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JP2013034001A - Die bonder, pickup method, and pickup device - Google Patents

Die bonder, pickup method, and pickup device Download PDF

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JP2013034001A
JP2013034001A JP2012235392A JP2012235392A JP2013034001A JP 2013034001 A JP2013034001 A JP 2013034001A JP 2012235392 A JP2012235392 A JP 2012235392A JP 2012235392 A JP2012235392 A JP 2012235392A JP 2013034001 A JP2013034001 A JP 2013034001A
Authority
JP
Japan
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die
peeling
pin
unit
dicing film
Prior art date
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Pending
Application number
JP2012235392A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Maki
浩 牧
Naoki Okamoto
直樹 岡本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Tech Instruments Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi High Tech Instruments Co Ltd filed Critical Hitachi High Tech Instruments Co Ltd
Priority to JP2012235392A priority Critical patent/JP2013034001A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pickup device that can securely peel a die or to provide a reliable die bonder or a pickup method using the pickup device.SOLUTION: When a die to be peeled out of plural dies (semiconductor chips) applied to a dicing film is thrust up and is peeled from the dicing film, the dicing film in a predetermined part in a circumference of the die is thrust up with a pin, to form a peeling starting point where the dicing tape is raised around the pin. Then, the dicing film in a part except the predetermined part is thrust up, and the die is peeled from the dicing film.

Description

本発明は、ダイボンダ並びにピックアップ方法及びピックアップ装置に係わり、特に信頼性の高いダイボンダ並びにピックアップ方法及び確実にダイを剥離できるピックアップ装置に関する。   The present invention relates to a die bonder, a pickup method, and a pickup device, and more particularly, to a highly reliable die bonder, a pickup method, and a pickup device that can reliably peel a die.

ダイ(半導体チップ)(以下、単にダイという)を配線基板やリードフレームなどの基板に搭載してパッケージを組み立てる工程の一部に、半導体ウエハ(以下、単にウエハという)からダイを分割する工程と、分割したダイを基板上に搭載するダイボンディング工程とがある。   A part of the process of assembling a package by mounting a die (semiconductor chip) (hereinafter simply referred to as a die) on a substrate such as a wiring board or a lead frame, and a step of dividing the die from a semiconductor wafer (hereinafter simply referred to as a wafer) And a die bonding step of mounting the divided dies on the substrate.

ボンディング工程の中にはウエハから分割されたダイを剥離する剥離工程がある。剥離工程では、これらダイをピックアップ装置に保持されたダイシングテープから1個ずつ剥離し、コレットと呼ばれる吸着治具を使って基板上に搬送する。   In the bonding process, there is a peeling process for peeling the divided dies from the wafer. In the peeling process, these dies are peeled one by one from the dicing tape held by the pickup device, and conveyed onto a substrate using a suction jig called a collet.

剥離工程を実施する従来技術としては、例えば、特許文献1及び特許文献2に記載する技術がある。特許文献1では、ダイの4コーナーに設けた第1の突き上げピン群と、先端が第1の突き上げピンより低く、ダイの中央部または周辺部に設けた第2の突き上げピン群とをピンホルダーに装着し、ピンホルダーを上昇させることで剥離する技術が開示されている。
また、特許文献2では、ダイの中心部に行く程突き上げ高さを高くできる3つのブロックを設け、最も外側の外側ブロックの4コーナーに一体形成されダイのコーナー方向に突き出た突起を設け、3つのブロックを順次突き上げていく技術が開示されている。
As a prior art which performs a peeling process, there exists a technique described in patent document 1 and patent document 2, for example. In Patent Document 1, a first push-up pin group provided at the four corners of the die and a second push-up pin group provided at the center or peripheral portion of the die whose tip is lower than the first push-up pin are used as a pin holder. The technique which peels by mounting | wearing and raising a pin holder is disclosed.
Further, in Patent Document 2, three blocks that can be pushed up higher toward the center of the die are provided, and protrusions that are integrally formed at the four corners of the outermost outer block and protrude in the corner direction of the die are provided. A technique for sequentially pushing up one block is disclosed.

特開2002−184836号公報JP 2002-184836 A 特開2007− 42996号公報JP 2007-42996 A

近年、半導体装置の高密度実装を推進する目的で、パッケージの薄型化が進められている。特に、メモリカードの配線基板上に複数枚のダイを三次元的に実装する積層パッケージが実用化されている。このような積層パッケージを組み立てるに際しては、パッケージ厚の増加を防ぐために、ダイの厚さを20μm以下まで薄くすることが要求される。   In recent years, packages have been made thinner for the purpose of promoting high-density mounting of semiconductor devices. In particular, a stacked package in which a plurality of dies are three-dimensionally mounted on a wiring board of a memory card has been put into practical use. When assembling such a stacked package, it is required to reduce the die thickness to 20 μm or less in order to prevent an increase in the package thickness.

ダイが薄くなると、ダイシングテープの粘着力に比べてダイの剛性が極めて低くなる。
そのため、特許文献1の第1、第2の高さの異なる多段突き上げピン方式にしろ、特許文献2の突起を有する多段ブロック方式にしろ、ダイの外周部またはコーナー部から一気に剥離する。一気に剥離すると、ダイの外周部またはコーナー部に剥離をさせないようにするアンカー効果に対抗して、即ちストレスが集中し、前述したダイ厚さになるとダイの外周部またはコーナー部が変形して割れてしまう。特に、ダイとダイシングテープとの間に前述したダイアタッチフィルムが介在している場合は、ダイアタッチフィルムをダイシングすることにより増大するアンカー効果でダイシングテープとの粘着力がダイとダイシングテープの粘着力よりも強くなることがある。また安定せず、ダイの剥離が一層困難となる。
When the die is thin, the rigidity of the die is extremely low compared to the adhesive strength of the dicing tape.
For this reason, whether the multi-stage push-up pin method having different first and second heights of Patent Document 1 or the multi-stage block system having the protrusions of Patent Document 2 is used, the die is peeled from the outer peripheral portion or the corner portion of the die at once. If it peels at once, it counteracts the anchor effect that prevents the outer periphery or corner of the die from being peeled off, that is, stress concentrates, and when the die thickness is reached, the outer periphery or corner of the die deforms and cracks. End up. In particular, when the above-mentioned die attach film is interposed between the die and the dicing tape, the adhesive strength between the die and the dicing tape is increased by the anchor effect that is increased by dicing the die attach film. May be stronger. Moreover, it is not stable, and it becomes more difficult to peel off the die.

本発明は、上記の課題を鑑みてなされたもので、本発明の第1の目的は、確実にダイを剥離できるピックアップ方法及びピックアップ装置を提供することである。
また、本発明の第2の目的は、第1の目的を達成するピックアップ装置を用い、信頼性の高いダイボンダを提供することである。
The present invention has been made in view of the above-described problems, and a first object of the present invention is to provide a pickup method and a pickup apparatus that can reliably peel off a die.
A second object of the present invention is to provide a highly reliable die bonder using a pickup device that achieves the first object.

本発明は、上記の目的を達成するために、ダイシングフィルムに貼り付けられた複数のダイのうち剥離対象のダイを突き上げて前記ダイシングフィルムから剥離する際に、前記ダイの周辺部のうちの所定部における前記ダイシングフィルムをピンで突き上げて、該ピンの周辺に該ダイシングテープが盛り上がった剥離起点を形成し、その後、前記所定部以外部分の前記ダイシングフィルムを突き上げて前記ダイを前記ダイシングフィルムから剥離することを第1の特徴とする。   In order to achieve the above object, the present invention provides a predetermined peripheral portion of the die when the die to be peeled is pushed up and peeled from the dicing film among a plurality of dies attached to the dicing film. The dicing film at the part is pushed up with a pin to form a peeling starting point where the dicing tape swells around the pin, and then the dicing film at a part other than the predetermined part is pushed up to peel the die from the dicing film This is a first feature.

また、本発明は、上記の目的を達成するために、第1の特徴に加え、ダイの4コーナー部分のうち少なくとも1つのコーナー部分に設けられていることを第2の特徴とする。
さらに、本発明は、上記の目的を達成するために、第1又は第2の特徴に加え、前記ピンは、その後の剥離動作には寄与しないことを第3の特徴とする。
また、本発明は、上記の目的を達成するために、第1乃至第3の特徴に加え、前記2つの突き上げの駆動は、単一の駆動源で駆動される作動体の上昇によって順次行われることを第4の特徴とする。
In addition to the first feature, the second feature of the present invention is that at least one corner portion of the four corner portions of the die is provided in addition to the first feature.
Furthermore, in order to achieve the above object, the present invention has a third feature that, in addition to the first or second feature, the pin does not contribute to a subsequent peeling operation.
According to the present invention, in order to achieve the above object, in addition to the first to third features, the driving of the two push-ups is sequentially performed by raising the operating body driven by a single drive source. This is the fourth feature.

本発明によれば、確実にダイを剥離できるピックアップ方法及びピックアップ装置を提供できる。
また、本発明によれば、上記のピックアップ方法またはピックアップ装置を用い、信頼性の高いダイボンダを提供できる。
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the pick-up method and pick-up apparatus which can peel die | dye reliably can be provided.
Further, according to the present invention, a highly reliable die bonder can be provided using the above-described pickup method or pickup device.

本発明の一実施形態であるダイボンダを上から見た概念図である。It is the conceptual diagram which looked at the die bonder which is one Embodiment of this invention from the top. 本発明の一実施形態であるピックアップ装置の外観斜視図を示す図である。It is a figure which shows the external appearance perspective view of the pick-up apparatus which is one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態であるピックアップ装置の主要部を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the principal part of the pick-up apparatus which is one Embodiment of this invention. 図4(a)は本発明の第1の実施形態である突き上げユニットとボンドヘッドユニットのうちコレット部との構成を示した図である。図4(b)は、突き上げユニットの突き上げブロック部及び剥離起点形成ピンが存在する部分を上部から見た図である。FIG. 4 (a) is a diagram showing the configuration of the collet portion of the push-up unit and the bond head unit according to the first embodiment of the present invention. FIG. 4B is a top view of a portion where the push-up block portion and the peeling start point forming pin of the push-up unit are present. 本発明の実施形態におけるピックアップ動作の処理フローを示す。The processing flow of the pickup operation | movement in embodiment of this invention is shown. 図5に示す処理フローにおけるドームヘッド付近部とコレット部の動作を示した図である。It is the figure which showed the operation | movement of the dome head vicinity part and the collet part in the processing flow shown in FIG. 図5に示す処理フローにおけるダイのピックアップ動作時の突き上げユニットの駆動動作を主体に示す図である。It is a figure which mainly shows the drive operation of the pushing-up unit at the time of the die pick-up operation | movement in the processing flow shown in FIG. 本発明の第2の実施形態である突き上げユニットの構成と動作状態を示す図である。It is a figure which shows the structure and operating state of the pushing-up unit which is the 2nd Embodiment of this invention. 第2の実施形態にけるピックアップ動作の処理フローを示す図である。It is a figure which shows the processing flow of the pick-up operation | movement in 2nd Embodiment. 図9に示す処理フローにおけるドームヘッド付近部とコレット部の動作を示す図である。It is a figure which shows operation | movement of the dome head vicinity part and collet part in the processing flow shown in FIG. 本発明の第2の実施形態の突き上げユニットに鍔のないコレットに適用した例を示す図である。It is a figure which shows the example applied to the collet without a wrinkle in the pushing-up unit of the 2nd Embodiment of this invention. 図10(b)と図10(c)との間の状態を示し、剥離起点形成ピンと外側ブロック及び内側ブッロクが同一高さになったときの状態を示す図である。It is a figure which shows the state between FIG.10 (b) and FIG.10 (c), and shows a state when the peeling start point formation pin, an outer side block, and an inner block become the same height. 本発明の第2の突き上げユニットの実施形態を示したものである。2 shows an embodiment of a second push-up unit of the present invention. 剥離起点形成ピンの数又は駆動方法に対する他の実施形態を示す図である。It is a figure which shows other embodiment with respect to the number of peeling start point formation pins, or a drive method. 図10(c)、図10(d)に適用する剥離起点形成ピンの駆動方法の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the drive method of the peeling origin formation pin applied to FIG.10 (c), FIG.10 (d).

以下、図面に基づき、本発明の実施形態を説明する。
図1は本発明の一実施形態であるダイボンダ10を上から見た概念図である。ダイボンダは大別してウエハ供給部1と、ワーク供給・搬送部2と、ダイボンディング部3とを有する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a conceptual view of a die bonder 10 according to an embodiment of the present invention as viewed from above. The die bonder is roughly divided into a wafer supply unit 1, a work supply / conveyance unit 2, and a die bonding unit 3.

ワーク供給・搬送部2はスタックローダ21と、フレームフィーダ22と、アンローダ23とを有する。スタックローダ21によりフレームフィーダ22に供給されたワーク(リードフレーム)は、フレームフィーダ22上の2箇所の処理位置を介してアンローダ23に搬送される。
ダイボンディング部3はプリフォーム部31とボンディングヘッド部32とを有する。
プリフォーム部31はフレームフィーダ22により搬送されてきたワークにダイ接着剤を塗布する。ボンディングヘッド部32は、ピックアップ装置12からダイをピックアップして上昇し、ダイを平行移動してフレームフィーダ22上のボンディングポイントまで移動させる。そして、ボンディングヘッド部32はダイを下降させダイ接着剤が塗布されたワーク上にボンディングする。
The workpiece supply / conveyance unit 2 includes a stack loader 21, a frame feeder 22, and an unloader 23. The workpiece (lead frame) supplied to the frame feeder 22 by the stack loader 21 is conveyed to the unloader 23 through two processing positions on the frame feeder 22.
The die bonding unit 3 includes a preform unit 31 and a bonding head unit 32.
The preform unit 31 applies a die adhesive to the work conveyed by the frame feeder 22. The bonding head unit 32 picks up the die from the pickup device 12 and moves up to move the die to the bonding point on the frame feeder 22 in parallel. Then, the bonding head unit 32 lowers the die and bonds it onto the workpiece coated with the die adhesive.

ウエハ供給部1はウエハカセットリフタ11とピックアップ装置12とを有する。ウエハカセットリフタ11はウエハリングが充填されたウエハカセット(図示せず)を有し,
順次ウエハリングをピックアップ装置12に供給する。
The wafer supply unit 1 includes a wafer cassette lifter 11 and a pickup device 12. The wafer cassette lifter 11 has a wafer cassette (not shown) filled with a wafer ring,
The wafer ring is sequentially supplied to the pickup device 12.

次に、図2および図3を用いてピックアップ装置12の構成を説明する。図2はピックアップ装置12の外観斜視図を示す図である。図3はピックアップ装置12の主要部を示す概略断面図である。図2、図3に示すように、ピックアップ装置12は、ウエハリング14を保持するエキスパンドリング15と、ウエハリング14に保持され複数のダイ(チップ)4が接着されたダイシングテープ16を水平に位置決めする支持リング17と、支持リング17の内側に配置されダイ4を上方に突き上げるための突き上げユニット50と、を有する。突き上げユニット50は、図示しない駆動機構によって、上下方向に移動するようになっており、水平方向にはピックアップ装置12が移動するようになっている。   Next, the configuration of the pickup device 12 will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is an external perspective view of the pickup device 12. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing the main part of the pickup device 12. As shown in FIGS. 2 and 3, the pickup device 12 horizontally positions an expanding ring 15 that holds a wafer ring 14 and a dicing tape 16 that is held by the wafer ring 14 and to which a plurality of dies (chips) 4 are bonded. And a push-up unit 50 that is disposed inside the support ring 17 and pushes up the die 4 upward. The push-up unit 50 is moved in the vertical direction by a driving mechanism (not shown), and the pickup device 12 is moved in the horizontal direction.

ピックアップ装置12は、ダイ4の突き上げ時に、ウエハリング14を保持しているエキスパンドリング15を下降させる。その結果、ウエハリング14に保持されているダイシングテープ16が引き伸ばされダイ4の間隔が広がり、突き上げユニット50によりダイ下方よりダイ4を突き上げ、ダイ4のピックアップ性を向上させている。なお、薄型化に伴い接着剤は液状からフィルム状となり、ウエハとダイシングテープ16との間にダイアタッチフィルム18と呼ばれるフィルム状の接着材料を貼り付けている。ダイアタッチフィルム18を有するウエハでは、ダイシングはウエハとダイアタッチフィルム18に対して行なわれる。従って、剥離工程では、ウエハとダイアタッチフィルム18をダイシングテープ16から剥離する。   When the die 4 is pushed up, the pickup device 12 lowers the expanding ring 15 holding the wafer ring 14. As a result, the dicing tape 16 held on the wafer ring 14 is stretched to widen the distance between the dies 4, and the die 4 is pushed up from below the die by the push-up unit 50, thereby improving the pick-up property of the die 4. As the thickness is reduced, the adhesive is changed from liquid to film-like, and a film-like adhesive material called a die attach film 18 is attached between the wafer and the dicing tape 16. In the wafer having the die attach film 18, dicing is performed on the wafer and the die attach film 18. Therefore, in the peeling step, the wafer and the die attach film 18 are peeled from the dicing tape 16.

図4(a)は本発明の第1の実施形態である突き上げユニット50とボンドヘッドユニット(図示せず)のうちコレット部40との構成を示した図である。図4(b)は、突き上げユニットの後述する突き上げブロック部及び剥離起点形成ピンが存在する部分を上部から見た図である。   FIG. 4A is a view showing the configuration of the collet unit 40 in the push-up unit 50 and the bond head unit (not shown) according to the first embodiment of the present invention. FIG. 4B is a view of a portion where a push-up block portion and a peeling start point forming pin, which will be described later, of the push-up unit are seen from above.

図4(a)に示すようにコレット部40は、コレット42と、コレット42を保持するコレットホルダー41と、それぞれに設けられダイ4を吸着する為の吸引孔41v、42vとがある。   As shown in FIG. 4A, the collet portion 40 includes a collet 42, a collet holder 41 that holds the collet 42, and suction holes 41 v and 42 v that are provided in each of them and suck the die 4.

一方、突き上げユニット50は、大別して、突き上げブロック部と、剥離起点形成ピン部と、突き上げブロック部と剥離起点形成ピン部を駆動する駆動部と,それらを保持するドーム本体58と、を有する。突き上げブロック部は、ブロック本体59と、ブロック本体59に直結した内側ブロック54、1/2切替えバネ52bを介して内側ブロックの周囲に設けられ、ダイ4の外形より小さい外形を有する外側ブロック52とを有している。
剥離起点形成ピン部は、図4(b)に示すように、外側ブロック52の4つのコーナーの外側、即ちダイの四隅にそれぞれ設けられた4本の剥離起点形成ピン51と、剥離起点形成ピンを保持し、上下に移動可能なピン上下リンク55と、56aを支点に回転しピン上下リンク55を上下させるピン駆動リンク56と、を有する。
On the other hand, the push-up unit 50 is broadly divided into a push-up block portion, a peeling start point forming pin portion, a drive unit that drives the push up block portion and the peeling start point forming pin portion, and a dome body 58 that holds them. The push-up block portion is provided around the inner block via a block main body 59, an inner block 54 directly connected to the block main body 59, and a 1/2 switching spring 52b, and an outer block 52 having an outer shape smaller than the outer shape of the die 4. have.
As shown in FIG. 4B, the peeling start point forming pin portion includes four peeling start point forming pins 51 provided on the outside of the four corners of the outer block 52, that is, at the four corners of the die, and the peeling start point forming pins. Pin up / down link 55 that can be moved up and down, and a pin drive link 56 that rotates around pin 56a to move up / down the pin up / down link 55.

駆動部は、モータによって上下に移動する駆動軸57と、駆動軸57の上下に伴い上下移動する作動体53と、を有する。作動体53が下降すると、左右のピン駆動リンク56が回転し、ピン上下リンク55が上昇し、剥離起点形成ピン51を突き上げる。作動体53が上昇すると、ブロック本体を上昇させ、外側、内側ブロックを押し上げる。なお、ピン上下リンク55とピン駆動リンク56は、上述の説明によれば、作動体53の下降する動きを剥離起点形成ピン51の突き上げ(上昇)の動きに変える反転部を構成する。
ドーム本体58の上部には、ダイ4を吸着し保持する多くの吸着孔58aを具備するドームヘッド58bを有する。図4(b)ではブロック部の周囲に一列のみ示しているが、ピックアップ対象でないダイ4dを安定し保持するために複数列設けている。また、図4(b)に示すように、内側ブロック54と外側ブック52との隙間54v、並びに外側ブロック52とドームヘッド58bとの隙間52vを吸引しダイシングテープ16をブッロク部に側に保持している。
The drive unit includes a drive shaft 57 that moves up and down by a motor, and an operating body 53 that moves up and down as the drive shaft 57 moves up and down. When the operating body 53 is lowered, the left and right pin drive links 56 are rotated, the pin vertical links 55 are raised, and the peeling start point forming pins 51 are pushed up. When the operating body 53 rises, the block main body is raised, and the outer and inner blocks are pushed up. Note that, according to the above description, the pin vertical link 55 and the pin drive link 56 constitute a reversing unit that changes the downward movement of the operating body 53 into the upward (upward) movement of the peeling start point forming pin 51.
At the upper part of the dome body 58, a dome head 58b having a number of suction holes 58a for sucking and holding the die 4 is provided. In FIG. 4B, only one row is shown around the block portion, but a plurality of rows are provided in order to stably hold the dies 4d that are not to be picked up. Further, as shown in FIG. 4B, the gap 54v between the inner block 54 and the outer book 52 and the gap 52v between the outer block 52 and the dome head 58b are sucked to hold the dicing tape 16 on the block side. ing.

次に、上述した構成よる突き上げユニット50によるピックアップ動作を図5、図6及び図7を用いて説明する。図5はピックアップ動作の処理フローを示す。図6は、図5に示す処理フローにおけるドームヘッド58b付近部とコレット部40の動作を示した図である。図7は、図5に示す処理フローにおけるダイ4のピックアップ動作時の突き上げユニット50の駆動動作を主体に示した図である。図6、図7において、(a)〜(d)は同時期の動作を示す。
まず、図6(a)に示すように、剥離起点形成ピン51、外側ブロック52、内側ブロック54がドームヘッド58bの表面と同一平面を形成するようにし、ドームヘッド58bの吸着孔58aと、ブロック間の隙間52v、54vとによってダイシングテープ16を吸着する(ステップ1)。次に、コレット部40を下降させ、ピックアップするダイ4の上に位置決めし、吸引孔41v、42vによってダイ4を吸着する(ステップ2)。ステップ1,2により図6(a)に示す状態になり、このとき、駆動動作は、図7(a)に示すように、作動体53は剥離起点形成ピン51やブロック52、54を動作させないニュートラル状態である。このような状態で、コレット42の鍔42tから漏れがないかを空気流量を検出し、リークが正常な範囲に収まるまで吸引する(ステップ3)。
Next, the pickup operation by the push-up unit 50 having the above-described configuration will be described with reference to FIGS. FIG. 5 shows a processing flow of the pickup operation. FIG. 6 is a diagram showing the operation of the vicinity of the dome head 58b and the collet unit 40 in the processing flow shown in FIG. FIG. 7 is a diagram mainly showing the driving operation of the push-up unit 50 during the pick-up operation of the die 4 in the processing flow shown in FIG. 6 and 7, (a) to (d) show the operation in the same period.
First, as shown in FIG. 6A, the separation starting point forming pin 51, the outer block 52, and the inner block 54 are formed to be flush with the surface of the dome head 58b, and the suction hole 58a of the dome head 58b The dicing tape 16 is adsorbed by the gaps 52v and 54v (step 1). Next, the collet portion 40 is lowered and positioned on the die 4 to be picked up, and the die 4 is sucked by the suction holes 41v and 42v (step 2). Steps 1 and 2 result in the state shown in FIG. 6A. At this time, as shown in FIG. 7A, the operating body 53 does not operate the peeling start point forming pin 51 and the blocks 52 and 54. Neutral state. In such a state, the air flow rate is detected for leakage from the collar 42t of the collet 42, and suction is performed until the leakage is within a normal range (step 3).

次に、外側ブロック52の4コーナーに設けた剥離起点形成ピン51のみを数十μmから数百μm上昇させる(ステップ4)。この結果、図6(b)に示すように、剥離起点形成ピン51の周辺においてダイシングテープ16が盛り上がった突き上げ部分が形成され、ダイシングテープ16とダイアタッチフィルム18の間に微小な空間、即ち剥離起点51aができる。この空間によりアンカー効果、即ちダイ4にかかるストレスが大幅に低減し、
次のステップにおける剥離動作を確実にできる。図7(b)は、このときの駆動動作を示した図である。作動体53は下降し、56aを支点にピン上下リンク56が回転し、ピン上下リンク55を上昇させ、剥離起点形成ピン51を突き上げる。
Next, only the peeling starting point forming pins 51 provided at the four corners of the outer block 52 are raised from several tens μm to several hundreds μm (step 4). As a result, as shown in FIG. 6B, a protruding portion where the dicing tape 16 swells is formed around the separation starting point forming pin 51, and a minute space, that is, separation between the dicing tape 16 and the die attach film 18 is formed. A starting point 51a is formed. This space greatly reduces the anchoring effect, i.e. the stress on the die 4,
The peeling operation in the next step can be ensured. FIG. 7B is a diagram showing the driving operation at this time. The actuating body 53 is lowered, the pin vertical link 56 is rotated about 56a as a fulcrum, the pin vertical link 55 is raised, and the peeling start point forming pin 51 is pushed up.

剥離起点形成ピン51は上述したように微小な空間を形成できればよいので、突き上げピンは、例えば、径が700μm以下で先端が丸い形状でもフラット形状でもよい。
この突き上げでは、図6(b)に示すようにコレット42の鍔42tが若干変形し、空気の流入を防いでいる。本ステップにおいて、ステップ3と同様に空気流量を検出し、リークが正常な範囲に収まるまで吸引する(ステップ5)。
Since the separation starting point forming pin 51 only needs to be able to form a minute space as described above, the push-up pin may have, for example, a diameter of 700 μm or less and a rounded tip or a flat shape.
In this pushing up, as shown in FIG. 6B, the collar 42t of the collet 42 is slightly deformed to prevent the inflow of air. In this step, the air flow rate is detected in the same manner as in step 3, and suction is performed until the leak is within a normal range (step 5).

次に、作動体53を上昇させ、剥離起点形成ピン51の位置を元の位置に戻す(ステップ6)。剥離起点形成ピン51は次のステップ以降のダイ4の剥離動作には寄与しない。   Next, the operating body 53 is raised and the position of the peeling start point forming pin 51 is returned to the original position (step 6). The peeling start point forming pin 51 does not contribute to the peeling operation of the die 4 after the next step.

次に、外側ブロック52及び内側ブッロク54のダイ4の剥離動作にはいる。そのために、図7(c)に示すように、作動体53を更に上昇させ、外側ブロック52及び内側ブッロク54による剥離動作を実施する(ステップ7)。このときのドームヘッド58a付近部とコレット部40の状態は図6(c)となる。このときも、ステップ3、5と同様にコレットリークの検出処理を行う(ステップ8)。   Next, the peeling operation of the die 4 of the outer block 52 and the inner block 54 is started. For this purpose, as shown in FIG. 7C, the operating body 53 is further raised, and the peeling operation by the outer block 52 and the inner block 54 is performed (step 7). The state of the vicinity of the dome head 58a and the collet 40 at this time is as shown in FIG. Also at this time, the collet leak detection process is performed as in steps 3 and 5 (step 8).

次に、図7(c)の状態から図7(d)に示すように、更に作動体53を上昇させると、1/2切替えバネ52bの作用によって内側ブッロク54のみが上昇し、図6(d)の状態になる(ステップ9)。この状態では、ダイシングテープ16とダイ4との接触面積はコレットの上昇により剥離できる面積となり、コレット42の上昇にダイ4を剥離する。   Next, as shown in FIG. 7D from the state of FIG. 7C, when the operating body 53 is further raised, only the inner block 54 is raised by the action of the 1/2 switching spring 52b, and FIG. d) (step 9). In this state, the contact area between the dicing tape 16 and the die 4 becomes an area that can be peeled by the rise of the collet, and the die 4 is peeled by the rise of the collet 42.

以上説明したように、本第1の突き上げユニットの実施形態によれば、ダイ4の四隅に相当する位置に剥離起点形成ピン51を設け、剥離処理の当初に剥離起点形成ピン51を上昇させ、剥離の起点となる空間を形成することでダイ4にかかるストレスを低減でき、
ダイ4が割れることなくその以降による剥離処理が確実に行なうことができる。
この結果、ピックアップミスを低減でき、信頼性の高いダイボンダまたはピックアップ方法を提供できる。
図8(a)から図8(d)は、本発明の第2の実施形態である突き上げユニット50の構成と動作状態を示した図で、第1の実施形態の図7(a)から図7(d)に対応する図である。
なお、図8において、第1の実施形態と同一の構造を有するものは同一符号を記す。
As described above, according to the embodiment of the first push-up unit, the peeling start point forming pins 51 are provided at positions corresponding to the four corners of the die 4, and the peeling start point forming pins 51 are raised at the beginning of the peeling process. By forming a space as a starting point of peeling, the stress applied to the die 4 can be reduced,
The subsequent peeling process can be reliably performed without the die 4 cracking.
As a result, pickup mistakes can be reduced and a highly reliable die bonder or pickup method can be provided.
8 (a) to 8 (d) are diagrams showing the configuration and operating state of the push-up unit 50 according to the second embodiment of the present invention. FIG. 8 (a) to FIG. It is a figure corresponding to 7 (d).
In FIG. 8, components having the same structure as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals.

第1の実施形態と異なる点は、第1の実施形態では剥離起点形成ピン51を突き上げるために作動体53の動きを反転部で反転させていたが、本実施形態では、反転させずそのまま同一方向に駆動する同方向部を有する点である。
同方向部は、駆動軸57に連結されたタイミング制御プレート71と、前記タイミング制御プレート71との間に圧縮バネ72を有するピン駆動リンク73とを有する。また、
ピン駆動リンクは、前記タイミング制御プレート71によって、剥離起点形成ピン51を突き上げていない図8(a)に示すニュートラル状態を保持する為に保持プレート74を有する。
The difference from the first embodiment is that in the first embodiment, the movement of the operating body 53 is reversed at the reversing part in order to push up the peeling start point forming pin 51. However, in this embodiment, the movement is not reversed but is the same as it is. It is a point which has the same direction part driven to a direction.
The same direction portion has a timing control plate 71 connected to the drive shaft 57 and a pin drive link 73 having a compression spring 72 between the timing control plate 71. Also,
The pin drive link has a holding plate 74 for holding the neutral state shown in FIG. 8A in which the peeling start point forming pin 51 is not pushed up by the timing control plate 71.

次に、図8乃至図10を用いて、第2の実施形態の突き上げユニット50の動作状態を説明する。図9は、第2の実施形態にけるピックアップ動作の処理フローを示す図であり、図10は、図9に示す処理フローにおけるドームヘッド58b付近部とコレット部40の動作を示した図である。なお、図9、図10はそれぞれ第1の実施形態の図5、図6に対する図である。   Next, the operation state of the push-up unit 50 according to the second embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 9 is a diagram showing a processing flow of the pickup operation in the second embodiment, and FIG. 10 is a diagram showing operations of the vicinity of the dome head 58b and the collet unit 40 in the processing flow shown in FIG. . 9 and 10 are views corresponding to FIGS. 5 and 6 of the first embodiment, respectively.

図9に示すピックアップ動作の処理フローが第1に実施形態と異なる点は、第1の実施形態にけるピックアップ動作の処理フロー(図5)のステップ6がない点である。その動作を実現する動作を以下に説明する。第2の実施形態では、図8(b)示すように、作動体53を上昇させと、ピン駆動リンク73がドームヘッド58bに接触するまで、剥離起点形成ピン51がダイシングテープ16を突き上げる。その後、作動体53を上昇させていくと、まず、外側ブロック52及び内側ブッロク54による剥離動作が実施され(図9のステップ6、図8(c)、図10(c)参照)、次に、1/2切替えバネ52bの作用によって内側ブッロク54のみが上昇し、図8(d)の状態になる(同ステップ8、図10(d)参照)。   The processing flow of the pickup operation shown in FIG. 9 is different from the first embodiment in that there is no step 6 in the processing flow of the pickup operation (FIG. 5) in the first embodiment. An operation for realizing the operation will be described below. In the second embodiment, as shown in FIG. 8B, when the operating body 53 is raised, the peeling start point forming pin 51 pushes up the dicing tape 16 until the pin drive link 73 comes into contact with the dome head 58b. Thereafter, when the operating body 53 is raised, first, the peeling operation by the outer block 52 and the inner block 54 is performed (see Step 6 in FIG. 9, FIG. 8C, FIG. 10C), and then Only the inner block 54 is raised by the action of the 1/2 switching spring 52b, and the state shown in FIG. 8D is obtained (see step 8 and FIG. 10D).

図8(c)、図8(d)及び図10(c)、図10(d)において、剥離起点形成ピン51は、
ドームヘッド58bによって上昇できないので、図8(b)の状態を維持している。従って、剥離起点形成ピン51は図8(c)、図8(d)における剥離動作には寄与していない。
8 (c), 8 (d), 10 (c), and 10 (d), the peeling start point forming pin 51 is
Since it cannot be raised by the dome head 58b, the state of FIG. 8B is maintained. Therefore, the peeling start point forming pin 51 does not contribute to the peeling operation in FIGS. 8C and 8D.

以上説明したように、本発明の第2の実施形態である突き上げユニット50においても、ダイ4の四隅に相当する位置に剥離起点形成ピン51を設け、剥離処理の当初に剥離起点形成ピン51を上昇させ、剥離の起点となる空間を形成することでダイ4にかかるストレスを低減でき、ダイ4が割れることなくその以降による剥離処理が確実に行なうことができる。
この結果、本発明の第2の実施形態においても、ピックアップミスを低減でき、信頼性の高いダイボンダまたはピックアップ方法を提供できる。
図11は、本発明の第2の実施形態の突き上げユニット50に、鍔42tのないコレットに適用した例を示す図で、図10に対するステップを示したものである。
図11から分かるように、図11(b)に示す剥離起点形成ピン51を上昇させるステップにおいて若干コレットリークが大きくなる可能性があるもの、実処理では問題なく処理を行うことがきた。以上説明したように、コレット形状には関係なく本実施形態を適用できる。
As described above, also in the push-up unit 50 according to the second embodiment of the present invention, the peeling start point forming pins 51 are provided at positions corresponding to the four corners of the die 4 and the peeling start point forming pins 51 are provided at the beginning of the peeling process. By raising and forming a space as a starting point of peeling, the stress applied to the die 4 can be reduced, and the subsequent peeling treatment can be reliably performed without cracking the die 4.
As a result, also in the second embodiment of the present invention, pickup mistakes can be reduced, and a highly reliable die bonder or pickup method can be provided.
FIG. 11 is a diagram showing an example in which the push-up unit 50 according to the second embodiment of the present invention is applied to a collet without a flange 42t, and shows steps with respect to FIG.
As can be seen from FIG. 11, in the step of raising the peeling start point forming pin 51 shown in FIG. 11 (b), there is a possibility that the collet leak is slightly increased. As described above, the present embodiment can be applied regardless of the collet shape.

図12は、図11(b)と図11(c)との間の状態を示し、剥離起点形成ピン51と外側ブロック52及び内側ブッロク54が同一高さになったときの状態を示す。図11に示す動作フローにおいて、図11(b)の状態まで、コレット42を着地させず、図12になったときにコレットを着地させる。この結果、図11に示す実施形態における若干のコレットリークの危惧がなくなる。この結果、鍔42tのないコレットを適用してもより確実に剥離処理を行うことができる。   FIG. 12 shows a state between FIG. 11 (b) and FIG. 11 (c), and shows a state when the peeling start point forming pin 51, the outer block 52, and the inner block 54 are at the same height. In the operation flow shown in FIG. 11, the collet 42 is not landed until the state shown in FIG. As a result, there is no fear of a slight collet leak in the embodiment shown in FIG. As a result, even if a collet without wrinkles 42t is applied, the peeling process can be performed more reliably.

この結果、ピックアップミスを低減でき、信頼性の高いダイボンダまたはピックアップ方法を提供できる。   As a result, pickup mistakes can be reduced and a highly reliable die bonder or pickup method can be provided.

また、以上説明したように、本第1、第2の突き上げユニットの実施形態によれば、2つの独立に駆動する動作を一つの駆動源で駆動でき、小型または安価な突き上げユニットを提供できる。   Further, as described above, according to the embodiments of the first and second push-up units, two independently driven operations can be driven by one drive source, and a small or inexpensive push-up unit can be provided.

図13は本発明の第3の突き上げユニットの実施形態を示したものである。第1の実施形態と異なる点は、突き上げ部としてブロックの替わりの突き上げピンを用いた点である。図13は、第2の実施形態の図10(b)に対する図として図13(a)を、図10(c)に対応する図として図13(b)を示した図である。   FIG. 13 shows an embodiment of the third push-up unit of the present invention. The difference from the first embodiment is that a push-up pin instead of a block is used as the push-up portion. FIG. 13 is a diagram illustrating FIG. 13A as a diagram corresponding to FIG. 10B of the second embodiment, and FIG. 13B is a diagram corresponding to FIG. 10C.

本実施形態でも、図13(a)に示すよう、予め剥離起点形成ピン51で剥離起点51aを形成し、その後、図13(b)に示すように、複数の突き上げピン60を固定した突き上げピンベース61を一気に突き上げたとして、剥離作業はより確実に行われる。図9(b)においては、剥離起点形成ピンは元の位置に戻っており、図9(b)における突き上げには関与していない。   Also in this embodiment, as shown in FIG. 13 (a), a peeling start point 51a is formed in advance by a peeling start point forming pin 51, and then a plurality of push-up pins 60 are fixed as shown in FIG. 13 (b). If the base 61 is pushed up at once, the peeling operation is performed more reliably. In FIG. 9B, the peeling start point forming pin has returned to its original position and is not involved in the push-up in FIG. 9B.

従って、本発明の第3の突き上げユニットの実施形態においても、剥離の起点となる空間を形成することでダイ4にかかるストレスを低減でき、ダイ4が割れることなくその以降による剥離処理がより確実に行なうことができる。   Therefore, also in the third push-up unit embodiment of the present invention, it is possible to reduce the stress applied to the die 4 by forming a space as a starting point of the peeling, and the peeling process thereafter is more reliable without cracking the die 4. Can be done.

以上説明した第1乃至第3の突き上げユニットの実施形態では、ダイ4の4コーナーに設けた剥離起点形成ピン51を同時に突き上げていた。図14は剥離起点形成ピンの数又は駆動方法に対する他の実施形態を示す図である。   In the embodiments of the first to third push-up units described above, the peeling start point forming pins 51 provided at the four corners of the die 4 are pushed up simultaneously. FIG. 14 is a diagram showing another embodiment of the number of peeling start point forming pins or the driving method.

図14(a)、図14(b)は4コーナーの全てに剥離起点形成ピン51を設けるのではなく、図14(a)は4コーナーのうちの一つのコーナーに設けた例で、図14(b)は2本の剥離起点形成ピン51をダイ4のコーナーの対角部に設けた例である。いずれにしても、
1箇所でも剥離起点を形成することで、従来技術に比べより確実にダイ4をダイシングテープ16から剥離することができる。
14 (a) and 14 (b) do not provide the separation starting point forming pins 51 at all four corners, but FIG. 14 (a) shows an example in which one of the four corners is provided. (b) is an example in which two separation starting point forming pins 51 are provided at the diagonal portion of the corner of the die 4. In any case,
By forming the peeling start point even at one place, the die 4 can be peeled from the dicing tape 16 more reliably than in the prior art.

図14(c)は4コーナー同時に突き上げるのではなく、4コーナーの剥離起点形成ピン51で順次突き上げていく例である。本例では順次突き上げることで、ダイに与えるストレスを多少なりとも緩和できる。図14(d)は4コーナーだけでなくダイ周辺部にも剥離起点形成ピン51を設けた例である。本例では、ダイ4に与えるストレスを緩和しながら且つ剥離起点を多く設け、ダイ4の変形または変形割れを防ぐことができる。   FIG. 14C shows an example in which the four corners are not pushed up at the same time but are pushed up sequentially by the peeling start point forming pins 51 at the four corners. In this example, the stress applied to the die can be alleviated somewhat by pushing up sequentially. FIG. 14D shows an example in which peeling start point forming pins 51 are provided not only at the four corners but also at the periphery of the die. In this example, the stress applied to the die 4 can be alleviated and a large number of separation starting points can be provided to prevent deformation or deformation cracking of the die 4.

図15は、図14(c)、図14(d)に適用する剥離起点形成ピン51の駆動方法の例を示す図である。基本的な構成は、第1の実施形態で示す図4と同じである。異なる点は、
作動体53が回転し、作動体53の下面の一箇所に球状の突起物53aを設けた点である。図11でも剥離起点形成ピン51の数だけ、ピン上下リンク55及びピン駆動リンク56がある。そこで、作動体53を下降させ回転させると、突起物53aが次々とピン駆動リンク56を回転させ、対応するピン上下リンク55を上昇させ、対応する剥離起点形成ピン51を突き上げる。その結果、剥離起点形成ピン51がコーナー部のみ配置されていようが、周辺部にも配置されていようが、剥離起点形成ピン51を順次突き上げて、剥離起点51aを次々と形成することができる。
FIG. 15 is a diagram illustrating an example of a driving method of the peeling start point forming pin 51 applied to FIGS. 14 (c) and 14 (d). The basic configuration is the same as FIG. 4 shown in the first embodiment. The difference is
The operating body 53 is rotated, and a spherical protrusion 53 a is provided at one place on the lower surface of the operating body 53. In FIG. 11, there are as many pin vertical links 55 and pin drive links 56 as the number of peeling start point forming pins 51. Therefore, when the operating body 53 is lowered and rotated, the projection 53a successively rotates the pin drive link 56, raises the corresponding pin vertical link 55, and pushes up the corresponding peeling start point forming pin 51. As a result, regardless of whether the peeling start point forming pins 51 are arranged only at the corner portion or the peripheral portion, the peeling start point forming pins 51 can be pushed up sequentially to form the peeling start point 51a one after another.

次に、図14(e)を説明する。図14(e)は、剥離起点形成ピン等をダイ4の周辺部を移動させて次々と剥離起点を形成する方法である。例えば、凹状の形状の有するリニアモータで構成されたレール51B上を外側ブロック52の周囲に設け、ピンではなく球状または丸みを帯びたローラ形状の磁石51Aを移動させて、次々と剥離起点51aを形成する方法である。図14(e)の方法においても、図14(d)と同様な効果を奏することができる。また、図14(e)の実施形態によれば、剥離起点形成ピンで説明してきた剥離起点形成手段は、ピン形状だけでなく球形状でもよい。   Next, FIG. 14 (e) will be described. FIG. 14 (e) shows a method for forming the separation starting points one after another by moving the separation starting point forming pins and the like around the periphery of the die 4. For example, a rail 51B composed of a linear motor having a concave shape is provided around the outer block 52, and a spherical or rounded roller-shaped magnet 51A is moved instead of a pin so that the peeling start points 51a are successively formed. It is a method of forming. In the method of FIG. 14E, the same effect as in FIG. 14D can be obtained. Further, according to the embodiment of FIG. 14 (e), the peeling start point forming means described with respect to the peeling start point forming pin may be not only a pin shape but also a spherical shape.

以上の実施例では、剥離されたダイを基板にダイボンディングするがダイボンダについて説明した。基板にダイボンディングする代わりに、ダイを搬送するトレイ上に載せれば、ピックアップ装置とすることも可能である。   In the above embodiment, the die bonded to the substrate is die bonded, but the die bonder has been described. Instead of die bonding to the substrate, a pickup device can be obtained by placing the die on a tray for transporting the die.

以上のように本発明の実施形態について説明したが、上述の説明に基づいて当業者にとって種々の代替例、修正又は変形が可能であり、本発明はその趣旨を逸脱しない範囲で前述の種々の代替例、修正又は変形を包含するものである。   Although the embodiments of the present invention have been described above, various alternatives, modifications, and variations can be made by those skilled in the art based on the above description, and the present invention is not limited to the various embodiments described above without departing from the spirit of the present invention. It encompasses alternatives, modifications or variations.

1:ウエハ供給部 2:ワーク供給・搬送部
3:ダイボンディング部 4:ダイ(半導体チップ)
10:ダイボンダ 11:ウエハカセットリフタ
12:ピックアップ装置 14:ウエハリング
15:エキスパンドリング 16:ダイシングテープ
17:支持リング 18:ダイアタッチフィルム
32:ボンディングヘッド部 40:コレット部
41:コレットホルダー 41v:コレットホルダーにおける吸着孔
42:コレット 42v:コレットにおける吸着孔
42t:コレットの鍔 50:突き上げユニット
51:剥離起点形成ピン 51a:剥離起点
51A:球状または丸みを帯びたローラ形状の磁石51A
51B:リニアモータで構成されたレール
52:外側ブロック
52b:1/2切替えバネ
52v:外側ブロックとドームヘッドとの隙間
53:作動体 54:内側ブロック
54v:内側ブロックと外側ブックとの隙間
55:ピン上下リンク 56:ピン駆動リンク
56a:ピン駆動リンクの回転支点 57:駆動軸
58:ドーム本体 58a:ドームヘッドにおける吸着孔
58b:ドームヘッド 59:ブロック本体
60:突き上げピン 61:ピンベース
71:タイミング制御プレート 72:圧縮バネ72
73:ピン駆動リンク 74:保持プレート。
1: Wafer supply unit 2: Workpiece supply / conveyance unit 3: Die bonding unit 4: Die (semiconductor chip)
10: Die bonder 11: Wafer cassette lifter 12: Pickup device 14: Wafer ring 15: Expanding ring 16: Dicing tape 17: Support ring 18: Die attach film 32: Bonding head part 40: Collet part 41: Collet holder 41v: Collet holder 42: Collet 42v: Collet suction hole 42t: Collet collar 50: Push-up unit 51: Peeling origin forming pin 51a: Peeling origin 51A: Spherical or round roller-shaped magnet 51A
51B: Rail composed of a linear motor 52: Outer block 52b: 1/2 switching spring 52v: Clearance between outer block and dome head 53: Actuator 54: Inner block 54v: Clearance between inner block and outer book 55: Pin vertical link 56: Pin drive link 56a: Rotation fulcrum of pin drive link 57: Drive shaft 58: Dome main body 58a: Dome head suction hole 58b: Dome head 59: Block main body 60: Push-up pin 61: Pin base 71: Timing Control plate 72: compression spring 72
73: Pin drive link 74: Holding plate.

Claims (11)

ダイの周辺部のうちの所定部におけるダイシングフィルムをピンで突き上げて、該ピンの周辺において該ダイシングテープが盛り上がった剥離起点を形成する剥離起点形成手段と、前記所定部とは異なる部分の前記ダイシングフィルムを突き上げて前記ダイを前記ダイシングフィルムから剥離する剥離手段と、前記剥離起点形成手段の前記突き上げと前記剥離手段の前記突き上げとを別々に駆動する駆動手段を有する突き上げユニットと、
前記ダイを吸着するコレットと、
前記コレットで吸着され前記突き上げられた前記ダイを前記ダイシングフィルムから剥離して基板に装着するボンディングヘッドと、
を有するダイボンダ。
A peeling starting point forming means for pushing up a dicing film at a predetermined portion of the peripheral portion of the die with a pin and forming a peeling starting point at which the dicing tape is raised around the pin, and the dicing at a portion different from the predetermined portion A peeling unit that pushes up the film and peels the die from the dicing film; and a push-up unit having a driving unit that separately drives the push-up of the peeling start point forming unit and the push-up of the peeling unit;
A collet that adsorbs the die;
A bonding head that peels off the die sucked and pushed up by the collet from the dicing film and attaches it to the substrate;
Die bonder with.
前記所定部は前記ダイの4コーナー部分のうち少なくとも1つのコーナー部分に設けられていることを特徴とする請求項1に記載のダイボンダ。   The die bonder according to claim 1, wherein the predetermined portion is provided in at least one corner portion of the four corner portions of the die. 前記剥離起点形成手段は、前記剥離手段による前記剥離に寄与しないことを特徴とする請求項1又は2に記載のダイボンダ。   The die bonder according to claim 1, wherein the peeling start point forming unit does not contribute to the peeling by the peeling unit. 前記駆動手段は、単一の駆動源で駆動される作動体を有し、前記作動体の上昇によって前記剥離形成手段及び前記剥離手段の前記突き上げが順次行われることを特徴することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のダイボンダ。   The driving means has an operating body driven by a single driving source, and the peeling forming means and the peeling means are sequentially pushed up by the raising of the operating body. The die bonder according to any one of claims 1 to 3. ダイシングフィルムに貼り付けられた複数のダイのうち剥離対象とするダイをコレットで吸着するステップと、
剥離対象である前記ダイの周辺部のうちの所定部における前記ダイシングフィルムをピンで突き上げて、該ピンの周辺において該ダイシングテープが盛り上がった剥離起点を形成するステップと、
前記所定部とは異なる部分の前記ダイシングフィルムを突き上げて前記ダイを前記ダイシングフィルムから剥離するステップ有することを特徴とするピックアップ方法。
A step of adsorbing a die to be peeled among a plurality of dies attached to a dicing film with a collet;
A step of pushing up the dicing film in a predetermined portion of the peripheral portion of the die to be peeled with a pin to form a peeling start point where the dicing tape is raised in the periphery of the pin; and
A pick-up method comprising a step of pushing up the dicing film at a portion different from the predetermined portion and peeling the die from the dicing film.
前記所定部は前記ダイの4コーナー部分のうち少なくとも1つのコーナー部分に設けられていることを特徴とする請求項5に記載のピックアップ方法。   6. The pickup method according to claim 5, wherein the predetermined portion is provided in at least one corner portion of the four corner portions of the die. 前記ピンがダイシングフィルムを突き上げて前記剥離起点を形成する所定の位置で静止するステップを有することを特徴とする請求項5又は6記載のピックアップ方法。   7. The pickup method according to claim 5, further comprising a step of stopping at a predetermined position where the pin pushes up the dicing film to form the peeling starting point. 前記ピンがダイシングフィルムを突き上げて前記剥離起点を形成する所定の位置に達した後、前記所定部とは異なる部分の前記ダイシングフィルムを突き上げる前に、前記ピンを前記所定の位置から前記突き上げとは逆の方向に移動するステップを有することを特徴とする請求項7記載のピックアップ方法。   What is the pushing-up of the pin from the predetermined position after the pin has pushed up the dicing film and reached a predetermined position to form the peeling start point and before pushing up the dicing film at a part different from the predetermined part? 8. The pickup method according to claim 7, further comprising a step of moving in the opposite direction. ウエハリングを保持するエキスパンドリングと、
前記ウエハリングに保持され複数のダイが貼り付けられたダイシングフィルムを保持する保持手段と、
前記ダイの周辺部のうちの所定部におけるダイシングフィルムをピンで突き上げて、該ピンの周辺において該ダイシングテープが盛り上がった剥離起点を形成する剥離起点形成手段と、前記所定部とは異なる部分の前記ダイシングフィルムを突き上げて前記ダイを前記ダイシングフィルムから剥離する剥離手段と、前記剥離起点形成手段の前記突き上げと前記剥離手段の前記突き上げとを別々に駆動する駆動手段を有する突き上げユニットと、
を有することを特徴とするピックアップ装置。
An expanding ring for holding the wafer ring;
Holding means for holding a dicing film held by the wafer ring and having a plurality of dies attached thereto;
A peeling starting point forming means for pushing up a dicing film in a predetermined part of the peripheral part of the die with a pin and forming a peeling starting point where the dicing tape swells around the pin, and the part different from the predetermined part A peeling unit that pushes up a dicing film and peels the die from the dicing film; and a pushing-up unit having a driving unit that separately drives the push-up of the peeling start point forming unit and the push-up of the peeling unit;
A pickup device comprising:
前記剥離起点形成手段は、前記剥離手段による前記剥離に寄与しないことを特徴とする請求項9に記載のピックアップ装置。   The pickup apparatus according to claim 9, wherein the peeling start point forming unit does not contribute to the peeling by the peeling unit. 前記駆動手段は、単一の駆動源で駆動される作動体を有し、前記作動体の上昇によって前記剥離形成手段及び前記剥離手段の前記突き上げが順次行われることを特徴することを特徴とする請求項9又10に記載のピックアップ装置。   The driving means has an operating body driven by a single driving source, and the peeling forming means and the peeling means are sequentially pushed up by the raising of the operating body. The pickup device according to claim 9 or 10.
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