JP2018189410A - ジッタ測定回路 - Google Patents
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Abstract
Description
(第1の実施の形態)
図1は、第1の実施の形態のジッタ測定回路を含むジッタ測定システムの一例を示す図である。ジッタ測定システムは、ジッタ測定回路11の他に、クロック発生回路10とジッタ計算装置12を含む。
位相検出回路10aは、クロック信号が重畳されたデータ信号Diと、クロック信号CKd,CKeを受ける。そして、位相検出回路10aは、データ信号Diと、クロック信号CKeの位相差に基づいて誤差信号を生成し、誤差信号を出力する。図1の例では、位相検出回路10aは、Bang−Bang型の位相検出回路である。Bang−Bang型の位相検出回路の一例については後述する(図2参照)。
位相調整回路10cは、フィルタ10bが出力する調整値に基づいてクロック信号CKdの位相を調整する。位相調整回路10dは、フィルタ10bが出力する調整値に基づいてクロック信号CKeの位相を調整する。図1の例では、位相調整回路10c,10dは、基準クロックCKrに基づいて、クロック信号CKd,CKeを発生している。なお、位相調整回路10dに供給される調整値には、後述するジッタ測定回路11の機能によって、デジタル値による矩形波信号が加えられる場合もある。
注入回路11aは、フィルタ10bが生成し出力する調整値に対して、デジタル値による矩形波信号を加える。図1の例では、注入回路11aは、矩形波生成回路11a1と、加算器11a2を有する。
なお、矩形波生成回路11a1と加算器11a2の間に、制御回路11cによってオンオフが制御されるスイッチが設けられていてもよい。その場合、矩形波信号が調整値に加えられるか否かがスイッチのオンオフによって制御される。
遅延量がnのときの、相関値R(n)は、以下の式(1)で表されるように、PDOUT(k)とPDOUT(k−n)の積の平均値である。
ジッタ計算装置12は、自己相関計算回路11bが出力する相関値に基づいて、ジッタψERの実効値σERを算出する。ジッタ計算装置12は、たとえば、コンピュータ(パーソナルコンピュータなど)であってもよいし、クロック発生回路10やジッタ測定回路11と同じ基板(またはチップ)上に設けられたプロセッサなどであってもよい。
図2は、位相検出回路の一例を示す図である。
Bang−Bang型の位相検出回路10aは、フリップフロップ10a1,10a2,10a3,10a4、誤差信号生成回路10a5を有する。
なお、図3では、データ信号Diは、各データ遷移が重ね合わされたアイパターンで示されている。また、図3の例では、クロック信号CKd,CKeは、理想的な位相に調整されている。すなわち、クロック信号CKeの位相は、クロック信号CKeの立ち上がりタイミングがデータ信号Diのエッジ部分(ゼロクロス点)にくるように調整されている。また、クロック信号CKdは、クロック信号CKeに対して位相が0.5UI分ずれるように調整されている。このため、クロック信号CKdの立ち上がりタイミングは、データ信号Diのアイパターンの中央のタイミングにきている。
出力信号A,T,Bが何れも同じ値である場合は、2シンボル分のデータ信号Diの値に変化がないことを示し、誤差信号生成回路10a5は、2ビット値“00”を出力する。これは、前述の+1、0、−1の3種類の誤差信号のうち、0に相当する。
(位相調整回路10c,10dの一例)
図5は、位相調整回路の一例を示す図である。
トランスコンダクタ10d1は、基準クロックCKr1を電流値に変換して出力する。トランスコンダクタ10d2は、基準クロックCKr2を電流値に変換して出力する。
図6は、調整値に基づく位相の調整例を示す図である。図6において横軸は時間を表し、縦軸は電圧を表している。
(自己相関計算回路11bの一例)
図7は、自己相関計算回路の一例を示す図である。
また、フリップフロップ部16a1〜16amのそれぞれは、スイッチ16b1〜16bmのうちの1つのスイッチを介して乗算器16cに接続されている。たとえば、フリップフロップ部16a1は、スイッチ16b1を介して乗算器16cに接続され、フリップフロップ部16a2は、スイッチ16b2を介して乗算器16cに接続されている。なお、初段のフリップフロップ部16a1の入力端子は、スイッチ16b0を介して乗算器16cに接続されている。
フリップフロップ部16eは、クロック信号CKeに同期したタイミングで加算器16dが出力する加算結果を取り込んで出力する。フリップフロップ部16eの出力が相関値R(n)となる。
以下、第1の実施の形態のジッタ測定回路11を用いたジッタ測定動作の一例を説明する。
自己相関計算回路11bは、n=0、ψINJ=0の条件における相関値R(n)であるR(0)を出力する(ステップS3)。図1に示したように、矩形波信号の注入がない場合には、ジッタψER(k)はランダムなホワイトノイズ状に現れ、相関値R(n)は、R(0)以外は、R(n)=0、すなわち、無相関となる。n=0では、自己相関計算回路11bの乗算器16cは、位相検出回路10aが出力する誤差信号を2乗することになる。これは、データ信号Diの遷移確率αTを計算することに相当する。
式(1)は、以下の式(2)のように表せる。
ステップS3の処理において、制御回路11cは、クロック信号CKeの所定のクロックサイクル数分(たとえば、100サイクル分)、遅延量nが0になるように制御した後、注入回路11aを制御して、調整値への矩形波信号の注入(加算)を開始させる(ステップS4)。
前述のように、矩形波信号は、たとえば、振幅をmとすると、mと0が、50%のデューティ比で繰り返される信号である。
一方、図10に示すように、ジッタ計算装置12は、R(0)(=αT)を取得すると(ステップS10)、前述の式(5)を用いて、実効値σPDを算出する(ステップS11)。
図12は、矩形波信号が注入されたときの相関値R(n)の一例を示す図である。図12において、横軸は遅延量nを表し、縦軸は相関値R(n)を表している。なお、図12では、便宜上、遅延量nがマイナスのときの相関値R(n)も示してある。
ジッタ計算装置12は、利得KPDを求めるために、取得した相関値R(n)から2Δを測定し(ステップS13)、式(6)を用いて、利得KPDを算出する(ステップS14)。
矩形波信号が注入されているとき、遷移確率αTは、以下の式(7)で表せる。
ステップS15の処理では、ジッタ計算装置12は、求めた利得KPDと実効値σPDと、取得した遷移確率αTと、たとえば、図示しないメモリに保持しているAとを用いて、式(7)から実効値σERを算出する。
ジッタ計算装置12は、計算した実効値σERを、たとえば、図示しないメモリに格納する、または、図示しない表示装置に表示させてユーザに提示するようにしてもよい。
以上のように、第1の実施の形態のジッタ測定回路11は、クロック信号CKeの位相を調整するための調整値への矩形波信号の注入時と非注入時に、誤差信号の自己相関を表す相関値を算出する。前述のように、この相関値にはジッタψERが反映されており、この相関値によりジッタ計算装置12にてジッタψERの実効値σERが算出可能となる。アイモニタ機能を有するCDR回路では、実際にデータ判定に用いるクロック信号の位相を制御する回路とは別の回路を用いて検出したBERからジッタを測定するものであった。これに対して、ジッタ測定回路11は、実際にデータ判定に用いるクロック信号の位相を制御する回路を伝搬する信号を用いて直接ジッタψER(実効値σER)を測定できる。
また、アイモニタ機能を有するCDR回路では、アイサンプラーなど比較的回路規模が大きな回路が用いられるが、第1の実施の形態のジッタ測定回路11はそれよりも小規模な回路の追加でジッタ測定が可能となる。また、回路規模の増加を抑えられるため、それに伴い消費電力の増加も抑えられる。
図13は、第2の実施の形態のジッタ測定回路を含むジッタ測定システムの一例を示す図である。図13において、図1に示した要素と同じ要素については同一符号が付されている。
タイムインターリーブ方式で動作するクロック発生回路20の位相検出回路20aは、図2に示したような位相検出回路10aを複数有し、それらが、クロック信号CKd1〜CKdxと、クロック信号CKe1〜CKexに同期して並列動作する。クロック信号CKe1〜CKexの位相は、それぞれ異なっている。たとえば、クロック信号CKe1〜CKexのそれぞれの位相は、互いに異なるゼロクロス点に、立ち上がりタイミングが来るように調整される。クロック信号CKd1〜CKdxのそれぞれの位相は、クロック信号CKe1〜CKexのうち、対応するクロック信号の位相に対して0.5UIずれている。
フィルタ20bは、たとえば、デジタルループフィルタであり、位相検出回路20aが出力する複数の誤差信号をフィルタ処理して調整値を出力する。
フィルタ21aは、ローパスフィルタであり、位相調整回路20dから並列に複数供給される誤差信号をフィルタ処理して出力する。これにより、たとえば、前述したグリッジノイズなどの影響を除去することができる。なお、フィルタ21aはなくてもよい。また、第1の実施の形態のジッタ測定回路11にもこのようなフィルタ21aを設けてもよい。
図14は、多数決回路の動作例を示す図である。
このような多数決回路21bを用いることで、自己相関計算回路11bの各フリップフロップ(図7参照)に供給されるクロック信号の周波数を、並列に複数出力される誤差信号の数(並列数)が増えるほど、低下させることができる。
ところで、以上説明した第1の実施の形態のジッタ測定回路11及び第2の実施の形態のジッタ測定回路21では、Bang−Bang型の位相検出回路10a,20aを用いているが、これに限定されない。1シンボル当たり1回のサンプリングで位相検出を行う位相検出回路を用いてもよい。このような位相検出回路は、MM(Mueller-Muller)型の位相検出回路とも呼ばれる。
クロック発生回路30は、MM型の位相検出回路30a、フィルタ30b、位相調整回路30cを有する。
比較器30a1は、閾値e−と、データ信号Diとを比較した比較結果を出力する。比較器30a1は、データ信号Diが閾値e−よりも大きいときに、1を出力し、データ信号Diが閾値e−よりも小さいときに、0を出力する。
誤差信号生成回路30a4は、クロック信号CKdの立ち上がりタイミングで、データサンプラ30a3が出力するデータ信号Diの値の判定結果と、比較器30a1,30a2が出力する比較結果を取り込む。そして、誤差信号生成回路30a4は、データサンプラ30a3が出力する2シンボル分のデータ信号Diの値の判定結果と、比較器30a1,30a2が出力する2シンボル分の比較結果に基づいて、誤差信号を生成して出力する。
誤差信号生成回路30a4の入力のうち、Dn-1,Dnはデータサンプラ30a3が出力する値であり、Dn-1は、データ信号Diのn−1番目のシンボルの値であり、Dnは、データ信号Diのn番目のシンボルの値である。また、E+n-1,E−n-1,E+n,E−nは、比較器30a1,30a2が出力する値である。E−n-1は、データ信号Diのn−1番目のシンボルにおいて、比較器30a1が出力する比較結果であり、E−nは、データ信号Diのn番目のシンボルにおいて、比較器30a1が出力する比較結果である。E+n-1は、データ信号Diのn−1番目のシンボルにおいて、比較器30a2が出力する比較結果であり、E+nは、データ信号Diのn番目のシンボルにおいて、比較器30a2が出力する比較結果である。また、dは、データサンプラ30a3がDn-1,Dnを判定するために用いる閾値である。
このように、Bang−Bang型の位相検出回路10aの代わりにMM型の位相検出回路30aを用いても、ジッタ測定回路11によって、同様の効果が得られる。
このため、より正確に、実際に問題になるジッタψERの評価が可能となる。
クロック発生回路40は、位相比較回路40a、フィルタ40b、VCO(Voltage-Controlled Oscillator)40c、分周回路40dを有する。
フィルタ40bは、位相比較回路40aが出力する誤差信号をフィルタ処理して調整値を出力する。
PLL回路として機能するクロック発生回路40が用いられる場合、ジッタ測定回路11の注入回路11aは、フィルタ40bが出力する調整値に矩形波信号を加える機能を有する。矩形波信号が加えられた調整値は、クロック信号CK1の周波数を調整するVCO40cに供給される。そして、ジッタ測定回路11は、前述した動作と同様の動作により、相関値R(0)や相関値R(n)を出力し、ジッタ計算装置12は実効値σERを算出する。
このように、PLL回路として機能するクロック発生回路40を用いても、ジッタ測定回路11によって、生成するクロック信号CK1の位相を制御する回路を伝搬する信号を用いて直接ジッタψER(実効値σER)を測定できる。
以上、実施の形態に基づき、本発明のジッタ測定回路の一観点について説明してきたが、これらは一例にすぎず、上記の記載に限定されるものではない。
(付記1) 第1のクロック信号または前記第1のクロック信号が重畳されたデータ信号と、第2のクロック信号との位相差に基づいて第1の誤差信号を生成し、前記第1の誤差信号をフィルタ処理して調整値を生成し、前記調整値に基づいて前記第2のクロック信号の位相または周波数を調整するクロック発生回路が生成する前記調整値に対して、デジタル値による矩形波信号を加える注入回路と、
前記第1の誤差信号を受け、前記第1の誤差信号を可変の遅延量で遅延させた第2の誤差信号と、前記第1の誤差信号とに基づいて、前記調整値に前記矩形波信号が加えられていないときの前記第1の誤差信号の自己相関を表す第1の相関値と、前記調整値に前記矩形波信号が加えられているときの前記自己相関を表す第2の相関値とを計算し、前記第1の相関値と前記第2の相関値とを出力する計算回路と、
を有するジッタ測定回路。
付記1に記載のジッタ測定回路。
前記第1の誤差信号を遅延させた第2の誤差信号を出力する遅延回路と、
前記第1の誤差信号と前記第2の誤差信号とを乗算した乗算結果を出力する乗算器と、
前記乗算結果を平均化して、前記第1の相関値または前記第2の相関値を生成して出力する平均化回路と、
を有する付記1または2に記載のジッタ測定回路。
前記第1の誤差信号を遅延させて前記第2の誤差信号を出力する複数のフリップフロップと、
制御信号を受け、前記制御信号に基づいて、有効にする前記フリップフロップの数を調整して前記遅延量を変える複数のスイッチと、
を有する、付記3に記載のジッタ測定回路。
付記3または4に記載のジッタ測定回路。
付記1乃至5の何れか一つに記載のジッタ測定回路。
付記6に記載のジッタ測定回路。
前記調整値に対して、デジタル値による矩形波信号を加える注入回路と、前記第1の誤差信号を受け、前記第1の誤差信号を可変の遅延量で遅延させた第2の誤差信号と、前記第1の誤差信号とに基づいて、前記調整値に前記矩形波信号が加えられていないときの前記第1の誤差信号の自己相関を表す第1の相関値と、前記調整値に前記矩形波信号が加えられているときの前記自己相関を表す第2の相関値とを計算し、前記第1の相関値と前記第2の相関値とを出力する計算回路と、を備えたジッタ測定回路と、
前記第1の相関値と前記第2の相関値を受け、前記第1の相関値と前記第2の相関値と前記矩形波信号の第1の振幅値に基づいて、前記第1のクロック信号または前記データ信号に対する前記第2のクロック信号の時間軸方向の位相の揺らぎであるジッタの標準偏差を計算するジッタ計算装置と、
を有するジッタ測定システム。
付記8に記載のジッタ測定システム。
10a 位相検出回路
10b フィルタ
10c,10d 位相調整回路
11 ジッタ測定回路
11a 注入回路
11a1 矩形波生成回路
11a2 加算器
11b 自己相関計算回路
11c 制御回路
12 ジッタ計算装置
CKd,CKe クロック信号
CKr 基準クロック
Di データ信号
k クロックサイクル
n 遅延量
R(n) 相関値
ψER,ψTOT ジッタ
Claims (7)
- 第1のクロック信号または前記第1のクロック信号が重畳されたデータ信号と、第2のクロック信号との位相差に基づいて第1の誤差信号を生成し、前記第1の誤差信号をフィルタ処理して調整値を生成し、前記調整値に基づいて前記第2のクロック信号の位相または周波数を調整するクロック発生回路が生成する前記調整値に対して、デジタル値による矩形波信号を加える注入回路と、
前記第1の誤差信号を受け、前記第1の誤差信号を可変の遅延量で遅延させた第2の誤差信号と、前記第1の誤差信号とに基づいて、前記調整値に前記矩形波信号が加えられていないときの前記第1の誤差信号の自己相関を表す第1の相関値と、前記調整値に前記矩形波信号が加えられているときの前記自己相関を表す第2の相関値とを計算し、前記第1の相関値と前記第2の相関値とを出力する計算回路と、
を有するジッタ測定回路。 - 前記計算回路は、前記遅延量が0で、前記矩形波信号が前記調整値に対して加えられていないときの前記第1の相関値を計算し、前記遅延量が変化するときの前記遅延量のそれぞれの値で、前記矩形波信号が前記調整値に対して加えられているときの前記第2の相関値を計算する、
請求項1に記載のジッタ測定回路。 - 前記計算回路は、
前記第1の誤差信号を遅延させた第2の誤差信号を出力する遅延回路と、
前記第1の誤差信号と前記第2の誤差信号とを乗算した乗算結果を出力する乗算器と、
前記乗算結果を平均化して、前記第1の相関値または前記第2の相関値を生成して出力する平均化回路と、
を有する請求項1または2に記載のジッタ測定回路。 - 前記遅延回路は、
前記第1の誤差信号を遅延させて前記第2の誤差信号を出力する複数のフリップフロップと、
制御信号を受け、前記制御信号に基づいて、有効にする前記フリップフロップの数を調整して前記遅延量を変える複数のスイッチと、
を有する、請求項3に記載のジッタ測定回路。 - 前記平均化回路は、前記乗算結果を積分して前記第1の相関値または前記第2の相関値を出力する積分回路である、
請求項3または4に記載のジッタ測定回路。 - 前記計算回路は、互いに位相が異なる複数のクロック信号と前記データ信号との各位相差に応じた3種類の値の何れかである複数の誤差信号を、前記クロック発生回路から受け、前記3種類の値のうちで最も多い値を前記第1の誤差信号として用いて、前記第1の相関値または前記第2の相関値を計算する、
請求項1乃至5の何れか一項に記載のジッタ測定回路。 - 前記計算回路は、前記複数の誤差信号を受け、前記3種類の値のうちで最も多い値を出力する多数決回路を有する、
請求項6に記載のジッタ測定回路。
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