JP2013003074A - Device testing system and device testing method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、装置試験システムおよび装置試験方法に関する。 The present invention relates to an apparatus test system and an apparatus test method.
例えば、引用文献１は、故障モジュールに対して、調整、交換、修理を施すことで良モジュールとなった場合、その他のモジュールの故障推定率を更新し、更新した故障推定率に基づいて、次に調整等を行うモジュールの優先順位を決定するシステム試験装置を開示する。
For example, in cited
本発明は、上述のような背景からなされたものであり、試験実施者が切替装置の複雑なリレー構造を把握する必要なしに、被試験装置と測定装置などとの接続経路を構築するためのリレー接続命令を生成するよう改良された装置試験システムを提供することを目的とする。 The present invention has been made from the background as described above, and is used for constructing a connection path between a device under test and a measuring device without requiring a tester to grasp the complicated relay structure of the switching device. It is an object of the present invention to provide an improved device test system for generating relay connection instructions.
上記目的を達成するために、本発明に係る装置試験システム（３）は、被試験装置（１８）に対して試験を行う装置試験システムであって、前記被試験装置が出力する信号を測定する複数の測定装置（１４）と、制御装置（１２）と、前記制御装置により制御され、前記被試験装置と、前記複数の測定装置のうちのいずれかとの接続経路を構築する切替装置（２０）とを有し、前記切替装置は、前記制御装置によりオンまたはオフに制御される複数のリレースイッチ（２０８）を有し、前記リレースイッチの制御に基づいて、前記複数の測定装置と接続し得る第１のユニット（２００）と、前記制御装置によりオンまたはオフに制御される複数のリレースイッチを有し、前記リレースイッチの制御に基づいて、前記第１のユニットおよび前記被試験装置と接続し得る第２のユニット（２０２，２０４）とを有し、前記第２のユニットは、複数のコネクタ（２１０，２１２）のうちのいずれかを介して、前記被試験装置と接続され、前記制御装置は、前記試験に用いられる前記測定装置、および、前記第２のユニットと前記被試験装置との接続に用いられる前記コネクタを少なくとも指定する接続指定情報を受け入れる受入部（３０８）と、オンに制御される前記第１のユニットのリレースイッチの組み合わせが、前記複数の測定装置ごとに予め定義された第１の組合せ情報から、前記受け入れた接続指定情報が指定する測定装置に対応する前記第１のユニットのリレースイッチの組み合わせを取得する第１の組合せ取得部（３１２）と、オンに制御される前記第２のユニットのリレースイッチの組み合わせが、前記複数の測定装置および前記複数のコネクタごとに予め定義された第２の組合せ情報から、前記受け入れた接続指定情報が指定する測定装置およびコネクタに対応する前記第２のユニットのリレースイッチの組み合わせを取得する第２の組合せ取得部（３１６，３１８）と、前記取得した第１のユニットのリレースイッチの組み合わせ、および、前記取得した第２のユニットのリレースイッチの組み合わせに含まれるリレースイッチをオンに制御することを示す制御情報を生成する生成部（３２０）とを有する。
なお、ここで付された符号は、本願発明の理解を助けることを意図するものであり、本願発明の技術的範囲を限定することを意図するものではない。
In order to achieve the above object, a device test system (3) according to the present invention is a device test system for performing a test on a device under test (18), and measures a signal output from the device under test. A plurality of measuring devices (14), a control device (12), and a switching device (20) that is controlled by the control device and constructs a connection path between the device under test and one of the plurality of measuring devices. The switching device has a plurality of relay switches (208) controlled to be turned on or off by the control device, and can be connected to the plurality of measuring devices based on the control of the relay switches. A first unit (200), and a plurality of relay switches controlled to be turned on or off by the control device, and based on the control of the relay switch, the first unit and the A second unit (202, 204) that can be connected to a test device, and the second unit is connected to the device under test via one of a plurality of connectors (210, 212). And the control device receives a connection designation information that designates at least the measurement device used for the test and the connector used for connection between the second unit and the device under test (308). The combination of the relay switches of the first unit controlled to be ON corresponds to the measurement device specified by the received connection specification information from the first combination information defined in advance for each of the plurality of measurement devices. A first combination acquisition unit (312) for acquiring a combination of relay switches of the first unit, and a relay of the second unit controlled to be turned on. The combination of the switches is a second combination information defined in advance for each of the plurality of measurement devices and the plurality of connectors, and the second unit corresponding to the measurement device and the connector specified by the received connection designation information. Included in the second combination acquisition unit (316, 318) that acquires the combination of relay switches, the combination of the acquired relay switches of the first unit, and the combination of the acquired relay switches of the second unit A generator (320) that generates control information indicating that the relay switch is controlled to be turned on.
In addition, the code | symbol attached | subjected here intends helping an understanding of this invention, and does not intend limiting the technical scope of this invention.
本発明に係る装置試験システムによれば、被試験装置と測定装置などとの接続経路を構築するための試験実施者の負担を軽減したり、リレーの追加などに柔軟に対応したりすることができる。 According to the apparatus test system according to the present invention, it is possible to reduce the burden on the tester for constructing a connection path between the apparatus under test and the measuring apparatus, or to flexibly cope with the addition of a relay or the like. it can.
［本発明の背景］
以下、本発明に係る第２の装置試験システム３の説明に先立ち、その理解を助けるために、第１の装置試験システム１を示して、本発明がなされるに至った背景について説明する。
以下に説明するように、第１の装置試験システム１においては、試験の対象となる被試験装置と、被試験装置が出力する試験信号を測定する測定装置などとの接続経路の設定が複雑であり、試験実施者の負担が大きくなる場合がある。
[Background of the present invention]
Prior to the description of the second apparatus test system 3 according to the present invention, the first
As will be described below, in the first
［装置試験システム１］
図１（Ａ）は、第１の装置試験システム１の構成を例示する図である。
図１（Ａ）に示すように、装置試験システム１は、制御装置１２と、ｎ個の測定装置１４−１〜１４−ｎ（ｎ≧１；ただし、全てのｎが常に同数を示すとは限らない）と、ｎ個の専用試験装置１６−１〜１６−ｎと、被試験装置１８と、切替装置２０とが、ＬＡＮなどのネットワーク１０により接続され、測定装置１４−１〜１４−ｎと、専用試験装置１６−１〜１６−ｎと、被試験装置１８とが、切替装置２０を介して接続される。
[Equipment test system 1]
FIG. 1A is a diagram illustrating the configuration of the first
As shown in FIG. 1A, the
なお、以下、測定装置１４−１〜１４−ｎなど、複数ある構成部分のいずれかを示すときは、単に、測定装置１４と記載することがある。
以下、各図において、実質的に同じ構成部分・処理には、同じ符号が付される。
装置試験システム１は、これらの構成部分を用いて、被試験装置１８に対する試験の内容に応じて、被試験装置１８と、測定装置１４および専用試験装置１６のいずれかとを、切替装置２０を介して接続し、被試験装置１８に対して試験を行う。
Hereinafter, when any one of a plurality of components such as the measuring devices 14-1 to 14-n is indicated, it may be simply referred to as the measuring device 14.
Hereinafter, in each figure, the same code | symbol is attached | subjected to the substantially same component and process.
The
制御装置１２は、装置試験システム１の各構成部分を制御する。
測定装置１４は、制御装置１２に制御され、被試験装置１８の出力（試験信号）を測定する汎用的な装置を示す。
専用試験器１６は、制御装置１２に制御され、被試験装置１８の試験内容ごとに異なる専用の試験を行う装置を示す。
The
The measuring device 14 is a general-purpose device that is controlled by the
The dedicated tester 16 indicates a device that is controlled by the
被試験装置１８は、切替装置２０を介して、測定装置１４のいずれか、または、測定装置１４のいずれかおよび専用試験装置１６のいずれかと接続される（以下、このような接続は、単に「測定装置１４、または、測定装置１４および専用装置試験１６と接続される」と記述する）。
また、被試験装置１８は、制御装置１２に制御され、切替装置２０を介して接続された測定装置１４および専用試験装置１６に対して、機能および性能などの試験を行うための試験信号を送信する。
切替装置２０は、制御装置１２に制御され、試験の内容に応じて、リレーを切り替えて、被試験装置１８と、測定装置１４、または、測定装置１４および専用試験装置１６とを接続する（図２〜４を参照して詳述）。
The device under
Further, the device under
The
［ハードウェア構成］
図１（Ｂ）は、制御装置１２のハードウェア構成を例示する図である。
図１（Ｂ）に示すように、制御装置１２は、メモリ１２２およびＣＰＵ１２４などを含む情報処理装置１２０、キーボードおよび表示装置などを含む外部入出力装置１２６、データ通信を行うための通信装置１２８、および、ハードディスクなどの記録媒体１３２に対してデータの記録を行う記録装置１３０などから構成される。
つまり、制御装置１２は、情報処理、装置試験システム１の各構成部分の制御、および、これらの間とのデータ通信が可能なコンピュータとしての構成部分を有している。
[Hardware configuration]
FIG. 1B is a diagram illustrating a hardware configuration of the
As shown in FIG. 1B, the
In other words, the
［切替装置２０の構成］
図２は、図１（Ａ）に示した切替装置２０の構成を例示する図である。
図２に示すように、切替装置２０は、メインユニット２００、第１のサブユニット２０２、第２のサブユニット２０４−１〜２０４−４およびインタフェース（ＩＦ）２０６−１〜２０６−９から構成される。
切替装置２０は、制御装置１２（図１（Ａ））による後述する切替制御に従って、これらの構成部分を用いて、被試験装置１８と、測定装置１４、または、測定装置１４および専用試験装置１６とを接続する。
なお、切替装置２０を構成する第２のサブユニット２０４、ＩＦ２０６および測定装置１４の数は、図２に示した数に限定されるものではなく、任意の数で構成され得る。
[Configuration of Switching Device 20]
FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration of the
As shown in FIG. 2, the
The
Note that the numbers of the
メインユニット２００は、制御装置１２（図１（Ａ））による切替制御に従って、後述するリレーユニットを構成するリレーを用いて、第１のサブユニット２０２または第２のサブユニット２０４−１と、測定装置１４とを接続する（図３を参照して詳述）。
第１のサブユニット２０２は被試験装置１８と、測定装置１４とを接続する場合に、制御装置１２（図１（Ａ））による切替制御に従って、後述するリレーユニットを構成するリレーを用いて、被試験装置１８と、メインユニット２００とを接続する（図３を参照して詳述）。
第２のサブユニット２０４は、被試験装置１８と、測定装置１４および専用試験装置１６とを接続する場合に、切替装置１２（図１（Ａ））による切替制御に従って、後述するリレーユニットを構成するリレーを用いて、被試験装置１８と接続するＩＦ２０６のいずれかと、メインユニット２００とを接続する（図３を参照して詳述）。
The
When the
The
また、被試験装置１８と接続するＩＦ２０６のいずれかが、第２のサブユニット２０４−２〜２０４−４のいずれかと接続される場合は、その第２のサブユニットは、第２のサブユニット２０４−１までの他の第２のサブユニットを経由して、メインユニット２００と接続される。
具体的には、例えば、被試験装置１８と接続するＩＦ２０６−６が、第２のサブユニット２０４−３と接続される場合は、第２のサブユニット２０４−３は、第２のサブユニット２０４−２を経由し、さらに、第２のサブユニット２０４−１を経由して、メインユニット２００と接続される。
ＩＦ２０６は、被試験装置１８と、専用試験装置１６とを接続するための仲介を行い、第２のサブユニット２０４と接続する（図３を参照して詳述）。
When any of the IFs 206 connected to the device under
Specifically, for example, when the IF 206-6 connected to the device under
The IF 206 mediates connection between the device under
［リレーユニットの構成］
図３は、図２に示したメインユニット２００、第１のサブユニット２０２および第２のサブユニット２０４それぞれのリレーユニットの構成を例示する図である。
リレーユニットは、制御装置１２（図１（Ａ））によりオンまたはオフに制御される１つ以上のスイッチを有するリレー２０８から構成される。
例えば、図３に示すように、メインユニット２００において、制御装置１２により、リレー（Ｋ）２０８−１（以下の説明および図面においては、単に「リレー２０８−１」と記述する）と、リレー２０８−１と直列に接続されたリレー２０８−２〜２０８−４とがオンに制御されると、測定装置１４−３から、アンプ２１４（ＡＭＰ）を中継して、第１のサブユニット２０２のリレー２０８−１０および第２のサブユニット２０４のリレー２０８−１５までの接続経路が構築される。
[Configuration of relay unit]
FIG. 3 is a diagram illustrating the configuration of the relay unit of each of the
The relay unit includes a relay 208 having one or more switches controlled to be turned on or off by the control device 12 (FIG. 1A).
For example, as shown in FIG. 3, in the
また、例えば、図３に示すように、メインユニット２００において、制御装置１２（図１（Ａ））により、リレー２０８−５と、リレー２０８−５と直列に接続されたリレー２０８−６〜２０８−８とがオンに制御されると、測定装置１４−４から、アッテネータ２１６（ＡＴＴ）を中継して、第１のサブユニット２０２のリレー２０８−９および第２のサブユニット２０４のリレー２０８−１７までの接続経路が構築される。
また、例えば、図３に示すように、第１のサブユニット２０２において、制御装置１２により、リレー２０８−９と、リレー２０８−９に接続されたリレー２０８−１１〜２０８−１４とがオンに制御されると、リレー２０８−９から、リレー２０８−１１〜２０８−１４にそれぞれ対応するコネクタ２１０−１〜２１０−４までの接続経路が構築される。
また、例えば、リレー２０８−９と同様に、制御装置１２により、リレー２０８−１０と、リレー２０８−１１〜２０８−１４とがオンに制御されると、リレー２０８−１０から、リレー２０８−１１〜２０８−１４にそれぞれ対応するコネクタ２１０−１〜２１０−４までの接続経路が構築される。
Further, for example, as shown in FIG. 3, in the
Further, for example, as shown in FIG. 3, in the
Further, for example, when the relay device 208-10 and the relays 208-11 to 208-14 are turned on by the
また、例えば、図３に示すように、第２のサブユニット２０４において、制御装置１２（図１（Ａ））により、リレー２０８−１５と、リレー２０８−１６とがオンに制御されると、リレー２０８−１５からリレー２０８−１６に対応するコネクタ２１２−１および２１２−３までの接続経路が構築される。
また、例えば、リレー２０８−１５と同様に、制御装置１２により、リレー２０８−１７と、リレー２０８−１８とがオンに制御されると、リレー２０８−１７からリレー２０８−１８に対応するコネクタ２１２−２よび２１２−４までの接続経路が構築される。
Further, for example, as shown in FIG. 3, in the
Further, for example, similarly to the relay 208-15, when the
被試験装置１８は、コネクタ２１０−１〜２１０−４のいずれかに接続することにより、第１のサブユニット２０２と接続される。
なお、例えば、図３に示すように、リレー２０８−１３に対応するコネクタ２１０−３のコネクタ名は「Ｊ１Ｍ３」を示し、以下、コネクタ２１０−３（Ｊ１Ｍ３）と記述することがある。
ＩＦ２０６は、コネクタ２１２−１〜２１２−４のいずれかを用いて、第２のサブユニット２０４と接続する。
なお、例えば、図３に示すように、リレー２０８−１６に対応するコネクタ２１２−１のコネクタ名は「Ｊ１０１＿１」を示し、以下、コネクタ２１２−１（Ｊ１０１＿１）と記述することがある。
また、図３に示したリレーユニットの構成、および、第１のサブユニット２０２などのコネクタの構成は一例であり、これらの構成に限定されるものではない。
The device under
For example, as shown in FIG. 3, the connector name of the connector 210-3 corresponding to the relay 208-13 indicates “J1M3”, and may be described as a connector 210-3 (J1M3) hereinafter.
The IF 206 is connected to the
For example, as illustrated in FIG. 3, the connector name of the connector 212-1 corresponding to the relay 208-16 indicates “J101_1”, and may be hereinafter referred to as a connector 212-1 (J101_1).
Further, the configuration of the relay unit shown in FIG. 3 and the configuration of the connector such as the
［切替制御処理］
図４は、制御装置１２（図１（Ａ））が、図２，図３に示した切替装置２０を制御するために用いられるリレー設定情報テーブルを例示する図である。
図４に示すように、リレー設定情報テーブルは、リレー番号と、リレー番号に対応する実施内容を示すリレー設定情報の一覧を示す。
リレー番号は、実施内容を一意に特定するための識別子を示し、実施内容は、いずれのリレー（図３）をオンに制御するかを示す。
[Switch control processing]
FIG. 4 is a diagram illustrating a relay setting information table used by the control device 12 (FIG. 1A) to control the
As shown in FIG. 4, the relay setting information table shows a list of relay number and relay setting information indicating implementation contents corresponding to the relay number.
The relay number indicates an identifier for uniquely identifying the implementation content, and the implementation content indicates which relay (FIG. 3) is controlled to be turned on.
制御装置１２（図１（Ａ））は、例えば、入出力装置１２６（図１（Ｂ））の入力装置から入力されたリレー接続命令が受け入れると、リレー設定情報テーブル（図４）を用いて、切替装置２０のリレー（図３）を制御する。
具体的には、例えば、制御装置１２は、下記のようなリレー接続命令を受け入れる。
「ＲＥＬＡＹ ＲＥＬＡＹ＿ＯＮ Ｆ０２４／Ｆ０２５／Ｆ０２６／Ｆ０２７」
制御装置１２は、上記のリレー接続命令を解釈して、リレー番号「Ｆ０２４」，「Ｆ０２５」，「Ｆ０２６」，「Ｆ０２７」にそれぞれ対応するリレー設定情報の実施内容を実施する。
つまり、制御装置１２は、図３に示したメインユニット２００のリレー２０８−５〜２０８−８をオンに制御する。
When the relay connection command input from the input device of the input / output device 126 (FIG. 1B) is accepted, for example, the control device 12 (FIG. 1A) uses the relay setting information table (FIG. 4). The relay (FIG. 3) of the
Specifically, for example, the
"RELAY RELAY_ON F024 / F025 / F026 / F027"
The
That is, the
このように、本発明の構成を有さない装置試験システム１においては、試験実施者が、リレー番号を指定したリレー接続命令を作成し、被試験装置１８と、測定装置１４などとの接続経路を構築する必要がある。
そのため、試験実施者は、リレー接続命令を作成するために、切替装置２０の複雑なリレー構成を把握する必要があるので、試験実施者の負担が大きくなる場合がある。
As described above, in the
Therefore, since the tester needs to grasp the complicated relay configuration of the
［本発明に係る装置試験システム３］
以下、本発明に係る第２の装置試験システム３について説明する。
本発明に係る第２の装置試験システム３の構成は、図１（Ａ）に示した第１の装置試験システム１と同様であり、装置試験システム３は、図１（Ａ）に示した制御装置１２上で、以下に説明する接続命令生成プログラム３０を実行することにより実現される。
[Device test system 3 according to the present invention]
Hereinafter, the second device test system 3 according to the present invention will be described.
The configuration of the second apparatus test system 3 according to the present invention is the same as that of the first
［接続命令生成プログラム］
図５は、図１（Ａ）に示した制御装置１２上で実行される接続命令生成プログラム３０の構成を例示する図である。
図５に示すように、接続命令生成プログラム３０は、メインリレー情報記憶部３００、第１のサブリレー情報記憶部３０２、第２のサブリレー情報記憶部３０４、サブユニット情報記憶部３０６、パラメータ受入部３０８、サブユニット判定部３１０、メインリレー情報取得部３１２、エラー出力部３１４、第１のサブリレー情報取得部３１６、第２のサブリレー情報取得部３１８および接続命令生成部３２０から構成される。
[Connection command generation program]
FIG. 5 is a diagram illustrating a configuration of the connection command generation program 30 executed on the
As shown in FIG. 5, the connection command generation program 30 includes a main relay information storage unit 300, a first sub relay information storage unit 302, a second sub relay information storage unit 304, a subunit information storage unit 306, and a
接続命令生成プログラム３０は、例えば、記憶媒体１３２（図１（Ｂ））を介して制御装置１２のメモリ１２２にロードされ、制御装置１２で動作するＯＳ（図示せず）上で、制御装置１２のハードウェア資源を具体的に利用して実行される。
接続命令生成プログラム３０は、試験実施者が切替装置２０の複雑なリレー構造（図３）を把握する必要なしに、被試験装置１８と測定装置１４などとの接続経路を構築するためのリレー接続命令を生成する。
The connection command generation program 30 is loaded into the
The connection command generation program 30 is a relay connection for establishing a connection path between the device under
図６（Ａ）は、メインリレー情報記憶部３００が記憶するメインユニット設定情報テーブルを例示する図であり、（Ｂ）は、メインリレー情報記憶部３００が記憶するメインユニット２００（図２，図３）のリレー情報テーブルを例示する図である。
図６（Ａ），（Ｂ）の各テーブルは、例えば、ＣＳＶ（Comma Separated Values）形式のファイルなどで予め定義される。
メインリレー情報記憶部３００は、以下に説明するメインユニット設定情報テーブル（図６（Ａ））およびリレー情報テーブル（図６（Ｂ））を、メインリレー情報取得部３１２が参照可能に記憶する。
6A is a diagram illustrating a main unit setting information table stored in the main relay information storage unit 300, and FIG. 6B is a diagram illustrating the
Each table in FIGS. 6A and 6B is defined in advance in, for example, a CSV (Comma Separated Values) format file.
The main relay information storage unit 300 stores a main unit setting information table (FIG. 6A) and a relay information table (FIG. 6B) described below so that the main relay information acquisition unit 312 can refer to them.
図６（Ａ）に示すように、メインユニット設定情報テーブルは、例えば、メインユニット２００（図２，図３）と接続しうる測定装置名、この測定装置名に対応する第１のサブユニット設定情報ファイル名、第２のサブユニットの設定情報ファイル名、メインリレーＩＤおよび中継リレーＩＤを含む設定情報の一覧を示す。
第１のサブユニット設定情報ファイル名および第２のサブユニット設定情報ファイル名は、測定装置名に対応する測定装置との接続に利用される第１のサブユニット２０２および第２のサブユニット２０４（図２，図３）に対して設定される設定情報ファイルを示す（図７（Ａ），（Ｂ））を参照して後述）。
As shown in FIG. 6A, the main unit setting information table includes, for example, the name of a measuring device that can be connected to the main unit 200 (FIGS. 2 and 3), and the first subunit setting corresponding to this measuring device name. A list of setting information including an information file name, a setting information file name of the second subunit, a main relay ID, and a relay relay ID is shown.
The first subunit setting information file name and the second subunit setting information file name are the
メインリレーＩＤは、図６（Ｂ）に示したリレー情報テーブルのリレー情報を特定する識別子を示し、被試験装置１８が、第１のサブユニット２０２および第２のサブユニット２０４のいずれに接続されているかに応じて選択される（図８を参照して後述）。
中継リレーＩＤは、メインリレーＩＤと同様に、図６（Ｂ）に示したリレー情報テーブルのリレー情報を特定する識別子を示し、どの中継装置を中継するかに応じて選択される（図９を参照して後述）。
また、例えば、測定装置Ａおよび測定装置Ｂのいずれかと接続する場合は、被試験装置１８とこれらの測定装置との接続経路の間に中継装置が存在しないので、中継リレーＩＤは、メインユニット設定情報テーブル（図６（Ａ））において「−」と設定される。
The main relay ID indicates an identifier for specifying relay information in the relay information table shown in FIG. 6B, and the device under
Like the main relay ID, the relay relay ID indicates an identifier for specifying relay information in the relay information table shown in FIG. 6B, and is selected according to which relay device is to be relayed (see FIG. 9). See later).
Further, for example, when connecting to either the measuring device A or the measuring device B, there is no relay device between the connection path between the device under
図６（Ｂ）に示すように、リレー情報テーブルは、リレーＩＤおよびリレーＩＤに対応するリレー情報の一覧を示す。
リレー情報は、リレー設定情報テーブル（図４）に設定された実施内容を特定するリレー番号の組み合わせを示す。
具体的には、例えば、リレーＩＤ「００４」の場合、リレー情報は、リレー番号「Ｆ０２４」および「Ｆ０２７」を示す。
As shown in FIG. 6B, the relay information table shows a list of relay IDs and relay information corresponding to the relay IDs.
The relay information indicates a combination of relay numbers that specify the implementation contents set in the relay setting information table (FIG. 4).
Specifically, for example, in the case of the relay ID “004”, the relay information indicates the relay numbers “F024” and “F027”.
図７（Ａ）は、第１のサブリレー情報記憶部３０２（図５）が記憶する第１のサブユニット設定情報テーブルを例示する図である。
第１のサブユニット設定情報テーブルは、図６（Ａ）に示したメインユニット設定情報の第１のサブユニット設定情報ファイルのいずれかに対応し、例えば、図７（Ａ）に示した設定情報テーブルは、ファイル名「ｘｘｘ４．ｃｓｖ」の内容を示す。
図７（Ａ）に示すように、第１のサブユニット設定情報テーブルは、第１のサブユニット２０２が有するコネクタ名（図３）、および、コネクタ名に対応するリレーＩＤの一覧を示す。
FIG. 7A is a diagram illustrating a first subunit setting information table stored in the first sub-relay information storage unit 302 (FIG. 5).
The first subunit setting information table corresponds to one of the first subunit setting information files of the main unit setting information shown in FIG. 6A. For example, the setting information shown in FIG. The table shows the contents of the file name “xxx4.csv”.
As shown in FIG. 7A, the first subunit setting information table shows a list of connector IDs (FIG. 3) of the
第１のサブリレー情報記憶部３０２は、図７（Ａ）に示した第１のサブユニット設定情報テーブルを、第１のサブリレー情報取得部３１６が参照可能に記憶する。
また、第１のサブリレー情報記憶部３０２は、図７（Ａ）に示したリレーＩＤに対応するリレー情報の一覧を示し、図６（Ｂ）に示したリレー情報テーブルと同様な第１のサブリレー情報テーブル（図示せず）を、第１のサブリレー情報取得部３１６が参照可能に記憶する。
The first sub-relay information storage unit 302 stores the first subunit setting information table shown in FIG. 7A so that the first sub-relay information acquisition unit 316 can refer to it.
The first sub-relay information storage unit 302 is a first sub-relay similar to the relay information table shown in FIG. 6B, showing a list of relay information corresponding to the relay ID shown in FIG. An information table (not shown) is stored so that the first sub-relay information acquisition unit 316 can refer to it.
図７（Ｂ）は、第２のサブリレー情報記憶部３０４（図５）が記憶する第２のサブユニット設定情報テーブルを例示する図である。
第２のサブユニット設定情報テーブルは、図６（Ａ）に示したメインユニット設定情報の第２のサブユニット設定情報ファイルのいずれかに対応し、例えば、図７（Ｂ）に示した設定情報テーブルは、ファイル名「ｙｙｙ４．ｃｓｖ」の内容を示す。
図７（Ｂ）に示すように、第２のサブユニット設定情報テーブルは、ＩＦ２０６が有するコネクタ名（図３）、および、コネクタ名に対応するリレーＩＤの一覧を示す。
FIG. 7B is a diagram illustrating a second subunit setting information table stored in the second sub-relay information storage unit 304 (FIG. 5).
The second subunit setting information table corresponds to one of the second subunit setting information files of the main unit setting information shown in FIG. 6A. For example, the setting information shown in FIG. The table shows the contents of the file name “yyy4.csv”.
As shown in FIG. 7B, the second subunit setting information table shows a list of connector names (FIG. 3) of the IF 206 and relay IDs corresponding to the connector names.
第２のサブリレー情報記憶部３０４は、図７（Ｂ）に示した第２のサブユニット設定情報テーブルを、第２のサブリレー情報取得部３１８が参照可能に記憶する。
また、第２のサブリレー情報記憶部３０４は、図７（Ｂ）に示したリレーＩＤに対応するリレー情報の一覧を示し、図６（Ｂ）に示したリレー情報テーブルと同様な第２のサブリレー情報テーブル（図示せず）を、第２のサブリレー情報取得部３１８が参照可能に記憶する。
The second sub-relay information storage unit 304 stores the second subunit setting information table shown in FIG. 7B so that the second sub-relay information acquisition unit 318 can refer to it.
The second sub-relay information storage unit 304 shows a list of relay information corresponding to the relay ID shown in FIG. 7B, and is the same as the second sub-relay shown in the relay information table shown in FIG. An information table (not shown) is stored so that the second sub-relay information acquisition unit 318 can refer to it.
図７（Ｃ）は、サブユニット情報記憶部３０６が記憶するサブユニット情報テーブルを例示する図である。
図７（Ｃ）に示すように、サブユニット情報テーブルは、ＩＦ２０６（図２）のインタフェース名、および、インタフェース名に対応するＩＦ２０６が接続される第２のサブユニットの番号の一覧を示す。
例えば、図２に示したＩＦ２０６−１（ＩＦ１）は、第２のサブユニット２０４−１（Ｂ１）に接続されているので、図７（Ｃ）に示すように、ＩＦ１に対応するユニット番号は「Ｂ１」を示す。
サブユニット情報記憶部３０６は、図７（Ｃ）に示したサブユニット情報テーブルを、第２のサブリレー情報取得部３１６が参照可能に記憶する。
FIG. 7C is a diagram illustrating a subunit information table stored in the subunit information storage unit 306.
As shown in FIG. 7C, the subunit information table shows a list of interface names of the IF 206 (FIG. 2) and numbers of second subunits to which the IF 206 corresponding to the interface name is connected.
For example, since the IF 206-1 (IF1) shown in FIG. 2 is connected to the second subunit 204-1 (B1), as shown in FIG. 7C, the unit number corresponding to IF1 is “B1” is indicated.
The subunit information storage unit 306 stores the subunit information table shown in FIG. 7C so that the second sub-relay information acquisition unit 316 can refer to it.
パラメータ受入部３０８（図５）は、入出力装置１２６（図１（Ｂ））から入力された生成命令を受け入れて、生成命令に含まれる接続パラメータを、サブユニット判定部３１０およびメインリレー情報取得部３１２に対して出力する。
例えば、パラメータ受入部３０８は、下記のような生成命令を受け入れる。
「ＲＥＬＡＹ ＲＥＬＡＹ＿ＯＮ 測定装置名 中継装置名 コネクタ情報」
接続パラメータは、上記のような生成命令の「測定装置名」、「中継装置名」および「コネクタ情報」を示す。
The parameter receiving unit 308 (FIG. 5) receives the generation command input from the input / output device 126 (FIG. 1B), acquires the connection parameters included in the generation command, the subunit determination unit 310 and the main relay information. Output to the unit 312.
For example, the
“RELAY RELAY_ON Measuring device name Relay device name Connector information”
The connection parameter indicates “measurement device name”, “relay device name”, and “connector information” of the generation command as described above.
例えば、測定装置名は、測定装置１４のいずれかを示し、中継装置名は、被試験装置１８と測定装置１４とを中継するアンプ２１４（ＡＭＰ）またはアッテネータ２１６（ＡＴＴ）」（図３）などを示し、コネクタ情報は、第１のサブユニット２０２のコネクタ名またはＩＦ２０６のコネクタ情報（図３）などを示す。
ＩＦ２０６のコネクタ情報は、ＩＦ２０６のコネクタ名の前に、ＩＦ２０６のインタフェース名が付加された構成を示す。
例えば、ＩＦ２０６−１（ＩＦ１）（図３）のコネクタ２１２−１（Ｊ１０１＿１）を示すコネクタ情報は、「ＩＦ１＿Ｊ１０１＿１」と示される。
For example, the measurement device name indicates one of the measurement devices 14, and the relay device name indicates an amplifier 214 (AMP) or attenuator 216 (ATT) that relays between the device under
The IF 206 connector information indicates a configuration in which the IF 206 interface name is added in front of the IF 206 connector name.
For example, the connector information indicating the connector 212-1 (J101_1) of the IF 206-1 (IF1) (FIG. 3) is indicated as “IF1_J101_1”.
なお、上述のＩＦ２０６のコネクタ情報は一例であり、インタフェース名が識別できる構成であれば、どのような規則で生成されてもよい。
また、中継装置名は、被試験装置１８と測定装置１４との接続経路に中継装置が存在する場合にのみ指定され、それ以外の場合は、指定が省略される。
Note that the connector information of the IF 206 described above is an example, and may be generated according to any rule as long as the interface name can be identified.
The relay device name is specified only when a relay device exists in the connection path between the device under
サブユニット判定部３１０（図５）は、パラメータ受入部３０８から入力された接続パラメータに基づいて、被試験装置１８（図１（Ａ））を、第１のサブユニット２０２および第２のサブユニット２０４（図２，図３）のいずれの接続経路により測定装置１４と接続するかを判定する。
具体的には、サブユニット判定部３１０は、接続パラメータのうちの「コネクタ情報」に、ＩＦ２０６のインタフェース名が含まれるか否かを判定する。
また、サブユニット判定部３１０は、インタフェース名が含まれていると判定した場合、第２のサブユニット２０４の接続経路により接続する判定し、それ以外の場合、第１のサブユニット２０２の接続経路により接続すると判定する。
また、サブユニット判定部３１０は、判定結果を、メインリレー情報取得部３１２に対して出力する。
The subunit determination unit 310 (FIG. 5) determines the device under test 18 (FIG. 1 (A)) as the
Specifically, the subunit determination unit 310 determines whether or not the “connector information” of the connection parameters includes the interface name of the IF 206.
If the subunit determination unit 310 determines that the interface name is included, the subunit determination unit 310 determines to connect using the connection path of the
Moreover, the subunit determination unit 310 outputs the determination result to the main relay information acquisition unit 312.
メインリレー情報取得部３１２は、パラメータ受入部３０８から入力された接続パラメータ、および、サブユニット判定部３１０から入力された判定結果を受け入れる。
また、メインリレー情報取得部３１２は、メインリレー情報記憶部３００に記憶された各情報テーブル（図６（Ａ），（Ｂ））を参照して、受け入れた接続パラメータおよび判定結果に応じて、メインユニット２００（図２，図３）におけるリレー情報を取得する（図８，図９を参照して後述）。
また、メインリレー情報取得部３１２は、メインリレー情報記憶部３００に記憶された各情報テーブル（図６（Ａ），（Ｂ））を参照して、受け入れた接続パラメータおよび判定結果に応じて、第１のサブユニットまたは第２のサブユニットの設定情報ファイル名を取得する（図８を参照して後述）。
The main relay information acquisition unit 312 receives the connection parameter input from the
Further, the main relay information acquisition unit 312 refers to each information table (FIGS. 6A and 6B) stored in the main relay information storage unit 300, and according to the accepted connection parameters and determination results, Relay information in the main unit 200 (FIGS. 2 and 3) is acquired (described later with reference to FIGS. 8 and 9).
Further, the main relay information acquisition unit 312 refers to each information table (FIGS. 6A and 6B) stored in the main relay information storage unit 300, and according to the accepted connection parameters and determination results, The setting information file name of the first subunit or the second subunit is acquired (described later with reference to FIG. 8).
また、メインリレー情報取得部３１２は、取得したリレー情報を、接続命令生成部３２０に対して出力する。
また、メインリレー情報取得部３１２は、判定結果が第１のサブユニットの接続経路により接続することを示す場合、取得した設定情報ファイル名および受け入れた接続パラメータの「コネクタ情報」を、第１のサブリレー情報取得部３１６に対して出力する。
また、メインリレー情報取得部３１２は、判定結果が第２のサブユニットの接続経路により接続することを示す場合、取得した設定情報ファイル名および受け入れた接続パラメータの「コネクタ情報」を、第２のサブリレー情報取得部３１８に対して出力する。
また、メインリレー情報取得部３１２は、リレー情報の取得に失敗した場合、エラー出力部３１４に対して、エラー情報を出力する（図９を参照して後述）。
Further, the main relay information acquisition unit 312 outputs the acquired relay information to the connection command generation unit 320.
When the determination result indicates that the connection is made through the connection path of the first subunit, the main relay information acquisition unit 312 displays the acquired setting information file name and the “connector information” of the received connection parameter as the first Output to the sub-relay information acquisition unit 316.
When the determination result indicates that the connection is made through the connection path of the second subunit, the main relay information acquisition unit 312 displays the acquired setting information file name and the “connector information” of the accepted connection parameter as the second connection information. Output to the sub-relay information acquisition unit 318.
Further, when the relay information acquisition fails, the main relay information acquisition unit 312 outputs error information to the error output unit 314 (described later with reference to FIG. 9).
エラー出力部３１４は、メインリレー情報取得部３１２から入力されたエラー情報を受け入れると、リレー情報の取得に失敗した旨を、入出力装置１２６（図１（Ｂ））の出力装置などに出力する。
第１のサブリレー情報取得部３１６は、メインリレー情報取得部３１２から入力された設定情報ファイル名およびコネクタ情報を受け入れる。
また、第１のサブリレー情報取得部３１６は、第１のサブリレー情報記憶部３０２を参照して、受け入れた設定情報ファイル名およびコネクタ情報に基づいて、サブリレー情報を取得する（図１０（Ａ）を参照して後述）。
また、第１のサブリレー情報取得部３１６は、取得したサブリレー情報を、接続命令生成部３２０に対して出力する。
When the error output unit 314 accepts the error information input from the main relay information acquisition unit 312, the error output unit 314 reports that the relay information acquisition has failed to the output device of the input / output device 126 (FIG. 1B). .
The first sub-relay information acquisition unit 316 receives the setting information file name and connector information input from the main relay information acquisition unit 312.
Also, the first sub-relay information acquisition unit 316 refers to the first sub-relay information storage unit 302 and acquires the sub-relay information based on the accepted setting information file name and connector information (see FIG. 10A). See later).
Further, the first sub relay information acquisition unit 316 outputs the acquired sub relay information to the connection command generation unit 320.
第２のサブリレー情報取得部３１８は、メインリレー情報取得部３１２から入力された設定情報ファイル名およびコネクタ情報を受け入れる。
また、第２のサブリレー情報取得部３１８は、第２のサブリレー情報記憶部３０４を参照して、受け入れた設定情報ファイル名およびコネクタ情報に基づいて、サブリレー情報およびサブユニット番号を取得する（図１０（Ｂ）を参照して後述）。
また、第２のサブリレー情報取得部３１８は、取得したリレー情報およびサブユニット番号を、接続命令生成部３２０に対して出力する。
The second sub relay information acquisition unit 318 receives the setting information file name and connector information input from the main relay information acquisition unit 312.
The second sub-relay information acquisition unit 318 refers to the second sub-relay information storage unit 304 and acquires the sub-relay information and the subunit number based on the received setting information file name and connector information (FIG. 10). (See below with reference to (B)).
The second sub relay information acquisition unit 318 outputs the acquired relay information and subunit number to the connection command generation unit 320.
接続命令生成部３２０は、メインリレー情報取得部３１２から入力されたリレー情報と、第１のサブリレー情報取得部３１６または第２のサブリレー情報取得部３１８から入力されたサブリレー情報とから、リレー接続命令を生成する。
具体的には、例えば、接続命令生成部３２０は、メインリレー情報取得部３１２から「Ｆ０２４，Ｆ０２５，Ｆ０２６，Ｆ０２７」を示すリレー情報を取得すると、メインユニット２００（図３）に対する下記のリレー接続命令を生成する。
「ＲＥＬＡＹ ＲＥＬＡＹ＿ＯＮ Ｆ０２４／Ｆ０２５／Ｆ０２６／Ｆ０２７」
また、例えば、接続命令生成部３２０は、第１のサブリレー情報取得部３１６から「Ｇ０２１，Ｇ０２４」を示すサブリレー情報を受け取ると、第１のサブユニット２０２（図３）に対する下記のリレー接続命令を生成する。
「ＲＥＬＡＹ ＲＥＬＡＹ＿ＯＮ Ｇ０２１／Ｇ０２４」
The connection command generation unit 320 generates a relay connection command from the relay information input from the main relay information acquisition unit 312 and the sub relay information input from the first sub relay information acquisition unit 316 or the second sub relay information acquisition unit 318. Is generated.
Specifically, for example, when the connection command generation unit 320 acquires relay information indicating “F024, F025, F026, F027” from the main relay information acquisition unit 312, the following relay connection to the main unit 200 (FIG. 3) is performed. Generate instructions.
"RELAY RELAY_ON F024 / F025 / F026 / F027"
Further, for example, when the connection command generation unit 320 receives the sub relay information indicating “G021, G024” from the first sub relay information acquisition unit 316, the connection command generation unit 320 sends the following relay connection command to the first subunit 202 (FIG. 3). Generate.
"RELAY RELAY_ON G021 / G024"
また、接続命令生成部３２０は、サブリレー情報を、第２のサブリレー情報取得部３１８から受け入れた場合は、第２のサブユニット２０４のうち、第２のサブリレー情報取得部３１８から入力されたサブユニット番号が示す第２のサブユニット２０４に対しするリレー接続命令を生成する。
また、接続命令生成部３２０は、生成したリレー接続命令を、ファイルなどに書き込み、記憶媒体１３２記憶媒体１３２（図１（Ｂ））などに対して出力する。
In addition, when the connection command generation unit 320 receives the sub relay information from the second sub relay information acquisition unit 318, the subunit input from the second sub relay information acquisition unit 318 among the
In addition, the connection command generation unit 320 writes the generated relay connection command in a file or the like, and outputs it to the
［メインユニット２００におけるリレー情報取得処理］
図８は、メインリレー情報取得部３１２（図５）が、メインユニット２００（図３）におけるリレー情報を取得する処理を例示するフローチャートである。
以下、メインリレー情報取得部３１２のリレー情報取得処理を、さらに説明する。
ステップ４００（Ｓ４００）において、メインリレー情報取得部３１２は、パラメータ受入部３０８から入力された接続パラメータを取得する。
[Relay information acquisition processing in main unit 200]
FIG. 8 is a flowchart illustrating a process in which the main relay information acquisition unit 312 (FIG. 5) acquires relay information in the main unit 200 (FIG. 3).
Hereinafter, the relay information acquisition process of the main relay information acquisition unit 312 will be further described.
In step 400 (S400), the main relay information acquisition unit 312 acquires the connection parameter input from the
ステップ４０２（Ｓ４０２）において、メインリレー情報取得部３１２は、サブユニット判定部３１０から入力された判定結果を取得する。
ステップ４０４（Ｓ４０４）において、メインリレー情報取得部３１２は、Ｓ４００において取得した接続パラメータに含まれる測定装置名を取得する。
ステップ４０６（Ｓ４０６）において、メインリレー情報取得部３１２は、メインリレー情報記憶部３００が記憶するメインユニット設定情報テーブル（図６（Ａ））から、Ｓ４００において取得した接続パラメータに含まれる測定装置名と一致する設定情報を取得する。
In step 402 (S402), the main relay information acquisition unit 312 acquires the determination result input from the subunit determination unit 310.
In step 404 (S404), the main relay information acquisition unit 312 acquires the name of the measurement device included in the connection parameter acquired in S400.
In step 406 (S406), the main relay information acquisition unit 312 determines the name of the measuring device included in the connection parameter acquired in S400 from the main unit setting information table (FIG. 6A) stored in the main relay information storage unit 300. Get the setting information that matches.
ステップ４０８（Ｓ４０８）において、メインリレー情報取得部３１２は、Ｓ４０２において取得した判定結果が、第１のサブユニット２０２の接続経路により接続することを示すか否かを判断する。
メインリレー情報取得部３１２は、判定結果が第１のサブユニット２０２の接続経路により接続することを示す場合、Ｓ４１０の処理に進み、それ以外の場合、Ｓ４１４の処理に進む。
In step 408 (S408), the main relay information acquisition unit 312 determines whether or not the determination result acquired in S402 indicates that connection is established through the connection path of the
When the determination result indicates that the connection is made through the connection path of the
ステップ４１０（Ｓ４１０）において、メインリレー情報取得部３１２は、Ｓ４０６において取得した設定情報（図６（Ａ））から、第１のサブユニット設定情報ファイル名の項目に示されたファイル名を取得する。
ステップ４１２（Ｓ４１２）において、メインリレー情報取得部３１２は、Ｓ４０６において取得した設定情報から、メインリレーＩＤの第１のサブユニットの項目に示されたリレーＩＤを取得する。
In step 410 (S410), the main relay information acquisition unit 312 acquires the file name indicated in the first subunit setting information file name item from the setting information acquired in S406 (FIG. 6A). .
In step 412 (S412), the main relay information acquisition unit 312 acquires the relay ID indicated in the item of the first subunit of the main relay ID from the setting information acquired in S406.
ステップ４１４（Ｓ４１４）において、メインリレー情報取得部３１２は、Ｓ４０６において取得した設定情報（図６（Ａ））から、第２のサブユニット設定情報ファイル名の項目に示されたファイル名を取得する。
ステップ４１６（Ｓ４１６）において、メインリレー情報取得部３１２は、Ｓ４０６において取得した設定情報から、メインリレーＩＤの第２のサブユニットの項目に示されたリレーＩＤを取得する。
ステップ４１８（Ｓ４１８）において、メインリレー情報取得部３１２は、メインリレー情報記憶部３００が記憶するリレー情報テーブル（図６（Ｂ）から、Ｓ４１２またはＳ４１４において取得したリレーＩＤに対応するリレー情報を取得する。
In step 414 (S414), the main relay information acquisition unit 312 acquires the file name indicated in the second subunit setting information file name item from the setting information acquired in S406 (FIG. 6A). .
In step 416 (S416), the main relay information acquisition unit 312 acquires the relay ID indicated in the item of the second subunit of the main relay ID from the setting information acquired in S406.
In step 418 (S418), the main relay information acquisition unit 312 acquires relay information corresponding to the relay ID acquired in S412 or S414 from the relay information table (FIG. 6B) stored in the main relay information storage unit 300. To do.
ステップ４２０（Ｓ４２０）において、メインリレー情報取得部３１２は、Ｓ４００において取得した接続パラメータが２つ（つまり、測定装置名およびコネクタ情報のみ）であるか否かを判断する。
メインリレー情報取得部３１２は、接続パラメータが２つであると判断した場合、処理を終了し、それ以外の場合、Ｓ４４（図９を参照して後述）の処理に進む。
In step 420 (S420), the main relay information acquisition unit 312 determines whether there are two connection parameters acquired in S400 (that is, only the measurement device name and connector information).
When the main relay information acquisition unit 312 determines that there are two connection parameters, the main relay information acquisition unit 312 ends the process, and otherwise proceeds to the process of S44 (described later with reference to FIG. 9).
［中継リレー情報取得処理］
図９は、図８に示したＳ４２０の処理において、メインリレー情報取得部３１２（図５）が、接続パラメータが２つであると判断した場合以外（つまり、接続パラメータに中継装置名が含まれる場合）において、中継リレー情報を含むリレー情報を取得する処理（Ｓ４４；図８）を例示するフローチャートである。
以下、メインリレー情報取得部３１２の中継リレー情報を含むリレー情報取得処理を、さらに説明する。
ステップ４４０（Ｓ４４０）において、メインリレー情報取得部３１２は、Ｓ４００（図８）において取得した接続パラメータに含まれる中継装置名を取得する。
[Relay relay information acquisition processing]
FIG. 9 shows a case where the main relay information acquisition unit 312 (FIG. 5) determines that there are two connection parameters in the process of S420 shown in FIG. 8 (that is, the connection parameter includes the relay device name). 9) is a flowchart illustrating a process (S44; FIG. 8) of acquiring relay information including relay relay information.
Hereinafter, the relay information acquisition process including the relay relay information of the main relay information acquisition unit 312 will be further described.
In step 440 (S440), the main relay information acquisition unit 312 acquires the relay device name included in the connection parameter acquired in S400 (FIG. 8).
ステップ４４２（Ｓ４４２）において、メインリレー情報取得部３１２は、Ｓ４０６において取得した設定情報に、中継リレーＩＤが含まれているか否かを判断する。
メインリレー情報取得部３１２は、中継リレーＩＤが含まれていると判断した場合、Ｓ４４４の処理に進み、それ以外の場合、Ｓ４４８の処理に進む。
ステップ４４４（Ｓ４４４）において、メインリレー情報取得部３１２は、Ｓ４０６において取得した設定情報から、中継リレーＩＤのうち、Ｓ４４０において取得した中継装置名と一致する項目に示された中継リレーＩＤを取得する。
In step 442 (S442), the main relay information acquisition unit 312 determines whether or not the relay information is included in the setting information acquired in S406.
When determining that the relay relay ID is included, the main relay information acquisition unit 312 proceeds to the process of S444, and otherwise proceeds to the process of S448.
In step 444 (S444), the main relay information acquisition unit 312 acquires, from the setting information acquired in S406, the relay relay ID indicated in the relay relay ID that matches the relay device name acquired in S440. .
ステップ４４６（Ｓ４４６）において、メインリレー情報取得部３１２は、メインリレー情報記憶部３００が記憶するリレー情報テーブル（図６（Ｂ））から、Ｓ４４４において取得したリレーＩＤに対応する中継リレー情報を取得して、処理を終了する。
ステップ４４８（Ｓ４４８）において、メインリレー情報取得部３１２は、リレー情報の取得に失敗したことを示すエラーを出力して、処理を終了する。
In step 446 (S446), the main relay information acquisition unit 312 acquires relay relay information corresponding to the relay ID acquired in S444 from the relay information table (FIG. 6B) stored in the main relay information storage unit 300. Then, the process ends.
In step 448 (S448), the main relay information acquisition unit 312 outputs an error indicating that acquisition of relay information has failed, and ends the process.
［第１のサブユニット２０２におけるサブリレー情報取得処理］
図１０（Ａ）は、第１のサブリレー情報取得部３１６（図５）が、第１のサブユニット２０２（図３）におけるサブリレー情報を取得する処理を例示するフローチャートである。
以下、サブリレー情報取得部３１６のサブリレー情報取得処理を、さらに説明する。
ステップ５００（Ｓ５００）において、サブリレー情報取得部３１６は、第１のサブリレー情報記憶部３０２が記憶する第１のサブユニット設定情報テーブルのうち、メインリレー情報取得部３１２から入力された設定情報ファイル名に対応する設定情報テーブル（例えば、図７（Ａ））を取得する。
[Sub-relay information acquisition processing in the first subunit 202]
FIG. 10A is a flowchart illustrating a process in which the first sub-relay information acquisition unit 316 (FIG. 5) acquires the sub-relay information in the first subunit 202 (FIG. 3).
Hereinafter, the sub relay information acquisition process of the sub relay information acquisition unit 316 will be further described.
In step 500 (S500), the sub-relay information acquisition unit 316 sets the setting information file name input from the main relay information acquisition unit 312 in the first subunit setting information table stored in the first sub-relay information storage unit 302. A setting information table corresponding to (for example, FIG. 7A) is acquired.
ステップ５０２（Ｓ５０２）において、サブリレー情報取得部３１６は、Ｓ５００において取得した設定情報テーブルから、メインリレー情報取得部３１２から入力されたコネクタ情報（つまり、第１のサブユニット２０２のコネクタ名（図３））に対応するリレーＩＤを取得する。
ステップ５０４（Ｓ５０４）において、サブリレー情報取得部３１６は、第１のサブリレー情報記憶部３０２が記憶する第１のサブリレー情報テーブルから、Ｓ５０２において取得したリレーＩＤに対応するサブリレー情報を取得して、処理を終了する。
In step 502 (S502), the sub-relay information acquisition unit 316, from the setting information table acquired in S500, the connector information input from the main relay information acquisition unit 312 (that is, the connector name of the first subunit 202 (FIG. 3). )) Is obtained.
In step 504 (S504), the sub relay information acquisition unit 316 acquires the sub relay information corresponding to the relay ID acquired in S502 from the first sub relay information table stored in the first sub relay information storage unit 302, and performs processing. Exit.
［第２のサブユニット２０４におけるサブリレー情報取得処理］
図１０（Ｂ）は、第２のサブリレー情報取得部３１８（図５）が、第２のサブユニット２０４（図３）におけるサブリレー情報を取得する処理を例示するフローチャートである。
以下、サブリレー情報取得部３１８のサブリレー情報取得処理を、さらに説明する。
ステップ５２０（Ｓ５２０）において、サブリレー情報取得部３１８は、メインリレー情報取得部３１２から入力されたコネクタ情報（つまり、ＩＦ２０６のインタフェース名とＩＦ２０６のコネクタ名（図３）とを含む情報）から、インタフェース名を取得する。
[Sub-relay information acquisition processing in the second subunit 204]
FIG. 10B is a flowchart illustrating a process in which the second sub-relay information acquisition unit 318 (FIG. 5) acquires the sub-relay information in the second subunit 204 (FIG. 3).
Hereinafter, the sub relay information acquisition process of the sub relay information acquisition unit 318 will be further described.
In step 520 (S520), the sub relay information acquisition unit 318 determines the interface from the connector information input from the main relay information acquisition unit 312 (that is, information including the interface name of the IF 206 and the connector name of the IF 206 (FIG. 3)). Get the name.
ステップ５２２（Ｓ５２２）において、サブリレー情報取得部３１８は、第２のサブユニット情報記憶部３０６が記憶するサブユニット情報テーブル（図７（Ｃ））から、Ｓ５２０において取得したインタフェース名に対応するサブユニットの番号を取得する。
ステップ５２４（Ｓ５２４）において、サブリレー情報取得部３１８は、メインリレー情報取得部３１２から入力されたコネクタ情報から、ＩＦ２０６のコネクタ名を取得する。
ステップ５２６（Ｓ５２６）において、サブリレー情報取得部３１８は、第２のサブリレー情報記憶部３０４が記憶する第２のサブユニット設定情報テーブルのうち、メインリレー情報取得部３１２から入力された設定情報ファイル名に対応する設定情報テーブル（例えば、図７（Ｂ））を取得する。
In step 522 (S522), the sub-relay information acquisition unit 318 determines the subunit corresponding to the interface name acquired in S520 from the subunit information table (FIG. 7C) stored in the second subunit information storage unit 306. Get the number.
In step 524 (S524), the sub relay information acquisition unit 318 acquires the connector name of the IF 206 from the connector information input from the main relay information acquisition unit 312.
In step 526 (S526), the sub-relay information acquisition unit 318 sets the setting information file name input from the main relay information acquisition unit 312 in the second subunit setting information table stored in the second sub-relay information storage unit 304. A setting information table corresponding to (for example, FIG. 7B) is acquired.
ステップ５２８（Ｓ５２８）において、サブリレー情報取得部３１８は、Ｓ５２６において取得した設定情報テーブルから、Ｓ５２４において取得したコネクタ名に対応するリレーＩＤを取得する。
ステップ５３０（Ｓ５３０）において、サブリレー情報取得部３１８は、第２のサブリレー情報記憶部３０４が記憶する第２のサブリレー情報テーブルから、Ｓ５２８において取得したリレーＩＤに対応するサブリレー情報を取得して、処理を終了する。
In step 528 (S528), the sub-relay information acquisition unit 318 acquires the relay ID corresponding to the connector name acquired in S524 from the setting information table acquired in S526.
In step 530 (S530), the sub relay information acquisition unit 318 acquires the sub relay information corresponding to the relay ID acquired in S528 from the second sub relay information table stored in the second sub relay information storage unit 304, and performs processing. Exit.
［装置試験システム３の動作例］
図１１は、本発明に係る装置試験システム３（図１（Ａ），図５）が、生成したリレー接続命令を実行して図３に示した切替装置２のリレーを制御し、被試験装置１８から、測定装置１４−３または測定装置１４−４までの接続経路の構築した状態を例示する図である。
以下、装置試験システム３に対して、以下の生成命令１が入力された場合における装置試験システム３の第１の動作例、および、生成命令２が入力された場合における装置試験システムの第２の動作例を説明する。
[Example of operation of device test system 3]
FIG. 11 shows a device under test performed by the device test system 3 (FIG. 1A, FIG. 5) according to the present invention by executing the generated relay connection command to control the relay of the
Hereinafter, a first operation example of the device test system 3 when the following
（命令１）
「ＲＥＬＡＹ ＲＥＬＡＹ＿ＯＮ 測定装置Ｄ ＡＴＴ Ｊ１Ｍ３」
（命令２）
「ＲＥＬＡＹ ＲＥＬＡＹ＿ＯＮ 測定装置Ｃ ＡＭＰ ＩＦ１＿Ｊ１０１＿１」
(Instruction 1)
“RELAY RELAY_ON Measuring Device D ATT J1M3”
(Instruction 2)
“RELAY RELAY_ON Measuring Device C AMP IF1_J101_1”
つまり、生成命令１が入力された場合は、被試験装置１８（図１（Ａ），図２）と、第１のサブユニット２０２のコネクタ２１０−３（Ｊ１Ｍ３）（図１１）とが、接続ケーブルなどを介して接続され、被試験装置１８の試験信号を、アッテネータ２１６（ＡＴＴ）を中継して、測定装置１４−４（測定装置Ｄ）により計測することを示す。
また、生成命令２が入力された場合は、被試験装置１８と、ＩＦ２０６−１（ＩＦ１）とが、接続ケーブルなどを介して接続され、ＩＦ２０６−１のコネクタ２１２−１（Ｊ１０１＿１）（図１１）と、第２のサブユニット２０４−１（Ｂ１）とが接続され、被試験装置１８の試験信号を、アンプ２１４（ＡＭＰ）を中継して、測定装置１４−３（測定装置Ｃ）により計測することを示す。
That is, when the
When the
［第１の動作例］
以下、上記生成命令１が入力された場合における装置試験システム３の第１の動作例を説明する。
装置試験システム３は、生成命令１を受け入れると、接続パラメータ（測定装置名「測定装置Ｄ」、中継装置名「ＡＴＴ」およびコネクタ情報「ＪＩＭ３」）を取得する（パラメータ受入部３０８（図５））。
装置試験システム３は、取得した接続パラメータのコネクタ情報「ＪＩＭ３」には、インタフェース名が含まれていないので、第１のサブユニット２０２（図１１）の接続経路により被試験装置１８と、測定装置１４−４（測定装置Ｄ）とを接続すると判定する（サブユニット判定部３１０（図５））。
[First operation example]
Hereinafter, a first operation example of the apparatus test system 3 when the
Upon receiving the
Since the interface name is not included in the acquired connector information “JIM3” of the connection parameter, the device test system 3 is connected to the device under
装置試験システム３は、取得した接続パラメータの測定装置名「測定装置Ｄ」のメインユニット設定情報（図６（Ａ））に含まれる第１のサブユニットのメインリレーＩＤ「００４」を取得する（メインリレー情報取得部３１２（図５））。
装置試験システム３は、メインリレー情報テーブル（図６（Ｂ））から、取得したリレーＩＤ「００４」に対応するリレー情報「Ｆ０２４，Ｆ０２７」を取得する（メインリレー情報取得部３１２（図５））。
装置試験システム３は、「測定装置Ｄ」のメインユニット設定情報（図６（Ａ））に含まれる中継装置名「ＡＴＴ」の中継リレーＩＤ「２０２」を取得する（メインリレー情報取得部３１２（図５））。
装置試験システム３は、メインリレー情報テーブル（図６（Ｂ））から、取得したリレーＩＤ「２０２」に対応するリレー情報「Ｆ０２５，Ｆ０２６」を取得する（メインリレー情報取得部３１２（図５））。
The device test system 3 acquires the main relay ID “004” of the first subunit included in the main unit setting information (FIG. 6A) of the measurement device name “measurement device D” of the acquired connection parameter ( Main relay information acquisition unit 312 (FIG. 5)).
The device test system 3 acquires relay information “F024, F027” corresponding to the acquired relay ID “004” from the main relay information table (FIG. 6B) (main relay information acquisition unit 312 (FIG. 5)). ).
The apparatus test system 3 acquires the relay relay ID “202” of the relay apparatus name “ATT” included in the main unit setting information (FIG. 6A) of “measurement apparatus D” (main relay information acquisition unit 312 ( FIG. 5)).
The device test system 3 acquires relay information “F025, F026” corresponding to the acquired relay ID “202” from the main relay information table (FIG. 6B) (main relay information acquisition unit 312 (FIG. 5)). ).
装置試験システム３は、「測定装置Ｄ」のメインユニット設定情報（図６（Ａ））に含まれる第１のサブユニット設定情報ファイル名「ｘｘｘ４．ｃｓｖ」に定義された設定情報テーブル（図７（Ａ））から、取得した接続パラメータのコネクタ情報「Ｊ１Ｍ３」に対応するリレーＩＤ「００３」を取得する（第１のサブリレー情報取得部３１６（図５））。
装置試験システム３は、第１のサブリレー情報テーブル（図示せず）から、取得したリレーＩＤ「００３」に対応するサブリレー情報を取得する（第１のサブリレー情報取得部３１６（図５））。
例えば、取得したサブリレー情報は、「Ｇ０２１，Ｇ０２４」とし、「Ｇ０２１」の実施内容は、「リレー２０８−１０をオン」、「Ｇ０２４」の実施内容は、「リレー２０８−１３をオン」となるよう制御することを示す。
The apparatus test system 3 has a setting information table (FIG. 7) defined in the first subunit setting information file name “xxx4.csv” included in the main unit setting information (FIG. 6A) of “measurement apparatus D”. (A)), the relay ID “003” corresponding to the connector information “J1M3” of the acquired connection parameter is acquired (first sub-relay information acquisition unit 316 (FIG. 5)).
The device test system 3 acquires sub relay information corresponding to the acquired relay ID “003” from the first sub relay information table (not shown) (first sub relay information acquisition unit 316 (FIG. 5)).
For example, the acquired sub-relay information is “G021, G024”, the implementation content of “G021” is “relay 208-10 on”, and the implementation content of “G024” is “relay 208-13 on”. It shows that it controls.
装置試験システム３は、取得したリレー情報から、メインユニット２００（図１１）に対する以下のリレー接続命令を生成する（接続命令生成部３２０（図５））。
「ＲＥＬＡＹ ＲＥＬＡＹ＿ＯＮ Ｆ０２４／Ｆ０２５／Ｆ０２６／Ｆ０２７」
装置試験システム３は、取得したサブリレー情報から、第１のサブユニット２０２に対する以下のリレー接続命令を生成する（接続命令生成部３２０（図５））。
「ＲＥＬＡＹ ＲＥＬＡＹ＿ＯＮ Ｇ０２１／Ｇ０２４」
The device test system 3 generates the following relay connection command for the main unit 200 (FIG. 11) from the acquired relay information (connection command generator 320 (FIG. 5)).
"RELAY RELAY_ON F024 / F025 / F026 / F027"
The device test system 3 generates the following relay connection command for the
"RELAY RELAY_ON G021 / G024"
装置試験システム３は、生成した接続命令を実行して、メインユニット２００および第１のサブユニット２０２のリレーを制御して、被試験装置１８と、アッテネータ２１６（ＡＴＴ）と、測定装置１４−４（測定装置Ｄ）との接続経路を構築する。
つまり、図１１に示すように、メインユニット２００のリレー２０８−５〜２０８−８、および、第１のサブユニット２０２のリレー２０８−９，２０８−１３がオンになるよう制御される。
The apparatus test system 3 executes the generated connection command to control the relays of the
That is, as shown in FIG. 11, the relays 208-5 to 208-8 of the
［第２の動作例］
以下、上記生成命令２が入力された場合における装置試験システム３の第２の動作例を説明する。
装置試験システム３は、生成命令２を受け入れると、接続パラメータ（測定装置名「測定装置Ｃ」、中継装置名「ＡＭＰ」およびコネクタ情報「ＩＦ１＿Ｊ１０１＿１」）を取得する（パラメータ受入部３０８（図５））。
装置試験システム３は、取得した接続パラメータのコネクタ情報「ＩＦ１＿Ｊ１０１＿１」には、インタフェース名が含まれているので、第２のサブユニット２０４（図１１）の接続経路により被試験装置１８と、測定装置１４−３（測定装置Ｃ）とを接続すると判定する（サブユニット判定部３１０（図５））。
[Second operation example]
Hereinafter, a second operation example of the apparatus test system 3 when the
Upon receiving the
In the apparatus test system 3, since the interface name is included in the acquired connection parameter connector information “IF1_J101_1”, the apparatus under
装置試験システム３は、取得した接続パラメータの測定装置名「測定装置Ｃ」のメインユニット設定情報（図６（Ａ））に含まれる第２のサブユニットのメインリレーＩＤ「１０３」を取得する（メインリレー情報取得部３１２（図５））。
装置試験システム３は、メインリレー情報テーブル（図６（Ｂ））から、取得したリレーＩＤ「１０３」に対応するリレー情報「Ｆ０２０，Ｆ０２３」を取得する（メインリレー情報取得部３１２（図５））。
装置試験システム３は、「測定装置Ｃ」のメインユニット設定情報（図６（Ａ））に含まれる中継装置名「ＡＭＰ」の中継リレーＩＤ「２０３」を取得する（メインリレー情報取得部３１２（図５））。
装置試験システム３は、メインリレー情報テーブル（図６（Ｂ））から、取得したリレーＩＤ「２０３」に対応するリレー情報「Ｆ０２１，Ｆ０２２」を取得する（メインリレー情報取得部３１２（図５））。
The device test system 3 acquires the main relay ID “103” of the second subunit included in the main unit setting information (FIG. 6A) of the measurement device name “measurement device C” of the acquired connection parameter ( Main relay information acquisition unit 312 (FIG. 5)).
The device test system 3 acquires the relay information “F020, F023” corresponding to the acquired relay ID “103” from the main relay information table (FIG. 6B) (main relay information acquisition unit 312 (FIG. 5)). ).
The apparatus test system 3 acquires the relay relay ID “203” of the relay apparatus name “AMP” included in the main unit setting information (FIG. 6A) of “measurement apparatus C” (main relay information acquisition unit 312 ( FIG. 5)).
The device test system 3 acquires relay information “F021, F022” corresponding to the acquired relay ID “203” from the main relay information table (FIG. 6B) (main relay information acquisition unit 312 (FIG. 5)). ).
装置試験システム３は、取得した接続パラメータのコネクタ情報「ＩＦ１＿Ｊ１０１＿１」から、インタフェース名「ＩＦ１」を取得する（第２のサブリレー情報取得部３１８（図５））。
装置試験システム３は、サブユニット情報テーブル（図７（Ｃ））を参照して、取得したインタフェース名「ＩＦ１」に対応するサブユニット番号「Ｂ１」取得する（第２のサブリレー情報取得部３１８（図５））。
The device test system 3 acquires the interface name “IF1” from the connector information “IF1_J101_1” of the acquired connection parameter (second sub-relay information acquisition unit 318 (FIG. 5)).
The device test system 3 acquires the subunit number “B1” corresponding to the acquired interface name “IF1” with reference to the subunit information table (FIG. 7C) (second sub-relay information acquisition unit 318 ( FIG. 5)).
装置試験システム３は、「測定装置Ｃ」のメインユニット設定情報（図６（Ａ））に含まれる第２のサブユニット設定情報ファイル名「ｙｙｙ３．ｃｓｖ」に定義された設定情報テーブル（図７（Ｂ））から、取得した接続パラメータのコネクタ情報「Ｊ１０１＿１」に対応するリレーＩＤ「００１」を取得する（第２のサブリレー情報取得部３１８（図５））。
装置試験システム３は、第２のサブリレー情報テーブル（図示せず）から、取得したリレーＩＤ「００１」に対応するサブリレー情報を取得する（第２のサブリレー情報取得部３１８（図５））。
例えば、取得したサブリレー情報は、「Ｈ０２０，Ｈ０２１」とし、「Ｈ０２０」の実施内容は、「リレー２０８−１５をオン」、「Ｈ０２１」の実施内容は、「リレー２０８−１６をオン」となるよう制御することを示す。
The apparatus test system 3 has a setting information table (FIG. 7) defined in the second subunit setting information file name “yyy3.csv” included in the main unit setting information (FIG. 6A) of “measurement apparatus C”. (B)), the relay ID “001” corresponding to the connector information “J101_1” of the acquired connection parameter is acquired (second sub-relay information acquisition unit 318 (FIG. 5)).
The device test system 3 acquires the sub relay information corresponding to the acquired relay ID “001” from the second sub relay information table (not shown) (second sub relay information acquisition unit 318 (FIG. 5)).
For example, the acquired sub-relay information is “H020, H021”, the implementation content of “H020” is “relay 208-15 on”, and the implementation content of “H021” is “relay 208-16 on”. It shows that it controls.
装置試験システム３は、取得したリレー情報から、メインユニット２００（図１１）に対する以下のリレー接続命令を生成する（接続命令生成部３２０（図５））。
「ＲＥＬＡＹ ＲＥＬＡＹ＿ＯＮ Ｆ０２０／Ｆ０２１／Ｆ０２２／Ｆ０２３」
装置試験システム３は、取得したサブリレー情報から、取得したサブユニット番号「Ｂ１」を示す第２のサブユニット２０４−１に対する以下のリレー接続命令を生成する（接続命令生成部３２０（図５））。
「ＲＥＬＡＹ ＲＥＬＡＹ＿ＯＮ Ｈ０２０／Ｈ０２１」
The device test system 3 generates the following relay connection command for the main unit 200 (FIG. 11) from the acquired relay information (connection command generator 320 (FIG. 5)).
"RELAY RELAY_ON F020 / F021 / F022 / F023"
The device test system 3 generates the following relay connection command for the second subunit 204-1 indicating the acquired subunit number “B1” from the acquired sub-relay information (connection command generator 320 (FIG. 5)). .
"RELAY RELAY_ON H020 / H021"
装置試験システム３は、生成した接続命令を実行して、メインユニット２００および第２のサブユニット２０４−１（Ｂ１）のリレーを制御して、被試験装置１８と、アンプ２１４（ＡＭＰ）と、測定装置１４−３（測定装置Ｃ）との接続経路を構築する。
つまり、図１１に示すように、メインユニット２００のリレー２０８−１〜２０８−４、および、第２のサブユニット２０５−１（Ｂ１）のリレー２０８−１５，２０８−１６がオンになるよう制御される。
The device test system 3 executes the generated connection instruction to control the relays of the
That is, as shown in FIG. 11, control is performed so that relays 208-1 to 208-4 of
１，３・・・装置試験システム，１０・・・ネットワーク，１２・・・制御装置，１４・・・測定装置，１６・・・専用試験装置，１８・・・被試験装置，２０・・・切替装置，１２０・・・情報処理装置，１２２・・・メモリ，１２４・・・ＣＰＵ，１２６・・・外部入出力装置，１２８・・・通信装置，１３０・・・記録装置，１３２・・・記憶媒体，２００・・・メインユニット，２０２，２０４・・・サブユニット，２０６・・・インタフェース，２０８・・・リレー，２１０，２１２・・・コネクタ，２１４・・・アンプ，２１６・・・アッテネータ，３０・・・接続命令生成プログラム，３００・・・メインリレー情報記憶部，３０２，３０４・・・サブリレー情報記憶部，３０６・・・サブユニット情報記憶部，３０８・・・パラメータ受入部，３１０・・・サブユニット判定部，３１２・・・メインリレー情報取得部，３１４・・・エラー出力部，３１６，３１８・・・サブリレー情報取得部，３２０・・・接続命令生成部
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記被試験装置が出力する信号を測定する複数の測定装置と、
制御装置と、
前記制御装置により制御され、前記被試験装置と、前記複数の測定装置のうちのいずれかとの接続経路を構築する切替装置と
を有し、
前記切替装置は、
前記制御装置によりオンまたはオフに制御される複数のリレースイッチを有し、前記リレースイッチの制御に基づいて、前記複数の測定装置と接続し得る第１のユニットと、
前記制御装置によりオンまたはオフに制御される複数のリレースイッチを有し、前記リレースイッチの制御に基づいて、前記第１のユニットおよび前記被試験装置と接続し得る第２のユニットと
を有し、
前記第２のユニットは、複数のコネクタのうちのいずれかを介して、前記被試験装置と接続され、
前記制御装置は、
前記試験に用いられる前記測定装置、および、前記第２のユニットと前記被試験装置との接続に用いられる前記コネクタを少なくとも指定する接続指定情報を受け入れる受入部と、
オンに制御される前記第１のユニットのリレースイッチの組み合わせが、前記複数の測定装置ごとに予め定義された第１の組合せ情報から、前記受け入れた接続指定情報が指定する測定装置に対応する前記第１のユニットのリレースイッチの組み合わせを取得する第１の組合せ取得部と、
オンに制御される前記第２のユニットのリレースイッチの組み合わせが、前記複数の測定装置および前記複数のコネクタごとに予め定義された第２の組合せ情報から、前記受け入れた接続指定情報が指定する測定装置およびコネクタに対応する前記第２のユニットのリレースイッチの組み合わせを取得する第２の組合せ取得部と、
前記取得した第１のユニットのリレースイッチの組み合わせ、および、前記取得した第２のユニットのリレースイッチの組み合わせに含まれるリレースイッチをオンに制御することを示す制御情報を生成する生成部と
を有する
装置試験システム。 A device test system for testing a device under test,
A plurality of measuring devices for measuring signals output from the device under test;
A control device;
Controlled by the control device, and includes a switching device that establishes a connection path between the device under test and any of the plurality of measurement devices,
The switching device is
A plurality of relay switches controlled to be turned on or off by the control device; and a first unit that can be connected to the plurality of measuring devices based on the control of the relay switches;
A plurality of relay switches controlled to be turned on or off by the control device; and a second unit that can be connected to the first unit and the device under test based on the control of the relay switch. ,
The second unit is connected to the device under test via one of a plurality of connectors,
The controller is
A receiving unit for receiving connection specifying information for specifying at least the connector used for connection between the measuring device used for the test and the second unit and the device under test;
The combination of relay switches of the first unit controlled to be turned on corresponds to the measurement device specified by the received connection designation information from the first combination information defined in advance for each of the plurality of measurement devices. A first combination acquisition unit for acquiring a combination of relay switches of the first unit;
The combination of relay switches of the second unit controlled to be turned on is a measurement specified by the received connection designation information from second combination information defined in advance for each of the plurality of measurement devices and the plurality of connectors. A second combination acquisition unit for acquiring a combination of relay switches of the second unit corresponding to the device and the connector;
A generating unit that generates control information indicating that the relay switch included in the acquired combination of relay switches of the first unit and the relay switch of the acquired second unit is turned on; and Equipment test system.
前記接続指定情報は、前記指定された測定装置およびコネクタを中継する中継装置を指定し、
前記第１の組合せ情報は、前記複数の測定装置および前記中継装置ごとに予め定義され、
前記第１の組合せ取得部は、前記第１の組合せ情報から、前記受け入れた接続指定情報が指定する測定装置および中継装置に対応する前記第１のユニットのリレースイッチの組み合わせを取得する
請求項１に記載の装置試験システム。 The first unit includes a relay device that relays between the device under test connected through the connection path and one of the plurality of measurement devices.
The connection designation information designates a relay device that relays the designated measurement device and connector,
The first combination information is predefined for each of the plurality of measurement devices and the relay device,
The first combination acquisition unit acquires, from the first combination information, a combination of relay switches of the first unit corresponding to the measurement device and the relay device specified by the received connection specification information. The apparatus test system described in 1.
前記装置試験システムは、
前記被試験装置が出力する信号を測定する複数の測定装置と、
制御装置と、
前記制御装置により制御され、前記被試験装置と、前記複数の測定装置のうちのいずれかとの接続経路を構築する切替装置と
を有し、
前記切替装置は、
前記制御装置によりオンまたはオフに制御される複数のリレースイッチを有し、前記リレースイッチの制御に基づいて、前記複数の測定装置と接続し得る第１のユニットと、
前記制御装置によりオンまたはオフに制御される複数のリレースイッチを有し、前記リレースイッチの制御に基づいて、前記第１のユニットおよび前記被試験装置と接続し得る第２のユニットと
を有し、
前記第２のユニットは、複数のコネクタのうちのいずれかを介して、前記被試験装置と接続され、
前記制御装置のコンピュータに、
前記試験に用いられる前記測定装置、および、前記第２のユニットと前記被試験装置との接続に用いられる前記コネクタを少なくとも指定する接続指定情報を受け入れる受入ステップと、
オンに制御される前記第１のユニットのリレースイッチの組み合わせが、前記複数の測定装置ごとに予め定義された第１の組合せ情報から、前記受け入れた接続指定情報が指定する測定装置に対応する前記第１のユニットのリレースイッチの組み合わせを取得する第１の組合せ取得ステップと、
オンに制御される前記第２のユニットのリレースイッチの組み合わせが、前記複数の測定装置および前記複数のコネクタごとに予め定義された第２の組合せ情報から、前記受け入れた接続指定情報が指定する測定装置およびコネクタに対応する前記第２のユニットのリレースイッチの組み合わせを取得する第２の組合せ取得ステップと、
前記取得した第１のユニットのリレースイッチの組み合わせ、および、前記取得した第２のユニットのリレースイッチの組み合わせに含まれるリレースイッチをオンに制御することを示す制御情報を生成する生成ステップと
を実行させる
装置試験方法。 A device test method in a device test system for testing a device under test,
The apparatus test system includes:
A plurality of measuring devices for measuring signals output from the device under test;
A control device;
Controlled by the control device, and includes a switching device that establishes a connection path between the device under test and any of the plurality of measurement devices,
The switching device is
A plurality of relay switches controlled to be turned on or off by the control device; and a first unit that can be connected to the plurality of measuring devices based on the control of the relay switches;
A plurality of relay switches controlled to be turned on or off by the control device; and a second unit that can be connected to the first unit and the device under test based on the control of the relay switch. ,
The second unit is connected to the device under test via one of a plurality of connectors,
In the computer of the control device,
An accepting step of accepting connection specifying information specifying at least the connector used for connecting the measuring device used for the test and the second unit to the device under test;
The combination of relay switches of the first unit controlled to be turned on corresponds to the measurement device specified by the received connection designation information from the first combination information defined in advance for each of the plurality of measurement devices. A first combination acquisition step of acquiring a combination of relay switches of the first unit;
The combination of relay switches of the second unit controlled to be turned on is a measurement specified by the received connection designation information from second combination information defined in advance for each of the plurality of measurement devices and the plurality of connectors. A second combination acquisition step of acquiring a combination of relay switches of the second unit corresponding to the device and the connector;
Generating the control information indicating that the relay switch included in the acquired combination of relay switches of the first unit and the relay switch included in the acquired combination of relay switches of the second unit is turned on. Let the equipment test method.
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019168427A (en) * | 2018-03-26 | 2019-10-03 | 三菱電機エンジニアリング株式会社 | Switching device for testing protection relay test and method for switching of protection relay test |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5676011A (en) * | 1979-11-27 | 1981-06-23 | Toshiba Corp | Switching device of measurement |
| JPH0759042A (en) * | 1993-08-13 | 1995-03-03 | Toshiba Corp | Image storage device |
| JPH09304129A (en) * | 1996-05-10 | 1997-11-28 | Kokusai Electric Co Ltd | Integrated system test device and test method thereof |
| JP2003044114A (en) * | 2001-07-27 | 2003-02-14 | Nec Corp | Inspection system |
| JP2003283446A (en) * | 2002-03-25 | 2003-10-03 | Anritsu Corp | Test management system |
| JP2005341424A (en) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Anritsu Corp | Communication testing apparatus and communication testing method |
| JP2007292723A (en) * | 2006-03-29 | 2007-11-08 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Automatic test system |
| JP2008039452A (en) * | 2006-08-02 | 2008-02-21 | Omron Corp | Inspection device |
| JP2010190851A (en) * | 2009-02-20 | 2010-09-02 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Test system |
-
2011
- 2011-06-21 JP JP2011137038A patent/JP2013003074A/en active Pending
Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5676011A (en) * | 1979-11-27 | 1981-06-23 | Toshiba Corp | Switching device of measurement |
| JPH0759042A (en) * | 1993-08-13 | 1995-03-03 | Toshiba Corp | Image storage device |
| JPH09304129A (en) * | 1996-05-10 | 1997-11-28 | Kokusai Electric Co Ltd | Integrated system test device and test method thereof |
| JP2003044114A (en) * | 2001-07-27 | 2003-02-14 | Nec Corp | Inspection system |
| JP2003283446A (en) * | 2002-03-25 | 2003-10-03 | Anritsu Corp | Test management system |
| JP2005341424A (en) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Anritsu Corp | Communication testing apparatus and communication testing method |
| JP2007292723A (en) * | 2006-03-29 | 2007-11-08 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Automatic test system |
| JP2008039452A (en) * | 2006-08-02 | 2008-02-21 | Omron Corp | Inspection device |
| JP2010190851A (en) * | 2009-02-20 | 2010-09-02 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Test system |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019168427A (en) * | 2018-03-26 | 2019-10-03 | 三菱電機エンジニアリング株式会社 | Switching device for testing protection relay test and method for switching of protection relay test |
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|
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|
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