素とする化合物粒子、またはこれらの単体粒子の一部とCu,In,GaおよびSeの一部を構成元素とする化合物粒子との組み合わせでも良い。例えば、Cu−In化合物粒子とSe単体粒子と有機溶媒とを混合して、CIS混合液を調製し、Cu−Ga化合物粒子とSe単体粒子と有機溶媒とを混合して、CGS混合液を調製しても良い。
1 太陽電池
2 基板
3 裏面電極層
4 CIGS光吸収層
5 バッファ層
6 透明電極層
7 電極
10 インク

Claims (3)

  1. 薄膜太陽電池の光吸収層の形成方法であって、
    光吸収層の構成元素を含む粒子と有機溶媒とを混合して、InとGaとの一方または双方、CuおよびSeを含む溶液を調製する溶液調製工程と、
    前記溶液を裏面電極が表面に備えられた基板の表面側に、塗布し、乾燥し、焼成する光吸収層形成工程と
    を有し、
    前記溶液は、InとGaとの組成比率が段階的に変化するように調製された複数の溶液から構成され、
    前記光吸収層形成工程は、積層を形成するべく、前記溶液がGaの組成比率が大きい溶液からInの組成比率が大きい溶液へと順に、塗布、乾燥、焼成されるように、所定の回数行われ、
    前記光吸収層形成工程の前記焼成の各々は、下層への前記粒子の拡散を抑えるべく、該焼成をする時点における最表層のみを短時間で加熱させる急速焼成であることを特徴とする薄膜太陽電池の光吸収層の形成方法。
  2. 前記光吸収層形成工程の前記急速焼成は、赤外線ランプ加熱炉またはレーザー光によって加熱されることを特徴とする、請求項1に記載の薄膜太陽電池の光吸収層の形成方法。
  3. 前記溶液調製工程は、
    光吸収層の構成元素を含む粒子と有機溶媒とを混合して、Cu,InおよびSeを含むCIS混合液を調製する第1混合工程と、
    光吸収層の構成元素を含む粒子と有機溶媒とを混合して、Cu,GaおよびSeを含むCGS混合液を調製する第2混合工程と、
    前記CIS混合液と前記CGS混合液とを混合して前記溶液とする調製工程と
    を有することを特徴とする、請求項1または請求項2に記載の薄膜太陽電池の光吸収層の形成方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3333280A1 (en) 2007-09-12 2018-06-13 Flisom AG Method for manufacturing a compound film with compositional grading
JP5335148B2 (ja) * 2010-09-28 2013-11-06 京セラ株式会社 光電変換装置および光電変換装置の製造方法
KR101111047B1 (ko) 2010-11-22 2012-02-15 영남대학교 산학협력단 태양 전지용 광흡수층 Cu(In, Ga)(Se, S)2 필름 제조를 위한 샘플 트레이 및 상기 샘플 트레이를 이용한 반도체 필름의 제조방법
JP5566335B2 (ja) * 2010-12-27 2014-08-06 京セラ株式会社 光電変換装置の製造方法
CN103443929A (zh) * 2010-12-27 2013-12-11 凸版印刷株式会社 化合物半导体薄膜太阳能电池及其制造方法
WO2012091170A1 (en) * 2010-12-28 2012-07-05 Tdk Corporation Solar cell and solar cell production method
WO2012119857A1 (de) * 2011-03-10 2012-09-13 Saint-Gobain Glass France Verfahren zur herstellung des pentanären verbindungshalbleiters cztsse, sowie dünnschichtsolarzelle
TWI538235B (zh) * 2011-04-19 2016-06-11 弗里松股份有限公司 薄膜光伏打裝置及製造方法
US20140224311A1 (en) * 2011-08-30 2014-08-14 Kyocera Corporation Photoelectric conversion element, method of manufacturing same, and photoelectric conversion device
JP5860765B2 (ja) * 2012-05-30 2016-02-16 富士フイルム株式会社 光電変換素子および光電変換素子の製造方法
JP5887214B2 (ja) * 2012-05-31 2016-03-16 積水化学工業株式会社 光電変換層の製造方法
KR101369166B1 (ko) * 2012-07-13 2014-03-24 한국에너지기술연구원 태양전지용 cigs 광흡수층 형성 방법 및 cigs 태양전지
KR101389835B1 (ko) 2012-09-13 2014-04-30 한국과학기술연구원 다단계 페이스트 코팅법을 이용한 태양전지용 찰코파이라이트 화합물계 박막의 제조방법
US9246039B2 (en) 2012-10-12 2016-01-26 International Business Machines Corporation Solar cell with reduced absorber thickness and reduced back surface recombination
TWI677105B (zh) 2014-05-23 2019-11-11 瑞士商弗里松股份有限公司 製造薄膜光電子裝置之方法及可藉由該方法獲得的薄膜光電子裝置
TWI661991B (zh) 2014-09-18 2019-06-11 Flisom Ag 用於製造薄膜裝置之自組裝圖案化
WO2017137268A1 (en) 2016-02-11 2017-08-17 Flisom Ag Fabricating thin-film optoelectronic devices with added rubidium and/or cesium
EP3414779B1 (en) 2016-02-11 2021-01-13 Flisom AG Self-assembly patterning for fabricating thin-film devices

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4078629B2 (ja) * 2001-10-04 2008-04-23 セイコーエプソン株式会社 圧電体薄膜素子
WO2004090995A1 (ja) 2003-04-09 2004-10-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 太陽電池
JP4663300B2 (ja) * 2004-11-18 2011-04-06 本田技研工業株式会社 カルコパイライト型薄膜太陽電池の製造方法
EP1998902A2 (en) * 2006-02-23 2008-12-10 Van Duren, Jeroen K.J. High-throughput formation of semiconductor layer by use of chalcogen and inter-metallic material
AU2008240423A1 (en) * 2007-04-18 2008-10-30 Nanoco Technologies Limited Fabrication of electrically active films based on multiple layers
KR101144807B1 (ko) * 2007-09-18 2012-05-11 엘지전자 주식회사 태양전지 박막조성용 잉크와 그 제조방법, 이를 이용한cigs 박막형 태양전지, 및 그 제조 방법
US20100243043A1 (en) * 2009-03-25 2010-09-30 Chuan-Lung Chuang Light Absorbing Layer Of CIGS Solar Cell And Method For Fabricating The Same

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