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JP2014027000A - 研削装置 - Google Patents

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JP2014027000A
JP2014027000A JP2012163607A JP2012163607A JP2014027000A JP 2014027000 A JP2014027000 A JP 2014027000A JP 2012163607 A JP2012163607 A JP 2012163607A JP 2012163607 A JP2012163607 A JP 2012163607A JP 2014027000 A JP2014027000 A JP 2014027000A
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Takehiko Higaki
岳彦 檜垣
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Disco Corp
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Disco Abrasive Systems Ltd
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  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
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Abstract

【課題】ウエーハの裏面を研削しつつウエーハの外周部に形成された面取り部を除去することができる研削装置を提供する。
【解決手段】ウエーハを保持する保持面を有し回転可能に構成されたチャックテーブルと、チャックテーブルをウエーハを着脱する着脱領域と研削領域に選択的に位置付けるチャックテーブル位置付け手段と、研削領域に位置付けられたチャックテーブルの保持面に保持されたウエーハを研削する環状の研削砥石を備えた研削ホイールを具備した研削手段と、研削手段をチャックテーブルの保持面に対して垂直な方向に研削送りする研削送り手段とを具備する研削装置であって、研削領域に位置付けられたチャックテーブルの保持面に保持されたウエーハの外周に形成された面取り部を除去する面取り部除去手段を備え、研削領域に位置付けられたチャックテーブルの保持面に保持されたウエーハを研削手段によって研削する際に面取り部除去手段によってウエーハの外周に形成された面取り部を除去する。
【選択図】図6

Description

本発明は、半導体ウエーハ等のウエーハを研削する研削装置に関する。
半導体デバイス製造工程においては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に配列されたストリートと呼ばれる複数のストリートが格子状に形成され、この区画された領域にIC、LSI等のデバイスを形成する。そして、半導体ウエーハをストリートに沿って切断することによりデバイスが形成された領域を分割して個々の半導体デバイスを製造している。
半導体デバイスの小型化および軽量化を図るために、半導体ウエーハをストリートに沿って切断して個々のデバイスに分割するのに先立って、半導体ウエーハの裏面を研削して所定の厚さに形成している。
しかるに、半導体ウエーハは、半導体デバイスを形成するプロセス中に割れや発塵を防止するためにデバイスが形成されたデバイス領域を囲繞する外周余剰領域の外周部には円弧状の面取りが形成されている。このように外周部に円弧状の面取りが形成された厚みが例えば600μmの半導体ウエーハの裏面を研削して100μmの厚みに仕上げると、半導体ウエーハの外周に所謂ナイフエッジが形成され、危険であるとともに外周から欠けが発生して半導体ウエーハが損傷するという問題がある。
上述した問題を解消するために、半導体ウエーハの裏面を研削して所定の厚みに形成する前に、半導体ウエーハの表面側から面取り部を切削ブレードによって切削して除去し、その後半導体ウエーハの裏面を研削して所定の厚みに形成する技術が下記特許文献1に開示されている。
また、上述した問題を解消するために、半導体ウエーハの裏面を研削して所定の厚みに形成する前に、半導体ウエーハを保護テープまたはサブストレートで支持し、半導体ウエーハの外周部に形成された面取り部を研削砥石によって研削して除去する方法が下記特許文献2に開示されている。
特開2007−158239号公報 特開2000−173961号公報
而して、上記特許文献1および特許文献2に記載された方法は、ウエーハの外周部に形成された面取り部を除去するために特別に面取り部除去工程を実施するために、生産性が悪いという問題がある。
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術課題は、ウエーハの裏面を研削しつつウエーハの外周部に形成された面取り部を除去することができる研削装置を提供することにある。
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、ウエーハを保持する保持面を有し回転可能に構成されたチャックテーブルと、該チャックテーブルをウエーハを着脱する着脱領域と研削領域に選択的に位置付けるチャックテーブル位置付け手段と、該研削領域に位置付けられた該チャックテーブルの保持面に保持されたウエーハを研削する環状の研削砥石を備えた研削ホイールを具備した研削手段と、該研削手段を該チャックテーブルの保持面に対して垂直な方向に研削送りする研削送り手段と、を具備する研削装置において、
該研削領域に位置付けられた該チャックテーブルの保持面に保持されたウエーハの外周に形成された面取り部を除去する面取り部除去手段を備え、
該研削領域に位置付けられた該チャックテーブルの保持面に保持されたウエーハを該研削手段によって研削する際に該面取り部除去手段によってウエーハの外周に形成された面取り部を除去する、
ことを特徴とする研削装置が提供される。
本発明による研削装置は、研削領域に位置付けられたチャックテーブルに保持されているウエーハの裏面を研削する環状の研削砥石を備えた研削ホイールを具備した研削手段と、研削領域に位置付けられたチャックテーブルの保持面に保持されたウエーハの外周に形成された円弧状の面取り部を除去する面取り部除去手段を備え、研削領域に位置付けられたチャックテーブルに保持されたウエーハを研削手段によって研削する際に面取り部除去手段によってウエーハの外周に形成された円弧状の面取り部を除去するので、円弧状の面取り部を除去するために特別に面取り部除去工程を実施する必要がないため生産性が向上する。
本発明によって構成された研削装置の斜視図。 図1に示す研削装置に装備されるチャックテーブル機構およびチャックテーブル位置付け手段を示す斜視図。 図1に示す研削装置によって加工されるウエーハとしての半導体ウエーハの斜視図および拡大して示す断面図。 図3に示す半導体ウエーハの表面に保護部材を貼着する保護部材貼着工程の説明図。 図1に示す研削装置によって実施する加工工程の説明図。 図5に示す加工工程の要部を拡大して示す説明図。 図1に示す研削装置に装備される面取り部除去手段に装着される円盤状の研削砥石の他の実施形態を示す説明図。
以下、本発明に従って構成された研削装置の好適な実施形態について、添付図面を参照して更に詳細に説明する。
図1には本発明に従って構成された研削装置の斜視図が示されている。
図1に示す研削装置は、全体を番号2で示す装置ハウジングを具備している。装置ハウジング2は、細長く延在する直方体形状の主部21と、該主部21の後端部(図1において右上端)に設けられ上下方向に配設された直立壁22とを有している。直立壁22の前面には、上下方向に延びる一対の案内レール221、221が設けられている。この一対の案内レール221、221に研削手段としての研削ユニット3が上下方向に移動可能に装着されている。
研削ユニット3は、移動基台31と該移動基台31に装着されたスピンドルユニット32を具備している。移動基台31は、後面両側に上下方向に延びる一対の脚部311、311が設けられており、この一対の脚部311、311に上記一対の案内レール221、221と摺動可能に係合する被案内溝312、312が形成されている。このように直立壁22に設けられた一対の案内レール221、221に摺動可能に装着された移動基台31の前面には前方に突出した支持部313が設けられている。この支持部313にスピンドルユニット32が取り付けられる。
スピンドルユニット32は、支持部313に装着されたスピンドルハウジング321と、該スピンドルハウジング321に回転自在に配設された回転スピンドル322と、該回転スピンドル322を回転駆動するための回転駆動手段としてのサーボモータ323とを具備している。回転スピンドル322の下端部はスピンドルハウジング321の下端を越えて下方に突出せしめられており、その下端にはマウンター324が設けられている。このマウンター324の下面に研削ホイール325が装着される。研削ホイール325は、環状の基台326と該基台326の下面に環状に装着された研削砥石327とからなっており、環状の基台326がマウンター324に締結ボルト328によって取付けられる。
図1に示す研削装置は、上記研削ユニット3を上記一対の案内レール221、221に沿って上下方向(後述するチャックテーブルの保持面と垂直な方向)に移動せしめる研削送り手段4を備えている。この研削送り手段4は、直立壁22の前側に配設され上下方向に延びる雄ねじロッド41を具備している。この雄ねじロッド41は、その上端部および下端部が直立壁22に取り付けられた軸受部材42および43によって回転自在に支持されている。上側の軸受部材42には雄ねじロッド41を回転駆動するための駆動源としてのパルスモータ44が配設されており、このパルスモータ44の出力軸が雄ねじロッド41に伝動連結されている。移動基台31の後面にはその幅方向中央部から後方に突出する連結部(図示していない)も形成されており、この連結部には上下方向に延びる貫通雌ねじ穴が形成されており、この雌ねじ穴に上記雄ねじロッド41が螺合せしめられている。このようにボールスクリュー機構からなる研削送り手段4は、パルスモータ44を正転すると移動基台31即ち研削ユニット3を下降即ち前進せしめ、パルスモータ44を逆転すると移動基台31即ち研削ユニット3を上昇即ち後退せしめる。
図1および図2を参照して説明を続けると、ハウジング2の主部21の後半部にはチャックテーブル機構5が配設されている。チャックテーブル機構5は、移動基台51と該移動基台51に配設されたチャックテーブル52とを含んでいる。移動基台51は、上記ハウジング2の主部21上に前後方向(直立壁22の前面に垂直な方向)である矢印23aおよび23bで示す方向に延在する一対の案内レール23、23上に摺動自在に載置されており、後述するチャックテーブル位置付け手段56によって図1に示す被加工物であるウエーハを着脱する着脱領域24(図2において実線で示す位置)と上記スピンドルユニット32を構成する研削ホイール325の研削砥石327と対向する研削領域25(図2において2点鎖線で示す位置)との間で移動せしめられる。
上記チャックテーブル52は、上記移動基台51に回転可能に支持されており、その下端に装着された回転軸(図示せず)に連結された回転駆動手段としてのサーボモータ53によって回転せしめられる。このチャックテーブル52は、図示しない吸引手段に接続されている。従って、チャックテーブル52を図示しない吸引手段に選択的に連通することにより、保持面上に載置されたウエーハを吸引保持する。なお、図示のチャックテーブル機構5はチャックテーブル52を挿通する穴を有し上記移動基台51等を覆うカバー部材54を備えており、このカバー部材54は移動基台51とともに移動可能に構成されている。
図2を参照して説明を続けると、図示の研削装置は、上記チャックテーブル機構5を一対の案内レール23、23に沿ってチャックテーブル52の上面である保持面と平行に矢印23aおよび23bで示す方向に移動せしめるチャックテーブル位置付け手段56を具備している。チャックテーブル位置付け手段56は、一対の案内レール23間に配設され案内レール23と平行に延びる雄ねじロッド561と、該雄ねじロッド561を回転駆動するサーボモータ562を具備している。雄ねじロッド561は、上記移動基台51に設けられたねじ穴531と螺合して、その先端部が一対の案内レール23、23を連結して取り付けられた軸受部材563によって回転自在に支持されている。サーボモータ562は、その駆動軸が雄ねじロッド561の基端と伝動連結されている。従って、サーボモータ562が正転すると移動基台51即ちチャックテーブル機構5が矢印23aで示す方向に移動し、サーボモータ562が逆転すると移動基台51即ちチャックテーブル機構5が矢印23bで示す方向に移動せしめられる。矢印23aおよび23bで示す方向に移動せしめられるチャックテーブル機構5は、図2において実線で示す着脱領域と2点鎖線で示す研削領域に選択的に位置付けられる。
図1に戻って説明を続けると、図示の研削装置は、研削領域25に位置付けられたチャックテーブル52の保持面に保持されたウエーハの外周に形成された面取り部を除去する面取り部除去手段7を具備している。面取り部除去手段7は、上記装置ハウジング2を構成する直立壁22の前側において研削ユニット3の側方に配設された固定基板71と、該固定基板71の前面に上下方向(チャックテーブル52の保持面に垂直な方向)に移動可能に装着された移動基板72と、該移動基板72の前面に水平方向(チャックテーブル52の保持面と平行な方向)に移動可能に装着されたスピンドルユニット73を具備している。
固定基板71の前面には、上下方向に延びる一対の案内レール711、711が設けられている。この一対の案内レール711、711に移動基板72が上下方向に移動可能に装着されている。移動基台72は、後面に上記一対の案内レール711、711と摺動可能に係合する被案内溝721、721が形成されており、該被案内溝721、721を案内レール711、711に係合することにより、固定基板71の前面に上下方向(チャックテーブル52の保持面に垂直な方向)に移動可能に装着される。また、移動基台72の前面には水平方向(チャックテーブル52の保持面と平行な方向)に延びる一対の案内レール722、722(図1には一方だけが示されている)が設けられている。
スピンドルユニット73は、スピンドルハウジング731と、該スピンドルハウジング731に回転自在に配設された回転スピンドル732と、該回転スピンドル732を回転駆動するための回転駆動手段としてのサーボモータ733とを具備している。スピンドルハウジング731の後面には上記移動基台72の前面に設けられた一対の案内レール722、722と摺動可能に係合する被案内溝731a、731a(図1には一方だけが示されている)が形成されており、該被案内溝731a、731aを案内レール722、722に係合することにより、スピンドルハウジング731は移動基台72の前面に水平方向(チャックテーブル52の保持面と平行な方向)に移動可能に装着される。上記回転スピンドル732は、チャックテーブル52の回転中心に向けて配設されており、その先端に円盤状の研削砥石74が装着されている。なお、研削砥石74は、図示の実施形態においては粒径が30〜40μmのダイヤモンド砥粒をレジンボンド材に混錬し環状に成型して焼成したレジノイド砥石や、砥粒を金属ボンド材に混錬し環状に成型して焼成したメタル砥石からなり、厚みが2mm程度に設定されている。この円盤状の研削砥石74は、研削面である外周面741が軸芯と平行に形成されている。
図示の実施形態における面取り部除去手段7は、上記移動基台72を上記一対の案内レール711、711に沿って上下方向(後述するチャックテーブルの保持面と垂直な方向)に移動せしめる第1の送り手段75を備えている。この第1の送り手段75は、上記研削送り手段4と同様にボールスクリュー機構からなり、図示しない雄ねじロッドを駆動するパルスモータ751を正転すると移動基台72を下降即ち前進せしめ、パルスモータ751を逆転すると移動基台72を上昇即ち後退せしめる。また、図示の実施形態における面取り部除去手段7は、上記スピンドルユニット73を移動基台72の前面に設けられた一対の案内レール722、722に沿って水平方向(チャックテーブル52の保持面と平行な方向)に移動せしめる第2の送り手段76を備えている。この第2の送り手段76も、上記研削送り手段4を同様にボールスクリュー機構からなり、図示しない雄ねじロッドを駆動するパルスモータ761を正転するとスピンドルユニット73をチャックテーブル52に向けて前進せしめ、パルスモータ761を逆転するとスピンドルユニット73をチャックテーブル52から離間する方向に後退せしめる。
図1に戻って説明を続けると、上記チャックテーブル機構5を構成する移動基台51の移動方向両側には、図1に示すように横断面形状が逆チャンネル形状であって、上記一対の案内レール23、23や雄ねじロッド561およびサーボモータ562等を覆っている蛇腹手段61および62が付設されている。蛇腹手段61および62はキャンパス布の如き適宜の材料から形成することができる。蛇腹手段61の前端はハウジング2を構成する主部21の後半部の前面壁に固定され、後端はチャックテーブル機構5の移動基台51の前端面に固定されている。蛇腹手段62の前端はチャックテーブル機構5の移動基台51の後端面に固定され、後端は装置ハウジング2の直立壁22の前面に固定されている。チャックテーブル機構5が矢印23aで示す方向に移動せしめられる際には蛇腹手段61が伸張されて蛇腹手段62が収縮され、チャックテーブル機構5が矢印23bで示す方向に移動せしめられる際には蛇腹手段61が収縮されて蛇腹手段62が伸張せしめられる。
図1に基づいて説明を続けると、装置ハウジング2の主部21における前半部上には、第1のカセット11と、第2のカセット12と、ウエーハ仮載置手段13と、洗浄手段14と、ウエーハ搬送手段15と、ウエーハ搬入手段16およびウエーハ搬出手段17が配設されている。第1のカセット11は研削加工前の被加工物としてのウエーハを収納し、装置ハウジング2の主部21におけるカセット搬入域に載置される。第2のカセット12は装置ハウジング2の主部21におけるカセット搬出域に載置され、研削加工後のウエーハを収納する。ウエーハ仮載置手段13は第1のカセット11と着脱領域24との間に配設され、研削加工前のウエーハを仮載置する。洗浄手段14は着脱領域24と第2のカセット12との間に配設され、研削加工後のウエーハ10を洗浄する。ウエーハ搬送手段15は第1のカセット11と第2のカセット12との間に配設され、第1のカセット11内に収納されたウエーハをウエーハ仮載置手段13に搬出するとともに洗浄手段14で洗浄されたウエーハを第2のカセット12に搬送する。
上記ウエーハ搬入手段16はウエーハ仮載置手段13と着脱領域24との間に配設され、ウエーハ仮載置手段13上に載置された研削加工前のウエーハを着脱領域24に位置付けられたチャックテーブル機構5のチャックテーブル52上に搬送する。ウエーハ搬出手段17は、着脱領域24と洗浄手段14との間に配設され、着脱領域24に位置付けられたチャックテーブル52上に載置されている研削加工後のウエーハを洗浄手段14に搬送する。
なお、研削加工前のウエーハを所定数収容した第1のカセット11は、装置ハウジング2の主部21における所定のカセット搬入域に載置される。そして、カセット搬入域に載置された第1のカセット11に収容されていた研削加工前のウエーハが全て搬出されると、空のカセット11に代えて研削加工前の複数個のウエーハを所定数収容した新しいカセット11が手動でカセット搬入域に載置される。一方、装置ハウジング2の主部21における所定のカセット搬出域に載置された第2のカセット12に研削加工後のウエーハが所定数搬入されると、かかる第2のカセット12が手動で搬出され、新しい空の第2のカセット12が載置される。
図示の実施形態における研削装置は以上のように構成されており、以下その作用について、主に図1を参照して説明する。
図3の(a)および(b)には、ウエーハとしての半導体ウエーハ10の斜視図が示されている。図3の(a)および(b)に示す半導体ウエーハ10は、例えば厚さが600μmの円板形状をしたシリコンウエーハからなり、その表面10aに複数のストリート101が格子状に配列されているとともに、該複数のストリート101によって区画された複数の領域にIC、LSI等のデバイス102が形成されている。このように構成された半導体ウエーハ10は、デバイス102が形成されているデバイス領域120と、該デバイス領域120を囲繞する外周余剰領域130を備えており、該外周余剰領域130の外周部には、図3の(b)に示すように表面10aから裏面10bに渡り面対称に形成された円弧状の面取り部10cが形成されている。
以下、図3の(a)および(b)に示す半導体ウエーハ10の裏面10bを研削して所定の厚み(例えば10μm)に形成するとともに、半導体ウエーハ10の外周部に形成された円弧状の面取り部10cを除去する研削方法について説明する。
本発明による研削方法においては、先ず半導体ウエーハ10の表面10aに形成されたデバイス102を保護するために、図4の(a)および(b)に示すように半導体ウエーハ10の表面10aに保護テープ等の保護部材Tを貼着する(保護部材貼着工程)。このようにして表面10aに保護部材Tが貼着された半導体ウエーハ10は、上記図1に示す研磨装置の第1のカセット11に裏面10bを上側にして収容される。
第1のカセット11に収容された研削加工前の半導体ウエーハ10はウエーハ搬送手段15の上下動作および進退動作により搬送され、ウエーハ仮載置手段13に載置される。ウエーハ仮載置手段13に載置された半導体ウエーハ10は、ここで中心合わせが行われた後にウエーハ搬入手段16の旋回動作によって着脱領域24に位置付けられているチャックテーブル機構5のチャックテーブル52上に載置される。チャックテーブル52上に載置された被加工物としての半導体ウエーハ10は、図示しない吸引手段によってチャックテーブル52上に吸引保持される。
チャックテーブル52上に半導体ウエーハ10を吸引保持したならば、チャックテーブル位置付け手段56を作動してチャックテーブル機構5を矢印23aで示す方向に移動し、研削領域25に位置付ける。図5は、チャックテーブル52が研削領域25に位置付けられた状態を示している。即ち、チャックテーブル52に保持された半導体ウエーハ10の中心(チャックテーブル52の回転中心P)が研削ホイール325の環状の研削砥石327が通過する位置の直下に位置付けられ、研削ホイール325はチャックテーブル52に保持された半導体ウエーハ10の上方の待機位置に位置付けられている。また、面取り部除去手段7の第2の送り手段76を作動してスピンドルユニット73の回転スピンドル732に装着された円盤状の研削砥石74を図5に示すようにチャックテーブル52に保持された半導体ウエーハ10の外周部おける円弧状の面取り部10cの直上に位置付ける。
次に、チャックテーブル機構5のサーボモータ53を作動してチャックテーブル52を図5の(a)において矢印52aで示す方向に例えば300rpm程度で回転するとともに、上記サーボモータ323を駆動し回転スピンドル322を回転して研削ホイール325を図5(a)において矢印325aで示す方向に例えば6000rpmの回転速度で回転しつつ、上記研削送り手段4のパルスモータ44を正転駆動して研削ユニット3を図5(a)において矢印Z1で示す方向(下方向)に所定の研削送り速度で研削送りする。また、面取り部除去手段7のスピンドルユニット73を構成するサーボモータ733を駆動し回転スピンドル732を回転して円盤状の研削砥石74を図5(a)において矢印74aで示す方向に例えば20000rpmの回転速度で回転しつつ、上記第1の送り手段75のパルスモータ751を正転駆動してスピンドルユニット73を図5の(a)において矢印Z1で示す方向(下方向)に所定の送り速度で研削送りする。
図5の(a)に示す状態から研削ホイール325および円盤状の研削砥石74が矢印Z1で示す方向(下方向)に研削送りされ、図5の(b)に示すように研削砥石327の下面である研削面がチャックテーブル52に保持された半導体ウエーハ10の裏面10bである上面(被加工面)に接触するととともに、円盤状の研削砥石74の研削面である外周面741が半導体ウエーハ10の外周部における円弧状の面取り部10cに接触して裏面および面取り部の研削が実施される。この結果、図6の(a)に示すように研削ホイール325の研削砥石327によって半導体ウエーハ10の裏面10bが研削されるとともに、円盤状の研削砥石74の外周面741によって半導体ウエーハ10の外周部における円弧状の面取り部10cが研削される。そして、研削ホイール325を矢印Z1で示す方向(下方向)に所定量研削送りするとともに円盤状の研削砥石74を外周面741が保護部材Tに達する位置まで研削送りすることにより、図6の(b)に示すように半導体ウエーハ10は裏面10bが所定量研削されて所定の厚みに形成されるとともに外周部における円弧状の面取り部10cが除去される(加工工程)。
以上のように、図示の実施形態における研削装置は、研削領域25に位置付けられたチャックテーブル52に保持されている半導体ウエーハ10の裏面10bを研削する環状の研削砥石327を備えた研削ホイール325を具備した研削手段としての研削ユニット3と、研削領域25に位置付けられたチャックテーブル52の保持面に保持された半導体ウエーハ10の外周に形成された円弧状の面取り部10cを除去する面取り部除去手段7を備え、研削領域25に位置付けられたチャックテーブル52に保持された半導体ウエーハ10を研削手段としての研削ユニット3によって研削する際に面取り部除去手段7によって半導体ウエーハ10の外周に形成された円弧状の面取り部10cを除去するので、円弧状の面取り部10cを除去するために特別に面取り部除去工程を実施する必要がないため生産性が向上する。
次に、上記面取り部除去手段7に装備される円盤状の研削砥石74の他の実施形態について、図7を参照して説明する。
上述した円盤状の研削砥石74は研削面である外周面741が軸芯と平行に形成されている例を示したが、図7に示す実施形態における円盤状の研削砥石74は研削面である外周面742がテーパー状に形成されている。従って、図7に示す円盤状の研削砥石74によって研削することにより、半導体ウエーハ10の外周に形成された円弧状の面取り部10cもテーパー状に除去される。
2:装置ハウジング
3:研削ユニット
31:移動基台
32:スピンドルユニット
321:スピンドルハウジング
322:回転スピンドル
323:サーボモータ
324:マウンター
325:研削ホイール
327:研削砥石
4:研削送り手段
44:パルスモータ
5:チャックテーブル機構
51:移動基台
52:チャックテーブル
56:チャックテーブル位置付け手段
7:面取り部除去手段
73:スピンドルユニット
732:回転スピンドル
74:研削砥石
75:第1の送り手段
76:第2の送り手段
10:半導体ウエーハ
11:第1のカセット
12:第2のカセット
13:ウエーハ仮載置手段
14:洗浄手段
15:ウエーハ搬送手段
16:ウエーハ搬入手段
17:ウエーハ搬出手段

Claims (1)

  1. ウエーハを保持する保持面を有し回転可能に構成されたチャックテーブルと、該チャックテーブルをウエーハを着脱する着脱領域と研削領域に選択的に位置付けるチャックテーブル位置付け手段と、該研削領域に位置付けられた該チャックテーブルの保持面に保持されたウエーハを研削する環状の研削砥石を備えた研削ホイールを具備した研削手段と、該研削手段を該チャックテーブルの保持面に対して垂直な方向に研削送りする研削送り手段と、を具備する研削装置において、
    該研削領域に位置付けられた該チャックテーブルの保持面に保持されたウエーハの外周に形成された面取り部を除去する面取り部除去手段を備え、
    該研削領域に位置付けられた該チャックテーブルの保持面に保持されたウエーハを該研削手段によって研削する際に該面取り部除去手段によってウエーハの外周に形成された面取り部を除去する、
    ことを特徴とする研削装置。
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