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JP2018052035A - Substrate protection film, method for manufacturing mems device and method for manufacturing liquid jet head - Google Patents

Substrate protection film, method for manufacturing mems device and method for manufacturing liquid jet head Download PDF

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JP2018052035A
JP2018052035A JP2016192991A JP2016192991A JP2018052035A JP 2018052035 A JP2018052035 A JP 2018052035A JP 2016192991 A JP2016192991 A JP 2016192991A JP 2016192991 A JP2016192991 A JP 2016192991A JP 2018052035 A JP2018052035 A JP 2018052035A
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JP
Japan
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substrate
protective film
film
mems device
peeling
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Application number
JP2016192991A
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Japanese (ja)
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達郎 堀田
Tatsuro Hotta
達郎 堀田
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Abstract

【課題】基板への貼付および剥離等の自動化に対応可能な基板保護フィルム、MEMSデバイスの製造方法、および、液体噴射ヘッドの製造方法を提供する。【解決手段】MEMSデバイスの製造において当該MEMSデバイスを構成する基板(37,38)に貼付される基板保護フィルム(41)であって、基板との接着領域の端よりも基板の外縁側に向けて延出した延出部(51)を有し、当該延出部の端は、基板と接着されていないことを特徴とする。【選択図】図9The present invention provides a substrate protective film, a MEMS device manufacturing method, and a liquid ejecting head manufacturing method that can handle automation of pasting and peeling on a substrate. A substrate protective film (41) to be attached to a substrate (37, 38) constituting the MEMS device in the manufacture of the MEMS device, and directed toward an outer edge side of the substrate rather than an end of an adhesion region with the substrate. It has the extended part (51) extended, and the edge of the said extended part is not adhere | attached on the board | substrate, It is characterized by the above-mentioned. [Selection] Figure 9

Description

本発明は、例えば、MEMSデバイスの製造時において基板の保護に使用される基板保護フィルム、MEMSデバイスの製造方法、および、液体噴射ヘッドの製造方法に関する。   The present invention relates to, for example, a substrate protective film used for protecting a substrate at the time of manufacturing a MEMS device, a method for manufacturing a MEMS device, and a method for manufacturing a liquid jet head.

MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)デバイスとしては、複数の基板が積層された状態で接着剤により接合されたものがある。このMEMSデバイスとしての一態様としての液体噴射ヘッドには、例えば、圧力室等の流路が形成された基板等、複数の基板が積層されたものがある(例えば、特許文献1参照)。このような構成において、上記基板としてはシリコン単結晶性基板(以下、単にシリコン基板と言う)が用いられ、当該シリコン基板に対してエッチング加工が施されることにより上記流路等が形成される。   Some MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) devices are bonded with an adhesive in a state where a plurality of substrates are stacked. As a liquid ejecting head as an aspect of the MEMS device, for example, there is a liquid jet head in which a plurality of substrates such as a substrate in which a flow path such as a pressure chamber is formed is stacked (see, for example, Patent Document 1). In such a configuration, a silicon single crystal substrate (hereinafter simply referred to as a silicon substrate) is used as the substrate, and the flow path and the like are formed by etching the silicon substrate. .

特開2015−024528号公報Japanese Patent Laying-Open No. 2015-024528

ところで、上記の基板を備えたMEMSの製造工程においては、基板に対して加工を施したり、加工ステージ間で基板を搬送させたりするため、複数の吸引孔が開設された吸引保持治具によって基板を吸着して保持する構成が採用される場合がある。この場合、基板において吸引保持治具により吸着・保持される側の面(以下、保持面)にも例えば駆動素子等の構造体や空部等が配設されていることがあるため、当該保持面を保護するための保護フィルムが保持面に貼付される。このような保護フィルムを基板の保持面に貼付する工程や、所定の加工後に保持面から保護フィルムを剥離する工程の自動化が望まれている。特に、基板に一旦貼付された基板保護フィルムを、裂けたり一部が基板に残ったりすることなく剥離することが自動化するにあたっての課題であった。   By the way, in the manufacturing process of MEMS provided with said board | substrate, in order to process a board | substrate or to convey a board | substrate between process stages, it is a board | substrate with the suction holding jig in which several suction holes were opened. There is a case where a structure for adsorbing and holding is used. In this case, for example, a structure such as a drive element or an empty portion may be disposed on the surface of the substrate that is sucked and held by the suction holding jig (hereinafter referred to as a holding surface). A protective film for protecting the surface is attached to the holding surface. Automation of the process of sticking such a protective film on the holding surface of a board | substrate and the process of peeling a protective film from a holding surface after predetermined | prescribed processing is desired. In particular, it was a problem in automating the peeling of the substrate protective film once attached to the substrate without tearing or leaving part of it on the substrate.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、基板への貼付および剥離等の自動化に対応可能な基板保護フィルム、MEMSデバイスの製造方法、および、液体噴射ヘッドの製造方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of such circumstances, and the object of the present invention is to provide a substrate protective film, a MEMS device manufacturing method, and a liquid ejecting head that can handle automation such as pasting and peeling on a substrate. It is to provide a manufacturing method.

本発明の基板保護フィルムは、上記目的を達成するために提案されたものであり、MEMSデバイスの製造において当該MEMSデバイスを構成する基板に貼付される基板保護フィルムであって、
前記基板との接着領域の端よりも前記基板の外縁側に向けて延出した延出部を有することを特徴とする。
なお、「基板」とは、単一の基板および複数の基板の積層体の両方を含む意味である。
The substrate protective film of the present invention has been proposed to achieve the above object, and is a substrate protective film that is attached to a substrate that constitutes the MEMS device in the production of the MEMS device,
It has the extended part extended toward the outer edge side of the said board | substrate rather than the edge of the adhesion | attachment area | region with the said board | substrate.
The “substrate” is meant to include both a single substrate and a laminate of a plurality of substrates.

上記発明によれば、延出部は、基板保護フィルムと基板との接着領域よりも基板の外縁側に位置して当該基板と接着されていないので、当該延出部の端を剥離の起点とすることができる。これにより、基板への基板保護フィルムの貼付や剥離の自動化が可能となり、特に、基板保護フィルムが裂ける等の不具合を抑制しつつ、基板に貼付された当該基板保護フィルムを、上記延出部の端を剥離の起点として剥離することが容易となる。   According to the above invention, since the extension part is located on the outer edge side of the substrate with respect to the adhesion region between the substrate protective film and the substrate and is not adhered to the substrate, the end of the extension part is defined as a starting point of peeling. can do. This makes it possible to automate the pasting and peeling of the substrate protective film on the substrate, and in particular, while suppressing problems such as tearing of the substrate protective film, the substrate protective film stuck to the substrate is It becomes easy to peel off using the edge as a starting point of peeling.

上記構成において、前記基板の位置決めに係るアライメントマークに対応する位置に、当該アライメントマークを露出可能な開口部を有する構成を採用することが望ましい。   In the above configuration, it is desirable to employ a configuration having an opening that can expose the alignment mark at a position corresponding to the alignment mark related to the positioning of the substrate.

この構成によれば、基板に基板保護フィルムが貼付されたままでアライメントマークに基づいて基板のアライメントが可能となる。これにより、基板保護フィルムが貼付されたままで基板が規定位置に配置されるので、例えば、フォトリソグラフィー法による加工等を行うことが可能となる。   According to this configuration, the substrate can be aligned based on the alignment mark while the substrate protective film is still attached to the substrate. Thereby, since a board | substrate is arrange | positioned in a prescription | regulation position with a board | substrate protective film affixed, it becomes possible to process by the photolithographic method etc., for example.

上記構成において、前記開口部を区画する辺同士が曲線で接続されている構成を採用することが望ましい。   In the above configuration, it is desirable to employ a configuration in which the sides that define the opening are connected by a curve.

この構成によれば、開口部を区画する部分に角が無いので、基板保護フィルムが基板から剥がされる際に開口部において局所的に応力が集中することが抑制され、これにより、基板保護フィルムが裂けることが抑制される。   According to this configuration, since there is no corner in the portion that defines the opening, it is possible to suppress local concentration of stress in the opening when the substrate protection film is peeled off from the substrate. The tearing is suppressed.

上記構成において、前記延出部が、前記基板保護フィルムの外周方向において異なる位置に複数形成された構成を採用することが望ましい。   The said structure WHEREIN: It is desirable to employ | adopt the structure by which the said extension part was formed two or more in the position which differs in the outer peripheral direction of the said board | substrate protective film.

この構成によれば、基板の結晶方位と基板に区画されるパーツの向き等との関係で基板の搬送方向や基板保護フィルムの貼着および剥離の方向が異なる場合にも対応することが可能となる。   According to this configuration, it is possible to cope with the case where the substrate transport direction and the direction of sticking and peeling of the substrate protective film are different due to the relationship between the crystal orientation of the substrate and the orientation of the parts partitioned on the substrate, etc. Become.

また、本発明のMEMSデバイスの製造方法は、上記何れかの構成の基板保護フィルムを、MEMSデバイスを構成する基板に貼付する保護フィルム貼付工程と、
貼付された前記基板保護フィルムを吸着保持治具により吸着して前記基板を保持した状態で前記基板の位置決めを行うアライメント工程と、
前記位置決めされた前記基板に対して加工を行う加工工程と、
加工後の前記基板から前記基板保護フィルムを剥離する剥離工程と、
を有し、
前記剥離工程において、前記延出部に剥離テープを溶着し、前記延出部を起点として前記基板保護フィルムを前記基板から前記剥離テープとともに剥離することを特徴とする。
Moreover, the manufacturing method of the MEMS device of the present invention includes a protective film sticking step of sticking the substrate protective film having any one of the above structures to a substrate constituting the MEMS device,
An alignment step of positioning the substrate in a state of holding the substrate by adsorbing the affixed substrate protection film with an adsorption holding jig;
A processing step of processing the positioned substrate;
A peeling step of peeling the substrate protective film from the substrate after processing;
Have
In the peeling step, a peeling tape is welded to the extending portion, and the substrate protective film is peeled from the substrate together with the peeling tape, starting from the extending portion.

これによれば、基板に基板保護フィルムを貼付し、当該基板を位置決めし、位置決めされた基板に対し加工を行い、加工後の基板から基板保護フィルムを剥離するまでの一連の工程を自動化することが可能となる。その結果、MEMSデバイスの製造効率が向上する。   According to this, the substrate protective film is affixed to the substrate, the substrate is positioned, the processed substrate is processed, and the series of steps from the substrate being processed to the separation of the substrate protective film is automated. Is possible. As a result, the manufacturing efficiency of the MEMS device is improved.

また、本発明の液体噴射ヘッドの製造方法は、上記MEMSデバイスの製造方法を経ることを特徴とする。   In addition, a method for manufacturing a liquid jet head according to the present invention is characterized by passing through the above-described method for manufacturing a MEMS device.

これによれば、基板保護フィルムの延出部は、基板保護フィルムと基板との接着領域よりも基板の外縁側に位置して当該基板と接着されていないので、当該延出部の端を剥離の起点とすることができる。これにより、基板に基板保護フィルムを貼付し、当該基板を位置決めし、位置決めされた基板に対し加工を行い、加工後の基板から基板保護フィルムを剥離するまでの一連の工程を自動化することが可能となる。その結果、液体噴射ヘッドの製造効率が向上する。   According to this, since the extension part of the substrate protection film is located on the outer edge side of the substrate with respect to the adhesion region between the substrate protection film and the substrate and is not adhered to the substrate, the end of the extension part is peeled off. Can be the starting point. This makes it possible to attach a substrate protection film to a substrate, position the substrate, process the positioned substrate, and automate a series of steps from peeling the substrate protection film to the processed substrate It becomes. As a result, the manufacturing efficiency of the liquid jet head is improved.

プリンターの内部構成を説明する斜視図である。2 is a perspective view illustrating an internal configuration of the printer. FIG. MEMSデバイス(記録ヘッド)の構成を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the structure of a MEMS device (recording head). 図2におけるA−A線断面図である。It is the sectional view on the AA line in FIG. MEMSデバイス(記録ヘッド)の製造工程を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the manufacturing process of a MEMS device (recording head). MEMSデバイス(記録ヘッド)の製造工程を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing process of a MEMS device (recording head). MEMSデバイス(記録ヘッド)の製造工程を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing process of a MEMS device (recording head). MEMSデバイス(記録ヘッド)の製造工程を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing process of a MEMS device (recording head). フィルム貼付装置の構成を説明する模式図である。It is a schematic diagram explaining the structure of a film sticking apparatus. 基板保護フィルムの構成を説明する平面図である。It is a top view explaining the structure of a board | substrate protective film. 図9における領域Xの断面図である。It is sectional drawing of the area | region X in FIG. 切欠き部の構成を説明する拡大図である。It is an enlarged view explaining the structure of a notch part. MEMSデバイス(記録ヘッド)の製造工程を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing process of a MEMS device (recording head). MEMSデバイス(記録ヘッド)の製造工程を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing process of a MEMS device (recording head). MEMSデバイス(記録ヘッド)の製造工程を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing process of a MEMS device (recording head). 加熱治具によって延出部と剥離テープとが溶着される状態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the state by which an extension part and a peeling tape are welded with a heating jig. MEMSデバイス(記録ヘッド)の製造工程を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing process of a MEMS device (recording head). MEMSデバイス(記録ヘッド)の製造工程を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing process of a MEMS device (recording head).

以下、本発明を実施するための形態を、添付図面を参照して説明する。なお、以下に述べる実施の形態では、本発明の好適な具体例として種々の限定がされているが、本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるものではない。また、本実施形態では、MEMSデバイスの一つの態様である記録ヘッド(インクジェットヘッド)2を用いて説明する。記録ヘッド2においては、例えば、外部からの電気信号を受けて可動領域を駆動させる駆動素子として圧電素子19(図3参照)を備え、また、可動領域の駆動を許容する空間として圧力室15(図3参照)に相当する。また、空間内における圧力変化を駆動素子が電気信号に変換してMEMデバイスの外部に出力する構成にも本発明は適用され得る。   DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In the embodiments described below, various limitations are made as preferred specific examples of the present invention. However, the scope of the present invention is not limited to the following description unless otherwise specified. However, the present invention is not limited to these embodiments. In this embodiment, a description will be given using a recording head (inkjet head) 2 which is one aspect of the MEMS device. In the recording head 2, for example, a piezoelectric element 19 (see FIG. 3) is provided as a drive element that receives an electric signal from the outside and drives the movable region, and a pressure chamber 15 ( This corresponds to FIG. The present invention can also be applied to a configuration in which a drive element converts a pressure change in space into an electrical signal and outputs the electrical signal to the outside of the MEM device.

図1は、プリンター1(液体噴射装置の一種)の内部構成を示す斜視図である。このプリンター1は、記録ヘッド2(液体噴射ヘッドの一種)が取り付けられると共に、液体供給源としてのインクカートリッジ3が着脱可能に取り付けられるキャリッジ4、このキャリッジ4を記録媒体2の紙幅方向、即ち、主走査方向に往復移動させるキャリッジ移動機構7と、主走査方向に直交する副走査方向に記録用紙等の記録媒体2を搬送する紙送り機構8等を備えている。キャリッジ4は、キャリッジ移動機構7によって主走査方向に移動するように構成されている。このプリンター1は、記録媒体2を順次搬送しつつ、キャリッジ4を往復移動させながら当該記録媒体2上に文字や画像等を記録する。なお、インクカートリッジ3がキャリッジ4ではなくプリンター1の本体側に配置され、このインクカートリッジ3内のインクがインク供給チューブを通じて記録ヘッド2側に供給される構成を採用することもできる。   FIG. 1 is a perspective view illustrating an internal configuration of a printer 1 (a type of liquid ejecting apparatus). The printer 1 has a recording head 2 (a kind of liquid ejecting head) attached thereto, and a carriage 4 to which an ink cartridge 3 as a liquid supply source is detachably attached. The carriage 4 is attached to the recording medium 2 in the paper width direction, that is, A carriage moving mechanism 7 that reciprocates in the main scanning direction and a paper feed mechanism 8 that conveys a recording medium 2 such as a recording sheet in a sub-scanning direction orthogonal to the main scanning direction are provided. The carriage 4 is configured to move in the main scanning direction by a carriage moving mechanism 7. The printer 1 records characters, images, and the like on the recording medium 2 while sequentially transporting the recording medium 2 and reciprocating the carriage 4. It is also possible to employ a configuration in which the ink cartridge 3 is disposed not on the carriage 4 but on the main body side of the printer 1 and ink in the ink cartridge 3 is supplied to the recording head 2 side through an ink supply tube.

図2は、本実施形態における記録ヘッド2の平面図、図3は、図2中のA−A線に沿った記録ヘッド2の要部断面図である。本実施形態における記録ヘッド2は、流路形成基板10、ノズルプレート11、アクチュエーターユニット12、及び、封止板13等を積層して構成されている。流路形成基板10は、例えば、ノズルプレート11や封止板13が接合される面(接合面)における面方位が(110)のシリコン単結晶基板から作製されている。この流路形成基板10には、圧力室15を区画する空部が異方性エッチングによってノズル列方向に並べて形成されている。圧力室15は、流路形成基板10の上記空部の一方の開口がノズルプレート11によって塞がれ、同じく空部の他方の開口が振動板14によって塞がれることで形成される空間である。本実施形態における圧力室15(空部)は、ノズル列方向に直交する方向に長尺な略平行四辺形状の開口を有する。   FIG. 2 is a plan view of the recording head 2 in the present embodiment, and FIG. 3 is a cross-sectional view of the main part of the recording head 2 taken along line AA in FIG. The recording head 2 in this embodiment is configured by laminating a flow path forming substrate 10, a nozzle plate 11, an actuator unit 12, a sealing plate 13, and the like. The flow path forming substrate 10 is made of, for example, a silicon single crystal substrate having a surface orientation (110) on the surface (bonding surface) to which the nozzle plate 11 and the sealing plate 13 are bonded. In the flow path forming substrate 10, vacancies defining the pressure chambers 15 are formed side by side in the nozzle row direction by anisotropic etching. The pressure chamber 15 is a space formed by closing one opening of the above-described empty portion of the flow path forming substrate 10 by the nozzle plate 11 and closing the other opening of the empty portion by the diaphragm 14. . The pressure chamber 15 (empty portion) in the present embodiment has a substantially parallelogram-shaped opening that is long in a direction orthogonal to the nozzle row direction.

流路形成基板10の圧力室15の長手方向における他側(ノズル18と連通する側とは反対側)に外れた領域には、各圧力室15に共通なリザーバー16がノズル列方向に沿って形成されている。このリザーバー16と各圧力室15とは、圧力室15毎に設けられた個別供給口17を介して連通されている。このリザーバー16は、インクの種類毎(色毎)に設けられ、複数の圧力室15に共通のインクが貯留される。個別供給口17は、圧力室15よりも狭い幅で形成されており、リザーバー16から圧力室15に流入するインクに対して流路抵抗を付与する。   In a region outside the pressure chamber 15 in the longitudinal direction of the flow path forming substrate 10 (the side opposite to the side communicating with the nozzle 18), a reservoir 16 common to the pressure chambers 15 extends along the nozzle row direction. Is formed. The reservoir 16 and each pressure chamber 15 communicate with each other through an individual supply port 17 provided for each pressure chamber 15. The reservoir 16 is provided for each type of ink (for each color), and common ink is stored in the plurality of pressure chambers 15. The individual supply port 17 is formed with a narrower width than the pressure chamber 15, and imparts flow path resistance to the ink flowing from the reservoir 16 into the pressure chamber 15.

流路形成基板10の下面(振動板14側とは反対側の面)には、ノズルプレート11が、接着剤や熱溶着フィルム等を介して接合されている。ノズルプレート11は、所定のピッチで複数のノズル18が列状に開設された板材である。本実施形態では、所定のピッチ(例えば、360〔dpi〕)で複数のノズル18を列設することでノズル列が構成されている。各ノズル18は、圧力室15において個別供給口17とは反対側の端部で連通する。なお、ノズルプレート11は、例えば、ガラスセラミックス、シリコン単結晶基板、又はステンレス鋼などから構成されている。   The nozzle plate 11 is bonded to the lower surface of the flow path forming substrate 10 (the surface opposite to the vibration plate 14 side) via an adhesive, a heat welding film, or the like. The nozzle plate 11 is a plate material in which a plurality of nozzles 18 are arranged in a row at a predetermined pitch. In this embodiment, the nozzle row is configured by arranging a plurality of nozzles 18 at a predetermined pitch (for example, 360 [dpi]). Each nozzle 18 communicates with the end of the pressure chamber 15 opposite to the individual supply port 17. The nozzle plate 11 is made of, for example, glass ceramics, a silicon single crystal substrate, or stainless steel.

本実施形態におけるアクチュエーターユニット12は、振動板14、圧電素子19、およびリード電極20等から構成される。振動板14は、流路形成基板10の上面に形成された弾性膜21と、この弾性膜21上に形成された絶縁膜22と、から成る。弾性膜21は、例えば二酸化シリコン(SiO)からなり、また、絶縁膜22は、例えば酸化ジルコニウム(ZrO)からなる。この振動板14における圧力室15に対応する部分、即ち、圧力室15(空部)の上部開口を塞ぐ部分は、圧電素子19の撓み変形に伴ってノズル18から遠ざかる方向あるいは近接する方向に変位する可撓面(駆動領域)として機能する。この振動板14における流路形成基板10のリザーバー16に対応する部分には、当該リザーバー16と連通する連通開口部23が開設されている。 The actuator unit 12 in the present embodiment includes a diaphragm 14, a piezoelectric element 19, a lead electrode 20, and the like. The diaphragm 14 includes an elastic film 21 formed on the upper surface of the flow path forming substrate 10 and an insulating film 22 formed on the elastic film 21. The elastic film 21 is made of, for example, silicon dioxide (SiO 2 ), and the insulating film 22 is made of, for example, zirconium oxide (ZrO 2 ). A portion of the diaphragm 14 corresponding to the pressure chamber 15, that is, a portion that closes the upper opening of the pressure chamber 15 (empty portion) is displaced in a direction away from or near to the nozzle 18 due to the bending deformation of the piezoelectric element 19. Functions as a flexible surface (driving region). A communication opening 23 communicating with the reservoir 16 is formed at a portion of the diaphragm 14 corresponding to the reservoir 16 of the flow path forming substrate 10.

振動板14の絶縁膜22における圧力室15に対応する部分には、圧電素子19が形成されている。この圧電素子19は、振動板14側から順に下電極膜25(第1電極)、圧電体膜26、および上電極膜27(第2電極)が積層されて構成されている。本実施形態においては、下電極膜25および圧電体膜26が圧力室15毎にパターニングされており、下電極膜25は、圧電素子19毎の個別電極となっている。これに対し、上電極膜27は、各圧電素子19に共通な電極となっている。すなわち、上電極膜27は、圧力室並設方向に沿って各圧力室15に亘り連続して形成されている。そして、積層方向において、上電極膜27、圧電体膜26、および下電極膜25がオーバーラップする部分が、両電極層への電圧の印加により圧電歪みが生じる圧電体能動部である。すなわち、上電極膜27は圧電素子19の共通電極となっており、下電極膜25は圧電素子19の個別電極となっている。   A piezoelectric element 19 is formed in a portion corresponding to the pressure chamber 15 in the insulating film 22 of the vibration plate 14. The piezoelectric element 19 is configured by laminating a lower electrode film 25 (first electrode), a piezoelectric film 26, and an upper electrode film 27 (second electrode) in this order from the diaphragm 14 side. In the present embodiment, the lower electrode film 25 and the piezoelectric film 26 are patterned for each pressure chamber 15, and the lower electrode film 25 is an individual electrode for each piezoelectric element 19. On the other hand, the upper electrode film 27 is an electrode common to each piezoelectric element 19. That is, the upper electrode film 27 is continuously formed across the pressure chambers 15 along the pressure chamber juxtaposition direction. In the stacking direction, the portion where the upper electrode film 27, the piezoelectric film 26, and the lower electrode film 25 overlap is a piezoelectric active portion in which piezoelectric distortion occurs due to voltage application to both electrode layers. That is, the upper electrode film 27 is a common electrode of the piezoelectric element 19, and the lower electrode film 25 is an individual electrode of the piezoelectric element 19.

上電極膜27の上には、図示しない密着層(例えば、NiCr)を介して金(Au)からなるリード電極20が形成されている。このリード電極20は、個別電極である下電極膜25毎に対応してパターニングされており、当該下電極膜25にそれぞれ導通されている。そして、このリード電極20を介して各圧電素子19に対して駆動電圧(駆動パルス)が選択的に印加される。   On the upper electrode film 27, a lead electrode 20 made of gold (Au) is formed via an adhesion layer (not shown) such as NiCr. The lead electrode 20 is patterned corresponding to each lower electrode film 25 that is an individual electrode, and is electrically connected to the lower electrode film 25. A drive voltage (drive pulse) is selectively applied to each piezoelectric element 19 through the lead electrode 20.

本実施形態における圧電体膜26は、下電極膜25を覆うように振動板14の上に形成されている。この圧電体膜26としては、鉛(Pb)、チタン(Ti)及びジルコニウム(Zr)を含むもの、例えば、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)等の強誘電性圧電材料や、これに酸化ニオブ、酸化ニッケル又は酸化マグネシウム等の金属酸化物を添加したもの等を用いることができる。   The piezoelectric film 26 in the present embodiment is formed on the vibration plate 14 so as to cover the lower electrode film 25. As the piezoelectric film 26, a ferroelectric piezoelectric material such as lead (Pb), titanium (Ti) and zirconium (Zr), for example, lead zirconate titanate (PZT), niobium oxide, What added metal oxides, such as nickel oxide or magnesium oxide, etc. can be used.

アクチュエーターユニット12における流路形成基板10との接合面である下面とは反対側の上面には、圧電素子19を収容可能な収容空部29を有する封止板13が接合される。この封止板13は、アクチュエーターユニット12が積層された流路形成基板10との接合面である下面側に収容空部29が開口した中空箱体状の部材であり、本実施形態においては、流路形成基板10と同様にシリコン単結晶基板により作製されている。上記の収容空部29は、封止板13の下面側から上面側に向けて封止板13の高さ方向途中まで形成された窪みである。この収容空部29のノズル列方向の寸法(内法)は、同一列の全ての圧電素子19を収容可能な大きさに設定されている。また、収納空部32のノズル列に直交する方向の寸法は、圧電素子19の圧電体能動を収容可能な大きさに設定されている。また、図3に示されるように、封止板13には、収容空部29よりもノズル列に直交する方向の外側に外れた位置であって、振動板14の連通開口部23および流路形成基板10のリザーバー16に対応する領域には、液室空部30が設けられている。この液室空部30は、封止板13を厚さ方向に貫通して圧力室15の並設方向に沿って設けられており、上述したように連通開口部23およびリザーバー16と一連に連通する。   A sealing plate 13 having an accommodation space 29 that can accommodate the piezoelectric element 19 is joined to the upper surface of the actuator unit 12 opposite to the lower surface that is the joining surface with the flow path forming substrate 10. The sealing plate 13 is a hollow box-shaped member having an accommodation cavity 29 opened on the lower surface side which is a joint surface with the flow path forming substrate 10 on which the actuator unit 12 is laminated. In the present embodiment, Similar to the flow path forming substrate 10, it is made of a silicon single crystal substrate. The accommodation space 29 is a recess formed halfway in the height direction of the sealing plate 13 from the lower surface side to the upper surface side of the sealing plate 13. The dimension (inner method) of the accommodation empty portion 29 in the nozzle row direction is set to a size that can accommodate all the piezoelectric elements 19 in the same row. In addition, the dimension of the housing empty portion 32 in the direction orthogonal to the nozzle row is set to a size that can accommodate the piezoelectric body active of the piezoelectric element 19. Further, as shown in FIG. 3, the sealing plate 13 is located at a position outside of the accommodation empty portion 29 in the direction orthogonal to the nozzle row, and includes the communication opening 23 and the flow path of the diaphragm 14. In a region corresponding to the reservoir 16 of the formation substrate 10, a liquid chamber cavity 30 is provided. The liquid chamber hollow portion 30 is provided along the direction in which the pressure chambers 15 are arranged so as to penetrate the sealing plate 13 in the thickness direction, and communicate with the communication opening 23 and the reservoir 16 in series as described above. To do.

封止板13上には、封止膜32及び固定板37とからなるコンプライアンス基板38が接合されている。封止膜32は、剛性が低く可撓性を有する材料(例えば、ポリフェニレンサルファイドフィルムや薄手のステンレスフィルム等)からなり、この封止膜32によって液室空部30の一方面が封止されている。また、固定板37は、封止膜32よりも厚く、より硬質の材料(例えば、ステンレス鋼等)で形成される。この固定板37のリザーバーに対向する領域は、厚さ方向に完全に除去された開口部33aとなっているため、リザーバーの一方面は可撓性を有する封止膜32のみで封止されている。また、封止板13には、収容空部29と液室空部30の間に、封止板13を厚さ方向に貫通する配線開口部34が形成されている。この配線開口部34内に収容空部29内の圧電素子19の下電極膜25に一端が接続されたリード電極20の他端が露出される。そして、このリード電極20の露出部分には、プリンター本体側からの図示しないCOF(Chip On Film)等の配線部材の端子が電気的に接続される。封止板13の下面は、アクチュエーターユニット12が積層された流路形成基板10の上面に接着剤によって接合される。接着剤は、例えば、エポキシ系、ウレタン系等の接着剤が採用される。   A compliance substrate 38 including a sealing film 32 and a fixing plate 37 is bonded onto the sealing plate 13. The sealing film 32 is made of a material having low rigidity and flexibility (for example, a polyphenylene sulfide film, a thin stainless film, etc.), and one surface of the liquid chamber cavity 30 is sealed by the sealing film 32. Yes. The fixing plate 37 is thicker than the sealing film 32 and is formed of a harder material (for example, stainless steel). Since the region of the fixing plate 37 facing the reservoir is an opening 33a that is completely removed in the thickness direction, one surface of the reservoir is sealed only by the flexible sealing film 32. Yes. In addition, a wiring opening 34 that penetrates the sealing plate 13 in the thickness direction is formed in the sealing plate 13 between the accommodation space 29 and the liquid chamber space 30. The other end of the lead electrode 20 whose one end is connected to the lower electrode film 25 of the piezoelectric element 19 in the accommodation space 29 is exposed in the wiring opening 34. A terminal of a wiring member such as COF (Chip On Film) (not shown) from the printer main body side is electrically connected to the exposed portion of the lead electrode 20. The lower surface of the sealing plate 13 is bonded to the upper surface of the flow path forming substrate 10 on which the actuator unit 12 is laminated by an adhesive. As the adhesive, for example, an epoxy or urethane adhesive is employed.

上記構成の記録ヘッド2では、インクカートリッジ3から液室空部30等を通じてインクがリザーバー16に取り込まれ、リザーバー16から圧力室15を介してノズル18に至る流路がインクで満たされる。そして、プリンター本体側からの駆動信号の供給により、圧力室15に対応するそれぞれの下電極膜25と上電極膜25との間に両電極の電位差に応じた電界が付与され、圧電素子19および振動板14の作動面が撓み変形することにより、圧力室15内のインクに圧力変動が生じる。この圧力変動を制御することで、ノズル18からインクを噴射させたり、或いは、インクが噴射されない程度にノズル18におけるメニスカスを微振動させたりすることができる。   In the recording head 2 configured as described above, ink is taken into the reservoir 16 from the ink cartridge 3 through the liquid chamber empty portion 30 and the like, and the flow path from the reservoir 16 to the nozzle 18 through the pressure chamber 15 is filled with ink. Then, by supplying a drive signal from the printer body side, an electric field corresponding to the potential difference between the two electrodes is applied between the lower electrode film 25 and the upper electrode film 25 corresponding to the pressure chamber 15, and the piezoelectric element 19 and When the working surface of the vibration plate 14 is bent and deformed, pressure fluctuation occurs in the ink in the pressure chamber 15. By controlling the pressure fluctuation, ink can be ejected from the nozzle 18 or the meniscus in the nozzle 18 can be slightly vibrated to the extent that ink is not ejected.

図4は、本実施形態における記録ヘッド2の製造について説明するフローチャートである。また、図5から図17は、記録ヘッド2の製造工程に係る工程図である。本実施形態における記録ヘッド2の製造工程では、まず、図5に示されるように、流路形成基板10の材料である第1シリコン基板36の一方の面に弾性膜21および絶縁膜22が順次形成されて振動板14が形成される。また、この振動板14に、下電極膜25、圧電体膜26、および上電極膜27が順次成膜されて圧電素子19が形成される。以下、第1シリコン基板36上の形成された圧電素子19等の構造物については、適宜図示を省略する。次に、図6に示されるように、上記圧電素子19等が形成された一方の面に、収容空部29等が予め形成された封止板13用の第2シリコン基板37が接着剤等により接合されて積層体38(本発明における基板の一種)が形成される。この際、第1シリコン基板36の圧電素子19は、第2シリコン基板37の収容空部29内に収容される。続いて、第1シリコン基板36に対し、流路形成基板10として必要な厚さとなるように、上記圧電素子19等が形成された一方の面とは反対側の他方の面から研磨装置(バックグラインダー)等によって研削される。続いて、図7に示されるように、第1シリコン基板36の他方の面に圧力室15等の流路を形成するためのフォトリソグラフィー法で使用されるレジスト39が塗布され、この状態で加熱処理が行われてレジスト39の硬化が促進される(S1)。レジスト39としては、シリコン窒化膜等が採用される。   FIG. 4 is a flowchart for explaining the production of the recording head 2 in the present embodiment. 5 to 17 are process diagrams relating to the manufacturing process of the recording head 2. In the manufacturing process of the recording head 2 in the present embodiment, first, as shown in FIG. 5, the elastic film 21 and the insulating film 22 are sequentially formed on one surface of the first silicon substrate 36 that is the material of the flow path forming substrate 10. Thus, the diaphragm 14 is formed. Further, the lower electrode film 25, the piezoelectric film 26, and the upper electrode film 27 are sequentially formed on the diaphragm 14 to form the piezoelectric element 19. Hereinafter, the illustration of the structure such as the piezoelectric element 19 formed on the first silicon substrate 36 is omitted as appropriate. Next, as shown in FIG. 6, the second silicon substrate 37 for the sealing plate 13 in which the accommodation voids 29 and the like are formed in advance on one surface where the piezoelectric elements 19 and the like are formed is an adhesive or the like. To form a laminated body 38 (a kind of substrate in the present invention). At this time, the piezoelectric element 19 of the first silicon substrate 36 is accommodated in the accommodating space 29 of the second silicon substrate 37. Subsequently, a polishing device (back surface) is formed from the other surface opposite to the one surface on which the piezoelectric elements 19 and the like are formed so that the first silicon substrate 36 has a necessary thickness as the flow path forming substrate 10. Grinded by a grinder) or the like. Subsequently, as shown in FIG. 7, a resist 39 used in a photolithography method for forming a flow path such as the pressure chamber 15 is applied to the other surface of the first silicon substrate 36. Processing is performed to accelerate the curing of the resist 39 (S1). As the resist 39, a silicon nitride film or the like is employed.

続いて、積層体38における第2シリコン基板37の第1シリコン基板36側とは反対側の面(以下、保持面と称する)に、第1シリコン基板36に対してフォトリソグラフィー法等の加工を行うため吸着保持治具60で吸着・保持する際に第2シリコン基板37を保護するため、また、圧電素子19側へのエッチング溶液の回り込みや異物の侵入等を防止するための基板保護フィルム41が、以下で説明するフィルム貼付装置40によって貼付される(保護フィルム貼付工程S2)。   Subsequently, a process such as a photolithography method is performed on the first silicon substrate 36 on the surface of the stacked body 38 opposite to the first silicon substrate 36 side of the second silicon substrate 37 (hereinafter referred to as a holding surface). In order to protect the second silicon substrate 37 when sucked and held by the sucking and holding jig 60, the substrate protective film 41 is used to prevent the etching solution from entering the piezoelectric element 19 and preventing foreign substances from entering. However, it sticks by the film sticking apparatus 40 demonstrated below (protective film sticking process S2).

図8は、フィルム貼付装置40の構成を説明する模式図である。このフィルム貼付装置40は、基板保護フィルム41を繰り出す操出ローラー42と、操出ローラー42から送られてくる基板保護フィルム41に対し、所定の貼付形状に沿って切込みを入れるプリカット部43と、剥離紙44から基板保護フィルム41を剥離する剥離部45と、所定の貼付形状にカットされた基板保護フィルム41を積層体38における第2シリコン基板37に貼り付ける貼付部46と、剥離紙44を巻き取る巻取ローラー47等を備えている。操出ローラー42は、剥離紙付きの基板保護フィルム41がロール状に巻回されており、後段の加工ステージに向けて剥離紙付きの基板保護フィルム41を順次繰り出す。基板保護フィルム41としては、例えば、感光性樹脂フィルム(レジストフィルム)が採用されている。プリカット部43は、カッティングローラー48と受けローラー49とを有しており、これらのローラー48,49の間を基板保護フィルム41通過する際に、当該基板保護フィルム41に積層体38に貼り付けるための貼付形状となるようにカッティングローラー48によって切込みが入れられる。   FIG. 8 is a schematic diagram illustrating the configuration of the film sticking device 40. The film sticking device 40 includes a feeding roller 42 that feeds out the substrate protective film 41, a pre-cut portion 43 that cuts the substrate protective film 41 sent from the steering roller 42 along a predetermined sticking shape, The peeling part 45 which peels the board | substrate protective film 41 from the peeling paper 44, the sticking part 46 which sticks the board | substrate protective film 41 cut by the predetermined sticking shape to the 2nd silicon substrate 37 in the laminated body 38, and the peeling paper 44 A winding roller 47 for winding is provided. The feeding roller 42 has a substrate protective film 41 with release paper wound in a roll shape, and sequentially feeds the substrate protective film 41 with release paper toward a subsequent processing stage. As the substrate protection film 41, for example, a photosensitive resin film (resist film) is employed. The pre-cut portion 43 has a cutting roller 48 and a receiving roller 49, and is attached to the laminated body 38 on the substrate protective film 41 when passing between the rollers 48 and 49 through the substrate protective film 41. The cut is made by the cutting roller 48 so that the pasting shape is as follows.

図9は、基板保護フィルム41の貼付形状を説明する平面図である。また、図10は、図9における領域Xにおける断面図である。さらに、図11は、基板保護フィルム41における切欠き部52の構成を説明する平面図である。なお、図9および図11中の破線は、基板保護フィルム41が貼り付けられる積層体38(第2シリコン基板37)の形状(外形)を示している。本実施形態における基板保護フィルム41は、貼付け対象の積層体38における第2シリコン基板37の平面形状に倣った円形のフィルム本体部41′と、当該フィルム本体部41′の中心に対し外周縁から外側に延出した延出部51と、基板保護フィルム41の外周縁から内側(中心側)に向けて後退した(切り欠かれた)切欠き部52(本発明における開口部の一種)と、を有している。フィルム本体部41′は、貼付け対象の積層体38における第2シリコン基板37の外形よりも全的的に少し小さく設定されている。このため、位置決めされて第2シリコン基板37に貼り付けられた状態では、フィルム本体部41′の外周縁は、第2シリコン基板37の外周縁よりも少し内側(中心寄り)に位置する。   FIG. 9 is a plan view for explaining the pasting shape of the substrate protective film 41. FIG. 10 is a cross-sectional view of the region X in FIG. Further, FIG. 11 is a plan view illustrating the configuration of the notch 52 in the substrate protective film 41. In addition, the broken line in FIG. 9 and FIG. 11 has shown the shape (outer shape) of the laminated body 38 (2nd silicon substrate 37) to which the board | substrate protective film 41 is affixed. The substrate protective film 41 in the present embodiment includes a circular film main body portion 41 ′ following the planar shape of the second silicon substrate 37 in the laminated body 38 to be attached, and an outer peripheral edge with respect to the center of the film main body portion 41 ′. An extended portion 51 extending outward, and a notched portion 52 (a type of opening in the present invention) retreated (notched) from the outer peripheral edge of the substrate protective film 41 toward the inside (center side); have. The film body 41 ′ is set to be slightly smaller than the outer shape of the second silicon substrate 37 in the laminated body 38 to be pasted. For this reason, in the state where the film body portion 41 ′ is positioned and attached to the second silicon substrate 37, the outer peripheral edge of the film main body portion 41 ′ is located slightly inside (closer to the center) than the outer peripheral edge of the second silicon substrate 37.

このフィルム本体部41′の外周縁より外側に突出する状態に形成された延出部51は、フィルム本体部41′の周方向の位置を異ならせて複数形成されている。本実施形態においては、第2シリコン基板37のオリエンテーションフラット(以下、オリフラOFと称する)に対応する位置に形成された第1延出部51aと、当該第1延出部51aとはフィルム本体部41′の中心を基準として90°角度が異なる位置に形成された第2延出部51bとが基板保護フィルム41に設けられている。このように、延出部51が基板保護フィルム41(フィルム本体部41′)の周方向の位置を異ならせて複数形成されていることにより、基板(本実施形態においては第2シリコン基板37)の結晶方位と基板に区画されるパーツ(本実施形態においては封止板13や流路形成基板10)の向き等との関係で基板の搬送方向や基板保護フィルムの貼着および剥離の方向が異なる場合にも対応することが可能となる。つまり、本実施形態における基板保護フィルム41に関し、基板(第2シリコン基板37)のオリフラOFの面方向に平行な方向において基板に対する貼付および剥離が行われるが、これには限られず、オリフラOFの面方向に直交する方向において基板に対する貼付および剥離が行われる構成にも基板保護フィルム41を採用することができる。   A plurality of extending portions 51 formed so as to protrude outward from the outer peripheral edge of the film main body portion 41 ′ are formed in different positions in the circumferential direction of the film main body portion 41 ′. In the present embodiment, the first extension portion 51a formed at a position corresponding to the orientation flat (hereinafter referred to as orientation flat OF) of the second silicon substrate 37, and the first extension portion 51a are the film body portion. The substrate extension film 41 is provided with a second extending portion 51b formed at a position where the angle of 90 ° is different with respect to the center of 41 ′. As described above, the plurality of extending portions 51 are formed with different positions in the circumferential direction of the substrate protective film 41 (film main body portion 41 ′), so that the substrate (the second silicon substrate 37 in the present embodiment) is formed. The orientation of the substrate and the direction of sticking and peeling of the substrate protective film depend on the crystal orientation and the orientation of the parts (the sealing plate 13 and the flow path forming substrate 10 in this embodiment) partitioned on the substrate. It is possible to cope with different cases. That is, regarding the substrate protective film 41 in the present embodiment, the substrate (second silicon substrate 37) is attached to and peeled from the substrate in a direction parallel to the surface direction of the orientation flat OF. The substrate protective film 41 can also be employed in a configuration in which pasting and peeling are performed on the substrate in a direction orthogonal to the surface direction.

図10に示されるように、第2シリコン基板37の上下面、すなわち、第1シリコン基板36が接合された面(第1面)と、基板保護フィルム41が貼付される面(第2面)と、のそれぞれの外周縁部には、面取り部53が予め形成されている。基板保護フィルム41は、この面取り部53よりも内側(フィルム本体部41′の中心側)の領域(図10におけるBaで示す接着領域)で接着される。そして、当該第2シリコン37に基板保護フィルム41が貼付された状態において、延出部51は接着領域Baの端よりも第2シリコン基板37の外周縁に向けて延出されており、当該延出部51の端は、第2シリコン基板37に接着されていない自由端となっている。そして、後述する保護フィルム剥離工程では、当該延出部51の端を起点として第2シリコン基板37から基板保護フィルム41が剥離されるように構成されている。   As shown in FIG. 10, the upper and lower surfaces of the second silicon substrate 37, that is, the surface to which the first silicon substrate 36 is bonded (first surface) and the surface to which the substrate protective film 41 is attached (second surface). A chamfered portion 53 is formed in advance on each of the outer peripheral edge portions. The substrate protective film 41 is bonded in a region (adhesive region indicated by Ba in FIG. 10) on the inner side (center side of the film main body 41 ′) than the chamfered portion 53. In the state where the substrate protective film 41 is adhered to the second silicon 37, the extending portion 51 extends toward the outer peripheral edge of the second silicon substrate 37 from the end of the bonding region Ba. The end of the protruding portion 51 is a free end that is not bonded to the second silicon substrate 37. And in the protective film peeling process mentioned later, it is comprised so that the board | substrate protective film 41 may be peeled from the 2nd silicon substrate 37 from the edge of the said extension part 51 as the starting point.

図9に示されるように、切欠き部52は、基板保護フィルム41において位置を異ならせて合計2箇所形成されている。ここで、第2シリコン基板37の保持面には、アライメントマーク56a,56bが予め形成されている。これらのアライメントマーク56a,56bは、例えば、封止板13となる領域が複数区画された領域から外れた領域において、オリフラの面方向の一側と他側にそれぞれ形成されている。これらのアライメントマーク56a,56bは、例えばエッチングやメッキ等により形成された種々の態様のアライメントマークを採用することができる。要するに、流路形成基板10に対するフォトリソグラフィー法における当該流路形成基板10(積層体38)の位置決めの基準となるマークであればよい。上記切欠き部52は、基板保護フィルム41が第2シリコン基板37の保持面に貼付された状態で、これらのアライメントマーク56a,56bを露出させることが可能な位置にそれぞれ形成されている。   As shown in FIG. 9, the notch portions 52 are formed at two positions in total in the substrate protective film 41 with different positions. Here, alignment marks 56 a and 56 b are formed in advance on the holding surface of the second silicon substrate 37. These alignment marks 56a and 56b are formed, for example, on one side and the other side in the surface direction of the orientation flat in a region outside the region where a plurality of regions to be the sealing plate 13 are partitioned. For these alignment marks 56a and 56b, various types of alignment marks formed by, for example, etching or plating can be employed. In short, any mark may be used as a reference for positioning the flow path forming substrate 10 (laminated body 38) in the photolithography method with respect to the flow path forming substrate 10. The notch 52 is formed at a position where the alignment marks 56a and 56b can be exposed in a state where the substrate protective film 41 is stuck to the holding surface of the second silicon substrate 37.

図11は、切欠き部52の構成を説明する拡大図である。図11に示されるように、これらの切欠き部52は、3つの辺57a,57b,57cにより画成されており、これらの辺57同士は、曲線(R形状)を介して滑らかに接続(連続)されている。また、基板保護フィルム41の外縁と辺57aも曲線を介して滑らかに連続しており、同様に、基板保護フィルム41の外縁と辺57aも曲線を介して連続している。すなわち、切欠き部52を構成している部分には角が生じていない。このため、後述する保護フィルム剥離工程において、積層体38(第2シリコン基板37)から基板保護フィルム41を剥がす際に、切欠き部52において局所的に応力が集中することが抑制され、これにより、切欠き部52において基板保護フィルム41が裂けることが抑制される。さらに、切欠き部52の幅W、すなわち、切欠き部56a,56bの並び方向に直交する方向の寸法(内寸)に関し、後述する保護フィルム剥離工程(S6)において、基板保護フィルム41を剥がすための剥離テープ65が加熱治具66(いずれも図15参照)によって基板保護フィルム41および延出部51側に押圧されて当該押圧部分における剥離テープ65が基板保護フィルム41側に最大限まで撓んだ場合においても、最も撓んだ部分が第2シリコン基板37と接触しない程度の大きさに設定されている。なお、本発明に係る開口部は、本実施形態において例示した切欠き部52のような形状に限られず、例えば、基板保護フィルム41の素材により周囲を囲まれた窓状の開口部であってもよい。   FIG. 11 is an enlarged view for explaining the configuration of the notch 52. As shown in FIG. 11, these notches 52 are defined by three sides 57a, 57b, and 57c, and these sides 57 are smoothly connected via a curve (R shape) ( Is continuous). In addition, the outer edge and the side 57a of the substrate protective film 41 are smoothly continuous via a curve, and similarly, the outer edge and the side 57a of the substrate protective film 41 are also continuous via a curve. That is, no corners are formed in the portion constituting the notch 52. For this reason, in the protective film peeling process mentioned later, when peeling the board | substrate protective film 41 from the laminated body 38 (2nd silicon substrate 37), it is suppressed that stress concentrates locally in the notch part 52, thereby. In addition, the substrate protective film 41 is prevented from tearing at the notch 52. Furthermore, regarding the width W of the notch 52, that is, the dimension (inner dimension) in the direction orthogonal to the alignment direction of the notches 56a and 56b, the substrate protective film 41 is peeled off in the protective film peeling step (S6) described later. The peeling tape 65 is pressed against the substrate protective film 41 and the extending portion 51 by a heating jig 66 (see FIG. 15), and the peeling tape 65 at the pressed portion is flexed to the substrate protective film 41 side to the maximum extent. Even in this case, the size is set such that the most bent portion does not come into contact with the second silicon substrate 37. The opening according to the present invention is not limited to the shape like the notch 52 illustrated in the present embodiment, and is, for example, a window-shaped opening surrounded by the material of the substrate protection film 41. Also good.

プリカット部43において貼付け形状に沿って切れ込みが入れられた基板保護フィルム41は、続いて剥離部45において剥離紙44から剥離される。剥離部45は、プリカット部43側からの基板保護フィルム41を貼付部46側に案内する第1ガイド面45aと、剥離紙44を巻取ローラー47側に案内する第2ガイド面45bとを有している。剥離紙44の端は、巻取ローラー47に予め接続されており、第1ガイド面45aと第2ガイド面45bとが交差する部分で基板保護フィルム41から剥離されて第2ガイド面45bに案内されて巻取ローラー47に順次巻き取られるように構成されている。これにより、剥離紙44から剥離された基板保護フィルム41のみが貼付部46側に送られる。貼付部46には貼付ローラー54が設けられている。貼付部46は、第2シリコン基板37側を貼付ローラー54側に向けた姿勢で当該貼付ローラー54の下方に送られてくる積層体38との間で基板保護フィルム41を挟持し、当該基板保護フィルム41を積層体38側に押圧した状態で貼付ローラー54を図中反時計回りに回転させることで、基板保護フィルム41を積層体38の第2シリコン基板37に貼り付ける(圧着する)。第2シリコン基板37に貼り付けられた基板保護フィルム41には、上記のように貼付形状に沿って切れ込みが入れられているので、当該貼付形状以外の部分(余剰部分)については、第2シリコン基板37から剥がされて図示しない回収ロールに巻き取られて回収され、貼付形状に切り抜かれた部分のみが第2シリコン基板37に残る。ここで、本実施形態において、基板保護フィルム41に形成された切欠き部52は、基板保護フィルム41の外縁から内側(中心側)に向けて切り欠かれた形状であるため、上記余剰部分から分離される前においてこの切欠き部52内の部分は、上記余剰部分と連続している。このため、例えば、余剰部分から別箇独立した窓形状の構成と比較して、貼付け形状の部分と余剰部分とが分離される際に切欠き部52の内部に余剰部分が残ることが抑制される。   The substrate protective film 41 that has been cut along the pasting shape in the pre-cut portion 43 is subsequently peeled off from the release paper 44 in the peeling portion 45. The peeling portion 45 has a first guide surface 45a that guides the substrate protection film 41 from the pre-cut portion 43 side to the sticking portion 46 side, and a second guide surface 45b that guides the release paper 44 to the take-up roller 47 side. doing. The end of the release paper 44 is connected in advance to the take-up roller 47, and is peeled off from the substrate protection film 41 at the portion where the first guide surface 45a and the second guide surface 45b intersect and guided to the second guide surface 45b. Then, it is configured to be sequentially wound around the winding roller 47. Thereby, only the substrate protective film 41 peeled from the release paper 44 is sent to the sticking part 46 side. A sticking roller 54 is provided in the sticking part 46. The affixing unit 46 sandwiches the substrate protection film 41 with the laminated body 38 that is sent below the affixing roller 54 in a posture in which the second silicon substrate 37 side is directed to the affixing roller 54 side. The substrate protection film 41 is attached to (bonded to) the second silicon substrate 37 of the laminate 38 by rotating the sticking roller 54 counterclockwise in the drawing with the film 41 pressed to the laminate 38 side. Since the substrate protective film 41 affixed to the second silicon substrate 37 is notched along the affixed shape as described above, the portion other than the affixed shape (the surplus part) is the second silicon. Only the portion peeled off from the substrate 37, wound up on a collecting roll (not shown), collected, and cut into a pasted shape remains on the second silicon substrate 37. Here, in the present embodiment, the cutout portion 52 formed in the substrate protection film 41 has a shape cut out from the outer edge of the substrate protection film 41 toward the inside (center side). Before the separation, the portion in the notch 52 is continuous with the surplus portion. For this reason, for example, compared with a window-shaped configuration that is separate from the surplus portion, it is suppressed that the surplus portion remains inside the notch 52 when the pasted shape portion and the surplus portion are separated. The

このようにして、第2シリコン基板37に基板保護フィルム41が貼付されたならば、フォトリソグラフィー法による第2シリコン基板37に対する流路の加工に先立って、図12に示されるように、積層体38を規定位置に配置するアライメント工程S3が行われる。アライメント工程S3では、アライメント基板58とカメラ61が用いられて積層体38のアライメントが行われる。アライメント基板58は、線膨張係数が可及的に小さいガラスなどの透光性を有する板材から構成されている。このアライメント基板58には、積層体38の基板面方向の位置を規定する一対の基準マーク59が設けられている。アライメント工程S3では、アライメント基板58の下方に配置されたカメラ61によって、アライメント基板58の各基準マーク59が認識され、それぞれの位置が記憶される。続いて、第2シリコン基板37の保持面に基板保護フィルム41が貼付された積層体38が、保持面側を吸着保持治具60によって吸着・保持された状態でアライメント基板58とカメラ61との間に位置づけられる。吸着保持治具60は、積層体38を保持する治具であり、その内部には吸引路62が形成されている。吸引路62は、複数に分岐して積層体38を吸着する吸着面にそれぞれ開口している。そして、吸着保持治具60は、図示しない吸引ポンプ等の吸引機構により吸引路62を通じて吸着面側に生じる吸引力によって、基板保護フィルム41を吸着して積層体38を吸着面に吸着・保持する。なお、吸着保持治具60は、積層体38を保持した状態において、上記第2シリコン基板37のアライメントマーク56を覆わないように構成されている。   Thus, if the substrate protective film 41 is attached to the second silicon substrate 37, as shown in FIG. 12, prior to the processing of the flow path for the second silicon substrate 37 by the photolithography method, An alignment step S3 for arranging 38 at a specified position is performed. In the alignment step S3, the alignment body 58 and the camera 61 are used to align the stacked body 38. The alignment substrate 58 is made of a light-transmitting plate material such as glass whose linear expansion coefficient is as small as possible. The alignment substrate 58 is provided with a pair of reference marks 59 that define the position of the laminated body 38 in the substrate surface direction. In the alignment step S3, each reference mark 59 on the alignment substrate 58 is recognized by the camera 61 arranged below the alignment substrate 58, and each position is stored. Subsequently, the laminated body 38 in which the substrate protective film 41 is attached to the holding surface of the second silicon substrate 37 is placed between the alignment substrate 58 and the camera 61 with the holding surface side being sucked and held by the suction holding jig 60. Positioned between. The suction holding jig 60 is a jig for holding the laminated body 38, and a suction path 62 is formed therein. The suction path 62 is divided into a plurality of openings and opens on the suction surface that sucks the stacked body 38. The suction holding jig 60 sucks the substrate protective film 41 by the suction force generated on the suction surface side through the suction path 62 by a suction mechanism such as a suction pump (not shown) to suck and hold the laminated body 38 on the suction surface. . The suction holding jig 60 is configured not to cover the alignment mark 56 of the second silicon substrate 37 in a state where the stacked body 38 is held.

このように、アライメント工程S3において、第2シリコン基板37の保持面に基板保護フィルム41が貼付された積層体38が、保持面側を吸着保持治具60によって吸着・保持された状態でアライメント基板58とカメラ61との間に配置された状態では、基板保護フィルム41に上記の切欠き部52が設けられていることで、第2シリコン基板37のアライメントマーク56が切欠き部52内に露出される。これにより、カメラ61によって、アライメントマーク56を認識することができ、予め記憶されているアライメント基板58の基準マーク59に対応する位置にアライメントマーク56を合致させるように積層体38の位置が調整されて位置決めされる。これにより、基板保護フィルム41が貼付された状態で、吸着保持治具60によって吸着・保持された際に第2シリコン基板37の保持面を保護しつつ、問題なくアライメント工程を行うことが可能となる。   As described above, in the alignment step S3, the laminated body 38 in which the substrate protective film 41 is attached to the holding surface of the second silicon substrate 37 is held in the state where the holding surface side is sucked and held by the suction holding jig 60. In the state of being arranged between the camera 58 and the camera 61, the notch 52 is provided in the substrate protection film 41, so that the alignment mark 56 of the second silicon substrate 37 is exposed in the notch 52. Is done. Accordingly, the alignment mark 56 can be recognized by the camera 61, and the position of the stacked body 38 is adjusted so that the alignment mark 56 is aligned with the position corresponding to the reference mark 59 of the alignment substrate 58 stored in advance. Positioned. As a result, it is possible to perform the alignment process without any problem while protecting the holding surface of the second silicon substrate 37 when the substrate protection film 41 is stuck and when being sucked and held by the suction holding jig 60. Become.

積層体38のアライメント(位置決め)が完了したならば、続いて、積層体38が吸着保持治具60によって吸着・保持された状態で、フォトリソグラフィー法により第1シリコン基板37に対して圧力室15等の流路を形成するための加工が行われる(加工工程)。まず、シリコン基板36に形成されたレジスト39に対して流路の形成に係る図示しないマスクパターンを介して露光が行われる(露光工程S4)。続いて、露光後のレジスト39が現像される(現像工程S5)。これにより、レジスト39における露光部分が除去されて第1シリコン基板36の流路を形成するための所定の形状にパターニングされる。露光・現像を経てレジスト39がパターニングされたならば、続いて、第2シリコン基板37から基板保護フィルム41が剥離される(保護フィルム剥離工程S6)。   When the alignment (positioning) of the stacked body 38 is completed, the pressure chamber 15 is then applied to the first silicon substrate 37 by photolithography in a state where the stacked body 38 is sucked and held by the suction holding jig 60. Processing for forming a flow path such as is performed (processing step). First, the resist 39 formed on the silicon substrate 36 is exposed through a mask pattern (not shown) related to the formation of the flow path (exposure step S4). Subsequently, the exposed resist 39 is developed (development step S5). As a result, the exposed portion of the resist 39 is removed and patterned into a predetermined shape for forming a flow path of the first silicon substrate 36. If the resist 39 is patterned through exposure and development, the substrate protective film 41 is subsequently peeled from the second silicon substrate 37 (protective film peeling step S6).

保護フィルム剥離工程S6では、まず、図13に示されるように、基板保護フィルム41の第2シリコン基板37側とは反対側の面に圧着ローラー64によって剥離テープ65が貼り付けられる。上記の剥離テープ65は、可撓性を有する合成樹脂製の基材に基板保護フィルム41側の面に粘着層が設けられたシート材である。図13に示されるように、圧着ローラー64は、基板保護フィルム41との間に剥離テープ65を挟んだ状態で、基板保護フィルム41において延出部51とはフィルム本体部41′の中心を挟んで反対側の縁から延出部51に向けて剥離テープ65を基板保護フィルム41側に押し付けながら転動することにより、当該基板保護フィルム41の全体に剥離テープ65を貼り付ける。次に、図14に示されるように、基板保護フィルム41の延出部51と剥離テープ65とが重なり合う部分が、加熱治具66(ヒーター)によって加熱されつつ積層体38(第2シリコン基板37)側に押圧されることにより、当該延出部51と剥離テープ65とが互いに溶着される。これにより、この部分において基板保護フィルム41と剥離テープ65とがより強固に接合される。   In the protective film peeling step S6, first, as shown in FIG. 13, the peeling tape 65 is attached to the surface of the substrate protective film 41 opposite to the second silicon substrate 37 side by the pressure roller 64. The release tape 65 is a sheet material in which an adhesive layer is provided on the surface of the substrate protective film 41 on a flexible synthetic resin base material. As shown in FIG. 13, the pressing roller 64 sandwiches the peeling tape 65 between itself and the substrate protection film 41, and the extension portion 51 of the substrate protection film 41 sandwiches the center of the film body 41 ′. Then, the peeling tape 65 is affixed to the entirety of the substrate protection film 41 by rolling while pressing the peeling tape 65 against the substrate protection film 41 side from the opposite edge toward the extension portion 51. Next, as shown in FIG. 14, the portion where the extending portion 51 of the substrate protective film 41 and the peeling tape 65 overlap is heated by the heating jig 66 (heater) while the laminate 38 (second silicon substrate 37). ) Side, the extension 51 and the peeling tape 65 are welded to each other. Thereby, the board | substrate protective film 41 and the peeling tape 65 are joined more firmly in this part.

図15は、加熱治具66によって延出部51と剥離テープ65とが溶着される状態を示す模式図(延出部51の幅方向における断面図)である。上述したように、延出部51に設けられた切欠き部52の幅Wに関し、加熱治具66によって剥離テープ65側から延出部51側に押圧されて当該押圧部分における剥離テープ65が基板保護フィルム41側に最大限に撓んだ場合においても、当該撓み部65aの最下点が、第2シリコン基板37と接触しない程度の大きさに設定されている。これにより、第2シリコン基板37に剥離テープ65の粘着材が貼り付いて残ることが防止される。   FIG. 15 is a schematic diagram (a sectional view in the width direction of the extending portion 51) showing a state in which the extending portion 51 and the peeling tape 65 are welded by the heating jig 66. As described above, with respect to the width W of the cutout portion 52 provided in the extending portion 51, the heating tape 66 is pressed from the peeling tape 65 side to the extending portion 51 side, so that the peeling tape 65 in the pressed portion is the substrate. Even when it is bent to the maximum extent toward the protective film 41, the lowest point of the bent portion 65 a is set to a size that does not contact the second silicon substrate 37. This prevents the adhesive material of the peeling tape 65 from sticking to the second silicon substrate 37 and remaining.

基板保護フィルム41の延出部51と剥離テープ65とが重なり合う部分が溶着されたならば、続いて、図16に示されるように、延出部51側の剥離テープ65の端から、図中矢印で示す方向に向けて折り返すように引っ張られていくことにより、この剥離テープ65に伴って、基板保護フィルム41が延出部51の端から当該延出部51とはフィルム本体部41′の中心を挟んで反対側の縁に向けて第2シリコン基板37から順次引き剥がされる(保護フィルム剥離工程S6)。上記のように、延出部51の端が第2シリコン基板37に接着されていない自由端となっており、しかも、延出部51が剥離テープ65と溶着されているので、剥離テープ65に伴って基板保護フィルム41が第2シリコン基板37からより確実に剥離される。また、切欠き部52に関し、上述したように、当該切欠き部52を画成している辺57同士が、曲線(R形状)を介して滑らかに連続しており角がないため、第2シリコン基板37から基板保護フィルム41が剥がされる際に切欠き部52において基板保護フィルム41が裂けることが抑制される。   If the portion where the extending portion 51 of the substrate protection film 41 and the peeling tape 65 overlap is welded, then, as shown in FIG. 16, from the end of the peeling tape 65 on the extending portion 51 side, By being pulled back in the direction indicated by the arrow, the substrate protection film 41 is attached from the end of the extension part 51 to the extension part 51 of the film main body part 41 ′ along with the peeling tape 65. The second silicon substrate 37 is sequentially peeled off toward the opposite edge across the center (protective film peeling step S6). As described above, the end of the extended portion 51 is a free end that is not bonded to the second silicon substrate 37, and the extended portion 51 is welded to the release tape 65. Accordingly, the substrate protection film 41 is more reliably peeled from the second silicon substrate 37. Further, regarding the notch 52, as described above, the sides 57 that define the notch 52 are smoothly continuous via a curve (R shape) and have no corners. When the substrate protective film 41 is peeled off from the silicon substrate 37, the substrate protective film 41 is prevented from tearing at the notch 52.

保護フィルム剥離工程S6の後、積層体38における第1シリコン基板36に対し、パターニングされたレジスト39をマスクとしてエッチング加工が行われる(エッチング工程S7)。このエッチング工程では、ドライエッチング若しくはウェットエッチングまたはこれらの組み合わせにより、図17に示されるように、圧力室15やリザーバー16等の流路となる空部が形成される。なお、エッチングによる流路等の形成方法については周知であるため、詳細な説明は省略する。エッチング工程において、第1シリコン基板36に圧力室15等の流路が形成されたならば、レジスト39が除去された後、第1シリコン基板36と第2シリコン基板37との積層体38の外周縁部の不要部分(図17中破線より外側の部分)が、例えば、ダイシング等により切断されることによって除去される。そして、第1シリコン基板36の第2シリコン基板37とは反対側の面にノズル18が形成されたノズルプレート11が接合されると共に、第2シリコン基板37にコンプライアンス基板31が接合され、これらの第1シリコン基板36等が図3に示されるような一つのチップサイズに分割されることによって本実施形態における記録ヘッド2が製造される。   After the protective film peeling step S6, the first silicon substrate 36 in the stacked body 38 is etched using the patterned resist 39 as a mask (etching step S7). In this etching process, as shown in FIG. 17, voids that serve as flow paths such as the pressure chamber 15 and the reservoir 16 are formed by dry etching, wet etching, or a combination thereof. In addition, since the formation method of the flow path etc. by an etching is known, detailed description is abbreviate | omitted. In the etching process, if a flow path such as the pressure chamber 15 is formed in the first silicon substrate 36, the resist 39 is removed, and then the outer side of the stacked body 38 of the first silicon substrate 36 and the second silicon substrate 37 is removed. Unnecessary portions of the peripheral portion (portions outside the broken line in FIG. 17) are removed by cutting with, for example, dicing. The nozzle plate 11 having the nozzles 18 formed on the surface of the first silicon substrate 36 opposite to the second silicon substrate 37 is bonded, and the compliance substrate 31 is bonded to the second silicon substrate 37. The recording head 2 in this embodiment is manufactured by dividing the first silicon substrate 36 and the like into one chip size as shown in FIG.

このように、本発明に係る基板保護フィルム41を採用することにより、基板(本実施形態における積層体38)に基板保護フィルム41を貼付し、当該基板を位置決めし、位置決めされた基板に対し加工を行い、加工後の基板から基板保護フィルム41を剥離するまでの一連の工程を自動化することが可能となる。その結果、MEMSデバイス(記録ヘッド2)の製造効率が向上する。特に、基板保護フィルム41が裂ける等の不具合を抑制しつつ、基板に一旦貼付された基板保護フィルム41を、延出部51の端を剥離の起点として剥離することが容易となる。また、基板のアライメントマークに対応する位置に当該アライメントマークを露出可能な開口部(切欠き部52)を有するので、基板に基板保護フィルム41が貼付されたままでアライメントマークに基づいて基板のアライメントが可能となる。これにより、基板保護フィルム41が貼付されたままで基板が規定位置に配置されるので、例えば、フォトリソグラフィー法による加工等を行うことが可能となる。   Thus, by adopting the substrate protective film 41 according to the present invention, the substrate protective film 41 is attached to the substrate (the laminate 38 in the present embodiment), the substrate is positioned, and the processed substrate is processed. It is possible to automate a series of steps until the substrate protective film 41 is peeled from the processed substrate. As a result, the manufacturing efficiency of the MEMS device (recording head 2) is improved. In particular, it becomes easy to peel off the substrate protective film 41 once attached to the substrate with the end of the extended portion 51 as a starting point of peeling while suppressing problems such as tearing of the substrate protective film 41. Moreover, since the opening (notch 52) which can expose the said alignment mark is provided in the position corresponding to the alignment mark of a board | substrate, alignment of a board | substrate is performed based on an alignment mark with the board | substrate protective film 41 affixed on the board | substrate. It becomes possible. As a result, the substrate is placed at the specified position while the substrate protective film 41 is stuck, so that, for example, processing by a photolithography method or the like can be performed.

なお、以上においては、基板として第1シリコン基板36および第2シリコン基板37が積層されてなる積層体38を例示し、当該積層体38に基板保護フィルム41が貼付・剥離される構成を例示したが、同様な基板を有するMEMSデバイスの製造や液体噴射ヘッドの製造においても、本発明を適用することが可能である。
また、上記実施形態においては、基板保護フィルム41に切欠き部52が形成された構成を例示したが、これには限られず、必ずしも切欠き部52が設けられていなくてもよい。
In the above, the laminated body 38 in which the first silicon substrate 36 and the second silicon substrate 37 are laminated is exemplified as the substrate, and the configuration in which the substrate protective film 41 is attached to and peeled from the laminated body 38 is exemplified. However, the present invention can also be applied to the manufacture of a MEMS device having a similar substrate or a liquid jet head.
Moreover, in the said embodiment, although the structure in which the notch part 52 was formed in the board | substrate protective film 41 was illustrated, it is not restricted to this, The notch part 52 does not necessarily need to be provided.

また、上記実施形態においては、液体噴射ヘッドとしてインクジェット式記録ヘッド2を例に挙げて説明したが、本発明は、他の液体噴射ヘッドにも適用することができる。例えば、液晶ディスプレイ等のカラーフィルターの製造に用いられる色材噴射ヘッド、有機EL(Electro Luminescence)ディスプレイ、FED(面発光ディスプレイ)等の電極形成に用いられる電極材噴射ヘッド、バイオチップ(生物化学素子)の製造に用いられる生体有機物噴射ヘッド等にも本発明を適用することができる。ディスプレイ製造装置用の色材噴射ヘッドでは液体の一種としてR(Red)・G(Green)・B(Blue)の各色材の溶液を噴射する。また、電極形成装置用の電極材噴射ヘッドでは液体の一種として液状の電極材料を噴射し、チップ製造装置用の生体有機物噴射ヘッドでは液体の一種として生体有機物の溶液を噴射する。   In the above embodiment, the ink jet recording head 2 is described as an example of the liquid ejecting head. However, the present invention can be applied to other liquid ejecting heads. For example, a color material ejecting head used for manufacturing a color filter such as a liquid crystal display, an electrode material ejecting head used for forming an electrode such as an organic EL (Electro Luminescence) display, FED (surface emitting display), a biochip (biochemical element) The present invention can also be applied to bioorganic matter ejecting heads and the like used in the production of In a color material ejecting head for a display manufacturing apparatus, a solution of each color material of R (Red), G (Green), and B (Blue) is ejected as a kind of liquid. Further, an electrode material ejecting head for an electrode forming apparatus ejects a liquid electrode material as a kind of liquid, and a bioorganic matter ejecting head for a chip manufacturing apparatus ejects a bioorganic solution as a kind of liquid.

1...プリンター,2...記録ヘッド,3...インクカートリッジ,4...キャリッジ,6...記録媒体,7...キャリッジ移動機構,8...紙送り機構,10...流路形成基板,11...ノズルプレート,12...アクチュエーターユニット,13...封止板,14...振動板,15...圧力室,16...リザーバー,17...個別供給口,18...ノズル,19...圧電素子,20...リード電極,21...弾性膜,22...絶縁膜,23...連通開口部,25...下電極膜,26...圧電体膜,27...上電極膜,29...収容空部,30...液室空部,31...コンプライアンス基板,32...封止膜,33...固定板,34...配線開口部,36...第1シリコン基板,37...第2シリコン基板,38...積層体,39...レジスト,40...フィルム貼付装置,41...基板保護フィルム,42...操出ローラー,43...プリカット部,44...剥離紙,45...剥離部,46...貼付部,47...巻取ローラー,48...カッティングローラー,49...受けローラー,51...延出部,52...切欠き部,53...面取り部,54...貼付ローラー,56...アライメントマーク,57...辺,58...アライメント基板,59...基準マーク,60...吸着保持治具,61...カメラ,62...吸引路,64...圧着ローラー,65...剥離テープ,66...加熱治具   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Printer, 2 ... Recording head, 3 ... Ink cartridge, 4 ... Carriage, 6 ... Recording medium, 7 ... Carriage moving mechanism, 8 ... Paper feed mechanism, 10 ... channel forming substrate, 11 ... nozzle plate, 12 ... actuator unit, 13 ... sealing plate, 14 ... vibrating plate, 15 ... pressure chamber, 16 ... reservoir, 17 ... Individual supply port, 18 ... Nozzle, 19 ... Piezoelectric element, 20 ... Lead electrode, 21 ... Elastic film, 22 ... Insulating film, 23 ... Communication opening, 25 ... Lower electrode film, 26 ... Piezoelectric film, 27 ... Upper electrode film, 29 ... Storage cavity, 30 ... Liquid chamber cavity, 31 ... Compliance substrate, 32. .. Sealing film, 33 ... Fixing plate, 34 ... Wiring opening, 36 ... First silicon substrate, 37 ... Second silicon substrate, 38 ... Laminate, 39 ... Resist, 40 ... Film sticking device, 41 ... Substrate protective film, 42 ... Unloading row -43 ... Pre-cut section, 44 ... Release paper, 45 ... Release section, 46 ... Pasting section, 47 ... Winding roller, 48 ... Cutting roller, 49 ... Receiving Roller, 51 ... Extension, 52 ... Notch, 53 ... Chamfer, 54 ... Sticking roller, 56 ... Alignment mark, 57 ... Side, 58 ... Alignment Substrate, 59 ... Reference mark, 60 ... Suction holding jig, 61 ... Camera, 62 ... Suction path, 64 ... Pressure roller, 65 ... Peeling tape, 66 ... Heating jig

Claims (6)

MEMSデバイスの製造において当該MEMSデバイスを構成する基板に貼付される基板保護フィルムであって、
前記基板との接着領域の端よりも前記基板の外縁側に向けて延出した延出部を有することを特徴とする基板保護フィルム。
A substrate protective film attached to a substrate constituting the MEMS device in the manufacture of the MEMS device,
It has an extension part extended toward the outer edge side of the substrate rather than the end of the adhesion field with the substrate, The substrate protection film characterized by things.
前記基板の位置決めに係るアライメントマークに対応する位置に、当該アライメントマークを露出可能な開口部を有することを特徴とする請求項1に記載の基板保護フィルム。   The substrate protective film according to claim 1, further comprising an opening capable of exposing the alignment mark at a position corresponding to the alignment mark related to the positioning of the substrate. 前記開口部を区画する辺同士が曲線で接続されていることを特徴とする請求項2に記載の基板保護フィルム。   The board | substrate protective film of Claim 2 with which the edge | side which divides the said opening part is connected by the curve. 前記延出部が、前記基板保護フィルムの外周方向において異なる位置に複数形成されたことを特徴とする請求項1から請求項3の何れか一項に記載の基板保護フィルム。   4. The substrate protective film according to claim 1, wherein a plurality of the extending portions are formed at different positions in the outer peripheral direction of the substrate protective film. 5. 請求項1から請求項4の何れか一項に記載の基板保護フィルムを、MEMSデバイスを構成する基板に貼付する保護フィルム貼付工程と、
貼付された前記基板保護フィルムを吸着保持治具により吸着して前記基板を保持した状態で前記基板の位置決めを行うアライメント工程と、
前記位置決めされた前記基板に対して加工を行う加工工程と、
加工後の前記基板から前記基板保護フィルムを剥離する剥離工程と、
を有し、
前記剥離工程において、前記延出部に剥離テープを溶着し、前記延出部を起点として前記基板保護フィルムを前記基板から前記剥離テープとともに剥離することを特徴とするMEMSデバイスの製造方法。
A protective film sticking step of sticking the substrate protective film according to any one of claims 1 to 4 to a substrate constituting the MEMS device;
An alignment step of positioning the substrate in a state of holding the substrate by adsorbing the affixed substrate protection film with an adsorption holding jig;
A processing step of processing the positioned substrate;
A peeling step of peeling the substrate protective film from the substrate after processing;
Have
In the peeling step, a peeling tape is welded to the extension part, and the substrate protective film is peeled off from the substrate together with the peeling tape from the extension part as a starting point.
請求項5に記載のMEMSデバイスの製造方法を経ることを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。   A manufacturing method of a liquid jet head, wherein the manufacturing method of the MEMS device according to claim 5 is performed.
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