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JP2014096412A - Semiconductor module - Google Patents

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JP2014096412A
JP2014096412A JP2012245595A JP2012245595A JP2014096412A JP 2014096412 A JP2014096412 A JP 2014096412A JP 2012245595 A JP2012245595 A JP 2012245595A JP 2012245595 A JP2012245595 A JP 2012245595A JP 2014096412 A JP2014096412 A JP 2014096412A
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JP
Japan
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lead frame
cooling
plate
thickness direction
semiconductor module
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Application number
JP2012245595A
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Japanese (ja)
Inventor
Naoichi Harada
直一 原田
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Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
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Publication date
Application filed by Toyota Motor Corp filed Critical Toyota Motor Corp
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
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  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

【課題】冷却性能の向上を図ると共に小型化を図ることが可能な半導体モジュール2を提供する。
【解決手段】板厚方向Xに積層された放熱板4及び放熱板5と、放熱板4に接合されたIGBT3と、IGBT3に接合されたリードフレーム11と、放熱板5に接合されたダイオード6と、ダイオード6に接合されたリードフレーム13と、を備え、リードフレーム11の板厚方向Xの外側の表面は、リードフレーム11を冷却する冷却部17と当接可能な冷却面11aを有し、リードフレーム13の板厚方向Xの外側の表面は、リードフレーム13を冷却する冷却部18と当接可能な冷却面13aを有し、リードフレーム11及びリードフレーム13は、互いの端部がTIG溶接によって接合され、放熱板4,5、IGBT3、ダイオード6、リードフレーム11,13が、モールド樹脂19により封止されている。
【選択図】図2
A semiconductor module 2 is provided which can improve cooling performance and can be miniaturized.
SOLUTION: The heat sink 4 and the heat sink 5 laminated in the plate thickness direction X, the IGBT 3 joined to the heat sink 4, the lead frame 11 joined to the IGBT 3, and the diode 6 joined to the heat sink 5. And a lead frame 13 joined to the diode 6, and the outer surface of the lead frame 11 in the plate thickness direction X has a cooling surface 11 a that can contact the cooling portion 17 that cools the lead frame 11. The outer surface of the lead frame 13 in the plate thickness direction X has a cooling surface 13a that can come into contact with the cooling unit 18 that cools the lead frame 13. Joined by TIG welding, the heat sinks 4, 5, IGBT 3, diode 6, and lead frames 11, 13 are sealed with a mold resin 19.
[Selection] Figure 2

Description

本発明は、インバータとして利用可能な半導体モジュールに関する。   The present invention relates to a semiconductor module that can be used as an inverter.

例えばモータなどの電気機器を制御する電力変換装置に使用される半導体モジュールは、負荷へ供給する電流を制御するためのスイッチング素子(例えば、IGBT)を備えている。スイッチング素子のコレクタ電極・エミッタ電極間には、逆方向電圧印加時の素子の破壊防止のため、負荷電流を還流させる整流素子(還流ダイオード)が接続されている(例えば、特許文献1,2参照)。   For example, a semiconductor module used in a power conversion device that controls an electric device such as a motor includes a switching element (for example, IGBT) for controlling a current supplied to a load. Between the collector electrode and the emitter electrode of the switching element, a rectifying element (refluxing diode) that circulates the load current is connected to prevent breakdown of the element when a reverse voltage is applied (see, for example, Patent Documents 1 and 2). ).

特許文献1に記載の半導体モジュールでは、ベース板を挟んでIGBTチップと還流ダイオードチップとが配置され、IGBTチップのコレクタ電極面と、還流ダイオードチップのカソード面とが対向するようにベース板の両面に接合されている。これらのIGBTチップ及び還流ダイオードは、はんだ等によってベース板に固定されている。   In the semiconductor module described in Patent Document 1, the IGBT chip and the reflux diode chip are arranged with the base plate interposed therebetween, and both surfaces of the base plate are arranged so that the collector electrode surface of the IGBT chip and the cathode surface of the reflux diode chip face each other. It is joined to. The IGBT chip and the reflux diode are fixed to the base plate with solder or the like.

IGBTチップのエミッタ電極は、板状の金属配線であるブスバーを介してエミッタ電極端子に接続されている。同様に、還流ダイオードチップのアノード電極は、板状の金属配線であるブスバーを介してエミッタ電極端子に接続されている。半導体モジュールは、筐体であるケース内に、IGBTチップ、還流ダイオードチップ、ベース板、及びブスバーなどの部品を収容し、これらの部品はシリコンゲルによって密封されている。   The emitter electrode of the IGBT chip is connected to the emitter electrode terminal via a bus bar which is a plate-like metal wiring. Similarly, the anode electrode of the freewheeling diode chip is connected to the emitter electrode terminal via a bus bar which is a plate-like metal wiring. The semiconductor module accommodates components such as an IGBT chip, a reflux diode chip, a base plate, and a bus bar in a case which is a casing, and these components are sealed with silicon gel.

特許文献2に記載の半導体モジュールは、高熱伝導性セラミックス等の材料から成る一対の基板を備え、この一対の基板間にスイッチング素子及びダイオード素子が配置されている。スイッチング素子及びダイオード素子は、はんだ若しくは高熱伝導接着剤によって基板に電気的に接続されている。特許文献2には、2組の半導体モジュールが、端子板を挟んで両側に配置された構造のインバータモジュールが開示されている。このインバータモジュールでは、端子板を挟んで、スイッチング素子とダイオード素子とが対向するように配置されている。   The semiconductor module described in Patent Document 2 includes a pair of substrates made of a material such as highly thermally conductive ceramics, and a switching element and a diode element are disposed between the pair of substrates. The switching element and the diode element are electrically connected to the substrate by solder or a high thermal conductive adhesive. Patent Document 2 discloses an inverter module having a structure in which two sets of semiconductor modules are arranged on both sides of a terminal plate. In this inverter module, the switching element and the diode element are arranged to face each other with the terminal plate interposed therebetween.

特開2005−197340号公報JP 2005-197340 A 特開2004−319562号公報JP 2004-319562 A

しかしながら、上記特許文献1,2に記載の従来技術では、冷却性能が不十分であった。そこで、冷却性能の向上を図ると共に小型化を図ることが可能な半導体モジュールを提供することを目的とする。   However, the conventional techniques described in Patent Documents 1 and 2 have insufficient cooling performance. Accordingly, it is an object of the present invention to provide a semiconductor module capable of improving the cooling performance and reducing the size.

本発明は、板厚方向に積層された第1の放熱板及び第2の放熱板と、第1の放熱板の第2の放熱板とは反対側の面に接合されたスイッチング素子と、スイッチング素子の第1の放熱板とは反対側の面に接合され板状を成す第1のリードフレームと、第2の放熱板の第1の放熱板とは反対側の面に接合された整流素子と、当該整流素子の第2の放熱板とは反対側の面に接合され板状を成す第2のリードフレームと、を備え、第1のリードフレームの板厚方向の外側の表面は、当該第1のリードフレームを冷却する冷却部と当接可能な第1の冷却面を有し、第2のリードフレームの板厚方向の外側の表面は、当該第2のリードフレームを冷却する冷却部と当接可能な第2の冷却面を有し、第1のリードフレーム及び第2のリードフレームは、板厚方向と交差する第1の方向に張出し、互いの端部がTIG溶接によって接合され、第1の放熱板、第2の放熱板、スイッチング素子、整流素子、第1のリードフレーム、及び第2のリードフレームが、モールド封止されている半導体モジュールを提供する。   The present invention includes a first heat radiating plate and a second heat radiating plate laminated in a plate thickness direction, a switching element joined to a surface of the first heat radiating plate opposite to the second heat radiating plate, A first lead frame that is joined to a surface opposite to the first heat dissipation plate of the element to form a plate shape, and a rectifying element that is bonded to a surface opposite to the first heat dissipation plate of the second heat dissipation plate And a second lead frame that is joined to a surface opposite to the second heat dissipation plate of the rectifying element and forms a plate shape, and the outer surface in the plate thickness direction of the first lead frame is A cooling part that has a first cooling surface that can come into contact with a cooling part that cools the first lead frame, and an outer surface in the thickness direction of the second lead frame cools the second lead frame. The first and second lead frames have a plate thickness. Projecting in the first direction intersecting the direction, the ends of each are joined by TIG welding, the first heat radiating plate, the second heat radiating plate, the switching element, the rectifying element, the first lead frame, and the second A semiconductor module in which a lead frame is molded and sealed is provided.

この半導体モジュールは、スイッチング素子と接触する板状の第1のリードフレームを備えているので、スイッチング素子の熱を第1のリードフレームに伝熱することができる。半導体モジュールは、整流素子と接触する板状の第2のリードフレームを備えているので、整流素子の熱を第2のリードフレームに伝熱することができる。   Since the semiconductor module includes the plate-like first lead frame that comes into contact with the switching element, the heat of the switching element can be transferred to the first lead frame. Since the semiconductor module includes the plate-like second lead frame that comes into contact with the rectifying element, the heat of the rectifying element can be transferred to the second lead frame.

第1のリードフレームの板厚方向の外側の表面に第1の冷却面が形成され、第2のリードフレームの板厚方向の外側の表面に第2の冷却面が形成されているので、板厚方向の両側から第1のリードフレーム及び第2のリードフレームをそれぞれ冷却することができる。これにより、第1のリードフレーム及び第2のリードフレームを介して、スイッチング素子及び整流素子を好適に冷却することができ、簡易な構成で冷却が可能になるため、スイッチング素子及び整流素子の小型化を図ることができ、半導体モジュールを小型化できる。   Since the first cooling surface is formed on the outer surface in the plate thickness direction of the first lead frame and the second cooling surface is formed on the outer surface in the plate thickness direction of the second lead frame, the plate The first lead frame and the second lead frame can be cooled from both sides in the thickness direction. Accordingly, the switching element and the rectifying element can be suitably cooled via the first lead frame and the second lead frame, and cooling can be performed with a simple configuration. The semiconductor module can be miniaturized.

半導体モジュールは、第1のリードフレーム及び第2のリードフレームは、第1の方向の外側で、板厚方向の内側へ屈曲されて互いに接近し、板厚方向の中央で端部同士が接合されている構成でもよい。この構成の半導体モジュールによれば、第1のリードフレームの端部と第2のリードフレームの端部とが、板厚方向の中央で接近しているので、TIG溶接を行い易く、簡素な構成とすることができる。   In the semiconductor module, the first lead frame and the second lead frame are bent inward in the plate thickness direction outside the first direction and approach each other, and the ends are joined at the center in the plate thickness direction. The structure which is may be sufficient. According to the semiconductor module having this configuration, since the end portion of the first lead frame and the end portion of the second lead frame are close to each other in the center in the plate thickness direction, it is easy to perform TIG welding and has a simple configuration. It can be.

半導体モジュールは、第1の冷却面と面接触し、第1のリードフレームを冷却する第1の冷却部と、第2の冷却面と面接触し、第2のリードフレームを冷却する第2の冷却部と、を備え、第1の放熱板、第2の放熱板、スイッチング素子、整流素子、第1のリードフレーム、及び第2のリードフレームは、第1の冷却部及び第2の冷却部間で、モールド封止されている構成でもよい。この構成の半導体モジュールによれば、第1の冷却部及び第2の冷却部によって、板厚方向の両側から挟むようにして、第1のリードフレーム及び第2のリードフレームをそれぞれ冷却することができる。また、第1の冷却部及び第2の冷却部間で、第1の放熱板、第2の放熱板、スイッチング素子、整流素子、第1のリードフレーム、及び第2のリードフレームがモールド封止されているので、これらの第1の放熱板、第2の放熱板、スイッチング素子、整流素子、第1のリードフレーム、及び第2のリードフレームを好適に保護することができる。   The semiconductor module is in surface contact with the first cooling surface to cool the first lead frame, and the second cooling surface is in surface contact with the second cooling surface to cool the second lead frame. A first heat radiating plate, a second heat radiating plate, a switching element, a rectifying element, a first lead frame, and a second lead frame, the first cooling portion and the second cooling portion. A structure in which the mold is sealed may be used. According to the semiconductor module having this configuration, the first lead frame and the second lead frame can be cooled by being sandwiched from both sides in the plate thickness direction by the first cooling unit and the second cooling unit, respectively. In addition, the first heat sink, the second heat sink, the switching element, the rectifier, the first lead frame, and the second lead frame are mold-sealed between the first cooling section and the second cooling section. Therefore, the first heat radiating plate, the second heat radiating plate, the switching element, the rectifying element, the first lead frame, and the second lead frame can be suitably protected.

第1の放熱板及び第2の放熱板は、一枚の基板が折り返されて板厚方向に重ねられていてもよい。この構成によれば、一枚の基板を準備し、同一の表面にスイッチング素子及び整流素子を接合し、スイッチング素子及び整流素子が接合された基板を折り返すことで、第1の放熱板及び第2の放熱板を板厚方向に積層することができる。   The first heat radiating plate and the second heat radiating plate may be stacked in the plate thickness direction by folding a single substrate. According to this configuration, a single substrate is prepared, the switching element and the rectifying element are bonded to the same surface, and the substrate to which the switching element and the rectifying element are bonded is folded, whereby the first heat radiation plate and the second heat sink Can be laminated in the thickness direction.

一枚の基板の同一表面上には、スイッチング素子及び整流素子が配置され、スイッチング素子と整流素子との間には切欠き部が形成されていてもよい。これにより、切欠き部を境目として、基板を容易に折り返すことができる。   A switching element and a rectifying element may be disposed on the same surface of a single substrate, and a notch may be formed between the switching element and the rectifying element. Accordingly, the substrate can be easily folded back with the notch as a boundary.

本発明によれば、冷却性能の向上を図ると共に、小型化を図ることが可能な半導体モジュールを提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, while aiming at the improvement of cooling performance, the semiconductor module which can achieve size reduction can be provided.

本発明の一実施形態に係る半導体モジュールを備えた半導体装置を示す斜視図である。It is a perspective view showing a semiconductor device provided with a semiconductor module concerning one embodiment of the present invention. 図1中の半導体モジュールを示す断面図であり、II−II線に沿う断面図である。It is sectional drawing which shows the semiconductor module in FIG. 1, and is sectional drawing which follows the II-II line. 図1中の半導体モジュールを示す断面図であり、III−III線に沿う断面図である。It is sectional drawing which shows the semiconductor module in FIG. 1, and is sectional drawing which follows an III-III line. 本実施の形態に係る半導体モジュールの等価回路図である。It is an equivalent circuit diagram of the semiconductor module according to the present embodiment. 本実施の形態に係る半導体モジュールの製造手順を示した図である。It is the figure which showed the manufacturing procedure of the semiconductor module which concerns on this Embodiment. 半導体モジュールの一例を示した図である。It is the figure which showed an example of the semiconductor module.

以下、本発明による半導体モジュールの好適な実施形態について図面を参照しながら説明する。なお、図面の説明において同一または相当要素には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。   Hereinafter, preferred embodiments of a semiconductor module according to the present invention will be described with reference to the drawings. In the description of the drawings, the same or corresponding elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

図1は、本発明の一実施形態に係る半導体モジュールを備えた半導体装置を示す斜視図である。図2は、図1中の半導体モジュールを示す断面図である。図3は、図1中のIII−III線に沿う断面図である。図4は、本実施の形態に係る半導体モジュールの等価回路図である。   FIG. 1 is a perspective view showing a semiconductor device including a semiconductor module according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a cross-sectional view showing the semiconductor module in FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line III-III in FIG. FIG. 4 is an equivalent circuit diagram of the semiconductor module according to the present embodiment.

図1に示す半導体装置1は、例えば三相交流モータを駆動源に持つ車両(例えば、ハイブリッド車両、電気自動車)に搭載されるモータシステムのインバータに適用可能である。半導体装置1は、複数の半導体モジュール2を備えている。本実施の形態に係る半導体モジュール2には、スイッチング素子(パワー素子)としてIGBT3が用いられている。   The semiconductor device 1 shown in FIG. 1 can be applied to an inverter of a motor system mounted on a vehicle (for example, a hybrid vehicle or an electric vehicle) having, for example, a three-phase AC motor as a drive source. The semiconductor device 1 includes a plurality of semiconductor modules 2. In the semiconductor module 2 according to the present embodiment, an IGBT 3 is used as a switching element (power element).

図2に示すように、半導体モジュール2は、板厚方向Xに積層された一対の放熱板4,5を備え、この一対の放熱板4,5を挟んで、IGBT3と、ダイオード6(整流素子)とが背中合わせで配置されている。IGBT3とダイオード6とが背中合わせで配置されているとは、IGBT3に流れる電流とダイオード6に流れる電流とが逆向きになるように配置されていることをいう。図2では、一つの半導体モジュール2を図示している。   As shown in FIG. 2, the semiconductor module 2 includes a pair of heat sinks 4 and 5 stacked in the plate thickness direction X. The IGBT 3 and the diode 6 (rectifier element) are sandwiched between the pair of heat sinks 4 and 5. ) And are arranged back to back. The phrase “the IGBT 3 and the diode 6 are arranged back to back” means that the current flowing through the IGBT 3 and the current flowing through the diode 6 are arranged in opposite directions. In FIG. 2, one semiconductor module 2 is illustrated.

放熱板4の表面側(放熱板5とは反対側の面)には、IGBT3が配置されている。放熱板4の表面には、所定の絶縁基板回路7が形成されている。IGBT3のコレクタ電極(電流入力)面は、放熱板4側に配置されている。IGBT3は、放熱板4に形成された絶縁基板回路7と、はんだ8により接合されることで電気的に接続されている。絶縁基板回路7は例えばセラミック基板(DBA)からなる回路である。   The IGBT 3 is disposed on the surface side of the heat radiating plate 4 (the surface opposite to the heat radiating plate 5). A predetermined insulating substrate circuit 7 is formed on the surface of the heat sink 4. The collector electrode (current input) surface of the IGBT 3 is disposed on the heat sink 4 side. The IGBT 3 is electrically connected to the insulating substrate circuit 7 formed on the heat radiating plate 4 by being joined by solder 8. The insulating substrate circuit 7 is a circuit made of, for example, a ceramic substrate (DBA).

放熱板5の表面側(放熱板4とは反対側の面)には、ダイオード6が配置されている。放熱板5の表面には、所定の絶縁基板回路9が形成されている。ダイオード6のカソード電極面は、放熱板5側に配置されている。ダイオード6は、放熱板5に形成された絶縁基板回路9と、はんだ10により接合されることで電気的に接続されている。絶縁基板回路9は例えばセラミック基板(DBA)からなる回路である。   A diode 6 is disposed on the surface side of the heat radiating plate 5 (surface opposite to the heat radiating plate 4). A predetermined insulating substrate circuit 9 is formed on the surface of the heat sink 5. The cathode electrode surface of the diode 6 is disposed on the heat radiating plate 5 side. The diode 6 is electrically connected to the insulating substrate circuit 9 formed on the heat radiating plate 5 by being joined by solder 10. The insulating substrate circuit 9 is a circuit made of, for example, a ceramic substrate (DBA).

ダイオード6は、IGBT3のコレクタ電極3Cとエミッタ電極3E(図4参照)との間に接続され、逆方向電圧印加時の破損防止のため、負過電流をバイパスさせる還流用ダイオードとして機能する。ダイオード6のカソード電極は、IGBT3のコレクタ電極3Cに接続されている。ダイオード6のアノード電極は、IGBT3のエミッタ電極3Eに接続されている。   The diode 6 is connected between the collector electrode 3C and the emitter electrode 3E (see FIG. 4) of the IGBT 3 and functions as a free-wheeling diode that bypasses the negative overcurrent in order to prevent breakage during reverse voltage application. The cathode electrode of the diode 6 is connected to the collector electrode 3C of the IGBT 3. The anode electrode of the diode 6 is connected to the emitter electrode 3E of the IGBT 3.

放熱板4,5には例えば冷却フィン(不図示)が形成されている。放熱板4,5は、後述するモールド樹脂19により封止された部分より外側に張り出した部分に冷却フィンが設けられている。冷却フィンは、冷却水によって冷却され、放熱板4,5を冷却する。   For example, cooling fins (not shown) are formed on the radiator plates 4 and 5. The heat radiating plates 4 and 5 are provided with cooling fins in a portion protruding outward from a portion sealed with a mold resin 19 described later. The cooling fins are cooled by the cooling water and cool the radiator plates 4 and 5.

IGBT3の表面(放熱板4とは反対側の面)には、板状を成すリードフレーム11(第1のリードフレーム)が配置されている。リードフレーム11は、はんだ12によってIGBT3の表面に接合されている。IGBT3とリードフレーム11とは、はんだ12を介して電気的に接続されている。例えば、リードフレーム11は、IGBT3の板厚方向Xの外側の面を、全面覆うように配置されている。IGBT3で発生した熱は、放熱板4及びリードフレーム11に伝熱される。   A plate-like lead frame 11 (first lead frame) is disposed on the surface of the IGBT 3 (the surface opposite to the heat radiating plate 4). The lead frame 11 is joined to the surface of the IGBT 3 by solder 12. The IGBT 3 and the lead frame 11 are electrically connected via solder 12. For example, the lead frame 11 is disposed so as to cover the entire outer surface of the IGBT 3 in the plate thickness direction X. Heat generated in the IGBT 3 is transferred to the heat radiating plate 4 and the lead frame 11.

ダイオード6の表面(放熱板5とは反対側の面)には、板状を成すリードフレーム13(第2のリードフレーム)が配置されている。リードフレーム13は、はんだ14によってダイオード6の表面に接合されている。ダイオード6とリードフレーム13とは、はんだ14を介して電気的に接続されている。例えば、リードフレーム13は、ダイオード6の板厚方向Xの外側の面を、全面覆うように配置されている。ダイオード6で発生した熱は、放熱板5及びリードフレーム13に伝熱される。   A plate-like lead frame 13 (second lead frame) is disposed on the surface of the diode 6 (surface opposite to the heat sink 5). The lead frame 13 is joined to the surface of the diode 6 by solder 14. The diode 6 and the lead frame 13 are electrically connected via the solder 14. For example, the lead frame 13 is disposed so as to cover the entire outer surface of the diode 6 in the plate thickness direction X. Heat generated by the diode 6 is transferred to the heat radiating plate 5 and the lead frame 13.

リードフレーム11,13の材質としては、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、銅モリブデン(MoCu)など、電気伝導性が高く且つ熱伝導率が高い金属材料が考えられる。リードフレーム11,13として、放熱性能が高いものが好ましい。   As the material of the lead frames 11 and 13, a metal material having high electrical conductivity and high thermal conductivity, such as copper (Cu), aluminum (Al), copper molybdenum (MoCu), or the like can be considered. The lead frames 11 and 13 preferably have high heat dissipation performance.

リードフレーム11,13は、板厚方向Xと交差する第1の方向Z(図2における上下方向)に張出している。リードフレーム11,13は、Z方向において、放熱板4,5、IGBT3、及びダイオード6よりも外側(図示上方)へ延びている。リードフレーム11のZ方向の外側の端部には、接合端子15が形成されている。リードフレーム13のZ方向の外側の端部には、接合端子16が形成されている。   The lead frames 11 and 13 project in a first direction Z (vertical direction in FIG. 2) intersecting the plate thickness direction X. The lead frames 11 and 13 extend outward (upward in the drawing) from the heat sinks 4 and 5, the IGBT 3, and the diode 6 in the Z direction. A junction terminal 15 is formed on the outer end of the lead frame 11 in the Z direction. A junction terminal 16 is formed at the outer end of the lead frame 13 in the Z direction.

リードフレーム11,13は、Z方向において放熱板4,5よりも外側の位置で、板厚方向Xの内側へ屈曲されている。リードフレーム11の接合端子15と、リードフレーム13の接合端子16とは、板厚方向Xの中央で、対向する面同士が接触している。接合端子15,16は、TIG溶接によって接合されている。エミッタ電極3Eとダイオード6とを接続するエミッタ配線、及びコレクタ電極3Cとダイオード6とを接続するコレクタ配線は、リードフレーム11,13によって接続されている。   The lead frames 11 and 13 are bent inward in the plate thickness direction X at positions outside the heat sinks 4 and 5 in the Z direction. The joining terminals 15 of the lead frame 11 and the joining terminals 16 of the lead frame 13 are in contact with each other at the center in the plate thickness direction X. The joining terminals 15 and 16 are joined by TIG welding. The emitter wiring that connects the emitter electrode 3E and the diode 6 and the collector wiring that connects the collector electrode 3C and the diode 6 are connected by lead frames 11 and 13, respectively.

TIG溶接[tungsten-inert-gas arc welding]は、アルゴン、ヘリウムなどの不活性ガスの雰囲気中で、タングステン電極と被溶接物(接合端子15,16)との間にアークを発生させてその熱を利用して溶接する。   In TIG welding (tungsten-inert-gas arc welding), an arc is generated between the tungsten electrode and the workpieces (joining terminals 15 and 16) in an atmosphere of an inert gas such as argon or helium, and the heat is generated. Weld using.

リードフレーム11の板厚方向Xの外側には、リードフレーム11を冷却する冷却部17(第1の冷却部)が配置されている。冷却部17は、例えば、板状に形成され、冷却部17の板厚方向がX方向に沿うように配置されている。リードフレーム11の板厚方向Xの外側の面には、冷却部17と接触して冷却される冷却面11a(伝熱面)が形成されている。   A cooling unit 17 (first cooling unit) that cools the lead frame 11 is disposed outside the lead frame 11 in the plate thickness direction X. The cooling unit 17 is formed in a plate shape, for example, and is arranged so that the thickness direction of the cooling unit 17 is along the X direction. On the outer surface of the lead frame 11 in the plate thickness direction X, a cooling surface 11a (heat transfer surface) that is cooled in contact with the cooling unit 17 is formed.

リードフレーム13の板厚方向Xの外側には、リードフレーム13を冷却する冷却部18(第2の冷却部)が配置されている。冷却部18は、例えば、板状に形成され、冷却部18の板厚方向がX方向に沿うように配置されている。リードフレーム13の板厚方向Xの外側の面には、冷却部18と接触して冷却される冷却面13a(伝熱面)が形成されている。   A cooling unit 18 (second cooling unit) that cools the lead frame 13 is disposed outside the lead frame 13 in the plate thickness direction X. The cooling unit 18 is formed in a plate shape, for example, and is arranged so that the thickness direction of the cooling unit 18 is along the X direction. On the outer surface of the lead frame 13 in the plate thickness direction X, a cooling surface 13a (heat transfer surface) that is cooled in contact with the cooling unit 18 is formed.

冷却部17,18の内部には、冷媒が流れる管路、及び冷却フィンが形成されている。冷却部17,18内に冷媒を流すことで、冷却部17,18に伝達された熱が冷媒に伝達されて、冷却部17,18外へ放出される。冷却部17,18(冷却器)は、板厚方向Xの両側から、リードフレーム11,13を挟むように配置され、リードフレーム11,13を冷却する。   Inside the cooling units 17 and 18, a conduit through which the refrigerant flows and cooling fins are formed. By flowing the refrigerant into the cooling units 17 and 18, the heat transmitted to the cooling units 17 and 18 is transmitted to the refrigerant and released outside the cooling units 17 and 18. The cooling units 17 and 18 (coolers) are arranged so as to sandwich the lead frames 11 and 13 from both sides in the plate thickness direction X, and cool the lead frames 11 and 13.

一対の冷却部17,18間に配置された各部品(放熱板4,5、絶縁基板回路7,9、IGBT3、ダイオード6、リードフレーム11,13、はんだ8,10,12,14)は、モールド樹脂19によって封止されている。リードフレーム11,13は、冷却部17,18と当接する冷却面11a,13a以外は、モールド樹脂19によって封止されている。このようにモールド樹脂19によって封止することで上記の各部品を保護する。はんだ8,10,12,14は、モールド樹脂19によって保護され、はんだとしての信頼性が向上されている。   Each component (heat sinks 4 and 5, insulating substrate circuits 7 and 9, IGBT 3, diode 6, lead frame 11 and 13, solder frame 8, 10, 12, and 14) disposed between the pair of cooling units 17 and 18 is as follows. Sealed with a mold resin 19. The lead frames 11 and 13 are sealed with a mold resin 19 except for the cooling surfaces 11a and 13a that contact the cooling portions 17 and 18. In this way, the above-described components are protected by sealing with the mold resin 19. The solders 8, 10, 12, and 14 are protected by the mold resin 19, and the reliability as solder is improved.

図1に示すように、半導体装置1は、板厚方向Xに複数の半導体モジュール2を備えている。半導体装置1では、半導体モジュール2の両側に冷却部(17,18)が配置されている。半導体装置1では、X方向及びZ方向に交差する方向であるY方向に、複数の半導体モジュール2を備えている構成でもよい。半導体装置1は、Y方向において、IGBT3及びダイオード6に隣接する接続端子22を備えている。   As shown in FIG. 1, the semiconductor device 1 includes a plurality of semiconductor modules 2 in the plate thickness direction X. In the semiconductor device 1, cooling parts (17, 18) are arranged on both sides of the semiconductor module 2. The semiconductor device 1 may have a configuration in which a plurality of semiconductor modules 2 are provided in the Y direction, which is a direction intersecting the X direction and the Z direction. The semiconductor device 1 includes a connection terminal 22 adjacent to the IGBT 3 and the diode 6 in the Y direction.

図3は、図1中のIII−III線に沿う断面図である。半導体装置1では、冷却部17,18及び放熱板4,5が、Y方向に延在している。放熱板4,5上には、上述したように絶縁基板回路7,9が形成されている。   3 is a cross-sectional view taken along line III-III in FIG. In the semiconductor device 1, the cooling units 17 and 18 and the heat radiating plates 4 and 5 extend in the Y direction. As described above, the insulating substrate circuits 7 and 9 are formed on the heat sinks 4 and 5.

絶縁基板回路7の表面(放熱板4とは反対側の面)上部には、板状を成すリードフレーム24が配置されている。同様に、絶縁基板回路9の表面(放熱板5とは反対側の面)上部には、板状を成すリードフレーム25が配置されている。リードフレーム24,25は、板厚方向Xと交差する第1の方向Z(図3における上下方向)に張出している。   A lead frame 24 having a plate shape is disposed on the upper surface of the insulating substrate circuit 7 (surface opposite to the heat radiating plate 4). Similarly, a lead frame 25 having a plate shape is disposed on the upper surface of the insulating substrate circuit 9 (surface opposite to the heat sink 5). The lead frames 24 and 25 project in a first direction Z (vertical direction in FIG. 3) intersecting the plate thickness direction X.

リードフレーム24,25は、Z方向において放熱板4,5よりも外側の位置で、板厚方向Xの内側へ屈曲されている。リードフレーム24,25は、板厚方向Xの中央において、リードフレーム24及びリードフレーム25で、Z方向に延びる絶縁基板23を挟める距離まで屈曲されている。絶縁基板23を挟める距離まで屈曲されたリードフレーム24,25は、Z方向に張出し、モールド樹脂19により封止された部分より上方で、接続端子22に接続される。   The lead frames 24 and 25 are bent inward in the plate thickness direction X at positions outside the heat sinks 4 and 5 in the Z direction. The lead frames 24 and 25 are bent at the center in the plate thickness direction X to a distance that sandwiches the insulating substrate 23 extending in the Z direction between the lead frame 24 and the lead frame 25. The lead frames 24 and 25 bent to a distance sandwiching the insulating substrate 23 project in the Z direction and are connected to the connection terminal 22 above the portion sealed by the mold resin 19.

接続端子22は、各半導体モジュール2毎に設けられている(図1参照)。絶縁基板23は、リードフレーム24及びリードフレーム25に挟まれるようにしてZ方向に延びている。一対の冷却部17,18間に配置された各部品は、モールド樹脂19によって封止されている。   The connection terminal 22 is provided for each semiconductor module 2 (see FIG. 1). The insulating substrate 23 extends in the Z direction so as to be sandwiched between the lead frame 24 and the lead frame 25. Each component disposed between the pair of cooling units 17 and 18 is sealed with a mold resin 19.

図4には、半導体モジュール2の等価回路図を示している。半導体装置1は、複数の半導体モジュール2が接続されている。半導体装置1では、回路上の正極Pと負極Nとの間に、上相のIGBT3A(3)と下相のIGBT3B(3)とが直列接続され、その直列接続に対してコンデンサ20(スナバコンデンサ)が並列接続されている。   FIG. 4 shows an equivalent circuit diagram of the semiconductor module 2. A plurality of semiconductor modules 2 are connected to the semiconductor device 1. In the semiconductor device 1, an upper phase IGBT 3A (3) and a lower phase IGBT 3B (3) are connected in series between a positive electrode P and a negative electrode N on the circuit, and a capacitor 20 (snubber capacitor) is connected to the series connection. ) Are connected in parallel.

上相のIGBT3のエミッタ電極3Eと下相のIGBT3のコレクタ電極3Cとの接続点21には、三相交流モータの任意の相(U相orV相orW相)の出力側が接続される。IGBT3のゲート電極3Gには、ゲート端子が接続される。   An output side of an arbitrary phase (U phase or V phase or W phase) of the three-phase AC motor is connected to a connection point 21 between the emitter electrode 3E of the upper phase IGBT 3 and the collector electrode 3C of the lower phase IGBT 3. A gate terminal is connected to the gate electrode 3G of the IGBT 3.

スナバコンデンサ20は、半導体モジュール2でのサージ電圧を抑制するためのコンデンサである。スナバコンデンサ20としては、セラミックコンデンサやフィルムコンデンサ等が適用される。スナバコンデンサ20は、2個以上直列に設けられていてもよい。なお、スナバコンデンサは、1個でもよいし、3個以上でもよい。   The snubber capacitor 20 is a capacitor for suppressing a surge voltage in the semiconductor module 2. As the snubber capacitor 20, a ceramic capacitor, a film capacitor, or the like is applied. Two or more snubber capacitors 20 may be provided in series. Note that the number of snubber capacitors may be one, or three or more.

つぎに、図5により、上述した半導体モジュール2の製造について説明する。図5は、本実施の形態に係る半導体モジュールの製造手順を示した図である。なお、図5には、上述した絶縁基板回路7,9を図示していない。図5(a)に示すように、半導体モジュール2は、まず、放熱板4,5が1枚の平面基板である状態ではんだ接合が行われる。すなわち、IGBT3がはんだ8によって放熱板4に接合され、リードフレーム11がはんだ12によってIGBT3に接合される。また、ダイオード6がはんだ10によって放熱板5に接合され、リードフレーム13がはんだ14によってダイオード6に接合される。はんだ接合後、IGBT3とダイオード6との間(放熱板4と放熱板5との接続点)の切欠き部31で折り返すように曲げ加工が行われる。   Next, manufacturing of the semiconductor module 2 described above will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a diagram showing a manufacturing procedure of the semiconductor module according to the present embodiment. FIG. 5 does not show the above-described insulating substrate circuits 7 and 9. As shown in FIG. 5A, the semiconductor module 2 is first solder-bonded in a state where the radiator plates 4 and 5 are a single flat substrate. That is, the IGBT 3 is joined to the heat sink 4 by the solder 8, and the lead frame 11 is joined to the IGBT 3 by the solder 12. Further, the diode 6 is joined to the heat sink 5 by the solder 10, and the lead frame 13 is joined to the diode 6 by the solder 14. After the solder joint, bending is performed so as to be folded back at the notch 31 between the IGBT 3 and the diode 6 (the connection point between the heat sink 4 and the heat sink 5).

上述した曲げ加工後、図5(b)に示すように、接合端子15,16の面が接した状態で、接合端子15,16のTIG溶接が行われる。最後に、放熱板4,5、IGBT3、ダイオード6、リードフレーム11,13、はんだ8,10,12,14が、モールド樹脂19によって封止される。   After the bending process described above, as shown in FIG. 5B, TIG welding of the joining terminals 15 and 16 is performed in a state where the surfaces of the joining terminals 15 and 16 are in contact with each other. Finally, the heat sinks 4 and 5, the IGBT 3, the diode 6, the lead frames 11 and 13, and the solders 8, 10, 12, and 14 are sealed with a mold resin 19.

次に、本実施形態に係る半導体モジュール2の効果について説明する。この半導体モジュール2では、IGBT3と接触するリードフレーム11と、ダイオード6と接触するリードフレーム13とが備わっているため、IGBT3の熱をリードフレーム11に、ダイオード6の熱をリードフレーム13に、それぞれ伝熱することができる。リードフレーム11の外側の表面には第1の冷却面が、リードフレーム13の外側の表面には第2の冷却面が、それぞれ形成されているため、リードフレーム11,13を介して、素子上面からIGBT3及びダイオード6を好適に冷却することができる。簡易な構成でIGBT3及びダイオード6の好適な冷却が可能となるため、IGBT3及びダイオード6の小型化が図られ、半導体モジュール2の小型化が実現される。   Next, effects of the semiconductor module 2 according to the present embodiment will be described. Since the semiconductor module 2 includes the lead frame 11 that contacts the IGBT 3 and the lead frame 13 that contacts the diode 6, the heat of the IGBT 3 is supplied to the lead frame 11, and the heat of the diode 6 is supplied to the lead frame 13, respectively. Heat can be transferred. Since the first cooling surface is formed on the outer surface of the lead frame 11 and the second cooling surface is formed on the outer surface of the lead frame 13, the upper surface of the element is interposed via the lead frames 11 and 13, respectively. Thus, the IGBT 3 and the diode 6 can be suitably cooled. Since the IGBT 3 and the diode 6 can be suitably cooled with a simple configuration, the IGBT 3 and the diode 6 can be downsized, and the semiconductor module 2 can be downsized.

なお、半導体モジュール2の中央に配置された放熱板4,5によってもIGBT3及びダイオード6の両方を冷却することができるため、より効果的な冷却が可能となる。さらに、図2に示すように、IGBT3とダイオード6とが放熱板4,5を介して背中合わせに配置されていることで、IGBT3とダイオード6に流れる電流は互いに反対方向に流れることとなり、電流が流れることにより発生する磁界は互いに打ち消し合うことになる。このことで、インダクタンスが低減され、サージ電圧を低減させることができる。半導体モジュール2では、サージ電圧の発生を低減することができるので、IGBT3のスイッチングスピードの高速化を図り、スイッチング損失を低減することができる。   In addition, since both IGBT3 and the diode 6 can be cooled also with the heat sinks 4 and 5 arrange | positioned in the center of the semiconductor module 2, more effective cooling is attained. Further, as shown in FIG. 2, the IGBT 3 and the diode 6 are arranged back to back via the heat sinks 4 and 5, so that the currents flowing in the IGBT 3 and the diode 6 flow in opposite directions, and the current flows. Magnetic fields generated by flowing will cancel each other. As a result, the inductance is reduced and the surge voltage can be reduced. In the semiconductor module 2, since the generation of surge voltage can be reduced, the switching speed of the IGBT 3 can be increased and the switching loss can be reduced.

また、半導体モジュール2では、リードフレーム11及びリードフレーム13が、Z方向の外側で、板厚方向Xの内側へ屈曲されて互いに接近し、板厚方向Xの中央で端部同士が接合されているため、TIG溶接を行うことが容易であり、簡素な構成とできる。   In the semiconductor module 2, the lead frame 11 and the lead frame 13 are bent inward in the plate thickness direction X on the outer side in the Z direction and approach each other, and the end portions are joined at the center in the plate thickness direction X. Therefore, it is easy to perform TIG welding, and a simple configuration can be achieved.

また、半導体モジュール2では、冷却部17,18を備え、放熱板4,5、IGBT3、ダイオード6、リードフレーム11,13、が冷却部17及び冷却部18間で、モールド封止されていることで、冷却部17及び冷却部18によって、板厚方向Xの両側から挟むようにして、リードフレーム11,13をそれぞれ冷却することができる。また、冷却部17及び冷却部18間で、放熱板4,5、IGBT3、ダイオード6、リードフレーム11,13をモールド封止できるため、放熱板4,5、IGBT3、ダイオード6、リードフレーム11,13を好適に保護することができる。   Further, the semiconductor module 2 includes the cooling units 17 and 18, and the heat sinks 4 and 5, the IGBT 3, the diode 6, and the lead frames 11 and 13 are molded and sealed between the cooling unit 17 and the cooling unit 18. Thus, the lead frames 11 and 13 can be cooled by the cooling unit 17 and the cooling unit 18 so as to be sandwiched from both sides in the plate thickness direction X, respectively. Moreover, since the heat sinks 4 and 5, IGBT 3, diode 6, and lead frames 11 and 13 can be molded and sealed between the cooling part 17 and the cooling part 18, the heat sinks 4 and 5, IGBT 3, diode 6, lead frame 11, 13 can be suitably protected.

また、放熱板4及び放熱板5は、一枚の基板が折り返されて板厚方向Xに重ねられている構成とすることで、一枚の基板の状態(平面状態)でIGBT3及びダイオード6を接合し、素子が接合された基板を折り返して、放熱板4,5を板厚方向Xに積層することが可能となる。このことで、半導体モジュール2の製造が容易になる。   Further, the heat sink 4 and the heat sink 5 are configured such that one board is folded and overlapped in the plate thickness direction X, so that the IGBT 3 and the diode 6 can be connected in a single board state (planar state). It is possible to stack the heat sinks 4 and 5 in the plate thickness direction X by folding the substrates to which the elements are bonded. This facilitates the manufacture of the semiconductor module 2.

また、上述した一枚の基板の同一平面上には、IGBT3及びダイオード6が配置され、IGBT3とダイオード6との間には切欠き部31が形成されていてもよい。これにより、切欠き部31を境目として、基板を容易に折り返すことができ、半導体モジュール2の製造がより容易になる。   Further, the IGBT 3 and the diode 6 may be disposed on the same plane of the single substrate described above, and the notch 31 may be formed between the IGBT 3 and the diode 6. Thus, the substrate can be easily folded back with the notch 31 as a boundary, and the manufacture of the semiconductor module 2 becomes easier.

以上、本発明の半導体モジュールの好適な実施形態について説明したが、本発明の半導体モジュールは上述した実施形態に限定されない。例えば、図6に示す形態の半導体モジュールであってもよい。なお、図6は、説明に必要な箇所のみ図示している。図6に示す半導体モジュール2Aでは、Y方向において2つのIGBT3A,3Aが並んで設置されている。並んで設置されたIGBT3A,3Aは並列接続され、共通のリードフレーム11Aで連結されている。半導体モジュール2Aのように、素子が並列に接続されている場合には、該素子を共通のリードフレーム11Aで連結してもよい。IGBT3A,3Aをワイヤーボンディングによって並列接続した場合には、一方のIGBT3Aに電流が集中するような現象(電流アンバランス)が発生するおそれがあるが、リードフレーム11Aを用いて、複数のIGBTを並列接続することで、電流アンバランスの発生を抑制することができる。   As mentioned above, although preferred embodiment of the semiconductor module of this invention was described, the semiconductor module of this invention is not limited to embodiment mentioned above. For example, the semiconductor module shown in FIG. 6 may be used. FIG. 6 shows only the portions necessary for explanation. In the semiconductor module 2A shown in FIG. 6, two IGBTs 3A and 3A are installed side by side in the Y direction. The IGBTs 3A and 3A installed side by side are connected in parallel and connected by a common lead frame 11A. When the elements are connected in parallel as in the semiconductor module 2A, the elements may be connected by a common lead frame 11A. When IGBTs 3A and 3A are connected in parallel by wire bonding, a phenomenon (current imbalance) that current concentrates on one IGBT 3A may occur. By connecting, occurrence of current imbalance can be suppressed.

また、上記実施形態においては、スイッチング素子としてIGBT3、整流素子としてダイオード6を例示して説明を行ったが、これに限定されるものではなく、種々のスイッチング素子、及び整流素子を用いることができる。   Moreover, in the said embodiment, although IGBT3 was illustrated as a switching element and the diode 6 was illustrated as a rectifier, it was not limited to this, A various switching element and a rectifier can be used. .

1…半導体装置、2…半導体モジュール、3…IGBT(スイッチング素子)、4…放熱板(第1の放熱板)、5…放熱板(第2の放熱板)、6…ダイオード(整流素子)、11…リードフレーム(第1のリードフレーム)、11a…冷却面(第1の冷却面)、13…リードフレーム(第2のリードフレーム)、13a…冷却面(第3の冷却面)、17…冷却部(第1の冷却部)、18…冷却部(第2の冷却部)、19…モールド樹脂、31…切欠き部。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Semiconductor device, 2 ... Semiconductor module, 3 ... IGBT (switching element), 4 ... Heat sink (1st heat sink), 5 ... Heat sink (2nd heat sink), 6 ... Diode (rectifier element), DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Lead frame (1st lead frame), 11a ... Cooling surface (1st cooling surface), 13 ... Lead frame (2nd lead frame), 13a ... Cooling surface (3rd cooling surface), 17 ... Cooling part (first cooling part), 18 ... cooling part (second cooling part), 19 ... mold resin, 31 ... notch.

Claims (5)

板厚方向に積層された第1の放熱板及び第2の放熱板と、
前記第1の放熱板の前記第2の放熱板とは反対側の面に接合されたスイッチング素子と、
前記スイッチング素子の前記第1の放熱板とは反対側の面に接合され板状を成す第1のリードフレームと、
前記第2の放熱板の前記第1の放熱板とは反対側の面に接合された整流素子と、
前記整流素子の前記第2の放熱板とは反対側の面に接合され板状を成す第2のリードフレームと、を備え、
前記第1のリードフレームの板厚方向の外側の表面は、当該第1のリードフレームを冷却する冷却部と当接可能な第1の冷却面を有し、
前記第2のリードフレームの板厚方向の外側の表面は、当該第2のリードフレームを冷却する冷却部と当接可能な第2の冷却面を有し、
前記第1のリードフレーム及び前記第2のリードフレームは、前記板厚方向と交差する第1の方向に張出し、互いの端部がTIG溶接によって接合され、
前記第1の放熱板、前記第2の放熱板、前記スイッチング素子、前記整流素子、前記第1のリードフレーム、及び前記第2のリードフレームが、モールド封止されている半導体モジュール。
A first heat radiating plate and a second heat radiating plate laminated in the plate thickness direction;
A switching element joined to a surface of the first heat radiating plate opposite to the second heat radiating plate;
A first lead frame which is joined to a surface of the switching element opposite to the first heat dissipating plate to form a plate;
A rectifying element joined to a surface of the second heat sink opposite to the first heat sink;
A second lead frame that is joined to a surface of the rectifying element opposite to the second heat dissipating plate to form a plate,
The outer surface in the plate thickness direction of the first lead frame has a first cooling surface that can come into contact with a cooling unit that cools the first lead frame,
The outer surface in the plate thickness direction of the second lead frame has a second cooling surface that can come into contact with a cooling unit that cools the second lead frame,
The first lead frame and the second lead frame are projected in a first direction intersecting the plate thickness direction, and ends of each other are joined by TIG welding,
A semiconductor module in which the first heat radiating plate, the second heat radiating plate, the switching element, the rectifying element, the first lead frame, and the second lead frame are molded and sealed.
第1のリードフレーム及び第2のリードフレームは、前記第1の方向の外側で、前記板厚方向の内側へ屈曲されて互いに接近し、前記板厚方向の中央で前記端部同士が接合されている請求項1に記載の半導体モジュール。   The first lead frame and the second lead frame are bent inward in the plate thickness direction on the outside in the first direction and approach each other, and the end portions are joined in the center in the plate thickness direction. The semiconductor module according to claim 1. 前記第1の冷却面と面接触し、前記第1のリードフレームを冷却する第1の冷却部と、
前記第2の冷却面と面接触し、前記第2のリードフレームを冷却する第2の冷却部と、を備え、
前記第1の放熱板、前記第2の放熱板、前記スイッチング素子、前記整流素子、前記第1のリードフレーム、及び前記第2のリードフレームは、前記第1の冷却部及び前記第2の冷却部間で、モールド封止されている請求項1又は2に記載の半導体モジュール。
A first cooling section that is in surface contact with the first cooling surface and cools the first lead frame;
A second cooling unit that is in surface contact with the second cooling surface and cools the second lead frame;
The first heat radiating plate, the second heat radiating plate, the switching element, the rectifying element, the first lead frame, and the second lead frame include the first cooling unit and the second cooling frame. The semiconductor module according to claim 1, which is mold-sealed between the parts.
前記第1の放熱板及び第2の放熱板は、一枚の基板が折り返されて板厚方向に重ねられている請求項1〜3の何れか一項に記載の半導体モジュール。   4. The semiconductor module according to claim 1, wherein the first heat radiating plate and the second heat radiating plate are stacked in the plate thickness direction by folding a single substrate. 5. 前記一枚の基板の同一表面上には、前記スイッチング素子及び前記整流素子が配置され、前記スイッチング素子と前記整流素子との間には切欠き部が形成されている請求項4に記載の半導体モジュール。

The semiconductor according to claim 4, wherein the switching element and the rectifying element are arranged on the same surface of the single substrate, and a notch is formed between the switching element and the rectifying element. module.

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