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JP2018158395A - 加工装置 - Google Patents

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祐司 紀
Yuji Nori
祐司 紀
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Abstract

【課題】被撮像面に高低差がある被加工物であっても鮮明な撮像画を取得する。【解決手段】加工装置1は、被加工物を照明する照明手段10と被加工物を撮像する撮像手段20と少なくとも照明手段10と撮像手段20とを制御する制御手段30とを備え、照明手段10は、中央に円形空間12を残してリング状に配置された複数の照明を有し、複数の該照明は、対物レンズ23の光軸24に対して第一の傾斜角度を有する第一光軸160を有した複数の第一照明16と、対物レンズ23の光軸24に対して第二の傾斜角度を有する第二光軸170を有した複数の第二照明17とを含み、制御手段30は、第一照明16の点灯または消灯を制御する第一制御部31と、第二照明17の点灯または消灯を制御する第二制御部32とを有するため、被加工物の被撮像面に高低差があっても、被撮像面を影のない状態にして撮像手段20で撮像でき、鮮明な撮像画を取得できる。【選択図】図4

Description

本発明は、被加工物に所定の加工を施す加工装置に関するもので、特には、照明手段と、照明手段によって照明された被加工物を撮像する撮像手段とを備えた加工装置に関する。
切削装置等の加工装置は、被加工物を保持する保持テーブルと、保持テーブルに保持された被加工物を切削する切削ブレードを回転可能に装着した切削手段と、照明手段と、照明手段によって照明された被加工物の被撮像面を撮像する撮像手段とを少なくとも備えている。加工装置において被加工物を切削する前には、撮像手段で被加工物の加工すべき領域(分割予定ライン)を検出してから、切削ブレードで分割予定ラインに沿って切削を行っている。また、切削ブレードの欠け等によって切削状態が悪化することがあるため、切削中また切削完了後に撮像手段の下方に被加工物を移動させて、切削ブレードによって形成された溝を撮像し、その撮像画像に基づいて溝の状態を確認している(例えば、下記の特許文献1を参照)。
特開平10−149705号公報
しかし、被加工物の被撮像面に高低差がある場合、照明手段で被撮像面を照らしながら撮像手段で撮像して撮像画を取得しても、高低差付近のコントラストが明確にならずに検出したいものが検出できないという問題がある。例えば、被加工物のパターン面上の凹凸を正確に検出できずにパターンの誤検出等をしたり、レーザ加工によって形成されたアブレーション溝を撮像しても、アブレーション溝とその周囲に付着したデブリによって溝幅を正確に検出できなかったりするという問題もある。
本発明の目的は、被撮像面に高低差がある被加工物であっても鮮明な撮像画を取得しうる加工装置を提供することである。
本発明は、加工装置であって、被加工物を保持する保持テーブルと、該保持テーブルの上方に配設され、該保持テーブル上の被加工物を照明する照明手段と、該照明手段で照明された該保持テーブル上の被加工物を撮像する撮像手段と、少なくとも該照明手段と該撮像手段とを制御する制御手段と、を備え、該照明手段は、中央に円形空間を残してリング状に配置された複数の照明を有し、該円形空間には該撮像手段の対物レンズが配設され、複数の該照明は、該対物レンズの光軸に対して第一の傾斜角度を有する第一光軸を有した複数の第一照明と、該対物レンズの該光軸に対して第二の傾斜角度を有する第二光軸を有した複数の第二照明と、を含み、該制御手段は、該第一照明の点灯または消灯を制御する第一制御部と、該第二照明の点灯または消灯を制御する第二制御部と、を有する。
上記照明手段は、中央に上記円形空間を残して複数の上記第一照明が配置された第一リング部と、該第一リング部の外周側で複数の上記第二照明が配置された第二リング部と、を有することが望ましい。
複数の上記第一照明は、互いに異なる発光波長を有する複数のLEDであり、複数の上記第二照明は、互いに異なる発光波長を有する複数のLEDであることが望ましい。
本発明に係る加工装置は、被加工物を保持する保持テーブルと、保持テーブルの上方に配設され、保持テーブル上の被加工物を照明する照明手段と、照明手段で照明された保持テーブル上の被加工物を撮像する撮像手段と、少なくとも照明手段と撮像手段とを制御する制御手段とを備え、照明手段は、中央に円形空間を残してリング状に配置された複数の照明を有し、円形空間には撮像手段の対物レンズが配設され、複数の該照明は、対物レンズの光軸に対して第一の傾斜角度を有する第一光軸を有した複数の第一照明と、対物レンズの光軸に対して第二の傾斜角度を有する第二光軸を有した複数の第二照明とを含み、制御手段は、第一照明の点灯または消灯を制御する第一制御部と、第二照明の点灯または消灯を制御する第二制御部とを有するため、たとえ被加工物の被撮像面に高低差があっても、第一照明又は第一照明を個別に点灯又は消灯させることで被撮像面を影のない状態にして撮像手段で撮像することができ、鮮明な撮像画を取得することができる。
上記照明手段は、中央に上記円形空間を残して複数の上記第一照明が配置された第一リング部と、該第一リング部の外周側で複数の上記第二照明が配置された第二リング部とを有するため、被加工物の被撮像面の状態に応じて、上記制御手段が最適な第一照明又は第二照明を選択して点灯させることができるため、鮮明な撮像画を取得することができる。
複数の上記第一照明は、互いに異なる発光波長を有する複数のLEDであり、複数の上記第二照明は、互いに異なる発光波長を有する複数のLEDであるため、照明光の指向性が高くなり、上記制御手段が最適な第一照明又は第二照明を選択して点灯させることで、検出したい被加工物の被撮像面を集中的に照らすことができ、より鮮明な撮像画を取得することができる。
加工装置の一例の構成を示す斜視図である。 撮像手段及び照明手段の構成を示す断面図である。 照明手段の構成を示す部分拡大断面図である。 複数の照明の配置例を示す平面図である。 照明手段の変形例であり、複数の照明の配置例を示す平面図である。
図1に示す加工装置1は、被加工物Wに切削加工を施す加工装置の一例である。加工装置1は、装置ベース2を有しており、装置ベース2の前部には、複数の被加工物Wを収容するカセット3が配設されている。装置ベース2の上面2aには、カセット3から加工前の被加工物Wを搬出するとともにカセット3に加工後の被加工物Wを搬入する搬入出手段4と、被加工物Wが仮置きされる仮置き領域5と、被加工物Wを保持する保持テーブル7とを備えている。カセット3の近傍には、仮置き領域5と保持テーブル7との間で被加工物Wを搬送する第1の搬送手段6aを備えている。保持テーブル7の下方には、図示していないが、保持テーブル7を切削送り方向(X軸方向)に移動させる切削送り手段が接続されており、切削送り手段が駆動されることで保持テーブル7をX軸方向に往復移動させることができる。
装置ベース2のX軸方向後部には、保持テーブル7に保持された被加工物Wに切削加工を行う切削手段8を備えている。切削手段8は、Y軸方向の軸心を有するスピンドルの先端に切削ブレード8aが回転可能に装着されている。切削手段8は、図示しないモータによって駆動されてスピンドルが回転し、切削ブレード8aを回転させながら被加工物Wに切り込ませて切削を行うことができる。装置ベース2の中央には、切削後の被加工物Wを保持テーブル7から洗浄を行う洗浄領域9に搬送する第2の搬送手段6bを備えている。
加工装置1は、保持テーブル7の移動経路の上方に配設され、保持テーブル7上の被加工物Wを照明する図2に示す照明手段10と、照明手段10によって照明された保持テーブル7上の被加工物Wを撮像する撮像手段20と、少なくとも照明手段10と撮像手段20とを制御する制御手段30と、撮像手段20によって撮像された撮像画が表示されるモニター40とを備えている。
撮像手段20は、図2に示すように、被加工物Wの表面(被撮像面)を撮像するカメラ21と、カメラ21に接続された顕微鏡22と、顕微鏡22の先端部に取り付けられた対物レンズ23とを備えている。カメラ21には、例えばCCDイメージセンサまたはCMOSイメージセンサが内蔵されている。撮像手段20では、カメラ21で被加工物Wの被撮像面を撮像することにより、例えば、加工前の被加工物Wの加工すべき領域が写し出された撮像画のほか、加工中または加工完了後の被加工物Wの加工状態が写し出された撮像画を撮像することができる。
照明手段10は、本体部11を有しており、顕微鏡22の下部に本体部11が接続された構成となっている。本体部11には、その中央に円形空間12を残して、円形空間12の周囲を囲繞するリング状のリング部13が形成されている。かかるリング部13の内部に複数の照明がリング状に整列して配置されている。円形空間12には、撮像手段20の対物レンズ23が配設されている。本体部11の側部には、複数の照明に電力を供給する電源ケーブル18が接続されている。
図3に示すように、リング部13は、外側壁130と、外側壁130に連接した内側壁131と、外側壁130と内側壁131との間に照明を取り付けるための取り付け壁132とを備えている。内側壁131は、その下端部側が内側に傾斜しており、円形空間12が実質的に縮径された状態となるとともに、外側壁130と内側壁131の傾斜した部分とで光源室14が形成されている。内側壁131の傾斜部分には、取り付け壁132が内側壁131の傾斜方向と対称的な外側に傾斜して形成されている。この取り付け壁132に複数の照明が取り付けられており、全ての照明が光源室14内に収容されている。光源室14の下部は、透明または半透明の例えばアクリル樹脂からなる合成樹脂板15によってカバーされている。
複数の照明は、対物レンズ23の鉛直方向の光軸24に対して第一の傾斜角度を有する第一光軸160を有した複数の第一照明16と、対物レンズ23の光軸24に対して第二の傾斜角度を有する第二光軸170を有した複数の第二照明17とを含んでおり、第一照明16及び第二照明17は斜光照明として機能する。第一の傾斜角度,第二の傾斜角度は、照明光が照射される被加工物Wとの間隔(ワーキングディスタンス)によって任意に設定されるものであり、本実施形態では例えば30°〜75°の間の範囲となっている。この場合、第一の傾斜角度及び第二の傾斜角度が所望の角度となるように、取り付け壁132をあらかじめ傾斜させて内側壁131に形成しておく。
複数の第一照明16は、互いに異なる発光波長を有する複数のLEDで構成され、複数の第二照明17についても、互いに異なる発光波長を有する複数のLEDで構成されている。図4に示す照明手段10は、第一照明16及び第二照明17の配置例を示しており、リング部13に沿って全体としてリング状となるように複数の第一照明16と複数の第二照明17とが交互に配置されている。複数の第一照明16,複数の第二照明17は、例えば青色LED、黄色LED、赤色LEDなどの異なる発光色のLEDを適宜組み合わせて配置するとよい。なお、本実施形態では、第一照明16,第二照明17の個数は、それぞれ12個となっているが、個数は特に限られず、LEDの個数を適宜増減してもよいし、第一照明16,第二照明17の光量を調整して明るさを調整してもよい。
図1に示す制御手段30は、第一照明16の点灯または消灯を制御する第一制御部31と、第二照明17の点灯または消灯を制御する第二制御部32とを備えている。図3の例では、図示してないが、第一照明16,第二照明17は、円形空間12の開口の軸心方向に向けて、それぞれ異なる角度で傾斜しているため、制御手段30により第一照明16又は第二照明17を選択して点灯させることにより、照明光で照らしたい対物レンズ23の視野の一部分を照らすことができる。すなわち、制御手段30では、第一制御部31と第二制御部32とを選択的に切り替えて、所望の視野を照らすために最適な第一照明16又は第二照明17を選択して点灯させることができる。また、第一制御部31及び第二制御部32により第一照明16及び第二照明17を同時に点灯させて、対物レンズ23の視野の全体を広く照らすことも可能である。
次に、加工装置1の動作例について説明する。図1に示す被加工物Wは、円形板状の基板を有し、その表面(被撮像面)には、ICなどの回路パターンが分割予定ラインによって区画されて形成されている。被加工物Wの切削時には、被加工物WはテープTを介して環状のフレームFと一体となって形成され、これがカセット3に複数収容されている。搬入出手段4は、フレームFと一体となった被加工物Wをカセット3から引き出して仮置き領域5に仮置きする。
次いで、仮置き領域5に仮置きされた被加工物Wを第1の搬送手段6aによって保持テーブル7に搬送する。保持テーブル7で被加工物Wを保持したら、切削送り手段によって保持テーブル7を切削送り方向(X軸方向)に移動させ、撮像手段20,切削手段8の下方に順次移動させる。撮像手段20によって、保持テーブル7に保持された被加工物Wの被撮像面を撮像する際には、制御手段30が、図2に示す照明手段10を制御して、図3に示す第一照明16又は第二照明17を選択して点灯させ、照明光を対物レンズ23の視野に対して斜め上方から入射させる。
ここで、被加工物Wのパターン面上の凹凸による高低差によって、例えば第一照明16の照明光では回路パターンと分割予定ラインとのコントラストが明確にならない場合は、第一制御部31によって第一照明16を消灯させるとともに、第二制御部32によって第二照明17を点灯させて被加工物Wの被撮像面を照らすことで凹凸を影のない状態にする。凹凸のコントラストが明確となった状態で、撮像手段20によって被加工物Wの被撮像面を撮像する。こうして撮像された撮像画は、凹凸のコントラストが明確となって図1に示したモニター40に表示される。そして、パターンマッチング等の画像処理を行うことにより、分割予定ラインを検出するアライメントを行う。
次いで、切削手段8によって被加工物Wに対して切削を行う。具体的には、切削手段8の下方に保持テーブル7を移動させつつ、切削ブレード8aを所定の回転速度で回転させるとともに、切削手段8をZ軸方向に下降させる。回転する切削ブレード8aを被加工物Wに切り込ませ、切削手段8と保持テーブル7とを切削送り方向に相対移動させながら分割予定ラインに沿って切削溝を形成する。
例えば、被加工物Wの全ての分割予定ラインを切削した後、被加工物Wに形成された切削溝の状態を確認するために、撮像手段20の下方に保持テーブル7を移動させ、図2に示す撮像手段20の直下に被加工物Wを位置づける。続いて、制御手段30が、照明手段10を制御して、図3に示す第一照明16又は第二照明17を選択して点灯させ、照明光を対物レンズ23の視野に対して斜め上方から入射させる。
被加工物Wの被撮像面は、切削溝により高低差があるため、例えば第二照明17の光では切削溝とこれの周りとのコントラストが明確にならない場合は、第二制御部32によって第二照明17を消灯させるとともに、第一制御部31によって第一照明16を点灯させて被加工物Wの被撮像面を照らすことで切削溝の周辺を影のない状態にする。切削溝とその周りとのコントラストが明確となった状態で、撮像手段20で被加工物Wの被撮像面を撮像する。こうして撮像された撮像画は、切削溝とその周りとのコントラストが明確となって図1に示したモニター40に表示される。この撮像画に基づいて、オペレータが、切削溝が所望の形状となっていると判断した場合は、次の被加工物Wに対して切削を続行する。一方、オペレータが、切削溝が所望の形状となっていないと判断したら、切削ブレード8aに何らかの不具合(欠けや目つぶれ等)があるとして、加工装置1の稼働を停止して新たな切削ブレードに交換するとよい。
このように、本発明に係る加工装置1は、被加工物Wを保持する保持テーブル7と、保持テーブル7の上方に配設され、保持テーブル7上の被加工物Wを照明する照明手段10と、照明手段10で照明された保持テーブル7上の被加工物Wを撮像する撮像手段20と、少なくとも照明手段10と撮像手段20とを制御する制御手段30とを備え、照明手段10は、中央に円形空間12を残してリング状に配置された複数の照明を有し、円形空間12には撮像手段20の対物レンズ23が配設され、複数の該照明は、対物レンズ23の光軸24に対して第一の傾斜角度を有する第一光軸160を有した複数の第一照明16と、対物レンズ23の光軸24に対して第二の傾斜角度を有する第二光軸170を有した複数の第二照明17とを含み、制御手段30は、第一照明16の点灯または消灯を制御する第一制御部31と、第二照明17の点灯または消灯を制御する第二制御部32とを有するため、たとえ被加工物Wの被撮像面に高低差があっても、最適な第一照明16又は第二照明17を個別に点灯又は消灯させることで被撮像面を影のない状態にして撮像手段20で撮像することができ、鮮明な撮像画を取得することができる。
また、上記複数の第一照明16,第二照明17は、それぞれ互いに異なる発光波長を有する複数のLEDで構成したことから、照明光の指向性が高くなり、制御手段30が最適な第一照明16又は第二照明17を選択して点灯させることで、検出したい被加工物Wの被撮像面を集中的に照らすことが可能となり、より鮮明な撮像画を取得することが可能となる。
図5に示す照明手段10Aは、上記照明手段10の変形例であって、本体部11Aの中央に円形空間12を残して、複数の第一照明16が配置された第一リング部13aと、第一リング部13aの外周側で複数の第二照明17が配置された第二リング部13bと、第二リング部13bの外周側で複数の第三照明19が配置された第三リング部13cとを有している。複数の第一照明16〜第三照明19は、上記照明手段10と同様に、それぞれ傾斜角度が異なり、かつ、互いに異なる発光波長を有する複数のLEDで構成されている。複数の第一照明16〜第三照明19は、例えば青色LED、黄色LED、赤色LEDなどの異なる発光色のLEDを適宜組み合わせて配置するとよい。照明手段10Aでは、3重のリング部を有する場合を例示したが、少なくとも2重以上のリング部を有する構成であればよい。このように構成される照明手段10Aによれば、被加工物Wの被撮像面の状態に応じて、制御手段が最適な第一照明16,第二照明17又は第三照明19を選択して点灯させることができるため、撮像手段20で鮮明な撮像画を取得することができる。
本実施形態に示した加工装置1は、切削装置として説明したが、この構成に限定されない。例えば、レーザ加工により被加工物Wにアブレーション溝を形成し、そのアブレーション溝を撮像してアブレーション溝の状態を確認するレーザ加工装置にも本発明を適用することができる。したがって、撮像手段20でアブレーション溝を撮像することにより、例えば、アブレーション溝とその周囲に付着したデブリとのコントラストが明確となるため、溝幅を正確に検出できないという問題を解消しうる。
1:加工装置 2:装置ベース 2a:上面 3:カセット 4:搬入出手段
5:仮置き領域 6a:第1の搬送手段 6b:第2の搬送手段
7:保持テーブル 8:切削手段 8a:切削ブレード 9:洗浄領域
10,10A:照明手段 11,11A:本体部 12:円形空間
13:リング部 13a:第一リング部 13b:第二リング部 13c:第三リング部
130:外側壁 131:内側壁 132:取り付け壁
14:光源室 15:合成樹脂板 16:第一照明 17:第二照明
18:電源ケーブル 19:第三照明
20:撮像手段 21:カメラ 22:顕微鏡 23:対物レンズ 24:光軸
30:制御手段 31:第一制御部 32:第二制御部
40:モニター

Claims (3)

  1. 加工装置であって、
    被加工物を保持する保持テーブルと、
    該保持テーブルの上方に配設され、該保持テーブル上の被加工物を照明する照明手段と、
    該照明手段で照明された該保持テーブル上の被加工物を撮像する撮像手段と、
    少なくとも該照明手段と該撮像手段とを制御する制御手段と、を備え、
    該照明手段は、中央に円形空間を残してリング状に配置された複数の照明を有し、
    該円形空間には該撮像手段の対物レンズが配設され、
    複数の該照明は、該対物レンズの光軸に対して第一の傾斜角度を有する第一光軸を有した複数の第一照明と、
    該対物レンズの該光軸に対して第二の傾斜角度を有する第二光軸を有した複数の第二照明と、を含み、
    該制御手段は、該第一照明の点灯または消灯を制御する第一制御部と、
    該第二照明の点灯または消灯を制御する第二制御部と、を有する加工装置。
  2. 前記照明手段は、中央に前記円形空間を残して複数の前記第一照明が配置された第一リング部と、
    該第一リング部の外周側で複数の前記第二照明が配置された第二リング部と、を有する請求項1に記載の加工装置。
  3. 複数の前記第一照明は、互いに異なる発光波長を有する複数のLEDであり、複数の前記第二照明は、互いに異なる発光波長を有する複数のLEDである、請求項1または2に記載の加工装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020116715A (ja) * 2019-01-28 2020-08-06 Dmg森精機株式会社 工作機械の撮像システムおよび撮像方法
KR102819880B1 (ko) * 2024-06-25 2025-06-13 주식회사 질라이트 과학수사를 위한 촬영 장치용 촬영 보조 기구물

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020093812A1 (en) * 2001-01-12 2002-07-18 Electroglas, Inc. Method and apparatus for illuminating projecting features on the surface of a semiconductor wafer
JP2003503701A (ja) * 1999-06-24 2003-01-28 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 照明モジュール
WO2005119227A1 (ja) * 2004-06-04 2005-12-15 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. 半導体外観検査装置及び照明方法
JP2013063490A (ja) * 2011-09-16 2013-04-11 Apic Yamada Corp 切削装置および切削方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003503701A (ja) * 1999-06-24 2003-01-28 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 照明モジュール
US20020093812A1 (en) * 2001-01-12 2002-07-18 Electroglas, Inc. Method and apparatus for illuminating projecting features on the surface of a semiconductor wafer
WO2005119227A1 (ja) * 2004-06-04 2005-12-15 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. 半導体外観検査装置及び照明方法
JP2013063490A (ja) * 2011-09-16 2013-04-11 Apic Yamada Corp 切削装置および切削方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020116715A (ja) * 2019-01-28 2020-08-06 Dmg森精機株式会社 工作機械の撮像システムおよび撮像方法
JP7012675B2 (ja) 2019-01-28 2022-01-28 Dmg森精機株式会社 工作機械の撮像システムおよび撮像方法
KR102819880B1 (ko) * 2024-06-25 2025-06-13 주식회사 질라이트 과학수사를 위한 촬영 장치용 촬영 보조 기구물

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