JP4210245B2 - 波長可変フィルタ及び検出装置 - Google Patents
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Description
以下、本発明の第1実施形態の波長可変フィルタについて、図面を参照して説明する。図1は、本実施形態の波長可変フィルタを示す平面図であり、図2は、そのA−A断面図、図3は、そのB−B断面図である。
図4(a)に示すように、固定基板2の上面2aにマスク層51を成膜する。マスク層51を構成する材料としては、例えば、Cr/Au等の金属膜等を用いることができる。マスク層51の厚さは、特に限定されないが、0.01〜1μm程度とすることが好ましく、0.09〜0.11μm程度とすることがより好ましい。マスク層51が薄すぎると、固定基板2を十分に保護できない場合があり、マスク層51が厚すぎると、マスク層51の内部応力によりマスク層51が剥がれ易くなる場合がある。本実施形態では、マスク層51に、Cr/Au膜をスパッタ法によって成膜し、Cr、Auそれぞれの膜厚は0.03μm、0.07μmとしている。
本実施形態では、シリコンからなる可動基板3を形成するための基材として、SOI基板を用いている。
図10(a)に示すように、固定基板2の第1及び第2の凹部21,22が形成された面(上面2a)と、SOI基板60の第2のSi層63とを対向させた状態で、固定基板2とSOI基板60とを陽極接合等によって接合する。
次に、第1のSi層61を除去する。除去する方法としては、ウェットエッチング法、ドライエッチング法、研磨等が用いられるが、いずれの場合も、SiO2層62がストッパ層として機能するため、第2のSi層63にダメージを与えるのを防ぐことができる。
ここで、KOH水溶液によるSiのエッチングレートは、SiO2のエッチングレートよりも相当大きいため、SiO2層62をストッパ層として機能させることができる。なお、他のエッチング液としては、TMAH(テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド)水溶液、EPD(エチレンジアミン−ピロカテコール−ジアジン)水溶液、又はヒドラジン水溶液等を用いることが可能である。ウェットエッチングは、バッチ処理が可能であるため、生産性を向上させることが可能となる。
ここで、XeF2を用いたドライエッチングの場合にも、Siのエッチングレートは、SiO2のエッチングレートよりも相当大きいため、SiO2層62をストッパ層として機能させることができる。なお、このエッチングは、プラズマによるものではないため、他の部位へのダメージを抑制することが可能となる。XeF2の代わりにCF4やSF6を用いたプラズマエッチングを用いることも可能である。
本発明の第2実施形態を、図面を参照して説明する。図12は、第1実施形態の波長可変フィルタ1を備えた検出装置の構成図である。
なお、本発明の実施形態は、以下のように変更してもよい。
Claims (5)
- 絶縁性があり、可視光に対して光透過性を有する単一部材の1つの面に、第1の凹部と第2の凹部とが形成されている固定基板と、
可動部を備え、前記可動部が前記第1及び第2の凹部の底面と対向するように前記固定基板に接合された導電性を有する可動基板と、
前記可動部の前記第1及び第2の凹部の底面と対向する面に備えられた可動反射膜と、
前記第1の凹部の底面に、前記可動反射膜と第1のギャップを隔てて備えられた固定反射膜と、
前記固定基板に、前記可動部との電位差により生じるクーロン力によって、前記可動部を前記固定基板に対して変位させ、前記第1のギャップの長さを可変とする駆動電極と、
を有し、外部から前記第1のギャップ内に入射した光を、前記可動反射膜及び前記固定反射膜で反射を繰り返し、前記第1のギャップの長さに応じた波長の光を外部に出射可能な波長可変フィルタであって、
前記可動部は、前記可動反射膜が備えられた部位に、可視光を透過可能で、外部と光の入出射を行うための光透過部を有し、
前記駆動電極は、前記第2の凹部の底面に前記可動部と第2のギャップを隔てて配置され、前記第1の凹部の底面には配置されていないことを特徴とする波長可変フィルタ。 - 請求項1に記載の波長可変フィルタにおいて、前記可動部の前記駆動電極に対向する部位、及び前記駆動電極の前記可動部に対向する部位の少なくとも一方に、絶縁膜が形成されていることを特徴とする波長可変フィルタ。
- 請求項1または2のいずれか1項に記載の波長可変フィルタにおいて、前記光透過部の前記可動反射膜が備えられた面の反対面、及び前記固定基板の前記固定反射膜が備えられた面の反対面の少なくとも一方に、反射防止膜が備えられていることを特徴とする波長可変フィルタ。
- 請求項1〜3のいずれか1項に記載の波長可変フィルタにおいて、前記固定基板は、可動イオンを含むガラスからなり、前記可動基板は、シリコンからなり、前記固定基板と前記可動基板は陽極接合されていることを特徴とする波長可変フィルタ。
- 請求項1〜4のいずれか1項に記載の波長可変フィルタを備えたことを特徴とする検出装置。
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| JP5445303B2 (ja) * | 2010-04-19 | 2014-03-19 | セイコーエプソン株式会社 | 光フィルター素子、光フィルターモジュール、および分析機器 |
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| US20120056890A1 (en) * | 2010-09-02 | 2012-03-08 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Flexible film interferometric modulator devices and methods of forming the same |
| JP5640659B2 (ja) * | 2010-11-02 | 2014-12-17 | セイコーエプソン株式会社 | 光フィルター、光フィルターの製造方法、及び光機器 |
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| JP5673049B2 (ja) * | 2010-12-08 | 2015-02-18 | セイコーエプソン株式会社 | 波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置 |
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| JP5910099B2 (ja) * | 2012-01-18 | 2016-04-27 | セイコーエプソン株式会社 | 干渉フィルター、光学モジュールおよび電子機器 |
| FI125690B (en) * | 2013-06-18 | 2016-01-15 | Teknologian Tutkimuskeskus Vtt Oy | Mirror for Fabry-Perot interferometer and method for its manufacture |
| JP2015066611A (ja) * | 2013-09-27 | 2015-04-13 | セイコーエプソン株式会社 | アクチュエーターの駆動システム、光学モジュール及び電子機器 |
| US9425089B2 (en) * | 2014-06-30 | 2016-08-23 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Conductive element structure and method |
| DE102016116499B4 (de) * | 2016-09-02 | 2022-06-15 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Bilden von Halbleiterbauelementen und Halbleiterbauelemente |
| CN107561684B (zh) * | 2017-09-30 | 2021-02-23 | Oppo广东移动通信有限公司 | 滤光片、镜头模组和成像模组 |
| CN111682101B (zh) * | 2020-05-20 | 2022-03-29 | 华南理工大学 | 一种柔性fbar滤波器的制造方法 |
| KR102783882B1 (ko) * | 2020-08-24 | 2025-03-18 | 쉔젠 하이퍼나노 옵틱스 테크놀로지 코., 엘티디 | 가동 경면을 갖는 조정 가능한 파브리 페로 캐비티 소자 및 이의 제조 방법 |
| CN115373081B (zh) * | 2022-10-26 | 2023-12-15 | 上海拜安传感技术有限公司 | Mems光纤波长可调谐滤波器及形成方法 |
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| SE515191C2 (sv) | 1992-05-05 | 2001-06-25 | Volvo Ab | Förfarande för tillverkning av en anordning för mätning av tryck jämte anordning för mätning av tryck |
| FI94804C (fi) * | 1994-02-17 | 1995-10-25 | Vaisala Oy | Sähköisesti säädettävä pintamikromekaaninen Fabry-Perot-interferometri käytettäväksi optisessa materiaalianalyysissä |
| JPH07243963A (ja) | 1994-03-07 | 1995-09-19 | Yazaki Corp | 光共振器とその製造方法 |
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| JP2000214397A (ja) | 1999-01-22 | 2000-08-04 | Canon Inc | 光偏向装置 |
| US6590710B2 (en) * | 2000-02-18 | 2003-07-08 | Yokogawa Electric Corporation | Fabry-Perot filter, wavelength-selective infrared detector and infrared gas analyzer using the filter and detector |
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| KR20040072406A (ko) * | 2003-02-12 | 2004-08-18 | 엘지전자 주식회사 | 파장 조절 광 공진기 및 그를 이용한 튜너블 광 필터 |
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