JP2018019054A - Sealing film and sealing film-coated electronic component mounting substrate - Google Patents
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Abstract
【課題】電子部品搭載基板が備える凹凸に対して、優れた追従性をもって封止することができる封止用フィルム、および、かかる封止用フィルムを備える封止用フィルム被覆電子部品搭載基板を提供すること。【解決手段】本発明の封止用フィルム100は、電子部品搭載基板45が備える基板5と、この基板5上に搭載された電子部品4とを被覆するために用いられ、樹脂材料を主材料として構成され、JIS K 6251に準拠して求められる軟化点における伸び率が150%以上3500%以下である。【選択図】図3[Problem] To provide a sealing film capable of sealing the unevenness of an electronic component mounting substrate with excellent conformability, and a sealing film-covered electronic component mounting substrate equipped with such a sealing film. [Solution] The sealing film 100 of the present invention is used to cover the substrate 5 of an electronic component mounting substrate 45 and the electronic components 4 mounted on the substrate 5, is made mainly of a resin material, and has an elongation rate at the softening point determined in accordance with JIS K 6251 of 150% or more and 3500% or less. [Selected Figure] Figure 3
Description
本発明は、封止用フィルムおよび封止用フィルム被覆電子部品搭載基板に関するものである。 The present invention relates to a sealing film and a sealing film-covered electronic component mounting substrate.
従来、携帯電話、スマートフォン、電卓、電子新聞、タブレット端末、テレビ電話、パーソナルコンピュータのような電子機器には、例えば、半導体素子、コンデンサー、コイルのような電子部品が搭載された電子部品搭載基板が実装されるが、この電子部品搭載基板は、湿気や埃等の外部因子との接触を防止することを目的に、樹脂により封止がなされることがある。 Conventionally, in electronic devices such as mobile phones, smartphones, calculators, electronic newspapers, tablet terminals, videophones, personal computers, for example, electronic component mounting substrates on which electronic components such as semiconductor elements, capacitors, and coils are mounted. Although mounted, the electronic component mounting board may be sealed with resin for the purpose of preventing contact with external factors such as moisture and dust.
このような樹脂による封止は、例えば、電子部品搭載基板を金属キャビティ内に配置した後に、流動性の高いウレタン樹脂のような熱硬化性樹脂を注入して封止するポッティング法の他、熱可塑性樹脂を溶融状態で電子部品搭載基板に塗布した後に、固化させることで塗布した領域をコーティング(封止)するコーティング法が知られている。 Sealing with such a resin includes, for example, a potting method in which a thermosetting resin such as a highly fluid urethane resin is injected and sealed after an electronic component mounting substrate is placed in a metal cavity. A coating method is known in which a plastic resin is applied to an electronic component mounting substrate in a molten state and then solidified to be coated (sealed).
しかしながら、ポッティング法では、熱硬化性樹脂の硬化に時間を要し、さらには、通常、封止に金属キャビティを要するため、得られる電子機器の重量化を招くと言う問題があった。また、コーティング法では、溶融状態とする熱可塑性樹脂の粘度管理、および、熱可塑性樹脂の塗布領域に対する塗り分けに時間と手間を有すると言う問題があった。 However, the potting method has a problem in that it takes time to cure the thermosetting resin, and further, usually requires a metal cavity for sealing, resulting in an increase in the weight of the resulting electronic device. In addition, the coating method has a problem that it takes time and labor to manage the viscosity of the thermoplastic resin in a molten state and to separate the coating on the thermoplastic resin application region.
かかる問題点を解決することを目的に、ホットメルト性を有するバリアフィルムを電子部品搭載基板に貼付することが提案されている(例えば、特許文献1参照。)。 In order to solve such problems, it has been proposed to apply a barrier film having hot melt properties to an electronic component mounting substrate (see, for example, Patent Document 1).
ところが、この場合、電子部品搭載基板が電子部品を備えることに起因して形成される凹凸に対する追従性が十分に得られず、その結果、湿気や埃等の外部因子に対するバリア性を十分に向上させるには至っていない。 However, in this case, the followability to the unevenness formed due to the electronic component mounting substrate including the electronic component is not sufficiently obtained, and as a result, the barrier property against external factors such as moisture and dust is sufficiently improved. It has not reached.
本発明の目的は、電子部品搭載基板が備える凹凸に対して、優れた追従性をもって封止することができる封止用フィルム、および、かかる封止用フィルムを備える封止用フィルム被覆電子部品搭載基板を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a sealing film that can be sealed with excellent followability with respect to the unevenness provided on the electronic component mounting substrate, and a sealing film-covered electronic component mounted with the sealing film. It is to provide a substrate.
このような目的は、下記(1)〜(7)に記載の本発明により達成される。
(1) 電子部品搭載基板が備える基板と、該基板上に搭載された電子部品とを被覆するために用いられる封止用フィルムであって、
樹脂材料を主材料として構成され、JIS K 6251に準拠して求められる軟化点における伸び率が150%以上3500%以下であることを特徴とする封止用フィルム。
Such an object is achieved by the present invention described in the following (1) to (7).
(1) A sealing film used for covering a substrate provided on an electronic component mounting substrate and an electronic component mounted on the substrate,
A sealing film comprising a resin material as a main material and having an elongation at a softening point of 150% or more and 3500% or less determined in accordance with JIS K 6251.
(2) 当該封止用フィルムは、25℃以上80℃以下の温度範囲での線膨張率が100ppm/℃以下である上記(1)に記載の封止用フィルム。 (2) The said film for sealing is a film for sealing as described in said (1) whose linear expansion coefficient in a temperature range of 25 degreeC or more and 80 degrees C or less is 100 ppm / degrees C or less.
(3) 当該封止用フィルムは、熱可塑性樹脂を主材料とする層を1層以上有している上記(1)または(2)に記載の封止用フィルム。 (3) The said film for sealing is a film for sealing as described in said (1) or (2) which has one or more layers which use a thermoplastic resin as the main material.
(4) 当該封止用フィルムは、その平均厚さが10μm以上200μm以下である上記(1)ないし(3)のいずれかに記載の封止用フィルム。 (4) The sealing film according to any one of (1) to (3), wherein the sealing film has an average thickness of 10 μm or more and 200 μm or less.
(5) 当該封止用フィルムは、80℃における貯蔵弾性率が1×105Pa以上である上記(1)ないし(4)のいずれかに記載の封止用フィルム。 (5) The said film for sealing is a film for sealing in any one of said (1) thru | or (4) whose storage elastic modulus in 80 degreeC is 1 * 10 < 5 > Pa or more.
(6) 前記基板は、プリント配線基板である上記(1)ないし(5)のいずれかに記載の封止用フィルム。 (6) The sealing film according to any one of (1) to (5), wherein the substrate is a printed wiring board.
(7) 上記(1)ないし(6)のいずれかに記載の封止用フィルムと、該封止用フィルムにより被覆された前記基板および前記電子部品を備える電子部品搭載基板とを有することを特徴とする封止用フィルム被覆電子部品搭載基板。 (7) The sealing film according to any one of (1) to (6) above, and the electronic component mounting substrate including the substrate and the electronic component covered with the sealing film. A film-covered electronic component mounting substrate for sealing.
本発明によれば、封止用フィルムが樹脂材料を主材料として構成され、JIS K 6251に準拠して求められる軟化点における封止用フィルムの伸び率が150%以上3500%以下となっている。そのため、基板と電子部品とを覆うように封止用フィルムを配置し、その後、封止用フィルムを加熱し軟化させるとともに減圧した後に、封止用フィルムを冷却させるとともに加圧する工程を経ることにより、基板に電子部品を搭載することで形成される凹凸に対して、優れた追従性をもって封止した状態で、基板と電子部品とを被覆することができる。そのため、この封止用フィルムを被覆することで得られた封止用フィルム被覆電子部品搭載基板において、電子部品が湿気や埃等の外部因子と接触するのを的確に抑制または防止することができる。 According to the present invention, the sealing film is composed mainly of a resin material, and the elongation rate of the sealing film at the softening point required in accordance with JIS K 6251 is 150% or more and 3500% or less. . Therefore, by placing a sealing film so as to cover the substrate and the electronic component, and then heating and softening the sealing film and reducing the pressure, then cooling and pressurizing the sealing film. The substrate and the electronic component can be covered in a state where the unevenness formed by mounting the electronic component on the substrate is sealed with excellent followability. Therefore, in the sealing film-covered electronic component mounting substrate obtained by coating this sealing film, it is possible to accurately suppress or prevent the electronic component from coming into contact with external factors such as moisture and dust. .
以下、本発明の封止用フィルムおよび封止用フィルム被覆電子部品搭載基板を、添付図面に示す好適実施形態に基づいて、詳細に説明する。 Hereinafter, the sealing film and the film-coated electronic component mounting substrate of the present invention will be described in detail based on preferred embodiments shown in the accompanying drawings.
本発明の封止用フィルムは、電子部品搭載基板が備える基板と、この基板上に搭載された電子部品とを被覆するために用いられる封止用フィルムであり、樹脂材料を主材料として構成され、JIS K 6251に準拠して求められる軟化点における伸び率が150%以上3500%以下であることを特徴とする。 The sealing film of the present invention is a sealing film used for covering a substrate provided on an electronic component mounting substrate and an electronic component mounted on the substrate, and is composed mainly of a resin material. The elongation at the softening point obtained in accordance with JIS K 6251 is 150% or more and 3500% or less.
また、上記の封止用フィルムを用いることで、電子部品搭載基板が備える基板と電子部品との被覆を、基板と電子部品とを覆うように封止用フィルムを配置する配置工程と、封止用フィルムを加熱し軟化させるとともに、減圧する加熱・減圧工程と、封止用フィルムを冷却させるとともに、加圧することで、基板と電子部品とを封止用フィルムで被覆させる冷却・加圧工程とを経ることで実施される。 Further, by using the above-described sealing film, the step of arranging the sealing film so as to cover the substrate and the electronic component with the covering of the electronic component mounting substrate and the electronic component, and the sealing Heating and depressurizing step for heating and softening the film for cooling and cooling and pressurizing step for cooling the sealing film and covering the substrate and the electronic component with the sealing film by pressurizing It is implemented by going through.
このような封止用フィルムを用いて、基板上に電子部品が搭載されることにより形成された凹凸の被覆に適用すると、前記冷却・加圧工程において、軟化された状態の封止用フィルムが、加圧された状態で冷却されることから、優れた追従性をもって封止した状態で、基板と電子部品とを被覆することができる。そのため、この封止用フィルムを被覆することで得られる封止用フィルム被覆電子部品搭載基板において、電子部品が湿気や埃等の外部因子と接触するのを的確に抑制または防止することができる。したがって、得られた封止用フィルム被覆電子部品搭載基板ひいてはこの封止用フィルム被覆電子部品搭載基板を備える電子機器の信頼性の向上を図ることができる。 Using such a sealing film, when applied to an uneven coating formed by mounting an electronic component on a substrate, the sealing film in a softened state is formed in the cooling / pressurizing step. Since it is cooled in a pressurized state, the substrate and the electronic component can be coated in a sealed state with excellent followability. Therefore, in the sealing film-covered electronic component mounting substrate obtained by coating the sealing film, it is possible to accurately suppress or prevent the electronic component from coming into contact with external factors such as moisture and dust. Therefore, it is possible to improve the reliability of the obtained electronic device equipped with the sealing film-covered electronic component mounting substrate and thus the sealing film-covered electronic component mounting substrate.
なお、以下の本発明の封止用フィルムおよび封止用フィルム被覆電子部品搭載基板の説明では、プリント配線基板等の基板5上に電子部品4が搭載(載置)された電子部品搭載基板45において、基板5上への電子部品4の搭載により、基板5上に凸部61と凹部62とからなる凹凸6が形成される。そして、この凹凸6を、本発明の封止用フィルム100を用いて被覆する場合について説明する。なお、基板5としては、プリント配線基板が挙げられ、基板5上に搭載する電子部品4としては、例えば、半導体素子、コンデンサー、コイル、コネクターおよび抵抗等が挙げられる。
In the following description of the sealing film and the sealing film-covered electronic component mounting substrate of the present invention, the electronic component mounting substrate 45 in which the
<封止用フィルム>
まず、本発明の封止用フィルム100について説明する。
<Sealing film>
First, the
図1は、本発明の封止用フィルムの第1実施形態を示す縦断面図、図2は、本発明の封止用フィルムの第2実施形態を示す縦断面図である。なお、以下の説明では、説明の便宜上、図1、図2中の上側を「上」、下側を「下」と言う。 FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing a first embodiment of the sealing film of the present invention, and FIG. 2 is a longitudinal sectional view showing a second embodiment of the sealing film of the present invention. In the following description, for convenience of description, the upper side in FIGS. 1 and 2 is referred to as “upper” and the lower side is referred to as “lower”.
本発明の封止用フィルム100は、樹脂材料を主材料として構成され、JIS K 6251に準拠して求められる軟化点における伸び率が150%以上3500%以下であるものである。
The
このような封止用フィルム100は、前記伸び率が前記範囲内のものであれば、如何なる樹脂材料で構成されるものであってもよいが、樹脂材料としては、例えば、低密度ポリエチレン、高密度ポリエチレン、エチレン共重合体、延伸ポリプロピレン、未延伸ポリプロピレンのようなポリオレフィン系樹脂、アイオノマー樹脂、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレートのようなポリエステル系樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリスチレン樹脂、アクリル系樹脂、ナイロン−6、ナイロン−6,6、ナイロン−6,10、ヘキサメチレンジアミンとテレフタル酸とからなるナイロン−6T、ヘキサメチレンジアミンとイソフタル酸とからなるナイロン−6I、ノナンジアミンとテレフタル酸とからなるナイロン−9T、メチルペンタジアミンとテレフタル酸とからなるナイロン−M5T、カプロラクタムとラウリルラクタムとからなるナイロン−6,12、ヘキサメチレンジアミンとアジピン酸とカプロラクタムとからなるナイロン−6−6,6のようなポリアミド系樹脂、ポリ塩化ビニルおよびポリビニルアルコール等の熱可塑性樹脂が挙げられ、これらのうちの少なくとも1種を含む単層体であってもよいし、多層体であってもよい。
Such a
なお、封止用フィルム100に含まれる樹脂材料は、上述した熱可塑性樹脂材料の他に、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、シリコーン樹脂のような熱硬化性樹脂やアクリル樹脂やウレタン樹脂のようなUV硬化性樹脂が含まれていてもよい。
The resin material included in the
封止用フィルム100は、これらの中でも、ポリオレフィン系樹脂を主材料として含有する単層体、または、ポリオレフィン系樹脂を主材料として含有する層を1層以上有する多層体であることが好ましく、ポリオレフィン系樹脂を主材料として含有する層を1層以上有する多層体であることがより好ましい。これにより、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を容易に150%以上3500%以下に設定することができる。
Among these, the
以下、ポリオレフィン系樹脂を主材料として含有する層を1層以上有する多層体で構成される封止用フィルム100の一例について説明する。なお、本実施形態では、4層からなる多層体について説明するが、特に、4層からなる多層体に限定されるものではない。
Hereinafter, an example of the
<<第1実施形態>>
図1に示すように、本実施形態において、封止用フィルム100は、最外層11、中間層12、中間層13、最内層14を備え、これらが、図3に示す、被覆すべき電子部品搭載基板45の反対側から、この順で積層されている積層体で構成されている。
<< First Embodiment >>
As shown in FIG. 1, in this embodiment, the
最外層11は、封止用フィルム100に酸素ガスバリア性を付与するためのものであり、酸素ガスバリア性樹脂を含有する層である。
The
この酸素ガスバリア性樹脂としては、本実施形態では、エチレン−ビニルアルコール共重合体ケン化物(以下、「EVOH」と略すこともある。)のうち、共重合されるエチレン含有量が27〜44モル%のものであることが好ましい。 As this oxygen gas barrier resin, in this embodiment, the ethylene content to be copolymerized is 27 to 44 mol in an ethylene-vinyl alcohol copolymer saponified product (hereinafter sometimes abbreviated as “EVOH”). % Is preferable.
また、最外層11の平均厚さは、1μm以上30μm以下であることが好ましく、5μm以上15μm以下であることがより好ましい。最外層11の平均厚さをかかる範囲内に設定することにより、封止用フィルム100に酸素ガスバリア性を確実に付与し得るとともに、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を150%以上3500%以下の範囲内に確実に設定することができる。
Further, the average thickness of the
なお、封止用フィルム100に、酸素ガスバリア性を付与する必要がない場合には、封止用フィルム100における最外層11の形成を省略してもよい。
In addition, when it is not necessary to give oxygen gas barrier property to the
中間層12は、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を150%以上3500%以下に設定して、凹凸6への密着性および形状追従性に優れたものとすること、さらには、封止用フィルム100を強靱性に優れたものとすることを目的に、アイオノマー樹脂を主材料として含有する層である。
The
ここで、本明細書中において、アイオノマー樹脂とは、エチレンおよび(メタ)アクリル酸を重合体の構成成分とする2元共重合体や、エチレン、(メタ)アクリル酸および(メタ)アクリル酸エステルを重合体の構成成分とする3元共重合体を、金属イオンで架橋した樹脂のことを言い、これらのうちの1種または2種を組み合わせて用いることができる。 Here, in this specification, the ionomer resin is a binary copolymer having ethylene and (meth) acrylic acid as a constituent component of the polymer, ethylene, (meth) acrylic acid, and (meth) acrylic acid ester. Is a resin crosslinked with metal ions, and one or two of them can be used in combination.
また、金属イオンとしては、例えば、カリウムイオン(K+)、ナトリウムイオン(Na+)、リチウムイオン(Li+)、マグネシウムイオン(Mg++)、亜鉛イオン(Zn++)等が挙げられる。これらの中でも、ナトリウムイオン(Na+)または亜鉛イオン(Zn++)であることが好ましい。これにより、アイオノマー樹脂における架橋構造が安定化されるため、前述した中間層12としての機能をより顕著に発揮させることができる。
Examples of the metal ion include potassium ion (K + ), sodium ion (Na + ), lithium ion (Li + ), magnesium ion (Mg ++ ), and zinc ion (Zn ++ ). Among these, sodium ions (Na + ) or zinc ions (Zn ++ ) are preferable. Thereby, since the crosslinked structure in the ionomer resin is stabilized, the function as the
さらに、エチレンおよび(メタ)アクリル酸を重合体の構成成分とする2元共重合体、もしくは、エチレン、(メタ)アクリル酸および(メタ)アクリル酸エステルを重合体の構成成分とする3元共重合体のカルボキシル基における陽イオン(金属イオン)による中和度は、好ましくは40mol%以上75mol%以下である。 Further, a binary copolymer having ethylene and (meth) acrylic acid as constituent components of the polymer, or a ternary copolymer having ethylene, (meth) acrylic acid and (meth) acrylic acid ester as constituent components of the polymer. The degree of neutralization by the cation (metal ion) in the carboxyl group of the polymer is preferably 40 mol% or more and 75 mol% or less.
また、中間層12は、融点(JIS K−7121に準拠し、DSC法で測定)が100℃以下、引張破壊応力(JIS K−7162に準拠し測定)が40MPa以下であるのがより好ましい。これにより、後述する電子部品搭載基板の封止方法において、封止用フィルム100を用いた基板5と電子部品4との被覆を容易に実施することができる。
Moreover, as for the intermediate |
また、中間層12の平均厚さは、1μm以上30μm以下であることが好ましく、5μm以上15μm以下であることがより好ましい。中間層12の平均厚さをかかる範囲内に設定することにより、封止用フィルム100を強靱性に優れ、かつ、封止用フィルム100の軟化点における伸び率が150%以上3500%以下の範囲内に確実に設定されているものとし得る。
The average thickness of the
中間層13は、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を150%以上3500%以下に設定するものとすることを目的に、本実施形態では、エチレン共重合体としてのエチレン−酢酸ビニル共重合体を主材料として含有する層である。
In the present embodiment, the
また、このエチレン−酢酸ビニル共重合体としては、共重合されるVA含有量が5重量%以上30重量%以下であることが好ましく、10重量%以上20重量%以下であることがより好ましい。前記下限値未満であると、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を前記範囲内に設定することが困難となるおそれがある。これに対して、前記上限値を超えると、中間層13を構成する樹脂の結晶部が減少し、非結晶部が増加する傾向を示すことに起因して、封止用フィルム100を、最内層14を備える構成としたとしても、中間層13に残存する酸化防止剤等の添加剤が溶出するおそれがある。そのため、最内層14を通過して、電子部品搭載基板45側に移行し、その結果、電子部品4の特性に不都合が生じるおそれがある。また、融点も低下する傾向を示すことから封止用フィルム100の耐熱性が低下するおそれもある。
Moreover, as this ethylene-vinyl acetate copolymer, the VA content to be copolymerized is preferably 5% by weight to 30% by weight, and more preferably 10% by weight to 20% by weight. If it is less than the lower limit, it may be difficult to set the elongation at the softening point of the sealing
また、中間層13の平均厚さは、5μm以上130μm以下であることが好ましく、20μm以上80μm以下であることがより好ましい。中間層13の平均厚さをかかる範囲内に設定することにより、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を150%以上3500%以下の範囲内に確実に設定することができる。
The average thickness of the
なお、中間層12と中間層13とは、最外層11側からこの順で積層される場合の他、最外層11側から中間層13と中間層12とがこの順で積層されていてもよい。
The
最内層14は、中間層13に含まれる酸化防止剤等の添加剤が溶出するのに起因して、電子部品搭載基板45側に移行するのを抑制または防止するブロッキング層として機能させることを目的に、エチレン系ヒートシール性樹脂を主材料として含有する層である。
The
また、最内層14は、電子部品搭載基板45を封止用フィルム100で被覆する際に、電子部品4と密着(接触)する層であり、さらに、封止用フィルム100を基板5にヒートシールさせるための層として機能する。
The
このような最内層14に含まれるエチレン系ヒートシール性樹脂としては、本実施形態では、JIS K7112に定める方法により測定された密度が0.890以上0.910以下の範囲にあり、JIS K7206に定める方法により測定されたビカット軟化点が90℃以下である直鎖状低密度ポリエチレン樹脂(LLDPE)が好ましく用いられる。
As the ethylene-based heat-sealable resin contained in the
また、最内層14には、エチレン系ヒートシール性樹脂の他に、滑剤が含まれていても良い。その場合、滑剤としては、ベヘニン酸アミド、オレイン酸アミド、エルカ酸アミド等の有機系滑剤、シリカ、ゼオライト、炭酸カルシウム等の無機系滑剤が好ましく用いられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて用いることができる。その添加量としては好ましくは0.1〜5重量%であり、通常、マスターバッチの形で添加される。
Further, the
この最内層14の平均厚さは、1μm以上20μm以下であることが好ましく、5μm以上15μm以下であることがより好ましい。最内層14の平均厚さをかかる範囲内に設定することにより、最内層14に、前記ブロッキング層としての機能を確実に付与し得るとともに、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を150%以上3500%以下の範囲内に確実に設定することができる。
The average thickness of the
なお、酸化防止剤等の添加剤が中間層13から溶出するのは、主として、電子部品4等の駆動により、封止用フィルム100が加熱されるときであるため、封止用フィルム100を、最内層14を備える構成とすることで、図3に示す、電子部品搭載基板45が封止用フィルム100で被覆された構成をなす封止用フィルム被覆電子部品搭載基板50の耐熱性の向上を図ることができる。
The additive such as an antioxidant is eluted from the
また、封止用フィルム100が備える中間層13において、酸化防止剤等の添加剤の溶出が抑制または防止され、中間層13によるシール性が確保されている場合には、封止用フィルム100における最内層14の形成を省略してもよい。
Further, in the
また、封止用フィルム100では、最外層11と中間層12との間、中間層12と中間層13との間、中間層13と最内層14との間には、接着性を付与したり、あるいは接着性を高めるために必要に応じて接着層を設けるようにすることもできる。特に、最外層11と中間層12との間または中間層12と中間層13との間は、共押出による製膜加工でも接着強度が弱いため、この両層の間には接着樹脂層を配置することが好ましい。
Further, in the
接着層に含まれる接着性樹脂としては、例えば、EVA、エチレン−無水マレイン酸共重合体、EAA、EEA、エチレン−メタクリレート−グリシジルアクリレート三元共重合体、あるいは、各種ポリオレフィンに、アクリル酸、メタクリル酸などの一塩基性不飽和脂肪酸、マレイン酸、フマル酸、イタコン酸などの二塩基性不飽和脂肪酸またはこれらの無水物をグラフトさせたもの、例えば、マレイン酸グラフト化EVA、マレイン酸グラフト化エチレン−α−オレフィン共重合体、スチレン系エラストマー、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリウレタン樹脂等、公知のものを適宜、使用することができる。 Examples of the adhesive resin contained in the adhesive layer include EVA, ethylene-maleic anhydride copolymer, EAA, EEA, ethylene-methacrylate-glycidyl acrylate terpolymer, or various polyolefins such as acrylic acid, methacrylic acid. Monobasic unsaturated fatty acids such as acids, dibasic unsaturated fatty acids such as maleic acid, fumaric acid, itaconic acid or the like grafted with these anhydrides, such as maleic acid grafted EVA, maleic acid grafted ethylene Known α-olefin copolymers, styrene-based elastomers, acrylic resins, epoxy resins, polyurethane resins, and the like can be used as appropriate.
なお、最外層11と中間層12との間または中間層12と中間層13との間に接着層を介挿する構成とする場合、接着層と中間層12との積層体は、これら接着層と中間層12とが繰り返し積層された繰り返し体であってもよいし、さらに、接着層と中間層13との積層体は、これら接着層と中間層13とが繰り返し積層された繰り返し体であってもよい。
In addition, when it is set as the structure which inserts an adhesive layer between the
また、本実施形態では、最外層11、中間層13および最内層14により、ポリオレフィン系樹脂を主材料として含有する層が構成される。
In the present embodiment, the
<<第2実施形態>>
また、前記第1実施形態のように、封止用フィルム100が、ポリオレフィン系樹脂を主材料として含有する層を1層以上有する多層体で構成される場合の他、例えば、封止用フィルム100を、ポリアミド系樹脂を主材料として含有する層を1層以上有する多層体で構成することができるが、この場合の一例としては、以下に示すようなものが挙げられる。
<< Second Embodiment >>
In addition to the case where the sealing
図2に示すように、本実施形態において、封止用フィルム100は、最外層21、中間層22、中間層23、最内層24を備え、これらが、被覆すべき電子部品搭載基板45の反対側から、この順で積層されている積層体で構成されている。
As shown in FIG. 2, in this embodiment, the sealing
最外層21は、電子部品搭載基板45が封止用フィルム100で被覆された封止用フィルム被覆電子部品搭載基板50の外側に対する耐熱性を付与するためのものであり、軟質塩化ビニル系樹脂および直鎖低密度ポリエチレンのうちの少なくとも1種を含有する層である。
The
軟質塩化ビニル樹脂としては、平均重合度700以上1800以下の塩化ビニル単独重合体、エチレン含有量10%以下のエチレン−塩化ビニル共重合体、またはエチレン−酢酸ビニル共重合体含有量12%以下のエチレン−酢酸ビニル−塩化ビニルグラフト共重合体を用いることができ、さらには、これらの混合物をベースレジン100重量部として、可塑剤を40%以上70重量部以下添加したものも用いることができる。 As the soft vinyl chloride resin, a vinyl chloride homopolymer having an average degree of polymerization of 700 to 1800, an ethylene-vinyl chloride copolymer having an ethylene content of 10% or less, or an ethylene-vinyl acetate copolymer content of 12% or less. An ethylene-vinyl acetate-vinyl chloride graft copolymer can be used, and further, a mixture obtained by adding 100% by weight of the mixture as a base resin and adding 40% to 70% by weight of a plasticizer can also be used.
また、可塑剤としては、フタル酸系、リン酸系、脂肪族系、ポリエステル系、トリメリット酸系、ピロメリット酸系等の公知のものを用いることができる。 As the plasticizer, known ones such as phthalic acid, phosphoric acid, aliphatic, polyester, trimellitic acid, and pyromellitic acid can be used.
さらに、この他、最外層21中には、安定剤、滑剤、加工助剤、二次可塑剤兼安定剤等が含まれていてもよい。
In addition, the
直鎖低密度ポリエチレンとしては、特に限定されないが、例えば、エチレンにヘキセンまたはオクテンを共重合させたものが用いられ、密度0.935g/cm2以下、融点120℃以上、軟化点110℃以上のものが好ましく用いられる。 The linear low-density polyethylene is not particularly limited, and for example, a copolymer obtained by copolymerizing hexene or octene with ethylene has a density of 0.935 g / cm 2 or less, a melting point of 120 ° C. or more, and a softening point of 110 ° C. or more. Those are preferably used.
最外層21をかかる構成のものとすることで、封止用フィルム100を、優れた耐熱性を有するものとし得るとともに、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を150%以上3500%以下に設定することができる。
By making the
また、最外層21の平均厚さは、5μm以上60μm以下であることが好ましく、10μm以上40μm以下であることがより好ましい。最外層21の平均厚さをかかる範囲内に設定することにより、封止用フィルム100に耐熱性を確実に付与し得るとともに、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を150%以上3500%以下の範囲内に確実に設定することができる。
Moreover, the average thickness of the
なお、封止用フィルム100が、封止用フィルム被覆電子部品搭載基板50の外側に対する耐熱性を考慮する必要がないものである場合には、封止用フィルム100における最外層21の形成を省略してもよい。
When the sealing
中間層22は、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を150%以上3500%以下に設定するものとすることを目的に、ポリアミド系樹脂を主材料として含有する層である。
The
また、このポリアミド系樹脂としては、例えば、カプロラクタムとラウリルラクタムとからなるナイロン−6,12、または、ヘキサメチレンジアミンとアジピン酸とカプロラクタムとからなるナイロン−6−6,6において6−ナイロンの比率が30%以上90%以下のもののような共重合ナイロンであることが好ましい。このような共重合ナイロンを用いることにより、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を前記範囲内に確実に設定することができる。
In addition, as the polyamide-based resin, for example, nylon-6,12 composed of caprolactam and lauryllactam, or nylon-6-6,6 composed of hexamethylenediamine, adipic acid and caprolactam, the ratio of 6-nylon Is preferably a copolymer nylon such as those having a ratio of 30% to 90%. By using such copolymer nylon, the elongation at the softening point of the sealing
さらに、共重合ナイロンにおける、6−ナイロンの比率が50%以上85%以下、融点が200℃以下、重量平均分子量が20,000以上であることがより好ましい。これにより、中間層22の適度な溶融粘度の低下が図られるため、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を前記範囲内により確実に設定し得るとともに、封止用フィルム100の製造時における中間層22の成膜性を維持することができる。
Further, it is more preferable that the ratio of 6-nylon in the copolymer nylon is 50% or more and 85% or less, the melting point is 200 ° C. or less, and the weight average molecular weight is 20,000 or more. Thereby, since the fall of the moderate melt viscosity of the intermediate |
また、中間層22の平均厚さは、1μm以上40μm以下であることが好ましく、5μm以上20μm以下であることがより好ましい。中間層22の平均厚さをかかる範囲内に設定することにより、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を150%以上3500%以下の範囲内に確実に設定することができる。
The average thickness of the
中間層23は、封止用フィルム100に酸素ガスバリア性を付与するためのものであり、酸素ガスバリア性樹脂を含有する層である。
The
この酸素ガスバリア性樹脂としては、前記第1実施形態の最外層11で挙げたものと同様に、エチレン−ビニルアルコール共重合体ケン化物のうち、共重合されるエチレン含有量が27〜44モル%のものであることが好ましい。
As the oxygen gas barrier resin, the ethylene content to be copolymerized in the saponified ethylene-vinyl alcohol copolymer is 27 to 44 mol%, as in the
また、中間層23の平均厚さは、1μm以上30μm以下であることが好ましく、5μm以上15μm以下であることがより好ましい。中間層23の平均厚さをかかる範囲内に設定することにより、封止用フィルム100に酸素ガスバリア性を確実に付与し得るとともに、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を150%以上3500%以下の範囲内に確実に設定することができる。
The average thickness of the
なお、中間層22と中間層23とは、最外層21側からこの順で積層される場合の他、最外層21側から中間層23と中間層22とがこの順で積層されていてもよい。
The
また、封止用フィルム100に、酸素ガスバリア性を付与する必要がない場合には、封止用フィルム100における中間層23の形成を省略してもよい。
Further, when it is not necessary to provide the
最内層24は、電子部品搭載基板45を封止用フィルム100で被覆する際に、電子部品4と密着(接触)する層であり、さらに、封止用フィルム100を基板5にヒートシールさせるための層として機能させることを目的に、エチレン系ヒートシール性樹脂を主材料として含有する層である。
The
このような最内層24に含まれるエチレン系ヒートシール性樹脂としては、前記第1実施形態の最内層14で挙げたのと同様のものを用いることができる。
As the ethylene-based heat-sealable resin contained in the
この最内層24の平均厚さは、1μm以上20μm以下であることが好ましく、5μm以上15μm以下であることがより好ましい。最内層24の平均厚さをかかる範囲内に設定することにより、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を150%以上3500%以下の範囲内に確実に設定することができる。
The average thickness of the
なお、酸化防止剤等の添加剤が中間層23から溶出するのは、主として、電子部品4等の駆動により、封止用フィルム100が加熱されるときであるため、封止用フィルム100を、最内層24を備える構成とすることで、電子部品搭載基板45が封止用フィルム100で被覆された構成をなす封止用フィルム被覆電子部品搭載基板50の耐熱性の向上を図ることができる。
The additive such as an antioxidant is eluted from the
なお、封止用フィルム100において、中間層23により基板5に対するシール性を確保し得る場合には、封止用フィルム100における最内層24の形成を省略してもよい。
In addition, in the
また、封止用フィルム100では、前記第1実施形態と同様に、最外層21と中間層22との間、中間層22と中間層23との間、中間層23と最内層24との間には、接着性を付与したり、あるいは接着性を高めるために必要に応じて接着層を設けるようにすることもできる。
Further, in the
なお、最外層21と中間層22との間または中間層22と中間層23との間に接着層を介挿する構成とする場合、接着層と中間層22との積層体は、これら接着層と中間層22とが繰り返し積層された繰り返し体であってもよいし、さらに、接着層と中間層23との積層体は、これら接着層と中間層23とが繰り返し積層された繰り返し体であってもよい。
In addition, when it is set as the structure which inserts an adhesive layer between the
また、本実施形態では、中間層22により、ポリアミド系樹脂を主材料として含有する層が構成される。
In the present embodiment, the
さらに、前記第1実施形態および第2実施形態の封止用フィルム100を製造する製造方法については、特に限定されず、例えば、公知の共押出法、ドライラミネート法等を用いて、成膜および積層を行うことにより得ることができる。
Further, the production method for producing the sealing
ここで、封止用フィルム100を、前記第1実施形態および第2実施形態で示した多層体で構成することにより、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を比較的容易に150%以上3500%以下に設定することができるが、この伸び率は、150%以上3500%以下であればよいが、150%以上3000%以下であることが好ましく、500%以上2000%以下であることがより好ましい。これにより、封止用フィルム100を用いて、電子部品搭載基板45が備える凹凸6の被覆に適用した際に、凹凸6の形状に対して優れた追従性をもって封止した状態で被覆することができ、かつ、封止用フィルム100の途中で破断されるのを的確に抑制または防止することができる。
Here, by forming the sealing
また、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を前記範囲内とすることにより、基板5に設けられた凹凸6における段差が10mm以上のように段差が大きいものであったとしても、封止用フィルム100を凹凸6の形状に対応して追従させることができる。
Further, by setting the elongation at the softening point of the sealing
なお、破断伸び(軟化点における伸び率)の測定は、オートグラフ装置(例えば、島津製作所製、AUTOGRAPH AGS−X等)を用いて、JIS K 6251に記載の方法に準拠して測定することができる。 The elongation at break (elongation at the softening point) can be measured according to the method described in JIS K 6251 using an autograph device (for example, AUTOGRAPH AGS-X manufactured by Shimadzu Corporation). it can.
また、封止用フィルム100の軟化点は、動的粘弾性測定装置(例えば、セイコーインスツル社製、EXSTAR6000等)を用いて、チャック間距離20mm、昇温速度5℃/および角周波数10Hzの条件で測定し得る。
The softening point of the sealing
さらに、封止用フィルム100の25℃以上80℃以下の温度範囲での線膨張率は、100ppm/K以下であることが好ましく、5ppm/K以上50ppm/K以下であることがより好ましい。封止用フィルム100の25℃以上80℃以下の温度範囲での線膨張率がこのような範囲の値であると、封止用フィルム100の加熱時において、封止用フィルム100は、優れた伸縮性を有するものとなるため、封止用フィルム100の凹凸6に対する形状追従性をより確実に向上させることができる。さらに、封止用フィルム100と、基板5さらには電子部品4との間で、優れた密着性を維持することができるため、電子部品搭載基板45の駆動を繰り返すことで生じる発熱に起因する封止用フィルム100の電子部品搭載基板45からの剥離をより的確に抑制または防止することができる。なお、封止用フィルム100の線膨張率は、例えば、動的粘弾性測定装置(例えば、セイコーインスツル社製、EXSTAR6000等)を用いて算出し得る。
Furthermore, the linear expansion coefficient in the temperature range of 25 ° C. or more and 80 ° C. or less of the sealing
また、封止用フィルム100の80℃における貯蔵弾性率は、1×105Pa以上であることが好ましく、2×105Pa以上9×108Pa以下であることがより好ましい。これにより、封止用フィルム100を用いて、電子部品搭載基板45が備える凹凸6を被覆する際に、封止用フィルム100を凹凸6の形状に対応してより確実に追従させることができる。そのため、封止用フィルム100を凹凸6に対してより優れた密着性(気密性)をもって、被覆し得ることから、封止用フィルム100の被覆により、湿気や埃等の外部因子に対するバリア性をより確実に向上させることができる。なお、封止用フィルム100の80℃における貯蔵弾性率は、動的粘弾性測定装置(例えば、セイコーインスツル社製、EXSTAR6000等)を用いて、チャック間距離20mm、昇温速度5℃/分及び角周波数10Hzの条件で測定し得る。
Further, the storage elastic modulus at 80 ° C. of the sealing
封止用フィルム100の全体としての平均厚さは、10μm以上200μm以下であることが好ましく、20μm以上150μm以下であることがより好ましい。封止用フィルム100の平均厚さをかかる範囲内に設定することにより、封止用フィルム100の途中において、封止用フィルム100が破断するのを的確に抑制または防止し得るとともに、封止用フィルム100の軟化点における伸び率を150%以上3500%以下の範囲内に確実に設定することができる。
The average thickness of the sealing
<電子部品搭載基板の封止方法>
次に、上述した本発明の封止用フィルムを用いた電子部品搭載基板の封止方法について説明する。
<Method of sealing electronic component mounting substrate>
Next, a method for sealing an electronic component mounting substrate using the above-described sealing film of the present invention will be described.
本実施形態の電子部品搭載基板の封止方法は、基板5と電子部品4とを覆うように封止用フィルム100を配置する配置工程と、封止用フィルム100を加熱し軟化させるとともに、減圧する加熱・減圧工程と、封止用フィルム100を冷却させるとともに、加圧することで、基板5と電子部品4とを封止用フィルム100で被覆する冷却・加圧工程とを有する。
The electronic component mounting substrate sealing method of the present embodiment includes an arranging step of arranging the sealing
図3は、本発明の封止用フィルムを用いた電子部品搭載基板の封止方法を説明するための縦断面図である。 FIG. 3 is a longitudinal sectional view for explaining a method of sealing an electronic component mounting board using the sealing film of the present invention.
以下、電子部品搭載基板の封止方法の各工程について、順次説明する。
(配置工程)
まず、図3(a)に示すように、電子部品搭載基板45が備える基板5と電子部品4とを覆うように封止用フィルム100を電子部品搭載基板45上に配置する。
Hereafter, each process of the sealing method of an electronic component mounting substrate is demonstrated sequentially.
(Arrangement process)
First, as illustrated in FIG. 3A, the sealing
(加熱・減圧工程)
次に、図3(b)に示すように、封止用フィルム100を加熱し軟化させるとともに、減圧する。
(Heating and decompression process)
Next, as shown in FIG. 3B, the sealing
このように、封止用フィルム100を加熱することにより、封止用フィルム100が軟化し、その結果、基板5上に電子部品4を搭載することにより形成された凹凸6の形状に対して、追従し得る状態となる。
Thus, by heating the
また、この際、電子部品搭載基板45および封止用フィルム100を、減圧雰囲気下に配置することで、封止用フィルム100の上側ばかりでなく、電子部品搭載基板45と封止用フィルム100との間の気体(空気)が脱気される。
At this time, the electronic component mounting substrate 45 and the
これにより、封止用フィルム100が伸展しながら、凹凸6の形状に若干追従した状態となる。
Thereby, it will be in the state which followed the shape of the unevenness | corrugation 6 a little while extending the
本工程により、電子部品搭載基板45に形成された凹凸6の形状に対して、封止用フィルム100を、追従し得る状態とすることができる。
By this step, the sealing
なお、封止用フィルム100の加熱と、雰囲気の減圧とは、加熱の後に減圧してもよく、減圧の後に加熱してもよいが、加熱と減圧とをほぼ同時に行うことが好ましい。これにより、軟化した封止用フィルム100を、凹凸6の形状に確実に若干追従した状態とすることができる。
The heating of the sealing
(冷却・加圧工程)
次に、図3(c)に示すように、封止用フィルム100を冷却させるとともに、加圧する。
(Cooling / pressurization process)
Next, as shown in FIG. 3C, the sealing
このように、減圧された雰囲気から加圧することで、前記加熱・減圧工程において、電子部品搭載基板45と封止用フィルム100との間が脱気され、減圧状態が維持されていることから、封止用フィルム100がさらに伸展することとなり、その結果、凹凸6の形状に優れた密着度(気密度)で追従した状態で、軟化した状態の封止用フィルム100により、基板5と電子部品4とが被覆される。
Thus, by pressurizing from the decompressed atmosphere, in the heating and decompression step, the space between the electronic component mounting substrate 45 and the
この際、本発明では、封止用フィルム100の軟化点における伸び率が150%以上3500%以下となっている。そのため、封止用フィルム100は、この加圧時に、電子部品搭載基板45に形成された凹凸6に対してより優れた形状追従性をもって伸展させることができるため、軟化した状態の封止用フィルム100により、基板5と電子部品4とを優れた密着性をもって被覆することができる。
At this time, in the present invention, the elongation at the softening point of the sealing
そして、封止用フィルム100により、基板5と電子部品4とを、優れた密着性(気密性)をもって被覆した状態で、封止用フィルム100を冷却することで、この状態を維持したまま、封止用フィルム100が固化する。
And in the state which coat | covered the board | substrate 5 and the
これにより、電子部品搭載基板45に形成された凹凸6の形状に追従した状態で、封止用フィルム100により、基板5と電子部品4とが被覆された封止用フィルム被覆電子部品搭載基板50が得られることとなる。そのため、この封止用フィルム被覆電子部品搭載基板50において、湿気や埃等の外部因子と電子部品4が接触するのを的確に抑制または防止することができる。したがって、得られる封止用フィルム被覆電子部品搭載基板50ひいてはこの封止用フィルム被覆電子部品搭載基板50を備える電子機器の信頼性の向上が図られる。
Accordingly, the sealing film-covered electronic
本工程により、電子部品搭載基板45に形成された凹凸6の形状に対応して、封止用フィルム100を、優れた密着性をもって被覆させることができる。
By this step, the sealing
なお、封止用フィルム100の冷却と、雰囲気の加圧とは、加圧の後に冷却してもよいが、冷却と加圧とをほぼ同時に行うことが好ましい。これにより、凹凸6の形状に対応して、封止用フィルム100をより優れた密着性をもって被覆させることができる。
In addition, although cooling of the
上記の工程を経ることで、封止用フィルム100により、基板5と電子部品4とが被覆された封止用フィルム被覆電子部品搭載基板50を得ることができる。
By passing through said process, the sealing film covering electronic component mounting board |
以上、本発明の封止用フィルムおよび封止用フィルム被覆電子部品搭載基板について説明したが、本発明は、これらに限定されるものではない。 Although the sealing film and the film-covered electronic component mounting substrate of the present invention have been described above, the present invention is not limited to these.
例えば、本発明の封止用フィルムでは、前記第1、第2実施形態の任意の構成を組み合わせることもできる。 For example, in the sealing film of the present invention, any configurations of the first and second embodiments can be combined.
例えば、本発明の封止用フィルムには、同様の機能を発揮し得る、任意の層が追加されていてもよい。 For example, the sealing film of the present invention may be added with an arbitrary layer that can exhibit the same function.
以下、本発明を実施例に基づいて詳細に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。 EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated in detail based on an Example, this invention is not limited to this.
(実施例1)
<封止用フィルムの製造>
封止用フィルムを得るために、形成すべき封止用フィルムの各層を構成する樹脂として、それぞれ、以下に示すものを用意した。
Example 1
<Manufacture of sealing film>
In order to obtain a sealing film, the following resins were prepared as resins constituting each layer of the sealing film to be formed.
すなわち、最外層11を構成する樹脂として、EVOH(クラレ製、「エバールSP295B」、密度1.13g/cm3 、メルトインデックス5.5g/10min(190℃測定)、融点163℃、エチレン含有量44モル%)を用意した。
That is, as the resin constituting the
また、中間層13を構成する樹脂として、接着樹脂(三井化学製、「アドマーNF536」、密度0.905kg/m3 、MFR3.5g/10min(190℃測定)、融点120℃)を用意した。
Further, as a resin constituting the
さらに、中間層12を構成する樹脂として、アイオノマー樹脂(三井デュポンポリケミカル製、「ハイミラン1855」、密度0.940kg/m3 、MFR1.3g/10min(190℃測定)、融点97℃)を用意した。
Further, as a resin constituting the
また、最内層14を構成する樹脂として、エチレン−酢酸ビニル共重合樹脂(三井デュポンポリケミカル製、「エバフレックスV5714RC」、密度0.940kg/m3 、MFR2.8g/10min(190℃測定)、融点89℃、酢酸ビニル含有量16重量%)を用意した。
Moreover, as resin which comprises the
次に、これら最外層11を構成する樹脂、中間層12を構成する樹脂、中間層13を構成する樹脂および最内層14を構成する樹脂を用いて、共押出法により、最外層11/中間層13/中間層12/最内層14の順に積層された積層体で構成される実施例1の封止用フィルムを得た。
Next, the
なお、得られた実施例1の封止用フィルムの各層の平均厚さ(μm)は、それぞれ、最外層11より13/9/13/65μmであり、合計厚さは、100μmであった。
The average thickness (μm) of each layer of the obtained sealing film of Example 1 was 13/9/13/65 μm from the
また、実施例1の封止用フィルムの軟化点における伸び率を測定したところ1200%であった。 Moreover, it was 1200% when the elongation rate in the softening point of the film for sealing of Example 1 was measured.
さらに、実施例1の封止用フィルムにおける、25℃以上80℃以下の温度範囲での線膨張率を測定したところ、20ppm/Kであった。 Furthermore, when the linear expansion coefficient in the temperature range of 25 degreeC or more and 80 degrees C or less in the film for sealing of Example 1 was measured, it was 20 ppm / K.
また、封止用フィルムの80℃における貯蔵弾性率を測定したところ、2×107Paであった。 Moreover, it was 2 * 10 < 7 > Pa when the storage elastic modulus in 80 degreeC of the film for sealing was measured.
<封止用フィルム被覆電子部品搭載基板の製造>
まず、任意の電子部品搭載基板を用意し、その後、スキンパック包装機(ハイパック社製、「HI−750シリーズ」)が備えるチャンバー内において、電子部品搭載基板が有する基板と電子部品とを覆うように得られた実施例1の封止用フィルムを配置した。
<Manufacture of film-coated electronic component mounting substrate for sealing>
First, an arbitrary electronic component mounting board is prepared, and then the electronic component mounting board and the electronic component are covered in a chamber of a skin pack packaging machine (“HI-750 series” manufactured by Hipack). The sealing film of Example 1 obtained as described above was arranged.
次に、封止用フィルムを加熱し軟化させるとともに、チャンバー内を減圧した。なお、封止用フィルムを加熱した温度は125℃であり、チャンバーの圧力は0.4kPaであり、かかる加熱・減圧の条件を1分間保持した。 Next, the sealing film was heated and softened, and the inside of the chamber was decompressed. In addition, the temperature which heated the film for sealing was 125 degreeC, the pressure of the chamber was 0.4 kPa, and the conditions of this heating and pressure reduction were hold | maintained for 1 minute.
次に、チャンバー内を常温・常圧に戻すことで、封止用フィルムを冷却するとともに、チャンバー内を加圧した。これにより、基板と電子部品とが封止用フィルムで被覆された実施例1の封止用フィルム被覆電子部品搭載基板を得た。 Next, by returning the inside of the chamber to room temperature and normal pressure, the sealing film was cooled and the inside of the chamber was pressurized. As a result, the sealing film-covered electronic component mounting substrate of Example 1 in which the substrate and the electronic component were covered with the sealing film was obtained.
(実施例2)
前記実施例1の中間層13のみで構成される実施例2の封止用フィルムおよび封止用フィルム被覆電子部品搭載基板を得た。
(Example 2)
The sealing film and the film-covered electronic component mounting substrate of Example 2 constituted only by the
(実施例3)
前記実施例1の中間層12のみで構成される実施例3の封止用フィルムおよび封止用フィルム被覆電子部品搭載基板を得た。
(Example 3)
The sealing film and the film-covered electronic component mounting substrate of Example 3 configured only by the
(実施例4)
封止用フィルムを得るために、形成すべき封止用フィルムの層を構成する樹脂として、以下に示すものを用意した。
Example 4
In order to obtain the sealing film, the following resins were prepared as the resin constituting the layer of the sealing film to be formed.
そして、この層を構成する樹脂を用いて、押出法により、実施例4の封止用フィルムを得た。なお、得られた実施例4の封止用フィルムの平均厚さ(μm)は、100μmであった。 And the film for sealing of Example 4 was obtained by extrusion method using resin which comprises this layer. In addition, the average thickness (micrometer) of the film for sealing of obtained Example 4 was 100 micrometers.
ポリプロピレン樹脂(住友化学製、「ノーブレンFS2011DG2」、密度0.900g/cm3 、メルトインデックス2.0g/10min(230℃測定)、融点160℃) Polypropylene resin (manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd., “Nobrene FS2011DG2”, density 0.900 g / cm 3 , melt index 2.0 g / 10 min (230 ° C. measurement), melting point 160 ° C.)
(実施例5)
封止用フィルムを得るために、形成すべき封止用フィルムの各層を構成する樹脂として、それぞれ、以下に示すものを用意したこと以外は、前記実施例1と同様にして、共押出法により、最外層21/中間層22/中間層23/最内層24の順に積層された積層体で構成される実施例5の封止用フィルムを得た。
(Example 5)
In order to obtain the sealing film, the resin constituting each layer of the sealing film to be formed was prepared by coextrusion in the same manner as in Example 1 except that the following materials were prepared. Thus, a sealing film of Example 5 composed of a laminate in which the
最外層21を構成する樹脂として、直鎖状低密度ポリエチレン(宇部丸善ポリエチレン製、「4040FC」、密度938g/cm3 、メルトインデックス3.5g/10min(190℃測定)、融点126℃)を用意した。
As the resin constituting the
さらに、中間層22を構成する樹脂として、ポリアミド樹脂(宇部興産製、「1030B2」、相対粘度4.1(96%硫酸)、融点220℃)を用意した。
Furthermore, as a resin constituting the
また、中間層23を構成する樹脂として、EVOH(クラレ製、「エバールJ171B」、密度1.18g/cm3 、メルトインデックス1.7g/10min(190℃測定)、融点183℃、エチレン含有量32モル%)を用意した。
また、最内層24を構成する樹脂として、最外層21と同じ樹脂を用意した。
Further, as a resin constituting the
Further, the same resin as the
(比較例1)
比較例1として、市販の二軸延伸PETフィルム(東洋紡社製、銘柄:E5107)を用意した。
(Comparative Example 1)
As Comparative Example 1, a commercially available biaxially stretched PET film (manufactured by Toyobo Co., Ltd., brand: E5107) was prepared.
<評価試験>
各実施例および比較例で作製した封止用フィルムまたは封止用フィルム被覆電子部品搭載基板について、形状追従性、シワの発生の有無、耐熱性の評価を行った。以下に、これらの評価方法について説明する。
<Evaluation test>
The sealing film or sealing film-covered electronic component mounting substrate produced in each example and comparative example was evaluated for shape followability, presence or absence of wrinkles, and heat resistance. Below, these evaluation methods are demonstrated.
<<形状追従性>>
形状追従性は、以下のようにして評価した。
<< Shape followability >>
The shape followability was evaluated as follows.
すなわち、各実施例および比較例で作製した封止用フィルム被覆電子部品搭載基板について、被覆した凹凸における空隙の有無により、以下の評価基準に基づいて判断した。なお、空隙の有無は、顕微鏡を用いて観察した。 That is, the sealing film-covered electronic component mounting substrate produced in each example and comparative example was determined based on the following evaluation criteria depending on the presence or absence of voids in the coated unevenness. The presence or absence of voids was observed using a microscope.
各符号は以下のとおりであり、○を合格とし、×を不合格とした。
○ :段差の底部にまで、充填された状態で被覆されている
× :段差の底部において明らかな空隙が形成された状態で被覆されている
Each code | symbol is as follows, (circle) was set as the pass and x was set as the disqualification.
○: Covered in a filled state up to the bottom of the step ×: Covered with a clear gap formed at the bottom of the step
<<シワの有無>>
シワの有無は、以下のようにして評価した。
すなわち、各実施例および比較例で作製した封止用フィルム被覆電子部品搭載基板について、被覆した上面におけるシワの有無により、以下の評価基準に基づいて判断した。なお、シワの有無は、マイクロスコープを用いて観察した。
<< Wrinkle presence >>
The presence or absence of wrinkles was evaluated as follows.
That is, the sealing film-covered electronic component mounting substrate produced in each Example and Comparative Example was determined based on the following evaluation criteria depending on the presence or absence of wrinkles on the coated top surface. The presence or absence of wrinkles was observed using a microscope.
各符号は以下のとおりであり、○を合格とし、×を不合格とした。
○:封止用フィルムの上面の全体にシワが認められない
×:封止用フィルムの上面の凸部に対応する位置に明らかなシワが認められる
Each code | symbol is as follows, (circle) was set as the pass and x was set as the disqualification.
○: Wrinkles are not observed on the entire top surface of the sealing film ×: Clear wrinkles are observed at positions corresponding to the convex portions on the top surface of the sealing film
表1から明らかなように、各実施例の封止用フィルムでは、軟化点における伸び率が150%以上3500%以下であることにより、凹部の底部における空隙、さらには封止用フィルムの上面におけるシワが生じることなく、電子部品搭載基板に対して被覆することが可能であった。 As is clear from Table 1, in the sealing films of each example, the elongation at the softening point is 150% or more and 3500% or less, so that the voids at the bottom of the recesses, and further on the top surface of the sealing film. It was possible to coat the electronic component mounting substrate without causing wrinkles.
これに対して、比較例の封止用フィルムでは、軟化点における伸び率が150%未満であり、これに起因して、封止用フィルムによる電子部品搭載基板に対する被覆の際に、凹部の底部における空隙および封止用フィルムの上面におけるシワが発生する結果となった。 On the other hand, in the sealing film of the comparative example, the elongation at the softening point is less than 150%, and as a result, when the electronic component mounting substrate is covered with the sealing film, the bottom of the recess As a result, voids and wrinkles on the upper surface of the sealing film were generated.
100 封止用フィルム
11 最外層
12 中間層
13 中間層
14 最内層
4 電子部品
5 基板
6 凹凸
21 最外層
22 中間層
23 中間層
24 最内層
45 電子部品搭載基板
50 封止用フィルム被覆電子部品搭載基板
61 凸部
62 凹部
DESCRIPTION OF
Claims (7)
樹脂材料を主材料として構成され、JIS K 6251に準拠して求められる軟化点における伸び率が150%以上3500%以下であることを特徴とする封止用フィルム。 A sealing film used for covering a substrate provided on an electronic component mounting substrate and an electronic component mounted on the substrate,
A sealing film comprising a resin material as a main material and having an elongation at a softening point of 150% or more and 3500% or less determined in accordance with JIS K 6251.
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