JP2018195130A - Abnormal cause estimating apparatus, abnormal cause estimating method, and abnormal cause estimating program - Google Patents
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Abstract
【課題】異常原因として推定した工程管理データと正常状態の工程管理データとの大小関係および乖離度を定量化し、異常の方向性および程度の情報として提示する、改善された異常原因推定装置、異常原因推定方法、および異常原因推定プログラムを提供する。【解決手段】本開示の一態様に係る異常原因推定装置は、入力装置から工程追跡全データと、規格上限値および規格下限値とその中心値との少なくとも一方を含む規格値データとを取得し、工程追跡全データから、所定の検査項目の工程管理データ値の標準偏差に基づいて工程追跡基準データを設定し、工程追跡全データから、所定の品種および生産ロットの少なくとも1つに基づいて工程追跡解析データを設定し、工程管理項目毎に、基準データに対する解析データの変動を計算し、変動を示すグラフを表示装置に描画する。【選択図】図1PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an improved abnormality cause estimating device, which quantifies the magnitude relationship and the degree of deviation between process control data estimated as an abnormality cause and process control data in a normal state, and presents it as information on the direction and degree of abnormality. A cause estimation method and an abnormality cause estimation program are provided. An abnormality cause estimation apparatus according to an aspect of the present disclosure obtains all process tracking data from an input device, and standard value data including at least one of a standard upper limit value, a standard lower limit value, and a center value thereof. , Process tracking reference data is set from all process tracking data based on the standard deviation of the process control data value of a predetermined inspection item, and a process is performed based on at least one of a predetermined product type and production lot from all process tracking data. The tracking analysis data is set, the variation of the analysis data with respect to the reference data is calculated for each process control item, and a graph showing the variation is drawn on the display device. [Selection diagram] Figure 1
Description
本開示は、異常原因推定装置、異常原因推定方法、および異常原因推定プログラムに関する。 The present disclosure relates to an abnormality cause estimation device, an abnormality cause estimation method, and an abnormality cause estimation program.
デバイス製造工程や材料プロセス工程等の生産工程における異常原因を推定するための従来の方法の1つとして、例えば、マハラノビス距離を利用したパターン認識により異常原因を診断する方法が知られている(特許文献1参照)。 As one of conventional methods for estimating the cause of abnormality in a production process such as a device manufacturing process or a material process process, for example, a method of diagnosing the cause of abnormality by pattern recognition using Mahalanobis distance is known (patent) Reference 1).
特許文献1に記載の構成においては、診断対象の定常状態からマハラノビス空間が計算され、診断しようとする対象から特徴量(工程管理データ)が抽出されてマハラノビス距離が計算され、予め設定された閾値とマハラノビス距離とが比較される。次いで、マハラノビス距離が閾値よりも大きい場合、距離要素値の最大値が特定され、距離要素値の最大値に対応する特徴量が、定常状態のデータの特徴量の平均値で置換される。その後、置換された特徴量を用いて新たにマハラノビス距離が計算され、新たに計算されたマハラノビス距離が閾値以下になるまで上記が繰り返され、全工程管理項目の特徴量の効果が棒グラフで描画される。そして、棒グラフにおいて、長さの長い棒に対応する工程管理項目が異常原因として診断される。
In the configuration described in
しかしながら、従来の特許文献1の構成においては、異常原因として推定された工程管理データと正常状態の工程管理データとの大小関係(異常の方向性)、乖離度(異常の程度)が不明である。そのため、異常の方向性および程度の情報が不足してしまい、診断に基づいて的確な異常対策案を立案するのが困難であるという課題がある。
However, in the configuration of the
本開示の目的は、異常原因として推定した工程管理データと正常状態の工程管理データとの大小関係および乖離度を定量化し、異常の方向性および程度の情報として提示する、改善された異常原因推定装置、異常原因推定方法、および異常原因推定プログラムを提供することである。 The purpose of this disclosure is an improved anomaly cause estimation that quantifies the magnitude relationship and degree of divergence between the process control data estimated as the cause of anomaly and the normal state process management data, and presents it as information on the direction and extent of the anomaly An apparatus, an abnormality cause estimation method, and an abnormality cause estimation program are provided.
本開示の一態様に係る異常原因推定装置は、入力装置から対象とする品種および生産ロットに対する工程管理データ値を含む工程追跡全データと、規格を満たす前記工程管理データ値の範囲を規定する規格上限値および規格下限値とその中心値である規格中心値との少なくとも一方を含む規格値データとを取得するデータ取得部と、前記工程追跡全データから、所定の検査項目の前記工程管理データ値の標準偏差に基づいて、前記工程管理データ値を選択取得して基準データとして設定し、前記基準データおよび前記規格値データに基づいて、工程管理項目毎に、前記基準データに設定された前記工程管理データ値を正規化した値からなる工程追跡基準データを設定する基準データ設定部と、前記工程追跡全データから、所定の品種および生産ロットの少なくとも1つに基づいて、前記工程管理データ値を選択取得して解析データとして設定し、前記解析データおよび前記規格値データに基づいて、前記工程管理項目毎に、前記解析データに含まれる前記工程管理データ値を正規化した値からなる工程追跡解析データを設定する解析データ設定部と、前記工程管理項目毎に、前記基準データに対する前記解析データの変動を計算する変動計算部と、前記変動を示すグラフを表示装置に描画するグラフ描画部と、を備える構成を採る。 An abnormality cause estimation device according to an aspect of the present disclosure includes all process tracking data including process management data values for a target product type and production lot from an input device, and a standard that defines a range of the process management data values that satisfy the standard A data acquisition unit for acquiring standard value data including at least one of an upper limit value and a standard lower limit value and a standard central value that is a central value thereof, and the process management data value of a predetermined inspection item from all the process tracking data Based on the standard deviation, the process management data value is selectively acquired and set as reference data, and the process set in the reference data for each process management item based on the reference data and the standard value data A reference data setting unit for setting process tracking reference data consisting of values obtained by normalizing the management data values, and a predetermined product type and production from all the process tracking data. Based on at least one of the lots, the process management data value is selectively acquired and set as analysis data, and is included in the analysis data for each process management item based on the analysis data and the standard value data. An analysis data setting unit that sets process tracking analysis data composed of values obtained by normalizing the process management data value, a variation calculation unit that calculates a variation of the analysis data with respect to the reference data for each of the process management items, and And a graph drawing unit that draws a graph indicating fluctuation on a display device.
本開示の一態様に係る異常原因推定方法は、入力装置から対象とする品種および生産ロットに対する工程管理データ値を含む工程追跡全データと、規格を満たす前記工程管理データ値の範囲を規定する規格上限値および規格下限値とその中心値である規格中心値との少なくとも一方を含む規格値データとを取得する工程追跡全データ取得工程と、前記工程追跡全データから、所定の検査項目の前記工程管理データ値の標準偏差に基づいて、前記工程管理データ値を選択取得して基準データとして設定し、前記基準データおよび前記規格値データに基づいて、工程管理項目毎に、前記基準データに設定された前記工程管理データ値を正規化した値からなる工程追跡基準データを設定する工程追跡基準データ設定工程と、前記工程追跡全データから、所定の品種および生産ロットの少なくとも1つに基づいて、前記工程管理データ値を選択取得して解析データとして設定し、前記解析データおよび前記規格値データに基づいて、前記工程管理項目毎に、前記解析データに含まれる前記工程管理データ値を正規化した値からなる工程追跡解析データを設定する工程追跡解析データ設定工程と、前記工程管理項目毎に、前記基準データに対する前記解析データの変動を計算する変動計算工程と、前記変動を示すグラフを表示装置に描画するグラフ描画工程と、を備える構成を採る。 An abnormality cause estimating method according to an aspect of the present disclosure includes a process tracking total data including a process management data value for a target product type and a production lot from an input device, and a standard that defines a range of the process management data value that satisfies the standard. A process tracking all data acquisition step for acquiring standard value data including at least one of an upper limit value and a standard lower limit value and a standard center value that is a center value thereof, and the process of a predetermined inspection item from the process tracking all data Based on the standard deviation of the management data value, the process management data value is selectively obtained and set as reference data. Based on the reference data and the standard value data, the process management items are set in the reference data. In addition, a process tracking reference data setting process for setting process tracking reference data consisting of values obtained by normalizing the process management data values, and the process tracking reference data , Based on at least one of a predetermined product type and production lot, the process management data value is selectively acquired and set as analysis data, and based on the analysis data and the standard value data, for each process management item, A process tracking analysis data setting step for setting process tracking analysis data composed of values obtained by normalizing the process management data values included in the analysis data, and a change in the analysis data with respect to the reference data for each of the process management items. A configuration is provided that includes a variation calculation step for calculating, and a graph drawing step for drawing a graph indicating the variation on a display device.
本開示の一態様に係る異常原因推定プログラムは、コンピュータに、入力装置から対象とする品種および生産ロットに対する工程管理データ値を含む工程追跡全データと、規格を満たす前記工程管理データ値の範囲を規定する規格上限値および規格下限値とその中心値である規格中心値との少なくとも一方を含む規格値データとを取得する工程追跡全データ取得工程と、前記工程追跡全データから、所定の検査項目の前記工程管理データ値の標準偏差に基づいて、前記工程管理データ値を選択取得して基準データとして設定し、前記基準データおよび前記規格値データに基づいて、工程管理項目毎に、前記基準データに設定された前記工程管理データ値を正規化した値からなる工程追跡基準データを設定する工程追跡基準データ設定工程と、前記工程追跡全データから、所定の品種および生産ロットの少なくとも1つに基づいて、前記工程管理データ値を選択取得して解析データとして設定し、前記解析データおよび前記規格値データに基づいて、前記工程管理項目毎に、前記解析データに含まれる前記工程管理データ値を正規化した値からなる工程追跡解析データを設定する工程追跡解析データ設定工程と、前記工程管理項目毎に、前記基準データに対する前記解析データの変動を計算する変動計算工程と、前記変動を示すグラフを表示装置に描画するグラフ描画工程と、を実行させる構成を採る。 An abnormality cause estimation program according to an aspect of the present disclosure includes, on a computer, all process tracking data including process management data values for a target product type and a production lot from an input device, and a range of the process management data values satisfying a standard. A process tracking all data acquisition step for acquiring standard value data including at least one of a standard upper limit value and a standard lower limit value and a standard central value that is a central value thereof, and predetermined inspection items from the process tracking total data Based on the standard deviation of the process management data value, the process management data value is selectively obtained and set as reference data, and the reference data is set for each process management item based on the reference data and the standard value data. A process tracking reference data setting step for setting process tracking reference data consisting of values obtained by normalizing the process management data values set to From all the process tracking data, based on at least one of a predetermined product type and production lot, the process management data value is selectively obtained and set as analysis data, and based on the analysis data and the standard value data, For each process management item, a process tracking analysis data setting step for setting process tracking analysis data consisting of values obtained by normalizing the process management data values included in the analysis data; and for each process management item, the reference data A variation calculation step for calculating the variation of the analysis data and a graph drawing step for drawing a graph indicating the variation on a display device are employed.
本開示によれば、異常原因として推定した工程管理データと正常状態の工程管理データとの大小関係および乖離度を定量化し、異常の方向性および程度の情報として提示する、改善された異常原因推定装置、異常原因推定方法、および異常原因推定プログラムを提供することができる。 According to the present disclosure, improved abnormality cause estimation that quantifies the magnitude relationship and the degree of deviation between the process management data estimated as the cause of abnormality and the normal state process management data and presents it as information on the direction and degree of abnormality. An apparatus, an abnormality cause estimation method, and an abnormality cause estimation program can be provided.
以下、本開示の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described in detail with reference to the drawings.
(第1の実施の形態)
図1は、第1の実施の形態に係る異常原因推定システム100の構成図である。異常原因推定システム100は、入力装置110と、異常原因推定装置120と、表示装置130とを備える。
(First embodiment)
FIG. 1 is a configuration diagram of an abnormality cause estimation system 100 according to the first embodiment. The abnormality cause estimation system 100 includes an
入力装置110は、工程追跡全データを生成する。ここで、工程追跡全データは、対象とする品種およびロットに対して、工程管理項目毎に対応する工程における状態を示す特徴値(工程管理データ値)を収集したデータである。一例において、品種およびロットには、仕掛中のものも含まれる。特徴値は、例えば、工程に設けられた温度センサ、圧力センサ、画像センサ等のセンサから取得される計測値、当該計測値の変化量を示す値、当該計測値を所定の時間に亘って平均化した平均値である。なお、工程に設けられた、或いは作業者が携帯する入力端末にて入力される計測値なども考えられる。入力装置110は、例えば、温度センサ、圧力センサ、画像センサ、それらのセンサに接続されたコンピュータ、入力端末である。
The
入力装置110は、さらに、規格値データを生成する。ここで、規格値データは、工程管理項目毎に、規格を満たす工程管理データ値の範囲を規定するデータである。一例において、規格値データは、規格を満たす値の範囲の上限値、中心値、および下限値を規定する、規格上限値、規格中心地、および規格中心値を備える。
The
異常原因推定装置120は、データ取得部121と、規格データ作成部122と、基準データ設定部123と、解析データ設定部124と、変動計算部125と、グラフ描画部126とを備える。一例において、異常原因推定装置120は、CPUおよびROMを備え、CPUが、それぞれROMに格納されているプログラムを読み出して実行するコンピュータを備える。
The abnormality
データ取得部121は、入力装置110から工程追跡全データを取得し、工程追跡全データのデータ値を配列する。処理内容の詳細については、図3および図4Aを参照して後述する。さらに、データ取得部121は、規格値データを取得する。処理内容の詳細については、図3および図4Bを参照して後述する。
The
規格データ作成部122は、工程追跡全データおよび規格値データに基づいて、工程追跡規格データを作成し、工程追跡規格データのデータ値を配列する。ここで、工程追跡規格データとは、例えば、工程管理項目毎に、規格上限値が1、規格中心値が0.5、および規格下限値が0となるように、工程追跡全データに含まれる特徴値を線形変換して正規化された値からなるデータである。ここで、正規化とは、対象となる値を他の値と比較するために、代表値で割って無次元化する等の変換を施すことを意味する。処理内容の詳細については、図5Aおよび図6を参照して後述する。
The standard
基準データ設定部123は、工程追跡全データおよび規格値データに基づいて、工程追跡全データのうち、所定の検査項目の工程管理データ値の標準偏差に基づいて選択取得されるデータを、基準データとして設定する。一例において、基準データ設定部123は、標準偏差の値を定義域にもつ予め規定された関数を用いて、所定の検査項目の工程管理データ値の標準偏差の値に対応する関数値を求め、求められた関数値に基づいて選択取得されるデータを、基準データとして設定する。
The reference
基準データ設定部123は、さらに、基準データおよび規格値データに基づいて、工程追跡基準データを設定し、工程追跡基準データのデータ値を配列する。ここで、工程追跡基準データとは、工程管理項目毎に、基準データに設定された工程管理データ値を正規化された値からなるデータである。一例において、規格上限値に等しい工程管理データ値が1、規格中心値に等しい工程管理データ値が0.5、規格下限値に等しい工程管理データ値が0となるように、工程管理データ値が線形変換されて正規化される。他の例において、規格上限値に等しい工程管理データ値が1、規格中心値に等しい工程管理データ値が0、規格下限値に等しい工程管理データ値が−1となるように、工程管理データ値が線形変換されて正規化される。処理内容の詳細については、図5Bおよび図6を参照して後述する。
The reference
解析データ設定部124は、工程追跡全データおよび規格値データに基づいて、解析データを設定する。ここで、解析データとは、例えば、品種、生産ロットをキー値として工程追跡全データから選択された1以上のレコードからなるデータである。解析データ設定部124は、さらに、解析データおよび規格値データに基づいて、工程追跡解析データを設定し、工程追跡解析データのデータ値を配列する。ここで、工程追跡解析データとは、工程管理項目毎に、解析データに設定された工程管理データ値を正規化された値からなるデータである。一例において、規格上限値に等しい工程管理データ値が1、規格中心値に等しい工程管理データ値が0.5、規格下限値に等しい工程管理データ値が0となるように、工程管理データ値が線形変換されて正規化される。他の例において、規格上限値に等しい工程管理データ値が1、規格中心値に等しい工程管理データ値が0、規格下限値に等しい工程管理データ値が−1となるように、工程管理データ値が線形変換されて正規化される。処理内容の詳細については、図5Cおよび図6を参照して後述する。 The analysis data setting unit 124 sets analysis data based on all process tracking data and standard value data. Here, the analysis data is data composed of one or more records selected from all the process tracking data using, for example, the product type and the production lot as key values. The analysis data setting unit 124 further sets process tracking analysis data based on the analysis data and the standard value data, and arranges data values of the process tracking analysis data. Here, the process tracking analysis data is data composed of values obtained by normalizing the process management data values set in the analysis data for each process management item. In one example, the process management data value is 1 so that the process management data value equal to the standard upper limit value is 1, the process management data value equal to the standard center value is 0.5, and the process management data value equal to the standard lower limit value is 0. Linearized and normalized. In another example, the process management data value is such that the process management data value equal to the standard upper limit value is 1, the process management data value equal to the standard center value is 0, and the process management data value equal to the standard lower limit value is -1. Are linearly transformed and normalized. Details of the processing contents will be described later with reference to FIGS. 5C and 6.
変動計算部125は、工程管理項目毎に、基準データに対する解析データの変動を計算する。処理内容の詳細については、図7および図8を参照して後述する。
The
グラフ描画部126は、変動を示すグラフを描画する。処理内容の詳細については、図9および図10A〜Cを参照して後述する。
The
表示装置130は、グラフ描画部126が描画した解析グラフを表示する。表示装置130は、例えば、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ、プリンタ、プロッタである。
The
図2は、第1の実施の形態に係る異常原因推定装置120の動作フローを示すフローチャートである。この処理は、例えば、異常原因推定装置120のCPUが、それぞれROMに格納されているプログラムを読み出して実行することにより実現される。
FIG. 2 is a flowchart showing an operation flow of the abnormality
ステップS1150において、異常原因推定装置120は、工程追跡全データを取得する(データ取得部121としての処理)。処理内容の詳細については、図3、図4A、および図4Bを参照して後述する。
In step S1150, the abnormality
ステップS2200において、異常原因推定装置120は、工程追跡規格データを作成する(規格データ作成部122としての処理)。処理内容の詳細については、図5Aおよび図6を参照して後述する。
In step S2200, the abnormality
ステップS3200において、異常原因推定装置120は、工程追跡基準データを設定する(基準データ設定部123としての処理)。処理内容の詳細については、図5Bおよび図6を参照して後述する。
In step S3200, the abnormality
ステップS4200において、異常原因推定装置120は、工程追跡解析データを設定する(解析データ設定部124としての処理)。処理内容の詳細については、図5Cおよび図6を参照して後述する。
In step S4200, the abnormality
ステップS5250において、異常原因推定装置120は、基準データに対する解析データの変動を計算する(変動計算部125としての処理)。処理内容の詳細については、図7および図8を参照して後述する。
In step S5250, the abnormality
ステップS6200において、異常原因推定装置120は、解析グラフを描画する(グラフ描画部126としての処理)。処理内容の詳細については、図9、図10A、図10B、および図10Cを参照して後述する。
In step S6200, the abnormality
図3は、図2に示すフローチャートのステップS1150の動作フローを示すフローチャートである。図4Aは、工程追跡全データの一例である。図4Bは、規格値データの一例である。 FIG. 3 is a flowchart showing an operation flow of step S1150 of the flowchart shown in FIG. FIG. 4A is an example of all process tracking data. FIG. 4B is an example of standard value data.
ステップS1000において、データ取得部121は、仕掛中を含む全品種、全生産ロットの全工程の工程管理データを取得する。
In step S1000, the
ステップS1050において、データ取得部121は、全工程管理データについて、工程管理番号および工程管理項目名に対応する値を列とし、品種および生産ロットに対応する値を行とし、工程管理番号の昇順に列を左から右へ整列、品種、生産ロットの昇順に行を上から下へ整列した行列形式で工程管理データ値を配置する。
In step S1050, the
図4Aに示されるように、行列形式の1行目を工程管理番号7000とし、2行目を工程管理項目名7050とする。また、行列形式の1列目を品種7100とし、2列目を生産ロット7150とする。生産工程の昇順に列を左から右へ整列、品種、生産ロットの昇順に行を上から下へ整列して工程管理データ値7200を配置することにより、工程追跡全データが作成される。
As shown in FIG. 4A, the first row in the matrix format is the
ステップS1100において、データ取得部121は、全工程の工程管理項目の規格上限値、規格中心値、規格下限値を取得する。
In step S1100, the
そして、データ取得部121は、図4Bに示されるように、例えば、描画区分8000、描画番号8050、工程管理番号8100、工程管理項目名8150、規格タイプ8200、規格上限値、規格中心値、規格下限値8250、および暫定値の幅8300を配置した規格値データを作成する。
Then, as shown in FIG. 4B, the
ここで、描画区分8000は、例えば、0,1の2値をとる変数であり、初期値は1である。描画番号8050は、1を初期値とするシリアル番号である。規格タイプ8200は、0,1,2の3値をとる変数である。値1は、規格値データに規格下限値がないことを示し、値2は、規格値データに規格上限値がないことを示す。値3は、規格値データに規格上限値および規格下限値のいずれもあることを示す。
Here, the
暫定値の幅8300は、規格値が無い場合に暫定の規格値を算出するための係数αであり、例えば、α=0.1である。規格上限値が無い(規格タイプ8200の値が2である)場合は、規格中心値×(1+α)を暫定の規格上限値と設定する。規格下限値が無い(規格タイプ8200の値が1である)場合は、規格中心値×(1−α)を暫定の規格下限値と設定する。また、規格中心値が無い場合は、例えば、(規格上限値+規格下限値)/2を暫定の規格中心値と設定する。
The
図5A、図5B、および図5Cは、それぞれ、図2に示すフローチャートのステップS2200、ステップS3200、およびステップS4200の動作フローを示すフローチャートである。図6は、正規化された基準データおよび解析データの一例である。 5A, FIG. 5B, and FIG. 5C are flowcharts showing operation flows of step S2200, step S3200, and step S4200 of the flowchart shown in FIG. 2, respectively. FIG. 6 is an example of normalized reference data and analysis data.
まず、図5Aおよび図6を参照する。ステップS2200において、工程管理項目毎に規格上限値を1、規格中心値を0.5、規格下限値を0と正規化する。 First, FIG. 5A and FIG. 6 will be referred to. In step S2200, the standard upper limit value is normalized to 1, the standard center value is normalized to 0.5, and the standard lower limit value is normalized to 0 for each process management item.
ステップS2050において、工程管理項目毎に、工程管理番号の昇順に、描画番号、規格の有無、工程管理番号、工程管理項目名、正規化された規格上限値、および正規化された規格下限値を左列から右列へ配列する。図6に示される追跡Min9150は、正規化された規格下限値であり、0に等しい。また、追跡Max9200は、正規化された規格上限値であり、1に等しい。
In step S2050, for each process management item, the drawing number, the presence / absence of the standard, the process management number, the process management item name, the normalized standard upper limit value, and the normalized standard lower limit value are set in ascending order of the process management number. Arrange from left column to right column. The tracking
次に、図5Bおよび図6を参照する。 Reference is now made to FIGS. 5B and 6.
ステップS3000において、全工程の工程管理データから最終工程の検査項目の工程能力指数Cpkが1.33以上であるデータを選択取得して基準データを設定する。 In step S3000, data having the process capability index Cpk of the final process inspection item of 1.33 or more is selected and acquired from the process management data of all processes, and the reference data is set.
ステップS3050において、工程管理項目毎に、基準データを規格値で正規化する。ステップS3100において、工程管理項目毎に、正規化された基準データについて、最大値、最小値、および平均値を計算する。ステップS3150において、工程管理項目毎に、工程管理番号の昇順に、描画番号、規格の有無、工程管理番号、工程管理項目名、正規化された基準データの最大値、最小値、および平均値を左列から右列へ配列する。 In step S3050, the reference data is normalized with the standard value for each process management item. In step S3100, a maximum value, a minimum value, and an average value are calculated for the normalized reference data for each process management item. In step S3150, for each process management item, the drawing number, the presence / absence of a standard, the process management number, the process management item name, the maximum value, the minimum value, and the average value of normalized reference data are set in ascending order of the process management number. Arrange from left column to right column.
図6に示される正規化された基準データMin、基準データMax、および基準データAve9250は、それぞれ、正規化された基準データの、最大値、最小値、および平均値を表す。
The normalized reference data Min, reference data Max, and
次に、図5Cおよび図6を参照する。ステップS4000において、全工程の工程管理データのうち、所定の品種、生産ロット番号に対応する工程管理データを選択取得して、1つ以上の解析データに設定する。 Reference is now made to FIGS. 5C and 6. In step S4000, process management data corresponding to a predetermined product type and production lot number is selected and acquired from the process management data of all processes, and set to one or more analysis data.
ステップS4050において、工程管理項目毎に、解析データを規格値で正規化する。ステップS4100において、工程管理項目毎に、正規化された解析データについて、最大値、最小値、および平均値を計算する。ステップS4150において、工程管理番号の昇順に、描画番号、規格の有無、工程管理番号、工程管理項目名、正規化された解析データの最大値、最小値、および平均値を左列から右列へ配列する。 In step S4050, the analysis data is normalized with a standard value for each process management item. In step S4100, a maximum value, a minimum value, and an average value are calculated for the normalized analysis data for each process management item. In step S4150, the drawing number, the presence / absence of the standard, the process management number, the process management item name, the maximum value, the minimum value, and the average value of the normalized analysis data are changed from the left column to the right column in ascending order of the process management number. Arrange.
図6に示される正規化された解析データMin、解析データMax、解析データAve9300は、それぞれ、正規化された解析データの、最大値、最小値、平均値を表す。 The normalized analysis data Min, analysis data Max, and analysis data Ave9300 shown in FIG. 6 respectively represent the maximum value, the minimum value, and the average value of the normalized analysis data.
図2に示されるステップS4200が実行された時点において、図6に示されるように、描画番号9000、規格の有無9050、工程管理番号、工程管理項目名9100、正規化された追跡Min9150、追跡Max9200、正規化された基準データMin,Max,Ave9250、および正規化された解析データMin,Max,Ave9300を配置した工程追跡チャート用の正規化データが作成されている。
When step S4200 shown in FIG. 2 is executed, as shown in FIG. 6, a
図7は、図2に示すフローチャートのステップS5250の動作フローを示すフローチャートである。 FIG. 7 is a flowchart showing an operation flow of step S5250 of the flowchart shown in FIG.
ステップS5000において、変動計算部125は、工程管理番号毎に、正規化された解析データの平均値xと、正規化された基準データの平均値M0とを比較する。比較の結果に応じて、ステップS5050(x>M0の場合)、ステップS5100(x=M0の場合)、またはステップS5150(x<M0の場合)に進む。次いで、ステップS5050,S5100,S5150において、変動Δを、以下の数式(1)に従って設定する。
In step S5000, the
次いで、ステップS5200において、変動計算部125は、工程管理番号の昇順に、規格の有無、工程管理番号、工程管理項目名、変動を左列から右列へ配列する。
Next, in step S5200, the
図8は、変動要因図データの一例である。図8に示されるように、規格の有無10000、工程管理番号、工程管理項目名10050、変動10100を配列した変動要因図用の正規化データが作成される。
FIG. 8 is an example of variation factor diagram data. As shown in FIG. 8, normalization data for a variation factor diagram in which standard presence /
図9は、図2に示すフローチャートのステップS6200の動作フローを示すフローチャートである。図10Aは、複数の解析データに対する工程追跡チャートの一例である。図10Bは、単一の解析データに対する工程追跡チャートの一例である。図10Cは、変動要因図の一例である。これらの工程追跡チャートおよび変動要因図においては、描画区分フラグの値が1である工程管理項目のデータが、その描画番号の昇順に左列から右列へ描画される。 FIG. 9 is a flowchart showing an operation flow of step S6200 of the flowchart shown in FIG. FIG. 10A is an example of a process tracking chart for a plurality of analysis data. FIG. 10B is an example of a process tracking chart for a single analysis data. FIG. 10C is an example of a variation factor diagram. In these process tracking charts and variation factor diagrams, data of process management items whose drawing section flag value is 1 are drawn from the left column to the right column in ascending order of the drawing numbers.
ステップS6000において、グラフ描画部126は、工程管理項目毎に、描画番号、描画区分フラグ(0または1)を付与する。値1は、描画することを、値0は、描画しないことを、それぞれ示す。一例において、描画区分フラグの値は、異常原因推定装置120が備えるユーザインタフェース(図示せず)を介して、ユーザによって設定される。
In step S6000, the
ステップS6050において、グラフ描画部126は、描画区分フラグの値を判定する。描画区分フラグの値が0である場合、描画が不要であるので、ステップS6200を終了する。一方、描画区分フラグの値が1である場合、ステップS6110に進む。
In step S6050, the
ステップS6110において、グラフ描画部126は、工程管理項目毎に、正規化された規格上限値、規格中心値、規格下限値を描画する。一例において、図10Aおよび図10Bに示されるように、工程管理項目名10500および規格の有無11500(*印)が、工程管理項目を並べる軸方向に項目として表示される。正規化された規格上限値および規格下限値は、それぞれ、規格値を示す軸方向の値が1の直線11000および0の直線11450として描画される。さらに、一例において、正規化された規格中心値は、規格値を示す方向の値が0.5の直線(図示せず)として描画される。
In step S6110, the
ステップS6120において、グラフ描画部126は、工程管理項目毎に、正規化された基準データの最大値、最小値、平均値を描画する。一例において、図10Aおよび図10Bに示されるように、正規化された基準データの最大値11100、最小値11400、および平均値11250が、それぞれ、折れ線グラフとして描画される。最大値11100および最小値11400で囲まれる領域が、帯グラフ11150として描画される。
In step S6120, the
ステップS6130において、グラフ描画部126は、工程管理項目毎に、正規化された解析データの最大値、最小値、平均値を描画する。一例において、解析データが複数である場合、図10Aに示されるように、正規化された解析データの最大値11200、最小値11350、および平均値11300が、それぞれ、折れ線グラフとして描画される。また、解析データが単一である場合、図10Bに示されるように、正規化された解析データの平均値11300が、折れ線グラフとして描画される。
In step S6130, the
ステップS6150において、グラフ描画部126は、工程管理項目毎に、基準データに対する解析データの変動Δを描画する。図10Cに示されるように、描画区分フラグの値が1である工程管理項目について、変動が棒グラフとして描画される。ここで、工程管理項目名10500および(*印で示される)規格の有無11500が、工程管理項目を並べる軸方向の項目として表示される。
In step S6150, the
一例において、グラフ描画部126は、基準データの最大値、最小値、および平均値を示すグラフと、解析データの最大値、最小値、平均値を示すグラフとを、異なる配色で描画する。
In one example, the
一例において、変動の乖離度をランク分けする1つまたは複数の閾値が設定される。例えば、変動Δ≦0.5である場合、乖離度は、最良のランク○にランク分けされる。また、0.5<変動Δ≦1.0である場合、乖離度は、中間のランク△にランク分けされる。また、1.0<変動Δである場合、乖離度は、最悪のランク▲にランク分けされる。最良のランク○、中間のランク△、および最悪のランク▲に属する変動を示す棒13000は、それぞれ、例えば、緑色、黄色、赤色のように、異なる配色で示される。
In one example, one or more thresholds for ranking the degree of variation divergence are set. For example, when variation Δ ≦ 0.5, the divergence degree is ranked into the best rank ○. When 0.5 <variation Δ ≦ 1.0, the divergence degree is ranked into an intermediate rank Δ. When 1.0 <variation Δ, the degree of divergence is ranked in the worst rank ▲. The
さらに、グラフ描画部126(図1参照)は、図10A、10Bの工程追跡チャートと図10Cの変動要因図を、上下に配置するように描画してもよい。これにより、表示装置130(図1参照)を介して、ユーザがこれらのチャートおよび図の全体を、鳥瞰することができる。 Further, the graph drawing unit 126 (see FIG. 1) may draw the process tracking charts of FIGS. 10A and 10B and the variation factor diagram of FIG. 10C so as to be arranged vertically. Thereby, the user can have a bird's-eye view of these charts and the whole figure via the display device 130 (see FIG. 1).
このように、本開示に係る異常原因推定装置120は、入力装置110から対象とする品種および生産ロットに対する工程管理データ値を含む工程追跡全データと、規格を満たす工程管理データ値の範囲を規定する規格上限値および規格下限値とその中心値である規格中心値との少なくとも一方を含む規格値データとを取得するデータ取得部121と、工程追跡全データから、所定の検査項目の工程管理データ値の標準偏差に基づいて、工程管理データ値を選択取得して基準データとして設定し、基準データおよび規格値データに基づいて、工程管理項目毎に、基準データに設定された工程管理データ値に基づいて工程追跡基準データを設定する基準データ設定部123と、工程追跡全データから、所定の品種および生産ロットの少なくとも1つに基づいて、工程管理データ値を選択取得して解析データとして設定し、解析データおよび規格値データに基づいて、工程管理項目毎に、解析データに含まれる工程管理データ値に基づいて工程追跡解析データを設定する解析データ設定部124と、工程管理項目毎に、基準データに対する解析データの変動を計算する変動計算部125と、変動を示すグラフを表示装置に描画するグラフ描画部126と、を備える構成を採る。
As described above, the abnormality
工業的な生産プロセスには、デバイス製造工程や材料プロセス工程のように、多くの工程が連結し、且つ、上流の製造工程が下流の製造工程の出来映えに影響を与えるものがある。本開示に係る異常原因推定方法および異常原因推定プログラムは、そのような生産プロセスにおいて不良が発生した場合に、生産プロセスから取得した材料条件、製造条件、工程毎の出来映え、設備条件、製造時の環境条件等の工程管理データを分析する。工程管理データを分析することにより、不良の原因となっている工程管理データの異常の方向性と度合いを良好に推定することができる。このように、本開示に係る異常原因推定方法および異常原因推定プログラムは、異常原因推定の用途に適用することができる。 In an industrial production process, there are processes such as a device manufacturing process and a material process process in which many processes are connected, and an upstream manufacturing process affects the performance of a downstream manufacturing process. The abnormality cause estimation method and the abnormality cause estimation program according to the present disclosure provide the material conditions, manufacturing conditions, workmanship, facility conditions, and manufacturing conditions obtained from the production process when a defect occurs in such a production process. Analyze process management data such as environmental conditions. By analyzing the process management data, the directionality and degree of abnormality of the process management data which is the cause of the defect can be estimated well. As described above, the abnormality cause estimation method and the abnormality cause estimation program according to the present disclosure can be applied to the use of abnormality cause estimation.
さらに、本開示に係る異常原因推定方法および異常原因推定プログラムによれば、異常状態の工程管理データと正常状態の工程管理データとの大小関係、乖離度を、定性的かつ定量的に全体鳥瞰することができる。また、異常原因として推定した工程管理データと正常状態の工程管理データとの大小関係、乖離度を定量化し、異常の方向性と度合いの情報を提供することができる。したがって、ユーザは、提供された情報に基づいて、的確な異常対策を立案することができる。 Furthermore, according to the abnormality cause estimation method and the abnormality cause estimation program according to the present disclosure, the overall magnitude and the degree of divergence between the abnormal state process management data and the normal state process management data are qualitatively and quantitatively viewed. be able to. Further, the magnitude relationship and the degree of divergence between the process management data estimated as the cause of the abnormality and the process management data in the normal state can be quantified, and information on the directionality and degree of abnormality can be provided. Therefore, the user can plan an appropriate abnormality countermeasure based on the provided information.
図11は、コンピュータのハードウェア構成の一例を示す図である。上述した各実施の形態および各変形例における各部の機能は、コンピュータ2100が実行するプログラムにより実現される。
FIG. 11 is a diagram illustrating an example of a hardware configuration of a computer. The function of each part in each embodiment and each modification described above is realized by a program executed by the
図11に示すように、コンピュータ2100は、入力ボタン、タッチパッドなどの入力装置2101、ディスプレイ、スピーカなどの出力装置2102、CPU(Central Processing Unit)2103、ROM(Read Only Memory)2104、RAM(Random Access Memory)2105を備える。また、コンピュータ2100は、ハードディスク装置、SSD(Solid State Drive)などの記憶装置2106、DVD−ROM(Digital Versatile Disk Read Only Memory)、USB(Universal Serial Bus)メモリなどの記録媒体から情報を読み取る読取装置2107、ネットワークを介して通信を行う送受信装置2108を備える。上述した各部は、バス2109により接続される。
As shown in FIG. 11, a
そして、読取装置2107は、上記各部の機能を実現するためのプログラムを記録した記録媒体からそのプログラムを読み取り、記憶装置2106に記憶させる。あるいは、送受信装置2108が、ネットワークに接続されたサーバ装置と通信を行い、サーバ装置からダウンロードした上記各部の機能を実現するためのプログラムを記憶装置2106に記憶させる。
Then, the
そして、CPU2103が、記憶装置2106に記憶されたプログラムをRAM2105にコピーし、そのプログラムに含まれる命令をRAM2105から順次読み出して実行することにより、上記各部の機能が実現される。また、プログラムを実行する際、RAM2105または記憶装置2106には、各実施の形態で述べた各種処理で得られた情報が記憶され、適宜利用される。
Then, the
(その他の実施の形態)
第1の実施の形態においては、工程管理番号として1、2、3、・・・と増分1の連続番号を採用した。これに代えて、工程管理番号が、工程内の管理項目番号と管理項目区分番号とを含み、工程管理区分番号が、製造条件や作業内容や環境等の原因系の場合は0、検査結果等の結果系の場合は1であるとする実施の形態も考えられる。
(Other embodiments)
In the first embodiment, sequential numbers of 1, 2, 3,. Instead, the process management number includes a management item number and a management item classification number in the process. If the process management classification number is a causal system such as manufacturing conditions, work contents, and environment, 0, inspection result, etc. An embodiment in which the result system is 1 is also conceivable.
第1の実施の形態においては、暫定値の幅8300として10%を設定した。これに代えて、暫定値の幅8300を可変とする実施の形態も考えられる。
In the first embodiment, 10% is set as the
第1の実施の形態においては、暫定規格値として計数αに基づく暫定値の幅の計算式を設けた。これに代えて、暫定の規格上限値、規格中心値、および規格下限値を、過去に設定された基準データに基づいて設定する実施の形態も考えられる。例えば、平均値+3σ(σは標準偏差を表す)を暫定の規格上限値、平均値−3σを暫定の規格下限値、平均値を暫定規格中心値と設定する。また、σの係数として3以外を設定することにより、様々な顧客の要求品質レベルに対応することができる。 In the first embodiment, a provisional value width calculation formula based on the count α is provided as the provisional standard value. Instead of this, an embodiment in which the provisional standard upper limit value, standard center value, and standard lower limit value are set based on reference data set in the past is also conceivable. For example, the average value + 3σ (σ represents a standard deviation) is set as a provisional standard upper limit value, the average value −3σ is set as a provisional standard lower limit value, and the average value is set as a provisional standard center value. Further, by setting a coefficient other than 3 as the coefficient of σ, it is possible to cope with various customer requested quality levels.
第1の実施の形態においては、規格上限値を1、規格中心値を0.5、規格下限値を0として正規化された規格上限値、規格中心値、規格下限値を設けた。これに代えて、規格上限値を1、規格中心値を0、規格下限値を−1として正規化された規格上限値、規格中心値、規格下限値を設ける実施の形態も考えられる。 In the first embodiment, the standard upper limit value, the standard center value, and the standard lower limit value normalized by setting the standard upper limit value to 1, the standard center value to 0.5, and the standard lower limit value to 0 are provided. Instead of this, an embodiment in which a standard upper limit value, a standard center value, and a standard lower limit value normalized by setting the standard upper limit value as 1, the standard center value as 0, and the standard lower limit value as -1 can be considered.
第1の実施の形態においては、基準データを選択する所定の検査項目として最終工程の検査項目を設けた。これに代えて、基準データを選択する所定の検査項目を途中工程の検査項目とする実施の形態も考えられる。 In the first embodiment, an inspection item for the final process is provided as a predetermined inspection item for selecting reference data. Instead of this, an embodiment in which a predetermined inspection item for selecting reference data is used as an inspection item for an intermediate process is also conceivable.
第1の実施の形態においては、選択取得され基準データに設定される工程管理データ値の条件として工程能力指数Cpkが1.33以上との条件を設けた。これに代えて、工程能力指数Cpkが1.67以上との条件に変更した実施の形態も考えられる。さらに、これに代えて、偏差値が標準偏差の範囲に含まれない(即ち、平均値±σの範囲に含まれない)との条件に変更した実施の形態も考えられる。このように、基準データの選択取得の条件を変更することにより、顧客の様々な品質要求に対応することができる。 In the first embodiment, a condition that the process capability index Cpk is 1.33 or more is provided as a condition of the process management data value that is selectively acquired and set in the reference data. Instead of this, an embodiment in which the process capability index Cpk is changed to a condition of 1.67 or more is also conceivable. Furthermore, instead of this, an embodiment in which the deviation value is not included in the standard deviation range (that is, not included in the average value ± σ range) is also conceivable. As described above, by changing the conditions for selecting and acquiring the reference data, it is possible to meet various quality requirements of customers.
なお、本実施の形態において、正規化された規格上限値、規格中心値、および規格下限値に対応する直線を、それぞれ、規格値を示す軸の値が1、0.5、および0の直線で描画した。これに代えて、正規化された規格上限値、規格中心値、規格下限値に対応する直線を、それぞれ、規格値を示す軸の値が1、0、および−1の直線で描画する実施の形態も考えられる。 In the present embodiment, the straight lines corresponding to the normalized standard upper limit value, standard center value, and standard lower limit value are represented as straight lines having axis values indicating standard values of 1, 0.5, and 0, respectively. Draw with. Instead of this, the straight line corresponding to the normalized standard upper limit value, standard center value, and standard lower limit value is drawn as straight lines with axis values indicating standard values of 1, 0, and −1, respectively. Forms are also conceivable.
本開示に係る異常原因推定装置、異常原因推定方法、および異常原因推定プログラムは、デバイス製造工程や材料プロセス工程のように、多くの工程が連結し、且つ、上流の製造工程が下流の製造工程の出来映えに影響を与える生産プロセスに適用することができる。 The abnormality cause estimation apparatus, the abnormality cause estimation method, and the abnormality cause estimation program according to the present disclosure are connected in many processes, such as a device manufacturing process and a material process process, and an upstream manufacturing process is a downstream manufacturing process. It can be applied to production processes that affect the workmanship of
100 異常原因推定システム
110 入力装置
120 異常原因推定装置
121 データ取得部
122 規格データ作成部
123 基準データ設定部
124 解析データ設定部
125 変動計算部
126 グラフ描画部
130 表示装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Abnormal
Claims (20)
前記工程追跡全データから、所定の検査項目の前記工程管理データ値の標準偏差に基づいて、前記工程管理データ値を選択取得して基準データとして設定し、前記基準データおよび前記規格値データに基づいて、工程管理項目毎に、前記基準データに設定された前記工程管理データ値を正規化した値からなる工程追跡基準データを設定する基準データ設定部と、
前記工程追跡全データから、所定の品種および生産ロットの少なくとも1つに基づいて、前記工程管理データ値を選択取得して解析データとして設定し、前記解析データおよび前記規格値データに基づいて、前記工程管理項目毎に、前記解析データに含まれる前記工程管理データ値を正規化した値からなる工程追跡解析データを設定する解析データ設定部と、
前記工程管理項目毎に、前記基準データに対する前記解析データの変動を計算する変動計算部と、
前記変動を示すグラフを表示装置に描画するグラフ描画部と、
を備える、異常原因推定装置。 All process tracking data including process management data values for the target product type and production lot from the input device, and standard upper and lower limit values that define the range of the process management data values that satisfy the standard, and the standard value thereof A data acquisition unit for acquiring standard value data including at least one of the central value;
Based on the standard deviation of the process management data value of a predetermined inspection item from all the process tracking data, the process management data value is selectively acquired and set as reference data, and based on the reference data and the standard value data A reference data setting unit for setting process tracking reference data composed of values obtained by normalizing the process management data values set in the reference data for each process management item;
From all the process tracking data, based on at least one of a predetermined product type and production lot, the process management data value is selectively acquired and set as analysis data, and based on the analysis data and the standard value data, For each process management item, an analysis data setting unit that sets process tracking analysis data composed of values obtained by normalizing the process management data values included in the analysis data;
For each process management item, a fluctuation calculation unit that calculates fluctuations of the analysis data with respect to the reference data;
A graph drawing unit for drawing a graph indicating the fluctuation on a display device;
An abnormality cause estimation device comprising:
前記工程管理項目に対応する工程管理番号および前記工程管理項目に対応する値を列とし、前記品種および前記生産ロットに対応する値を行とし、前記工程管理番号の昇順に前記列を左から右へ整列し、前記品種および生産ロットの昇順に前記行を上から下へ整列した行列形式で、前記工程管理データ値を配置する、請求項1に記載の異常原因推定装置。 The data acquisition unit
The process management number corresponding to the process management item and the value corresponding to the process management item are set as a column, the value corresponding to the product type and the production lot is set as a row, and the column is changed from left to right in ascending order of the process control number. The abnormality cause estimation device according to claim 1, wherein the process management data values are arranged in a matrix format in which the rows are arranged from top to bottom in ascending order of the product type and production lot.
前記工程管理項目毎に、前記工程追跡基準データの値の最大値、最小値、および平均値を計算し、
前記工程管理項目に対応する工程管理番号の昇順に、前記工程管理番号、前記工程管理項目名、前記最大値、前記最小値、および前記平均値を左列から右列へ配列する、請求項1に記載の異常原因推定装置。 The reference data setting unit includes:
For each process control item, calculate the maximum value, minimum value, and average value of the process tracking reference data,
2. The process management number, the process management item name, the maximum value, the minimum value, and the average value are arranged from left column to right column in ascending order of process management numbers corresponding to the process management items. The abnormality cause estimation device described in 1.
前記工程管理項目毎に、前記工程追跡解析データの値の最大値、最小値、および平均値を計算し、
前記工程管理項目に対応する工程管理番号の昇順に、前記工程管理番号、前記工程管理項目名、前記最大値、前記最小値、および前記平均値を左列から右列へ配列する、請求項1に記載の異常原因推定装置。 The analysis data setting unit
For each process management item, calculate the maximum value, minimum value, and average value of the process tracking analysis data,
2. The process management number, the process management item name, the maximum value, the minimum value, and the average value are arranged from left column to right column in ascending order of process management numbers corresponding to the process management items. The abnormality cause estimation device described in 1.
工程管理項目毎に、正規化された前記解析データの値の平均値xと正規化された前記基準データの平均値M0の大小を比較し、
変動Δを、以下の数式(1):
For each process control item, the average value x of the normalized analysis data value is compared with the average value M0 of the normalized reference data,
The variation Δ is expressed by the following formula (1):
前記工程管理項目に対応する描画番号の昇順に、前記描画番号に対応する前記工程管理項目を左列から右列に表示し、
正規化された前記規格上限値、前記規格中心値、および前記規格下限値に対応する直線を描画し、
正規化された前記基準データの最大値、最小値、および平均値を示すグラフを描画し、
正規化された前記解析データの最大値、最小値、および平均値を示すグラフを描画し、
前記変動を示すグラフを描画する請求項1に記載の異常原因推定装置。 The graph drawing unit
In ascending order of drawing numbers corresponding to the process management items, the process management items corresponding to the drawing numbers are displayed from the left column to the right column,
Draw a straight line corresponding to the standardized upper limit value, the standard center value, and the standard lower limit value,
Draw a graph showing the maximum, minimum, and average values of the normalized reference data,
Draw a graph showing the maximum value, minimum value, and average value of the normalized analysis data,
The abnormality cause estimation device according to claim 1, wherein a graph showing the fluctuation is drawn.
前記工程追跡全データから、所定の検査項目の前記工程管理データ値の標準偏差に基づいて、前記工程管理データ値を選択取得して基準データとして設定し、前記基準データおよび前記規格値データに基づいて、工程管理項目毎に、前記基準データに設定された前記工程管理データ値を正規化した値からなる工程追跡基準データを設定する工程追跡基準データ設定工程と、
前記工程追跡全データから、所定の品種および生産ロットの少なくとも1つに基づいて、前記工程管理データ値を選択取得して解析データとして設定し、前記解析データおよび前記規格値データに基づいて、前記工程管理項目毎に、前記解析データに含まれる前記工程管理データ値を正規化した値からなる工程追跡解析データを設定する工程追跡解析データ設定工程と、
前記工程管理項目毎に、前記基準データに対する前記解析データの変動を計算する変動計算工程と、
前記変動を示すグラフを表示装置に描画するグラフ描画工程と、
を備える、異常原因推定方法。 All process tracking data including process management data values for the target product type and production lot from the input device, and standard upper and lower limit values that define the range of the process management data values that satisfy the standard, and the standard value thereof A process tracking all data acquisition process for acquiring standard value data including at least one of the center value,
Based on the standard deviation of the process management data value of a predetermined inspection item from all the process tracking data, the process management data value is selectively acquired and set as reference data, and based on the reference data and the standard value data A process tracking reference data setting step for setting process tracking reference data composed of values obtained by normalizing the process management data values set in the reference data for each process management item;
From all the process tracking data, based on at least one of a predetermined product type and production lot, the process management data value is selectively acquired and set as analysis data, and based on the analysis data and the standard value data, For each process management item, a process tracking analysis data setting process for setting process tracking analysis data consisting of values obtained by normalizing the process management data values included in the analysis data;
For each process management item, a fluctuation calculation step for calculating fluctuations in the analysis data with respect to the reference data,
A graph drawing step of drawing a graph indicating the fluctuation on a display device;
An abnormality cause estimation method comprising:
入力装置から対象とする品種および生産ロットに対する工程管理データ値を含む工程追跡全データと、規格を満たす前記工程管理データ値の範囲を規定する規格上限値および規格下限値とその中心値である規格中心値との少なくとも一方を含む規格値データとを取得する工程追跡全データ取得工程と、
前記工程追跡全データから、所定の検査項目の前記工程管理データ値の標準偏差に基づいて、前記工程管理データ値を選択取得して基準データとして設定し、前記基準データおよび前記規格値データに基づいて、工程管理項目毎に、前記基準データに設定された前記工程管理データ値を正規化した値からなる工程追跡基準データを設定する工程追跡基準データ設定工程と、
前記工程追跡全データから、所定の品種および生産ロットの少なくとも1つに基づいて、前記工程管理データ値を選択取得して解析データとして設定し、前記解析データおよび前記規格値データに基づいて、前記工程管理項目毎に、前記解析データに含まれる前記工程管理データ値を正規化した値からなる工程追跡解析データを設定する工程追跡解析データ設定工程と、
前記工程管理項目毎に、前記基準データに対する前記解析データの変動を計算する変動計算工程と、
前記変動を示すグラフを表示装置に描画するグラフ描画工程と、
を実行させる異常原因推定プログラム。 On the computer,
All process tracking data including process management data values for the target product type and production lot from the input device, and standard upper and lower limit values that define the range of the process management data values that satisfy the standard, and the standard value thereof A process tracking all data acquisition process for acquiring standard value data including at least one of the center value,
Based on the standard deviation of the process management data value of a predetermined inspection item from all the process tracking data, the process management data value is selectively acquired and set as reference data, and based on the reference data and the standard value data A process tracking reference data setting step for setting process tracking reference data composed of values obtained by normalizing the process management data values set in the reference data for each process management item;
From all the process tracking data, based on at least one of a predetermined product type and production lot, the process management data value is selectively acquired and set as analysis data, and based on the analysis data and the standard value data, For each process management item, a process tracking analysis data setting process for setting process tracking analysis data consisting of values obtained by normalizing the process management data values included in the analysis data;
For each process management item, a fluctuation calculation step for calculating fluctuations in the analysis data with respect to the reference data,
A graph drawing step of drawing a graph indicating the fluctuation on a display device;
An abnormal cause estimation program that executes
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