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JP2018101940A - Photoelectric conversion device, photoelectric conversion method, and image forming apparatus - Google Patents

Photoelectric conversion device, photoelectric conversion method, and image forming apparatus Download PDF

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JP2018101940A
JP2018101940A JP2016247866A JP2016247866A JP2018101940A JP 2018101940 A JP2018101940 A JP 2018101940A JP 2016247866 A JP2016247866 A JP 2016247866A JP 2016247866 A JP2016247866 A JP 2016247866A JP 2018101940 A JP2018101940 A JP 2018101940A
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政元 中澤
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Abstract

【課題】欠陥画素が複数連続して存在する場合でも、適正な補間処理を可能とする。【解決手段】光電変換部が、各画素で受光した光を電気信号に変換する。検出部は、光電変換部の各画素のうち、異常レベルの電気信号を出力する欠陥画素を検出する。特定部は、検出された各欠陥画素のうち、光電変換部上の物理的な位置が連続する欠陥画素を特定する。複数の補間部は、欠陥画素の電気信号を正常な画素の電気信号とする補間処理を行う。分離部は、特定された連続する位置の各欠陥画素が、それぞれ異なる補間部で補間処理されるように、光電変換部からの電気信号を分離して、それぞれ補間部に供給する。合成部は、各補間部でそれぞれ補間処理が施された電気信号を合成して、一連の電気信号を再生して出力する。これにより、欠陥画素が複数連続して存在する場合でも、適正な補間処理を施した電気信号を出力できる。【選択図】図11Even when a plurality of defective pixels exist continuously, it is possible to perform an appropriate interpolation process. A photoelectric conversion unit converts light received by each pixel into an electrical signal. The detection unit detects a defective pixel that outputs an electrical signal of an abnormal level among the pixels of the photoelectric conversion unit. The specifying unit specifies a defective pixel having a continuous physical position on the photoelectric conversion unit among the detected defective pixels. The plurality of interpolation units perform an interpolation process using the electric signal of the defective pixel as an electric signal of a normal pixel. The separation unit separates the electrical signal from the photoelectric conversion unit and supplies the signal to the interpolation unit so that the defective pixels at the specified consecutive positions are interpolated by different interpolation units. The synthesizer synthesizes the electrical signals that have been subjected to the interpolation processing by the interpolation units, and reproduces and outputs a series of electrical signals. As a result, even when there are a plurality of defective pixels in succession, an electric signal subjected to appropriate interpolation processing can be output. [Selection] Figure 11

Description

本発明は、光電変換装置、光電変換方法及び画像形成装置に関する。   The present invention relates to a photoelectric conversion device, a photoelectric conversion method, and an image forming apparatus.

今日において、撮像素子の欠陥画素で生成された異常な画像データを、欠陥画素の周囲の画素からの画像データを用いて補間する補間処理が知られている。例えば、特許文献1(特開2009−130553号公報)には、連続して発生する欠陥画素群を適切に補間する目的とした欠陥画素補正方法が開示されている。この欠陥画素補正方法は、分割された領域内で欠陥度合いを比較し、欠陥度合いが小さい欠陥画素を残し、欠陥度合い大きい欠陥画素を補正した後、残った欠陥画素再度欠陥画素の検出を行い、欠陥画素と判断された場合に、周囲の画素値から補間して生成する。   Nowadays, an interpolation process for interpolating abnormal image data generated at a defective pixel of an image sensor using image data from pixels around the defective pixel is known. For example, Patent Document 1 (Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2009-130553) discloses a defective pixel correction method for the purpose of appropriately interpolating consecutively generated defective pixel groups. This defective pixel correction method compares the degree of defects in the divided areas, leaves defective pixels with a small degree of defect, corrects defective pixels with a large degree of defect, and then detects the defective pixels again after remaining defective pixels, When it is determined as a defective pixel, it is generated by interpolation from surrounding pixel values.

しかし、特許文献1に開示されている欠陥画素補正方法の他、従来の補間処理は、欠陥画素が複数連続して存在すると、欠陥画素に隣接した別の欠陥画素を用いて補間処理を行うことで、補間処理が不十分となり、又は、誤った値に置き換えてしまう問題があった。   However, in addition to the defective pixel correction method disclosed in Patent Document 1, when a plurality of defective pixels exist continuously, the conventional interpolation processing performs interpolation processing using another defective pixel adjacent to the defective pixel. Therefore, there is a problem that the interpolation processing becomes insufficient or is replaced with an incorrect value.

本発明は、上述の課題に鑑みてなされたものであり、欠陥画素が複数連続して存在する場合でも、適正な補間処理を可能とする光電変換装置、光電変換方法及び画像形成装置の提供を目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and provides a photoelectric conversion device, a photoelectric conversion method, and an image forming apparatus that enable appropriate interpolation processing even when a plurality of defective pixels exist continuously. Objective.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、各画素で受光した光を電気信号に変換する光電変換部と、各画素のうち、異常レベルの電気信号を出力する欠陥画素を検出する検出部と、検出された各欠陥画素のうち、光電変換部上の物理的な位置が連続する欠陥画素を特定する特定部と、欠陥画素の電気信号を正常な画素の電気信号とする補間処理を行う複数の補間部と、特定された連続する位置の各欠陥画素が、それぞれ異なる補間部で補間処理されるように、光電変換部からの電気信号を分離して、それぞれ補間部に供給する分離部と、各補間部でそれぞれ補間処理が施された電気信号を合成して、一連の電気信号を再生して出力する合成部とを有する。   In order to solve the above-described problems and achieve the object, the present invention provides a photoelectric conversion unit that converts light received by each pixel into an electrical signal, and a defective pixel that outputs an electrical signal of an abnormal level among the pixels. A detection unit that detects a defect pixel, a specifying unit that identifies a defective pixel having a continuous physical position on the photoelectric conversion unit, and an electrical signal of the defective pixel as an electrical signal of a normal pixel A plurality of interpolation units that perform interpolation processing and an interpolation unit that separates electrical signals from the photoelectric conversion unit so that each defective pixel at a specified continuous position is interpolated by different interpolation units. And a synthesizing unit that synthesizes the electrical signals that have been subjected to the interpolation processing by each interpolation unit and reproduces and outputs a series of electrical signals.

本発明によれば、欠陥画素が複数連続して存在する場合でも、適切な補間処理を可能とすることができるという効果を奏する。   According to the present invention, even when a plurality of defective pixels exist continuously, there is an effect that an appropriate interpolation process can be performed.

図1は、第1の実施の形態のMFPの横断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view of the MFP according to the first embodiment. 図2は、第1の実施の形態のMFPに設けられている読み取り装置の横断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view of a reading device provided in the MFP according to the first embodiment. 図3は、欠陥画素により画像上に現れるRTSノイズを説明するための図である。FIG. 3 is a diagram for explaining RTS noise appearing on an image due to defective pixels. 図4は、連続する複数の欠陥画素の補間手法の一例を示す模式図である。FIG. 4 is a schematic diagram illustrating an example of an interpolation method for a plurality of consecutive defective pixels. 図5は、周囲の画素を用いて欠陥画素の補間処理を行う場合の問題点を説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining a problem that occurs when interpolation processing of defective pixels is performed using surrounding pixels. 図6は、類似パターンに基づいて、欠陥画素の補間処理を行う場合の問題点を説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining a problem in performing defective pixel interpolation processing based on similar patterns. 図7は、カラム単位で駆動を行う光電変換部に発生したRTSノイズによる異常画素の現れ方を説明するための図である。FIG. 7 is a diagram for explaining how abnormal pixels appear due to RTS noise generated in a photoelectric conversion unit that performs driving in column units. 図8は、エリアセンサにおいて、連続する欠陥画素による異常画素の現れ方を説明するための図である。FIG. 8 is a diagram for explaining how abnormal pixels appear due to consecutive defective pixels in the area sensor. 図9は、リニアセンサにおいて、連続する欠陥画素による異常画素の現れ方を説明するための図である。FIG. 9 is a diagram for explaining how abnormal pixels appear due to consecutive defective pixels in a linear sensor. 図10は、第1の実施の形態のMFPの要部の構成を示す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating a configuration of a main part of the MFP according to the first embodiment. 図11は、第1の実施の形態のMFPにおける、連続する欠陥画素の補間処理動作の流れを示す模式図である。FIG. 11 is a schematic diagram illustrating a flow of interpolation processing operations for consecutive defective pixels in the MFP according to the first embodiment. 図12は、第1の実施の形態のMFPに適用されている補間処理により、エリアセンサ上の連続する欠陥画素の補間処理を行うことで、画像上に現れる異常画素の影響が改善された様子を示す図である。FIG. 12 shows a state in which the influence of abnormal pixels appearing on an image is improved by performing interpolation processing of consecutive defective pixels on the area sensor by the interpolation processing applied to the MFP of the first embodiment. FIG. 図13は、第1の実施の形態のMFPにおいて、リニアセンサ上の連続する欠陥画素の補間処理を行うことで、画像上に現れる異常画素の影響が改善された様子を示す図である。FIG. 13 is a diagram illustrating a state in which the influence of abnormal pixels appearing on an image is improved by performing interpolation processing of consecutive defective pixels on the linear sensor in the MFP according to the first embodiment. 図14は、第2の実施の形態のMFPに設けられている光電変換部のカラム構成を説明するための図である。FIG. 14 is a diagram for explaining the column configuration of the photoelectric conversion unit provided in the MFP according to the second embodiment. 図15は、第3の実施の形態のMFPに設けられている光電変換部の部分的な拡大図である。FIG. 15 is a partially enlarged view of the photoelectric conversion unit provided in the MFP according to the third embodiment. 図16は、第4の実施の形態のMFPの光電変換部上に、RTSノイズの発生要因となる欠陥画素、及び、白キズとなっている欠陥画素の両方が存在する例を示す図である。FIG. 16 is a diagram illustrating an example in which both defective pixels that cause RTS noise and defective pixels that are white defects exist on the photoelectric conversion unit of the MFP according to the fourth embodiment. . 図17は、第4の実施の形態のMFPにおいて、RTSノイズの発生要因となる欠陥画素及び白キズとなっている欠陥画素を、それぞれ分別して補間処理を行う様子を示す図である。FIG. 17 is a diagram illustrating a state in which an interpolation process is performed by separately classifying defective pixels that cause RTS noise and defective pixels that are white defects in the MFP according to the fourth embodiment. 図18は、周辺画素にコントラストが存在する場合において、画像に対する欠陥画素の現れ方を説明するための図である。FIG. 18 is a diagram for explaining how defective pixels appear in an image when there is contrast in peripheral pixels. 図19は、リニアセンサに、周辺画素平均値のショットノイズ量よりも対象画素のノイズ量が高い場合に補間処理を行う補間手法を適用した場合の問題点を説明するための図である。FIG. 19 is a diagram for explaining a problem when an interpolation method for performing an interpolation process when the noise amount of the target pixel is higher than the shot noise amount of the peripheral pixel average value is applied to the linear sensor. 図20は、第5の実施の形態のMFPの要部のブロック図である。FIG. 20 is a block diagram of a main part of the MFP according to the fifth embodiment. 図21は、補間判定部が補間判定処理で行う演算動作を説明するための図である。FIG. 21 is a diagram for explaining a calculation operation performed by the interpolation determination unit in the interpolation determination process. 図22は、連続する欠陥画素の補間処理が必要であるにもかかわらず、補間処理が不要と誤判定される画像パターンを説明するための図である。FIG. 22 is a diagram for explaining an image pattern in which it is erroneously determined that interpolation processing is unnecessary even though continuous defective pixel interpolation processing is necessary. 図23は、連続する欠陥画素の補間処理が不要であるにもかかわらず、補間処理が不要と誤判定される画像パターンを説明するための図である。FIG. 23 is a diagram for explaining an image pattern that is erroneously determined that the interpolation processing is unnecessary even though the interpolation processing of the continuous defective pixels is unnecessary. 図24は、第5の実施の形態のMFPにおける、2画素以上連続する欠陥画素の補間処理動作を説明するための図である。FIG. 24 is a diagram for explaining an interpolation processing operation of defective pixels that are continuous for two or more pixels in the MFP according to the fifth embodiment. 図25は、各実施の形態のMFPに設けられている補間処理部のブロック図である。FIG. 25 is a block diagram of an interpolation processing unit provided in the MFP of each embodiment. 図26は、対象パターン上でテンプレートを移動させながらSAD値を算出する動作を説明するための図である。FIG. 26 is a diagram for explaining the operation of calculating the SAD value while moving the template on the target pattern. 図27は、補間処理部における補間処理動作の流れを示すフローチャートである。FIG. 27 is a flowchart showing the flow of the interpolation processing operation in the interpolation processing unit. 図28は、第6の実施の形態のMFPの要部のブロック図である。FIG. 28 is a block diagram of a main part of the MFP according to the sixth embodiment. 図29は、連続する複数の欠陥画素が存在する場合における、第6の実施の形態のMFPの補間処理動作の流れを説明するための模式図である。FIG. 29 is a schematic diagram for explaining the flow of the interpolation processing operation of the MFP according to the sixth embodiment in the case where there are a plurality of consecutive defective pixels. 図30は、欠陥画素が単発的な画素である場合における、第6の実施の形態のMFPの補間処理動作の流れを説明するための模式図である。FIG. 30 is a schematic diagram for explaining the flow of the interpolation processing operation of the MFP according to the sixth embodiment when the defective pixel is a single pixel. 図31は、第7の実施の形態のMFPにおける補間処理動作の流れを説明するための模式図である。FIG. 31 is a schematic diagram for explaining the flow of the interpolation processing operation in the MFP according to the seventh embodiment. 図32は、連続する複数の欠陥画素に基づいて、各欠陥画素がそれぞれ異なる系統に含まれるように、全体の画像情報を複数の系統に分離し、系統毎に欠陥画素の補間処理を行うことで生ずる問題点を説明するための図である。FIG. 32 shows that the entire image information is separated into a plurality of systems so that each defective pixel is included in a different system based on a plurality of continuous defective pixels, and defective pixel interpolation processing is performed for each system. It is a figure for demonstrating the problem which arises. 図33は、第8の実施の形態のMFPにおける補間処理動作の流れを説明するための模式図である。FIG. 33 is a schematic diagram for explaining the flow of the interpolation processing operation in the MFP according to the eighth embodiment. 図34は、第9の実施の形態のMFPにおける補間処理動作の流れを説明するための模式図である。FIG. 34 is a schematic diagram for explaining the flow of the interpolation processing operation in the MFP according to the ninth embodiment.

まず、最初に適用分野の説明をする。光電変換装置及び光電変換方法は、画像の読み取りを行う機器の他、光の有無を感知して所定の情報処理を行う機器に適用可能である。具体的には、光電変換装置及び光電変換方法は、複合機(MFP:Multifunction Peripheral)のリニアセンサ、カメラ装置又はビデオカメラ装置のオートフォーカス用のラインセンサ、インタラクティブ・ホワイトボード装置(電子黒板)上に書き込まれたれた文字、記号又は図形の読み取りを行うラインセンサ等に適用することができる。以下、一例として、光電変換装置及び光電変換方法を適用したMFPの説明をする。   First, the field of application will be described. The photoelectric conversion device and the photoelectric conversion method can be applied to devices that perform predetermined information processing by sensing the presence or absence of light, in addition to devices that read images. Specifically, a photoelectric conversion device and a photoelectric conversion method are provided on a multifunction peripheral (MFP) linear sensor, an autofocus line sensor of a camera device or a video camera device, and an interactive whiteboard device (electronic blackboard). The present invention can be applied to a line sensor or the like that reads characters, symbols, or figures written on the. Hereinafter, as an example, an MFP to which a photoelectric conversion device and a photoelectric conversion method are applied will be described.

(第1の実施の形態)
(MFPの構成)
まず、図1に、第1の実施の形態のMFPを横から見た状態の図を示す。この図1は、MFPの本体を透視した状態の図となっている。この図1に示すように、MFPは、読み取り装置1及び本体2を有している。読み取り装置1は、自動原稿給送機構(ADF:Auto Document Feeder)3、及び、スキャナ機構4を有している。
(First embodiment)
(MFP configuration)
First, FIG. 1 shows a diagram of the MFP according to the first embodiment viewed from the side. FIG. 1 shows a state in which the main body of the MFP is seen through. As shown in FIG. 1, the MFP includes a reading device 1 and a main body 2. The reading device 1 includes an automatic document feeder (ADF) 3 and a scanner mechanism 4.

本体2内には、タンデム方式の作像部5、作像部5に給紙部13から搬送路6を介して記録紙を供給するレジストローラ7、光書き込み装置8、定着搬送部9、及び、両面トレイ10を有している。作像部5には、イエロー(Y)、マゼンタ(M)、シアン(C)、ブラック(K)の4色に対応する4本の感光体ドラム11が並設されている。各感光体ドラム11の周囲には、帯電器、現像器12、転写器、クリーナ、及び、除電器を含む作像要素が配置されている。また、転写器と感光体ドラム11との間には、両者のニップに挟持された状態で駆動ローラと従動ローラとの間に張架された中間転写ベルト14が設けられている。   In the main body 2, a tandem type image forming unit 5, a registration roller 7 that supplies recording paper from the paper supply unit 13 to the image forming unit 5 through a conveyance path 6, an optical writing device 8, a fixing conveyance unit 9, and The double-sided tray 10 is provided. The image forming unit 5 includes four photosensitive drums 11 corresponding to four colors of yellow (Y), magenta (M), cyan (C), and black (K). Around each photosensitive drum 11, image forming elements including a charger, a developing device 12, a transfer device, a cleaner, and a static eliminator are arranged. Further, an intermediate transfer belt 14 is provided between the transfer unit and the photosensitive drum 11 so as to be stretched between the driving roller and the driven roller while being sandwiched between the nips thereof.

このように構成されたタンデム方式の画像形成装置では、YMCKの各色に対応する感光体ドラム11に光書き込みを行い、現像器12で各色のトナー毎に現像し、例えばY,M,C,Kの順で中間転写ベルト14上に1次転写する。そして、1次転写により4色が重畳したフルカラーの画像を記録紙に2次転写した後、定着して排紙する。これにより、フルカラーの画像を記録紙上に形成する。   In the tandem-type image forming apparatus configured as described above, optical writing is performed on the photosensitive drum 11 corresponding to each color of YMCK, and development is performed for each color toner by the developing unit 12, for example, Y, M, C, K. In this order, primary transfer is performed on the intermediate transfer belt 14. Then, a full-color image in which four colors are superimposed by primary transfer is secondarily transferred onto a recording sheet, and then fixed and discharged. Thereby, a full-color image is formed on the recording paper.

(ADF及びスキャナ機構の構成)
図2は、ADF3及びスキャナ機構4の横断面図である。スキャナ機構4は、上面に原稿を載置するコンタクトガラス15を備えている。また、スキャナ機構4は、原稿露光用の光源16及び第1反射ミラー17を備えた第1キャリッジ18と、第2反射ミラー19及び第3反射ミラー20を備えた第2キャリッジ24とを備えている。また、スキャナ機構4は、第3反射ミラー20で反射された光を、光電変換部21の受光領域上に結像させるためのレンズユニット22を備えている。また、スキャナ機構4は、読み取り光学系等による各種の歪み補正用の基準白板23、及び、シートスルー読取用スリット24を備えている。スキャナ機構4は、光源16からの照射光で照明した原稿からの反射光を、光電変換部21で受光して電気信号(画像データ)に変換して出力する。
(Configuration of ADF and scanner mechanism)
FIG. 2 is a cross-sectional view of the ADF 3 and the scanner mechanism 4. The scanner mechanism 4 includes a contact glass 15 on which an original is placed. The scanner mechanism 4 includes a first carriage 18 having a light source 16 for document exposure and a first reflection mirror 17, and a second carriage 24 having a second reflection mirror 19 and a third reflection mirror 20. Yes. Further, the scanner mechanism 4 includes a lens unit 22 for forming an image of the light reflected by the third reflecting mirror 20 on the light receiving region of the photoelectric conversion unit 21. The scanner mechanism 4 includes a reference white plate 23 for correcting various distortions by a reading optical system and the like, and a sheet-through reading slit 24. The scanner mechanism 4 receives reflected light from a document illuminated with light emitted from the light source 16 by the photoelectric conversion unit 21, converts the light into an electrical signal (image data), and outputs the electrical signal (image data).

ADF3は、コンタクトガラス15に対して開閉可能となるように、図示しないヒンジ部材等を介して本体2に接続されている。ADF3は、複数枚の原稿からなる原稿束27を載置可能な原稿トレイ28を備えている。また、このADF3は、原稿トレイ28に載置された原稿束27から原稿を1枚ずつ分離して、シートスルー読取用スリット25へ向けて自動給送する給送ローラ29を含む分離給送部も備えている。   The ADF 3 is connected to the main body 2 via a hinge member (not shown) so that the ADF 3 can be opened and closed with respect to the contact glass 15. The ADF 3 includes a document tray 28 on which a document bundle 27 composed of a plurality of documents can be placed. The ADF 3 also includes a separation feeding unit including a feeding roller 29 that separates documents one by one from the document bundle 27 placed on the document tray 28 and automatically feeds them toward the sheet-through reading slit 25. It also has.

(原稿の読み取り動作)
このような読み取り装置1は、コンタクトガラス15上に載置した原稿の読み取りを行うスキャンモード、及び、ADF3により自動給送される原稿の読み取りを行うシートスルーモードを有している。なお、スキャンモード又はシートスルーモードによる画像読み取り前に、点灯された光源16によって基準白板23を照明し、反射光による画像を光電変換部21で読み取る。そして、その1ライン分の画像データの各画素のレベルが均一なレベルになるように、シェーディング補正用データを生成して記憶する。記憶されシェーディング補正用データは、以下に説明するスキャンモード又はシートスルーモードで読み取られた画像データのシェーディング補正に用いられる。
(Original scanning operation)
Such a reading apparatus 1 has a scan mode for reading a document placed on the contact glass 15 and a sheet-through mode for reading a document automatically fed by the ADF 3. Before reading the image in the scan mode or the sheet through mode, the reference white plate 23 is illuminated by the light source 16 that is turned on, and the image by the reflected light is read by the photoelectric conversion unit 21. Then, shading correction data is generated and stored so that each pixel of the image data for one line has a uniform level. The stored shading correction data is used for shading correction of image data read in a scan mode or a sheet through mode described below.

スキャンモード時には、第1キャリッジ18及び第2キャリッジ24が、図示しないステッピングモータによって、矢印A方向(副走査方向)に移動して原稿を走査する。このとき、コンタクトガラス15から光電変換部21の受光領域までの光路長を一定に維持するために、第2キャリッジ24は、第1キャリッジ18の1/2の速度で移動する。   In the scan mode, the first carriage 18 and the second carriage 24 are moved in the arrow A direction (sub-scanning direction) by a stepping motor (not shown) to scan the document. At this time, the second carriage 24 moves at a speed half that of the first carriage 18 in order to keep the optical path length from the contact glass 15 to the light receiving region of the photoelectric conversion unit 21 constant.

同時に、コンタクトガラス15上に載置された原稿の下面である画像面が、第1キャリッジ18の光源16によって照明(露光)される。すると、その画像面からの反射光が、第1キャリッジ18の第1反射ミラー17、第2キャリッジ24の第2反射ミラー19及び第3反射ミラー20によって順次反射される。そして、第3反射ミラー20による反射光束が、レンズユニット22によって集束され、光電変換部21の受光領域上に結像される。光電変換部21は、1ライン毎に受光した光を光電変換して画像データを生成する。画像データは、デジタル化され、ゲイン調整が施されて出力される。画像の読み取りが完了した原稿は、図示しない排出口に排出される。   At the same time, the image surface, which is the lower surface of the document placed on the contact glass 15, is illuminated (exposed) by the light source 16 of the first carriage 18. Then, the reflected light from the image plane is sequentially reflected by the first reflecting mirror 17 of the first carriage 18, the second reflecting mirror 19 of the second carriage 24, and the third reflecting mirror 20. Then, the light flux reflected by the third reflection mirror 20 is focused by the lens unit 22 and imaged on the light receiving region of the photoelectric conversion unit 21. The photoelectric conversion unit 21 photoelectrically converts light received for each line to generate image data. The image data is digitized, gain-adjusted, and output. The document whose image has been read is discharged to a discharge port (not shown).

シートスルーモードの時には、第1キャリッジ18及び第2キャリッジ24が、シートスルー読取用スリット25の下側へ移動して停止する。その後、ADF3の原稿トレイ28上に載置された原稿束27の最下位の原稿から順次、給送ローラ29によって矢印B方向(副走査方向)へ自動給送され、シートスルー読取用スリット25の位置を原稿が通過する際に、その原稿の走査が行われる。   In the sheet through mode, the first carriage 18 and the second carriage 24 move to the lower side of the sheet through reading slit 25 and stop. Thereafter, the lowermost originals of the original bundle 27 placed on the original tray 28 of the ADF 3 are sequentially automatically fed in the arrow B direction (sub-scanning direction) by the feeding roller 29, and the sheet through reading slit 25 When the document passes through the position, the document is scanned.

この際、自動給送される原稿の下面(画像面)が第1キャリッジ18の光源16によって照明される。すると、その画像面からの反射光が、第1キャリッジ18の第1反射ミラー17、第2キャリッジ24の第2反射ミラー19及び第3反射ミラー20によって順次反射される。そして、第3反射ミラー20による反射光束が、レンズユニット22によって集束され、光電変換部21の受光領域上に結像される。光電変換部21は、1ライン毎に受光した光を光電変換して画像データを生成する。画像データは、デジタル化され、ゲイン調整が施されて出力される。画像の読み取りが完了した原稿は、図示しない排紙口に排紙される。   At this time, the lower surface (image surface) of the automatically fed document is illuminated by the light source 16 of the first carriage 18. Then, the reflected light from the image plane is sequentially reflected by the first reflecting mirror 17 of the first carriage 18, the second reflecting mirror 19 of the second carriage 24, and the third reflecting mirror 20. Then, the light flux reflected by the third reflection mirror 20 is focused by the lens unit 22 and imaged on the light receiving region of the photoelectric conversion unit 21. The photoelectric conversion unit 21 photoelectrically converts light received for each line to generate image data. The image data is digitized, gain-adjusted, and output. The document whose image has been read is discharged to a discharge port (not shown).

(欠陥画素によるRTSノイズ)
ここで、光電変換部21に欠陥画素が存在した場合に発生するRTSノイズについて説明する。一例ではあるが、光電変換部21は、CCD(Charge Coupled Device)イメージセンサ又はCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサ等の半導体撮像素子で形成される。このような光電変換部21において、MOS(Metal Oxide Semiconductor)トランジスタのチャネル内を移動するキャリアの1つがゲート絶縁膜等に存在するトラップ準位に捕獲されると、出力レベルが大きく変動し、画像にランダムテレグラフシグナルノイズ(以下、RTSノイズと称する)が生ずることが知られている。
(RTS noise due to defective pixels)
Here, RTS noise generated when a defective pixel is present in the photoelectric conversion unit 21 will be described. As an example, the photoelectric conversion unit 21 is formed of a semiconductor imaging device such as a CCD (Charge Coupled Device) image sensor or a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) image sensor. In such a photoelectric conversion unit 21, when one of the carriers moving in the channel of a MOS (Metal Oxide Semiconductor) transistor is trapped by a trap level existing in a gate insulating film or the like, the output level greatly fluctuates, and the image It is known that random telegraph signal noise (hereinafter referred to as RTS noise) occurs.

図3(a)は、出力レベルの変動により、画素値の平均値から正負の方向それぞれ一定量離れたレベルに分布のピークが小さく現れる。そして、RTSノイズ量(σrts)が大きい程、上述の一定量は大きくなる。   In FIG. 3A, a distribution peak appears small at a level that is a fixed amount away from the average value of the pixel values in the positive and negative directions due to fluctuations in output level. And the above-mentioned fixed quantity becomes large, so that RTS noise amount ((sigma) rts) is large.

エリアセンサの場合、発生したRTSノイズは、各フレーム画像に対して点状に現れる。現れたRTSノイズは、フレーム毎にレベルが小さく、かつ、ランダムに変化する。このため、エリアセンサで発生したRTSノイズは、画像上において、それほど目立たない。   In the case of an area sensor, the generated RTS noise appears in a dot shape with respect to each frame image. The RTS noise that appears has a small level and changes randomly for each frame. For this reason, the RTS noise generated by the area sensor is not so noticeable on the image.

これに対して、一列分(又は複数列分)の光電変換素子を備えたリニアセンサの場合、図3(b)に示すように、RTSノイズを発生する画素が存在すると、縦に並ぶ点のレベル変化となって各フレーム画像上に現れる。また、図3(a)に示す正規のノイズ分布の範囲(σsht)に対してRTSノイズ(σrts)がその範囲内に入っていたとしても、RTSノイズによる変化が同じ画素に集中するため、1枚の静止画上に縦線として現れる。   On the other hand, in the case of a linear sensor having photoelectric conversion elements for one row (or a plurality of rows), as shown in FIG. 3B, when pixels that generate RTS noise exist, Level changes appear on each frame image. In addition, even if the RTS noise (σrts) is within the normal noise distribution range (σsht) shown in FIG. 3A, changes due to the RTS noise are concentrated on the same pixel. Appears as vertical lines on a still image.

なお、このようなRTSノイズは、光電変換部21の画素毎のMOSトランジスタの構成により、色単独で発生(各色のMOSトランジスタで個々に発生)する。または、RTSノイズは、全色チャンネルで同じ位置に発生(カラム構成等で全ての色共通のMOSトランジスタで発生)する。   Such RTS noise is generated by a single color (individually generated by each color MOS transistor) due to the configuration of the MOS transistor for each pixel of the photoelectric conversion unit 21. Alternatively, RTS noise is generated at the same position in all color channels (generated by MOS transistors common to all colors due to a column configuration or the like).

(連続する複数の欠陥画素の補間手法の参考例)
図4は、連続する複数の欠陥画素の補間手法の一例を示す模式図である。この図4に示す補間手法の場合、エリアセンサにおいて、分割した一定の領域内に、図4(a)に示すように複数の連続した欠陥画素が存在する場合、図4(b)に示すように欠陥度合いが小さい欠陥画素の画像情報は補間処理せず、欠陥度合いの大きい欠陥画素の画像情報を補間処理する。そして、図4(c)に示すように、再度、欠陥画素検出を行い、先ほど残した欠陥画素が再び欠陥画素であると判定された場合、周囲の画素の画素値に基づいて欠陥画素の補間処理を行う。これにより、図4(d)に示すように、連続する複数の欠陥画素の補間処理を行うことができる。
(Reference example of interpolation method for multiple consecutive defective pixels)
FIG. 4 is a schematic diagram illustrating an example of an interpolation method for a plurality of consecutive defective pixels. In the case of the interpolation method shown in FIG. 4, in the area sensor, when there are a plurality of continuous defective pixels as shown in FIG. 4 (a) in the divided constant region, as shown in FIG. 4 (b). The image information of defective pixels having a small defect degree is not interpolated, and the image information of defective pixels having a large defect degree is interpolated. Then, as shown in FIG. 4C, when defective pixels are detected again and it is determined that the remaining defective pixels are defective pixels again, defective pixel interpolation is performed based on the pixel values of surrounding pixels. Process. Thereby, as shown in FIG.4 (d), the interpolation process of a several continuous defective pixel can be performed.

(連続する複数の欠陥画素を補間処理する場合の問題点)
しかし、このような補間手法の場合、連続する複数の欠陥画素のうち、一方の欠陥画素を残した状態で、他方の欠陥画素を補間処理する。このため、図5に示すように、例えば線形補間処理又は置換処理で利用可能な周囲の画素の画素数が減ってしまい、補間精度が下がる問題がある。また、図6に示すように、後述するパターンマッチングによる補間処理を行った場合でも、対象パターン内における欠陥画素を含むパターンを、類似パターンとして誤検出するおそれがある。
(Problems when interpolating multiple consecutive defective pixels)
However, in the case of such an interpolation method, the other defective pixel is interpolated in a state where one defective pixel is left among a plurality of consecutive defective pixels. For this reason, as shown in FIG. 5, for example, the number of surrounding pixels that can be used in the linear interpolation process or the replacement process is reduced, and there is a problem that the interpolation accuracy is lowered. Further, as shown in FIG. 6, even when interpolation processing by pattern matching described later is performed, a pattern including a defective pixel in the target pattern may be erroneously detected as a similar pattern.

図7は、所定の複数画素毎に(カラム毎に)駆動制御するCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)センサにおける、RTSノイズによる欠陥画素の現れ方を示す図である。CMOSセンサがカラム構成である場合、一つのカラムの各画素で共有する、後段の増幅回路又はMOS(Metal Oxide Semiconductor)トランジスタ等でRTSノイズが発生する可能性がある。この場合、一つのカラムの各画素が、連続する欠陥画素として現れるため、図7に示すように、1つの画素が欠陥画素である場合よりも目立つ異常となって現れる。   FIG. 7 is a diagram illustrating how defective pixels appear due to RTS noise in a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) sensor that performs drive control for each predetermined plurality of pixels (for each column). When the CMOS sensor has a column configuration, RTS noise may be generated in an amplifier circuit or a MOS (Metal Oxide Semiconductor) transistor or the like that is shared by each pixel of one column. In this case, since each pixel of one column appears as a continuous defective pixel, as shown in FIG. 7, the abnormality appears more conspicuous than when one pixel is a defective pixel.

図7の例は、例えば連続する2画素が一つのカラムとして駆動された例である。この場合、後段の増幅回路又はMOSトランジスタ等でRTSノイズが発生すると、2画素分の欠陥画素に相当する異常が現れる、図7に示す、長方形の四角が、2画素分の欠陥を示している。このように、カラム構成のCMOSセンサは、発生したRTSノイズが画像に与える影響が大きい。なお、図7の例は、連続する2画素を一つのカラムとして駆動する例であるが、例えば連続する3画素を一つのカラムとして駆動する場合は、3画素分の欠陥画素に相当する異常が現れる。すなわち、カラムを構成する画素数の分、連続した欠陥画素に相当する異常が現れる。   The example of FIG. 7 is an example in which two consecutive pixels are driven as one column, for example. In this case, when RTS noise is generated in an amplifier circuit or a MOS transistor in the subsequent stage, an abnormality corresponding to a defective pixel for two pixels appears. A rectangular square shown in FIG. 7 indicates a defect for two pixels. . Thus, the CMOS sensor having the column configuration has a great influence on the image by the generated RTS noise. The example in FIG. 7 is an example in which two consecutive pixels are driven as one column. For example, when driving three consecutive pixels as one column, there is an abnormality corresponding to defective pixels for three pixels. appear. That is, an abnormality corresponding to consecutive defective pixels appears by the number of pixels constituting the column.

また、エリアセンサの場合、複数の欠陥画素が連続していても、図8に示すように欠陥画素による異常が、1枚の画像内に点在するかたちで現れるため、それほど目立つことはない。これに対して、リニアセンサの場合、欠陥画素による異常が副走査方向に沿って連続して現れるため、図9に示すように縦線状の異常となって1枚の画像に現れる。このため、リニアセンサにおける欠陥画素の補間処理が適正に行われない場合、エリアセンサよりも大きな異常として現れる問題がある。   In the case of an area sensor, even if a plurality of defective pixels are continuous, abnormalities due to the defective pixels appear in a scattered manner in one image as shown in FIG. On the other hand, in the case of a linear sensor, abnormalities due to defective pixels appear continuously along the sub-scanning direction, and thus appear as a vertical line abnormality as shown in FIG. For this reason, when the interpolation process of the defective pixel in a linear sensor is not performed appropriately, there exists a problem which appears as a bigger abnormality than an area sensor.

(第1の実施の形態の要部の構成)
図10に、第1の実施の形態のMFP1の要部の構成を示す。この図10に示すように、MFP1は、光電変換部51、異常画素検出部52(検出部の一例)、記憶部53、分離部54、補間部55、合成部56及び判定部57(特定部の一例)を有している。異常画素検出部52は、画像内に存在する欠陥画素を検出する。判定部57は、欠陥画素が2画素以上連続しているか否かを判定する。記憶部53は、各画素の画像信号、及び、欠陥画素として判定された画素のアドレス情報を記憶する。分離部54は、画像信号を複数の系統へ分離する。補間部55は、各系統における欠陥画素に相当する画像信号を補間処理する。合成部56は、各系統に分離された画像信号を合成(結合)して出力する。
(Configuration of main part of the first embodiment)
FIG. 10 shows a configuration of a main part of the MFP 1 according to the first embodiment. As shown in FIG. 10, the MFP 1 includes a photoelectric conversion unit 51, an abnormal pixel detection unit 52 (an example of a detection unit), a storage unit 53, a separation unit 54, an interpolation unit 55, a synthesis unit 56, and a determination unit 57 (specification unit). Example). The abnormal pixel detection unit 52 detects defective pixels present in the image. The determination unit 57 determines whether two or more defective pixels are continuous. The storage unit 53 stores an image signal of each pixel and address information of the pixel determined as a defective pixel. The separation unit 54 separates the image signal into a plurality of systems. The interpolation unit 55 performs interpolation processing on image signals corresponding to defective pixels in each system. The synthesizer 56 synthesizes (combines) the image signals separated into the respective systems and outputs them.

なお、この図10に示す光電変換部51は、図2に示す光電変換部21に相当する。また、以下、光電変換部51〜判定部57は、ハードウェアで構成されていることとして説明を進めるが、このうち、一部をソフトウェアで構成してもよい。   The photoelectric conversion unit 51 shown in FIG. 10 corresponds to the photoelectric conversion unit 21 shown in FIG. In addition, hereinafter, the photoelectric conversion unit 51 to the determination unit 57 are described as being configured by hardware, but some of them may be configured by software.

例えば、異常画素検出部52及び分離部54〜判定部57をソフトウェアで構成する場合、これらを実現する画像処理プログラムをMFP1のハードディスクドライブ又はフラッシュメモリ等の記憶部に記憶する。そして、MFP1の中央演算部(CPU)が、画像処理プログラムを実行して、異常画素検出部52及び分離部54〜判定部57を実現する。   For example, when the abnormal pixel detection unit 52 and the separation unit 54 to the determination unit 57 are configured by software, an image processing program for realizing them is stored in a storage unit such as a hard disk drive or a flash memory of the MFP 1. Then, the central processing unit (CPU) of the MFP 1 executes the image processing program to realize the abnormal pixel detection unit 52 and the separation unit 54 to the determination unit 57.

画像処理プログラムは、インストール可能な形式または実行可能な形式のファイルでCD−ROM、フレキシブルディスク(FD)などのコンピュータ装置で読み取り可能な記録媒体に記録して提供してもよい。また、CD−R、DVD(Digital Versatile Disk)、ブルーレイディスク(登録商標)、半導体メモリ等のコンピュータ装置で読み取り可能な記録媒体に記録して提供してもよい。また、画像処理プログラムは、インターネット等のネットワーク経由でインストールするかたちで提供してもよい。また、画像処理プログラムは、機器内のROM等に予め組み込んで提供してもよい。   The image processing program may be provided by being recorded on a recording medium readable by a computer device such as a CD-ROM or a flexible disk (FD) as a file in an installable or executable format. Further, the program may be provided by being recorded on a recording medium readable by a computer device such as a CD-R, a DVD (Digital Versatile Disk), a Blu-ray Disc (registered trademark), or a semiconductor memory. The image processing program may be provided by being installed via a network such as the Internet. The image processing program may be provided by being incorporated in advance in a ROM or the like in the device.

(連続する欠陥画素の補間処理)
MFP1は、2画素以上連続する欠陥画素が存在した場合、光電変換部51〜判定部57により、連続する欠陥画素の補間処理を行う。図11は、この補間処理の流れを示す模式図である。異常画素検出部52は、光電変換部51から供給される画像信号から、図11(a)に示すように欠陥画素を検出し、検出した欠陥画素のアドレス情報を記憶部53に供給する。図11(a)の例は、第1画素〜第n画素を並列に(1次元的に)並べて構成されている光電変換素子51により生成された3行分の画像信号を示している。このうち、真ん中の行の斜線の2つの画素が欠陥画素を示している。
(Interpolation processing of consecutive defective pixels)
When there are two or more consecutive defective pixels, the MFP 1 uses the photoelectric conversion unit 51 to the determination unit 57 to perform interpolation processing of the consecutive defective pixels. FIG. 11 is a schematic diagram showing the flow of this interpolation processing. The abnormal pixel detection unit 52 detects defective pixels from the image signal supplied from the photoelectric conversion unit 51 as shown in FIG. 11A and supplies address information of the detected defective pixels to the storage unit 53. The example of FIG. 11A shows three rows of image signals generated by the photoelectric conversion elements 51 configured by arranging the first to nth pixels in parallel (one-dimensionally). Of these, the two hatched pixels in the middle row indicate defective pixels.

異常画素検出部52は、このような欠陥画素のアドレス情報を記憶部53に記憶する。記憶部53は、MFP1内の、例えばハードディスクドライブ又はRAM(Random Access Memory)等である。また、記憶部53は、欠陥画素を含む全画像信号を記憶する。   The abnormal pixel detection unit 52 stores such defective pixel address information in the storage unit 53. The storage unit 53 is, for example, a hard disk drive or a RAM (Random Access Memory) in the MFP 1. The storage unit 53 stores all image signals including defective pixels.

判定部57は、記憶部に記憶されている欠陥画素のアドレス情報に基づいて、欠陥画素が連続しているか否かを判定する。各欠陥画素のアドレス情報が隣接するアドレスを示している場合、判定部57は、各欠陥画素が連続していることを示す判定情報を、各欠陥画素のアドレス情報と共に分離部54に供給する。また、判定部57は、各欠陥画素のアドレス情報が1画素以上離れたアドレスを示している場合、判定部57は、各欠陥画素は、単発的に発生している欠陥画素であることを示す判定情報を、各欠陥画素のアドレス情報と共に分離部54に供給する。   The determination unit 57 determines whether or not the defective pixels are continuous based on the address information of the defective pixels stored in the storage unit. When the address information of each defective pixel indicates an adjacent address, the determination unit 57 supplies determination information indicating that each defective pixel is continuous to the separation unit 54 together with the address information of each defective pixel. Further, when the address information of each defective pixel indicates an address separated by one or more pixels, the determination unit 57 indicates that each defective pixel is a defective pixel that occurs only once. The determination information is supplied to the separation unit 54 together with the address information of each defective pixel.

次に、図11(a)の例の場合、欠陥画素が2画素連続している。このため、分離部54は、この2つの欠陥画素が分離されるように、記憶部53に記憶されている全画像信号を、判定部57から通知される欠陥画素のアドレス情報に基づいて、図11(b)及び図11(c)に示すように奇数画素(1,3,5・・・)の画像信号の系統、及び、偶数画素(2,4,6・・・)の画像信号の系統に分離する。   Next, in the example of FIG. 11A, two defective pixels are continuous. For this reason, the separation unit 54 displays all image signals stored in the storage unit 53 based on the defective pixel address information notified from the determination unit 57 so that the two defective pixels are separated. 11 (b) and FIG. 11 (c), the image signal system of odd pixels (1, 3, 5...) And the image signal of even pixels (2, 4, 6...). Separate into lines.

なお、欠陥画素がN画素連続している場合、分離部54は、このN個の欠陥画素がそれぞれ異なる系統となるように、記憶部53に記憶されている全画像信号をN個の系統に分離する。   When N defective pixels are consecutive, the separation unit 54 converts all image signals stored in the storage unit 53 into N systems so that the N defective pixels are in different systems. To separate.

次に、各系統の画像信号がそれぞれ供給される各補間部55は、系統毎に欠陥画素の補間処理を行う。図11の例の場合、2つの系統に各欠陥画素が分離されたため、2つの補間部55が、図11(d)及び図11(e)に示すように、それぞれ欠陥画素の補間処理を行う。合成部56は、各補間部55でそれぞれ欠陥画素が補間処理された画像信号を、図11(f)に示すように合成して、元の一連の画像信号を再生して出力する。   Next, each interpolation unit 55 to which the image signals of each system are supplied performs defective pixel interpolation processing for each system. In the case of the example in FIG. 11, since each defective pixel is separated into two systems, the two interpolation units 55 each perform defective pixel interpolation processing as shown in FIGS. 11 (d) and 11 (e). . The synthesizing unit 56 synthesizes the image signals in which the defective pixels are interpolated by the interpolating units 55 as shown in FIG. 11F, and reproduces and outputs the original series of image signals.

これにより、各系統には、連続する欠陥画素が存在しないため、補間処理の際に欠陥画素を用いて補間処理を行う不都合を防止できる。このため、2画素以上連続する欠陥画素が存在する場合でも、適切に欠陥画素の補間処理を行うことができ、画質の劣化を防止することができる。   Thereby, since there is no continuous defective pixel in each system, it is possible to prevent the inconvenience of performing the interpolation process using the defective pixel during the interpolation process. For this reason, even when there are two or more consecutive defective pixels, the defective pixels can be appropriately interpolated, and deterioration in image quality can be prevented.

具体的には、図12は、エリアセンサにおける連続した欠陥画素の補間処理結果を示す図である。このうち、図12(a)は、補間処理前の画像を示し、図12(b)は、補間処理後の画像を示している。この図12(a)及び図12(b)を見比べてわかるように、エリアセンサにおいては、上述の欠陥画素を分離して行う補間処理により、連続する欠陥画素の影響で画像上に形成されていた長方形状の欠陥箇所が、適切に補間処理されていることがわかる。   Specifically, FIG. 12 is a diagram illustrating a result of interpolation processing of consecutive defective pixels in the area sensor. Among these, FIG. 12A shows an image before the interpolation processing, and FIG. 12B shows an image after the interpolation processing. As can be seen by comparing FIG. 12A and FIG. 12B, the area sensor is formed on the image due to the influence of successive defective pixels by the interpolation process performed by separating the defective pixels described above. It can be seen that the rectangular defect portion is appropriately interpolated.

同様に、図13は、リニアセンサにおける連続した欠陥画素の補間処理結果を示す図である。このうち、図13(a)は、補間処理前の画像を示し、図13(b)は、補間処理後の画像を示している。この図13(a)及び図13(b)を見比べてわかるように、リニアセンサにおいては、上述の欠陥画素を分離して行う補間処理により、連続する欠陥画素の影響で画像上に一列に連続して現れていた長方形状の欠陥箇所が、適切に補間処理されていることがわかる。   Similarly, FIG. 13 is a diagram illustrating a result of interpolation processing of consecutive defective pixels in the linear sensor. Among these, FIG. 13A shows an image before the interpolation processing, and FIG. 13B shows an image after the interpolation processing. As can be seen by comparing FIG. 13 (a) and FIG. 13 (b), in the linear sensor, the interpolation processing performed by separating the above-described defective pixels continuously in a line on the image due to the influence of the continuous defective pixels. It can be seen that the rectangular defect portion that appeared as a result is appropriately interpolated.

(第2の実施の形態)
次に、第2の実施の形態のMFP1の説明をする。図14は、第2の実施の形態のMFP1に設けられている光電変換部51の部分的な拡大図である。光電変換部51をCMOSリニアセンサで形成し、一纏まりとされた複数の画素であるカラム毎に後段の増幅回路及びMOSトランジスタMOSTR等を共有するカラム構成とすることで、高速駆動を実現することができる。
(Second Embodiment)
Next, the MFP 1 according to the second embodiment will be described. FIG. 14 is a partially enlarged view of the photoelectric conversion unit 51 provided in the MFP 1 according to the second embodiment. The photoelectric conversion unit 51 is formed by a CMOS linear sensor, and a high-speed drive is realized by adopting a column configuration in which a post-stage amplifier circuit and a MOS transistor MOSTR are shared for each column, which is a group of a plurality of pixels. Can do.

しかし、図14に示すカラム内のRGBの各画素のうち、少なくとも1色において、2画素以上連続する欠陥画素が存在する場合、カラム内の全ての画素が欠陥画素となっている可能性が高い。このため、図10に示す補間部55は、分離後の各欠陥画素を補間する際に、欠陥画素が存在するカラム内の全ての画素を補間処理する。これにより、欠陥画素の影響を、より抑制することができる他、上述の第1の実施の形態と同様の効果を得ることができる。   However, if there are two or more consecutive defective pixels in at least one of the RGB pixels in the column shown in FIG. 14, it is highly likely that all the pixels in the column are defective pixels. . For this reason, the interpolation unit 55 shown in FIG. 10 interpolates all the pixels in the column where the defective pixel exists when interpolating each defective pixel after separation. Thereby, the influence of the defective pixel can be further suppressed, and the same effect as in the first embodiment described above can be obtained.

なお、第2の実施の形態と上述の第1の実施の形態とでは、この点のみが差異となる。この他の部分の説明及び効果等は、上述の第1の実施の形態の説明を参照されたい。また、図14では、一例として3行×3列の計9画素で1つのカラムとした構成を示したが、カラムを構成する画素数及び組み合わせが異なる場合でも、上述のようにカラム内の全画素を用いた補間処理を行うことで、同じ効果を得ることができる。   The second embodiment is different from the first embodiment described above only in this point. For the explanation and effects of other parts, refer to the explanation of the first embodiment described above. Further, in FIG. 14, as an example, a configuration in which a total of 9 pixels of 3 rows × 3 columns is formed as one column is shown, but even when the number of pixels constituting the column and the combination are different, as described above, The same effect can be obtained by performing an interpolation process using pixels.

(第3の実施の形態)
次に、第3の実施の形態のMFP1の説明をする。図15は、第3の実施の形態のMFP1に設けられている光電変換部51の部分的な拡大図である。この図15は、RGBの各色の画素が3行×2列の計6画素で一つのカラムが構成されている例である。このように一つのカラム内にRGBの各色の画素が含まれている場合、色別に補正を行うと、色毎に補正の度合いが変わる可能性がある。この場合、周辺の画素と色味が異なり、かえって欠陥画素の異常を目立たせる結果となる不都合を生ずる。
(Third embodiment)
Next, the MFP 1 according to the third embodiment will be described. FIG. 15 is a partially enlarged view of the photoelectric conversion unit 51 provided in the MFP 1 according to the third embodiment. FIG. 15 shows an example in which each column of RGB is composed of a total of 6 pixels of 3 rows × 2 columns, and one column. In this way, when pixels of each color of RGB are included in one column, if correction is performed for each color, the degree of correction may change for each color. In this case, the color is different from that of the surrounding pixels, and inconvenient results in conspicuous abnormalities of defective pixels.

このため、第3の実施の形態のMFP1は、RGBの各色を含むカラム内の少なくともいずれか一色において、欠陥画素が2画素以上連続で存在する場合、図10に示す補間部55は、分離後の各欠陥画素を補間する際に、そのカラム内において、欠陥画素のアドレス(光電変換部51上の物理的な位置)に対応するアドレスとなる他の色の画素に対して、同じ補間処理を行う。すなわち、Gの第3番目の位置(アドレス)の画素が欠陥画素であった場合、補間部55は、Rの3番目の位置及びBの3番目の位置の各画素に対しても補間処理を施す。これにより、補間処理後の画素が、周辺の画素と色味が異なり、かえって欠陥画素の異常を目立たせる結果となる不都合を防止できる。   Therefore, in the MFP 1 according to the third embodiment, when there are two or more defective pixels continuously in at least one of the colors including the RGB colors, the interpolation unit 55 illustrated in FIG. When interpolating each defective pixel, the same interpolation processing is performed for the pixels of other colors having addresses corresponding to the addresses of the defective pixels (physical positions on the photoelectric conversion unit 51) in the column. Do. That is, when the pixel at the third position (address) of G is a defective pixel, the interpolation unit 55 performs the interpolation process on each pixel at the third position of R and the third position of B. Apply. As a result, it is possible to prevent inconvenience that the pixel after the interpolation processing is different in color from the surrounding pixels and conspicuously abnormal defective pixels.

なお、第3の実施の形態と上述の各実施の形態とでは、この点のみが差異となる。この他の部分の説明及び効果等は、上述の各実施の形態の説明を参照されたい。また、図15では、一例として3行×2列の計6画素で1つのカラムとした構成を示したが、カラムを構成する画素数及び組み合わせが異なる場合でも、上述のようにカラム内のいずれかの色の欠陥画素のアドレスに対応するアドレスとなる他の色の画素に対して、同じ補間処理を行うことで、同じ効果を得ることができる。   The third embodiment is different from the above-described embodiments only in this point. For the description and effects of other parts, refer to the description of each embodiment described above. Further, in FIG. 15, as an example, a configuration in which a total of 6 pixels of 3 rows × 2 columns is formed as one column is shown. However, even when the number of pixels constituting the column and the combination are different, The same effect can be obtained by performing the same interpolation process on the pixels of other colors having addresses corresponding to the addresses of defective pixels of that color.

(第4の実施の形態)
次に、第4の実施の形態のMFP1の説明をする。例えば、CMOSイメージセンサである光電変換部51には、「RTSノイズ」の他に「白キズ」と呼ばれる画素異常の発生要因が存在する。白キズは、CMOSイメージセンサにおいて、フォトダイオード上の欠陥により異常な暗電流が発生することで、正常な画素よりも大きいオフセット分による影響が画像に生じうる欠陥である。リニアセンサに、この白キズが発生している場合、RTSノイズと同様に全てのラインでオフセット分が大きくなるため、画像上に縦線状の欠陥画素の影響が現れる。
(Fourth embodiment)
Next, the MFP 1 according to the fourth embodiment will be described. For example, in the photoelectric conversion unit 51 which is a CMOS image sensor, there is a cause of pixel abnormality called “white scratch” in addition to “RTS noise”. A white defect is a defect that can cause an image to be affected by an offset larger than that of a normal pixel due to an abnormal dark current generated by a defect on a photodiode in a CMOS image sensor. When this white scratch is generated in the linear sensor, the offset is increased in all lines as in the case of the RTS noise, so that the influence of defective pixels in the form of vertical lines appears on the image.

「RTSノイズ」と「白キズ」は、異常の現れ方が異なるため、それぞれ異なる手法で検出され、それぞれの判定閾値で補間処理の有無が判断される。このため、白キズによる欠陥画素とRTSノイズによる欠陥画素が隣接して存在する場合でも、それぞれが別々に欠陥画素として判別される。   Since “RTS noise” and “white scratches” have different appearances of abnormality, they are detected by different methods, and the presence / absence of interpolation processing is determined by each determination threshold value. For this reason, even when a defective pixel due to white flaws and a defective pixel due to RTS noise exist adjacent to each other, each is determined as a defective pixel separately.

しかし、「RTSノイズ」の欠陥画素と「白キズ」の欠陥画素を別々に補間処理すると、「RTSノイズ」の欠陥画素の補間処理に「白キズ」の欠陥画素が用いられて補間処理が行われ、反対に、「白キズ」の欠陥画素の補間処理に「RTSノイズ」の欠陥画素が用いられて補間処理が行われ、補間精度が低下するおそれがある。また、欠陥画素の種類毎に補間処理を使い分けるため、補間処理が煩雑となる不都合を生ずる。   However, if the “RTS noise” defective pixel and the “white scratch” defective pixel are separately interpolated, the “white scratch” defective pixel is used for the interpolation processing of the “RTS noise” defective pixel, and the interpolation processing is performed. On the contrary, the interpolation processing is performed by using the defective pixel of “RTS noise” for the interpolation processing of the defective pixel of “white scratch”, and there is a possibility that the interpolation accuracy may be lowered. In addition, since the interpolation process is selectively used for each type of defective pixel, there is a problem that the interpolation process becomes complicated.

このため、第4の実施の形態のMFP1は、図10に示す記憶部53に、「RTSノイズ」の欠陥画素の光電変換部51上のアドレス情報、及び、「白キズ」の欠陥画素の光電変換部51上のアドレス情報を記憶する。具体的には、図16に示す右斜線のブロックで示す画素は「RTSノイズ」の欠陥画素を示し、左斜線のブロックで示す画素は「白キズ」の欠陥画素を示している。異常画素検出部52は、このような欠陥画素のアドレス情報を記憶部53に記憶制御する。   For this reason, the MFP 1 according to the fourth embodiment stores the address information on the photoelectric conversion unit 51 of the defective pixel of “RTS noise” and the photoelectric of the defective pixel of “white scratch” in the storage unit 53 illustrated in FIG. Address information on the conversion unit 51 is stored. Specifically, a pixel indicated by a right oblique line block illustrated in FIG. 16 indicates a defective pixel of “RTS noise”, and a pixel indicated by a left oblique line block indicates a “white scratch” defective pixel. The abnormal pixel detection unit 52 controls the storage unit 53 to store such defective pixel address information.

判定部57は、記憶部53に記憶された各欠陥画素のアドレス情報に基づいて、欠陥画素のアドレス情報が連続しているか否かを判定する。具体的には、記憶部53には、図17に示すように「RTSノイズ」の欠陥画素のアドレス情報「4」、「6」・・・と、「白キズ」の欠陥画素のアドレス情報「2」、「7」、「10」・・・とが記憶される。判定部53は、各アドレス情報を比較して、連続するアドレス情報であるか否かの判定を行う。図17の例の場合、「RTSノイズ」の欠陥画素のアドレス情報「6」と、「白キズ」の欠陥画素のアドレス情報「7」とが連続している。判定部57は、連続するアドレス情報を検出すると、図17に示すように連続するアドレス情報に対して、連続するアドレス情報であることを示す「1」のフラグ情報をそれぞれ付加する。   The determination unit 57 determines whether the address information of the defective pixels is continuous based on the address information of each defective pixel stored in the storage unit 53. Specifically, as shown in FIG. 17, the address information “4”, “6”... Of “RTS noise” defective pixels and the address information “defective white” are stored in the storage unit 53. “2”, “7”, “10”... Are stored. The determination unit 53 compares the address information and determines whether the address information is continuous. In the case of the example of FIG. 17, the address information “6” of the defective pixel “RTS noise” and the address information “7” of the defective pixel “white scratch” are continuous. When the determination unit 57 detects continuous address information, it adds “1” flag information indicating continuous address information to the continuous address information as shown in FIG.

図10に示す分離部54は、フラグ情報に基づいて、連続するアドレスの欠陥画素を、上述と同様に、それぞれ異なる系統となるように分離する。補間部55は、分離された欠陥画素の各系統を、それぞれ補間処理する。これにより、発生要因が異なる欠陥画素が2画素以上連続する場合でも、各欠陥画素をそれぞれ異なる系統で補間処理できるため、適切な補間処理を行うことができる。また、各発生要因別の補間処理を用いるのではなく、同じ1種類の補間処理を用いて補間処理を行うことができるため、補間処理が煩雑化する不都合を防止できる他、上述の各実施の形態と同様の効果を得ることができる。   Based on the flag information, the separation unit 54 illustrated in FIG. 10 separates defective pixels having consecutive addresses so as to have different systems as described above. The interpolation unit 55 performs interpolation processing on each system of the separated defective pixels. As a result, even when two or more defective pixels having different generation factors are consecutive, each defective pixel can be interpolated in different systems, so that appropriate interpolation processing can be performed. In addition, since the interpolation processing can be performed using the same one type of interpolation processing instead of using the interpolation processing for each occurrence factor, the inconvenience of complicating the interpolation processing can be prevented, and each of the above-described implementations can be performed. The same effect as the form can be obtained.

なお、第4の実施の形態と上述の各実施の形態とでは、この点のみが差異となる。この他の部分の説明及び効果等は、上述の各実施の形態の説明を参照されたい。   The fourth embodiment is different from the above-described embodiments only in this point. For the description and effects of other parts, refer to the description of each embodiment described above.

(第5の実施の形態)
(周囲画素にコントラストがあるときの欠陥画素の影響)
ここで、図18(a)に、欠陥画素の左右に隣接する一つ又は複数の画素(周囲画素)にコントラストがある場合における、欠陥画素(RTSノイズ)による影響が現れた画像の一例を示す。この図18(a)は、3画素分の太さの縦線のうち、中心の縦線を形成する画素中に欠陥画素が存在する例を示している。また、この図18(a)は、欠陥画素の左右の画素で形成される縦線の濃度は均一ではなく、各縦線の間に濃淡(コントラスト)が存在する例を示している。また、比較例として、図18(b)に、正常な画素で描画された3画素分の太さの縦線の画像を示す。
(Fifth embodiment)
(Influence of defective pixels when surrounding pixels have contrast)
Here, FIG. 18A shows an example of an image in which the influence of the defective pixel (RTS noise) appears when one or a plurality of pixels (surrounding pixels) adjacent to the left and right of the defective pixel have contrast. . FIG. 18A shows an example in which a defective pixel exists in a pixel forming a central vertical line among vertical lines having a thickness of three pixels. Further, FIG. 18A shows an example in which the density of the vertical lines formed by the left and right pixels of the defective pixel is not uniform, and there is a contrast (contrast) between the vertical lines. Further, as a comparative example, FIG. 18B shows an image of a vertical line having a thickness of three pixels drawn by normal pixels.

欠陥画素に隣接する画素において、濃度が濃い縦線が描画される場合、図18(a)に示すように欠陥画素の影響が現れ難くなり、欠陥画素で描画される縦線は、細線として認識可能となる。このように、欠陥画素が存在する場合でも、欠陥画素の周囲画素のパターンによっては、欠陥画素の影響が目立ち難くなる場合がある。また、上述の例は、欠陥画素及び左右の画素により描画される3本の縦線の間にコントラストが存在する例であった。このため、欠陥画素及び左右の画素により描画される3本の縦線が略々均一の場合、欠陥画素の影響が現れることが懸念される。   When a dark vertical line is drawn in a pixel adjacent to the defective pixel, the influence of the defective pixel is less likely to appear as shown in FIG. 18A, and the vertical line drawn by the defective pixel is recognized as a thin line. It becomes possible. Thus, even when a defective pixel exists, the influence of the defective pixel may not be noticeable depending on the pattern of the surrounding pixels of the defective pixel. The above-described example is an example in which contrast exists between three vertical lines drawn by the defective pixel and the left and right pixels. For this reason, when three vertical lines drawn by the defective pixel and the left and right pixels are substantially uniform, there is a concern that the influence of the defective pixel appears.

しかし、描画する画像の色が白色又は白色に近い色の場合、欠陥画素の影響は現れ難くなる。これは、RTSノイズは、欠陥画素内部の電気的な欠陥に起因して生ずるノイズであるため、欠陥画素の影響は、欠陥画素の周囲画素から出力される画像データの出力レベルが、所定以上のレベルになれば、図18(c)に示すように、ショットノイズによって低減されるためである。   However, when the color of the image to be drawn is white or a color close to white, the influence of the defective pixel is difficult to appear. This is because the RTS noise is a noise generated due to an electrical defect inside the defective pixel. Therefore, the influence of the defective pixel is that the output level of the image data output from the surrounding pixels of the defective pixel is not less than a predetermined level. This is because, if the level is reached, it is reduced by shot noise as shown in FIG.

(リニアセンサに補間処理を適用した場合の問題点)
次に、一列分(又は複数列分)の1次元的な光電変換処理を行うリニアセンサに、周辺画素平均値のショットノイズ量よりも対象画素のノイズ量が高い場合に補間処理を行う補間手法を適用した場合の問題点を説明する。
(Problems when interpolation processing is applied to linear sensors)
Next, an interpolation method for performing interpolation processing when the noise amount of the target pixel is higher than the shot noise amount of the peripheral pixel average value in a linear sensor that performs one-dimensional photoelectric conversion processing for one column (or a plurality of columns) The problem when applying is explained.

この補間手法の場合、周囲画素の平均レベルDaveから換算したショットノイズ量σshtと、欠陥画素のノイズ量σrtsの大小関係(σrts>σshtで補間対象)、かつ、周囲画素とレベル差が大きい場合に補間判定を行う。このため、図3(a)を用いて説明した欠陥画素の場合、「σrts<σsht」となり、補正対象とならない。すなわち、上述の補間手法をリニアセンサに適用すると、図3(a)を用いて説明した欠陥画素に対しては補間処理が行われず、図19(a)に示すように補正すべき縦筋が補正されない問題を生ずる。   In the case of this interpolation method, when the shot noise amount σsht converted from the average level Dave of the surrounding pixels and the noise amount σrts of the defective pixels are large (σrts> σsht to be interpolated) and the level difference from the surrounding pixels is large. Perform interpolation judgment. For this reason, in the case of the defective pixel described with reference to FIG. 3A, “σrts <σsht”, which is not a correction target. That is, when the above-described interpolation method is applied to a linear sensor, interpolation processing is not performed on the defective pixel described with reference to FIG. 3A, and vertical stripes to be corrected are present as shown in FIG. This causes an uncorrected problem.

また、仮にσrts<σshtとなることで、図19(a)に示す縦筋の補間処理を行った場合でも、図18(a)を用いて説明したコントラストが各縦線の間に存在する場合、図18(a)に示した3本の縦線のうち、中央の縦線に対応する画素を補間対象としてしまう。補間画素のレベルは、周辺画素の平均値又は中央値に置換する。このため、中央の縦線に対応する画素のレベルが、周囲画素の平均値又は中央値に置き換わり、図19(b)に示すように3本の縦線の中央に白線が存在する画像となる不都合を生ずる。これは、欠陥画素の補間処理が、却って欠陥画素の部分を目立たせる結果となったことを意味している。   Further, if σrts <σsht, the contrast described with reference to FIG. 18A exists between the vertical lines even when the vertical stripe interpolation processing shown in FIG. 19A is performed. Among the three vertical lines shown in FIG. 18A, the pixel corresponding to the central vertical line is set as an interpolation target. The level of the interpolation pixel is replaced with the average value or the median value of the surrounding pixels. For this reason, the level of the pixel corresponding to the central vertical line is replaced with the average value or the median value of the surrounding pixels, and an image having a white line at the center of the three vertical lines is obtained as shown in FIG. Cause inconvenience. This means that the defective pixel interpolation process has made the defective pixel portion stand out.

第5の実施の形態のMFP1では、欠陥画素の影響が見える箇所のみ補間処理を行う。図20は、第5の実施の形態のMFP1の要部のブロック図である。この図20に示すように、第5の実施の形態のMFP1の場合、異常画素検出部52と記憶部53との間に、補間処理を行うか否かの判定を行う補間判定部61を有している。補間判定部61は、画像の1ライン毎に、各欠陥画素の周辺が濃度の濃い領域か否かに基づいて、補間処理の有無を判定する。   In the MFP 1 according to the fifth embodiment, the interpolation process is performed only in the portion where the influence of the defective pixel is visible. FIG. 20 is a block diagram of a main part of the MFP 1 according to the fifth embodiment. As shown in FIG. 20, in the case of the MFP 1 of the fifth embodiment, an interpolation determination unit 61 that determines whether or not to perform interpolation processing is provided between the abnormal pixel detection unit 52 and the storage unit 53. doing. The interpolation determination unit 61 determines the presence / absence of the interpolation processing for each line of the image based on whether or not the periphery of each defective pixel is a high-density area.

(補間処理の判定で行う演算動作)
図21は、補間判定部61が補間判定処理で行う演算動作を説明するための図である。補間判定部61は、画像の1ライン毎に、各欠陥画素の周囲画素が、濃度の濃いベタ領域に相当するか否かを判断する。図21の例は、欠陥画素の左右5画素を、それぞれ周囲画素として濃度の濃いベタ領域に相当するか否かを判断する例を示している。なお、この例では、欠陥画素の左右5画素を演算対象の画素として説明を行うが、欠陥画素の左右2画素、左右3画素、左右8画素等でもよい。
(Calculation operation performed by judgment of interpolation processing)
FIG. 21 is a diagram for explaining a calculation operation performed by the interpolation determination unit 61 in the interpolation determination process. The interpolation determination unit 61 determines whether or not the surrounding pixels of each defective pixel correspond to a solid area with high density for each line of the image. The example of FIG. 21 shows an example in which it is determined whether or not the five pixels on the left and right of the defective pixel correspond to solid areas with high density as surrounding pixels. In this example, the left and right 5 pixels of the defective pixel are described as the calculation target pixels, but the left and right 2 pixels, the left and right 3 pixels, and the left and right 8 pixels of the defective pixel may be used.

補間判定部61は、欠陥画素の左側(L:Left)に隣接する5画素で形成される画像データの最大値及び最小値の差分値ΔLを、RGBの色毎に算出する(ΔRL、ΔGL、ΔBL)。また、補間判定部61は、欠陥画素の右側(R:Right)に隣接する5画素で形成される画像データの最大値及び最小値の差分値ΔLを色毎に算出する(ΔRR、ΔGR、ΔBR)。   The interpolation determining unit 61 calculates a difference value ΔL between the maximum value and the minimum value of image data formed by five pixels adjacent to the left side (L: Left) of the defective pixel for each RGB color (ΔRL, ΔGL, ΔBL). Further, the interpolation determining unit 61 calculates, for each color, a difference value ΔL between the maximum value and the minimum value of image data formed by five pixels adjacent to the right side (R: Right) of the defective pixel (ΔRR, ΔGR, ΔBR). ).

補間判定部61は、この差分値の演算により、欠陥画素の周囲画素のレベル変化の度合いを算出している。算出した差分値が大きいほど、画像データのレベル変化が大きいことを意味する。補間判定部61は、算出した差分値が大きい場合、画像データのレベル変化が大きく、欠陥画素の周囲画素にコントラストが存在し、不均一なパターンの画像が形成されるものと判断する。   The interpolation determining unit 61 calculates the level change degree of the surrounding pixels of the defective pixel by calculating the difference value. The larger the calculated difference value, the larger the level change of the image data. When the calculated difference value is large, the interpolation determination unit 61 determines that the level change of the image data is large, the contrast is present in the surrounding pixels of the defective pixel, and an image with a nonuniform pattern is formed.

また、補間判定部61は、欠陥画素の左側(L)に隣接する5画素で形成される画像データの平均値Laveを、RGBの色毎に算出する(RLave、GLave、BLave)。また、補間判定部61は、欠陥画素の右側(R)に隣接する5画素で形成される画像データの平均値Raveを、RGBの色毎に算出する(RRave、GRave、BRave)。この平均値は、周囲画素の濃度を示している。補間判定部61は、平均値が大きいほど、低濃度(白側)であると判断する。   In addition, the interpolation determination unit 61 calculates an average value Level of image data formed by five pixels adjacent to the left side (L) of the defective pixel for each color of RGB (RLave, GLave, and BLave). In addition, the interpolation determination unit 61 calculates an average value Rave of image data formed by five pixels adjacent to the right side (R) of the defective pixel for each RGB color (RRave, GRave, BRave). This average value indicates the density of surrounding pixels. The interpolation determination unit 61 determines that the density is lower (white side) as the average value is larger.

(補間判定動作)
補間判定部61は、周囲画素の差分値及び平均値を用いることで、以下に説明するように、欠陥画素に対する影響度を精度よく把握し、補間処理の有無を判定する。すなわち、補間判定部61は、上述した欠陥画素の周囲画素の最大値及び最小値の差分値、及び、周囲画素の平均値を算出し、差分値が所定の第1の閾値以下であるか否かを判別する。
(Interpolation judgment operation)
The interpolation determination unit 61 uses the difference value and the average value of the surrounding pixels to accurately grasp the degree of influence on the defective pixel and determine the presence / absence of interpolation processing, as will be described below. That is, the interpolation determination unit 61 calculates the difference value between the maximum value and the minimum value of the surrounding pixels of the defective pixel and the average value of the surrounding pixels, and whether or not the difference value is equal to or less than a predetermined first threshold value. Is determined.

差分値が第1の閾値よりも大きい場合、補間判定部61は、欠陥画素の周囲の画像領域は、例えば模様又はパターン領域等のコントラストのある画像領域であるものと判断する。図18(a)を用いて上述したように、コントラストのある画像領域では、画素異常による欠陥画素の影響は現れ難くなる。また、差分値が第1の閾値よりも大きいということは、周囲画素で形成される画像は、低濃度(白側=白色又は白色に近い色)であり、欠陥画素の影響が現れ難いことを意味する。このため、差分値が第1の閾値よりも大きい場合、補間判定部61は、補間処理は実施しないと判定し、この判定結果を示す情報を、記憶部53に記憶する。   When the difference value is larger than the first threshold value, the interpolation determining unit 61 determines that the image area around the defective pixel is an image area having a contrast such as a pattern or pattern area. As described above with reference to FIG. 18A, the influence of defective pixels due to pixel abnormality is less likely to appear in an image area with contrast. Further, the difference value being larger than the first threshold means that the image formed by the surrounding pixels has a low density (white side = white or a color close to white), and the influence of the defective pixel is difficult to appear. means. For this reason, when the difference value is larger than the first threshold value, the interpolation determination unit 61 determines that the interpolation process is not performed, and stores information indicating the determination result in the storage unit 53.

一方、差分値が第1の閾値以下の場合、補間判定部61は、平均値が所定の第2の閾値以下であるか否かを判別する。図18(c)を用いて説明したように、周囲画素の画像データが特定のレベル(第2の閾値)よりも大きくなると、画素の内部の電気的起因で生ずるノイズの影響は、ショットノイズによって埋もれて、画像上に現れ難くなる。反対に、周囲画素の画像データが特定のレベル以下の場合、ノイズの影響は、ショットノイズに埋もれることなく、画像上に現れる。   On the other hand, when the difference value is equal to or smaller than the first threshold value, the interpolation determining unit 61 determines whether or not the average value is equal to or smaller than the predetermined second threshold value. As described with reference to FIG. 18C, when the image data of the surrounding pixels becomes larger than a specific level (second threshold value), the influence of noise caused by the electrical inside of the pixel is caused by shot noise. It is buried and becomes difficult to appear on the image. On the other hand, when the image data of surrounding pixels is below a specific level, the influence of noise appears on the image without being buried in shot noise.

このため、補間判定部61は、平均値が第2の閾値以下である場合、ノイズの影響がショットノイズに埋もれることがないため、補間処理を行うと判定し、この判定結果を示す情報を記憶部53に記憶する。これに対して、補間判定部61は、平均値が第2の閾値よりも大きい場合、ノイズの影響がショットノイズに埋もれるため、補間処理は実施しないと判定し、この判定結果を示す情報を記憶部53に記憶する。   For this reason, when the average value is equal to or smaller than the second threshold value, the interpolation determination unit 61 determines that the interpolation process is performed because the influence of noise is not buried in the shot noise, and stores information indicating the determination result. Store in the unit 53. On the other hand, when the average value is larger than the second threshold value, the interpolation determination unit 61 determines that the interpolation process is not performed because the influence of noise is buried in the shot noise, and stores information indicating the determination result. Store in the unit 53.

分離部54は、補間判定部61により、「補間処理を実施する」と判定された欠陥画素のうち、連続する欠陥画素を異なる系統に分離する。各補間部55は、各系統分離された欠陥画素をそれぞれ補間処理する。これにより、欠陥画素を補間処理した場合における画像に対する影響度を精度よく把握することができ、補間処理を行ったことで画像に悪影響が現れる不都合を防止でき、精度の良い欠陥画素の補間処理を可能とすることができる他、上述の各実施の形態と同様の効果を得ることができる。   The separation unit 54 separates consecutive defective pixels into different systems from the defective pixels determined to be “perform interpolation processing” by the interpolation determination unit 61. Each interpolation unit 55 interpolates the defective pixels separated from each system. As a result, the degree of influence on the image when the defective pixel is interpolated can be accurately grasped, and the disadvantage that the image is adversely affected by the interpolation processing can be prevented, and the defective pixel can be accurately interpolated. In addition, the same effects as those of the above-described embodiments can be obtained.

(分離前における補間処理の要否の判定)
ここで、欠陥画素が2画素以上連続して存在する場合、各欠陥画素がそれぞれ異なる系統で補間処理されるように分離するが、分離した後に補間処理の要否を判定すると、解像度が低下した状態で補間処理の要否の判定を行うこととなる。例えば、連続する欠陥画素を2系統に分離した場合、図22(a)に示すように、高濃度のベタ領域内に欠陥画素が存在することで、欠陥画素が目立つ状態であるにもかかわらず、コントラストがあることから、図22(b)及び図22(c)に示すように分離後の補間判定において補間不要と誤判定される不都合を生ずる。
(Determination of necessity of interpolation processing before separation)
Here, when there are two or more defective pixels in succession, separation is performed so that each defective pixel is interpolated in different systems. However, when the necessity of interpolation processing is determined after the separation, the resolution decreases. Whether or not interpolation processing is necessary is determined in the state. For example, when continuous defective pixels are separated into two systems, as shown in FIG. 22 (a), the defective pixels are present in a high-density solid region, so that the defective pixels are conspicuous. Because of the contrast, as shown in FIGS. 22 (b) and 22 (c), there arises a problem in that it is erroneously determined that no interpolation is necessary in the interpolation determination after separation.

また、図23(a)に示すように、欠陥画素は存在するが、コントラストがある領域内であるために、欠陥画素が目立たない状態であるにもかかわらず、分離後の補間判定においては、図23(b)及び図23(c)に示すように、高濃度かつコントラスト無しであることから、補間処理が必要と誤判定される不都合を生ずる。このような誤判定が発生すると、補間処理を行った結果、かえって欠陥画素が画像上で目立つ状態となり、又は、画像上に目立つ欠陥画素が存在するにもかかわらず、補間処理が実行されない不都合を生ずる。   In addition, as shown in FIG. 23A, in the interpolation determination after separation, although the defective pixel exists but is in a region with contrast, the defective pixel is inconspicuous. As shown in FIGS. 23 (b) and 23 (c), the high density and no contrast cause the inconvenience that the interpolation process is erroneously determined to be necessary. When such a misjudgment occurs, as a result of performing the interpolation process, the defective pixel becomes conspicuous on the image, or the interpolation process is not executed even though the defective pixel is conspicuous on the image. Arise.

このため、第5の実施の形態のMFP1の場合、2画素以上連続する欠陥画素を分離する前に補間処理の要否の判定を行っている。すなわち、図20に示すように、分離部54の前段で、補間判定部61が、補間処理の要否を判定している。これにより、図24(a)に示すように高濃度のベタ画像であることから補間処理を実行すると判定した後で、図24(b)及び図24(c)に示すように各欠陥画素を分離できる。また、図24(d)に示すようにコントラストが存在することで補間処理が不要と判定した場合には、補間処理を実行しないようにすることができる。   For this reason, in the MFP 1 according to the fifth embodiment, the necessity of interpolation processing is determined before separating defective pixels that are continuous for two or more pixels. That is, as shown in FIG. 20, the interpolation determination unit 61 determines whether or not the interpolation processing is necessary before the separation unit 54. Thus, after determining that the interpolation processing is to be executed because the image is a high-density solid image as shown in FIG. 24A, each defective pixel is replaced with each other as shown in FIGS. 24B and 24C. Can be separated. Also, as shown in FIG. 24D, when it is determined that the interpolation process is unnecessary due to the presence of contrast, the interpolation process can be prevented from being executed.

(補間処理動作)
次に、第5の実施の形態のMFP1の補間部55で行われる補間処理動作の説明をする。図25は、第5の実施の形態のMFP1の補間部55の詳細なブロック図である。この図25に示すように、補間部55は、メモリ66と共に、相関度算出部67及び置換処理部68を有している。
(Interpolation processing operation)
Next, an interpolation processing operation performed by the interpolation unit 55 of the MFP 1 according to the fifth embodiment will be described. FIG. 25 is a detailed block diagram of the interpolation unit 55 of the MFP 1 according to the fifth embodiment. As shown in FIG. 25, the interpolation unit 55 has a correlation degree calculation unit 67 and a replacement processing unit 68 along with the memory 66.

補間部55は、一例として図26に示すように、補間判定部61により補間対象と判定された欠陥画素の前後16画素及び前後3ラインを、探索領域(対象パターン)として補間候補となる画素を探索する。また、補間部55は、欠陥画素、欠陥画素の前後2画素及びこの前後2画素の上下の2画素で形成される3ライン分の領域をテンプレートとして設定する。そして、補間部55は、図26に示すように、テンプレートを1画素ずつ移動しながら上述の対象パターン(欠陥画素の前後16画素及び前後3ラインの画像データ)と比較し、対象パターンの各部とテンプレートの相関度を算出する。   As an example, as shown in FIG. 26, the interpolating unit 55 uses the 16 pixels before and after the defective pixel determined to be interpolated by the interpolation determining unit 61 and the 3 lines before and after the pixel to be an interpolation candidate as a search region (target pattern). Explore. In addition, the interpolation unit 55 sets a region corresponding to three lines formed by a defective pixel, two pixels before and after the defective pixel, and two pixels above and below the two pixels before and after the defective pixel as templates. Then, as shown in FIG. 26, the interpolation unit 55 compares the above-mentioned target pattern (image data of 16 pixels before and after the defective pixel and 3 lines before and after) while moving the template pixel by pixel, Calculate the correlation of the template.

相関度としては、一例としてSAD(Sum of Absolute Difference)値を用いる。例えば、図26に示す例の場合、補間部55は、以下の数式(例としてSAD値S1〜S24を求める場合)に基づいて、24個分のSAD値を算出する。そして、補間部55は、一番小さいSAD値(=最大の相関度)を算出した対象パターンの部分の中心画素を置換画素として、欠陥画素と置き換え処理する。   For example, a SAD (Sum of Absolute Difference) value is used as the degree of correlation. For example, in the case of the example shown in FIG. 26, the interpolation unit 55 calculates 24 SAD values based on the following formula (for example, when obtaining SAD values S1 to S24). Then, the interpolation unit 55 replaces the defective pixel with the center pixel of the portion of the target pattern for which the smallest SAD value (= maximum correlation) is calculated.

なお、以下の数式及び図26において、「S」はSAD値を意味する。「S1」は、1つ目のSAD値、S24は、24個目のSAD値を示す。「P」は、対象パターンの画素を意味する。「P11」は、対象パターンの第1ライン目の第1番目の画素を、「P321」は、対象パターンの第1ライン目の第32番目の画素を意味する。同様に、「P13」は、対象パターンの第3ライン目の第1番目の画素を、「P323」は、対象パターンの第3ライン目の第32番目の画素を意味する。また、「T」は、テンプレートの画素を意味する。「T11」は、テンプレートの第1ライン目の第1番目の画素を、「T41」は、テンプレートの第1ライン目の第4番目の画素を意味する。同様に、「P13」は、対象パターンの第3ライン目の第1番目の画素を、「P43」は、対象パターンの第3ライン目の第4番目の画素を意味する。   In the following formula and FIG. 26, “S” means an SAD value. “S1” indicates the first SAD value, and S24 indicates the 24th SAD value. “P” means a pixel of the target pattern. “P11” means the first pixel of the first line of the target pattern, and “P321” means the 32nd pixel of the first line of the target pattern. Similarly, “P13” means the first pixel on the third line of the target pattern, and “P323” means the 32nd pixel on the third line of the target pattern. “T” means a pixel of the template. “T11” means the first pixel on the first line of the template, and “T41” means the fourth pixel on the first line of the template. Similarly, “P13” means the first pixel on the third line of the target pattern, and “P43” means the fourth pixel on the third line of the target pattern.

S1=(P11−T11)+(P12−T12)+(P13−T13)+(P21−T21)+(P22−T22)+(P23−T23)+(P31−T31)+(P32−T32)+(P33−T33)・・・S24=(P281−T11)+(P282−T12)+(P283−T13)+(P291−T21)+(P292−T22)+(P293−T23)+(P301−T31)+(P302−T32)+(P303−T33)   S1 = (P11−T11) + (P12−T12) + (P13−T13) + (P21−T21) + (P22−T22) + (P23−T23) + (P31−T31) + (P32−T32) + (P33−T33)... S24 = (P281−T11) + (P282−T12) + (P283−T13) + (P291−T21) + (P292−T22) + (P293−T23) + (P301−T31) ) + (P302-T32) + (P303-T33)

補間部55は、このような数式に基づく演算処理を行うことで、SAD値S1〜S24を算出する。そして、例えばSAD値S22の値が最小値の場合、この最小値を算出した対象パターンの部分の中心画素であるP282の画素を置換画素として、欠陥画素と置き換え処理する。   The interpolation unit 55 calculates SAD values S <b> 1 to S <b> 24 by performing arithmetic processing based on such a mathematical expression. For example, when the value of the SAD value S22 is the minimum value, the pixel of P282 that is the central pixel of the portion of the target pattern for which the minimum value is calculated is used as a replacement pixel and replaced with a defective pixel.

図27は、このような補間処理動作の流れを示すフローチャートである。ステップS21では、図25に示す相関度算出部67が、SAD値の演算回数として「1」を、カウンタに設定する(n=1:nは演算回数)。すなわち、図26に示す例の場合、相関度算出部67は、計24個のSAD値を算出する。このため、相関度算出部67は、ステップS21において、最初に、1回目のSAD値の演算動作であることを示す「1」をカウンタに設定する。なお、相関度算出部67は、一つのSAD値の算出を完了する毎に、「1」→「2」→「3」・・・「24」等のように、カウンタの値を一つずつインクリメントする。インクリメントのタイミングは、対象パターンに対してテンプレートを1画素移動するタイミングである。   FIG. 27 is a flowchart showing the flow of such an interpolation processing operation. In step S21, the correlation degree calculation unit 67 shown in FIG. 25 sets “1” as the SAD value calculation count in the counter (n = 1: n is the calculation count). That is, in the example shown in FIG. 26, the correlation degree calculation unit 67 calculates a total of 24 SAD values. Therefore, in step S21, the correlation degree calculation unit 67 first sets “1”, which indicates the first SAD value calculation operation, to the counter. Each time the calculation of the correlation degree 67 completes the calculation of one SAD value, the value of the counter is incremented one by one, such as “1” → “2” → “3”. Increment. The increment timing is a timing at which the template is moved by one pixel with respect to the target pattern.

次に、ステップS22では、相関度算出部67が、上述の数式に基づいて、SAD値(Sn:SはSAD値の意、nは、算出されるSAD値の1〜24の番号)を算出する。ステップS23では、相関度算出部67が、演算回数が24回(n=24:nは演算回数)となったか否かを判別する。上述のように、相関度算出部67は、対象パターンに対してテンプレートを一つずつ移動しながら上述の演算を行う。このため、演算回数が24回に満たない場合(ステップS23:No)、ステップS25に処理を進め、演算回数を一つインクリメントして(n=n+1)、ステップS22に処理を戻す。そして、ステップS22において、再度、SAD値を算出する。   Next, in step S22, the correlation degree calculation unit 67 calculates an SAD value (Sn: S is an SAD value, and n is a number from 1 to 24 of the calculated SAD value) based on the above-described formula. To do. In step S23, the correlation degree calculation unit 67 determines whether or not the number of calculations is 24 (n = 24: n is the number of calculations). As described above, the correlation degree calculation unit 67 performs the above-described calculation while moving the template one by one with respect to the target pattern. For this reason, when the number of calculations is less than 24 (step S23: No), the process proceeds to step S25, the number of calculations is incremented by one (n = n + 1), and the process returns to step S22. In step S22, the SAD value is calculated again.

このようにして24個のSAD値を算出すると(ステップS23:Yes)、ステップS24に処理が進み、図25に示す置換処理部68が、24個数のSAD値のうち、最小値を算出した対象パターンの部分の中心画素を置換画素として、欠陥画素と置き換え処理(補間処理)して、図27のフローチャートの処理を終了する。   When 24 SAD values are calculated in this way (step S23: Yes), the process proceeds to step S24, and the replacement processing unit 68 shown in FIG. 25 calculates the minimum value among the 24 SAD values. The replacement processing (interpolation processing) with the defective pixel is performed using the central pixel of the pattern portion as the replacement pixel, and the processing of the flowchart in FIG.

第5の実施の形態のMFP1は、連続する欠陥画素を分離処理する前に、補間処理の要否の判定を行う。連続する欠陥画素を分離処理した後に補間処理の要否の判定を行うと、判定に用いる画素が少なくなることで解像度が低下した画像情報に基づいて、補間処理の要否の判定を行うこととなるため判定精度が低下する。しかし、連続する欠陥画素を分離処理する前に、補間処理の要否の判定を行うことで、多くの画素を用いて補間処理の要否を判定することができ、誤判定を防止して、判定精度を向上させることができる。   The MFP 1 according to the fifth embodiment determines whether or not interpolation processing is necessary before performing separation processing on consecutive defective pixels. When determining whether or not interpolation processing is necessary after separating consecutive defective pixels, determining whether or not interpolation processing is necessary based on image information whose resolution has been reduced due to fewer pixels used for the determination. Therefore, the determination accuracy decreases. However, it is possible to determine the necessity of the interpolation process using many pixels by performing the determination of the necessity of the interpolation process before separating the consecutive defective pixels, preventing erroneous determination, The determination accuracy can be improved.

なお、第5の実施の形態と上述の各実施の形態とでは、この点のみが差異となる。この他の部分の説明及び効果等は、上述の各実施の形態の説明を参照されたい。   The fifth embodiment is different from the above-described embodiments only in this point. For the description and effects of other parts, refer to the description of each embodiment described above.

(第6の実施の形態)
次に、第6の実施の形態のMFP1の説明をする。この第6の実施の形態のMFP1の場合、図28に示すように、光電変換部51〜判定部57と共に、複製部72及びセレクタ71を有している。複製部72は、欠陥画素が単発的な画素であった場合、分離処理されない画像情報の複製を、補間部55の数分(かずぶん)、生成する。セレクタ71は、判定部57の判定結果に基づいて、欠陥画素が連続している場合は、画像情報を分離部54に供給し、欠陥画素が単発的な画素である場合は、画像情報を複製部72に供給する。
(Sixth embodiment)
Next, the MFP 1 according to the sixth embodiment will be described. The MFP 1 according to the sixth embodiment includes a duplication unit 72 and a selector 71 together with the photoelectric conversion unit 51 to the determination unit 57, as shown in FIG. When the defective pixel is a single pixel, the duplicating unit 72 creates a copy of the image information that is not subjected to the separation process by the number of the interpolating unit 55. Based on the determination result of the determination unit 57, the selector 71 supplies the image information to the separation unit 54 when the defective pixels are continuous, and copies the image information when the defective pixel is a single pixel. To the unit 72.

図29(a)〜図29(e)は、2画素の連続する欠陥画素が存在する場合における画像情報の処理の流れを示す模式図である。2画素の連続する欠陥画素が存在する場合、図29(a)に示すように分離部54は、各欠陥画素の画像情報を2系統に分離し、図29(c)及び図29(d)に示すように、第1の補間部55a及び第2の補間部55bに供給する。図25に示す置換処理部68(制御部の一例)は、各欠陥画素がそれぞれ補間処理されるように、第1の補間部55a及び第2の補間部55bを制御する。補間処理により生成された画像情報は、図29(e)に示すように、合成部56で合成処理され、一連の画像情報として再生される。補間処理は、欠陥画素がN画素連続の場合、N個の補間部55で、1系統ずつ行われる。   FIG. 29A to FIG. 29E are schematic diagrams illustrating the flow of processing of image information when there are two consecutive defective pixels. When there are two consecutive defective pixels, the separation unit 54 separates the image information of each defective pixel into two systems as shown in FIG. 29A, and FIG. 29C and FIG. As shown in FIG. 4, the data are supplied to the first interpolation unit 55a and the second interpolation unit 55b. The replacement processing unit 68 (an example of a control unit) illustrated in FIG. 25 controls the first interpolation unit 55a and the second interpolation unit 55b so that each defective pixel is subjected to interpolation processing. The image information generated by the interpolation processing is combined by the combining unit 56 and reproduced as a series of image information as shown in FIG. The interpolation process is performed one by one by N interpolation units 55 when the defective pixels are N consecutive pixels.

これに対して、図30(a)〜図30(e)は、欠陥画素が単発的な画素である場合における画像情報の処理の流れを示す模式図である。図30(a)に示すように、欠陥画素が単発的な画素であった場合、画像情報は分離されることなく、複製部72に供給される。複製部72は、図30(b)に示すように、分離しない状態の画像情報を、補間部55の数分(かずぶん)、複製して生成する。そして、複製部72は、複製した画像情報を、図30(c)及び図30(d)に示すように全ての補間部55に供給する。なお、図30(c)及び図30(d)は、MFP1に2つの補間部55が設けられている例である。この場合、複製部72は、オリジナルとなる画像情報の他に、一つの複製となる画像情報を生成し、オリジナルとなる画像情報を第1の補間部55aに供給し、複製の画像情報を第2の補間部55bに供給する。   On the other hand, FIG. 30A to FIG. 30E are schematic diagrams showing the flow of processing of image information when the defective pixel is a single pixel. As shown in FIG. 30A, when the defective pixel is a single pixel, the image information is supplied to the duplicating unit 72 without being separated. As shown in FIG. 30B, the duplicating unit 72 duplicates and generates image information in a state where it is not separated by the number of pieces of the interpolating unit 55. Then, the duplicating unit 72 supplies the duplicated image information to all the interpolating units 55 as shown in FIGS. 30 (c) and 30 (d). 30C and 30D are examples in which two interpolation units 55 are provided in the MFP 1. In this case, the duplicating unit 72 generates one piece of image information to be duplicated in addition to the original image information, supplies the original image information to the first interpolating unit 55a, and supplies the duplicated image information to the first image information. 2 is supplied to the second interpolation unit 55b.

置換処理部68は、それぞれ単発的な画素の欠陥画素に対して補間処理を施すように、各補間部55を制御する。そして、置換処理部68は、所定の一つの補間部55を、補間処理した画像情報を合成部56に供給するように制御すると共に、他の補間部55を、補間処理した画像情報を破棄するように制御する。すなわち、図30の例で説明すると、第1の補間部55aが、補間処理した画像情報を破棄し、第2の補間部55bが、補間処理した画像情報を合成部56に供給する。合成部56は、一つの補間部55から供給される画像情報を、合成することなく、そのまま出力する。これにより、合成部56において、不必要な画像信号の合成処理が行われる不都合を防止できる。   The replacement processing unit 68 controls each interpolation unit 55 so as to perform interpolation processing on the defective pixels of single pixels. Then, the replacement processing unit 68 controls the predetermined one interpolation unit 55 to supply the interpolated image information to the synthesis unit 56, and discards the other interpolation unit 55 from the interpolated image information. To control. That is, in the example of FIG. 30, the first interpolation unit 55 a discards the interpolated image information, and the second interpolation unit 55 b supplies the interpolated image information to the synthesis unit 56. The combining unit 56 outputs the image information supplied from one interpolation unit 55 as it is without combining. Thereby, it is possible to prevent inconvenience that an unnecessary image signal combining process is performed in the combining unit 56.

このような第6の実施の形態のMFP1は、単発的な欠陥画素用の回路と2画素以上連続する欠陥画素用の回路との2種類の回路を備える必要がないため、回路規模の増大及びコストアップを防止できる他、上述の各実施の形態と同様の効果を得ることができる。   The MFP 1 according to the sixth embodiment does not need to include two types of circuits, that is, a single defective pixel circuit and two or more consecutive defective pixel circuits. In addition to preventing an increase in cost, the same effects as those of the above-described embodiments can be obtained.

なお、第6の実施の形態と上述の各実施の形態とでは、この点のみが差異となる。この他の部分の説明及び効果等は、上述の各実施の形態の説明を参照されたい。   The sixth embodiment is different from the above-described embodiments only in this point. For the description and effects of other parts, refer to the description of each embodiment described above.

(第7の実施の形態)
次に、第7の実施の形態のMFP1の説明をする。上述の第6の実施の形態においては、欠陥画素が単発的な画素であった場合、分離を行うことなく全画像情報を第1及び第2の補間部55a、55bにそれぞれ供給する。そして、各補間部55a、55bでそれぞれ補間処理を行ったうえで、第1の補間部55aの画像情報を破棄し、第2の補間部55bの画像情報のみを出力した。
(Seventh embodiment)
Next, the MFP 1 according to the seventh embodiment will be described. In the sixth embodiment described above, when the defective pixel is a single pixel, all image information is supplied to the first and second interpolation units 55a and 55b without separation. Then, after performing interpolation processing in each of the interpolation units 55a and 55b, the image information of the first interpolation unit 55a is discarded, and only the image information of the second interpolation unit 55b is output.

これに対して、第7の実施の形態のMFP1は、図31(a)に示すように欠陥画素が単発的な画素であった場合も、図31(b)に示すように分離部54が欠陥画素に基づいて、画像情報を複数の系統に分離する。図31(c)及び図31(d)は、画像情報が欠陥画素に基づいて2系統に分離された例であり、第1の補間部55aに欠陥画素が含まれていない画像情報が供給され、第2の補間部55bに欠陥画素が含まれた画像情報が供給された例である。   On the other hand, in the MFP 1 according to the seventh embodiment, even when the defective pixel is a single pixel as shown in FIG. 31A, the separation unit 54 is provided as shown in FIG. Based on the defective pixel, the image information is separated into a plurality of systems. FIG. 31C and FIG. 31D are examples in which image information is separated into two systems based on defective pixels, and image information that does not include defective pixels is supplied to the first interpolation unit 55a. This is an example in which image information including defective pixels is supplied to the second interpolation unit 55b.

この場合、図25に示す置換処理部68(制御部の一例)は、欠陥画素を含まない画像情報が供給された第1の補間部55aを、補間処理を実行しないように制御する。また、置換処理部68は、欠陥画素を含む画像情報が供給された第2の補間部55bを、補間処理を実行するように制御する。そして、合成部56が、図31(e)に示すように、第1の補間部55aで補間処理が施されていない画像情報と、第2の補間部55bで補間処理が施された画像情報とを合成処理して出力する。   In this case, the replacement processing unit 68 (an example of the control unit) illustrated in FIG. 25 controls the first interpolation unit 55a to which image information not including a defective pixel is supplied so as not to perform the interpolation process. Further, the replacement processing unit 68 controls the second interpolation unit 55b to which the image information including the defective pixel is supplied so as to execute the interpolation processing. Then, as shown in FIG. 31E, the synthesis unit 56 performs image information that has not been subjected to interpolation processing by the first interpolation unit 55a, and image information that has undergone interpolation processing by the second interpolation unit 55b. Are combined and output.

これにより、第6の実施の形態で説明したセレクタ71及び複製部72を不要とすることができ、回路規模の縮小化及びコストダウンを実現することができる他、上述の各実施の形態と同様の効果を得ることができる。   As a result, the selector 71 and the duplicating unit 72 described in the sixth embodiment can be eliminated, the circuit scale can be reduced and the cost can be reduced, and the same as in each of the above-described embodiments. The effect of can be obtained.

なお、第7の実施の形態と上述の各実施の形態とでは、この点のみが差異となる。この他の部分の説明及び効果等は、上述の各実施の形態の説明を参照されたい。   The seventh embodiment is different from the above-described embodiments only in this point. For the description and effects of other parts, refer to the description of each embodiment described above.

(第8の実施の形態)
次に、第8の実施の形態のMFP1の説明をする。図32(a)に示すように、2画素以上連続して存在する欠陥画素を補間処理する場合、図32(b)及び図32(c)に示すように画像情報を欠陥画素毎に別系統に分離し、系統毎にパターンマッチングを用いた補間処理を行う(図26参照)。この際、系統毎に異なる位置から類似パターン(=図26に示すテンプレート)が選択される可能性がある。そして、系統毎に異なる位置で選択した類似パターンに基づいて、それぞれ補間処理された画像情報を合成処理すると、類似パターンの微妙な違いが、図32(d)に示すように異常画素となって画像上に現れることが懸念される。
(Eighth embodiment)
Next, the MFP 1 according to the eighth embodiment will be described. As shown in FIG. 32 (a), when interpolation processing is performed on defective pixels that exist continuously for two or more pixels, the image information is separated for each defective pixel as shown in FIGS. 32 (b) and 32 (c). Then, interpolation processing using pattern matching is performed for each system (see FIG. 26). At this time, there is a possibility that a similar pattern (= template shown in FIG. 26) is selected from a different position for each system. Then, when the interpolated image information is synthesized based on the similar patterns selected at different positions for each system, the subtle differences in the similar patterns become abnormal pixels as shown in FIG. There is concern about appearing on the image.

このため、図8の実施の形態のMFP1は、各系統で選択された類似パターン同士の比較(パターンマッチング)を行い、各系統で補間処理に用いられる類似パターンが、それぞれ類似度が高い類似パターンとなるように調整する。具体的には、図33(a)に示すように複数の連続する欠陥画素が存在する場合、分離部54は、上述のように、各欠陥画素が異なる系統に振り分けられるように、全体の画像情報を分離する。図33(a)の例は、連続する欠陥画素が2画素であり、各欠陥画素が、図33(b)及び図33(c)に示すように2系統(第1の補間部55a、第2の補間部55b)に分離された様子を示している。   For this reason, the MFP 1 of the embodiment of FIG. 8 compares similar patterns selected in each system (pattern matching), and the similar patterns used for the interpolation processing in each system are similar patterns each having a high similarity. Adjust so that Specifically, when there are a plurality of consecutive defective pixels as shown in FIG. 33 (a), the separation unit 54, as described above, distributes the entire image so that each defective pixel is distributed to a different system. Isolate information. In the example of FIG. 33A, there are two consecutive defective pixels, and each defective pixel has two systems as shown in FIGS. 33B and 33C. 2 shows a state of being separated into two interpolation units 55b).

第1の補間部55a及び第2の補間部55bは、図33(b)及び図33(c)に示すように、それぞれ補間処理に用いる類似パターンを検出する(図26参照)。図25に示す置換処理部68(制御部の一例)は、第1の補間部55aで検出された第1の類似パターン、及び、第2の補間部55bで検出された第2の類似パターンを比較処理(パターンマッチング)する。図33(b)及び図33(c)に示すように、各類似パターンの類似度が低い場合(マッチング率が低い場合)、置換処理部68は、異なる類似パターンを選択するように、各補間部55a、55bを制御し、再度、各類似パターンを比較処理する。置換処理部68は、このような類似パターンの検出処理及び比較処理を繰り返し制御する。   As shown in FIGS. 33B and 33C, the first interpolation unit 55a and the second interpolation unit 55b respectively detect similar patterns used for interpolation processing (see FIG. 26). The replacement processing unit 68 (an example of a control unit) illustrated in FIG. 25 uses the first similar pattern detected by the first interpolation unit 55a and the second similar pattern detected by the second interpolation unit 55b. Comparison processing (pattern matching) is performed. As shown in FIGS. 33 (b) and 33 (c), when the similarity of each similar pattern is low (when the matching rate is low), the replacement processing unit 68 performs each interpolation so as to select a different similar pattern. The units 55a and 55b are controlled, and each similar pattern is compared again. The replacement processing unit 68 repeatedly controls such similar pattern detection processing and comparison processing.

これにより、図33(d)に示すように、各補間部55a、55bで類似度が高い(マッチング率が高い)類似パターン(第3の類似パターン)が、各補間部55a、55bで検出される。合成部56は、各補間部55a、55bで類似度が高い第3の類似パターンで補間処理された各画像情報を合成処理して出力する。これにより、図33(e)に示すように、各系統で用いられる類似パターン同士の微妙な違いによる異常画像の発生を防止することができる他、上述の各実施の形態と同様の効果を得ることができる。   As a result, as shown in FIG. 33 (d), a similar pattern (third similar pattern) having a high degree of similarity (a high matching rate) is detected in each of the interpolation units 55a and 55b. The The synthesizing unit 56 synthesizes and outputs each piece of image information interpolated with the third similar pattern having a high similarity in the interpolating units 55a and 55b. As a result, as shown in FIG. 33 (e), the occurrence of abnormal images due to subtle differences between similar patterns used in each system can be prevented, and the same effects as those of the above-described embodiments can be obtained. be able to.

なお、第8の実施の形態と上述の各実施の形態とでは、この点のみが差異となる。この他の部分の説明及び効果等は、上述の各実施の形態の説明を参照されたい。   Note that this is the only difference between the eighth embodiment and the above-described embodiments. For the description and effects of other parts, refer to the description of each embodiment described above.

(第9の実施の形態)
次に、第9の実施の形態のMFP1の説明をする。この第9の実施の形態のMFP1の場合も、第8の実施の形態と同様に、各系統で補間処理に用いられる類似パターン同士の微妙な違いにより、異常画像が発生する不都合を防止した例である。
(Ninth embodiment)
Next, the MFP 1 according to the ninth embodiment will be described. In the case of the MFP 1 of the ninth embodiment, as in the eighth embodiment, an example in which an inconvenience that an abnormal image occurs due to a subtle difference between similar patterns used for interpolation processing in each system is prevented. It is.

第9の実施の形態のMFP1の場合、図34(a)に示すように、置換処理部68(制御部の一例)が、各系統に分離する前の画像信号に基づいて、連続する複数の欠陥画素の補間処理を行うための基準パターンを生成する。基準パターンが生成されると、分離部54が、各欠陥画素を各系統に分離するように全体の画像情報を分離し、各系統の補間部55が、図34(b)及び図34(c)に示すように、それぞれの系統の欠陥画素を補間処理するための類似パターンを検出する。図34(b)及び図34(c)の例は、2つの連続する欠陥画素が、第1の補間部55a及び第2の補間部55bの2つの系統にそれぞれ分離された例を示している。   In the case of the MFP 1 according to the ninth embodiment, as shown in FIG. 34A, the replacement processing unit 68 (an example of a control unit) uses a plurality of continuous images based on image signals before separation into each system. A reference pattern for performing interpolation processing of defective pixels is generated. When the reference pattern is generated, the separation unit 54 separates the entire image information so as to separate each defective pixel into each system, and the interpolation unit 55 of each system performs the processes shown in FIGS. 34 (b) and 34 (c). ), A similar pattern for interpolating the defective pixels of each system is detected. The example of FIGS. 34B and 34C shows an example in which two consecutive defective pixels are separated into two systems of a first interpolation unit 55a and a second interpolation unit 55b, respectively. .

各補間部55a、55bは、それぞれの欠陥画素を補間処理するための類似パターンを検出する。図34(b)は、第1の補間部55aが、欠陥画素の補間処理用として第1の類似パターンを検出した例を示している。図34(c)は、第2の補間部55bが、欠陥画素の補間処理用として第2の類似パターンを検出した例を示している。置換処理部68は、各系統に分離する前の画像信号に基づいて生成した基準パターンと、各補間部55a、55bで検出された類似パターンを、それぞれ比較する。そして、置換処理部68は、基準パターンと類似パターンとの類似度が低い場合、再度、異なる類似パターンを検出するように、補間部55を制御する。   Each of the interpolation units 55a and 55b detects a similar pattern for interpolating each defective pixel. FIG. 34B shows an example in which the first interpolation unit 55a detects the first similar pattern for defective pixel interpolation processing. FIG. 34C shows an example in which the second interpolation unit 55b detects the second similar pattern for defective pixel interpolation processing. The replacement processing unit 68 compares the reference pattern generated based on the image signal before separation into each system and the similar pattern detected by the interpolation units 55a and 55b. Then, when the degree of similarity between the reference pattern and the similar pattern is low, the replacement processing unit 68 controls the interpolation unit 55 so as to detect a different similar pattern again.

図34(b)の例は、第1の補間部55aが、欠陥画素の補間処理用として第1の類似パターンを検出した例である。置換処理部68は、第1の補間部55aにより検出された第1の類似パターンと基準パターンとを比較する。図34(b)の例の場合、両者の類似度(マッチング率)は高い。このため、置換処理部68は、第1の補間部55aにおいては、第1の類似パターンを補間処理に用いると認識し、類似パターンの再検出制御は行わない。第1の補間部55aは、基準パターンに対する類似度が高い第1の類似パターンを用いて欠陥画素の補間処理を行い、補間処理した画像情報を合成部56に供給する。   The example of FIG. 34B is an example in which the first interpolation unit 55a detects a first similar pattern for defective pixel interpolation processing. The replacement processing unit 68 compares the first similar pattern detected by the first interpolation unit 55a with the reference pattern. In the case of the example in FIG. 34B, the similarity (matching rate) between the two is high. Therefore, the replacement processing unit 68 recognizes that the first interpolation unit 55a uses the first similar pattern for the interpolation processing, and does not perform redetection control of the similar pattern. The first interpolation unit 55 a performs defective pixel interpolation processing using the first similar pattern having a high degree of similarity to the reference pattern, and supplies the interpolated image information to the combining unit 56.

これに対して、図34(c)の例は、第2の補間部55bが、欠陥画素の補間処理用として第2の類似パターンを検出した例である。置換処理部68は、第2の補間部55bにより検出された第1の類似パターンと基準パターンとを比較する。図34(c)の例の場合、両者の類似度(マッチング率)は低い。このため、置換処理部68は、第2の類似パターン以外の類似パターンを再検出するように、第2の補間部55bを制御する。   On the other hand, the example of FIG. 34C is an example in which the second interpolation unit 55b detects the second similar pattern for interpolation processing of defective pixels. The replacement processing unit 68 compares the first similar pattern detected by the second interpolation unit 55b with the reference pattern. In the case of the example in FIG. 34C, the similarity (matching rate) between the two is low. For this reason, the replacement processing unit 68 controls the second interpolation unit 55b so as to re-detect similar patterns other than the second similar pattern.

これにより、第2の補間部55bにより、図34(d)に示すように、先に検出した類似パターンとは異なる第3の類似パターンが検出される。置換処理部68は、第2の補間部55bにより検出された第3の類似パターンと基準パターンとを比較する。図34(d)の例の場合、両者の類似度(マッチング率)は高い。このため、置換処理部68は、第2の補間部55bにおいては、第3の類似パターンを補間処理に用いると認識し、類似パターンの再検出制御を終了する。第2の補間部55bは、基準パターンに対する類似度が高い第2の類似パターンを用いて欠陥画素の補間処理を行い、補間処理した画像情報を合成部56に供給する。   As a result, as shown in FIG. 34D, the second interpolation unit 55b detects a third similar pattern different from the previously detected similar pattern. The replacement processing unit 68 compares the third similar pattern detected by the second interpolation unit 55b with the reference pattern. In the example of FIG. 34 (d), the similarity (matching rate) between the two is high. Accordingly, the replacement processing unit 68 recognizes that the second interpolation unit 55b uses the third similar pattern for the interpolation processing, and ends the similar pattern re-detection control. The second interpolation unit 55 b performs defective pixel interpolation processing using the second similar pattern having a high similarity to the reference pattern, and supplies the interpolated image information to the synthesis unit 56.

合成部56は、図34(e)に示すように、第1の類似パターンで欠陥画素の補間処理が行われた画像情報と、第3の類似パターンで欠陥画素の補間処理が行われた画像情報とを合成処理することで一連の画像データを再生して出力する。   As shown in FIG. 34 (e), the synthesizer 56 performs image information on which defective pixel interpolation processing has been performed with the first similar pattern and image on which defective pixel interpolation processing has been performed with the third similar pattern. A series of image data is reproduced and output by combining the information.

第9の実施の形態のMFP1の場合、分離前の全画像情報に基づいて生成した基準パターンに対して類似度が高い類似パターンを用いて、分離後の画像情報における欠陥画素の補間処理を行うことができる。このため、画像情報を各系統に分離することで解像度が低下した画像情報に基づいて検出した類似パターンを用いて補間処理を行うよりも、適切な類似パターンを用いて補間処理を行うことができ、各系統で補間処理に用いられる類似パターン同士の微妙な違いにより、異常画像が発生する不都合を防止することができる他、上述の各実施の形態と同様の効果を得ることができる。   In the MFP 1 according to the ninth embodiment, interpolation processing of defective pixels in image information after separation is performed using a similar pattern having a high degree of similarity with respect to a reference pattern generated based on all image information before separation. be able to. For this reason, it is possible to perform interpolation processing using appropriate similar patterns rather than performing interpolation processing using similar patterns detected based on image information whose resolution has been reduced by separating the image information into each system. Besides, it is possible to prevent the inconvenience that an abnormal image is generated due to a subtle difference between similar patterns used for interpolation processing in each system, and it is possible to obtain the same effects as those of the above-described embodiments.

なお、第9の実施の形態と上述の各実施の形態とでは、この点のみが差異となる。この他の部分の説明及び効果等は、上述の各実施の形態の説明を参照されたい。   Note that the ninth embodiment is different from the above-described embodiments only in this point. For the description and effects of other parts, refer to the description of each embodiment described above.

最後に、上述の各実施の形態は、一例として提示したものであり、本発明の範囲を限定することは意図していない。この新規な各実施の形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことも可能である。また、実施の形態及び実施の形態の変形は、発明の範囲や要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。   Finally, each of the above-described embodiments has been presented as an example, and is not intended to limit the scope of the present invention. Each of the novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the scope of the invention. Further, the embodiments and modifications of the embodiments are included in the scope and gist of the invention, and are included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.

1 複合機(MFP)の読み取り装置
2 MFPの本体
21 光電変換部
51 光電変換部
52 異常画素検出部
53 記憶部
54 分離部
55 補間部
55a 第1の補間部
55b 第2の補間部
56 合成部
57 判定部
61 補間判定部
67 相関度算出部
68 置換処理部
71 セレクタ
72 複製部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Reading apparatus of MFP (MFP) 2 MFP main body 21 Photoelectric conversion unit 51 Photoelectric conversion unit 52 Abnormal pixel detection unit 53 Storage unit 54 Separation unit 55 Interpolation unit 55a First interpolation unit 55b Second interpolation unit 56 Combining unit 57 Determination Unit 61 Interpolation Determination Unit 67 Correlation Level Calculation Unit 68 Replacement Processing Unit 71 Selector 72 Replication Unit

特開2009−130553号公報JP 2009-130553 A

Claims (14)

各画素で受光した光を電気信号に変換する光電変換部と、
前記各画素のうち、異常レベルの電気信号を出力する欠陥画素を検出する検出部と、
検出された各欠陥画素のうち、前記光電変換部上の物理的な位置が連続する欠陥画素を特定する特定部と、
前記欠陥画素の電気信号を正常な画素の電気信号とする補間処理を行う複数の補間部と、
特定された連続する位置の各欠陥画素が、それぞれ異なる前記補間部で補間処理されるように、前記光電変換部からの前記電気信号を分離して、それぞれ前記補間部に供給する分離部と、
前記各補間部でそれぞれ補間処理が施された前記電気信号を合成して、一連の前記電気信号を再生して出力する合成部と
を有する光電変換装置。
A photoelectric conversion unit that converts light received by each pixel into an electrical signal;
A detection unit that detects a defective pixel that outputs an electrical signal of an abnormal level among the pixels,
Of each detected defective pixel, a specifying unit that specifies a defective pixel having a continuous physical position on the photoelectric conversion unit;
A plurality of interpolation units for performing an interpolation process using the defective pixel electrical signal as a normal pixel electrical signal;
A separation unit that separates the electrical signal from the photoelectric conversion unit and supplies the signal to the interpolation unit so that each defective pixel at a specified continuous position is interpolated by the different interpolation unit;
And a synthesizing unit that synthesizes the electric signals that have been subjected to the interpolation processing by the interpolating units, and reproduces and outputs a series of the electric signals.
前記光電変換手段は、受光する光の三原色の色毎に一次元的に複数の画素が配列されて形成されていること
を特徴とする請求項1に記載の光電変換装置。
The photoelectric conversion device according to claim 1, wherein the photoelectric conversion unit is formed by arranging a plurality of pixels in a one-dimensional manner for each of the three primary colors of light received.
前記光電変換部は、所定数の画素を一纏まりとしたカラム毎に駆動され、
前記補間部は、前記カラム内に欠陥画素が存在する場合、前記カラム内の全ての画素に対して前記補間処理を施すこと
を特徴とする請求項1又は請求項2に記載の光電変換装置。
The photoelectric conversion unit is driven for each column in which a predetermined number of pixels are grouped,
The photoelectric conversion apparatus according to claim 1, wherein the interpolation unit performs the interpolation processing on all pixels in the column when defective pixels exist in the column.
前記補間部は、前記三原色の各色の画素のうち、いずれかの色の画素が前記欠陥画素であった場合、前記欠陥画素の前記光電変換部上の位置に対応する位置の他の色の画素に対しても前記補間処理を施すこと
を特徴とする請求項2に記載の光電変換装置。
In the interpolation unit, when a pixel of any one of the three primary colors is the defective pixel, the other color pixel at a position corresponding to the position of the defective pixel on the photoelectric conversion unit The photoelectric conversion device according to claim 2, wherein the interpolation processing is performed on the photoelectric conversion device.
前記検出部は、発生要因別に前記欠陥画素を検出し、
前記特定部は、連続する位置の各欠陥画素を、前記発生要因別に特定し、
前記分離部は、前記発生要因別に特定された連続する位置の各欠陥画素が、それぞれ異なる前記補間部で補間処理されるように、前記光電変換部からの前記電気信号を分離して、それぞれ前記補間部に供給すること
を特徴とする請求項1又は請求項2に記載の光電変換装置。
The detection unit detects the defective pixel for each occurrence factor,
The specifying unit specifies each defective pixel at successive positions for each occurrence factor,
The separation unit separates the electrical signal from the photoelectric conversion unit so that each defective pixel at successive positions specified for each occurrence factor is interpolated by different interpolation units, respectively, It supplies to an interpolation part. The photoelectric conversion apparatus of Claim 1 or Claim 2 characterized by the above-mentioned.
前記欠陥画素を補間処理した際に、正常な補間処理結果が得られるか否かを、前記欠陥画素の周囲の画素の画素値に基づいて判定し、前記欠陥画素の電気信号を正常レベルの電気信号に近似する補間処理を実行するか否かの補間判定処理を行う補間判定部を、さらに備え、
前記補間部は、前記補間処理を実行するとの判定結果が得られた前記欠陥画素に対して画素補間処理を行うこと
を特徴とする請求項1又は請求項2に記載の光電変換装置。
Whether or not a normal interpolation processing result is obtained when the defective pixel is interpolated is determined based on pixel values of pixels around the defective pixel, and an electric signal of the defective pixel is set to a normal level electric signal. An interpolation determination unit that performs an interpolation determination process as to whether or not to perform an interpolation process that approximates a signal,
The photoelectric conversion apparatus according to claim 1, wherein the interpolation unit performs pixel interpolation processing on the defective pixel from which a determination result indicating that the interpolation processing is executed is obtained.
前記補間判定部は、前記光電変換部からの前記電気信号を分離する前に、前記補間判定処理を実行すること
を特徴とする請求項6に記載の光電変換装置。
The photoelectric conversion apparatus according to claim 6, wherein the interpolation determination unit executes the interpolation determination process before separating the electrical signal from the photoelectric conversion unit.
前記補間部は、前記欠陥画素を含む画素列と、前後の一列又は複数の画素列からなる対象パターン上で、前記対象パターンの部分的な大きさのテンプレートを、前記対象パターンの端部から列方向に沿って、少なくとも1画素ずつ移動させながら、対象パターンとテンプレートとの相関度を算出し、最大の相関度を算出した前記対象パターンの部分の中心画素を置換画素として用いて、前記欠陥画素を補間処理すること
を特徴とする請求項6又は請求項7に記載の光電変換装置。
The interpolating unit arranges a template having a partial size of the target pattern from an end of the target pattern on a target pattern including a pixel column including the defective pixel and one or a plurality of pixel columns before and after. The degree of correlation between the target pattern and the template is calculated while moving at least one pixel along the direction, and the defective pixel is obtained by using the central pixel of the part of the target pattern for which the maximum degree of correlation is calculated as a replacement pixel. The photoelectric conversion device according to claim 6, wherein the photoelectric conversion device is subjected to an interpolation process.
前記光電変換部上の欠陥画素が単発的な欠陥画素である場合に、分離しない前記電気信号の複製を、前記補間部の数分生成して、前記各補間部にそれぞれ供給する複製部と、
前記光電変換部上に位置が連続する複数の欠陥画素が存在する場合、前記光電変換部からの電気信号を前記分離部に供給し、前記光電変換部上に存在する欠陥画素が、単発的な欠陥画素である場合、前記光電変換部からの電気信号を前記複製部に供給するセレクタと、
前記各欠陥画素に応じて分離された前記電気信号が、前記分離部から前記補間部に供給された場合、前記補間部毎に前記補間処理が行われるように前記各補間部を制御し、前記複製部から分離しない前記電気信号の複製が前記各補間部に供給された場合、一つの補間部からの、補間処理された前記電気信号を前記合成部に供給し、他の補間部からの前記電気信号を破棄するように前記各補間部を制御する制御部と、をさらに備え、
前記合成部は、前記光電変換部上に位置が連続する複数の欠陥画素が存在する場合、前記各補間部からの電気信号を前記合成して出力し、前記光電変換部上の欠陥画素が単発的な欠陥画素である場合、前記一つの補間部から供給される前記電気信号を出力すること
を特徴とする請求項1又は請求項2に記載の光電変換装置。
When the defective pixel on the photoelectric conversion unit is a single defective pixel, a duplication unit that generates the number of duplicates of the electric signal that is not separated by the number of the interpolation units, and supplies each of the interpolation units,
When there are a plurality of defective pixels whose positions are continuous on the photoelectric conversion unit, an electrical signal from the photoelectric conversion unit is supplied to the separation unit, and the defective pixel existing on the photoelectric conversion unit In the case of a defective pixel, a selector that supplies an electrical signal from the photoelectric conversion unit to the replication unit;
When the electrical signal separated according to each defective pixel is supplied from the separation unit to the interpolation unit, the interpolation unit is controlled so that the interpolation process is performed for each interpolation unit, When a copy of the electrical signal that is not separated from a replication unit is supplied to each interpolation unit, the electrical signal from one interpolation unit is supplied to the synthesis unit and the synthesis unit supplies the electrical signal from the other interpolation unit. A control unit that controls each of the interpolation units so as to discard the electrical signal,
When there are a plurality of defective pixels whose positions are continuous on the photoelectric conversion unit, the combining unit combines and outputs the electrical signals from the interpolation units, and the defective pixels on the photoelectric conversion unit 3. The photoelectric conversion device according to claim 1, wherein, when the pixel is a defective pixel, the electric signal supplied from the one interpolation unit is output.
前記光電変換部上の欠陥画素が単発的な欠陥画素である場合に、前記欠陥画素の電気信号の補間処理を行う補間部を、前記補間処理を行うように制御し、前記欠陥画素の電気信号を含まない電気信号が供給された他の補間部は、前記補間処理を行わないように制御する制御部を、さらに備え、
前記合成部は、前記補間処理により前記欠陥画素の補間処理が行われた電気信号と、前記欠陥画素の電気信号を含まないことから、前記補間処理が行われることなく前記補間部から出力された電気信号を合成処理して出力すること
を特徴とする請求項1又は請求項2に記載の光電変換装置。
When the defective pixel on the photoelectric conversion unit is a single defective pixel, an interpolation unit that performs interpolation processing of the electrical signal of the defective pixel is controlled to perform the interpolation processing, and the electrical signal of the defective pixel The other interpolation unit to which the electrical signal not including the signal is supplied further includes a control unit that controls not to perform the interpolation process,
The synthesizing unit does not include the electrical signal that has been subjected to the interpolation processing of the defective pixel by the interpolation processing and the electrical signal of the defective pixel, and thus is output from the interpolation unit without performing the interpolation processing. The photoelectric conversion device according to claim 1, wherein the electrical signals are combined and output.
前記各補間部で生成された前記テンプレート同士を比較し、各テンプレートの類似度が低かった場合、所定の高さの類似度のテンプレートを検出するように、前記各補間部を制御する制御部を、さらに備え、
前記各補間部は、所定の高さの類似度のテンプレートをそれぞれ用いて前記補間処理を行うこと
を特徴とする請求項8に記載の光電変換装置。
A controller that controls each of the interpolation units so as to detect a template having a predetermined height when the templates generated by the interpolation units are compared with each other and the similarity of the templates is low. And more,
The photoelectric conversion apparatus according to claim 8, wherein each of the interpolation units performs the interpolation process using a template having a predetermined height of similarity.
前記分離前の電気信号に基づいて、前記欠陥画素の補間処理を行うための基準パターンを生成し、前記各補間部で生成された前記テンプレートを、それぞれ前記基準パターンと比較し、前記基準パターンに対する類似度が低いテンプレートを生成した前記補間部に対して、前記基準パターンに対する類似度が所定の高さの類似度のテンプレートを検出するように制御する制御部を、さらに備え、
前記各補間部は、前記基準パターンに対する類似度が所定の高さの類似度のテンプレートをそれぞれ用いて前記補間処理を行うこと
を特徴とする請求項8に記載の光電変換装置。
Based on the electrical signal before separation, a reference pattern for performing interpolation processing of the defective pixel is generated, the template generated by each interpolation unit is compared with the reference pattern, and the reference pattern A controller that controls the interpolation unit that has generated a template having a low similarity to detect a template having a similarity with a predetermined height that is similar to the reference pattern;
The photoelectric conversion apparatus according to claim 8, wherein each of the interpolation units performs the interpolation process using a template whose similarity with the reference pattern is a predetermined height.
光電変換部が、各画素で受光した光を電気信号に変換する光電変換ステップと、
検出部が、前記各画素のうち、異常レベルの電気信号を出力する欠陥画素を検出する検出ステップと、
特定部が、検出された各欠陥画素のうち、前記光電変換部上の物理的な位置が連続する欠陥画素を特定する特定ステップと、
複数の補間部が、前記欠陥画素の電気信号を正常な画素の電気信号とする補間処理を行う補間ステップと、
分離部が、特定された連続する位置の各欠陥画素が、それぞれ異なる前記補間部で補間処理されるように、前記光電変換部からの前記電気信号を分離して、それぞれ前記補間部に供給する分離ステップと、
合成部が、前記各補間部でそれぞれ補間処理が施された前記電気信号を合成して、一連の前記電気信号を再生して出力する合成ステップと
を有する光電変換方法。
A photoelectric conversion step in which the photoelectric conversion unit converts the light received by each pixel into an electrical signal;
A detection step of detecting a defective pixel that outputs an electrical signal of an abnormal level among the pixels;
A specifying step of specifying a defective pixel having a continuous physical position on the photoelectric conversion unit among the detected defective pixels; and
An interpolation step in which a plurality of interpolation units perform an interpolation process in which an electrical signal of the defective pixel is an electrical signal of a normal pixel;
The separation unit separates the electrical signal from the photoelectric conversion unit and supplies the signal to the interpolation unit so that the defective pixels at the specified consecutive positions are interpolated by different interpolation units. A separation step;
And a synthesis step of synthesizing the electrical signals that have been subjected to the interpolation processing by the interpolation units, and reproducing and outputting a series of the electrical signals.
載置台に載置された原稿に光を照射し、反射光を光電変換部で受光して、原稿の読み取りを行う画像形成装置であって、
前記光電変換部の各画素のうち、異常レベルの電気信号を出力する欠陥画素を検出する検出部と、
検出された各欠陥画素のうち、前記光電変換部上の物理的な位置が連続する欠陥画素を特定する特定部と、
前記欠陥画素の電気信号を正常な画素の電気信号とする補間処理を行う複数の補間部と、
特定された連続する位置の各欠陥画素が、それぞれ異なる前記補間部で補間処理されるように、前記光電変換部からの前記電気信号を分離して、それぞれ前記補間部に供給する分離部と、
前記各補間部でそれぞれ補間処理が施された前記電気信号を合成して、一連の前記電気信号を再生して出力する合成部と
を有する画像形成装置。
An image forming apparatus that irradiates a document placed on a placement table with light, receives reflected light with a photoelectric conversion unit, and reads the document,
Among each pixel of the photoelectric conversion unit, a detection unit that detects a defective pixel that outputs an electrical signal of an abnormal level;
Of each detected defective pixel, a specifying unit that specifies a defective pixel having a continuous physical position on the photoelectric conversion unit;
A plurality of interpolation units for performing an interpolation process using the defective pixel electrical signal as a normal pixel electrical signal;
A separation unit that separates the electrical signal from the photoelectric conversion unit and supplies the signal to the interpolation unit so that each defective pixel at a specified continuous position is interpolated by the different interpolation unit;
An image forming apparatus comprising: a synthesizing unit that synthesizes the electric signals that have been subjected to the interpolation processing by the interpolating units, and reproduces and outputs a series of the electric signals.
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