[go: up one dir, main page]

JP2018151294A - ライトセンサ - Google Patents

ライトセンサ Download PDF

Info

Publication number
JP2018151294A
JP2018151294A JP2017048563A JP2017048563A JP2018151294A JP 2018151294 A JP2018151294 A JP 2018151294A JP 2017048563 A JP2017048563 A JP 2017048563A JP 2017048563 A JP2017048563 A JP 2017048563A JP 2018151294 A JP2018151294 A JP 2018151294A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light receiving
intensity
receiving element
region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017048563A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018151294A5 (ja
JP6760152B2 (ja
Inventor
純 石原
Jun Ishihara
純 石原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2017048563A priority Critical patent/JP6760152B2/ja
Priority to PCT/JP2018/003732 priority patent/WO2018168250A1/ja
Publication of JP2018151294A publication Critical patent/JP2018151294A/ja
Publication of JP2018151294A5 publication Critical patent/JP2018151294A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6760152B2 publication Critical patent/JP6760152B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

【課題】受光成分に含まれる間接成分を除去して直接成分を精度良く取得することができるライトセンサを提供する。【解決手段】第1受光素子12は、第1受光面14の一部が、一面11のうち、開口部21を通過する光が一面11及び反射面22で一度も反射せずに直接照射される第1領域16に位置するように基板10に設けられる。第1受光素子12は、第1受光面14に直接入射する直接光と一面11及び反射面22のいずれか一方または両方で反射して間接的に入射する間接光とを含んだ光の第1強度に応じた第1検出信号を出力する。第2受光素子13は、第2受光面15の全体が、一面11のうち第1領域16を除いた第2領域17に位置するように基板10に設けられ、間接光の第2強度に応じた第2検出信号を出力する。演算部40は、第1強度と第2強度との差分を演算し、第1強度に含まれる間接光の成分を除去する。【選択図】図1

Description

本発明は、ライトセンサに関する。
従来より、複数の受光素子が形成された基板と、基板の上方に配置されていると共に各受光素子に対する入射光の進行方向を規定する遮光膜と、を備えた光センサが、例えば特許文献1で提案されている。遮光膜は、各受光素子に対応する複数の開口部を有している。各開口部は、各受光素子に入射する入射光の進行方向がそれぞれ異なるように設けられている。
特開2016−161458号公報
しかしながら、上記従来の技術では、各受光素子は、開口部から直接入射する直接光だけでなく、開口部から入射した後に基板や遮光膜で反射して入射する間接光も受光する。このため、受光成分は間接光の間接成分を含んだブロードの特性になってしまう。すなわち、受光成分から直接光の直接成分を精度良く取得することができない。
本発明は上記点に鑑み、受光成分に含まれる間接成分を除去して直接成分を精度良く取得することができるライトセンサを提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、ライトセンサは、一面(11)と、第1受光面(14)が一面に露出すると共に第1受光面に入射する光の強度に応じた第1検出信号を出力する第1受光素子(12)と、第2受光面(15)が一面に露出すると共に第2受光面に入射する光の強度に応じた第2検出信号を出力する第2受光素子(13)と、を有する基板(10)を備えている。
ライトセンサは、光を通す開口部(21)を有し、基板の一面の上方に配置された金属製の遮光部(20)を備えている。ライトセンサは、第1検出信号及び第2検出信号を入力し、第1強度及び第2強度に基づいて演算処理を行う演算部(40)を備えている。
第1受光素子は、第1受光面の少なくとも一部が、一面のうち、開口部を通過する光が一面及び遮光部のうち一面側の反射面(22)で一度も反射せずに直接照射される第1領域(16)に位置するように基板に設けられ、開口部を介して第1受光面に直接入射する直接光と一面及び反射面のいずれか一方または両方で反射して間接的に入射する間接光とを含んだ光の第1強度に応じた第1検出信号を出力する。
第2受光素子は、第2受光面の全体が、一面のうち、第1領域を除いた第2領域(17)に位置するように基板に設けられ、間接光の第2強度に応じた第2検出信号を出力する。
演算部は、第1検出信号及び第2検出信号を入力し、第1強度と第2強度との差分を演算することにより第1強度に含まれる間接光の成分を除去する。
これによると、第2受光素子は基板のうち直接光が届かない第2領域に設けられているので、第2受光素子によって直接光の成分を含まない間接光のみの成分を取得することができる。このため、演算部によって第1受光素子の受光成分に含まれる間接光の成分を除去することで、第1強度に含まれる間接光の成分を除去することができる。したがって、直接光の成分を精度良く取得することができる。
なお、この欄及び特許請求の範囲で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
本発明の第1実施形態に係るライトセンサの構成を示した図である。 演算部の演算によって得られる直接光の成分を説明するための図である。 間接光の成分がキャンセルされない比較例の演算結果を説明するための図である。 本発明の第2実施形態に係るライトセンサの構成を示した図である。 本発明の第3実施形態に係るライトセンサの構成を示した図である。
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、図中、同一符号を付してある。
(第1実施形態)
以下、本発明の第1実施形態について図を参照して説明する。本実施形態に係るライトセンサは、例えば、車両のヘッドライト及びテールライトを自動点消灯させるオートライトシステムに適用されるものである。
図1に示されるように、ライトセンサは、基板10、遮光部20、絶縁層30、及び演算部40を備えている。
基板10は、一面11を有している。基板10は、例えばn型シリコン基板である。また、基板10は、第1受光素子12及び第2受光素子13を有している。各受光素子12、13は、受光した光の強度を検出するフォトダイオードとして構成されている。
具体的には、基板10の表層部に複数のp型領域が形成されており、各p型領域が各受光素子12、13の各受光部に対応している。第1受光素子12の第1受光面14及び第2受光素子13の第2受光面15は、基板10の一面11に露出している。
また、基板10の裏面には図示しないカソード電極が形成されていると共に、各p型領域には図示しないアノード電極が設けられている。このような構成により、各受光素子12、13は、光の強度を電圧値の強度信号として出力する。第1受光素子12は、第1受光面14に入射する光の強度に応じた第1検出信号を出力する。第2受光素子13は、第2受光面15に入射する光の強度に応じた第2検出信号を出力する。
遮光部20は、基板10の一面11の上方に配置された金属製の部品である。遮光部20は、例えばアルミニウム等の金属膜として形成されている。また、遮光部20は、光を通すことで基板10の一面11に光を導く開口部21を有している。
絶縁層30は、基板10の一面11と遮光部20との間、遮光部20の開口部21、及び遮光部20及び開口部21の上に設けられている。絶縁層30は光を通過させる性質を有し、金属製の遮光部20の酸化を防止する等の機能を有している。絶縁層30は、例えばBPSG等の層間絶縁膜である。基板10、遮光部20、及び絶縁層30は、一つの半導体チップとして構成されている。
演算部40は、第1受光素子12の第1検出信号及び第2受光素子13の第2検出信号を入力し、第1強度及び第2強度に基づいて演算処理を行う回路部である。演算部40は、第1強度と第2強度との差分を演算することにより、第1強度に含まれる第2強度の受光成分をキャンセルする。演算部40は、基板10に形成されていても良いし、基板10とは別の半導体チップに形成されていても良い。
以上が、本実施形態に係るライトセンサの全体構成である。ライトセンサは、図示しないケースを備え、上記各構成を収容することでパッケージ化されている。また、ライトセンサは、例えば車両のダッシュボード等に搭載される。
次に、基板10における各受光素子12、13の配置について説明する。まず、基板10の一面11には、第1領域16と第2領域17とがある。
第1領域16は、基板10の一面11のうち、遮光部20の開口部21を通過する光が基板10の一面11及び遮光部20のうち一面11側の反射面22で一度も反射せずに直接照射される領域である。第1領域16の範囲は、絶縁層30の屈折率、開口部21のサイズ、基板10の一面11を基準とした遮光部20の位置等によって決まる。
一方、第2領域17は、基板10の一面11のうち、第1領域16を除いた領域である。つまり、第2領域17は、遮光部20の開口部21を通過した光が直接照射されない領域である。
そして、第1受光素子12は、第1受光面14の一部が第1領域16に位置するように基板10に設けられている。これにより、第1受光素子12は、遮光部20の開口部21を介して第1受光面14に直接入射する直接光と基板10の一面11及び遮光部20の反射面22のいずれか一方または両方で反射して間接的に入射する間接光とを含んだ光を受光する。間接光は、一面11及び反射面22を何度も反射する場合もある。したがって、第1受光素子12は、直接光と間接光とを含んだ光の第1強度に応じた第1検出信号を出力する。
第2受光素子13は、第2受光面15の全体が第2領域17に位置するように基板10に設けられている。これにより、第2受光素子13は、基板10の一面11あるいは遮光部20の反射面22で反射した光を受光する。つまり、第2受光素子13は、直接光を含まない光を受光する。したがって、第2受光素子13は、間接光の第2強度に応じた第2検出信号を出力する。
また、本実施形態では、第2受光素子13は、第2受光面15の全体が第1領域16の外周の第2領域17に設けられている。すなわち、第2受光素子13は、第1受光素子12に近接配置されている。これにより、第2受光素子13は、第1受光素子12が受光する間接光とほぼ同じ間接光を受光することができる。
続いて、演算部40の作動について説明する。演算部40は、随時あるいは所定のタイミングで各受光素子12、13から第1検出信号及び第2検出信号を入力する。そして、演算部40は、第1強度と第2強度との差分を演算する。第1強度をPD1とし、第2強度をPD2とすると、演算部40はPD1−PD2を演算する。これにより、第1強度に含まれる間接光の成分が除去される。
図2に示されるように、第1強度PD1は直接光及び間接光の各成分を含んでいるので、直接光の成分が間接光の成分に埋もれている。しかし、第2強度PD2は直接光の成分を含まず、間接光の成分のみで構成されている。したがって、PD1−PD2の演算によって第1強度PD1から直接光の成分を取り出すことができる。なお、間接光のキャンセルの精度を高めるために、各受光素子12、13の各受光面14、15のサイズは同じであることが好ましい。
比較例として、遮光部20に2つの開口部21が設けられ、各開口部21に対応した2つの受光素子が基板10に設けられた構成が考えられる。一方の受光素子は、受光面の少なくとも一部が一方の開口部21によって設定される第1領域16に配置される。他方の受光素子についても同様である。
このような比較例の構成では、各受光素子が受光する光の直接光の成分が異なると共に、間接光の成分も異なる。一方の受光素子が受光する第3強度をPD3とすると、第3強度PD3は直接光の成分αと間接光の成分βを含んでいる。他方の受光素子が受光する第4強度をPD4とすると、第4強度PD4は直接光の成分γと間接光の成分σを含んでいる。各受光素子の間接光の成分をキャンセルするためにPD3−PD4を演算したとしても、間接光の成分はキャンセルされずに残ってしまう。
図3に示されるように、PD3−PD4の成分は、間接光の成分が残されたブロードの特性になっている。したがって、比較例のように各開口部21に対応した各受光素子の出力を演算する構成では、間接光の成分を精度良くキャンセルすることはできない。
比較例に対し、本実施形態では、基板10のうち直接光が届かない第2領域17に第2受光素子13が設けられた構成になっている。これにより、第2受光素子13によって直接光の成分を含まない間接光のみの成分を取得することができる。このため、演算部40の演算処理によって第1強度に含まれる間接光の成分を除去することができる。したがって、直接光の成分を精度良く取得することができる。
変形例として、基板10の一面11は、各受光素子12、13の各受光面14、15を除いた領域が金属面として構成されていても良い。これにより、基板10の一面11の面方向に進む光の距離によって間接光の成分が減衰する影響を低減することができる。
(第2実施形態)
本実施形態では、第1実施形態と異なる部分について説明する。図4に示されるように、遮光部20は、開口部21として、第1開口部23及び第2開口部24を有している。各開口部23、24は離されている。
そして、第1受光素子12は、第1受光面14の一部が、第1開口部23によって設定された第1領域16に位置するように基板10に設けられている。一方、第2受光素子13は、第2受光面15の全体が、第2開口部24によって設定された第1領域16の外周の第2領域17に設けられている。
このように、各受光素子12、13は、一つの開口部21によって設定された第1領域16に関連せず、異なった開口部23、24に関連づけて基板10に配置されていても良い。
(第3実施形態)
本実施形態では、第1、第2実施形態と異なる部分について説明する。図5に示されるように、第1受光素子12は、第1受光面14の全体が第1領域16に位置するように基板10に設けられていても良い。これにより、第1受光素子12は直接光を確実に受光することができる。
(他の実施形態)
上記各実施形態で示されたライトセンサの構成は一例であり、上記で示した構成に限定されることなく、本発明を実現できる他の構成とすることもできる。例えば、絶縁層30は、遮光部20の上に形成されていなくても良い。
また、第1受光素子12が基板10に複数設けられ、第2受光素子13が基板10に一つ設けられる構成でも良い。すなわち、複数の第1受光素子12に対して第2受光素子13を共通利用しても良い。もちろん、第1受光素子12と第2受光素子13との組が基板10に複数設けられていても良い。他方、1つの第1受光素子12に対し、複数の第2受光素子13が設けられていても良い。
10 基板
11 一面
12 第1受光素子
13 第2受光素子
14 第1受光面
15 第2受光面
20 遮光部
21 開口部
40 演算部

Claims (5)

  1. 一面(11)と、第1受光面(14)が前記一面に露出すると共に前記第1受光面に入射する光の強度に応じた第1検出信号を出力する第1受光素子(12)と、第2受光面(15)が前記一面に露出すると共に前記第2受光面に入射する光の強度に応じた第2検出信号を出力する第2受光素子(13)と、を有する基板(10)と、
    光を通す開口部(21)を有し、前記基板の前記一面の上方に配置された金属製の遮光部(20)と、
    前記第1検出信号及び前記第2検出信号を入力し、前記第1強度及び前記第2強度に基づいて演算処理を行う演算部(40)と、
    を備え、
    前記第1受光素子は、前記第1受光面の少なくとも一部が、前記一面のうち、前記開口部を通過する光が前記一面及び前記遮光部のうち前記一面側の反射面(22)で一度も反射せずに直接照射される第1領域(16)に位置するように前記基板に設けられ、前記開口部を介して前記第1受光面に直接入射する直接光と前記一面及び前記反射面(22)のいずれか一方または両方で反射して間接的に入射する間接光とを含んだ光の第1強度に応じた前記第1検出信号を出力し、
    前記第2受光素子は、前記第2受光面の全体が、前記一面のうち、前記第1領域を除いた第2領域(17)に位置するように前記基板に設けられ、前記間接光の第2強度に応じた前記第2検出信号を出力し、
    前記演算部は、前記第1検出信号及び前記第2検出信号を入力し、前記第1強度と前記第2強度との差分を演算することにより前記第1強度に含まれる前記間接光の成分を除去するライトセンサ。
  2. 前記遮光部は、前記開口部として、第1開口部(23)及び第2開口部(24)を有し、
    前記第1受光素子は、前記第1受光面の少なくとも一部が、前記第1開口部によって設定された前記第1領域に位置するように前記基板に設けられ、
    前記第2受光素子は、前記第2受光面の全体が、前記第2開口部によって設定された前記第1領域の外周の前記第2領域に設けられている請求項1に記載のライトセンサ。
  3. 前記第2受光素子は、前記第2受光面の全体が、前記開口部によって設定された前記第1領域の外周の前記第2領域に設けられている請求項1に記載のライトセンサ。
  4. 前記一面は、前記第1受光面及び前記第2受光面を除いた領域が金属面として構成されている請求項1ないし3のいずれか1つに記載のライトセンサ。
  5. 前記第1受光素子は、前記第1受光面の全体が前記第1領域に位置するように前記基板に設けられている請求項1ないし4のいずれか1つに記載のライトセンサ。
JP2017048563A 2017-03-14 2017-03-14 ライトセンサ Expired - Fee Related JP6760152B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017048563A JP6760152B2 (ja) 2017-03-14 2017-03-14 ライトセンサ
PCT/JP2018/003732 WO2018168250A1 (ja) 2017-03-14 2018-02-05 ライトセンサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017048563A JP6760152B2 (ja) 2017-03-14 2017-03-14 ライトセンサ

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2018151294A true JP2018151294A (ja) 2018-09-27
JP2018151294A5 JP2018151294A5 (ja) 2019-03-14
JP6760152B2 JP6760152B2 (ja) 2020-09-23

Family

ID=63522075

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017048563A Expired - Fee Related JP6760152B2 (ja) 2017-03-14 2017-03-14 ライトセンサ

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP6760152B2 (ja)
WO (1) WO2018168250A1 (ja)

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03216523A (ja) * 1990-01-22 1991-09-24 Olympus Optical Co Ltd 測光回路
JPH04276589A (ja) * 1991-03-05 1992-10-01 Hamamatsu Photonics Kk 焦電式物体検出装置
JPH11337405A (ja) * 1998-03-27 1999-12-10 Denso Corp 光センサ
JP2008076344A (ja) * 2006-09-25 2008-04-03 Epson Imaging Devices Corp 光検出装置、電気光学装置、および電子機器
WO2014041884A1 (ja) * 2012-09-11 2014-03-20 シャープ株式会社 センサ、表示装置、携帯電話、およびデジタルカメラ
US20160041035A1 (en) * 2014-08-05 2016-02-11 Maxim Integrated Products, Inc. System and method of estimating spectral contributions in ambient light and correcting field of view errors
JP2016161458A (ja) * 2015-03-03 2016-09-05 株式会社デンソー 光センサ
US20160309564A1 (en) * 2015-04-16 2016-10-20 Apple Inc. Electronic Device With Directional Ambient Light Sensor

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03216523A (ja) * 1990-01-22 1991-09-24 Olympus Optical Co Ltd 測光回路
JPH04276589A (ja) * 1991-03-05 1992-10-01 Hamamatsu Photonics Kk 焦電式物体検出装置
JPH11337405A (ja) * 1998-03-27 1999-12-10 Denso Corp 光センサ
JP2008076344A (ja) * 2006-09-25 2008-04-03 Epson Imaging Devices Corp 光検出装置、電気光学装置、および電子機器
WO2014041884A1 (ja) * 2012-09-11 2014-03-20 シャープ株式会社 センサ、表示装置、携帯電話、およびデジタルカメラ
US20160041035A1 (en) * 2014-08-05 2016-02-11 Maxim Integrated Products, Inc. System and method of estimating spectral contributions in ambient light and correcting field of view errors
JP2016161458A (ja) * 2015-03-03 2016-09-05 株式会社デンソー 光センサ
US20160309564A1 (en) * 2015-04-16 2016-10-20 Apple Inc. Electronic Device With Directional Ambient Light Sensor

Also Published As

Publication number Publication date
WO2018168250A1 (ja) 2018-09-20
JP6760152B2 (ja) 2020-09-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11543505B2 (en) Optoelectronic modules operable to recognize spurious reflections and to compensate for errors caused by spurious reflections
EP3640988B1 (en) Photoelectric conversion apparatus and equipment including the same
CN113519067B (zh) 传感器芯片和测距装置
KR20200033856A (ko) 고체 촬상 장치 및 전자 기기
WO2023058556A1 (ja) 光検出装置及び電子機器
JP5087239B2 (ja) 光電式エンコーダ
JP2021010080A (ja) 撮像装置および機器
JP2018151294A (ja) ライトセンサ
US20110243541A1 (en) Defocus calibration module for light-sensing system and method thereof
JP3700394B2 (ja) 近接センサ
CN113325485B (zh) 红外线测定装置
JP2020068359A (ja) 光電変換装置
WO2017204331A1 (ja) 光センサ
JP4675948B2 (ja) 照度センサ
WO2024062719A1 (en) Semiconductor package, semiconductor module, electronic device, and semiconductor package manufacturing method
JP6950270B2 (ja) ライトセンサ
US20230034553A1 (en) Light receiving module and lidar apparatus comprising the same
JPH0719859A (ja) 反射型光電センサ
JP2018124429A (ja) 光モジュールおよび光出力方法
JP5131807B2 (ja) 日射センサ
JP2017026398A (ja) ライトセンサ
JP6160167B2 (ja) 分光センサー及びその製造方法
US20060011851A1 (en) Component carrier for at least one x-ray sensitive detector element and detector for an imaging x-ray device
JPS61217786A (ja) 光学式距離測定装置
JP2006049601A (ja) 照度センサ

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190131

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190510

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200623

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200630

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200804

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200817

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6760152

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees