JP2014189874A - 成膜装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】成膜装置1は、真空チャンバー10内に原料ガス(ここでは酸素ガス)を供給する原料ガス供給部30を備えると共に、成膜対象物11に対し、原料ガスよりも活性化した活性化ガスを局所的に供給する活性化ガス供給部40を備えている。ここで、成膜対象物11と堆積部2との位置関係によっては、成膜対象物11のうちの一部において、他の部分に比して膜中に供給される酸素が少なくなる場合がある。膜中の酸素が少なくなる部分に対して、活性化ガス供給部40が酸素の活性化ガスを局所的に供給することによって、膜中の酸素を補うことができる。従って、成膜対象物11の場所による膜中の酸素のばらつきを低減することができる。以上より、成膜対象物11の場所による膜質のばらつきを低減することができる。
【選択図】図1
Description
Claims (4)
- 真空チャンバー内で成膜材料の粒子を成膜対象物に堆積させる成膜装置であって、
前記真空チャンバー内で前記成膜対象物を配置可能な成膜対象物配置部と、
前記成膜材料の粒子を前記成膜対象物に堆積させる堆積部と、
前記真空チャンバー内に原料ガスを供給する原料ガス供給部と、
前記成膜対象物配置部に配置される前記成膜対象物に対し、前記原料ガスよりも活性化した活性化ガスを局所的に供給する活性化ガス供給部と、を備える成膜装置。 - 前記堆積部は、
前記真空チャンバー内にプラズマビームを生成する複数のプラズマ源と、
前記成膜材料が充填されると共に、前記プラズマビームを前記成膜材料へ導く、または前記プラズマビームが導かれる主陽極である複数の主ハースと、
前記主ハースの周囲に配置されると共に、前記プラズマビームを誘導する補助陽極である複数の輪ハースと、を備える、請求項1に記載の成膜装置。 - 前記活性化ガス供給部は、前記成膜対象物配置部に配置される前記成膜対象物における、前記成膜材料の粒子の照射方向から見て互いに隣り合う前記主ハースの間の位置へ向かって前記活性化ガスを供給する、請求項2に記載の成膜装置。
- 前記活性化ガス供給部は、前記成膜対象物配置部に配置される前記成膜対象物における、前記成膜材料の粒子の照射方向から見て、前記複数の主ハースが並ぶ方向において最も端に配置される前記主ハースよりも外縁側の位置に前記活性化ガスを供給する、請求項2に記載の成膜装置。
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Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02208207A (ja) * | 1989-02-08 | 1990-08-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超電導薄膜の製造方法および製造装置 |
| JPH0397853A (ja) * | 1989-09-09 | 1991-04-23 | Nkk Corp | レーザーを利用したpvd装置 |
| US5508368A (en) * | 1994-03-03 | 1996-04-16 | Diamonex, Incorporated | Ion beam process for deposition of highly abrasion-resistant coatings |
| JPH1112725A (ja) * | 1997-06-20 | 1999-01-19 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 金属酸化物の被覆方法 |
| JPH11130587A (ja) * | 1997-10-27 | 1999-05-18 | Gifu Prefecture Kenkyu Kaihatsu Zaidan | 窒化物半導体の製造方法 |
| JP2001279443A (ja) * | 2000-03-29 | 2001-10-10 | Seiko Epson Corp | セラミックスの製造方法およびその製造装置、ならびに半導体装置および圧電素子 |
| US20090114154A1 (en) * | 2007-11-06 | 2009-05-07 | Canon Anelva Corporation | Plasma treatment apparatus |
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Patent Citations (11)
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|---|---|---|---|---|
| JPH02208207A (ja) * | 1989-02-08 | 1990-08-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超電導薄膜の製造方法および製造装置 |
| JPH0397853A (ja) * | 1989-09-09 | 1991-04-23 | Nkk Corp | レーザーを利用したpvd装置 |
| US5508368A (en) * | 1994-03-03 | 1996-04-16 | Diamonex, Incorporated | Ion beam process for deposition of highly abrasion-resistant coatings |
| JPH10500633A (ja) * | 1994-03-03 | 1998-01-20 | モンサント カンパニー | 高度な耐摩耗性コーティングの蒸着のためのイオンビーム法 |
| JPH1112725A (ja) * | 1997-06-20 | 1999-01-19 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 金属酸化物の被覆方法 |
| JPH11130587A (ja) * | 1997-10-27 | 1999-05-18 | Gifu Prefecture Kenkyu Kaihatsu Zaidan | 窒化物半導体の製造方法 |
| JP2001279443A (ja) * | 2000-03-29 | 2001-10-10 | Seiko Epson Corp | セラミックスの製造方法およびその製造装置、ならびに半導体装置および圧電素子 |
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