[go: up one dir, main page]

JP2014011205A - Exposure device, exposure method, and device manufacturing method - Google Patents

Exposure device, exposure method, and device manufacturing method Download PDF

Info

Publication number
JP2014011205A
JP2014011205A JP2012144785A JP2012144785A JP2014011205A JP 2014011205 A JP2014011205 A JP 2014011205A JP 2012144785 A JP2012144785 A JP 2012144785A JP 2012144785 A JP2012144785 A JP 2012144785A JP 2014011205 A JP2014011205 A JP 2014011205A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid
immersion space
substrate
exposure
exposure apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012144785A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masamichi Sato
真路 佐藤
Minoru Onda
稔 恩田
Yasufumi Nishii
康文 西井
Hiroyuki Nagasaka
博之 長坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2012144785A priority Critical patent/JP2014011205A/en
Publication of JP2014011205A publication Critical patent/JP2014011205A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

【課題】露光不良の発生を抑制できる露光装置を提供する。
【解決手段】露光装置は、第1液浸空間の第1液体を介して露光光で基板を露光する。露光装置は、露光光が射出される射出面を有する光学部材と、露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置され、第1液体の第1液浸空間を形成する第1部材と、光路に対して第1部材の外側に配置され、第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成可能な第2部材と、を備える。
【選択図】図3
An exposure apparatus capable of suppressing the occurrence of defective exposure is provided.
An exposure apparatus exposes a substrate with exposure light through a first liquid in a first immersion space. An exposure apparatus includes an optical member having an exit surface from which exposure light is emitted, a first member that is disposed on at least a part of the periphery of the optical path of the exposure light, and that forms a first immersion space for the first liquid, and an optical path And a second member that is disposed outside the first member and can form a second immersion space for the second liquid away from the first immersion space.
[Selection] Figure 3

Description

本発明は、露光装置、露光方法、及びデバイス製造方法に関する。   The present invention relates to an exposure apparatus, an exposure method, and a device manufacturing method.

フォトリソグラフィ工程で用いられる露光装置において、例えば下記特許文献に開示されているような、液体を介して露光光で基板を露光する液浸露光装置が知られている。   As an exposure apparatus used in a photolithography process, for example, an immersion exposure apparatus that exposes a substrate with exposure light via a liquid as disclosed in the following patent document is known.

米国特許出願公開第2009/0046261号US Patent Application Publication No. 2009/0046261

液浸露光装置において、望まれない空間に液体が流出すると、露光不良が発生する可能性がある。その結果、不良デバイスが発生する可能性がある。   In the immersion exposure apparatus, if the liquid flows into an undesired space, an exposure failure may occur. As a result, a defective device may occur.

本発明の態様は、露光不良の発生を抑制できる露光装置、及び露光方法を提供することを目的とする。また、本発明の態様は、不良デバイスの発生を抑制できるデバイス製造方法を提供することを目的とする。   An object of an aspect of the present invention is to provide an exposure apparatus and an exposure method that can suppress the occurrence of exposure failure. Moreover, the aspect of this invention aims at providing the device manufacturing method which can suppress generation | occurrence | production of a defective device.

本発明の第1の態様に従えば、第1液浸空間の第1液体を介して露光光で基板を露光する露光装置であって、露光光が射出される射出面を有する光学部材と、露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置され、第1液体の第1液浸空間を形成する第1部材と、光路に対して第1部材の外側に配置され、第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成可能な第2部材と、を備える露光装置が提供される。   According to the first aspect of the present invention, an exposure apparatus that exposes a substrate with exposure light through the first liquid in the first immersion space, the optical member having an exit surface from which the exposure light is emitted; A first member disposed at least part of the periphery of the optical path of the exposure light and forming a first liquid immersion space for the first liquid; and disposed outside the first member with respect to the optical path, from the first liquid immersion space. An exposure apparatus is provided that includes a second member that can form a second immersion space for the second liquid.

本発明の第2の態様に従えば、第1の態様の露光装置を用いて基板を露光することと、露光された基板を現像することと、を含むデバイス製造方法が提供される。   According to a second aspect of the present invention, there is provided a device manufacturing method including exposing a substrate using the exposure apparatus according to the first aspect and developing the exposed substrate.

本発明の第3の態様に従えば、第1液浸空間の第1液体を介して露光光で基板を露光する露光方法であって、光学部材の射出面から射出される露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で第1液体の第1液浸空間を形成することと、光路に対して第1部材の外側に配置される第2部材で、第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、第2液浸空間が形成されている状態で、第2部材の下方において所定領域を有する物体が光学部材の光軸と交差する方向に移動する期間の少なくとも一部において、第2部材の下面と物体の上面との距離を変えることと、を含む露光方法が提供される。   According to a third aspect of the present invention, there is provided an exposure method for exposing a substrate with exposure light through a first liquid in a first immersion space, wherein the exposure light path exits from an exit surface of an optical member. Forming a first immersion space for the first liquid with a first member disposed at least at a part of the periphery, and a second member disposed outside the first member with respect to the optical path, An object having a predetermined region below the second member in a state where the second immersion space of the second liquid is formed apart from the space and the second immersion space is formed is an optical axis of the optical member. And changing the distance between the lower surface of the second member and the upper surface of the object during at least a part of the period of movement in the direction intersecting with the object.

本発明の第4の態様に従えば、第1液浸空間の第1液体を介して露光光で基板を露光する露光方法であって、光学部材の射出面から射出される露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で第1液体の第1液浸空間を形成することと、光路に対して第1部材の外側に配置される第2部材で、第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、第2液浸空間が形成されている状態で、第2部材の下方において物体が光学部材の光軸と交差する方向に移動する期間の少なくとも一部における物体の移動条件に基づいて、第2部材の下面と物体の上面との距離を変えることと、を含む露光方法が提供される。   According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an exposure method for exposing a substrate with exposure light through a first liquid in a first immersion space, the optical path of exposure light being emitted from an exit surface of an optical member. Forming a first immersion space for the first liquid with a first member disposed at least at a part of the periphery, and a second member disposed outside the first member with respect to the optical path, A direction in which the object intersects the optical axis of the optical member below the second member in a state where the second immersion space of the second liquid is formed apart from the space and the second immersion space is formed. An exposure method is provided that includes changing the distance between the lower surface of the second member and the upper surface of the object based on the moving condition of the object in at least a part of the period during which the object moves.

本発明の第5の態様に従えば、第1液浸空間の第1液体を介して露光光で基板を露光する露光方法であって、光学部材の射出面から射出される露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で第1液体の第1液浸空間を形成することと、光路に対して第1部材の外側に配置される第2部材で、第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、第2液浸空間が第1物体上及び間隙を介して第1物体に隣接する第2物体上の一方から他方へ移動するように、第2部材と第1、第2物体とを光学部材の光軸と実質的に垂直な所定面内において相対移動させることと、第2液浸空間が第1物体上及び第2物体上の一方から他方へ移動する期間の少なくとも一部において、光軸と実質的に平行な方向に関する第2部材の下面と第1物体の上面との距離、及び第2部材の下面と第2物体の上面との距離の一方又は両方を変えることと、を含む露光方法が提供される。   According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an exposure method for exposing a substrate with exposure light through a first liquid in a first immersion space, wherein the exposure light path exits from an exit surface of an optical member. Forming a first immersion space for the first liquid with a first member disposed at least at a part of the periphery, and a second member disposed outside the first member with respect to the optical path, Forming a second immersion space for the second liquid away from the space, and the second immersion space from one side to the other on the first object and on the second object adjacent to the first object via a gap. Moving the second member and the first and second objects relative to each other in a predetermined plane substantially perpendicular to the optical axis of the optical member so that the second immersion space moves on the first object and the second object. A second member in a direction substantially parallel to the optical axis in at least a part of a period of movement from one to the other on the two objects The lower surface and the distance between the upper surface of the first object, and an exposure method that includes the lower surface of the second member and changing one or both of the distance between the upper surface of the second object, there is provided.

本発明の第6の態様に従えば、第1液浸空間の第1液体を介して露光光で基板を露光する露光方法であって、光学部材の射出面から射出される露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で第1液体の第1液浸空間を形成することと、光路に対して第1部材の外側に配置される第2部材で、第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、第2液浸空間が形成されている状態で、第2部材の下方において物体が光学部材の光軸と交差する方向に等速移動する期間と非等速移動する期間とで、光学部材の光軸と実質的に平行な方向に関する第2部材の移動量及び物体の移動量の一方又は両方を変えることと、を含む露光方法が提供される。   According to a sixth aspect of the present invention, there is provided an exposure method for exposing a substrate with exposure light through a first liquid in a first immersion space, the optical path of exposure light being emitted from an exit surface of an optical member. Forming a first immersion space for the first liquid with a first member disposed at least at a part of the periphery, and a second member disposed outside the first member with respect to the optical path, A direction in which the object intersects the optical axis of the optical member below the second member in a state where the second immersion space of the second liquid is formed apart from the space and the second immersion space is formed. Changing one or both of the amount of movement of the second member and the amount of movement of the object in a direction substantially parallel to the optical axis of the optical member between the period of constant speed movement and the period of non-constant speed movement. An exposure method is provided.

本発明の第7の態様に従えば、第1液浸空間の第1液体を介して露光光で基板を露光する露光方法であって、光学部材の射出面から射出される露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で第1液体の第1液浸空間を形成することと、光路に対して第1部材の外側に配置される第2部材で、第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、第2液浸空間が形成されている状態で、基板の複数のショット領域を第1液浸空間の第1液体を介して露光光で順次露光することと、光学部材の光軸と実質的に平行な方向に関する第2部材の移動量及び物体の移動量の一方又は両方を、複数のショット領域のうち第1ショット領域の露光が行われる露光期間と、第1ショット領域の露光終了後、次に露光される第2ショット領域の露光が開始されるまでの非露光期間とで変えることと、を含む露光方法が提供される。   According to a seventh aspect of the present invention, there is provided an exposure method for exposing a substrate with exposure light through a first liquid in a first immersion space, wherein the exposure light path exits from an exit surface of an optical member. Forming a first immersion space for the first liquid with a first member disposed at least at a part of the periphery, and a second member disposed outside the first member with respect to the optical path, The second immersion space for the second liquid is formed away from the space, and the plurality of shot regions of the substrate are moved to the first liquid in the first immersion space in the state where the second immersion space is formed. The first shot of the plurality of shot areas, and one or both of the amount of movement of the second member and the amount of movement of the object in a direction substantially parallel to the optical axis of the optical member. An exposure period in which the exposure of the area is performed, and a second exposure that is performed next after the exposure of the first shot area is completed. And changing in a non-exposure period until exposure-shot region is started, the exposure method comprising is provided.

本発明の第8の態様に従えば、第1液浸空間の第1液体を介して露光光で基板を露光する露光方法であって、光学部材の射出面から射出される露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で第1液体の第1液浸空間を形成することと、光路に対して第1部材の外側に配置される第2部材で、第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、第2液浸空間が形成されている状態で、第2部材の下方において所定領域を有する物体を光学部材の光軸と交差する所定面内において移動させることと、物体が移動する期間の少なくとも一部において、所定面内における物体の移動条件を変えることと、を含む露光方法が提供される。   According to an eighth aspect of the present invention, there is provided an exposure method for exposing a substrate with exposure light through a first liquid in a first immersion space, the optical path of exposure light being emitted from an exit surface of an optical member. Forming a first immersion space for the first liquid with a first member disposed at least at a part of the periphery, and a second member disposed outside the first member with respect to the optical path, Forming a second immersion space for the second liquid away from the space, and in a state in which the second immersion space is formed, an object having a predetermined region below the second member is placed on the optical axis of the optical member. An exposure method is provided that includes moving the object within a predetermined plane intersecting the surface and changing the moving condition of the object within the predetermined plane during at least a part of a period during which the object moves.

本発明の第10の態様に従えば、第3〜第9のいずれか一つの態様の露光方法を用いて基板を露光することと、露光された基板を現像することと、を含むデバイス製造方法が提供される。   According to a tenth aspect of the present invention, there is provided a device manufacturing method comprising: exposing a substrate using the exposure method according to any one of the third to ninth aspects; and developing the exposed substrate. Is provided.

本発明の態様によれば、露光不良の発生を抑制できる。また、本発明の態様によれば、不良デバイスの発生を抑制できる。   According to the aspect of the present invention, it is possible to suppress the occurrence of exposure failure. Moreover, according to the aspect of this invention, generation | occurrence | production of a defective device can be suppressed.

第1実施形態に係る露光装置の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the exposure apparatus which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る液浸部材の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the liquid immersion member which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る液浸部材の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the liquid immersion member which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る液浸部材の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the liquid immersion member which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る液浸部材の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the liquid immersion member which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る液浸部材の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the liquid immersion member which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る基板ステージ及び計測ステージの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the substrate stage and measurement stage which concern on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る露光方法の一例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating an example of the exposure method which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る第2部材の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member which concerns on 1st Embodiment. 第2実施形態に係る第2部材の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member which concerns on 2nd Embodiment. 第3実施形態に係る第2部材の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member which concerns on 3rd Embodiment. 第4実施形態に係る第2部材の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member which concerns on 4th Embodiment. 第5実施形態に係る第2部材の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member which concerns on 5th Embodiment. 第6実施形態に係る第2部材の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member which concerns on 6th Embodiment. 第7実施形態に係る第2部材の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member which concerns on 7th Embodiment. 第7実施形態に係る第2部材の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member which concerns on 7th Embodiment. 第8実施形態に係る第2部材及び物体の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member and object which concern on 8th Embodiment. 第8実施形態に係る第2部材及び物体の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member and object which concern on 8th Embodiment. 第8実施形態に係る第2部材及び物体の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member and object which concern on 8th Embodiment. 第9実施形態に係る第2部材の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member which concerns on 9th Embodiment. 第9実施形態に係る第2部材の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member which concerns on 9th Embodiment. 第9実施形態に係る第2部材の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member which concerns on 9th Embodiment. 第10実施形態に係る第2部材の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member which concerns on 10th Embodiment. 第11実施形態に係る第2部材の動作の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of operation | movement of the 2nd member which concerns on 11th Embodiment. 基板ステージの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a substrate stage. デバイス製造方法の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of a device manufacturing method.

以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明するが、本発明はこれに限定されない。以下の説明においては、XYZ直交座標系を設定し、このXYZ直交座標系を参照しつつ各部の位置関係について説明する。水平面内の所定方向をX軸方向、水平面内においてX軸方向と直交する方向をY軸方向、X軸方向及びY軸方向のそれぞれと直交する方向(すなわち鉛直方向)をZ軸方向とする。また、X軸、Y軸、及びZ軸まわりの回転(傾斜)方向をそれぞれ、θX、θY、及びθZ方向とする。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings, but the present invention is not limited thereto. In the following description, an XYZ orthogonal coordinate system is set, and the positional relationship of each part will be described with reference to this XYZ orthogonal coordinate system. A predetermined direction in the horizontal plane is defined as an X-axis direction, a direction orthogonal to the X-axis direction in the horizontal plane is defined as a Y-axis direction, and a direction orthogonal to each of the X-axis direction and the Y-axis direction (that is, a vertical direction) is defined as a Z-axis direction. Further, the rotation (inclination) directions around the X axis, Y axis, and Z axis are the θX, θY, and θZ directions, respectively.

<第1実施形態>
第1実施形態について説明する。図1は、本実施形態に係る露光装置EXの一例を示す概略構成図である。本実施形態の露光装置EXは、液体LQを介して露光光ELで基板Pを露光する液浸露光装置である。本実施形態においては、基板Pに照射される露光光ELの光路Kが液体LQで満たされるように液浸空間LS1が形成される。液浸空間とは、液体で満たされた部分(空間、領域)をいう。基板Pは、液浸空間LS1の液体LQを介して露光光ELで露光される。本実施形態においては、液体LQとして、水(純水)を用いる。
<First Embodiment>
A first embodiment will be described. FIG. 1 is a schematic block diagram that shows an example of an exposure apparatus EX according to the present embodiment. The exposure apparatus EX of the present embodiment is an immersion exposure apparatus that exposes a substrate P with exposure light EL through a liquid LQ. In the present embodiment, the immersion space LS1 is formed so that the optical path K of the exposure light EL irradiated to the substrate P is filled with the liquid LQ. The immersion space refers to a portion (space, region) filled with liquid. The substrate P is exposed with the exposure light EL through the liquid LQ in the immersion space LS1. In the present embodiment, water (pure water) is used as the liquid LQ.

また、本実施形態の露光装置EXは、例えば米国特許第6897963号、及び欧州特許出願公開第1713113号等に開示されているような、基板ステージと計測ステージとを備えた露光装置である。   Further, the exposure apparatus EX of the present embodiment is an exposure apparatus provided with a substrate stage and a measurement stage as disclosed in, for example, US Pat. No. 6,897,963 and European Patent Application Publication No. 1713113.

図1において、露光装置EXは、マスクMを保持して移動可能なマスクステージ1と、基板Pを保持して移動可能な基板ステージ2と、基板Pを保持せずに、露光光ELを計測する計測部材(計測器)Cを搭載して移動可能な計測ステージ3と、マスクステージ1、基板ステージ2、及び計測ステージ3の位置を計測する計測システム4と、マスクMを露光光ELで照明する照明系ILと、露光光ELで照明されたマスクMのパターンの像を基板Pに投影する投影光学系PLと、液浸空間LS1、LS2を形成する液浸部材5と、露光装置EX全体の動作を制御する制御装置6と、制御装置6に接続され、露光に関する各種の情報を記憶する記憶装置7とを備えている。   In FIG. 1, an exposure apparatus EX measures a mask stage 1 that can move while holding a mask M, a substrate stage 2 that can move while holding a substrate P, and exposure light EL without holding the substrate P. A movable measuring stage 3 mounted with a measuring member (measuring instrument) C, a mask stage 1, a substrate stage 2, a measuring system 4 for measuring positions of the measuring stage 3, and a mask M illuminated with exposure light EL An illumination system IL, a projection optical system PL that projects an image of the pattern of the mask M illuminated by the exposure light EL onto the substrate P, a liquid immersion member 5 that forms liquid immersion spaces LS1 and LS2, and the entire exposure apparatus EX And a storage device 7 connected to the control device 6 and storing various information relating to exposure.

露光装置EXは、露光光ELが進行する空間CSの環境(温度、湿度、圧力、及びクリーン度の少なくとも一つ)を調整するチャンバ装置11を備えている。チャンバ装置11は、空間CSに、温度及び湿度が調整された気体Frを供給する気体供給部11Sを有する。空間CSには、少なくとも投影光学系PL、液浸部材5、基板ステージ2、及び計測ステージ3が配置される。本実施形態においては、マスクステージ1、及び照明系ILの少なくとも一部も、空間CSに配置される。   The exposure apparatus EX includes a chamber apparatus 11 that adjusts the environment (at least one of temperature, humidity, pressure, and cleanness) of the space CS in which the exposure light EL travels. The chamber apparatus 11 includes a gas supply unit 11S that supplies a gas Fr whose temperature and humidity are adjusted to the space CS. In the space CS, at least the projection optical system PL, the liquid immersion member 5, the substrate stage 2, and the measurement stage 3 are arranged. In the present embodiment, the mask stage 1 and at least a part of the illumination system IL are also arranged in the space CS.

マスクMは、基板Pに投影されるデバイスパターンが形成されたレチクルを含む。マスクMは、例えばガラス板等の透明板と、その透明板上にクロム等の遮光材料を用いて形成されたパターンとを有する透過型マスクを含む。なお、マスクMとして、反射型マスクを用いることもできる。   The mask M includes a reticle on which a device pattern projected onto the substrate P is formed. The mask M includes a transmission type mask having a transparent plate such as a glass plate and a pattern formed on the transparent plate using a light shielding material such as chromium. A reflective mask can also be used as the mask M.

基板Pは、デバイスを製造するための基板である。基板Pは、例えば半導体ウエハ等の基材と、その基材上に形成された感光膜とを含む。感光膜は、感光材(フォトレジスト)の膜である。なお、基板Pが、感光膜と、感光膜とは別の膜とを含んでもよい。例えば、基板Pが、反射防止膜を含んでもよいし、感光膜を保護する保護膜(トップコート膜)を含んでもよい。   The substrate P is a substrate for manufacturing a device. The substrate P includes, for example, a base material such as a semiconductor wafer and a photosensitive film formed on the base material. The photosensitive film is a film of a photosensitive material (photoresist). The substrate P may include a photosensitive film and a film different from the photosensitive film. For example, the substrate P may include an antireflection film or a protective film (topcoat film) that protects the photosensitive film.

照明系ILは、所定の照明領域IRに露光光ELを照射する。照明領域IRは、照明系ILから射出される露光光ELが照射可能な位置を含む。照明系ILは、照明領域IRに配置されたマスクMの少なくとも一部を均一な照度分布の露光光ELで照明する。照明系ILから射出される露光光ELとして、例えば水銀ランプから射出される輝線(g線、h線、i線)及びKrFエキシマレーザ光(波長248nm)等の遠紫外光(DUV光)、ArFエキシマレーザ光(波長193nm)、及びFレーザ光(波長157nm)等の真空紫外光(VUV光)等が用いられる。本実施形態においては、露光光ELとして、紫外光(真空紫外光)であるArFエキシマレーザ光を用いる。 The illumination system IL irradiates the predetermined illumination area IR with the exposure light EL. The illumination area IR includes a position where the exposure light EL emitted from the illumination system IL can be irradiated. The illumination system IL illuminates at least a part of the mask M arranged in the illumination region IR with the exposure light EL having a uniform illuminance distribution. As the exposure light EL emitted from the illumination system IL, for example, far ultraviolet light (DUV light) such as bright lines (g line, h line, i line) and KrF excimer laser light (wavelength 248 nm) emitted from a mercury lamp, ArF Excimer laser light (wavelength 193 nm), vacuum ultraviolet light (VUV light) such as F 2 laser light (wavelength 157 nm), or the like is used. In the present embodiment, ArF excimer laser light, which is ultraviolet light (vacuum ultraviolet light), is used as the exposure light EL.

マスクステージ1は、マスクMを保持した状態で、照明領域IRを含むベース部材8のガイド面8G上を移動可能である。本実施形態において、ガイド面8GとXY平面とは実質的に平行である。マスクステージ1は、例えば米国特許第6452292号に開示されているような平面モータを含む駆動システムの作動により移動する。本実施形態において、マスクステージ1は、その駆動システムの作動により、ガイド面8G上において、X軸、Y軸、Z軸、θX、θY、及びθZ方向の6つの方向に移動可能である。   The mask stage 1 is movable on the guide surface 8G of the base member 8 including the illumination region IR while holding the mask M. In the present embodiment, the guide surface 8G and the XY plane are substantially parallel. The mask stage 1 is moved by the operation of a drive system including a planar motor as disclosed in US Pat. No. 6,452,292, for example. In the present embodiment, the mask stage 1 can move in six directions on the guide surface 8G in the X axis, Y axis, Z axis, θX, θY, and θZ directions by the operation of the drive system.

投影光学系PLは、所定の投影領域PRに露光光ELを照射する。投影領域PRは、投影光学系PLから射出される露光光ELが照射可能な位置を含む。投影光学系PLは、投影領域PRに配置された基板Pの少なくとも一部に、マスクMのパターンの像を所定の投影倍率で投影する。本実施形態において、投影光学系PLは、縮小系である。投影光学系PLの投影倍率は、例えば1/4でもよいし、1/5でもよいし、1/8でもよい。なお、投影光学系PLは、等倍系でもよいし、拡大系でもよい。本実施形態において、投影光学系PLの光軸は、Z軸と平行である。なお、投影光学系PLは、反射光学素子を含まない屈折系でもよいし、屈折光学素子を含まない反射系でもよいし、反射光学素子及び屈折光学素子の両方を含む反射屈折系でもよい。投影光学系PLは、倒立像を形成してもよいし、正立像を形成してもよい。   The projection optical system PL irradiates the predetermined projection region PR with the exposure light EL. The projection region PR includes a position where the exposure light EL emitted from the projection optical system PL can be irradiated. The projection optical system PL projects an image of the pattern of the mask M at a predetermined projection magnification onto at least a part of the substrate P arranged in the projection region PR. In the present embodiment, the projection optical system PL is a reduction system. The projection magnification of the projection optical system PL may be, for example, 1/4, 1/5, or 1/8. The projection optical system PL may be a unity magnification system or an enlargement system. In the present embodiment, the optical axis of the projection optical system PL is parallel to the Z axis. The projection optical system PL may be a refractive system that does not include a reflective optical element, a reflective system that does not include a refractive optical element, or a catadioptric system that includes both a reflective optical element and a refractive optical element. The projection optical system PL may form an inverted image or an erect image.

投影光学系PLは、露光光ELが射出される射出面12を有する終端光学素子13を含む。射出面12は、投影光学系PLの像面に向けて露光光ELを射出する。終端光学素子13は、投影光学系PLの複数の光学素子のうち、投影光学系PLの像面に最も近い光学素子である。投影領域PRは、射出面12から射出される露光光ELが照射可能な位置を含む。本実施形態において、射出面12は、−Z方向を向いている。射出面12は、XY平面と平行である。なお、−Z方向を向いている射出面12は、凸面でもよいし、凹面でもよい。なお、射出面12は、XY平面に対して傾斜していてもよいし、曲面を含んでもよい。本実施形態において、終端光学素子13の光軸は、Z軸と平行である。本実施形態において、射出面12から射出される露光光ELは、−Z方向に進行する。   The projection optical system PL includes a terminal optical element 13 having an emission surface 12 from which the exposure light EL is emitted. The exit surface 12 emits the exposure light EL toward the image plane of the projection optical system PL. The last optical element 13 is an optical element closest to the image plane of the projection optical system PL among the plurality of optical elements of the projection optical system PL. The projection region PR includes a position where the exposure light EL emitted from the emission surface 12 can be irradiated. In the present embodiment, the emission surface 12 faces the −Z direction. The exit surface 12 is parallel to the XY plane. The exit surface 12 facing the −Z direction may be a convex surface or a concave surface. In addition, the emission surface 12 may be inclined with respect to the XY plane, or may include a curved surface. In the present embodiment, the optical axis of the last optical element 13 is parallel to the Z axis. In the present embodiment, the exposure light EL emitted from the emission surface 12 travels in the −Z direction.

基板ステージ2は、基板Pを保持した状態で、射出面12からの露光光ELが照射可能な位置(投影領域PR)を含むXY平面内を移動可能である。計測ステージ3は、計測部材(計測器)Cを搭載した状態で、射出面12からの露光光ELが照射可能な位置(投影領域PR)を含むXY平面内を移動可能である。基板ステージ2及び計測ステージ3のそれぞれは、ベース部材9のガイド面9G上を移動可能である。本実施形態において、ガイド面9GとXY平面とは実質的に平行である。   The substrate stage 2 is movable in an XY plane including a position (projection region PR) where the exposure light EL from the emission surface 12 can be irradiated while holding the substrate P. The measurement stage 3 is movable in an XY plane including a position (projection region PR) where the exposure light EL from the emission surface 12 can be irradiated with the measurement member (measuring instrument) C mounted. Each of the substrate stage 2 and the measurement stage 3 is movable on the guide surface 9G of the base member 9. In the present embodiment, the guide surface 9G and the XY plane are substantially parallel.

基板ステージ2及び計測ステージ3は、例えば米国特許第6452292号に開示されているような平面モータを含む駆動システム10の作動により移動する。駆動システム10は、基板ステージ2に配置された可動子2Cと、計測ステージ3に配置された可動子3Cと、ベース部材9に配置された固定子9Mとを含む。基板ステージ2及び計測ステージ3のそれぞれは、駆動システム10の作動により、ガイド面9G上において、X軸、Y軸、Z軸、θX、θY、及びθZ方向の6つの方向に移動可能である。   The substrate stage 2 and the measurement stage 3 are moved by the operation of the drive system 10 including a planar motor as disclosed in US Pat. No. 6,452,292, for example. The drive system 10 includes a mover 2 </ b> C disposed on the substrate stage 2, a mover 3 </ b> C disposed on the measurement stage 3, and a stator 9 </ b> M disposed on the base member 9. Each of the substrate stage 2 and the measurement stage 3 can move in six directions on the guide surface 9G in the X axis, Y axis, Z axis, θX, θY, and θZ directions by the operation of the drive system 10.

基板ステージ2は、例えば米国特許出願公開第2007/0177125号、米国特許出願公開第2008/0049209号、及び米国特許出願公開第2007/0288121号等に開示されているような、基板Pをリリース可能に保持する第1保持部14と、第1保持部14の周囲に配置され、カバー部材T1及びスケール部材(計測部材)T2をリリース可能に保持する第2保持部15とを有する。本実施形態において、基板Pの周囲に配置される基板ステージ2の上面は、カバー部材T1の上面を含む。また、基板ステージ2の上面は、スケール部材T2の上面を含む。   The substrate stage 2 can release the substrate P as disclosed in, for example, US Patent Application Publication No. 2007/0177125, US Patent Application Publication No. 2008/0049209, and US Patent Application Publication No. 2007/0288121. And a second holding part 15 which is disposed around the first holding part 14 and holds the cover member T1 and the scale member (measurement member) T2 in a releasable manner. In the present embodiment, the upper surface of the substrate stage 2 disposed around the substrate P includes the upper surface of the cover member T1. Further, the upper surface of the substrate stage 2 includes the upper surface of the scale member T2.

計測システム4は、例えば米国特許出願公開第2007/0288121号に開示されているような、基板ステージ2のスケール部材T2を用いて、その基板ステージ2の位置を計測するエンコーダシステムを含む。また、計測システム4は、干渉計システムを含む。   The measurement system 4 includes an encoder system that measures the position of the substrate stage 2 using a scale member T2 of the substrate stage 2 as disclosed in, for example, US Patent Application Publication No. 2007/0288121. The measurement system 4 includes an interferometer system.

基板Pの露光処理を実行するとき、あるいは所定の計測処理を実行するとき、制御装置6は、計測システム4の計測結果に基づいて、マスクステージ1(マスクM)、基板ステージ2(基板P)、及び計測ステージ3(計測部材C)の位置制御を実行する。   When executing the exposure process of the substrate P or when executing a predetermined measurement process, the control device 6 determines the mask stage 1 (mask M) and the substrate stage 2 (substrate P) based on the measurement result of the measurement system 4. And position control of the measurement stage 3 (measurement member C).

次に、本実施形態に係る液浸部材5について説明する。図2は、本実施形態に係る液浸部材5の一例を示す側面図、図3は、液浸部材5を下側(−Z側)から見た図である。   Next, the liquid immersion member 5 according to this embodiment will be described. FIG. 2 is a side view showing an example of the liquid immersion member 5 according to the present embodiment, and FIG. 3 is a view of the liquid immersion member 5 as viewed from the lower side (−Z side).

液浸部材5は、終端光学素子13の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材21と、射出面12から射出される露光光ELの光路K(終端光学素子13の光軸)に対して第1部材21の外側に配置される第2部材22とを備える。第1部材21は、液体LQの液浸空間LS1を形成する。第2部材22は、液浸空間LS1から離れて、液体LQの液浸空間LS2を形成可能である。液浸空間LS1は、第1部材21の下方の第1空間SP1の少なくとも一部に形成される。液浸空間LS2は、第2部材22の下方の第2空間SP2の少なくとも一部に形成される。   The liquid immersion member 5 is in relation to the first member 21 disposed at least at a part of the periphery of the terminal optical element 13 and the optical path K of the exposure light EL emitted from the emission surface 12 (the optical axis of the terminal optical element 13). And a second member 22 disposed outside the first member 21. The first member 21 forms an immersion space LS1 for the liquid LQ. The second member 22 can be separated from the immersion space LS1 to form an immersion space LS2 for the liquid LQ. The immersion space LS1 is formed in at least a part of the first space SP1 below the first member 21. The immersion space LS2 is formed in at least a part of the second space SP2 below the second member 22.

第1部材21は、下面23を有する。第2部材22は、下面24を有する。下面23及び下面24は、終端光学素子13の下方で移動可能な物体が対向可能である。終端光学素子13の下方で移動可能な物体は、射出面12と対向可能である。その物体は、投影領域PRに配置可能である。その物体は、投影領域PRを含むXY平面内を移動可能である。その物体は、第1部材21の下方で移動可能である。その物体は、第2部材22の下方で移動可能である。   The first member 21 has a lower surface 23. The second member 22 has a lower surface 24. The lower surface 23 and the lower surface 24 can be opposed to an object that can move below the last optical element 13. An object that can move below the last optical element 13 can face the exit surface 12. The object can be arranged in the projection region PR. The object can move in the XY plane including the projection region PR. The object is movable below the first member 21. The object is movable below the second member 22.

本実施形態において、その物体は、基板ステージ2(カバー部材T1、スケール部材T2)、基板ステージ2(第1保持部14)に保持された基板P、及び計測ステージ3(計測部材C)の少なくとも一つを含む。   In the present embodiment, the object is at least the substrate stage 2 (cover member T1, scale member T2), the substrate P held on the substrate stage 2 (first holding unit 14), and the measurement stage 3 (measurement member C). Including one.

以下の説明においては、終端光学素子13の下方で移動可能な物体が、基板Pであることとする。なお、上述のように、終端光学素子13の下方で移動可能な物体は、基板ステージ2及び計測ステージ3の少なくとも一方でもよいし、基板P、基板ステージ2、及び計測ステージ3とは別の物体でもよい。   In the following description, the object that can move below the last optical element 13 is the substrate P. As described above, the object movable below the last optical element 13 may be at least one of the substrate stage 2 and the measurement stage 3, or an object different from the substrate P, the substrate stage 2, and the measurement stage 3. But you can.

第1部材21は、射出面12側の露光光ELの光路Kが液体LQで満たされるように液体LQの液浸空間LS1を形成する。液浸空間LS1は、射出面12と基板P(物体)の上面との間の光路Kが液体LQで満たされるように形成される。   The first member 21 forms an immersion space LS1 for the liquid LQ so that the optical path K of the exposure light EL on the emission surface 12 side is filled with the liquid LQ. The immersion space LS1 is formed so that the optical path K between the emission surface 12 and the upper surface of the substrate P (object) is filled with the liquid LQ.

第1部材21は、射出面12側の光路Kを含む光路空間SPK、及び下面23側の第1空間SP1の少なくとも一部に、液体LQの液浸空間LS1を形成する。終端光学素子13及び第1部材21は、基板P(物体)との間で液体LQを保持可能である。液浸空間LS1は、終端光学素子13及び第1部材21と基板Pとの間に保持される液体LQによって形成される。一方側の射出面12及び下面23と、他方側の基板P(物体)の上面との間に液体LQが保持されることによって、終端光学素子13と基板Pとの間の露光光ELの光路Kが液体LQで満たされるように液浸空間LS1が形成される。   The first member 21 forms an immersion space LS1 for the liquid LQ in at least a part of the optical path space SPK including the optical path K on the emission surface 12 side and the first space SP1 on the lower surface 23 side. The last optical element 13 and the first member 21 can hold the liquid LQ between the substrate P (object). The immersion space LS1 is formed by the liquid LQ held between the terminal optical element 13 and the first member 21 and the substrate P. The optical path of the exposure light EL between the last optical element 13 and the substrate P is maintained by holding the liquid LQ between the emission surface 12 and the lower surface 23 on the one side and the upper surface of the substrate P (object) on the other side. The immersion space LS1 is formed so that K is filled with the liquid LQ.

基板Pの露光においては、基板Pに照射される露光光ELの光路Kが液体LQで満たされるように液浸空間LS1が形成される。基板Pに露光光ELが照射されているとき、投影領域PRを含む基板Pの表面の一部の領域だけが液体LQで覆われるように液浸空間LS1が形成される。   In the exposure of the substrate P, the immersion space LS1 is formed so that the optical path K of the exposure light EL irradiated to the substrate P is filled with the liquid LQ. When the substrate P is irradiated with the exposure light EL, the immersion space LS1 is formed so that only a partial region of the surface of the substrate P including the projection region PR is covered with the liquid LQ.

本実施形態において、液浸空間LS1の液体LQの界面(メニスカス、エッジ)LG1の少なくとも一部は、下面23と基板Pの上面との間に形成される。すなわち、本実施形態の露光装置EXは、局所液浸方式を採用する。液浸空間LS1の外側(界面LG1の外側)は、気体空間である。   In the present embodiment, at least a part of the interface (meniscus, edge) LG1 of the liquid LQ in the immersion space LS1 is formed between the lower surface 23 and the upper surface of the substrate P. That is, the exposure apparatus EX of the present embodiment employs a local liquid immersion method. The outside of the immersion space LS1 (the outside of the interface LG1) is a gas space.

本実施形態において、第1部材21は、環状の部材である。本実施形態において、第1部材21の一部は、終端光学素子13の周囲に配置される。また、第1部材21の一部は、終端光学素子13と基板Pとの間の露光光ELの光路Kの周囲に配置される。   In the present embodiment, the first member 21 is an annular member. In the present embodiment, a part of the first member 21 is disposed around the last optical element 13. In addition, a part of the first member 21 is disposed around the optical path K of the exposure light EL between the terminal optical element 13 and the substrate P.

なお、第1部材21は、環状の部材でなくてもよい。例えば、第1部材21が、終端光学素子13及び光路Kの周囲の一部に配置されていてもよい。なお、第1部材21が、終端光学素子13の周囲の少なくとも一部に配置されていなくてもよい。例えば、第1部材21が、射出面12と基板Pとの間の光路Kの周囲の少なくとも一部に配置され、終端光学素子13の周囲に配置されていなくてもよい。なお、第1部材21が、射出面12と基板Pとの間の光路Kの周囲の少なくとも一部に配置されていなくてもよい。例えば、第1部材21が、終端光学素子13の周囲の少なくとも一部に配置され、射出面12と物体との間の光路Kの周囲に配置されていなくてもよい。   The first member 21 may not be an annular member. For example, the first member 21 may be disposed in a part of the periphery of the terminal optical element 13 and the optical path K. The first member 21 may not be disposed at least at a part of the periphery of the last optical element 13. For example, the first member 21 may be disposed at least part of the periphery of the optical path K between the exit surface 12 and the substrate P and may not be disposed around the terminal optical element 13. The first member 21 may not be disposed at least at a part of the periphery of the optical path K between the emission surface 12 and the substrate P. For example, the first member 21 may be disposed at least at a part of the periphery of the terminal optical element 13 and may not be disposed around the optical path K between the exit surface 12 and the object.

第1部材21は、液浸空間LS1を形成するための液体LQを供給する供給口31と、液浸空間LS1の液体LQの少なくとも一部を回収する回収口32とを備えている。   The first member 21 includes a supply port 31 for supplying the liquid LQ for forming the immersion space LS1, and a recovery port 32 for recovering at least a part of the liquid LQ in the immersion space LS1.

図4は、供給口31の近傍を示す第1部材21の断面図である。供給口31は、光路空間SPK(光路K)に面するように配置される。供給口31は、第1部材21の内部に形成された供給流路33を介して、液体LQを供給可能な液体供給装置34と接続される。供給口31は、液体供給装置34からの液体LQを射出面12側の光路空間SPK(光路K)に供給する。   FIG. 4 is a cross-sectional view of the first member 21 showing the vicinity of the supply port 31. The supply port 31 is disposed so as to face the optical path space SPK (optical path K). The supply port 31 is connected to a liquid supply device 34 that can supply the liquid LQ via a supply flow path 33 formed inside the first member 21. The supply port 31 supplies the liquid LQ from the liquid supply device 34 to the optical path space SPK (optical path K) on the exit surface 12 side.

第1部材21は、射出面12が面する孔(開口)20を有する。射出面12から射出された露光光ELは、開口20を通過して基板Pに照射可能である。供給口31から光路空間SPKに供給された液体LQの少なくとも一部は、開口20を介して、基板P上(物体上)に供給される。また、供給口31から光路空間SPKに供給された液体LQの少なくとも一部は、開口20を介して、第1空間SP1に供給される。本実施形態においては、開口20から、第1部材21の下方の第1空間SP1に液体LQが供給される。   The first member 21 has a hole (opening) 20 that the injection surface 12 faces. The exposure light EL emitted from the emission surface 12 can pass through the opening 20 and irradiate the substrate P. At least a part of the liquid LQ supplied from the supply port 31 to the optical path space SPK is supplied onto the substrate P (on the object) through the opening 20. Further, at least a part of the liquid LQ supplied from the supply port 31 to the optical path space SPK is supplied to the first space SP1 through the opening 20. In the present embodiment, the liquid LQ is supplied from the opening 20 to the first space SP1 below the first member 21.

液体供給装置34は、液体調整システムを含む。液体供給装置34は、例えば、供給口31から供給される液体LQの供給量(単位時間当たりの液体供給量)を調整可能な供給量調整部34Aと、供給する液体LQの温度を調整する温度調整部34Bと、供給する液体LQの温度を検出する温度センサ34Cとを有する。供給量調整部34Aは、マスフローコントローラを有する。温度調整部34Bは、液体LQを加熱可能な加熱装置と、液体LQを冷却可能な冷却装置とを有する。   The liquid supply device 34 includes a liquid adjustment system. The liquid supply device 34 includes, for example, a supply amount adjusting unit 34A that can adjust the supply amount (liquid supply amount per unit time) of the liquid LQ supplied from the supply port 31, and a temperature that adjusts the temperature of the supplied liquid LQ. It has the adjustment part 34B and the temperature sensor 34C which detects the temperature of the liquid LQ to supply. The supply amount adjustment unit 34A includes a mass flow controller. The temperature adjustment unit 34B includes a heating device that can heat the liquid LQ and a cooling device that can cool the liquid LQ.

供給口31は、光路Kの周囲に複数配置されてもよい。図2に示すように、本実施形態おいて、供給口31は、光路Kに対して一側(+X側)及び他側(−X側)に配置される。図2に示すように、本実施形態においては、一側の供給口31及び他側の供給口31のそれぞれに液体供給装置34が接続される。一側の供給口31から供給される液体LQの温度と、他側の供給口31から供給される液体LQの温度とは、実質的に等しくてもよいし、異なってもよい。一側の供給口31から供給される液体LQの供給量と、他側の供給口31から供給される液体LQの供給量とは、実質的に等しくてもよいし、異なってもよい。   A plurality of supply ports 31 may be arranged around the optical path K. As shown in FIG. 2, in the present embodiment, the supply port 31 is arranged on one side (+ X side) and the other side (−X side) with respect to the optical path K. As shown in FIG. 2, in this embodiment, a liquid supply device 34 is connected to each of the supply port 31 on one side and the supply port 31 on the other side. The temperature of the liquid LQ supplied from the supply port 31 on one side and the temperature of the liquid LQ supplied from the supply port 31 on the other side may be substantially equal or different. The supply amount of the liquid LQ supplied from the supply port 31 on one side and the supply amount of the liquid LQ supplied from the supply port 31 on the other side may be substantially equal or different.

図5は、回収口32の近傍を示す第1部材21の断面図である。回収口32は、第1空間SP1に面するように配置される。基板P(物体)は、回収口32と対向可能である。回収口32は、第1部材21の内部に形成された回収流路35を介して、液体LQを回収(吸引)可能な液体回収装置36と接続される。回収口32は、第1部材21と基板Pとの間の第1空間SP1の液体LQの少なくとも一部を回収(吸引)可能である。回収口32から回収流路35に流入した液体LQは、液体回収装置36に回収される。   FIG. 5 is a cross-sectional view of the first member 21 showing the vicinity of the recovery port 32. The collection port 32 is disposed so as to face the first space SP1. The substrate P (object) can face the recovery port 32. The recovery port 32 is connected to a liquid recovery device 36 that can recover (suction) the liquid LQ via a recovery flow path 35 formed inside the first member 21. The recovery port 32 can recover (suction) at least part of the liquid LQ in the first space SP1 between the first member 21 and the substrate P. The liquid LQ that has flowed into the recovery channel 35 from the recovery port 32 is recovered by the liquid recovery device 36.

液体回収装置36は、回収口32を真空システムBSに接続可能である。液体回収装置36は、回収口32から回収された液体LQが収容される収容部36Aと、回収口32の吸引力を調整可能な圧力調整部36Bとを有する。収容部36Aは、タンクを含む。圧力調整部36Bは、圧力調整弁などを含む。   The liquid recovery device 36 can connect the recovery port 32 to the vacuum system BS. The liquid recovery device 36 includes a storage portion 36A that stores the liquid LQ recovered from the recovery port 32, and a pressure adjustment unit 36B that can adjust the suction force of the recovery port 32. The accommodating portion 36A includes a tank. The pressure adjustment unit 36B includes a pressure adjustment valve and the like.

本実施形態において、第1部材21は、多孔部材37を備える。多孔部材37は、液体LQが流通可能な複数の孔(openingsあるいはpores)を有する。多孔部材37は、例えばメッシュフィルタを含む。メッシュフィルタは、網目状に多数の小さい孔が形成された多孔部材である。   In the present embodiment, the first member 21 includes a porous member 37. The porous member 37 has a plurality of holes (openings or pores) through which the liquid LQ can flow. The porous member 37 includes, for example, a mesh filter. The mesh filter is a porous member in which a large number of small holes are formed in a mesh shape.

本実施形態において、多孔部材37は、プレート状の部材である。多孔部材37は、基板Pが対向可能な下面37Bと、第1部材21に形成された回収流路35に面する上面37Aと、上面37Aと下面37Bとを結ぶように形成された複数の孔とを有する。本実施形態において、回収口32は、多孔部材37の孔を含む。多孔部材37の孔(回収口32)を介して回収された液体LQは、回収流路35を流れる。   In the present embodiment, the porous member 37 is a plate-like member. The porous member 37 has a plurality of holes formed so as to connect the lower surface 37B to which the substrate P can face, the upper surface 37A facing the recovery flow path 35 formed in the first member 21, and the upper surface 37A and the lower surface 37B. And have. In the present embodiment, the recovery port 32 includes a hole of the porous member 37. The liquid LQ recovered through the hole (recovery port 32) of the porous member 37 flows through the recovery channel 35.

本実施形態においては、多孔部材37(回収口32)から、第1空間SP1の液体LQ及び気体の両方が回収(吸引)される。なお、多孔部材37を介して実質的に液体LQのみが回収され、気体の回収が制限されてもよい。例えば、基板P(物体)上の液体LQが多孔部材37の孔を通過して回収流路35に流入し、気体は通過しないように、多孔部材37の下面37B側の圧力(第1空間SP1の圧力)と上面37A側の圧力(回収流路35の圧力)との差が調整されてもよい。なお、多孔部材を介して液体のみを回収する技術の一例が、例えば米国特許第7292313号等に開示されている。   In the present embodiment, both the liquid LQ and the gas in the first space SP1 are recovered (sucked) from the porous member 37 (recovery port 32). Note that only the liquid LQ may be substantially recovered through the porous member 37, and the recovery of the gas may be limited. For example, the pressure (first space SP1) on the lower surface 37B side of the porous member 37 so that the liquid LQ on the substrate P (object) passes through the hole of the porous member 37 and flows into the recovery flow path 35 and does not pass the gas. ) And the pressure on the upper surface 37A side (pressure of the recovery flow path 35) may be adjusted. An example of a technique for recovering only the liquid through the porous member is disclosed in, for example, US Pat. No. 7,292,313.

なお、多孔部材37を設けなくてもよい。   The porous member 37 may not be provided.

本実施形態においては、供給口31からの液体LQの供給と並行して、回収口32からの液体LQの回収が行われることによって、一方側の終端光学素子13及び第1部材21と、他方側の基板Pとの間に液体LQの液浸空間LS1が形成される。液浸空間LS1は、供給口31から供給された液体LQによって形成される。   In the present embodiment, the liquid LQ is recovered from the recovery port 32 in parallel with the supply of the liquid LQ from the supply port 31, so that the terminal optical element 13 and the first member 21 on one side and the other An immersion space LS1 for the liquid LQ is formed between the substrate P on the side. The immersion space LS1 is formed by the liquid LQ supplied from the supply port 31.

下面23は、開口20の周囲に配置される。本実施形態において、下面23の少なくとも一部は、XY平面とほぼ平行である。なお、下面23の少なくとも一部が、XY平面に対して傾斜していてもよいし、曲面を含んでもよい。   The lower surface 23 is disposed around the opening 20. In the present embodiment, at least a part of the lower surface 23 is substantially parallel to the XY plane. Note that at least a part of the lower surface 23 may be inclined with respect to the XY plane, or may include a curved surface.

下面23は、開口20の周囲に配置され、液体LQを回収不可能な下面23Bと、下面23Bの周囲に配置され、液体LQを回収可能な多孔部材37の下面37Bとを含む。液体LQは、下面23Bを通過できない。下面23Bは、基板Pとの間で液体LQを保持可能である。   The lower surface 23 includes a lower surface 23B that is disposed around the opening 20 and cannot collect the liquid LQ, and a lower surface 37B of the porous member 37 that is disposed around the lower surface 23B and can collect the liquid LQ. The liquid LQ cannot pass through the lower surface 23B. The lower surface 23B can hold the liquid LQ with the substrate P.

本実施形態において、液体LQを回収可能な下面37Bは、下面23の周縁部に配置される。下面23(基板Pの上面)と平行なXY平面内において、下面37Bは、環状である。液体LQを回収不可能な下面23Bは、下面37Bの内側に配置される。本実施形態において、界面LG1は、下面37Bと基板Pの上面との間に配置される。   In the present embodiment, the lower surface 37 </ b> B capable of collecting the liquid LQ is disposed at the peripheral edge of the lower surface 23. In the XY plane parallel to the lower surface 23 (the upper surface of the substrate P), the lower surface 37B is annular. The lower surface 23B that cannot recover the liquid LQ is disposed inside the lower surface 37B. In the present embodiment, the interface LG1 is disposed between the lower surface 37B and the upper surface of the substrate P.

なお、液体LQを回収可能な下面37B(回収口32)は、光路K(開口20)の周囲に複数配置されてもよい。   A plurality of lower surfaces 37B (collection ports 32) that can collect the liquid LQ may be arranged around the optical path K (opening 20).

第2部材22は、第1部材21とは異なる部材である。第2部材22は、第1部材21から離れている。第2部材22は、第1部材21の周囲の一部に配置される。   The second member 22 is a member different from the first member 21. The second member 22 is separated from the first member 21. The second member 22 is disposed at a part of the periphery of the first member 21.

第2部材22は、第2部材22の下方の第2空間SP2の少なくとも一部に液体LQの液浸空間LS2を形成可能である。第2空間SP2は、下面24側の空間である。液浸空間LS2は、液浸空間LS1と離れて形成される。液浸空間LS2は、下面24と基板P(物体)の上面との間に形成される。第2部材22は、基板P(物体)との間で液体LQを保持可能である。液浸空間LS2は、第2部材22と基板Pとの間に保持される液体LQによって形成される。一方側の下面24と、他方側の基板P(物体)の上面との間に液体LQが保持されることによって、液浸空間LS2が形成される。   The second member 22 can form an immersion space LS2 for the liquid LQ in at least a part of the second space SP2 below the second member 22. The second space SP2 is a space on the lower surface 24 side. The immersion space LS2 is formed apart from the immersion space LS1. The immersion space LS2 is formed between the lower surface 24 and the upper surface of the substrate P (object). The second member 22 can hold the liquid LQ with the substrate P (object). The immersion space LS2 is formed by the liquid LQ that is held between the second member 22 and the substrate P. Liquid immersion space LS2 is formed by holding liquid LQ between lower surface 24 on one side and the upper surface of substrate P (object) on the other side.

本実施形態において、液浸空間LS2の液体LQの界面(メニスカス、エッジ)LG2の少なくとも一部は、下面24と基板Pの上面との間に形成される。液浸空間LS2の外側(界面LG2の外側)は、気体空間である。   In the present embodiment, at least a part of the interface (meniscus, edge) LG2 of the liquid LQ in the immersion space LS2 is formed between the lower surface 24 and the upper surface of the substrate P. The outside of the immersion space LS2 (the outside of the interface LG2) is a gas space.

液浸空間LS2は、液浸空間LS1よりも小さい。液浸空間の大きさとは、液浸空間を形成する液体の体積を含む。また、液浸空間の大きさとは、液浸空間を形成する液体の重量を含む。また、液浸空間の大きさとは、例えば基板Pの表面(上面)と平行な面内(XY平面内)における液浸空間の面積を含む。また、液浸空間の大きさとは、例えば基板Pの表面(上面)と平行な面内(XY平面内)における所定方向(例えばX軸方向、又はY軸方向)に関する液浸空間の寸法を含む。   The immersion space LS2 is smaller than the immersion space LS1. The size of the immersion space includes the volume of the liquid that forms the immersion space. The size of the immersion space includes the weight of the liquid that forms the immersion space. The size of the immersion space includes, for example, the area of the immersion space in a plane parallel to the surface (upper surface) of the substrate P (in the XY plane). The size of the immersion space includes, for example, the dimension of the immersion space in a predetermined direction (for example, the X-axis direction or the Y-axis direction) in a plane (in the XY plane) parallel to the surface (upper surface) of the substrate P. .

すなわち、基板Pの表面(上面)と平行な面内(XY平面内)において、液浸空間LS2は、液浸空間LS1よりも小さい。液浸空間LS2を形成する液体LQの体積(重量)は、液浸空間LS1を形成する液体LQの体積(重量)よりも小さい。XY平面内における液浸空間LS2の寸法は、液浸空間LS1の寸法よりも小さい。   That is, in the plane parallel to the surface (upper surface) of the substrate P (in the XY plane), the immersion space LS2 is smaller than the immersion space LS1. The volume (weight) of the liquid LQ that forms the immersion space LS2 is smaller than the volume (weight) of the liquid LQ that forms the immersion space LS1. The dimension of the immersion space LS2 in the XY plane is smaller than the dimension of the immersion space LS1.

本実施形態において、第2部材22は、第1部材21の周囲の空間において2つ配置される。本実施形態において、第2部材22は、X軸方向に関して、第1部材21の一側(+X側)及び他側(−X側)に配置される。液浸空間LS2は、X軸方向に関して、液浸空間LS1の一側(+X側)及び他側(−X側)に形成される。   In the present embodiment, two second members 22 are arranged in the space around the first member 21. In the present embodiment, the second member 22 is disposed on one side (+ X side) and the other side (−X side) of the first member 21 with respect to the X-axis direction. The immersion space LS2 is formed on one side (+ X side) and the other side (−X side) of the immersion space LS1 with respect to the X-axis direction.

以下の説明においては、第1部材21の+X側に配置される第2部材22を適宜、第2部材221、と称し、第1部材21の−X側に配置される第2部材22を適宜、第2部材222、と称する。   In the following description, the second member 22 disposed on the + X side of the first member 21 is appropriately referred to as a second member 221, and the second member 22 disposed on the −X side of the first member 21 is appropriately included. , Referred to as a second member 222.

なお、第2部材22は、第1部材21の一側(+X側)のみに配置されてもよいし、他側(−X側)のみに配置されてもよい。液浸空間LS2は、液浸空間LS1の一側(+X側)のみに配置されてもよいし、他側(−X側)のみに配置されてもよい。   The second member 22 may be disposed only on one side (+ X side) of the first member 21 or may be disposed only on the other side (−X side). The immersion space LS2 may be disposed only on one side (+ X side) of the immersion space LS1, or may be disposed only on the other side (−X side).

本実施形態において、下面24の少なくとも一部は、XY平面とほぼ平行である。なお、下面24の少なくとも一部が、XY平面に対して傾斜していてもよいし、曲面を含んでもよい。   In the present embodiment, at least a part of the lower surface 24 is substantially parallel to the XY plane. Note that at least a part of the lower surface 24 may be inclined with respect to the XY plane, or may include a curved surface.

本実施形態において、Z軸方向に関する下面23の位置(高さ)と下面24の位置(高さ)とは、実質的に等しい。すなわち、下面23と基板P(物体)の上面との距離と、下面24と基板P(物体)の上面との距離とは、実質的に等しい。   In the present embodiment, the position (height) of the lower surface 23 and the position (height) of the lower surface 24 in the Z-axis direction are substantially equal. That is, the distance between the lower surface 23 and the upper surface of the substrate P (object) and the distance between the lower surface 24 and the upper surface of the substrate P (object) are substantially equal.

なお、下面24が下面23よりも低い位置に配置されてもよい。すなわち、下面24と基板P(物体)の上面との距離が、下面23と基板P(物体)の上面との距離よりも小さくてもよい。なお、下面24が下面23よりも高い位置に配置されてもよい。すなわち、下面25と基板P(物体)の上面との距離が、下面24と基板P(物体)の上面との距離よりも大きくてもよい。   Note that the lower surface 24 may be disposed at a position lower than the lower surface 23. That is, the distance between the lower surface 24 and the upper surface of the substrate P (object) may be smaller than the distance between the lower surface 23 and the upper surface of the substrate P (object). Note that the lower surface 24 may be disposed at a position higher than the lower surface 23. That is, the distance between the lower surface 25 and the upper surface of the substrate P (object) may be larger than the distance between the lower surface 24 and the upper surface of the substrate P (object).

図6は、第2部材22の一例を示す部分断面図である。第2部材22は、液浸空間LS2を形成するための液体LQを供給する供給口41と、液浸空間LS2の液体LQの少なくとも一部を回収する回収口42とを備えている。   FIG. 6 is a partial cross-sectional view showing an example of the second member 22. The second member 22 includes a supply port 41 for supplying the liquid LQ for forming the immersion space LS2, and a recovery port 42 for recovering at least a part of the liquid LQ in the immersion space LS2.

本実施形態において、供給口41は、第2部材22の下方の第2空間SP2に面するように配置される。基板P(物体)は、供給口41と対向可能である。供給口41は、第2部材22の下面24の少なくとも一部に配置される。供給口41は、第2空間SP2に液体LQを供給可能である。     In the present embodiment, the supply port 41 is disposed so as to face the second space SP <b> 2 below the second member 22. The substrate P (object) can face the supply port 41. The supply port 41 is disposed on at least a part of the lower surface 24 of the second member 22. The supply port 41 can supply the liquid LQ to the second space SP2.

本実施形態において、回収口42は、第2部材22の下方の第2空間SP2に面するように配置される。基板P(物体)は、回収口42と対向可能である。回収口42は、第2部材22の下面24の少なくとも一部に配置される。回収口42は、第2空間SP2の液体LQの少なくとも一部を回収可能である。回収口42は、第2空間SP2の気体を回収可能である。本実施形態において、回収口42は、液体LQを、気体とともに回収する。第2空間SP2の流体(液体LQ及び気体の一方又は両方)の少なくとも一部は、回収口42から回収される。     In the present embodiment, the recovery port 42 is disposed so as to face the second space SP <b> 2 below the second member 22. The substrate P (object) can face the recovery port 42. The collection port 42 is disposed on at least a part of the lower surface 24 of the second member 22. The recovery port 42 can recover at least a part of the liquid LQ in the second space SP2. The recovery port 42 can recover the gas in the second space SP2. In the present embodiment, the recovery port 42 recovers the liquid LQ together with the gas. At least a portion of the fluid (one or both of the liquid LQ and gas) in the second space SP2 is recovered from the recovery port 42.

本実施形態において、回収口42の少なくとも一部は、第1部材21と供給口41との間に配置される。また、回収口42の少なくとも一部は、光路K(第1部材21)に対して供給口41の外側に配置される。本実施形態においては、回収口42は、供給口41を囲むように配置される。下面24と平行な面内(XY平面内)において、回収口42は、環状である。   In the present embodiment, at least a part of the recovery port 42 is disposed between the first member 21 and the supply port 41. In addition, at least a part of the recovery port 42 is disposed outside the supply port 41 with respect to the optical path K (first member 21). In the present embodiment, the collection port 42 is disposed so as to surround the supply port 41. In a plane parallel to the lower surface 24 (in the XY plane), the recovery port 42 is annular.

なお、回収口42は、供給口41の周囲に複数配置されてもよい。すなわち、複数の回収口42が、供給口41の周囲において離散的に配置されてもよい。   A plurality of recovery ports 42 may be arranged around the supply port 41. That is, the plurality of recovery ports 42 may be discretely arranged around the supply port 41.

供給口41は、第2部材22の内部に形成された供給流路43を介して、液体LQを供給可能な液体供給装置44と接続される。供給口41は、液体供給装置44からの液体LQを、第2空間SP2に供給する。   The supply port 41 is connected to a liquid supply device 44 that can supply the liquid LQ via a supply flow path 43 formed inside the second member 22. The supply port 41 supplies the liquid LQ from the liquid supply device 44 to the second space SP2.

液体供給装置44は、液体調整システムを含む。液体供給装置44は、例えば、供給口41から供給される液体LQの供給量(単位時間当たりの液体供給量)を調整可能な供給量調整部44Aと、供給する液体LQの温度を調整する温度調整部44Bと、供給する液体LQの温度を検出する温度センサ44Cとを有する。供給量調整部44Aは、マスフローコントローラを有する。温度調整部44Bは、液体LQを加熱可能な加熱装置と、液体LQを冷却可能な冷却装置とを有する。   The liquid supply device 44 includes a liquid adjustment system. The liquid supply device 44 includes, for example, a supply amount adjusting unit 44A that can adjust the supply amount (liquid supply amount per unit time) of the liquid LQ supplied from the supply port 41, and a temperature that adjusts the temperature of the supplied liquid LQ. It has the adjustment part 44B and the temperature sensor 44C which detects the temperature of the liquid LQ to supply. The supply amount adjusting unit 44A includes a mass flow controller. The temperature adjustment unit 44B includes a heating device that can heat the liquid LQ and a cooling device that can cool the liquid LQ.

図2に示すように、本実施形態においては、一側の第2部材221及び他側の第2部材222のそれぞれに液体供給装置44が接続される。本実施形態において、一側の第2部材221の供給口41から供給される液体LQの温度と、他側の第2部材222の供給口41から供給される液体LQの温度とは、実質的に等しくてもよいし、異なってもよい。一側の第2部材221の供給口41から供給される液体LQの供給量と、他側の第2部材22の供給口41から供給される液体LQの供給量とは、実質的に等しくてもよいし、異なってもよい。   As shown in FIG. 2, in the present embodiment, the liquid supply device 44 is connected to each of the second member 221 on one side and the second member 222 on the other side. In the present embodiment, the temperature of the liquid LQ supplied from the supply port 41 of the second member 221 on one side and the temperature of the liquid LQ supplied from the supply port 41 of the second member 222 on the other side are substantially equal. May be equal to or different from each other. The supply amount of the liquid LQ supplied from the supply port 41 of the second member 221 on one side is substantially equal to the supply amount of the liquid LQ supplied from the supply port 41 of the second member 22 on the other side. It may be different or different.

回収口42は、第2部材22の内部に形成された回収流路45を介して、液体LQ(気体)を回収(吸引)可能な液体回収装置46と接続される。回収口42は、第2部材22と基板Pとの間の第2空間SP2の液体LQの少なくとも一部を回収(吸引)可能である。第2部材22の下方の第2空間SP2から回収された液体LQは、回収流路45を流れる。回収口42から回収流路45に流入した液体LQは、液体回収装置46に回収される。   The recovery port 42 is connected to a liquid recovery device 46 capable of recovering (suctioning) the liquid LQ (gas) via a recovery channel 45 formed inside the second member 22. The recovery port 42 can recover (suck) at least a part of the liquid LQ in the second space SP2 between the second member 22 and the substrate P. The liquid LQ recovered from the second space SP2 below the second member 22 flows through the recovery channel 45. The liquid LQ that has flowed into the recovery channel 45 from the recovery port 42 is recovered by the liquid recovery device 46.

液体回収装置46は、回収口42を真空システムBSに接続可能である。液体回収装置46は、回収口42から回収された液体LQが収容される収容部46Aと、回収口42の吸引力を調整可能な圧力調整部46Bとを有する。収容部46Aは、タンクを含む。圧力調整部46Bは、圧力調整弁などを含む。   The liquid recovery device 46 can connect the recovery port 42 to the vacuum system BS. The liquid recovery device 46 includes a storage portion 46A that stores the liquid LQ recovered from the recovery port 42, and a pressure adjustment unit 46B that can adjust the suction force of the recovery port 42. The accommodating portion 46A includes a tank. The pressure adjustment unit 46B includes a pressure adjustment valve and the like.

回収口42の吸引力は、回収流路45の圧力と第2空間SP2の圧力との差に依存する。回収流路45と第2空間SP2との圧力差によって、回収口42の吸引力が定められる。本実施形態において、圧力調整部46Bが、回収流路45の圧力を調整可能である。チャンバ装置11が、第2空間SP2の圧力を調整可能である。   The suction force of the recovery port 42 depends on the difference between the pressure of the recovery channel 45 and the pressure of the second space SP2. The suction force of the recovery port 42 is determined by the pressure difference between the recovery flow path 45 and the second space SP2. In the present embodiment, the pressure adjusting unit 46B can adjust the pressure of the recovery flow path 45. The chamber device 11 can adjust the pressure in the second space SP2.

図2に示すように、本実施形態においては、一側の第2部材221及び他側の第2部材222のそれぞれに液体回収装置46が接続される。本実施形態において、一側の第2部材221の回収口41の回収力(吸引力)と、他側の第2部材222の回収口42の回収力(吸引力)とは、実質的に等しくてもよいし、異なってもよい。   As shown in FIG. 2, in the present embodiment, a liquid recovery device 46 is connected to each of the second member 221 on one side and the second member 222 on the other side. In the present embodiment, the recovery force (suction force) of the recovery port 41 of the second member 221 on one side and the recovery force (suction force) of the recovery port 42 of the second member 222 on the other side are substantially equal. It may be different or different.

本実施形態においては、供給口41からの液体LQの供給と並行して、回収口42からの液体LQの回収が行われることによって、一方側の第2部材22と、他方側の基板Pとの間に液体LQで液浸空間LS2が形成される。液浸空間LS2は、供給口41から供給された液体LQによって形成される。   In the present embodiment, the liquid LQ is recovered from the recovery port 42 in parallel with the supply of the liquid LQ from the supply port 41, whereby the second member 22 on one side and the substrate P on the other side In the meantime, an immersion space LS2 is formed with the liquid LQ. The immersion space LS2 is formed by the liquid LQ supplied from the supply port 41.

図7は、基板ステージ2及び計測ステージ3の一例を示す平面図である。基板Pの表面(上面)とXY平面とが実質的に平行となるように、基板Pは、第1保持部14に保持される。カバー部材T1の上面及びスケール部材T2の上面とXY平面とが実質的に平行となるように、カバー部材T1及びスケール部材T2は、第2保持部15に保持される。本実施形態において、第1保持部14に保持された基板Pの上面と、第2保持部15に保持されたカバー部材T1の上面及びスケール部材T2の上面とは、実質的に同一平面内に配置される。なお、第1保持部14に保持された基板Pの上面と、第2保持部15に保持されたカバー部材T1の上面及びスケール部材T2の一方又は両方とは、同一平面内に配置されなくてもよい。なお、基板Pの上面に対してカバー部材T1の上面及びスケール部材T2の上面の一方又は両方が傾斜してもよいし、カバー部材T1の上面及びスケール部材T2の上面の一方又は両方が曲面を含んでもよい。   FIG. 7 is a plan view showing an example of the substrate stage 2 and the measurement stage 3. The substrate P is held by the first holding unit 14 so that the surface (upper surface) of the substrate P and the XY plane are substantially parallel. The cover member T1 and the scale member T2 are held by the second holding unit 15 so that the upper surface of the cover member T1 and the upper surface of the scale member T2 are substantially parallel to the XY plane. In the present embodiment, the upper surface of the substrate P held by the first holding unit 14, the upper surface of the cover member T1 and the upper surface of the scale member T2 held by the second holding unit 15 are substantially in the same plane. Be placed. Note that the upper surface of the substrate P held by the first holding unit 14 and one or both of the upper surface of the cover member T1 and the scale member T2 held by the second holding unit 15 are not arranged in the same plane. Also good. One or both of the upper surface of the cover member T1 and the upper surface of the scale member T2 may be inclined with respect to the upper surface of the substrate P, or one or both of the upper surface of the cover member T1 and the upper surface of the scale member T2 have a curved surface. May be included.

カバー部材T1は、基板Pの周囲に配置される。カバー部材T1は、間隙Gaを介して基板Pに隣接する。基板Pとカバー部材T1との間に間隙Gaが設けられる。   The cover member T1 is disposed around the substrate P. The cover member T1 is adjacent to the substrate P through the gap Ga. A gap Ga is provided between the substrate P and the cover member T1.

スケール部材T2は、カバー部材T1の周囲に配置される。スケール部材T2は、間隙Gbを介してカバー部材T1に隣接する。カバー部材T1とスケール部材T2との間に間隙Gbが形成される。   The scale member T2 is disposed around the cover member T1. The scale member T2 is adjacent to the cover member T1 through the gap Gb. A gap Gb is formed between the cover member T1 and the scale member T2.

本実施形態においては、例えば米国特許出願公開第2006/0023186号、及び米国特許出願公開第2007/0127006号などに開示されているように、終端光学素子13及び第1部材21の下方に形成される液浸空間LS1が基板ステージ2上及び計測ステージ3上の一方から他方へ移動するように、基板ステージ2の上面(スケール部材T2の上面)と計測ステージ3の上面とが接近又は接触された状態で、基板ステージ2及び計測ステージ3が、終端光学素子13及び第1部材21に対して、XY平面内において移動可能である。   In the present embodiment, as disclosed in, for example, U.S. Patent Application Publication No. 2006/0023186 and U.S. Patent Application Publication No. 2007/0127006, it is formed below the terminal optical element 13 and the first member 21. The upper surface of the substrate stage 2 (the upper surface of the scale member T2) and the upper surface of the measurement stage 3 are brought close to or in contact with each other so that the immersion space LS1 moves from one to the other on the substrate stage 2 and the measurement stage 3. In this state, the substrate stage 2 and the measurement stage 3 are movable in the XY plane with respect to the terminal optical element 13 and the first member 21.

以下の説明においては、基板ステージ2の上面と計測ステージ3の上面とを接近又は接触させた状態で、終端光学素子13及び第1部材21に対して、基板ステージ2及び計測ステージ3をXY平面内において同期移動させる動作を適宜、スクラム移動動作、と称する。   In the following description, the substrate stage 2 and the measurement stage 3 are placed on the XY plane with respect to the last optical element 13 and the first member 21 in a state where the upper surface of the substrate stage 2 and the upper surface of the measurement stage 3 are close to or in contact with each other. The operation of moving in a synchronized manner is appropriately referred to as a scrum moving operation.

本実施形態においては、図7に示すように、スクラム移動動作において、基板ステージ2の上面の+Y側の辺と、計測ステージ3の上面の+Y側の辺とが接近又は接触する。   In the present embodiment, as shown in FIG. 7, in the scram moving operation, the + Y side edge of the upper surface of the substrate stage 2 and the + Y side edge of the upper surface of the measurement stage 3 approach or come into contact with each other.

スクラム移動動作により、終端光学素子13及び第1部材21の下方に形成される液浸空間LS1が、基板ステージ2上及び計測ステージ3上の一方から他方へ移動する。第2部材22の下方に形成される液浸空間LS2が、基板ステージ2上及び計測ステージ3上の一方から他方へ移動する。   By the scram moving operation, the immersion space LS1 formed below the last optical element 13 and the first member 21 moves from one side to the other on the substrate stage 2 and the measurement stage 3. The immersion space LS2 formed below the second member 22 moves from one to the other on the substrate stage 2 and the measurement stage 3.

スクラム移動動作において、基板ステージ2は、間隙Gcを介して計測ステージ3に隣接する。スクラム移動動作において、基板ステージ2と計測ステージ3との間に間隙Gcが設けられる。   In the scram moving operation, the substrate stage 2 is adjacent to the measurement stage 3 through the gap Gc. In the scram moving operation, a gap Gc is provided between the substrate stage 2 and the measurement stage 3.

計測ステージ3の上面は、計測部材Cの周囲に配置される。計測ステージ3の上面は、間隙Gdを介して計測部材Cに隣接する。計測ステージ3と計測部材Cとの間に間隙Gdが形成される。   The upper surface of the measurement stage 3 is arranged around the measurement member C. The upper surface of the measurement stage 3 is adjacent to the measurement member C through the gap Gd. A gap Gd is formed between the measurement stage 3 and the measurement member C.

次に、上述の構成を有する露光装置EXを用いて基板Pを露光する方法について説明する。   Next, a method for exposing the substrate P using the exposure apparatus EX having the above-described configuration will be described.

液浸部材5から離れた基板交換位置において、露光前の基板Pを基板ステージ2(第1保持部)に搬入(ロード)する処理が行われる。また、基板ステージ2が液浸部材5から離れている期間の少なくとも一部において、計測ステージ3が終端光学素子13及び液浸部材5と対向するように配置される。   At a substrate exchange position away from the liquid immersion member 5, a process of loading (loading) the substrate P before exposure into the substrate stage 2 (first holding unit) is performed. In addition, the measurement stage 3 is disposed so as to face the last optical element 13 and the liquid immersion member 5 in at least a part of the period in which the substrate stage 2 is separated from the liquid immersion member 5.

第1部材21の供給口31(開口20)は、第1部材21の下方の第1空間SP1に液体LQを供給可能である。第1部材21の回収口32は、第1空間SP1の流体(液体LQ及び気体の一方又は両方)を吸引可能である。供給口31からの液体LQの供給の少なくとも一部と並行して、回収口32からの液体LQの回収が行われることによって、第1空間SP1に液体LQの液浸空間LS1が形成される。   The supply port 31 (opening 20) of the first member 21 can supply the liquid LQ to the first space SP1 below the first member 21. The recovery port 32 of the first member 21 can suck the fluid (one or both of the liquid LQ and the gas) in the first space SP1. In parallel with at least a part of the supply of the liquid LQ from the supply port 31, the liquid LQ is recovered from the recovery port 32, whereby an immersion space LS1 of the liquid LQ is formed in the first space SP1.

第2部材22の供給口41は、第2部材22の下方の第2空間SP2に液体LQを供給可能である。第2部材22の回収口42は、第2空間SP2の流体(液体LQ及び気体の一方又は両方)を吸引可能である。供給口41からの液体LQの供給の少なくとも一部と並行して、回収口42からの液体LQの回収が行われることによって、第2空間SP2に液体LQの液浸空間LS2が形成される。   The supply port 41 of the second member 22 can supply the liquid LQ to the second space SP <b> 2 below the second member 22. The recovery port 42 of the second member 22 can suck the fluid (one or both of the liquid LQ and the gas) in the second space SP2. In parallel with at least part of the supply of the liquid LQ from the supply port 41, the liquid LQ is recovered from the recovery port 42, whereby an immersion space LS2 of the liquid LQ is formed in the second space SP2.

計測ステージ3が終端光学素子13及び液浸部材5と対向するように配置される状態において、第1、第2液浸空間LS1、LS2は、計測ステージ3上に形成される。   In a state where the measurement stage 3 is disposed so as to face the terminal optical element 13 and the liquid immersion member 5, the first and second liquid immersion spaces LS1 and LS2 are formed on the measurement stage 3.

露光前の基板Pが基板ステージ2にロードされ、計測ステージ3を用いる計測処理が終了した後、制御装置6は、終端光学素子13及び液浸部材5と基板ステージ2(基板P)とが対向するように、基板ステージ2を移動する。終端光学素子13及び液浸部材5と計測ステージ3とが対向する状態から、終端光学素子13及び液浸部材5と基板ステージ2とが対向する状態へ変化するように、スクラム移動動作が実行される。終端光学素子13及び液浸部材5と基板ステージ2(基板P)とが対向する状態で、供給口31からの液体LQの供給と並行して回収口32からの液体LQの回収が行われることによって、射出面12側の露光光ELの光路Kが液体LQで満たされるように、終端光学素子13及び第1部材21と基板ステージ2(基板P)との間に液浸空間LS1が形成される。また、供給口41からの液体LQの供給と並行して回収口42からの液体LQの回収が行われることによって、第2部材22と基板ステージ2(基板P)との間に液浸空間LS2が形成される。   After the substrate P before exposure is loaded onto the substrate stage 2 and the measurement process using the measurement stage 3 is completed, the control device 6 causes the last optical element 13 and the liquid immersion member 5 to face the substrate stage 2 (substrate P). Then, the substrate stage 2 is moved. The scram movement operation is executed so that the terminal optical element 13 and the liquid immersion member 5 and the measurement stage 3 are changed from the facing state to the state in which the terminal optical element 13 and the liquid immersion member 5 and the substrate stage 2 are facing each other. The The recovery of the liquid LQ from the recovery port 32 is performed in parallel with the supply of the liquid LQ from the supply port 31 with the last optical element 13 and the liquid immersion member 5 facing the substrate stage 2 (substrate P). Thus, an immersion space LS1 is formed between the last optical element 13 and the first member 21 and the substrate stage 2 (substrate P) so that the optical path K of the exposure light EL on the exit surface 12 side is filled with the liquid LQ. The Further, by collecting the liquid LQ from the collection port 42 in parallel with the supply of the liquid LQ from the supply port 41, the immersion space LS2 between the second member 22 and the substrate stage 2 (substrate P). Is formed.

制御装置6は、基板Pの露光処理を開始する。制御装置6は、基板P上に液浸空間LS1が形成され、基板P上及び基板ステージ2上の少なくとも一方に液浸空間LS2が形成されている状態で、照明系ILから露光光ELを射出する。照明系ILはマスクMを露光光ELで照明する。マスクMからの露光光ELは、投影光学系PL及び射出面12と基板Pとの間の液浸空間LS1の液体LQを介して基板Pに照射される。これにより、基板Pは、液浸空間LS1の液体LQを介して射出面12から射出された露光光ELで露光され、マスクMのパターンの像が基板Pに投影される。   The control device 6 starts the exposure process for the substrate P. The control device 6 emits the exposure light EL from the illumination system IL in a state where the immersion space LS1 is formed on the substrate P and the immersion space LS2 is formed on at least one of the substrate P and the substrate stage 2. To do. The illumination system IL illuminates the mask M with the exposure light EL. The exposure light EL from the mask M is irradiated onto the substrate P through the projection optical system PL and the liquid LQ in the immersion space LS1 between the emission surface 12 and the substrate P. Accordingly, the substrate P is exposed with the exposure light EL emitted from the emission surface 12 through the liquid LQ in the immersion space LS1, and the pattern image of the mask M is projected onto the substrate P.

本実施形態の露光装置EXは、マスクMと基板Pとを所定の走査方向に同期移動しつつ、マスクMのパターンの像を基板Pに投影する走査型露光装置(所謂スキャニングステッパ)である。本実施形態においては、基板Pの走査方向(同期移動方向)をY軸方向とし、マスクMの走査方向(同期移動方向)もY軸方向とする。制御装置6は、基板Pを投影光学系PLの投影領域PRに対してY軸方向に移動するとともに、その基板PのY軸方向への移動と同期して、照明系ILの照明領域IRに対してマスクMをY軸方向に移動しつつ、投影光学系PLと基板P上の液浸空間LS1の液体LQとを介して基板Pに露光光ELを照射する。     The exposure apparatus EX of the present embodiment is a scanning exposure apparatus (so-called scanning stepper) that projects an image of the pattern of the mask M onto the substrate P while synchronously moving the mask M and the substrate P in a predetermined scanning direction. In the present embodiment, the scanning direction (synchronous movement direction) of the substrate P is the Y-axis direction, and the scanning direction (synchronous movement direction) of the mask M is also the Y-axis direction. The control device 6 moves the substrate P in the Y-axis direction with respect to the projection region PR of the projection optical system PL, and in the illumination region IR of the illumination system IL in synchronization with the movement of the substrate P in the Y-axis direction. On the other hand, the substrate P is irradiated with the exposure light EL through the projection optical system PL and the liquid LQ in the immersion space LS1 on the substrate P while moving the mask M in the Y-axis direction.

液浸空間LS1が形成されている状態で、基板P(物体)がXY平面内において移動することによって、液浸空間LS1の液体LQの一部が、液浸空間LS1から離れて、第1空間SP1の外側に移動(流出)する可能性がある。本実施形態においては、第1空間SP1の周囲の一部に、液浸空間LS2が形成される。そのため、第1空間SP1の外側に移動した液体LQは、液浸空間LS2に捕捉される。液浸空間LS2に捕捉された液体LQは、液浸空間LS2の液体LQとともに、回収口42から回収される。   In a state where the immersion space LS1 is formed, the substrate P (object) moves in the XY plane, whereby a part of the liquid LQ in the immersion space LS1 is separated from the immersion space LS1, and the first space. There is a possibility of movement (outflow) to the outside of SP1. In the present embodiment, the immersion space LS2 is formed in a part of the periphery of the first space SP1. Therefore, the liquid LQ that has moved to the outside of the first space SP1 is captured in the immersion space LS2. The liquid LQ captured in the immersion space LS2 is recovered from the recovery port 42 together with the liquid LQ in the immersion space LS2.

本実施形態においては、液浸空間LS2は、液浸空間LS1よりも小さい。そのため、液浸空間LS1、LS2が形成されている状態で基板P(物体)が移動した場合において、液浸空間LS2の液体LQの一部が液浸空間LS2から離れて第2空間SP2の外側に移動(流出)することが抑制される。換言すれば、液浸空間LS2は液浸空間LS1よりも小さいため、液浸空間LS2の液体LQの一部が第2空間SP2から流出することが、液浸空間LS1の液体LQの一部が第1空間SP1から流出することよりも抑制される。   In the present embodiment, the immersion space LS2 is smaller than the immersion space LS1. Therefore, when the substrate P (object) moves in a state where the immersion spaces LS1 and LS2 are formed, a part of the liquid LQ in the immersion space LS2 is separated from the immersion space LS2 and outside the second space SP2. (Moving out) is suppressed. In other words, since the immersion space LS2 is smaller than the immersion space LS1, a part of the liquid LQ in the immersion space LS2 flows out from the second space SP2, and a part of the liquid LQ in the immersion space LS1 It is suppressed from flowing out of the first space SP1.

図8は、基板ステージ2に保持された基板Pの一例を示す図である。本実施形態においては、基板Pに露光対象領域であるショット領域Sがマトリクス状に複数配置されている。制御装置6は、基板ステージ2(第1保持部14)に保持されている基板Pの複数のショット領域Sを液浸空間LS1の液体LQを介して露光光ELで順次露光する。複数のショット領域Sのそれぞれは、露光光EL(投影領域PR)に対して基板PをY軸方向に移動しながら露光される。   FIG. 8 is a diagram illustrating an example of the substrate P held on the substrate stage 2. In the present embodiment, a plurality of shot areas S, which are exposure target areas, are arranged in a matrix on the substrate P. The control device 6 sequentially exposes the plurality of shot regions S of the substrate P held on the substrate stage 2 (first holding unit 14) with the exposure light EL through the liquid LQ in the immersion space LS1. Each of the plurality of shot areas S is exposed while moving the substrate P in the Y-axis direction with respect to the exposure light EL (projection area PR).

例えば基板Pの第1のショット領域Sを露光するために、制御装置6は、液浸空間LS1、LS2が形成された状態で、基板P(第1のショット領域S)を投影光学系PLの投影領域PRに対してY軸方向に移動するとともに、その基板PのY軸方向への移動と同期して、照明系ILの照明領域IRに対してマスクMをY軸方向に移動しつつ、投影光学系PLと基板P上の液浸空間LS1の液体LQとを介して第1のショット領域Sに露光光ELを照射する。これにより、マスクMのパターンの像が基板Pの第1のショット領域Sに投影され、その第1のショット領域Sが射出面12から射出された露光光ELで露光される。第1のショット領域Sの露光が終了した後、制御装置6は、次の第2のショット領域Sの露光を開始するために、液浸空間LS1、LS2が形成されている状態で、基板PをXY平面内においてX軸と交差する方向(例えばX軸方向、あるいはXY平面内においてX軸及びY軸方向に対して傾斜する方向等)に移動し、第2のショット領域Sを露光開始位置に移動する。その後、制御装置6は、第2のショット領域Sの露光を開始する。   For example, in order to expose the first shot region S of the substrate P, the control device 6 causes the substrate P (first shot region S) to be projected onto the projection optical system PL in the state where the immersion spaces LS1 and LS2 are formed. While moving in the Y-axis direction with respect to the projection region PR, in synchronization with the movement of the substrate P in the Y-axis direction, while moving the mask M in the Y-axis direction with respect to the illumination region IR of the illumination system IL, The first shot region S is irradiated with the exposure light EL through the projection optical system PL and the liquid LQ in the immersion space LS1 on the substrate P. As a result, an image of the pattern of the mask M is projected onto the first shot area S of the substrate P, and the first shot area S is exposed with the exposure light EL emitted from the emission surface 12. After the exposure of the first shot region S is completed, the control device 6 starts the exposure of the next second shot region S, and the substrate P in a state where the immersion spaces LS1 and LS2 are formed. Is moved in a direction intersecting the X axis in the XY plane (for example, the X axis direction or a direction inclined with respect to the X axis and Y axis directions in the XY plane), and the second shot area S is moved to the exposure start position. Move to. Thereafter, the control device 6 starts exposure of the second shot region S.

制御装置6は、基板P(基板ステージ2)上に液浸空間LS1、LS2が形成されている状態で、射出面12からの露光光ELが照射される位置(投影領域PR)に対してショット領域をY軸方向に移動しながらそのショット領域を露光する動作と、そのショット領域の露光後、基板P(基板ステージ2)上に液浸空間LS1、LS2が形成された状態で、次のショット領域が露光開始位置に配置されるように、XY平面内においてY軸方向と交差する方向(X軸方向、XY平面内においてX軸及びY軸方向に対して傾斜する方向など)に基板Pを移動する動作と、を繰り返して、基板Pの複数のショット領域を順次露光する。   The control device 6 performs shots on the position (projection region PR) irradiated with the exposure light EL from the emission surface 12 in the state where the immersion spaces LS1 and LS2 are formed on the substrate P (substrate stage 2). The operation of exposing the shot area while moving the area in the Y-axis direction, and the next shot in the state where the immersion spaces LS1 and LS2 are formed on the substrate P (substrate stage 2) after the exposure of the shot area The substrate P is placed in a direction crossing the Y-axis direction in the XY plane (X-axis direction, a direction inclined with respect to the X-axis and Y-axis directions in the XY plane, etc.) so that the region is arranged at the exposure start position. The plurality of shot areas of the substrate P are sequentially exposed by repeating the moving operation.

以下の説明において、ショット領域を露光するために、基板P(基板ステージ2)上に液浸空間LS1、LS2が形成されている状態で、射出面12からの露光光ELが照射される位置(投影領域PR)に対して基板P(ショット領域)をY軸方向に移動させる動作を適宜、スキャン移動動作、と称する。また、あるショット領域の露光後、次のショット領域を露光するために、基板P(基板ステージ2)上に液浸空間LS1、LS2が形成されている状態で、次のショット領域が露光開始位置に配置されるように、XY平面内においてY軸方向と交差する方向に基板Pを移動させる動作を適宜、ステップ移動動作、と称する。   In the following description, in order to expose the shot area, the position (in which the exposure light EL from the emission surface 12 is irradiated) in the state where the immersion spaces LS1 and LS2 are formed on the substrate P (substrate stage 2) ( The operation of moving the substrate P (shot region) in the Y-axis direction with respect to the projection region PR) is appropriately referred to as a scan movement operation. In addition, after the exposure of a certain shot area, in order to expose the next shot area, the next shot area is at the exposure start position in the state where the immersion spaces LS1 and LS2 are formed on the substrate P (substrate stage 2). The operation of moving the substrate P in the direction crossing the Y-axis direction in the XY plane as appropriate is referred to as a step movement operation as appropriate.

スキャン移動動作とステップ移動動作とを繰り返して、基板Pの複数のショット領域Sが順次露光される。   The plurality of shot regions S of the substrate P are sequentially exposed by repeating the scan movement operation and the step movement operation.

なお、スキャン移動動作は、専らY軸方向の等速移動である。ステップ移動動作は、非等速移動(加減速度移動)を含む。例えば、X軸方向に隣接する2つのショット領域間のステップ移動動作は、Y軸方向の非等速移動(加減速移動)、及びX軸方向の非等速移動(加減速移動)を含む。   The scan movement operation is a constant speed movement exclusively in the Y-axis direction. The step movement operation includes non-constant speed movement (acceleration / deceleration movement). For example, the step movement operation between two shot areas adjacent in the X-axis direction includes non-constant speed movement (acceleration / deceleration movement) in the Y-axis direction and non-constant speed movement (acceleration / deceleration movement) in the X-axis direction.

本実施形態において、制御装置6は、投影光学系PLの投影領域PRと基板Pとが、図8中、例えば矢印Srに示す移動軌跡に沿って相対的に移動するように、基板ステージ2を移動しつつ投影領域PRに露光光ELを照射して、液体LQを介して基板Pの複数のショット領域Sを露光光ELで順次露光する。   In the present embodiment, the control device 6 moves the substrate stage 2 so that the projection region PR of the projection optical system PL and the substrate P relatively move along a movement locus indicated by an arrow Sr in FIG. The projection area PR is irradiated with the exposure light EL while moving, and the plurality of shot areas S of the substrate P are sequentially exposed with the exposure light EL via the liquid LQ.

基板Pの複数のショット領域Sの露光が終了した後、その露光後の基板Pを保持した基板ステージ2は、基板交換位置に移動する。計測ステージ3は、終端光学素子13及び液浸部材5と対向するように配置される。終端光学素子13及び液浸部材5と基板ステージ2とが対向する状態から、終端光学素子13及び液浸部材5と計測ステージ3とが対向する状態へ変化するように、スクラム移動動作が実行される。   After the exposure of the plurality of shot regions S of the substrate P is completed, the substrate stage 2 holding the substrate P after the exposure moves to the substrate exchange position. The measurement stage 3 is disposed so as to face the terminal optical element 13 and the liquid immersion member 5. The scram moving operation is executed so that the terminal optical element 13 and the liquid immersion member 5 and the substrate stage 2 are changed from the facing state to the state in which the terminal optical element 13 and the liquid immersion member 5 and the measurement stage 3 are facing each other. The

以下、同様の処理が繰り返されることによって、複数の基板Pが順次露光される。   Thereafter, the same processing is repeated to sequentially expose the plurality of substrates P.

基板Pの露光(スキャン移動動作及びステップ移動動作を含む)、スクラム移動動作、及び計測処理の少なくとも一部の期間において、液浸空間LS1、LS2は、基板Pの上面に(基板Pの上面のみに)形成される場合がある。また、液浸空間LS1、LS2は、基板Pとカバー部材T1との間隙Ga上に(基板Pとカバー部材T1とを跨ぐように)形成される場合がある。また、液浸空間LS1、LS2は、カバー部材T1の上面に(カバー部材T1の上面のみに)形成される場合がある。また、液浸空間LS1、LS2は、カバー部材T1とスケール部材T2との間隙Gb上に(カバー部材T1とスケール部材T2とを跨ぐように)形成される場合がある。また、液浸空間LS1、LS2は、スケール部材T2の上面に(スケール部材T2の上面のみに)形成される場合がある。また、液浸空間LS1、LS2は、基板ステージ2と計測ステージ3との間隙Gc上に(基板ステージ2と計測ステージ3とを跨ぐように)形成される場合がある。また、液浸空間LS1、LS2は、計測ステージ3の上面に(計測ステージ3の上面のみに)形成される場合がある。また、液浸空間LS1、LS2は、計測部材Cの上面に(計測部材Cの上面のみに)形成される場合がある。また、液浸空間LS1、LS2は、計測ステージ3と計測部材Cとの間隙Gd上に(計測ステージ3と計測部材Cとを跨ぐように)形成される場合がある。   In at least a part of the exposure time (including the scan movement operation and the step movement operation), the scram movement operation, and the measurement process, the immersion spaces LS1 and LS2 are on the upper surface of the substrate P (only the upper surface of the substrate P). In some cases). The immersion spaces LS1 and LS2 may be formed on the gap Ga between the substrate P and the cover member T1 (so as to straddle the substrate P and the cover member T1). Further, the immersion spaces LS1 and LS2 may be formed on the upper surface of the cover member T1 (only on the upper surface of the cover member T1). Moreover, the immersion spaces LS1 and LS2 may be formed on the gap Gb between the cover member T1 and the scale member T2 (so as to straddle the cover member T1 and the scale member T2). Further, the immersion spaces LS1 and LS2 may be formed on the upper surface of the scale member T2 (only on the upper surface of the scale member T2). Further, the immersion spaces LS1 and LS2 may be formed on the gap Gc between the substrate stage 2 and the measurement stage 3 (so as to straddle the substrate stage 2 and the measurement stage 3). The immersion spaces LS1 and LS2 may be formed on the upper surface of the measurement stage 3 (only on the upper surface of the measurement stage 3). The immersion spaces LS1 and LS2 may be formed on the upper surface of the measurement member C (only on the upper surface of the measurement member C). Moreover, the immersion spaces LS1 and LS2 may be formed on the gap Gd between the measurement stage 3 and the measurement member C (so as to straddle the measurement stage 3 and the measurement member C).

以下の説明において、間隙Ga、Gb、Gc、Gdを総称して適宜、間隙G、と称する。基板Pなどの物体を適宜、物体B、と称する。間隙Gを形成する2つの物体のうち一方の物体Bを適宜、第1物体B1、と称し、他方の物体Bを適宜、第2物体B2、と称する。第2物体B2は、間隙Gを介して第1物体B1に隣接する。間隙Gは、第1物体B1と第2物体B2との間に形成される。   In the following description, the gaps Ga, Gb, Gc, and Gd are collectively referred to as a gap G as appropriate. An object such as the substrate P is appropriately referred to as an object B. Of the two objects forming the gap G, one object B is appropriately referred to as a first object B1, and the other object B is appropriately referred to as a second object B2. The second object B2 is adjacent to the first object B1 through the gap G. The gap G is formed between the first object B1 and the second object B2.

本実施形態において、第1物体B1が、基板Pである場合、第2物体B2は、基板Pの周囲に配置されるカバー部材T1である。第1物体B1が、カバー部材T1である場合、第2物体B2は、基板Pである。第1物体B1が、カバー部材T1(又はスケール部材T2)である場合、第2物体B2は、スケール部材T2(又はカバー部材T1)である。第1物体B1が、基板ステージ2(又は計測ステージ3)である場合、第2物体B2は、計測ステージ3(又は基板ステージ2)である。第1物体B1が、計測部材C(又は計測ステージ3)である場合、第2物体B2は、計測ステージ3(又は計測部材C)である。   In the present embodiment, when the first object B1 is the substrate P, the second object B2 is the cover member T1 disposed around the substrate P. When the first object B1 is the cover member T1, the second object B2 is the substrate P. When the first object B1 is the cover member T1 (or scale member T2), the second object B2 is the scale member T2 (or cover member T1). When the first object B1 is the substrate stage 2 (or measurement stage 3), the second object B2 is the measurement stage 3 (or substrate stage 2). When the first object B1 is the measurement member C (or measurement stage 3), the second object B2 is the measurement stage 3 (or measurement member C).

なお、間隙Gは、第1物体B1と第2物体B2との間に形成される間隙でもよいし、1つの物体Bが有する間隙(スリット、開口など)でもよい。   The gap G may be a gap formed between the first object B1 and the second object B2, or may be a gap (slit, opening, etc.) of one object B.

本実施形態においては、液浸空間LS2が形成されている状態で、第2部材22の下方において、所定領域PAを有する物体Bが、終端光学素子13の光軸(Z軸)と交差するXY平面内において移動する。   In the present embodiment, XY in which the object B having the predetermined area PA intersects the optical axis (Z axis) of the last optical element 13 below the second member 22 in the state where the immersion space LS2 is formed. Move in the plane.

制御装置6は、所定領域PAを有する物体Bが移動する期間の少なくとも一部において、第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離Wを変える。   The control device 6 changes the distance W between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B during at least a part of the period during which the object B having the predetermined area PA moves.

所定領域PAは、所定領域PAの外側の領域よりも、液浸空間LS2の通過後において液体LQが残留する可能性が高い領域である。所定領域PAは、所定領域PAの外側の領域よりも、液浸空間LS1の通過後において液体LQが残留する可能性が高い領域である。   The predetermined area PA is an area where the liquid LQ is more likely to remain after passing through the immersion space LS2 than the area outside the predetermined area PA. The predetermined area PA is an area where the liquid LQ is more likely to remain after passing through the immersion space LS1 than the area outside the predetermined area PA.

所定領域PAは、第2部材22との間の第2空間SP2からの液体LQの流出が発生しやすい領域である。すなわち、第2部材22と所定領域PAとの間の第2空間SP2からの液体LQの流出が発生する可能性が、第2部材22と所定領域PAの外側の領域との間の第2空間SP2からの液体LQの流出が発生する可能性よりも高い。   The predetermined area PA is an area where the liquid LQ tends to flow out from the second space SP2 between the second area 22 and the second area 22. That is, there is a possibility that the liquid LQ may flow out from the second space SP2 between the second member 22 and the predetermined area PA, and the second space between the second member 22 and the area outside the predetermined area PA. It is higher than the possibility that the liquid LQ flows out from SP2.

所定領域PAは、物体B(第1、第2物体B1、B2)の一部の領域である。所定領域PAの外側の領域は、物体B(第1、第2物体B1、B2)の一部の領域である。   The predetermined area PA is a partial area of the object B (first and second objects B1, B2). The area outside the predetermined area PA is a partial area of the object B (first and second objects B1, B2).

本実施形態において、所定領域PAは、物体Bの間隙Gを含む。   In the present embodiment, the predetermined area PA includes the gap G of the object B.

図9は、第2部材22の動作の一例を示す。図9は、液浸空間LS2が第1物体B1上から第2物体B2上へ移動するように、第2部材22と第1、第2物体B1、B2とが終端光学素子13の光軸(Z軸)と実質的に垂直なXY平面内において相対移動される状態の一例を示す。第1物体B1と第2物体B2との間に間隙(間隙部)Gが設けられる。   FIG. 9 shows an example of the operation of the second member 22. FIG. 9 shows that the second member 22 and the first and second objects B1 and B2 are connected to the optical axis of the last optical element 13 so that the immersion space LS2 moves from the first object B1 to the second object B2. An example of a state of relative movement in an XY plane substantially perpendicular to the (Z axis) is shown. A gap (gap part) G is provided between the first object B1 and the second object B2.

図9(A)は、液浸空間LS2が第1物体B1の上面に形成されている状態を示す。図9(B)は、液浸空間LS2が間隙G上に形成されている状態を示す。図9に示す例では、液浸空間LS2が第1物体B1の上面に形成されている状態から、間隙G上に形成される状態を経て、第2物体B2の上面に形成される状態に変化するように、第2部材22に対して、第1、第2物体B1、B2が−Y方向に移動する。   FIG. 9A shows a state in which the immersion space LS2 is formed on the upper surface of the first object B1. FIG. 9B shows a state in which the immersion space LS2 is formed on the gap G. In the example illustrated in FIG. 9, the state changes from the state in which the immersion space LS <b> 2 is formed on the upper surface of the first object B <b> 1 to the state in which the liquid immersion space LS <b> 2 is formed on the upper surface of the second object B <b> 2. As described above, the first and second objects B <b> 1 and B <b> 2 move in the −Y direction with respect to the second member 22.

制御装置6は、液浸空間LS2が第1物体B1上から第2物体B2上へ移動する期間の少なくとも一部において、終端光学素子13の光軸と平行な方向(Z軸方向)に関する第2部材22の下面24と第1物体B1の上面との距離、及び第2部材22の下面24と第2物体B2の上面との距離の一方又は両方を変える。   The control device 6 performs the second operation on the direction parallel to the optical axis of the last optical element 13 (Z-axis direction) in at least a part of the period during which the immersion space LS2 moves from the first object B1 to the second object B2. One or both of the distance between the lower surface 24 of the member 22 and the upper surface of the first object B1 and the distance between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the second object B2 are changed.

本実施形態において、Z軸方向に関する第2部材22の位置を調整可能な駆動装置60が設けられる。駆動装置60は、第2部材22をZ軸方向に移動可能である。なお、駆動装置60は、第2部材22を、X軸、Y軸、Z軸、θX、θY、及びθZの6つの方向に移動してもよい。制御装置6は、駆動装置60を制御して、Z軸方向に関する第2部材22の下面24と第1物体B1の上面との距離、及びZ軸方向に関する第2部材22の下面24と第2物体B2の上面との距離の一方又は両方を調整可能である。   In the present embodiment, a driving device 60 that can adjust the position of the second member 22 in the Z-axis direction is provided. The driving device 60 can move the second member 22 in the Z-axis direction. Note that the driving device 60 may move the second member 22 in six directions of the X axis, the Y axis, the Z axis, θX, θY, and θZ. The control device 6 controls the driving device 60 so that the distance between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the first object B1 in the Z-axis direction, and the lower surface 24 and the second of the second member 22 in the Z-axis direction. One or both of the distances from the upper surface of the object B2 can be adjusted.

なお、制御装置6は、物体B(第1、第2物体B1、B2)をZ軸方向に移動してもよい。物体Bが、第1保持部14に保持された基板P,基板ステージ2(カバー部材T1、スケール部材T2)、及び計測ステージ3(計測部材C)の少なくとも一つである場合、その物体Bは、駆動システム10によって移動可能である。   Note that the control device 6 may move the object B (first and second objects B1 and B2) in the Z-axis direction. When the object B is at least one of the substrate P, the substrate stage 2 (cover member T1, scale member T2), and the measurement stage 3 (measurement member C) held by the first holding unit 14, the object B is It can be moved by the drive system 10.

なお、制御装置6は、第2部材22及び物体B(第1、第2物体B1、B2)の両方を移動して、第2部材22の下面24と物体B(第1、第2物体B1、B2)の上面との距離を調整してもよい。   The control device 6 moves both the second member 22 and the object B (first and second objects B1 and B2), and the lower surface 24 of the second member 22 and the object B (first and second objects B1). , B2) may be adjusted with respect to the upper surface.

本実施形態において、制御装置6は、第2部材22と第1物体B1との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力と、第2部材22と第2物体B2との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22及び物体B(第1、第2物体B1、B2)の一方又は両方を移動して、距離Wを変える。また、制御装置6は、液浸空間LS2の全部が第1物体B1上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力と、液浸空間LS2が間隙G上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22及び物体B(第1、第2物体B1、B2)の一方又は両方を移動して、距離Wを変える。また、制御装置6は、液浸空間LS2の全部が第2物体B2上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力と、液浸空間LS2が間隙G上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22及び物体B(第1、第2物体B1、B2)の一方又は両方を移動して、距離Wを変える。   In the present embodiment, the control device 6 includes the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 formed between the second member 22 and the first object B1, and the second member 22 and the second object B2. One or both of the second member 22 and the object B (first and second objects B1, B2) are moved so that the difference from the pressure of the liquid LQ in the formed immersion space LS2 becomes small, and the distance W change. Further, the control device 6 determines the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 when the entire immersion space LS2 is formed on the first object B1, and the time when the immersion space LS2 is formed on the gap G. The distance W is changed by moving one or both of the second member 22 and the object B (first and second objects B1, B2) so that the difference from the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 becomes small. Further, the control device 6 determines the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 when the entire immersion space LS2 is formed on the second object B2, and the time when the immersion space LS2 is formed on the gap G. The distance W is changed by moving one or both of the second member 22 and the object B (first and second objects B1, B2) so that the difference from the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 becomes small.

本実施形態において、第2部材22と所定領域PA(間隙G)とが対向する状態における第2部材22の下面24と物体B(第1、第2物体B1、B2)との距離と、第2部材22の下面24と所定領域PA(間隙G)の外側の領域(第1物体B1の上面及び第2物体B2の上面の少なくとも一方)とが対向する状態における第2部材22の下面24と物体B(第1、第2物体B1、B2)との距離とは、異なる。本実施形態において、液浸空間LS2の全部が第1物体B1上又は第2物体B2上に形成されている状態と、液浸空間LS2が間隙G上に形成されている状態とで、第2部材22の下面24と第1物体B1の上面との距離が異なる。液浸空間LS2の全部が第1物体B1上又は第2物体B2上に形成されている状態と、液浸空間LS2が間隙G上に形成されている状態とで、第2部材22の下面24と第2物体B2の上面との距離が異なる。   In the present embodiment, the distance between the lower surface 24 of the second member 22 and the object B (first and second objects B1, B2) in a state where the second member 22 and the predetermined area PA (gap G) face each other, The lower surface 24 of the second member 22 in a state where the lower surface 24 of the second member 22 and the region outside the predetermined region PA (gap G) (at least one of the upper surface of the first object B1 and the upper surface of the second object B2) face each other. The distance from the object B (first and second objects B1, B2) is different. In the present embodiment, the liquid immersion space LS2 is entirely formed on the first object B1 or the second object B2, and the liquid immersion space LS2 is formed on the gap G in the second state. The distance between the lower surface 24 of the member 22 and the upper surface of the first object B1 is different. The lower surface 24 of the second member 22 is in a state where the entire immersion space LS2 is formed on the first object B1 or the second object B2, and in a state where the immersion space LS2 is formed on the gap G. And the upper surface of the second object B2 are different.

例えば、制御装置6は、第2部材22と所定領域PA(間隙G)との距離Wbを、第2部材22と所定領域PA(間隙G)の外側の領域(第1物体B1の上面及び第2物体B2の上面の少なくとも一方)との距離Waよりも短くする。すなわち、制御装置6は、液浸空間LS2が間隙G上に形成されている状態における第2部材22と物体B(第1、第2物体B1、B2)との距離Wbを、液浸空間LS2の全部が第1物体B1上又は第2物体B2上に形成されている状態における第2部材22と物体B(第1、第2物体B1、B2)との距離Waよりも短くする。   For example, the control device 6 sets the distance Wb between the second member 22 and the predetermined area PA (gap G) to the area outside the second member 22 and the predetermined area PA (gap G) (the upper surface and the first surface of the first object B1). It is shorter than the distance Wa from at least one of the upper surfaces of the two objects B2. That is, the control device 6 determines the distance Wb between the second member 22 and the object B (first and second objects B1, B2) in the state where the immersion space LS2 is formed on the gap G as the immersion space LS2. Is made shorter than the distance Wa between the second member 22 and the object B (first and second objects B1 and B2) in a state where all of these are formed on the first object B1 or the second object B2.

これにより、例えば液浸空間LS2の液体LQが間隙Gに流入したり、液浸空間LS2の液体LQが第2空間SP2の外側に流出したり、液体LQが第1、第2物体B1、B2上に残留したりすることが抑制される。   Thereby, for example, the liquid LQ in the immersion space LS2 flows into the gap G, the liquid LQ in the immersion space LS2 flows out of the second space SP2, or the liquid LQ is in the first and second objects B1, B2. It is suppressed that it remains on top.

液浸空間LS2が第1物体B1の上面に形成されている状態から、間隙G上に形成される状態を経て、第2物体B2の上面に形成される状態に変化する場合、液浸空間LS2の全部が第1物体B1上に形成される状態において、第2部材22と第1物体B1とは、距離Waだけ離れる。液浸空間LS2が間隙G上に形成される状態において、第2部材22と第1、第2物体B1、B2とは、距離Waよりも短い距離Wbだけ離れる。液浸空間LS2の全部が第2物体B2上に形成される状態において、第2部材22と第2物体B2とは、距離Wbよりも長い距離Wcだけ離れる。本実施形態において、距離Wcは、距離Waと実質的に等しい。なお、距離Wcは、距離Waと異なってもよい。距離Wcは、距離Waよりも長くてもよいし、短くてもよい。制御装置6は、第2部材22の下面24と第1物体B1の上面との距離Waと、第2部材22の下面24と第2物体B2の上面との距離Wcとの差が小さくなるように、Z軸方向に第2部材22、第1物体B1、及び第2物体B2の少なくとも一つを移動することができる。   When the immersion space LS2 changes from the state formed on the upper surface of the first object B1 to the state formed on the upper surface of the second object B2 through the state formed on the gap G, the immersion space LS2 Are all formed on the first object B1, the second member 22 and the first object B1 are separated by a distance Wa. In a state where the immersion space LS2 is formed on the gap G, the second member 22 and the first and second objects B1, B2 are separated by a distance Wb shorter than the distance Wa. In a state where the entire immersion space LS2 is formed on the second object B2, the second member 22 and the second object B2 are separated by a distance Wc longer than the distance Wb. In the present embodiment, the distance Wc is substantially equal to the distance Wa. The distance Wc may be different from the distance Wa. The distance Wc may be longer or shorter than the distance Wa. The control device 6 reduces the difference between the distance Wa between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the first object B1 and the distance Wc between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the second object B2. In addition, at least one of the second member 22, the first object B1, and the second object B2 can be moved in the Z-axis direction.

なお、制御装置6は、第2部材22と所定領域PA(間隙G)との距離を、第2部材22と所定領域PA(間隙G)の外側の領域との距離よりも長くしてもよい。   The control device 6 may make the distance between the second member 22 and the predetermined area PA (gap G) longer than the distance between the second member 22 and the area outside the predetermined area PA (gap G). .

液浸空間LS2の液体LQの圧力を検出する圧力センサ50が設けられてもよい。制御装置6は、圧力センサ50の検出結果に基づいて、第2部材22、第1物体B1、及び第2物体B2の少なくとも一つを移動してもよい。制御装置6は、第2部材22と第1物体B1との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力と、第2部材22と第2物体B2との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、圧力センサ50の検出結果に基づいて、第2部材22、第1物体B1、及び第2物体B2の少なくとも一つを移動してもよい。   A pressure sensor 50 that detects the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 may be provided. The control device 6 may move at least one of the second member 22, the first object B1, and the second object B2 based on the detection result of the pressure sensor 50. The control device 6 uses the pressure of the liquid LQ in the liquid immersion space LS2 formed between the second member 22 and the first object B1, and the liquid immersion formed between the second member 22 and the second object B2. Even if at least one of the second member 22, the first object B1, and the second object B2 is moved based on the detection result of the pressure sensor 50 so that the difference from the pressure of the liquid LQ in the space LS2 becomes small. Good.

また、制御装置6は、液浸空間LS2の全部が第1物体B1上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力と、液浸空間LS2が間隙G上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、圧力センサ50の検出結果に基づいて、第2部材22、第1物体B1、及び第2物体B2の少なくとも一つを移動してもよい。   Further, the control device 6 determines the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 when the entire immersion space LS2 is formed on the first object B1, and the time when the immersion space LS2 is formed on the gap G. Based on the detection result of the pressure sensor 50, at least one of the second member 22, the first object B1, and the second object B2 is moved so that the difference from the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 becomes small. May be.

また、制御装置6は、液浸空間LS2の全部が第2物体B2上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力と、液浸空間LS2が間隙G上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、圧力センサ50の検出結果に基づいて、第2部材22、第1物体B1、及び第2物体B2の少なくとも一つを移動してもよい。   Further, the control device 6 determines the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 when the entire immersion space LS2 is formed on the second object B2, and the time when the immersion space LS2 is formed on the gap G. Based on the detection result of the pressure sensor 50, at least one of the second member 22, the first object B1, and the second object B2 is moved so that the difference from the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 becomes small. May be.

なお、制御装置6は、圧力センサ50の検出結果を用いずに、第2部材22、第1物体B1、及び第2物体B2の少なくとも一つを移動してもよい。なお、圧力センサ50は、なくてもよい。   Note that the control device 6 may move at least one of the second member 22, the first object B1, and the second object B2 without using the detection result of the pressure sensor 50. Note that the pressure sensor 50 may not be provided.

制御装置6は、XY平面内における物体B(第1、第2物体B1、B2)の位置に基づいて、第2部材22、第1物体B1、及び第2物体B2の少なくとも一つを移動してもよい。例えば、第1物体B1が基板Pであり、第2物体B2が基板Pの周囲に配置されるカバー部材T1である場合、XY平面内における基板P、カバー部材T1、及び間隙Gaの少なくとも一つの位置に基づいて、液浸空間LS2の全部が基板P又はカバー部材T1上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力と、液浸空間LS2が間隙G上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22、基板P、及びカバー部材T1の少なくとも一つを移動してもよい。   The control device 6 moves at least one of the second member 22, the first object B1, and the second object B2 based on the position of the object B (first, second object B1, B2) in the XY plane. May be. For example, when the first object B1 is the substrate P and the second object B2 is the cover member T1 disposed around the substrate P, at least one of the substrate P, the cover member T1, and the gap Ga in the XY plane. Based on the position, the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 when the entire immersion space LS2 is formed on the substrate P or the cover member T1, and the time when the immersion space LS2 is formed on the gap G At least one of the second member 22, the substrate P, and the cover member T1 may be moved so that the difference from the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 becomes small.

本実施形態においては、計測システム4が、XY平面内における基板ステージ2の位置を計測可能である。基板ステージ2の位置が計測されることにより、XY平面内における基板P、カバー部材T1、及び間隙Gaの少なくとも一つの位置が求められる。例えば、基板ステージ2上における間隙Gaの位置に関する情報が記憶装置7に記憶される。例えば、計測システム4が干渉計システムである場合、干渉計システムの計測光が照射される基板ステージ2の計測ミラーと、基板ステージ2上における間隙Gaとの位置関係が記憶装置7に記憶される。その位置関係は、例えば設計値などにより既知である。記憶装置7の記憶情報及び計測システム4の計測結果に基づいて、XY平面内における間隙Gaの位置を求めることができる。制御装置6は、求めた間隙Gaの位置に基づいて、液浸空間LS2の全部が基板P上又はカバー部材T1上の少なくとも一方に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力と、液浸空間LS2が間隙Ga上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22、第1物体B1、及び第2物体B2の少なくとも一つを移動することができる。   In the present embodiment, the measurement system 4 can measure the position of the substrate stage 2 in the XY plane. By measuring the position of the substrate stage 2, at least one position of the substrate P, the cover member T1, and the gap Ga in the XY plane is obtained. For example, information regarding the position of the gap Ga on the substrate stage 2 is stored in the storage device 7. For example, when the measurement system 4 is an interferometer system, the positional relationship between the measurement mirror of the substrate stage 2 irradiated with the measurement light of the interferometer system and the gap Ga on the substrate stage 2 is stored in the storage device 7. . The positional relationship is known from, for example, design values. Based on the storage information of the storage device 7 and the measurement result of the measurement system 4, the position of the gap Ga in the XY plane can be obtained. The control device 6 determines the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 when the entire immersion space LS2 is formed on at least one of the substrate P and the cover member T1 based on the obtained position of the gap Ga, At least one of the second member 22, the first object B1, and the second object B2 so that the difference from the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 when the immersion space LS2 is formed on the gap Ga is reduced. Can move one.

なお、計測システム4が、基板Pのアライメントマークを検出するマーク検出装置を有する場合、制御装置6は、基板ステージ2の位置を計測する干渉計システムの計測結果と、マーク検出装置の検出結果に基づいて、干渉計システムが規定する座標系内における基板Pの位置を求めることができる。基板Pの位置が求められることにより、基板Pの周囲に形成される間隙Gaの位置(干渉計システムが規定する座標系内における間隙Gaの位置)が求められる。また、基板Pの位置が求められることにより、基板Pの周囲に形成されるカバー部材T1の位置(干渉計システムが規定する座標系内におけるカバー部材T1の位置)が求められる。制御装置6は、干渉計システムの計測結果及びマーク検出装置の検出結果に基づいて、液浸空間LS2の全部が基板P上又はカバー部材T1上の少なくとも一方に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力と、液浸空間LS2が間隙Ga上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22、第1物体B1、及び第2物体B2の少なくとも一つを移動することができる。   When the measurement system 4 includes a mark detection device that detects the alignment mark of the substrate P, the control device 6 uses the measurement result of the interferometer system that measures the position of the substrate stage 2 and the detection result of the mark detection device. Based on this, the position of the substrate P in the coordinate system defined by the interferometer system can be obtained. By obtaining the position of the substrate P, the position of the gap Ga formed around the substrate P (the position of the gap Ga in the coordinate system defined by the interferometer system) is obtained. Further, by obtaining the position of the substrate P, the position of the cover member T1 formed around the substrate P (the position of the cover member T1 in the coordinate system defined by the interferometer system) is obtained. Based on the measurement result of the interferometer system and the detection result of the mark detection device, the control device 6 uses the immersion space LS2 when the entire immersion space LS2 is formed on at least one of the substrate P and the cover member T1. The second member 22, the first object B1, and the second member 22, so that the difference between the pressure of the liquid LQ and the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 when the immersion space LS2 is formed on the gap Ga is reduced. At least one of the second objects B2 can be moved.

なお、基板ステージ2又は計測ステージ3など、基板Pとは別の物体B(第1、第2物体B1、B2)にアライメントマークが設けられている場合、マーク検出装置は、その物体B(第1、第2物体B1、B2)のアライメントマークを検出することができる。制御装置6は、XY平面内における物体B(第1、第2物体B1、B2)の位置を計測する干渉計システムの計測結果と、物体B(第1、第2物体B1、B2)のアライメントマークを検出するマーク検出装置の検出結果とに基づいて、液浸空間LS2の全部が物体B(第1、第2物体B1、B2)に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力と、液浸空間LS2が間隙G上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22、第1物体B1、及び第2物体B2の少なくとも一つを移動することができる。   When an alignment mark is provided on an object B (first and second objects B1, B2) different from the substrate P, such as the substrate stage 2 or the measurement stage 3, the mark detection apparatus detects the object B (first object). 1, the alignment mark of the second object B1, B2) can be detected. The control device 6 aligns the measurement result of the interferometer system that measures the position of the object B (first and second objects B1 and B2) in the XY plane and the object B (first and second objects B1 and B2). Based on the detection result of the mark detection device that detects the mark, the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 when the entire immersion space LS2 is formed in the object B (first and second objects B1, B2). And the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 when the immersion space LS2 is formed on the gap G, the second member 22, the first object B1, and the second object B2 At least one can be moved.

なお、液浸空間LS2が第2物体B2上から第1物体B1上へ移動するように、第2部材22と第1、第2物体B1、B2とが終端光学素子13の光軸(Z軸)と実質的に垂直なXY平面内において相対移動される場合も同様である。   The second member 22 and the first and second objects B1 and B2 are arranged such that the immersion space LS2 moves from the second object B2 to the first object B1. The same applies to the case of relative movement in the XY plane substantially perpendicular to ().

以上説明したように、本実施形態によれば、液浸空間LS2が形成されている状態で、所定領域PA(間隙G)を有する物体B(第1、第2物体B1、B2)が第2部材22の下方を移動する期間の少なくとも一部において、第2部材22と物体B(第1、第2物体B1、B2)とのZ軸方向に関する距離を変えるようにしたので、液体LQの流出などが抑制される。したがって、露光不良の発生、及び不良デバイスの発生が抑制される。   As described above, according to the present embodiment, the object B (first and second objects B1, B2) having the predetermined area PA (gap G) is the second in the state where the immersion space LS2 is formed. Since the distance in the Z-axis direction between the second member 22 and the object B (first and second objects B1, B2) is changed in at least a part of the period of movement below the member 22, the outflow of the liquid LQ Etc. are suppressed. Therefore, the occurrence of exposure failure and the occurrence of defective devices are suppressed.

なお、本実施形態においては、所定領域PAが、第1物体B1と第2物体B2との間に形成される間隙Gであることとした。所定領域PAが、1つの物体Bに設けられる間隙(スリット、開口など)でもよい。   In the present embodiment, the predetermined area PA is the gap G formed between the first object B1 and the second object B2. The predetermined area PA may be a gap (slit, opening, etc.) provided in one object B.

<第2実施形態>
次に、第2実施形態について説明する。以下の説明において、上述の実施形態と同一又は同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略若しくは省略する。
Second Embodiment
Next, a second embodiment will be described. In the following description, the same or equivalent components as those of the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is simplified or omitted.

図10は、本実施形態に係る第2部材22の動作の一例を示す。第2部材22の下方において所定領域PAを有する物体BがXY平面内において移動される。   FIG. 10 shows an example of the operation of the second member 22 according to the present embodiment. The object B having the predetermined area PA is moved below the second member 22 in the XY plane.

本実施形態において、所定領域PAは、物体Bの段差(段差部)Dを含む。本実施形態において、物体Bの第1部分Bp1と第2部分Bp2との間に段差(段差部)Dが設けられる。図10に示す例では、第2部分Bp2の上面は、第1部分Bp1の上面よりも+Z側(上側)に配置される。第1部分Bp1は、第2部分Bp2の−Y側に配置される。   In the present embodiment, the predetermined area PA includes a step (step portion) D of the object B. In the present embodiment, a step (step portion) D is provided between the first portion Bp1 and the second portion Bp2 of the object B. In the example shown in FIG. 10, the upper surface of the second portion Bp2 is arranged on the + Z side (upper side) than the upper surface of the first portion Bp1. The first part Bp1 is disposed on the −Y side of the second part Bp2.

図10は、液浸空間LS2が第1部分Bp1上から第2部分Bp2上へ移動するように、第2部材22と物体Bとが終端光学素子13の光軸(Z軸)と実質的に垂直なXY平面内において相対移動される状態の一例を示す。   FIG. 10 shows that the second member 22 and the object B are substantially the optical axis (Z axis) of the last optical element 13 so that the immersion space LS2 moves from the first part Bp1 to the second part Bp2. An example of a state of relative movement in a vertical XY plane is shown.

図10(A)は、液浸空間LS2が第1部分Bp1の上面に形成されている状態を示す。図10(B)は、液浸空間LS2が第2部分Bp2の上面に形成されている状態を示す。本実施形態においては、液浸空間LS2が第1部分Bp1の上面に形成されている状態から、段差D上に形成される状態を経て、第2部分Bp2の上面に形成される状態に変化するように、第2部材22に対して、物体Bが−Y方向に移動する。   FIG. 10A shows a state in which the immersion space LS2 is formed on the upper surface of the first portion Bp1. FIG. 10B shows a state where the immersion space LS2 is formed on the upper surface of the second portion Bp2. In this embodiment, the liquid immersion space LS2 changes from the state formed on the upper surface of the first portion Bp1 to the state formed on the upper surface of the second portion Bp2 through the state formed on the step D. As described above, the object B moves in the −Y direction with respect to the second member 22.

本実施形態において、制御装置6は、液浸空間LS2が第1部分Bp1上から第2部分Bp2上へ移動する期間の少なくとも一部において、第2部材22及び物体Bの一方又は両方をZ軸方向に移動する。   In the present embodiment, the control device 6 moves one or both of the second member 22 and the object B in the Z axis during at least a part of the period during which the immersion space LS2 moves from the first part Bp1 to the second part Bp2. Move in the direction.

制御装置6は、第2部材22と第1部分Bp1との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力と、第2部材22と第2部分Bp2との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22及び物体Bの一方又は両方をZ軸方向に移動する。例えば、第2部材22の下面24と第2部分Bp2の上面との距離Wcが、第2部材22の下面24と第1部分Bp1の上面との距離Waよりも短くなる場合、制御装置6は、第2部材22と第1部分Bp1との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力と、第2部材22と第2部分Bp2との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22及び物体B(第1、第2部分Bp1、Bp2)の一方又は両方を移動してもよい。例えば、制御装置6は、第2部材22の下面24と第1部分Bp1の上面との距離Waと、第2部材22の下面24と第2部分Bp2の上面との距離Wcとの差が小さくなるように、Z軸方向に関して、第2部材22及び物体B(第1、第2部分Bp1、Bp2)の一方又は両方を移動してもよい。   The control device 6 is configured such that the pressure of the liquid LQ in the liquid immersion space LS2 formed between the second member 22 and the first part Bp1 and the liquid immersion formed between the second member 22 and the second part Bp2. One or both of the second member 22 and the object B are moved in the Z-axis direction so that the difference from the pressure of the liquid LQ in the space LS2 becomes small. For example, when the distance Wc between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the second portion Bp2 is shorter than the distance Wa between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the first portion Bp1, the control device 6 The pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 formed between the second member 22 and the first part Bp1, and the liquid in the immersion space LS2 formed between the second member 22 and the second part Bp2. One or both of the second member 22 and the object B (first and second portions Bp1, Bp2) may be moved so that the difference from the LQ pressure becomes small. For example, the control device 6 has a small difference between the distance Wa between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the first portion Bp1 and the distance Wc between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the second portion Bp2. As described above, one or both of the second member 22 and the object B (first and second portions Bp1, Bp2) may be moved in the Z-axis direction.

本実施形態において、距離Wcは、距離Waと実質的に等しい。なお、距離Wcは、距離Waと異なってもよい。距離Wcは、距離Waよりも長くてもよいし、短くてもよい。   In the present embodiment, the distance Wc is substantially equal to the distance Wa. The distance Wc may be different from the distance Wa. The distance Wc may be longer or shorter than the distance Wa.

これにより、第2部材22の液浸空間LS2の液体LQが第2空間SP2の外側に流出したり、液体LQが物体B上に残留したりすることが抑制される。   As a result, the liquid LQ in the immersion space LS2 of the second member 22 is prevented from flowing out of the second space SP2 or the liquid LQ remaining on the object B.

液浸空間LS2の液体LQの圧力を検出する圧力センサ50が設けられてもよい。制御装置6は、圧力センサ50の検出結果に基づいて、第2部材22及び物体Bの一方又は両方を移動してもよい。   A pressure sensor 50 that detects the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 may be provided. The control device 6 may move one or both of the second member 22 and the object B based on the detection result of the pressure sensor 50.

制御装置6は、第2部材22と第1部分Bp1との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力と、第2部材22と第2部分Bp2との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、圧力センサ50の検出結果に基づいて、第2部材22及び物体Bの一方又は両方を移動してもよい。   The control device 6 is configured such that the pressure of the liquid LQ in the liquid immersion space LS2 formed between the second member 22 and the first part Bp1 and the liquid immersion formed between the second member 22 and the second part Bp2. One or both of the second member 22 and the object B may be moved based on the detection result of the pressure sensor 50 so that the difference from the pressure of the liquid LQ in the space LS2 becomes small.

なお、制御装置6は、圧力センサ50の検出結果を用いずに、第2部材22及び物体Bの一方又は両方を移動してもよい。なお、圧力センサ50は、なくてもよい。   Note that the control device 6 may move one or both of the second member 22 and the object B without using the detection result of the pressure sensor 50. Note that the pressure sensor 50 may not be provided.

なお、制御装置6は、第1部分Bp1の上面の高さと第2部分Bp2の上面の高さとの差に基づいて、第2部材22及び物体Bの一方又は両方を移動してもよい。制御装置6は、第1部分Bp1の上面の高さと第2部分Bp2の上面の高さとの差に基づいて、第2部材22及び物体Bの一方又は両方のZ軸方向に関する移動量を定めてもよい。   Note that the control device 6 may move one or both of the second member 22 and the object B based on the difference between the height of the upper surface of the first portion Bp1 and the height of the upper surface of the second portion Bp2. Based on the difference between the height of the upper surface of the first portion Bp1 and the height of the upper surface of the second portion Bp2, the control device 6 determines the amount of movement of one or both of the second member 22 and the object B in the Z-axis direction. Also good.

第1部分Bp1の上面の高さと第2部分Bp2の上面の高さとの差は、例えば基板Pの上面の位置を検出可能な、所謂、オートフォーカス検出システムで検出可能である。なお、基板Pの露光などが開始される前に、所定の検出システムが、第1部分Bp1の上面の高さと第2部分Bp2の上面の高さとの差を検出してもよい。;制御装置6は、第1部分Bp1の上面の高さと第2部分Bp2の上面の高さとの差の検出結果に基づいて、第2部材22と第1部分Bp1との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力と、第2部材22と第2部分Bp2との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22及び物体Bの一方又は両方のZ軸方向に関する移動量を定めてもよい。   The difference between the height of the upper surface of the first part Bp1 and the height of the upper surface of the second part Bp2 can be detected by a so-called autofocus detection system that can detect the position of the upper surface of the substrate P, for example. Note that the predetermined detection system may detect the difference between the height of the upper surface of the first portion Bp1 and the height of the upper surface of the second portion Bp2 before the exposure of the substrate P is started. The controller 6 forms liquid between the second member 22 and the first part Bp1 based on the detection result of the difference between the height of the upper surface of the first part Bp1 and the height of the upper surface of the second part Bp2. The second member 22 and the object so that the difference between the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 and the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 formed between the second member 22 and the second portion Bp2 is reduced. You may define the movement amount regarding the Z-axis direction of one or both of B.

また、第1部分Bp1の上面の高さと第2部分Bp2の上面の高さとの差に関する情報が記憶装置7に記憶されてもよい。制御装置6は、その記憶装置7の記憶情報に基づいて、第2部材22と第1部分Bp1との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力と、第2部材22と第2部分Bp2との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22及び物体Bの一方又は両方のZ軸方向に関する移動量を定めてもよい。   Further, information regarding the difference between the height of the upper surface of the first part Bp1 and the height of the upper surface of the second part Bp2 may be stored in the storage device 7. Based on the storage information of the storage device 7, the control device 6 determines the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 formed between the second member 22 and the first portion Bp1, the second member 22, and the second The amount of movement in the Z-axis direction of one or both of the second member 22 and the object B may be determined so that the difference from the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 formed between the part Bp2 is small. .

また、制御装置6は、XY平面内における物体B(第1、第2部分Bp1、Bp2)の位置に基づいて、第2部材22及び物体Bの一方又は両方を移動してもよい。XY平面内における物体Bの位置は、段差部Dの位置を含む。XY平面内における物体Bの位置は、計測システム4によって計測可能である。   Further, the control device 6 may move one or both of the second member 22 and the object B based on the position of the object B (first and second portions Bp1, Bp2) in the XY plane. The position of the object B in the XY plane includes the position of the step portion D. The position of the object B in the XY plane can be measured by the measurement system 4.

例えば、物体Bが基板ステージ2である場合、計測システム4は、XY平面内における基板ステージ2の位置を計測可能である。基板ステージ2の位置が計測されることにより、XY平面内における第1部分Bp1、第2部分Bp2、及び段差部Dの少なくとも一つの位置が求められる。例えば、基板ステージ2上における第1部分Bp1、第2部分Bp2、及び段差部Dの少なくとも一つの位置が記憶装置7に記憶される。例えば、計測システム4が干渉計システムである場合、記憶装置7は、干渉計システムの計測光が照射される基板ステージ2の計測ミラーと、基板ステージ2上における段差部Dとの位置関係を記憶する。その位置関係は、例えば設計値などにより既知である。記憶装置7の記憶情報及び計測システム4の計測結果に基づいて、XY平面内における第1部分Bp1、第2部分Bp2、及び段差部Dの少なくとも一つの位置を求めることができる。また、記憶装置7には、第1部分Bp1の上面の高さと第2部分Bp2の上面の高さとの差に関する情報が記憶される。制御装置6は、求めた段差部Dの位置に基づいて、液浸空間LS2が第1部分Bp1上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力と、液浸空間LS2が第2部分Bp2上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22及び物体Bの一方又は両方を移動することができる。すなわち、制御装置6は、段差部Dの位置、及び第1部分Bp1の上面の高さと第2部分Bp2の上面の高さとの差に関する情報を記憶する記憶装置7の記憶情報と、物体B(基板ステージ2など)の位置を計測する計測システム4の計測結果とに基づいて、第2部材22と第1部分Bp1との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力と、第2部材22と第2部分Bp2との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22及び物体Bの一方又は両方を移動することができる。   For example, when the object B is the substrate stage 2, the measurement system 4 can measure the position of the substrate stage 2 in the XY plane. By measuring the position of the substrate stage 2, at least one position of the first portion Bp1, the second portion Bp2, and the step portion D in the XY plane is obtained. For example, at least one position of the first portion Bp1, the second portion Bp2, and the step portion D on the substrate stage 2 is stored in the storage device 7. For example, when the measurement system 4 is an interferometer system, the storage device 7 stores the positional relationship between the measurement mirror of the substrate stage 2 irradiated with the measurement light of the interferometer system and the step portion D on the substrate stage 2. To do. The positional relationship is known from, for example, design values. Based on the storage information of the storage device 7 and the measurement result of the measurement system 4, at least one position of the first portion Bp1, the second portion Bp2, and the step portion D in the XY plane can be obtained. Further, the storage device 7 stores information related to the difference between the height of the upper surface of the first portion Bp1 and the height of the upper surface of the second portion Bp2. The control device 6 determines the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 when the immersion space LS2 is formed on the first portion Bp1 and the immersion space LS2 based on the obtained position of the stepped portion D. One or both of the second member 22 and the object B can be moved so that the difference from the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 when formed on the portion Bp2 is reduced. That is, the control device 6 stores the information on the position of the stepped portion D, the storage information of the storage device 7 that stores information about the difference between the height of the upper surface of the first portion Bp1 and the height of the upper surface of the second portion Bp2, and the object B ( Based on the measurement result of the measurement system 4 that measures the position of the substrate stage 2 or the like), the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 formed between the second member 22 and the first portion Bp1, and the second One or both of the second member 22 and the object B can be moved so that the difference between the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 formed between the member 22 and the second portion Bp2 is reduced.

なお、計測システム4が、物体B(基板ステージ2など)に設けられているアライメントマークを検出するマーク検出装置を有する場合、制御装置6は、XY平面内における物体Bの位置を計測する干渉計システム(又はエンコーダシステム)の計測結果と、マーク検出装置の検出結果に基づいて、干渉計システムが規定する座標系内における物体Bの位置を求めることができる。物体Bの位置が求められることにより、物体Bの第1部分Bp1、第2部分Bp2、及び所定領域PA(段差部D)の位置(干渉計システムが規定する座標系内における位置)が求められる。制御装置6は、干渉計システムの計測結果と、マーク検出装置の検出結果と、第1部分Bp1の上面の高さと第2部分Bp2の上面の高さとの差に関する情報を記憶した記憶装置7の記憶情報とに基づいて、液浸空間LS2が第1部分Bp1上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力と、液浸空間LS2が第2部分Bp2上に形成されるときの液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22及び物体Bの一方又は両方を移動してもよい。   When the measurement system 4 includes a mark detection device that detects an alignment mark provided on the object B (substrate stage 2 or the like), the control device 6 measures an interferometer that measures the position of the object B in the XY plane. Based on the measurement result of the system (or the encoder system) and the detection result of the mark detection device, the position of the object B in the coordinate system defined by the interferometer system can be obtained. By obtaining the position of the object B, the positions of the first part Bp1, the second part Bp2 and the predetermined area PA (stepped part D) of the object B (positions in the coordinate system defined by the interferometer system) are obtained. . The control device 6 stores the information on the measurement result of the interferometer system, the detection result of the mark detection device, and the difference between the height of the upper surface of the first portion Bp1 and the height of the upper surface of the second portion Bp2. Based on the stored information, the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 when the immersion space LS2 is formed on the first portion Bp1, and the time when the immersion space LS2 is formed on the second portion Bp2 One or both of the second member 22 and the object B may be moved so that the difference from the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 becomes small.

なお、液浸空間LS2が第2部分Bp2上から第1部分Bp1上へ移動するように、第2部材22と物体Bとが終端光学素子13の光軸(Z軸)と実質的に垂直なXY平面内において相対移動される場合も同様である。   The second member 22 and the object B are substantially perpendicular to the optical axis (Z axis) of the last optical element 13 so that the immersion space LS2 moves from the second part Bp2 to the first part Bp1. The same applies to the case of relative movement in the XY plane.

以上説明したように、本実施形態によれば、液浸空間LS2が形成されている状態で、所定領域PA(段差部D)を有する物体Bが第2部材22の下方を移動する期間の少なくとも一部において、第2部材22及び物体Bの一方又は両方のZ軸方向に関する位置を変えるようにしたので、液体LQの流出などが抑制される。したがって、露光不良の発生、及び不良デバイスの発生が抑制される。   As described above, according to the present embodiment, at least the period during which the object B having the predetermined area PA (stepped portion D) moves below the second member 22 in the state where the immersion space LS2 is formed. In some cases, the position of one or both of the second member 22 and the object B in the Z-axis direction is changed, so that the outflow of the liquid LQ or the like is suppressed. Therefore, the occurrence of exposure failure and the occurrence of defective devices are suppressed.

なお、本実施形態においては、第1部分Bp1及び第2部分Bp2は、1つの物体B上に配置されることとした。第1物体B1に第1部分Bp1が配置され、第1物体B1に隣接する第2物体B2に第2部分Bp2が配置されてもよい。   In the present embodiment, the first part Bp1 and the second part Bp2 are arranged on one object B. The first part Bp1 may be arranged on the first object B1, and the second part Bp2 may be arranged on the second object B2 adjacent to the first object B1.

<第3実施形態>
次に、第3実施形態について説明する。以下の説明において、上述の実施形態と同一又は同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略若しくは省略する。
<Third Embodiment>
Next, a third embodiment will be described. In the following description, the same or equivalent components as those of the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is simplified or omitted.

図11は、本実施形態に係る第2部材22の動作の一例を示す図である。本実施形態において、所定領域PAは、第1物体B1と第2物体B2との間に設けられる段差部Dを含む。段差部Dは、第1物体B1と、間隙Gを介して第1物体B1に隣接する第2物体B2との間に設けられる。   FIG. 11 is a diagram illustrating an example of the operation of the second member 22 according to the present embodiment. In the present embodiment, the predetermined area PA includes a step portion D provided between the first object B1 and the second object B2. The step portion D is provided between the first object B1 and the second object B2 adjacent to the first object B1 through the gap G.

制御装置6は、第2部材22と第1物体B1との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力と、第2部材22と第2物体B2との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22、第1物体B1、及び第2物体B2の少なくとも一つを移動してもよい。例えば、第2部材22の下面24と第2物体B2の上面との距離Wcが、第2部材22の下面24と第1物体B1の上面との距離Waよりも短くなる場合、制御装置6は、第2部材22と第1物体B1との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力と、第2部材22と第2物体B2との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22、第1物体B1、及び第2物体B2の少なくとも一つを移動してもよい。例えば、制御装置6は、第2部材22の下面24と第1物体B1の上面との距離Waと、第2部材22の下面24と第2物体B2の上面との距離Wcとの差が小さくなるように、Z軸方向に関して、第2部材22、第1物体B1、及び第2物体B2の少なくとも一つを移動してもよい。   The control device 6 uses the pressure of the liquid LQ in the liquid immersion space LS2 formed between the second member 22 and the first object B1, and the liquid immersion formed between the second member 22 and the second object B2. You may move at least one of the 2nd member 22, 1st object B1, and 2nd object B2 so that the difference with the pressure of the liquid LQ of space LS2 may become small. For example, when the distance Wc between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the second object B2 is shorter than the distance Wa between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the first object B1, the control device 6 The pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 formed between the second member 22 and the first object B1, and the liquid in the immersion space LS2 formed between the second member 22 and the second object B2. You may move at least one of the 2nd member 22, 1st object B1, and 2nd object B2 so that the difference with the pressure of LQ may become small. For example, the control device 6 has a small difference between the distance Wa between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the first object B1, and the distance Wc between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the second object B2. As described above, at least one of the second member 22, the first object B1, and the second object B2 may be moved in the Z-axis direction.

本実施形態において、距離Wcは、距離Waと実質的に等しい。なお、距離Wcは、距離Waと異なってもよい。距離Wcは、距離Waよりも長くてもよいし、短くてもよい。   In the present embodiment, the distance Wc is substantially equal to the distance Wa. The distance Wc may be different from the distance Wa. The distance Wc may be longer or shorter than the distance Wa.

また、制御装置6は、XY平面内における第1、第2物体B1、B2の位置に基づいて、第2部材22、第1物体B1、及び第2物体B2の少なくとも一つを移動してもよい。XY平面内における物体Bの位置は、段差部D(間隙部G)の位置を含む。XY平面内における第1、第2物体B1、B2の位置は、計測システム4によって計測可能である。例えば、第1物体B1が、基板Pであり、第2物体B2が、基板Pの周囲に配置されるカバー部材T1である場合、XY平面内における基板ステージ2の位置が計測されることにより、XY平面内における段差部D(間隙部G)の位置が求められる。例えば、記憶装置7が、基板ステージ2上における段差部D(間隙部G)の位置を記憶することにより、基板ステージ2の位置を計測した計測システム4の計測結果に基づいて、XY平面内における段差部D(間隙部G)の位置が求められる。また、記憶装置7は、基板Pの上面の高さとその基板Pの上面の周囲に配置されるカバー部材T1の上面の高さとの差に関する情報を記憶可能である。なお、本実施形態において、カバー部材T1の上面の高さ(基板ステージ2の上面の高さ)は、実質的に変化しない。そのため、基板Pの厚みに関する情報が取得されることによって、基板Pの上面の高さとカバー部材T1の上面(基板ステージ2の上面)の高さとの差に関する情報が求められる。制御装置6は、段差部D(間隙部G)の位置、及び第1物体B1(基板P)の上面の高さと第2物体B2(カバー部材T1)の上面の高さとの差に関する情報を記憶する記憶装置7の記憶情報と、XY平面内における第1、第2物体B1、B2(基板ステージ2)の位置を計測する計測システム4の計測結果とに基づいて、第2部材22と第1物体B1との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力と、第2部材22と第2物体B2との間に形成される液浸空間LS2の液体LQの圧力との差が小さくなるように、第2部材22、第1物体B1、及び第2物体B2の少なくとも一つを移動してもよい。   Further, the control device 6 may move at least one of the second member 22, the first object B1, and the second object B2 based on the positions of the first and second objects B1 and B2 in the XY plane. Good. The position of the object B in the XY plane includes the position of the step portion D (gap portion G). The positions of the first and second objects B1 and B2 in the XY plane can be measured by the measurement system 4. For example, when the first object B1 is the substrate P and the second object B2 is the cover member T1 disposed around the substrate P, by measuring the position of the substrate stage 2 in the XY plane, The position of the step portion D (gap portion G) in the XY plane is obtained. For example, the storage device 7 stores the position of the stepped portion D (gap portion G) on the substrate stage 2, and based on the measurement result of the measurement system 4 that measured the position of the substrate stage 2, it is in the XY plane. The position of the step portion D (gap portion G) is obtained. Further, the storage device 7 can store information relating to the difference between the height of the upper surface of the substrate P and the height of the upper surface of the cover member T1 disposed around the upper surface of the substrate P. In the present embodiment, the height of the upper surface of the cover member T1 (the height of the upper surface of the substrate stage 2) does not substantially change. Therefore, by acquiring information related to the thickness of the substrate P, information related to the difference between the height of the upper surface of the substrate P and the height of the upper surface of the cover member T1 (the upper surface of the substrate stage 2) is obtained. The control device 6 stores information on the position of the stepped portion D (gap portion G) and the difference between the height of the upper surface of the first object B1 (substrate P) and the height of the upper surface of the second object B2 (cover member T1). On the basis of the storage information of the storage device 7 and the measurement result of the measurement system 4 that measures the positions of the first and second objects B1 and B2 (substrate stage 2) in the XY plane. The difference between the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 formed between the object B1 and the pressure of the liquid LQ in the immersion space LS2 formed between the second member 22 and the second object B2 is small. As such, at least one of the second member 22, the first object B1, and the second object B2 may be moved.

なお、上述の第1実施形態、第2実施形態、及び第3実施形態の内容は、適宜組み合わせることができる。   The contents of the first embodiment, the second embodiment, and the third embodiment described above can be combined as appropriate.

<第4実施形態>
次に、第4実施形態について説明する。以下の説明において、上述の実施形態と同一又は同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略若しくは省略する。
<Fourth embodiment>
Next, a fourth embodiment will be described. In the following description, the same or equivalent components as those of the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is simplified or omitted.

図12は、本実施形態に係る第2部材22の動作の一例を示す。第2部材22の下方において所定領域PAを有する物体BがXY平面内において移動される。   FIG. 12 shows an example of the operation of the second member 22 according to this embodiment. The object B having the predetermined area PA is moved below the second member 22 in the XY plane.

本実施形態において、所定領域PAは、所定領域PAの外側の領域よりも液体LQに対して親液性である親液領域SAを含む。物体Bにおいて、所定領域PAの外側の領域は、液体LQに対して撥液性である撥液領域HAを含む。液体LQに対する親液領域SAの接触角は、90度よりも大きい。液体LQに対する親液領域SAの接触角は、100度以上でもよいし、110度以上でもよい。液体LQに対する撥液領域HAの接触角は、90度よりも小さい。液体LQに対する撥液領域HAの接触角は、80度以下でもよいし、70度以下でもよい。   In the present embodiment, the predetermined area PA includes a lyophilic area SA that is more lyophilic with respect to the liquid LQ than the area outside the predetermined area PA. In the object B, the area outside the predetermined area PA includes a liquid repellent area HA that is liquid repellent with respect to the liquid LQ. The contact angle of the lyophilic area SA with the liquid LQ is larger than 90 degrees. The contact angle of the lyophilic area SA with the liquid LQ may be 100 degrees or more, or 110 degrees or more. The contact angle of the liquid repellent area HA with respect to the liquid LQ is smaller than 90 degrees. The contact angle of the liquid repellent area HA with the liquid LQ may be 80 degrees or less, or 70 degrees or less.

図12は、液浸空間LS2が撥液領域HA上から親液領域SA上へ移動するように、第2部材22と物体Bとが終端光学素子13の光軸(Z軸)と実質的に垂直なXY平面内において相対移動される状態の一例を示す。   FIG. 12 shows that the second member 22 and the object B are substantially aligned with the optical axis (Z axis) of the last optical element 13 so that the immersion space LS2 moves from the liquid repellent area HA to the lyophilic area SA. An example of a state of relative movement in a vertical XY plane is shown.

図12(A)は、液浸空間LS2が撥液領域HAの上面に形成されている状態を示す。図12(B)は、液浸空間LS2が親液領域SAの上面に形成されている状態を示す。本実施形態においては、液浸空間LS2が撥液領域HAの上面に形成されている状態から、撥液領域HAと親液領域SAとの境界を経て、親液領域SAの上面に形成される状態に変化するように、第2部材22に対して、物体Bが−Y方向に移動する。   FIG. 12A shows a state in which the immersion space LS2 is formed on the upper surface of the liquid repellent area HA. FIG. 12B shows a state in which the immersion space LS2 is formed on the upper surface of the lyophilic area SA. In the present embodiment, the immersion space LS2 is formed on the upper surface of the lyophilic region SA from the state where the immersion space LS2 is formed on the upper surface of the lyophobic region HA through the boundary between the lyophobic region HA and the lyophilic region SA. The object B moves in the −Y direction with respect to the second member 22 so as to change to the state.

本実施形態において、制御装置6は、液浸空間LS2が撥液領域HA上から親液領域SA上へ移動する期間の少なくとも一部において、第2部材22及び物体Bの一方又は両方をZ軸方向に関して移動して、第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離Wを変える。   In the present embodiment, the control device 6 moves one or both of the second member 22 and the object B in the Z axis during at least a part of the period during which the immersion space LS2 moves from the liquid repellent area HA to the lyophilic area SA. The distance W between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B is changed by moving in the direction.

例えば、制御装置6は、第2部材22と所定領域PA(親液領域SA)とが対向する状態における第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離Weを、第2部材22と所定領域PA(親液領域SA)の外側の領域(撥液領域HA)とが対向する状態における第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離Wdよりも小さくする。   For example, the control device 6 determines the distance We between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B in the state where the second member 22 and the predetermined area PA (lyophilic area SA) face each other. The distance Wd is smaller than the distance Wd between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B in a state where the region (liquid repellent region HA) outside the predetermined region PA (lyophilic region SA) faces.

これにより、液浸空間LS2の液体LQが第2空間SP2の外側に流出したり、液体LQが物体B上に残留したりすることが抑制される。   As a result, the liquid LQ in the immersion space LS2 is prevented from flowing out of the second space SP2 and the liquid LQ remaining on the object B.

なお、制御装置6は、第2部材22と所定領域PA(親液領域SA)とが対向する状態における第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離Weを、第2部材22と所定領域PA(親液領域SA)の外側の領域とが対向する状態における第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離Wdよりも大きくしてもよい。   The control device 6 determines the distance We between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B in the state where the second member 22 and the predetermined area PA (lyophilic area SA) face each other. The distance Wd between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B in a state where the region outside the predetermined region PA (lyophilic region SA) faces may be larger.

なお、制御装置6は、圧力センサ50の検出結果を用いて、第2部材22及び物体Bの一方又は両方を移動してもよいし、圧力センサ50の検出結果を用いずに、第2部材22及び物体Bの一方又は両方を移動してもよい。なお、圧力センサ50は、なくてもよい。   The control device 6 may move one or both of the second member 22 and the object B using the detection result of the pressure sensor 50, or the second member without using the detection result of the pressure sensor 50. One or both of the object 22 and the object B may be moved. Note that the pressure sensor 50 may not be provided.

なお、液浸空間LS2が親液領域SA上から撥液領域HA上へ移動するように、第2部材22と物体Bとが終端光学素子13の光軸(Z軸)と実質的に垂直なXY平面内において相対移動される場合も同様である。   The second member 22 and the object B are substantially perpendicular to the optical axis (Z axis) of the last optical element 13 so that the immersion space LS2 moves from the lyophilic area SA to the liquid repellent area HA. The same applies to the case of relative movement in the XY plane.

以上説明したように、本実施形態によれば、液浸空間LS2が形成されている状態で、所定領域PA(親液領域SA)を有する物体Bが第2部材22の下方を移動する期間の少なくとも一部において、第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離を変えるようにしたので、液体LQの流出などが抑制される。したがって、露光不良の発生、及び不良デバイスの発生が抑制される。   As described above, according to the present embodiment, the period during which the object B having the predetermined area PA (lyophilic area SA) moves below the second member 22 in the state where the immersion space LS2 is formed. Since at least a part of the distance between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B is changed, the outflow of the liquid LQ and the like are suppressed. Therefore, the occurrence of exposure failure and the occurrence of defective devices are suppressed.

なお、上述の第1実施形態、第2実施形態、第3実施形態、及び第4実施形態の内容は、適宜組み合わせることができる。   The contents of the first embodiment, the second embodiment, the third embodiment, and the fourth embodiment described above can be combined as appropriate.

<第5実施形態>
次に、第5実施形態について説明する。以下の説明において、上述の実施形態と同一又は同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略若しくは省略する。
<Fifth Embodiment>
Next, a fifth embodiment will be described. In the following description, the same or equivalent components as those of the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is simplified or omitted.

図13は、本実施形態に係る第2部材22の動作の一例を示す。第2部材22の下方において物体BがXY平面内において移動される。   FIG. 13 shows an example of the operation of the second member 22 according to this embodiment. The object B is moved in the XY plane below the second member 22.

本実施形態において、制御装置6は、物体Bの移動条件に基づいて、第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離Wを変える。   In the present embodiment, the control device 6 changes the distance W between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B based on the moving condition of the object B.

本実施形態において、移動条件は、物体Bの速度を含む。   In the present embodiment, the movement condition includes the speed of the object B.

図13(A)は、液浸空間LS2が形成されている状態で、物体Bが第1速度V1で移動する状態を示す。物体Bが第1速度V1で移動する状態において、第2部材22の下面24と物体Bの上面とが距離Wfに調整される。   FIG. 13A shows a state where the object B moves at the first speed V1 in a state where the immersion space LS2 is formed. In a state where the object B moves at the first speed V1, the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B are adjusted to the distance Wf.

図13(B)は、液浸空間LS2が形成されている状態で、物体Bが第1速度V1よりも高い第2速度V2で移動する状態を示す。物体Bが第2速度V2で移動する状態において、第2部材22の下面24と物体Bの上面とが距離Wfよりも短いWgに調整される。   FIG. 13B shows a state in which the object B moves at a second speed V2 higher than the first speed V1 in a state where the immersion space LS2 is formed. In the state where the object B moves at the second speed V2, the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B are adjusted to Wg shorter than the distance Wf.

これにより、液浸空間LS2の液体LQが第2空間SP2の外側に流出したり、液体LQが物体B上に残留したりすることが抑制される。   As a result, the liquid LQ in the immersion space LS2 is prevented from flowing out of the second space SP2 and the liquid LQ remaining on the object B.

なお、液浸空間LS2が形成されている状態で、物体Bが第1速度V1で移動する状態において、第2部材22の下面24と物体Bの上面とが距離Wgに調整され、液浸空間LS2が形成されている状態で、物体Bが第1速度V1よりも高い第2速度V2で移動する状態において、第2部材22の下面24と物体Bの上面とが距離Wgよりも長い距離Wfに調整されてもよい。   In the state where the immersion space LS2 is formed and the object B moves at the first speed V1, the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B are adjusted to the distance Wg, and the immersion space In a state where LS2 is formed and the object B moves at a second speed V2 higher than the first speed V1, the distance Wf between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B is longer than the distance Wg. May be adjusted.

本実施形態において、移動条件は、物体Bの加速度を含んでもよい。   In the present embodiment, the movement condition may include the acceleration of the object B.

液浸空間LS2が形成されている状態で、物体Bが第1加速度Ac1で移動する状態において、第2部材22の下面24と物体Bの上面とが距離Wfに調整され、物体Bが第1加速度Ac1よりも高い第2加速度Ac2で移動する状態において、第2部材22の下面24と物体Bの上面とが距離Wfよりも短い距離Wgに調整されてもよい。   In a state where the immersion space LS2 is formed and the object B moves at the first acceleration Ac1, the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B are adjusted to the distance Wf, and the object B is In the state of moving at the second acceleration Ac2 higher than the acceleration Ac1, the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B may be adjusted to a distance Wg shorter than the distance Wf.

液浸空間LS2が形成されている状態で、物体Bが第1加速度Ac1で移動する状態において、第2部材22の下面24と物体Bの上面とが距離Wgに調整され、物体Bが第1加速度Ac1よりも高い第2加速度Ac2で移動する状態において、第2部材22の下面24と物体Bの上面とが距離Wgよりも長い距離Wfに調整されてもよい。   In a state where the immersion space LS2 is formed and the object B moves at the first acceleration Ac1, the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B are adjusted to the distance Wg, and the object B is In a state of moving at the second acceleration Ac2 higher than the acceleration Ac1, the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B may be adjusted to a distance Wf longer than the distance Wg.

これにより、液浸空間LS2の液体LQが第2空間SP2の外側に流出したり、液体LQが物体B上に残留したりすることが抑制される。   As a result, the liquid LQ in the immersion space LS2 is prevented from flowing out of the second space SP2 and the liquid LQ remaining on the object B.

なお、上述の第1実施形態、第2実施形態、第3実施形態、第4実施形態、及び第5実施形態の内容は、適宜組み合わせることができる。   The contents of the first embodiment, the second embodiment, the third embodiment, the fourth embodiment, and the fifth embodiment described above can be combined as appropriate.

<第6実施形態>
次に、第6実施形態について説明する。以下の説明において、上述の実施形態と同一又は同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略若しくは省略する。
<Sixth Embodiment>
Next, a sixth embodiment will be described. In the following description, the same or equivalent components as those of the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is simplified or omitted.

図14は、本実施形態に係る第2部材22の動作の一例を示す。第2部材22の下方において物体BがXY平面内において移動される。   FIG. 14 shows an example of the operation of the second member 22 according to this embodiment. The object B is moved in the XY plane below the second member 22.

本実施形態において、制御装置6は、物体Bの移動条件に基づいて、第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離Wを変える。   In the present embodiment, the control device 6 changes the distance W between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B based on the moving condition of the object B.

本実施形態において、移動条件は、XY平面内における物体Bの移動軌跡を含む。   In the present embodiment, the movement condition includes a movement locus of the object B in the XY plane.

例えば、図14において、矢印Sbで示す移動軌跡に沿って相対的に移動するように、第2部材22に対して物体Bが移動する場合、制御装置6は、その物体Bの移動軌跡Sbに基づいて、第2部材22及び物体Bの一方又は両方を移動して、第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離Wを変える。   For example, in FIG. 14, when the object B moves relative to the second member 22 so as to move relatively along the movement locus indicated by the arrow Sb, the control device 6 changes the movement locus Sb of the object B to the movement locus Sb. Based on this, one or both of the second member 22 and the object B are moved to change the distance W between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B.

例えば、移動軌跡Sbが、第1移動軌跡Sb1と、物体Bの移動によって第2空間SP2から液体LQが流出する可能性が高い第2移動軌跡Sb2とを含む場合、制御装置6は、第2移動軌跡Sb2における第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離Wjを、第1移動軌跡Sb1における第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離Whよりも短くする。   For example, when the movement locus Sb includes the first movement locus Sb1 and the second movement locus Sb2 in which the liquid LQ is likely to flow out of the second space SP2 due to the movement of the object B, the control device 6 The distance Wj between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B in the movement locus Sb2 is made shorter than the distance Wh between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B in the first movement locus Sb1.

第1移動軌跡Sb1は、例えば直線の移動軌跡である。第2移動軌跡Sb2は、例えば曲線を含む移動軌跡である。例えば、物体BがXY平面内において進行方向を変えるとき、第2空間SP2から液体LQが流出する可能性が高い。   The first movement locus Sb1 is, for example, a straight movement locus. The second movement locus Sb2 is a movement locus including a curve, for example. For example, when the object B changes its traveling direction in the XY plane, there is a high possibility that the liquid LQ will flow out from the second space SP2.

例えば基板Pの露光において、第1移動軌跡Sb1は、スキャン移動動作が行われるときの基板ステージ2の移動軌跡である。第2移動軌跡Sb2は、ステップ移動動作が行われるときの移動軌跡である。   For example, in the exposure of the substrate P, the first movement locus Sb1 is the movement locus of the substrate stage 2 when the scan movement operation is performed. The second movement locus Sb2 is a movement locus when the step movement operation is performed.

本実施形態においても、液浸空間LS2の液体LQが第2空間SP2の外側に流出したり、液体LQが物体B上に残留したりすることが抑制される。   Also in the present embodiment, the liquid LQ in the immersion space LS2 is prevented from flowing out of the second space SP2 and the liquid LQ remaining on the object B.

なお、第2移動軌跡Sb2における第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離が、第1移動軌跡Sb1における第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離よりも長くてもよい。   The distance between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B in the second movement locus Sb2 is longer than the distance between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B in the first movement locus Sb1. Also good.

<第7実施形態>
次に、第7実施形態について説明する。以下の説明において、上述の実施形態と同一又は同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略若しくは省略する。
<Seventh embodiment>
Next, a seventh embodiment will be described. In the following description, the same or equivalent components as those of the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is simplified or omitted.

図15及び図16は、本実施形態に係る第2部材22の動作の一例を示す。第2部材22の下方において物体B(第1、第2物体B1、B2)がXY平面内において移動される。液浸空間LS2が形成されている状態で、物体B(第1、第2物体B1、B2)は、第2部材22の下方において、XY平面内において等速移動する。また、物体B(第1、第2物体B1、B2)は、第2部材22の下方において、XY平面内において非等速移動する。   15 and 16 show an example of the operation of the second member 22 according to the present embodiment. Under the second member 22, the object B (first and second objects B1, B2) is moved in the XY plane. In the state where the immersion space LS2 is formed, the object B (first and second objects B1, B2) moves at a constant speed in the XY plane below the second member 22. Further, the object B (first and second objects B1, B2) moves at a non-constant speed in the XY plane below the second member 22.

非等速移動は、物体Bが加速するように移動する状態を含む。非等速移動は、物体Bが減速するように移動する状態を含む。非等速移動は、物体Bが加速した後、減速するように移動する状態を含む。非等速移動は、物体Bが減速した後、加速するように移動する状態を含む。非等速移動は、物体Bが加速及び減速を繰り返しながら移動する状態を含む。   The non-constant speed movement includes a state in which the object B moves so as to accelerate. The non-constant speed movement includes a state in which the object B moves so as to decelerate. The non-constant speed movement includes a state in which the object B moves so as to decelerate after being accelerated. The non-constant speed movement includes a state in which the object B moves so as to accelerate after decelerating. Non-constant speed movement includes a state in which the object B moves while repeating acceleration and deceleration.

図15は、物体B(第1、第2物体B1、B2)が−Y方向へ等速移動する状態の一例を示す。図16は、物体B(第1、第2物体B1、B2)が−Y方向へ非等速移動する状態の一例を示す。図15及び図16において、第1物体B1と第2物体B2との間に段差部Dが設けられる。例えば、第1物体B1の上面が第1保持部14に保持された基板Pの上面であり、第2物体B2の上面が基板Pの上面の周囲に配置されるカバー部材T1の上面(基板ステージ2の上面)である場合、基板Pとカバー部材T1との間に段差部Dが設けられる可能性がある。   FIG. 15 shows an example of a state in which the object B (first and second objects B1, B2) moves at a constant speed in the -Y direction. FIG. 16 shows an example of a state in which the object B (first and second objects B1, B2) moves at a non-constant speed in the −Y direction. In FIG.15 and FIG.16, the level | step-difference part D is provided between 1st object B1 and 2nd object B2. For example, the upper surface of the first object B1 is the upper surface of the substrate P held by the first holding unit 14, and the upper surface of the second object B2 is the upper surface of the cover member T1 disposed around the upper surface of the substrate P (substrate stage). 2 may be provided between the substrate P and the cover member T1.

図15(A)は、第1物体B1上に液浸空間LS2が形成されている状態を示す。図15(B)は、第2物体B2上に液浸空間LS2が形成されている状態を示す。第2部材22の下面24と第1物体B1の上面との距離W1と、第2部材22の下面24と第2物体B2の上面との距離W2との差が小さくなるように、第2部材22がZ軸方向に移動する。第2部材22は、図15(A)に示す状態から、+Z方向に第1移動量U1だけ移動して、図15(B)に示す状態に変化する。   FIG. 15A shows a state in which the immersion space LS2 is formed on the first object B1. FIG. 15B shows a state in which the immersion space LS2 is formed on the second object B2. The second member so that the difference between the distance W1 between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the first object B1 and the distance W2 between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the second object B2 is reduced. 22 moves in the Z-axis direction. The second member 22 moves from the state shown in FIG. 15A by the first movement amount U1 in the + Z direction and changes to the state shown in FIG. 15B.

図16(A)は、第1物体B1上に液浸空間LS2が形成されている状態を示す。図16(B)は、第2物体B2上に液浸空間LS2が形成されている状態を示す。第2部材22の下面24と第1物体B1の上面との距離W1と、第2部材22の下面24と第2物体B2の上面との距離W3との差が小さくなるように、第2部材22がZ軸方向に移動する。第2部材22は、図16(A)に示す状態から、+Z方向に第2移動量U2だけ移動して、図16(B)に示す状態に変化する。   FIG. 16A shows a state in which the immersion space LS2 is formed on the first object B1. FIG. 16B shows a state in which the immersion space LS2 is formed on the second object B2. The second member so that the difference between the distance W1 between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the first object B1 and the distance W3 between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the second object B2 is reduced. 22 moves in the Z-axis direction. The second member 22 moves from the state shown in FIG. 16A by the second movement amount U2 in the + Z direction and changes to the state shown in FIG.

本実施形態においては、第1移動量U1と第2移動量U2とは異なる。すなわち、本実施形態において、制御装置6は、Z軸方向に関する第2部材22の移動量を、物体Bが等速移動する期間と非等速移動する期間とで変える。   In the present embodiment, the first movement amount U1 and the second movement amount U2 are different. That is, in the present embodiment, the control device 6 changes the amount of movement of the second member 22 in the Z-axis direction between a period during which the object B moves at a constant speed and a period during which the object B moves at a non-constant speed.

本実施形態において、物体Bが等速移動する期間における第2部材22の第1移動量U1は、物体Bが非等速移動する期間における第2部材22の第2移動量U2よりも小さい。   In the present embodiment, the first movement amount U1 of the second member 22 during the period in which the object B moves at a constant speed is smaller than the second movement amount U2 of the second member 22 in a period in which the object B moves at a non-constant speed.

例えば基板Pの露光において、物体Bの等速移動動作は、基板P(基板ステージ2)のスキャン移動動作である。物体Bの非等速移動動作は、基板P(基板ステージ2)のステップ移動動作である。すなわち、物体Bが等速移動する期間は、基板Pのショット領域Sの露光が行われる露光期間である。物体Bが非等速移動する期間は、基板Pのあるショット領域Sの露光終了後、次に露光されるショット領域Sの露光が開始されるまでの非露光期間である。露光期間において、物体Bが等速移動(スキャン移動)される。非露光期間において、物体Bが非等速移動(ステップ移動)される。   For example, in the exposure of the substrate P, the constant speed movement operation of the object B is the scan movement operation of the substrate P (substrate stage 2). The non-constant speed moving operation of the object B is a step moving operation of the substrate P (substrate stage 2). That is, the period during which the object B moves at a constant speed is an exposure period during which the shot area S of the substrate P is exposed. The period during which the object B moves at a non-constant speed is a non-exposure period until the exposure of the shot area S to be exposed next starts after the exposure of the shot area S on the substrate P ends. In the exposure period, the object B is moved at a constant speed (scanning movement). In the non-exposure period, the object B is moved at a non-constant speed (step movement).

本実施形態においては、制御装置6は、基板Pの露光において、Z軸方向に関する第2部材22の移動量を、露光期間(スキャン移動動作が行われる期間)と非露光期間(ステップ移動動作が行われる期間)とで変える。   In the present embodiment, in the exposure of the substrate P, the control device 6 determines the movement amount of the second member 22 in the Z-axis direction based on the exposure period (period in which the scan movement operation is performed) and the non-exposure period (step movement operation is performed). And the period during which it is performed.

本実施形態において、物体Bが等速移動する期間(露光期間)における第2部材22の第1移動量U1は、物体Bが非等速移動する期間(非露光期間)における第2部材22の第2移動量U2よりも小さい。   In the present embodiment, the first movement amount U1 of the second member 22 during the period during which the object B moves at a constant speed (exposure period) is equal to the first movement amount U1 of the second member 22 during the period during which the object B moves at a non-constant speed (non-exposure period). It is smaller than the second movement amount U2.

制御装置6は、物体Bが等速移動する期間(露光期間)において、Z軸方向に関する第2部材22の位置を一定にしてもよい。なお、物体Bが等速移動する期間(露光期間)において、Z軸方向に関する第2部材22の位置は一定でなくてもよい。制御装置6は、物体Bが非等速移動する期間(非露光期間)において、Z軸方向に関する第2部材22の位置を第1位置から第1位置よりも高い第2位置に変更してもよい。また、制御装置6は、物体Bが非等速移動する期間(非露光期間)において、Z軸方向に関する第2部材22の位置を第1位置から第1位置よりも低い第3位置に変更してもよい。   The control device 6 may make the position of the second member 22 in the Z-axis direction constant during the period during which the object B moves at a constant speed (exposure period). Note that the position of the second member 22 in the Z-axis direction may not be constant during the period in which the object B moves at a constant speed (exposure period). The control device 6 may change the position of the second member 22 in the Z-axis direction from the first position to the second position higher than the first position in the period during which the object B moves at a non-constant speed (non-exposure period). Good. Further, the control device 6 changes the position of the second member 22 in the Z-axis direction from the first position to a third position lower than the first position during the period in which the object B moves at a non-constant speed (non-exposure period). May be.

第2部材22の移動量が大きくなることによって、例えば振動が発生する可能性がある。本実施形態によれば、物体Bが等速移動する期間(露光期間)において、Z軸方向に関する第2部材22の移動量は小さいので、振動の発生が抑制される。したがって、露光不良の発生、及び不良デバイスの発生が抑制される。   As the movement amount of the second member 22 increases, for example, vibration may occur. According to the present embodiment, during the period during which the object B moves at a constant speed (exposure period), the amount of movement of the second member 22 in the Z-axis direction is small, so that the occurrence of vibration is suppressed. Therefore, the occurrence of exposure failure and the occurrence of defective devices are suppressed.

また、物体Bが非等速移動する期間(非露光期間)において、第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離を、望みの距離にすることができる。   Further, during the period in which the object B moves at a non-constant speed (non-exposure period), the distance between the lower surface 24 of the second member 22 and the upper surface of the object B can be set to a desired distance.

なお、制御装置6は、物体Bが等速移動する期間(露光期間)における第2部材22のZ軸方向に関する移動量を、物体Bが非等速移動する期間(非露光期間)における第2部材22のZ軸方向に関する移動量よりも大きくしてもよい。   Note that the control device 6 determines the amount of movement of the second member 22 in the Z-axis direction during the period during which the object B moves at constant speed (exposure period) as the second amount during the period during which the object B moves at non-constant speed (non-exposure period). The amount of movement of the member 22 in the Z-axis direction may be larger.

なお、物体Bが等速移動する期間(露光期間)における第2部材22のZ軸方向に関する移動速度と、物体Bが非等速移動する期間(非露光期間)における第2部材22のZ軸方向に関する移動速度とが異なってもよい。制御装置6は、物体Bが等速移動する期間(露光期間)における第2部材22のZ軸方向に関する移動速度を、物体Bが非等速移動する期間(非露光期間)における第2部材22のZ軸方向に関する移動速度よりも低くしてもよい。なお、制御装置6は、物体Bが等速移動する期間(露光期間)における第2部材22のZ軸方向に関する移動速度を、物体Bが非等速移動する期間(非露光期間)における第2部材22のZ軸方向に関する移動速度よりも高くしてもよい。   The moving speed of the second member 22 in the Z-axis direction during the period during which the object B moves at a constant speed (exposure period) and the Z axis of the second member 22 during the period during which the object B moves at a non-constant speed (non-exposure period). The moving speed with respect to the direction may be different. The control device 6 determines the moving speed in the Z-axis direction of the second member 22 during the period in which the object B moves at a constant speed (exposure period), and the second member 22 in the period in which the object B moves at a non-constant speed (non-exposure period). The moving speed in the Z-axis direction may be lower. Note that the control device 6 sets the moving speed of the second member 22 in the Z-axis direction during the period during which the object B moves at a constant speed (exposure period) to the second speed during the period during which the object B moves at a non-constant speed (non-exposure period). The moving speed of the member 22 in the Z-axis direction may be higher.

なお、物体Bが等速移動する期間(露光期間)における第2部材22のZ軸方向に関する加速度と、物体Bが非等速移動する期間(非露光期間)における第2部材22のZ軸方向に関する加速度とが異なってもよい。制御装置6は、物体Bが等速移動する期間(露光期間)における第2部材22のZ軸方向に関する加速度を、物体Bが非等速移動する期間(非露光期間)における第2部材22のZ軸方向に関する加速度よりも低くしてもよい。なお、制御装置6は、物体Bが等速移動する期間(露光期間)における第2部材22のZ軸方向に関する加速度を、物体Bが非等速移動する期間(非露光期間)における第2部材22のZ軸方向に関する加速度よりも高くしてもよい。   The acceleration in the Z-axis direction of the second member 22 during the period during which the object B moves at a constant speed (exposure period) and the Z-axis direction of the second member 22 during the period during which the object B moves at a non-constant speed (non-exposure period). Acceleration may be different. The control device 6 determines the acceleration of the second member 22 in the Z-axis direction during the period during which the object B moves at a constant speed (exposure period), and the acceleration of the second member 22 during the period during which the object B moves at a non-constant speed (non-exposure period). You may make it lower than the acceleration regarding a Z-axis direction. Note that the control device 6 uses the second member 22 acceleration during the period in which the object B moves at a constant speed (exposure period) as the second member 22 in the period in which the object B moves at a non-constant speed (non-exposure period). You may make it higher than the acceleration regarding 22 Z-axis directions.

<第8実施形態>
次に、第8実施形態について説明する。以下の説明において、上述の実施形態と同一又は同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略若しくは省略する。
<Eighth Embodiment>
Next, an eighth embodiment will be described. In the following description, the same or equivalent components as those of the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is simplified or omitted.

図17は、本実施形態に係る物体B(第1、第2物体B1、B2)の動作の一例を示す。液浸空間LS2が形成されている状態で、第2部材22の下方において、所定領域PAを有する物体BがXY平面において移動する。図17に示す例では、物体Bは、第1物体B1と、間隙Gを介して第1物体B1に隣接する第2物体B2とを含む。所定領域PAは、間隙Gを含む。   FIG. 17 shows an example of the operation of the object B (first and second objects B1, B2) according to the present embodiment. In the state where the immersion space LS2 is formed, the object B having the predetermined area PA moves in the XY plane below the second member 22. In the example illustrated in FIG. 17, the object B includes a first object B1 and a second object B2 that is adjacent to the first object B1 through the gap G. The predetermined area PA includes a gap G.

本実施形態においては、制御装置6は、所定領域PA(間隙G)を有する物体B(第1、第2物体B1、B2)が移動する期間の少なくとも一部において、XY平面内における第1、第2物体B1、B2の移動条件を変える。   In the present embodiment, the control device 6 performs the first and second operations in the XY plane in at least part of the period during which the object B (the first and second objects B1 and B2) having the predetermined area PA (gap G) moves. The moving conditions of the second objects B1 and B2 are changed.

制御装置6は、液浸空間LS2の全部が第1物体B1上又は第2物体B2上に形成されている状態と、液浸空間LS2が所定領域PA(間隙G)上に形成されている状態とで、第1、第2物体B1、B2の移動条件を変える。   In the control device 6, the liquid immersion space LS2 is entirely formed on the first object B1 or the second object B2, and the liquid immersion space LS2 is formed on the predetermined area PA (gap G). The moving conditions of the first and second objects B1 and B2 are changed.

図17は、液浸空間LS2が第1物体B1上から第2物体B2上へ移動するように、第2部材22に対して第1、第2物体B1、B2が−Y方向へ移動する例を示す。図17(A)は、液浸空間LS2の全部が第1物体B1上に形成されている状態を示す。図17(B)は、液浸空間Gが所定領域PA(間隙G)上に形成されている状態を示す。本実施形態においては、液浸空間LS2の全部が第1物体B1上(又は第2物体B2上)に形成されている状態と、液浸空間LS2が間隙G上に形成されている第2状態とで、XY平面内における物体B(第1、第2物体B1、B2)の移動条件が異なる。   FIG. 17 shows an example in which the first and second objects B1 and B2 move in the −Y direction with respect to the second member 22 so that the immersion space LS2 moves from the first object B1 to the second object B2. Indicates. FIG. 17A shows a state where the entire immersion space LS2 is formed on the first object B1. FIG. 17B shows a state in which the immersion space G is formed on the predetermined area PA (gap G). In the present embodiment, a state in which the entire immersion space LS2 is formed on the first object B1 (or the second object B2) and a second state in which the immersion space LS2 is formed on the gap G. The movement conditions of the object B (first and second objects B1, B2) in the XY plane are different.

物体Bの移動条件は、XY平面内における物体Bの移動速度を含む。本実施形態においては、制御装置6は、液浸空間LS2が所定領域PA(間隙G)の外側の領域上(第1物体B1の上面又は第2物体B2の上面)に位置する状態において、物体B(第1、第2物体B1、B2)を速度Vaで移動し、液浸空間LS2が所定領域PA(間隙G)上に位置する状態において、物体B(第1、第2物体B1、B2)を速度Vaよりも低い速度Vbで移動する。すなわち、液浸空間LS2が所定領域PA(間隙G)上に形成されている状態における物体Bの移動速度Vbは、液浸空間LS2の全部が第1物体B1上(又は第2物体B2上)に形成されている状態における物体Bの移動速度Vaよりも低い。   The moving condition of the object B includes the moving speed of the object B in the XY plane. In the present embodiment, the control device 6 is configured so that the immersion space LS2 is positioned on the area outside the predetermined area PA (gap G) (the upper surface of the first object B1 or the upper surface of the second object B2). B (first and second objects B1 and B2) is moved at a velocity Va, and the object B (first and second objects B1 and B2) is in a state where the immersion space LS2 is positioned on the predetermined area PA (gap G). ) At a speed Vb lower than the speed Va. That is, in the state where the immersion space LS2 is formed on the predetermined area PA (gap G), the moving speed Vb of the object B is that the entire immersion space LS2 is on the first object B1 (or on the second object B2). It is lower than the moving speed Va of the object B in the state where it is formed.

物体Bの移動条件は、XY平面内における物体Bの加速度を含んでもよい。制御装置6は、液浸空間LS2が所定領域PA(間隙G)の外側の領域上(第1物体B1の上面又は第2物体B2の上面)に位置する状態において、物体B(第1、第2物体B1、B2)を加速度Caで移動し、液浸空間LS2が所定領域PA(間隙G)上に位置する状態において、物体B(第1、第2物体B1、B2)を加速度Caよりも低い加速度Cbで移動してもよい。すなわち、液浸空間LS2が所定領域PA(間隙G)上に形成されている状態における物体Bの加速度Cbは、液浸空間LS2の全部が第1物体B1上(又は第2物体B2上)に形成されている状態における物体Bの加速度Caよりも低くてもよい。   The moving condition of the object B may include the acceleration of the object B in the XY plane. In the state in which the immersion space LS2 is located on the region outside the predetermined region PA (gap G) (the upper surface of the first object B1 or the upper surface of the second object B2), the control device 6 2 objects B1 and B2) are moved at the acceleration Ca, and the object B (first and second objects B1 and B2) is moved more than the acceleration Ca in the state where the immersion space LS2 is positioned on the predetermined area PA (gap G). You may move with a low acceleration Cb. That is, the acceleration Cb of the object B in a state where the immersion space LS2 is formed on the predetermined area PA (gap G) is such that the entire immersion space LS2 is on the first object B1 (or on the second object B2). It may be lower than the acceleration Ca of the object B in the formed state.

これにより、例えば液浸空間LS2の液体LQが間隙Gに流入したり、液浸空間LS2の液体LQが第2空間SP2の外側に流出したり、液体LQが第1、第2物体B1、B2上に残留したりすることが抑制される。   Thereby, for example, the liquid LQ in the immersion space LS2 flows into the gap G, the liquid LQ in the immersion space LS2 flows out of the second space SP2, or the liquid LQ is in the first and second objects B1, B2. It is suppressed that it remains on top.

なお、液浸空間LS2が所定領域PA(間隙G)上に形成されている状態における物体Bの移動速度が、液浸空間LS2の全部が第1物体B1上(又は第2物体B2上)に形成されている状態における物体Bの移動速度よりも高くてもよい。   The moving speed of the object B in a state where the immersion space LS2 is formed on the predetermined area PA (gap G) is such that the entire immersion space LS2 is on the first object B1 (or on the second object B2). It may be higher than the moving speed of the object B in the formed state.

なお、液浸空間LS2が所定領域PA(間隙G)上に形成されている状態における物体Bの加速度が、液浸空間LS2の全部が第1物体B1上(又は第2物体B2上)に形成されている状態における物体Bの加速度よりも高くてもよい。   The acceleration of the object B in a state where the immersion space LS2 is formed on the predetermined area PA (gap G) is formed so that the entire immersion space LS2 is formed on the first object B1 (or on the second object B2). It may be higher than the acceleration of the object B in the state where it is applied.

なお、図18に示すように、所定領域PAが、所定領域PAの外側の領域よりも液体LQに対して親液性である親液領域SAでもよい。   As shown in FIG. 18, the predetermined area PA may be a lyophilic area SA that is more lyophilic with respect to the liquid LQ than the area outside the predetermined area PA.

なお、図19に示すように、所定領域PAが、物体Bの段差部Dを含んでもよい。   As shown in FIG. 19, the predetermined area PA may include a stepped portion D of the object B.

液浸空間LS2が形成されている状態で、第2部材22と物体Bとが第1相対移動条件で移動したときに物体B上に残留液体が発生する物体Bの領域PAに関する情報と、残留液体の発生が抑制される物体Bの領域PBに関する情報とを記憶装置7に記憶させてもよい。領域PAは、物体Bが有する間隙Gを含む。また、領域PAは、物体Bが有する段差部Dを含む。また、領域PAは、物体Bが有する親液領域SAを含む。   Information on the area PA of the object B where residual liquid is generated on the object B when the second member 22 and the object B move under the first relative movement condition in the state where the immersion space LS2 is formed, and the residual Information related to the region PB of the object B where generation of liquid is suppressed may be stored in the storage device 7. The area PA includes a gap G that the object B has. Further, the area PA includes a step portion D included in the object B. The area PA includes a lyophilic area SA that the object B has.

制御装置6は、その記憶装置7の記憶情報に基づいて、第2部材22の下方を領域PAが通過する期間の少なくとも一部において、第2部材22と物体Bとを第1相対移動条件とは異なる第2相対移動条件で移動させてもよい。   Based on the stored information in the storage device 7, the control device 6 sets the second member 22 and the object B as the first relative movement condition in at least a part of the period during which the area PA passes below the second member 22. May be moved under different second relative movement conditions.

第1移動条件は、物体Bが速度Vaで移動する条件を含む。第2移動条件は、物体Bが速度Vaよりも低い速度Vbで移動する条件を含む。   The first movement condition includes a condition for moving the object B at the speed Va. The second movement condition includes a condition in which the object B moves at a speed Vb that is lower than the speed Va.

すなわち、記憶装置7の記憶情報に基づいて、速度Vaで領域PAが第2部材22の下方を通過してしまうと残留液体が発生してしまうと判断された場合、制御装置6は、速度Vaより低い速度Vbで物体Bを移動させる。これにより、物体B上に残留液体が発生することが抑制される。   That is, when it is determined that the residual liquid is generated when the area PA passes below the second member 22 at the speed Va based on the storage information of the storage device 7, the control device 6 determines that the speed Va The object B is moved at a lower speed Vb. As a result, the occurrence of residual liquid on the object B is suppressed.

なお、液浸空間LS1についても同様である。すなわち、液浸空間LS1が形成されている状態で、第1部材21と物体Bとが第1相対移動条件で移動したときに物体B上に残留液体が発生する物体Bの領域PAに関する情報と、残留液体の発生が抑制される物体Bの領域PBに関する情報とを記憶装置7に記憶させてもよい。制御装置6は、その記憶装置7の記憶情報に基づいて、第1部材21の下方を領域PAが通過する期間の少なくとも一部において、第1部材21と物体Bとを第1相対移動条件とは異なる第2相対移動条件で移動させてもよい。   The same applies to the immersion space LS1. That is, in the state where the immersion space LS1 is formed, information on the area PA of the object B where the residual liquid is generated on the object B when the first member 21 and the object B move under the first relative movement condition; Further, the storage device 7 may store information related to the region PB of the object B in which the generation of the residual liquid is suppressed. Based on the stored information in the storage device 7, the control device 6 sets the first member 21 and the object B to the first relative movement condition in at least part of the period during which the area PA passes below the first member 21. May be moved under different second relative movement conditions.

物体B上に残留液体が発生する第2部材22と物体Bとの第1相対移動条件関する情報と、残留液体の発生が抑制される第2部材22と物体Bとの第2相対移動条件関する情報とを記憶装置7に記憶させてもよい。制御装置6は、その記憶装置7の記憶情報に基づいて、第2部材22と物体Bとが第1相対移動条件で移動される期間の少なくとも一部において、第2部材22の下面24と物体Bの上面との距離Wが短くなるように、第2部材22及び物体Bの一方又は両方を移動してもよい。   Information on the first relative movement condition between the second member 22 where the residual liquid is generated on the object B and the object B, and the second relative movement condition between the second member 22 where the generation of the residual liquid is suppressed. Information may be stored in the storage device 7. Based on the storage information of the storage device 7, the control device 6 determines the lower surface 24 of the second member 22 and the object during at least a part of the period during which the second member 22 and the object B are moved under the first relative movement condition. One or both of the second member 22 and the object B may be moved so that the distance W from the upper surface of B becomes shorter.

なお、第1部材21についても同様である。すなわち、物体B上に残留液体が発生する第1部材21と物体Bとの第1相対移動条件関する情報と、残留液体の発生が抑制される第1部材21と物体Bとの第2相対移動条件関する情報とを記憶装置7に記憶させてもよい。制御装置6は、その記憶装置7の記憶情報に基づいて、第1部材21と物体Bとが第1相対移動条件で移動される期間の少なくとも一部において、第1部材21の下面23と物体Bの上面との距離が短くなるように、第1部材21及び物体Bの一方又は両方を移動してもよい。   The same applies to the first member 21. That is, information on the first relative movement condition between the first member 21 where the residual liquid is generated on the object B and the object B and the second relative movement between the first member 21 and the object B where the generation of the residual liquid is suppressed. Information related to conditions may be stored in the storage device 7. Based on the storage information of the storage device 7, the control device 6 determines the lower surface 23 of the first member 21 and the object during at least a part of the period during which the first member 21 and the object B are moved under the first relative movement condition. One or both of the first member 21 and the object B may be moved so that the distance from the upper surface of B becomes shorter.

液浸空間LS2が形成されている状態で、第2部材22と物体Bとが第1相対移動条件で移動したときに物体B上に残留液体が発生する物体Bの領域PAに関する情報と、残留液体の発生が抑制される物体Bの領域PBに関する情報とを記憶装置7に記憶させてもよい。制御装置6は、その記憶装置7の記憶情報に基づいて、第2部材22の下方を領域PAが通過する期間の少なくとも一部において、第2部材22の下面24と領域PAとの距離が短くなるように、第2部材22及び物体Bの一方又は両方を移動してもよい。   Information on the area PA of the object B where residual liquid is generated on the object B when the second member 22 and the object B move under the first relative movement condition in the state where the immersion space LS2 is formed, and the residual Information related to the region PB of the object B where generation of liquid is suppressed may be stored in the storage device 7. Based on the storage information of the storage device 7, the control device 6 has a short distance between the lower surface 24 of the second member 22 and the region PA in at least a part of the period during which the region PA passes below the second member 22. As such, one or both of the second member 22 and the object B may be moved.

なお、第1部材21についても同様である。すなわち、液浸空間LS1が形成されている状態で、第1部材21と物体Bとが第1相対移動条件で移動したときに物体B上に残留液体が発生する物体Bの領域PAに関する情報と、残留液体の発生が抑制される物体Bの領域PBに関する情報とを記憶装置7に記憶させてもよい。制御装置6は、その記憶装置7の記憶情報に基づいて、第1部材21の下方を領域PAが通過する期間の少なくとも一部において、第1部材21の下面23と領域PAとの距離が短くなるように、第1部材21及び物体Bの一方又は両方を移動してもよい。   The same applies to the first member 21. That is, in the state where the immersion space LS1 is formed, information on the area PA of the object B where the residual liquid is generated on the object B when the first member 21 and the object B move under the first relative movement condition; Further, the storage device 7 may store information related to the region PB of the object B in which the generation of the residual liquid is suppressed. Based on the storage information of the storage device 7, the control device 6 has a short distance between the lower surface 23 of the first member 21 and the region PA in at least a part of the period during which the region PA passes below the first member 21. As such, one or both of the first member 21 and the object B may be moved.

なお、第1空間SP1の外側において基板P(物体)上に残留液体が発生する又は第1空間SP1から液体LQが流出する第1部材21と基板P(物体)との相対移動条件と、残留液体の発生又は液体LQの流出が抑制される相対移動条件とに関する情報を記憶装置7に記憶させてもよい。制御装置6は、その記憶装置7の記憶情報に基づいて、基板Pの露光における第1部材21と基板P(物体)との相対移動条件を調整してもよい。駆動装置によって第1部材21が移動可能な場合、制御装置6は、その駆動装置及び駆動システム10の一方又は両方を制御して、第1部材21と基板P(物体)との相対移動条件を調整することができる。第1部材21が実質的に動かない場合、制御装置6は、駆動システム10を制御して、第1部材21に対する基板P(物体)の移動条件を調整することができる。   It should be noted that the residual liquid is generated on the substrate P (object) outside the first space SP1, or the relative movement condition between the first member 21 and the substrate P (object) from which the liquid LQ flows out of the first space SP1, and the residual Information relating to the relative movement conditions in which the generation of liquid or the outflow of liquid LQ is suppressed may be stored in the storage device 7. The control device 6 may adjust the relative movement condition between the first member 21 and the substrate P (object) in the exposure of the substrate P based on the stored information in the storage device 7. When the first member 21 is movable by the driving device, the control device 6 controls one or both of the driving device and the driving system 10 to set the relative movement condition between the first member 21 and the substrate P (object). Can be adjusted. When the 1st member 21 does not move substantially, the control apparatus 6 can control the drive system 10, and can adjust the movement conditions of the board | substrate P (object) with respect to the 1st member 21. FIG.

なお、基板Pの露光後において、第1空間SP1の外側における基板P(物体)上の残留液体又は第1空間SP1から流出した液体LQを検出装置で検出してもよい。検出装置は、基板P(物体)の上方から、第1空間SP1の外側における基板P(物体)上の残留液体又は第1空間SP1から流出した液体LQの光学像(画像)を取得可能な撮像装置(カメラ)でもよい。その検出装置の検出結果に基づいて、記憶装置7の記憶情報が更新されてもよい。   Note that, after the exposure of the substrate P, the liquid remaining on the substrate P (object) outside the first space SP1 or the liquid LQ flowing out from the first space SP1 may be detected by a detection device. The detection apparatus is capable of acquiring an optical image (image) of the liquid remaining on the substrate P (object) outside the first space SP1 or the liquid LQ flowing out of the first space SP1 from above the substrate P (object). It may be a device (camera). Based on the detection result of the detection device, the storage information of the storage device 7 may be updated.

同様に、第2空間SP2の外側において基板P(物体)上に残留液体が発生する又は第2空間SP2から液体LQが流出する第2部材22と基板P(物体)との相対移動条件と、残留液体の発生又は液体LQの流出が抑制される相対移動条件とに関する情報を記憶装置7に記憶させてもよい。制御装置6は、その記憶装置7の記憶情報に基づいて、基板Pの露光における第2部材22と基板P(物体)との相対移動条件を調整してもよい。駆動装置によって第2部材22が移動可能な場合、制御装置6は、その駆動装置及び駆動システム10の一方又は両方を制御して、第2部材22と基板P(物体)との相対移動条件を調整することができる。第2部材22が実質的に動かない場合、制御装置6は、駆動システム10を制御して、第2部材22に対する基板P(物体)の移動条件を調整することができる。   Similarly, a relative movement condition between the second member 22 where the residual liquid is generated on the substrate P (object) outside the second space SP2 or the liquid LQ flows out of the second space SP2 and the substrate P (object); Information related to the relative movement condition in which the generation of the residual liquid or the outflow of the liquid LQ is suppressed may be stored in the storage device 7. The control device 6 may adjust the relative movement condition between the second member 22 and the substrate P (object) in the exposure of the substrate P based on the stored information in the storage device 7. When the second member 22 is movable by the drive device, the control device 6 controls one or both of the drive device and the drive system 10 to set the relative movement condition between the second member 22 and the substrate P (object). Can be adjusted. When the second member 22 does not substantially move, the control device 6 can control the drive system 10 to adjust the movement condition of the substrate P (object) with respect to the second member 22.

なお、基板Pの露光後において、第2空間SP2の外側における基板P(物体)上の残留液体又は第2空間SP2から流出した液体LQを検出装置で検出してもよい。検出装置は、基板P(物体)の上方から、第2空間SP2の外側における基板P(物体)上の残留液体又は第2空間SP2から流出した液体LQの光学像(画像)を取得可能な撮像装置(カメラ)でもよい。その検出装置の検出結果に基づいて、記憶装置7の記憶情報が更新されてもよい。   Note that after the exposure of the substrate P, the liquid remaining on the substrate P (object) outside the second space SP2 or the liquid LQ flowing out from the second space SP2 may be detected by a detection device. The detection device is capable of acquiring an optical image (image) of the liquid remaining on the substrate P (object) outside the second space SP2 or the liquid LQ flowing out from the second space SP2 from above the substrate P (object). It may be a device (camera). Based on the detection result of the detection device, the storage information of the storage device 7 may be updated.

なお、上述の相対移動条件は、第1部材21(第2部材22)と基板P(物体)との相対的な移動速度及び加速度の一方又は両方を含む概念である。また、相対移動条件は、XY平面内における一方向に関する相対的な移動距離を含む。また、相対移動条件は、第1部材21(第2部材22)と基板P(物体)との相対的な移動軌跡を含む。なお、基板Pがスキャン方向への移動とスキャン方向と交差するステップ方向への移動とを繰り返しながら、基板Pの複数のショット領域Sが順次露光される場合において、上述の相対移動条件は、スキャン方向への移動速度とステップ方向への移動速度との合成速度を含む概念でもよい。   The above-mentioned relative movement condition is a concept including one or both of the relative movement speed and acceleration between the first member 21 (second member 22) and the substrate P (object). The relative movement condition includes a relative movement distance in one direction within the XY plane. The relative movement condition includes a relative movement locus between the first member 21 (second member 22) and the substrate P (object). When the plurality of shot areas S of the substrate P are sequentially exposed while the substrate P is repeatedly moved in the scan direction and in the step direction intersecting the scan direction, the above-described relative movement condition is as follows: The concept may include a combined speed of the moving speed in the direction and the moving speed in the step direction.

なお、本実施形態と、上述の第1〜第7実施形態とは、適宜組み合わせることができる。例えば、第2部材22及び物体Bの一方又は両方をZ軸方向に移動して、第2部材22と物体BとのZ軸方向に関する距離を変えながら、XY平面内における物体Bの移動条件を変えてもよい。   In addition, this embodiment and the above-mentioned 1st-7th embodiment can be combined suitably. For example, by moving one or both of the second member 22 and the object B in the Z-axis direction and changing the distance in the Z-axis direction between the second member 22 and the object B, the moving condition of the object B in the XY plane is changed. You may change it.

<第9実施形態>
次に、第9実施形態について説明する。以下の説明において、上述の実施形態と同一又は同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略若しくは省略する。
<Ninth Embodiment>
Next, a ninth embodiment will be described. In the following description, the same or equivalent components as those of the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is simplified or omitted.

図20は、本実施形態に係る第2部材22及び物体Bの動作の一例を示す。本実施形態において、制御装置6は、第2空間SP2の外側における物体B上の液体LQdが、液浸空間LS2を通過するように、第2部材22と物体BとをXY平面内において相対移動する。制御装置6は、液浸空間LS2の液体LQの一部が液浸空間LS2から分離せず、第2空間SP2の外側にはみ出すように、第2部材22と物体BとをXY平面内において相対移動する。制御装置6は、駆動システム10を制御して物体BをXY平面内において移動可能である。また、制御装置6は、駆動装置60を制御して第2部材22をXY平面内において移動可能である。   FIG. 20 shows an example of the operation of the second member 22 and the object B according to the present embodiment. In the present embodiment, the control device 6 relatively moves the second member 22 and the object B in the XY plane so that the liquid LQd on the object B outside the second space SP2 passes through the immersion space LS2. To do. The control device 6 causes the second member 22 and the object B to move relative to each other in the XY plane so that a part of the liquid LQ in the immersion space LS2 does not separate from the immersion space LS2 and protrudes outside the second space SP2. Moving. The control device 6 can move the object B in the XY plane by controlling the drive system 10. Further, the control device 6 can move the second member 22 in the XY plane by controlling the driving device 60.

これにより、液体LQdが第2空間SP2に移動しなくても、液体LQdは、液浸空間LS2に捕捉される。液浸空間LS2に捕捉された液体LQdは、液浸空間LS2の液体LQとともに、第2部材22の回収口42から回収される。したがって、物体B上に液体LQdが残留することが抑制される。   Thereby, even if the liquid LQd does not move to the second space SP2, the liquid LQd is captured in the immersion space LS2. The liquid LQd captured in the immersion space LS2 is recovered from the recovery port 42 of the second member 22 together with the liquid LQ in the immersion space LS2. Accordingly, the liquid LQd is suppressed from remaining on the object B.

また、制御装置6は、物体Bの移動条件を制御して、第2空間SP2から液体LQが流出するタイミングを制御可能である。物体Bの移動条件は、XY平面内における物体Bの移動速度を含む。物体Bの移動条件が、XY平面内における物体Bの加速度を含んでもよい。なお、制御装置6は、第2部材22の移動条件を制御して、第2空間SP2から液体LQが流出するタイミングを制御してもよい。第2部材22の移動条件は、XY平面内における第2部材22の移動速度を含む。第2部材22の移動条件が、XY平面内における第2部材22の加速度を含んでもよい。   Further, the control device 6 can control the timing at which the liquid LQ flows out of the second space SP2 by controlling the moving condition of the object B. The moving condition of the object B includes the moving speed of the object B in the XY plane. The moving condition of the object B may include the acceleration of the object B in the XY plane. Note that the control device 6 may control the moving condition of the second member 22 to control the timing at which the liquid LQ flows out of the second space SP2. The moving condition of the second member 22 includes the moving speed of the second member 22 in the XY plane. The moving condition of the second member 22 may include the acceleration of the second member 22 in the XY plane.

なお、第1部材21についても同様である。すなわち、制御装置6は、第1空間SP1の外側における物体B上の液体LQdが、液浸空間LS1を通過するように、第1部材21と物体BとをXY平面内において相対移動してもよい。制御装置6は、液浸空間LS1の液体LQの一部が液浸空間LS1から分離せず、第1空間SP1の外側にはみ出すように、第1部材21と物体BとをXY平面内において相対移動してもよい。これにより、液体LQdが第1空間SP1に移動しなくても、液体LQdは、液浸空間LS1に捕捉される。液浸空間LS1に捕捉された液体LQdは、液浸空間LS1の液体LQとともに、第1部材21の回収口32から回収される。   The same applies to the first member 21. That is, the control device 6 may move the first member 21 and the object B relative to each other in the XY plane so that the liquid LQd on the object B outside the first space SP1 passes through the immersion space LS1. Good. The control device 6 makes the first member 21 and the object B relative to each other in the XY plane so that a part of the liquid LQ in the immersion space LS1 does not separate from the immersion space LS1 and protrudes outside the first space SP1. You may move. Thereby, even if the liquid LQd does not move to the first space SP1, the liquid LQd is captured in the immersion space LS1. The liquid LQd captured in the immersion space LS1 is recovered from the recovery port 32 of the first member 21 together with the liquid LQ in the immersion space LS1.

また、図21に示すように、制御装置6は、XY平面内における物体Bの移動方向とは逆方向に第1部材21を移動することによって、第1空間SP1から液体LQが流出する位置を制御することができる。   Further, as shown in FIG. 21, the control device 6 moves the first member 21 in the direction opposite to the moving direction of the object B in the XY plane, thereby determining the position where the liquid LQ flows out from the first space SP1. Can be controlled.

また、物体Bが、例えば−Y方向に移動された後、+Y方向に移動される場合において、第1部材21が、物体Bが−Y方向への移動から+Y方向への移動へ変化する期間の少なくとも一部において−Y方向に移動することによって、第1空間SP1から液体LQが流出する位置を制御することができる。   In addition, when the object B is moved in the + Y direction after the object B is moved in the −Y direction, for example, the period when the first member 21 changes from the movement in the −Y direction to the movement in the + Y direction. The position where the liquid LQ flows out of the first space SP1 can be controlled by moving in at least a part of the first space SP1.

第1空間SP1から液体LQが流出する位置が制御されることにより、その流出される液体LQは、液浸空間LS2で捕捉可能である。また、図22に示すように、第1空間SP1から液体LQが流出する位置に、第2部材22(液浸空間LS2)が移動してもよい。   By controlling the position where the liquid LQ flows out from the first space SP1, the liquid LQ that flows out can be captured in the immersion space LS2. As shown in FIG. 22, the second member 22 (immersion space LS2) may move to a position where the liquid LQ flows out from the first space SP1.

<第10実施形態>
次に、第10実施形態について説明する。以下の説明において、上述の実施形態と同一又は同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略若しくは省略する。
<Tenth Embodiment>
Next, a tenth embodiment will be described. In the following description, the same or equivalent components as those of the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is simplified or omitted.

図23は、液浸空間LS2が基板P上及びカバー部材T1上の一方から他方へ移動するように、第2部材22に対して基板P及びカバー部材T1がXY平面内において移動する状態の一例を示す。図23(A)は、液浸空間LS2がカバー部材T1上から基板P上に移動するように、基板P及びカバー部材T1が−Y方向に移動する状態を示す。図23(B)は、液浸空間LS2が基板P上からカバー部材T1上に移動するように、基板P及びカバー部材T1が+Y方向に移動する状態を示す。   FIG. 23 shows an example of a state in which the substrate P and the cover member T1 move in the XY plane with respect to the second member 22 so that the immersion space LS2 moves from one to the other on the substrate P and the cover member T1. Indicates. FIG. 23A shows a state in which the substrate P and the cover member T1 move in the −Y direction so that the immersion space LS2 moves from the cover member T1 to the substrate P. FIG. 23B shows a state where the substrate P and the cover member T1 move in the + Y direction so that the immersion space LS2 moves from above the substrate P onto the cover member T1.

本実施形態において、液浸空間LS2がカバー部材T1上から基板P上に移動するように基板P及びカバー部材T1が移動するときの移動速度Vtは、液浸空間LS2が基板P上からカバー部材T1上に移動するように基板P及びカバー部材T1が移動するときの移動速度Vpよりも低い。   In the present embodiment, the moving speed Vt when the substrate P and the cover member T1 move so that the immersion space LS2 moves from the cover member T1 to the substrate P is such that the immersion space LS2 moves from the substrate P to the cover member. It is lower than the moving speed Vp when the substrate P and the cover member T1 move so as to move on T1.

本実施形態によれば、液浸空間LS2の液体LQが間隙Gaに流入したり、液浸空間LS2の液体LQが第2空間SP2の外側に流出したり、液体LQが基板P上及びカバー部材T1上に残留したりすることが抑制される。   According to the present embodiment, the liquid LQ in the immersion space LS2 flows into the gap Ga, the liquid LQ in the immersion space LS2 flows out of the second space SP2, or the liquid LQ is on the substrate P and the cover member. Remaining on T1 is suppressed.

<第11実施形態>
次に、第11実施形態について説明する。以下の説明において、上述の実施形態と同一又は同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略若しくは省略する。
<Eleventh embodiment>
Next, an eleventh embodiment will be described. In the following description, the same or equivalent components as those of the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is simplified or omitted.

図24は、第2部材22の下面241の一例を模式的に示す。液浸空間LS2が基板P上及びカバー部材T1上の一方から他方へ移動するように、第2部材22に対して基板P及びカバー部材T1がXY平面内において移動する。   FIG. 24 schematically illustrates an example of the lower surface 241 of the second member 22. The substrate P and the cover member T1 move in the XY plane with respect to the second member 22 so that the immersion space LS2 moves from one to the other on the substrate P and the cover member T1.

本実施形態において、下面241は、第1辺Haと、第2辺Hbと、第1辺Haと第2辺Hbとの間に設けられる角部Hkとを有する。   In the present embodiment, the lower surface 241 includes a first side Ha, a second side Hb, and a corner Hk provided between the first side Ha and the second side Hb.

液浸空間LS2が基板P上及びカバー部材T1上の一方から他方に移動するように基板P及びカバー部材T1が移動する期間の少なくとも一部において、下面241の中心241Cと角部Hkとを結ぶ仮想線が、基板Pの中心PCに対する放射方向と実質的に平行となるように、第2部材22の位置が調整される。これにより、液浸空間LS2が基板P上及びカバー部材T1上の一方から他方へ移動するように、第2部材22に対して基板P及びカバー部材T1がXY平面内において移動する場合において、液体LQが流出したり残留したりすることが抑制される。   The center 241C of the lower surface 241 and the corner portion Hk are connected in at least a part of the period in which the substrate P and the cover member T1 move so that the immersion space LS2 moves from one side to the other on the substrate P and the cover member T1. The position of the second member 22 is adjusted so that the virtual line is substantially parallel to the radial direction with respect to the center PC of the substrate P. Accordingly, when the substrate P and the cover member T1 move in the XY plane with respect to the second member 22 so that the immersion space LS2 moves from one to the other on the substrate P and the cover member T1, the liquid The LQ is prevented from flowing out or remaining.

なお、第1部材21についても同様である。すなわち、第1部材21の下面が、第1辺と、第2辺と、第1辺と第2辺との間に設けられる角部とを有する場合、液浸空間LS1が基板P上及びカバー部材T1上の一方から他方に移動するように基板P及びカバー部材T1が移動する期間の少なくとも一部において、第1部材21の下面の中心と角部とを結ぶ仮想線が、基板Pの中心に対する放射方向と実質的に平行となるように、第1部材21の位置が調整されることによって、液体LQの流出、残留などが抑制される。   The same applies to the first member 21. That is, when the lower surface of the first member 21 has a first side, a second side, and a corner provided between the first side and the second side, the immersion space LS1 is on the substrate P and the cover. An imaginary line connecting the center and the corner of the lower surface of the first member 21 is at the center of the substrate P during at least a part of the period in which the substrate P and the cover member T1 move so as to move from one to the other on the member T1. By adjusting the position of the first member 21 so as to be substantially parallel to the radial direction of the liquid, the outflow, the remaining, and the like of the liquid LQ are suppressed.

なお、上述の各実施形態における第2部材22及び物体Bの動作と、第2部材22の供給口41からの液体LQの供給量及び回収口42の吸引力の一方又は両方を変える動作とを、組み合わせることができる。例えば、制御装置6は、液浸空間LS2が形成されている状態で、第2部材22の下方において物体B(第1、第2物体B1、B2)が移動する期間の少なくとも一部において、第2部材22と物体Bとの距離を変えるとともに、第2部材22の供給口41からの液体LQの供給量及び回収口42の吸引力の一方又は両方を変えてもよい。   The operation of the second member 22 and the object B in each of the above-described embodiments and the operation of changing one or both of the supply amount of the liquid LQ from the supply port 41 of the second member 22 and the suction force of the recovery port 42 are performed. Can be combined. For example, in the state where the immersion space LS2 is formed, the control device 6 performs the first operation at least during a period in which the object B (first and second objects B1, B2) moves below the second member 22. While changing the distance between the two members 22 and the object B, one or both of the supply amount of the liquid LQ from the supply port 41 of the second member 22 and the suction force of the recovery port 42 may be changed.

また、供給口41からの液体LQの供給量及び回収口42の吸引力の一方又は両方に基づいて、Z軸方向に関する第2部材22と物体Bとの距離Wが調整されてもよい。例えば、供給口41からの液体LQの供給量が多い場合、距離Wが短くなるように調整されてもよい。供給口41からの液体LQの供給量が多い場合、距離Wが長くなるように調整されてもよい。供給口41からの液体LQの供給量が少ない場合、距離Wが短くなるように調整されてもよい。供給口41からの液体LQの供給量が少ない場合、距離Wが長くなるように調整されてもよい。なお、回収口42の吸引力が強い場合、距離Wが短くなるように調整されてもよい。回収口42の吸引力が強い場合、距離Wが長くなるように調整されてもよい。回収口42の吸引力が弱い場合、距離Wが短くなるように調整されてもよい。回収口42の吸引力が弱い場合、距離Wが長くなるように調整されてもよい。   Further, the distance W between the second member 22 and the object B in the Z-axis direction may be adjusted based on one or both of the supply amount of the liquid LQ from the supply port 41 and the suction force of the recovery port 42. For example, when the supply amount of the liquid LQ from the supply port 41 is large, the distance W may be adjusted to be short. When the supply amount of the liquid LQ from the supply port 41 is large, the distance W may be adjusted to be long. When the supply amount of the liquid LQ from the supply port 41 is small, the distance W may be adjusted to be short. When the supply amount of the liquid LQ from the supply port 41 is small, the distance W may be adjusted to be long. In addition, when the suction | attraction force of the collection port 42 is strong, you may adjust so that the distance W may become short. When the suction force of the collection port 42 is strong, the distance W may be adjusted to be long. When the suction force of the collection port 42 is weak, the distance W may be adjusted to be short. When the suction force of the recovery port 42 is weak, the distance W may be adjusted to be long.

また、供給口41からの液体LQの供給量及び回収口42の吸引力の一方又は両方に基づいて、XY平面内における物体Bの移動条件が調整されてもよい。例えば、供給口41からの液体LQの供給量が多い場合、物体Bの移動速度が高くなってもよいし、低くなってもよい。供給口41からの液体LQの供給量が少ない場合、物体Bの移動速度が高くなってもよいし、低くなってもよい。供給口41からの液体LQの供給量が多い場合、物体Bの加速度が高くなってもよいし、低くなってもよい。供給口41からの液体LQの供給量が少ない場合、物体Bの加速度が高くなってもよいし、低くなってもよい。なお、回収口42の吸引力が強い場合、物体Bの移動速度が高くなってもよいし、低くなってもよい。回収口42の吸引力が弱い場合、物体Bの移動速度が高くなってもよいし、低くなってもよい。回収口42の吸引力が強い場合、物体Bの加速度が高くなってもよいし、低くなってもよい。回収口42の吸引力が弱い場合、物体Bの加速度が高くなってもよいし、低くなってもよい。   Further, the moving condition of the object B in the XY plane may be adjusted based on one or both of the supply amount of the liquid LQ from the supply port 41 and the suction force of the recovery port 42. For example, when the supply amount of the liquid LQ from the supply port 41 is large, the moving speed of the object B may be increased or decreased. When the supply amount of the liquid LQ from the supply port 41 is small, the moving speed of the object B may be increased or decreased. When the supply amount of the liquid LQ from the supply port 41 is large, the acceleration of the object B may be increased or decreased. When the supply amount of the liquid LQ from the supply port 41 is small, the acceleration of the object B may be increased or decreased. Note that when the suction force of the collection port 42 is strong, the moving speed of the object B may be increased or decreased. When the suction force of the collection port 42 is weak, the moving speed of the object B may be increased or decreased. When the suction force of the collection port 42 is strong, the acceleration of the object B may be increased or decreased. When the suction force of the collection port 42 is weak, the acceleration of the object B may be increased or decreased.

なお、上述の各実施形態において、液浸空間LS1を形成するための液体LQと、液浸空間LS2を形成するための液体LQとは、同じ種類(物性)でもよいし、異なる種類(物性)でもよい。   In each of the above-described embodiments, the liquid LQ for forming the immersion space LS1 and the liquid LQ for forming the immersion space LS2 may be the same type (physical properties) or different types (physical properties). But you can.

なお、本実施形態において、液浸空間LS1を形成するための液体LQと、液浸空間LS2を形成するための液体LQとは、同じクリーン度でもよいし、異なるクリーン度でもよい。   In the present embodiment, the liquid LQ for forming the immersion space LS1 and the liquid LQ for forming the immersion space LS2 may have the same or different cleanliness.

なお、上述したように、制御装置6は、CPU等を含むコンピュータシステムを含む。また、制御装置6は、コンピュータシステムと外部装置との通信を実行可能なインターフェースを含む。記憶装置7は、例えばRAM等のメモリ、ハードディスク、CD−ROM等の記録媒体を含む。記憶装置7には、コンピュータシステムを制御するオペレーティングシステム(OS)がインストールされ、露光装置EXを制御するためのプログラムが記憶されている。   As described above, the control device 6 includes a computer system including a CPU and the like. The control device 6 includes an interface capable of executing communication between the computer system and an external device. The storage device 7 includes a memory such as a RAM, and a recording medium such as a hard disk and a CD-ROM. The storage device 7 is installed with an operating system (OS) that controls the computer system, and stores a program for controlling the exposure apparatus EX.

なお、制御装置6に、入力信号を入力可能な入力装置が接続されていてもよい。入力装置は、キーボード、マウス等の入力機器、あるいは外部装置からのデータを入力可能な通信装置等を含む。また、液晶表示ディスプレイ等の表示装置が設けられていてもよい。   Note that an input device capable of inputting an input signal may be connected to the control device 6. The input device includes an input device such as a keyboard and a mouse, or a communication device that can input data from an external device. Further, a display device such as a liquid crystal display may be provided.

記憶装置7に記録されているプログラムを含む各種情報は、制御装置(コンピュータシステム)6が読み取り可能である。記憶装置7には、制御装置6に、露光光が射出される光学部材の射出面と基板との間の露光光の光路に満たされた第1液体を介して露光光で基板を露光する液浸露光装置の制御を実行させるプログラムが記録されている。   Various information including programs recorded in the storage device 7 can be read by the control device (computer system) 6. In the storage device 7, a liquid that exposes the substrate with the exposure light to the control device 6 through the first liquid filled in the optical path of the exposure light between the emission surface of the optical member from which the exposure light is emitted and the substrate. A program for executing control of the immersion exposure apparatus is recorded.

記憶装置7に記録されているプログラムは、上述の実施形態に従って、制御装置6に、光学部材の射出面から射出される露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で第1液体の第1液浸空間を形成することと、光路に対して第1部材の外側に配置される第2部材で、第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、第2液浸空間が形成されている状態で、第2部材の下方において所定領域を有する物体が光学部材の光軸と交差する方向に移動する期間の少なくとも一部において、第2部材の下面と物体の上面との距離を変えることと、を実行させてもよい。   The program recorded in the storage device 7 is a first member arranged in at least a part of the periphery of the optical path of the exposure light emitted from the exit surface of the optical member according to the above-described embodiment. Forming a first liquid immersion space of one liquid and a second member disposed outside the first member with respect to the optical path, away from the first liquid immersion space, and a second liquid immersion space of the second liquid And at least part of a period in which an object having a predetermined region moves below the second member in a direction intersecting the optical axis of the optical member in a state where the second immersion space is formed, Changing the distance between the lower surface of the second member and the upper surface of the object may be executed.

また、記憶装置7に記録されているプログラムは、上述の実施形態に従って、制御装置6に、光学部材の射出面から射出される露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で第1液体の第1液浸空間を形成することと、光路に対して第1部材の外側に配置される第2部材で、第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、第2液浸空間が形成されている状態で、第2部材の下方において物体が光学部材の光軸と交差する方向に移動する期間の少なくとも一部における物体の移動条件に基づいて、第2部材の下面と物体の上面との距離を変えることと、を実行させてもよい。   In addition, the program recorded in the storage device 7 is a first member arranged in at least a part of the periphery of the optical path of the exposure light emitted from the exit surface of the optical member in the control device 6 according to the above-described embodiment. Forming a first immersion space for the first liquid, and a second member disposed outside the first member with respect to the optical path, and away from the first immersion space to separate the second liquid of the second liquid. The movement of the object in at least part of the period in which the object moves in the direction intersecting the optical axis of the optical member below the second member in the state in which the immersion space is formed and the second immersion space is formed. The distance between the lower surface of the second member and the upper surface of the object may be changed based on the condition.

また、記憶装置7に記録されているプログラムは、上述の実施形態に従って、制御装置6に、光学部材の射出面から射出される露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で第1液体の第1液浸空間を形成することと、光路に対して第1部材の外側に配置される第2部材で、第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、第2液浸空間が第1物体上及び間隙を介して第1物体に隣接する第2物体上の一方から他方へ移動するように、第2部材と第1、第2物体とを光学部材の光軸と実質的に垂直な所定面内において相対移動させることと、第2液浸空間が第1物体上及び第2物体上の一方から他方へ移動する期間の少なくとも一部において、光軸と実質的に平行な方向に関する第2部材の下面と第1物体の上面との距離、及び第2部材の下面と第2物体の上面との距離の一方又は両方を変えることと、を実行させてもよい。   In addition, the program recorded in the storage device 7 is a first member arranged in at least a part of the periphery of the optical path of the exposure light emitted from the exit surface of the optical member in the control device 6 according to the above-described embodiment. Forming a first immersion space for the first liquid, and a second member disposed outside the first member with respect to the optical path, and away from the first immersion space to separate the second liquid of the second liquid. Forming the immersion space; and moving the second member and the first member so that the second immersion space moves from one to the other on the first object and on the second object adjacent to the first object via the gap. A relative movement of the second object in a predetermined plane substantially perpendicular to the optical axis of the optical member, and a period in which the second immersion space moves from one to the other on the first object and the second object. At least in part, the lower surface of the second member and the first object in a direction substantially parallel to the optical axis Distance between the upper surface of, and the lower surface of the second member and changing one or both of the distance between the upper surface of the second object may be allowed to run.

また、記憶装置7に記録されているプログラムは、上述の実施形態に従って、制御装置6に、光学部材の射出面から射出される露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で第1液体の第1液浸空間を形成することと、光路に対して第1部材の外側に配置される第2部材で、第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、第2液浸空間が形成されている状態で、第2部材の下方において物体が光学部材の光軸と交差する方向に等速移動する期間と非等速移動する期間とで、光学部材の光軸と実質的に平行な方向に関する第2部材の移動量及び物体の移動量の一方又は両方を変えることと、を実行させてもよい。   In addition, the program recorded in the storage device 7 is a first member arranged in at least a part of the periphery of the optical path of the exposure light emitted from the exit surface of the optical member in the control device 6 according to the above-described embodiment. Forming a first immersion space for the first liquid, and a second member disposed outside the first member with respect to the optical path, and away from the first immersion space to separate the second liquid of the second liquid. In the state where the immersion space is formed and the second immersion space is formed, the object moves at a constant speed in the direction of crossing the optical axis of the optical member below the second member and at a non-constant speed. The period may change one or both of the movement amount of the second member and the movement amount of the object in a direction substantially parallel to the optical axis of the optical member.

また、記憶装置7に記録されているプログラムは、上述の実施形態に従って、制御装置6に、光学部材の射出面から射出される露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で第1液体の第1液浸空間を形成することと、光路に対して第1部材の外側に配置される第2部材で、第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、第2液浸空間が形成されている状態で、基板の複数のショット領域を第1液浸空間の第1液体を介して露光光で順次露光することと、学部材の光軸と実質的に平行な方向に関する第2部材の移動量及び物体の移動量の一方又は両方を、複数のショット領域のうち第1ショット領域の露光が行われる露光期間と、第1ショット領域の露光終了後、次に露光される第2ショット領域の露光が開始されるまでの非露光期間とで変えることと、を実行させてもよい。   In addition, the program recorded in the storage device 7 is a first member arranged in at least a part of the periphery of the optical path of the exposure light emitted from the exit surface of the optical member in the control device 6 according to the above-described embodiment. Forming a first immersion space for the first liquid, and a second member disposed outside the first member with respect to the optical path, and away from the first immersion space to separate the second liquid of the second liquid. Forming an immersion space, sequentially exposing a plurality of shot regions of the substrate with exposure light through the first liquid in the first immersion space in a state where the second immersion space is formed, One or both of the movement amount of the second member and the movement amount of the object in a direction substantially parallel to the optical axis of the material is defined as an exposure period in which exposure of the first shot area is performed among the plurality of shot areas, After the exposure of the shot area, the exposure of the second shot area to be exposed next There a changing in the non-exposure period until the start, may be executed.

また、記憶装置7に記録されているプログラムは、上述の実施形態に従って、制御装置6に、光学部材の射出面から射出される露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で第1液体の第1液浸空間を形成することと、光路に対して第1部材の外側に配置される第2部材で、第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、第2液浸空間が形成されている状態で、第2部材の下方において所定領域を有する物体を光学部材の光軸と交差する所定面内において移動させることと、物体が移動する期間の少なくとも一部において、所定面内における物体の移動条件を変えることと、を実行させてもよい。   In addition, the program recorded in the storage device 7 is a first member arranged in at least a part of the periphery of the optical path of the exposure light emitted from the exit surface of the optical member in the control device 6 according to the above-described embodiment. Forming a first immersion space for the first liquid, and a second member disposed outside the first member with respect to the optical path, and away from the first immersion space to separate the second liquid of the second liquid. Forming an immersion space, and moving an object having a predetermined region below the second member in a predetermined plane intersecting the optical axis of the optical member in a state where the second immersion space is formed; Changing the moving condition of the object in the predetermined plane may be executed in at least a part of the period during which the object moves.

記憶装置7に記憶されているプログラムが制御装置6に読み込まれることにより、基板ステージ2、計測ステージ3、及び液浸部材5等、露光装置EXの各種の装置が協働して、液浸空間が形成された状態で、基板Pの液浸露光等、各種の処理を実行する。   When the program stored in the storage device 7 is read into the control device 6, various devices of the exposure apparatus EX such as the substrate stage 2, the measurement stage 3, and the liquid immersion member 5 cooperate to form a liquid immersion space. In the state where is formed, various processes such as immersion exposure of the substrate P are executed.

なお、上述の各実施形態においては、投影光学系PLの終端光学素子13の射出面12側(像面側)の光路Kが液体LQで満たされているが、投影光学系PLが、例えば国際公開第2004/019128号に開示されているような、終端光学素子13の入射側(物体面側)の光路も液体LQで満たされる投影光学系でもよい。   In each of the above-described embodiments, the optical path K on the exit surface 12 side (image surface side) of the terminal optical element 13 of the projection optical system PL is filled with the liquid LQ. As disclosed in Japanese Patent Publication No. 2004/019128, the optical path on the incident side (object surface side) of the last optical element 13 may be a projection optical system filled with the liquid LQ.

なお、上述の各実施形態においては、液体LQが水であることとしたが、水以外の液体でもよい。液体LQは、露光光ELに対して透過性であり、露光光ELに対して高い屈折率を有し、投影光学系PLあるいは基板Pの表面を形成する感光材(フォトレジスト)等の膜に対して安定なものが好ましい。例えば、液体LQが、ハイドロフロロエーテル(HFE)、過フッ化ポリエーテル(PFPE)、フォンブリンオイル等のフッ素系液体でもよい。また、液体LQが、種々の流体、例えば、超臨界流体でもよい。   In each of the above-described embodiments, the liquid LQ is water, but a liquid other than water may be used. The liquid LQ is transmissive to the exposure light EL, has a high refractive index with respect to the exposure light EL, and forms a film such as a photosensitive material (photoresist) that forms the surface of the projection optical system PL or the substrate P. A stable material is preferred. For example, the liquid LQ may be a fluorinated liquid such as hydrofluoroether (HFE), perfluorinated polyether (PFPE), or fomblin oil. Further, the liquid LQ may be various fluids such as a supercritical fluid.

なお、上述の各実施形態においては、基板Pが、半導体デバイス製造用の半導体ウエハを含むこととしたが、例えばディスプレイデバイス用のガラス基板、薄膜磁気ヘッド用のセラミックウエハ、あるいは露光装置で用いられるマスクまたはレチクルの原版(合成石英、シリコンウエハ)等を含んでもよい。   In each of the above-described embodiments, the substrate P includes a semiconductor wafer for manufacturing a semiconductor device. For example, the substrate P is used in a glass substrate for a display device, a ceramic wafer for a thin film magnetic head, or an exposure apparatus. A mask or reticle master (synthetic quartz, silicon wafer) or the like may also be included.

なお、上述の各実施形態においては、露光装置EXが、マスクMと基板Pとを同期移動してマスクMのパターンを走査露光するステップ・アンド・スキャン方式の走査型露光装置(スキャニングステッパ)であることとしたが、例えばマスクMと基板Pとを静止した状態でマスクMのパターンを一括露光し、基板Pを順次ステップ移動させるステップ・アンド・リピート方式の投影露光装置(ステッパ)でもよい。   In each of the above-described embodiments, the exposure apparatus EX is a step-and-scan type scanning exposure apparatus (scanning stepper) that scans and exposes the pattern of the mask M by moving the mask M and the substrate P synchronously. However, for example, a step-and-repeat projection exposure apparatus (stepper) that performs batch exposure of the pattern of the mask M while the mask M and the substrate P are stationary and sequentially moves the substrate P stepwise may be used.

また、露光装置EXが、ステップ・アンド・リピート方式の露光において、第1パターンと基板Pとをほぼ静止した状態で、投影光学系を用いて第1パターンの縮小像を基板P上に転写した後、第2パターンと基板Pとをほぼ静止した状態で、投影光学系を用いて第2パターンの縮小像を第1パターンと部分的に重ねて基板P上に一括露光する露光装置(スティッチ方式の一括露光装置)でもよい。また、スティッチ方式の露光装置が、基板P上で少なくとも2つのパターンを部分的に重ねて転写し、基板Pを順次移動させるステップ・アンド・スティッチ方式の露光装置でもよい。   In addition, the exposure apparatus EX transfers a reduced image of the first pattern onto the substrate P using the projection optical system while the first pattern and the substrate P are substantially stationary in the step-and-repeat exposure. Thereafter, with the second pattern and the substrate P substantially stationary, an exposure apparatus (stitch method) that collectively exposes a reduced image of the second pattern on the substrate P by partially overlapping the first pattern using a projection optical system. (Batch exposure apparatus). Further, the stitch type exposure apparatus may be a step-and-stitch type exposure apparatus in which at least two patterns are partially overlapped and transferred on the substrate P, and the substrate P is sequentially moved.

また、露光装置EXが、例えば米国特許第6611316号に開示されているような、2つのマスクのパターンを、投影光学系を介して基板上で合成し、1回の走査露光によって基板上の1つのショット領域をほぼ同時に二重露光する露光装置でもよい。また、露光装置EXが、プロキシミティ方式の露光装置、ミラープロジェクション・アライナー等でもよい。   Further, the exposure apparatus EX combines two mask patterns as disclosed in, for example, US Pat. No. 6,611,316 on the substrate via the projection optical system, and 1 on the substrate by one scanning exposure. An exposure apparatus that double-exposes two shot areas almost simultaneously may be used. Further, the exposure apparatus EX may be a proximity type exposure apparatus, a mirror projection aligner, or the like.

また、上述の各実施形態において、露光装置EXが、米国特許第6341007号、米国特許第6208407号、米国特許第6262796号等に開示されているような、複数の基板ステージを備えたツインステージ型の露光装置でもよい。例えば、図25に示すように、露光装置EXが2つの基板ステージ2001、2002を備えている場合、射出面12と対向するように配置可能な物体は、一方の基板ステージ、その一方の基板ステージの第1保持部に保持された基板、他方の基板ステージ、及びその他方の基板ステージの第1保持部に保持された基板の少なくとも一つを含む。   In each of the embodiments described above, the exposure apparatus EX is a twin stage type having a plurality of substrate stages as disclosed in US Pat. No. 6,341,007, US Pat. No. 6,208,407, US Pat. No. 6,262,796 and the like. The exposure apparatus may be used. For example, as shown in FIG. 25, when the exposure apparatus EX includes two substrate stages 2001 and 2002, an object that can be arranged to face the emission surface 12 is one substrate stage and one substrate stage. At least one of the substrate held by the first holding unit, the other substrate stage, and the substrate held by the first holding unit of the other substrate stage.

また、露光装置EXが、複数の基板ステージと計測ステージとを備えた露光装置でもよい。   The exposure apparatus EX may be an exposure apparatus that includes a plurality of substrate stages and measurement stages.

なお、露光装置EXが、基板Pに半導体素子パターンを露光する半導体素子製造用の露光装置でもよいし、液晶表示素子製造用又はディスプレイ製造用の露光装置でもよいし、薄膜磁気ヘッド、撮像素子(CCD)、マイクロマシン、MEMS、DNAチップ、あるいはレチクル又はマスクなどを製造するための露光装置でもよい。   The exposure apparatus EX may be an exposure apparatus for manufacturing a semiconductor element that exposes a semiconductor element pattern on the substrate P, an exposure apparatus for manufacturing a liquid crystal display element or a display, a thin film magnetic head, an imaging element ( CCD), micromachine, MEMS, DNA chip, or an exposure apparatus for manufacturing a reticle or mask.

なお、上述の実施形態においては、光透過性の基板上に所定の遮光パターン(又は位相パターン・減光パターン)を形成した光透過型マスクを用いたが、このマスクに代えて、例えば米国特許第6778257号に開示されているような、露光すべきパターンの電子データに基づいて透過パターン又は反射パターン、あるいは発光パターンを形成する可変成形マスク(電子マスク、アクティブマスク、あるいはイメージジェネレータとも呼ばれる)を用いてもよい。また、非発光型画像表示素子を備える可変成形マスクに代えて、自発光型画像表示素子を含むパターン形成装置を備えるようにしてもよい。 In the above-described embodiment, a light-transmitting mask in which a predetermined light-shielding pattern (or phase pattern / dimming pattern) is formed on a light-transmitting substrate is used. A variable shaped mask (also called an electronic mask, an active mask, or an image generator) that forms a transmission pattern, a reflection pattern, or a light emission pattern based on electronic data of a pattern to be exposed, as disclosed in No. 6778257 It may be used. Further, a pattern forming apparatus including a self-luminous image display element may be provided instead of the variable molding mask including the non-luminous image display element.

上述の各実施形態においては、露光装置EXが投影光学系PLを備えることとしたが、投影光学系PLを用いない露光装置及び露光方法に、上述の各実施形態で説明した構成要素を適用してもよい。例えば、レンズ等の光学部材と基板との間に液浸空間を形成し、その光学部材を介して、基板に露光光を照射する露光装置及び露光方法に、上述の各実施形態で説明した構成要素を適用してもよい。   In each of the above embodiments, the exposure apparatus EX includes the projection optical system PL. However, the components described in the above embodiments are applied to an exposure apparatus and an exposure method that do not use the projection optical system PL. May be. For example, an exposure apparatus and an exposure method for forming an immersion space between an optical member such as a lens and a substrate and irradiating the substrate with exposure light via the optical member are described in the above embodiments. Elements may be applied.

また、露光装置EXが、例えば国際公開第2001/035168号に開示されているような、干渉縞を基板P上に形成することによって基板P上にライン・アンド・スペースパターンを露光する露光装置(リソグラフィシステム)でもよい。   The exposure apparatus EX exposes a line and space pattern on the substrate P by forming interference fringes on the substrate P as disclosed in, for example, International Publication No. 2001/035168. A lithography system).

上述の実施形態の露光装置EXは、上述の各構成要素を含む各種サブシステムを、所定の機械的精度、電気的精度、光学的精度を保つように、組み立てることで製造される。これら各種精度を確保するために、この組み立ての前後には、各種光学系については光学的精度を達成するための調整、各種機械系については機械的精度を達成するための調整、各種電気系については電気的精度を達成するための調整が行われる。各種サブシステムから露光装置への組み立て工程は、各種サブシステム相互の、機械的接続、電気回路の配線接続、気圧回路の配管接続等が含まれる。この各種サブシステムから露光装置への組み立て工程の前に、各サブシステム個々の組み立て工程があることはいうまでもない。各種サブシステムの露光装置への組み立て工程が終了した後、総合調整が行われ、露光装置全体としての各種精度が確保される。なお、露光装置の製造は温度及びクリーン度等が管理されたクリーンルームで行うことが望ましい。   The exposure apparatus EX of the above-described embodiment is manufactured by assembling various subsystems including the above-described components so as to maintain predetermined mechanical accuracy, electrical accuracy, and optical accuracy. In order to ensure these various accuracies, before and after assembly, various optical systems are adjusted to achieve optical accuracy, various mechanical systems are adjusted to achieve mechanical accuracy, and various electrical systems are Adjustments are made to achieve electrical accuracy. The assembly process from the various subsystems to the exposure apparatus includes mechanical connection, electrical circuit wiring connection, pneumatic circuit piping connection and the like between the various subsystems. Needless to say, there is an assembly process for each subsystem before the assembly process from the various subsystems to the exposure apparatus. After the assembly process of the various subsystems to the exposure apparatus is completed, comprehensive adjustment is performed to ensure various accuracies as the entire exposure apparatus. The exposure apparatus is preferably manufactured in a clean room where the temperature, cleanliness, etc. are controlled.

半導体デバイス等のマイクロデバイスは、図26に示すように、マイクロデバイスの機能・性能設計を行うステップ201、この設計ステップに基づいたマスク(レチクル)を製作するステップ202、デバイスの基材である基板を製造するステップ203、上述の実施形態に従って、マスクのパターンからの露光光で基板を露光すること、及び露光された基板を現像することを含む基板処理(露光処理)を含む基板処理ステップ204、デバイス組み立てステップ(ダイシング工程、ボンディング工程、パッケージ工程などの加工プロセスを含む)205、検査ステップ206等を経て製造される。   As shown in FIG. 26, a microdevice such as a semiconductor device includes a step 201 for performing a function / performance design of the microdevice, a step 202 for manufacturing a mask (reticle) based on the design step, and a substrate as a base material of the device. Substrate processing step 204, including substrate processing (exposure processing) including exposing the substrate with exposure light from the pattern of the mask and developing the exposed substrate according to the above-described embodiment, It is manufactured through a device assembly step (including processing processes such as a dicing process, a bonding process, and a packaging process) 205, an inspection step 206, and the like.

なお、上述の各実施形態の要件は、適宜組み合わせることができる。また、一部の構成要素を用いない場合もある。また、法令で許容される限りにおいて、上述の各実施形態及び変形例で引用した露光装置等に関する全ての公開公報及び米国特許の開示を援用して本文の記載の一部とする。   Note that the requirements of the above-described embodiments can be combined as appropriate. Some components may not be used. In addition, as long as permitted by law, the disclosure of all published publications and US patents related to the exposure apparatus and the like cited in the above embodiments and modifications are incorporated herein by reference.

2…基板ステージ、3…計測ステージ、5…液浸部材、6…制御装置、7…記憶装置、12…射出面、13…終端光学素子、21…第1部材、22…第2部材、EL…露光光、EX…露光装置、IL…照明系、K…光路、LQ…液体、LS1…液浸空間、LS2…液浸空間、P…基板、S…ショット領域、SP1…第1空間、SP2…第2空間。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 2 ... Substrate stage, 3 ... Measurement stage, 5 ... Liquid immersion member, 6 ... Control apparatus, 7 ... Memory | storage device, 12 ... Ejection surface, 13 ... Terminal optical element, 21 ... 1st member, 22 ... 2nd member, EL ... exposure light, EX ... exposure device, IL ... illumination system, K ... optical path, LQ ... liquid, LS1 ... immersion space, LS2 ... immersion space, P ... substrate, S ... shot region, SP1 ... first space, SP2 ... second space.

Claims (85)

第1液浸空間の第1液体を介して露光光で基板を露光する露光装置であって、
前記露光光が射出される射出面を有する光学部材と、
前記露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置され、前記第1液体の前記第1液浸空間を形成する第1部材と、
前記光路に対して前記第1部材の外側に配置され、前記第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成可能な第2部材と、を備える露光装置。
An exposure apparatus that exposes a substrate with exposure light through a first liquid in a first immersion space,
An optical member having an exit surface from which the exposure light is emitted;
A first member that is disposed at least in part around the optical path of the exposure light and that forms the first immersion space of the first liquid;
An exposure apparatus comprising: a second member that is disposed outside the first member with respect to the optical path, and is capable of forming a second immersion space for the second liquid away from the first immersion space.
前記第2液浸空間が形成されている状態で、前記第2部材の下方において所定領域を有する物体が前記光学部材の光軸と交差する方向に移動され、
前記物体が移動する期間の少なくとも一部において、前記第2部材の下面と前記物体の上面との距離を変える調整装置を備える請求項1に記載の露光装置。
In a state where the second immersion space is formed, an object having a predetermined region below the second member is moved in a direction intersecting the optical axis of the optical member,
The exposure apparatus according to claim 1, further comprising an adjustment device that changes a distance between a lower surface of the second member and an upper surface of the object during at least a part of a period during which the object moves.
前記所定領域は、前記物体が有する間隙を含む請求項2に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 2, wherein the predetermined area includes a gap of the object. 前記所定領域は、前記所定領域の外側の領域よりも液体に対して親液性である請求項2又は3に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 2, wherein the predetermined area is more lyophilic with respect to the liquid than an area outside the predetermined area. 前記所定領域は、段差部を含む請求項2〜4のいずれか一項に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 2, wherein the predetermined area includes a step portion. 前記所定領域は、前記所定領域の外側の領域よりも、前記第1、第2液浸空間の通過後において液体が残留する可能性が高い領域である請求項2〜5のいずれか一項に記載の露光装置。   The said predetermined area | region is an area | region where possibility that a liquid will remain after passing the said 1st, 2nd immersion space is higher than the area | region outside the said predetermined area | region. The exposure apparatus described. 前記第2部材と前記所定領域との間の前記第2空間からの液体の流出が発生する可能性が、前記第2部材と前記所定領域の外側の領域との間の前記第2空間からの液体の流出が発生する可能性よりも高い請求項2〜6のいずれか一項に記載の露光装置。   There is a possibility that the outflow of liquid from the second space between the second member and the predetermined region may occur from the second space between the second member and a region outside the predetermined region. The exposure apparatus according to any one of claims 2 to 6, wherein the exposure apparatus is higher than the possibility of occurrence of liquid outflow. 前記調整装置は、前記第2部材と前記所定領域との距離を、前記第2部材と前記所定領域の外側の領域との距離よりも短くする請求項2〜7のいずれか一項に記載の露光装置。   8. The adjustment device according to claim 2, wherein a distance between the second member and the predetermined region is shorter than a distance between the second member and a region outside the predetermined region. Exposure device. 前記第2液浸空間が形成されている状態で、前記第2部材の下方において物体が前記光学部材の光軸と交差する方向に移動され、
前記物体の移動条件に基づいて、前記第2部材の下面と前記物体の上面との距離を変える調整装置を備える請求項1に記載の露光装置。
In a state where the second immersion space is formed, an object is moved below the second member in a direction intersecting the optical axis of the optical member,
The exposure apparatus according to claim 1, further comprising: an adjustment device that changes a distance between a lower surface of the second member and an upper surface of the object based on a moving condition of the object.
前記移動条件は、前記物体の速度を含む請求項9に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 9, wherein the movement condition includes a speed of the object. 前記物体が第1速度で移動する状態において、前記第2部材の下面と前記物体の上面とが第1距離に調整され、
前記物体が前記第1速度よりも高い第2速度で移動する状態において、前記第2部材の下面と前記物体の上面とが第1距離よりも短い第2距離に調整され請求項10に記載の露光装置。
In a state where the object moves at a first speed, the lower surface of the second member and the upper surface of the object are adjusted to a first distance,
The state according to claim 10, wherein the lower surface of the second member and the upper surface of the object are adjusted to a second distance shorter than the first distance in a state where the object moves at a second speed higher than the first speed. Exposure device.
前記移動条件は、前記物体の加速度を含む請求項9〜11のいずれか一項に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 9, wherein the movement condition includes an acceleration of the object. 前記物体が第1加速度で移動する状態において、前記第2部材の下面と前記物体の上面とが第1距離に調整され、
前記物体が前記第1加速度よりも高い第2加速度で移動する状態において、前記第2部材の下面と前記物体の上面が第1距離よりも短い第2距離に調整される請求項12に記載の露光装置。
In a state where the object moves at a first acceleration, the lower surface of the second member and the upper surface of the object are adjusted to a first distance,
The state according to claim 12, wherein the lower surface of the second member and the upper surface of the object are adjusted to a second distance shorter than the first distance in a state where the object moves at a second acceleration higher than the first acceleration. Exposure device.
前記移動条件は、前記光学部材の光軸と交差する面内における前記物体の移動軌跡を含む請求項9〜13のいずれか一項に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 9, wherein the movement condition includes a movement locus of the object in a plane intersecting with an optical axis of the optical member. 前記移動軌跡は、直線の第1移動軌跡と、曲線を含む第2移動軌跡とを含み、
前記第2移動軌跡における前記第2部材の下面と前記物体の上面との距離は、前記第1移動軌跡における前記第2部材の下面と前記物体の上面との距離よりも短い請求項14に記載の露光装置。
The movement locus includes a linear first movement locus and a second movement locus including a curve,
The distance between the lower surface of the second member and the upper surface of the object in the second movement locus is shorter than the distance between the lower surface of the second member and the upper surface of the object in the first movement locus. Exposure equipment.
前記移動軌跡は、第1移動軌跡と、前記物体の移動によって前記第2空間から液体が流出する可能性が高い第2移動軌跡とを含み、
前記第2移動軌跡における前記第2部材の下面と前記物体の上面との距離は、前記第1移動軌跡における前記第2部材の下面と前記物体の上面との距離よりも短い請求項14又は15に記載の露光装置。
The movement trajectory includes a first movement trajectory and a second movement trajectory that is likely to cause liquid to flow out of the second space due to the movement of the object.
The distance between the lower surface of the second member and the upper surface of the object in the second movement locus is shorter than the distance between the lower surface of the second member and the upper surface of the object in the first movement locus. The exposure apparatus described in 1.
前記物体は、第1物体と、間隙を介して前記第1物体に隣接する第2物体と、を含み、
前記第2液浸空間が前記第1物体上及び前記第2物体上の一方から他方へ移動するように、前記第2部材と前記第1、第2物体とが前記光学部材の光軸と実質的に垂直な所定面内において相対移動され、
前記第2液浸空間が前記第1物体上及び前記第2物体上の一方から他方へ移動する期間の少なくとも一部において、前記光軸と実質的に平行な方向に関する前記第2部材の下面と前記第1物体の上面との距離、及び前記第2部材の下面と前記第2物体の上面との距離の一方又は両方を変える調整装置を備える請求項1に記載の露光装置。
The object includes a first object and a second object adjacent to the first object through a gap;
The second member and the first and second objects are substantially aligned with the optical axis of the optical member so that the second immersion space moves from one side to the other on the first object and the second object. Relative movement within a predetermined vertical plane,
A lower surface of the second member in a direction substantially parallel to the optical axis in at least a part of a period in which the second immersion space moves from one to the other on the first object and the second object; The exposure apparatus according to claim 1, further comprising: an adjustment device that changes one or both of a distance between the upper surface of the first object and a distance between the lower surface of the second member and the upper surface of the second object.
前記第2液浸空間の全部が前記第1物体上又は前記第2物体上に形成されている第1状態と、前記第2液浸空間が前記間隙上に形成されている第2状態とで、前記第2部材の下面と前記第1物体の上面との距離が異なる請求項17に記載の露光装置。   A first state in which the entire second immersion space is formed on the first object or the second object, and a second state in which the second immersion space is formed on the gap. The exposure apparatus according to claim 17, wherein a distance between a lower surface of the second member and an upper surface of the first object is different. 前記第2液浸空間の全部が前記第1物体上又は前記第2物体上に形成されている第1状態と、前記第2液浸空間が前記間隙上に形成されている第2状態とで、前記第2部材の下面と前記第2物体の上面との距離が異なる請求項17又は18に記載の露光装置。   A first state in which the entire second immersion space is formed on the first object or the second object, and a second state in which the second immersion space is formed on the gap. The exposure apparatus according to claim 17 or 18, wherein a distance between a lower surface of the second member and an upper surface of the second object is different. 前記第1物体と前記第2物体との間に段差部を有する請求項17〜19のいずれか一項に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to any one of claims 17 to 19, further comprising a step portion between the first object and the second object. 前記第1物体は、前記基板を含み、前記第2物体は、前記基板の周囲に配置される部材を含む請求項17〜20のいずれか一項に記載の露光装置。   21. The exposure apparatus according to any one of claims 17 to 20, wherein the first object includes the substrate, and the second object includes a member disposed around the substrate. 前記調整装置は、前記第1物体の上面の高さと前記第2物体の上面の高さとの差に基づいて、前記光軸と実質的に平行な方向に関する前記第2部材、前記第1物体、及び前記第2物体の少なくとも一つの移動量を定める請求項17〜21のいずれか一項に記載の露光装置。   The adjusting device includes: a second member in a direction substantially parallel to the optical axis based on a difference between a height of the upper surface of the first object and a height of the upper surface of the second object; The exposure apparatus according to any one of claims 17 to 21, wherein at least one movement amount of the second object is determined. 前記調整装置は、前記第2部材の下面と前記第1物体の上面との距離と、前記第2部材の下面と前記第2物体の上面との距離との差が小さくなるように、前記光軸と実質的に平行な方向に前記第2部材、前記第1物体、及び前記第2物体の少なくとも一つを移動する請求項17〜22のいずれか一項に記載の露光装置。   The adjusting device is configured to reduce the difference between the distance between the lower surface of the second member and the upper surface of the first object and the distance between the lower surface of the second member and the upper surface of the second object. The exposure apparatus according to any one of claims 17 to 22, wherein at least one of the second member, the first object, and the second object is moved in a direction substantially parallel to an axis. 前記調整装置は、前記所定面内における前記物体の位置に基づいて、前記第2部材、前記第1物体、及び前記第2物体の少なくとも一つを移動する請求項17〜23のいずれか一項に記載の露光装置。   The adjustment device moves at least one of the second member, the first object, and the second object based on a position of the object in the predetermined plane. The exposure apparatus described in 1. 前記所定面内における前記物体の位置は、前記第1物体と前記第2物体との段差部の位置を含む請求項24に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 24, wherein the position of the object in the predetermined plane includes a position of a step portion between the first object and the second object. 前記段差部の位置、及び前記第1物体の上面の高さと前記第2物体の上面の高さとの差に関する情報を記憶する記憶装置と、
前記物体の位置を計測する計測装置と、を備え、
前記調整装置は、前記記憶装置の記憶情報及び前記計測装置の計測結果に基づいて、前記第2部材、前記第1物体、及び前記第2物体の少なくとも一つを移動する請求項17〜25のいずれか一項に記載の露光装置。
A storage device that stores information regarding a position of the stepped portion and a difference between a height of the upper surface of the first object and a height of the upper surface of the second object;
A measuring device for measuring the position of the object,
The adjustment device moves at least one of the second member, the first object, and the second object based on information stored in the storage device and a measurement result of the measurement device. The exposure apparatus according to any one of the above.
前記基板を保持して移動可能な基板ステージを備え、
前記第1物体の上面は、前記基板ステージに保持された前記基板の上面を含み、
前記第2物体の上面は、前記基板の上面の周囲に配置される前記基板ステージの上面を含み、
前記第1物体の上面の高さと前記第2物体の上面の高さとの差に関する情報は、前記基板の厚みに関する情報を含む請求項26に記載の露光装置。
Comprising a substrate stage movable while holding the substrate;
The upper surface of the first object includes the upper surface of the substrate held on the substrate stage,
The upper surface of the second object includes the upper surface of the substrate stage disposed around the upper surface of the substrate,
27. The exposure apparatus according to claim 26, wherein the information related to the difference between the height of the upper surface of the first object and the height of the upper surface of the second object includes information related to the thickness of the substrate.
前記第2液浸空間の前記第2液体の圧力を検出する圧力センサを備え、
前記調整装置は、前記圧力センサの検出結果に基づいて、前記第2部材、前記第1物体、及び前記第2物体の少なくとも一つを移動する請求項2〜27のいずれか一項に記載の露光装置。
A pressure sensor for detecting the pressure of the second liquid in the second immersion space;
28. The adjustment device according to claim 2, wherein the adjustment device moves at least one of the second member, the first object, and the second object based on a detection result of the pressure sensor. Exposure device.
前記第2液浸空間が形成されている状態で、前記第2部材の下方において前記物体が前記光学部材の光軸と交差する方向に等速移動及び非等速移動され、
前記物体が等速移動する期間及び非等速移動する期間において、前記第2部材及び前記物体は、前記光学部材の光軸と実質的に平行な方向に移動可能であり、
前記光学部材の光軸と実質的に平行な方向に関する前記第2部材の移動量及び前記物体の移動量の一方又は両方を、前記物体が前記等速移動する期間と前記非等速移動する期間とで変える調整装置を備える請求項1に記載の露光装置。
In a state where the second immersion space is formed, the object is moved at a constant speed and a non-constant speed in a direction crossing the optical axis of the optical member below the second member,
In the period in which the object moves at a constant speed and the period in which the object moves at a non-constant speed, the second member and the object are movable in a direction substantially parallel to the optical axis of the optical member,
A period during which the object moves at the constant speed and a period during which the object moves at a non-constant speed, according to one or both of the movement amount of the second member and the movement amount of the object in a direction substantially parallel to the optical axis of the optical member. The exposure apparatus according to claim 1, further comprising an adjusting device that changes between the two.
前記調整装置は、前記物体が等速移動する期間及び非等速移動する期間において、前記光学部材の光軸と実質的に平行な方向に前記第2部材及び前記物体の一方又は両方を移動可能であり、
前記等速移動する期間における前記第2部材及び前記物体の速度は、前記非等速移動する期間における前記速度よりも低い請求項28に記載の露光装置。
The adjusting device is capable of moving one or both of the second member and the object in a direction substantially parallel to the optical axis of the optical member during a period in which the object moves at a constant speed and a period in which the object moves at a non-constant speed. And
29. The exposure apparatus according to claim 28, wherein speeds of the second member and the object during the period of the constant speed movement are lower than the speeds during the period of the non-constant speed movement.
前記調整装置は、前記物体が等速移動する期間及び非等速移動する期間において、前記光学部材の光軸と実質的に平行な方向に前記第2部材及び前記物体の一方又は両方を移動可能であり、
前記等速移動する期間における前記第2部材及び前記物体の加速度は、前記非等速移動する期間における前記加速度よりも低い請求項29又は30に記載の露光装置。
The adjusting device is capable of moving one or both of the second member and the object in a direction substantially parallel to the optical axis of the optical member during a period in which the object moves at a constant speed and a period in which the object moves at a non-constant speed. And
31. The exposure apparatus according to claim 29, wherein accelerations of the second member and the object during the period of constant speed movement are lower than the accelerations during the period of non-constant speed movement.
前記第2液浸空間が形成されている状態で、前記基板の複数のショット領域が前記第1液浸空間の前記第1液体を介して前記露光光で順次露光され、
前記複数のショット領域のうち第1ショット領域の露光が行われる露光期間、及び前記第1ショット領域の露光終了後、次に露光される第2ショット領域の露光が開始されるまでの非露光期間において、前記第2部材及び前記物体は、前記光学部材の光軸と実質的に平行な方向に移動可能であり、
前記光学部材の光軸と実質的に平行な方向に関する前記第2部材の移動量及び前記物体の移動量の一方又は両方を、前記露光期間と、前記非露光期間とで変える調整装置を備える請求項1に記載の露光装置。
With the second immersion space formed, a plurality of shot regions of the substrate are sequentially exposed with the exposure light through the first liquid in the first immersion space,
An exposure period in which exposure of the first shot area is performed among the plurality of shot areas, and a non-exposure period from the end of exposure of the first shot area to the start of exposure of the second shot area to be exposed next The second member and the object are movable in a direction substantially parallel to the optical axis of the optical member;
An adjustment device is provided that changes one or both of the movement amount of the second member and the movement amount of the object in a direction substantially parallel to the optical axis of the optical member between the exposure period and the non-exposure period. Item 4. The exposure apparatus according to Item 1.
前記調整装置は、前記露光期間及び非露光期間において、前記光学部材の光軸と実質的に平行な方向に前記第2部材及び前記物体の一方又は両方を移動可能であり、
前記露光期間における前記第2部材及び前記物体の速度は、前記非露光期間における前記速度よりも低い請求項32に記載の露光装置。
The adjusting device is capable of moving one or both of the second member and the object in a direction substantially parallel to the optical axis of the optical member during the exposure period and the non-exposure period,
The exposure apparatus according to claim 32, wherein speeds of the second member and the object in the exposure period are lower than the speeds in the non-exposure period.
前記調整装置は、前記露光期間及び非露光期間において、前記光学部材の光軸と実質的に平行な方向に前記第2部材及び前記物体の一方又は両方を移動可能であり、
前記露光期間における前記第2部材及び前記物体の加速度は、前記非露光期間における前記加速度よりも低い請求項32又は33に記載の露光装置。
The adjusting device is capable of moving one or both of the second member and the object in a direction substantially parallel to the optical axis of the optical member during the exposure period and the non-exposure period,
The exposure apparatus according to claim 32 or 33, wherein accelerations of the second member and the object in the exposure period are lower than the accelerations in the non-exposure period.
前記第2液浸空間が形成されている状態で、前記第2部材の下方において所定領域を有する物体が前記光学部材の光軸と交差する所定面内において移動され、
前記物体が移動する期間の少なくとも一部において、前記所定面内における前記物体の移動条件を変える調整装置を備える請求項1に記載の露光装置。
In a state where the second immersion space is formed, an object having a predetermined region below the second member is moved in a predetermined plane intersecting the optical axis of the optical member,
The exposure apparatus according to claim 1, further comprising an adjusting device that changes a moving condition of the object in the predetermined plane during at least a part of a period during which the object moves.
前記所定領域は、前記物体が有する間隙を含む請求項35に記載の露光装置。   36. The exposure apparatus according to claim 35, wherein the predetermined area includes a gap of the object. 前記所定領域は、前記所定領域の外側の領域よりも液体に対して親液性である請求項35又は36に記載の露光装置。   37. The exposure apparatus according to claim 35 or 36, wherein the predetermined area is more lyophilic with respect to the liquid than an area outside the predetermined area. 前記所定領域は、段差部を含む請求項35〜37のいずれか一項に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to any one of claims 35 to 37, wherein the predetermined area includes a stepped portion. 前記所定領域は、前記所定領域の外側の領域よりも、前記第1、第2液浸空間の通過後において液体が残留する可能性が高い領域である請求項35〜38のいずれか一項に記載の露光装置。   The predetermined region is a region where there is a high possibility that the liquid will remain after passing through the first and second immersion spaces, compared to a region outside the predetermined region. The exposure apparatus described. 前記第2部材と前記所定領域との間の前記第2空間からの液体の流出が発生する可能性が、前記第2部材と前記所定領域の外側の領域との間の前記第2空間からの液体の流出が発生する可能性よりも高い請求項35〜39のいずれか一項に記載の露光装置。   There is a possibility that the outflow of liquid from the second space between the second member and the predetermined region may occur from the second space between the second member and a region outside the predetermined region. 40. The exposure apparatus according to any one of claims 35 to 39, wherein the exposure apparatus is higher than the possibility of occurrence of liquid outflow. 前記物体の移動条件は、前記所定面内における前記物体の速度を含む請求項35〜40のいずれか一項に記載の露光装置。   41. The exposure apparatus according to any one of claims 35 to 40, wherein the moving condition of the object includes a speed of the object in the predetermined plane. 前記調整装置は、前記第2液浸空間が前記所定領域の外側の領域上に位置する状態において前記物体を第1速度で移動し、前記第2液浸空間が前記所定領域上に位置する状態において前記物体を前記第1速度よりも低い第2速度で移動する請求項35〜41のいずれか一項に記載の露光装置。   The adjustment device moves the object at a first speed in a state where the second immersion space is located on an area outside the predetermined area, and the second immersion space is located on the predetermined area. The exposure apparatus according to any one of claims 35 to 41, wherein the object is moved at a second speed lower than the first speed. 前記物体の移動条件は、前記所定面内における前記物体の加速度を含む請求項35〜42のいずれか一項に記載の露光装置。   43. The exposure apparatus according to any one of claims 35 to 42, wherein the moving condition of the object includes an acceleration of the object in the predetermined plane. 前記調整装置は、前記第2液浸空間が前記所定領域の外側の領域上に位置する状態において前記物体を第1加速度で移動し、前記第2液浸空間が前記所定領域上に位置する状態において前記物体を前記第1加速度よりも低い第2加速度で移動する請求項35〜43のいずれか一項に記載の露光装置。   The adjusting device moves the object at a first acceleration in a state where the second immersion space is located on an area outside the predetermined area, and the second immersion space is located on the predetermined area. 44. The exposure apparatus according to any one of claims 35 to 43, wherein the object is moved at a second acceleration lower than the first acceleration. 前記物体は、第1物体と、間隙を介して前記第1物体に隣接する第2物体と、を含み、
前記第2液浸空間が前記第1物体上及び前記第2物体上の一方から他方へ移動するように、前記第2部材と前記第1、第2物体とが前記光学部材の光軸と実質的に垂直な所定面内において相対移動され、
前記第2液浸空間が前記第1物体上及び前記第2物体上の一方から他方へ移動する期間の少なくとも一部において、前記所定面内における前記物体の移動条件を変える調整装置を備える請求項1に記載の露光装置。
The object includes a first object and a second object adjacent to the first object through a gap;
The second member and the first and second objects are substantially aligned with the optical axis of the optical member so that the second immersion space moves from one side to the other on the first object and the second object. Relative movement within a predetermined vertical plane,
The adjustment apparatus which changes the movement condition of the said object in the said predetermined surface in at least one part of the period when the said 2nd immersion space moves from one side on the said 1st object and the said 2nd object to the other. 2. The exposure apparatus according to 1.
前記第2液浸空間の全部が前記第1物体上又は前記第2物体上に形成されている第1状態と、前記第2液浸空間が前記間隙上に形成されている第2状態とで、前記移動条件が異なる請求項45に記載の露光装置。   A first state in which the entire second immersion space is formed on the first object or the second object, and a second state in which the second immersion space is formed on the gap. The exposure apparatus according to claim 45, wherein the movement conditions are different. 前記物体の移動条件は、前記所定面内における前記物体の速度を含む請求項45又は46に記載の露光装置。   47. The exposure apparatus according to claim 45 or 46, wherein the moving condition of the object includes a speed of the object in the predetermined plane. 前記第2状態における前記物体の移動速度は、前記第1状態における前記物体の移動速度よりも低い請求項45〜47のいずれか一項に記載の露光装置。   48. The exposure apparatus according to claim 45, wherein a moving speed of the object in the second state is lower than a moving speed of the object in the first state. 前記物体の移動条件は、前記所定面内における前記物体の加速度を含む請求項45〜48のいずれか一項に記載の露光装置。   49. The exposure apparatus according to any one of claims 45 to 48, wherein the moving condition of the object includes an acceleration of the object in the predetermined plane. 前記第2状態における前記物体の加速度は、前記第1状態における前記物体の加速度よりも低い請求項45〜49のいずれか一項に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to any one of claims 45 to 49, wherein an acceleration of the object in the second state is lower than an acceleration of the object in the first state. 前記第1液浸空間が形成されている状態で、前記第1部材と前記物体とが第1相対移動条件で移動したときに前記物体上に残留液体が発生する前記物体の第1領域及び前記残留液体の発生が抑制される前記物体の第2領域に関する情報を記憶する記憶装置を備え、
前記記憶装置の記憶情報に基づいて、前記第1部材の下方を前記第2領域が通過する期間の少なくとも一部において、前記第1部材と前記物体とを前記第1相対移動条件とは異なる第2相対移動条件で移動させる請求項1に記載の露光装置。
In a state where the first immersion space is formed, a first region of the object in which residual liquid is generated on the object when the first member and the object move under a first relative movement condition; and A storage device for storing information on the second region of the object in which the generation of residual liquid is suppressed;
Based on the storage information of the storage device, the first member and the object differ from the first relative movement condition in at least a part of a period during which the second region passes below the first member. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the exposure apparatus is moved under two relative movement conditions.
前記第1相対移動条件は、前記物体が第1速度で移動する条件を含み、
前記第2相対移動条件は、前記物体が前記第1速度よりも低い第2速度で移動する条件を含む請求項51に記載の露光装置。
The first relative movement condition includes a condition in which the object moves at a first speed,
52. The exposure apparatus according to claim 51, wherein the second relative movement condition includes a condition in which the object moves at a second speed lower than the first speed.
前記第2液浸空間が形成されている状態で、前記第2部材と前記物体とが第1相対移動条件で移動したときに前記物体上に残留液体が発生する前記物体の第1領域及び前記残留液体の発生が抑制される前記物体の第2領域に関する情報を記憶する記憶装置を備え、
前記記憶装置の記憶情報に基づいて、前記第2部材の下方を前記第1領域が通過する期間の少なくとも一部において、前記第2部材と前記物体とを前記第1相対移動条件とは異なる第2相対移動条件で移動させる請求項1に記載の露光装置。
In a state where the second immersion space is formed, a first region of the object in which residual liquid is generated on the object when the second member and the object move under a first relative movement condition; and A storage device for storing information on the second region of the object in which the generation of residual liquid is suppressed;
Based on the storage information of the storage device, the second member and the object differ from the first relative movement condition in at least part of a period during which the first region passes below the second member. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the exposure apparatus is moved under two relative movement conditions.
前記第1移動条件は、前記物体が第1速度で移動する条件を含み、
前記第2移動条件は、前記物体が前記第1速度よりも低い第2速度で移動する条件を含む請求項53に記載の露光装置。
The first movement condition includes a condition that the object moves at a first speed,
54. The exposure apparatus according to claim 53, wherein the second movement condition includes a condition in which the object moves at a second speed lower than the first speed.
前記第1領域は、前記物体が有する間隙を含む請求項51〜54のいずれか一項に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to any one of claims 51 to 54, wherein the first region includes a gap included in the object. 前記第1領域は、前記物体が有する段差部を含む請求項51〜55のいずれか一項に記載の露光装置。   56. The exposure apparatus according to any one of claims 51 to 55, wherein the first region includes a step portion included in the object. 前記物体上に残留液体が発生する前記第1部材と前記物体との第1相対移動条件及び前記残留液体の発生が抑制される第2相対移動条件に関する情報を記憶する記憶装置を備え、
前記記憶装置の記憶情報に基づいて、前記第1相対移動条件で移動される期間の少なくとも一部において、前記第1部材の下面と前記物体の上面との距離を短くする請求項1に記載の露光装置。
A storage device that stores information on a first relative movement condition between the first member that generates residual liquid on the object and the object and a second relative movement condition that suppresses generation of the residual liquid;
The distance between the lower surface of the first member and the upper surface of the object is shortened in at least a part of the period of movement under the first relative movement condition based on stored information of the storage device. Exposure device.
前記物体上に残留液体が発生する前記第2部材と前記物体との第1相対移動条件及び前記残留液体の発生が抑制される第2相対移動条件に関する情報を記憶する記憶装置を備え、
前記記憶装置の記憶情報に基づいて、前記第1相対移動条件で移動される期間の少なくとも一部において、前記第2部材の下面と前記物体の上面との距離を短くする請求項1に記載の露光装置。
A storage device for storing information on a first relative movement condition between the second member where the residual liquid is generated on the object and the object and a second relative movement condition where the generation of the residual liquid is suppressed;
The distance between the lower surface of the second member and the upper surface of the object is shortened in at least a part of the period of movement under the first relative movement condition based on the storage information of the storage device. Exposure device.
前記第1液浸空間が形成されている状態で、前記第1部材と前記物体とが第1相対移動条件で移動したときに前記物体上に残留液体が発生する前記物体の第1領域及び前記残留液体の発生が抑制される前記物体の第2領域に関する情報を記憶する記憶装置を備え、
前記記憶装置の記憶情報に基づいて、前記第1部材の下方を前記第1領域が通過する期間の少なくとも一部において、前記第1部材の下面と前記第1領域との距離を短くする請求項1に記載の露光装置。
In a state where the first immersion space is formed, a first region of the object in which residual liquid is generated on the object when the first member and the object move under a first relative movement condition; and A storage device for storing information on the second region of the object in which the generation of residual liquid is suppressed;
The distance between the lower surface of the first member and the first region is shortened in at least a part of a period during which the first region passes below the first member based on stored information of the storage device. 2. The exposure apparatus according to 1.
前記第2液浸空間が形成されている状態で、前記第2部材と前記物体とが第1相対移動条件で移動したときに前記物体上に残留液体が発生する前記物体の第1領域及び前記残留液体の発生が抑制される前記物体の第2領域に関する情報を記憶する記憶装置を備え、
前記記憶装置の記憶情報に基づいて、前記第2部材の下方を前記第1領域が通過する期間の少なくとも一部において、前記第2部材の下面と前記第1領域との距離を短くする請求項1に記載の露光装置。
In a state where the second immersion space is formed, a first region of the object in which residual liquid is generated on the object when the second member and the object move under a first relative movement condition; and A storage device for storing information on the second region of the object in which the generation of residual liquid is suppressed;
The distance between the lower surface of the second member and the first region is shortened in at least part of a period during which the first region passes below the second member based on stored information of the storage device. 2. The exposure apparatus according to 1.
前記第1液浸空間が形成されている状態で、前記第1部材の下方において物体が前記光学部材の光軸と交差する方向に移動され、
前記第1部材の下方の第1空間の外側において前記物体上に残留液体が発生する又は前記第1空間から第1液体が流出する前記第1部材と前記物体との相対移動条件及び残留液体の発生又は第1液体の流出が抑制される相対移動条件に関する情報を記憶する記憶装置を備え、
前記記憶装置の記憶情報に基づいて、前記基板の露光における前記相対移動条件が調整される請求項1に記載の露光装置。
In a state where the first immersion space is formed, an object is moved below the first member in a direction intersecting the optical axis of the optical member,
The residual liquid is generated on the object outside the first space below the first member, or the relative movement condition between the first member and the object from which the first liquid flows out of the first space, and the residual liquid A storage device for storing information on relative movement conditions in which generation or outflow of the first liquid is suppressed;
The exposure apparatus according to claim 1, wherein the relative movement condition in exposure of the substrate is adjusted based on information stored in the storage apparatus.
前記基板の露光後において前記物体上の残留液体又は流出した第1液体を検出する検出装置を備え、
前記検出装置の検出結果に基づいて、前記記憶装置の記憶情報が更新される請求項61に記載の露光装置。
A detection device for detecting residual liquid on the object or first liquid that has flowed out after the exposure of the substrate;
62. The exposure apparatus according to claim 61, wherein storage information of the storage device is updated based on a detection result of the detection device.
前記第2液浸空間が形成されている状態で、前記第2部材の下方において物体が前記光学部材の光軸と交差する方向に移動され、
前記第2部材の下方の第2空間の外側において前記物体上に残留液体が発生する又は前記第2空間から第2液体が流出する前記第2部材と前記物体との相対移動条件及び残留液体の発生又は第2液体の流出が抑制される相対移動条件に関する情報を記憶する記憶装置を備え、
前記記憶装置の記憶情報に基づいて、前記基板の露光における前記相対移動条件が調整される請求項61又は62に記載の露光装置。
In a state where the second immersion space is formed, an object is moved below the second member in a direction intersecting the optical axis of the optical member,
The residual liquid is generated on the object outside the second space below the second member, or the relative movement condition between the second member and the object from which the second liquid flows out of the second space, and the residual liquid A storage device for storing information on relative movement conditions in which generation or outflow of the second liquid is suppressed;
The exposure apparatus according to claim 61 or 62, wherein the relative movement condition in exposure of the substrate is adjusted based on information stored in the storage apparatus.
前記基板の露光後において前記物体上の残留液体又は流出した第2液体を検出する検出装置を備え、
前記検出装置の検出結果に基づいて、前記記憶装置の記憶情報が更新される請求項63に記載の露光装置。
A detection device for detecting residual liquid on the object or second liquid that has flowed out after the exposure of the substrate;
64. The exposure apparatus according to claim 63, wherein storage information of the storage device is updated based on a detection result of the detection device.
前記基板がスキャン方向への移動と前記スキャン方向と交差するステップ方向への移動とを繰り返しながら、前記基板の複数のショット領域が順次露光され、
前記相対移動条件は、前記スキャン方向への移動速度と前記ステップ方向への移動速度との合成速度を含む請求項61〜64のいずれか一項に記載の露光装置。
A plurality of shot areas of the substrate are sequentially exposed while repeating the movement in the scanning direction and the movement in the step direction intersecting the scanning direction,
The exposure apparatus according to any one of claims 61 to 64, wherein the relative movement condition includes a combined speed of a moving speed in the scanning direction and a moving speed in the step direction.
前記第1空間の外側における前記物体上の液体が、前記第1液浸空間を通過するように、前記第1部材と前記物体とを相対移動する移動装置を備える請求項1に記載の露光装置。   2. The exposure apparatus according to claim 1, further comprising a moving device that relatively moves the first member and the object so that liquid on the object outside the first space passes through the first immersion space. . 前記移動装置は、前記物体の移動条件を制御して、前記第1空間から前記第1液体が流出するタイミングを制御可能である請求項66に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 66, wherein the moving device is capable of controlling a timing at which the first liquid flows out of the first space by controlling a moving condition of the object. 前記物体の移動条件は、前記光学部材の光軸と実質的に垂直な面内における前記物体の移動速度及び加速度の一方又は両方を含む請求項67に記載の露光装置。   68. The exposure apparatus according to claim 67, wherein the moving condition of the object includes one or both of a moving speed and an acceleration of the object in a plane substantially perpendicular to the optical axis of the optical member. 前記移動装置は、前記物体の移動方向とは逆方向に前記第1部材を移動して、前記第1空間から前記第1液体が流出する位置を制御可能である請求項66に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 66, wherein the moving device is capable of controlling a position at which the first liquid flows out of the first space by moving the first member in a direction opposite to a moving direction of the object. . 前記物体は、前記光学部材の光軸と実質的に垂直な面内において第1方向に移動された後、前記第1方向とは異なる第2方向に移動され、
前記第1部材は、前記物体が前記第1方向への移動から前記第2方向への移動へ変化する期間の少なくとも一部において、前記逆方向に移動する請求項69に記載の露光装置。
The object is moved in a first direction in a plane substantially perpendicular to the optical axis of the optical member, and then moved in a second direction different from the first direction,
The exposure apparatus according to claim 69, wherein the first member moves in the reverse direction during at least a part of a period during which the object changes from movement in the first direction to movement in the second direction.
前記物体は、前記基板と、間隙を介して前記基板の周囲に配置されるカバー部材と、を含み、
前記第2液浸空間が前記基板上及び前記カバー部材上の一方から他方へ移動するように、前記第2部材に対して前記基板及び前記カバー部材が前記光学部材の光軸と交差する方向に移動され、
前記第2液浸空間が前記カバー部材上から前記基板上に移動するように前記基板及び前記カバー部材が移動するときの移動速度は、前記第2液浸空間が前記基板上から前記カバー部材上に移動するように前記基板及び前記カバー部材が移動するときの移動速度よりも低い請求項1に記載の露光装置。
The object includes the substrate and a cover member disposed around the substrate via a gap,
The substrate and the cover member intersect the optical axis of the optical member with respect to the second member so that the second immersion space moves from one side to the other on the substrate and the cover member. Moved,
The movement speed when the substrate and the cover member move so that the second immersion space moves from the cover member to the substrate is such that the second immersion space moves from the substrate to the cover member. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the exposure speed is lower than a moving speed when the substrate and the cover member move so as to move to each other.
前記物体は、前記基板と、間隙を介して前記基板の周囲に配置されるカバー部材と、を含み、
前記第2液浸空間が前記基板上及び前記カバー部材上の一方から他方へ移動するように、前記第2部材に対して前記基板及び前記カバー部材が前記光学部材の光軸と交差する方向に移動され、
前記第2下面は、第1辺と、第2辺と、前記第1辺と前記第2辺との間に設けられる角部と、を有し、
前記第2液浸空間が前記基板上及び前記カバー部材上の一方から他方に移動するように前記基板及び前記カバー部材が移動する期間の少なくとも一部において、前記第2下面の中心と前記角部とを結ぶ仮想線が、前記基板の中心に対する放射方向と実質的に平行となるように、前記第2部材の位置が調整される請求項1に記載の露光装置。
The object includes the substrate and a cover member disposed around the substrate via a gap,
The substrate and the cover member intersect the optical axis of the optical member with respect to the second member so that the second immersion space moves from one side to the other on the substrate and the cover member. Moved,
The second lower surface includes a first side, a second side, and a corner provided between the first side and the second side,
The center of the second lower surface and the corner portion in at least a part of a period in which the substrate and the cover member move so that the second immersion space moves from one to the other on the substrate and the cover member. 2. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the position of the second member is adjusted such that a virtual line connecting the two is substantially parallel to a radial direction with respect to a center of the substrate.
前記物体は、前記基板と、間隙を介して前記基板の周囲に配置されるカバー部材と、を含み、
前記第1液浸空間が前記基板上及び前記カバー部材上の一方から他方へ移動するように、前記第1部材に対して前記基板及び前記カバー部材が前記光学部材の光軸と交差する方向に移動され、
前記第1下面は、第1辺と、第2辺と、前記第1辺と前記第2辺との間に設けられる角部と、を有し、
前記第1液浸空間が前記基板上及び前記カバー部材上の一方から他方に移動するように前記基板及び前記カバー部材が移動する期間の少なくとも一部において、前記第1下面の中心と前記角部とを結ぶ仮想線が、前記基板の中心に対する放射方向と実質的に平行となるように、前記第1部材の位置が調整される請求項1に記載の露光装置。
The object includes the substrate and a cover member disposed around the substrate via a gap,
The substrate and the cover member intersect the optical axis of the optical member with respect to the first member so that the first immersion space moves from one to the other on the substrate and the cover member. Moved,
The first lower surface includes a first side, a second side, and a corner provided between the first side and the second side,
The center of the first lower surface and the corner portion in at least a part of a period in which the substrate and the cover member move so that the first immersion space moves from one to the other on the substrate and the cover member. 2. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the position of the first member is adjusted such that a virtual line connecting the first and second lines is substantially parallel to a radial direction with respect to a center of the substrate.
前記第2部材の下方の第2空間に前記第2液体を供給可能な第2液体供給部と、
前記第2空間の流体を吸引可能な流体吸引部と、
前記物体が移動する期間の少なくとも一部において、前記第2液体供給部の供給量及び前記流体吸引部の吸引力の一方又は両方を変える液体調整装置と、を備える請求項1〜73のいずれか一項に記載の露光装置。
A second liquid supply unit capable of supplying the second liquid to the second space below the second member;
A fluid suction part capable of sucking the fluid in the second space;
74. A liquid adjusting device that changes one or both of a supply amount of the second liquid supply unit and a suction force of the fluid suction unit in at least a part of a period during which the object moves. The exposure apparatus according to one item.
前記供給量及び前記吸引力の一方又は両方に基づいて、前記光学部材の光軸と実質的に平行な方向に関する前記第2部材と前記物体との距離が調整される請求項74に記載の露光装置。   75. The exposure according to claim 74, wherein a distance between the second member and the object in a direction substantially parallel to the optical axis of the optical member is adjusted based on one or both of the supply amount and the suction force. apparatus. 前記供給量及び前記吸引量の一方又は両方に基づいて、前記光学部材の光軸と実質的に垂直な面内における前記物体の移動条件が調整される請求項74又は75に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 74 or 75, wherein a moving condition of the object in a plane substantially perpendicular to the optical axis of the optical member is adjusted based on one or both of the supply amount and the suction amount. 前記第1部材の下方の第1空間に前記第1液体を供給可能な第1液体供給部と、
前記第1空間の前記第1液体を回収する第1液体回収部と、を備える請求項1〜76のいずれか一項に記載の露光装置。
A first liquid supply section capable of supplying the first liquid to the first space below the first member;
An exposure apparatus according to any one of claims 1 to 76, further comprising a first liquid recovery unit that recovers the first liquid in the first space.
請求項1〜77のいずれか一項に記載の露光装置を用いて基板を露光することと、
露光された前記基板を現像することと、を含むデバイス製造方法。
Exposing the substrate using the exposure apparatus according to any one of claims 1 to 77;
Developing the exposed substrate. A device manufacturing method.
第1液浸空間の第1液体を介して露光光で基板を露光する露光方法であって、
光学部材の射出面から射出される前記露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で前記第1液体の前記第1液浸空間を形成することと、
前記光路に対して前記第1部材の外側に配置される第2部材で、前記第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、
前記第2液浸空間が形成されている状態で、前記第2部材の下方において所定領域を有する物体が前記光学部材の光軸と交差する方向に移動する期間の少なくとも一部において、前記第2部材の下面と前記物体の上面との距離を変えることと、を含む露光方法。
An exposure method for exposing a substrate with exposure light through a first liquid in a first immersion space,
Forming the first liquid immersion space of the first liquid with a first member arranged at least part of the periphery of the optical path of the exposure light emitted from the emission surface of the optical member;
Forming a second immersion space for the second liquid away from the first immersion space with a second member arranged outside the first member with respect to the optical path;
In the state in which the second immersion space is formed, at least part of a period in which an object having a predetermined region below the second member moves in a direction intersecting the optical axis of the optical member, the second Changing the distance between the lower surface of the member and the upper surface of the object.
第1液浸空間の第1液体を介して露光光で基板を露光する露光方法であって、
光学部材の射出面から射出される前記露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で前記第1液体の前記第1液浸空間を形成することと、
前記光路に対して前記第1部材の外側に配置される第2部材で、前記第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、
前記第2液浸空間が形成されている状態で、前記第2部材の下方において物体が前記光学部材の光軸と交差する方向に移動する期間の少なくとも一部における前記物体の移動条件に基づいて、前記第2部材の下面と前記物体の上面との距離を変えることと、を含む露光方法。
An exposure method for exposing a substrate with exposure light through a first liquid in a first immersion space,
Forming the first liquid immersion space of the first liquid with a first member arranged at least part of the periphery of the optical path of the exposure light emitted from the emission surface of the optical member;
Forming a second immersion space for the second liquid away from the first immersion space with a second member arranged outside the first member with respect to the optical path;
Based on a moving condition of the object in at least a part of a period in which the object moves in a direction intersecting the optical axis of the optical member below the second member in a state where the second immersion space is formed. Changing the distance between the lower surface of the second member and the upper surface of the object.
第1液浸空間の第1液体を介して露光光で基板を露光する露光方法であって、
光学部材の射出面から射出される前記露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で前記第1液体の前記第1液浸空間を形成することと、
前記光路に対して前記第1部材の外側に配置される第2部材で、前記第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、
前記第2液浸空間が第1物体上及び間隙を介して前記第1物体に隣接する第2物体上の一方から他方へ移動するように、前記第2部材と前記第1、第2物体とを前記光学部材の光軸と実質的に垂直な所定面内において相対移動させることと、
前記第2液浸空間が前記第1物体上及び前記第2物体上の一方から他方へ移動する期間の少なくとも一部において、前記光軸と実質的に平行な方向に関する前記第2部材の下面と前記第1物体の上面との距離、及び前記第2部材の下面と前記第2物体の上面との距離の一方又は両方を変えることと、を含む露光方法。
An exposure method for exposing a substrate with exposure light through a first liquid in a first immersion space,
Forming the first liquid immersion space of the first liquid with a first member arranged at least part of the periphery of the optical path of the exposure light emitted from the emission surface of the optical member;
Forming a second immersion space for the second liquid away from the first immersion space with a second member arranged outside the first member with respect to the optical path;
The second member and the first and second objects such that the second immersion space moves from one to the other on the first object and on the second object adjacent to the first object via a gap. Relative movement in a predetermined plane substantially perpendicular to the optical axis of the optical member;
A lower surface of the second member in a direction substantially parallel to the optical axis in at least a part of a period in which the second immersion space moves from one to the other on the first object and the second object; Changing one or both of the distance between the upper surface of the first object and the distance between the lower surface of the second member and the upper surface of the second object.
第1液浸空間の第1液体を介して露光光で基板を露光する露光方法であって、
光学部材の射出面から射出される前記露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で前記第1液体の前記第1液浸空間を形成することと、
前記光路に対して前記第1部材の外側に配置される第2部材で、前記第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、
前記第2液浸空間が形成されている状態で、前記第2部材の下方において物体が前記光学部材の光軸と交差する方向に等速移動する期間と非等速移動する期間とで、前記光学部材の光軸と実質的に平行な方向に関する前記第2部材の移動量及び前記物体の移動量の一方又は両方を変えることと、を含む露光方法。
An exposure method for exposing a substrate with exposure light through a first liquid in a first immersion space,
Forming the first liquid immersion space of the first liquid with a first member arranged at least part of the periphery of the optical path of the exposure light emitted from the emission surface of the optical member;
Forming a second immersion space for the second liquid away from the first immersion space with a second member arranged outside the first member with respect to the optical path;
In a state in which the second immersion space is formed, the object moves at a constant speed in a direction intersecting the optical axis of the optical member below the second member, and a period at which the object moves at a non-constant speed, Changing one or both of the amount of movement of the second member and the amount of movement of the object with respect to a direction substantially parallel to the optical axis of the optical member.
第1液浸空間の第1液体を介して露光光で基板を露光する露光方法であって、
光学部材の射出面から射出される前記露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で前記第1液体の前記第1液浸空間を形成することと、
前記光路に対して前記第1部材の外側に配置される第2部材で、前記第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、
前記第2液浸空間が形成されている状態で、前記基板の複数のショット領域を前記第1液浸空間の前記第1液体を介して前記露光光で順次露光することと、
前記光学部材の光軸と実質的に平行な方向に関する前記第2部材の移動量及び前記物体の移動量の一方又は両方を、前記複数のショット領域のうち第1ショット領域の露光が行われる露光期間と、前記第1ショット領域の露光終了後、次に露光される第2ショット領域の露光が開始されるまでの非露光期間とで変えることと、を含む露光方法。
An exposure method for exposing a substrate with exposure light through a first liquid in a first immersion space,
Forming the first liquid immersion space of the first liquid with a first member arranged at least part of the periphery of the optical path of the exposure light emitted from the emission surface of the optical member;
Forming a second immersion space for the second liquid away from the first immersion space with a second member arranged outside the first member with respect to the optical path;
Sequentially exposing the plurality of shot regions of the substrate with the exposure light through the first liquid in the first immersion space in a state where the second immersion space is formed;
One or both of the movement amount of the second member and the movement amount of the object with respect to a direction substantially parallel to the optical axis of the optical member is an exposure in which the first shot region of the plurality of shot regions is exposed. An exposure method comprising: changing a period between a period after the exposure of the first shot area and a non-exposure period until the exposure of the second shot area to be exposed next is started.
第1液浸空間の第1液体を介して露光光で基板を露光する露光方法であって、
光学部材の射出面から射出される前記露光光の光路の周囲の少なくとも一部に配置される第1部材で前記第1液体の前記第1液浸空間を形成することと、
前記光路に対して前記第1部材の外側に配置される第2部材で、前記第1液浸空間から離れて、第2液体の第2液浸空間を形成することと、
前記第2液浸空間が形成されている状態で、前記第2部材の下方において所定領域を有する物体を前記光学部材の光軸と交差する所定面内において移動させることと、
前記物体が移動する期間の少なくとも一部において、前記所定面内における前記物体の移動条件を変えることと、を含む露光方法。
An exposure method for exposing a substrate with exposure light through a first liquid in a first immersion space,
Forming the first liquid immersion space of the first liquid with a first member arranged at least part of the periphery of the optical path of the exposure light emitted from the emission surface of the optical member;
Forming a second immersion space for the second liquid away from the first immersion space with a second member arranged outside the first member with respect to the optical path;
Moving an object having a predetermined area below the second member in a predetermined plane intersecting the optical axis of the optical member in a state where the second immersion space is formed;
Changing the moving condition of the object in the predetermined plane during at least a part of a period during which the object moves.
請求項79〜84のいずれか一項に記載の露光装置を用いて基板を露光することと、
露光された前記基板を現像することと、を含むデバイス製造方法。
Exposing the substrate using the exposure apparatus according to any one of claims 79 to 84;
Developing the exposed substrate. A device manufacturing method.
JP2012144785A 2012-06-27 2012-06-27 Exposure device, exposure method, and device manufacturing method Pending JP2014011205A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012144785A JP2014011205A (en) 2012-06-27 2012-06-27 Exposure device, exposure method, and device manufacturing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012144785A JP2014011205A (en) 2012-06-27 2012-06-27 Exposure device, exposure method, and device manufacturing method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014011205A true JP2014011205A (en) 2014-01-20

Family

ID=50107660

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012144785A Pending JP2014011205A (en) 2012-06-27 2012-06-27 Exposure device, exposure method, and device manufacturing method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2014011205A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6601527B2 (en) Exposure apparatus, exposure method, and device manufacturing method
KR102139033B1 (en) Liquid immersion member and exposure apparatus
KR102158968B1 (en) Liquid immersion member and exposure apparatus
JP2019215586A (en) Immersion member and exposure device
JP6119242B2 (en) Exposure apparatus, exposure method, and device manufacturing method
US20130169944A1 (en) Exposure apparatus, exposure method, device manufacturing method, program, and recording medium
WO2013100114A1 (en) Exposure device, exposure method, device manufacturing method, liquid collection method, program and recording medium
KR20140056284A (en) Exposure apparatus and method of confining a liquid
JP2013251311A (en) Exposure apparatus, exposure method, device manufacturing method, program, and storage medium
JP2011165798A (en) Aligner, method used by the aligner, method of manufacturing device, program, and recording medium
JP6212884B2 (en) Exposure apparatus, exposure method, and device manufacturing method
JP2014086678A (en) Liquid immersion member, exposure device, exposure method, device manufacturing method, program, and storage medium
JP2014011203A (en) Exposure device, exposure method, and device manufacturing method
JP2014120691A (en) Liquid immersion member, exposure apparatus, exposure method, device manufacturing method, program, and recording medium
JP2013235922A (en) Exposure device, exposure method, device manufacturing method, program, and recording medium
JP2014011205A (en) Exposure device, exposure method, and device manufacturing method
JP2014011202A (en) Exposure device, exposure method, and device manufacturing method
JP2014011204A (en) Exposure device, temperature adjustment method, exposure method, and device manufacturing method
JP2014011200A (en) Exposure device, exposure method, and device manufacturing method
WO2013099959A1 (en) Exposure device, exposure method, device manufacturing method, program and recording medium
JP2014011206A (en) Exposure device, exposure method, and device manufacturing method
JP2013254775A (en) Exposure device, exposure method, device manufacturing method, program, and recording medium
HK40000602A (en) Liquid-immersion member and exposure device
HK1215327B (en) Liquid-immersion member and exposure device
HK1242789A1 (en) Liquid immersion member and exposure apparatus