JP2008151768A - 放射線用シンチレータパネル、放射線用シンチレータパネルの製造方法、及び放射線画像撮影装置 - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 89
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 13
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 68
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 65
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 14
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract description 12
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 72
- 239000010408 film Substances 0.000 description 18
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M caesium iodide Chemical compound [I-].[Cs+] XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 8
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 7
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 229920000049 Carbon (fiber) Polymers 0.000 description 4
- LYQFWZFBNBDLEO-UHFFFAOYSA-M caesium bromide Chemical compound [Br-].[Cs+] LYQFWZFBNBDLEO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- AIYUHDOJVYHVIT-UHFFFAOYSA-M caesium chloride Chemical compound [Cl-].[Cs+] AIYUHDOJVYHVIT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- 239000004917 carbon fiber Substances 0.000 description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 2
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 239000012190 activator Substances 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- QHIWVLPBUQWDMQ-UHFFFAOYSA-N butyl prop-2-enoate;methyl 2-methylprop-2-enoate;prop-2-enoic acid Chemical compound OC(=O)C=C.COC(=O)C(C)=C.CCCCOC(=O)C=C QHIWVLPBUQWDMQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 229920002301 cellulose acetate Polymers 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009607 mammography Methods 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920006289 polycarbonate film Polymers 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052701 rubidium Inorganic materials 0.000 description 1
- IGLNJRXAVVLDKE-UHFFFAOYSA-N rubidium atom Chemical compound [Rb] IGLNJRXAVVLDKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- FVAUCKIRQBBSSJ-UHFFFAOYSA-M sodium iodide Chemical compound [Na+].[I-] FVAUCKIRQBBSSJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 1
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005341 toughened glass Substances 0.000 description 1
- ILJSQTXMGCGYMG-UHFFFAOYSA-N triacetic acid Chemical compound CC(=O)CC(=O)CC(O)=O ILJSQTXMGCGYMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013585 weight reducing agent Substances 0.000 description 1
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- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
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Abstract
【解決手段】放射線透過性の基板25と、基板25に放射線が照射されることにより光を発する蛍光体層27と、を有する放射線用シンチレータパネル200において、基板25の側辺のうち少なくとも一側辺と、基板25に表面上に設けられた蛍光体層27の側辺とのうち少なくとも一側辺とを、幾何学的に同一平面上に配置した放射線用シンチレータパネル。
【選択図】図5
Description
厚さ125μmのポリイミドフィルム(宇部興産製UPILEX−125S)にアルミニウムをスパッタして反射層26(0.01μm)を形成した。
初めに、把持部材79により、ホルダ74に基板25を取り付けるとともに、ボート73に蛍光体原料(CsI:0.003Tl)を充填する。次に、真空ポンプ78を作動させて、真空容器72の内部を一旦排気したのち、真空容器72の内部に不活性ガスを導入しながら、真空容器72の内部を0.5Paの真空度にする。
[評価方法]
得られた放射線用シンチレータパネルをCMOSフラットパネル(ラドアイコン社製X線CMOSカメラシステムShad−o−Box4KEV)にセットし、放射線画像撮影装置を得た。放射線用シンチレータパネル側から管電圧70kVpのX線を放射線撮影装置に曝射し、画像を取得する。取得した画像について、画像全体の平均信号強度の80%以上である範囲における画像の面積を算出する。この面積を有効画像領域とした。それぞれの実施例について前記算出方法により有効画像領域を算出し、比較例1の場合の行こう画像領域を1.0として、比較例2及び本発明1〜本発明4の有効画像領域を規格化した。それぞれの実施例での有効画像領域を以下の段階付けにて評価を行った。
A:有効画像領域が1.07よりも大きく、1.10未満
B:有効画像領域が1.04よりも大きく、1.07未満
C:有効画像領域が1.02よりも大きく、1.04未満
D:有効画像領域が1.01よりも大きく、1.02未満
E:有効画像領域が1.00よりも大きく、1.01未満
F:有効画像領域が1.00以下
10 本体
20 放射線検出手段
21 ハウジング
22 前面板
23 緩衝材
24A、24B 耐湿性保護膜(保護膜)
25 基板
25a 側壁面
26 反射層
27 蛍光体層(シンチレータ層)
27a 側壁面
28 光電変換手段(受光素子)
28a 側壁面
109 シンチレータパネル
101 基板
102 絶縁層
103 反射層
104 基板ホルダ
105 マスキングエリア
107 蛍光体層
200 シンチレータパネル
30 画像処理手段
40 画像表示手段
50 放射線源
60 被写体
71 蒸着装置
72 真空容器
73 ボート
74 ホルダ
75 回転機構
76 回転軸
77 モータ
78 真空ポンプ
79 把持部材
P 幾何学的平面
t 基板の厚さ
Claims (6)
- 放射線透過性の基板と、前記基板に放射線が照射されることにより光を発する蛍光体層と、を有する放射線用シンチレータパネルにおいて、
前記基板の側辺のうち少なくとも一側辺と、前記基板の表面上に設けられた前記蛍光体層の側辺のうち少なくとも一側辺とを、幾何学的に同一平面上に配置したことを特徴とする放射線用シンチレータパネル。 - 前記基板の一側辺と幾何学的に同一平面上に配置された前記蛍光体層の一側辺とは、前記基板の表面に直交する側壁面を有することを特徴とする請求項1に記載の放射線用シンチレータパネル。
- 放射線透過性の基板と、前記基板に放射線が照射されることにより光を発する蛍光体層と、を有する放射線用シンチレータパネルの製造方法であって、
前記基板の側辺のうち少なくとも一側辺と、前記基板の表面上に設けられた前記蛍光体層の周辺のうち少なくとも一側辺とが、幾何学的に同一平面上に配置されるように、前記基板及び前記基板の表面上に設けられた前記蛍光体層を加工手段により形成することを特徴とする放射線用シンチレータパネルの製造方法。 - 前記加工手段が、断裁手段であることを特徴とする請求項3に記載の放射線用シンチレータパネルの製造方法。
- 請求項1または2に記載の放射線用シンチレータパネルと、前記放射線用シンチレータパネルに貼り合わせた光電変換手段と、を有する放射線検出手段を備えたことを特徴とする放射線画像撮影装置。
- 前記放射線用シンチレータパネルの側辺のうち少なくとも一側辺が、前記光電変換手段の有効画像領域の側辺のうち少なくとも一側辺に合致するように配置されていることを特徴とする請求項5に記載の放射線画像撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007293028A JP2008151768A (ja) | 2006-11-22 | 2007-11-12 | 放射線用シンチレータパネル、放射線用シンチレータパネルの製造方法、及び放射線画像撮影装置 |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006315367 | 2006-11-22 | ||
| JP2007293028A JP2008151768A (ja) | 2006-11-22 | 2007-11-12 | 放射線用シンチレータパネル、放射線用シンチレータパネルの製造方法、及び放射線画像撮影装置 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2013125144A Division JP5911826B2 (ja) | 2006-11-22 | 2013-06-14 | 放射線画像撮影装置の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2008151768A true JP2008151768A (ja) | 2008-07-03 |
Family
ID=39415996
Family Applications (3)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007293028A Pending JP2008151768A (ja) | 2006-11-22 | 2007-11-12 | 放射線用シンチレータパネル、放射線用シンチレータパネルの製造方法、及び放射線画像撮影装置 |
| JP2013125144A Expired - Fee Related JP5911826B2 (ja) | 2006-11-22 | 2013-06-14 | 放射線画像撮影装置の製造方法 |
| JP2015013810A Pending JP2015099159A (ja) | 2006-11-22 | 2015-01-28 | 放射線画像撮影装置の製造方法 |
Family Applications After (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2013125144A Expired - Fee Related JP5911826B2 (ja) | 2006-11-22 | 2013-06-14 | 放射線画像撮影装置の製造方法 |
| JP2015013810A Pending JP2015099159A (ja) | 2006-11-22 | 2015-01-28 | 放射線画像撮影装置の製造方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7786447B2 (ja) |
| JP (3) | JP2008151768A (ja) |
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| WO2021033663A1 (ja) * | 2019-08-16 | 2021-02-25 | 富士フイルム株式会社 | 放射線検出器の製造方法 |
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|---|---|
| JP5911826B2 (ja) | 2016-04-27 |
| US20080116381A1 (en) | 2008-05-22 |
| JP2015099159A (ja) | 2015-05-28 |
| US7786447B2 (en) | 2010-08-31 |
| JP2013217934A (ja) | 2013-10-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100301 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100921 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20110224 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110301 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110426 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120117 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120312 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120904 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121030 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130319 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20130416 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130614 |
|
| A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20130624 |
|
| A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20130726 |