JP2013149784A - 有機薄膜太陽電池およびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】光電変換効率が改善された有機薄膜太陽電池およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池において、前記光電変換層が濃度勾配を有する混合半導体領域を含むことを特徴とする有機薄膜太陽電池および複数の工程を連続して蒸着し、かつ、2つの半導体の蒸着速度を一方は減少させると同時にもう一方は増加させながら共蒸着して濃度勾配を有する混合半導体領域を形成する有機薄膜太陽電池の製造方法である。
【選択図】図2
【解決手段】透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池において、前記光電変換層が濃度勾配を有する混合半導体領域を含むことを特徴とする有機薄膜太陽電池および複数の工程を連続して蒸着し、かつ、2つの半導体の蒸着速度を一方は減少させると同時にもう一方は増加させながら共蒸着して濃度勾配を有する混合半導体領域を形成する有機薄膜太陽電池の製造方法である。
【選択図】図2
Description
本発明は、有機薄膜太陽電池およびその製造方法に関する。さらに詳しくは、本発明は、光電変換層が特定の構造を有する有機薄膜太陽電池およびその製造方法に関する。
近年、地球規模で問題となっているエネルギー問題を解決するための自然エネルギー源の一つとして、環境負荷が少なく、半永久的に供給される太陽光エネルギーの利用が活発に研究されている。中でも、太陽電池、特に、原料の低コスト化、柔軟性、形成の容易性等の観点から、光電変換層に有機化合物を用いた有機薄膜太陽電池が注目されている。
ところで、p型有機半導体とn型有機半導体とのpn接合型の有機薄膜太陽電池は、光吸収により、生成した励起子が、pn接合の界面に拡散移動して、電子と正孔に電荷分離し、それぞれ異なる電極に輸送されて、起電力を発生させるものである。
しかしながら、このときの励起子の拡散長は短く、pn接合界面からの距離が数十nmの領域内でしか有効なキャリアが生成されず、従来は、十分なエネルギー(光電)変換効率が得られなかった。
エネルギー変換効率を向上させるために、例えば、非特許文献1に、銅フタロシアニン(CuPc)/フラーレン(C60)による有機薄膜太陽電池において、生成した励起子が失活するのを防止するために、バソクプロイン(4,7-ジフェニル-2,9-ジメチル-1,10-フェナントロリン、BCP)を用いた励起子失活防止層を導入する方法が記載されている。
一方、最近では、光電変換効率を向上させるために、pn接合部分を拡張させる方法として、電子供与性材料と電子受容性材料とを単純積層するのではなく、混合することにより、分子レベルでのpn接合が膜中に広く形成され、光電変換に寄与できる体積が増すバルクヘテロ型の有機薄膜太陽電池が提案されている(特許文献1〜6)。
さらに、非特許文献2には、p型半導体層とn型半導体層の間にp型半導体とn型半導体の混合物からなる傾斜層を有する有機薄膜太陽電池が提案されている。
しかしながら、有機薄膜太陽電池の実用化のためには、さらなるエネルギー変換効率の向上が求められており、層構造や層の厚さ、その形成方法を工夫することにより、エネルギー変換効率を向上させることができることがわかった。
ところで、p型有機半導体とn型有機半導体とのpn接合型の有機薄膜太陽電池は、光吸収により、生成した励起子が、pn接合の界面に拡散移動して、電子と正孔に電荷分離し、それぞれ異なる電極に輸送されて、起電力を発生させるものである。
しかしながら、このときの励起子の拡散長は短く、pn接合界面からの距離が数十nmの領域内でしか有効なキャリアが生成されず、従来は、十分なエネルギー(光電)変換効率が得られなかった。
エネルギー変換効率を向上させるために、例えば、非特許文献1に、銅フタロシアニン(CuPc)/フラーレン(C60)による有機薄膜太陽電池において、生成した励起子が失活するのを防止するために、バソクプロイン(4,7-ジフェニル-2,9-ジメチル-1,10-フェナントロリン、BCP)を用いた励起子失活防止層を導入する方法が記載されている。
一方、最近では、光電変換効率を向上させるために、pn接合部分を拡張させる方法として、電子供与性材料と電子受容性材料とを単純積層するのではなく、混合することにより、分子レベルでのpn接合が膜中に広く形成され、光電変換に寄与できる体積が増すバルクヘテロ型の有機薄膜太陽電池が提案されている(特許文献1〜6)。
さらに、非特許文献2には、p型半導体層とn型半導体層の間にp型半導体とn型半導体の混合物からなる傾斜層を有する有機薄膜太陽電池が提案されている。
しかしながら、有機薄膜太陽電池の実用化のためには、さらなるエネルギー変換効率の向上が求められており、層構造や層の厚さ、その形成方法を工夫することにより、エネルギー変換効率を向上させることができることがわかった。
P.Peumans and S.R.Forrest,"Applied Physics Letters",2001年7月2日,vol.79,No.1,p.126-128
第58回応用物理学関係連合講演会(2011春、神奈川工科大学) 講演予稿集〔富山大、福岡ら、"傾斜層を有する有機薄膜太陽電池"〕
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、本発明の目的は、上記のような問題を解決した、優れた有機薄膜太陽電池を提供することにある。
上記のような問題を解決するため、本発明者らは鋭意検討した結果、下記のような層(領域)構成とすることにより、上記問題を解決することができることを見出し、本発明を完成させた。
すなわち、本発明は、下記
(1)透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池において、前記光電変換層が濃度勾配を有する混合半導体領域を含むことを特徴とする有機薄膜太陽電池、
(2)前記光電変換層がp型半導体領域、前記濃度勾配を有する混合半導体領域、n型半導体領域の順に積層されてなる上記(1)に記載の有機薄膜太陽電池、
(3)前記混合半導体領域の濃度勾配が、前記p型半導体領域から前記n型半導体領域に向かって前記p型半導体の量が0まで減少するとともに、前記n型半導体の量が0から増加する濃度勾配である上記(2)に記載の有機薄膜太陽電池、
(4)前記混合半導体領域の厚さが前記p型半導体領域およびn型半導体領域いずれの厚さよりも薄い厚さである上記(1)〜(3)のいずれかに記載の有機薄膜太陽電池、
(5)前記光電変換層が、p型半導体領域、濃度勾配〔C1〕を有する混合半導体領域(A)、i型半導体領域、濃度勾配〔C2〕を有する混合半導体領域(B)、およびn型半導体領域の順に積層されてなる上記(1)に記載の有機薄膜太陽電池、
(6)前記濃度勾配〔C1〕が、前記p型半導体領域から前記i型半導体領域に向かって前記p型半導体の量が減少するとともに、前記n型半導体の量が0から増加する濃度勾配であり、前記濃度勾配〔C2〕が、前記i型半導体領域から前記n型半導体領域に向かって前記p型半導体の量が0まで減少するとともに、前記n型半導体の量が増加する濃度勾配である上記(5)に記載の有機薄膜太陽電池、
(7)前記混合半導体領域(A)の厚さが前記p型半導体領域およびi型半導体領域いずれの厚さよりも薄い厚さであり、前記混合半導体領域(B)の厚さが前記i型半導体領域およびn型半導体領域いずれの厚さよりも薄い厚さである上記(5)または(6)に記載の有機薄膜太陽電池、
(8)前記p型半導体領域およびn型半導体領域の厚さが、それぞれ5nm〜1μmである上記(2)〜(7)のいずれかに記載の有機薄膜太陽電池、
(9)前記i型半導体領域の厚さが5nm〜1μmである上記(5)〜(7)のいずれかに記載の有機薄膜太陽電池、
(10)前記混合半導体領域の厚さが2〜15nmである上記(1)〜(4)のいずれかに記載の有機薄膜太陽電池、
(11)前記混合半導体領域(A)および混合半導体領域(B)の厚さがそれぞれ2〜15nmである上記(5)〜(7)のいずれかに記載の有機薄膜太陽電池、
(12)透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池の製造方法であって、下記工程S1〜工程S4、
工程S1:透明電極の一方の面にp型半導体を一定の蒸着速度〔R1〕で一定時間〔T1〕かけて蒸着してp型半導体領域を形成する工程、
工程S2:前記工程1に続いて、前記p型半導体を一定の蒸着速度〔R2〕から0まで一定時間〔T2〕かけて徐々に減速させるとともに、n型半導体を0から一定の蒸着速度〔R2〕まで一定時間〔T2〕かけて徐々に増加させながら蒸着してp型半導体とn型半導体の濃度勾配を有する混合半導体領域を形成する工程、
工程S3:前記工程2に続いて、n型半導体を一定の蒸着速度〔R3〕で一定時間〔T3〕かけて蒸着することによりn型半導体領域を形成する工程および
工程S4:金属電極を形成する工程
からなることを特徴とする有機薄膜太陽電池の製造方法(I)、
(13)透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池の製造方法であって、下記工程S11〜工程S16、
工程S11:透明電極の一方の面にp型半導体を一定の蒸着速度〔R11〕で一定時間〔T11〕かけて蒸着してp型半導体領域を形成する工程、
工程S12:前記工程11に続いて、前記p型半導体を蒸着速度〔R11〕から蒸着速度〔R12〕まで一定時間〔T12〕かけて徐々に減速させるとともに、n型半導体を0から一定の蒸着速度〔R13〕まで一定時間〔T12〕かけて徐々に増加させながら蒸着してp型半導体とn型半導体の濃度勾配〔C1〕を有する混合半導体領域(A)を形成する工程、
工程S13:前記工程12に続いて、p型半導体を一定の蒸着速度〔R12〕、n型半導体を一定の蒸着速度〔R13〕で一定時間〔T13〕かけて共蒸着することによりi型半導体領域を形成する工程、
工程S14:前記工程13に続いて、前記p型半導体の蒸着速度〔R12〕を一定時間〔T14〕かけて0まで徐々に減速させるとともに、n型半導体の蒸着速度〔R13〕から一定の蒸着速度〔R14〕まで一定時間〔T14〕かけて徐々に増加させながら蒸着してp型半導体とn型半導体の濃度勾配〔C2〕を有する混合半導体領域(B)を形成する工程、
工程S15:前記工程14に続いて、n型半導体を一定の蒸着速度〔R14〕で一定時間〔T15〕かけて蒸着することによりn型半導体領域を形成する工程および工程S16:金属電極を形成する工程からなることを特徴とする有機薄膜太陽電池の製造方法(II)を提供する。
すなわち、本発明は、下記
(1)透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池において、前記光電変換層が濃度勾配を有する混合半導体領域を含むことを特徴とする有機薄膜太陽電池、
(2)前記光電変換層がp型半導体領域、前記濃度勾配を有する混合半導体領域、n型半導体領域の順に積層されてなる上記(1)に記載の有機薄膜太陽電池、
(3)前記混合半導体領域の濃度勾配が、前記p型半導体領域から前記n型半導体領域に向かって前記p型半導体の量が0まで減少するとともに、前記n型半導体の量が0から増加する濃度勾配である上記(2)に記載の有機薄膜太陽電池、
(4)前記混合半導体領域の厚さが前記p型半導体領域およびn型半導体領域いずれの厚さよりも薄い厚さである上記(1)〜(3)のいずれかに記載の有機薄膜太陽電池、
(5)前記光電変換層が、p型半導体領域、濃度勾配〔C1〕を有する混合半導体領域(A)、i型半導体領域、濃度勾配〔C2〕を有する混合半導体領域(B)、およびn型半導体領域の順に積層されてなる上記(1)に記載の有機薄膜太陽電池、
(6)前記濃度勾配〔C1〕が、前記p型半導体領域から前記i型半導体領域に向かって前記p型半導体の量が減少するとともに、前記n型半導体の量が0から増加する濃度勾配であり、前記濃度勾配〔C2〕が、前記i型半導体領域から前記n型半導体領域に向かって前記p型半導体の量が0まで減少するとともに、前記n型半導体の量が増加する濃度勾配である上記(5)に記載の有機薄膜太陽電池、
(7)前記混合半導体領域(A)の厚さが前記p型半導体領域およびi型半導体領域いずれの厚さよりも薄い厚さであり、前記混合半導体領域(B)の厚さが前記i型半導体領域およびn型半導体領域いずれの厚さよりも薄い厚さである上記(5)または(6)に記載の有機薄膜太陽電池、
(8)前記p型半導体領域およびn型半導体領域の厚さが、それぞれ5nm〜1μmである上記(2)〜(7)のいずれかに記載の有機薄膜太陽電池、
(9)前記i型半導体領域の厚さが5nm〜1μmである上記(5)〜(7)のいずれかに記載の有機薄膜太陽電池、
(10)前記混合半導体領域の厚さが2〜15nmである上記(1)〜(4)のいずれかに記載の有機薄膜太陽電池、
(11)前記混合半導体領域(A)および混合半導体領域(B)の厚さがそれぞれ2〜15nmである上記(5)〜(7)のいずれかに記載の有機薄膜太陽電池、
(12)透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池の製造方法であって、下記工程S1〜工程S4、
工程S1:透明電極の一方の面にp型半導体を一定の蒸着速度〔R1〕で一定時間〔T1〕かけて蒸着してp型半導体領域を形成する工程、
工程S2:前記工程1に続いて、前記p型半導体を一定の蒸着速度〔R2〕から0まで一定時間〔T2〕かけて徐々に減速させるとともに、n型半導体を0から一定の蒸着速度〔R2〕まで一定時間〔T2〕かけて徐々に増加させながら蒸着してp型半導体とn型半導体の濃度勾配を有する混合半導体領域を形成する工程、
工程S3:前記工程2に続いて、n型半導体を一定の蒸着速度〔R3〕で一定時間〔T3〕かけて蒸着することによりn型半導体領域を形成する工程および
工程S4:金属電極を形成する工程
からなることを特徴とする有機薄膜太陽電池の製造方法(I)、
(13)透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池の製造方法であって、下記工程S11〜工程S16、
工程S11:透明電極の一方の面にp型半導体を一定の蒸着速度〔R11〕で一定時間〔T11〕かけて蒸着してp型半導体領域を形成する工程、
工程S12:前記工程11に続いて、前記p型半導体を蒸着速度〔R11〕から蒸着速度〔R12〕まで一定時間〔T12〕かけて徐々に減速させるとともに、n型半導体を0から一定の蒸着速度〔R13〕まで一定時間〔T12〕かけて徐々に増加させながら蒸着してp型半導体とn型半導体の濃度勾配〔C1〕を有する混合半導体領域(A)を形成する工程、
工程S13:前記工程12に続いて、p型半導体を一定の蒸着速度〔R12〕、n型半導体を一定の蒸着速度〔R13〕で一定時間〔T13〕かけて共蒸着することによりi型半導体領域を形成する工程、
工程S14:前記工程13に続いて、前記p型半導体の蒸着速度〔R12〕を一定時間〔T14〕かけて0まで徐々に減速させるとともに、n型半導体の蒸着速度〔R13〕から一定の蒸着速度〔R14〕まで一定時間〔T14〕かけて徐々に増加させながら蒸着してp型半導体とn型半導体の濃度勾配〔C2〕を有する混合半導体領域(B)を形成する工程、
工程S15:前記工程14に続いて、n型半導体を一定の蒸着速度〔R14〕で一定時間〔T15〕かけて蒸着することによりn型半導体領域を形成する工程および工程S16:金属電極を形成する工程からなることを特徴とする有機薄膜太陽電池の製造方法(II)を提供する。
本発明の有機薄膜太陽電池(以下、OSCと記載することがある)は、混合半導体領域が両側に隣接する各半導体材料の濃度勾配を有することにより、従来のpn接合型有機薄膜太陽電池と比べて光電変換効率が向上した有機薄膜太陽電池を得ることができる。
以下、本発明について、詳細に説明する。
本発明のOSCは、透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池であって、前記光電変換層が濃度勾配を有する混合半導体領域を含むことを特徴とする。また、前記光電変換層がp型半導体領域、i型半導体領域、n型半導体領域等の半導体領域を複数有し、これら複数の半導体領域の間に濃度勾配を形成している混合半導体領域が存在していることを特徴としている。
以下、本発明のOSCの構成材料およびその製造方法について図1〜図3を用いて説明する。
本発明のOSCは、透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池であって、前記光電変換層が濃度勾配を有する混合半導体領域を含むことを特徴とする。また、前記光電変換層がp型半導体領域、i型半導体領域、n型半導体領域等の半導体領域を複数有し、これら複数の半導体領域の間に濃度勾配を形成している混合半導体領域が存在していることを特徴としている。
以下、本発明のOSCの構成材料およびその製造方法について図1〜図3を用いて説明する。
〔透明電極〕
図2(a)および図3(a)における透明電極2または12として用いられる材料は、透明性を有し、かつ導電性を有するものであれば特に限定されるものではないが、例えば、酸化ニッケル、酸化錫、酸化インジウム、錫ドープ酸化インジウム(ITO)、酸化インジウム亜鉛(IZO)、ガリウムドープ酸化亜鉛(GZO)、酸化チタン、酸化インジウム、酸化亜鉛などの導電性金属酸化物、あるいは金、白金、銀、クロムなどの金属およびその合金、ポリチオフェン誘導体にポリスチレンスルフォン酸をドーピングしたPEDOT/PSSや、ポリピロールおよびポリアニリンなどにヨウ素などのドーピングした導電性ポリマーなどが挙げられる。これらの透明電極用材料は、単独で用いてもよいが、複数の材料を混合して用いてもよい。中でも、光が透過する位置にある電極は、ITO、酸化スズ、酸化亜鉛、IZO等の酸化物等の透明電極を用いることが好ましい。また、ITO、GZO、酸化スズ、酸化亜鉛、金、コバルト、ニッケル、白金等の仕事関数の高い材料と、アルミニウム、銀、リチウム、インジウム、カルシウム、マグネシウム等を組み合わせて用いてもよい。透明電極2または12の膜厚に制限はなく、抵抗値に合わせて任意に選ぶことが出来る。ただし、通常10nm以上、中でも50nm以上、また、通常1000nm以下、中でも500nm以下、さらには300nm以下、特には100nm以下とすることが好ましい。透明電極が厚すぎると透明性が低下し、高コストとなる可能性があり、薄すぎると直列抵抗が大きく、性能が低下する可能性がある。透明電極2または12のシート抵抗は、短絡電流密度を大きくする観点から、50Ω/□以下、10Ω/□以下が好ましい。透明電極2または12は、通常、ガラス板のような透明な無機材料や透明なプラスチックフィルム等の透明基材1または11の一方の面に形成されている。
図2(a)および図3(a)における透明電極2または12として用いられる材料は、透明性を有し、かつ導電性を有するものであれば特に限定されるものではないが、例えば、酸化ニッケル、酸化錫、酸化インジウム、錫ドープ酸化インジウム(ITO)、酸化インジウム亜鉛(IZO)、ガリウムドープ酸化亜鉛(GZO)、酸化チタン、酸化インジウム、酸化亜鉛などの導電性金属酸化物、あるいは金、白金、銀、クロムなどの金属およびその合金、ポリチオフェン誘導体にポリスチレンスルフォン酸をドーピングしたPEDOT/PSSや、ポリピロールおよびポリアニリンなどにヨウ素などのドーピングした導電性ポリマーなどが挙げられる。これらの透明電極用材料は、単独で用いてもよいが、複数の材料を混合して用いてもよい。中でも、光が透過する位置にある電極は、ITO、酸化スズ、酸化亜鉛、IZO等の酸化物等の透明電極を用いることが好ましい。また、ITO、GZO、酸化スズ、酸化亜鉛、金、コバルト、ニッケル、白金等の仕事関数の高い材料と、アルミニウム、銀、リチウム、インジウム、カルシウム、マグネシウム等を組み合わせて用いてもよい。透明電極2または12の膜厚に制限はなく、抵抗値に合わせて任意に選ぶことが出来る。ただし、通常10nm以上、中でも50nm以上、また、通常1000nm以下、中でも500nm以下、さらには300nm以下、特には100nm以下とすることが好ましい。透明電極が厚すぎると透明性が低下し、高コストとなる可能性があり、薄すぎると直列抵抗が大きく、性能が低下する可能性がある。透明電極2または12のシート抵抗は、短絡電流密度を大きくする観点から、50Ω/□以下、10Ω/□以下が好ましい。透明電極2または12は、通常、ガラス板のような透明な無機材料や透明なプラスチックフィルム等の透明基材1または11の一方の面に形成されている。
〔p型半導体領域〕
p型半導体領域3または13の材料としては、電子供与性を有するものであれば特に限定されず、例えば、光電変換効率の観点から、金属を含有していないフタロシアニン(H2Pc)、銅フタロシアニンのように中心に種々の金属をもつフタロシアニン誘導体、ポルフィリン誘導体、キナクリドン顔料、ペリレン顔料、メロシアニン等とその誘導体、トリフェニルアミン、ジフェニルアミン、フェニレンジアミンなどの芳香族アミン化合物、ナフタレン、アントラセンなどの縮合多環炭化水素、アゾベンゼンなどのアゾ化合物、スチルベンなどの芳香環をエチレン結合やアセチレン結合で連結した構造を有する化合物、アミノ基で置換されたヘテロ芳香環化合物、キノン類、テトラシアノキノジメタン類、ジシアノキノンジイミン類、テトラシアノエチレン、ビオローゲン類、ジチオール金属錯体などが挙げられる。また、上記化合物の混合物であってもよい。
p型半導体領域3または13の厚さは、好ましくは5nm〜1μm、より好ましくは10〜100nmである。該膜厚が5nm以上であることにより、十分に光を吸収できるため好ましく、1μm以下であることにより素子抵抗の観点から低抵抗であり好ましい。
p型半導体領域3または13の材料としては、電子供与性を有するものであれば特に限定されず、例えば、光電変換効率の観点から、金属を含有していないフタロシアニン(H2Pc)、銅フタロシアニンのように中心に種々の金属をもつフタロシアニン誘導体、ポルフィリン誘導体、キナクリドン顔料、ペリレン顔料、メロシアニン等とその誘導体、トリフェニルアミン、ジフェニルアミン、フェニレンジアミンなどの芳香族アミン化合物、ナフタレン、アントラセンなどの縮合多環炭化水素、アゾベンゼンなどのアゾ化合物、スチルベンなどの芳香環をエチレン結合やアセチレン結合で連結した構造を有する化合物、アミノ基で置換されたヘテロ芳香環化合物、キノン類、テトラシアノキノジメタン類、ジシアノキノンジイミン類、テトラシアノエチレン、ビオローゲン類、ジチオール金属錯体などが挙げられる。また、上記化合物の混合物であってもよい。
p型半導体領域3または13の厚さは、好ましくは5nm〜1μm、より好ましくは10〜100nmである。該膜厚が5nm以上であることにより、十分に光を吸収できるため好ましく、1μm以下であることにより素子抵抗の観点から低抵抗であり好ましい。
〔n型半導体領域〕
n型半導体領域5または17の材料としては、フラーレン又はフラーレン化合物、カーボンナノチューブ、カーボンナノチューブ誘導体、縮合芳香族炭素環化合物(ナフタレン誘導体、アントラセン誘導体、フェナントレン誘導体、テトラセン誘導体、ピレン誘導体、ペリレン誘導体、ペリレンイミド誘導体、ナフタレンイミド誘導体、フルオランテン誘導体)、窒素原子、酸素原子、硫黄原子を含有する5〜7員のヘテロ環化合物(例えばピリジン、ピラジン、ピリミジン、ピリダジン、トリアジン、キノリン、キノキサリン、キナゾリン、フタラジン、シンノリン、イソキノリン、プテリジン、アクリジン、フェナジン、フェナントロリン、テトラゾール、ピラゾール、イミダゾール、チアゾール、オキサゾール、インダゾール、ベンズイミダゾール、ベンゾトリアゾール、ベンゾオキサゾール、ベンゾチアゾール、カルバゾール、プリン、トリアゾロピリダジン、トリアゾロピリミジン、テトラザインデン、オキサジアゾール、イミダゾピリジン、ピラリジン、ピロロピリジン、チアジアゾロピリジン、ジベンズアゼピン、トリベンズアゼピン、オキサジアゾール誘導体等)、ポリアリーレン化合物、フルオレン化合物、シクロペンタジエン化合物、シリル化合物、キノリン金属錯体、ベンゾチアゾール金属錯体、ベンゾオキサゾール金属錯体、ベンゾイミダゾール金属錯体等の含窒素ヘテロ環化合物を配位子として有する金属錯体のような有機半導体が挙げられる。また、上記化合物の混合物であってもよい。
好ましくは、フラーレンまたはフラーレン化合物である。フラーレンとしては、フラーレンC60、フラーレンC70、フラーレンC76、フラーレンC78、フラーレンC80、フラーレンC82、フラーレンC84、フラーレンC90、フラーレンC96、フラーレンC240、フラーレンC540、ミックスドフラーレン、フラーレンナノチューブ等が挙げられ、フラーレン化合物としてはこれらに置換基が付加された化合物が挙げられる。これらのフラーレンのうち、C60は入手しやすく、コスト面で有利であるなどの利点を有している。
n型半導体領域5または17の厚さは、好ましくは5nm〜1μm、より好ましくは10〜100nmである。該膜厚が5nm以上であることにより吸光度の観点から十分に光を吸収できるため好ましく、1μm以下であることにより素子抵抗の観点から低抵抗であり好ましい。
n型半導体領域5または17の材料としては、フラーレン又はフラーレン化合物、カーボンナノチューブ、カーボンナノチューブ誘導体、縮合芳香族炭素環化合物(ナフタレン誘導体、アントラセン誘導体、フェナントレン誘導体、テトラセン誘導体、ピレン誘導体、ペリレン誘導体、ペリレンイミド誘導体、ナフタレンイミド誘導体、フルオランテン誘導体)、窒素原子、酸素原子、硫黄原子を含有する5〜7員のヘテロ環化合物(例えばピリジン、ピラジン、ピリミジン、ピリダジン、トリアジン、キノリン、キノキサリン、キナゾリン、フタラジン、シンノリン、イソキノリン、プテリジン、アクリジン、フェナジン、フェナントロリン、テトラゾール、ピラゾール、イミダゾール、チアゾール、オキサゾール、インダゾール、ベンズイミダゾール、ベンゾトリアゾール、ベンゾオキサゾール、ベンゾチアゾール、カルバゾール、プリン、トリアゾロピリダジン、トリアゾロピリミジン、テトラザインデン、オキサジアゾール、イミダゾピリジン、ピラリジン、ピロロピリジン、チアジアゾロピリジン、ジベンズアゼピン、トリベンズアゼピン、オキサジアゾール誘導体等)、ポリアリーレン化合物、フルオレン化合物、シクロペンタジエン化合物、シリル化合物、キノリン金属錯体、ベンゾチアゾール金属錯体、ベンゾオキサゾール金属錯体、ベンゾイミダゾール金属錯体等の含窒素ヘテロ環化合物を配位子として有する金属錯体のような有機半導体が挙げられる。また、上記化合物の混合物であってもよい。
好ましくは、フラーレンまたはフラーレン化合物である。フラーレンとしては、フラーレンC60、フラーレンC70、フラーレンC76、フラーレンC78、フラーレンC80、フラーレンC82、フラーレンC84、フラーレンC90、フラーレンC96、フラーレンC240、フラーレンC540、ミックスドフラーレン、フラーレンナノチューブ等が挙げられ、フラーレン化合物としてはこれらに置換基が付加された化合物が挙げられる。これらのフラーレンのうち、C60は入手しやすく、コスト面で有利であるなどの利点を有している。
n型半導体領域5または17の厚さは、好ましくは5nm〜1μm、より好ましくは10〜100nmである。該膜厚が5nm以上であることにより吸光度の観点から十分に光を吸収できるため好ましく、1μm以下であることにより素子抵抗の観点から低抵抗であり好ましい。
〔真性(i型)半導体領域〕
図3(a)に示されているように、後で述べる混合半導体領域(A)14を介してp型半導体領域13に形成されるi型半導体領域15の材料としては、例えば、フラーレン、フラーレン誘導体、半導体性を有するカーボンナノチューブ(CNT)およびCNT化合物等のn型半導体材料から選ばれるのは少なくとも1種類からなる第1の材料と、金属を含有していないフタロシアニン(H2Pc)、銅フタロシアニンのように中心に種々の金属をもつフタロシアニン誘導体などのp型半導体材料から選ばれる少なくとも1種類の第2の材料とを、得られる半導体が真性半導体となるように混合した混合物を使用することができる。
真性半導体領域15の厚さは、好ましくは5nm〜1μm、より好ましくは10〜100nmである。該膜厚が5nm以上であることにより吸光度の観点から十分に光を吸収できるため好ましく、1μm以下であることにより素子抵抗の観点から低抵抗であり好ましい。
図3(a)に示されているように、後で述べる混合半導体領域(A)14を介してp型半導体領域13に形成されるi型半導体領域15の材料としては、例えば、フラーレン、フラーレン誘導体、半導体性を有するカーボンナノチューブ(CNT)およびCNT化合物等のn型半導体材料から選ばれるのは少なくとも1種類からなる第1の材料と、金属を含有していないフタロシアニン(H2Pc)、銅フタロシアニンのように中心に種々の金属をもつフタロシアニン誘導体などのp型半導体材料から選ばれる少なくとも1種類の第2の材料とを、得られる半導体が真性半導体となるように混合した混合物を使用することができる。
真性半導体領域15の厚さは、好ましくは5nm〜1μm、より好ましくは10〜100nmである。該膜厚が5nm以上であることにより吸光度の観点から十分に光を吸収できるため好ましく、1μm以下であることにより素子抵抗の観点から低抵抗であり好ましい。
〔混合半導体領域〕
(1)第1の実施形態
本発明の第1の実施形態において、図2(a)に示すように、混合半導体領域4は、p型半導体領域3とn型半導体領域5の間に形成される領域であり、以下のような濃度勾配を有する。
すなわち、混合半導体領域4における濃度勾配は、前記p型半導体領域3から前記n型半導体領域5に向かってp型半導体の量が0まで減少するとともに、前記n型半導体の量が0から増加する濃度勾配である。濃度勾配は連続的に形成されていることが好ましい。この混合半導体領域4は後で述べる製造方法(I)における工程S2で形成される。
混合半導体領域4の厚さは2〜15nm、好ましくは3〜10nmである。混合半導体領域4の厚さを上記範囲とすることにより、成膜時間が短縮され、かつ、p型半導体領域3とn型半導体領域5の隣接部分に混合半導体領域4を存在させることにより、電流がより流れやすくなり、変換効率が向上する。
(1)第1の実施形態
本発明の第1の実施形態において、図2(a)に示すように、混合半導体領域4は、p型半導体領域3とn型半導体領域5の間に形成される領域であり、以下のような濃度勾配を有する。
すなわち、混合半導体領域4における濃度勾配は、前記p型半導体領域3から前記n型半導体領域5に向かってp型半導体の量が0まで減少するとともに、前記n型半導体の量が0から増加する濃度勾配である。濃度勾配は連続的に形成されていることが好ましい。この混合半導体領域4は後で述べる製造方法(I)における工程S2で形成される。
混合半導体領域4の厚さは2〜15nm、好ましくは3〜10nmである。混合半導体領域4の厚さを上記範囲とすることにより、成膜時間が短縮され、かつ、p型半導体領域3とn型半導体領域5の隣接部分に混合半導体領域4を存在させることにより、電流がより流れやすくなり、変換効率が向上する。
本発明の第1の実施形態であるOSCは、前記混合半導体領域4の厚さが前記p型半導体領域3の厚さおよびn型半導体領域5の厚さより薄くなるように形成されることが好ましい。各領域の厚さを上記のような関係とすることにより、混合半導体領域4による界面の形成により光電変換効率を向上させることができる。
本発明のOSCにおいて、「層」という用語を使用せずに「領域」という用語を使用している理由は下記のとおりである。
すなわち、図2(a)で示されるように、隣接したそれぞれの半導体領域3および5と混合半導体領域4との間で明確な境界(界面)を有していないからである。
比較のため、図2(b)について説明する。図2(b)は従来のOSCの層構成を示す模式図である。
透明基材1、透明電極2は前記図2(a)で説明したものと同じである。
図2(b)におけるp型半導体層3′とn型半導体層5′は図2(a)におけるp型半導体領域3とn型半導体領域5とは異なっている。すなわち、図2(b)においては、p型半導体層3′とn型半導体層5′の間で、明確な境界(界面)を有しており、図2(a)に示すような濃度勾配を有するp型半導体とn型半導体からなる混合半導体領域4が存在していない。
すなわち、図2(a)で示されるように、隣接したそれぞれの半導体領域3および5と混合半導体領域4との間で明確な境界(界面)を有していないからである。
比較のため、図2(b)について説明する。図2(b)は従来のOSCの層構成を示す模式図である。
透明基材1、透明電極2は前記図2(a)で説明したものと同じである。
図2(b)におけるp型半導体層3′とn型半導体層5′は図2(a)におけるp型半導体領域3とn型半導体領域5とは異なっている。すなわち、図2(b)においては、p型半導体層3′とn型半導体層5′の間で、明確な境界(界面)を有しており、図2(a)に示すような濃度勾配を有するp型半導体とn型半導体からなる混合半導体領域4が存在していない。
(2)第2の実施形態
本発明の第2の実施形態においては、図3(a)に示すように、透明電極12と金属電極7との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池において、前記光電変換層が、p型半導体領域13、混合半導体領域(A)、i型半導体領域15、混合半導体領域(B)、およびn型半導体領域17の順に積層されてなる。
〔混合半導体領域(A)〕
図3(a)における混合半導体領域(A)14はp型半導体領域13とi型半導体領域15の間に形成される領域であり、以下のような濃度勾配(C1)を有する。すなわち、混合半導体領域(A)14における濃度勾配〔C1〕は、p型半導体領域13から前記i型半導体領域15に向かって前記p型半導体の量が減少するとともに、前記n型半導体の量が0から増加する濃度勾配である。濃度勾配は連続的に形成されていることが好ましい。混合半導体領域(A)14は後で述べる製造方法(II)における工程S12で形成される。
混合半導体領域(A)14の厚さは2〜15nm、好ましくは3〜10nmである。
混合半導体領域(A)14の厚さを上記範囲とすることにより、成膜時間が短縮され、かつ、p型半導体領域13とi型半導体領域15の隣接部分に混合半導体領域(A)14を存在させることにより、電流がより流れやすくなり、変換効率が向上する。
本発明の第2の実施形態においては、図3(a)に示すように、透明電極12と金属電極7との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池において、前記光電変換層が、p型半導体領域13、混合半導体領域(A)、i型半導体領域15、混合半導体領域(B)、およびn型半導体領域17の順に積層されてなる。
〔混合半導体領域(A)〕
図3(a)における混合半導体領域(A)14はp型半導体領域13とi型半導体領域15の間に形成される領域であり、以下のような濃度勾配(C1)を有する。すなわち、混合半導体領域(A)14における濃度勾配〔C1〕は、p型半導体領域13から前記i型半導体領域15に向かって前記p型半導体の量が減少するとともに、前記n型半導体の量が0から増加する濃度勾配である。濃度勾配は連続的に形成されていることが好ましい。混合半導体領域(A)14は後で述べる製造方法(II)における工程S12で形成される。
混合半導体領域(A)14の厚さは2〜15nm、好ましくは3〜10nmである。
混合半導体領域(A)14の厚さを上記範囲とすることにより、成膜時間が短縮され、かつ、p型半導体領域13とi型半導体領域15の隣接部分に混合半導体領域(A)14を存在させることにより、電流がより流れやすくなり、変換効率が向上する。
〔混合半導体領域(B)〕
図3(a)における混合半導体領域(B)16はi型半導体領域15とn型半導体領域17の間に形成される領域であり、以下のような濃度勾配〔C2〕を有する。
すなわち、混合半導体領域(B)16における濃度勾配〔C2〕はi型半導体領域15から前記n型半導体領域17に向かって前記p型半導体の量が0まで減少するとともに、前記n型半導体の量が増加する濃度勾配である。濃度勾配は連続的に形成されていることが好ましい。
混合半導体領域(B)16は後で述べる製造方法(II)における工程S14で形成される。
混合半導体領域(B)16の厚さは2〜15nm、好ましくは3〜10nmである。混合半導体領域(B)16の厚さを上記範囲とすることにより、成膜時間が短縮され、かつ、i型半導体領域15とn型半導体領域17の隣接部分に混合半導体領域(B)16を存在させることにより、電流がより流れやすくなり、変換効率が向上する。
図3(a)における混合半導体領域(B)16はi型半導体領域15とn型半導体領域17の間に形成される領域であり、以下のような濃度勾配〔C2〕を有する。
すなわち、混合半導体領域(B)16における濃度勾配〔C2〕はi型半導体領域15から前記n型半導体領域17に向かって前記p型半導体の量が0まで減少するとともに、前記n型半導体の量が増加する濃度勾配である。濃度勾配は連続的に形成されていることが好ましい。
混合半導体領域(B)16は後で述べる製造方法(II)における工程S14で形成される。
混合半導体領域(B)16の厚さは2〜15nm、好ましくは3〜10nmである。混合半導体領域(B)16の厚さを上記範囲とすることにより、成膜時間が短縮され、かつ、i型半導体領域15とn型半導体領域17の隣接部分に混合半導体領域(B)16を存在させることにより、電流がより流れやすくなり、変換効率が向上する。
本発明の第2の実施形態であるOSCにおいては、前記混合半導体領域14の厚さが前記p型半導体領域13およびi型半導体領域15いずれの厚さより薄い厚さで、前記混合半導体領域(B)16の厚さが前記i型半導体領域15およびn型半導体領域17いずれの厚さより薄い厚さであることが好ましい。各領域の厚さを上記のような関係とすることにより、光電変換効率を向上させることができる。
本発明のOSCにおいて、「層」という用語を使用せずに「領域」という用語を使用している理由は下記のとおりである。
すなわち、図3(a)で示されるように、p型半導体領域13、混合半導体領域(A)14、i型半導体領域15、混合半導体領域(B)16及びn型半導体領域17との間で明確な境界(界面)を有していない。
比較のため、図3(b)について説明する。図3(b)は従来のOSCの層構成を示す模式図である。
透明基材11、透明電極12は前記図3(a)で説明したものと同じである。
図3(b)におけるp型半導体層13′、i型半導体層15′、n型半導体層17′は図3(a)におけるp型半導体領域13、i型半導体層15およびn型半導体領域17とは異なっている。
すなわち、図3(b)においては、p型半導体層13′とi型半導体層15′の間、およびi型半導体層15′とn型半導体層17′との間で、それぞれ明確な境界(界面)を有している。すなわち、図3(a)に示すような、濃度勾配を有する混合半導体領域(A)14および濃度勾配を有する混合半導体領域(B)16が存在しない。
本発明のOSCにおいて、「層」という用語を使用せずに「領域」という用語を使用している理由は下記のとおりである。
すなわち、図3(a)で示されるように、p型半導体領域13、混合半導体領域(A)14、i型半導体領域15、混合半導体領域(B)16及びn型半導体領域17との間で明確な境界(界面)を有していない。
比較のため、図3(b)について説明する。図3(b)は従来のOSCの層構成を示す模式図である。
透明基材11、透明電極12は前記図3(a)で説明したものと同じである。
図3(b)におけるp型半導体層13′、i型半導体層15′、n型半導体層17′は図3(a)におけるp型半導体領域13、i型半導体層15およびn型半導体領域17とは異なっている。
すなわち、図3(b)においては、p型半導体層13′とi型半導体層15′の間、およびi型半導体層15′とn型半導体層17′との間で、それぞれ明確な境界(界面)を有している。すなわち、図3(a)に示すような、濃度勾配を有する混合半導体領域(A)14および濃度勾配を有する混合半導体領域(B)16が存在しない。
〔バッファ層〕
また、本発明のOSCにおいては、図2、図3に示すように、バッファ層6及び18を有していてもよい。このようなバッファ層6及び18び10を設けることで、生成した励起子が失活するのを防止することができるため、TOSCの変換効率をさらに向上させることができる。バッファ層6または18の材料としては、バソクプロイン等の公知のものを使用することができる。
また、本発明のOSCにおいては、図2、図3に示すように、バッファ層6及び18を有していてもよい。このようなバッファ層6及び18び10を設けることで、生成した励起子が失活するのを防止することができるため、TOSCの変換効率をさらに向上させることができる。バッファ層6または18の材料としては、バソクプロイン等の公知のものを使用することができる。
〔金属電極〕
金属電極7または19は、前記n型半導体領域5または17もしくは必要に応じて形成されるバッファ層6または1上に形成される。
金属電極用の材料としては、対向電極となる前記透明電極2または12の材料(例えばITO電極)に比べて仕事関数の差が大きいものが好ましい。例えば、銀、アルミニウム、銅、ニッケル、白金、金、イリジウム、クロム、酸化亜鉛、ルテニウム、チタン、タンタル、モリブデン、ニオブ、ジルコニウム、バナジウム又はこれらのうちのいずれかを含む合金、金属酸化物もしくは合金の他、上記金属、金属酸化物もしくは合金との複合体が挙げられる。
金属電極7または19の厚さは、20nm〜300nmであることが好ましく、特に30〜150nmであることがより好ましい。
金属電極7または19を形成する方法としては、プラズマCVD法や熱化学蒸着法等の化学気相成長法や、真空蒸着、スパッタリング、イオンプレーティング等のPVD(物理気相蒸着)が挙げられ、適宜選択される。
金属電極7または19は、前記n型半導体領域5または17もしくは必要に応じて形成されるバッファ層6または1上に形成される。
金属電極用の材料としては、対向電極となる前記透明電極2または12の材料(例えばITO電極)に比べて仕事関数の差が大きいものが好ましい。例えば、銀、アルミニウム、銅、ニッケル、白金、金、イリジウム、クロム、酸化亜鉛、ルテニウム、チタン、タンタル、モリブデン、ニオブ、ジルコニウム、バナジウム又はこれらのうちのいずれかを含む合金、金属酸化物もしくは合金の他、上記金属、金属酸化物もしくは合金との複合体が挙げられる。
金属電極7または19の厚さは、20nm〜300nmであることが好ましく、特に30〜150nmであることがより好ましい。
金属電極7または19を形成する方法としては、プラズマCVD法や熱化学蒸着法等の化学気相成長法や、真空蒸着、スパッタリング、イオンプレーティング等のPVD(物理気相蒸着)が挙げられ、適宜選択される。
前記各層、領域等を形成する方法は、特に限定されず、公知の方法を用いることができる。例えば、真空蒸着、スパッタリング、イオンプレーティング等のPVD(物理気相蒸着)、もしくは熱CVD、原子層堆積(ALD)等のCVD(化学気相蒸着)などのドライプロセス、等の公知の方法により形成することができ、透明電極2または12やp型、n型、i型半導体の材料に応じて適宜選択される。ただし、p型半導体領域3、濃度勾配を有する混合半導体領域4、n型半導体領域をそれぞれ連続して形成するには真空蒸着が用いられ、混合半導体領域4を形成するためには真空共蒸着が用いられる。
同様に、p型半導体領域13、濃度勾配を有する混合半導体領域(A)14、i型半導体領域15およびi型半導体領域13、濃度勾配を有する混合半導体領域(B)16、n型半導体領域17をそれぞれ連続して形成するには真空蒸着が用いられ、混合半導体領域(B)16を形成するためには真空共蒸着が用いられる。
同様に、p型半導体領域13、濃度勾配を有する混合半導体領域(A)14、i型半導体領域15およびi型半導体領域13、濃度勾配を有する混合半導体領域(B)16、n型半導体領域17をそれぞれ連続して形成するには真空蒸着が用いられ、混合半導体領域(B)16を形成するためには真空共蒸着が用いられる。
各領域は表面抵抗率が50Ω/□以下であることが好ましく、10Ω/□以下であることがさらに好ましい。
表面抵抗率が50Ω/□を超えると、内部抵抗が大きいため、光電変換効率が低下することがあるので好ましくない。
表面抵抗率が50Ω/□を超えると、内部抵抗が大きいため、光電変換効率が低下することがあるので好ましくない。
次に、本発明のOSCの製造方法(I)および(II)を図1〜3に基づいて説明する。
図1は2つの半導体材料を真空共蒸着により、連続して各領域を形成するための装置の一例を示す模式図である。
図1の蒸着源Aより、透明電極(図1では基板と記載)にp型半導体を蒸着させ、p型半導体領域を形成する。また、蒸着源Bにより、n型半導体を透明電極(図1では基板と記載)に蒸着させ、n型半導体領域を形成する。この際、蒸着源Aと蒸着源Bの蒸着速度および蒸着時間を変化させることで、濃度勾配を有する混合半導体領域を含む光電変換層を成膜することができる。
図1の蒸着源Aより、透明電極(図1では基板と記載)にp型半導体を蒸着させ、p型半導体領域を形成する。また、蒸着源Bにより、n型半導体を透明電極(図1では基板と記載)に蒸着させ、n型半導体領域を形成する。この際、蒸着源Aと蒸着源Bの蒸着速度および蒸着時間を変化させることで、濃度勾配を有する混合半導体領域を含む光電変換層を成膜することができる。
まず、本発明のOSCの製造方法(I)について説明する。
本発明のOSCの製造方法(I)は、下記の工程S1〜工程S4を含む。
工程S1は、その一方の面にp型半導体を一定の蒸着速度〔R1〕で一定時間〔T1〕かけて蒸着してp型半導体領域3を形成するための工程である。この時、図1における蒸着源AまたはBからのみ蒸着が行なわれる。
工程S2は前記工程S1に続いて、前記p型半導体を蒸着速度〔R2〕から0まで一定時間〔T2〕かけて徐々に減速させるとともに、n型半導体を0から一定の蒸着速度〔R2〕まで一定時間〔T2〕かけて徐々に増加させながら蒸着してp型半導体とn型半導体の濃度勾配を有する混合半導体領域4を形成するための工程である。この工程S2は図1に示されているように、2つの蒸着源AおよびBからp型半導体とn型半導体が同時に蒸着される、すなわち、共蒸着が行なわれる工程である。〔T2〕の間、p型半導体とn型半導体の各蒸着速度の合計は〔R2〕である。
工程S3は前記工程S2に続いて、n型半導体を一定の蒸着速度〔R3〕で一定時間〔T3〕かけて蒸着することによりn型半導体領域5を形成するための工程であり、図1における蒸着源BまたはAからのみ蒸着が行なわれる。
工程S4は形成されたn型半導体領域5に金属電極7を形成するための工程であり、真空蒸着等前記各種の方法により形成することができる。
本発明の製造方法(I)において、各半導体の蒸着速度および蒸着時間は特に限定されず、領域の膜厚に応じて適宜設定することができる。透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池を容易に製造することができることから、工程S1〜工程3を連続で行うことが好ましい。
この場合、〔R1〕=〔R2〕=〔R3〕であることが好ましい。
上記工程S3で形成されたn型半導体領域5には、金属電極7を形成する前に、必要に応じて、バッファ層6を形成させても良い。バッファ層6の形成は前記真空蒸着等各種の方法により行なうことができる。
本発明のOSCの製造方法(I)は、下記の工程S1〜工程S4を含む。
工程S1は、その一方の面にp型半導体を一定の蒸着速度〔R1〕で一定時間〔T1〕かけて蒸着してp型半導体領域3を形成するための工程である。この時、図1における蒸着源AまたはBからのみ蒸着が行なわれる。
工程S2は前記工程S1に続いて、前記p型半導体を蒸着速度〔R2〕から0まで一定時間〔T2〕かけて徐々に減速させるとともに、n型半導体を0から一定の蒸着速度〔R2〕まで一定時間〔T2〕かけて徐々に増加させながら蒸着してp型半導体とn型半導体の濃度勾配を有する混合半導体領域4を形成するための工程である。この工程S2は図1に示されているように、2つの蒸着源AおよびBからp型半導体とn型半導体が同時に蒸着される、すなわち、共蒸着が行なわれる工程である。〔T2〕の間、p型半導体とn型半導体の各蒸着速度の合計は〔R2〕である。
工程S3は前記工程S2に続いて、n型半導体を一定の蒸着速度〔R3〕で一定時間〔T3〕かけて蒸着することによりn型半導体領域5を形成するための工程であり、図1における蒸着源BまたはAからのみ蒸着が行なわれる。
工程S4は形成されたn型半導体領域5に金属電極7を形成するための工程であり、真空蒸着等前記各種の方法により形成することができる。
本発明の製造方法(I)において、各半導体の蒸着速度および蒸着時間は特に限定されず、領域の膜厚に応じて適宜設定することができる。透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池を容易に製造することができることから、工程S1〜工程3を連続で行うことが好ましい。
この場合、〔R1〕=〔R2〕=〔R3〕であることが好ましい。
上記工程S3で形成されたn型半導体領域5には、金属電極7を形成する前に、必要に応じて、バッファ層6を形成させても良い。バッファ層6の形成は前記真空蒸着等各種の方法により行なうことができる。
次に、本発明のOSCの製造方法(II)について説明する。
本発明のOSCの製造方法(II)は、下記の工程S11〜工程S16を含む。
工程S11は、その一方の面にp型半導体を一定の蒸着速度〔R11〕で一定時間〔T11〕蒸着してp型半導体領域13を形成するための工程である。
工程S12は前記工程11に続いて、前記p型半導体を一定の蒸着速度〔R11〕から〔R12〕まで一定時間〔T12〕かけて徐々に減速させるとともに、n型半導体を0から一定の蒸着速度〔R13〕まで一定時間〔T12〕かけて徐々に増加させながら蒸着してp型半導体とn型半導体の濃度勾配(C1)を有する混合半導体領域(A)14を形成するための工程である。この工程S12は図1に示されているように、2つの蒸着源AおよびBからp型半導体とi型半導体が同時に蒸着される、すなわち、共蒸着が行なわれる工程である。
工程S13は前記工程12に続いて、p型半導体を一定の蒸着速度〔R12〕、n型半導体を一定の蒸着速度〔R13〕で一定時間〔T13〕蒸着することによりi型半導体領域15を形成するための工程である。
工程S14は前記工程13に続いて、前記p型半導体の蒸着速度〔R12〕を0まで一定時間〔T14〕かけて徐々に減速させるとともに、n型半導体を一定の蒸着速度〔R13〕から一定の蒸着速度〔R14〕まで一定時間〔T14〕かけて徐々に増加させながら蒸着してp型半導体とn型半導体の濃度勾配(C2)を有する混合半導体領域(B)16を形成するための工程である。この工程S14は図1に示されているように、2つの蒸着源AおよびBからp型半導体とn型半導体が同時に蒸着される、すなわち、共蒸着が行なわれる工程である。
工程S15は前記工程S14に続いて、n型半導体を一定の蒸着速度〔R14〕で一定時間〔T15〕蒸着することによりn型半導体領域17を形成するための工程である。
工程S16は金属電極19を形成するための工程であり、金属電極19の形成は前記真空蒸着等各種の方法により行なうことができる。
本発明の製造方法(II)において、各半導体の蒸着速度および蒸着時間は特に限定されず、領域の膜厚に応じて適宜設定することができる。透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池を容易に製造することができることから、工程S11〜工程S15を連続で行うことが好ましい。
上記工程S15で形成されたn型半導体領域17には、金属電極19を形成する前に、必要に応じて、バッファ層18を形成しても良い。バッファ層18の形成は前記真空蒸着等各種の方法により行なうことができる。
本発明のOSCの製造方法(II)は、下記の工程S11〜工程S16を含む。
工程S11は、その一方の面にp型半導体を一定の蒸着速度〔R11〕で一定時間〔T11〕蒸着してp型半導体領域13を形成するための工程である。
工程S12は前記工程11に続いて、前記p型半導体を一定の蒸着速度〔R11〕から〔R12〕まで一定時間〔T12〕かけて徐々に減速させるとともに、n型半導体を0から一定の蒸着速度〔R13〕まで一定時間〔T12〕かけて徐々に増加させながら蒸着してp型半導体とn型半導体の濃度勾配(C1)を有する混合半導体領域(A)14を形成するための工程である。この工程S12は図1に示されているように、2つの蒸着源AおよびBからp型半導体とi型半導体が同時に蒸着される、すなわち、共蒸着が行なわれる工程である。
工程S13は前記工程12に続いて、p型半導体を一定の蒸着速度〔R12〕、n型半導体を一定の蒸着速度〔R13〕で一定時間〔T13〕蒸着することによりi型半導体領域15を形成するための工程である。
工程S14は前記工程13に続いて、前記p型半導体の蒸着速度〔R12〕を0まで一定時間〔T14〕かけて徐々に減速させるとともに、n型半導体を一定の蒸着速度〔R13〕から一定の蒸着速度〔R14〕まで一定時間〔T14〕かけて徐々に増加させながら蒸着してp型半導体とn型半導体の濃度勾配(C2)を有する混合半導体領域(B)16を形成するための工程である。この工程S14は図1に示されているように、2つの蒸着源AおよびBからp型半導体とn型半導体が同時に蒸着される、すなわち、共蒸着が行なわれる工程である。
工程S15は前記工程S14に続いて、n型半導体を一定の蒸着速度〔R14〕で一定時間〔T15〕蒸着することによりn型半導体領域17を形成するための工程である。
工程S16は金属電極19を形成するための工程であり、金属電極19の形成は前記真空蒸着等各種の方法により行なうことができる。
本発明の製造方法(II)において、各半導体の蒸着速度および蒸着時間は特に限定されず、領域の膜厚に応じて適宜設定することができる。透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池を容易に製造することができることから、工程S11〜工程S15を連続で行うことが好ましい。
上記工程S15で形成されたn型半導体領域17には、金属電極19を形成する前に、必要に応じて、バッファ層18を形成しても良い。バッファ層18の形成は前記真空蒸着等各種の方法により行なうことができる。
以下、実施例及び比較例により、本発明をさらに詳しく説明するが、本発明はこれらにより何ら限定されるものではない。
<実施例1>
p型半導体である銅フタロシアニン(CuPc)とn型半導体であるフラーレン(C60)を用いて有機薄膜太陽電池用素子を作製した。
透明電極としてITO膜がパターニングされた25mm×25mmガラス基板〔ITO膜の厚さ150nm、三容真空工業製〕そのITO膜の表面に、真空蒸着方法(真空蒸着装置は株式会社エイエルエステクノロジー製の有機EL蒸着装置、品番E-200LL)によりCuPcを蒸着速度0.1nm/秒〔R1〕で、600秒間〔T1〕真空蒸着して厚さ60nmを有するp型半導体領域を形成した。引き続いて、CuPcの蒸着速度を0まで徐々に減少させながら、C60の蒸着速度を0から0.1nm/秒まで徐々に増加させた。即ち、CuPcの蒸着速度を0.1nm/秒〔R2〕から〜0まで50秒間〔T2〕徐々に減少させるとともに、CuPcの蒸着速度が減少し始めた時点でC60の蒸着速度を0から0.1nm/秒〔R2〕まで、50秒間〔T2〕徐々に増加させて共蒸着することにより、CuPcとC60の濃度勾配を有する混合半導体領域(CuPc:C60)を形成した。
このように共蒸着により混合半導体領域の厚さが5nmに到達した時点で、CuPcの蒸着速度を0にし、C60は蒸着速度0.1nm/秒〔R3〕で550秒間〔T3〕継続的に真空蒸着を行い、厚さ55nmのn型半導体領域を形成した。
上記のp型半導体領域、混合半導体領域、およびn型半導体領域からなる光電変換層の形成は全て連続して蒸着を行なった。
続いて、n型半導体領域にホールブロッキング材料であるBCP〔バソクプロイン(4,7-ジフェニル-2,9-ジメチル-1,10-フェナントロリン)〕を蒸着して厚さ10nmのバッファ層を形成した。次いで、バッファ層に金属電極材料であるAgを100nmの厚さになるように蒸着速度0.1nm/秒で100秒間蒸着して金属電極を形成した。最後にガラスキャップを用いて全体を封止した。得られた有機薄膜太陽電池用素子の各領域等を構成する材料名とその厚さは下記の通りである。
ITO(150nm)/CuPc(60nm)/CuPc:C60(5nm)/C60(55nm)/BCP(10nm)/Ag(100nm)
p型半導体である銅フタロシアニン(CuPc)とn型半導体であるフラーレン(C60)を用いて有機薄膜太陽電池用素子を作製した。
透明電極としてITO膜がパターニングされた25mm×25mmガラス基板〔ITO膜の厚さ150nm、三容真空工業製〕そのITO膜の表面に、真空蒸着方法(真空蒸着装置は株式会社エイエルエステクノロジー製の有機EL蒸着装置、品番E-200LL)によりCuPcを蒸着速度0.1nm/秒〔R1〕で、600秒間〔T1〕真空蒸着して厚さ60nmを有するp型半導体領域を形成した。引き続いて、CuPcの蒸着速度を0まで徐々に減少させながら、C60の蒸着速度を0から0.1nm/秒まで徐々に増加させた。即ち、CuPcの蒸着速度を0.1nm/秒〔R2〕から〜0まで50秒間〔T2〕徐々に減少させるとともに、CuPcの蒸着速度が減少し始めた時点でC60の蒸着速度を0から0.1nm/秒〔R2〕まで、50秒間〔T2〕徐々に増加させて共蒸着することにより、CuPcとC60の濃度勾配を有する混合半導体領域(CuPc:C60)を形成した。
このように共蒸着により混合半導体領域の厚さが5nmに到達した時点で、CuPcの蒸着速度を0にし、C60は蒸着速度0.1nm/秒〔R3〕で550秒間〔T3〕継続的に真空蒸着を行い、厚さ55nmのn型半導体領域を形成した。
上記のp型半導体領域、混合半導体領域、およびn型半導体領域からなる光電変換層の形成は全て連続して蒸着を行なった。
続いて、n型半導体領域にホールブロッキング材料であるBCP〔バソクプロイン(4,7-ジフェニル-2,9-ジメチル-1,10-フェナントロリン)〕を蒸着して厚さ10nmのバッファ層を形成した。次いで、バッファ層に金属電極材料であるAgを100nmの厚さになるように蒸着速度0.1nm/秒で100秒間蒸着して金属電極を形成した。最後にガラスキャップを用いて全体を封止した。得られた有機薄膜太陽電池用素子の各領域等を構成する材料名とその厚さは下記の通りである。
ITO(150nm)/CuPc(60nm)/CuPc:C60(5nm)/C60(55nm)/BCP(10nm)/Ag(100nm)
<比較例1>
混合半導体領域(CuPc:C60)を形成せず、p型半導体層(CuPc)とn型半導体層(C60)の厚さがいずれも60nmになるように蒸着時間を変更した以外は実施例1と同様に行い比較用の有機薄膜太陽電池用素子を作製した。比較用素子の層等を構成する材料名とその厚さは下記の通りである。
ITO(150nm)/CuPc(60nm)/C60(60nm)/BCP(10nm)/Ag(100nm)
混合半導体領域(CuPc:C60)を形成せず、p型半導体層(CuPc)とn型半導体層(C60)の厚さがいずれも60nmになるように蒸着時間を変更した以外は実施例1と同様に行い比較用の有機薄膜太陽電池用素子を作製した。比較用素子の層等を構成する材料名とその厚さは下記の通りである。
ITO(150nm)/CuPc(60nm)/C60(60nm)/BCP(10nm)/Ag(100nm)
実施例1で得られた有機薄膜太陽電池用の素子および比較例1で得られた素子の受光面(透明電極面)の有効面積5.5mm2に、ソーラーシミュレーター〔株式会社ワコム電創製、WXS−50S−1.5〕により擬似太陽光(AM1.5)を100mW/cm2で照射して、電圧−電流発生器(ADC製、装置名「R6243」)を用いて開放電圧、短絡電流密度、曲線因子を測定し、光電変換効率を算出した。表1に測定結果を示す。
表1に示されているように、実施例1で得られた有機薄膜太陽電池用の素子(素子1〜4)の光電変換効率は平均1.17%であるのに対して比較用の素子の光電変換効率は0.83%であり、約41%向上していることがわかる。
表1に示されているように、実施例1で得られた有機薄膜太陽電池用の素子(素子1〜4)の光電変換効率は平均1.17%であるのに対して比較用の素子の光電変換効率は0.83%であり、約41%向上していることがわかる。
<実施例2>
透明電極としてITO膜がパターニングされた45mm×45mmガラス基板〔ITO膜の厚さ150nm、三容真空工業製〕を用い、混合半導体領域の厚さが10nmになるように共蒸着の時間を100秒に変更した以外は実施例1と同様に行い有機薄膜太陽電池用の素子を作製した。
得られた有機薄膜太陽電池用の素子の各領域等を構成する材料名とその厚さは下記の通りである。
ITO(150nm)/CuPc(60nm)/CuPc:C60(10nm)/C60(55nm)/BCP(10nm)/Ag(100nm)
透明電極としてITO膜がパターニングされた45mm×45mmガラス基板〔ITO膜の厚さ150nm、三容真空工業製〕を用い、混合半導体領域の厚さが10nmになるように共蒸着の時間を100秒に変更した以外は実施例1と同様に行い有機薄膜太陽電池用の素子を作製した。
得られた有機薄膜太陽電池用の素子の各領域等を構成する材料名とその厚さは下記の通りである。
ITO(150nm)/CuPc(60nm)/CuPc:C60(10nm)/C60(55nm)/BCP(10nm)/Ag(100nm)
<比較例2>
混合半導体領域(CuPc:C60)を形成せず、p型半導体層(CuPc)とn型半導体層(C60)の厚さがともに60nmになるように変更した以外は実施例2と同様に行い、比較用の素子を作製した。作製された比較用の素子の層構造は下記の通りである。
ITO(150nm)/CuPc(60nm)/C60(60nm)/BCP(10nm)/Ag(100nm)
混合半導体領域(CuPc:C60)を形成せず、p型半導体層(CuPc)とn型半導体層(C60)の厚さがともに60nmになるように変更した以外は実施例2と同様に行い、比較用の素子を作製した。作製された比較用の素子の層構造は下記の通りである。
ITO(150nm)/CuPc(60nm)/C60(60nm)/BCP(10nm)/Ag(100nm)
実施例2で得られた有機薄膜太陽電池用の素子および比較例2で得られた比較用の素子がそれぞれ2個直列に連結されているものを用いて、受光面(透明電極)の有効面積10.64mm2に、ソーラーシミュレーター〔株式会社ワコム電創製、WXS−50S−1.5〕により擬似太陽光(AM1.5)を100mW/cm2で照射して、電流密度等の出力特性の測定を行い、電圧−電流発生器(ADC製、装置名「R6243」)を用いて開放電圧、短絡電流密度、曲線因子を測定し、光電変換効率を算出した。
表2に測定結果を示す。表2に示されているように、実施例2で得られた有機薄膜太陽電池の素子の光電変換効率は1.77%であるのに対して比較例2の素子の光電変換効率は1.57%であり、約12.7%向上していることがわかる。
表2に測定結果を示す。表2に示されているように、実施例2で得られた有機薄膜太陽電池の素子の光電変換効率は1.77%であるのに対して比較例2の素子の光電変換効率は1.57%であり、約12.7%向上していることがわかる。
本発明の有機薄膜太陽電池は太陽光エネルギーによる電力供給源の一つとして使用可能である。
1:透明基材
2:透明電極
3:p型半導体領域
3′:p型半導体層
4:混合半導体領域
5:n型半導体領域
5′:n型半導体層
6:バッファ層
7:金属電極
11:透明基材
12:透明電極
13:p型半導体領域
13′:p型半導体層
14:混合半導体領域(A)
15:i型半導体領域
15′:i型半導体層
16:混合半導体領域(B)
17:n型半導体領域
17′:n型半導体層
18:バッファ層
19:金属電極
2:透明電極
3:p型半導体領域
3′:p型半導体層
4:混合半導体領域
5:n型半導体領域
5′:n型半導体層
6:バッファ層
7:金属電極
11:透明基材
12:透明電極
13:p型半導体領域
13′:p型半導体層
14:混合半導体領域(A)
15:i型半導体領域
15′:i型半導体層
16:混合半導体領域(B)
17:n型半導体領域
17′:n型半導体層
18:バッファ層
19:金属電極
Claims (13)
- 透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池において、前記光電変換層が濃度勾配を有する混合半導体領域を含むことを特徴とする有機薄膜太陽電池。
- 前記光電変換層がp型半導体領域、前記濃度勾配を有する混合半導体領域、n型半導体領域の順に積層されてなる請求項1に記載の有機薄膜太陽電池。
- 前記混合半導体領域の濃度勾配が、前記p型半導体領域から前記n型半導体領域に向かって前記p型半導体の量が0まで減少するとともに、前記n型半導体の量が0から増加する濃度勾配である請求項2に記載の有機薄膜太陽電池。
- 前記混合半導体領域の厚さが前記p型半導体領域およびn型半導体領域いずれの厚さよりも薄い厚さである請求項2または3のいずれかに記載の有機薄膜太陽電池。
- 前記光電変換層が、p型半導体領域、濃度勾配〔C1〕を有する混合半導体領域(A)、i型半導体領域、濃度勾配〔C2〕を有する混合半導体領域(B)、およびn型半導体領域の順に積層されてなる請求項1に記載の有機薄膜太陽電池。
- 前記濃度勾配〔C1〕が、前記p型半導体領域から前記i型半導体領域に向かって前記p型半導体の量が減少するとともに、前記n型半導体の量が0から増加する濃度勾配であり、前記濃度勾配〔C2〕が、前記i型半導体領域から前記n型半導体領域に向かって前記p型半導体の量が0まで減少するとともに、前記n型半導体の量が増加する濃度勾配である請求項5に記載の有機薄膜太陽電池。
- 前記混合半導体領域(A)の厚さが前記p型半導体領域およびi型半導体領域いずれの厚さよりも薄い厚さであり、前記混合半導体領域(B)の厚さが前記i型半導体領域およびn型半導体領域いずれの厚さよりも薄い厚さである請求項5または6に記載の有機薄膜太陽電池。
- 前記p型半導体領域およびn型半導体領域の厚さが、それぞれ5nm〜1μmである請求項2〜5のいずれかに記載の有機薄膜太陽電池。
- 前記i型半導体領域の厚さが5nm〜1μmである請求項5〜7のいずれかに記載の有機薄膜太陽電池。
- 前記混合半導体領域の厚さが2〜15nmである請求項1〜4のいずれかに記載の有機薄膜太陽電池。
- 前記混合半導体領域(A)および混合半導体領域(B)の厚さがそれぞれ2〜15nmである請求項5〜7のいずれかに記載の有機薄膜太陽電池。
- 透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池の製造方法であって、下記工程S1〜工程S4、
工程S1:透明電極の一方の面にp型半導体を一定の蒸着速度〔R1〕で一定時間〔T1〕かけて蒸着してp型半導体領域を形成する工程、
工程S2:前記工程1に続いて、前記p型半導体を一定の蒸着速度〔R2〕から0まで一定時間〔T2〕かけて徐々に減速させるとともに、n型半導体を0から一定の蒸着速度〔R2〕まで一定時間〔T2〕かけて徐々に増加させながら蒸着してp型半導体とn型半導体の濃度勾配を有する混合半導体領域を形成する工程、
工程S3:前記工程2に続いて、n型半導体を一定の蒸着速度〔R3〕で一定時間〔T3〕かけて蒸着することによりn型半導体領域を形成する工程および
工程S4:金属電極を形成する工程
からなることを特徴とする有機薄膜太陽電池の製造方法(I)。 - 透明電極と金属電極との間に光電変換層を有する有機薄膜太陽電池の製造方法であって、下記工程S11〜工程S16、
工程S11:透明電極の一方の面にp型半導体を一定の蒸着速度〔R11〕で一定時間〔T11〕かけて蒸着してp型半導体領域を形成する工程、
工程S12:前記工程11に続いて、前記p型半導体を蒸着速度〔R11〕から〔R12〕まで一定時間〔T12〕かけて徐々に減速させるとともに、n型半導体を0から一定の蒸着速度〔R13〕まで一定時間〔T12〕かけて徐々に増加させながら蒸着してp型半導体とn型半導体の濃度勾配〔C1〕を有する混合半導体領域(A)を形成する工程、
工程S13:前記工程12に続いて、p型とn型半導体を一定の蒸着速度〔R12〕及び〔R13〕で一定時間〔T13〕かけて蒸着することによりi型半導体領域を形成する工程、
工程S14:前記工程13に続いて、前記p型半導体の蒸着速度〔R12〕を一定時間〔T14〕かけて0まで徐々に減速させるとともに、n型半導体を一定の蒸着速度〔R13〕から〔R14〕まで一定時間〔T14〕かけて徐々に増加させながら蒸着してp型半導体とn型半導体の濃度勾配〔C2〕を有する混合半導体領域(B)を形成する工程、
工程S15:前記工程14に続いて、n型半導体を一定の蒸着速度〔R14〕で一定時間〔T15〕かけて蒸着することによりn型半導体領域を形成する工程および
工程S16:金属電極を形成する工程
からなることを特徴とする有機薄膜太陽電池の製造方法(II)。
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2015190550A1 (ja) * | 2014-06-12 | 2015-12-17 | シャープ株式会社 | 有機素子 |
| KR20160004455A (ko) * | 2014-07-02 | 2016-01-13 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 소자 |
-
2012
- 2012-01-19 JP JP2012009021A patent/JP2013149784A/ja active Pending
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|---|---|---|---|---|
| WO2015190550A1 (ja) * | 2014-06-12 | 2015-12-17 | シャープ株式会社 | 有機素子 |
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