JP2014041012A - 抵抗温度センサおよびこれを用いた温度検出装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 抵抗温度センサの生産性を向上させつつ測定精度を向上させることができる。
【解決手段】
抵抗温度センサ10は、絶縁基板1と、測温抵抗体2と、絶縁基板1の上面に設けられ、測温抵抗体2の一端に接続された第1の配線パターン3と、絶縁基板1の上面に設けられ、測温抵抗体2の他端に接続された、第1の配線パターン3と同一材料から成る第2の配線パターン4と、測温抵抗体2の近傍から第1の配線パターン3に沿った部分および第2の配線パターン4に沿った部分を有し、第1の配線パターン3の抵抗および第2の配線パターン4の抵抗の和と等しい抵抗を有する、第1の配線パターン3と同一材料から成る第3の配線パターン5とを備えている。
【選択図】 図2
【解決手段】
抵抗温度センサ10は、絶縁基板1と、測温抵抗体2と、絶縁基板1の上面に設けられ、測温抵抗体2の一端に接続された第1の配線パターン3と、絶縁基板1の上面に設けられ、測温抵抗体2の他端に接続された、第1の配線パターン3と同一材料から成る第2の配線パターン4と、測温抵抗体2の近傍から第1の配線パターン3に沿った部分および第2の配線パターン4に沿った部分を有し、第1の配線パターン3の抵抗および第2の配線パターン4の抵抗の和と等しい抵抗を有する、第1の配線パターン3と同一材料から成る第3の配線パターン5とを備えている。
【選択図】 図2
Description
本発明は、抵抗温度センサおよびこれを用いた温度検出装置に関するものである。
温度計として抵抗温度センサが知られている。抵抗温度センサとしては、例えば、特許文献1に記載の物理量計測装置が挙げられる。特許文献1に記載の物理量計測装置は、温度センサとダミーセンサとを有する。そして、温度センサとダミーセンサは、それぞれ同じ抵抗および同じ抵抗温度係数を有する配線によって別々に計測回路に接続されている。物理量計測装置は、ダミーセンサと計測回路とを接続する配線の抵抗を求めることによって、温度センサと計測回路とを接続する配線の抵抗を算出する。これにより、温度変化によって配線の抵抗が変化することによる測定精度の低下が抑制されている。
しかしながら、特許文献1に記載の物理量計測装置においては、温度変化によってダミーセンサの抵抗が変化することから、センサの精度が低下する可能性があった。そのため、抵抗温度センサの測定精度をさらに向上させることが困難であった。
また、特許文献1には、ダミーセンサとして、抵抗温度係数が0に近いダミーセンサを用いることが記載されている。しかしながら、抵抗温度係数が完全に0であるダミーセンサを得ることは、製造上困難であることから、抵抗温度センサの生産性を向上させることが困難であった。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、生産性を向上させつつ測定精度を向上した抵抗温度センサを提供することにある。
本発明の一態様の抵抗温度センサは、絶縁基板と、前記絶縁基板の上面に設けられた測温抵抗体と、前記絶縁基板の上面に設けられ、前記測温抵抗体の一端に接続された第1の配線パターンと、前記絶縁基板の上面に設けられ、前記測温抵抗体の他端に接続された、前記第1の配線パターンと同一材料から成る第2の配線パターンと、前記測温抵抗体の近傍から前記第1の配線パターンに沿った部分および前記第2の配線パターンに沿った部分を有し、前記第1の配線パターンの抵抗および前記第2の配線パターンの抵抗の和と等しい抵抗を有する、前記第1の配線パターンと同一材料から成る第3の配線パターンと、を備えたことを特徴とする。
本発明の一態様の抵抗温度センサによれば、温度変化による、第1の配線パターンおよび第2の配線パターンにおける抵抗の変化に応じて第3の配線パターンの抵抗が変化する。そのため、第1の配線パターン、第2の配線パターンおよび測温抵抗体の抵抗の測定値から第3の配線パターンの抵抗の測定値を差し引くことによって、測温抵抗体の抵抗値を算出できる。さらに、ダミーセンサの抵抗温度係数を0にする必要がない。これらの結果、抵抗温度センサの生産性を向上させつつ測定精度を向上させることができる。
以下、本発明の一実施形態に係る抵抗温度センサ10およびこれを用いた温度検出装置100について、図面を参照して説明する。図1は、本発明の一実施形態の温度検出装置100を示す概略図である。図1に示すように、温度検出装置100は、抵抗温度センサ10と計測回路20とを有する。図2、3に示すように、抵抗温度センサ10は、絶縁基板1と、絶縁基板1の上面に設けられた測温抵抗体2と、測温抵抗体2の一端に接続された第1の配線パターン3と、測温抵抗体2の他端に接続された第2の配線パターン4と、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4に沿って設けられた第3の配線パターン5とを備えている。ここで、温度検出装置100は、例えば、固体、液体または気体の静止状態や流動状態での温度変化の計測のために用いられる装置である。
<絶縁基板1の構成>
絶縁基板1は、絶縁性の基板である。絶縁基板1は、平面視したときの形状が長方形状である。絶縁基板1は、測温抵抗体2が設けられるための部材である。絶縁基板1は、例えば、アルミナ、ムライトまたは窒化アルミニウムなどのセラミック材料、あるいはガラスセラミック材料などから成る。なお、絶縁基板1の厚みは、例えば、0.2mm以上1mm以下に設定されている。
絶縁基板1は、絶縁性の基板である。絶縁基板1は、平面視したときの形状が長方形状である。絶縁基板1は、測温抵抗体2が設けられるための部材である。絶縁基板1は、例えば、アルミナ、ムライトまたは窒化アルミニウムなどのセラミック材料、あるいはガラスセラミック材料などから成る。なお、絶縁基板1の厚みは、例えば、0.2mm以上1mm以下に設定されている。
<測温抵抗体2の構成>
測温抵抗体2は、温度変化によって抵抗が変化する部材である。温度検出装置100は、測温抵抗体2の抵抗の変化を計測回路20で計測することによって、温度を検出する。測温抵抗体2は、絶縁基板1の上面に設けられている。測温抵抗体2は、絶縁基板1の上面のうち端部に位置している。測温抵抗体2は、絶縁基板1の上面に形成されたメタライズ層である。測温抵抗体2は、絶縁基板1の上面に蛇腹状に形成されている。これにより、測温抵抗体2の抵抗を大きくできる。また、測温抵抗体2の一部をトリミング等の手法により、幅を狭めることにより抵抗を大きくしてもよい。測温抵抗体2の抵抗を大きくすることによって、温度変化によって生じる測温抵抗体2の抵抗の変化も大きくできる。その結果、抵抗温度センサ10の測定感度を向上できる。測温抵抗体2は、例えば、白金、タングステン、タングステン、モリブデンまたはレニウム等の金属材料から成る。
測温抵抗体2は、温度変化によって抵抗が変化する部材である。温度検出装置100は、測温抵抗体2の抵抗の変化を計測回路20で計測することによって、温度を検出する。測温抵抗体2は、絶縁基板1の上面に設けられている。測温抵抗体2は、絶縁基板1の上面のうち端部に位置している。測温抵抗体2は、絶縁基板1の上面に形成されたメタライズ層である。測温抵抗体2は、絶縁基板1の上面に蛇腹状に形成されている。これにより、測温抵抗体2の抵抗を大きくできる。また、測温抵抗体2の一部をトリミング等の手法により、幅を狭めることにより抵抗を大きくしてもよい。測温抵抗体2の抵抗を大きくすることによって、温度変化によって生じる測温抵抗体2の抵抗の変化も大きくできる。その結果、抵抗温度センサ10の測定感度を向上できる。測温抵抗体2は、例えば、白金、タングステン、タングステン、モリブデンまたはレニウム等の金属材料から成る。
<第1の配線パターン3の構成>
第1の配線パターン3は、測温抵抗体2と計測回路20とを接続するための部材である。第1の配線パターン3は、絶縁基板1の上面に設けられている。第1の配線パターン3は、測温抵抗体2の一端に接続されている。第1の配線パターン3は、帯状に形成されている。第1の配線パターン3は、絶縁基板1の上面のうち測温抵抗体2が設けられている端部から、異なる端部にかけて形成されている。第1の配線パターン3は、絶縁基板1の上面に直線状に形成されている。第1の配線パターン3は、メタライズ層である。第1の配線パターン3は、例えば、白金、タングステン、タングステン、モリブデンまたはレニウム等の金属材料から成る。
第1の配線パターン3は、測温抵抗体2と計測回路20とを接続するための部材である。第1の配線パターン3は、絶縁基板1の上面に設けられている。第1の配線パターン3は、測温抵抗体2の一端に接続されている。第1の配線パターン3は、帯状に形成されている。第1の配線パターン3は、絶縁基板1の上面のうち測温抵抗体2が設けられている端部から、異なる端部にかけて形成されている。第1の配線パターン3は、絶縁基板1の上面に直線状に形成されている。第1の配線パターン3は、メタライズ層である。第1の配線パターン3は、例えば、白金、タングステン、タングステン、モリブデンまたはレニウム等の金属材料から成る。
<第2の配線パターン4の構成>
第2の配線パターン4は、第1の配線パターン3と同じく、測温抵抗体2と計測回路20とを接続するための部材である。第2の配線パターン4は、絶縁基板1の上面に設けられている。第2の配線パターン4は、測温抵抗体2の他端に接続されている。第2の配線パターン4は、帯状に形成されている。第2の配線パターン4は、絶縁基板1の上面のうち測温抵抗体2が設けられている端部から、異なる端部にかけて形成されている。第2の配線パターン4は、絶縁基板1の上面に直線状に形成されている。第2の配線パターン4は第1の配線パターン3とは平行に形成されている。第2の配線パターン4は、第1の配線パターン3と幅および厚みが等しい。ここでいう「幅および厚みが等しい」とは、第1の配線パターン3の幅の平均および厚みの平均と第2の配線パターン4の幅の平均および厚みの平均との差が幅については10μ未満、厚みについては1μ未満であることを意味する。第2の配線パターン4は、メタライズ層である。第2の配線パターン4は、第1の配線パターン3と同一材料から成る。第2の配線パターン4は、例えば、白金、タングステン、モリブデンまたはレニウム等の金属材料から成る。第2の配線パターン4は、第1の配線パターン3と同じ材料から成ることにより、同じ抵抗温度係数を有する。
第2の配線パターン4は、第1の配線パターン3と同じく、測温抵抗体2と計測回路20とを接続するための部材である。第2の配線パターン4は、絶縁基板1の上面に設けられている。第2の配線パターン4は、測温抵抗体2の他端に接続されている。第2の配線パターン4は、帯状に形成されている。第2の配線パターン4は、絶縁基板1の上面のうち測温抵抗体2が設けられている端部から、異なる端部にかけて形成されている。第2の配線パターン4は、絶縁基板1の上面に直線状に形成されている。第2の配線パターン4は第1の配線パターン3とは平行に形成されている。第2の配線パターン4は、第1の配線パターン3と幅および厚みが等しい。ここでいう「幅および厚みが等しい」とは、第1の配線パターン3の幅の平均および厚みの平均と第2の配線パターン4の幅の平均および厚みの平均との差が幅については10μ未満、厚みについては1μ未満であることを意味する。第2の配線パターン4は、メタライズ層である。第2の配線パターン4は、第1の配線パターン3と同一材料から成る。第2の配線パターン4は、例えば、白金、タングステン、モリブデンまたはレニウム等の金属材料から成る。第2の配線パターン4は、第1の配線パターン3と同じ材料から成ることにより、同じ抵抗温度係数を有する。
<第3の配線パターン5の構成>
第3の配線パターン5は、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4の抵抗の変化を推定するための部材である。第3の配線パターン5は、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4とは別に計測回路20に接続されている。第3の配線パターン5は、絶縁部材の上面に設けられている。第3の配線パターン5は、測温抵抗体2の近傍から第1の配線パターン3に沿った部分を有する。また、第3の配線パターン5は、測温抵抗体2の近傍から第2の配線パターン4に沿った部分を有する。ここでいう「近傍」とは、第1の配線パターン3または第2の配線パターン4の温度が変化したときに、第3の配線パターン5の温度も変化する程度の距離であることを意味する。第3の配線パターン5は、第1の配線パターン3の抵抗および第2の配線パターン4の抵抗の和と等しい抵抗を有する。なお、ここでいう「等しい抵抗」とは、第1の配線パターン3の温度、第2の配線パターン4の温度および第3の配線パターン5の温度が同じ場合において、抵抗値の差がそれぞれの抵抗値の3%未満であることを意味する。第3の配線パターン5は、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4と同一材料から成る。したがって、第3の配線パターン5は、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4と同じ材料から成ることにより、同じ抵抗温度係数を有する。
第3の配線パターン5は、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4の抵抗の変化を推定するための部材である。第3の配線パターン5は、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4とは別に計測回路20に接続されている。第3の配線パターン5は、絶縁部材の上面に設けられている。第3の配線パターン5は、測温抵抗体2の近傍から第1の配線パターン3に沿った部分を有する。また、第3の配線パターン5は、測温抵抗体2の近傍から第2の配線パターン4に沿った部分を有する。ここでいう「近傍」とは、第1の配線パターン3または第2の配線パターン4の温度が変化したときに、第3の配線パターン5の温度も変化する程度の距離であることを意味する。第3の配線パターン5は、第1の配線パターン3の抵抗および第2の配線パターン4の抵抗の和と等しい抵抗を有する。なお、ここでいう「等しい抵抗」とは、第1の配線パターン3の温度、第2の配線パターン4の温度および第3の配線パターン5の温度が同じ場合において、抵抗値の差がそれぞれの抵抗値の3%未満であることを意味する。第3の配線パターン5は、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4と同一材料から成る。したがって、第3の配線パターン5は、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4と同じ材料から成ることにより、同じ抵抗温度係数を有する。
第3の配線パターン5は、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4に沿って設けられているとともに、第1の配線パターン3の抵抗と第2の配線パターン4の抵抗との和と同じ抵抗を有し、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4と同一材料から成る。これによって、第3の配線パターン5の抵抗値を測定することで、第1の配線パターン3の抵抗値と第2の配線パターン4の抵抗値との和を推定することができる。これにより、第1の配線パターン3、第2の配線パターン4および測温抵抗体2の抵抗の測定値から、第3の配線パターン5の抵抗の測定値を減じることによって、測温抵抗体2の抵抗値を算出できる。そうすると、この測温抵抗体2の抵抗値に基づいて、温度を適切に計測することができる。
また、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4は、第3の配線パターン5を挟んで両側に沿っている。これにより、抵抗温度センサ10中の熱分布に偏りが生じた場合であっても、第3の配線パターン5の温度を第1の配線パターン3の温度と第2の配線パターン4の温度との間に近づけることができる。これにより、第3の配線パターン5の抵抗の測定値から推定される第1の配線パターン3の抵抗値と第2の配線パターン4の抵抗値の和の精度を向上させることができる。
第3の配線パターン5は、幅および厚みが第1の配線パターン3および第2の配線パターン4の幅および厚みと等しい。これにより、第1の配線パターン3、第2の配線パターン4および第3の配線パターン5における熱の広がりを近づけることができるので、第3の配線パターン5の抵抗値から推定される第1の配線パターン3の抵抗値と第2の配線パターン4の抵抗値の和の精度を向上させることができる。
さらに、第3の配線パターン5の長さは、第1の配線パターン3の長さおよび第2の配線パターン4の長さの和と等しい。ここでいう「長さ」とは、電流の流れる方向の長さを意味している。これにより、第3の配線パターン5の抵抗を第1の配線パターン3の抵抗および第2の配線パターン4の抵抗の和に容易に等しくできる。なお、「長さ」はそれぞれのパターン(第1の配線パターン3、第2の配線パターン4または第3の配線パターン5)の幅方向における中心を結んで引いた仮想線の長さを「長さ」とする。
第3の配線パターン5は、3つの部分から成る。具体的には、第1の配線パターン3に沿った部分、測温抵抗体2に沿った部分および第2の配線パターン4に沿った部分から成る。第1の配線パターン3に沿った部分は、第1の配線パターン3よりも一定の長さ(L1)短く、また、第2の配線パターン4に沿った部分は、第2の配線パターン4よりも一定の長さ(L2)短い。そして、測温抵抗体2に沿った部分は、L1とL2の和である長さ(L3)を有する。このようにして、第3の配線パターン5の長さと第1の配線パターン3の長さおよび第2の配線パターン4の長さの和とを等しくできる。
本実施形態の抵抗温度センサ10および温度検出装置100は、温度変化による、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4における抵抗の変化と第3の配線パターン5の抵抗の変化とが等しい。そのため、第1の配線パターン3、第2の配線パターン4および測温抵抗体2の抵抗の測定値から第3の配線パターン5の抵抗の測定値を差し引くことによって、測温抵抗体2の抵抗値を算出できる。さらに、ダミーセンサの抵抗温度係数を0にする必要がない。これらの結果、抵抗温度センサ10の生産性を向上させつつ測定精度を向上させることができる。
<計測回路20の構成>
計測回路20は、抵抗温度センサ10における測温抵抗体2の抵抗の変化を検出して、温度を算出するための回路である。計測回路20は、例えば、プロセッサ、メモリ、アンプまたはスイッチ等を備えている。計測回路20で測定される抵抗値のデータは、計測回路20の内部のメモリに保存されてもよいし、また、無線等によって計測回路20から外部のコンピュータ等に出力されてもよい。計測回路20は、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4と接続されているとともに、別に、第3の配線パターン5の両端とも接続されている。
計測回路20は、抵抗温度センサ10における測温抵抗体2の抵抗の変化を検出して、温度を算出するための回路である。計測回路20は、例えば、プロセッサ、メモリ、アンプまたはスイッチ等を備えている。計測回路20で測定される抵抗値のデータは、計測回路20の内部のメモリに保存されてもよいし、また、無線等によって計測回路20から外部のコンピュータ等に出力されてもよい。計測回路20は、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4と接続されているとともに、別に、第3の配線パターン5の両端とも接続されている。
計測回路20は、以下の機能を有する。まず、第1の配線パターン3、第2の配線パターン4および測温抵抗体2の抵抗を測定する。次に、第3の配線パターン5の抵抗を測定する。次に、第1の配線パターン3、第2の配線パターン4および測温抵抗体2の抵抗の測定値から第3の配線パターン5の抵抗の測定値を減じることによって測温抵抗体2の抵抗値を検出する。このようにして、測温抵抗体2の抵抗値を検出することで、温度を算出する。
なお、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良などが可能である。例えば、本実施形態においては、測温抵抗体2がメタライズ層であるが、これに限られない。具体的には、チップ状の測温抵抗体2を用いてもよい。
また、本実施形態においては、測温抵抗体2が蛇腹状に形成されているが、これに限られない。具体的には、測温抵抗体2の形状が直線状であってもよい。
また、本実施形態においては、第1の配線パターン3、第2の配線パターン4および第3の配線パターン5が外部に露出しているが、これに限られない。具体的には、第1の配線パターン3、第2の配線パターン4および第3の配線パターン5が、絶縁層によって覆われていてもよい。これにより、第1の配線パターン3または第2の配線パターン4と第3の配線パターン5とが導通してしまう可能性を抑制できる。さらに、この絶縁層が、セラミック材料から成ると良い。これにより、抵抗温度センサ10の耐環境性を向上できる。また、第1の配線パターン3、第2の配線パターン4および第3の配線パターン5だけではなく、測温抵抗体2も絶縁層で覆われていてもよい。
また、本実施形態においては、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4と第3の配線パターン5とが同一面上に形成されているが、これに限られない。具体的には、図4〜6に示すように、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4と第3の配線パターン5とが別の層に形成されていてもよい。図4〜6に示す変形例では、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4が、絶縁基板1の上面に形成されているとともに、第3の配線パターン5が、絶縁基板1の内部に形成されている。第3の配線パターン5は、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4に対して、上下方向に沿うように形成されている。第1の配線パターン3および第2の配線パターン4と第3の配線パターン5とが別の面上に形成されていることによって、第1の配線パターン3、第2の配線パターン4および第3の配線パターン5を広く形成することができる。これにより、第1の配線パターン3、第2の配線パターン4および第3の配線パターン5の抵抗を任意の値に調整しやすくできる。図4〜6に示す変形例においては、抵抗温度センサ11にキャスタレーションが設けられている。これにより、測定回路と抵抗温度センサ11との間の接続を容易行なうことができる。
なお、変形例においては、それぞれのパターン(第1の配線パターン3、第2の配線パターン4および第3の配線パターン5)の幅が一定ではない。このような場合には、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4と第3の配線パターン5とが、それぞれ同じ幅の領域を同じ長さだけ有しているように形成すればよい。具体的には、図4、5に示すように、第3の配線パターン5のうち、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4に沿った部分のうちキャスタレーションの近辺および測温抵抗体2の近辺以外の部分に関しては、幅と長さが等しい。そして、第3の配線パターン5におけるキャスタレーションの近辺に関しても、前述の部分に比べて幅が小さく形成されているが、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4におけるキャスタレーションの近辺と比較して幅と長さが等しい。さらに、第3の配線パターン5における第1の配線パターン3に沿った部分と第2の配線パターン4に沿った部分とを接続する部分に関しても、第1の配線パターン3における測温抵抗体2と接続される部分および第2の配線パターン4における測温抵抗体2に接続される部分と比較して、幅が等しく、また、長さの和も等しい。このように、それぞれ同じ幅の領域を同じ長さだけ有しているように形成することによって、第1の配線パターン3および第2の配線パターン4と第3の配線パターン5との抵抗値を揃えるようにしてもよい。
1:絶縁基板
2:測温抵抗体
3:第1の配線パターン
4:第2の配線パターン
5:第3の配線パターン
10、11:抵抗温度センサ
20:計測回路
100:温度検出装置
2:測温抵抗体
3:第1の配線パターン
4:第2の配線パターン
5:第3の配線パターン
10、11:抵抗温度センサ
20:計測回路
100:温度検出装置
Claims (5)
- 絶縁基板と、
前記絶縁基板の上面に設けられた測温抵抗体と、
前記絶縁基板の上面に設けられ、前記測温抵抗体の一端に接続された第1の配線パターンと、
前記絶縁基板の上面に設けられ、前記測温抵抗体の他端に接続された、前記第1の配線パターンと同一材料から成る第2の配線パターンと、
前記測温抵抗体の近傍から前記第1の配線パターンに沿った部分および前記第2の配線パターンに沿った部分を有し、前記第1の配線パターンの抵抗および前記第2の配線パターンの抵抗の和と等しい抵抗を有する、前記第1の配線パターンと同一材料から成る第3の配線パターンと、
を備えた抵抗温度センサ。 - 前記第3の配線パターンが前記絶縁基板の上面に設けられるとともに、前記第1の配線パターンおよび前記第2の配線パターンが、帯状であって、前記第3の配線パターンを挟んで両側に沿っていることを特徴とする請求項1に記載の抵抗温度センサ。
- 前記第1の配線パターン、前記第2の配線パターンおよび前記第3の配線パターンの幅および厚みが等しく、前記第1の配線パターンの長さおよび前記第2の配線パターンの長さの和と前記第3の配線パターンの長さとが等しいことを特徴とする請求項2に記載の抵抗温度センサ。
- 前記第1の配線パターン、前記第2の配線パターンおよび前記第3の配線パターンを覆う絶縁層をさらに備えたことを特徴とする請求項2に記載の抵抗温度センサ。
- 請求項1〜4のいずれかに記載の抵抗温度センサと該抵抗温度センサに接続された計測回路とを備えた温度検出装置。
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2012
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