JP2014048061A - 放射線撮像装置、その製造方法、及び放射線撮像システム - Google Patents
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Abstract
【課題】筐体から撮像領域までの距離の増大を抑えつつ、シンチレータ層で生じる光の分布を均一化する。
【解決手段】放射線撮像装置は、センサアレイを含むセンサパネルと、前記センサパネルの上に前記センサアレイを覆うように配されたシンチレータ層と、前記センサパネルの側面に対向する側壁を有し、前記センサパネルおよび前記シンチレータ層を収容した筐体と、を備え、前記シンチレータ層は、前記センサパネルのうちの少なくとも一辺において、当該一辺から前記側壁に向かって突出している。
【選択図】図1
【解決手段】放射線撮像装置は、センサアレイを含むセンサパネルと、前記センサパネルの上に前記センサアレイを覆うように配されたシンチレータ層と、前記センサパネルの側面に対向する側壁を有し、前記センサパネルおよび前記シンチレータ層を収容した筐体と、を備え、前記シンチレータ層は、前記センサパネルのうちの少なくとも一辺において、当該一辺から前記側壁に向かって突出している。
【選択図】図1
Description
本発明は、放射線撮像装置、その製造方法、及び放射線撮像システムに関する。
図8を参照しながら、参考例の放射線撮像装置Dについて述べる。放射線撮像装置Dは、光電変換を行う複数のセンサ21が基板10の上にアレイ状に配されたセンサアレイ20と、その上に配されたシンチレータ層30と、これらを設置するための筐体40と、を備えうる。
図8では、シンチレータ層30における各センサ21の直上の領域で生じた光を模式的に矢印で表している。シンチレータ層30における各センサ21の直上の領域で生じた光の量は均一であるが、各センサ21に入射する光の量は、中央領域より端部領域の方が少ない。即ち、シンチレータ層30の発光効率がその面内で均一であるのに対し、各センサ21の受光光量が端部領域において低下するため、放射線撮像装置Dの放射線に対する感度はその面内で不均一である。
上記背景に対して、基板10の端からセンサアレイ20までの距離L1を十分に確保して、センサアレイ20を十分に覆うようにシンチレータ層30を形成する構造も考えられるが、筐体40から撮像領域(センサアレイ20)までの距離L2が増大してしまう。このことは、放射線撮像装置Dにおいてデッドスペースが生じ、例えば、マンモグラフィ用の装置においては、患者の胸部から撮像領域までの距離が大きくなるため、放射線撮像の有効な領域が小さくなってしまう。
本発明の目的は、シンチレータ層で生じる光の分布を均一化するのに有利な技術を提供することにある。
本発明の一つの側面は放射線撮像装置にかかり、前記放射線撮像装置は、センサアレイを含むセンサパネルと、前記センサパネルの上に前記センサアレイを覆うように配されたシンチレータ層と、前記センサパネルの側面に対向する側壁を有し、前記センサパネルおよび前記シンチレータ層を収容した筐体と、を備え、前記シンチレータ層は、前記センサパネルのうちの少なくとも一辺において、当該一辺から前記側壁に向かって突出していることを特徴とする。
本発明によれば、シンチレータ層で生じる光の分布を均一化することができる。
図1乃至6を参照しながら、本発明の実施形態にかかる放射線撮像装置I1を説明する。図1(a)は放射線撮像装置I1の上面図を示し、図1(b)はカットラインA−A’の断面構造を模式的に示している。放射線撮像装置I1は、センサパネル25とシンチレータ層30とを備える。センサパネル25は、基板10の上に配された複数のセンサを有するセンサアレイ20を含む。シンチレータ層30は、センサパネル25の上にセンサアレイ20を覆うように配されており、入射した放射線を光に変換する。これによってシンチレータ層30において生じた光を検出する。基板10は、例えば、ガラス、耐熱性プラスチック、シリコンウェハ等の絶縁性部材で構成される。センサアレイ20は、アレイ状に配された各センサが、例えば、光電変換素子、スイッチ素子、及び電気信号を伝達するための配線等によって構成されることによって、撮像領域を形成している。センサパネル25及びシンチレータ層30は、筐体40の中に設置されうる。光電変換素子は、例えば、アモルファスシリコン等を用いて形成され、例えば、MIS型センサやPIN型センサを含みうる。また、センサアレイ20の周辺には、センサアレイ20の制御や画素信号の読み出しのための信号入出力部50が配されうる。読み出された画素信号について所定の信号処理が為され、放射線画像が得られる。筐体40は、センサパネル25の側面に対向する側壁を有しており、センサパネル15及びシンチレータ層30を収容し得る。
センサパネル25の上には、センサアレイ20の表面を保護するためのセンサ保護層(不図示)が配されうる。センサ保護層には、SiN、TiO2、LiF、Al2O3、MgO等の他、樹脂系の部材が用いられうる。樹脂系の部材は、フッ素樹脂、液晶ポリマー、ポリフェニレンサルファイド樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエーテルニトリル樹脂を含む。また、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルサルホン樹脂、ポリアリレート樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂を含む。センサ保護層は、シンチレータ層30において生じた光が透過するように材料を選択すればよい。また、シンチレータ層30の上には、シンチレータ層30の耐湿性のため、これを覆うようにシンチレータ保護層(不図示)が形成されうる。
図2は、センサパネル25及びシンチレータ層30の端部領域Kの拡大図を示している。シンチレータ層30は、センサパネル25の少なくとも一辺25aから筐体40の側面の板部である側壁に向かって突出しており、シンチレータ層30の外縁は、当該一辺25aにおいて、センサパネル25の外縁よりも外側に位置する。このように、シンチレータ層30は、外縁がセンサパネル25の外縁よりも外側に突出した突出部60を有する。突出部60において生じた光は、図2の矢印によって模式的に示されるように、センサアレイ20に向かって入射する。よって、放射線撮像装置I1の放射線に対する感度は、その面内で均一化されているといえる。信号入出力部50は、通常、センサパネル25の端部に配されうるため、突出部60は、信号入出力部50が配されていない辺に形成されればよい。よって、本実施形態では、センサパネル25の一辺25aに突出部60が形成された場合を例示したが、二辺以上において突出部60が形成されてもよい。なお、信号入出力部50は、不図示のフレキシブルケーブル等を介して実装基板に実装されうる。
以上、放射線撮像装置I1によると、シンチレータ層30で生じる光の分布が均一化される。よって、筐体40から撮像領域までの距離L2の増大を抑えつつ、放射線が一様に照射された場合において発生する光の分布が均一化されるため放射線画像の品質が向上しうる。筐体40から撮像領域までの距離L2が小さいことは、例えば、マンモグラフィを製造するのに有利である。シンチレータ層30の外縁からセンサパネル25の外縁までの距離LOは、シンチレータ層30の上面から底面までの距離LTとの比LO/LTが、例えば、1/4倍乃至1倍の範囲内になるように形成するとよい。また、比LO/LTを、1/3倍以上にすると前述の効果が効率的に得られ好ましく、1/2倍以上にすると更によい。
シンチレータ層30は、柱状結晶を有するシンチレータを用いて形成されてもよいし、蛍光体粒子を用いて形成されてもよい。例えば、柱状結晶を有するシンチレータを用いる場合は、当該柱状結晶によりシンチレータ層30で発生した光の散乱を低減することができ、放射線画像の解像度が向上しうる。その材料には、例えば、ハロゲン化アルカリを主成分とする材料が用いられ、具体的には、CsI:Tl、CsI:Na、CsBr:Tl、NaI:Tl、LiI:Eu、KI:Tl等が用いられる。例えば、CsI:Tlの場合は、CsIとTlIとを用いた蒸着法によって、シンチレータ層30が形成されうる。
一方、蛍光体粒子を用いる場合は、粒子状結晶を樹脂バインダーに分散させた蛍光体ペーストをセンサパネル25に塗布し、乾燥させることによって、シンチレータ層30は容易に形成されうる。その材料には、例えば、CaWO4、Gd2O2S:Tb、BaSO4:Pb等の公知の部材を用いればよい。蛍光体粒子の粒径は、例えば、5〜100μm程度にすればよく、特に、粒径5〜50μmのものが望ましい。バインダーには、公知の有機材料を混合すればよく、例えば、ニトロセルロース、酢酸セルロース、エチルセルロース、ポリビニルブチラール、ポリエステル、塩化ビニル、酢酸ビニル、アクリル樹脂、ポリウレタン等の公知の樹脂が用いればよい。また、有機溶剤には、例えば、エタノール、メチルエチルケトン、酢酸ブチル、酢酸エチル、キシレン、ブチルカルビトール、テルピネオール等の公知の部材を用いればよい。例えば、スクリーン印刷やスリットコート印刷等の一般的な形成手法によって、上述の蛍光体ペーストをセンサパネル25の上に塗布し、乾燥させて、シンチレータ層30が形成される。
図3(a)に例示されるように、シンチレータ層30は、センサパネル25の当該一辺25aにおいて、センサパネル25の側面(面X)の少なくとも一部(部分P)を覆うように形成されてもよい。部分Pは、面Xにおけるシンチレータ層30が配された側の部分であり、シンチレータ層30を一体に形成することによってシンチレータ層30がより安定して固定され、その形状が維持されうる。シンチレータ層30が、センサパネル25の側面の少なくとも一部を覆うように一体に形成されることにより、シンチレータ層30がより安定して固定され、放射線撮像装置I1の信頼性が向上する。
また、図3(b)に例示されるように、突出部60と部分Pとの間には、基板10とシンチレータ層30とを接着する接着層70ないしシンチレータ下地層が配されてもよい。これにより、シンチレータ層30は安定して基板10に固定され、突出部60の形状が維持され、例えば、熱等によって生じる応力によるシンチレータ層30の剥離を防止するため放射線撮像装置I1の信頼性が向上する。接着層70には、シンチレータ形成工程における熱処理(例えば、柱状結晶構造のシンチレータを形成する場合は、約200℃又はそれ以上の温度)に耐えうる材料を用いればよい。接着層70には、例えば、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂等が用いられる。接着層70は、シンチレータ層30において生じた光が透過するように材料を選択すればよい。また、接着層70を面Xの全体に設けてシンチレータ層30を面Xの全体にわたって形成してもよい。また、接着層70は、センサパネル25の上面にも形成されうる。
また、図3(c)に例示されるように、シンチレータ層30を覆うように反射層71が形成される。反射層71は、シンチレータ層30において生じた光をシンチレータ層30の内部に向かって反射する。反射層71は、シンチレータ層30の突出部60をも覆う。これによって、突出部60において発生した光が外部に漏れることを防止し、当該光をセンサアレイ20の側に向かって反射する。反射層71には、アルミニウムのような金属等、公知の材料を用いればよい。また、反射層71の他に、シンチレータ層30を保護するための保護膜(不図示)を形成してもよいし、保護層としての機能を兼ねた反射層71を形成してもよい。
その他、図4に例示されるように、遮光層72ないし遮光性を有する部材(以下、単に「遮光層」という)が配されてもよい。例えば、遮光層72は、図4(a)に例示されるように、突出部60とセンサアレイ20との間(例えば、面X)に配されうる。これにより、面Xの側からの光の入射を防ぐことができ、放射線画像の品質を向上させうる。遮光層72は、図4(b)に例示されるように、基板10におけるセンサアレイ20の外側の領域に形成されてもよい。また、図4(c)に例示されるように、基板10の上にセンサアレイ20を形成する前に遮光層72を形成し、遮光層72の上にセンサアレイ20が配されるようにセンサパネル25を構成して、裏面側ないし側面側からの光の入射を防ぐようにしてもよい。また、図4(d)に例示されるように、基板10の裏面に遮光層72を設けてもよいし、所望の波長の光を遮光する材料を基板10に用いて基板10そのものが遮光層として機能するように構成してもよい。
放射線撮像装置I1は、主に3つの工程を経て形成される。第1工程では、基板10の上にセンサアレイ20を設け、センサパネル25を準備する。第1工程の後においては、センサパネル25の端部を、当該端部に最も近いセンサアレイ20の一辺に沿って切断する等、その後に為される第2工程に備えてセンサパネル25の形状を調整する工程を含んでもよい。具体的には、シンチレータ層30を形成する第2工程において前述の突出部60を形成するために、図5(a)に例示されるように、センサパネル25の端部をセンサアレイ20の辺に沿ったカットラインB−B’で切断する。ここでは、センサパネル25において信号入出力部50を有しない2辺の一方について切断するが、他方についても切断して、第2工程で、当該切断面から突出するようにシンチレータ層30を形成してもよい。
第2工程では、センサパネル25の上にシンチレータ層30を形成する。ここで、シンチレータ層30は、センサパネル25の少なくとも一辺25aにおいて、当該一辺25aにおけるセンサパネル25の側面(ここでは、面X)よりも外側に向かって突出するように形成される。図5(b)は、蒸着法を行う際にセンサパネル25を保持するためのホルダー80の上面図を上側に示し、カットラインC−C’の断面図を下側に示している。例えば、柱状結晶を有するシンチレータを用いてシンチレータ層30を形成する場合は、ホルダー80が、センサパネル25を保持するホルダー鍔81を、突出部60を形成すべき位置に有しないようにすればよい。その後、当該蒸着法を行うことにより、ホルダー鍔81を有しない部分に対応する基板10の側面においてもシンチレータ層30が形成される(図5(c))。ここでは、ホルダー80がホルダー鍔81を有しない辺が1つの場合を例示したが、ホルダー80がセンサパネル25を保持できればよく、ホルダー鍔81を有しない辺は2つ以上でもよい。
シンチレータの柱状結晶が斜め方向に成長するように形成されることにより、シンチレータ層30は一体に形成されうる。形成されるシンチレータ層30の柱状結晶の角度や、シンチレータ層の厚さは、蒸着粒子の入射角度や蒸着工程を行う時間によって調整すればよい。一方、例えば、蛍光体粒子を用いてシンチレータ層30を形成する場合は、蛍光体ペーストのチキソ性や塗布量を調整して突出部60を形成すればよい。
その後、第3工程では、第2工程で得られたセンサパネル25は、筐体40の中に設置される。ここで、センサパネル25は、突出部60が筐体40の側面の板部(側壁)に近接するように対向して設置される。
また、図6に例示されるような大画面用の放射線撮像装置を製造する場合は、前述の第1工程において、各々が複数のセンサを有する複数のセンサユニット27を互いに隣接するように配列してセンサパネル25を取得してもよい。ここでは、2つのセンサユニット27が支持台90の上に配列されることによって、大面積の撮像領域を形成する(図6(a))。図6(b)は、カットラインD−D’の断面図を示し、図6(c)は、カットラインE−E’の断面図を示す。その後、前述と同様にして、蒸着法によりシンチレータ層30を形成すればよい。図6(d)は、シンチレータ層30を形成した後のカットラインD−D’の断面図を示し、図6(e)は、シンチレータ層30を形成した後のカットラインE−E’の断面図を示す。
本発明は以上の実施形態に限られるものではなく、目的、状態、用途及び機能その他の仕様に応じて、適宜、変更が可能であり、他の実施形態によっても為されうる。以下、本発明にかかる実施例とその効果を述べる。
(第1実施例)
各センサが160μmピッチで配列されたセンサアレイ20と、信号入出力部50とを含むセンサパネル25を、シンチレータ層30の突出部60が形成される側の基板10の端から撮像領域までの距離L1が0.1mmとなるように形成した(図1及び2参照)。シンチレータ層30の材料にはCsI:Tlを用い、厚さ(即ち距離LT)が500μmのシンチレータ層30を形成した。蒸着工程は、成膜速度が10μm/min、基板10の側面への蒸着粒子の最大入射角度が35度になるようにして為された。これにより、突出部60、即ち当該側面におけるシンチレータ層30の厚さ(距離LO)は250μmとなった。
各センサが160μmピッチで配列されたセンサアレイ20と、信号入出力部50とを含むセンサパネル25を、シンチレータ層30の突出部60が形成される側の基板10の端から撮像領域までの距離L1が0.1mmとなるように形成した(図1及び2参照)。シンチレータ層30の材料にはCsI:Tlを用い、厚さ(即ち距離LT)が500μmのシンチレータ層30を形成した。蒸着工程は、成膜速度が10μm/min、基板10の側面への蒸着粒子の最大入射角度が35度になるようにして為された。これにより、突出部60、即ち当該側面におけるシンチレータ層30の厚さ(距離LO)は250μmとなった。
その後、前述の保護層としての機能を兼ねた反射層71を形成し、実装基板に実装し、筐体40に設置することにより放射線撮像装置が得られた。当該放射線撮像装置は、筐体40から撮像領域までの距離の増大を抑えつつ、放射線が一様に照射された場合において発生する光の分布を均一化し、放射線画像の品質を向上させた。
(第2実施例)
本実施例は、ガラスで構成された基板10上のセンサアレイ20が配された面と、基板10のシンチレータを形成すべき側面とに、シンチレータ下地層としてポリイミド樹脂(厚さ3μm)を形成した点で第1実施例と異なる(図3参照)。その後、基板10の側面への蒸着粒子の最大入射角度が45度になるようにして、第1実施例と同様にして、蒸着工程が為され、厚さ(即ち、距離LT)が500μmのシンチレータ層30を形成した。距離LOは200μmとなった。その後、第1実施例と同様の手順で、放射線撮像装置が得られた。本実施例によると、第1実施例と同様の効果が得られ、また、突出部60におけるシンチレータ層30と当該側面との接着性が向上するため、突出部60の形状が維持される。
本実施例は、ガラスで構成された基板10上のセンサアレイ20が配された面と、基板10のシンチレータを形成すべき側面とに、シンチレータ下地層としてポリイミド樹脂(厚さ3μm)を形成した点で第1実施例と異なる(図3参照)。その後、基板10の側面への蒸着粒子の最大入射角度が45度になるようにして、第1実施例と同様にして、蒸着工程が為され、厚さ(即ち、距離LT)が500μmのシンチレータ層30を形成した。距離LOは200μmとなった。その後、第1実施例と同様の手順で、放射線撮像装置が得られた。本実施例によると、第1実施例と同様の効果が得られ、また、突出部60におけるシンチレータ層30と当該側面との接着性が向上するため、突出部60の形状が維持される。
(第3実施例)
本実施例は、シリコンで構成された基板10上のセンサアレイ20が配された面と、基板10のシンチレータを形成すべき側面とに、シンチレータ下地層としてポリイミド樹脂(厚さ3μm)を形成した点で第1又は第2実施例と異なる(図3及び4参照)。その後、基板10の側面への蒸着粒子の最大入射角度が45度になるようにして、第1実施例と同様にして、蒸着工程が為され、厚さ(即ち、距離LT)が700μmのシンチレータ層30を形成した。距離LOは250μmとなった。その後、各実施例と同様の手順で、放射線撮像装置が得られた。本実施例によると、第1及び第2実施例と同様の効果が得られ、また、シンチレータ層30の発光波長の光は、ポリイミド樹脂を透過するが基板10を透過しないため、基板10の側面から入射した迷光は遮断され、よって、取得される画像の品質が向上する。
本実施例は、シリコンで構成された基板10上のセンサアレイ20が配された面と、基板10のシンチレータを形成すべき側面とに、シンチレータ下地層としてポリイミド樹脂(厚さ3μm)を形成した点で第1又は第2実施例と異なる(図3及び4参照)。その後、基板10の側面への蒸着粒子の最大入射角度が45度になるようにして、第1実施例と同様にして、蒸着工程が為され、厚さ(即ち、距離LT)が700μmのシンチレータ層30を形成した。距離LOは250μmとなった。その後、各実施例と同様の手順で、放射線撮像装置が得られた。本実施例によると、第1及び第2実施例と同様の効果が得られ、また、シンチレータ層30の発光波長の光は、ポリイミド樹脂を透過するが基板10を透過しないため、基板10の側面から入射した迷光は遮断され、よって、取得される画像の品質が向上する。
(第4実施例)
本実施例は、支持台90の上に複数のセンサユニット27を配列してセンサパネル25を形成することによって大画面用の放射線撮像装置を取得した(図6参照)。各センサユニット27は、シリコンで構成された基板10上の各センサが配された面と、基板10のシンチレータを形成すべき側面とに、シンチレータ下地層としてポリイミド樹脂(厚さ3μm)が形成されている。その後、各実施例と同様の手順で、大画面用の放射線撮像装置が得られた。本実施例によると、大画面用の放射線撮像装置においても第1乃至第3実施例と同様の効果が得られた。
本実施例は、支持台90の上に複数のセンサユニット27を配列してセンサパネル25を形成することによって大画面用の放射線撮像装置を取得した(図6参照)。各センサユニット27は、シリコンで構成された基板10上の各センサが配された面と、基板10のシンチレータを形成すべき側面とに、シンチレータ下地層としてポリイミド樹脂(厚さ3μm)が形成されている。その後、各実施例と同様の手順で、大画面用の放射線撮像装置が得られた。本実施例によると、大画面用の放射線撮像装置においても第1乃至第3実施例と同様の効果が得られた。
(放射線撮像システムへの適用例)
放射線撮像装置は、図7に例示されるように、撮像システムに適用されうる。放射線は、X線、α線、β線、γ線等の電磁波を含み、ここでは、代表例としてX線を用いる場合を述べる。X線チューブ610(放射線源)で発生したX線611は、患者等の被検者620の胸部621を透過し、放射線撮像装置630に入射する。入射したX線には患者620の体の内部の情報が含まれている。X線の入射に対応してシンチレータが発光し、光電変換により電気的情報を得る。この情報はディジタル信号に変換され、イメージプロセッサ640(信号処理手段)により画像処理され、例えば、コントロールルームのディスプレイ650(表示手段)で観察できる。
放射線撮像装置は、図7に例示されるように、撮像システムに適用されうる。放射線は、X線、α線、β線、γ線等の電磁波を含み、ここでは、代表例としてX線を用いる場合を述べる。X線チューブ610(放射線源)で発生したX線611は、患者等の被検者620の胸部621を透過し、放射線撮像装置630に入射する。入射したX線には患者620の体の内部の情報が含まれている。X線の入射に対応してシンチレータが発光し、光電変換により電気的情報を得る。この情報はディジタル信号に変換され、イメージプロセッサ640(信号処理手段)により画像処理され、例えば、コントロールルームのディスプレイ650(表示手段)で観察できる。
また、この情報を、例えば、電話回線660(伝送処理手段)により遠隔地へ転送することができ、別の場所、例えば、ドクタールームに設置されたディスプレイ651(表示手段)に表示することもできる。また、この情報を、光ディスク等の記録手段に保存することもできる。このようにして、遠隔の地の医師が、上記被検者を診断することも可能である。また、例えば、フィルムプロセッサ670(記録手段)によってフィルム671(記録媒体)に記録することもできる。
Claims (11)
- センサアレイを含むセンサパネルと、
前記センサパネルの上に前記センサアレイを覆うように配されたシンチレータ層と、
前記センサパネルの側面に対向する側壁を有し、前記センサパネルおよび前記シンチレータ層を収容した筐体と、を備え、
前記シンチレータ層は、前記センサパネルのうちの少なくとも一辺において、当該一辺から前記側壁に向かって突出している、
ことを特徴とする放射線撮像装置。 - 前記シンチレータ層は、前記少なくとも一辺において、前記センサパネルの側面の少なくとも一部を覆うように形成されている、
ことを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。 - 前記センサパネルの前記側面の前記少なくとも一部と、前記シンチレータ層が当該少なくとも一部を覆う部分との間に、前記センサパネルと前記シンチレータ層とを接着する接着層をさらに備える、
ことを特徴とする請求項2に記載の放射線撮像装置。 - 前記センサパネルの前記側面の前記少なくとも一部と、前記センサアレイとの間に配された遮光性を有する層をさらに備える、
ことを特徴とする請求項2又は3に記載の放射線撮像装置。 - 前記シンチレータ層の外縁から前記センサパネルの外縁までの距離は、前記シンチレータ層の上面から底面までの距離の1/3倍ないし1倍の範囲内である、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。 - 前記センサパネルの前記側面における前記少なくとも一部は当該側面のうちの前記シンチレータ層が配された側の部分であり、前記シンチレータ層は一体に形成されている、
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。 - 前記シンチレータ層を覆うように形成され、前記シンチレータ層において生じた光を前記シンチレータ層の内部に向かって反射する反射層をさらに備える、
ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。 - 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の放射線撮像装置と、
放射線を発生させるための放射線源と、
を具備することを特徴とする放射線撮像システム。 - センサパネルを準備する第1工程と、前記センサパネルの少なくとも一辺において、当該一辺における前記センサパネルの側面よりも外側に向かって突出するように、前記センサパネルの上にシンチレータ層を形成する第2工程と、前記センサパネルおよび前記シンチレータ層を筐体に収容する第3工程と、を有し、
前記第3工程では、前記筐体の側壁と前記センサパネルの側面とが対向し、前記シンチレータ層が、前記センサパネルの前記少なくとも一辺から前記筐体の前記側壁に向かって突出するように形成される、
ことを特徴とする放射線撮像装置の製造方法。 - 前記第1工程は、基板の上にセンサアレイを設け、前記基板の端部を、当該端部に最も近い前記センサアレイの一辺に沿って切断する切断工程を有し、
前記切断された一辺を前記少なくとも一辺として前記第2工程を行う、
ことを特徴とする請求項9に記載の放射線撮像装置の製造方法。 - 前記第1工程では、前記センサパネルは、各々が複数のセンサを有する複数のセンサユニットを互いに隣接するように配列することによって形成される、
ことを特徴とする請求項9に記載の放射線撮像装置の製造方法。
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Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015203606A (ja) * | 2014-04-11 | 2015-11-16 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及びその製造方法、並びに放射線撮像システム |
| JP2016176722A (ja) * | 2015-03-18 | 2016-10-06 | キヤノン株式会社 | センサパネル及び放射線撮像システム |
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