JP4770304B2 - 半導体素子のゲート駆動回路 - Google Patents
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Description
スイッチ素子14がオンしてIGBT5bがターンオフし、対向アームのIGBT5aがターンオンするとき、図9に示すようにIGBT5bにはコレクタ電流Icとゲート電流Ig2とが同時に流れる。このとき、ゲート電流Ig2によって、IGBT5bのゲート・エミッタ間容量Cgeに充電されていた電荷がゲート抵抗15を介して放電され、コレクタ電流Icは徐々に低下していく。
Ic=gm(Vge−Vth) ・・・(1)
ただし、gmは相互コンダクタンス、VthはIGBT5bのゲートしきい値電圧であり、後述する図3にコレクタ電流Icと電圧Vgeの概略の関係を示している。
図11は、電力変換装置の制御回路の構成を示すブロック図、図12は、IGBT5a,5bに出力される制御信号Sa,Sbを示すタイミング図である。
また、上記問題を解決する別の発明として、直流電源に対して電圧駆動型のパワー半導体素子を複数個用いて電力変換装置を構成するための半導体素子のゲート駆動回路において、前記パワー半導体素子をオンオフ制御するゲート駆動手段と、前記パワー半導体素子のゲート・エミッタ間にスイッチ回路を介して並列接続された非線形の抵抗手段と、前記ゲート駆動手段に対するオフ指令の出力より遅れて前記スイッチ回路をオン状態に切換えて保持する制御手段と、を備え、前記制御手段は、前記パワー半導体素子をターンオフさせる以前に流れていたコレクタ電流値を検出する電流値検出回路を含み、前記電流値検出回路では、前記ゲート駆動手段に対してオフ指令が出力された後、前記コレクタ電流値が第3の基準値以下になったとき前記スイッチ回路をオン状態に切換えて保持するとともに、前記制御手段によって前記パワー半導体素子のゲート・エミッタ間に前記抵抗手段が接続された状態で、前記パワー半導体素子をターンオフするようにしたことを特徴とする半導体素子のゲート駆動回路が提供される。
(実施の形態1)
図1は、実施の形態1に係る半導体素子のゲート駆動回路を示す回路図である。ここでは、従来のゲート駆動回路とは異なる部分についてだけ説明することとし、図8に示す従来回路に対応する部分には同じ符号が付けてある。
この図2に示すように、ゲート駆動回路20では、ゲート・エミッタ間の電圧Vgeの検出値と第1の基準値Vref1とをコンパレータ回路32にて比較し、電圧Vgeが第1の基準値Vref1以下となった場合であって、制御信号Saがスイッチ素子14をオンするようにHレベルになったとき、SRFF回路34が論理積回路33からの論理積演算結果によってセットされる。このSRFF回路34は、論理積回路33からの出力(Q)をラッチするために挿入され、スイッチ素子22をオンしている。ここでは、その後にIGBT5aへの制御信号Saがオン指令に切換わって、スイッチング信号S2がLレベルに立下ったとき、SRFF回路34がリセットされ、スイッチ素子22がオフされる。
ゲート駆動回路20によって制御されるIGBT5aは、スイッチ素子14がオンすると、そのゲート・エミッタ間の電圧Vgeがツェナーダイオード21のツェナー電圧(降伏電圧)Vzにクランプされる。したがって、コレクタ・エミッタ間の電圧Vceが直流電圧Edに到達する前に対向アームのIGBT5bがターンオンしても、極端な電圧Vgeの上昇は起こらず、その結果、図3に示すツェナーダイオード21の特性に応じて、直流短絡電流Ishtを抑制することができる。
以上に説明した実施の形態1に係る半導体素子のゲート駆動回路20では、IGBT5aのゲート・エミッタ間にスイッチ素子22を介して並列接続されたツェナーダイオード21と、ゲート駆動回路20に対するオフ指令の出力より遅れてスイッチ素子22をオン状態に切換えて保持するゲート制御回路30を備え、ゲート制御回路30では、ゲート駆動回路20に対してオフ指令が出力された後、IGBT5aのゲート電位が第1の基準値Vref1以下になったとき、スイッチ素子22をオン状態に切換えて保持するようにしたので、ゲート制御回路30によってIGBT5aのゲート・エミッタ間にツェナーダイオード21が接続された状態でIGBT5aをターンオフできる。したがって、直流電源に対して電圧駆動型のパワー半導体素子を複数個用いて電力変換装置を構成したとき、ターンオフ時の損失を少なくして、サージ電圧の低減やノイズの低減が実現できる。
図4は、実施の形態2に係る半導体素子のゲート駆動回路を示す回路図である。
ゲート駆動回路20では、実施の形態1と同様に、IGBT5aのゲート・エミッタ間に、非線形の抵抗手段としてツェナーダイオード21がスイッチ素子22を介して並列に接続されており、ゲート制御回路40によってスイッチ素子22がオンオフ制御される。
図5は、実施の形態3に係る半導体素子のゲート駆動回路を示す回路図である。
ゲート駆動回路20は、スイッチ素子22をオンオフ制御するためのゲート制御回路30(実施の形態1)あるいはゲート制御回路40(実施の形態2)に加えて、IGBT5aがターンオフするとき、それ以前に流れていたコレクタ電流Icの電流値を検出する電流値検出回路50を備えている。ただし、図5のゲート駆動回路20ではゲート制御回路30,40などの記載が省略されている。
図6は、実施の形態4に係る半導体素子のゲート駆動回路を示す回路図である。
ゲート駆動回路20は、実施の形態1と同様に、IGBT5aのゲート・エミッタ間に、非線形の抵抗手段としてツェナーダイオード21がMOSFETなどのスイッチ素子22を介して並列に接続され、さらに、このツェナーダイオード21とスイッチ素子22との直列回路をゲート制御回路60によって制御している。
2 インバータ回路
3 負荷
4 配線インダクタンス
5a〜5f IGBT
6a〜6f ダイオード
7,8 ゲート駆動回路
9 制御回路
10 絶縁器
11 直流電源(Vg)
12,14 スイッチ素子
13 ゲート抵抗(ターンオン用)
15 ゲート抵抗(ターンオフ用)
20 ゲート駆動回路
21 ツェナーダイオード
22 スイッチ素子
23 電流源回路
24 ダイオード
25 センス抵抗
30,40 ゲート制御回路
31 基準電源
32 コンパレータ回路
33 論理積回路
34 SRFF回路(フリップフロップ)
41 基準電源
42 コンパレータ回路
43 論理積回路
44 SRFF回路(フリップフロップ)
50 電流値検出回路
51 基準電源
52 コンパレータ回路
53 サンプルホールド回路
54 論理積回路
60 ゲート制御回路
Claims (9)
- 直流電源に対して電圧駆動型のパワー半導体素子を複数個用いて電力変換装置を構成するための半導体素子のゲート駆動回路において、
前記パワー半導体素子をオンオフ制御するゲート駆動手段と、
前記パワー半導体素子のゲート・エミッタ間にスイッチ回路を介して並列接続された非線形の抵抗手段と、
前記ゲート駆動手段に対するオフ指令の出力より遅れて前記スイッチ回路をオン状態に切換えて保持するものであって、前記ゲート駆動手段に対してオフ指令が出力された後、前記電力変換装置の上下アームをなす前記パワー半導体素子の制御信号に対して短絡防止用に設定されたデッドタイムとほぼ等しい時間だけ経過したとき、前記スイッチ回路をオン状態に切換えて保持する制御手段と、
を備え、
前記制御手段によって前記パワー半導体素子のゲート・エミッタ間に前記抵抗手段が接続された状態で、前記パワー半導体素子をターンオフするようにしたことを特徴とする半導体素子のゲート駆動回路。 - 直流電源に対して電圧駆動型のパワー半導体素子を複数個用いて電力変換装置を構成するための半導体素子のゲート駆動回路において、
前記パワー半導体素子をオンオフ制御するゲート駆動手段と、
前記パワー半導体素子のゲート・エミッタ間にスイッチ回路を介して並列接続された非線形の抵抗手段と、
前記ゲート駆動手段に対するオフ指令の出力より遅れて前記スイッチ回路をオン状態に切換えて保持する制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、前記パワー半導体素子をターンオフさせる以前に流れていたコレクタ電流値を検出する電流値検出回路を含み、
前記電流値検出回路では、前記ゲート駆動手段に対してオフ指令が出力された後、前記コレクタ電流値が第3の基準値以下になったとき前記スイッチ回路をオン状態に切換えて保持するとともに、
前記制御手段によって前記パワー半導体素子のゲート・エミッタ間に前記抵抗手段が接続された状態で、前記パワー半導体素子をターンオフするようにしたことを特徴とする半導体素子のゲート駆動回路。 - 前記制御手段は、前記パワー半導体素子の帰還容量を逆充電するための必要な時間だけ、前記スイッチ回路をオン状態に切換えて保持するようにしたことを特徴とする請求項1または請求項2のいずれかに記載の半導体素子のゲート駆動回路。
- 前記抵抗手段は、所定の降伏電圧を有するツェナーダイオードであって、
前記降伏電圧が、前記パワー半導体素子をターンオフする際に前記帰還容量に正方向に充電された電荷が放電する間のゲート・エミッタ間の電圧とほぼ等しく設定されていることを特徴とする請求項3記載の半導体素子のゲート駆動回路。 - 前記制御手段は、前記ゲート駆動手段に対してオフ指令が出力された後、前記パワー半導体素子のゲート電位が第1の基準値以下になったとき、前記スイッチ回路をオン状態に切換えて保持するようにしたことを特徴とする請求項4記載の半導体素子のゲート駆動回路。
- 前記第1の基準値が、前記ツェナーダイオードの前記降伏電圧より高く設定されていることを特徴とする請求項5記載の半導体素子のゲート駆動回路。
- 前記制御手段は、前記ゲート駆動手段に対してオフ指令が出力された後、前記パワー半導体素子のコレクタ・エミッタ間電位が第2の基準値以上になったとき、前記スイッチ回路をオン状態に切換えて保持するようにしたことを特徴とする請求項4記載の半導体素子のゲート駆動回路。
- 前記第2の基準値が、前記ツェナーダイオードの降伏電圧より低く設定されていることを特徴とする請求項7記載の半導体素子のゲート駆動回路。
- 前記ゲート駆動手段は、駆動用の直流電源と、前記直流電源の正極側と前記パワー半導体素子との間を接続するターンオン用のスイッチ素子および抵抗素子からなる第1の直列回路と、前記直流電源の負極側と前記パワー半導体素子との間を接続するターンオフ用のスイッチ素子および抵抗素子からなる第2の直列回路とから構成されていることを特徴とする請求項1または請求項2のいずれかに記載の半導体素子のゲート駆動回路。
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