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JP4888565B2 - 回路接続用接着フィルム及び回路接続構造体 - Google Patents

回路接続用接着フィルム及び回路接続構造体 Download PDF

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JP4888565B2 JP2009538059A JP2009538059A JP4888565B2 JP 4888565 B2 JP4888565 B2 JP 4888565B2 JP 2009538059 A JP2009538059 A JP 2009538059A JP 2009538059 A JP2009538059 A JP 2009538059A JP 4888565 B2 JP4888565 B2 JP 4888565B2
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Description

本発明は、回路接続用接着フィルム及び回路接続構造体に関する。
相対向する電極を有する回路基板を加熱及び加圧し、加圧方向において電極間を電気的に接続するために用いられる回路接続材料として、例えば、エポキシ系接着剤又はアクリル系接着剤に導電粒子を分散させた異方導電接着フィルムがある。異方導電接着フィルムは、主に液晶ディスプレイ(LCD)を駆動させる半導体チップが搭載されたTCP(Tape Carrier Package)又はCOF(Chip On Flex)とLCDパネル、及び、TCP又はCOFとプリント配線板との電気的接続のために広く使用されている。
最近では、半導体チップをフェイスダウンで直接LCDパネルやプリント配線板に実装する場合でも、従来のワイヤーボンディング法に代えて、薄型化や狭ピッチ接続に有利なフリップチップ実装が採用されている。この場合も異方導電接着フィルムが回路接続材料として用いられている(例えば特許文献1〜4参照)。
近年のLCDモジュールへのCOFの採用や回路のファインピッチ化に伴い、回路接続材料を用いた接続の際に、隣り合う電極間に短絡が発生するという問題が顕在化している。その対策として、接着剤成分中に絶縁粒子を分散させて短絡を防止する技術が提案されている(例えば特許文献5〜9)。
一方、絶縁性有機物又はガラスから構成される基板を有する配線部材や、表面の少なくとも一部が窒化シリコン、シリコーン樹脂及び/又はポリイミド樹脂から形成された配線部材に接着させる接着剤にシリコーン粒子を含有させたり(例えば、特許文献10)、接着後の熱膨張率差に基づく内部応力を低減させるため接着剤にゴム粒子を分散させる技術がある(例えば、特許文献11)。
特開昭59−120436号公報 特開昭60−191228号公報 特開平1−251787号公報 特開平7−90237号公報 特開昭51−20941号公報 特開平3−29207号公報 特開平4−174980号公報 特許第3048197号公報 特許第3477367号公報 国際公開第01/014484号パンフレット 特開2001−323249号公報
TFTパネル等に代表される、AlやCr等の不透明な金属電極をガラス基板上に形成したLCDパネルを回路接続材料によって接続する場合、導電粒子が押し付けられることによって電極表面に形成される「圧痕」を観察することによって接続状態を確認する方法がある。導電粒子の扁平による「圧痕」が適切に形成されていれば、適切に回路接続が行われたと判断することができる。「圧痕」は、ガラス基板側から偏光を当てて観察される。
しかし、短絡防止のために絶縁粒子を用いた従来の回路接続材料の場合、導電粒子だけでなく絶縁粒子によって形成される圧痕も混在してしまい、また、導電粒子自体による圧痕の分布も不均一になるため、接続状態の確認を適切に行うことが困難な場合があるという問題があることが明らかとなった。
シリコーン微粒子のような比較的柔らかい絶縁粒子を用いることで圧痕の混在はある程度改善はされるものの、粒径が大きいと柔らかい絶縁粒子であっても圧痕の原因となる。一般に、柔らかい絶縁粒子から粒径の大きいものを完全に排除することは非常に困難である。また、ナイロン等の低融点の絶縁粒子を用いると、導電粒子の圧痕を妨げることは比較的少ないものの、接続後に絶縁粒子の周辺にボイド(気泡)が発生しやすくなる。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その主な目的とするところは、隣接回路間の短絡を防止しながら、導電粒子による電極表面の圧痕の視認性が良好であるとともに、接続後のボイド発生の防止を可能にする回路接続用接着フィルムを提供することにある。
本発明に係る回路接続用接着フィルムは、絶縁性接着剤と、導電粒子と、ポリアミド系エラストマー及び/又はポリエステル系エラストマーを含む粒子状の非導電相とを含有する。導電粒子及び非導電相は絶縁性接着剤内に分散している。
本発明に係る回路接続用接着フィルムによれば、上記特定の構成を備えていることにより、隣接回路間の短絡を防止しながら、導電粒子による電極表面の圧痕の視認性が良好であるとともに、接続後のボイド発生の防止が可能となった。
本発明に係る回路接続用接着フィルムは、絶縁性接着剤100重量部に対して1〜60重量部の非導電相を含有することが好ましい。非導電相の融点は100〜250℃であることが好ましい。また、当該回路接続用接着フィルムが加熱及び加圧されたときに、非導電相が絶縁性接着剤に溶解することが好ましい。これらの回路接続材料がこれら要件のうち少なくとも一つを満たすことにより、本発明による効果がより一層顕著に奏される。
別の側面において、本発明は、第一の接続端子を有する第一の回路部材と、第一の接続端子と対向配置されるとともに電気的に接続された第二の接続端子を有する第二の回路部材と、第一の回路部材及び第二の回路部材の間に介在してこれらを接着する接着層とを備える回路接続構造体に関する。本発明に係る回路接続構造体において、接着層は、第一の回路部材及び第二の回路部材の間に配置された上記本発明に係る回路接続用接着フィルムを加熱及び加圧することにより形成することのできる層である。
上記本発明に係る回路接続構造体によれば、隣接回路間の短絡が防止しながら、導電粒子による電極表面の圧痕の視認性が良好であり、さらには、接続後のボイドの発生が十分に抑制される。
本発明によれば、隣接回路間の短絡を防止しながら、導電粒子による電極表面の圧痕の視認性が良好であることとともに、接続後のボイド発生の防止が可能である。
回路接続用接着フィルムの一実施形態を示す端面図である。 回路接続構造体の製造方法の一実施形態を示す端面図である。 比較例2で作製された回路接続構造体の接続部分の顕微鏡写真である。 比較例3で作製された回路接続構造体の接続部分の顕微鏡写真である。 比較例5で作製された回路接続構造体の接続部分の顕微鏡写真である。 実施例1で作製された回路接続構造体の接続部分の顕微鏡写真である。 実施例1で作製された回路接続構造体の接続部分の顕微鏡写真である。 実施例3で作製された回路接続構造体の接続部分の顕微鏡写真である。
符号の説明
1…回路接続用接着フィルム(異方導電性接着剤)、2…LCDパネル、5…COF、10…絶縁性接着剤、12…導電粒子、14…非導電相、20…ガラス基板、21…接続端子、30…液晶表示部、50…樹脂基板、51…接続端子、60…非導電粒子に起因する圧痕、70…導電粒子に起因する圧痕、100…回路接続構造体。
以下、必要に応じて図面を参照しつつ、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。ただし、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。
図1は、回路接続用接着フィルムの一実施形態を示す断面図である。図1に示す回路接続用接着フィルム1は、フィルム状の絶縁性接着剤10と、導電粒子12と、ポリアミド系エラストマー及び/又はポリエステル系エラストマーを含む粒子状の非導電相14とを含有する。導電粒子12及び非導電相14は絶縁性接着剤10内に分散している。絶縁性接着剤10は、(a)エポキシ樹脂と、(b)潜在性硬化剤とを含む熱硬化性樹脂組成物であってもよい。
エポキシ樹脂としては、1分子内に2個以上のグリシジル基を有する各種のエポキシ化合物等を単独に又は2種以上を混合して用いることが可能である。エポキシ樹脂の具体例としては、エピクロルヒドリンとビスフェノールA、ビスフェノールF及びビスフェノールAD等のビスフェノールとから誘導されるビスフェノール型エポキシ樹脂、エピクロルヒドリンとフェノールノボラックやクレゾールノボラックとから誘導されるエポキシノボラック樹脂、ナフタレン環を含んだ骨格を有するナフタレン系エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グリシジルエーテル型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、並びに脂環式エポキシ樹脂がある。これらのエポキシ樹脂は、不純物イオン(Na、Cl等)や加水分解性塩素等の濃度を300ppm以下に低減した高純度品であることが、エレクトロンマイグレーション防止のために好ましい。
潜在性硬化剤としては、イミダゾール系、ヒドラジド系、三フッ化ホウ素−アミン錯体、スルホニウム塩、アミンイミド、ポリアミンの塩、及びジシアンジアミド等が挙げられる。これらは、単独または混合して使用することができる。分解促進剤、抑制剤等を併用してもよい。また、これらの硬化剤をポリウレタン系、ポリエステル系の高分子物質等で被覆してマイクロカプセル化したものは、可使時間が延長されるために好ましい。
絶縁性接着剤10は、(c)加熱又は光によって遊離ラジカルを発生する硬化剤と、(d)ラジカル重合性物質とを含む熱硬化性樹脂組成物であってもよい。
加熱又は光により遊離ラジカルを発生する硬化剤(以下、「遊離ラジカル発生剤」ともいう。)としては、過酸化化合物、アゾ系化合物などがある。遊離ラジカル発生剤は、目的とする接続温度、接続時間、ポットライフ等により適宜選定されるが、高反応性とポットライフの点から、半減期10時間の温度が40℃以上かつ、半減期1分の温度が180℃以下の有機過酸化物が好ましい。この場合、遊離ラジカル発生剤の配合量は絶縁性接着剤に対して0.05〜10質量%程度であると好ましく、0.1〜5質量%であるとより好ましい。
加熱又は光により遊離ラジカルを発生する硬化剤は、具体的には、ジアシルパーオキサイド、パーオキシジカーボネート、パーオキシエステル、パーオキシケタール、ジアルキルパーオキサイド及びハイドロパーオキサイドから選ぶことができる。回路部材の接続端子の腐食を抑えるために、パーオキシエステル、ジアルキルパーオキサイド及びハイドロパーオキサイドから選定されることが好ましく、高反応性が得られるパーオキシエステルから選定されることがより好ましい。
ジアシルパーオキサイドとしては、例えば、イソブチルパーオキサイド、2,4−ジクロロベンゾイルパーオキサイド、3,5,5−トリメチルヘキサノイルパーオキサイド、オクタノイルパーオキサイド、ラウロイルパーオキサイド、ステアロイルパーオキサイド、スクシニックパーオキサイド、ベンゾイルパーオキシトルエン及びベンゾイルパーオキサイドが挙げられる。
パーオキシジカーボネートとしては、例えば、ジ−n−プロピルパーオキシジカーボネート、ジイソプロピルパーオキシジカーボネート、ビス(4−t−ブチルシクロヘキシル)パーオキシジカーボネート、ジ−2−エトキシメトキシパーオキシジカーボネート、ジ(2−エチルヘキシルパーオキシ)ジカーボネート、ジメトキシブチルパーオキシジカーボネート及びジ(3−メチル−3−メトキシブチルパーオキシ)ジカーボネートが挙げられる。
パーオキシエステルとしては、例えば、クミルパーオキシネオデカノエート、1,1,3,3−テトラメチルブチルパーオキシネオデカノエート、1−シクロヘキシル−1−メチルエチルパーオキシノエデカノエート、t−ヘキシルパーオキシネオデカノエート、t−ブチルパーオキシピバレート、1,1,3,3−テトラメチルブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノネート、2,5−ジメチル−2,5−ビス(2−エチルヘキサノイルパーオキシ)ヘキサン、1−シクロヘキシル−1−メチルエチルパーオキシ−2−エチルヘキサノネート、t−ヘキシルパーオキシ−2−エチルヘキサノネート、t−ブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノネート、t−ブチルパーオキシイソブチレート、1,1−ビス(t−ブチルパーオキシ)シクロヘキサン、t−ヘキシルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブチルパーオキシ−3,5,5−トリメチルヘキサノネート、t−ブチルパーオキシラウレート、2,5−ジメチル−2,5−ビス(m−トルオイルパーオキシ)ヘキサン、t−ブチルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブチルパーオキシ−2−エチルヘキシルモノカーボネート、t−ヘキシルパーオキシベンゾエート、及びt−ブチルパーオキシアセテートが挙げられる。
パーオキシケタールとしては、例えば、1,1−ビス(t−ヘキシルパーオキシ)−3,5,5−トリメチルシクロヘキサン、1,1−ビス(t−ヘキシルパーオキシ)シクロヘキサン、1,1−ビス(t−ブチルパーオキシ)−3,5,5−トリメチルシクロヘキサン、1,1−(t−ブチルパーオキシ)シクロドデカン及び2,2−ビス(t−ブチルパーオキシ)デカンが挙げられる。
ジアルキルパーオキサイドとしては、例えば、α,α’−ビス(t−ブチルパーオキシ)ジイソプロピルベンゼン、ジクミルパーオキサイド、2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルパーオキシ)ヘキサン及びt−ブチルクミルパーオキサイドが挙げられる。
ハイドロパーオキサイドとしては、例えば、ジイソプロピルベンゼンハイドロパーオキサイド及びクメンハイドロパーオキサイドが挙げられる。
これらの遊離ラジカル発生剤は1種を単独で又は2種以上を混合して使用することができる。分解促進剤及び抑制剤等を併用してもよい。
ラジカル重合性物質は、ラジカルにより重合する官能基を有する物質である。ラジカル重合性物質は、例えば、アクリレート、メタクリレート及びマレイミド化合物から選ばれる。
アクリレート又はメタクリレートとしては、例えば、ウレタンアクリレート、メチルアクリレート、エチルアクリレート、イソプロピルアクリレート、イソブチルアクリレート、エチレングリコールジアクリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、トリエチレングリコールジアクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレート、テトラメチロールメタンテトラアクリレート、2−ヒドロキシ−1,3−ジアクリロキシプロパン、2,2−ビス[4−(アクリロキシメトキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(アクリロキシポリエトキシ)フェニル]プロパン、ジシクロペンテニルアクリレート、トリシクロデカニルアクリレート、ビス(アクリロキシエチル)イソシアヌレート、ε−カプロラクトン変性トリス(アクリロキシエチル)イソシアヌレート、及びトリス(アクリロキシエチル)イソシアヌレートが挙げられる。
このようなラジカル重合性物質の1種を単独で又は2種以上を併用して用いることができる。回路接続用接着フィルムを構成する絶縁性接着剤は25℃での粘度が100000〜1000000mPa・sであるラジカル重合性物質を少なくとも含有することが好ましく、25℃での粘度が100000〜500000mPa・sのラジカル重合性物質を含有することがより好ましい。ラジカル重合性物質の粘度の測定は、市販のE型粘度計を用いて測定できる。
ラジカル重合性物質の中でも、ウレタンアクリレート又はウレタンメタアクリレートが接着性の観点から好ましい。また、ウレタンアクリレート及び/又はウレタンメタアクリレートと、有機化酸化物によって単独で硬化したときに100℃以上のガラス転移温度を有する硬化物を形成するラジカル重合性物質とを併用することが特に好ましい。これにより硬化後の耐熱性がより向上する。100℃以上のガラス転移温度を有する硬化物を形成するラジカル重合性物質としては、ジシクロペンテニル基、トリシクロデカニル基及び/又はトリアジン環を有するものを用いることができる。特に、トリシクロデカニル基及び/又はトリアジン環を有するラジカル重合性物質が好適に用いられる。
必要に応じて、絶縁性接着剤10がハイドロキノン及びメチルエーテルハイドロキノン類などの重合禁止剤を含んでいてもよい。
絶縁性接着剤10は、リン酸エステル構造を有する(メタ)アクリレートをラジカル重合性物質全体100重量部に対して0.1〜10重量部含んでいることが好ましい。これにより、金属等の無機物表面に対する接着強度が向上する。リン酸エステル構造を有するラジカル重合性物質の量は0.5〜5重量部であるとより好ましい。リン酸エステル構造を有するラジカル重合性物質は、無水リン酸と2−ヒドロキシル(メタ)アクリレートの反応物として得られる。具体的には、2−メタクリロイルオキシエチルアシッドフォスフェート、2−アクリロイルオキシエチルアシッドフォスフェート等があげられる。こららは、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて使用できる。
マレイミド化合物は、分子中にマレイミド基を少なくとも2個以上有することが好ましい。好適なマレイミド化合物としては、例えば、1−メチル−2,4−ビスマレイミドベンゼン、N,N’−m−フェニレンビスマレイミド、N,N’−P−フェニレンビスマレイミド、N,N’−m−トルイレンビスマレイミド、N,N’−4,4−ビフェニレンビスマレイミド、N,N’−4,4−(3,3’−ジメチル−ビフェニレン)ビスマレイミド、N,N’−4,4−(3,3’−ジメチルジフェニルメタン)ビスマレイミド、N,N’−4,4−(3,3’−ジエチルジフェニルメタン)ビスマレイミド、N,N’−4,4−ジフェニルメタンビスマレイミド、N,N’−4,4−ジフェニルプロパンビスマレイミド、N,N’−4,4−ジフェニルエーテルビスマレイミド、N,N’−3,3’−ジフェニルスルホンビスマレイミド、2,2−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[3−s−ブチル−4,8−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]プロパン、1,1−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]デカン、4,4’−シクロヘキシリデン−ビス[1−(4−マレイミドフェノキシ)−2−シクロヘキシル]ベンゼン、及び2,2−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]ヘキサフルオロプロパンが挙げられる。これらは、1種を単独で又は2種以上を併用して用いることができる。マレイミド化合物と、アリルフェノール、アリルフェニルエーテル及び安息香酸アリルなどのアリル化合物とを併用してもよい。
回路接続用接着フィルム1は、フィルム状であることから取り扱い性に優れる。絶縁性接着剤10はフィルム形成性を付与するための高分子成分を含有してもよい。係る高分子成分は、例えば、ポリスチレン、ポリエチレン、ポリビニルブチラール、ポリビニルホルマール、ポリイミド、ポリアミド、ポリエステル、ポリ塩化ビニル、ポリフェニレンオキサイド、尿素樹脂、メラミン樹脂、フェノール樹脂、キシレン樹脂、エポキシ樹脂、ポリイソシアネート樹脂、フェノキシ樹脂、ポリイミド樹脂、及びポリエステルウレタン樹脂から選ばれる。これらの中でも水酸基等の官能基を有する樹脂は接着性が向上することができるので、より好ましい。また、これらの高分子成分をラジカル重合性の官能基で変性したものも用いることができる。これら高分子成分の重量平均分子量は10000以上が好ましい。また、重量平均分子量が1000000以上になると混合性が低下するため、1000000未満であると好ましい。
絶縁性接着剤10は、充填材、軟化剤、促進剤、老化防止剤、着色剤、難燃化剤、チキソトロピック剤、カップリング剤、ジイソシアナート等を含有することもできる。
ジイソシアナートは、ジアミンとホスゲン等との反応によって得ることができる。ジイソシアナートの具体例としては、ジフエニルメタンジイソシアナート、トルイレンジイソシアナート等の、次に挙げるジアミンのアミノ基をイソシアナート基に変換したものがある。
ジアミンとしては芳香族アミンを用いることができる。芳香族アミンの具体例として、4、4’−(又は、3、4’−、3、3’−若しくは2、4’−)ジアミノジフェニルエーテル、4、4’−(又は3、3’−)ジアミノジフェニルスルフォン、4、4’−(又は3、3’−、)ジアミノジフェニルスルフィッド、4、4’−ベンゾフェノンジアミン、3、3’−ベンゾフェノンジアミン、4、4’−ジ(4−アミノフェノキシ)フェニルスルフォン、4、4’−ジ(3−アミノフェノキシ)フェニルスルフォン、4、4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、1、4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1、3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、2、2−ビス{4−(4−アミノフェノキシ)フェニル}プロパン、3、3’、5、5’−テトラメチル−4、4’−ジアミノジフェニルメタン、4、4’−ジ(3−アミノフェノキシ)フェニルスルフォン、2、2’−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、2、2’−トリフルオロメチル−4、4’−ジアミノビフェニル、2、2’、6、6’−テトラメチル−4、4’−ジアミノビフェニル、2、2’、6、6’−テトラトリフルオロメチル−4、4’−ジアミノビフェニル、ビス{(4−アミノフェニル)−2−プロピル}1、4−ベンゼン、9、9−ビス(4−アミノフェニル)フルオレン、9、9−ビス(4−アミノフェノキシフェニル)フルオレン等の芳香族ジアミン、2、6−ジアミノピリジン、2、4−ジアミノピリジン、ビス(4−アミノフェニル−2−プロピル)−1、4−ベンゼン、ジアミノポリシロキサン化合物、2−ニトロ−1、4−ジアミノベンゼン、3、3’−ジニトロ−4、4’−ジアミノビフェニル、3、3’−ジメトキシ−4、4’−ジアミノビフェニル、3、3’−ジヒドロキシ−4、4’−ジアミノビフェニル、2、4−ジアミノフェノール及びo−トリジンスルホン、1、3−ジアミノベンゼン、1、4−ジアミノベンゼン、2、4−ジアミノトルエン、3、3’−ジメチル−4、4’−ジアミノビフェニル、2、2−ビス(トリフルオロ)−メチルベンチジン、2、2−ビス−(4−アミノフェニル)プロパン、1、1、1、3、3、3−ヘキサフルオロ−2−ビス−(4−アミノフェニル)プロパン、4、4’−ジアミノジフェニルメタン、1、5−ジアミノナフタレン及び9、10−ビス(4−アミノフェニル)アントラセンが挙げられる。
ジアミンと反応させるテトラカルボン酸としては隣接する2つのカルボキシル基からなる組を2組有するものを用いる。テトラカルボン酸の具体例としては、ピロメリット酸ジ無水物(1、2、3、4−ベンゼンテトラカルボン酸ジ無水物)、3、4、3’、4’―ビフェニルテトラカルボン酸ジ無水物、3、4、3‘、4’―ベンゾフェノンテトラカルボン酸ジ無水物、2、3、2’、3’―ベンゾフェノンテトラカルボン酸ジ無水物、2、3、3’、4’―ビフェニルテトラカルボン酸ジ無水物、2、2−ビス(3、4−ジカルボキシフェニル)プロパンジ無水物、2、2−ビス(2、3−ジカルボキシフェニル)プロパンジ無水物、ビス(3、4−ジカルボキシフェニル)エーテルジ無水物、ビス(2、3−ジカルボキシフェニル)エーテルジ無水物、ビス(3、4−ジカルボキシフェニル)スルホンジ無水物、ビス(2、3−ジカルボキシフェニル)スルホンジ無水物、4、4’−{2、2、2−トリフルオロ−1−(トリフルオロメチル)エチリデン}ビス(1、2−ベンゼンジカルボン酸無水物)、9、9−ビス{4−(3、4−ジカルボキシフェノキシ)フェニル}フルオレンジ無水物、1、2、5、6―ナフタレンテトラカルボン酸ジ無水物、2、3、6、7―ナフタレンテトラカルボン酸ジ無水物、1、4、5、8―ナフタレンテトラカルボン酸ジ無水物、3、4、9、10−ペリレンテトラカルボン酸ジ無水物、2、3、5、6―ピリジンテトラカルボン酸ジ無水物、ビシクロ(2、2、2)―オクトー7―エンー2、3、5、6―テトラカルボン酸ジ無水物等が挙げられる。
カップリング剤としては、ビニル基、アクリル基、アミノ基、エポキシ基及びイソシアネート基からなる群より選ばれる1種以上の基を含有する化合物が、接着性の向上の点から好ましい。
導電粒子12としては、Au、Ag、Ni、Cu及びはんだから選ばれる少なくとも1種の金属を含む金属粒子、並びにカーボン粒子が挙げられる。核としての絶縁粒子と、これを被覆する1又は2以上の層とを有し、絶縁粒子を被覆する層のうち最外層が導電性の層である導電粒子を用いてもよい。この場合、十分なポットライフを得るためには、最外層を形成する金属はNi、Cuなどの遷移金属類よりもAu、Ag、白金族の貴金属類が好ましく、Auがより好ましい。
導電粒子12は、Niなどの遷移金属類の表面をAu等の貴金属類で被覆したものでもよい。また、導電粒子12は、非導電性のガラス、セラミック、プラスチック等の絶縁粒子を金属等の導電性物質で被覆したものであってもよい。導電粒子12が絶縁粒子及びこれを被覆する導電性物質の被覆層を有し、最外層が貴金属類から形成され、核としての絶縁粒子がプラスチックから形成される場合、又は導電粒子が熱溶融金属粒子の場合、加熱及び加圧により変形しやすく、接続時に電極との接触面積が増加して、信頼性が向上するので好ましい。
貴金族類の被覆層の厚みは、良好な抵抗を得るためには、100Å以上が好ましい。ただし、Ni等の遷移金属の上に貴金属類の被覆層を設ける場合、貴金属類の被覆層の欠損や導電粒子の混合分散時に生じる貴金属類の被覆層の欠損等により生じる酸化還元作用に起因して、遊離ラジカルが発生しポットライフ低下を引き起こすため、ラジカル重合系の接着剤成分を使用する場合には被覆層の厚みは300Å以上が好ましい。
導電粒子12の量は、絶縁性接着剤10の100体積部に対して0.1〜30体積部の範囲で用途に応じて調整される。導電粒子による隣接回路の短絡等を一層十分に防止するためには0.1〜10体積部がより好ましい。
導電粒子12の粒径は、接続する回路の電極高さより小さいことが好ましい。これにより、隣接電極間の短絡をさらに減少させることができる。具体的には、導電粒子の粒径は1〜20μmが好ましく、1.5〜15μmがより好ましく、2〜10μmが更に好ましい。導電粒子12の10%圧縮弾性率(K値)は100〜1000kgf/mmであることが好ましい。
粒子状の非導電相14は、ポリエステル系エラストマー及び/又はポリアミド系エラストマーを含む。これらエラストマーを含む非導電粒子が非導電相14として絶縁性接着剤中に分散されていてもよいし、海島構造を有する相分離構造の島が絶縁性接着剤10中に非導電相14として形成されていてもよい。
非導電相14の融点は100〜250℃であることが好ましい。また、回路接続用接着フィルム1が回路接続のために加熱及び加圧されたときに、具体的には例えば100〜250℃に加熱しながら加圧されたときに、非導電相14が溶融して絶縁性接着剤10に溶解することが好ましい。これにより、導電粒子12による圧痕の視認性が更に改善される。
同様の観点から、非導電相14の粒径は1〜10μmであることが好ましい。また、回路接続用接着フィルム1は、100重量部の絶縁性接着剤に対して1〜60重量部の非導電相14を含有することが好ましい。
回路接続用接着フィルムは、接続時に溶融流動し、相対向する回路電極(接続端子)の接続を得た後、硬化して接続を保持する機能を有する。そのため、接着フィルムの流動性は重要な因子である。具体的には、厚み0.7mm、15mm×15mmの2枚のガラス板の間に厚み35μm、5mm×5mmの接着フィルムを挟み、170℃、2MPa、10秒の条件で加熱及び加圧を行ったときの、初期の面積(A)と加熱及び加圧後の面積(B)とを用いて表される流動性=(B)/(A)の値は、1.3〜3.0であることが好ましく、1.5〜2.5であることがより好ましい。1.3未満では流動性が不足して良好な接続が得られにくくなる傾向があり、3.0を超えると気泡が発生しやすくなって信頼性が低下する傾向がある。
回路接続用接着フィルムの硬化後の40℃での弾性率は、100〜3000MPaが好ましく、500〜2000MPaがより好ましい。
本発明に係る回路接続用接着フィルムは、以上のような実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変形が可能である。例えば、回路接続用接着フィルムが、組成の異なる複数の層から構成されていてもよい。具体的には、例えば、回路接続用接着フィルムが、反応性樹脂を含有する層と潜在性硬化剤を含有する層とを有していてもよいし、遊離ラジカルを発生する硬化剤を含有する層と導電粒子を含有する層とを有していてもよい。これにより、高精細化が可能であることに加えて、ポットライフ向上の効果が得られる。回路接続用接着フィルムが複数の層を有する場合、非導電相は全ての層に含まれていてもよいし、一層にのみ含まれていてもよい。ただし、非導電相は、ガラス基板と接する側の最表層に導電粒子とともに存在していることが好ましい。回路接続用接着フィルムは、通常、その片面又は両面に離型性の表面を有するPETフィルム等の樹脂フィルムが積層された状態で保管される。
図2は、回路接続構造体の製造方法の一実施形態を示す断面図である。図2に示す方法では、接続端子21(第一の接続端子)を有する第一の回路部材であるLCDパネル2と、接続端子51(第二の接続端子)を有する第二の回路部材であるCOF(チップ オン フィルム)5とが接続される。LCDパネル2は、ガラス基板20と、ガラス基板20上に設けられた接続端子21及び液晶表示部30とを有する。COF5は、樹脂基板50と、樹脂基板50上に設けられた接続端子51とを有する。
図2に示す方法は、接続端子21に回路接続用接着フィルム1を貼り付ける工程(図2(a))と、COF5を、接続端子51が回路接続用接着フィルム1を間に挟んで接続端子21と対向配置されるように位置合わせして配置し、その状態で加熱しながら矢印Aの方向(回路部材の主面に垂直な方向)に加圧することにより回路接続用接着フィルム1を流動させるとともに硬化して、LCDパネル2とCOF5との間に介在してこれらを接着する接着層1aを形成する工程(図2(b)、(c))とを備える。これにより、LCDパネル2の接続端子21とCOF5の接続端子51とが電気的に接続された回路接続構造体100が得られる。
接続のための加熱及び加圧は、導電粒子12が接続端子21に押し付けられることによってその表面に圧痕が形成されるように行われる。接続後、回路接続構造体100における接続状態の確認のため、接続部分の圧痕の状態をガラス基板20側から観察する。非導電粒子が添加された従来の回路接続用接着フィルムを用いた場合、導電粒子だけでなく、非導電粒子自体の圧痕も混在してしまい、さらには導電粒子自体の圧痕の分布も不均一になることがあった。また、非導電粒子に起因して接着層1a中にボイドが形成される場合もあった。これに対して、本実施形態に係る回路接続用接着フィルムを用いることにより、導電粒子による電極表面の圧痕の視認性が良好であるとともに、接続後のボイド発生を防止することができる。
本実施形態に係る回路接続用接着フィルムは、上記のようなLCDパネルとCOFとの接続に限らず、接続端子を有する回路部材同士を接着する異方導電性フィルムとして有用である。接着される回路部材としては、例えば、半導体チップ、抵抗体チップ及びコンデンサチップ等のチップ部品、並びに、プリント基板等の回路基板が挙げられる。半導体チップ(ICチップ)と回路基板との接着や、電気回路基板相互の接着のために本実施形態に係る回路接続用接着フィルムが好適に用いられる。これら回路部材が有する接続端子同士は、直接接触により又は回路接続用接着フィルム中の導電粒子を介して電気的に接続される。
接続される回路部材のうち少なくとも一方の接続端子は、表面が金、銀、錫及び白金属から選ばれる金属から形成されていることが好ましい。
以下、実施例を挙げて本発明について更に具体的に詳細に説明する。ただし、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
実施例1
ラジカル重合性物質であるウレタンアクリレート(製品名:UA−5500T、新中村化学工業社製)20重量部、ビス(アクリロキシエチル)イソシアヌレート(製品名:M−215、東亞合成社製)20重量部、ジメチロールトリシクロデカンジアクリレート(製品名:DCP−A、共栄社化学社製)10重量部、及び2−メタクリロイルオキシエチルアシッドフォスフェート(製品名:P−2M、共栄社化学社製)1重量部と、遊離ラジカル発生剤であるベンゾイルパーオキサイド(製品名:ナイパーBMT−K、日本油脂製)3重量部と、ポリエステルウレタン樹脂(製品名:UR8240、東洋紡績社製)をトルエン/メチルエチルケトン=50/50の混合溶剤に溶解して得られた40質量%の溶液50重量部とを混合し、攪拌して、絶縁性接着剤の溶液を得た。
この溶液に、絶縁性接着剤に対して3体積%の導電粒子を配合してこれを分散させ、さらに絶縁性接着剤100重量部に対して5重量部の非導電粒子を分散させた。導電粒子として、核としてのポリスチレン粒子と、ポリスチレン粒子の表面上に設けられた厚み0.2μmのニッケル層と、ニッケル層の外側に設けられた厚み0.04μmの金層とを有する被覆粒子を用いた。この導電粒子の平均粒径は4μm、10%圧縮弾性率(K値)は410Kgf/mmである。非導電粒子として、ポリエステル系エラストマーの粒子(平均粒径:5μm、10%圧縮弾性率(K値):250Kgf/mm、融点:160℃)を用いた。
導電粒子及び非導電粒子が配合された溶液を、片面を表面処理した厚み50μmのPETフィルムに塗工装置を用いて塗布し、70℃、10分の熱風乾燥により厚み18μmの接着フィルムを形成させて、PETフィルム及び接着フィルムを有するテープ状の回路接続用材料(幅15cm、長さ60m)を得た。得られた回路接続材料を1.2mm幅に裁断し、内径40mm、外径48mmのプラスチック製リールの側面(厚み1.5mm)に、接着フィルムの面を内側にして50m巻きつけた。
実施例2〜5
非導電粒子の種類及び配合量を表1に示すように変化させたこと以外は実施例1と同様にして、テープ状の回路接続材料を作製した。実施例2で用いた非導電粒子はポリアミド系エラストマーの粒子(平均粒径:10μm、10%圧縮弾性率(K値):260Kgf/mm、融点:170℃)、実施例3で用いた非導電粒子はポリアミド系エラストマーの粒子(平均粒径:5μm、10%圧縮弾性率(K値):270Kgf/mm、融点:180℃)、実施例4で用いた非導電粒子はポリアミド系エラストマーの粒子(平均粒径:3μm、10%圧縮弾性率(K値):280Kgf/mm、融点:200℃)、実施例5で用いた非導電粒子はポリエステル系エラストマーの粒子(平均粒径:5μm、10%圧縮弾性率(K値):290Kgf/mm、融点:210℃)である。
比較例1〜5
非導電粒子としてポリスチレン−ジビニルベンゼン共重合体微粒子(6μm、10%圧縮弾性率(K値):320Kgf/mm、製品名PB3006)、シリコーン微粒子(2μm、10%圧縮弾性率(K値):35Kgf/mm、製品名KMP605)、メタクリル酸エステル共重合物微粒子(5μm、10%圧縮弾性率(K値):330Kgf/mm、製品名MX500)、ナイロン微粒子(5μm、10%圧縮弾性率(K値):200Kgf/mm)、ポリイミド微粒子(3μm、10%圧縮弾性率(K値):390Kgf/mm)を用いた。各成分の配合量を表2に示すように変化させたことの他は実施例1と同様にして、テープ状の回路接続材料を作製した。
(回路接続後の圧痕の観察)
実施例又は比較例で得られた各回路接続材料(幅1.2mm、長さ3cm)の接着フィルムの面を、厚み7μmのソーダライムガラス及びこれの主面上に形成されたAl膜を有するガラス基板に貼り付けて70℃、1MPaで2秒間加熱加圧し、PETフィルムを剥離して、接着フィルムをガラス基板に転写した。ついで、ピッチ50μm、厚み8μmのすずめっき銅回路を600本有するフレキシブル回路板(FPC)を、転写した接着フィルム上に置き、24℃、0.5MPaで1秒間加圧して仮固定した。FPCが回路接続材料によって仮固定されたガラス基板を、本圧着装置に設置し、FPC側からヒートツールによって180℃、3MPaで6秒間加熱及び加圧して、めっき銅回路の長手方向の幅1.2mmにわたり、ガラス基板のAl膜とめっき銅回路とを接続した。加熱及び加圧の際、200μm厚みのシリコーンゴムをクッション材として用いた。
接続部分を、オリンパス社製BH3−MJL液晶パネル検査用顕微鏡を用いて、ノマルスキー微分干渉観察によりガラス基板側から圧痕の状態を観察した。観察の結果、非導電粒子による圧痕がほとんど認められないときに「良好」、非導電粒子による圧痕が確認されたときに「不良」と評価した。また、接続部分におけるボイドの発生状態も観察し、ボイドの発生がほとんど認められないときに「良好」、ボイドの発生が多く認められたときに「不良」と判定した。評価結果を表3、4に示す。
図3及び図4は、比較例2及び3でそれぞれ作製された回路接続構造体の接続部分の顕微鏡写真である。図3に示されるように、比較例2では導電粒子に起因する圧痕70とは別に、非導電粒子に起因する圧痕60が多数認められる。これに伴い、圧痕70の分布が不均一となっている。一方、比較的柔らかいシリコーン微粒子を非導電粒子として用いた比較例3の場合、図4に示されるように、非導電粒子に起因する圧痕70の比率は比較例2と比べると減少するものの、大きな粒径を有するシリコーン微粒子中に起因する大きな圧痕70が発生する。柔らかい非導電粒子から、大きな粒径を有する部分を取り除くのは非常に困難である。
図5は、ナイロン微粒子を用いた比較例5で作製された回路接続構造体の接続部分の顕微鏡写真である。ナイロン微粒子の場合、導電粒子の圧痕の視認性は比較的良好であったものの、図6に示されるように、ナイロン微粒子に起因するボイド65が多く発生した。
図6及び図7は、ポリエステル系エラストマー粒子を用いた実施例1で作製された回路接続構造体の接続部分の顕微鏡写真である。図8は、ポリアミド系エラストマー粒子を用いた実施例3で作製された回路接続構造体の接続部分の顕微鏡写真である。各実施例においては、導電粒子に起因する圧痕のみが均一に観測され、ボイドの発生もほとんど認められなかった。
(接続抵抗及び接着力の測定)
実施例又は比較例で得られた回路接続材料(幅1.2mm、長さ3cm)の接着フィルムの面を、ITOコートガラス基板(15Ω□)に貼り付けて70℃、1MPaで2秒間加熱加圧し、PETフィルムを剥離して、接着フィルムをガラス基板に転写した。ついで、ピッチ50μm、厚み8μmのすずめっき銅回路を600本有するフレキシブル回路板(FPC)を、転写した接着フィルム上に置き、24℃、0.5MPaで1秒間加圧して仮固定した。FPCが回路接続材料によって仮固定されたITOコートガラス基板を、本圧着装置に設置し、FPC側からヒートツールによって180℃、3MPaで6秒間加熱及び加圧して、めっき銅回路の長手方向の幅1.2mmにわたり、銅めっき回路とITOとを接続した。加熱及び加圧の際、200μm厚みのシリコーンゴムをクッション材として用いた。
接続後、接続部を含むFPCの隣接回路間の抵抗値をマルチメータ(装置名:TR6845、アドバンテスト社製)を用いて40点測定し、その平均値を接続抵抗として求めた。また、90度剥離、剥離速度50mm/分の条件で接着力を測定した。得られた結果を表3、4に示す。
以上の実験結果からも、本発明に係る回路接続材料によれば、導電粒子による圧痕の状態の確認が容易であるとともに、接続後のボイドの発生も抑制されることが確認された。さらには、本発明に係る回路接続材料によれば良好な接着力及び接続抵抗が得られることも確認された。

Claims (5)

  1. 絶縁性接着剤と、導電粒子と、ポリアミド系エラストマー及び/又はポリエステル系エラストマーを含む粒子状の非導電相と、を含有し、前記導電粒子及び前記非導電相が前記絶縁性接着剤内に分散しており、
    前記絶縁性接着剤100重量部に対して1〜60重量部の前記非導電相を含有し、
    当該回路接続用接着フィルムが加熱及び加圧されたときに、前記非導電相が前記絶縁性接着剤に溶解する、回路接続用接着フィルム。
  2. 前記非導電相の融点が100〜250℃である、請求項1に記載の回路接続用接着フィルム。
  3. 絶縁性接着剤と、導電粒子と、ポリアミド系エラストマー及び/又はポリエステル系エラストマーを含む粒子状の非導電相と、を含有し、前記導電粒子及び前記非導電相が前記絶縁性接着剤内に分散しており、
    前記絶縁性接着剤100重量部に対して1〜60重量部の前記非導電相を含有し、
    前記非導電相の融点が100〜250℃である、回路接続用接着フィルム。
  4. 前記絶縁性接着剤は、加熱又は光によって遊離ラジカルを発生する硬化剤とラジカル重合性物質とを含む熱硬化性樹脂組成物である、請求項1〜3のいずれか一項に記載の回路接続用接着フィルム。
  5. 第一の接続端子を有する第一の回路部材と、
    前記第一の接続端子と対向配置されるとともに電気的に接続された第二の接続端子を有する第二の回路部材と、
    前記第一の回路部材及び前記第二の回路部材の間に介在してこれらを接着する接着層と、
    を備え、
    前記接着層が、前記第一の回路部材及び前記第二の回路部材の間に配置された請求項1〜4のいずれか一項に記載の回路接続用接着フィルムを加熱及び加圧することにより形成することのできる層である、回路接続構造体。
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