JP5093351B2 - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents
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- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 title claims description 36
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 64
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 9
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical group [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 6
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N vanadium Chemical compound [V]#[V] GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 67
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 15
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 6
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 6
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 5
- LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N vanadium atom Chemical compound [V] LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 3
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 101100513612 Microdochium nivale MnCO gene Proteins 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- -1 barium titanate compound Chemical class 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001252 Pd alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWELZOZIOHGSPA-UHFFFAOYSA-N palladium silver Chemical compound [Pd].[Ag] SWELZOZIOHGSPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002037 poly(vinyl butyral) polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 238000010298 pulverizing process Methods 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/08—Inorganic dielectrics
- H01G4/12—Ceramic dielectrics
- H01G4/1209—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material
- H01G4/1218—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on titanium oxides or titanates
- H01G4/1227—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on titanium oxides or titanates based on alkaline earth titanates
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/30—Stacked capacitors
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
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Description
本実験例は、誘電体セラミック層の組成をある特定の組成に固定し、tcとteを変化させた積層セラミックコンデンサにおいて、tc/teが各種特性に与える影響をみたものである。
・静電容量の温度特性: 上記印加電圧における静電容量において、25℃の温度での静電容量を基準とした85℃の温度における変化率を示す。
・高温負荷特性: 温度85℃にて、電界強度が4kV/mmになるように電圧を印加して、その絶縁抵抗の経時変化を測定した。試料数は各100個であり、2000時間経過するまでに、絶縁抵抗値が100kΩ以下になった試料を不良と判定し、この不良数を計数した。
・平均グレイン径: 焼成後の試料を破断し、1000℃の温度で熱処理した後、破断面を走査型電子顕微鏡(SEM)にて観察した。観察像から、300個の粒子の画像解析を行い、円相当径をグレイン径とし、その平均値を求めた。
本実験例は、誘電体セラミック層の組成と、tcと、teとを変化させた積層セラミックコンデンサにおいて、これらの変化が高温負荷特性に与える影響をみたものである。
2 セラミック積層体
3 誘電体セラミック層
4,5 内部電極層
6,7 外部電極
Claims (4)
- 積層された複数の誘電体セラミック層と、
各々が前記複数の誘電体セラミック層間に配置された複数の内部電極層と、
前記複数の内部電極層に電気的に接続された外部電極とを備える積層セラミックコンデンサであって、
前記誘電体セラミック層の一層当たりの厚みをtcとし、前記内部電極層の一層当たりの厚みをteとするとき、tcが0.5μm以下であるとともに、tc/te≦1を満足する、積層セラミックコンデンサ。 - 前記誘電体セラミック層を構成する誘電体セラミックが、チタン酸バリウム系化合物を主成分とし、副成分にバナジウムを含む組成を有する、請求項1に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 前記主成分100モル部に対する前記バナジウムの含有量が、0.02モル部以上0.20モル部以下である、請求項2に記載の積層セラミックコンデンサ。
- 前記内部電極層を構成する金属成分の主成分がニッケルである、請求項1から請求項3までのいずれか1項に記載の積層セラミックコンデンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010522602A JP5093351B2 (ja) | 2008-07-29 | 2009-07-23 | 積層セラミックコンデンサ |
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008195201 | 2008-07-29 | ||
| JP2008195201 | 2008-07-29 | ||
| PCT/JP2009/003460 WO2010013414A1 (ja) | 2008-07-29 | 2009-07-23 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP2010522602A JP5093351B2 (ja) | 2008-07-29 | 2009-07-23 | 積層セラミックコンデンサ |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2012166963A Division JP2012199597A (ja) | 2008-07-29 | 2012-07-27 | 積層セラミックコンデンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2010013414A1 JPWO2010013414A1 (ja) | 2012-01-05 |
| JP5093351B2 true JP5093351B2 (ja) | 2012-12-12 |
Family
ID=41610129
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010522602A Active JP5093351B2 (ja) | 2008-07-29 | 2009-07-23 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP2012166963A Pending JP2012199597A (ja) | 2008-07-29 | 2012-07-27 | 積層セラミックコンデンサ |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2012166963A Pending JP2012199597A (ja) | 2008-07-29 | 2012-07-27 | 積層セラミックコンデンサ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8009408B2 (ja) |
| JP (2) | JP5093351B2 (ja) |
| CN (1) | CN102017033B (ja) |
| WO (1) | WO2010013414A1 (ja) |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5409443B2 (ja) | 2010-03-03 | 2014-02-05 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| KR101541505B1 (ko) * | 2010-12-06 | 2015-08-03 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 적층 세라믹 전자부품 |
| JP2012248622A (ja) * | 2011-05-26 | 2012-12-13 | Taiyo Yuden Co Ltd | チップ状電子部品 |
| KR101580350B1 (ko) * | 2012-06-04 | 2015-12-23 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 부품 |
| JP5516763B2 (ja) * | 2013-01-09 | 2014-06-11 | 株式会社村田製作所 | 誘電体セラミックおよび積層セラミックコンデンサ |
| KR102041629B1 (ko) * | 2013-02-28 | 2019-11-06 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자부품 및 이의 제조방법 |
| WO2014174875A1 (ja) * | 2013-04-25 | 2014-10-30 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP6632808B2 (ja) * | 2015-03-30 | 2020-01-22 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP6747057B2 (ja) * | 2016-05-24 | 2020-08-26 | Tdk株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP2019102752A (ja) | 2017-12-07 | 2019-06-24 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
| KR102191252B1 (ko) | 2018-09-03 | 2020-12-15 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자부품 |
| KR102473419B1 (ko) | 2018-09-03 | 2022-12-02 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자부품 |
| KR102115955B1 (ko) | 2018-09-03 | 2020-05-27 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자부품 |
| KR102101933B1 (ko) | 2018-09-06 | 2020-04-20 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자부품 |
| KR102473420B1 (ko) | 2018-09-06 | 2022-12-02 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자부품 |
| KR102166129B1 (ko) | 2018-09-06 | 2020-10-15 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 |
| KR102099775B1 (ko) | 2018-09-06 | 2020-04-10 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 |
| KR102070235B1 (ko) | 2018-10-29 | 2020-01-28 | 삼성전기주식회사 | 커패시터 부품 |
| KR102319597B1 (ko) | 2019-06-27 | 2021-11-02 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자부품 |
| US11450484B2 (en) * | 2019-12-27 | 2022-09-20 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Multilayer ceramic capacitor |
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| JP3827901B2 (ja) | 1999-12-24 | 2006-09-27 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
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| JP2005136046A (ja) | 2003-10-29 | 2005-05-26 | Kyocera Corp | 積層セラミックコンデンサおよびその製法 |
| JP4547945B2 (ja) * | 2004-03-11 | 2010-09-22 | Tdk株式会社 | 電子部品、誘電体磁器組成物およびその製造方法 |
| JP4203452B2 (ja) * | 2004-06-28 | 2009-01-07 | Tdk株式会社 | 積層型セラミックコンデンサの製造方法 |
| WO2006018928A1 (ja) | 2004-08-19 | 2006-02-23 | Murata Manufacturing Co., Ltd | 誘電体セラミック、及び積層セラミックコンデンサ |
| WO2006067958A1 (ja) | 2004-12-24 | 2006-06-29 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 誘電体セラミックおよび積層セラミックコンデンサ |
| JP2006344669A (ja) * | 2005-06-07 | 2006-12-21 | Tdk Corp | 積層電子部品の製造方法 |
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| JP2007173714A (ja) | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Kyocera Corp | 積層セラミックコンデンサおよびその製法 |
| JP4771818B2 (ja) | 2006-01-27 | 2011-09-14 | 京セラ株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP4983307B2 (ja) | 2006-03-20 | 2012-07-25 | Tdk株式会社 | 積層型電子部品およびその製造方法 |
| JP4442596B2 (ja) | 2006-09-08 | 2010-03-31 | Tdk株式会社 | 導電性ペースト、積層セラミック電子部品及びその製造方法 |
| JP2008084914A (ja) | 2006-09-26 | 2008-04-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 積層コンデンサ |
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-
2009
- 2009-07-23 JP JP2010522602A patent/JP5093351B2/ja active Active
- 2009-07-23 CN CN2009801149472A patent/CN102017033B/zh active Active
- 2009-07-23 WO PCT/JP2009/003460 patent/WO2010013414A1/ja not_active Ceased
-
2010
- 2010-10-19 US US12/907,207 patent/US8009408B2/en active Active
-
2012
- 2012-07-27 JP JP2012166963A patent/JP2012199597A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2005277178A (ja) * | 2004-03-25 | 2005-10-06 | Tdk Corp | 積層セラミックコンデンサの製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2010013414A1 (ja) | 2010-02-04 |
| JP2012199597A (ja) | 2012-10-18 |
| JPWO2010013414A1 (ja) | 2012-01-05 |
| CN102017033A (zh) | 2011-04-13 |
| CN102017033B (zh) | 2012-07-18 |
| US20110038097A1 (en) | 2011-02-17 |
| US8009408B2 (en) | 2011-08-30 |
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|---|---|---|
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120110 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120302 |
|
| A02 | Decision of refusal |
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|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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