JP2024058161A - Susceptor - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、シリコンウェハ等の基板を保持するサセプタに関する。 The present invention relates to a susceptor that holds a substrate such as a silicon wafer.
特許文献1には、ウェハなどの基板を保持するサセプタが開示されている。特許文献1に記載のサセプタは、基板が載置されるセラミック焼結体(基板支持部)と、表面から0.2mm~50mmの深さに埋設された金属体(RFプレート)とを備える。特許文献1に記載のサセプタにおいては、セラミック焼結体は窒化アルミニウム(AlN)またはアルミナ(Al2O3)によって形成されている。 Patent Document 1 discloses a susceptor for holding a substrate such as a wafer. The susceptor disclosed in Patent Document 1 includes a ceramic sintered body (substrate support) on which the substrate is placed, and a metal body (RF plate) embedded to a depth of 0.2 mm to 50 mm from the surface. In the susceptor disclosed in Patent Document 1, the ceramic sintered body is made of aluminum nitride (AlN) or alumina (Al 2 O 3 ).
従来、サセプタは、加工容易性、高熱伝導性、及び高周波電極の兼用の観点から、AlNなどのAl合金が用いられてきた。しかしながら、Al合金自体の耐熱性のため、200℃を超えるような高温での使用には制約があった。近年の半導体プロセスのハイパワー化に伴い、耐熱性の高いサセプタが要望されている。 Traditionally, susceptors have been made of Al alloys such as AlN, due to their ease of processing, high thermal conductivity, and ability to double as high-frequency electrodes. However, due to the heat resistance of the Al alloy itself, there were limitations to their use at high temperatures exceeding 200°C. With the recent trend toward higher power semiconductor processes, there is a demand for susceptors with high heat resistance.
本発明は、かかる事情を鑑みてなされたものであり、200℃を超えるような高温で使用できる、耐熱性の高いサセプタを提供することを目的とする。 The present invention was made in consideration of these circumstances, and aims to provide a highly heat-resistant susceptor that can be used at high temperatures exceeding 200°C.
本発明の態様に従えば、上面、前記上面と上下方向において対向する下面を有し、SiCを主成分とする円板状のセラミック焼結体と、
前記セラミック焼結体に埋設され、前記上下方向の長さが0.1mm以上である板状の金属体と、を備え、
前記金属体は、前記セラミック焼結体の前記上面から下方に0.05mm以上離れた位置に埋設されていることを特徴とするサセプタが提供される。
According to an aspect of the present invention, there is provided a disk-shaped ceramic sintered body having an upper surface and a lower surface vertically opposed to the upper surface, the disk-shaped ceramic sintered body being mainly composed of SiC;
a plate-shaped metal body embedded in the ceramic sintered body and having a length of 0.1 mm or more in the vertical direction;
The susceptor is characterized in that the metal body is embedded at a position 0.05 mm or more below the upper surface of the ceramic sintered body.
金属体が、セラミック焼結体の上面から下方に0.05mm以上離れた位置に埋設されているので、金属体を高周波電極やヒータ電極として用いることができる。金属体の厚さが0.1mm以上であるので、金属体の強度を高めることができる。また、金属体の厚さ(上下方向の長さ)を0.1mm以上にすることにより、インピーダンスを小さく抑えることができる。このことは、金属体を高周波電極として用いる場合に特に有効である。なお、一般に、Al合金製のサセプタの使用温度は、約100℃~200℃である。これに対して、本発明のサセプタでは、セラミック焼結体がAl合金よりも高融点のSiCを主成分とするセラミック材料を焼結することにより形成されているので、500℃以上の高温で使用することができる。 The metal body is embedded at a position 0.05 mm or more below the upper surface of the ceramic sintered body, so that the metal body can be used as a high-frequency electrode or a heater electrode. Since the thickness of the metal body is 0.1 mm or more, the strength of the metal body can be increased. Furthermore, by making the thickness (length in the vertical direction) of the metal body 0.1 mm or more, the impedance can be kept small. This is particularly effective when the metal body is used as a high-frequency electrode. Generally, the operating temperature of a susceptor made of an Al alloy is about 100°C to 200°C. In contrast, in the susceptor of the present invention, the ceramic sintered body is formed by sintering a ceramic material mainly composed of SiC, which has a higher melting point than an Al alloy, so that it can be used at high temperatures of 500°C or more.
<サセプタ100>
本発明の実施形態に係るサセプタ100について、図1、2を参照しつつ説明する。本実施形態に係るサセプタ100は、例えば、半導体製造装置の内部でシリコンウェハなどの半導体ウェハ(以下、単にウェハ10という)を保持する台、又は、別のサセプタを保持する台として用いられる。なお、以下の説明においては、サセプタ100が使用可能に設置された状態(図1の状態)を基準として上下方向5が定義される。図1に示されるように、本実施形態に係るサセプタ100は、セラミック焼結体110と、金属体120(図2、3参照)と、配線140(図2参照)とを備える。
<
A
セラミック焼結体110は、直径約400mmの円形の板状の形状を有する部材であり、セラミック焼結体110の上面111にはウェハ10が載置される。セラミック焼結体110の厚さ(上下方向5の長さ)は10mm~50mmが好適である。なお、図1では図面を見やすくするためにウェハ10とセラミック焼結体110とを離して図示している。また、図2に示されるように、セラミック焼結体110の内部には、後述の第1流路162が形成されている。セラミック焼結体110は、炭化ケイ素(SiC)を主成分として含むセラミックス焼結体により形成されている。ここで、SiCを主成分として含むとは、SiCを90wt%以上含むことをいう。なお、SiCを主成分として含むセラミックス焼結体には、ホウ素(B)を成分として含む焼結助剤(B成分の焼結助剤)及び/又は炭素(C)を成分として含む焼結助剤(C成分の焼結助剤)が添加されていてもよい。これらのB成分の焼結助剤、C成分の焼結助剤は、それぞれ、5wt%以下の濃度で添加されていてもよい。また、SiCを主成分として含むセラミックス焼結体には、Al2O3、Al2O3-Y2O3、AlB2などのAl化合物が5wt%以下の濃度で添加されていてもよい。
The ceramic sintered
図2に示されるように、セラミック焼結体110の、上面111から下方に0.05mm以上離れた位置には、金属体120が埋設されている。後述のように、金属体120は、SiCを主成分とするセラミック焼結体110と同時に焼結される焼結金属体である。図3に示されるように、金属体120は円形の形状を有している。金属体120の直径は300mmであり、セラミック焼結体110の側面から露出しない。金属体120の略中央には、配線140(図2参照)と接続される端子部121が設けられている。本実施形態において、金属体120は高周波電極として機能する。
As shown in FIG. 2, the
金属体120は、タングステン(W)又はモリブデン(Mo)、モリブデン及び/又はタングステンを含む合金により形成される。これらの金属又は合金の純度は99%以上であることが好ましい。なお、SiCとの線膨張係数の差を小さくして、焼結後の残留応力を軽減するという観点からは、特にタングステン(W)が好ましい。
The
金属体120は、粉末冶金や圧延によって形成される緻密な金属バルク体(例えば金属箔など)や、金属ワイヤーを織ったメッシュや、金属製の多孔体により形成することができる。金属体120が多孔体により形成される場合において、気孔率は40~90%が好適であり、50~75%がさらに好適である。気孔径は50~1000μmが好適である。焼成後の金属体120の厚さは0.1mm以上10mm以下である。金属体120の厚さは1mm以上5mm以下がさらに好適である。なお、金属体120の厚さは一様であることが好ましいが、厚さが一様でなくてもよい。その場合には、金属体120の最大厚さを、金属体120の厚さとする。本実施形態においては、金属体120は、図3に示されるような円形状の形状を有しているが金属体120の形状はこれには限られず、適宜変更しうる。なお、セラミック焼結体110の内部には高周波電極としての金属体120に加えて、あるいは、高周波電極としての金属体120に代えて、別の金属体が埋設されていてもよい。例えば、別の金属体として、発熱抵抗体(ヒータ電極)が埋設されていてもよい。
The
図2に示されるように、セラミック焼結体110の内部には、第1流路162が形成されている。第1流路162は、円板状のセラミック焼結体110と同心の2重円を描くように延びている。第1流路162の一端には入口ポート162aが設けられ、他端には出口ポート162bが設けられている。入口ポート162a及び出口ポート162bは、セラミック焼結体110の下面113から第1流路162まで上下方向5に延びる貫通孔として形成されている。入口ポート162a及び出口ポート162bを介して、第1流路162に冷媒を流すことができる。なお、第1流路162を流れる冷媒は、液体であってもよく、気体であってもよい。例えば、冷媒として、水、アルコールなどを用いることができる。なお、一般的なサセプタに用いられるセラミック焼結体の主成分は、窒化アルミニウム(AlN)であることが多いが、AlNは水と反応するため、本実施形態のように、セラミック焼結体の内部に冷媒用の流路を形成して、直接冷却水を流すことができない。これに対して、本実施形態のサセプタ100のセラミック焼結体110は、SiCを主成分として含んでいる。SiCは水と反応しないため、セラミック焼結体110の内部に形成された第1流路162に、直接冷却水を流すことが可能である。
2, a
図2に示されるように、セラミック焼結体110の内部には、金属体120に接続される配線140と、熱電対などの温度センサ141とが配置されている。なお、図2においては、配線140は1つしか図示されていないが、複数の配線140を設けることができる。配線140の上端は、金属体120に電気的に接続されている。温度センサ141の上端には測温体が設けられており、セラミック焼結体110の内部に配置されている。
As shown in FIG. 2, inside the ceramic
次に、サセプタ100の製造方法について説明する。まず、セラミック焼結体110の製造方法として、仮焼体接合法について説明する。なお、説明を簡略化するために、セラミック焼結体110の内部には、1つの金属体120が埋設されているものとする。また、以下の説明においては、3つの仮焼体を作製して積層することを例に挙げているが、本発明はそのような態様には限られず、2つ又は4つ以上の仮焼体を作製して積層してもよい。
Next, a method for manufacturing the
図4(a)に示されるように、SiCの造粒粉Pに熱硬化性樹脂バインダー等のバインダー及び焼結助剤を加えて混合し、CIP成型し、円板状に加工して、3つのSiC成形体610a、610b、610cを作製する。SiCの造粒粉Pには、5wt%以下のB成分の焼結助剤及び/又は5wt%以下のC成分の焼結助剤が含まれることが好ましい。SiCの造粒粉Pは、高純度であることが好ましく、その純度は、好ましくは96%以上、より好ましくは98%以上である。また、SiCの造粒粉の平均粒径は、好ましくは0.1μm以上1.0μm以下、より好ましくは0.3μm以上0.8μm以下である。混合方式は、湿式、乾式のいずれであってもよい。
As shown in FIG. 4(a), the SiC granulated powder P is mixed with a binder such as a thermosetting resin binder and a sintering aid, and then CIP molded and processed into a disk shape to produce three SiC molded
次に、図4(b)に示されるように、SiC成形体610a~610cを900℃以上1200℃未満の温度で加熱して脱脂処理を行い、バインダーを除去した後、1200℃以上1900℃以下の温度で加熱してSiC仮焼体611a~611cを作製する。なお、SiC成形体610a~610cを1200℃以上1900℃以下の温度まで連続的に昇温させながら加熱して、SiC仮焼体611a~611cを作製してもよい。あるいは、SiC成形体610a~610cを脱脂処理した脱脂体を、SiC仮焼体611a~611cとすることもできる。
Next, as shown in FIG. 4(b), the SiC molded
次に、図4(c)に示されるように、SiC仮焼体611cに、第1流路162となる凹部612を形成し、SiC仮焼体611bに金属体120を埋設するための凹部613を形成し、凹部613に金属体120を配置する。凹部612が形成されたSiC仮焼体611cの上に、凹部613が形成されたSiC仮焼体611bを積層し、さらにその上にSiC仮焼体611aを積層する。なお、凹部612、613は予め成形体610c、610bに形成しておいてもよい。
Next, as shown in FIG. 4(c), a
次に、図4(d)に示されるように、金属体120を挟むように積層されたSiC仮焼体611a~611cをプレスした状態で2000℃以上2200℃以下の温度で焼成し、焼成体615を作製する。焼成の際に加える圧力は、1MPa以上であることが好ましい。焼成時間は、好ましくは0.1時間以上10時間以下、より好ましくは1時間以上5時間以下である。
Next, as shown in FIG. 4(d), the SiC calcined
焼成体615を作製した後、配線140を挿入するための挿入孔を形成するために、金属体120までの止まり穴加工を行う。同様に、温度センサ141を挿入するための挿入孔を形成するための止り穴加工を行う。さらに、第1流路162の入口ポート162a及び出口ポート162bとなる貫通孔を形成する。これにより、内部に第1流路162が形成されたセラミック焼結体110を作製することができる。
After producing the
なお、セラミック焼結体110の内部に第1流路161を形成しない場合には、以下のような粉末ホットプレス法によりセラミック焼結体110を作製することができる。
If the first flow path 161 is not formed inside the ceramic
図5(a)に示されるように、SiC粉末を主成分とする造粒粉Pをカーボン製の有床型501に投入し、パンチ502で仮プレスする。なお、造粒粉Pには、5wt%以下のB成分の焼結助剤及び/又は5wt%以下のC成分の焼結助剤が含まれることが好ましい。次に、図5(b)に示されるように、仮プレスされた造粒粉Pの上に、金属体120を配置する。なお、金属体120は、加圧方向に垂直な面(有床型501の底面)に平行になるように配置される。このとき、Wのペレット又はMoのペレットを金属体120の配線140と重なる位置(図3参照)の位置に埋設してもよい。
As shown in FIG. 5(a), granulated powder P mainly composed of SiC powder is put into a bed-
図5(c)に示されるように、金属体120を覆うようにさらに造粒粉Pを有床型501に投入し、パンチ502でプレスして成形する。次に、図5(d)に示されるように、金属体120が埋設された造粒粉Pをプレスした状態で焼成して、焼成体を作製する。焼成の際に加える圧力は、1MPa以上であることが好ましい。また、1800℃以上の温度で焼成することが好ましい。焼成体を作製した後の工程は、上述の工程と同様であるので説明を省略する。
As shown in FIG. 5(c), granulated powder P is further poured into bed-
以下、本発明について実施例1~6を用いて更に説明する。但し、本発明は、以下に説明する実施例に限定されない。なお、図6には、実施例1~6の結果をまとめた表が示されている。 The present invention will be further explained below using Examples 1 to 6. However, the present invention is not limited to the examples described below. Figure 6 shows a table summarizing the results of Examples 1 to 6.
[実施例1]
実施例1のサセプタ100(図2参照)について説明する。実施例1においては、0.5wt%のB4Cと、4wt%のCを添加した炭化ケイ素(SiC)の造粒粉を原料として、上述の仮焼体接合法により直径400mm、厚さ45mmのセラミック焼結体110を作製した。なお、金属体120として、厚さ0.1mm、直径300mmの円形のタングステン箔(図3参照)を用いた。
[Example 1]
The susceptor 100 (see FIG. 2) of Example 1 will be described. In Example 1, a ceramic
SiC成形体610a~610cを仮焼する際の仮焼条件は、温度1700℃、仮焼時間3時間とし、アルゴンガス中で常圧焼成した。SiC仮焼体611a、611bを、直径400mm、厚さ10mmとなるように加工し、SiC仮焼体611cを、直径400mm、厚さ25mmとなるように加工した。SiC仮焼体611bに形成される凹部613の深さは、金属体120の厚さと同じ0.1mmとした。また、凹部613の直径は302mmとした。SiC仮焼体611cに形成される凹部162の幅は20mm、深さ15mmとした。また、SiC仮焼体611a~611cを焼成する際の焼成条件は、温度2070℃、圧力2.45MPaとした。このような焼成条件で焼成することにより、セラミック焼結体110内においてSiCセラミックと金属体120とが焼結して一体化したサセプタ100を作製することができた。つまり、セラミック焼結体110の内部において、SiCセラミックと金属体120とを、接合剤などを介さずに直接的に接合させることができた。また、第1流路162に冷媒として水を循環させても水漏れ等の不具合は発生しなかった。
The
[実施例2]
実施例2のサセプタ100は、金属体120の厚さを0.3mmとしたことと、SiC仮焼体611bに形成される凹部613の深さを、金属体120の厚さと同じ0.3mmとしたことを除いて、実施例1のサセプタ100と同様の製造方法により作製された。実施例1と同様に、セラミック焼結体110内においてSiCセラミックと金属体120とが焼結して一体化したサセプタ100、つまり、セラミック焼結体110の内部において、SiCセラミックと金属体120とが接合剤などを介さずに直接的に接合したサセプタ100を作製することができた。また、第1流路162に冷媒として水を循環させても水漏れ等の不具合は発生しなかった。
[Example 2]
The
[実施例3]
実施例3のサセプタ100は、金属体120の厚さを1mmとしたことと、SiC仮焼体611bに形成される凹部613の深さを、金属体120の厚さと同じ1mmとしたことを除いて、実施例1のサセプタ100と同様の製造方法により作製された。実施例1と同様に、セラミック焼結体110内においてSiCセラミックと金属体120とが焼結して一体化したサセプタ100、つまり、セラミック焼結体110の内部において、SiCセラミックと金属体120とが接合剤などを介さずに直接的に接合したサセプタ100を作製することができた。また、第1流路162に冷媒として水を循環させても水漏れ等の不具合は発生しなかった。
[Example 3]
The
[実施例4]
実施例4のサセプタ100は、金属体120の厚さを5mmとしたことと、SiC仮焼体611bに形成される凹部613の深さを、金属体120の厚さと同じ5mmとしたことを除いて、実施例1のサセプタ100と同様の製造方法により作製された。実施例1と同様に、セラミック焼結体110内においてSiCセラミックと金属体120とが焼結して一体化したサセプタ100、つまり、セラミック焼結体110の内部において、SiCセラミックと金属体120とが接合剤などを介さずに直接的に接合したサセプタ100を作製することができた。また、第1流路162に冷媒として水を循環させても水漏れ等の不具合は発生しなかった。
[Example 4]
The
[実施例5]
実施例5のサセプタ100は、金属体120として、モリブデンのメッシュ(線径0.1mmのモリブデンワイヤーの平織、メッシュサイズ50)を用いたことと、SiC仮焼体611bに形成される凹部613の深さを、金属体120の厚さと同じ0.1mmとしたことを除いて、実施例1のサセプタ100と同様の製造方法により作製された。実施例1と同様に、セラミック焼結体110内においてSiCセラミックと金属体120とが焼結して一体化したサセプタ100、つまり、セラミック焼結体110の内部において、SiCセラミックと金属体120とが接合剤などを介さずに直接的に接合したサセプタ100を作製することができた。また、第1流路162に冷媒として水を循環させても水漏れ等の不具合は発生しなかった。
[Example 5]
The
[実施例6]
実施例6のサセプタ100は、金属体120として、厚さ5mmのタングステンの多孔体(気孔率40%)を用いたことと、SiC仮焼体611bに形成される凹部613の深さを、多孔体の厚さの70%である3.5mmとしたことを除いて、実施例1のサセプタ100と同様の製造方法により作製された。実施例1と同様に、セラミック焼結体110内においてSiCセラミックと金属体120とが焼結して一体化したサセプタ100、つまり、セラミック焼結体110の内部において、SiCセラミックと金属体120とが接合剤などを介さずに直接的に接合したサセプタ100を作製することができた。凹部613の深さを多孔体の厚さの70%としたので、焼成時に加える圧力により多孔体を緻密化することができた。また、金属体120として、多孔体を用いているので、焼成の際に多孔体の気孔の一部にSiCが侵入し、SiCと金属体120とを強固に結合させることができた。また、第1流路162に冷媒として水を循環させても水漏れ等の不具合は発生しなかった。
[Example 6]
The
<実施形態の作用効果>
上記実施形態及び実施例1~6において、サセプタ100は、SiCを主成分とする円板状のセラミック焼結体110と、セラミック焼結体110に埋設された板状の金属体120とを備えている。なお、SiCを主成分とするとは、セラミック焼結体110を構成するセラミック材料のうち、SiCが占める割合が90wt%以上であることを意味している。また、金属体120の厚さ(上下方向5の長さ)は、0.1mm以上である。金属体120は、セラミック焼結体110の上面111から下方に0.05mm以上離れた位置に埋設されている。
<Effects of the embodiment>
In the above embodiment and examples 1 to 6, the
金属体120が、セラミック焼結体110の上面111から下方に0.05mm以上離れた位置に埋設されているので、金属体120を高周波電極やヒータ電極として用いることができる。金属体120の厚さが0.1mm以上であるので、金属体120の強度を高めることができる。また、金属体120の厚さを0.1mm以上にすることにより、インピーダンスを小さく抑えることができる。このことは、金属体120を高周波電極として用いる場合に特に有効である。なお、金属体120の厚さは3mm以上にすることができ、5mm以上にすることもできる。
Since the
一般に、Al合金製のサセプタの使用温度は、約100℃~200℃である。これに対して、本実施形態のサセプタ100では、セラミック焼結体110がAl合金よりも高融点のSiCを主成分とするセラミック材料を焼結することにより形成されているので、200℃以上の高温で使用することができる。
Generally, the operating temperature of an Al alloy susceptor is approximately 100°C to 200°C. In contrast, in the
上記実施形態及び実施例1~6において、セラミック焼結体110の内部において、セラミック焼結体110と金属体120は直接的に接合している。つまり、セラミック焼結体110と金属体120とは、焼結により一体化している。そのため、セラミック焼結体110と金属体120とを、有機系の接着剤やその他の低融点の接合剤で一体化した場合と比較して、耐熱性を高めることができる。
In the above embodiment and Examples 1 to 6, the ceramic
サセプタ100の上面111には、直接ウェハ10を載置することができる。あるいは、サセプタ100の上面111に、別のサセプタを介してウェハ10を載置することができる。上記実施形態及び実施例1~6において、セラミック焼結体110の内部には第1流路162が形成されている。第1流路162に所定の温度に調整された冷媒を流すことにより、サセプタ100の熱量を除去することができる。これにより、サセプタ100の上面111に配置された別のサセプタやウェハ10の温度を調節することができる。また、セラミック焼結体110はSiCを主成分としているので、水との反応性がない。そのため、セラミック焼結体110の内部に形成された第1流路162に、冷媒として水を流すことができる。
The
上記実施形態及び実施例1~6において、金属体120は、W、Mo、及びWとMoの合金のうち、少なくとも一種の金属を主成分として含んでいる。これらの金属を金属体120として用いる場合には、他の金属を用いる場合と比べて、金属体120の線膨張係数とSiCの線膨張係数との差を小さくすることができる。これにより、焼成後にセラミック焼成体110の内部に残る残留応力を小さくすることができるので、サセプタ100を繰り返し長期間使用した場合における破損の発生を抑えることができる。なお、W、Mo、及びWとMoの合金のうち、Wの線膨張係数とSiCの線膨張係数との差が最も小さい。そのため、金属体120の線膨張係数とSiCの線膨張係数との差を小さくするという観点からは、金属体120として、Wを用いることが好ましい。
In the above embodiment and Examples 1 to 6, the
上記実施例6において、金属体120は多孔体であった。この場合には、焼結時に圧力が加えられることによって多孔体が緻密化するとともに、焼成の際に多孔体の気孔の一部にSiCが侵入するため、SiCと金属体120とを強固に結合させることができる。
In Example 6 above, the
<変更形態>
上述の実施形態は、あくまで例示に過ぎず、適宜変更しうる。例えば、セラミック焼結体110の形状、寸法は上記実施形態のものには限られず、適宜変更しうる。
<Modification>
The above-described embodiment is merely an example and may be modified as appropriate. For example, the shape and dimensions of the ceramic
上記実施形態においては、金属体120として、モリブデン、タングステン、モリブデン及び/又はタングステンを含む合金を用いていたが、本発明はそのような態様には限られない。例えば、モリブデン、タングステン以外の金属又は合金を用いることもできる。また、上記実施形態においては、金属体120の個数は1つであった。しかしながら本発明はそのような態様には限られず、複数の金属体120がセラミック焼結体110に埋設されていてもよい。
In the above embodiment, molybdenum, tungsten, or an alloy containing molybdenum and/or tungsten is used as the
以上、発明の実施形態及びその変更形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記の記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に多様な変更または改良を加えることが当業者に明らかである。そのような変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれうることが請求の範囲の記載からも明らかである。 The above describes the embodiment of the invention and its modified forms, but the technical scope of the present invention is not limited to the scope of the above description. It will be clear to those skilled in the art that various modifications and improvements can be made to the above embodiment. It is also clear from the claims that forms with such modifications or improvements can be included in the technical scope of the present invention.
明細書、及び図面中において示した製造方法における各処理の実行順序は、特段に順序が明記されておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるので無い限り、任意の順序で実行しうる。便宜上、「まず、」「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するわけではない。 The order of execution of each process in the manufacturing method shown in the specification and drawings is not specifically stated, and the processes may be executed in any order unless the output of a previous process is used in a subsequent process. For convenience, even if the description uses "first," "next," etc., it does not mean that the processes must be executed in that order.
100 サセプタ
110 セラミック焼結体
120 金属体
100
Claims (6)
前記セラミック焼結体に埋設され、前記上下方向の長さが0.1mm以上である板状の金属体と、を備え、
前記金属体は、前記セラミック焼結体の前記上面から下方に0.05mm以上離れた位置に埋設されていることを特徴とするサセプタ。 a disk-shaped ceramic sintered body having an upper surface and a lower surface facing the upper surface in the vertical direction, the disk-shaped ceramic sintered body being mainly composed of SiC;
a plate-shaped metal body embedded in the ceramic sintered body and having a length of 0.1 mm or more in the vertical direction;
The susceptor is characterized in that the metal body is embedded at a position 0.05 mm or more below the upper surface of the ceramic sintered body.
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