JP2015138968A - 選択的電子部品実装モジュールの製造方法 - Google Patents
選択的電子部品実装モジュールの製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015138968A JP2015138968A JP2014082008A JP2014082008A JP2015138968A JP 2015138968 A JP2015138968 A JP 2015138968A JP 2014082008 A JP2014082008 A JP 2014082008A JP 2014082008 A JP2014082008 A JP 2014082008A JP 2015138968 A JP2015138968 A JP 2015138968A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- component mounting
- electronic component
- manufacturing
- sealing material
- mounting module
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H10W74/01—
-
- H10W42/276—
-
- H10W90/724—
-
- H10W90/754—
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
Abstract
【課題】既存の選択的電子部品実装モジュールの製造工程を改良するための選択的電子部品実装モジュールの製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明に係る電子部品実装モジュールの製造方法は、基板の表面に複数の電子素子を配置する工程と、基板の表面に液体感光性樹脂材料をスプレー塗布する工程と、液体感光性樹脂材料に紫外光を照射することで、少なくとも1つの電子素子を囲繞する堤部を形成する工程と、堤部内に少なくとも1つの電子素子を被覆する封止材料を充填する工程と、封止材料を硬化させることで、少なくとも1つの電子素子を被覆するパッケージを形成する工程と、を含む。
【選択図】図1B
【解決手段】本発明に係る電子部品実装モジュールの製造方法は、基板の表面に複数の電子素子を配置する工程と、基板の表面に液体感光性樹脂材料をスプレー塗布する工程と、液体感光性樹脂材料に紫外光を照射することで、少なくとも1つの電子素子を囲繞する堤部を形成する工程と、堤部内に少なくとも1つの電子素子を被覆する封止材料を充填する工程と、封止材料を硬化させることで、少なくとも1つの電子素子を被覆するパッケージを形成する工程と、を含む。
【選択図】図1B
Description
本発明は、選択的電子部品実装モジュール及びその製造方法に関する。
現在一般的な電子部品実装モジュールにおいては、実装材料によって実装された各種電子素子が使用されている。電子製品の機能が益々多様化しているため、電子部品実装モジュール内部に統合される電子素子の種類も益々多種多様となっている。しかしながら、全ての電子素子が封止体内に被覆された状態では、一部の電子素子のみの機能が喪失した場合、機能を喪失した電子素子のみを交換することは困難である。また、光電素子等を被覆したくない場合、このタイプの光電素子が封止体内に被覆されることはあってはならない。
一般的に、機能を喪失した電子素子を交換しやすくしたり電子部品実装モジュールの実装自由度を向上させるために、通常、異なる電子素子を別々に被覆することができるように、電子部品実装モジュールにおいて複数の異なるパッケージを設けている。
しかしながら、電子部品実装モジュールに複数の異なるパッケージを設けるには、電子部品実装モジュールを製作する製造工程において、異なる電子素子を区分けすることができるように複数の金型を設けなければならないことから、製作の難易度及び製造コストを増加させる可能性がある。
本発明は、既存の選択的電子部品実装モジュールの製造工程を改良するための選択的電子部品実装モジュールの製造方法を提供することを課題とする。
本発明に係る電子部品実装モジュールの製造方法は、基板の表面に複数の電子素子を配置する工程と、基板の表面に液体感光性樹脂材料をスプレー塗布する工程と、液体感光性樹脂材料に紫外光を照射することで、少なくとも1つの電子素子を囲繞する堤部を形成する工程と、堤部内に少なくとも1つの電子素子を被覆する封止材料を充填する工程と、封止材料を硬化させることで、少なくとも1つの電子素子を被覆するパッケージを形成する工程と、を含む。
このように、本発明に係る選択的電子部品実装モジュールの製造方法では、実装しようとする電子素子を囲繞するように液体感光性樹脂材料を繰り返しスプレー塗布し、液体感光性樹脂材料に紫外光を照射して液体感光性樹脂材料を硬化させることで堤部を形成する。その後、堤部内に封止材料を充填すると共に封止材料を硬化させることでパッケージを形成する。これにより、パッケージにおいて、実装しようとする電子素子を選択的に被覆することができる。従って、本発明に係る選択的電子部品実装モジュールの製造方法によれば、パッケージにおいて一部の電子素子を選択的に実装することができることから、実装が必要な電子素子をピンポイントで被覆することができ、ひいては電子部品実装モジュールにおける実装上の自由度を向上させることが可能である。
本発明が所定の目的を達成するために採用する技術、方法及び効果を更に理解することができるように、以下、本発明について図面を参照しながら詳細に説明する。これにより、本発明の目的、特徴及び特性を深く且つ具体的に理解することができる。但し、図面及び付随する資料は、本発明の参考及び説明のために提供するものに過ぎず、本発明を制限するものではない。
図1Aは、本発明に係る選択的電子部品実装モジュールの構造を示す図である。図1Bは、図1AにおけるP−P線に沿った断面を示した断面図である。図1A及び図1Bに示すように、選択的電子部品実装モジュール100は、基板110と、基板110と電気的に接続される複数の電子素子120と、一部の電子素子120を覆うパッケージ140とを含む。
基板110は、異なる電子素子120が配置されるキャリア(Carrier)として用いられる。基板110は、大サイズの複合回路基板(circuit substrate strip)であってもよい。電子素子120は、例えばチップ、トランジスタ、ダイオード、コンデンサ、インダクタ、光電素子又はその他の高周波素子、無線周波数素子といった能動素子又は受動素子であってよい。
電子素子120は、複数の様々なタイプを含んでもよい。即ち、これらの電子素子120の種類は完全に同一ではなくてもよい。従って、電子素子120は、完全に同一ではない複数の電子素子である。例えばそのうちの1つの電子素子120は、ダイオードであってよく、他の電子素子120はチップであってよい。例えば図1A及び図1Bに示すように、電子素子120は、異なる種類を含んでもよいが、いずれも電子素子120として表示する。但し、本発明は電子素子120の種類について限定するものではない。
パッケージ140は、電子素子120同士に不必要な電気的接続又は短絡等の状況が生じることを回避するための封止ペーストである。パッケージ140は、例えばエポキシ樹脂(Epoxy resin)等の粘性を有する液体封止ペースト(Liquid Encapsulant)が硬化されることで形成される。本発明に係る選択的電子部品実装モジュール100の製造方法によれば、パッケージ140において一部の電子素子120を選択的に実装することができることから、実装が必要な電子素子120をピンポイントで被覆することができ、ひいては電子部品実装モジュールにおける実装上の自由度を向上させることが可能となる。
本実施例において、選択的電子部品実装モジュール100は、パッケージ140に接触すると共にパッケージ140を囲繞する堤部130を含む。堤部130は、実装しようとする保護領域M1を包囲する。この保護領域M1は選択的に実装しようとする領域であり、実装される電子素子120が保護領域M1内に配置される。堤部130の材料は液体感光性樹脂材料である。一定の波長の紫外光が照射されると、液体感光性樹脂材料が重合反応によって硬化することで堤部130が形成される。
堤部130は、選択的電子部品実装モジュール100の製造方法の過程において必要な構造である。但し、選択的電子部品実装モジュール100では、製品の需要に応じて後続の製造工程において堤部130を除去するか残すかを選択することができる。従って、他の実施例において、選択的電子部品実装モジュール100は、堤部130を含まなくてもよい。また、選択的電子部品実装モジュール100では、製品の電磁遮蔽に対する需要に基づいて電磁遮蔽構造(図に表示せず)を更に作成してもよい。
図2A乃至図2Dは、それぞれ本発明に係る選択的電子部品実装モジュールの製造方法の各工程における形成状態を示す図である。以下、図2A乃至図2Dを順次用いて説明する。
まず、図2Aに示すように、基板100の表面に複数の電子素子120を配置する。実際の適用において、基板110は大サイズの複合回路基板であってもよく、電子素子120はチップ、トランジスタ、ダイオード、コンデンサ、インダクタ、光電素子又はその他の高周波素子、無線周波数素子であってもよい。電子素子120は、例えばワイヤボンディング方式、フリップチップ方式又は表面実装技術(Surface Mount Technology、SMT)といった様々な方式によって基板100の表面にマウント(mount)することができる。但し、本発明は、電子素子120と基板100との間の配置方式を限定するものではない。
図2Bに示すように、基板100の表面に液体感光性樹脂材料130'をスプレー塗布すると共に、液体感光性樹脂材料130'に紫外光を照射する。詳しく述べると、まず、囲い込もうとする保護領域M1を予め構成するように、ノズルP1を移動させることによって液体感光性樹脂材料130'を少なくとも1つの電子素子120に囲繞させる。保護領域M1は、選択的電子部品実装モジュール100におけるパッケージ140に被覆される領域である。ノズルP1が液体感光性樹脂材料130'を一層一層スプレー塗布することにより、液体感光性樹脂材料130'が上方に層状に堆積される。
ノズルP1が液体感光性樹脂材料130'を一層一層スプレー塗布すると同時に、紫外光源U1を介して紫外光を照射する。液体感光性樹脂材料130'は、紫外光が照射されると硬化反応を起こす。液体感光性樹脂材料130'は、光増感剤が添加された、モノマーとプレポリマー(Prepolymer)とからなる樹脂材料である。一定の波長の紫外光が照射されると、液体感光性樹脂材料130'は、重合反応を起こして硬化する。
図2Cに示すように、液体感光性樹脂材料130'は、上方に層状に堆積されると同時に、紫外光が照射されることで硬化する。液体感光性樹脂材料130'のスプレー塗布及び紫外光の照射を繰り返し行う過程において、少なくとも1つの電子素子120の周囲を囲繞する堤部130を形成する。堤部130は、領域M1を囲繞している。堤部130の高さ及び形状は、電子素子120の高さ及び異なる電子素子120の配置構成に応じて、例えば矩形枠、多辺形枠又は任意の形状の枠体といった様々な形状に変更することができる。即ち、堤部130の形成においては、ノズルP1を移動させることで液体感光性樹脂材料130'によって保護領域M1の形状を予め構成した後、電子素子120の高さ又は後続の製品製造工程を考慮して堤部130の高さを調整することができる。
図2Dに示すように、堤部130内に、少なくとも1つの電子素子120を被覆する封止材料140'を充填する。詳しく述べると、封止材料140'は、良好な流動性及び平坦性を有する液体封止ペースト(Liquid Encapsulant)である。堤部130によって囲繞された保護領域M1内にディスペンサー(dispenser)D1を介して封止材料140'を注入することで、封止材料140'が基板110の表面を覆うと共に保護領域M1内に位置する電子素子120を被覆する。また、封止材料140'を注入する高さは、堤部130の高さと略同一であってもよい。但し、本発明は封止材料140'を注入する高さを限定するものではない。封止材料140'が流動して堤部130内の空間に充満しやすいように、封止材料140'を充填する工程は常圧で加温する環境において行われるようにしてもよい。即ち、封止材料140'を充填する工程は、大気圧で封止材料140'と基板110の温度が室温よりも高いという条件で行われるようにしてもよい。
封止材料140'を充填する過程においては、空気を巻き込んだり気泡が生じたりする。これら気泡によって内部又は外部に穴が生じると共に製品の実装品質に悪影響を及ぼすため、封止材料140'を充填する工程の後、環境の真空度及び環境温度を上昇させると共に、この環境の真空度及び環境温度を約1時間維持することによって、封止材料140'内部の気泡を放出させる。この時、封止材料140'内部の気泡が散出されることができるように、真空圧力は10−2トル(torr)〜10−3トル(torr)とされ、環境温度は90℃〜110℃とされてもよい。
図1Bに示すように、封止材料140'を硬化させることで少なくとも1つの電子素子120を被覆するパッケージ140を形成する。詳しく述べると、封止材料140'を硬化させてパッケージ140を形成することができるように、硬化工程の過程においても、10−2トル(torr)〜10−3トル(torr)の真空環境下、更に環境温度を140℃〜160℃まで上昇させて約3時間維持する。以上の工程を経て、選択的電子部品実装モジュール100は略完成する。選択的電子部品実装モジュール100では、製品の需要に応じて、堤部130を除去することも残すこともできる。また、選択的電子部品実装モジュール100では、製品の電磁遮蔽に対する需要に基づいて電磁遮蔽構造を更に作成してもよい。
このように、本発明に係る選択的電子部品実装モジュールの製造方法では、実装しようとする電子素子を囲繞するように液体感光性樹脂材料を繰り返しスプレー塗布すると共に、液体感光性樹脂材料に紫外光を照射して液体感光性樹脂材料を硬化させることで堤部を形成する。その後、堤部内に封止材料を充填すると共に封止材料を硬化させることでパッケージを形成する。これにより、パッケージにおいて、実装しようとする電子素子を選択的に被覆することができる。従って、本発明に係る選択的電子部品実装モジュール100の製造方法によれば、パッケージ140において一部の電子素子120を選択的に実装することができることから、実装することを要する電子素子をピンポイントで被覆することができ、ひいては電子部品実装モジュールの製品構成及び応用における自由度を向上させることが可能である。
上記は本発明の実施例に過ぎず、本発明の特許請求の範囲を限定するものではない。従って、当業者が本発明の主旨を逸脱しない範囲内において行った変更や修正といった等価の置換は、すべて本発明の特許請求の範囲に含まれる。
100 選択的電子部品実装モジュール
110 基板
120 電子素子
130 堤部
130' 液体感光性樹脂材料
140 パッケージ
140' 封止材料
D1 ディスペンサー
M1 保護領域
P1 ノズル
U1 紫外光源
110 基板
120 電子素子
130 堤部
130' 液体感光性樹脂材料
140 パッケージ
140' 封止材料
D1 ディスペンサー
M1 保護領域
P1 ノズル
U1 紫外光源
Claims (8)
- 基板の表面に複数の電子素子を配置する工程と、
前記基板の表面に液体感光性樹脂材料を形成する工程と、
前記液体感光性樹脂材料に紫外光を照射することで、少なくとも1つの前記電子素子を囲繞する堤部を形成する工程と、
前記堤部内に、少なくとも1つの前記電子素子を被覆する封止材料を充填する工程と、
前記封止材料を硬化させることで、少なくとも1つの前記電子素子を被覆するパッケージを形成する工程と
を含むことを特徴とする選択的電子部品実装モジュールの製造方法。 - 前記液体感光性樹脂材料を形成する方法はスプレー塗布であることを特徴とする請求項1に記載の選択的電子部品実装モジュールの製造方法。
- 前記液体感光性樹脂材料をスプレー塗布する工程と前記液体感光性樹脂材料に紫外光を照射する工程とを同時に行うことを特徴とする請求項2に記載の選択的電子部品実装モジュールの製造方法。
- 前記封止材料を充填する工程を常圧の環境下で行うことを特徴とする請求項1に記載の選択的電子部品実装モジュールの製造方法。
- 前記封止材料を充填する工程の後、前記封止材料の内部の気泡を放出させることを特徴とする請求項1に記載の選択的電子部品実装モジュールの製造方法。
- 前記封止材料の内部の気泡を放出させる工程は、環境の真空度を10−2torr〜10−3torrの真空圧力まで上昇させて前記封止材料の内部の気泡を除去することを含むことを特徴とする請求項5に記載の選択的電子部品実装モジュールの製造方法。
- 前記封止材料の内部の気泡を放出させる工程は、環境温度を90℃〜110℃まで上昇させることを含むことを特徴とする請求項5に記載の選択的電子部品実装モジュールの製造方法。
- 前記封止材料を硬化させる工程を、10−2torr〜10−3torrの真空環境下、140℃〜160℃の環境温度で行うことを特徴とする請求項1に記載の選択的電子部品実装モジュールの製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW103102666A TWI548005B (zh) | 2014-01-24 | 2014-01-24 | 選擇性電子封裝模組的製造方法 |
| TW103102666 | 2014-01-24 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2015138968A true JP2015138968A (ja) | 2015-07-30 |
Family
ID=53522862
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2014082008A Pending JP2015138968A (ja) | 2014-01-24 | 2014-04-11 | 選択的電子部品実装モジュールの製造方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20150214075A1 (ja) |
| JP (1) | JP2015138968A (ja) |
| DE (1) | DE102014105961A1 (ja) |
| FR (1) | FR3016996A1 (ja) |
| TW (1) | TWI548005B (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102016117183A1 (de) | 2016-09-13 | 2018-03-15 | Delo Industrie Klebstoffe Gmbh & Co. Kgaa | Lichtfixierbare Vergussmasse und Verfahren zum selektiven Verguss von Substraten/Bauteilen unter Verwendung der Massen |
| TWI719718B (zh) * | 2019-11-18 | 2021-02-21 | 啟碁科技股份有限公司 | 封裝結構及其製造方法 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58182837A (ja) * | 1982-04-21 | 1983-10-25 | Hitachi Ltd | 樹脂封止半導体装置の製造方法 |
| JPH01300531A (ja) * | 1988-05-30 | 1989-12-05 | Seikosha Co Ltd | 半導体素子の封止方法 |
| JPH04354142A (ja) * | 1991-05-31 | 1992-12-08 | Hitachi Cable Ltd | 半導体の樹脂封止方法 |
| JP2004006805A (ja) * | 2002-04-19 | 2004-01-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品の製造方法 |
| JP2006199724A (ja) * | 2005-01-18 | 2006-08-03 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | 封止樹脂用組成物 |
| JP2009135485A (ja) * | 2007-11-07 | 2009-06-18 | Mitsubishi Chemicals Corp | 半導体発光装置及びその製造方法 |
| US20110260338A1 (en) * | 2010-04-27 | 2011-10-27 | Stats Chippac, Ltd. | Semiconductor Device and Method of Forming Adjacent Channel and DAM Material Around Die Attach Area of Substrate to Control Outward Flow of Underfill Material |
Family Cites Families (45)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3583349A (en) * | 1969-05-22 | 1971-06-08 | Us Navy | Deep sea submergency buoyancy module and method of making same |
| US4961886A (en) * | 1988-06-09 | 1990-10-09 | Dow Corning Corporation | Method of controlling flow by a radiation formed dam |
| US4923908A (en) * | 1988-10-14 | 1990-05-08 | Zenith Electronics Corporation | Epoxy compositions, and method of making same |
| US5120678A (en) * | 1990-11-05 | 1992-06-09 | Motorola Inc. | Electrical component package comprising polymer-reinforced solder bump interconnection |
| NL1004651C2 (nl) * | 1996-11-29 | 1998-06-03 | Nedcard | Werkwijze voor het inkapselen van een chip op een drager. |
| US6271996B1 (en) * | 1997-11-10 | 2001-08-07 | Hutchinson Technology Incorporated | Damper with unconstrained surface for a disk drive head suspension |
| EP1203792A4 (en) * | 1999-02-25 | 2002-05-29 | Nitto Denko Corp | RESIN COMPOSITION FOR SEMICONDUCTOR ENCLOSURE, SEMICONDUCTOR COMPONENT OBTAINED therefrom, AND METHOD FOR THE PRODUCTION OF SEMICONDUCTOR COMPONENTS |
| FR2793069B1 (fr) * | 1999-04-28 | 2003-02-14 | Gemplus Card Int | Procede de fabrication de dispositif electronique portable a circuit integre protege par resine photosensible |
| US6469074B1 (en) * | 1999-05-26 | 2002-10-22 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Composition of cyanate ester, epoxy resin and acid anhydride |
| DE10024336A1 (de) * | 2000-05-17 | 2001-11-22 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Bauelementanordnung und Verfahren zur Herstellung einer Bauelementanordnung |
| JP3871634B2 (ja) * | 2002-10-04 | 2007-01-24 | シャープ株式会社 | Cof半導体装置の製造方法 |
| TW591770B (en) * | 2003-03-14 | 2004-06-11 | Ind Tech Res Inst | Packaging method for semiconductor device |
| US20080156212A1 (en) * | 2004-03-30 | 2008-07-03 | Hiroshi Yamada | Hollow Cylindrical Printing Element |
| US20060006791A1 (en) * | 2004-07-06 | 2006-01-12 | Chia Chee W | Light emitting diode display that does not require epoxy encapsulation of the light emitting diode |
| US20070289129A1 (en) * | 2004-08-06 | 2007-12-20 | Wing Kenneth E | Selective Encapsulation of Electronic Components |
| US7763478B2 (en) * | 2006-08-21 | 2010-07-27 | Cree, Inc. | Methods of forming semiconductor light emitting device packages by liquid injection molding |
| JP4438006B2 (ja) * | 2007-03-30 | 2010-03-24 | Okiセミコンダクタ株式会社 | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
| US8530589B2 (en) * | 2007-05-04 | 2013-09-10 | Kovio, Inc. | Print processing for patterned conductor, semiconductor and dielectric materials |
| US8247827B2 (en) * | 2008-09-30 | 2012-08-21 | Bridgelux, Inc. | LED phosphor deposition |
| JP5388341B2 (ja) * | 2009-03-31 | 2014-01-15 | ナミックス株式会社 | アンダーフィル用液状樹脂組成物、フリップチップ実装体およびその製造方法 |
| JP2011014885A (ja) * | 2009-06-01 | 2011-01-20 | Shin-Etsu Chemical Co Ltd | 多層半導体装置用アンダーフィル材のダム材組成物、及び該ダム材組成物を用いた多層半導体装置の製造方法 |
| KR101182240B1 (ko) * | 2009-09-09 | 2012-09-12 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 전계 발광 표시장치의 밀봉용 충전재 및 이를 이용한 유기 전계 발광 표시장치의 제조방법 |
| US20110076853A1 (en) * | 2009-09-28 | 2011-03-31 | Magic Technologies, Inc. | Novel process method for post plasma etch treatment |
| US20110115067A1 (en) * | 2009-11-18 | 2011-05-19 | Jen-Chung Chen | Semiconductor chip package with mold locks |
| US8143110B2 (en) * | 2009-12-23 | 2012-03-27 | Intel Corporation | Methods and apparatuses to stiffen integrated circuit package |
| TWI425597B (zh) * | 2009-12-31 | 2014-02-01 | 勝開科技股份有限公司 | 具有黑色膠體之影像感測器封裝結構 |
| EP2530511B1 (en) * | 2010-01-29 | 2015-11-25 | Citizen Holdings Co., Ltd. | Method for manufacturing electronic glasses and liquid-crystal lenses |
| DE102010028815A1 (de) * | 2010-05-10 | 2011-11-10 | Nedcard B.V. | Verfahren zum Verkapseln eines Chips |
| WO2012031703A1 (de) * | 2010-09-06 | 2012-03-15 | Heraeus Noblelight Gmbh | Beschichtungsverfahren für ein optoelektronisches chip-on-board-modul |
| DE102010044470B4 (de) * | 2010-09-06 | 2018-06-28 | Heraeus Noblelight Gmbh | Verfahren zur Beschichtung eines optoelektronischen Chip-On-Board-Moduls, optoelektronisches Chip-On-Board-Modul und System damit |
| KR101423539B1 (ko) * | 2010-12-20 | 2014-07-25 | 삼성전자 주식회사 | 포지티브형 감광성 수지 조성물 |
| JP5467469B2 (ja) * | 2011-01-04 | 2014-04-09 | 山栄化学株式会社 | プリント配線基板に表面実装する方法 |
| TWI413195B (zh) * | 2011-01-20 | 2013-10-21 | 華東科技股份有限公司 | 減少模封膠體內氣泡之壓縮模封方法與裝置 |
| JP5726551B2 (ja) * | 2011-01-28 | 2015-06-03 | セーレン株式会社 | 加飾樹脂成形品及びその製造方法 |
| JP2012172064A (ja) * | 2011-02-22 | 2012-09-10 | Nitto Denko Corp | 紫外線硬化型光学樹脂接着剤組成物 |
| JP2012200686A (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-22 | Fujitsu Semiconductor Ltd | ディスペンス方法及びディスペンス装置 |
| US9429125B2 (en) * | 2011-04-26 | 2016-08-30 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Spray measuring method and spray test apparatus used in the method |
| JP5751214B2 (ja) * | 2012-03-13 | 2015-07-22 | 信越化学工業株式会社 | 硬化性シリコーン樹脂組成物、その硬化物及び光半導体デバイス |
| JP6095301B2 (ja) * | 2012-09-03 | 2017-03-15 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
| KR20140047750A (ko) * | 2012-10-09 | 2014-04-23 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 장치 |
| CN103887402B (zh) * | 2012-12-21 | 2018-02-09 | 光宝电子(广州)有限公司 | 发光二极管封装结构、其围墙结构及围墙结构的制造方法 |
| JP6292477B2 (ja) * | 2013-09-07 | 2018-03-14 | Tianma Japan株式会社 | 表示装置 |
| TWM471030U (zh) * | 2013-10-18 | 2014-01-21 | Tripod Technology Corp | 電路板封裝結構 |
| JP6113633B2 (ja) * | 2013-11-27 | 2017-04-12 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 有機el表示装置及びその製造方法 |
| US9895847B2 (en) * | 2013-11-27 | 2018-02-20 | Solidscape, Inc. | Method and apparatus for fabricating three dimensional models |
-
2014
- 2014-01-24 TW TW103102666A patent/TWI548005B/zh active
- 2014-04-06 US US14/246,114 patent/US20150214075A1/en not_active Abandoned
- 2014-04-11 JP JP2014082008A patent/JP2015138968A/ja active Pending
- 2014-04-29 FR FR1453854A patent/FR3016996A1/fr active Pending
- 2014-04-29 DE DE102014105961.1A patent/DE102014105961A1/de not_active Ceased
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58182837A (ja) * | 1982-04-21 | 1983-10-25 | Hitachi Ltd | 樹脂封止半導体装置の製造方法 |
| JPH01300531A (ja) * | 1988-05-30 | 1989-12-05 | Seikosha Co Ltd | 半導体素子の封止方法 |
| JPH04354142A (ja) * | 1991-05-31 | 1992-12-08 | Hitachi Cable Ltd | 半導体の樹脂封止方法 |
| JP2004006805A (ja) * | 2002-04-19 | 2004-01-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品の製造方法 |
| JP2006199724A (ja) * | 2005-01-18 | 2006-08-03 | Mitsubishi Gas Chem Co Inc | 封止樹脂用組成物 |
| JP2009135485A (ja) * | 2007-11-07 | 2009-06-18 | Mitsubishi Chemicals Corp | 半導体発光装置及びその製造方法 |
| US20110260338A1 (en) * | 2010-04-27 | 2011-10-27 | Stats Chippac, Ltd. | Semiconductor Device and Method of Forming Adjacent Channel and DAM Material Around Die Attach Area of Substrate to Control Outward Flow of Underfill Material |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20150214075A1 (en) | 2015-07-30 |
| TWI548005B (zh) | 2016-09-01 |
| DE102014105961A1 (de) | 2015-07-30 |
| FR3016996A1 (fr) | 2015-07-31 |
| TW201530665A (zh) | 2015-08-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6654994B2 (ja) | 回路部品の製造方法 | |
| US10410885B2 (en) | Control of under-fill using under-fill deflash for a dual-sided ball grid array package | |
| TWI744572B (zh) | 具有封裝內隔室屏蔽的半導體封裝及其製作方法 | |
| CN109378276B (zh) | 电子封装模块的制造方法以及电子封装模块 | |
| US10580742B2 (en) | Wafer level fan-out package and method of manufacturing the same | |
| TWI567834B (zh) | 指紋辨識晶片封裝模組的製造方法 | |
| US9991222B2 (en) | Package substrate and manufacturing method thereof and package | |
| TW201605001A (zh) | 電子封裝模組之製造方法及其結構 | |
| US20200168557A1 (en) | Semiconductor package and fabrication method thereof | |
| TWI553818B (zh) | 電子封裝模組之製造方法以及電子封裝模組結構 | |
| US7863094B2 (en) | Method for removing bubbles from adhesive layer of semiconductor chip package | |
| JP2015138968A (ja) | 選択的電子部品実装モジュールの製造方法 | |
| US10037936B2 (en) | Semiconductor package with coated bonding wires and fabrication method thereof | |
| CN105304508B (zh) | 电子封装模块的制造方法及其结构 | |
| KR102237783B1 (ko) | 반도체 패키지 및 그것의 제조 방법 | |
| CN104810295A (zh) | 选择性电子封装组件的制造方法 | |
| JP2003124401A (ja) | モジュールおよびその製造方法 | |
| CN109346415B (zh) | 封装结构选择性包封的封装方法及封装设备 | |
| CN111052367A (zh) | 双面球栅阵列封装体的底部填充的控制 | |
| KR101451749B1 (ko) | 반도체 패키지 몰드 금형 및 방법 | |
| CN105023851A (zh) | 电子封装模块的制造方法 | |
| KR101661919B1 (ko) | 반도체 패키지의 제조 방법 | |
| TWI501325B (zh) | 電子模組的製造方法 | |
| US20170345805A1 (en) | Package including stacked die and passive component | |
| KR101648222B1 (ko) | 패키지 구조 및 그의 제조 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150901 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20151201 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20160405 |