JP2018038481A5 - - Google Patents

Claims (5)

1. 視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系の光路中であって、前記視標光束の光学特性を変化する矯正光学系と、を有し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式測定手段を備え、被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置であって、
   被検眼の眼底に測定光を出射し、その反射光を受光する測定光学系を有し、前記被検眼の光学特性を他覚的に測定する他覚式測定手段と、
   前記自覚式測定手段によって前記被検眼の光学特性の自覚的な測定を開始した後、前記他覚式測定手段によって前記被検眼の光学特性を他覚的に測定して前記被検眼の光学特性を取得する制御手段と、
   前記制御手段によって他覚的に測定された前記被検眼の光学特性を、前記自覚測定手段によって前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する際の前記矯正光学系の初期値として設定する初期値設定手段と、
   を備えることを特徴とする自覚式検眼装置。
2. 請求項１の自覚式検眼装置において、
   前記初期値設定手段は、前記他覚式測定手段によって他覚的に測定された前記被検眼の光学特性を、前記他覚式測定手段による他覚的な測定を開始する前に前記自覚式測定手段によって実施されていた前記被検眼の光学特性の自覚的な測定における前記矯正光学系の初期値として設定することを特徴とする自覚式検眼装置。
3. 請求項１の自覚式検眼装置において、
   前記制御手段は、前記自覚式測定手段によって前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する第１自覚式測定を実行した後、再度、前記自覚式測定手段によって前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する第２自覚式測定を実行する制御手段であって、前記第１自覚式測定を開始した後、前記他覚式測定手段によって前記被検眼の光学特性を他覚的に測定し、
   前記初期値設定手段は、前記他覚式測定手段によって他覚的に測定された前記被検眼の光学特性を、前記第２自覚式測定の初期値として設定することを特徴とする自覚式検眼装置。
4. 請求項３の自覚式検眼装置において、
   前記第１自覚式測定は、前記矯正光学系によって前記視標光束の光学特性を変化させない無矯正状態にて、被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式測定であって、
   前記第２自覚式測定は、前記矯正光学系によって前記視標光束の光学特性を変化させて被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式測定であることを特徴とする自覚式検査装置。
5. 視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系の光路中であって、前記視標光束の光学特性を変化する矯正光学系と、を有し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式測定手段と、被検眼の眼底に測定光を出射し、その反射光を受光する測定光学系を有し、前記被検眼の光学特性を他覚的に測定する他覚式測定手段と、を備え、被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置において用いられる自覚式検眼プログラムであって、前記自覚式検眼装置のプロセッサによって実行されることで、
   前記自覚式測定手段によって前記被検眼の光学特性の自覚的な測定を開始した後、前記他覚式測定手段によって前記被検眼の光学特性を他覚的に測定して前記被検眼の光学特性を取得する制御ステップと、
   前記制御ステップによって取得された他覚的に測定された前記被検眼の光学特性を、前記自覚測定手段によって前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する際の前記矯正光学系の初期値として設定する初期値設定ステップと、
   を前記自覚式検眼装置に実行させることを特徴とする自覚式検眼プログラム。