JP4974212B2 - 力学量センサ及びその製造方法 - Google Patents
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Description
(2)前記圧電単結晶基板を研磨し所望の厚みに薄膜化する行程と、
(3)金属成膜、フォトファブリケーション及びエッチングにより、前記櫛歯電極、前記反射器、前記アンテナ及び前記整合回路を形成する工程と、
(4)前記非圧電単結晶基板の一部を除去し圧電単結晶を前記非圧電単結晶基板よりリリースする工程を具備することを特徴とする。
(1)前記圧電単結晶基板と非圧電単結晶基板を貼り合わせる工程と、
(2)前記圧電単結晶基板を研磨し所の厚みに薄膜化する工程と、
(3)金属成膜、フォトファブリケーション及びエッチングにより、前記櫛歯電極、前記反射器、前記アンテナ及び前記整合回路を形成する工程と、
(4)フォトファブリケーション及びエッチングにより、前記ダイヤフラム構造の圧電単結晶基板の少なくとも一部に貫通孔を形成するとともに、前記圧電単結晶上のSAW素子とアンテナの間の溝を形成する工程と、
(5)前記非圧電単結晶基板の一部を除去し前記圧電単結晶基板を前記非圧電単結晶基板 よりリリースする工程とを具備することを特徴とする。
32 圧電単結晶基板
33、208 貫通孔
34、508 孔
100、200、500 力学量センサ
101、201、501 圧電単結晶基板
102、202、502、306、406、606 櫛歯電極
103、203、307、407、503、607 反射器
104、204、305、405、506、605、804 アンテナ
105、205 非圧電性基板
106、206 空間部
107、207、504、802 SAW素子
301、401、601 ランガサイト単結晶基板
302、402、602 シリコン単結晶基板
303、403、603 界面
304、404、604 厚み
310、410 空間部
505 非圧電単結晶基板
507、803 整合回路
Claims (23)
- 圧電単結晶基板上に形成された櫛歯電極及び反射器を有する表面弾性波素子と、
主面間を貫く孔を有し前記孔の上に前記表面弾性波素子の表面弾性波伝搬部が位置するように前記孔の周辺部で前記圧電単結晶基板を支持する非圧電性基板と、
前記非圧電性基板上で前記圧電単結晶基板を除去した領域に形成されたアンテナと、
前記櫛歯電極に前記アンテナを接続する整合回路とを備えることを特徴とする力学量センサ。 - 支持台となる非圧電性基板と、
表面に櫛歯電極及び反射器を有する表面弾性波素子が形成され、前記非圧電性基板により支持される支持接合部を有すると共に前記表面弾性波素子の表面弾性波が伝搬し、前記支持接合部よりも薄く形成された表面弾性波伝搬部を有する圧電単結晶基板と、
前記非圧電性基板上で前記圧電単結晶基板を除去した領域に形成されたアンテナと、前記櫛歯電極に前記アンテナを接続する整合回路とを備えることを特徴とする力学量センサ。 - 前記非圧電性基板上の前記圧電単結晶基板はダイヤフラム構造をなすことを特徴とする請求項1記載の力学量センサ。
- 前記圧電単結晶基板の周縁に沿って前記支持接合部が一続きで設けられたことを特徴とする請求項2記載の力学量センサ。
- 前記圧電単結晶基板の一部に主面間を貫く貫通孔を設け、片持ち梁構造又は両持ち梁構造又は3つ以上の支持部を持つ梁構造を有することを特徴とする請求項1又は2記載の力学量センサ。
- 圧電単結晶基板上に形成された櫛歯電極及び反射器を有する表面弾性波素子と、前記圧電単結晶基板を支持する非圧電単結晶基板と、前記非圧電単結晶基板上で前記圧電単結晶基板を除去した領域に形成されたアンテナと、前記櫛歯電極と前記アンテナを接続する整合回路で構成された力学量センサであって、前記圧電単結晶基板の下部にある非圧電単結晶基板の一部に空洞部を設け、ダイヤフラム構造を形成したことを特徴とする力学量センサ。
- 前記非圧電単結晶基板及び圧電単結晶基板の少なくとも一部に空洞部を設け、片持ち梁構造又は両持ち梁構造又は3つ以上の支持部を有する梁構造を具備したことを特徴とする請求項6記載の力学量センサ。
- 前記圧電単結晶基板上に形成された前記表面弾性波素子と前記アンテナとの間には弾性的振動を遮断するための間隙又は溝が形成されたことを特徴とする請求項1から7のいずれか1項に記載の力学量センサ。
- 前記圧電単結晶基板が、ニオブ酸リチウム、タンタル酸リチウム、ホウ酸リチウム、ランガサイト、酸化亜鉛のいずれかからなることを特徴とする請求項1から8のいずれか1項に記載の力学量センサ。
- 前記非圧電性基板がシリコン、SiC又は硝子からなることを特徴とする請求項1から9のいずれか1項に記載の力学量センサ。
- 前記非圧電性基板がシリコン基板であり、前記アンテナの下方にあたる前記シリコン基板の部分には空洞部があり、この空洞部の上方に形成されたシリコン化合物絶縁層を支持体として前記アンテナが保持されたことを特徴とする請求項1から10のいずれか1項に記載の力学量センサ。
- 前記非圧電性基板がSOI(Silicon−on−Insulator)基板からなることを特徴とする請求項1から11のいずれか1項に記載の力学量センサ。
- 前記圧電単結晶基板の直下にSOI(Silicon−on−Insulator)層を有することを特徴とする請求項12記載の力学量センサ。
- 前記圧電単結晶基板の直下にSOI(Silicon−on−Insulator)層及び埋め込み酸化膜を有することを特徴とする請求項13記載の力学量センサ。
- 前記圧電単結晶基板の表面弾性波伝搬部の厚みは、前記櫛歯電極によって励振される表面弾性波の1波長以上であることを特徴とする請求項1から14のいずれか1項に記載の力学量センサ。
- 前記アンテナの下部の非圧電単結晶基板に空洞部があり、酸化シリコン膜または窒化シリコン薄膜を支持体として前記アンテナが保持されたことを特徴とする請求項1から15のいずれか1項に記載の力学量センサ。
- 圧電単結晶基板上に形成された櫛歯電極(IDT)及び反射器を有する表面弾性波(SAW)素子と、主面間を貫く孔を有し前記孔の上に前記表面弾性波素子の表面波伝搬部が位置するように前記孔の周辺部で前記圧電単結晶基板を支持する非圧電性基板と、前記非圧電性基板上で前記圧電単結晶基板を除去した領域に形成されたアンテナと、前記櫛歯電極と前記アンテナを接続する整合回路とを備える力学量センサの製造方法であって、平板状の圧電単結晶基板と平板状の非圧電性基板を貼り合わせる工程と、前記平板状の圧電単結晶基板を研磨し所望の厚みに薄膜化する工程と、前記平板状の圧電単結晶基板の周縁部を除去して前記アンテナを形成するための前記平板状の非圧電性基板の表面を露出させる工程と、金属成膜、フォトファブリケーション及びエッチングにより、前記櫛歯電極、前記反射器、前記アンテナ及び前記整合回路を形成する工程と、前記圧電単結晶基板を支持する非圧電性基板の一部を除去するように非圧電性基板に孔を設ける工程とを含むことを特徴とする力学量センサの製造方法。
- 前記表面弾性波素子が前記非圧電性基板によって支持される構造が、片持ち梁構造、両持ち梁構造又は3つの支持部で支持される構造となるように前記圧電単結晶基板に主面間を貫く貫通孔を設ける工程を含むことを特徴とする請求項17記載の力学量センサの製造方法。
- 支持台となる非圧電性基板と、表面に櫛歯電極(IDT)及び反射器を有する表面弾性波(SAW)素子が形成され、前記非圧電性基板により支持される支持接合部を有すると共に前記表面弾性波素子の表面弾性波が伝搬し前記支持接合部よりも薄く形成された表面弾性波伝搬部を有する圧電単結晶基板と、前記非圧電性基板上で前記圧電単結晶基板を除去した領域に形成されたアンテナと、前記櫛歯電極に前記アンテナを接続する整合回路とを備える力学量センサの製造方法であって、平板状の圧電単結晶基板の所望の一部に空間部を形成する工程と、前記空間部が形成された圧電単結晶基板と平板状の非圧電性基板を貼り合わせる工程と、前記空間部が形成された圧電単結晶基板を研磨し所望の厚みに薄膜化する工程と、金属成膜、フォトファブリケーション及びエッチングにより、前記櫛歯電極、前記反射器、前記アンテナ及び前記整合回路を形成する工程とを含むことを特徴とする力学量センサの製造方法。
- 前記圧電単結晶基板の主面間を貫く少なくとも1つの貫通孔を形成するための、フォトファブリケーション及びエッチングの工程を含むことを特徴とする請求項19記載の力学量センサの製造方法。
- 前記表面弾性波素子と前記アンテナの間の前記非圧電性基板に溝を形成するためのフォトファブリケーション及びエッチングの工程を含むことを特徴とする請求項19又は20記載の力学量センサの製造方法。
- 圧電単結晶基板上に形成された櫛歯電極(IDT)及び反射器を有する表面弾性波(SAW)素子と、前記圧電単結晶基板を支持する非圧電単結晶基板と、前記非圧電単結晶基板上で前記圧電単結晶基板を除去した領域に形成されたアンテナと、前記櫛歯電極と前記アンテナを接続する整合回路で構成され、前記圧電単結晶基板の直下にある非圧電単結晶基板の一部に空洞部を設け、ダイヤフラム構造を形成した力学量センサの製造方法であって、
(1)前記圧電単結晶基板と前記非圧電単結晶基板を貼り合わせる工程と、
(2)前記圧電単結晶基板を研磨し所望の厚みに薄膜化する工程と、
(3)金属成膜、フォトファブリケーション及びエッチングにより、前記櫛歯電極、前記反射器、前記アンテナ及び前記整合回路を形成する工程と、
(4) 前記非圧電単結晶基板の一部を除去し圧電単結晶を前記非圧電単結晶基板よりリリースする工程を具備することを特徴とする力学量センサの製造方法。 - 圧電単結晶基板上に形成された櫛歯電極(IDT)及び反射器を有する表面弾性波(SAW)素子と、前記圧電単結晶基板を支持する非圧電単結晶基板と、前記非圧電単結晶基板上で前記圧電単結晶基板を除去した領域に形成されたアンテナと、前記櫛歯電極と前記アンテナを接続する整合回路で構成され、前記圧電単結晶基板の直下にある非圧電単結晶基板の一部に空洞部を設け、ダイヤフラム構造を形成し、前記圧電単結晶基板の少なくとも一部に貫通孔を設け、前記圧電単結晶基板上にある前記SAW素子と前記アンテナの間に溝を形成し、片持ち梁構造又は両持ち梁構造又は3つ以上の支持部を有する梁構造を具備した力学量センサの製造方法であって、
(1)前記圧電単結晶基板と非圧電単結晶基板を貼り合わせる工程と、
(2)前記圧電単結晶基板を研磨し所の厚みに薄膜化する工程と、
(3)金属成膜、フォトファブリケーション及びエッチングにより、前記櫛歯電極、前記反射器、前記アンテナ及び前記整合回路を形成する工程と、
(4)フォトファブリケーション及びエッチングにより、前記ダイヤフラム構造の圧電単結晶基板の少なくとも一部に貫通孔を形成するとともに、前記圧電単結晶上のSAW素子とアンテナの間の溝を形成する工程と、
(5)前記非圧電単結晶基板の一部を除去し前記圧電単結晶基板を前記非圧電単結晶基板よりリリースする工程とを具備することを特徴とする力学量センサの製造方法。
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